JP2000223530A - Flip chip mounting body and mounting method - Google Patents

Flip chip mounting body and mounting method

Info

Publication number
JP2000223530A
JP2000223530A JP11025614A JP2561499A JP2000223530A JP 2000223530 A JP2000223530 A JP 2000223530A JP 11025614 A JP11025614 A JP 11025614A JP 2561499 A JP2561499 A JP 2561499A JP 2000223530 A JP2000223530 A JP 2000223530A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
flip chip
substrate
wiring surface
flip
facing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11025614A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kazuhiro Ikurumi
和宏 王生
Kazumasa Okumura
一正 奥村
Kenichi Yamamoto
憲一 山本
Shoji Tsujimura
昌治 辻村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11025614A priority Critical patent/JP2000223530A/en
Publication of JP2000223530A publication Critical patent/JP2000223530A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/60Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
    • H10W70/67Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their insulating layers or insulating parts
    • H10W70/68Shapes or dispositions thereof
    • H10W70/681Shapes or dispositions thereof comprising holes not having chips therein, e.g. for outgassing, underfilling or bond wire passage
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W74/00Encapsulations, e.g. protective coatings
    • H10W74/10Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition
    • H10W74/15Encapsulations, e.g. protective coatings characterised by their shape or disposition on active surfaces of flip-chip devices, e.g. underfills

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 フリップチップの配線パターンを高周波電流
が流れるときでも、電気的損失の発生を最小限に抑える
ことのできるフリップチップ実装体および実装方法を提
供する。 【解決手段】 バンプ1を有するフリップチップとして
のIC2と、このIC2を実装する基板3と、バンプ1
と基板3との接続部を封止する封止材4とを備え、基板
3におけるIC2の配線面2aに臨む箇所に凹部3aが
形成されて、IC2の配線面2aに臨む箇所には封止材
4が付着していない。これによれば、IC2の配線面2
aに臨む箇所に封止材4がなく、空間が設けられている
ので、IC2の配線パターンを高周波電流が流れるとき
でも、電気的損失の発生を最小限に抑えることができ
て、良好な電気特性とともに実装の良好な信頼性が得ら
れる。
(57) [Problem] To provide a flip chip mounting body and a mounting method capable of minimizing the occurrence of electric loss even when a high-frequency current flows through a wiring pattern of the flip chip. SOLUTION: An IC 2 as a flip chip having a bump 1, a substrate 3 on which the IC 2 is mounted, and a bump 1
And a sealing material 4 for sealing a connection portion between the IC 3 and the substrate 3. A concave portion 3 a is formed at a portion of the substrate 3 facing the wiring surface 2 a of the IC 2, and a sealing portion is formed at a portion facing the wiring surface 2 a of the IC 2. Material 4 is not attached. According to this, the wiring surface 2 of the IC 2
Since the sealing material 4 is not provided at a position facing the area a, a space is provided, so that even when a high-frequency current flows through the wiring pattern of the IC 2, it is possible to minimize the occurrence of electrical loss and obtain a good electric power. Good reliability of mounting as well as characteristics is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はフリップチップ実装
体および実装方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a flip chip mounting body and a mounting method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、フリップチップを基板に実装
したフリップチップ実装体の構造は特公平6−6635
5号公報などに記載されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, the structure of a flip chip mounted body having a flip chip mounted on a substrate has been disclosed in Japanese Patent Publication No. 6-6635.
No. 5 publication.

【0003】図8の(a)〜(c)は従来のフリップチ
ップ実装体の構造を示すもので、ボンディングパッドに
バンプ(突起部)1を形成したフリップチップとしての
裸のIC2と、基板3と、封止材4とから構成され、I
C2のバンプ1が導電性ペーストなどを塗布した状態で
基板3の電極に直接接続されている。また、IC2と基
板3との間はすべて封止材4で満たされて封止されてい
る。
FIGS. 8 (a) to 8 (c) show the structure of a conventional flip chip mounting body, in which a bare IC 2 as a flip chip having bumps (protrusions) 1 formed on bonding pads and a substrate 3 are shown. And a sealing material 4.
The bump 1 of C2 is directly connected to an electrode of the substrate 3 in a state where a conductive paste or the like is applied. The space between the IC 2 and the substrate 3 is entirely filled with a sealing material 4 and sealed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】この種のフリップチッ
プ実装体においては、実装回路の高周波化(数10GH
z)に伴い、実装した接続部が電気的に与える影響が無
視できなくなってきている。つまり、フリップチップ実
装体は、小型化のみならず接続部のサイズが他方式と比
べて小さいため、電気特性として高周波特性が要求され
ている。
In this type of flip-chip mounted body, the frequency of the mounted circuit is increased (several tens of GH).
With z), the electrical effect of the mounted connection portion cannot be ignored. That is, the flip-chip mounted body is required to have high-frequency characteristics as electrical characteristics because the size of the connection portion is smaller than that of other methods, as well as the size reduction.

【0005】しかしながら従来のフリップチップ実装体
の構成によれば、IC2と基板3との間に、主に信頼性
を保つ目的で、すべて封止材4が満たされているため、
この封止材4がIC2の配線パターンを流れる電流を阻
害してIC2の電気的特性劣化の原因となっている。
However, according to the configuration of the conventional flip chip mounting body, the sealing material 4 is entirely filled between the IC 2 and the substrate 3 mainly for the purpose of maintaining reliability.
The sealing material 4 impedes the current flowing through the wiring pattern of the IC 2 and causes the electrical characteristics of the IC 2 to deteriorate.

【0006】以下、IC2の電気的特性劣化の内容につ
いて、図9を参照しながら述べる。
Hereinafter, the details of the electrical characteristic deterioration of the IC 2 will be described with reference to FIG.

【0007】まず、IC2上の配線パターンを高周波電
流が流れるとき、図9に示すように電気力線11がIC
2の信号線12と電流のリターン路(例えばIC2のG
NDパターン配線13)との間に発生する。この電気力
線11はIC2の内部のみならず、IC2の外側を一旦
を通ってリターン路に達する。このIC2の上部の部分
に物質が存在するとそこに電気的損失(誘電体損失)が
発生して流れる電流に対して損失をもたらす。
First, when a high-frequency current flows through a wiring pattern on the IC 2, as shown in FIG.
2 signal line 12 and a current return path (for example, G2 of IC2).
ND pattern wiring 13). The electric lines of force 11 pass not only inside the IC 2 but also outside the IC 2 to reach the return path. If a substance is present in the upper part of the IC 2, an electric loss (dielectric loss) is generated there, causing a loss to the flowing current.

【0008】なお、図9における14はSiなどのIC
2のベース、15はSiO2などのIC2の絶縁層であ
る。
In FIG. 9, reference numeral 14 denotes an IC such as Si.
2 of the base, 15 denotes an insulating layer of IC2, such as SiO 2.

【0009】本発明は上記課題を解決するもので、フリ
ップチップの配線パターンを高周波電流が流れるときで
も、電気的損失の発生を最小限に抑えることのできるフ
リップチップ実装体および実装方法を提供することを目
的とするものである。
The present invention solves the above-mentioned problems, and provides a flip-chip mounting body and a mounting method capable of minimizing the occurrence of electrical loss even when a high-frequency current flows through a wiring pattern of the flip-chip. The purpose is to do so.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明は、基板におけるフリップチップの配線面に臨
む箇所に凹部を形成するなどして、基板におけるフリッ
プチップの配線面に臨む箇所には封止材を付着させない
ようにしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to solve this problem, the present invention provides a method for forming a concave portion in a portion of a substrate facing a wiring surface of a flip chip, for example, in a portion of the substrate facing a wiring surface of a flip chip. Is such that a sealing material is not attached.

【0011】これによれば、フリップチップの配線パタ
ーンを高周波電流が流れるときでも、電気的損失の発生
を最小限に抑えることができる。
According to this, even when a high-frequency current flows through the wiring pattern of the flip chip, it is possible to minimize the occurrence of electrical loss.

【0012】すなわち、ICの配線部に臨む箇所の封止
材や異方性導電樹脂などを減じつつ、実装の信頼性を保
持するよう最小限の封止材や異方性導電樹脂を持たせる
ように構成したので、良好な電気特性とともに実装の良
好な信頼性が得られる。
That is, while reducing the amount of the sealing material and the anisotropic conductive resin at the portion facing the wiring portion of the IC, the minimum sealing material and the anisotropic conductive resin are provided so as to maintain the reliability of mounting. With such a configuration, it is possible to obtain good electrical characteristics and good mounting reliability.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、バンプを有するフリップチップと、このフリップチ
ップを実装する基板と、バンプと基板との接続部を封止
する封止材とを備えたフリップチップ実装体であって、
基板におけるフリップチップの配線面に臨む箇所に凹部
が形成されて、フリップチップの配線面に臨む箇所には
封止材が付着していないものである。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The invention according to claim 1 of the present invention is directed to a flip chip having a bump, a substrate on which the flip chip is mounted, and a sealing material for sealing a connection between the bump and the substrate. A flip-chip mounted body having
A recess is formed in the portion of the substrate facing the wiring surface of the flip chip, and the sealing material is not attached to the portion facing the wiring surface of the flip chip.

【0014】本発明の請求項2に記載の発明は、バンプ
を有するフリップチップと、このフリップチップを実装
する基板と、バンプと基板との接続部を封止する封止材
とを備えたフリップチップ実装体であって、基板におけ
るフリップチップの配線面に臨む箇所に、外部空間に連
通する貫通孔または溝部が形成されて、フリップチップ
の配線面に臨む箇所には封止材が付着していないもので
ある。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a flip chip including a flip chip having a bump, a substrate on which the flip chip is mounted, and a sealing material for sealing a connection portion between the bump and the substrate. In the chip mounting body, a through hole or a groove communicating with the external space is formed in a portion of the substrate facing the wiring surface of the flip chip, and a sealing material is attached to a portion facing the wiring surface of the flip chip. Not something.

【0015】本発明の請求項3に記載の発明は、請求項
1記載のフリップチップ実装体において、フリップチッ
プにおけるその配線面に臨む箇所に、外部空間に連通す
る貫通孔が形成されているものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the flip-chip package according to the first aspect, wherein a through-hole communicating with an external space is formed at a portion of the flip chip facing the wiring surface. It is.

【0016】本発明の請求項4に記載の発明は、請求項
1記載のフリップチップ実装体において、基板における
フリップチップの配線面に臨む箇所に、外部空間に連通
する溝部が形成されているものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the flip-chip package according to the first aspect, wherein a groove communicating with the external space is formed in a portion of the substrate facing the wiring surface of the flip chip. It is.

【0017】これらの構成によれば、フリップチップの
配線面に臨む箇所に封止材が付着することを防止でき、
フリップチップの配線面に臨む箇所に封止材がないの
で、電気特性が良く、かつ、信頼性の高い実装を可能に
するという作用を有する。
According to these configurations, it is possible to prevent the sealing material from adhering to the portion facing the wiring surface of the flip chip,
Since there is no sealing material at the portion facing the wiring surface of the flip chip, the electrical characteristics are good and the effect of enabling highly reliable mounting is achieved.

【0018】本発明の請求項5に記載の発明は、バンプ
を有するフリップチップと、このフリップチップを実装
する基板と、フリップチップと基板との間に挟装される
接着シート材とを備えたフリップチップ実装体であっ
て、フリップチップの配線面に臨む箇所には接着シート
材が配設されずに空間が設けられて、フリップチップの
配線面に臨む箇所には接着シート材が付着していないも
のである。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a flip chip having bumps, a substrate on which the flip chip is mounted, and an adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate. In the flip-chip mounted body, a space is provided in a portion facing the wiring surface of the flip chip without providing an adhesive sheet material, and an adhesive sheet material is attached in a portion facing the wiring surface of the flip chip. Not something.

【0019】この構成によれば、フリップチップの配線
面に臨む箇所に接着シート材が付着することを防止で
き、フリップチップの配線面に臨む箇所に接着シート材
がないので、電気特性が良く、かつ、信頼性の高い実装
を可能にするという作用を有する。
According to this configuration, it is possible to prevent the adhesive sheet material from adhering to the portion facing the wiring surface of the flip chip, and since there is no adhesive sheet material at the portion facing the wiring surface of the flip chip, the electrical characteristics are good. In addition, it has the effect of enabling highly reliable mounting.

【0020】本発明の請求項6に記載の発明は、バンプ
を有するフリップチップと、このフリップチップを実装
する基板と、フリップチップと基板との間に挟装される
接着シート材とを備えたフリップチップ実装体であっ
て、接着シート材が誘電率や誘電正接などの電気的特性
の異なる複数の種類のものが設けられ、フリップチップ
の配線面に臨む箇所には、誘電率が低かったり誘電正接
が低かったりして電気的特性の良好な接着シート材が付
着されているものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided a flip chip having bumps, a substrate on which the flip chip is mounted, and an adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate. A plurality of types of flip-chip mounted bodies with adhesive sheets having different electrical characteristics such as dielectric constant and dielectric loss tangent are provided. An adhesive sheet material having a good electrical property due to a low tangent or the like is attached.

【0021】この構成によれば、フリップチップの配線
面に臨む箇所には、誘電率が低かったり誘電正接が低か
ったりして電気的特性の良好な接着シート材が付着され
ているので、電気特性が良く、かつ、信頼性の高い実装
を可能にするという作用を有する。
According to this structure, since the adhesive sheet material having a good electric property due to a low dielectric constant or a low dielectric loss tangent is attached to the portion facing the wiring surface of the flip chip, And has the effect of enabling highly reliable mounting.

【0022】本発明の請求項7に記載のフリップチップ
実装方法は、バンプを有するフリップチップを基板に実
装して、バンプと基板との接続部を封止材で封止するに
際して、基板におけるフリップチップの配線面に臨む箇
所に凹部を形成することにより、フリップチップの配線
面に臨む箇所に封止材が付着しないようにしたものであ
る。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided a flip chip mounting method, wherein a flip chip having a bump is mounted on a substrate and a connection between the bump and the substrate is sealed with a sealing material. By forming a concave portion at a position facing the wiring surface of the chip, the sealing material is prevented from adhering to a position facing the wiring surface of the flip chip.

【0023】本発明の請求項8に記載のフリップチップ
実装方法は、バンプを有するフリップチップを基板に実
装して、バンプと基板との接続部を封止材で封止するに
際して、基板におけるフリップチップの配線面に臨む箇
所に、外部空間に連通する貫通孔を形成することによ
り、フリップチップの配線面に臨む箇所に封止材が付着
しないようにしたものである。
According to the flip-chip mounting method of the present invention, when a flip chip having a bump is mounted on a substrate and a connection between the bump and the substrate is sealed with a sealing material, the flip-chip mounting method is used. By forming a through hole communicating with the external space at a position facing the wiring surface of the chip, the sealing material is prevented from adhering to a position facing the wiring surface of the flip chip.

【0024】これらの方法によれば、フリップチップの
配線面に臨む箇所に封止材が付着することを防止でき、
フリップチップの配線面に臨む箇所に封止材がないの
で、電気特性が良く、かつ、信頼性の高い実装を可能に
するという作用を有する。
According to these methods, it is possible to prevent the encapsulant from adhering to the portion facing the wiring surface of the flip chip,
Since there is no sealing material at the portion facing the wiring surface of the flip chip, the electrical characteristics are good and the effect of enabling highly reliable mounting is achieved.

【0025】本発明の請求項9に記載のフリップチップ
実装方法は、フリップチップと基板との間に接着シート
材を挟装した状態で、バンプを有するフリップチップを
基板に実装するに際して、フリップチップの配線面に臨
む箇所には接着シート材を配設せずに空間が設けられる
ようにしたものである。
A flip chip mounting method according to a ninth aspect of the present invention is a method for mounting a flip chip having bumps on a substrate with an adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate. The space facing the wiring surface is provided without providing an adhesive sheet material.

【0026】この方法によれば、フリップチップの配線
面に臨む箇所に接着シート材が付着することを防止で
き、フリップチップの配線面に臨む箇所に接着シート材
がないので、電気特性が良く、かつ、信頼性の高い実装
を可能にするという作用を有する。
According to this method, the adhesive sheet material can be prevented from adhering to the portion facing the wiring surface of the flip chip, and since there is no adhesive sheet material at the portion facing the wiring surface of the flip chip, the electric characteristics are good. In addition, it has the effect of enabling highly reliable mounting.

【0027】本発明の請求項10に記載のフリップチッ
プ実装方法は、フリップチップと基板との間に接着シー
ト材を挟装した状態で、バンプを有するフリップチップ
を基板に実装するに際して、接着シート材として誘電率
や誘電正接などの電気的特性の異なる複数の種類のもの
を採用し、フリップチップの配線面に臨む箇所に、誘電
率が低かったり誘電正接が低かったりして電気的特性の
良好な接着シート材を付着させて電気的損失を最小限に
抑えるものである。
According to a tenth aspect of the present invention, in the flip chip mounting method, when mounting the flip chip having the bumps on the substrate with the adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate, Uses multiple types of materials with different electrical characteristics such as dielectric constant and dielectric tangent. Good electrical characteristics due to low dielectric constant or low dielectric tangent at locations facing the flip chip wiring surface. A small adhesive sheet material is adhered to minimize electrical loss.

【0028】この方法によれば、フリップチップの配線
面に臨む箇所には、誘電率が低かったり誘電正接が低か
ったりして電気的特性の良好な接着シート材が付着され
ているので、電気特性が良く、かつ、信頼性の高い実装
を可能にするという作用を有する。
According to this method, since the adhesive sheet material having a good electric property due to a low dielectric constant or a low dielectric loss tangent is attached to the portion facing the wiring surface of the flip chip, And has the effect of enabling highly reliable mounting.

【0029】以下、本発明の実施の形態を図面に基づき
説明する。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0030】(実施の形態1)図1(a)〜(c)は本
発明の第1の実施の形態にかかるフリップチップ実装体
の分解斜視図、断面図および図1(b)のI−I線矢視
図である。
(Embodiment 1) FIGS. 1A to 1C are an exploded perspective view, a sectional view and a sectional view of a flip-chip mounted body according to a first embodiment of the present invention. FIG.

【0031】図1(a)〜(c)に示すように、フリッ
プチップ実装体は、ボンディングパッドにバンプ(突起
部)1を形成したフリップチップとしての裸のIC2
と、このIC2を実装する基板3と、バンプ1と基板3
との接続部を封止するための封止材4とから構成されて
いる。そして、基板3におけるIC2の配線面2aに臨
む箇所に凹部3aが形成されて厚みが薄くなるようにさ
れており、IC2の配線面2aに臨む箇所には封止材4
が設けられていない。
As shown in FIGS. 1 (a) to 1 (c), the flip-chip mounted body is a bare IC 2 as a flip chip having bumps (projections) 1 formed on bonding pads.
And the substrate 3 on which the IC 2 is mounted, the bump 1 and the substrate 3
And a sealing material 4 for sealing the connection part. A concave portion 3a is formed at a portion of the substrate 3 facing the wiring surface 2a of the IC 2 so as to reduce the thickness, and a sealing material 4 is provided at a portion facing the wiring surface 2a of the IC 2.
Is not provided.

【0032】このフリップチップ実装体は以下のように
して実装される。
This flip chip mounting body is mounted as follows.

【0033】まず、実装時に基板3におけるIC2の配
線面2aに臨むことになる箇所に凹部3aを予め形成し
て厚みが薄くなるようにする(ステップ1)。そして、
IC2にバンプ1を形成し、バンプ1に導電性ペースト
(図示せず)を付けて、IC2を基板3上に実装する
(ステップ2)。この時、ステップ2は通常の実装工程
と同様である。また、ステップ2においては、後述する
ステップ3に移る前に、導電性ペーストを乾燥させる工
程が入る場合もある。
First, a concave portion 3a is formed in advance on a portion of the substrate 3 which will face the wiring surface 2a of the IC 2 at the time of mounting so that the thickness is reduced (step 1). And
The bump 1 is formed on the IC 2, a conductive paste (not shown) is applied to the bump 1, and the IC 2 is mounted on the substrate 3 (Step 2). At this time, Step 2 is the same as the normal mounting process. Also, in step 2, a step of drying the conductive paste may be included before moving to step 3 described below.

【0034】次に、実装されたIC2の横から封止材4
を流し込む(ステップ3)。この時、封止材4は毛細管
現象によりIC2と基板3との間の狭い部分にだけ充填
され、IC2の配線面2aに付着することはない。
Next, the sealing material 4 is placed from the side of the mounted IC 2.
(Step 3). At this time, the sealing material 4 is filled only in a narrow portion between the IC 2 and the substrate 3 by a capillary phenomenon, and does not adhere to the wiring surface 2a of the IC 2.

【0035】最後に、封止材4を乾燥させることで、実
装工程が完了する(ステップ4)。
Finally, the mounting process is completed by drying the sealing material 4 (step 4).

【0036】このようにすることで、バンプ1と基板3
との接続部については封止材4で封止して良好な信頼性
を維持しながら、IC2の配線面2aに封止材4が付着
しない実装を良好に行うことができる。そして、IC2
の配線面2aに臨む箇所に封止材4がなく、空間が設け
られているので、IC2の配線パターンを高周波電流が
流れるときでも、電気的損失の発生を最小限に抑えるこ
とができて、良好な電気特性とともに実装の良好な信頼
性が得られる。
By doing so, the bump 1 and the substrate 3
The connection with the sealing member 4 can be satisfactorily mounted with the sealing material 4 and the sealing material 4 is not attached to the wiring surface 2a of the IC 2 while maintaining good reliability. And IC2
Since there is no sealing material 4 at the portion facing the wiring surface 2a and the space is provided, even when a high-frequency current flows through the wiring pattern of the IC 2, the occurrence of electrical loss can be minimized, Good reliability of mounting is obtained together with good electrical characteristics.

【0037】(実施の形態2)図2(a)〜(c)は本
発明の第2の実施の形態にかかるフリップチップ実装体
の分解斜視図、断面図および図2(b)のII−II線矢視
図である。
(Embodiment 2) FIGS. 2A to 2C are an exploded perspective view, a cross-sectional view and a II-II of FIG. 2B of a flip chip mounted body according to a second embodiment of the present invention. FIG.

【0038】図2(a)〜(c)に示すように、フリッ
プチップ実装体は、ボンディングパッドにバンプ(突起
部)1を形成したフリップチップとしての裸のIC2
と、このIC2を実装する基板3と、バンプ1と基板3
との接続部を封止するための封止材4とから構成されて
いる。そして、基板3におけるIC2の配線面2aに臨
む箇所には外部空間に連通する大きな貫通孔3bが形成
されており、IC2の配線面2aに臨む箇所には封止材
4が設けられていない。
As shown in FIGS. 2 (a) to 2 (c), the flip chip mounted body is a bare IC 2 as a flip chip having bumps (projections) 1 formed on bonding pads.
And the substrate 3 on which the IC 2 is mounted, the bump 1 and the substrate 3
And a sealing material 4 for sealing the connection part. A large through-hole 3b communicating with the external space is formed in the portion of the substrate 3 facing the wiring surface 2a of the IC 2, and the sealing material 4 is not provided in a portion facing the wiring surface 2a of the IC 2.

【0039】このフリップチップ実装体は以下のように
して実装される。
This flip chip mounting body is mounted as follows.

【0040】まず、実装時に基板3におけるIC2の配
線面2aに臨むことになる箇所に大きな貫通孔3bを予
め形成しておく(ステップ1)。
First, a large through-hole 3b is formed in advance on a portion of the substrate 3 that faces the wiring surface 2a of the IC 2 during mounting (Step 1).

【0041】そして、IC2にバンプ1を形成し、バン
プ1に導電性ペースト(図示せず)を付けて、IC2を
基板3上に実装する(ステップ2)。この時、ステップ
2は通常の実装工程と同様である。また、ステップ2に
おいては、後述するステップ3に移る前に、導電性ペー
ストを乾燥させる工程が入る場合もある。
Then, a bump 1 is formed on the IC 2, a conductive paste (not shown) is applied to the bump 1, and the IC 2 is mounted on the substrate 3 (step 2). At this time, Step 2 is the same as the normal mounting process. Also, in step 2, a step of drying the conductive paste may be included before moving to step 3 described below.

【0042】次に、実装されたIC2の横から封止材4
を流し込む(ステップ3)。この時、封止材4はIC2
と基板3との間に充填され、余剰分はステップ1にて予
め基板3に開けられた貫通孔3bに流れるので、封止材
4がIC2の配線面2aに付着することはない。
Next, the sealing material 4 is placed from the side of the mounted IC 2.
(Step 3). At this time, the sealing material 4 is IC2
And the substrate 3, and the surplus flows into the through-hole 3 b previously formed in the substrate 3 in step 1, so that the sealing material 4 does not adhere to the wiring surface 2 a of the IC 2.

【0043】最後に、封止材4を乾燥させることで、実
装工程が完了する(ステップ4)。
Finally, the mounting process is completed by drying the sealing material 4 (step 4).

【0044】このようにすることで、バンプ1と基板3
との接続部については封止材4で封止して良好な信頼性
を維持しながら、IC2の配線面2aに封止材4が付着
しない実装を良好に行うことができる。そして、IC2
の配線面2aに臨む箇所に封止材4がなく、空間が設け
られているので、IC2の配線パターンを高周波電流が
流れるときでも、電気的損失の発生を最小限に抑えるこ
とができて、良好な電気特性とともに実装の良好な信頼
性が得られる。しかも、貫通孔3bによりIC2の下方
と外部の空気圧とを同じにすることができるため、実装
の信頼性をさらに高くすることが可能となる。
By doing so, the bump 1 and the substrate 3
The connection with the sealing member 4 can be satisfactorily mounted with the sealing material 4 and the sealing material 4 is not attached to the wiring surface 2a of the IC 2 while maintaining good reliability. And IC2
Since there is no sealing material 4 at the portion facing the wiring surface 2a and the space is provided, even when a high-frequency current flows through the wiring pattern of the IC 2, the occurrence of electrical loss can be minimized, Good reliability of mounting is obtained together with good electrical characteristics. In addition, the through-hole 3b allows the air pressure below the IC 2 to be the same as the air pressure outside the IC 2, so that the reliability of mounting can be further increased.

【0045】なお、ステップ1における貫通孔3bの形
状を図3に示すように段構造にすることも可能である。
The shape of the through-hole 3b in step 1 can be a stepped structure as shown in FIG.

【0046】また、図4に示すように、図1と同様に、
基板3におけるIC2の配線面2aに臨む箇所に凹部3
aを形成して、IC2の配線面2aに臨む箇所には封止
材4が設けらないように構成しながら、IC2に外部空
間に連通する貫通孔2bを形成しても同様にIC2の下
方と外部の空気圧とを同じにすることができ、また、図
5に示すように、IC2下部の配線面2aに臨む箇所に
形成された凹部3aから外部に連通する溝3cを形成し
て、外部の空間につなげることも可能である。
Further, as shown in FIG. 4, similar to FIG.
A concave portion 3 is formed on the portion of the substrate 3 facing the wiring surface 2a of the IC 2.
a is formed so that the sealing material 4 is not provided at the portion facing the wiring surface 2a of the IC 2, and the through hole 2b communicating with the external space is formed in the IC 2 similarly. And the outside air pressure can be made the same, and as shown in FIG. 5, a groove 3c communicating with the outside from a recess 3a formed at a portion facing the wiring surface 2a under the IC 2 is formed. It is also possible to connect to the space.

【0047】(実施の形態3)図6は本発明の第3の実
施の形態にかかるフリップチップ実装体の分解斜視図で
ある。
(Embodiment 3) FIG. 6 is an exploded perspective view of a flip chip package according to a third embodiment of the present invention.

【0048】図6に示すように、このフリップチップ実
装体は、ボンディングパッドにバンプ(突起部)を形成
したフリップチップとしての裸のIC2と、このIC2
を実装する基板3と、IC2と基板3との間に挟装され
る接着シート材としての異方性導電シート5とから構成
されている。そして、従来においては異方性導電シート
をIC2の下部全面に配置していたが、この実施の形態
においては、IC2の配線面2aに臨む箇所には異方性
導電シート5が配設されずに空間部6が設けられて、I
C2の配線面2aに臨む箇所には異方性導電シート5が
付着していない。また、異方性導電シート5の一部は切
欠れており、実装時にはこの切欠部7を介して前記空間
部6が外部空間に連通されるようになっている。
As shown in FIG. 6, this flip-chip mounted body includes a bare IC 2 as a flip chip in which bumps (projections) are formed on bonding pads,
And an anisotropic conductive sheet 5 as an adhesive sheet material sandwiched between the IC 2 and the substrate 3. In the related art, the anisotropic conductive sheet is disposed on the entire lower surface of the IC 2. However, in this embodiment, the anisotropic conductive sheet 5 is not disposed at a position facing the wiring surface 2a of the IC 2. Is provided with a space portion 6,
The anisotropic conductive sheet 5 does not adhere to the portion facing the wiring surface 2a of C2. Further, a part of the anisotropic conductive sheet 5 is notched, and the space 6 is connected to an external space via the notch 7 at the time of mounting.

【0049】このフリップチップ実装体は以下のように
して実装される。
This flip chip mounting body is mounted as follows.

【0050】まず、IC2にバンプ1を形成しておく
(ステップ1)。次に、異方性導電シート5を、IC2
の下部に空間を空けるように配置する(ステップ2)。
最後に、IC2と基板3により異方性導電シート5を挟
み込むようにIC2を実装する(ステップ3)。
First, bumps 1 are formed on IC 2 (step 1). Next, the anisotropic conductive sheet 5 is attached to IC2
(Step 2).
Finally, the IC 2 is mounted so that the anisotropic conductive sheet 5 is sandwiched between the IC 2 and the substrate 3 (step 3).

【0051】このようにすることでも、IC2の配線面
2aに異方性導電シート5が付着しない実装を行うこと
ができる。そして、IC2の配線面2aに臨む箇所に異
方性導電シート5がなく、空間部6が設けられているの
で、IC2の配線パターンを高周波電流が流れるときで
も、電気的損失の発生を最小限に抑えることができて、
良好な電気特性とともに実装の良好な信頼性が得られ
る。しかも、切欠部7によりIC2の下方と外部の空気
圧とを同じにすることができるため、実装の信頼性をさ
らに高くすることが可能となる。
By doing so, mounting can be performed in which the anisotropic conductive sheet 5 does not adhere to the wiring surface 2a of the IC 2. Since there is no anisotropic conductive sheet 5 at a position facing the wiring surface 2a of the IC 2 and the space 6 is provided, even when a high-frequency current flows through the wiring pattern of the IC 2, the occurrence of electric loss is minimized. Can be suppressed to
Good reliability of mounting is obtained together with good electrical characteristics. Moreover, since the notch 7 allows the air pressure below the IC 2 to be equal to the outside air pressure, the reliability of mounting can be further increased.

【0052】なお、異方性導電シート5ではなく、導電
粒子を含まないシートにてフリップ実装を行う場合も同
様である。この時、バンプ1と基板3のパターンとの導
通はバンプ1と基板3のパターンとの直接接触によって
得られる。
The same applies to the case where flip mounting is performed not on the anisotropic conductive sheet 5 but on a sheet containing no conductive particles. At this time, conduction between the bump 1 and the pattern on the substrate 3 is obtained by direct contact between the bump 1 and the pattern on the substrate 3.

【0053】(実施の形態4)図7は本発明の第4の実
施の形態にかかるフリップチップ実装体の分解斜視図で
ある。
(Embodiment 4) FIG. 7 is an exploded perspective view of a flip-chip mounted body according to a fourth embodiment of the present invention.

【0054】図7に示すように、このフリップチップ実
装体は、ボンディングパッドにバンプ(突起部)を形成
したフリップチップとしての裸のIC2と、このIC2
を実装する基板3と、IC2と基板3との間に挟装され
る2種類の異方性導電シート8、9とから構成されてい
る。そして、従来通常は1種類の異方性導電シートをI
C下部全面に配置したいたが、本実施の形態では、主に
電気特性の良い(誘電率が低い、誘電正接が低いなど)
第1の異方性導電シート8をIC2の配線面2aを覆う
ように配置し、主に接着力の強い第2の異方性導電シー
ト9を接合部を覆うように配置している。
As shown in FIG. 7, this flip-chip mounted body includes a bare IC2 as a flip-chip having bumps (protrusions) formed on bonding pads and an IC2.
And two types of anisotropic conductive sheets 8 and 9 sandwiched between the IC 2 and the substrate 3. Conventionally, one kind of anisotropic conductive sheet is usually
Although arranged on the entire lower surface of C, in the present embodiment, mainly good electric characteristics (low dielectric constant, low dielectric loss tangent, etc.)
The first anisotropic conductive sheet 8 is disposed so as to cover the wiring surface 2a of the IC 2, and the second anisotropic conductive sheet 9 having a strong adhesive force is disposed so as to cover the joint.

【0055】このフリップチップ実装体は以下のように
して実装される。
This flip chip mounting body is mounted as follows.

【0056】まず、IC2にバンプ1を形成しておく
(ステップ1)。次に、主に電気特性の良い(誘電率が
低い、誘電正接が低いなど)第1の異方性導電シート8
をIC2の配線面2aを覆うように配置し、主に接着力
の強い第2の異方性導電シート9を接合部を覆うように
配置する(ステップ2)。最後に、IC2と基板3によ
りこれらの異方性導電シート8、9を挟み込むようにI
C2を実装する(ステップ3)。
First, bumps 1 are formed on IC 2 (step 1). Next, the first anisotropic conductive sheet 8 having mainly good electrical characteristics (low dielectric constant, low dielectric loss tangent, etc.)
Are arranged so as to cover the wiring surface 2a of the IC 2, and the second anisotropic conductive sheet 9 having a strong adhesive force is arranged so as to cover the joint (step 2). Finally, the anisotropic conductive sheets 8 and 9 are sandwiched between the IC 2 and the substrate 3 so that
Implement C2 (step 3).

【0057】このようにすることでも、IC2の配線面
2aに対して異方性導電シート8、9の影響が少ない実
装が可能となり、IC2の配線パターンを高周波電流が
流れるときでも、電気的損失の発生を最小限に抑えるこ
とができて、良好な電気特性とともに実装の良好な信頼
性が得られる。
By doing so, mounting with less influence of the anisotropic conductive sheets 8 and 9 on the wiring surface 2a of the IC 2 becomes possible, and even when a high-frequency current flows through the wiring pattern of the IC 2, the electric loss is reduced. Can be minimized, and good reliability of mounting as well as good electrical characteristics can be obtained.

【0058】なお、異方性導電シート8、9ではなく、
導電粒子を含まないシートにてフリップ実装を行う場合
も同様である。この時、バンプ1と基板3のパターンと
の導通はバンプ1と基板3のパターンとの直接接触によ
って得られる。
The anisotropic conductive sheets 8 and 9 are not used.
The same applies to the case where flip mounting is performed on a sheet that does not include conductive particles. At this time, conduction between the bump 1 and the pattern on the substrate 3 is obtained by direct contact between the bump 1 and the pattern on the substrate 3.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、フリップ
チップの配線面に臨む箇所には、空間部が設けられたり
電気的特性の良好な接着シート材が付着されたりしてい
るので、フリップチップの配線パターンを高周波電流が
流れるときでも、電気的損失の発生を最小限に抑えるこ
とのできて、信頼性を保ちながら周波数特性の良い実装
を実現するという有利な効果が得られる。
As described above, according to the present invention, a space portion is provided or an adhesive sheet material having good electric characteristics is attached to a portion facing the wiring surface of the flip chip. Even when a high-frequency current flows through the wiring pattern of the flip chip, it is possible to minimize the occurrence of electrical loss, and to obtain an advantageous effect of realizing mounting with good frequency characteristics while maintaining reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】(a)〜(c)は本発明の第1の実施の形態に
かかるフリップチップ実装体の分解斜視図、断面図およ
び図1(b)のI−I線矢視図である。
FIGS. 1 (a) to 1 (c) are an exploded perspective view, a cross-sectional view, and a view taken along a line II of FIG. 1 (b) of a flip chip mounted body according to a first embodiment of the present invention. .

【図2】(a)〜(c)は本発明の第2の実施の形態に
かかるフリップチップ実装体の分解斜視図、断面図およ
び図2(b)のII−II線矢視図である。
FIGS. 2A to 2C are an exploded perspective view, a cross-sectional view, and a view taken along line II-II of FIG. 2B, of a flip-chip mounted body according to a second embodiment of the present invention. .

【図3】本発明の他の実施の形態にかかるフリップチッ
プ実装体の断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view of a flip chip package according to another embodiment of the present invention.

【図4】本発明の他の実施の形態にかかるフリップチッ
プ実装体の断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a flip chip package according to another embodiment of the present invention.

【図5】本発明の他の実施の形態にかかるフリップチッ
プ実装体のバンプが設けられている箇所より平面視した
平面図である。
FIG. 5 is a plan view of a portion of a flip-chip mounted body according to another embodiment of the present invention where bumps are provided, as viewed in plan.

【図6】本発明の第3の実施の形態にかかるフリップチ
ップ実装体の分解斜視図である。
FIG. 6 is an exploded perspective view of a flip chip mounted body according to a third embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第4の実施の形態にかかるフリップチ
ップ実装体の分解斜視図である。
FIG. 7 is an exploded perspective view of a flip chip mounted body according to a fourth embodiment of the present invention.

【図8】(a)〜(c)は従来のフリップチップ実装体
の分解斜視図、断面図および図8(b)のVIII−VIII線
矢視図である。
8A to 8C are an exploded perspective view, a cross-sectional view, and a view taken along line VIII-VIII in FIG. 8B of a conventional flip chip mounting body.

【図9】封止材による電気的な影響を示す説明図であ
る。
FIG. 9 is an explanatory diagram showing an electric influence by a sealing material.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 バンプ 2 IC(フリップチップ) 2a 配線面 2b 貫通孔 3 基板 3a 凹部 3b 貫通孔 3c 溝 4 封止材 5 異方性導電シート(接着シート材) 6 空間部 8 第1の異方性導電シート(接着シート材) 9 第2の異方性導電シート(接着シート材) Reference Signs List 1 bump 2 IC (flip chip) 2a wiring surface 2b through hole 3 substrate 3a concave portion 3b through hole 3c groove 4 sealing material 5 anisotropic conductive sheet (adhesive sheet material) 6 space 8 first anisotropic conductive sheet (Adhesive sheet material) 9 Second anisotropic conductive sheet (adhesive sheet material)

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 山本 憲一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 辻村 昌治 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5F044 KK01 LL07 LL09 LL11 QQ00 RR10 RR18  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Inventor Kenichi Yamamoto 1006 Kazuma Kadoma, Osaka Pref. Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Term (reference) 5F044 KK01 LL07 LL09 LL11 QQ00 RR10 RR18

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 バンプを有するフリップチップと、この
フリップチップを実装する基板と、バンプと基板との接
続部を封止する封止材とを備えたフリップチップ実装体
であって、基板におけるフリップチップの配線面に臨む
箇所に凹部が形成されて、フリップチップの配線面に臨
む箇所には封止材が付着していないフリップチップ実装
体。
1. A flip chip package comprising: a flip chip having a bump; a substrate on which the flip chip is mounted; and a sealing material for sealing a connection portion between the bump and the substrate, wherein the flip chip includes a flip chip. A flip chip mounting body in which a recess is formed at a position facing a wiring surface of a chip, and a sealing material is not attached at a position facing the wiring surface of the flip chip.
【請求項2】 バンプを有するフリップチップと、この
フリップチップを実装する基板と、バンプと基板との接
続部を封止する封止材とを備えたフリップチップ実装体
であって、基板におけるフリップチップの配線面に臨む
箇所に、外部空間に連通する貫通孔または溝部が形成さ
れて、フリップチップの配線面に臨む箇所には封止材が
付着していないフリップチップ実装体。
2. A flip chip package comprising: a flip chip having a bump; a substrate on which the flip chip is mounted; and a sealing material for sealing a connection portion between the bump and the substrate, wherein the flip chip has A flip chip mounting body in which a through hole or a groove communicating with an external space is formed at a portion facing a wiring surface of a chip, and a sealing material is not attached to a portion facing the wiring surface of the flip chip.
【請求項3】 フリップチップにおけるその配線面に臨
む箇所に、外部空間に連通する貫通孔が形成されている
請求項1記載のフリップチップ実装体。
3. The flip chip package according to claim 1, wherein a through hole communicating with the external space is formed at a portion of the flip chip facing the wiring surface.
【請求項4】 基板におけるフリップチップの配線面に
臨む箇所に、外部空間に連通する溝部が形成されている
請求項1記載のフリップチップ実装体。
4. The flip-chip mounted body according to claim 1, wherein a groove communicating with the external space is formed in a portion of the substrate facing the wiring surface of the flip chip.
【請求項5】 バンプを有するフリップチップと、この
フリップチップを実装する基板と、フリップチップと基
板との間に挟装される接着シート材とを備えたフリップ
チップ実装体であって、フリップチップの配線面に臨む
箇所には接着シート材が配設されずに空間が設けられ
て、フリップチップの配線面に臨む箇所には接着シート
材が付着していないフリップチップ実装体。
5. A flip chip package comprising: a flip chip having a bump; a substrate on which the flip chip is mounted; and an adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate. A flip-chip mounted body in which a space is provided at a portion facing the wiring surface of the flip chip without providing an adhesive sheet material, and no adhesive sheet material is attached at a portion facing the wiring surface of the flip chip.
【請求項6】 バンプを有するフリップチップと、この
フリップチップを実装する基板と、フリップチップと基
板との間に挟装される接着シート材とを備えたフリップ
チップ実装体であって、接着シート材が誘電率や誘電正
接などの電気的特性の異なる複数の種類のものが設けら
れ、フリップチップの配線面に臨む箇所には、誘電率が
低かったり誘電正接が低かったりして電気的特性の良好
な接着シート材が付着されているフリップチップ実装
体。
6. A flip chip mounted body comprising: a flip chip having a bump; a substrate on which the flip chip is mounted; and an adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate. Several types of materials with different electrical characteristics such as dielectric constant and dielectric tangent are provided, and the part facing the wiring surface of the flip chip has a low dielectric constant or a low dielectric tangent. Flip chip mounted body with good adhesive sheet material attached.
【請求項7】 バンプを有するフリップチップを基板に
実装して、バンプと基板との接続部を封止材で封止する
に際して、基板におけるフリップチップの配線面に臨む
箇所に凹部を形成することにより、フリップチップの配
線面に臨む箇所に封止材が付着しないようにしたフリッ
プチップ実装方法。
7. A method for mounting a flip chip having bumps on a substrate and forming a recess in a portion of the substrate facing the wiring surface of the flip chip when sealing a connection portion between the bump and the substrate with a sealing material. A method for mounting a flip chip in which a sealing material does not adhere to a portion facing a wiring surface of the flip chip.
【請求項8】 バンプを有するフリップチップを基板に
実装して、バンプと基板との接続部を封止材で封止する
に際して、基板におけるフリップチップの配線面に臨む
箇所に、外部空間に連通する貫通孔を形成することによ
り、フリップチップの配線面に臨む箇所に封止材が付着
しないようにしたフリップチップ実装方法。
8. When mounting a flip chip having a bump on a substrate and sealing a connection portion between the bump and the substrate with a sealing material, a portion of the substrate facing a wiring surface of the flip chip communicates with an external space. A flip chip mounting method in which a through hole is formed so that a sealing material does not adhere to a portion facing a wiring surface of the flip chip.
【請求項9】 フリップチップと基板との間に接着シー
ト材を挟装した状態で、バンプを有するフリップチップ
を基板に実装するに際して、フリップチップの配線面に
臨む箇所には接着シート材を配設せずに空間が設けられ
るようにしたフリップチップ実装方法。
9. When mounting a flip chip having bumps on a substrate with the adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate, the adhesive sheet material is disposed at a position facing the wiring surface of the flip chip. A flip-chip mounting method in which a space is provided without being provided.
【請求項10】 フリップチップと基板との間に接着シ
ート材を挟装した状態で、バンプを有するフリップチッ
プを基板に実装するに際して、接着シート材として誘電
率や誘電正接などの電気的特性の異なる複数の種類のも
のを採用し、フリップチップの配線面に臨む箇所に、誘
電率が低かったり誘電正接が低かったりして電気的特性
の良好な接着シート材を付着させて電気的損失を最小限
に抑えるフリップチップ実装方法。
10. When mounting a flip chip having bumps on a substrate with an adhesive sheet material sandwiched between the flip chip and the substrate, the adhesive sheet material has electrical characteristics such as a dielectric constant and a dielectric loss tangent. Adopt an adhesive sheet material with good electrical characteristics due to low dielectric constant or low dielectric loss tangent at the part facing the wiring surface of the flip chip by using different kinds of things and minimize the electric loss Flip-chip mounting method.
JP11025614A 1999-02-03 1999-02-03 Flip chip mounting body and mounting method Pending JP2000223530A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11025614A JP2000223530A (en) 1999-02-03 1999-02-03 Flip chip mounting body and mounting method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11025614A JP2000223530A (en) 1999-02-03 1999-02-03 Flip chip mounting body and mounting method

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000223530A true JP2000223530A (en) 2000-08-11

Family

ID=12170775

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11025614A Pending JP2000223530A (en) 1999-02-03 1999-02-03 Flip chip mounting body and mounting method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000223530A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030019779A (en) * 2001-08-31 2003-03-07 이진구 Substrate used to mount flip chip for reducing proximity effect
JP2003092309A (en) * 2001-09-19 2003-03-28 Fuji Electric Co Ltd Semiconductor integrated device
WO2026078902A1 (en) * 2024-10-10 2026-04-16 三菱電機株式会社 Semiconductor device

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03120736A (en) * 1989-10-03 1991-05-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device
JPH04283939A (en) * 1991-03-13 1992-10-08 Sharp Corp Flip chip type semiconductor device
JPH0529393A (en) * 1991-07-22 1993-02-05 Sharp Corp Semiconductor device mounting board
JPH073158U (en) * 1993-06-04 1995-01-17 株式会社村田製作所 Circuit board
JPH08195414A (en) * 1995-01-12 1996-07-30 Toshiba Corp Semiconductor device
JPH09260426A (en) * 1996-03-19 1997-10-03 Sony Corp Mounting board, mounting method, and semiconductor device
JPH09260583A (en) * 1996-03-18 1997-10-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> High frequency semiconductor device
JPH10154859A (en) * 1996-11-25 1998-06-09 Nec Corp Chip type device mounting method and device manufactured by the mounting method
JP2000036504A (en) * 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp Semiconductor device and manufacturing method thereof

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03120736A (en) * 1989-10-03 1991-05-22 Matsushita Electric Ind Co Ltd Semiconductor device
JPH04283939A (en) * 1991-03-13 1992-10-08 Sharp Corp Flip chip type semiconductor device
JPH0529393A (en) * 1991-07-22 1993-02-05 Sharp Corp Semiconductor device mounting board
JPH073158U (en) * 1993-06-04 1995-01-17 株式会社村田製作所 Circuit board
JPH08195414A (en) * 1995-01-12 1996-07-30 Toshiba Corp Semiconductor device
JPH09260583A (en) * 1996-03-18 1997-10-03 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> High frequency semiconductor device
JPH09260426A (en) * 1996-03-19 1997-10-03 Sony Corp Mounting board, mounting method, and semiconductor device
JPH10154859A (en) * 1996-11-25 1998-06-09 Nec Corp Chip type device mounting method and device manufactured by the mounting method
JP2000036504A (en) * 1998-07-21 2000-02-02 Nec Corp Semiconductor device and manufacturing method thereof

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20030019779A (en) * 2001-08-31 2003-03-07 이진구 Substrate used to mount flip chip for reducing proximity effect
JP2003092309A (en) * 2001-09-19 2003-03-28 Fuji Electric Co Ltd Semiconductor integrated device
WO2026078902A1 (en) * 2024-10-10 2026-04-16 三菱電機株式会社 Semiconductor device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2641869B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device
JP2982450B2 (en) Film carrier semiconductor device and method of manufacturing the same
JP2000332055A (en) Flip chip mounting structure and mounting method
KR19990071997A (en) Power Microwave Hybrid Integrated Circuits
US20020153608A1 (en) Land grid array semiconductor device and method of mounting land grid array semiconductor devices
JPH04307769A (en) Electronic device and forming method thereof
JP2647047B2 (en) Flip chip mounting method for semiconductor element and adhesive used in this mounting method
US6111309A (en) Semiconductor device
JP2000223530A (en) Flip chip mounting body and mounting method
JPH046841A (en) Mounting structure of semiconductor device
KR940027134A (en) Manufacturing method of semiconductor integrated circuit device
JPH10261852A (en) Heat seal connector and flexible wiring board
JP2000252414A (en) Semiconductor device
US7169639B2 (en) Semiconductor device manufacturing method
JP2748771B2 (en) Film carrier semiconductor device and method of manufacturing the same
JPH0878599A (en) Integrated circuit package and manufacturing method thereof
JP3547270B2 (en) Mounting structure and method of manufacturing the same
JP3176325B2 (en) Mounting structure and manufacturing method thereof
JPH0817960A (en) QFP structure semiconductor device
JPH03257854A (en) Semiconductor device
JPH10335776A (en) Printed circuit board
JPH04320052A (en) Semiconductor device
JP2002270763A (en) Semiconductor device and method of manufacturing the same
JP2000124251A (en) Semiconductor device and its manufacturing method, circuit board, and electronic equipment
JP2000295039A (en) Piezoelectric oscillator