JP2000218384A - レーザ溶接検査装置 - Google Patents

レーザ溶接検査装置

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JP2000218384A
JP2000218384A JP11023547A JP2354799A JP2000218384A JP 2000218384 A JP2000218384 A JP 2000218384A JP 11023547 A JP11023547 A JP 11023547A JP 2354799 A JP2354799 A JP 2354799A JP 2000218384 A JP2000218384 A JP 2000218384A
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圭司 森
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 レーザ溶接検査装置において、その検査精度
を高める事を目的とするものである。 【解決手段】 一面側Aからレーザが照射された複数の
金属板の重合体1の他面側の色調により、前記複数の金
属板の溶接状態を検査するようにしたものであって、こ
の重合体1の他面側において、色調の変わった部分がど
の程度生ずるかということによって、レーザ溶接が正し
く行われているか否かを確認するものであり、この場合
には溶接痕7の状態を検知するのではなく、溶接痕7の
生じていないその外周部分を検査するものであるから、
常にその検査には安定性があり、この結果としてレーザ
溶接状態の検査精度を極めて高くすることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、電子部品
における内部電極と端子電極の溶接部分の検査を行うレ
ーザ溶接検査装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のレーザ溶接検査装置の構成は、次
の様になっていた。すなわち一面側からレーザが照射さ
れた複数の金属板の重合体の他面側には、レーザ溶接に
よる溶接痕が表出しているので、この溶接痕部分に光を
照射し、その状態を検査するようになっていたのであ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来の検査装置においては、その検査精度が低くなってし
まうという課題があった。
【0004】すなわち、重合体の他面側に生じる溶接痕
は、レーザ溶接により、大きくその状態が変動するもの
であって、具体的には、その表面に凹凸が生じており、
この凹凸状態が変動するので、この表面に光を照射して
それを反射させることによって検査を行うものにおいて
は、この溶接痕からの反射量が安定せず、この結果とし
て検査精度を高めることができなかったのである。
【0005】そこで本発明は、レーザ溶接状態の検査精
度を高めることを目的とするものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】そしてこの目的を達成す
るために本発明は、金属板の重合体の他面側の色調によ
り、複数の金属板における溶接状態を検査する構成とし
たものである。
【0007】すなわち、複数の金属板の重合体の一面側
からレーザを照射した場合には、その重合体の他面側に
おいて、従来と同じ様に溶接痕が生じることになるので
あるが、この溶接痕の部分は、その外周とは色調が変わ
ることになる。
【0008】そこで本発明においては、この重合体の他
面側において、色調の変わった部分がどの程度生ずるか
ということによって、レーザ溶接が正しく行われている
か否かを確認するものであって、この場合には溶接痕の
状態を検知するのではなく、溶接痕の生じていないその
外周部分を検査するものであるから、常にその検査には
安定性があり、この結果としてレーザ溶接状態の検査精
度を高めることができるのである。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、一面側からレーザが照射された複数の金属板の重合
体の他面側の色により、前記複数の金属板の溶接状態を
検査するレーザ溶接検査装置としたものであり、その検
査精度を高めることが出来るものである。
【0010】すなわち、この重合体の他面側において、
色調の変わった部分がどの程度生ずるかということによ
って、レーザ溶接が正しく行われているか否かを確認す
るものであって、この場合には溶接痕の状態を検知する
のではなく、溶接痕の生じていないその外周部分を検査
するものであるから、常にその検査には安定性があり、
この結果としてレーザ溶接状態の検査精度を高めること
ができるという作用を奏する。
【0011】請求項2に記載の発明は、重合体の他面側
の金属板は、少なくともその他面側に銅メッキを施した
もので形成した請求項1に記載のレーザ溶接検査装置と
したものであり、溶接状態を検査する他面側の金属板に
銅メッキを施したことによって、この検査部分において
は、銅メッキ特有の色調、すなわち赤色系統の色調が多
いものとなる。
【0012】この場合、溶接痕はこの赤色系統とは大き
く異なり、白色系に変質することになるので、赤色系統
の色調がどの程度減少したかということは、非常に簡単
にしかも精度良く検出することができ、この結果として
検査精度を高めることができるという作用を奏する。
【0013】請求項3に記載の発明は、金属板を鉄によ
り形成しこの鉄の表面に銅メッキを施した請求項2に記
載のレーザ溶接検査装置としたものであり、レーザ溶接
をした場合に、鉄が溶け出し、溶接痕がその結果とし
て、白色系になることが多い。
【0014】このため、銅メッ特有の赤色系とは大きな
色調の差が生じ、これは検査装置においては、赤色系な
どの色の大幅な減少ということを簡単に、しかも正確に
検出することができ、その検査精度を高めることができ
るという作用を奏する。
【0015】請求項4に記載の発明は、重合体の他面側
から検出される特定の色成分の量により溶接状態を検査
する請求項1〜3のいずれか一つに記載のレーザ溶接検
査装置としたものであり、特定の色成分の量によって溶
接状態を検査することは非常に簡単で精度を高めること
ができるものになるのである。
【0016】具体的には、重合体の他面側をある特定の
色調、例えば赤色系統としておけば、この赤色系統がど
の程度減少したかということだけで、溶接状態を検査す
ることができるので、この検査が簡単でしかも精度良く
行うことができるようになるという作用を奏する。
【0017】請求項5に記載の発明は、重合体を電子部
品の内部電極からの複数の引出電極とそれを包み込む端
子電極とからなる請求項1〜4のいずれか一つに記載の
レーザ溶接検査装置としたものであり、重合体をこのよ
うに電子部品の形成素子である内部電極からの引出電極
と端子電極とから構成することにより、電子部品におけ
る端子電極部分のレーザ溶接を簡単にしかも精度良く行
うことができるようになるという作用を奏する。
【0018】請求項6に記載の発明は、端子電極をフー
プ材に複数個設け、各端子電極でそれぞれ電子部品の引
出電極を包み込んで重合体を形成し、この重合体の一面
側からレーザを照射して、溶接したものをフープによっ
て連続的に溶接検査部に供給する請求項5に記載のレー
ザ溶接検査装置としたものであり、フープによって連続
的に溶接検査部に検査部分が供給されてくるので、生産
性の高い状態で検査することができるという作用を奏す
る。
【0019】以下、本発明の一実施の形態を図面を用い
て説明する。図1、図2は本発明の一実施の形態を説明
するためのものであって、具体的には電解コンデンサを
示している。この電解コンデンサは、複数枚の内部電極
を有する形成素子1を積層した構成で、その外表面をモ
ールド樹脂2によって外装した状態としている。
【0020】さらに、その状態において、このモールド
樹脂2の両端には端子電極3,4が引き出された構造と
なっている。
【0021】前記形成素子1は、例えばアルミニウム箔
により形成されたものであって、その表面は粗面化され
た後に酸化処理が行われている。そして引出し電極部分
1aにはその表裏面に導電物質5が、さらにその表面に
銀ペースト6を塗布している。
【0022】端子電極3,4は図3に示すごとくいわゆ
るチリトリ状となっており、複数枚の形成素子1の引出
し電極部1aは、図3における端子電極3の保持部3a
に保持され、銀ペーストなどの塗布により導通が図られ
ている。
【0023】一方端子電極4の部分においては、形成素
子1の引出し電極部1bが重ね合わされた後に、図4
(a)に示すごとく両側から包み込むごとく折り返さ
れ、図4(a)のA地点において、その上面側から溶接
のためにレーザー照射が行われる。
【0024】この結果、この端子電極4とその内包の引
出電極部1bの部分は、溶融状態で一体化されることに
なる。この時、図4(b)に示すごとく端子電極4の下
面側には、溶接痕7が形成されることになる。
【0025】さて端子電極4は、鉄材などで形成されて
おり、その表面に銅メッキを施したものとなっている。
したがって、その表面は、銅特有の赤色系統の色調状態
となっている。
【0026】さてそのような状態で、図4(a)のA地
点においてレーザ溶接を行うと、この溶接痕7部分にお
ける端子電極4は、白色系に変色することになる。
【0027】この場合レーザ溶接を行うのは図4(a)
に示すごとく、上面側の2点であるので、特に上方側が
加熱されこの端子電極4の上面側の色調は大部分が赤色
系から変色することになるのであるが、その裏面側は表
面側から大きく左右に湾曲した後に、回り込んで十分な
距離があることから、結果としてこの端子電極4の裏面
側においては、溶接痕7の部分だけが、白色系に変色す
ることになる。
【0028】このため、図5に示すごとくその裏面側か
ら照射源として蛍光灯8によって光を照射すると共に、
その状態で色調認識機器であるカラーカメラ9でこの色
調を判別した場合には、基本的には端子電極4の裏面側
の赤色系の色調状態の中(図4(b)の7aが検査エリ
ア)に溶接痕7の部分だけが、白色系となって検出され
ることになる。
【0029】この場合、本実施の形態においては、カラ
ー抽出機構10によって、端子電極4の裏面側の赤色系
がどの程度減少したかということを、画像処理機構11
で判別しているものである。
【0030】すなわち、レーザ溶接がなされる前は、端
子電極4の裏面側はその前面が銅特有の赤色系をしてい
るものが、レーザ溶接が行われる結果として、溶接痕7
の部分だけが白色系に変質することになる。
【0031】この白色系に変質した部分においては検査
エリア7a部内において赤色成分が減少したことになる
ので、初期の状態からある数量、赤色系が減少したとい
うことをもって、溶接が確実になされたということを検
出するものである。
【0032】このように単純に赤色系がどの程度減少し
たかということを検査するものは、溶接痕の部分を見
て、そこが何色系に変わったかというものに比べて著し
く検査精度が高くなる。
【0033】すなわち、溶接痕7の部分は従来の技術で
も述べたが、この部分はレーザ溶接の影響により凹凸に
なっており、その表面状態および色調は不定なものにな
ってしまうので、この部分を見て、溶接が正しく行われ
ていたかどうかというものを検査するのは、非常に困難
なものであって、本発明の実施の形態では、この部分は
元々の赤色系がどの程度変化したかということにのみ注
意を払うようにしたものであって、このようにすること
が検査精度を極めて高くすることになるものである。
【0034】
【発明の効果】以上のように本発明のレーザ溶接検査装
置は、一面側からレーザが照射された複数の金属板の重
合体の他面側の色調により、前記複数の金属板の溶接状
態を検査するようにしたものであって、この重合体の他
面側において、色調の変わった部分がどの程度生ずるか
ということによって、レーザ溶接が正しく行われている
か否かを確認するものであり、この場合には溶接痕の状
態を検知するのではなく、溶接痕の生じていないその外
周部分を検査するものであるから、常にその検査には安
定性があり、この結果としてレーザ溶接状態の検査精度
を極めて高くすることができるという効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施の形態を説明するための電解コ
ンデンサの一部切り欠き斜視図
【図2】同その内部電極の平面図
【図3】同その端子電極の斜視図
【図4】(a)(b)は同レーザ溶接とその検査を説明
するための構成図
【図5】同その検査状態を説明するためのブロック図
【符号の説明】
1 形成素子 1a,1b 引出し電極部 2 モールド樹脂 3,4 端子電極 3a 保持部 5 導電物質 6 銀ペースト 7 溶接痕 8 蛍光灯 9 カラーカメラ 10 カラー抽出機構 11 画像処理機構

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一面側からレーザが照射された複数の金
    属板の重合体の他面側の色により、前記複数の金属板の
    溶接状態を検査するレーザ溶接検査装置。
  2. 【請求項2】 重合体の他面側の金属板は、少なくと
    も、その他面側に銅メッキを施したもので形成した請求
    項1に記載のレーザ溶接検査装置。
  3. 【請求項3】 金属板を鉄により形成し、この鉄の表面
    に銅メッキを施した請求項2に記載のレーザ溶接検査装
    置。
  4. 【請求項4】 重合体の他面側から検出される特定の色
    成分の量により、溶接状態を検査する請求項1〜3のい
    ずれか一つに記載のレーザ溶接検査装置。
  5. 【請求項5】 重合体は、電子部品の内部電極からの複
    数の引出電極と、それを包み込む端子電極とからなる請
    求項1〜4のいずれか一つに記載のレーザ溶接検査装
    置。
  6. 【請求項6】 端子電極をフープ材に複数個設け、各端
    子電極でそれぞれ電子部品の引出電極を包み込んで重合
    体を形成し、この重合体の一面側からレーザを照射して
    溶接したものを、フープによって連続的に溶接検査部に
    供給する請求項5に記載のレーザ溶接検査装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6437758B2 (ja) 2014-08-12 2018-12-12 Ntn株式会社 等速自在継手の接合タイプ外側継手部材の検査装置

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5116253A (ja) * 1974-08-01 1976-02-09 Tokyo Shibaura Electric Co
JPH02114185U (ja) * 1989-02-20 1990-09-12
JPH04243116A (ja) * 1991-01-17 1992-08-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体電解コンデンサの製造方法
JPH06285658A (ja) * 1993-04-01 1994-10-11 Nissan Motor Co Ltd 金属材料の重ね合わせ溶接方法および重ね合わせ溶接装置
JPH1058170A (ja) * 1996-08-19 1998-03-03 Mazda Motor Corp レーザ溶接の品質判定方法およびその装置
JPH10153559A (ja) * 1996-11-08 1998-06-09 Mcdermott Technol Inc チタニウム溶接の検査及び制御

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5116253A (ja) * 1974-08-01 1976-02-09 Tokyo Shibaura Electric Co
JPH02114185U (ja) * 1989-02-20 1990-09-12
JPH04243116A (ja) * 1991-01-17 1992-08-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体電解コンデンサの製造方法
JPH06285658A (ja) * 1993-04-01 1994-10-11 Nissan Motor Co Ltd 金属材料の重ね合わせ溶接方法および重ね合わせ溶接装置
JPH1058170A (ja) * 1996-08-19 1998-03-03 Mazda Motor Corp レーザ溶接の品質判定方法およびその装置
JPH10153559A (ja) * 1996-11-08 1998-06-09 Mcdermott Technol Inc チタニウム溶接の検査及び制御

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010279993A (ja) * 2009-06-08 2010-12-16 Tokyu Car Corp レーザ溶接部評価方法

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