JP2000221514A - リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 - Google Patents
リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法Info
- Publication number
- JP2000221514A JP2000221514A JP11063787A JP6378799A JP2000221514A JP 2000221514 A JP2000221514 A JP 2000221514A JP 11063787 A JP11063787 A JP 11063787A JP 6378799 A JP6378799 A JP 6378799A JP 2000221514 A JP2000221514 A JP 2000221514A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- ribs
- rib
- color pattern
- color
- color filter
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 21
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 claims description 7
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 13
- 230000002950 deficient Effects 0.000 abstract description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000008602 contraction Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N2021/9513—Liquid crystal panels
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Optical Filters (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 リブ付カラーフィルター基板のリブの欠落を
容易に検出する。 【解決手段】 液晶のギャップ制御用のスペーサー突起
（リブ）を故意に形成した、リブ付カラーフィルター基
板において、規則的なカラーパターン及びリブパターン
をＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データか
ら、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含
まないカラーパターンデータとの比較を行い、リブのみ
を検出し、予め設計されたデータと比較することによ
り、リブの欠落を検出する。
容易に検出する。 【解決手段】 液晶のギャップ制御用のスペーサー突起
（リブ）を故意に形成した、リブ付カラーフィルター基
板において、規則的なカラーパターン及びリブパターン
をＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データか
ら、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含
まないカラーパターンデータとの比較を行い、リブのみ
を検出し、予め設計されたデータと比較することによ
り、リブの欠落を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置に用
いられるカラーフィルターにおいて、スペーサー用突起
が付加されたリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検
査方法の分野に属する。
いられるカラーフィルターにおいて、スペーサー用突起
が付加されたリブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検
査方法の分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】従来のカラーフィルター基板の検査方法
は、カラーフィルターの規則的に配列されたカラーパタ
ーンに着目し、カラーフィルター基板をＣＣＤカメラに
より撮像し、入力された信号と、パターン間隔分を遅延
した信号とを比較することにより規則的なパターン以外
のデータを欠陥として検出する方法が多く用いられてい
た。リブ付カラーフィルター基板においても、この方法
により、遅延間隔をリブとカラーパターンとの最小公倍
数の間隔に設定することでリブの欠落の部分的な検出は
可能である。
は、カラーフィルターの規則的に配列されたカラーパタ
ーンに着目し、カラーフィルター基板をＣＣＤカメラに
より撮像し、入力された信号と、パターン間隔分を遅延
した信号とを比較することにより規則的なパターン以外
のデータを欠陥として検出する方法が多く用いられてい
た。リブ付カラーフィルター基板においても、この方法
により、遅延間隔をリブとカラーパターンとの最小公倍
数の間隔に設定することでリブの欠落の部分的な検出は
可能である。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来のカラーフィルター検査方法においては、部分的な
リブの欠落の検出をすることはできても広範囲なリブの
欠落の検出をすることはできない、リブ以外の欠陥と
の区別ができない、リブ欠落部分を面積として判定で
きないといった、問題点がある。
来のカラーフィルター検査方法においては、部分的な
リブの欠落の検出をすることはできても広範囲なリブの
欠落の検出をすることはできない、リブ以外の欠陥と
の区別ができない、リブ欠落部分を面積として判定で
きないといった、問題点がある。
【０００４】本発明は、上記の従来の問題点を解決する
ものであって、リブ付カラーフィルター基板において、
リブ欠落部を容易に検出し、良否の判定を迅速かつ正確
に行うことができる検査方法を提供することを目的とす
る。
ものであって、リブ付カラーフィルター基板において、
リブ欠落部を容易に検出し、良否の判定を迅速かつ正確
に行うことができる検査方法を提供することを目的とす
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】そのために、本発明のリ
ブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法は、液晶
のギャップ制御用のスペーサー突起を故意に形成した、
リブ付カラーフィルター基板において、請求項１にあっ
ては、規則的なカラーパターン及びリブパターンをＣＣ
Ｄカメラにより撮像し、入力された画像データから、リ
ブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含まない
カラーパターンデータとの比較を行い、リブのみを検出
することを特徴とし、請求項２にあっては、規則的なカ
ラーパターン及びリブパターンをＣＣＤカメラにより撮
像し、入力された画像データから、リブを含むカラーパ
ターンデータと近傍のリブを含まないカラーパターンデ
ータとの比較を行い、リブのみを検出した画像データか
ら、画像の収縮処理を行うことによりリブを１点化する
ことにより、リブの欠落個数から欠陥面積を容易に算出
することを特徴とし、請求項３にあっては、規則的なカ
ラーパターン及びリブパターンをＣＣＤカメラにより撮
像し、入力された画像データから、リブを含むカラーパ
ターンデータと近傍のリブを含まないカラーパターンデ
ータとの比較を行い、リブのみを検出した画像データか
ら、リブのみを検出した画像から、位置データを検出
し、予め設計された位置データと比較することより、リ
ブとリブ以外の欠陥を判別することを特徴とし、請求項
４にあっては、規則的なカラーパターン及びリブパター
ンをＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データ
から、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを
含まないカラーパターンデータとの比較を行い、リブの
みを検出した画像データから、画像の収縮処理を行うこ
とによりリブを１点化し、この点をカウントすることに
より単位面積当たりのリブの個数と予め設計された個数
とを比較することにより高速に検査を行うことを特徴と
する。
ブ付カラーフィルター基板のリブ欠落検査方法は、液晶
のギャップ制御用のスペーサー突起を故意に形成した、
リブ付カラーフィルター基板において、請求項１にあっ
ては、規則的なカラーパターン及びリブパターンをＣＣ
Ｄカメラにより撮像し、入力された画像データから、リ
ブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含まない
カラーパターンデータとの比較を行い、リブのみを検出
することを特徴とし、請求項２にあっては、規則的なカ
ラーパターン及びリブパターンをＣＣＤカメラにより撮
像し、入力された画像データから、リブを含むカラーパ
ターンデータと近傍のリブを含まないカラーパターンデ
ータとの比較を行い、リブのみを検出した画像データか
ら、画像の収縮処理を行うことによりリブを１点化する
ことにより、リブの欠落個数から欠陥面積を容易に算出
することを特徴とし、請求項３にあっては、規則的なカ
ラーパターン及びリブパターンをＣＣＤカメラにより撮
像し、入力された画像データから、リブを含むカラーパ
ターンデータと近傍のリブを含まないカラーパターンデ
ータとの比較を行い、リブのみを検出した画像データか
ら、リブのみを検出した画像から、位置データを検出
し、予め設計された位置データと比較することより、リ
ブとリブ以外の欠陥を判別することを特徴とし、請求項
４にあっては、規則的なカラーパターン及びリブパター
ンをＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データ
から、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを
含まないカラーパターンデータとの比較を行い、リブの
みを検出した画像データから、画像の収縮処理を行うこ
とによりリブを１点化し、この点をカウントすることに
より単位面積当たりのリブの個数と予め設計された個数
とを比較することにより高速に検査を行うことを特徴と
する。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図１は、本発明のリブ付カラー
フィルター基板のリブ欠落検査方法の１実施形態を示し
た図である。本発明のリブ欠落検査方法は、リブ付カラ
ーフィルター基板を搬送装置４上に載せられ一定速度で
矢印Ｙ方向に搬送される。カラーフィルター３のカラー
パターンに向けて照明２が配設され、また、カラーパタ
ーンにむけてＣＣＤカメラ１が配設される。ＣＣＤカメ
ラ１の撮像信号は、検出装置５に送られる。検出装置５
は検出部６、比較処理部７、収縮処理部８、データ処理
部９をそなえる。
を参照しつつ説明する。図１は、本発明のリブ付カラー
フィルター基板のリブ欠落検査方法の１実施形態を示し
た図である。本発明のリブ欠落検査方法は、リブ付カラ
ーフィルター基板を搬送装置４上に載せられ一定速度で
矢印Ｙ方向に搬送される。カラーフィルター３のカラー
パターンに向けて照明２が配設され、また、カラーパタ
ーンにむけてＣＣＤカメラ１が配設される。ＣＣＤカメ
ラ１の撮像信号は、検出装置５に送られる。検出装置５
は検出部６、比較処理部７、収縮処理部８、データ処理
部９をそなえる。
【０００７】本実施形態の欠落検査方法について説明す
る。ＣＣＤカメラ１を駆動すると共に搬送装置４を所定
の速度で駆動すると、ＣＣＤカメラ１で撮像したカラー
パターン１０の画像は検出部６に送られ、カラーパター
ン１０の副走査方向Ｙに対応して主走査方向Ｘの検出信
号が得られる。この検出信号は、カラーパターン１０上
にリブがあるとその高さに応じた波形を出力し、その信
号は図２（ｂ）に示すように、Ｘ１・Ｘ２・Ｘ３の位置
に規則的に現れる。これに対し、異物等の不良突起の検
出信号は、不規則にかつサイズもまちまちに現れる。こ
の信号を比較処理部７にて、カラーパターンのピッチＸ
Ｃ１遅延させた信号と比較処理を行うことにより、図２
（ｃ）のごとくリブ信号のみを抽出する。次に、収縮処
理部８にてリブの画像を図３のごとく１点にする。ここ
で１点にならないデータはリブより大きな欠陥として省
くことができる。次に、データ処理部９にて、この１点
のデータを読み出し、この１点の座標データと、予め設
計した座標データとの比較を行うことにより、リブ以外
の欠陥との切り分けを行う。更に、この１点のデータを
図４のごとく単位面積にてカウントすることにより、予
め設計した数との比較を行い、少ない場合はリブの欠落
と判定を行うことができる。
る。ＣＣＤカメラ１を駆動すると共に搬送装置４を所定
の速度で駆動すると、ＣＣＤカメラ１で撮像したカラー
パターン１０の画像は検出部６に送られ、カラーパター
ン１０の副走査方向Ｙに対応して主走査方向Ｘの検出信
号が得られる。この検出信号は、カラーパターン１０上
にリブがあるとその高さに応じた波形を出力し、その信
号は図２（ｂ）に示すように、Ｘ１・Ｘ２・Ｘ３の位置
に規則的に現れる。これに対し、異物等の不良突起の検
出信号は、不規則にかつサイズもまちまちに現れる。こ
の信号を比較処理部７にて、カラーパターンのピッチＸ
Ｃ１遅延させた信号と比較処理を行うことにより、図２
（ｃ）のごとくリブ信号のみを抽出する。次に、収縮処
理部８にてリブの画像を図３のごとく１点にする。ここ
で１点にならないデータはリブより大きな欠陥として省
くことができる。次に、データ処理部９にて、この１点
のデータを読み出し、この１点の座標データと、予め設
計した座標データとの比較を行うことにより、リブ以外
の欠陥との切り分けを行う。更に、この１点のデータを
図４のごとく単位面積にてカウントすることにより、予
め設計した数との比較を行い、少ない場合はリブの欠落
と判定を行うことができる。
【０００８】以上、本発明の実施形態について説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変更
が可能である。例えば、遅延した信号の替わりに、メモ
リーに記憶させた信号でもよいし、また、照明の形態を
変更し、リブの信号をピーク信号として処理することも
可能である。
が、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変更
が可能である。例えば、遅延した信号の替わりに、メモ
リーに記憶させた信号でもよいし、また、照明の形態を
変更し、リブの信号をピーク信号として処理することも
可能である。
【０００９】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よればリブ付カラーフィルター基板においてリブの欠落
を、正確かつ容易に検出し、良否の判定を高速に行うこ
とができる。
よればリブ付カラーフィルター基板においてリブの欠落
を、正確かつ容易に検出し、良否の判定を高速に行うこ
とができる。
【図１】本発明のリブ付カラーフィルター基板のリブ欠
落検査方法の１実施形態を示した図である。
落検査方法の１実施形態を示した図である。
【図２】本発明の実施形態を説明するための図である。
【図３】本発明の実施形態を説明するための図である。
【図４】本発明の実施形態を説明するための図である。
１…ＣＣＤカメラ ２…ライン照明装置 ３…カラーフィルター ４…搬送装置 ５…検出装置 ６…検出部 ７…比較処理部 ８…収縮処理部 ９…データ処理部 １０…カラーパターン
Claims (4)
- 【請求項１】 液晶のギャップ制御用のスペーサー突起
（以下リブと称する）を故意に形成した、リブ付カラー
フィルター基板において、規則的なカラーパターン及び
リブパターンをＣＣＤカメラにより撮像し、入力された
画像データから、リブを含むカラーパターンデータと近
傍のリブを含まないカラーパターンデータとの比較を行
い、リブのみを検出することを特徴とするカラーフィル
ターのリブ欠落検査方法。 - 【請求項２】 液晶のギャップ制御用のスペーサー突起
を故意に形成した、液晶用カラーフィルター基板におい
て、規則的なカラーパターン及びリブパターンをＣＣＤ
カメラにより撮像し、入力された画像データから、リブ
を含むカラーパターンデータと近傍のリブを含まないカ
ラーパターンデータとの比較を行い、リブのみを検出し
た画像データから、画像の収縮処理を行うことによりリ
ブを１点化し、リブの欠落個数から欠陥面積を容易に算
出することを特徴とするカラーフィルターのリブ欠落検
査方法。 - 【請求項３】 液晶のギャップ制御用のスペーサー突起
を故意に形成した、リブ付カラーフィルター基板におい
て、規則的なカラーパターン及びリブパターンをＣＣＤ
カメラにより撮像し、入力された画像データから、リブ
を含むカラーパターンデータと近傍のリブを含まないカ
ラーパターンデータとの比較を行い、リブのみを検出し
た画像データから、リブのみを検出した画像から、位置
データを検出し、予め設計された座標と比較することよ
り、リブとリブ以外の欠陥を判別することを特徴とする
カラーフィルターのリブ欠落検査方法。 - 【請求項４】 液晶のギャップ制御用のスペーサー突起
（リブ）を故意に形成した、リブ付カラーフィルター基
板において、規則的なカラーパターン及びリブパターン
をＣＣＤカメラにより撮像し、入力された画像データか
ら、リブを含むカラーパターンデータと近傍のリブを含
まないカラーパターンデータとの比較を行い、リブのみ
を検出した画像データから、画像の収縮処理を行うこと
によりリブを１点化し、この点をカウントすることによ
り単位面積当たりのリブの個数と予め設計された個数と
を比較することにより高速に検査を行うことを特徴とす
るカラーフィルターのリブ欠落検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06378799A JP4097834B2 (ja) | 1999-02-03 | 1999-02-03 | リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP06378799A JP4097834B2 (ja) | 1999-02-03 | 1999-02-03 | リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000221514A true JP2000221514A (ja) | 2000-08-11 |
| JP4097834B2 JP4097834B2 (ja) | 2008-06-11 |
Family
ID=13239446
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP06378799A Expired - Fee Related JP4097834B2 (ja) | 1999-02-03 | 1999-02-03 | リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4097834B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1322307C (zh) * | 2004-02-27 | 2007-06-20 | 欧姆龙株式会社 | 表面状态检查方法、表面状态检查装置和基板检查装置 |
| CN103792705A (zh) * | 2014-01-28 | 2014-05-14 | 北京京东方显示技术有限公司 | 检测基板缺陷的检测方法及检测装置 |
| CN103809309A (zh) * | 2014-01-22 | 2014-05-21 | 北京京东方显示技术有限公司 | 基板检测设备及方法 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109540918B (zh) * | 2018-11-28 | 2021-04-16 | 鞍钢集团自动化有限公司 | 一种热轧卷边部缺陷检测装置及方法 |
-
1999
- 1999-02-03 JP JP06378799A patent/JP4097834B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1322307C (zh) * | 2004-02-27 | 2007-06-20 | 欧姆龙株式会社 | 表面状态检查方法、表面状态检查装置和基板检查装置 |
| CN103809309A (zh) * | 2014-01-22 | 2014-05-21 | 北京京东方显示技术有限公司 | 基板检测设备及方法 |
| CN103809309B (zh) * | 2014-01-22 | 2016-07-06 | 北京京东方显示技术有限公司 | 基板检测设备及方法 |
| CN103792705A (zh) * | 2014-01-28 | 2014-05-14 | 北京京东方显示技术有限公司 | 检测基板缺陷的检测方法及检测装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP4097834B2 (ja) | 2008-06-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP3826849B2 (ja) | 欠陥検査方法および欠陥検査装置 | |
| JP4230880B2 (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JP2002310937A (ja) | 欠陥検査方法及び装置 | |
| JP4669940B2 (ja) | パターン欠陥検出方法および装置 | |
| JP2005181218A (ja) | 基板検査装置 | |
| JP2000221514A (ja) | リブ付カラーフィルター基板のリブ欠落の検査方法 | |
| JP3320164B2 (ja) | 印刷検査装置 | |
| JPH0739999B2 (ja) | 欠陥検出方法 | |
| JPS5924361B2 (ja) | ２次元画像比較検査装置 | |
| JP4074146B2 (ja) | 印刷汚れ検査方法および装置 | |
| JP2002267619A (ja) | 欠陥検査方法及び装置 | |
| JP2008203229A (ja) | 電子部品の端子位置検出方法 | |
| JP3278518B2 (ja) | 物体の構造および／または模様に関する欠陥を検出する方法および装置 | |
| JP3412732B2 (ja) | 欠陥検査方法及びその装置 | |
| JP2765339B2 (ja) | スルーホール検査装置 | |
| JPH04282442A (ja) | パターン検査装置 | |
| JPH04294260A (ja) | 印刷パタ−ン品質検査装置 | |
| JP2003215050A (ja) | 欠陥検査方法及びその装置 | |
| JPH0543372Y2 (ja) | ||
| JPH11118727A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2002032736A (ja) | 欠陥検査方法及び装置 | |
| JP2001183119A (ja) | パターン検査装置 | |
| JPH05203582A (ja) | 画像処理方法 | |
| JP2007047020A (ja) | 画像欠陥検査装置、画像欠陥検査システム及び画像欠陥検査方法 | |
| JPH11328409A (ja) | シート材欠陥検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050418 |
|
| RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20060120 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070809 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070905 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071102 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20080227 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20080312 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110321 Year of fee payment: 3 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140321 Year of fee payment: 6 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |