JP2000221035A - Af測量機用反射鏡 - Google Patents

Af測量機用反射鏡

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JP2000221035A
JP2000221035A JP2221299A JP2221299A JP2000221035A JP 2000221035 A JP2000221035 A JP 2000221035A JP 2221299 A JP2221299 A JP 2221299A JP 2221299 A JP2221299 A JP 2221299A JP 2000221035 A JP2000221035 A JP 2000221035A
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light
reflecting mirror
distance measuring
surveying instrument
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JP2221299A
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Mochiyume Takayama
抱夢 高山
Shunji Matsuo
俊児 松尾
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Pentax Precision Co Ltd
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Asahi Seimitsu KK
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 トータルステーション、光波測距儀等のAF
機能を有する測量機において、反射面に写る測量機に合
焦されることのない反射鏡を得る。 【構成】 反射面53の前に、AF測量機の送光部が発
する測距光を透過させ、AF装置を作動させる可視光を
透過させない波長選択フィルタ55を設けたAF測量機
用反射鏡。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は、視準望遠鏡とAF装置を有する
測量機に用いる反射鏡に関する。
【0002】
【従来技術及びその問題点】光波測距儀、トータルステ
ーションなどの測量機は、目標(目標物)を視準するた
めの視準望遠鏡を備え、さらに最近の測量機は、自動合
焦機能(AF機能)を備えている。このAF機能は、視
準望遠鏡の焦点調節用のフォーカスレンズを透過した物
体光を焦点面と共役な共役面に導き、その共役面での焦
点状態を検出してフォーカスレンズのデフォーカス量を
演算し、そのデフォーカス量に基づいてフォーカスレン
ズを合焦位置に移動させるものである。このAFの原理
そのものは、よく知られており、AF一眼レフカメラに
広く用いられている。
【0003】このAF機能を備えた測量機は、測点にコ
ーナキューブ等の反射鏡を置き、この反射鏡を視準望遠
鏡で視準してAF装置で合焦させ、送光部から発した測
距光を反射鏡で反射させて受光部に入射させ、公知のア
ルゴリズム(プログラム)により測距する。
【0004】ところがこのAF測量機では、そのAF装
置から見ると、測距エリアの設定によっては、反射鏡が
単なる平面ミラーと等価に判断されることがあり、その
結果、反射鏡でなく、反射面に写るAF測量機に合焦さ
れてしまうことがあった。
【0005】
【発明の目的】本発明は、以上の問題意識に基づき、測
点に置く反射鏡の反射面にはAF機能が働かず、従って
AF測量機には合焦動作が生じない反射鏡を得ることを
目的とする。また本発明は、反射面に写るAF測量機に
は、AF動作が生じにくい反射鏡を得ることを目的とす
る。
【0006】
【発明の概要】本発明は、第一の態様によると、AF測
量機の送光部からの測距光を受光部に向けて反射する反
射面を有する反射鏡において、反射面の前方に、AF測
量機の送光部が発する測距光を透過させ、AF装置を作
動させる可視光を透過させない波長選択フィルタを設け
たことを特徴としている。この態様によると、AF測量
機自体に合焦されることはない。
【0007】測距光として、約700〜900nmの近
赤外光を用いるとき、波長選択フィルタは、約700〜
900nmの光を透過し、400〜700nmの可視光
を透過させない波長選択フィルタとすることが好まし
い。波長選択フィルタ表面には、AF装置による合焦を
容易にするターゲットパターンを設けることが好まし
い。反射面は、具体的にはコーナーキューブプリズム反
射鏡の反射面とするのがよく、波長選択フィルタは、こ
のプリズム反射鏡の光束入射面にコーティングして形成
することができる。
【0008】本発明は、別の態様によると、AF測量機
の送光部からの測距光を受光部に向けて反射する反射面
の前方に、表面にターゲットパターンを有する透光板を
設けたことを特徴としている。この態様によると、反射
面に写るAF測量機に合焦される可能性を減らすことが
できる。
【0009】
【発明の実施の形態】図1に示す測量機(トータルステ
ーションあるいは光波測距儀)は、光波測距儀、視準望
遠鏡及びAF装置を有する。この測量機は、AF機能に
よる合焦モードと、測距機能による合焦モードとを選択
可能にしたもので、本出願人が別途特許出願している
(特願平10−104501号)。
【0010】この光波測距儀は、測距光を送出する送光
部11、測距光を反射するダイクロイックプリズム1
3、測距光を目標物に対して射出する投光レンズおよび
反射鏡(例えばコーナーキューブ)50で反射した測距
光を受光する受光レンズとしても機能する対物レンズ1
5、この対物レンズ15から入射し、ダイクロイックプ
リズム13で反射された測距光を反射するミラー17、
ミラー17で反射された測距光を受光する受光部19、
及び送光部11と受光部19を制御すると共に測距値を
検知する測距演算部21を備えている。送光部11は、
測距ビーム発光手段として発光ダイオードあるいはレー
ザダイオードと、これらの素子を組み込んだ光学系を含
む送光ユニットなどで構成されている。ダイクロイック
プリズム13は、測距光は反射するが、自然光(可視
光、約400〜700nm)は透過するように形成され
ている。そのため測距光としては通常、可視光領域から
外れた、例えば近赤外光領域(約700〜900nm)
の光が使用される。
【0011】測距演算部21は、送光部11が射出した
測距光(内部参照光)および受光部19が受光した測距
光に基づいて、位相差測定法、光レーダ法などによる公
知のアルゴリズムによって目標物までの距離を算出す
る。算出した距離は、図示しないが、表示パネルなどに
表示する。フォーカスレンズ位置演算部23は、この測
距演算部21が演算した距離に基づいて、その距離にあ
る目標物に合焦するに必要なフォーカスレンズ31の移
動位置を演算する。
【0012】一方、視準望遠鏡は、目標物側から順に、
対物レンズ15、ダイクロイックプリズム13、フォー
カスレンズ31、正立プリズム33、光分割プリズム
(光束分岐系)34、焦点板35及び接眼レンズ37を
備えている。これらの視準望遠鏡と光波測距部は、図示
しないが一体に測量機本体に組み付けられていて、この
本体は、鉛直軸および水平軸を軸として方位、俯仰角調
節自在に基盤に装着されている。
【0013】対物レンズ15から入射した目標物光束
(可視光)は、ダイクロイックプリズム13を透過し、
フォーカスレンズ31、正立プリズム33を介して、正
立実像として焦点板35上あるいはその前後近傍に結像
される。作業者は、この像を、接眼レンズ37を介して
拡大観察する。焦点板35には、測距光を照射する目標
となる測距マークおよびその他測量に必要な十字線など
が設けられていて、作業者は、目標物の像を測距マーク
などと重なった状態で観察し、目標物が測距マーク内に
入るように、つまり測距光が視準物に当たるように視準
望遠鏡の方位、俯仰角を調節する。
【0014】光分割プリズム34によって分岐した光路
上には、焦点板35と共役な共役面35Cにおける焦点
状態(デフォーカス量)を検出する焦点検出センサ41
が設けられている。焦点検出センサ41は、共役面35
Cの近傍に置いたラインセンサで受光した受光信号を、
焦点状態(デフォーカス量)演算部42に出力するもの
で、具体的構成は種々知られている。図2は、その原理
の一例を示すもので、共役面35Cの後方に、集光レン
ズ41a、一対のセパレータレンズ41b、及び、各セ
パレータレンズ41bの後方にそれぞれ位置するCCD
等の一対のラインセンサ41cが配置されている。
【0015】この一対のラインセンサ41cに対する物
体像の入射位置は、目標物の像が共役面35C上に正確
に結像しているとき(合焦)、共役面35Cより前方に
結像しているとき(前ピン)、及び共役面35Cより後
方に結像しているとき(後ピン)とでそれぞれ異なり、
かつ、合焦位置からのずれ量も、一対のラインセンサ4
1c上への物体像の結像位置によって判断できる。一対
のラインセンサ41cの出力を受けた焦点状態演算部4
2は、この出力をプリアンプ(図示せず)で増幅した
後、演算回路(図示せず)で演算することにより、合
焦、非合焦、前ピン、後ピンを検出し、共役面35C上
でのデフォーカス量、及び合焦させるに必要なフォーカ
スレンズ31の移動量を検出する。
【0016】上記フォーカスレンズ位置演算部23と焦
点状態演算部42によるフォーカスレンズ31の移動量
(移動位置)のデータは、合焦態様選択スイッチ45を
介して、いずれか一方がフォーカスレンズ位置制御部4
4に与えられる。フォーカスレンズ位置制御部44は、
フォーカスレンズ位置演算部23と焦点状態演算部42
のいずれか一方の出力と、フォーカスレンズ位置検知装
置29が検知したフォーカスレンズ31のレンズ位置デ
ータとに基づいて、モータなどを駆動源とするフォーカ
スレンズ駆動装置27を動作させてフォーカスレンズ3
1を合焦位置に移動させる。
【0017】従って、フォーカスレンズ31の移動制御
は、合焦態様選択スイッチ45によって、焦点状態(デ
フォーカス量)演算部42をフォーカスレンズ位置制御
部44に接続した状態では、自動合焦モードで行なわ
れ、フォーカスレンズ位置演算部23をフォーカスレン
ズ位置制御部44に接続した状態では、距離優先合焦モ
ードで行なわれることになる。また、マニュアルフォー
カス装置28によって、フォーカスレンズ駆動装置27
を駆動し、フォーカスレンズ31を任意位置に移動させ
ることも可能である。さらに、合焦距離入力手段30に
より特定距離を入力し、この入力距離に合焦するよう
に、フォーカスレンズ位置制御部44を介してフォーカ
スレンズ31を移動させることもできる。合焦距離入力
手段30は、例えばキーボードや、各種メモリーからの
読出情報、あるいは通信情報を用いることができる。
【0018】本発明は、例えば以上のような構成を有す
るAF測量機に用いられる反射鏡50を対象としてい
る。図1及び図3に示した反射鏡50は、ケーシング5
1内にプリズムからなるコーナキューブプリズム反射鏡
52を収納したもので、このプリズム反射鏡52は、入
射面54から入射した入射光を該入射光と平行にして出
射する反射面53を備えている。このプリズム反射鏡5
2自体は周知であるが、本実施形態の反射鏡50のケー
シング51には、入射面54の前面に位置させて、波長
選択フィルタ55が支持されている。この波長選択フィ
ルタ55は、送光部11からの測距光は透過し、可視光
は透過しない波長透過特性を有する。つまり、波長選択
フィルタ55は、測距のために用いられる光は透過し
て、プリズム反射鏡52の入射面54から反射面53に
到達させ、反射面53で反射した光を再び透過させて入
射面54から出射させ、対物レンズ15からダイクロイ
ックプリズム13に入射させる。一方、波長選択フィル
タ55は、AF系を動作させる可視光は、透過しない。
【0019】図5は、この波長選択フィルタ55の波長
透過特性の一例を示している。約400〜700nmの
可視光は透過せず、約700〜900nmの近赤外光
(測距光)は透過する。
【0020】上記構成の反射鏡50によると、送光部1
1から発しダイクロイックプリズム13で反射した測距
光は、波長選択フィルタ55を透過するので、プリズム
反射鏡52の入射面54から反射面53に至り、該反射
面53で反射して再びダイクロイックプリズム13に戻
る。よって、通常の測距動作を行うことができる。一
方、可視光は、波長選択フィルタ55に遮られてプリズ
ム反射鏡52には至らない。つまり、AF測量機が反射
面53に写ることはなく、AF系(焦点検出センサ4
1)がAF測量機自体(つまり反射鏡50の反射面5
3)をターゲットとして認識することがないため、AF
測量機に合焦してしまうという問題点は生じない。
【0021】以上の波長選択特性を有する波長選択フィ
ルタ55は、一様な赤黒い色となり、AF系の合焦精度
に悪影響を及ぼす可能性がある。このため、波長選択フ
ィルタ55の表面には、図4に示すように、ターゲット
パターン56を設けることが好ましい。このターゲット
パターン56は、入射面54から反射面53への測距光
の入射と、反射面53で反射して入射面53に至る測距
反射光の出射を妨げることがないこと、波長選択フィル
タ55の色と明瞭に区別されること、及びAF系(焦点
検出センサ41)が識別する明瞭なエッジを有するこ
と、の各条件を満足するものとする。図示例は、円形の
波長選択フィルタ55の周辺部に、90゜間隔で内側が
尖った白色の三角形状の線を描いたものである。
【0022】本発明の別の実施形態は、波長選択フィル
タ55に代えて、特別な波長選択性を持たない(つま
り、測距光も可視光も透過させる特性を有する)透光板
を設け、この透光板に、ターゲットパターン56を形成
する態様である。この態様では、AF測量機の測距エリ
ア内に、いずれかのターゲットパターン56を位置させ
ることが容易にできるから、反射面53に写るAF測量
機をターゲットと誤認することなく(誤認する可能性少
なく)、反射鏡50に対するAFを実行することができ
る。
【0023】また、波長選択フィルタは、プリズム反射
鏡52の入射面54に、コーティング膜として形成して
もよい。ターゲットパターン56も入射面54に直接形
成することができる。
【0024】
【発明の効果】本発明のAF測量機用反射鏡によれば、
反射面に写るAF測量機に合焦されてしまうという誤合
焦を防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による反射鏡とこれを用いるAF測量機
の一実施形態の要部をブロックで示す図である。
【図2】図1の焦点検出センサー部の具体例を示す図で
ある。
【図3】本発明による反射鏡の一実施形態を示す縦断面
図である。
【図4】図3の右側面図である。
【図5】波長選択フィルタの波長透過特性の一例を示す
グラフ図である
【符号の説明】
11 送光部 13 ダイクロイックプリズム 15 対物レンズ 17 ミラー 19 受光部 21 測距部 23 フォーカスレンズ位置演算部 25 フォーカスレンズ位置制御部 27 フォーカスレンズ駆動装置 29 フォーカスレンズ位置検知装置 31 フォーカスレンズ(焦点調節光学系) 33 正立プリズム 34 ハーフミラー(光束分岐系) 35 焦点板 35C 共役面 37 接眼レンズ 41 焦点検出センサ 42 焦点状態(デフォーカス量)演算部 44 フォーカスレンズ位置制御部 45 合焦態様選択スイッチ 50 反射鏡 51 ケーシング 52 プリズム反射鏡 53 反射面 54 入射面 55 波長選択フィルタ 56 ターゲットパターン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F112 AB05 BA02 CA02 CA06 DA05 DA10 DA19 DA21 DA25 DA26 FA03 2H039 AA01 AB03 AB14 AB22 AC03 2H051 AA12 BA27 CB02 CB07 CB20 CC03 CC04 CC13 CC14

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 測点に置く反射鏡を視準する視準望遠鏡
    と、この視準望遠鏡を上記反射鏡に合焦させるAF装置
    と、反射鏡に向けて測距光を発する送光部と、この測距
    光の反射光を受光する受光部とを有するAF測量機;に
    用いられる上記反射鏡であって、 AF測量機の送光部からの測距光を受光部に向けて反射
    する反射面、及びこの反射面の前方に位置し、上記AF
    測量機の送光部が発する測距光を透過させ、AF装置を
    作動させる可視光を透過させない波長選択フィルタ、を
    有することを特徴とするAF測量機用反射鏡。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の反射鏡において、測距光
    は約700〜900nmの近赤外光であり、波長選択フ
    ィルタは、約700〜900nmの光を透過し、400
    〜700nmの可視光を透過させない波長選択フィルタ
    であるAF測量機用反射鏡。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の反射鏡におい
    て、上記波長選択フィルタ表面に、ターゲットパターン
    が設けられているAF測量機用反射鏡。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれか1項記載の
    反射鏡において、上記反射面はコーナーキューブプリズ
    ム反射鏡に形成され、上記波長選択フィルタは、該プリ
    ズム反射鏡の光束入射面にコーティングして形成されて
    いるAF測量機用反射鏡。
  5. 【請求項5】 測点に置く反射鏡を視準する視準望遠鏡
    と、この視準望遠鏡を上記反射鏡に合焦させるAF装置
    と、反射鏡に向けて測距光を発する送光部と、この測距
    光の反射光を受光する受光部とを有するAF測量機;に
    用いられる上記反射鏡であって、 AF測量機の送光部からの測距光を受光部に向けて反射
    する反射面、及びこの反射面の前方に位置し、表面にタ
    ーゲットパターンを有する透光板、を有することを特徴
    とするAF測量機用反射鏡。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005351700A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Topcon Corp 測量機
KR20150138523A (ko) * 2014-05-29 2015-12-10 한국표준과학연구원 타겟의 자동수평조정장치
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005351700A (ja) * 2004-06-09 2005-12-22 Topcon Corp 測量機
KR20150138523A (ko) * 2014-05-29 2015-12-10 한국표준과학연구원 타겟의 자동수평조정장치
KR101582892B1 (ko) * 2014-05-29 2016-01-08 한국표준과학연구원 타겟의 자동수평조정장치
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