JP2000243246A - 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 - Google Patents
電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法Info
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- JP2000243246A JP2000243246A JP4186699A JP4186699A JP2000243246A JP 2000243246 A JP2000243246 A JP 2000243246A JP 4186699 A JP4186699 A JP 4186699A JP 4186699 A JP4186699 A JP 4186699A JP 2000243246 A JP2000243246 A JP 2000243246A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 耐久性の高い高融点材料を導電性膜として用
いた場合にも、良好な電子放出特性を有する素子を再現
性良く形成できる電子放出素子の新規な構成、電子源、
耐久性が高く、高輝度で、かつ輝度のばらつきの無い高
品位な画像表示を実現し得る画像形成装置、及びそれら
の製造方法を提供する。 【解決手段】 電子放出素子の製造方法が、基体1上に
一対の素子電極2,3を形成する工程と、素子電極2,
3間に導電性膜4を形成する工程と、ポジ型レジスト1
1を用い、かつ電子放出素子が多数個配置された電子源
を有する電子線露光装置を用いた電子線リソグラフィー
により、導電性膜4に電子放出部5となる狭間隙を形成
する工程とを有する。
いた場合にも、良好な電子放出特性を有する素子を再現
性良く形成できる電子放出素子の新規な構成、電子源、
耐久性が高く、高輝度で、かつ輝度のばらつきの無い高
品位な画像表示を実現し得る画像形成装置、及びそれら
の製造方法を提供する。 【解決手段】 電子放出素子の製造方法が、基体1上に
一対の素子電極2,3を形成する工程と、素子電極2,
3間に導電性膜4を形成する工程と、ポジ型レジスト1
1を用い、かつ電子放出素子が多数個配置された電子源
を有する電子線露光装置を用いた電子線リソグラフィー
により、導電性膜4に電子放出部5となる狭間隙を形成
する工程とを有する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子放出素子、該
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、該電子源を
用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装置、
及びそれらの製造方法に関する。
電子放出素子を多数個配置してなる電子源、該電子源を
用いて構成した表示装置や露光装置等の画像形成装置、
及びそれらの製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電子放出素子には大別して熱電子
放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られてい
る。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「FE
型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「MI
M型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有る。
放出素子と冷陰極電子放出素子の2種類が知られてい
る。冷陰極電子放出素子には電界放出型(以下、「FE
型」と称す。)、金属/絶縁層/金属型(以下、「MI
M型」と称す。)や表面伝導型電子放出素子等が有る。
【0003】FE型の例としては、W.P. Dyke
and W.W. Dolan,“Field Em
ission”, Advance in Elect
ron Physics, 8,89(1956)ある
いはC.A. Spindt, “Physical
Properties of thin−filmfi
eld emission cathodes wit
h molybdenum cones”, J. A
ppl. Phys. ,47,5248(1976)
等に開示されたものが知られている。
and W.W. Dolan,“Field Em
ission”, Advance in Elect
ron Physics, 8,89(1956)ある
いはC.A. Spindt, “Physical
Properties of thin−filmfi
eld emission cathodes wit
h molybdenum cones”, J. A
ppl. Phys. ,47,5248(1976)
等に開示されたものが知られている。
【0004】MIM型の例としては、C.A. Mea
d, “Operation ofTunnel−Em
ission Devices”, J. Appl.
Phys., 32,646(1961)等に開示され
たものが知られている。
d, “Operation ofTunnel−Em
ission Devices”, J. Appl.
Phys., 32,646(1961)等に開示され
たものが知られている。
【0005】表面伝導型電子放出素子の例としては、
M.I. Elinson, Radio Eng.
Electron Phys., 10,1290(1
965)等に開示されたものがある。
M.I. Elinson, Radio Eng.
Electron Phys., 10,1290(1
965)等に開示されたものがある。
【0006】表面伝導型電子放出素子は、絶縁性基板上
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“Thin Solid
Films”, 9,317(1972)]、In2
O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell
and C.G. Fonstad:“IEEE T
rans. ED Conf.”, 519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
に形成された小面積の薄膜に、膜面に平行に電流を流す
ことにより、電子放出が生ずる現象を利用するものであ
る。この表面伝導型電子放出素子としては、前記エリン
ソン等によるSnO2 薄膜を用いたもの、Au薄膜によ
るもの[G.Dittmer:“Thin Solid
Films”, 9,317(1972)]、In2
O3 /SnO2 薄膜によるもの[M.Hartwell
and C.G. Fonstad:“IEEE T
rans. ED Conf.”, 519(197
5)]、カーボン薄膜によるもの[荒木久 他:真空、
第26巻、第1号、22頁(1983)]等が報告され
ている。
【0007】これらの表面伝導型電子放出素子の典型的
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図2
5に模式的に示す。同図において1は基板である。4は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部5が形成される。尚、図中の
素子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W’は、0.1m
mで設定されている。
な例として、前述のM.ハートウェルの素子構成を図2
5に模式的に示す。同図において1は基板である。4は
導電性膜で、H型形状のパターンに形成された金属酸化
物薄膜等からなり、後述の通電フォーミングと呼ばれる
通電処理により電子放出部5が形成される。尚、図中の
素子電極間隔Lは、0.5〜1mm、W’は、0.1m
mで設定されている。
【0008】これらの表面伝導型電子放出素子において
は、電子放出を行う前に導電性膜4を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜4の両端に電圧を印加通電し、導電性膜4を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部5を形成する処
理である。尚、電子放出部5では導電性膜4の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
は、電子放出を行う前に導電性膜4を予め通電フォーミ
ングと呼ばれる通電処理によって電子放出部5を形成す
るのが一般的である。即ち、通電フォーミングとは、前
記導電性膜4の両端に電圧を印加通電し、導電性膜4を
局所的に破壊、変形もしくは変質させて構造を変化さ
せ、電気的に高抵抗な状態の電子放出部5を形成する処
理である。尚、電子放出部5では導電性膜4の一部に亀
裂が発生しており、その亀裂付近から電子放出が行われ
る。
【0009】上述の表面伝導型電子放出素子は、構造が
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
単純であることから、大面積に亙って多数素子を配列形
成できる利点がある。そこで、この特徴を活かすための
種々の応用が研究されている。例えば、荷電ビーム源、
表示装置等の画像形成装置への利用が挙げられる。
【0010】従来、多数の表面伝導型電子放出素子を配
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
列形成した例としては、並列に表面伝導型電子放出素子
を配列し、個々の表面伝導型電子放出素子の両端(両素
子電極)を配線(共通配線とも呼ぶ)にて夫々結線した
行を多数行配列(梯子型配置とも呼ぶ)した電子源が挙
げられる(例えば、特開昭64−31332号公報、特
開平1−283749号公報、同2−257552号公
報)。
【0011】また、特に表示装置においては、液晶を用
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
いた表示装置と同様の平板型表示装置とすることが可能
で、しかもバックライトが不要な自発光型の表示装置と
して、表面伝導型電子放出素子を多数配置した電子源
と、この電子源からの電子線の照射により可視光を発光
する蛍光体とを組み合わせた表示装置が提案されている
(アメリカ特許第5066883号明細書)。
【0012】さらに、表面伝導型電子放出素子を多数配
置した電子源の製造方法としては、インクジェット方式
の液滴付与手段を用いて導電性膜を形成する方法(例え
ば、特開平9−245698号公報)や、ポジ型もしく
はネガ型レジストを用いた電子線リソグラフィーにより
導電性膜に狭間隙部を形成する方法(特願平8−224
578号)等が提案されている。
置した電子源の製造方法としては、インクジェット方式
の液滴付与手段を用いて導電性膜を形成する方法(例え
ば、特開平9−245698号公報)や、ポジ型もしく
はネガ型レジストを用いた電子線リソグラフィーにより
導電性膜に狭間隙部を形成する方法(特願平8−224
578号)等が提案されている。
【0013】一方、電子線露光装置は、大別すると、レ
チクル作成用とウエハ直描用がある。前者は、レチクル
を作成するためにガラス基板上に電子ビームによりデバ
イスパターンを描画することを目的とする装置で、スポ
ットビームを用いてラスタ走査する方式のものと、パタ
ーンに応じてビームの形状を変化させる可変成形ビーム
ベクタ走査方式のものがあり、どちらも既に製品化され
ている。
チクル作成用とウエハ直描用がある。前者は、レチクル
を作成するためにガラス基板上に電子ビームによりデバ
イスパターンを描画することを目的とする装置で、スポ
ットビームを用いてラスタ走査する方式のものと、パタ
ーンに応じてビームの形状を変化させる可変成形ビーム
ベクタ走査方式のものがあり、どちらも既に製品化され
ている。
【0014】一方、ウエハ直描用には、高スループット
の得やすい可変成形ビームベクタ走査方式の装置を用い
るのが一般的であり、該装置も数社から市販されてい
る。本目的の装置では高速性が要求されているが、この
課題を克服するために現在、マイクロコラム方式、ブロ
ック描画方式、シングルビームブランキングアレイ方
式、SCALPEL方式等が提案されている。
の得やすい可変成形ビームベクタ走査方式の装置を用い
るのが一般的であり、該装置も数社から市販されてい
る。本目的の装置では高速性が要求されているが、この
課題を克服するために現在、マイクロコラム方式、ブロ
ック描画方式、シングルビームブランキングアレイ方
式、SCALPEL方式等が提案されている。
【0015】マイクロコラム方式は微小電子ビームコラ
ムを多数配置し、一度に複数のパターンもしくはチップ
を平行して描画するものである。ブロック描画方式は、
繰り返し単位に相当するセルパターンをスリット上に設
け、これを電子ビームで転写するものである。シングル
ビームブランキングアレイ方式は、単独の大電流電子ビ
ームを収束せずに用い、微小穴を多数設けたスリットを
通してビームアレイを得、これを用いて描画するもので
ある。SCALPEL方式は電子ビームステッパとも言
えるもので、チップ全体をステンシルマスクとして形成
し、電子ビームで転写するものである。
ムを多数配置し、一度に複数のパターンもしくはチップ
を平行して描画するものである。ブロック描画方式は、
繰り返し単位に相当するセルパターンをスリット上に設
け、これを電子ビームで転写するものである。シングル
ビームブランキングアレイ方式は、単独の大電流電子ビ
ームを収束せずに用い、微小穴を多数設けたスリットを
通してビームアレイを得、これを用いて描画するもので
ある。SCALPEL方式は電子ビームステッパとも言
えるもので、チップ全体をステンシルマスクとして形成
し、電子ビームで転写するものである。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】前述のように、表面伝
導型電子放出素子の製造には、通常、電子放出部を形成
するために、導電性膜を通電フォーミング処理し、導電
性膜の一部を局所的に破壊、変形もしくは変質させるこ
とが一般的である。
導型電子放出素子の製造には、通常、電子放出部を形成
するために、導電性膜を通電フォーミング処理し、導電
性膜の一部を局所的に破壊、変形もしくは変質させるこ
とが一般的である。
【0017】一般に、導電性膜の破壊、変形、変質過程
は、導電性膜の膜質、基体の種類、基体の表面状態、導
電性膜が触れている雰囲気などに強く依存する。このた
め、通電フォーミング処理によって形成される亀裂には
範囲及び程度のばらつきが生じ易く、均一な形態の電子
放出部が得られない場合があった。特に、電子源基体が
大きくなる(具体的には、30インチクラス以上)と、
配置する電子放出素子の数が膨大となり、上記ばらつき
が更に生じ易くなるという問題があった。
は、導電性膜の膜質、基体の種類、基体の表面状態、導
電性膜が触れている雰囲気などに強く依存する。このた
め、通電フォーミング処理によって形成される亀裂には
範囲及び程度のばらつきが生じ易く、均一な形態の電子
放出部が得られない場合があった。特に、電子源基体が
大きくなる(具体的には、30インチクラス以上)と、
配置する電子放出素子の数が膨大となり、上記ばらつき
が更に生じ易くなるという問題があった。
【0018】一方、電子源、画像形成装置等に用いられ
る電子放出素子については、明るい表示画像を安定して
提供できるように、長時間の駆動に際しても安定な電子
放出特性及び電子放出の効率向上が要望されている。か
かる電子放出の効率とは、前述の導電性膜の両端に電圧
を印加した際に、これに流れる電流(以下、「素子電流
If」と呼ぶ。)と真空中に放出される電流(以下、
「放出電流Ie」と呼ぶ。)との比で評価されるもので
あり、素子電流が小さく、放出電流が大きい電子放出素
子が望まれている。
る電子放出素子については、明るい表示画像を安定して
提供できるように、長時間の駆動に際しても安定な電子
放出特性及び電子放出の効率向上が要望されている。か
かる電子放出の効率とは、前述の導電性膜の両端に電圧
を印加した際に、これに流れる電流(以下、「素子電流
If」と呼ぶ。)と真空中に放出される電流(以下、
「放出電流Ie」と呼ぶ。)との比で評価されるもので
あり、素子電流が小さく、放出電流が大きい電子放出素
子が望まれている。
【0019】上記電子放出素子の製造においては、「活
性化」と称される処理を行うのが好ましい。この活性化
処理とは、有機物質を含む雰囲気中で、素子にパルス電
圧を印加し、通電フォーミング処理によって形成された
亀裂に、炭素或いは炭素化合物を堆積させる処理であ
る。
性化」と称される処理を行うのが好ましい。この活性化
処理とは、有機物質を含む雰囲気中で、素子にパルス電
圧を印加し、通電フォーミング処理によって形成された
亀裂に、炭素或いは炭素化合物を堆積させる処理であ
る。
【0020】しかしながら、導電性膜の破壊、変形、変
質等により形成された亀裂の幅にばらつきを持った素子
に対して、活性化処理を施した場合、一部の極端に亀裂
の狭い領域は電気的な抵抗が極端に小さくなり、素子電
流こそ流れるものの、電子放出を司らなくなってしまっ
たり、逆に、一部の極端に亀裂の広い領域では電気的な
抵抗が極端に大きくなり、素子電流も流れず、電子放出
も司らなくなってしまう場合があり、素子毎にこの程度
が異なると均一な特性が得られないという問題があっ
た。
質等により形成された亀裂の幅にばらつきを持った素子
に対して、活性化処理を施した場合、一部の極端に亀裂
の狭い領域は電気的な抵抗が極端に小さくなり、素子電
流こそ流れるものの、電子放出を司らなくなってしまっ
たり、逆に、一部の極端に亀裂の広い領域では電気的な
抵抗が極端に大きくなり、素子電流も流れず、電子放出
も司らなくなってしまう場合があり、素子毎にこの程度
が異なると均一な特性が得られないという問題があっ
た。
【0021】このため、より均一な素子特性を得るため
には、電子放出を司る領域の大きさと分布が素子毎に変
動しないことが必要であり、また、より高効率な素子を
得るためには、電気抵抗が小さ過ぎて電子放出を司らな
い領域と、電気抵抗が大き過ぎて電子放出を司らない領
域を、できるだけ少なくする必要がある。
には、電子放出を司る領域の大きさと分布が素子毎に変
動しないことが必要であり、また、より高効率な素子を
得るためには、電気抵抗が小さ過ぎて電子放出を司らな
い領域と、電気抵抗が大き過ぎて電子放出を司らない領
域を、できるだけ少なくする必要がある。
【0022】特に、電子放出素子を実際の用途に応用し
ようとする場合、多数の電子放出特性が同じ特性を示す
こと、即ち、特性の再現性が良いことが重要である。ま
た、多数の電子放出素子を配置して電子源に応用する場
合や、画像形成装置の電子ビーム源に用いる場合、品位
の良い画像を表示するためには、それらの電子放出素子
が均一な特性を有することが必要である。
ようとする場合、多数の電子放出特性が同じ特性を示す
こと、即ち、特性の再現性が良いことが重要である。ま
た、多数の電子放出素子を配置して電子源に応用する場
合や、画像形成装置の電子ビーム源に用いる場合、品位
の良い画像を表示するためには、それらの電子放出素子
が均一な特性を有することが必要である。
【0023】また、表面伝導型電子放出素子などの冷陰
極電子放出素子と言えども、多数の電子が飛び出す電子
放出部は高温になると予想され、それゆえ、長時間の駆
動に際して耐久性の高い電子放出素子の実現には、導電
性膜の材料として、タングステン(W)などの融点の高
い材料が好ましい。しかしながら、高融点材料に通電フ
ォーミング処理により電子放出部を形成しようとする
と、フォーミングに多大なパワーが必要となり、周辺電
極を損傷するなどし、好ましい形態の電子放出部を形成
するのは困難であった。
極電子放出素子と言えども、多数の電子が飛び出す電子
放出部は高温になると予想され、それゆえ、長時間の駆
動に際して耐久性の高い電子放出素子の実現には、導電
性膜の材料として、タングステン(W)などの融点の高
い材料が好ましい。しかしながら、高融点材料に通電フ
ォーミング処理により電子放出部を形成しようとする
と、フォーミングに多大なパワーが必要となり、周辺電
極を損傷するなどし、好ましい形態の電子放出部を形成
するのは困難であった。
【0024】導電性膜に高融点材料を用い、通電フォー
ミング処理を行わずに表面伝導型電子放出素子を作製す
る方法として、電子線リソグラフィーにより導電性膜に
狭間隙部を形成する方法(特願平8−224578号)
が提案されているが、電子源基体が大きくなった場合
(具体的には、30インチクラス以上)、それに対応し
た電子線露光装置が存在しないという問題があった。ま
た、既存の電子線露光装置を改造し、大型の試料(具体
的には、30インチクラス以上)に対応できるようにし
たとしても、膨大な数の電子放出素子の夫々の導電性膜
の狭間隙部を電子線描画するには長時間を要すという問
題がある。
ミング処理を行わずに表面伝導型電子放出素子を作製す
る方法として、電子線リソグラフィーにより導電性膜に
狭間隙部を形成する方法(特願平8−224578号)
が提案されているが、電子源基体が大きくなった場合
(具体的には、30インチクラス以上)、それに対応し
た電子線露光装置が存在しないという問題があった。ま
た、既存の電子線露光装置を改造し、大型の試料(具体
的には、30インチクラス以上)に対応できるようにし
たとしても、膨大な数の電子放出素子の夫々の導電性膜
の狭間隙部を電子線描画するには長時間を要すという問
題がある。
【0025】本発明の目的は、上記問題を鑑み、耐久性
の高い高融点材料を導電性膜として用いた場合にも、良
好な電子放出特性を有する素子を再現性良く形成するこ
とができる電子放出素子の新規な構成、並びにそれを用
いた電子源、耐久性が高く、高輝度で、かつ輝度のばら
つきの無い高品位な画像表示を実現し得る画像形成装
置、特に大型の(具体的には、30インチクラス以上
の)画像形成装置、及びそれらの製造方法を提供するこ
とにある。
の高い高融点材料を導電性膜として用いた場合にも、良
好な電子放出特性を有する素子を再現性良く形成するこ
とができる電子放出素子の新規な構成、並びにそれを用
いた電子源、耐久性が高く、高輝度で、かつ輝度のばら
つきの無い高品位な画像表示を実現し得る画像形成装
置、特に大型の(具体的には、30インチクラス以上
の)画像形成装置、及びそれらの製造方法を提供するこ
とにある。
【0026】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成すべく
成された本発明の構成は、以下の通りである。
成された本発明の構成は、以下の通りである。
【0027】即ち、本発明の第一は、基体上に一対の素
子電極を形成する工程と、素子電極間に導電性膜を形成
する工程と、ポジ型レジストを用い、かつ電子放出素子
が多数個配置された電子源を有する電子線露光装置を用
いた電子線リソグラフィーにより、導電性膜に電子放出
部となる狭間隙を形成する工程とを有することを特徴と
する電子放出素子の製造方法にある。
子電極を形成する工程と、素子電極間に導電性膜を形成
する工程と、ポジ型レジストを用い、かつ電子放出素子
が多数個配置された電子源を有する電子線露光装置を用
いた電子線リソグラフィーにより、導電性膜に電子放出
部となる狭間隙を形成する工程とを有することを特徴と
する電子放出素子の製造方法にある。
【0028】また、本発明の第二は、基体上に一対の素
子電極を形成する工程と、素子電極間に導電性膜を形成
する工程と、ネガ型レジストを用い、かつ電子放出素子
が多数個配置された電子源を有する電子線露光装置を用
いた電子線リソグラフィーにより、導電性膜に電子放出
部となる狭間隙を形成する工程とを有することを特徴と
する電子放出素子の製造方法にある。
子電極を形成する工程と、素子電極間に導電性膜を形成
する工程と、ネガ型レジストを用い、かつ電子放出素子
が多数個配置された電子源を有する電子線露光装置を用
いた電子線リソグラフィーにより、導電性膜に電子放出
部となる狭間隙を形成する工程とを有することを特徴と
する電子放出素子の製造方法にある。
【0029】さらに、本発明の第三は、上記本発明の第
一または第二の方法により製造されることを特徴とする
電子放出素子にある。
一または第二の方法により製造されることを特徴とする
電子放出素子にある。
【0030】そして、本発明の第四は、入力信号に応じ
て電子を放出する電子源であって、基体上に、上記本発
明の第三の電子放出素子を複数配置したことを特徴とす
る電子源にある。
て電子を放出する電子源であって、基体上に、上記本発
明の第三の電子放出素子を複数配置したことを特徴とす
る電子源にある。
【0031】また、本発明の第五は、上記本発明の第四
の電子源を製造する方法であって、複数個の電子放出素
子を上記本発明の第一または第二の方法により製造する
ことを特徴とする電子源の製造方法にある。
の電子源を製造する方法であって、複数個の電子放出素
子を上記本発明の第一または第二の方法により製造する
ことを特徴とする電子源の製造方法にある。
【0032】また、本発明の第六は、入力信号に基づい
て画像を形成する装置であって、少なくとも、上記本発
明の第四の電子源と、該電子源から放出される電子線の
照射により画像を形成する画像形成部材とを有すること
を特徴とする画像形成装置にある。
て画像を形成する装置であって、少なくとも、上記本発
明の第四の電子源と、該電子源から放出される電子線の
照射により画像を形成する画像形成部材とを有すること
を特徴とする画像形成装置にある。
【0033】さらに、本発明の第七は、上記本発明の第
六の画像形成装置を製造する方法であって、電子源を上
記本発明の第五の方法により製造することを特徴とする
画像形成装置の製造方法にある。
六の画像形成装置を製造する方法であって、電子源を上
記本発明の第五の方法により製造することを特徴とする
画像形成装置の製造方法にある。
【0034】本発明によれば、通電フォーミング処理を
行うことなく、電子放出部となる幅の狭い均一な間隙を
形成することができるため、活性化処理を容易に、かつ
良好に行うことができ、電子放出部の位置と形状を制御
することができるとともに、電子放出特性の再現性およ
び均一性の良い、高効率な電子放出素子を得ることがで
きる。さらに、電子源基体が大きくなった場合(具体的
には、30インチクラス以上)でも、電子放出部の形成
を比較的短時間で行うことができる。
行うことなく、電子放出部となる幅の狭い均一な間隙を
形成することができるため、活性化処理を容易に、かつ
良好に行うことができ、電子放出部の位置と形状を制御
することができるとともに、電子放出特性の再現性およ
び均一性の良い、高効率な電子放出素子を得ることがで
きる。さらに、電子源基体が大きくなった場合(具体的
には、30インチクラス以上)でも、電子放出部の形成
を比較的短時間で行うことができる。
【0035】
【発明の実施の形態】次に、本発明の好ましい実施態様
を示す。
を示す。
【0036】図1は、本発明の電子放出素子の一構成例
を示す模式図であり、図1(a)は平面図、図1(b)
は縦断面図である。図1において、1は基板、2と3は
電極(素子電極)、4は導電性膜、5は電子放出部であ
る。
を示す模式図であり、図1(a)は平面図、図1(b)
は縦断面図である。図1において、1は基板、2と3は
電極(素子電極)、4は導電性膜、5は電子放出部であ
る。
【0037】基板1としては、石英ガラス、Na等の不
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層した積層体、ア
ルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いることが
できる。
純物含有量を減少させたガラス、青板ガラス、青板ガラ
スにスパッタ法等によりSiO2 を積層した積層体、ア
ルミナ等のセラミックス及びSi基板等を用いることが
できる。
【0038】対向する素子電極2,3の材料としては、
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi、C
r、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等
の金属或は合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
一般的な導体材料を用いることができ、例えばNi、C
r、Au、Mo、W、Pt、Ti、Al、Cu、Pd等
の金属或は合金及びPd、Ag、Au、RuO2 、Pd
−Ag等の金属或は金属酸化物とガラス等から構成され
る印刷導体、In2 O3 −SnO2 等の透明導電体及び
ポリシリコン等の半導体導体材料等から適宜選択され
る。
【0039】素子電極間隔L、素子電極長さW、導電性
膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、設計さ
れる。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nmから数
百μmの範囲とすることができ、より好ましくは、素子
電極間に印加する電圧等を考慮して数μmから数十μm
の範囲とすることができる。素子電極長さWは、電極の
抵抗値、電子放出特性を考慮して、数μmから数百μm
の範囲とすることができる。素子電極2,3の膜厚d
は、数十nmから数μmの範囲とすることができる。
膜4の形状等は、応用される形態等を考慮して、設計さ
れる。素子電極間隔Lは、好ましくは、数百nmから数
百μmの範囲とすることができ、より好ましくは、素子
電極間に印加する電圧等を考慮して数μmから数十μm
の範囲とすることができる。素子電極長さWは、電極の
抵抗値、電子放出特性を考慮して、数μmから数百μm
の範囲とすることができる。素子電極2,3の膜厚d
は、数十nmから数μmの範囲とすることができる。
【0040】導電性膜4には、耐久性の高い材料、例え
ばタングステン(W)などの高融点金属を用いることが
好ましい。その膜厚は、素子電極2,3へのステップカ
バレージ、素子電極2,3間の抵抗値等を考慮して適宜
設定されるが、通常は、数nm〜数百nmの範囲とする
のが好ましい。
ばタングステン(W)などの高融点金属を用いることが
好ましい。その膜厚は、素子電極2,3へのステップカ
バレージ、素子電極2,3間の抵抗値等を考慮して適宜
設定されるが、通常は、数nm〜数百nmの範囲とする
のが好ましい。
【0041】電子放出部5は、導電性膜4の一部に、後
述の電子線リソグラフィー及び後述の活性化処理により
形成された高抵抗の亀裂により構成される。また、電子
放出部5及びその近傍の導電性膜4には、後述の活性化
工程によって形成される炭素あるいは炭素化合物を有す
ることもできる。
述の電子線リソグラフィー及び後述の活性化処理により
形成された高抵抗の亀裂により構成される。また、電子
放出部5及びその近傍の導電性膜4には、後述の活性化
工程によって形成される炭素あるいは炭素化合物を有す
ることもできる。
【0042】本発明の電子放出素子の製造方法としては
様々な方法があるが、その一例を図2〜図9に基づいて
説明する。尚、図2〜図9においても図1に示した部位
と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付して
いる。
様々な方法があるが、その一例を図2〜図9に基づいて
説明する。尚、図2〜図9においても図1に示した部位
と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を付して
いる。
【0043】まず、本発明の電子放出素子の製造方法に
おける第一の実施形態を、図2〜図5に基づいて説明す
る。
おける第一の実施形態を、図2〜図5に基づいて説明す
る。
【0044】1−1)基板1を洗剤、純水及び有機溶剤
等を用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等に
より素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィ
ー技術を用いて基板1上に素子電極2及び3を形成する
(図2(a))。
等を用いて十分に洗浄し、真空蒸着法、スパッタ法等に
より素子電極材料を堆積後、例えばフォトリソグラフィ
ー技術を用いて基板1上に素子電極2及び3を形成する
(図2(a))。
【0045】1−2)素子電極2,3を設けた基板1上
に、タングステン(W)等の高融点金属をスパッタ法に
より堆積後、リフトオフ、エッチング等によりパターニ
ングし、導電性膜4を形成する(図2(b))。尚、導
電性膜4の形成法は、上記のスパッタ法に限られるもの
ではなく、真空蒸着法、化学的気相堆積法、分散塗布
法、ヂッピング法、スピンナー法等を用いることもでき
る。
に、タングステン(W)等の高融点金属をスパッタ法に
より堆積後、リフトオフ、エッチング等によりパターニ
ングし、導電性膜4を形成する(図2(b))。尚、導
電性膜4の形成法は、上記のスパッタ法に限られるもの
ではなく、真空蒸着法、化学的気相堆積法、分散塗布
法、ヂッピング法、スピンナー法等を用いることもでき
る。
【0046】1−3)続いて、導電性膜4内に狭間隙を
作製するため、以下に示す電子線リソグラフィー工程を
施す。
作製するため、以下に示す電子線リソグラフィー工程を
施す。
【0047】まず、放射線分解型高分子であるポジ型レ
ジスト11を全面に塗布する(図3(c))。次に、素
子電極2,3のほぼ中央部を、該素子電極の対向面に平
行するように電子線12で描画する(図3(d))。な
お、電子線描画には、後述の電子線露光装置を使用す
る。こうして、ポジ型レジスト11の一部に、主鎖切断
を起こした変質部13を形成する(図3(e))。
ジスト11を全面に塗布する(図3(c))。次に、素
子電極2,3のほぼ中央部を、該素子電極の対向面に平
行するように電子線12で描画する(図3(d))。な
お、電子線描画には、後述の電子線露光装置を使用す
る。こうして、ポジ型レジスト11の一部に、主鎖切断
を起こした変質部13を形成する(図3(e))。
【0048】続いて、これを現像し(図4(f))、エ
ッチングガス14によるドライエッチングを行う(図4
(g))ことにより、素子電極2,3のほぼ中央部に狭
間隙を作製する(図4(h))。尚、上記エッチングの
際、狭間隙部において基体1自体もエッチング(オーバ
ーエッチング)されても構わない。その後、ポジ型レジ
スト11を除去することにより、導電性膜4内に狭間隙
を形成した図5(i)に示す構成の電子放出素子を得
る。
ッチングガス14によるドライエッチングを行う(図4
(g))ことにより、素子電極2,3のほぼ中央部に狭
間隙を作製する(図4(h))。尚、上記エッチングの
際、狭間隙部において基体1自体もエッチング(オーバ
ーエッチング)されても構わない。その後、ポジ型レジ
スト11を除去することにより、導電性膜4内に狭間隙
を形成した図5(i)に示す構成の電子放出素子を得
る。
【0049】1−4)電子線リソグラフィー工程を終え
た素子には、活性化工程と呼ばれる処理を施すのが好ま
しい。活性化工程は、例えば、有機物質のガスを含有す
る雰囲気下で、素子電極2,3間にパルスの印加を繰り
返すことで行うことができ、この処理により、素子電流
If,放出電流Ieが、著しく変化するようになる。
た素子には、活性化工程と呼ばれる処理を施すのが好ま
しい。活性化工程は、例えば、有機物質のガスを含有す
る雰囲気下で、素子電極2,3間にパルスの印加を繰り
返すことで行うことができ、この処理により、素子電流
If,放出電流Ieが、著しく変化するようになる。
【0050】活性化工程における有機物質のガスを含有
する雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプ
などを用いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残
留する有機ガスを利用して形成することができる他、オ
イルを使用しないイオンポンプなどにより一旦十分に排
気した真空中に適当な有機物質のガスを導入することに
よっても得られる。このときの好ましい有機物質のガス
圧は、前述の素子の形態、真空容器の形状や、有機物質
の種類などにより異なるため、場合に応じ適宜設定され
る。
する雰囲気は、例えば油拡散ポンプやロータリーポンプ
などを用いて真空容器内を排気した場合に雰囲気内に残
留する有機ガスを利用して形成することができる他、オ
イルを使用しないイオンポンプなどにより一旦十分に排
気した真空中に適当な有機物質のガスを導入することに
よっても得られる。このときの好ましい有機物質のガス
圧は、前述の素子の形態、真空容器の形状や、有機物質
の種類などにより異なるため、場合に応じ適宜設定され
る。
【0051】適当な有機物質としては、アルカン、アル
ケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素
類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、アミン
類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機酸類等
を挙げることが出来、具体的には、メタン、エタン、プ
ロパンなどCn H2n+2で表される飽和炭化水素、エチレ
ン、プロピレンなどCn H2n等の組成式で表される不飽
和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタノ
ール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミ
ン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等が使用で
きる。
ケン、アルキンの脂肪族炭化水素類、芳香族炭化水素
類、アルコール類、アルデヒド類、ケトン類、アミン
類、フェノール、カルボン、スルホン酸等の有機酸類等
を挙げることが出来、具体的には、メタン、エタン、プ
ロパンなどCn H2n+2で表される飽和炭化水素、エチレ
ン、プロピレンなどCn H2n等の組成式で表される不飽
和炭化水素、ベンゼン、トルエン、メタノール、エタノ
ール、ホルムアルデヒド、アセトアルデヒド、アセト
ン、メチルエチルケトン、メチルアミン、エチルアミ
ン、フェノール、蟻酸、酢酸、プロピオン酸等が使用で
きる。
【0052】この処理により、雰囲気中に存在する有機
物質から、導電性膜4に形成された狭間隙及びその周辺
部に炭素あるいは炭素化合物が堆積し、該狭間隙部は良
好な電子放出機能を有する電子放出部5となる(図5
(j))。
物質から、導電性膜4に形成された狭間隙及びその周辺
部に炭素あるいは炭素化合物が堆積し、該狭間隙部は良
好な電子放出機能を有する電子放出部5となる(図5
(j))。
【0053】炭素あるいは炭素化合物とは、例えばグラ
ファイト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含するも
ので、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、P
Gは結晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたも
の、GCは結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れが
さらに大きくなったものを指す。)、非晶質カーボン
(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと
前記グラファイトの微結晶の混合物を指す。)であり、
その膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、
30nm以下の範囲とすることがより好ましい。
ファイト(いわゆるHOPG,PG,GCを包含するも
ので、HOPGはほぼ完全なグラファイト結晶構造、P
Gは結晶粒が20nm程度で結晶構造がやや乱れたも
の、GCは結晶粒が2nm程度になり結晶構造の乱れが
さらに大きくなったものを指す。)、非晶質カーボン
(アモルファスカーボン及び、アモルファスカーボンと
前記グラファイトの微結晶の混合物を指す。)であり、
その膜厚は、50nm以下の範囲とするのが好ましく、
30nm以下の範囲とすることがより好ましい。
【0054】活性化工程の終了判定は、素子電流Ifと
放出電流Ieを測定しながら、適宜行うことができる。
放出電流Ieを測定しながら、適宜行うことができる。
【0055】以上説明した第一実施形態の電子放出素子
の製造方法においては、導電性膜4に均一な幅を有する
狭間隙を再現性良く形成することができるため、電子放
出部5の位置及び形状を制御することができるととも
に、通電フォーミングで形成される亀裂の幅のばらつき
を有する電子放出素子に活性化工程を施す場合における
問題を解消することができる。
の製造方法においては、導電性膜4に均一な幅を有する
狭間隙を再現性良く形成することができるため、電子放
出部5の位置及び形状を制御することができるととも
に、通電フォーミングで形成される亀裂の幅のばらつき
を有する電子放出素子に活性化工程を施す場合における
問題を解消することができる。
【0056】次に、本発明の電子放出素子の製造方法に
おける第二の実施形態を、図6〜図9に基づいて説明す
る。
おける第二の実施形態を、図6〜図9に基づいて説明す
る。
【0057】2−1)前記工程1−1と同様にして、基
体1上に素子電極2,3を形成する(図6(a))。
体1上に素子電極2,3を形成する(図6(a))。
【0058】2−2)素子電極2,3のほぼ中央に狭間
隙を形成するため、以下に示す電子線リソグラフィー工
程を施す。
隙を形成するため、以下に示す電子線リソグラフィー工
程を施す。
【0059】まず、放射線硬化型高分子であるネガ型レ
ジスト21を全面に塗布する(図6(b))。次に、素
子電極2,3のほぼ中央部を、該素子電極の対向面に平
行するように電子線22で描画する(図7(c))。な
お、電子線描画には、後述の電子線露光装置を使用す
る。こうしてネガ型レジスト21の一部が硬化した変質
部23を形成する(図7(d))。続いて、これを現像
することにより、変質部23のみを素子電極2,3のほ
ぼ中央部に残す(図8(e))。
ジスト21を全面に塗布する(図6(b))。次に、素
子電極2,3のほぼ中央部を、該素子電極の対向面に平
行するように電子線22で描画する(図7(c))。な
お、電子線描画には、後述の電子線露光装置を使用す
る。こうしてネガ型レジスト21の一部が硬化した変質
部23を形成する(図7(d))。続いて、これを現像
することにより、変質部23のみを素子電極2,3のほ
ぼ中央部に残す(図8(e))。
【0060】2−3)続いて、前記工程1−2と同様に
して、素子電極2,3及び変質部23を設けた基体1上
に、導電性膜4を形成する(図8(f))。
して、素子電極2,3及び変質部23を設けた基体1上
に、導電性膜4を形成する(図8(f))。
【0061】2−4)次に、変質部23及びこの上に堆
積した導電性膜材料を除去することにより、導電性膜4
内に狭間隙を形成した図9(g)に示す構成の電子放出
素子を得る。
積した導電性膜材料を除去することにより、導電性膜4
内に狭間隙を形成した図9(g)に示す構成の電子放出
素子を得る。
【0062】2−5)前記工程1−4と同様にして活性
化処理を施し、導電性膜4に形成された狭間隙及びその
周辺部に炭素あるいは炭素化合物を堆積させ、良好な電
子放出機能を有する電子放出部5を形成する(図9
(h))。
化処理を施し、導電性膜4に形成された狭間隙及びその
周辺部に炭素あるいは炭素化合物を堆積させ、良好な電
子放出機能を有する電子放出部5を形成する(図9
(h))。
【0063】以上説明した第二実施形態の電子放出素子
の製造方法においても、導電性膜4に均一な幅を有する
狭間隙を再現性良く形成することができるため、電子放
出部5の位置及び形状を制御することができるととも
に、通電フォ一ミングで形成される亀裂の幅のばらつき
を有する電子放出素子に活性化工程を施した場合におけ
る問題を解消することができる。
の製造方法においても、導電性膜4に均一な幅を有する
狭間隙を再現性良く形成することができるため、電子放
出部5の位置及び形状を制御することができるととも
に、通電フォ一ミングで形成される亀裂の幅のばらつき
を有する電子放出素子に活性化工程を施した場合におけ
る問題を解消することができる。
【0064】ここで、本発明で用いた電子線露光装置に
ついて説明する。
ついて説明する。
【0065】図24は、本発明で用いた電子線露光装置
の一構成例を示す模式図である。同図において、71は
電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配線、7
4は表面伝導型電子放出素子、81はリアプレート、3
01は表面伝導型電子放出素子74から放出される電子
を加速する電極、302は電子が通過するための開口、
303は表面伝導型電子放出素子74から放出される電
子を収束する電極、304は電子が通過するための開口
である。
の一構成例を示す模式図である。同図において、71は
電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配線、7
4は表面伝導型電子放出素子、81はリアプレート、3
01は表面伝導型電子放出素子74から放出される電子
を加速する電極、302は電子が通過するための開口、
303は表面伝導型電子放出素子74から放出される電
子を収束する電極、304は電子が通過するための開口
である。
【0066】なお、図24に示す表面伝導型電子放出素
子74の配列は、後述の単純マトリクス配置(図12に
示す配置と基本的には同じ)としたが、後述の梯子型配
置(図16に示す配置と基本的には同じ)としてもよ
い。
子74の配列は、後述の単純マトリクス配置(図12に
示す配置と基本的には同じ)としたが、後述の梯子型配
置(図16に示す配置と基本的には同じ)としてもよ
い。
【0067】図24においては、加速電極301と収束
電極303のみを設けたが、これら以外に表面伝導型電
子放出素子74から放出される電子を変調、変形或いは
走査するために、一つ或いは複数の電極を追加してもよ
い。
電極303のみを設けたが、これら以外に表面伝導型電
子放出素子74から放出される電子を変調、変形或いは
走査するために、一つ或いは複数の電極を追加してもよ
い。
【0068】また、図24に示す電子源基板71、加速
電極301、収束電極303などは不図示の真空容器内
に設けられ、通常、1.3×10-5Pa以下に保たれて
いる。更に、上記のX方向配線72、Y方向配線73、
加速電極301、収束電極303は、それぞれ不図示の
容器外端子に接続され、さらに不図示の制御回路と電気
的に接続されている。
電極301、収束電極303などは不図示の真空容器内
に設けられ、通常、1.3×10-5Pa以下に保たれて
いる。更に、上記のX方向配線72、Y方向配線73、
加速電極301、収束電極303は、それぞれ不図示の
容器外端子に接続され、さらに不図示の制御回路と電気
的に接続されている。
【0069】表面伝導型電子放出素子74から放出され
る電子の加速電圧は、1kVから30kVまで連続的に
変化させることができる。該電子線の照射条件は、用い
るレジストの感光特性等により異なるが、代表的な値と
して、電子の加速電圧:20kV、照射量:1μV/c
m2 が挙げられる。なお、該電子線のスポット径は加速
電圧や放出電流(素子電流により制御されるもの)の他
に、図1に示す電子放出部5の長さ(図25における
W’に相当)にも依存する。
る電子の加速電圧は、1kVから30kVまで連続的に
変化させることができる。該電子線の照射条件は、用い
るレジストの感光特性等により異なるが、代表的な値と
して、電子の加速電圧:20kV、照射量:1μV/c
m2 が挙げられる。なお、該電子線のスポット径は加速
電圧や放出電流(素子電流により制御されるもの)の他
に、図1に示す電子放出部5の長さ(図25における
W’に相当)にも依存する。
【0070】このような工程を経て得られた電子放出素
子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程は、
真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空容器
を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイルが
素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用しな
いものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープショ
ンポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げること
が出来る。
子は、安定化工程を行うことが好ましい。この工程は、
真空容器内の有機物質を排気する工程である。真空容器
を排気する真空排気装置は、装置から発生するオイルが
素子の特性に影響を与えないように、オイルを使用しな
いものを用いるのが好ましい。具体的には、ソープショ
ンポンプ、イオンポンプ等の真空排気装置を挙げること
が出来る。
【0071】前記活性化の工程で、排気装置として油拡
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1.3×10-6Pa以下が好ま
しく、さらには1.3×10-8Pa以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着し
た有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。この
とき、できるだけ高温で長時間処理するのが望ましい
が、真空容器の大きさや形状、電子放出素子の構成など
の諸条件により適宜選ばれる条件により行う。真空容器
内の圧力は極力低くすることが必要で、1.3×10-5
Pa以下が好ましく、さらには1.3×10-6Pa以下
が特に好ましい。
散ポンプやロータリーポンプを用い、これから発生する
オイル成分に由来する有機ガスを用いた場合には、この
成分の分圧を極力低く抑える必要がある。真空容器内の
有機成分の分圧は、上記炭素あるいは炭素化合物がほぼ
新たに堆積しない分圧で1.3×10-6Pa以下が好ま
しく、さらには1.3×10-8Pa以下が特に好まし
い。さらに真空容器内を排気するときには、真空容器全
体を加熱して、真空容器内壁や、電子放出素子に吸着し
た有機物質分子を排気しやすくするのが好ましい。この
とき、できるだけ高温で長時間処理するのが望ましい
が、真空容器の大きさや形状、電子放出素子の構成など
の諸条件により適宜選ばれる条件により行う。真空容器
内の圧力は極力低くすることが必要で、1.3×10-5
Pa以下が好ましく、さらには1.3×10-6Pa以下
が特に好ましい。
【0072】安定化工程を行った後の、駆動時の雰囲気
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、結果として素子電流If,放出電流Ie
が、安定する。
は、上記安定化処理終了時の雰囲気を維持するのが好ま
しいが、これに限るものではなく、有機物質が十分除去
されていれば、圧力自体は多少上昇しても十分安定な特
性を維持することが出来る。このような真空雰囲気を採
用することにより、新たな炭素あるいは炭素化合物の堆
積を抑制でき、結果として素子電流If,放出電流Ie
が、安定する。
【0073】上述した工程を経て得られた本発明の電子
放出素子の基本特性について、図10及び図11を参照
しながら説明する。
放出素子の基本特性について、図10及び図11を参照
しながら説明する。
【0074】図10は、真空処理装置の一例を示す模式
図である。この真空処理装置は測定評価装置としての機
能をも兼ね備えている。図10においても、図1に示し
た部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を
付している。
図である。この真空処理装置は測定評価装置としての機
能をも兼ね備えている。図10においても、図1に示し
た部位と同じ部位には図1に付した符号と同一の符号を
付している。
【0075】図10において、55は真空容器であり、
56は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出
素子が配されている。また、51は電子放出素子に素子
電圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3
間を流れる素子電流Ifを測定するための電流計、54
は素子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを捕
捉するためのアノード電極、53はアノード電極54に
電圧を印加するための高圧電源、52は電子放出部5よ
り放出される放出電流Ieを測定するための電流計であ
る。一例として、アノード電極54の電圧を1kV〜1
0kVの範囲とし、アノード電極54と電子放出素子と
の距離Hを2mm〜8mmの範囲として測定を行うこと
ができる。
56は排気ポンプである。真空容器55内には電子放出
素子が配されている。また、51は電子放出素子に素子
電圧Vfを印加するための電源、50は素子電極2,3
間を流れる素子電流Ifを測定するための電流計、54
は素子の電子放出部5より放出される放出電流Ieを捕
捉するためのアノード電極、53はアノード電極54に
電圧を印加するための高圧電源、52は電子放出部5よ
り放出される放出電流Ieを測定するための電流計であ
る。一例として、アノード電極54の電圧を1kV〜1
0kVの範囲とし、アノード電極54と電子放出素子と
の距離Hを2mm〜8mmの範囲として測定を行うこと
ができる。
【0076】真空容器55内には、不図示の真空計等の
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
真空雰囲気下での測定に必要な機器が設けられていて、
所望の真空雰囲気下での測定評価を行えるようになって
いる。
【0077】排気ポンプ56は、ターボポンプ、ロータ
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより加熱できる。
リーポンプ等からなる通常の高真空装置系と、イオンポ
ンプ等からなる超高真空装置系とにより構成されてい
る。ここに示した電子放出素子基板を配した真空処理装
置の全体は、不図示のヒーターにより加熱できる。
【0078】図11は、図10に示した真空処理装置を
用いて測定された放出電流Ie及び素子電流Ifと、素
子電圧Vfとの関係を模式的に示した図である。図11
においては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著し
く小さいので、任意単位で示している。尚、縦・横軸と
もリニアスケールである。
用いて測定された放出電流Ie及び素子電流Ifと、素
子電圧Vfとの関係を模式的に示した図である。図11
においては、放出電流Ieが素子電流Ifに比べて著し
く小さいので、任意単位で示している。尚、縦・横軸と
もリニアスケールである。
【0079】図11からも明らかなように、本発明の電
子放出素子は、放出電流Ieに関して次の3つの特徴的
性質を有する。
子放出素子は、放出電流Ieに関して次の3つの特徴的
性質を有する。
【0080】即ち、第1に、本素子はある電圧(閾値電
圧と呼ぶ;図11中のVth)以上の素子電圧を印加す
ると急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth
以下では放出電流Ieが殆ど検出されない。つまり、放
出電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線
形素子である。
圧と呼ぶ;図11中のVth)以上の素子電圧を印加す
ると急激に放出電流Ieが増加し、一方閾値電圧Vth
以下では放出電流Ieが殆ど検出されない。つまり、放
出電流Ieに対する明確な閾値電圧Vthを持った非線
形素子である。
【0081】第2に、放出電流Ieが素子電圧Vfに単
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
調増加依存するため、放出電流Ieは素子電圧Vfで制
御できる。
【0082】第3に、アノード電極54(図10参照)
に捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間
に依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電
荷量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御でき
る。
に捕捉される放出電荷は、素子電圧Vfを印加する時間
に依存する。つまり、アノード電極54に捕捉される電
荷量は、素子電圧Vfを印加する時間により制御でき
る。
【0083】以上の説明より理解されるように、本発明
の電子放出素子は、入力信号に応じて、電子放出特性を
容易に制御できることになる。この性質を利用すると複
数の電子放出素子を配して構成した電子源、画像形成装
置等、多方面への応用が可能となる。
の電子放出素子は、入力信号に応じて、電子放出特性を
容易に制御できることになる。この性質を利用すると複
数の電子放出素子を配して構成した電子源、画像形成装
置等、多方面への応用が可能となる。
【0084】図11においては、素子電流Ifが素子電
圧Vfに対して単調増加する(MI特性)例を示した
が、素子電流Ifが素子電圧Vfに対して電圧制御型負
性抵抗特性(VCNR特性)を示す場合もある(不図
示)。これらの特性は、前述の工程を制御することで制
御できる。
圧Vfに対して単調増加する(MI特性)例を示した
が、素子電流Ifが素子電圧Vfに対して電圧制御型負
性抵抗特性(VCNR特性)を示す場合もある(不図
示)。これらの特性は、前述の工程を制御することで制
御できる。
【0085】次に、本発明の電子放出素子の応用例につ
いて以下に述べる。本発明の電子放出素子を複数個基板
上に配列し、例えば電子源や画像形成装置が構成でき
る。
いて以下に述べる。本発明の電子放出素子を複数個基板
上に配列し、例えば電子源や画像形成装置が構成でき
る。
【0086】電子放出素子の配列については、種々のも
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
のが採用できる。一例として、並列に配置した多数の電
子放出素子の個々を両端で接続し、電子放出素子の行を
多数個配し(行方向と呼ぶ)、この配線と直交する方向
(列方向と呼ぶ)で、該電子放出素子の上方に配した制
御電極(グリッドとも呼ぶ)により、電子放出素子から
の電子を制御駆動する梯子状配置のものがある。これと
は別に、電子放出素子をX方向及びY方向に行列状に複
数個配し、同じ行に配された複数の電子放出素子の電極
の一方を、X方向の配線に共通に接続し、同じ列に配さ
れた複数の電子放出素子の電極の他方を、Y方向の配線
に共通に接続するものが挙げられる。このようなものは
所謂単純マトリクス配置である。まず単純マトリクス配
置について以下に詳述する。
【0087】本発明の電子放出素子については、前述し
た通り3つの特性がある。即ち、表面伝導型電子放出素
子からの放出電子は、閾値電圧以上では、対向する素子
電極間に印加するパルス状電圧の波高値と幅で制御でき
る。一方、閾値電圧以下では、殆ど放出されない。この
特性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合にお
いても、個々の素子にパルス状電圧を適宜印加すれば、
入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択して
電子放出量を制御できる。
た通り3つの特性がある。即ち、表面伝導型電子放出素
子からの放出電子は、閾値電圧以上では、対向する素子
電極間に印加するパルス状電圧の波高値と幅で制御でき
る。一方、閾値電圧以下では、殆ど放出されない。この
特性によれば、多数の電子放出素子を配置した場合にお
いても、個々の素子にパルス状電圧を適宜印加すれば、
入力信号に応じて、表面伝導型電子放出素子を選択して
電子放出量を制御できる。
【0088】以下この原理に基づき、本発明の電子放出
素子を複数配して得られる電子源基板について、図12
を用いて説明する。図12において、71は電子源基
板、72はX方向配線、73はY方向配線である。74
は電子放出素子、75は結線である。
素子を複数配して得られる電子源基板について、図12
を用いて説明する。図12において、71は電子源基
板、72はX方向配線、73はY方向配線である。74
は電子放出素子、75は結線である。
【0089】m本のX方向配線72は、Dx1,Dx
2,……,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。
Y方向配線73は、Dy1,Dy2……Dynのn本の
配線よりなり、X方向配線72と同様に形成される。こ
れらm本のX方向配線72とn本のY方向配線73との
間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、両者を
電気的に分離している(m,nは、共に正の整数)。
2,……,Dxmからなり、真空蒸着法、印刷法、スパ
ッタ法等を用いて形成された導電性金属等で構成するこ
とができる。配線の材料、膜厚、幅は適宜設計される。
Y方向配線73は、Dy1,Dy2……Dynのn本の
配線よりなり、X方向配線72と同様に形成される。こ
れらm本のX方向配線72とn本のY方向配線73との
間には、不図示の層間絶縁層が設けられており、両者を
電気的に分離している(m,nは、共に正の整数)。
【0090】不図示の層間絶縁層は、真空蒸着法、印刷
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
法、スパッタ法等を用いて形成されたSiO2 等で構成
される。例えば、X方向配線72を形成した基板71の
全面或は一部に所望の形状で形成され、特に、X方向配
線72とY方向配線73の交差部の電位差に耐え得るよ
うに、膜厚、材料、製法が適宜設定される。X方向配線
72とY方向配線73は、それぞれ外部端子として引き
出されている。
【0091】電子放出素子74を構成する一対の素子電
極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線72とn本
のY方向配線73に、導電性金属等からなる結線75に
よって電気的に接続されている。
極(不図示)は、それぞれm本のX方向配線72とn本
のY方向配線73に、導電性金属等からなる結線75に
よって電気的に接続されている。
【0092】配線72と配線73を構成する材料、結線
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
75を構成する材料及び一対の素子電極を構成する材料
は、その構成元素の一部あるいは全部が同一であって
も、また夫々異なってもよい。これらの材料は、例えば
前述の素子電極の材料より適宜選択される。素子電極を
構成する材料と配線材料が同一である場合には、素子電
極に接続した配線は素子電極ということもできる。
【0093】X方向配線72には、X方向に配列した電
子放出素子74の行を選択するための走査信号を印加す
る不図示の走査信号印加手段が接続される。一方、Y方
向配線73には、Y方向に配列した電子放出素子74の
各列を入力信号に応じて変調するための、不図示の変調
信号発生手段が接続される。各電子放出素子に印加され
る駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と変調信
号の差電圧として供給される。
子放出素子74の行を選択するための走査信号を印加す
る不図示の走査信号印加手段が接続される。一方、Y方
向配線73には、Y方向に配列した電子放出素子74の
各列を入力信号に応じて変調するための、不図示の変調
信号発生手段が接続される。各電子放出素子に印加され
る駆動電圧は、当該素子に印加される走査信号と変調信
号の差電圧として供給される。
【0094】上記構成においては、単純なマトリクス配
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
線を用いて、個別の素子を選択し、独立に駆動可能とす
ることができる。
【0095】このような単純マトリクス配置の電子源を
用いて構成した画像形成装置について、図13と図14
及び図15を用いて説明する。図13は、画像形成装置
の表示パネルの一例を示す模式図であり、図14は、図
13の画像形成装置に使用される蛍光膜の模式図であ
る。図15は、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示
を行うための駆動回路の一例を示すブロック図である。
用いて構成した画像形成装置について、図13と図14
及び図15を用いて説明する。図13は、画像形成装置
の表示パネルの一例を示す模式図であり、図14は、図
13の画像形成装置に使用される蛍光膜の模式図であ
る。図15は、NTSC方式のテレビ信号に応じて表示
を行うための駆動回路の一例を示すブロック図である。
【0096】図13において、71は電子放出素子を複
数配した電子源基板、81は電子源基板71を固定した
リアプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜8
4とメタルバック85等が形成されたフェースプレート
である。82は支持枠であり、該支持枠82には、リア
プレート81、フェースプレート86がフリットガラス
等を用いて接続されている。88は外囲器であり、例え
ば大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範
囲で10分間以上焼成することで、封着して構成され
る。
数配した電子源基板、81は電子源基板71を固定した
リアプレート、86はガラス基板83の内面に蛍光膜8
4とメタルバック85等が形成されたフェースプレート
である。82は支持枠であり、該支持枠82には、リア
プレート81、フェースプレート86がフリットガラス
等を用いて接続されている。88は外囲器であり、例え
ば大気中あるいは窒素中で、400〜500℃の温度範
囲で10分間以上焼成することで、封着して構成され
る。
【0097】74は、図1に示したような電子放出素子
である。72,73は、表面伝導型電子放出素子の一対
の素子電極と接続されたX方向配線及びY方向配線あ
る。
である。72,73は、表面伝導型電子放出素子の一対
の素子電極と接続されたX方向配線及びY方向配線あ
る。
【0098】外囲器88は、上述の如く、フェースプレ
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スペーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
ート86、支持枠82、リアプレート81で構成され
る。リアプレート81は主に基板71の強度を補強する
目的で設けられるため、基板71自体で十分な強度を持
つ場合は別体のリアプレート81は不要とすることがで
きる。即ち、基板71に直接支持枠82を封着し、フェ
ースプレート86、支持枠82及び基板71で外囲器8
8を構成してもよい。一方、フェースプレート86とリ
アプレート81の間に、スペーサーと呼ばれる不図示の
支持体を設置することにより、大気圧に対して十分な強
度をもつ外囲器88を構成することもできる。
【0099】図14は、蛍光膜を示す模式図である。蛍
光膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列により、ブラックストライプ(図14(a))あるい
はブラックマトリクス(図14(b))等と呼ばれる黒
色導電材91と蛍光体92とから構成することができ
る。ブラックストライプ、ブラックマトリクスを設ける
目的は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の
各蛍光体92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を
目立たなくすることと、蛍光膜84における外光反射に
よるコントラストの低下を抑制することにある。黒色導
電材91の材料としては、通常用いられている黒鉛を主
成分とする材料の他、導電性があり、光の透過及び反射
が少ない材料を用いることができる。
光膜84は、モノクロームの場合は蛍光体のみで構成す
ることができる。カラーの蛍光膜の場合は、蛍光体の配
列により、ブラックストライプ(図14(a))あるい
はブラックマトリクス(図14(b))等と呼ばれる黒
色導電材91と蛍光体92とから構成することができ
る。ブラックストライプ、ブラックマトリクスを設ける
目的は、カラー表示の場合、必要となる三原色蛍光体の
各蛍光体92間の塗り分け部を黒くすることで混色等を
目立たなくすることと、蛍光膜84における外光反射に
よるコントラストの低下を抑制することにある。黒色導
電材91の材料としては、通常用いられている黒鉛を主
成分とする材料の他、導電性があり、光の透過及び反射
が少ない材料を用いることができる。
【0100】ガラス基板83に蛍光体を塗布する方法
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
は、モノクローム、カラーによらず、沈澱法や印刷法等
が採用できる。蛍光膜84の内面側には、通常メタルバ
ック85が設けられる。メタルバックを設ける目的は、
蛍光体の発光のうち内面側への光をフェースプレート8
6側へ鏡面反射することにより輝度を向上させること、
電子ビーム加速電圧を印加するための電極として作用さ
せること、外囲器内で発生した負イオンの衝突によるダ
メージから蛍光体を保護すること等である。メタルバッ
クは、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面の平滑化処理
(通常、「フィルミング」と呼ばれる。)を行い、その
後Alを真空蒸着等を用いて堆積させることで作製でき
る。
【0101】フェースプレート86には、更に蛍光膜8
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
4の導電性を高めるため、蛍光膜84の外面側に透明電
極(不図示)を設けてもよい。
【0102】前述の封着を行う際、カラーの場合は各色
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
蛍光体と電子放出素子とを対応させる必要があり、十分
な位置合わせが不可欠となる。
【0103】図13に示した画像形成装置は、例えば以
下のようにして製造される。
下のようにして製造される。
【0104】外囲器88内は、適宜加熱しなから、イオ
ンポンプ、ソープションポンプ等のオイルを使用しない
排気装置により不図示の排気管を通じて排気し、1.3
×10-5Pa程度の真空度の有機物質の十分に少ない雰
囲気にした後、封止が成される。外囲器88の封止後の
真空度を維持するために、ゲッター処理を行うこともで
きる。これは、外囲器88の封止を行う直前あるいは封
止後に、抵抗加熱あるいは高周波加熱等を用いた加熱に
より、外囲器88内の所定の位置に配置されたゲッター
(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成する処理である。ゲ
ッターは通常Ba等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作
用により、例えば1.3×10-3〜1.3×10-5Pa
以上の真空度を維持するものである。ここで、電子放出
素子の活性化処理以降の工程は適宜設定できる。
ンポンプ、ソープションポンプ等のオイルを使用しない
排気装置により不図示の排気管を通じて排気し、1.3
×10-5Pa程度の真空度の有機物質の十分に少ない雰
囲気にした後、封止が成される。外囲器88の封止後の
真空度を維持するために、ゲッター処理を行うこともで
きる。これは、外囲器88の封止を行う直前あるいは封
止後に、抵抗加熱あるいは高周波加熱等を用いた加熱に
より、外囲器88内の所定の位置に配置されたゲッター
(不図示)を加熱し、蒸着膜を形成する処理である。ゲ
ッターは通常Ba等が主成分であり、該蒸着膜の吸着作
用により、例えば1.3×10-3〜1.3×10-5Pa
以上の真空度を維持するものである。ここで、電子放出
素子の活性化処理以降の工程は適宜設定できる。
【0105】次に、単純マトリクス配置の電子源を用い
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図15を用いて説明する。図15において、
101は画像表示パネル、102は走査回路、103は
制御回路、104はシフトレジスタ、105はラインメ
モリ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発
生器、Vx及びVaは直流電圧源である。
て構成した表示パネルに、NTSC方式のテレビ信号に
基づいたテレビジョン表示を行う為の駆動回路の構成例
について、図15を用いて説明する。図15において、
101は画像表示パネル、102は走査回路、103は
制御回路、104はシフトレジスタ、105はラインメ
モリ、106は同期信号分離回路、107は変調信号発
生器、Vx及びVaは直流電圧源である。
【0106】表示パネル101は、端子Dox1乃至D
oxm、端子Doy1乃至Doyn及び高圧端子87を
介して外部の電気回路と接続している。端子Dox1乃
至Doxmには、表示パネル101内に設けられている
電子源、即ち、m行n列の行列状にマトリクス配線され
た電子放出素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Doy1乃至Doynに
は、前記走査信号により選択された1行の電子放出素子
の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が印
加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaより、例
えば10kVの直流電圧が供給されるが、これは電子放
出素子から放出される電子ビームに、蛍光体を励起する
のに十分なエネルギーを付与する為の加速電圧である。
oxm、端子Doy1乃至Doyn及び高圧端子87を
介して外部の電気回路と接続している。端子Dox1乃
至Doxmには、表示パネル101内に設けられている
電子源、即ち、m行n列の行列状にマトリクス配線され
た電子放出素子群を1行(n素子)づつ順次駆動する為
の走査信号が印加される。端子Doy1乃至Doynに
は、前記走査信号により選択された1行の電子放出素子
の各素子の出力電子ビームを制御する為の変調信号が印
加される。高圧端子87には、直流電圧源Vaより、例
えば10kVの直流電圧が供給されるが、これは電子放
出素子から放出される電子ビームに、蛍光体を励起する
のに十分なエネルギーを付与する為の加速電圧である。
【0107】走査回路102について説明する。同回路
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dox1乃至Doxmと電気的
に接続される。各スイッチング素子S1乃至Smは、制
御回路103が出力する制御信号Tscanに基づいて
動作するものであり、例えばFETのようなスイッチン
グ素子を組み合わせることにより構成することができ
る。
は、内部にm個のスイッチング素子(図中、S1乃至S
mで模式的に示している)を備えたものである。各スイ
ッチング素子は、直流電圧電源Vxの出力電圧もしくは
0[V](グランドレベル)のいずれか一方を選択し、
表示パネル101の端子Dox1乃至Doxmと電気的
に接続される。各スイッチング素子S1乃至Smは、制
御回路103が出力する制御信号Tscanに基づいて
動作するものであり、例えばFETのようなスイッチン
グ素子を組み合わせることにより構成することができ
る。
【0108】直流電圧源Vxは、本例の場合には電子放
出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づき、走査され
ていない素子に印加される駆動電圧が電子放出閾値電圧
以下となるような一定電圧を出力するよう設定されてい
る。
出素子の特性(電子放出閾値電圧)に基づき、走査され
ていない素子に印加される駆動電圧が電子放出閾値電圧
以下となるような一定電圧を出力するよう設定されてい
る。
【0109】制御回路103は、外部より入力される画
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsync
に基づいて、各部に対してTscan,Tsft及びT
mryの各制御信号を発生する。
像信号に基づいて適切な表示が行われるように、各部の
動作を整合させる機能を有する。制御回路103は、同
期信号分離回路106より送られる同期信号Tsync
に基づいて、各部に対してTscan,Tsft及びT
mryの各制御信号を発生する。
【0110】同期信号分離回路106は、外部から入力
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信
号と表した。このDATA信号は、シフトレジスタ10
4に入力される。
されるNTSC方式のテレビ信号から、同期信号成分と
輝度信号成分とを分離するための回路で、一般的な周波
数分離(フィルター)回路等を用いて構成できる。同期
信号分離回路106により分離された同期信号は、垂直
同期信号と水平同期信号より成るが、ここでは説明の便
宜上Tsync信号として図示した。前記テレビ信号か
ら分離された画像の輝度信号成分は、便宜上DATA信
号と表した。このDATA信号は、シフトレジスタ10
4に入力される。
【0111】シフトレジスタ104は、時系列的にシリ
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
のデータ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn固の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
アルに入力される前記DATA信号を、画像の1ライン
毎にシリアル/パラレル変換するためのもので、前記制
御回路103より送られる制御信号Tsftに基づいて
動作する(即ち、制御信号Tsftは、シフトレジスタ
104のシフトクロックであると言い換えてもよ
い。)。シリアル/パラレル変換された画像1ライン分
のデータ(電子放出素子n素子分の駆動データに相当)
は、Id1乃至Idnのn固の並列信号として前記シフ
トレジスタ104より出力される。
【0112】ラインメモリ105は、画像1ライン分の
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
データを必要時間の間だけ記憶する為の記憶装置であ
り、制御回路103より送られる制御信号Tmryに従
って適宜Id1乃至Idnの内容を記憶する。記憶され
た内容は、Id’1乃至Id’nとして出力され、変調
信号発生器107に入力される。
【0113】変調信号発生器107は、画像データI
d’1乃至Id’nの各々に応じて、電子放出素子の各
々を適切に駆動変調する為の信号源であり、その出力信
号は、端子Doy1乃至Doynを通じて表示パネル1
01内の電子放出素子に印加される。
d’1乃至Id’nの各々に応じて、電子放出素子の各
々を適切に駆動変調する為の信号源であり、その出力信
号は、端子Doy1乃至Doynを通じて表示パネル1
01内の電子放出素子に印加される。
【0114】前述したように、本発明の電子放出素子は
放出電流Ieに関して以下の基本特性を有している。即
ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth
以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生じる。電子
放出閾値以上の電圧に対しては、素子への印加電圧の変
化に応じて放出電流も変化する。このことから、本素子
にパルス状の電圧を印加する場合、例えば電子放出閾値
電圧以下の電圧を印加しても電子放出は生じないが、電
子放出閾値電圧以上の電圧を印加する場合には電子ビー
ムが出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化さ
せることにより、出力電子ビームの強度を制御すること
が可能である。また、パルスの幅Pwを変化させること
により、出力される電子ビームの電荷の総量を制御する
ことが可能である。
放出電流Ieに関して以下の基本特性を有している。即
ち、電子放出には明確な閾値電圧Vthがあり、Vth
以上の電圧が印加された時のみ電子放出が生じる。電子
放出閾値以上の電圧に対しては、素子への印加電圧の変
化に応じて放出電流も変化する。このことから、本素子
にパルス状の電圧を印加する場合、例えば電子放出閾値
電圧以下の電圧を印加しても電子放出は生じないが、電
子放出閾値電圧以上の電圧を印加する場合には電子ビー
ムが出力される。その際、パルスの波高値Vmを変化さ
せることにより、出力電子ビームの強度を制御すること
が可能である。また、パルスの幅Pwを変化させること
により、出力される電子ビームの電荷の総量を制御する
ことが可能である。
【0115】従って、入力信号に応じて電子放出素子を
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
変調する方式としては、電圧変調方式とパルス幅変調方
式等が採用できる。電圧変調方式を実施するに際して
は、変調信号発生器107としては、一定長さの電圧パ
ルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧パル
スの波高値を変調できるような電圧変調方式の回路を用
いることができる。パルス幅変調方式を実施するに際し
ては、変調信号発生器107として、一定の波高値の電
圧パルスを発生し、入力されるデータに応じて適宜電圧
パルスの幅を変調するようなパルス幅変調方式の回路を
用いることができる。
【0116】シフトレジスタ104やラインメモリ10
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
5は、デジタル信号式のものでもアナログ信号式のもの
でも採用できる。画像信号のシリアル/パラレル変換や
記憶が所定の速度で行なわれれば良いからである。
【0117】デジタル信号式を用いる場合には、同期信
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要かあるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を電子放出素
子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加す
ることもできる。
号分離回路106の出力信号DATAをデジタル信号化
する必要かあるが、これには同期信号分離回路106の
出力部にA/D変換器を設ければ良い。これに関連して
ラインメモリ105の出力信号がデジタル信号かアナロ
グ信号かにより、変調信号発生器107に用いられる回
路が若干異なったものとなる。即ち、デジタル信号を用
いた電圧変調方式の場合、変調信号発生器107には、
例えばD/A変換回路を用い、必要に応じて増幅回路等
を付加する。パルス幅変調方式の場合、変調信号発生器
107には、例えば高速の発振器及び発振器の出力する
波数を計数する計数器(カウンタ)及び計数器の出力値
と前記メモリの出力値を比較する比較器(コンパレー
タ)を組み合わせた回路を用いる。必要に応じて、比較
器の出力するパルス幅変調された変調信号を電子放出素
子の駆動電圧にまで電圧増幅するための増幅器を付加す
ることもできる。
【0118】アナログ信号を用いた電圧変調方式の場
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増
幅するための増幅器を付加することもできる。
合、変調信号発生器107には、例えばオペアンプ等を
用いた増幅回路を採用でき、必要に応じてレベルシフト
回路等を付加することもできる。パルス幅変調方式の場
合には、例えば電圧制御型発振回路(VCO)を採用で
き、必要に応じて電子放出素子の駆動電圧にまで電圧増
幅するための増幅器を付加することもできる。
【0119】このような構成をとり得る本発明の画像形
成装置においては、各電子放出素子に、容器外端子Do
x1乃至Doxm、Doy1乃至Doynを介して電圧
を印加することにより、電子放出が生じる。高圧端子8
7を介してメタルバック85あるいは透明電極(不図
示)に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加速され
た電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形
成される。
成装置においては、各電子放出素子に、容器外端子Do
x1乃至Doxm、Doy1乃至Doynを介して電圧
を印加することにより、電子放出が生じる。高圧端子8
7を介してメタルバック85あるいは透明電極(不図
示)に高圧を印加し、電子ビームを加速する。加速され
た電子は、蛍光膜84に衝突し、発光が生じて画像が形
成される。
【0120】ここで述べた画像形成装置の構成は、本発
明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基
づいて種々の変形が可能である。入力信号についてはN
TSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限られるもの
ではなく、PAL、SECAM方式等の他、これらより
も多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方
式をはじめとする高品位TV)方式をも採用できる。
明の画像形成装置の一例であり、本発明の技術思想に基
づいて種々の変形が可能である。入力信号についてはN
TSC方式を挙げたが、入力信号はこれに限られるもの
ではなく、PAL、SECAM方式等の他、これらより
も多数の走査線からなるTV信号(例えば、MUSE方
式をはじめとする高品位TV)方式をも採用できる。
【0121】次に、前述の梯子型配置の電子源及び画像
形成装置について、図16及び図17を用いて説明す
る。
形成装置について、図16及び図17を用いて説明す
る。
【0122】図16は、梯子型配置の電子源の一例を示
す模式図である。図16において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線Dx1〜Dx10
であり、これらは外部端子として引き出されている。電
子放出素子111は、基板110上に、X方向に並列に
複数個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素
子行が複数個配置されて、電子源を構成している。各素
子行の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子
行を独立に駆動させることができる。即ち、電子ビーム
を放出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を
印加し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電
子放出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置す
る共通配線Dx2〜Dx9は、例えばDx2とDx3、
Dx4とDx5、Dx6とDx7、Dx8とDx9とを
夫々一体の同一配線とすることもできる。
す模式図である。図16において、110は電子源基
板、111は電子放出素子である。112は、電子放出
素子111を接続するための共通配線Dx1〜Dx10
であり、これらは外部端子として引き出されている。電
子放出素子111は、基板110上に、X方向に並列に
複数個配置されている(これを素子行と呼ぶ)。この素
子行が複数個配置されて、電子源を構成している。各素
子行の共通配線間に駆動電圧を印加することで、各素子
行を独立に駆動させることができる。即ち、電子ビーム
を放出させたい素子行には、電子放出閾値以上の電圧を
印加し、電子ビームを放出させたくない素子行には、電
子放出閾値以下の電圧を印加する。各素子行間に位置す
る共通配線Dx2〜Dx9は、例えばDx2とDx3、
Dx4とDx5、Dx6とDx7、Dx8とDx9とを
夫々一体の同一配線とすることもできる。
【0123】図17は、梯子型配置の電子源を備えた画
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、Dox1乃至Doxmは容器外端子、G1乃
至Gnはグリッド電極120と接続された容器外端子で
ある。110は各素子行間の共通配線を同一配線とした
電子源基板である。図17においては、図13、図16
に示した部位と同じ部位には、これらの図に付したのと
同一の符号を付している。ここに示した画像形成装置
と、図13に示した単純マトリクス配置の画像形成装置
との大きな違いは、電子源基板110とフェースプレー
ト86の間にグリッド電極120を備えているか否かで
ある。
像形成装置におけるパネル構造の一例を示す模式図であ
る。120はグリッド電極、121は電子が通過するた
めの開口、Dox1乃至Doxmは容器外端子、G1乃
至Gnはグリッド電極120と接続された容器外端子で
ある。110は各素子行間の共通配線を同一配線とした
電子源基板である。図17においては、図13、図16
に示した部位と同じ部位には、これらの図に付したのと
同一の符号を付している。ここに示した画像形成装置
と、図13に示した単純マトリクス配置の画像形成装置
との大きな違いは、電子源基板110とフェースプレー
ト86の間にグリッド電極120を備えているか否かで
ある。
【0124】図17においては、基板110とフェース
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、電子放出素子111か
ら放出された電子ビームを変調するためのものであり、
梯子型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状
の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応し
て1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリッ
ド電極の形状や配置位置は、図17に示したものに限定
されるものではない。例えば、開口としてメッシュ状に
多数の通過口を設けることもでき、グリッド電極を電子
放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
プレート86の間には、グリッド電極120が設けられ
ている。グリッド電極120は、電子放出素子111か
ら放出された電子ビームを変調するためのものであり、
梯子型配置の素子行と直交して設けられたストライプ状
の電極に電子ビームを通過させるため、各素子に対応し
て1個ずつ円形の開口121が設けられている。グリッ
ド電極の形状や配置位置は、図17に示したものに限定
されるものではない。例えば、開口としてメッシュ状に
多数の通過口を設けることもでき、グリッド電極を電子
放出素子の周囲や近傍に設けることもできる。
【0125】容器外端子Dox1乃至Doxm及びグリ
ッド容器外端子G1乃至Gnは、不図示の制御回路と電
気的に接続されている。
ッド容器外端子G1乃至Gnは、不図示の制御回路と電
気的に接続されている。
【0126】本例の画像形成装置では、素子行を1列ず
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
つ順次駆動(走査)して行くのと同期してグリッド電極
列に画像1ライン分の変調信号を同時に印加する。これ
により、各電子ビームの蛍光体への照射を制御し、画像
を1ラインずつ表示することができる。
【0127】以上説明した本発明の画像形成装置は、テ
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
レビジョン放送の表示装置、テレビ会議システムやコン
ピューター等の表示装置の他、感光性ドラム等を用いて
構成された光プリンターとしての画像形成装置等として
も用いることができる。
【0128】
【実施例】以下に、具体的な実施例を挙げて本発明を説
明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の
置換や設計変更がなされたものをも包含する。
明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるもので
はなく、本発明の目的が達成される範囲内での各要素の
置換や設計変更がなされたものをも包含する。
【0129】[実施例1]本実施例は、図24に示す電
子線露光装置の電子源を作製した例である。図24中の
表面伝導型電子放出素子74の配列は、図12に示す単
純マトリクス配置とした。該電子源の一部の平面図を図
18に示す。また、図中のA−A’断面図を図19に示
す。但し、図18、図19で同じ符号で示したものは、
同じ部材を示す。ここで71は基板、2と3は素子電
極、4は導電性膜である。72は図12のDxmに対応
するX方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図12のD
ynに対応するY方向配線(上配線とも呼ぶ)、151
は層間絶縁層、152は素子電極2と下配線72との電
気的接続のためのコンタクトホールである。
子線露光装置の電子源を作製した例である。図24中の
表面伝導型電子放出素子74の配列は、図12に示す単
純マトリクス配置とした。該電子源の一部の平面図を図
18に示す。また、図中のA−A’断面図を図19に示
す。但し、図18、図19で同じ符号で示したものは、
同じ部材を示す。ここで71は基板、2と3は素子電
極、4は導電性膜である。72は図12のDxmに対応
するX方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図12のD
ynに対応するY方向配線(上配線とも呼ぶ)、151
は層間絶縁層、152は素子電極2と下配線72との電
気的接続のためのコンタクトホールである。
【0130】先ず、本実施例の電子源基板の製造方法
を、図20及び図21を用いて工程順に説明する。尚、
以下に説明する工程−a〜hは、それぞれ図20の
(a)〜(d)及び図21の(e)〜(h)に対応す
る。
を、図20及び図21を用いて工程順に説明する。尚、
以下に説明する工程−a〜hは、それぞれ図20の
(a)〜(d)及び図21の(e)〜(h)に対応す
る。
【0131】工程−a 清浄化したガラス基体71上に厚さ5nmのCr膜、厚
さ600nmのAuを順次積層し、フォトレジスト(ヘ
キスト社製、AZ1370)をスピンナーにより回転、
塗布した後、フォトマスク像を露光、現像して下配線7
2のレジストパターンを形成し、Au/Cr堆積膜をウ
エットエッチングして、所望の形状の下配線72を形成
した。なお、基体71の大きさは約30インチとした。
さ600nmのAuを順次積層し、フォトレジスト(ヘ
キスト社製、AZ1370)をスピンナーにより回転、
塗布した後、フォトマスク像を露光、現像して下配線7
2のレジストパターンを形成し、Au/Cr堆積膜をウ
エットエッチングして、所望の形状の下配線72を形成
した。なお、基体71の大きさは約30インチとした。
【0132】工程−b 次に、厚さ100nmのシリコン酸化膜からなる層間絶
縁層151を高周波スパッタ法により堆積した。
縁層151を高周波スパッタ法により堆積した。
【0133】工程−c 工程−bで堆積したシリコン酸化膜にコンタクトホール
152を形成するためのフォトレジストパターンを作
り、これをマスクとして層間絶縁層151をエッチング
してコンタクトホール152を形成した。エッチングは
CF4 とH2 ガスを用いたRIE(Reactive
Ion Etching)法によった。
152を形成するためのフォトレジストパターンを作
り、これをマスクとして層間絶縁層151をエッチング
してコンタクトホール152を形成した。エッチングは
CF4 とH2 ガスを用いたRIE(Reactive
Ion Etching)法によった。
【0134】工程−d 素子電極間ギャップとなるべきパターンのフォトレジス
ト(日立化成社製、RD2000N−41)を形成し、
真空蒸着法によって厚さ5nmのTi、100nmのN
iを順次積層し、上記フォトレジストを有機溶剤で溶解
して余分のNi膜をリフトオフ法により除去し、素子電
極2、3を形成した。なお、素子電極間隔Lは2μmと
し、素子電極長さWに相当する長さは5μmとした。
ト(日立化成社製、RD2000N−41)を形成し、
真空蒸着法によって厚さ5nmのTi、100nmのN
iを順次積層し、上記フォトレジストを有機溶剤で溶解
して余分のNi膜をリフトオフ法により除去し、素子電
極2、3を形成した。なお、素子電極間隔Lは2μmと
し、素子電極長さWに相当する長さは5μmとした。
【0135】工程−e 素子電極2、3の上に上配線73のフォトレジストパタ
ーンを形成した後、厚さ5nmのTi、300nmのA
uを順次真空蒸着法により堆積させ、リフトオフ法によ
り不要の部分を除去して所望の形状の上配線73を形成
した。
ーンを形成した後、厚さ5nmのTi、300nmのA
uを順次真空蒸着法により堆積させ、リフトオフ法によ
り不要の部分を除去して所望の形状の上配線73を形成
した。
【0136】工程−f 導電性膜のマスクを用いて厚さ100nmのCr膜15
3を真空蒸着法により堆積・パターニングした。その上
に、スパッタ法によりタングステン(W)を約10nm
成膜した。
3を真空蒸着法により堆積・パターニングした。その上
に、スパッタ法によりタングステン(W)を約10nm
成膜した。
【0137】工程−g Cr膜153および導電性膜(薄膜電極)4を酸エッチ
ャントによりエッチングしてパターンを形成した。この
ようにして、素子電極2、3間にタングステン(W)か
らなる導電性膜(薄膜電極)4を形成した。
ャントによりエッチングしてパターンを形成した。この
ようにして、素子電極2、3間にタングステン(W)か
らなる導電性膜(薄膜電極)4を形成した。
【0138】なお、ここではCr膜153を用いたリフ
トオフ法により導電性膜(薄膜電極)4を形成したが
(工程−f、g)、SF6 とH2 を用いたドライエッチ
ングによる直接パターニングによって導電性膜(薄膜電
極)4を形成してもよい。
トオフ法により導電性膜(薄膜電極)4を形成したが
(工程−f、g)、SF6 とH2 を用いたドライエッチ
ングによる直接パターニングによって導電性膜(薄膜電
極)4を形成してもよい。
【0139】工程−h コンタクトホール152以外の部分にパターンを形成
し、真空蒸着法を用いて厚さ5nmのTi、厚さ500
nmのAuを順次堆積させた。リフトオフ法により不要
の部分を除去することにより、コンタクトホール152
を埋め込んだ。
し、真空蒸着法を用いて厚さ5nmのTi、厚さ500
nmのAuを順次堆積させた。リフトオフ法により不要
の部分を除去することにより、コンタクトホール152
を埋め込んだ。
【0140】続いて、電子線リソグラフイー及び活性化
処理を行うが、これは図3(c)〜図5(j)を用いて
説明する(後述の実施例3中の工程−3〜工程−7に相
当する。)。
処理を行うが、これは図3(c)〜図5(j)を用いて
説明する(後述の実施例3中の工程−3〜工程−7に相
当する。)。
【0141】工程−i 基体1(図19〜図21における基体71に相当)の全
面に、高解像度ポジ型電子線レジスト11を塗布した。
ポジ型レジストの厚さは50nmとした(図3
(c))。
面に、高解像度ポジ型電子線レジスト11を塗布した。
ポジ型レジストの厚さは50nmとした(図3
(c))。
【0142】工程−j 素子電極2、3のほぼ中央部を、該素子電極の対向面に
平行するように電子線12で描画した(図3(d))。
なお、上記電子線の描画には、スポットビームラスタ走
査方式の市販装置を改造したものを用い、各導電性膜
(薄膜電極)4を1つずつ一筆書き方式で描画した。
平行するように電子線12で描画した(図3(d))。
なお、上記電子線の描画には、スポットビームラスタ走
査方式の市販装置を改造したものを用い、各導電性膜
(薄膜電極)4を1つずつ一筆書き方式で描画した。
【0143】電子線の照射条件は、電子の加速電圧:2
0kV、照射量:約1μC/cm2とした。このように
して、ポジ型レジスト11の一部に、主鎖切断を起こし
た変質部13を形成した(図3(e))。
0kV、照射量:約1μC/cm2とした。このように
して、ポジ型レジスト11の一部に、主鎖切断を起こし
た変質部13を形成した(図3(e))。
【0144】工程−k 電子線照射部のポジ型レジスト11を現像液により除去
した(図3(f))。
した(図3(f))。
【0145】工程−l ドライエッチングガス14により、導電性膜(薄膜電
極)4および基体1の一部をエッチングし(図4
(g))、導電性膜(薄膜電極)4のほぼ中央部に狭間
隙を作製した(図4(h))。その後、ポジ型レジスト
11を除去した(図5(i))。
極)4および基体1の一部をエッチングし(図4
(g))、導電性膜(薄膜電極)4のほぼ中央部に狭間
隙を作製した(図4(h))。その後、ポジ型レジスト
11を除去した(図5(i))。
【0146】工程−m アセトン分圧:1×10-2Pa、矩形波パルス幅:10
0μsec、パルス間隔:10msec、パルス波高
値:0〜14Vまで5V/分で昇圧の条件下で活性化処
理を行った。このようにして、狭間隙部及びその近傍の
導電性膜(薄膜電極)4に炭素及び炭素化合物を堆積さ
せて電子放出部5を形成し、表面伝導型電子放出素子を
得た(図5(j))。
0μsec、パルス間隔:10msec、パルス波高
値:0〜14Vまで5V/分で昇圧の条件下で活性化処
理を行った。このようにして、狭間隙部及びその近傍の
導電性膜(薄膜電極)4に炭素及び炭素化合物を堆積さ
せて電子放出部5を形成し、表面伝導型電子放出素子を
得た(図5(j))。
【0147】このようにして、図18、図24に示した
ような単純マトリクス配置の電子源が得られた。
ような単純マトリクス配置の電子源が得られた。
【0148】[実施例2]本実施例は、図24に示す電
子線露光装置源を作製した例である。図24において、
71は電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配
線、74は表面伝導型電子放出素子、81はリアプレー
ト、301は表面伝導型電子放出素子74から放出され
る電子を加速する電極、302は電子が通過するための
開口、303は表面伝導型電子放出素子74から放出さ
れる電子を収束する電極、304は電子が通過するため
の開口である。
子線露光装置源を作製した例である。図24において、
71は電子源基板、72はX方向配線、73はY方向配
線、74は表面伝導型電子放出素子、81はリアプレー
ト、301は表面伝導型電子放出素子74から放出され
る電子を加速する電極、302は電子が通過するための
開口、303は表面伝導型電子放出素子74から放出さ
れる電子を収束する電極、304は電子が通過するため
の開口である。
【0149】まず、実施例1で作製した単純マトリクス
配置の電子源上に、加速電極301と収束電極303
を、夫々不図示の絶縁性支持体を用いて、両端で固定し
た。ここで、電子源基板71と加速電極301との間隔
は4mmとし、加速電極301と収束電極303との間
隔は1mmとした。
配置の電子源上に、加速電極301と収束電極303
を、夫々不図示の絶縁性支持体を用いて、両端で固定し
た。ここで、電子源基板71と加速電極301との間隔
は4mmとし、加速電極301と収束電極303との間
隔は1mmとした。
【0150】なお、上記の加速電極301と収束電極3
03の絶縁性基板71への固定には、両端以外に必要に
応じて絶縁性支持体を設けても良い。
03の絶縁性基板71への固定には、両端以外に必要に
応じて絶縁性支持体を設けても良い。
【0151】続いて、これを不図示の大型の真空容器内
に設置し、次に、X方向配線72、Y方向配線73、加
速電極301、収束電極303を、夫々不図示の容器外
端子に接続し、さらに不図示の制御回路と電気的に接続
した。
に設置し、次に、X方向配線72、Y方向配線73、加
速電極301、収束電極303を、夫々不図示の容器外
端子に接続し、さらに不図示の制御回路と電気的に接続
した。
【0152】次に、アライメント機構及び移動機構を有
する試料ステージを、上記容器内(電子線が放出される
側)に設置した後、同容器を1.3×10-5Pa以下ま
で真空排気することで電子線露光装置を作製した。
する試料ステージを、上記容器内(電子線が放出される
側)に設置した後、同容器を1.3×10-5Pa以下ま
で真空排気することで電子線露光装置を作製した。
【0153】なお、本発明の電子線露光装置では、電子
線を走査する機能は有しておらず、収束された電子線
(複数)に対し、試料ステージを動かすことでパターン
を描画する方式を採用している。
線を走査する機能は有しておらず、収束された電子線
(複数)に対し、試料ステージを動かすことでパターン
を描画する方式を採用している。
【0154】[実施例3]実施例3は、実施例2で作製
した電子線露光装置(図24)を用いて、図1に示した
表面伝導型電子放出素子を、図2〜図5に示した製造工
程に従って作製した例である。
した電子線露光装置(図24)を用いて、図1に示した
表面伝導型電子放出素子を、図2〜図5に示した製造工
程に従って作製した例である。
【0155】工程−1 絶縁性基体1に、素子電極用薄膜としてTiを5nm、
Ptを25nm成膜した。これにレジストをスピンナー
コートし、電極パターン用マスクを用いて露光、現像処
理し、レジストの電極パターンを形成した。エッチング
により余分な薄膜を除去した後、レジストを除去し、素
子電極2、3を得た(図2(a))。
Ptを25nm成膜した。これにレジストをスピンナー
コートし、電極パターン用マスクを用いて露光、現像処
理し、レジストの電極パターンを形成した。エッチング
により余分な薄膜を除去した後、レジストを除去し、素
子電極2、3を得た(図2(a))。
【0156】工程−2 Cr膜を全面にスパッタ法により成膜し、その上にレジ
ストをスピンナーコートし、フォトマスクを用いて導電
性膜(薄膜電極)4の形成のためのパターンを露光し
た。これを現像して不要なレジストを除去し、エッチン
グにより不要なCr膜を除去して開口部を形成し、残り
のレジストを除去した。この上に、スパッタ法により、
タングステン(W)を約10nm成膜した後、リフトオ
フによりCr膜と不要なタングステン(W)膜を除去
し、タングステン(W)からなる導電性膜(薄膜電極)
4を形成した(図2(b))。
ストをスピンナーコートし、フォトマスクを用いて導電
性膜(薄膜電極)4の形成のためのパターンを露光し
た。これを現像して不要なレジストを除去し、エッチン
グにより不要なCr膜を除去して開口部を形成し、残り
のレジストを除去した。この上に、スパッタ法により、
タングステン(W)を約10nm成膜した後、リフトオ
フによりCr膜と不要なタングステン(W)膜を除去
し、タングステン(W)からなる導電性膜(薄膜電極)
4を形成した(図2(b))。
【0157】なお、タングステン(W)からなる導電性
膜(薄膜電極)4は、Cr膜を用いたリフトオフ法を用
いずに、SF6 とH2 を用いたドライエッチングによる
直接パターニングによって形成してもよい。
膜(薄膜電極)4は、Cr膜を用いたリフトオフ法を用
いずに、SF6 とH2 を用いたドライエッチングによる
直接パターニングによって形成してもよい。
【0158】工程−3 素子全面に、高解像度ポジ型電子線レジスト11を塗布
した。ポジ型レジスト11の厚さは50nmとした(図
3(c))。
した。ポジ型レジスト11の厚さは50nmとした(図
3(c))。
【0159】工程−4 素子電極2、3のほぼ中央部を、該素子電極の対向面に
平行するように電子線12で描画した(図3(d))。
平行するように電子線12で描画した(図3(d))。
【0160】なお、上記電子線の描画には、実施例2で
作製した電子線露光装置を用い、スポットビーム(露光
装置電子源内の1つの電子放出素子を駆動)に対し、試
料ステージを動かす方法を用いた。
作製した電子線露光装置を用い、スポットビーム(露光
装置電子源内の1つの電子放出素子を駆動)に対し、試
料ステージを動かす方法を用いた。
【0161】電子線の照射条件は、電子の加速電圧:2
0kv、照射量:約1μC/cm2とした。このように
して、ポジ型レジスト11の一部に、主鎖切断を起こし
た変質部13を形成した(図3(e))。
0kv、照射量:約1μC/cm2とした。このように
して、ポジ型レジスト11の一部に、主鎖切断を起こし
た変質部13を形成した(図3(e))。
【0162】工程−5 電子線照射部のポジ型レジスト11を現像液により除去
した(図3(f))。
した(図3(f))。
【0163】工程−6 ドライエッチングガス14により、導電性膜(薄膜電
極)4および基板1の一部をエッチングし(図4
(g))、導電性膜(薄膜電極)4のほぼ中央部に狭間
隙を作製した(図4(h))。その後、ポジ型レジスト
11を除去した(図5(i))。
極)4および基板1の一部をエッチングし(図4
(g))、導電性膜(薄膜電極)4のほぼ中央部に狭間
隙を作製した(図4(h))。その後、ポジ型レジスト
11を除去した(図5(i))。
【0164】工程−7 アセトン分圧:1×10-2Pa、矩形波パルス幅:10
0μsec、パルス間隔:10msec、パルス波高
値:0〜14Vまで5V/分で昇圧の条件下で活性化処
理を行った。このようにして、狭間隙部及びその近傍の
導電性膜(薄膜電極)4に炭素及び炭素化合物を堆積さ
せて電子放出部5を形成し、表面伝導型電子放出素子を
得た(図5(j))。
0μsec、パルス間隔:10msec、パルス波高
値:0〜14Vまで5V/分で昇圧の条件下で活性化処
理を行った。このようにして、狭間隙部及びその近傍の
導電性膜(薄膜電極)4に炭素及び炭素化合物を堆積さ
せて電子放出部5を形成し、表面伝導型電子放出素子を
得た(図5(j))。
【0165】[比較例1]次に、比較例1として、通電
フォーミング処理を行って作製した表面伝導型電子放出
素子の例について説明する。
フォーミング処理を行って作製した表面伝導型電子放出
素子の例について説明する。
【0166】まず、上記実施例3の工程−aにより、素
子電極2、3を形成した。次に、Cr膜を全面にスパッ
タ法により成膜し、その上にレジストをスピンナーコー
トし、フォトマスクを用いて導電性膜形成のためのパタ
ーンを露光した。これを現像して不要なレジストを除去
し、エッチングにより不要なCr膜を除去して開口部を
形成し、残りのレジストを除去した。この上に、有機P
d錯体溶液(奥野製薬(株)製:CCP4230)をス
ピンナーコートし、300℃で12分間熱処理してPd
O膜を形成した。この塗布・焼成工程を7回繰り返し、
リフトオフによりCr膜と不要なPdO膜を除去し、P
dOからなる導電性膜(実施例3の薄膜電極4に対応)
を形成した(形態は図2(b)と同様である。)。
子電極2、3を形成した。次に、Cr膜を全面にスパッ
タ法により成膜し、その上にレジストをスピンナーコー
トし、フォトマスクを用いて導電性膜形成のためのパタ
ーンを露光した。これを現像して不要なレジストを除去
し、エッチングにより不要なCr膜を除去して開口部を
形成し、残りのレジストを除去した。この上に、有機P
d錯体溶液(奥野製薬(株)製:CCP4230)をス
ピンナーコートし、300℃で12分間熱処理してPd
O膜を形成した。この塗布・焼成工程を7回繰り返し、
リフトオフによりCr膜と不要なPdO膜を除去し、P
dOからなる導電性膜(実施例3の薄膜電極4に対応)
を形成した(形態は図2(b)と同様である。)。
【0167】続いて、以下に示すフォーミング処理を施
した。
した。
【0168】素子電極2、3間にパルス電圧を印加し、
導電性膜の一部に電子放出部を形成した。印加した電圧
は、パルス幅:1msec、パルス間隔10msecの
三角波パルスであり、パルス高さは0V〜14Vまで5
V/分で上昇させた。
導電性膜の一部に電子放出部を形成した。印加した電圧
は、パルス幅:1msec、パルス間隔10msecの
三角波パルスであり、パルス高さは0V〜14Vまで5
V/分で上昇させた。
【0169】その後、実施例3の工程−7に示す条件下
で活性化処理を行い、表面伝導型電子放出素子を得た。
で活性化処理を行い、表面伝導型電子放出素子を得た。
【0170】上記のようにして実施例3および比較例1
の素子を複数個作製し、各素子の素子電流If及び放出
電流Ieを図10に示した測定系により測定した。印加
した電圧は、14Vの矩形波パルスで、パルス幅0.1
msec、パルス間隔10msecとした。また、アノ
ード電極54と素子との距離Hは2mm、引き出し電圧
は1kVとした。
の素子を複数個作製し、各素子の素子電流If及び放出
電流Ieを図10に示した測定系により測定した。印加
した電圧は、14Vの矩形波パルスで、パルス幅0.1
msec、パルス間隔10msecとした。また、アノ
ード電極54と素子との距離Hは2mm、引き出し電圧
は1kVとした。
【0171】素子電流If及び放出電流Ieの初期値お
よび駆動による変化は、素子毎に少しずつ異なるが、一
定時間駆動した後の電子放出効率(=Ie/If)のば
らつきを比較すると、実施例3が比較例1に対し、約
1.5倍程度大きな値を示した。これは、素子の耐久性
が向上したことを示している。
よび駆動による変化は、素子毎に少しずつ異なるが、一
定時間駆動した後の電子放出効率(=Ie/If)のば
らつきを比較すると、実施例3が比較例1に対し、約
1.5倍程度大きな値を示した。これは、素子の耐久性
が向上したことを示している。
【0172】また、一定時間駆動した後の電子放出効率
(=Ie/If)のばらつきを比較したところ、実施例
3が比較例1の約2/3となっていた。
(=Ie/If)のばらつきを比較したところ、実施例
3が比較例1の約2/3となっていた。
【0173】なお、薄膜状態での融点は不明であるが、
バルク金属としての融点は、タングステン(W)が36
55℃、Pdが1555℃である。
バルク金属としての融点は、タングステン(W)が36
55℃、Pdが1555℃である。
【0174】[参考実施例1]次に、参考実施例1とし
て、実施例1で述べた市販されている電子線露光装置
(改造したもの)を用いて、図1に示した表面伝導型電
子放出素子を作製した例について説明する。
て、実施例1で述べた市販されている電子線露光装置
(改造したもの)を用いて、図1に示した表面伝導型電
子放出素子を作製した例について説明する。
【0175】製造工程は、実施例3に示したものと同様
であるが、電子線露光装置として、スポットビームラス
タ走査方式の市販装置を改造したものを用い、また試料
ステージの移動は行わず、電子ビームを走査することに
より、図3(e)における変質部13を形成した。これ
以外は、実施例3に示した工程と同一とした。
であるが、電子線露光装置として、スポットビームラス
タ走査方式の市販装置を改造したものを用い、また試料
ステージの移動は行わず、電子ビームを走査することに
より、図3(e)における変質部13を形成した。これ
以外は、実施例3に示した工程と同一とした。
【0176】この素子を参考実施例1に示した方法で測
定、評価したところ、一定時間駆動した後の電子放出効
率(=Ie/If)及び電子放出効率のばらつきは、実
施例3の素子とほぼ同様であった。
定、評価したところ、一定時間駆動した後の電子放出効
率(=Ie/If)及び電子放出効率のばらつきは、実
施例3の素子とほぼ同様であった。
【0177】即ち、本発明の電子線露光装置を用いた電
子線リソグラフィーによっても、十分特性の良い表面伝
導型電子放出素子が得られることがわかった。
子線リソグラフィーによっても、十分特性の良い表面伝
導型電子放出素子が得られることがわかった。
【0178】[実施例4]本実施例は、実施例3と同様
にして、図1に示す表面伝導型電子放出素子を作製し
た。ただし、導電性膜(薄膜電極)4として、実施例1
で用いたタングステン(W)の代わりにIrを用いた。
にして、図1に示す表面伝導型電子放出素子を作製し
た。ただし、導電性膜(薄膜電極)4として、実施例1
で用いたタングステン(W)の代わりにIrを用いた。
【0179】この素子を比較例1に示した方法で測定、
評価したところ、一定時間駆動した後の電子放出効率
(=Ie/If)は、実施例3の素子にはやや及ばない
ものの、比較例1の素子と比べると約1.2倍となっ
た。
評価したところ、一定時間駆動した後の電子放出効率
(=Ie/If)は、実施例3の素子にはやや及ばない
ものの、比較例1の素子と比べると約1.2倍となっ
た。
【0180】なお、薄膜状態での融点は不明であるが、
バルク金属としてのIrの融点は2454℃である。
バルク金属としてのIrの融点は2454℃である。
【0181】[実施例5]本実施例は、図12に示す単
純マトリクス配置の電子源を作製した。電子源の一部の
平面図を図18に示す。また、図中のA−A’断面図を
図19に示す。但し、図18、図19で同じ符号で示し
たものは、同じ部材を示す。ここで71は基板、2と3
は素子電極、4は導電性膜である。72は図12のDx
mに対応するX方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図
12のDynに対応するY方向配線(上配線とも呼
ぶ)、151は層間絶縁層、152は素子電極2と下配
線72との電気的接続のためのコンタクトホールであ
る。
純マトリクス配置の電子源を作製した。電子源の一部の
平面図を図18に示す。また、図中のA−A’断面図を
図19に示す。但し、図18、図19で同じ符号で示し
たものは、同じ部材を示す。ここで71は基板、2と3
は素子電極、4は導電性膜である。72は図12のDx
mに対応するX方向配線(下配線とも呼ぶ)、73は図
12のDynに対応するY方向配線(上配線とも呼
ぶ)、151は層間絶縁層、152は素子電極2と下配
線72との電気的接続のためのコンタクトホールであ
る。
【0182】先ず、本実施例の電子源基板の製造方法
を、図20及び図21を用いて工程順に説明する。尚、
以下に説明する工程−a〜hは、それぞれ図20の
(a)〜(d)及び図21の(e)〜(h)に対応す
る。
を、図20及び図21を用いて工程順に説明する。尚、
以下に説明する工程−a〜hは、それぞれ図20の
(a)〜(d)及び図21の(e)〜(h)に対応す
る。
【0183】工程−a 清浄化したガラス基体71上に厚さ5nmのCr膜、厚
さ600nmのAuを順次積層し、フォトレジスト(ヘ
キスト社製、AZ1370)をスピンナーにより回転、
塗布した後、フォトマスク像を露光、現像して下配線7
2のレジストパターンを形成し、Au/Cr堆積膜をウ
エットエッチングして、所望の形状の下配線72を形成
した。なお、基体71の大きさは、実施例1で用いたも
のと同じ(約30インチ)とした。
さ600nmのAuを順次積層し、フォトレジスト(ヘ
キスト社製、AZ1370)をスピンナーにより回転、
塗布した後、フォトマスク像を露光、現像して下配線7
2のレジストパターンを形成し、Au/Cr堆積膜をウ
エットエッチングして、所望の形状の下配線72を形成
した。なお、基体71の大きさは、実施例1で用いたも
のと同じ(約30インチ)とした。
【0184】工程−b 次に、厚さ100nmのシリコン酸化膜からなる層間絶
縁層151を高周波スパッタ法により堆積した。
縁層151を高周波スパッタ法により堆積した。
【0185】工程−c 工程−bで堆積したシリコン酸化膜にコンタクトホール
152を形成するためのフォトレジストパターンを作
り、これをマスクとして層間絶縁層151をエッチング
してコンタクトホール152を形成した。エッチングは
CF4 とH2 ガスを用いたRIE(Reactive
Ion Etching)法によった。
152を形成するためのフォトレジストパターンを作
り、これをマスクとして層間絶縁層151をエッチング
してコンタクトホール152を形成した。エッチングは
CF4 とH2 ガスを用いたRIE(Reactive
Ion Etching)法によった。
【0186】工程−d 素子電極間ギャップとなるべきパターンのフォトレジス
ト(日立化成社製、RD2000N−41)を形成し、
真空蒸着法によって厚さ5nmのTi、100nmのN
iを順次積層し、上記フォトレジストを有機溶剤で溶解
して余分のNi膜をリフトオフ法により除去し、素子電
極2、3を形成した。なお、素子電極間隔Lは2μmと
し、素子電極長さWに相当する長さは200μmとし
た。
ト(日立化成社製、RD2000N−41)を形成し、
真空蒸着法によって厚さ5nmのTi、100nmのN
iを順次積層し、上記フォトレジストを有機溶剤で溶解
して余分のNi膜をリフトオフ法により除去し、素子電
極2、3を形成した。なお、素子電極間隔Lは2μmと
し、素子電極長さWに相当する長さは200μmとし
た。
【0187】工程−e 素子電極2、3の上に上配線73のフォトレジストパタ
ーンを形成した後、厚さ5nmのTi、300nmのA
uを順次真空蒸着法により堆積させ、リフトオフ法によ
り不要の部分を除去して所望の形状の上配線73を形成
した。
ーンを形成した後、厚さ5nmのTi、300nmのA
uを順次真空蒸着法により堆積させ、リフトオフ法によ
り不要の部分を除去して所望の形状の上配線73を形成
した。
【0188】工程−f 導電性膜のマスクを用いて厚さ100nmのCr膜15
3を真空蒸着法により堆積・パターニングした。その上
に、スパッタ法によりタングステン(W)を約10nm
成膜した。
3を真空蒸着法により堆積・パターニングした。その上
に、スパッタ法によりタングステン(W)を約10nm
成膜した。
【0189】工程−g Cr膜153および導電性膜(薄膜電極)4を酸エッチ
ャントによりエッチングしてパターンを形成した。この
ようにして、素子電極2、3間にタングステン(W)か
らなる導電性膜(薄膜電極)4を形成した。
ャントによりエッチングしてパターンを形成した。この
ようにして、素子電極2、3間にタングステン(W)か
らなる導電性膜(薄膜電極)4を形成した。
【0190】なお、ここではCr膜153を用いたリフ
トオフ法により導電性膜(薄膜電極)4を形成したが
(工程−f,g)、SF6 とH2 を用いたドライエッチ
ングによる直接パターニングによって導電性膜(薄膜電
極)4を形成してもよい。
トオフ法により導電性膜(薄膜電極)4を形成したが
(工程−f,g)、SF6 とH2 を用いたドライエッチ
ングによる直接パターニングによって導電性膜(薄膜電
極)4を形成してもよい。
【0191】工程−h コンタクトホール152以外の部分にパターンを形成
し、真空蒸着法を用いて厚さ5nmのTi、厚さ500
nmのAuを順次堆積させた。リフトオフ法により不要
の部分を除去することにより、コンタクトホール152
を埋め込んだ。
し、真空蒸着法を用いて厚さ5nmのTi、厚さ500
nmのAuを順次堆積させた。リフトオフ法により不要
の部分を除去することにより、コンタクトホール152
を埋め込んだ。
【0192】続いて、実施例3の工程−3〜工程−7と
同様にして、電子線リソグラフィー及び活性化処理を行
い、電子放出部5を形成した(図21(h))。
同様にして、電子線リソグラフィー及び活性化処理を行
い、電子放出部5を形成した(図21(h))。
【0193】このようにして、図18に示したような単
純マトリクス配置の電子源が得られた。
純マトリクス配置の電子源が得られた。
【0194】[比較例2]次に、比較例2として、通電
フォーミング処理を行った表面伝導型電子放出素子を用
いた電子源を作製した例について説明する。
フォーミング処理を行った表面伝導型電子放出素子を用
いた電子源を作製した例について説明する。
【0195】まず、上記実施例5の工程−a〜工程−e
と同様にして、基体71上に下配線72、素子電極2、
3、上配線73を形成した(図20(a)〜(d)、図
21(e))。
と同様にして、基体71上に下配線72、素子電極2、
3、上配線73を形成した(図20(a)〜(d)、図
21(e))。
【0196】続いて、以下の工程を行った。
【0197】工程−f 導電性膜のマスクを用いて厚さ100nmのCr膜15
3を真空蒸着法により堆積・パターニングした。その上
に、有機パラジウム(奥野製薬社製、CCP4230)
をスピンナーにより回転塗布し、300℃で10分間の
加熱焼成処理を施した。
3を真空蒸着法により堆積・パターニングした。その上
に、有機パラジウム(奥野製薬社製、CCP4230)
をスピンナーにより回転塗布し、300℃で10分間の
加熱焼成処理を施した。
【0198】工程−g Cr膜153および焼成後の導電性膜(実施例3の薄膜
電極4に対応)を酸エッチャントによりエッチングして
パターンを形成した。こうして形成されたPd微粒子か
らなる導電性膜の膜厚は、10nm、シート抵抗値Rs
は2×104 Ω/□であった。このPd微粒子膜は、複
数の微粒子が集合した膜であった。
電極4に対応)を酸エッチャントによりエッチングして
パターンを形成した。こうして形成されたPd微粒子か
らなる導電性膜の膜厚は、10nm、シート抵抗値Rs
は2×104 Ω/□であった。このPd微粒子膜は、複
数の微粒子が集合した膜であった。
【0199】なお、Rsは、厚さがt、幅がwで長さが
lの薄膜の抵抗Rを、R=Rs(l/w)とおいたとき
の値である。
lの薄膜の抵抗Rを、R=Rs(l/w)とおいたとき
の値である。
【0200】工程−h コンタクトホール152以外の部分にパターンを形成
し、真空蒸着法を用いて厚さ5nmのTi、厚さ500
nmのAuを順次堆積させた。リフトオフ法により不要
の部分を除去することにより、コンタクトホール152
を埋め込んだ。続いて、比較例1と同様にしてフォーミ
ング処理および活性化処理を行った。
し、真空蒸着法を用いて厚さ5nmのTi、厚さ500
nmのAuを順次堆積させた。リフトオフ法により不要
の部分を除去することにより、コンタクトホール152
を埋め込んだ。続いて、比較例1と同様にしてフォーミ
ング処理および活性化処理を行った。
【0201】このようにして、図18に示したような単
純マトリクス配置の電子源が得られた。
純マトリクス配置の電子源が得られた。
【0202】上記実施例5、比較例2の電子源に、図2
2に示すように引き出し電極224と蛍光板を取り付
け、全ての素子を時間順次に走査駆動した。表面伝導型
電子放出素子は印加電圧が一定の閥値以下ではほとんど
電流が流れず、電子放出も示さないという非線形な特性
を示す性質を利用し、駆動中のX方向配線に駆動パルス
を印加し、点灯するべき素子につながるY方向配線をグ
ランドレベルに、他のY方向配線をグランドレベルとパ
ルスの最大電圧の中程(半選択電圧)に設定することに
より、所望の位置の素子のみに電子を放出させることが
できる。
2に示すように引き出し電極224と蛍光板を取り付
け、全ての素子を時間順次に走査駆動した。表面伝導型
電子放出素子は印加電圧が一定の閥値以下ではほとんど
電流が流れず、電子放出も示さないという非線形な特性
を示す性質を利用し、駆動中のX方向配線に駆動パルス
を印加し、点灯するべき素子につながるY方向配線をグ
ランドレベルに、他のY方向配線をグランドレベルとパ
ルスの最大電圧の中程(半選択電圧)に設定することに
より、所望の位置の素子のみに電子を放出させることが
できる。
【0203】図22の測定系を説明する。図22におい
て、231は真空槽であり、不図示の排気系により、
6.7×10-5Pa以下に排気されている。 232は
窓、71は複数の表面伝導型電子放出素子がマトリクス
配線された上記の電子源基板である。236、237は
それぞれX方向およびY方向ラインの駆動用配線であ
る。233は前記配線に適当なパルスを印加するドライ
バーである。234は引き出し電極で、アルミ製の枠に
透明電極のITO薄膜を形成したガラスを嵌め込み、そ
の下面に蛍光体を塗布したものである。
て、231は真空槽であり、不図示の排気系により、
6.7×10-5Pa以下に排気されている。 232は
窓、71は複数の表面伝導型電子放出素子がマトリクス
配線された上記の電子源基板である。236、237は
それぞれX方向およびY方向ラインの駆動用配線であ
る。233は前記配線に適当なパルスを印加するドライ
バーである。234は引き出し電極で、アルミ製の枠に
透明電極のITO薄膜を形成したガラスを嵌め込み、そ
の下面に蛍光体を塗布したものである。
【0204】素子に、駆動電圧14V、半選択電圧7V
となるようにドライバー233で矩形波パルスを印加し
た。引き出し電圧は5kVであった。
となるようにドライバー233で矩形波パルスを印加し
た。引き出し電圧は5kVであった。
【0205】上記それぞれの電子源を一定時間駆動後、
窓232を通して、電子放出による蛍光体の発光を目視
で観測したところ、実施例5の電子源は、比較例2の電
子源に比べて2倍程度の輝度が認められた。
窓232を通して、電子放出による蛍光体の発光を目視
で観測したところ、実施例5の電子源は、比較例2の電
子源に比べて2倍程度の輝度が認められた。
【0206】上記それぞれの電子源を用いて図13に示
す表示パネルを構成し、本発明の画像表示装置を形成し
た。
す表示パネルを構成し、本発明の画像表示装置を形成し
た。
【0207】上記工程で作製した電子源基板71をリア
プレート81に固定した後、電子源基板71の5mm上
方に、フェースプレート86(ガラス基体83の内面に
蛍光膜84とメタルバック85が形成されている)を支
持枠82を介して十分に位置合わせをして配置し、フェ
ースプレート86、支持枠82、リアプレート81の接
合部にフリットガラスを塗布し、大気中で400℃〜5
00℃で10分以上焼成することで封着した。またリア
プレート81への電子源基板71の固定もフリットガラ
スで行なった。
プレート81に固定した後、電子源基板71の5mm上
方に、フェースプレート86(ガラス基体83の内面に
蛍光膜84とメタルバック85が形成されている)を支
持枠82を介して十分に位置合わせをして配置し、フェ
ースプレート86、支持枠82、リアプレート81の接
合部にフリットガラスを塗布し、大気中で400℃〜5
00℃で10分以上焼成することで封着した。またリア
プレート81への電子源基板71の固定もフリットガラ
スで行なった。
【0208】本実施例では蛍光体はストライプ形状(図
14(a)参照)を採用し、ブラックストライプの材料
としては黒鉛を主成分とする材料を用い、ガラス基体8
3に蛍光体を塗布する方法としてはスラリ−法を用い
た。
14(a)参照)を採用し、ブラックストライプの材料
としては黒鉛を主成分とする材料を用い、ガラス基体8
3に蛍光体を塗布する方法としてはスラリ−法を用い
た。
【0209】また、蛍光膜84の内面側に設けられるメ
タルバック85は、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面
の平滑化処理(フィルミング)を行ない、その後Alを
真空蒸着することで作製した。フェースプレート86に
は、更に蛍光膜84の導電性を高めるため、蛍光膜84
の外面側に透明電極が設けられる場合もあるが、本実施
例では、メタルバック85のみで十分な導電性が得られ
たため省略した。
タルバック85は、蛍光膜作製後、蛍光膜の内面側表面
の平滑化処理(フィルミング)を行ない、その後Alを
真空蒸着することで作製した。フェースプレート86に
は、更に蛍光膜84の導電性を高めるため、蛍光膜84
の外面側に透明電極が設けられる場合もあるが、本実施
例では、メタルバック85のみで十分な導電性が得られ
たため省略した。
【0210】約4.2×10-4Pa程度の真空度で、不
図示の排気管をガスバーナーで熱することで融着し、外
囲器88の封止を行なった。最後に、封止後の真空度を
維持するために、高周波加熱法でゲッター処理を行なっ
た。
図示の排気管をガスバーナーで熱することで融着し、外
囲器88の封止を行なった。最後に、封止後の真空度を
維持するために、高周波加熱法でゲッター処理を行なっ
た。
【0211】以上のようにして作製した表示パネルの容
器外端子Dx1〜DxmないしDy1〜Dyn、および
高圧端子87をそれぞれ必要な駆動系に接続し、画像形
成装置を完成した。各表面伝導型電子放出素子に容器外
端子Dx1〜DxmないしDy1〜Dynを通じ、走査
信号および変調信号を不図示の信号発生手段によりそれ
ぞれ印加することにより、電子放出を行ない、高圧端子
87を通じ、メタルバック85に数kV以上の高圧を印
加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させ、励
起・発光させた。
器外端子Dx1〜DxmないしDy1〜Dyn、および
高圧端子87をそれぞれ必要な駆動系に接続し、画像形
成装置を完成した。各表面伝導型電子放出素子に容器外
端子Dx1〜DxmないしDy1〜Dynを通じ、走査
信号および変調信号を不図示の信号発生手段によりそれ
ぞれ印加することにより、電子放出を行ない、高圧端子
87を通じ、メタルバック85に数kV以上の高圧を印
加し、電子ビームを加速し、蛍光膜84に衝突させ、励
起・発光させた。
【0212】一定時間駆動後の画像の表示状態を目視で
観測したところ、比較例2で得た電子源を用いた場合に
比べ、実施例5で得た電子源を用いた場合は、良好な画
像表示が得られた。
観測したところ、比較例2で得た電子源を用いた場合に
比べ、実施例5で得た電子源を用いた場合は、良好な画
像表示が得られた。
【0213】[参考実施例2]次に、参考実施例2とし
て、参考実施例1で述べた市販されている電子線露光装
置(改造したもの)を用い、図12に示す単純マトリク
ス配置の電子源を作製した例について説明する。
て、参考実施例1で述べた市販されている電子線露光装
置(改造したもの)を用い、図12に示す単純マトリク
ス配置の電子源を作製した例について説明する。
【0214】製造工程は、実施例5に示したものと同様
であるが、電子線露光装置として、参考実施例1で示し
たスポットビームラスク走査方式の市販装置を改造した
ものを用いた。また、多数の導電性膜(薄膜電極)4を
1つずつ一筆書き方式で描画した。なお、電子線の走査
範囲内を描画した後は、試料ステージを移動させること
で全面を描画した。これ以外は、実施例5に示した工程
と同一とした。
であるが、電子線露光装置として、参考実施例1で示し
たスポットビームラスク走査方式の市販装置を改造した
ものを用いた。また、多数の導電性膜(薄膜電極)4を
1つずつ一筆書き方式で描画した。なお、電子線の走査
範囲内を描画した後は、試料ステージを移動させること
で全面を描画した。これ以外は、実施例5に示した工程
と同一とした。
【0215】この電子源を比較例2に示した方法で測
定、評価したところ、実施例5の電子源とほぼ同様の特
性が得られた。
定、評価したところ、実施例5の電子源とほぼ同様の特
性が得られた。
【0216】即ち、本実施例の電子線露光装置を用いた
電子線リソグラフィーによっても、十分特性の良い電子
源が得られることがわかった。
電子線リソグラフィーによっても、十分特性の良い電子
源が得られることがわかった。
【0217】なお、上記の市販されている電子線露光装
置(改造品)を用いた電子線描画は、一筆書き方式を採
用していることから、また大面積試料に対応していない
ため、一定の走査領域を描画した後、試料ステージを移
動させる必要があることから、図24に示した電子線露
光装置を用いる場合に比べ100倍以上の時間を要し
た。
置(改造品)を用いた電子線描画は、一筆書き方式を採
用していることから、また大面積試料に対応していない
ため、一定の走査領域を描画した後、試料ステージを移
動させる必要があることから、図24に示した電子線露
光装置を用いる場合に比べ100倍以上の時間を要し
た。
【0218】図24に示した電子線露光装置は、該露光
装置で用いる電子源と、被電子線描画試料の大きさが等
しく、また表面伝導型電子放出素子の配列の仕方、位置
も等しいため、極めて短時間で容易に、すべての導電性
膜(薄膜電極)を一括描画することができることがわか
った。
装置で用いる電子源と、被電子線描画試料の大きさが等
しく、また表面伝導型電子放出素子の配列の仕方、位置
も等しいため、極めて短時間で容易に、すべての導電性
膜(薄膜電極)を一括描画することができることがわか
った。
【0219】[実施例6]本実施例は、図1に示した表
面伝導型電子放出素子を、図6〜図9の製造工程に従っ
て作製した例である。
面伝導型電子放出素子を、図6〜図9の製造工程に従っ
て作製した例である。
【0220】工程−1 絶縁性基体1に、素子電極用薄膜として厚さ5nmのT
i、厚さ25nmのPtを成膜した。これにレジストを
スピンナーコートし、電極パターン用マスクを用いて露
光、現像処理し、レジストの電極パターンを形成した。
エッチングにより余分な薄膜を除去した後、レジストを
除去し、素子電極2,3を得た(図6(a))。
i、厚さ25nmのPtを成膜した。これにレジストを
スピンナーコートし、電極パターン用マスクを用いて露
光、現像処理し、レジストの電極パターンを形成した。
エッチングにより余分な薄膜を除去した後、レジストを
除去し、素子電極2,3を得た(図6(a))。
【0221】工程−2 素子全面に、高解像度ネガ型電子線レジスト21を塗布
した。ネガ型レジストの厚さは50nmとした(図6
(b))。
した。ネガ型レジストの厚さは50nmとした(図6
(b))。
【0222】工程−3 素子電極2,3のほぼ中央部を、該素子電極の対向面に
平行するように電子線22で描画した(図7(c))。
なお、上記電子線の描画には、実施例2で作製した電子
線露光装置を用い、スポットビーム(露光装置電子源内
の1つの電子放出素子を駆動)に対し、試料ステージを
動かす方法を用いた。電子線の照射条件は、電子の加速
電圧:20kV、照射量:約1μC/cm2 とした。こ
のようにして、ポジ型レジスト21の一部に、硬化を起
こした変質部23を形成した。(図7(d))。
平行するように電子線22で描画した(図7(c))。
なお、上記電子線の描画には、実施例2で作製した電子
線露光装置を用い、スポットビーム(露光装置電子源内
の1つの電子放出素子を駆動)に対し、試料ステージを
動かす方法を用いた。電子線の照射条件は、電子の加速
電圧:20kV、照射量:約1μC/cm2 とした。こ
のようにして、ポジ型レジスト21の一部に、硬化を起
こした変質部23を形成した。(図7(d))。
【0223】工程−4 電子線照射部のネガ型レジスト21を現像し、素子電極
2,3間に変質部23のみを残した(図8(e))。
2,3間に変質部23のみを残した(図8(e))。
【0224】工程−5 素子電極2,3及び変質部23を設けた基体1に、タン
グステン(W)を約10nm堆積後、その上にレジスト
をスピンナーコートし、フォトマスクを用いて導電性膜
(薄膜電極)4形成のためのパターンを露光した。これ
を現像して不要なレジストを除去し、エッチングにより
不要なタングステン(W)膜を除去して、導電性膜(薄
膜電極)4を形成した(図8(f))。
グステン(W)を約10nm堆積後、その上にレジスト
をスピンナーコートし、フォトマスクを用いて導電性膜
(薄膜電極)4形成のためのパターンを露光した。これ
を現像して不要なレジストを除去し、エッチングにより
不要なタングステン(W)膜を除去して、導電性膜(薄
膜電極)4を形成した(図8(f))。
【0225】なお、タングステン(W)からなる導電性
膜(薄膜電極)4は、例えばCr膜を用いたリフトオフ
法を用いて形成してもよい。
膜(薄膜電極)4は、例えばCr膜を用いたリフトオフ
法を用いて形成してもよい。
【0226】工程−6 変質部23及びこの上のタングステン(W)膜を除去し
た(図9(g))。
た(図9(g))。
【0227】工程−7 アセトン分圧:1×10-2Pa、矩形波パルス幅:10
0μsec、パルス間隔:10msec、パルス波高
値:0〜14Vまで5V/分で昇圧の条件下で活性化処
理を行った。このようにして、狭間隙部およびその近傍
の導電性膜(薄膜電極)4に炭素および炭素化合物を堆
積させて電子放出部5を形成し、表面伝導型電子放出素
子を得た(図9(h))。
0μsec、パルス間隔:10msec、パルス波高
値:0〜14Vまで5V/分で昇圧の条件下で活性化処
理を行った。このようにして、狭間隙部およびその近傍
の導電性膜(薄膜電極)4に炭素および炭素化合物を堆
積させて電子放出部5を形成し、表面伝導型電子放出素
子を得た(図9(h))。
【0228】本実施例の素子を複数個作製し、各素子の
素子電流If及び放出電流Ieを図10に示した測定系
により比較例2に示した方法で同様に測定、評価した。
素子電流If及び放出電流Ieを図10に示した測定系
により比較例2に示した方法で同様に測定、評価した。
【0229】素子電流If及び放出電流Ieの初期値お
よび駆動による変化は、素子毎に少しずつ異なるが、一
定時間駆動した後の電子放出効率(=Ie/If)及び
そのばらつきは、実施例3の素子と同程度であった。
よび駆動による変化は、素子毎に少しずつ異なるが、一
定時間駆動した後の電子放出効率(=Ie/If)及び
そのばらつきは、実施例3の素子と同程度であった。
【0230】[実施例7]本実施例は、実施例6と同様
にして、図1に示す表面伝導型電子放出素子を作製した
例である。ただし、導電性膜(薄膜電極)4として、実
施例6で用いたタングステン(W)の代わりにIrを用
いた。
にして、図1に示す表面伝導型電子放出素子を作製した
例である。ただし、導電性膜(薄膜電極)4として、実
施例6で用いたタングステン(W)の代わりにIrを用
いた。
【0231】この素子を実施例6と同様に測定、評価し
たところ、一定時間駆動した後の電子放出率(=Ie/
If)は、実施例6の素子にはやや及ばないものの、比
較例1の素子と比べると約1.2倍となった。
たところ、一定時間駆動した後の電子放出率(=Ie/
If)は、実施例6の素子にはやや及ばないものの、比
較例1の素子と比べると約1.2倍となった。
【0232】[実施例8]本実施例は、実施例5の工程
−a〜工程−eと同様にして、基体71上に下配線7
2、素子電極2,3、上配線73を形成した。次に、実
施例6の工程−2〜工程−7と同様にして、図l8に示
したような単純マトリクス配線の電子源を作製した。
−a〜工程−eと同様にして、基体71上に下配線7
2、素子電極2,3、上配線73を形成した。次に、実
施例6の工程−2〜工程−7と同様にして、図l8に示
したような単純マトリクス配線の電子源を作製した。
【0233】本実施例の電子源について図23の測定系
で評価したところ、実施例5の電子源と同程度の輝度が
得られた。また、本実施例の電子源を用いて図13に示
した表示パネルを構成し、本発明の画像形成装置を形成
したところ、良好な画像表示が得られた。
で評価したところ、実施例5の電子源と同程度の輝度が
得られた。また、本実施例の電子源を用いて図13に示
した表示パネルを構成し、本発明の画像形成装置を形成
したところ、良好な画像表示が得られた。
【0234】[実施例9]図23は、実施例5及び実施
例8による本発明の表面伝導型電子放出素子を電子源と
して用いた画像形成装置(ディスプレイパネル)に、例
えばテレビジョン放送を初めとする種々の画像情報源よ
り提供される画像情報を表示できるように構成した本発
明の画像形成装置の一例を示す図である。
例8による本発明の表面伝導型電子放出素子を電子源と
して用いた画像形成装置(ディスプレイパネル)に、例
えばテレビジョン放送を初めとする種々の画像情報源よ
り提供される画像情報を表示できるように構成した本発
明の画像形成装置の一例を示す図である。
【0235】図中201はディスプレイパネル、100
1はディスプレイパネルの駆動回路、1002はディス
プレイコントローラ、1003はマルチプレクサ、10
04はデコーダ、1005は入出カインターフェース回
路、1006はCPU、1007は画像生成回路、10
08及び1009及び1010は画像メモリーインター
フェース回路、1011は画像入カインターフェース回
路、1012及び1013はTV信号受信回路、101
4は入力部である。
1はディスプレイパネルの駆動回路、1002はディス
プレイコントローラ、1003はマルチプレクサ、10
04はデコーダ、1005は入出カインターフェース回
路、1006はCPU、1007は画像生成回路、10
08及び1009及び1010は画像メモリーインター
フェース回路、1011は画像入カインターフェース回
路、1012及び1013はTV信号受信回路、101
4は入力部である。
【0236】尚、本画像形成装置は、例えばテレビジョ
ン信号のように、映像情報と音声情報の両方を含む信号
を受信する場合には当然映像の表示と同時に音声を再生
するものであるが、本発明の特徴と直接関係しない音声
情報の受信、分離、再生、処理、記憶等に関する回路や
スピーカ一等については説明を省略する。
ン信号のように、映像情報と音声情報の両方を含む信号
を受信する場合には当然映像の表示と同時に音声を再生
するものであるが、本発明の特徴と直接関係しない音声
情報の受信、分離、再生、処理、記憶等に関する回路や
スピーカ一等については説明を省略する。
【0237】以下、画像信号の流れに沿って各部の機能
を説明する。
を説明する。
【0238】まず、TV信号受信回路1013は、例え
ば電波や空間光通信等のような無線伝送系を用いて伝送
されるTV信号を受信するための回路である。
ば電波や空間光通信等のような無線伝送系を用いて伝送
されるTV信号を受信するための回路である。
【0239】受信するTV信号の方式は特に限られるも
のではなく、例えばNTSC方式、PAL方式、SEC
AM方式等、いずれの方式でもよい。また、これらより
更に多数の走査線よりなるTV信号、例えばMUSE方
式を初めとする所謂高品位TVは、大面積化や大画素数
化に適した前記ディスプレイパネルの利点を生かすのに
好適な信号源である。
のではなく、例えばNTSC方式、PAL方式、SEC
AM方式等、いずれの方式でもよい。また、これらより
更に多数の走査線よりなるTV信号、例えばMUSE方
式を初めとする所謂高品位TVは、大面積化や大画素数
化に適した前記ディスプレイパネルの利点を生かすのに
好適な信号源である。
【0240】TV信号受信回路1013で受信されたT
V信号は、デコーダ1004に出力される。
V信号は、デコーダ1004に出力される。
【0241】TV信号受信回路1012は、例えば同軸
ケーブルや光ファイバー等のような有線伝送系を用いて
伝送されるTV信号を受信するための回路である。前記
TV信号受信回路1013と同様に、受信するTV信号
の方式は特に限られるものではなく、また本回路で受信
されたTV信号もデコーダ1004に出力される。
ケーブルや光ファイバー等のような有線伝送系を用いて
伝送されるTV信号を受信するための回路である。前記
TV信号受信回路1013と同様に、受信するTV信号
の方式は特に限られるものではなく、また本回路で受信
されたTV信号もデコーダ1004に出力される。
【0242】画像入力インターフェース回路1011
は、例えばTVカメラや画像読み取りスキャナーなどの
画像入力装置から供給される画像信号を取り込むための
回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ1004に出
力される。
は、例えばTVカメラや画像読み取りスキャナーなどの
画像入力装置から供給される画像信号を取り込むための
回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ1004に出
力される。
【0243】画像メモリーインターフェース回路101
0は、ビデオテープレコーダー(以下VTRと略す)に
記憶されている画像信号を取り込むための回路で、取り
込まれた画像信号はデコーダ1004に出力される。
0は、ビデオテープレコーダー(以下VTRと略す)に
記憶されている画像信号を取り込むための回路で、取り
込まれた画像信号はデコーダ1004に出力される。
【0244】画像メモリーインターフェース回路100
9は、ビデオディスクに記憶されている画像信号を取り
込むための回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ1
004に出力される。
9は、ビデオディスクに記憶されている画像信号を取り
込むための回路で、取り込まれた画像信号はデコーダ1
004に出力される。
【0245】画像メモリーインターフェース回路100
8は、静止画ディスクのように、静止画像データを記憶
している装置から画像信号を取り込むための回路で、取
り込まれた静止画像データはデコーダ1004に入力さ
れる。
8は、静止画ディスクのように、静止画像データを記憶
している装置から画像信号を取り込むための回路で、取
り込まれた静止画像データはデコーダ1004に入力さ
れる。
【0246】入出力インターフェース回路1005は、
本表示装置と、外部のコンピュータもしくはコンピュー
タネットワークもしくはプリンターなどの出力装置とを
接続するための回路である。画像データや文字・図形情
報の入出力を行うのは勿論のこと、場合によっては本画
像形成装置の備えるCPU1006と外部との間で制御
信号や数値データの入出力などを行うことも可能であ
る。
本表示装置と、外部のコンピュータもしくはコンピュー
タネットワークもしくはプリンターなどの出力装置とを
接続するための回路である。画像データや文字・図形情
報の入出力を行うのは勿論のこと、場合によっては本画
像形成装置の備えるCPU1006と外部との間で制御
信号や数値データの入出力などを行うことも可能であ
る。
【0247】画像生成回路1007は、前記入出力イン
ターフェース回路1005を介して外部から入力される
画像データや文字・図形情報や、あるいはCPU100
6より出力される画像データや文字・図形情報に基づ
き、表示用画像データを生成するための回路である。本
回路の内部には、例えば画像データや文字・図形情報を
蓄積するための書き換え可能メモリーや、文字コードに
対応する画像パターンが記憶されている読み出し専用メ
モリーや、画像処理を行うためのプロセッサー等を初め
として、画像の生成に必要な回路が組み込まれている。
ターフェース回路1005を介して外部から入力される
画像データや文字・図形情報や、あるいはCPU100
6より出力される画像データや文字・図形情報に基づ
き、表示用画像データを生成するための回路である。本
回路の内部には、例えば画像データや文字・図形情報を
蓄積するための書き換え可能メモリーや、文字コードに
対応する画像パターンが記憶されている読み出し専用メ
モリーや、画像処理を行うためのプロセッサー等を初め
として、画像の生成に必要な回路が組み込まれている。
【0248】本回路により生成された表示用画像データ
は、デコーダ1004に出力されるが、場合によっては
前記入出力インターフェース回路1005を介して外部
のコンピュータネットワークやプリンターに出力するこ
とも可能である。
は、デコーダ1004に出力されるが、場合によっては
前記入出力インターフェース回路1005を介して外部
のコンピュータネットワークやプリンターに出力するこ
とも可能である。
【0249】CPU1006は、主として本表示装置の
動作制御や、表示画像の生成や選択や編集に関わる作業
を行う。
動作制御や、表示画像の生成や選択や編集に関わる作業
を行う。
【0250】例えば、マルチプレクサ1003に制御信
号を出力し、ディスプレイパネルに表示する画像信号を
適宜選択したり組み合わせたりする。その際には表示す
る画像信号に応じてディスプレイパネルコントローラ1
002に対して制御信号を発生し、画面表示周波数や走
査方法(例えばインターレースかノンインターレース
か)や一画面の走査線の数など表示装置の動作を適宜制
御する。また、前記画像生成回路1007に対して画像
データや文字・図形情報を直接出力したり、あるいは前
記入出力インターフェース回路1005を介して外部の
コンピュータやメモリーをアクセスして画像データや文
字・図形情報を入力する。
号を出力し、ディスプレイパネルに表示する画像信号を
適宜選択したり組み合わせたりする。その際には表示す
る画像信号に応じてディスプレイパネルコントローラ1
002に対して制御信号を発生し、画面表示周波数や走
査方法(例えばインターレースかノンインターレース
か)や一画面の走査線の数など表示装置の動作を適宜制
御する。また、前記画像生成回路1007に対して画像
データや文字・図形情報を直接出力したり、あるいは前
記入出力インターフェース回路1005を介して外部の
コンピュータやメモリーをアクセスして画像データや文
字・図形情報を入力する。
【0251】尚、CPU1006は、これ以外の目的の
作業にも関わるものであってよい。例えば、パーソナル
コンピュータやワードプロセッサ等のように、情報を生
成したり処理する機能に直接関わってもよい。あるいは
前述したように、入出力インターフェース回路1005
を介して外部のコンピュータネットワークと接続し、例
えば数値計算等の作業を外部機器と協同して行ってもよ
い。
作業にも関わるものであってよい。例えば、パーソナル
コンピュータやワードプロセッサ等のように、情報を生
成したり処理する機能に直接関わってもよい。あるいは
前述したように、入出力インターフェース回路1005
を介して外部のコンピュータネットワークと接続し、例
えば数値計算等の作業を外部機器と協同して行ってもよ
い。
【0252】入力部1014は、前記CPU1006に
使用者が命令やプログラム、あるいはデータなどを入力
するためのものであり、例えばキーボードやマウスの
他、ジョイスティック、バーコードリーダー、音声認識
装置等の多様な入力機器を用いることが可能である。
使用者が命令やプログラム、あるいはデータなどを入力
するためのものであり、例えばキーボードやマウスの
他、ジョイスティック、バーコードリーダー、音声認識
装置等の多様な入力機器を用いることが可能である。
【0253】デコーダ1004は、前記1007ないし
1013より入力される種々の画像信号を3原色信号、
又は輝度信号とI信号、Q信号に逆変換するための回路
である。尚、図中に点線で示すように、デコーダ100
4は内部に画像メモリーを備えるのが望ましい。これ
は、例えばMUSE方式を初めとして、逆変換するに際
して画像メモリーを必要とするようなテレビ信号を扱う
ためである。
1013より入力される種々の画像信号を3原色信号、
又は輝度信号とI信号、Q信号に逆変換するための回路
である。尚、図中に点線で示すように、デコーダ100
4は内部に画像メモリーを備えるのが望ましい。これ
は、例えばMUSE方式を初めとして、逆変換するに際
して画像メモリーを必要とするようなテレビ信号を扱う
ためである。
【0254】画像メモリーを備える事により、静止画の
表示が容易になる。あるいは前記画像生成回路1007
及びCPU1006と協同して、画像の間引き、補間、
拡大、縮小、合成を初めとする画像処理や編集が容易に
なるという利点が得られる。
表示が容易になる。あるいは前記画像生成回路1007
及びCPU1006と協同して、画像の間引き、補間、
拡大、縮小、合成を初めとする画像処理や編集が容易に
なるという利点が得られる。
【0255】マルチプレクサ1003は、前記CPU1
006より入力される制御信号に基づき、表示画像を適
宜選択するものである。即ち、マルチプレクサ1003
はデコーダ1004から入力される逆変換された画像信
号の内から所望の画像信号を選択して駆動回路1001
に出力する。その場合には、一画面表示時間内で画像信
号を切り換えて選択することにより、所謂多画面テレビ
のように、一画面を複数の領域に分けて領域によって異
なる画像を表示することも可能である。
006より入力される制御信号に基づき、表示画像を適
宜選択するものである。即ち、マルチプレクサ1003
はデコーダ1004から入力される逆変換された画像信
号の内から所望の画像信号を選択して駆動回路1001
に出力する。その場合には、一画面表示時間内で画像信
号を切り換えて選択することにより、所謂多画面テレビ
のように、一画面を複数の領域に分けて領域によって異
なる画像を表示することも可能である。
【0256】ディスプレイパネルコントローラ1002
は、前記CPU1006より入力される制御信号に基づ
き、駆動回路1001の動作を制御するための回路であ
る。
は、前記CPU1006より入力される制御信号に基づ
き、駆動回路1001の動作を制御するための回路であ
る。
【0257】ディスプレイパネルの基本的な動作に関わ
るものとして、例えばディスプレイパネルの駆動用電源
(図示せず)の動作シーケンスを制御するための信号を
駆動回路1001に対して出力する。ディスプレイパネ
ルの駆動方法に関わるものとして、例えば画面表示周波
数や走査方法(例えばインターレースかノンインターレ
ースか)を制御するための信号を駆動回路1001に対
して出力する。また、場合によっては、表示画像の輝度
やコントラストや色調やシャープネスといった画質の調
整に関わる制御信号を駆動回路1001に対して出力す
る場合もある。
るものとして、例えばディスプレイパネルの駆動用電源
(図示せず)の動作シーケンスを制御するための信号を
駆動回路1001に対して出力する。ディスプレイパネ
ルの駆動方法に関わるものとして、例えば画面表示周波
数や走査方法(例えばインターレースかノンインターレ
ースか)を制御するための信号を駆動回路1001に対
して出力する。また、場合によっては、表示画像の輝度
やコントラストや色調やシャープネスといった画質の調
整に関わる制御信号を駆動回路1001に対して出力す
る場合もある。
【0258】駆動回路1001は、ディスプレイパネル
201に印加する駆動信号を発生するための回路であ
り、前記マルチプレクサ1003から入力される画像信
号と、前記ディスプレイパネルコントローラ1002よ
り入力される制御信号に基づいて動作するものである。
201に印加する駆動信号を発生するための回路であ
り、前記マルチプレクサ1003から入力される画像信
号と、前記ディスプレイパネルコントローラ1002よ
り入力される制御信号に基づいて動作するものである。
【0259】以上、各部の機能を説明したが、図23に
例示した構成により、本画像形成装置においては多様な
画像情報源より入力される画像情報をディスプレイパネ
ル201に表示することが可能である。即ち、テレビジ
ョン放送を初めとする各種の画像信号は、デコーダ10
04におて逆変換された後、マルチプレクサ1003に
おいて適宜選択され、駆動回路1001に入力される。
一方、デイスプレイコントローラ1002は、表示する
画像信号に応じて駆動回路1001の動作を制御するた
めの制御信号を発生する。駆動回路1001は、上記画
像信号と制御信号に基づいてディスプレイパネル201
に駆動信号を印加する。これにより、ディスプレイパネ
ル201において画像が表示される。これらの一連の動
作は、CPU1006により統括的に制御される。
例示した構成により、本画像形成装置においては多様な
画像情報源より入力される画像情報をディスプレイパネ
ル201に表示することが可能である。即ち、テレビジ
ョン放送を初めとする各種の画像信号は、デコーダ10
04におて逆変換された後、マルチプレクサ1003に
おいて適宜選択され、駆動回路1001に入力される。
一方、デイスプレイコントローラ1002は、表示する
画像信号に応じて駆動回路1001の動作を制御するた
めの制御信号を発生する。駆動回路1001は、上記画
像信号と制御信号に基づいてディスプレイパネル201
に駆動信号を印加する。これにより、ディスプレイパネ
ル201において画像が表示される。これらの一連の動
作は、CPU1006により統括的に制御される。
【0260】本画像形成装置においては、前記デコーダ
1004に内蔵する画像メモリや、画像生成回路100
7及び情報の中から選択したものを表示するだけでな
く、表示する画像情報に対して、例えば拡大、縮小、回
転、移動、エッジ強調、間引き、補間、色変換、画像の
縦横比変換等を初めとする画像処理や、合成、消去、接
続、入れ換え、嵌め込み等を初めとする画像編集を行う
ことも可能である。また、本実施例の説明では特に触れ
なかったが、上記画像処理や画像編集と同様に、音声情
報に関しても処理や編集を行なうための専用回路を設け
てもよい。
1004に内蔵する画像メモリや、画像生成回路100
7及び情報の中から選択したものを表示するだけでな
く、表示する画像情報に対して、例えば拡大、縮小、回
転、移動、エッジ強調、間引き、補間、色変換、画像の
縦横比変換等を初めとする画像処理や、合成、消去、接
続、入れ換え、嵌め込み等を初めとする画像編集を行う
ことも可能である。また、本実施例の説明では特に触れ
なかったが、上記画像処理や画像編集と同様に、音声情
報に関しても処理や編集を行なうための専用回路を設け
てもよい。
【0261】従って、本画像形成装置は、テレビジョン
放送の表示機器、テレビ会議の端末機器、静止画像及び
動画像を扱う画像編集機器、コンピュータの端末機器、
ワードプロセッサを初めとする事務用端末機器、ゲーム
機などの機能を一台で兼ね備えることが可能で、産業用
あるいは民生用として極めて応用範囲が広い。
放送の表示機器、テレビ会議の端末機器、静止画像及び
動画像を扱う画像編集機器、コンピュータの端末機器、
ワードプロセッサを初めとする事務用端末機器、ゲーム
機などの機能を一台で兼ね備えることが可能で、産業用
あるいは民生用として極めて応用範囲が広い。
【0262】図23に示した表示装置は、本発明の技術
的思想に基づいて種々の変形が可能である。例えば図2
3の構成要素の内、使用目的上必要のない機能に関わる
回路は省いても差し支えない。また、これとは逆に、使
用目的によっては更に構成要素を追加してもよい。例え
ば、本表示装置をテレビ電話機として応用する場合に
は、テレビカメラ、音声マイク、照明機、モデムを含む
送受信回路等を構成要素に追加するのが好適である。
的思想に基づいて種々の変形が可能である。例えば図2
3の構成要素の内、使用目的上必要のない機能に関わる
回路は省いても差し支えない。また、これとは逆に、使
用目的によっては更に構成要素を追加してもよい。例え
ば、本表示装置をテレビ電話機として応用する場合に
は、テレビカメラ、音声マイク、照明機、モデムを含む
送受信回路等を構成要素に追加するのが好適である。
【0263】本表示装置においては、とりわけ電子放出
素子を電子ビーム源とするディスプレイパネルの薄型化
が容易であるため、表示装置の奥行きを小さくすること
ができる。それに加えて、大面積化が容易で輝度が高く
視野角特性にも優れるため、臨場感あふれ迫力に富んだ
画像を視認性良く表示することが可能である。また、均
一な特性を有する多数の電子放出素子を備える電子源を
用いたことにより、従来の表示装置と比較して非常に均
一で明るい高品位なカラーフラットテレビが実現され
た。
素子を電子ビーム源とするディスプレイパネルの薄型化
が容易であるため、表示装置の奥行きを小さくすること
ができる。それに加えて、大面積化が容易で輝度が高く
視野角特性にも優れるため、臨場感あふれ迫力に富んだ
画像を視認性良く表示することが可能である。また、均
一な特性を有する多数の電子放出素子を備える電子源を
用いたことにより、従来の表示装置と比較して非常に均
一で明るい高品位なカラーフラットテレビが実現され
た。
【0264】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
活性化処理前の亀裂(狭間隙部)の位置及び形状を均一
に制御することができる。このため、電子放出部の位置
及び形状を制御することができるとともに、従来のよう
に亀裂幅の不均一に伴う活性化不良の問題が解消され、
極めて良好な電子放出特性を有する電子放出素子を再現
性良く実現し得る。
活性化処理前の亀裂(狭間隙部)の位置及び形状を均一
に制御することができる。このため、電子放出部の位置
及び形状を制御することができるとともに、従来のよう
に亀裂幅の不均一に伴う活性化不良の問題が解消され、
極めて良好な電子放出特性を有する電子放出素子を再現
性良く実現し得る。
【0265】また、通電フオーミング処理を必要としな
いため、亀裂形成が困難であった高融点物質を導電性膜
の材料に用いることができるとともに、より膜厚の大き
い導電性膜を用いることもでき、より安定な特性を有す
る電子放出素子が実現される。
いため、亀裂形成が困難であった高融点物質を導電性膜
の材料に用いることができるとともに、より膜厚の大き
い導電性膜を用いることもでき、より安定な特性を有す
る電子放出素子が実現される。
【0266】さらに、電子源のサイズが大きくなって
も、上記亀裂(狭間隙部)の形成工程で用いる電子線描
画を、極めて短時間で容易に、かつ精度良く行うことが
でき、より均一な特性を有する電子源を実現することが
できる。
も、上記亀裂(狭間隙部)の形成工程で用いる電子線描
画を、極めて短時間で容易に、かつ精度良く行うことが
でき、より均一な特性を有する電子源を実現することが
できる。
【0267】また、本発明による電子放出素子を複数用
いて構成した電子源、画像形成装置においては、該電子
源、画像形成装置が大型になっても均一な電子ビームが
得られ、輝度のばらつきの無い高品位な画像表示装置、
例えばカラーフラットテレビが実現されるとともに、よ
り耐久性の高い装置が実現される。実現される。
いて構成した電子源、画像形成装置においては、該電子
源、画像形成装置が大型になっても均一な電子ビームが
得られ、輝度のばらつきの無い高品位な画像表示装置、
例えばカラーフラットテレビが実現されるとともに、よ
り耐久性の高い装置が実現される。実現される。
【図1】本発明に係る電子放出素子の一例を示す模式図
である。
である。
【図2】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図3】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図4】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図5】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図6】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図7】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図8】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図9】本発明の電子放出素子の製造方法における第一
の実施形態を説明するための図である。
の実施形態を説明するための図である。
【図10】本発明の電子放出素子の電子放出特性を評価
するための測定評価系の一例を示す概略構成図である。
するための測定評価系の一例を示す概略構成図である。
【図11】本発明の電子放出素子の電子放出特性を示す
図である。
図である。
【図12】本発明の単純マトリクス配置の電子源の一例
を示す模式図である。
を示す模式図である。
【図13】本発明の画像形成装置の表示パネルの一例を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図14】表示パネルにおける蛍光膜の一例を示す模式
図である。
図である。
【図15】本発明の画像形成装置にNTSC方式のテレ
ビ信号に応じて表示を行うための駆動回路の一例を示す
ブロック図である。
ビ信号に応じて表示を行うための駆動回路の一例を示す
ブロック図である。
【図16】本発明の梯子型配置の電子源の一例を示す模
式図である。
式図である。
【図17】本発明の画像形成装置の表示パネルの一例を
示す模式図である。
示す模式図である。
【図18】実施例3及び実施例6のマトリクス配線した
電子源の一部を示す模式図である。
電子源の一部を示す模式図である。
【図19】図18のA−A’断面模式図である。
【図20】図18の電子源の製造工程を示す図である。
【図21】図18の電子源の製造工程を示す図である。
【図22】実施例3及び実施例6の電子源の測定評価系
を示す概略構成図である。
を示す概略構成図である。
【図23】実施例9の画像表示装置のブロック図であ
る。
る。
【図24】本発明における電子線露光装置の一例を示す
模式図である。
模式図である。
【図25】従来例の表面伝導型電子放出素子の模式図で
ある。
ある。
1 基板 2,3 素子電極 4 導電性膜(薄膜電極) 5 電子放出部 11 ポジ型レジスト 12 電子線 13 電子線によりポジ型レジストが変質した部分 14 ドライエッチングガス 21 ネガ型レジスト 22 電子線 23 電子線によりネガ型レジストが変質した部分 50 素子電流Ifを測定するための電流計 51 電子放出素子に素子電圧Vfを印加するための電
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 Vx,Va 直流電圧源 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 151 層間絶縁層 152 コンタクトホール 153 Cr膜 201 ディスプレイパネル 301 加速電圧 302 電子が通過するための開口 303 収束電極 304 電子が通過するための開口 1001 ディスプレイパネルの駆動回路 1002 ディスプレイコントローラ 1003 マルチプレクサ 1004 デコーダ 1005 入出力インターフェース回路 1006 CPU 1007 画像生成回路 1008、1009、1010 画像メモリーインター
フェース回路 1011 画像入力インターフェース回路 1012、1013 TV信号受信回路 1014 入力部
源 52 電子放出部5より放出される放出電流Ieを測定
するための電流計 53 アノード電極54に電圧を印加するための高圧電
源 54 電子放出部5より放出される電子を捕捉するため
のアノード電極 55 真空容器 56 排気ポンプ 71 電子源基板 72 X方向配線 73 Y方向配線 74 電子放出素子 75 結線 81 リアプレート 82 支持枠 83 ガラス基板 84 蛍光膜 85 メタルバック 86 フェースプレート 87 高圧端子 88 外囲器 91 黒色導電材 92 蛍光体 101 表示パネル 102 走査回路 103 制御回路 104 シフトレジスタ 105 ラインメモリ 106 同期信号分離回路 107 変調信号発生器 Vx,Va 直流電圧源 110 電子源基板 111 電子放出素子 112 電子放出素子を配線するための共通配線 120 グリッド電極 121 電子が通過するための開口 151 層間絶縁層 152 コンタクトホール 153 Cr膜 201 ディスプレイパネル 301 加速電圧 302 電子が通過するための開口 303 収束電極 304 電子が通過するための開口 1001 ディスプレイパネルの駆動回路 1002 ディスプレイコントローラ 1003 マルチプレクサ 1004 デコーダ 1005 入出力インターフェース回路 1006 CPU 1007 画像生成回路 1008、1009、1010 画像メモリーインター
フェース回路 1011 画像入力インターフェース回路 1012、1013 TV信号受信回路 1014 入力部
Claims (15)
- 【請求項1】 基体上に一対の素子電極を形成する工程
と、 素子電極間に導電性膜を形成する工程と、 ポジ型レジストを用い、かつ電子放出素子が多数個配置
された電子源を有する電子線露光装置を用いた電子線リ
ソグラフィーにより、導電性膜に電子放出部となる狭間
隙を形成する工程とを有することを特徴とする電子放出
素子の製造方法。 - 【請求項2】 基体上に一対の素子電極を形成する工程
と、 素子電極間に導電性膜を形成する工程と、 ネガ型レジストを用い、かつ電子放出素子が多数個配置
された電子源を有する電子線露光装置を用いた電子線リ
ソグラフィーにより、導電性膜に電子放出部となる狭間
隙を形成する工程とを有することを特徴とする電子放出
素子の製造方法。 - 【請求項3】 電子線露光装置が、表面伝導型電子放出
素子が多数個配置された電子源を有する電子線露光装置
であることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子放
出素子の製造方法。 - 【請求項4】 前記狭間隙の電子放出部を形成する工程
の後に、有機物質のガス雰囲気中で素子電極間に電圧を
印加する活性化工程を行うことを特徴とする請求項1〜
3のいずれかに記載の電子放出素子の製造方法。 - 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載の方法に
て製造されたことを特徴とする電子放出素子。 - 【請求項6】 導電性膜の主成分が、タングステンであ
ることを特徴とする請求項5に記載の電子放出素子。 - 【請求項7】 狭間隙が、0.5μm以下であることを
特徴とする請求項5又は6に記載の電子放出素子。 - 【請求項8】 狭間隙に、炭素を主成分とする堆積物が
形成されていることを特徴とする請求項5〜7のいずれ
かに記載の電子放出素子。 - 【請求項9】 電子放出素子が、表面伝導型電子放出素
子であることを特徴とする請求項5〜8のいずれかに記
載の電子放出素子。 - 【請求項10】 入力信号に応じて電子を放出する電子
源であって、基体上に、請求項5〜9のいずれかに記載
の電子放出素子を複数配置したことを特徴とする電子
源。 - 【請求項11】 前記複数の電子放出素子が、マトリク
ス状に配線されていることを特徴とする請求項10に記
載の電子源。 - 【請求項12】 前記複数の電子放出素子が、梯子状に
配線されていることを特徴とする請求項10に記載の電
子源。 - 【請求項13】 請求項10〜12のいずれかに記載の
電子源を製造する方法であって、複数個の電子放出素子
を請求項1〜4のいずれかに記載の方法により製造する
ことを特徴とする電子源の製造方法。 - 【請求項14】 入力信号に基づいて画像を形成する装
置であって、少なくとも、請求項10〜12のいずれか
に記載の電子源と、該電子源から放出される電子線の照
射により画像を形成する画像形成部材とを有することを
特徴とする画像形成装置。 - 【請求項15】 請求項14に記載の画像形成装置を製
造する方法であって、電子源を請求項13に記載の方法
により製造することを特徴とする画像形成装置の製造方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4186699A JP2000243246A (ja) | 1999-02-19 | 1999-02-19 | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4186699A JP2000243246A (ja) | 1999-02-19 | 1999-02-19 | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000243246A true JP2000243246A (ja) | 2000-09-08 |
Family
ID=12620193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4186699A Withdrawn JP2000243246A (ja) | 1999-02-19 | 1999-02-19 | 電子放出素子、電子源、画像形成装置及びそれらの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000243246A (ja) |
-
1999
- 1999-02-19 JP JP4186699A patent/JP2000243246A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
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