JP2000224014A - Edge-detecting circuit - Google Patents

Edge-detecting circuit

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JP2000224014A
JP2000224014A JP11024135A JP2413599A JP2000224014A JP 2000224014 A JP2000224014 A JP 2000224014A JP 11024135 A JP11024135 A JP 11024135A JP 2413599 A JP2413599 A JP 2413599A JP 2000224014 A JP2000224014 A JP 2000224014A
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an edge-detecting circuit which can remove the dead time which is the raising or trailing edge un-detecting period of the circuit when the circuit is reset with a measurement reference pulse input. SOLUTION: An edge detecting circuit which detects the rising or trailing edges of input signals at every pulse interval of measured reference pulse signals is constituted of D-type flip-flops A1, A2, B1, and B2. At the time of clearing the flip-flop A1 with the measured reference pulse signals, the edge detected results during the cleared period of the flip-flop A1 are reflected in the D-type flip-flop A1, when the flip-flop A1 is returned to a normal operating state from a cleared state by operating the D-type flip-flop B1 of the other side.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はエッジ検出回路に関
し、特にクロック断検出回路やアラーム(エラー)検出
回路等に用いられるエッジ検出回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an edge detection circuit, and more particularly to an edge detection circuit used for a clock loss detection circuit, an alarm (error) detection circuit, and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、エッジ検出回路においては、入力
した信号の立上りまたは立下りのエッジを検出してお
り、クロック断検出やエラーパルス検出等の検出回路に
用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an edge detection circuit detects a rising or falling edge of an input signal, and is used for a detection circuit such as a clock disconnection detection and an error pulse detection.

【0003】このエッジ検出回路としては、特開平9−
93099号公報に記載された回路例がある。図9はこ
の公報に記載されたエッジ検出回路の一例を示してい
る。図9において、エッジ検出回路は4個のD−フリッ
プフロップ(以下、FFとする)11〜14を直列に接
続しかつ入力信号が1番目のD−FF11に入力される
第1のD−FF群と、エッジ検出を行うか否かを指示す
るエッジ検出制御信号を受けかつ2個のD−FF21,
22を直列に接続した第2のD−FF群と、第1のD−
FF群の1段目の出力と第2のD−FF群の1段目の反
転出力及びその2段目の出力とを入力とするアンド(A
ND)回路51と、このアンド回路51の出力を受ける
第3のD−FF31と、第1のD−FF群の正転及び反
転各出力を入力とするアンド回路41,42と、アンド
回路41,42の出力を入力とするオア(OR)回路6
1とから構成されている。
[0003] This edge detecting circuit is disclosed in
There is a circuit example described in 93099. FIG. 9 shows an example of the edge detection circuit described in this publication. In FIG. 9, a first D-FF in which an edge detection circuit connects four D-flip-flops (hereinafter, referred to as FFs) 11 to 14 in series and an input signal is input to a first D-FF 11 Group and an edge detection control signal for instructing whether or not to perform edge detection.
22 are connected in series, and the first D-FF group is connected to the first D-FF group.
An AND (A) which receives the output of the first stage of the FF group, the inverted output of the first stage of the second D-FF group, and the output of the second stage as inputs
ND) circuit 51, a third D-FF 31 receiving the output of the AND circuit 51, AND circuits 41 and 42 having inputs of the normal and inverted outputs of the first D-FF group as inputs, and an AND circuit 41 (OR) circuit 6 which receives the outputs of.
And 1.

【0004】D−FF11〜14,21,22はクロッ
クCLKの立上り同期で、D−FF31はクロックCL
Kの立下り同期で動作し、またD−FF11はリセット
付きFF、D−FF13はセット付きFF、D−FF1
4はセット、リセット付きFFである。
D-FFs 11 to 14, 21, and 22 are synchronized with the rising edge of a clock CLK, and D-FF 31 is a clock CL.
It operates in synchronization with the falling edge of K, D-FF11 is FF with reset, D-FF13 is FF with set, D-FF1
4 is an FF with set and reset.

【0005】次に、上記のエッジ検出回路の動作につい
て説明する。D−FF11〜14は入力信号INを受
け、クロックCLKの立上りに同期してD−FF11か
らD−FF14へと順次入力信号INをシフトする。ア
ンド回路41はD−FF11〜13の出力とD−FF1
4の反転出力とを入力し、入力信号INの立上りエッジ
の検出を行う。アンド回路42はD−FF11〜13の
反転出力とD−FF14の出力とを入力することで、入
力信号INの立下りエッジ検出を行う。
Next, the operation of the above edge detection circuit will be described. The D-FFs 11 to 14 receive the input signal IN and sequentially shift the input signal IN from the D-FF 11 to the D-FF 14 in synchronization with the rise of the clock CLK. The AND circuit 41 outputs the outputs of the D-FFs 11 to 13 and the D-FF 1
4 is input to detect the rising edge of the input signal IN. The AND circuit 42 detects the falling edge of the input signal IN by receiving the inverted outputs of the D-FFs 11 to 13 and the output of the D-FF 14.

【0006】D−FF21,22はエッジ検出制御信号
ENBを受け、アンド回路51はD−FF11,22の
出力とD−FF21の反転出力とを入力し、D−FF3
1はアンド回路51の出力を入力する。また、エッジ検
出信号ENBをD−FF11のリセット端子に入力し、
D−FF21の出力をD−FF14のリセット端子に入
力し、D−FF31の出力をD−FF13,14のセッ
ト端子に入力する。
The D-FFs 21 and 22 receive the edge detection control signal ENB, and the AND circuit 51 receives the outputs of the D-FFs 11 and 22 and the inverted output of the D-FF 21 and inputs the D-FF 3
1 inputs the output of the AND circuit 51. Also, the edge detection signal ENB is input to the reset terminal of the D-FF11,
The output of the D-FF 21 is input to the reset terminal of the D-FF 14, and the output of the D-FF 31 is input to the set terminals of the D-FFs 13, 14.

【0007】エッジ検出制御信号ENBはクロックCL
Kに同期した信号で、これがロウ・レベルの時にエッジ
検出状態、ハイ・レベルの時にエッジ非検出状態をそれ
ぞれ示す信号である。エッジ検出制御信号ENBがハイ
・レベルになるとD−FF11がリセットされ、次のク
ロックCLKの立上りに同期してD−FF14がリセッ
トされる。
[0007] The edge detection control signal ENB is a clock CL
This signal is a signal synchronized with K, which indicates an edge detection state when it is at a low level, and an edge non-detection state when it is at a high level. When the edge detection control signal ENB becomes high level, the D-FF 11 is reset, and the D-FF 14 is reset in synchronization with the next rising of the clock CLK.

【0008】D−FF11の出力がハイ・レベルの時、
エッジ検出制御信号ENBの立下りエッジをD−FF2
1,22及びアンド回路51で検出し、クロックCLK
の立下りでD−FF31の出力がハイ・レベルになって
D−FF13,14をセットする。
When the output of the D-FF 11 is at a high level,
The falling edge of the edge detection control signal ENB is set to D-FF2
1 and 22 and the AND circuit 51 detect the clock CLK
The output of the D-FF 31 becomes a high level at the falling edge of the D-FF 31 to set the D-FFs 13 and 14.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のエッジ
検出回路では、任意に設定した測定基準パルス信号を基
にパルス間隔毎の立上りまたは立下りのエッジ検出を行
うため、測定基準パルス信号をエッジ検出制御信号EN
Bに入力すると、測定基準パルス信号入力がロウ・レベ
ルの区間ではエッジ検出を行うが、測定基準パルス信号
入力がハイ・レベルとなる区間では入力信号が入力され
るD−FF11がリセット状態となり、入力信号を受付
けなくなってしまう。
In the above-described conventional edge detection circuit, a rising or falling edge at each pulse interval is detected based on an arbitrarily set measurement reference pulse signal. Detection control signal EN
When input to B, the edge detection is performed in the section where the measurement reference pulse signal input is low level, but the D-FF 11 to which the input signal is input is reset in the section where the measurement reference pulse signal input is high level, The input signal will not be accepted.

【0010】このため、エッジ検出制御信号ENBがハ
イ・レベルとなる区間はエッジ非検出区間であると同時
に、エッジ未検出となるデット・タイム区間となってし
まうという問題がある。
Therefore, there is a problem that a section in which the edge detection control signal ENB is at a high level is an edge non-detection section and a dead time section in which an edge is not detected.

【0011】また、入力信号INをクロックCLKの立
上りに同期してD−FF11からD−FF14へと順次
シフトし、各D−FF11〜14の正転及び反転出力を
アンド回路41,42に入力することで入力信号のエッ
ジ検出を行うようになっているため、入力信号のパルス
幅がクロックCLK入力の4周期以上でないと、シフト
した入力信号がアンド回路41,42で相互に打ち消し
合い、入力信号の立上り及び立下りのエッジが無くな
る。このため、入力信号のパルス幅がクロックCLKの
3周期以内であると、立上りまたは立下りのエッジ検出
ができないという問題もある。
The input signal IN is sequentially shifted from the D-FF 11 to the D-FF 14 in synchronization with the rise of the clock CLK, and the normal and inverted outputs of the D-FFs 11 to 14 are input to the AND circuits 41 and 42. Therefore, if the pulse width of the input signal is not more than four cycles of the clock CLK input, the shifted input signals cancel each other out by the AND circuits 41 and 42, and the input signal is detected. The rising and falling edges of the signal are eliminated. For this reason, if the pulse width of the input signal is within three cycles of the clock CLK, there is a problem that the rising or falling edge cannot be detected.

【0012】そこで、本発明の目的は上記の問題点を解
消し、測定基準パルス入力によるエッジ検出回路のリセ
ット時の入力信号の立上りまたは立下りエッジの未検出
期間であるデット・タイムを除去することができるエッ
ジ検出回路を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned problems and to eliminate a dead time which is a period during which a rising or falling edge of an input signal is not detected when the edge detection circuit is reset by input of a measurement reference pulse. It is an object of the present invention to provide an edge detection circuit capable of performing the above.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明によるエッジ検出
回路は、任意にパルス信号発生間隔を設定した一定期間
を示す測定基準パルス信号の入力によって前記測定基準
パルス信号のパルス間隔毎に入力信号の立上り及び立下
りのうちの少なくとも一方を検出するエッジ検出回路で
あって、各々異なるリセット時間を有する第1及び第2
のエッジ検出手段を備え、前記測定基準パルスの入力で
前記第1のエッジ検出手段がリセットされた時に前記入
力信号の立上り及び立下りのうちの少なくとも一方を前
記第2のエッジ検出手段で検出するよう構成している。
According to the present invention, an edge detection circuit according to the present invention receives an input signal at each pulse interval of the measurement reference pulse signal by inputting the measurement reference pulse signal indicating a predetermined period in which the pulse signal generation interval is arbitrarily set. An edge detection circuit for detecting at least one of a rising edge and a falling edge, wherein the first and second edge detection circuits have different reset times.
Edge detection means, and when the first edge detection means is reset by the input of the measurement reference pulse, at least one of a rising edge and a falling edge of the input signal is detected by the second edge detection means. It is configured as follows.

【0014】すなわち、本発明のエッジ検出回路は、任
意に設定した測定基準パルス信号の入力によって測定基
準パルス信号のパルス間隔毎に入力信号の立上りまたは
立下りのエッジ検出を行うエッジ検出回路において、測
定基準パルス信号のパルス間隔毎に入力信号の立上りま
たは立下りのエッジ検出を行うエッジ検出回路を、リセ
ット時間の異なる2系統のD−FFで構成している。
That is, an edge detection circuit according to the present invention is an edge detection circuit for detecting a rising edge or a falling edge of an input signal at every pulse interval of a measurement reference pulse signal by inputting a measurement reference pulse signal arbitrarily set. An edge detection circuit for detecting the rising or falling edge of the input signal at each pulse interval of the measurement reference pulse signal is configured by two D-FFs having different reset times.

【0015】このリセット時間の異なる2系統のエッジ
検出回路において、第1のエッジ検出回路は入力信号の
エッジでセットされ、測定基準パルスの立上りでリセッ
トされる。一方、第2のエッジ検出回路は第1のエッジ
検出回路がリセットされる時に検出可能状態となり、入
力信号のエッジ検出を行う。
In the two types of edge detection circuits having different reset times, the first edge detection circuit is set at the edge of the input signal and reset at the rising edge of the measurement reference pulse. On the other hand, the second edge detection circuit becomes detectable when the first edge detection circuit is reset, and performs edge detection of the input signal.

【0016】第2のエッジ検出回路のリセットは測定基
準パルスの立下りで行う。これによって、第1のエッジ
検出回路が未検出期間に見逃した入力信号のエッジを第
2のエッジ検出回路が検出し、これを検出期間にある第
1のエッジ検出回路に再び入力させて検出させることが
可能となる。
The reset of the second edge detection circuit is performed at the falling edge of the measurement reference pulse. As a result, the second edge detection circuit detects an edge of the input signal that the first edge detection circuit has missed in the non-detection period, and causes the first edge detection circuit in the detection period to input the edge again to detect it. It becomes possible.

【0017】したがって、測定基準パルス入力によるエ
ッジ検出回路クリア時の入力信号の立上りまたは立下り
エッジの未検出期間であるデット・タイム期間を除去す
るという効果が得られる。また、測定基準パルスをクロ
ックCLKの二倍の周期にすることで、一定期間の制限
を無くし、入力信号INのエッジを検出したら常に検出
パルスを出力するエッジ検出回路に切換えることが可能
となる。
Therefore, an effect of removing a dead time period, which is a period during which a rising or falling edge of an input signal is not detected when an edge detection circuit is cleared by input of a measurement reference pulse, is obtained. In addition, by setting the measurement reference pulse to have a cycle twice as long as the clock CLK, it is possible to eliminate the limitation of a fixed period and to switch to an edge detection circuit that always outputs a detection pulse when an edge of the input signal IN is detected.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。図1は本発明の一実施例による
エッジ検出回路の構成を示す図である。図において、本
発明の一実施例によるエッジ検出回路はD−フリップフ
ロップ(以下、FFとする)A1,A2,B1,B2,
C1,C2と、オア(OR)回路D1〜D3と、アンド
(AND)回路E1と、n段カウンタF1と、デコーダ
G1とから構成されている。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to one embodiment of the present invention. In the figure, an edge detection circuit according to an embodiment of the present invention includes D-flip-flops (hereinafter, referred to as FFs) A1, A2, B1, B2,
C1, C2, or (OR) circuits D1 to D3, AND circuit E1, n-stage counter F1, and decoder G1.

【0019】D−FFA1,B1はクロックCLKの立
下り同期、D−FFA2,B2,C1,C2はクロック
CLKの立上り同期で動作するD−FFである。また、
D−FFA1,B1はリセット付きのD−FFである。
D-FFAs 1 and B1 are D-FFs operating in synchronization with the falling edge of the clock CLK, and D-FFAs 2, B2, C1 and C2 are D-FFs operating in synchronization with the rising edge of the clock CLK. Also,
D-FFA1 and B1 are D-FFs with reset.

【0020】n段カウンタF1はクロックの立上り同期
で、0値から(2n −1)値までのカウント・アップ動
作するカウンタ回路である。また、n段カウンタF1は
(2n −1)値までカウント・アップしたら0値に戻
り、再度カウント・アップを開始するカウンタ回路であ
る。
The n-stage counter F1 is a counter circuit that counts up from a value of 0 to a value of (2 n -1) in synchronization with a rising edge of a clock. The n-stage counter F1 is a counter circuit that returns to a value of 0 when counting up to a value of (2 n -1) and starts counting up again.

【0021】デコーダG1はn本のデータ入力で表せら
れる2n 値から、1値または複数値をデコードして出力
するデコーダ回路である。また、デコーダG1はm本の
デコーダ制御信号入力CNTによって2m 通りの出力が
得られる。
The decoder G1 is a decoder circuit for decoding one or more values from 2 n values represented by n data inputs and outputting the decoded values. The decoder G1 can obtain 2 m outputs by m decoder control signal inputs CNT.

【0022】入力信号INはD−FFC1に入力され、
シフト・レジスタ動作のD−FFC1,C2でクロック
CLKの立上りに同期して順次シフトされる。アンド回
路E1はD−FFC1の正転出力とD−FFC2の反転
出力とが入力され、入力信号INから入力される立上り
エッジを持ったパルスがクロックCLKの周期の2倍以
上になっても、常に入力信号INの立上りエッジを基に
クロックCLKの1周期のハイ・レベルのパルスを微分
整形して出力する。
The input signal IN is input to the D-FFC1,
The data is sequentially shifted by the D-FFC1 and C2 of the shift register operation in synchronization with the rising edge of the clock CLK. The AND circuit E1 receives the non-inverted output of the D-FFC1 and the inverted output of the D-FFC2, and even if the pulse having the rising edge input from the input signal IN becomes twice or more the period of the clock CLK, The high-level pulse of one cycle of the clock CLK is always differentially shaped based on the rising edge of the input signal IN and output.

【0023】オア回路D1はD−FFA1,B2の出力
とアンド回路E1の出力とが入力され、D−FFA1は
オア回路D1の出力が入力される。また、デコーダG1
の出力をD−FFA1のリセット端子に入力する。
The OR circuit D1 receives the outputs of the D-FFA1 and B2 and the output of the AND circuit E1, and the D-FFA1 receives the output of the OR circuit D1. Also, the decoder G1
Is input to the reset terminal of the D-FFA1.

【0024】同様に、オア回路D2はD−FFB1の出
力とアンド回路E1の出力とが入力され、D−FFB1
はオア回路D2の出力が入力される。また、デコーダG
1の反転出力をD−FFB1のリセット端子に入力す
る。
Similarly, the output of the D-FFB1 and the output of the AND circuit E1 are input to the OR circuit D2.
Is the output of the OR circuit D2. Also, the decoder G
1 is input to the reset terminal of D-FFB1.

【0025】このため、アンド回路E1からの入力信号
INのパルスがオア回路D1を通ってD−FFA1に入
力されると、D−FFA1からオア回路D1への帰還ル
ープによって、デコーダG1からの測定基準パルスがリ
セット端子に入力されない限り、D−FFA1はハイ・
レベルを保持し続けることとなる。オア回路D2及びD
−FFB1の構成も上記のオア回路D1及びD−FFA
1の構成と同様であり、同様の動作となる。
For this reason, when the pulse of the input signal IN from the AND circuit E1 is input to the D-FFA1 through the OR circuit D1, the measurement from the decoder G1 is performed by the feedback loop from the D-FFA1 to the OR circuit D1. D-FFA1 is high unless a reference pulse is input to the reset terminal.
You will keep the level. OR circuits D2 and D
The configuration of the FFB1 is also the OR circuit D1 and the D-FFA described above.
1 and the operation is similar.

【0026】D−FFA1,B1のリセット条件はD−
FFA1がデコードG1から出力される測定基準パルス
のハイ・レベルでリセット状態とし、D−FFB1は測
定基準パルスのロウ・レベルでリセット状態となる。
The reset condition of D-FFA1 and B1 is D-
FFA1 is reset when the measurement reference pulse output from the decode G1 is at a high level, and D-FFB1 is reset when the measurement reference pulse is at a low level.

【0027】D−FFA1,B1のリセット条件を上記
のような異なったリセット条件とするのは、一定間隔に
D−FFA1のリセット端子に入力されるデコードG1
からの測定基準パルス出力によるD−FFA1のリセッ
ト状態時に、アンド回路E1からの入力信号INのパル
スが入力されてもリセット条件の異なるD−FFB1で
アンド回路E1からの入力INのパルスを検出するため
である。
The reason why the reset conditions of the D-FFAs 1 and B1 are set to different reset conditions as described above is that the decode G1 inputted to the reset terminal of the D-FFA1 at a fixed interval is used.
When the D-FFA1 is reset by the output of the measurement reference pulse from the D-FFA1, the pulse of the input IN from the AND circuit E1 is detected by the D-FFB1 having a different reset condition even if the pulse of the input signal IN from the AND circuit E1 is input. That's why.

【0028】D−FFB2はD−FFB1の出力を入力
とし、クロックCLKに同期してD−FFB1の出力を
シフト出力し、D−FFA1のリセット状態の解除後に
D−FFB1のエッジ検出結果をD−FFA1に反映さ
せるために設けられている。
The D-FFB2 receives the output of the D-FFB1 as an input, shifts the output of the D-FFB1 in synchronization with the clock CLK, and outputs the edge detection result of the D-FFB1 after releasing the reset state of the D-FFA1. -Provided to reflect on FFA1.

【0029】したがって、任意に設定した一定期間での
エッジ検出における入力信号INのエッジ未検出となる
デット・タイムを除去することができる。また、デコー
ダG1のデコード値を奇数値または偶数値に設定し、測
定基準パルスをクロックCLKの二倍の周期にすること
で一定期間の制限を無くし、入力信号INのエッジを検
出したら常に検出パルスを出力するエッジ検出に切換え
ることができる。
Therefore, it is possible to eliminate the dead time in which the edge of the input signal IN is not detected in the edge detection in the arbitrarily set fixed period. In addition, the decoding value of the decoder G1 is set to an odd value or an even value, and the measurement reference pulse is set to a period twice as long as the clock CLK, so that the limitation of a certain period is eliminated. Is output.

【0030】オア回路D3はエッジ検出を行うD−FF
を、異なるリセット条件でD−FFA1とD−FFB1
との2系統に分けているため、D−FFA1,B1夫々
の出力を入力として2つのエッジ検出信号を1つのエッ
ジ検出信号にする。D−FFA2はオア回路D3で1つ
にまとめたエッジ検出信号をクロックCLKに同期して
シフトし、エッジ検出信号出力OUTとする。
The OR circuit D3 is a D-FF for performing edge detection.
And D-FFA1 and D-FFB1 under different reset conditions.
Therefore, the two edge detection signals are converted into one edge detection signal using the outputs of the D-FFAs 1 and B1 as inputs. The D-FFA2 shifts the edge detection signals combined by the OR circuit D3 into one in synchronization with the clock CLK, and uses the shifted signal as an edge detection signal output OUT.

【0031】n段カウンタF1はn本の出力を持ち、ク
ロックCLKの立上りに同期してカウント・アップした
値を出力する。デコーダG1はn段カウンタF1からの
カウント・アップ値出力n本が入力され、設定した値が
入力された時にのみハイ・パルスを出力する。したがっ
て、(n段カウンタF1)+(デコーダG1)の回路に
よって、一定間隔の測定基準パルスを生成する。また、
デコーダG1に入力するm本のデコード制御信号CNT
によって、デコーダG1は2m 通りの測定基準パルスを
出力することができる。上記のn段カウンタF1及びデ
コーダG1については当業者にとってよく知られている
ので、その詳細な構成及び動作についての説明は省略す
る。
The n-stage counter F1 has n outputs and outputs a value counted up in synchronization with the rise of the clock CLK. The decoder G1 receives n count-up value outputs from the n-stage counter F1 and outputs a high pulse only when a set value is input. Therefore, measurement reference pulses at regular intervals are generated by the circuit of (n-stage counter F1) + (decoder G1). Also,
M decode control signals CNT input to the decoder G1
Accordingly, the decoder G1 can output 2 m kinds of measurement reference pulses. Since the above-mentioned n-stage counter F1 and decoder G1 are well known to those skilled in the art, the description of the detailed configuration and operation thereof will be omitted.

【0032】図2は図1のエッジ検出回路に入力される
入力信号が測定基準パルス間に入力された時の動作を示
すタイミングチャートである。これら図1及び図2を参
照して本発明の一実施例の動作について説明する。
FIG. 2 is a timing chart showing an operation when an input signal input to the edge detection circuit of FIG. 1 is input between measurement reference pulses. The operation of the embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0033】以下、デコーダG1のデコード値によって
任意に設定した一定期間に、立上りエッジを持ったパル
スが入力信号INから入力された時のエッジ検出動作に
ついて説明する。
Hereinafter, an edge detection operation when a pulse having a rising edge is input from the input signal IN during a predetermined period arbitrarily set by the decode value of the decoder G1 will be described.

【0034】任意に設定可能な入力信号INの立上りエ
ッジ検出測定期間t1,t2,・・・において、立上り
エッジを持ったパルスが入力信号INから入力される
と、クロックCLKに同期してD−FFC1,C2でシ
フトされ、D−FFC1の出力及びD−FFC2の反転
出力を入力とするアンド回路E1でクロックCLKに同
期したクロックCLKの1周期幅のパルスに微分整形し
て出力する。
When a pulse having a rising edge is input from the input signal IN during the rising edge detection measurement period t1, t2,... Of the input signal IN that can be set arbitrarily, D- is synchronized with the clock CLK. The AND circuit E1 which receives the output of the D-FFC1 and the inverted output of the D-FFC2 is differentially shaped into a pulse of one cycle width of the clock CLK synchronized with the clock CLK, and outputs the pulse.

【0035】D−FFA1はオア回路D1を介して、こ
のアンド回路E1から出力された入力信号INのパルス
をクロックCLKの反転に同期して取込み、デコードG
1からの測定基準パルスのハイ・パルスが出力されるま
で、D−FFA1はハイ・レベルを保持し続ける。D−
FFA1の出力がオア回路D3を介してD−FFA2に
入力され、入力されたD−FFA1の出力がクロックC
LKの正転に同期してシフト出力され、エッジ検出信号
OUTとして出力される。
The D-FFA1 takes in the pulse of the input signal IN output from the AND circuit E1 via the OR circuit D1 in synchronization with the inversion of the clock CLK, and decodes it.
Until the high pulse of the measurement reference pulse from 1 is output, the D-FFA1 keeps the high level. D-
The output of FFA1 is input to D-FFA2 via OR circuit D3, and the output of D-FFA1 is input to clock C
The output is shifted in synchronization with the forward rotation of LK and output as an edge detection signal OUT.

【0036】尚、測定基準パルスはハイ・パルスである
ため、D−FFB1はリセット状態であり、D−FFB
1及びD−FFB1の出力をクロックCLKの正転に同
期してシフトするD−FFB2は共にロウ・レベルを出
力する。
Since the measurement reference pulse is a high pulse, D-FFB1 is in a reset state and D-FFB1 is in a reset state.
1 and D-FFB2 which shifts the output of D-FFB1 in synchronization with the normal rotation of the clock CLK, both output a low level.

【0037】図3は図1のエッジ検出回路において一定
期間の測定制御を行う測定基準パルスをまたぐ、入力信
号INからの立上りエッジを持ったパルスが入力された
時の動作を示すタイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart showing the operation when a pulse having a rising edge from the input signal IN is input across the measurement reference pulse for performing the measurement control for a certain period in the edge detection circuit of FIG. .

【0038】この図3に示すように、入力信号INから
入力される立上りエッジを持ったパルスが測定期間を示
す測定基準パルス周期より長いパルスであった場合等に
よって、測定基準パルスをまたいで立上りエッジを持っ
たパルスが入力信号INから入力されてもD−FFC
1,C2及びアンド回路E1によって、最小パルス幅と
なるクロックCLKの1周期幅のパルスに微分整形する
ため、エッジ検出信号出力は入力信号INの立上りエッ
ジのあった測定期間でのみ出力され、次の測定期間に誤
ってエッジ検出信号を出力することはない。
As shown in FIG. 3, when a pulse having a rising edge input from the input signal IN is longer than the measurement reference pulse period indicating the measurement period, the pulse rises across the measurement reference pulse. Even if a pulse having an edge is input from the input signal IN, the D-FFC
1, and C2 and the AND circuit E1, the edge detection signal output is output only during the measurement period in which the rising edge of the input signal IN is obtained, since the pulse is differentially shaped into one cycle width pulse of the clock CLK having the minimum pulse width. The edge detection signal is not erroneously output during the measurement period of.

【0039】図4は図1のエッジ検出回路において立上
りエッジを持ったパルスが入力信号INより入力され、
アンド回路E1から微分整形された出力パルスが一定期
間の測定制御を行う測定基準パルスと一致する時の動作
を示すタイミングチャートである。
FIG. 4 shows that the pulse having a rising edge is input from the input signal IN in the edge detection circuit of FIG.
9 is a timing chart showing an operation when an output pulse obtained by differential shaping from an AND circuit E1 matches a measurement reference pulse for performing measurement control for a certain period.

【0040】この図4に示すように、D−FFA1は測
定基準パルスのハイ・レベルでリセット状態となり、測
定基準パルスのハイ・レベル内にアンド回路E1からの
入力信号INの微分整形パルスが入力されても受付けな
いが、D−FFA1のリセット条件と異なる(正反対
の)リセット条件であるD−FFB1が測定基準パルス
のハイ・レベルで動作状態となり、アンド回路E1から
の入力信号INの微分整形パルスを受付ける。
As shown in FIG. 4, the D-FFA1 is reset at the high level of the measurement reference pulse, and the differential shaping pulse of the input signal IN from the AND circuit E1 is input within the high level of the measurement reference pulse. Although D-FFB1 is not accepted even if it is performed, D-FFB1 which is a reset condition different from (directly opposite to) the reset condition of D-FFA1 is activated at the high level of the measurement reference pulse, and the differential shaping of the input signal IN from the AND circuit E1 is performed. Accept the pulse.

【0041】このため、D−FFA1がリセット状態と
なる測定基準パルスのハイ・レベル時に入力信号INか
ら立上りエッジを持ったパルスが入力されても、立上り
エッジの未検出を防ぐことができる。
For this reason, even if a pulse having a rising edge is input from the input signal IN when the D-FFA1 is at the high level of the measurement reference pulse in the reset state, it is possible to prevent the rising edge from being undetected.

【0042】また、D−FFB1の出力をクロックCL
Kに同期してシフトするD−FFB2の出力がオア回路
D1を介してD−FFA1に入力されるため、測定基準
パルスがハイ・レベル(D−FFA1がリセット状態)
の時に、D−FFB1で行ったエッジ検出結果を測定基
準パルスがロウ・レベルとなり、リセット状態から正常
動作状態へ復帰したD−FFA1に反映させることがで
きる。
Further, the output of D-FFB1 is supplied to the clock CL.
Since the output of D-FFB2 that shifts in synchronization with K is input to D-FFA1 via OR circuit D1, the measurement reference pulse is at a high level (D-FFA1 is in a reset state).
At this time, the result of edge detection performed by the D-FFB1 can be reflected on the D-FFA1 that has returned from the reset state to the normal operation state when the measurement reference pulse goes low.

【0043】図5は図1のn段カウンタF1及びデコー
ダG1によって生成出力される測定基準パルスの例を示
すタイミングチャートである。仮に、n段カウンタF1
の段数を4段とすると、この4段カウンタのカウント値
出力は図5のタイミングチャートに示すように、クロッ
クCLKに同期して0〜Fhexの値を出力する。
FIG. 5 is a timing chart showing an example of measurement reference pulses generated and output by the n-stage counter F1 and the decoder G1 in FIG. Assume that an n-stage counter F1
Assuming that the number of stages is four, the count value output of this four-stage counter outputs values of 0 to Fhex in synchronization with the clock CLK as shown in the timing chart of FIG.

【0044】デコーダG1はこのカウント値出力を受
け、任意の値をデコードすることによって、任意に一定
間隔の測定基準パルスを生成出力することができる。図
5の測定基準パルス#1はデコーダG1のデコード値を
Fhexにした時に生成出力される測定基準パルスであ
る。また、測定基準パルス#2はデコーダG1のデコー
ド値を奇数値にした場合の測定基準パルスであり、測定
基準パルス#3はデコード値を0〜2hexと連続した
値にした場合の測定基準パルスである。
The decoder G1 receives the count value output, and decodes an arbitrary value to generate and output a measurement reference pulse at an arbitrary constant interval. The measurement reference pulse # 1 in FIG. 5 is a measurement reference pulse generated and output when the decode value of the decoder G1 is set to Fhex. The measurement reference pulse # 2 is a measurement reference pulse when the decode value of the decoder G1 is an odd value, and the measurement reference pulse # 3 is a measurement reference pulse when the decode value is a continuous value of 0 to 2 hex. is there.

【0045】図6は本発明の他の実施例によるエッジ検
出回路の構成を示す図である。図において、本発明の他
の実施例によるエッジ検出回路はエッジ検出/エッジ非
検出制御入力とするENB入力を増やし、インバータH
1及びデコードG1の出力とD−FFA1,B1のリセ
ット入力間にオア回路D4,アンド回路E2を追加した
以外は図1に示す本発明の一実施例と同様の構成となっ
ており、同一構成要素には同一符号を付してある。
FIG. 6 is a diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to another embodiment of the present invention. In the figure, an edge detection circuit according to another embodiment of the present invention increases an ENB input as an edge detection / non-edge detection control input, and
1 and the same configuration as the embodiment of the present invention shown in FIG. 1 except that an OR circuit D4 and an AND circuit E2 are added between the output of the decode G1 and the reset inputs of the D-FFA1 and B1. Elements have the same reference numerals.

【0046】追加したオア回路D4にはデコードG1の
出力と、新たに増やしたエッジ検出/エッジ非検出制御
入力ENBを入力し、このオア回路D4の出力をD−F
FA1のリセット入力とする。同様に、追加したアンド
回路E2にもデコードG1の出力と、追加したインバー
タH1に入力して反転としたエッジ検出/エッジ非検出
制御入力ENBとを入力し、このアンド回路E2の出力
をD−FFB1のリセット入力とする。
The output of the decode G1 and the newly increased edge detection / non-edge detection control input ENB are input to the added OR circuit D4, and the output of the OR circuit D4 is supplied to the DF.
FA1 reset input. Similarly, the output of the decode G1 and the inverted edge detection / edge non-detection control input ENB that is input to the added inverter H1 and inverted are also input to the added AND circuit E2, and the output of the AND circuit E2 is D- This is used as the reset input of FFB1.

【0047】したがって、新たに増やしたエッジ検出/
エッジ非検出制御入力ENBがロウ・レベルの時はD−
FFA1,B1が正常動作するが、エッジ検出/エッジ
非検出制御入力ENBをハイ・レベルにすると、D−F
FA1,B1は共にリセット状態となり、入力信号IN
のパルスであるアンド回路E1の出力を受付けなくな
る。すなわち、エッジ検出/エッジ非検出制御入力EN
Bによって、入力信号INのエッジ検出動作を行うか
(検出)/行わないか(非検出)の制御が可能となる。
Therefore, the newly increased edge detection /
When the edge non-detection control input ENB is at a low level, D-
Although FFA1 and B1 operate normally, when the edge detection / edge non-detection control input ENB is set to a high level, DF
FA1 and B1 are both reset, and the input signal IN
The output of the AND circuit E1, which is the pulse of the above, is not accepted. That is, edge detection / edge non-detection control input EN
B makes it possible to control whether the edge detection operation of the input signal IN is performed (detected) or not performed (non-detected).

【0048】図7は本発明の別の実施例によるエッジ検
出回路の構成を示す図である。図において、本発明の別
の実施例によるエッジ検出回路はD−FFJ1とアンド
回路E3とn段カウンタF2とnbitD−FFK1と
を追加し、D−FFA1,B1のリセット入力をデコー
ダG1の出力から追加したアンド回路E3の出力に変更
し、デコードG1の出力を追加したn段カウンタF2の
同期リセット端子及びnbitD−FFK1のイネーブ
ル端子に入力するようにした以外は図1に示す本発明の
一実施例と同様の構成となっており、同一構成要素には
同一符号を付してある。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to another embodiment of the present invention. In the figure, an edge detection circuit according to another embodiment of the present invention adds a D-FFJ1, an AND circuit E3, an n-stage counter F2 and an n-bit D-FFK1, and resets D-FFA1 and B1 from the output of the decoder G1. One embodiment of the present invention shown in FIG. 1 except that the output of the added AND circuit E3 is changed and the output of the decode G1 is input to the synchronous reset terminal of the added n-stage counter F2 and the enable terminal of the n-bit D-FFK1. The configuration is similar to that of the example, and the same components are denoted by the same reference numerals.

【0049】図8は本発明の別の実施例によるエッジ検
出回路の動作を示すタイムチャートである。これら図7
及び図8を参照して本発明の別の実施例によるエッジ検
出回路で、一定期間内で複数のエッジ検出を行い、その
都度エッジ検出パルスを出力する場合の動作について説
明する。
FIG. 8 is a time chart showing the operation of the edge detection circuit according to another embodiment of the present invention. These FIG.
The operation of the edge detection circuit according to another embodiment of the present invention in which a plurality of edges are detected within a predetermined period and an edge detection pulse is output each time will be described with reference to FIG.

【0050】本発明の一実施例によるエッジ検出回路の
動作説明で説明したように、D−FFA2から出力され
るエッジ検出信号とD−FFA1から出力されるエッジ
検出信号とをクロックCLKに同期してシフト出力する
D−FFJ1の出力をアンド回路E3に入力すること
で、D−FFA2から出力されたエッジ検出信号を微分
整形する。
As described in the description of the operation of the edge detection circuit according to one embodiment of the present invention, the edge detection signal output from the D-FFA2 and the edge detection signal output from the D-FFA1 are synchronized with the clock CLK. By inputting the output of the D-FFJ1 shifted and output to the AND circuit E3, the edge detection signal output from the D-FFA2 is differentiated and shaped.

【0051】このアンド回路E3から出力された微分整
形パルスをD−FFA1,B1のリセット端子に入力
し、エッジ検出時にハイ・レべルを保持するための(D
−FFA1とオア回路D1との間)及び(D−FFB1
とオア回路D2との間)の帰還ループをクリアする。し
たがって、アンド回路E3は入力信号INの立上りエッ
ジ毎に検出されたエッジ検出信号を出力することができ
る。
The differential shaping pulse output from the AND circuit E3 is input to the reset terminals of the D-FFAs 1 and B1, and (D) for holding a high level when an edge is detected.
-Between FFA1 and OR circuit D1) and (D-FFB1
And the OR circuit D2). Therefore, the AND circuit E3 can output an edge detection signal detected at each rising edge of the input signal IN.

【0052】n段カウンタF2は入力信号INの立上り
エッジ検出毎にエッジ検出信号を出力するアンド回路E
3の出力をカウント・アップ動作イネーブル端子に入力
し、検出されたエッジの数をクロックCLKの反転に同
期してカウントする。また、n段カウンタF2はクロッ
クCLKの正転同期リセット端子にデコーダG1から出
力される測定基準パルスを入力し、測定基準パルス毎に
エッジ検出カウント値をクリアする。
An n-stage counter F2 outputs an edge detection signal every time a rising edge of the input signal IN is detected.
3 is input to the count-up operation enable terminal, and the number of detected edges is counted in synchronization with the inversion of the clock CLK. Further, the n-stage counter F2 inputs the measurement reference pulse output from the decoder G1 to the normal rotation synchronization reset terminal of the clock CLK, and clears the edge detection count value for each measurement reference pulse.

【0053】nbitD−FFK1は動作イネーブル端
子にデコーダG1から出力される測定基準パルスが入力
される。このため、n段カウンタF2のカウント値がデ
コーダG1から出力される測定基準パルスによってクリ
アされる直前に、n段カウンタF2のカウント値を取込
み、次の測定基準パルスが入力されるまで保持し続け
る。
The measurement reference pulse output from the decoder G1 is input to the operation enable terminal of the n-bit D-FFK1. Therefore, immediately before the count value of the n-stage counter F2 is cleared by the measurement reference pulse output from the decoder G1, the count value of the n-stage counter F2 is captured and held until the next measurement reference pulse is input. .

【0054】尚、上述した実施例では立上りエッジのみ
を検出しているが、立下りエッジのみを検出する場合や
両エッジを検出する場合にも適用可能である。つまり、
立下りエッジ検出をする場合にはアンド回路E1をノア
(NOR)回路に変更すればよく、両エッジを検出する
場合にはアンド回路E1を排他的論理和(EX−OR)
回路に変更し、D−FFC2の反転出力を正転出力にす
ればよい。
Although only the rising edge is detected in the above-described embodiment, the present invention can be applied to a case where only the falling edge is detected or a case where both edges are detected. That is,
When detecting a falling edge, the AND circuit E1 may be changed to a NOR circuit. When detecting both edges, the AND circuit E1 is changed to an exclusive OR (EX-OR).
What is necessary is just to change to a circuit and make the inversion output of D-FFC2 into a normal output.

【0055】このように、任意に設定した測定基準パル
ス信号の入力によって、測定基準パルス信号のパルス間
隔毎に入力信号の立上りまたは立下りのエッジ検出を行
うエッジ検出回路を、リセット条件の異なる2系統のD
−FFA1,A2,B1,B2で構成することで、測定
基準パルス入力によるエッジ検出回路クリア時の入力信
号の立上りまたは立下りエッジの未検出期間であるデッ
ト・タイム期間を除去することができる。
As described above, the edge detection circuit which detects the rising or falling edge of the input signal at each pulse interval of the measurement reference pulse signal by the input of the measurement reference pulse signal arbitrarily set is provided by two different reset conditions. System D
With the configuration including -FFA1, A2, B1, and B2, it is possible to eliminate a dead time period that is a period during which a rising or falling edge of an input signal is not detected when an edge detection circuit is cleared by input of a measurement reference pulse.

【0056】また、測定基準パルスをクロックCLKの
二倍の周期にすることで、一定期間の制限を無くし、入
力信号INのエッジを検出したら常に検出パルスを出力
するエッジ検出回路に切換えることができる。
Further, by setting the measurement reference pulse to have a cycle twice as long as the clock CLK, the limitation of a certain period can be eliminated, and when an edge of the input signal IN is detected, the circuit can be switched to an edge detection circuit that always outputs a detection pulse. .

【0057】さらに、エッジ検出回路の回路規模を小さ
くすることができ、測定基準パルス間で一度立上りまた
は立下りのエッジを検出した後に、エッジ検出回路を構
成するD−FFのデータ入力を固定することができ、消
費電力を抑えることができるという効果がある。
Furthermore, the circuit size of the edge detection circuit can be reduced, and once a rising or falling edge is detected between measurement reference pulses, the data input of the D-FF constituting the edge detection circuit is fixed. Therefore, there is an effect that power consumption can be suppressed.

【0058】さらにまた、入力信号が割込み信号と入力
データ信号とを兼用する場合のように2つ以上の機能を
持たせる場合にも有効であり、割込み信号として使う時
にはエッジ検出状態にし、入力データ信号として使う時
にはエッジ非検出状態とすることによって、上記と同様
の効果が得られる。
Further, the present invention is also effective when two or more functions are provided, such as when an input signal is used as both an interrupt signal and an input data signal. When used as a signal, the same effect as described above can be obtained by setting the edge to the non-detection state.

【0059】[0059]

【発明の効果】以上説明したように本発明のエッジ検出
回路によれば、任意にパルス信号発生間隔を設定した一
定期間を示す測定基準パルス信号の入力によって測定基
準パルス信号のパルス間隔毎に入力信号の立上り及び立
下りのうちの少なくとも一方を検出するエッジ検出回路
において、各々異なるリセット時間を有する第1及び第
2のエッジ検出手段を持ち、測定基準パルスの入力で第
1のエッジ検出手段がクリアされた時に入力信号の立上
り及び立下りのうちの少なくとも一方を第2のエッジ検
出手段で検出することによって、測定基準パルス入力に
よるエッジ検出回路のリセット時の入力信号の立上りま
たは立下りエッジの未検出期間であるデット・タイムを
除去することができるという効果がある。
As described above, according to the edge detection circuit of the present invention, the input of the measurement reference pulse signal indicating the fixed period in which the pulse signal generation interval is arbitrarily set is input at each pulse interval of the measurement reference pulse signal. An edge detection circuit for detecting at least one of a rising edge and a falling edge of a signal has first and second edge detecting means each having a different reset time, and the first edge detecting means receives an input of a measurement reference pulse. By detecting at least one of the rising edge and the falling edge of the input signal by the second edge detecting means when the input signal is cleared, the rising edge or the falling edge of the input signal at the time of resetting the edge detecting circuit by the input of the measurement reference pulse is detected. There is an effect that dead time which is an undetected period can be removed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例によるエッジ検出回路の構成
を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to one embodiment of the present invention.

【図2】図1のエッジ検出回路に入力される入力信号が
測定基準パルス間に入力された時の動作を示すタイミン
グチャートである。
FIG. 2 is a timing chart showing an operation when an input signal input to the edge detection circuit of FIG. 1 is input between measurement reference pulses.

【図3】図1のエッジ検出回路において一定期間の測定
制御を行う測定基準パルスをまたぐ、入力信号からの立
上りエッジを持ったパルスが入力された時の動作を示す
タイミングチャートである。
FIG. 3 is a timing chart showing an operation when a pulse having a rising edge from an input signal is input across a measurement reference pulse for performing measurement control for a certain period in the edge detection circuit of FIG. 1;

【図4】図1のエッジ検出回路において立上りエッジを
持ったパルスが入力信号より入力され、アンド回路から
微分整形された出力パルスが一定期間の測定制御を行う
測定基準パルスと一致する時の動作を示すタイミングチ
ャートである。
4 is a diagram showing an operation when a pulse having a rising edge is input from an input signal in the edge detection circuit of FIG. 1 and an output pulse obtained by differential shaping from an AND circuit coincides with a measurement reference pulse for performing measurement control for a certain period; FIG.

【図5】図1のn段カウンタ及びデコーダによって生成
出力される測定基準パルスの例を示すタイミングチャー
トである。
FIG. 5 is a timing chart showing an example of a measurement reference pulse generated and output by an n-stage counter and a decoder in FIG. 1;

【図6】本発明の他の実施例によるエッジ検出回路の構
成を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to another embodiment of the present invention.

【図7】本発明の別の実施例によるエッジ検出回路の構
成を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to another embodiment of the present invention.

【図8】本発明の別の実施例によるエッジ検出回路の動
作を示すタイムチャートである。
FIG. 8 is a time chart showing the operation of the edge detection circuit according to another embodiment of the present invention.

【図9】従来例によるエッジ検出回路の構成を示す図で
ある。
FIG. 9 is a diagram showing a configuration of an edge detection circuit according to a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

A1,A2,B1,B2,C1,C2,J1 D−フリ
ップフロップ D1,D2,D3,D4 オア回路 E1,E2,E3 アンド回路 F1,F2 n段カウンタ G1 デコーダ H1 インバータ K1 nbitD−フリップフロップ
A1, A2, B1, B2, C1, C2, J1 D-flip-flop D1, D2, D3, D4 OR circuit E1, E2, E3 AND circuit F1, F2 n-stage counter G1 decoder H1 inverter K1 nbit D-flip-flop

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 任意にパルス信号発生間隔を設定した一
定期間を示す測定基準パルス信号の入力によって前記測
定基準パルス信号のパルス間隔毎に入力信号の立上り及
び立下りのうちの少なくとも一方を検出するエッジ検出
回路であって、各々異なるリセット時間を有する第1及
び第2のエッジ検出手段を有し、前記測定基準パルスの
入力で前記第1のエッジ検出手段がリセットされた時に
前記入力信号の立上り及び立下りのうちの少なくとも一
方を前記第2のエッジ検出手段で検出するよう構成した
ことを特徴とするエッジ検出回路。
At least one of a rising edge and a falling edge of an input signal is detected at each pulse interval of the measurement reference pulse signal by inputting a measurement reference pulse signal indicating a predetermined period in which a pulse signal generation interval is arbitrarily set. An edge detection circuit, comprising first and second edge detection means each having a different reset time, wherein a rise of the input signal when the first edge detection means is reset by input of the measurement reference pulse; And an edge detection circuit configured to detect at least one of a falling edge and a falling edge by the second edge detection means.
【請求項2】 前記第2のエッジ検出手段の検出結果を
前記第1のエッジ検出手段に入力する手段を含むことを
特徴とする請求項1記載のエッジ検出回路。
2. The edge detection circuit according to claim 1, further comprising means for inputting a detection result of said second edge detection means to said first edge detection means.
【請求項3】 前記第1及び第2のエッジ検出手段は、
D−フリップフロップ回路からなることを特徴とする請
求項1または請求項2記載のエッジ検出回路。
3. The first and second edge detecting means,
3. The edge detecting circuit according to claim 1, comprising a D-flip-flop circuit.
【請求項4】 外部信号に応答して前記第1及び第2の
エッジ検出手段におけるエッジ検出/エッジ非検出を制
御する手段を含むことを特徴とする請求項1から請求項
3のいずれか記載のエッジ検出回路。
4. The apparatus according to claim 1, further comprising means for controlling edge detection / non-edge detection in said first and second edge detection means in response to an external signal. Edge detection circuit.
【請求項5】 前記第2のエッジ検出手段の検出結果を
前記第1のエッジ検出手段に入力することで形成される
帰還ループを前記エッジ検出時にリセットする手段を含
むことを特徴とする請求項2記載のエッジ検出回路。
5. The apparatus according to claim 1, further comprising means for resetting a feedback loop formed by inputting a detection result of said second edge detection means to said first edge detection means when said edge is detected. 2. The edge detection circuit according to 2.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US12135345B2 (en) * 2020-03-31 2024-11-05 Denso Corporation Pulse edge detection circuit

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