JP2000232149A - 半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構 - Google Patents
半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構Info
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- JP2000232149A JP2000232149A JP11031868A JP3186899A JP2000232149A JP 2000232149 A JP2000232149 A JP 2000232149A JP 11031868 A JP11031868 A JP 11031868A JP 3186899 A JP3186899 A JP 3186899A JP 2000232149 A JP2000232149 A JP 2000232149A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 半導体ウエハ収納容器の載置位置決め精度を
長期間に渡って向上させることができる載置位置決め機
構を提供する。 【解決手段】 載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納
容器1の底面の被位置決め溝2と、この被位置決め溝2
の内壁に当接する回転体3Aと、この回転体3Aを回転
自在に支持する支持体3Bとを備えて構築されている。
回転体3Aは、被位置決め溝2の内壁に当接すると速や
かに回転し、半導体ウエハ収納容器1を正確な位置合わ
せの位置までガイドすることができる。
長期間に渡って向上させることができる載置位置決め機
構を提供する。 【解決手段】 載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納
容器1の底面の被位置決め溝2と、この被位置決め溝2
の内壁に当接する回転体3Aと、この回転体3Aを回転
自在に支持する支持体3Bとを備えて構築されている。
回転体3Aは、被位置決め溝2の内壁に当接すると速や
かに回転し、半導体ウエハ収納容器1を正確な位置合わ
せの位置までガイドすることができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体ウエハ収納
容器の載置位置決め機構に関し、特に長期間に渡って半
導体ウエハ収納容器の位置決めを高精度で行うことがで
きる載置位置決め機構に関する。
容器の載置位置決め機構に関し、特に長期間に渡って半
導体ウエハ収納容器の位置決めを高精度で行うことがで
きる載置位置決め機構に関する。
【0002】
【従来の技術】CVD装置、スパッタ装置、露光装置、エ
ッチング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処理装置のロ
ーダやアンローダに半導体ウエハ収納容器を正確に載置
するために、位置決め機構が配設されている。図9は従
来技術に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構
の概略構成図である。同図9に示すように、載置位置決
め機構は、半導体ウエハ収納容器10の底面に配設され
た逆V字型形状の被位置決め溝11と、ローダやアンロ
ーダの載置位置に配設された位置決めピン12とで構築
されている。図示しないが、半導体ウエハ収納容器10
の内部には、半導体ウエハ処理装置に搬送する未処理状
態の複数枚の半導体ウエハが、又は半導体ウエハ処理装
置から搬送された処理済み状態の複数枚の半導体ウエハ
が収納されている。
ッチング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処理装置のロ
ーダやアンローダに半導体ウエハ収納容器を正確に載置
するために、位置決め機構が配設されている。図9は従
来技術に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構
の概略構成図である。同図9に示すように、載置位置決
め機構は、半導体ウエハ収納容器10の底面に配設され
た逆V字型形状の被位置決め溝11と、ローダやアンロ
ーダの載置位置に配設された位置決めピン12とで構築
されている。図示しないが、半導体ウエハ収納容器10
の内部には、半導体ウエハ処理装置に搬送する未処理状
態の複数枚の半導体ウエハが、又は半導体ウエハ処理装
置から搬送された処理済み状態の複数枚の半導体ウエハ
が収納されている。
【0003】図10(A)乃至図10(C)は載置位置
決め機構における位置決め作業手順を段階的に示す作業
工程図である。まず、図10(A)に示すように、半導
体ウエハ処理装置のローダ又はアンローダの載置位置に
おいて、位置決めピン12上に半導体ウエハ収納容器1
0の被位置決め溝11が対応する位置まで、ロボットア
ームやオペレータにより半導体ウエハ収納容器10を搬
送する。この時点においては、位置決めピン12と被位
置決め溝11との間は大まかな位置合わせでよい。
決め機構における位置決め作業手順を段階的に示す作業
工程図である。まず、図10(A)に示すように、半導
体ウエハ処理装置のローダ又はアンローダの載置位置に
おいて、位置決めピン12上に半導体ウエハ収納容器1
0の被位置決め溝11が対応する位置まで、ロボットア
ームやオペレータにより半導体ウエハ収納容器10を搬
送する。この時点においては、位置決めピン12と被位
置決め溝11との間は大まかな位置合わせでよい。
【0004】引き続き、図10(B)に示すように、半
導体ウエハ収納容器10を位置決めピン12に向けて下
方に降下させることにより、被位置決め溝11の傾斜内
壁と位置決めピン12の先端とが当接する。さらに、半
導体ウエハ収納容器10を降下させることにより、位置
決めピン12にガイドされ、位置決めピン12の先端を
被位置決め溝11の内壁がスライドして行く。図10
(C)に示すように、位置決めピン12の先端中央と被
位置決め溝11の頂点とが一致した時点で半導体ウエハ
収納容器10の載置位置が決定され、位置決め作業を完
了させることができる。
導体ウエハ収納容器10を位置決めピン12に向けて下
方に降下させることにより、被位置決め溝11の傾斜内
壁と位置決めピン12の先端とが当接する。さらに、半
導体ウエハ収納容器10を降下させることにより、位置
決めピン12にガイドされ、位置決めピン12の先端を
被位置決め溝11の内壁がスライドして行く。図10
(C)に示すように、位置決めピン12の先端中央と被
位置決め溝11の頂点とが一致した時点で半導体ウエハ
収納容器10の載置位置が決定され、位置決め作業を完
了させることができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述の
半導体ウエハ収納容器10の載置位置決め機構において
は、以下の点について配慮がなされていなかった。 (1)図10(B)及び図10(C)に示すように、被
位置決め溝11と位置決めピン12との間は位置決め作
業毎に接触や擦れを繰り返し生じる。このため、被位置
決め溝11や位置決めピン12には長期間に渡る使用で
磨耗による形状変化が発生し、位置決め精度を低下させ
てしまうという問題点があった。
半導体ウエハ収納容器10の載置位置決め機構において
は、以下の点について配慮がなされていなかった。 (1)図10(B)及び図10(C)に示すように、被
位置決め溝11と位置決めピン12との間は位置決め作
業毎に接触や擦れを繰り返し生じる。このため、被位置
決め溝11や位置決めピン12には長期間に渡る使用で
磨耗による形状変化が発生し、位置決め精度を低下させ
てしまうという問題点があった。
【0006】(2)被位置決め溝11と位置決めピン1
2との間の接触や擦れによってパーティクルを発生させ
てしまう。このため、クリーンルーム内のパーティクル
量を増大させてしまうので、製造上の歩留まりを低下さ
せてしまうという問題点があった。
2との間の接触や擦れによってパーティクルを発生させ
てしまう。このため、クリーンルーム内のパーティクル
量を増大させてしまうので、製造上の歩留まりを低下さ
せてしまうという問題点があった。
【0007】(3)図10(B)に示す接触時に、半導
体ウエハ収納容器10の降下速度や位置合わせの不具合
によっては被位置決め溝11、位置決めピン12のそれ
ぞれに衝撃が加わる可能性がある。特に、半導体ウエハ
収納容器10の搬送がオペレータの手作業で行われる場
合には、搬送状態を一定にすることは極めて難しく、衝
撃が加わる可能性が高い。衝撃が加わった場合には被位
置決め溝11、位置決めピン12のそれぞれに形状変化
や破損が生じ、位置決め精度を低下させてしまうという
問題点があった。
体ウエハ収納容器10の降下速度や位置合わせの不具合
によっては被位置決め溝11、位置決めピン12のそれ
ぞれに衝撃が加わる可能性がある。特に、半導体ウエハ
収納容器10の搬送がオペレータの手作業で行われる場
合には、搬送状態を一定にすることは極めて難しく、衝
撃が加わる可能性が高い。衝撃が加わった場合には被位
置決め溝11、位置決めピン12のそれぞれに形状変化
や破損が生じ、位置決め精度を低下させてしまうという
問題点があった。
【0008】(4)さらに、衝撃は半導体ウエハ収納容
器10の全体に加わり、半導体ウエハ収納容器10の内
部とその内部に収納された半導体ウエハとの間で擦れが
生じ、パーティクルを発生させてしまうので、製造上の
歩留まりを低下させてしまうという問題点があった。
器10の全体に加わり、半導体ウエハ収納容器10の内
部とその内部に収納された半導体ウエハとの間で擦れが
生じ、パーティクルを発生させてしまうので、製造上の
歩留まりを低下させてしまうという問題点があった。
【0009】本発明は上記課題を解決するためになされ
たものである。従って、本発明の目的は、半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め精度を長期間に渡って向上させ
ることができる載置位置決め機構を提供することであ
る。さらに、本発明の目的は、半導体ウエハ収納容器の
載置位置決めに起因するパーティクルの発生を防止する
ことができ、製造上の歩留まりを向上させることができ
る載置位置決め機構を提供することである。さらに、本
発明の目的は、半導体ウエハ収納容器の載置位置決めに
起因する衝撃を緩和することができ、半導体ウエハ収納
容器内部においてパーティクルの発生を防止することが
でき、製造上の歩留まりを向上させることができる載置
位置決め機構を提供することである。
たものである。従って、本発明の目的は、半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め精度を長期間に渡って向上させ
ることができる載置位置決め機構を提供することであ
る。さらに、本発明の目的は、半導体ウエハ収納容器の
載置位置決めに起因するパーティクルの発生を防止する
ことができ、製造上の歩留まりを向上させることができ
る載置位置決め機構を提供することである。さらに、本
発明の目的は、半導体ウエハ収納容器の載置位置決めに
起因する衝撃を緩和することができ、半導体ウエハ収納
容器内部においてパーティクルの発生を防止することが
でき、製造上の歩留まりを向上させることができる載置
位置決め機構を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、この発明の第1の特徴は、半導体ウエハ収納容器の
載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納容器底面
の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当接する回
転自在な回転体と、この回転体を支持する支持体と、を
備えたことである。半導体ウエハ収納容器底面の被位置
決め溝は、回転体との大まかな位置決めを容易に行うこ
とができる広い開口を有し、かつ大まかな位置決めが行
われた後にはスムーズに正確な位置決めを行えるように
回転体でガイドされる内壁を有する断面V字型で形成さ
れる、ことが好ましい。回転体は支持体の上部先端又は
側部に配設される、ことが好ましい。支持体には1個又
は複数個の回転体が回転自在に支持されることが実用的
である。支持体は、例えばCVD装置、スパッタ装置、露
光装置、エッチング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処
理装置のローダ又はアンローダの半導体ウエハ収納容器
の載置位置に配設される。このように構成される半導体
ウエハ収納容器の載置位置決め機構においては、回転体
が半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め溝の内壁に当
接すると、回転体は速やかに回転し、この回転体の回転
によって半導体ウエハ収納容器を正確な位置決めの位置
までガイドすることができる。従って、位置決めでの被
位置決め溝の内壁の擦れによる磨耗並びにこの磨耗によ
る内壁面の形状変化を減少させることができるので、長
期間に渡って精度の高い位置決めを行うことができる。
勿論、回転体は回転しながら被位置決め溝の内壁に接触
するので、回転体自身の擦れや磨耗による形状変化はほ
とんど生じることがない。さらに、被位置決め溝の内壁
の擦れに起因するパーティクルの発生量を減少させるこ
とができるので、パーティクル量の少ない環境を構築す
ることができ、製造上の歩留まりを向上させることがで
きる。
に、この発明の第1の特徴は、半導体ウエハ収納容器の
載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納容器底面
の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当接する回
転自在な回転体と、この回転体を支持する支持体と、を
備えたことである。半導体ウエハ収納容器底面の被位置
決め溝は、回転体との大まかな位置決めを容易に行うこ
とができる広い開口を有し、かつ大まかな位置決めが行
われた後にはスムーズに正確な位置決めを行えるように
回転体でガイドされる内壁を有する断面V字型で形成さ
れる、ことが好ましい。回転体は支持体の上部先端又は
側部に配設される、ことが好ましい。支持体には1個又
は複数個の回転体が回転自在に支持されることが実用的
である。支持体は、例えばCVD装置、スパッタ装置、露
光装置、エッチング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処
理装置のローダ又はアンローダの半導体ウエハ収納容器
の載置位置に配設される。このように構成される半導体
ウエハ収納容器の載置位置決め機構においては、回転体
が半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め溝の内壁に当
接すると、回転体は速やかに回転し、この回転体の回転
によって半導体ウエハ収納容器を正確な位置決めの位置
までガイドすることができる。従って、位置決めでの被
位置決め溝の内壁の擦れによる磨耗並びにこの磨耗によ
る内壁面の形状変化を減少させることができるので、長
期間に渡って精度の高い位置決めを行うことができる。
勿論、回転体は回転しながら被位置決め溝の内壁に接触
するので、回転体自身の擦れや磨耗による形状変化はほ
とんど生じることがない。さらに、被位置決め溝の内壁
の擦れに起因するパーティクルの発生量を減少させるこ
とができるので、パーティクル量の少ない環境を構築す
ることができ、製造上の歩留まりを向上させることがで
きる。
【0011】この発明の第2の特徴は、半導体ウエハ収
納容器の載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納
容器底面の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当
接する接触体と、この接触体を支持し少なくとも上下方
向又は少なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体と、
を備えたことである。弾性体にはコイルスプリングを実
用的に使用することができる。コイルスプリングは上下
方向及び水平方向に弾力性を有する。このように構成さ
れる半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構において
は、接触体が半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め溝
の内壁に当接するとこの時の衝撃を弾性体により吸収さ
せることができる。衝撃が吸収された後には接触体によ
り半導体ウエハ収納容器は正確な位置決めの位置までガ
イドされる。従って、被位置決め溝の内壁面の衝撃によ
る形状変化や損傷並びに接触体そのものの形状変化や損
傷を減少させることができるので、長期間に渡って精度
の高い位置決めを行うことができる。さらに、被位置決
め溝の内壁と接触体との衝撃を弾性体により吸収させた
ことにより、半導体ウエハ収納容器の内部とその内部に
収納された半導体ウエハとの擦れによるパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。
納容器の載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納
容器底面の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当
接する接触体と、この接触体を支持し少なくとも上下方
向又は少なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体と、
を備えたことである。弾性体にはコイルスプリングを実
用的に使用することができる。コイルスプリングは上下
方向及び水平方向に弾力性を有する。このように構成さ
れる半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構において
は、接触体が半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め溝
の内壁に当接するとこの時の衝撃を弾性体により吸収さ
せることができる。衝撃が吸収された後には接触体によ
り半導体ウエハ収納容器は正確な位置決めの位置までガ
イドされる。従って、被位置決め溝の内壁面の衝撃によ
る形状変化や損傷並びに接触体そのものの形状変化や損
傷を減少させることができるので、長期間に渡って精度
の高い位置決めを行うことができる。さらに、被位置決
め溝の内壁と接触体との衝撃を弾性体により吸収させた
ことにより、半導体ウエハ収納容器の内部とその内部に
収納された半導体ウエハとの擦れによるパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。
【0012】この発明の第3の特徴は、半導体ウエハ収
納容器の載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納
容器底面の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当
接する回転自在な回転体と、この回転体を支持し少なく
とも上下方向又は少なくとも水平方向に弾力性を有する
弾性体と、を備えたことである。このように構成される
半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構においては、
この発明の第1の特徴の載置位置決め機構、この発明の
第2の特徴の載置位置決め機構のそれぞれで得られる効
果を組み合わせた効果を得ることができる。
納容器の載置位置決め機構において、半導体ウエハ収納
容器底面の被位置決め溝と、この被位置決め溝内壁に当
接する回転自在な回転体と、この回転体を支持し少なく
とも上下方向又は少なくとも水平方向に弾力性を有する
弾性体と、を備えたことである。このように構成される
半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構においては、
この発明の第1の特徴の載置位置決め機構、この発明の
第2の特徴の載置位置決め機構のそれぞれで得られる効
果を組み合わせた効果を得ることができる。
【0013】
【発明の実施の形態】(第1の実施の形態)以下、本発
明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1
(A)は本発明の第1の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の概略構成図(図2に示す
abcd切断面で切った部分に相当する断面構成図)、
図1(B)は載置位置決め機構の要部拡大構成図、図2
は半導体ウエハ収納容器の斜視図である。本発明の第1
の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ
収納容器1の底面の被位置決め溝2と、この被位置決め
溝2の内壁に当接する回転自在な回転体3Aと、この回
転体3Aを支持する支持体3Bと、を備えて構築され
る。
明の実施の形態について図面を参照して説明する。図1
(A)は本発明の第1の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の概略構成図(図2に示す
abcd切断面で切った部分に相当する断面構成図)、
図1(B)は載置位置決め機構の要部拡大構成図、図2
は半導体ウエハ収納容器の斜視図である。本発明の第1
の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ
収納容器1の底面の被位置決め溝2と、この被位置決め
溝2の内壁に当接する回転自在な回転体3Aと、この回
転体3Aを支持する支持体3Bと、を備えて構築され
る。
【0014】半導体ウエハ収納容器1には、その内部の
構成を省略してあるが、半導体ウエハ処理装置に供給す
る未処理状態の複数枚の半導体ウエハが、又半導体ウエ
ハ処理装置から供給された処理済み状態の複数枚の半導
体ウエハが収納されている。この個数に限定されない
が、第1の実施の形態において被位置決め溝2は、図1
(A)及び図2に示すように、半導体ウエハ収納容器1
の底面の3箇所に、被位置決め溝21、22、23とし
て、合計3個配設されている。被位置決め溝2は、回転
体3Aとの大まかな位置決めを容易に行うことができる
広い開口を有し、かつ大まかな位置決めが行われた後に
はスムーズに正確な位置決めを行えるように回転体3A
でガイドされる内壁を有する断面V字型で形成される。
第1の実施の形態において被位置決め溝2は断面V字型
の溝で形成される。なお、角錐形状の穴、円錐形状の穴
のいずれかで被位置決め溝2を形成してもよい。
構成を省略してあるが、半導体ウエハ処理装置に供給す
る未処理状態の複数枚の半導体ウエハが、又半導体ウエ
ハ処理装置から供給された処理済み状態の複数枚の半導
体ウエハが収納されている。この個数に限定されない
が、第1の実施の形態において被位置決め溝2は、図1
(A)及び図2に示すように、半導体ウエハ収納容器1
の底面の3箇所に、被位置決め溝21、22、23とし
て、合計3個配設されている。被位置決め溝2は、回転
体3Aとの大まかな位置決めを容易に行うことができる
広い開口を有し、かつ大まかな位置決めが行われた後に
はスムーズに正確な位置決めを行えるように回転体3A
でガイドされる内壁を有する断面V字型で形成される。
第1の実施の形態において被位置決め溝2は断面V字型
の溝で形成される。なお、角錐形状の穴、円錐形状の穴
のいずれかで被位置決め溝2を形成してもよい。
【0015】回転体3Aは、被位置決め溝2の内壁との
接触によって回転するように、支持体3Bの上部に回転
自在に取り付けられている。回転体3Aには、ローラ、
ボールのいずれかを実用的に使用することができる。
接触によって回転するように、支持体3Bの上部に回転
自在に取り付けられている。回転体3Aには、ローラ、
ボールのいずれかを実用的に使用することができる。
【0016】支持体3Bは、半導体ウエハ収納容器1の
正確な位置決めを行うべき載置位置4に配設されてい
る。載置位置4とは、例えば半導体ウエハ処理装置、さ
らに詳細にはCVD装置、スパッタ装置、露光装置、エッ
チング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処理装置のロー
ダ又はアンローダの半導体ウエハ収納容器1を載置する
位置である。支持体3Bは、第1の実施の形態において
ピン形状で形成されており、半導体ウエハ収納容器1の
被位置決め溝2の配設個数に対応して第1の実施の形態
においては支持体3B1、3B2及び3B3の合計3本
配設されている。なお、回転体3Aは、3本の支持体3
B1、3B2、3B3のそれぞれに各々回転体3A1、
3A2、3A3として配設され、合計3個配設されてい
る。
正確な位置決めを行うべき載置位置4に配設されてい
る。載置位置4とは、例えば半導体ウエハ処理装置、さ
らに詳細にはCVD装置、スパッタ装置、露光装置、エッ
チング装置、洗浄装置等の半導体ウエハ処理装置のロー
ダ又はアンローダの半導体ウエハ収納容器1を載置する
位置である。支持体3Bは、第1の実施の形態において
ピン形状で形成されており、半導体ウエハ収納容器1の
被位置決め溝2の配設個数に対応して第1の実施の形態
においては支持体3B1、3B2及び3B3の合計3本
配設されている。なお、回転体3Aは、3本の支持体3
B1、3B2、3B3のそれぞれに各々回転体3A1、
3A2、3A3として配設され、合計3個配設されてい
る。
【0017】図3(A)乃至図3(C)は本発明の第1
の実施の形態に係る載置位置決め機構における位置決め
作業手順を段階的に示す作業工程図である。まず、図3
(A)に示すように、半導体ウエハ処理装置のローダ又
はアンローダの載置位置4において、回転体3A(及び
支持体3B)上に半導体ウエハ収納容器1の被位置決め
溝2が対応する位置まで、ロボットアームやオペレータ
により半導体ウエハ収納容器1を搬送する。この時点に
おいては、回転体3Aと被位置決め溝2との間は大まか
な位置合わせでよい。
の実施の形態に係る載置位置決め機構における位置決め
作業手順を段階的に示す作業工程図である。まず、図3
(A)に示すように、半導体ウエハ処理装置のローダ又
はアンローダの載置位置4において、回転体3A(及び
支持体3B)上に半導体ウエハ収納容器1の被位置決め
溝2が対応する位置まで、ロボットアームやオペレータ
により半導体ウエハ収納容器1を搬送する。この時点に
おいては、回転体3Aと被位置決め溝2との間は大まか
な位置合わせでよい。
【0018】引き続き、図3(B)に示すように、半導
体ウエハ収納容器1を回転体3Aに向けて下方に降下さ
せることにより、被位置決め溝2の傾斜内壁と回転体3
Aとが当接する。さらに、半導体ウエハ収納容器1を降
下させる又は自重により下げることにより、回転体3A
が速やかに回転を始め、回転体3Aは回転しながら半導
体ウエハ収納容器1を正確な位置合わせの位置までガイ
ドする。図3(C)に示すように、回転体3Aの回転中
心軸と被位置決め溝2の頂点とが一致した時点で半導体
ウエハ収納容器1の載置位置が決定され、位置決め作業
を完了させることができる。
体ウエハ収納容器1を回転体3Aに向けて下方に降下さ
せることにより、被位置決め溝2の傾斜内壁と回転体3
Aとが当接する。さらに、半導体ウエハ収納容器1を降
下させる又は自重により下げることにより、回転体3A
が速やかに回転を始め、回転体3Aは回転しながら半導
体ウエハ収納容器1を正確な位置合わせの位置までガイ
ドする。図3(C)に示すように、回転体3Aの回転中
心軸と被位置決め溝2の頂点とが一致した時点で半導体
ウエハ収納容器1の載置位置が決定され、位置決め作業
を完了させることができる。
【0019】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Aが半導
体ウエハ収納容器1底面の被位置決め溝2の内壁に当接
すると回転体3Aは速やかに回転し、回転体3Aは回転
しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置決めの位
置までガイドすることができる。従って、位置決めでの
被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びにこの磨耗
による内壁面の形状変化を減少させることができるの
で、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うことがで
きる。さらに、回転体3Aは回転しながら被位置決め溝
2の内壁と接触しているので、回転体3A自身の擦れや
磨耗による形状変化はほとんど生じることがない。さら
に、被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティク
ルの発生量を減少させることができるので、パーティク
ル量の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留
まりを向上させることができる。
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Aが半導
体ウエハ収納容器1底面の被位置決め溝2の内壁に当接
すると回転体3Aは速やかに回転し、回転体3Aは回転
しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置決めの位
置までガイドすることができる。従って、位置決めでの
被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びにこの磨耗
による内壁面の形状変化を減少させることができるの
で、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うことがで
きる。さらに、回転体3Aは回転しながら被位置決め溝
2の内壁と接触しているので、回転体3A自身の擦れや
磨耗による形状変化はほとんど生じることがない。さら
に、被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティク
ルの発生量を減少させることができるので、パーティク
ル量の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留
まりを向上させることができる。
【0020】(第2の実施の形態)図4は本発明の第2
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第2の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する回転
自在な複数個の回転体3Aa及び3Abと、この回転体
3Aa及び3Abを上部で支持する支持体3Bと、を備
えて構築される。第2の実施の形態に係る載置位置決め
機構の構造は、第1の実施の形態に係る載置位置決め機
構の構造に対して、1個の支持体3Bに複数個の回転体
3Aa及び3Abを配設した点が異なる。
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第2の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する回転
自在な複数個の回転体3Aa及び3Abと、この回転体
3Aa及び3Abを上部で支持する支持体3Bと、を備
えて構築される。第2の実施の形態に係る載置位置決め
機構の構造は、第1の実施の形態に係る載置位置決め機
構の構造に対して、1個の支持体3Bに複数個の回転体
3Aa及び3Abを配設した点が異なる。
【0021】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Aa又は
3Abのいずれか一方が半導体ウエハ収納容器1底面の
被位置決め溝2の内壁に当接すると当接した回転体3A
a又は3Abは速やかに回転し、回転体3Aa又は3A
bは回転しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置
決めの位置までガイドすることができる。従って、位置
決めでの被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びに
この磨耗による内壁面の形状変化を減少させることがで
きるので、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うこ
とができる。さらに、回転体3Aa、3Abはいずれも
回転しながら被位置決め溝2の内壁に接触しているの
で、回転体3Aa、3Abのそれぞれ自身の擦れや磨耗
による形状変化はほとんど生じることがない。さらに、
被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Aa又は
3Abのいずれか一方が半導体ウエハ収納容器1底面の
被位置決め溝2の内壁に当接すると当接した回転体3A
a又は3Abは速やかに回転し、回転体3Aa又は3A
bは回転しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置
決めの位置までガイドすることができる。従って、位置
決めでの被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びに
この磨耗による内壁面の形状変化を減少させることがで
きるので、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うこ
とができる。さらに、回転体3Aa、3Abはいずれも
回転しながら被位置決め溝2の内壁に接触しているの
で、回転体3Aa、3Abのそれぞれ自身の擦れや磨耗
による形状変化はほとんど生じることがない。さらに、
被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。
【0022】(第3の実施の形態)図5は本発明の第3
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第3の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する回転
自在な複数個の回転体3Ac及び3Adと、この回転体
3Ac及び3Adを側部で支持する支持体3Bと、を備
えて構築される。第3の実施の形態に係る載置位置決め
機構の構造は、第2の実施の形態に係る載置位置決め機
構の構造に対して、支持体3Bの側部に複数個の回転体
3Ac及び3Adを配設した点が異なる。
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第3の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する回転
自在な複数個の回転体3Ac及び3Adと、この回転体
3Ac及び3Adを側部で支持する支持体3Bと、を備
えて構築される。第3の実施の形態に係る載置位置決め
機構の構造は、第2の実施の形態に係る載置位置決め機
構の構造に対して、支持体3Bの側部に複数個の回転体
3Ac及び3Adを配設した点が異なる。
【0023】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Ac又は
3Adのいずれか一方が半導体ウエハ収納容器1底面の
被位置決め溝2の内壁に当接すると当接した回転体3A
c又は3Adは速やかに回転し、回転体3Ac又は3A
dは回転しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置
決めの位置までガイドすることができる。従って、位置
決めでの被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びに
この磨耗による内壁面の形状変化を減少させることがで
きるので、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うこ
とができる。さらに、回転体3Ac、3Adはいずれも
回転しながら被位置決め溝2の内壁に接触しているの
で、回転体3Ac、3Adのそれぞれ自身の擦れや磨耗
による形状変化はほとんど生じることがない。さらに、
被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。
器1の載置位置決め機構においては、回転体3Ac又は
3Adのいずれか一方が半導体ウエハ収納容器1底面の
被位置決め溝2の内壁に当接すると当接した回転体3A
c又は3Adは速やかに回転し、回転体3Ac又は3A
dは回転しながら半導体ウエハ収納容器1を正確な位置
決めの位置までガイドすることができる。従って、位置
決めでの被位置決め溝2の内壁の擦れによる磨耗並びに
この磨耗による内壁面の形状変化を減少させることがで
きるので、長期間に渡って精度の高い位置決めを行うこ
とができる。さらに、回転体3Ac、3Adはいずれも
回転しながら被位置決め溝2の内壁に接触しているの
で、回転体3Ac、3Adのそれぞれ自身の擦れや磨耗
による形状変化はほとんど生じることがない。さらに、
被位置決め溝2の内壁の擦れに起因するパーティクルの
発生量を減少させることができるので、パーティクル量
の少ない環境を構築することができ、製造上の歩留まり
を向上させることができる。
【0024】(第4の実施の形態)図6は本発明の第4
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第4の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する接触
体3Cと、この接触体3Cを支持し少なくとも上下方向
又は少なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体3D
と、を備えて構築される。
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第4の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウエハ収納容器
1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及び図1(B)
参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に当接する接触
体3Cと、この接触体3Cを支持し少なくとも上下方向
又は少なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体3D
と、を備えて構築される。
【0025】接触体3Cの被位置決め溝2に当接する上
側先端部分は第4の実施の形態において球形状で形成さ
れており、被位置決め溝2の内壁のどの位置に接触体3
Cが当接してもスムースな当接が行えるようになってい
る。
側先端部分は第4の実施の形態において球形状で形成さ
れており、被位置決め溝2の内壁のどの位置に接触体3
Cが当接してもスムースな当接が行えるようになってい
る。
【0026】弾性体3Dの一端側は接触体3Cの下側底
面に連接され、弾性体3Dの他端側は載置位置4に連接
されている。弾性体3Dは接触体3Cが被位置決め溝2
の内壁に当接した時に発生する衝撃を軽減させる機能を
有する。第4の実施の形態において、弾性体3Dには、
上下方向及び水平方向を含む多方向に弾力性を有する
(多方向に衝撃を逃がすことができる)コイルスプリン
グが使用される。
面に連接され、弾性体3Dの他端側は載置位置4に連接
されている。弾性体3Dは接触体3Cが被位置決め溝2
の内壁に当接した時に発生する衝撃を軽減させる機能を
有する。第4の実施の形態において、弾性体3Dには、
上下方向及び水平方向を含む多方向に弾力性を有する
(多方向に衝撃を逃がすことができる)コイルスプリン
グが使用される。
【0027】第4の実施の形態に係る載置位置決め機構
における位置決め作業手順は前述の第1の実施の形態に
係る位置決め作業手順と実質的に同様であるので、ここ
での説明は省略する。
における位置決め作業手順は前述の第1の実施の形態に
係る位置決め作業手順と実質的に同様であるので、ここ
での説明は省略する。
【0028】このように構成される半導体ウエハ収納容
器1の載置位置決め機構においては、接触体3Cが半導
体ウエハ収納容器1の底面の被位置決め溝2の内壁に当
接するとこの時の衝撃を弾性体3Dにより吸収させるこ
とができる。特に、オペレータにより搬送台車に半導体
ウエハ収納容器1を載せて移送し、この移送された半導
体ウエハ収納容器1をオペレータが手持ちで載置位置4
に搬送する場合には、ロボットアームによる搬送に比べ
て高精度な位置合わせを行うことは難しく、被位置決め
溝2の内壁と接触体3Cとの当接の際に衝撃を発生させ
やすいが、この衝撃は弾性体3Dにより有効に軽減させ
ることができる。衝撃が吸収された後には接触体3Cに
より正確な位置決めの位置まで半導体ウエハ収納容器1
はガイドされる。従って、被位置決め溝2の内壁面の衝
撃による形状変化や損傷並びに接触体3Cそのものの形
状変化や損傷を減少させることができるので、長期間に
渡って精度の高い位置決めを行うことができる。さら
に、被位置決め溝2の内壁と接触体3Cとの衝撃を弾性
体3Dにより吸収させたことにより、半導体ウエハ収納
容器1の内部とその内部に収納された半導体ウエハ(図
示しない。)との擦れによるパーティクルの発生量を減
少させることができるので、パーティクル量の少ない環
境を構築することができ、製造上の歩留まりを向上させ
ることができる。
器1の載置位置決め機構においては、接触体3Cが半導
体ウエハ収納容器1の底面の被位置決め溝2の内壁に当
接するとこの時の衝撃を弾性体3Dにより吸収させるこ
とができる。特に、オペレータにより搬送台車に半導体
ウエハ収納容器1を載せて移送し、この移送された半導
体ウエハ収納容器1をオペレータが手持ちで載置位置4
に搬送する場合には、ロボットアームによる搬送に比べ
て高精度な位置合わせを行うことは難しく、被位置決め
溝2の内壁と接触体3Cとの当接の際に衝撃を発生させ
やすいが、この衝撃は弾性体3Dにより有効に軽減させ
ることができる。衝撃が吸収された後には接触体3Cに
より正確な位置決めの位置まで半導体ウエハ収納容器1
はガイドされる。従って、被位置決め溝2の内壁面の衝
撃による形状変化や損傷並びに接触体3Cそのものの形
状変化や損傷を減少させることができるので、長期間に
渡って精度の高い位置決めを行うことができる。さら
に、被位置決め溝2の内壁と接触体3Cとの衝撃を弾性
体3Dにより吸収させたことにより、半導体ウエハ収納
容器1の内部とその内部に収納された半導体ウエハ(図
示しない。)との擦れによるパーティクルの発生量を減
少させることができるので、パーティクル量の少ない環
境を構築することができ、製造上の歩留まりを向上させ
ることができる。
【0029】(第5の実施の形態)図7は本発明の第5
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第5の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、第1の実施の形態に係
る載置位置決め機構と第4の実施の形態に係る載置位置
決め機構とを組み合わせて構築されている。すなわち、
第5の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウ
エハ収納容器1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及
び図1(B)参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に
当接する回転体3Aと、この回転体3Aを回転自在に支
持しかつ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に
可動自在に支持する支持体3Ba及び3Bbと、支持体
3Baに一端側が連接され他端側が載置位置4に連接さ
れ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に弾力性
を有する弾性体3Dと、を備えて構築される。支持体3
Baは回転体3Aの下部においてこの回転体3Aを回転
自在に支持し、支持体3Bbは回転体3Aの側部におい
てこの回転体3Aを回転自在に支持する。
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第5の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、第1の実施の形態に係
る載置位置決め機構と第4の実施の形態に係る載置位置
決め機構とを組み合わせて構築されている。すなわち、
第5の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウ
エハ収納容器1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及
び図1(B)参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に
当接する回転体3Aと、この回転体3Aを回転自在に支
持しかつ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に
可動自在に支持する支持体3Ba及び3Bbと、支持体
3Baに一端側が連接され他端側が載置位置4に連接さ
れ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に弾力性
を有する弾性体3Dと、を備えて構築される。支持体3
Baは回転体3Aの下部においてこの回転体3Aを回転
自在に支持し、支持体3Bbは回転体3Aの側部におい
てこの回転体3Aを回転自在に支持する。
【0030】このように構成される第5の実施の形態に
係る載置位置決め機構においては、第1の実施の形態に
係る載置位置決め機構で得られる効果と第4の実施の形
態に係る載置位置決め機構で得られる効果とを組み合わ
せた効果を得ることができる。
係る載置位置決め機構においては、第1の実施の形態に
係る載置位置決め機構で得られる効果と第4の実施の形
態に係る載置位置決め機構で得られる効果とを組み合わ
せた効果を得ることができる。
【0031】(第6の実施の形態)図8は本発明の第6
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第6の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、第3の実施の形態に係
る載置位置決め機構と第4の実施の形態に係る載置位置
決め機構とを組み合わせて構築されている。すなわち、
第6の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウ
エハ収納容器1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及
び図1(B)参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に
当接する複数個の回転体3Ac及び3Adと、この回転
体3Ac、3Adのそれぞれを各々回転自在に支持しか
つ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に支持す
る支持体3Ba〜3Bdと、少なくとも上下方向又は少
なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体3D1及び3
D2と、接触体3Cと、を備えて構築される。
の実施の形態に係る半導体ウエハ収納容器の載置位置決
め機構の要部拡大構成図である。本発明の第6の実施の
形態に係る載置位置決め機構は、第3の実施の形態に係
る載置位置決め機構と第4の実施の形態に係る載置位置
決め機構とを組み合わせて構築されている。すなわち、
第6の実施の形態に係る載置位置決め機構は、半導体ウ
エハ収納容器1の底面の被位置決め溝2(図1(A)及
び図1(B)参照。)と、この被位置決め溝2の内壁に
当接する複数個の回転体3Ac及び3Adと、この回転
体3Ac、3Adのそれぞれを各々回転自在に支持しか
つ少なくとも上下方向又は少なくとも水平方向に支持す
る支持体3Ba〜3Bdと、少なくとも上下方向又は少
なくとも水平方向に弾力性を有する弾性体3D1及び3
D2と、接触体3Cと、を備えて構築される。
【0032】回転体3Acを支持する支持体3Baに一
端側が連接された弾性体3D1の他端側、回転体3Ad
を支持する支持体3bcに一端側が連接された弾性体3
D2の他端側はいずれも載置位置4に連接される。位置
合わせに際して、被位置決め溝2の内壁には接触体3C
よりも先に回転体3Ac、3Adのいずれか一方が当接
するように設定されており、接触体3C自体は載置位置
4に固定状態で取り付けられている。
端側が連接された弾性体3D1の他端側、回転体3Ad
を支持する支持体3bcに一端側が連接された弾性体3
D2の他端側はいずれも載置位置4に連接される。位置
合わせに際して、被位置決め溝2の内壁には接触体3C
よりも先に回転体3Ac、3Adのいずれか一方が当接
するように設定されており、接触体3C自体は載置位置
4に固定状態で取り付けられている。
【0033】このように構成される第6の実施の形態に
係る載置位置決め機構においては、第3の実施の形態に
係る載置位置決め機構で得られる効果と第4の実施の形
態に係る載置位置決め機構で得られる効果とを組み合わ
せた効果を得ることができる。
係る載置位置決め機構においては、第3の実施の形態に
係る載置位置決め機構で得られる効果と第4の実施の形
態に係る載置位置決め機構で得られる効果とを組み合わ
せた効果を得ることができる。
【0034】
【発明の効果】本発明は、半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め精度を長期間に渡って向上させることができる
載置位置決め機構を提供することができる。さらに、本
発明は、半導体ウエハ収納容器の載置位置決めに起因す
るパーティクルの発生を防止することができ、製造上の
歩留まりを向上させることができる載置位置決め機構を
提供することができる。さらに、本発明は、半導体ウエ
ハ収納容器の載置位置決めに起因する衝撃を緩和するこ
とができ、半導体ウエハ収納容器内部においてパーティ
クルの発生を防止することができ、製造上の歩留まりを
向上させることができる載置位置決め機構を提供するこ
とができる。
位置決め精度を長期間に渡って向上させることができる
載置位置決め機構を提供することができる。さらに、本
発明は、半導体ウエハ収納容器の載置位置決めに起因す
るパーティクルの発生を防止することができ、製造上の
歩留まりを向上させることができる載置位置決め機構を
提供することができる。さらに、本発明は、半導体ウエ
ハ収納容器の載置位置決めに起因する衝撃を緩和するこ
とができ、半導体ウエハ収納容器内部においてパーティ
クルの発生を防止することができ、製造上の歩留まりを
向上させることができる載置位置決め機構を提供するこ
とができる。
【図1】(A)は本発明の第1の実施の形態に係る半導
体ウエハ収納容器の載置位置決め機構の概略構成図、
(B)は本発明の第1の実施の形態に係る載置位置決め
機構の要部拡大構成図である。
体ウエハ収納容器の載置位置決め機構の概略構成図、
(B)は本発明の第1の実施の形態に係る載置位置決め
機構の要部拡大構成図である。
【図2】本発明の第1の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の斜視図である。
収納容器の斜視図である。
【図3】(A)乃至(C)は本発明の第1の実施の形態
に係る載置位置決め機構における位置決め作業手順を段
階的に示す作業工程図である。
に係る載置位置決め機構における位置決め作業手順を段
階的に示す作業工程図である。
【図4】本発明の第2の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
【図5】本発明の第3の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
【図6】本発明の第4の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
【図7】本発明の第5の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
【図8】本発明の第6の実施の形態に係る半導体ウエハ
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
収納容器の載置位置決め機構の要部拡大構成図である。
【図9】従来技術に係る半導体ウエハ収納容器の載置位
置決め機構の概略構成図である。
置決め機構の概略構成図である。
【図10】(A)乃至(C)は従来技術に係る載置位置
決め機構における位置決め作業手順を段階的に示す作業
工程図である。
決め機構における位置決め作業手順を段階的に示す作業
工程図である。
1 半導体ウエハ収納容器 2,21〜23 被位置決め溝 3A,3A1〜3A3,3Aa〜3Ad 回転体 3B,3Ba〜3Bd 支持体 3C 接触体 3D,3D1,3D2 弾性体 4 載置位置
Claims (3)
- 【請求項1】 半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め
溝と、 前記被位置決め溝内壁に当接する回転自在な回転体と、 前記回転体を支持する支持体と、 を備えたことを特徴とする半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め機構。 - 【請求項2】 半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め
溝と、 前記被位置決め溝の内壁に当接する接触体と、 前記接触体を支持し少なくとも上下方向又は少なくとも
水平方向に弾力性を有する弾性体と、 を備えたことを特徴とする半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め機構。 - 【請求項3】 半導体ウエハ収納容器底面の被位置決め
溝と、 前記被位置決め溝内壁に当接する回転自在な回転体と、 前記回転体を支持し少なくとも上下方向又は少なくとも
水平方向に弾力性を有する弾性体と、 を備えたことを特徴とする半導体ウエハ収納容器の載置
位置決め機構。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11031868A JP2000232149A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11031868A JP2000232149A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000232149A true JP2000232149A (ja) | 2000-08-22 |
Family
ID=12343034
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11031868A Abandoned JP2000232149A (ja) | 1999-02-09 | 1999-02-09 | 半導体ウエハ収納容器の載置位置決め機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000232149A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2007116527A1 (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-18 | Hirata Corporation | Foupオープナのfoupドア位置決め装置 |
| JP2019024109A (ja) * | 2015-01-16 | 2019-02-14 | ラム リサーチ コーポレーションLam Research Corporation | 半導体ウエハ処理中におけるエッジ処理制御のための可動式エッジ連結リング |
| KR200491813Y1 (ko) * | 2019-11-18 | 2020-06-09 | 주식회사 엘에스텍 | 포스비 위치 보정 장치 |
| CN112760617A (zh) * | 2020-12-30 | 2021-05-07 | 上海埃原半导体设备有限公司 | 化学气相沉积用的非金属反应腔及其使用方法 |
| JP2024155136A (ja) * | 2023-04-20 | 2024-10-31 | 株式会社ダイフク | 載置台 |
-
1999
- 1999-02-09 JP JP11031868A patent/JP2000232149A/ja not_active Abandoned
Cited By (11)
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