JP2000244251A - 補償回路 - Google Patents

補償回路

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 デジタルシステムにおけるタイミング情報を
不変の状態に維持するために熱変動の改善された補償を
提供する。 【解決手段】 回路C1に対応して、補償回路C2に
は、それぞれ、加えられる内部信号Sincに依存した
デバイス温度Tpi(i=1...n)を有する少なく
とも1つのデバイスDpi(i=1...n)を含む。
補償回路C2の各デバイスDpiの熱特性は、回路C1
の対応するデバイスDiに比例するか、又は、他の何ら
かの既知の関係をなしている。補償回路C2は、各デバ
イスDpiの温度Tpi及び/又は異なるデバイスDp
iとDpj(j=1...n及びi≠j)との間の温度
差を制御して、回路C1とは反対又は逆の歪みを有する
出力信号Sig_IN´を送出する。回路C1及びC2
を直列に結合し、回路C1及びC2の直列接続の端部に
おける出力SIG_OUTの歪みの影響を除去可能であ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、熱変動によって生
じるタイミング情報の変化を補償する補償回路に係り、
更に詳細には、差動増幅器の補償回路に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】多くの電子回路は、主として、周囲温度
の変動によって、又は、電力消費に起因する動的挙動(d
ynamic behavior)によって生じる熱変動に影響されやす
い。特に、電子回路のさまざまな領域におけるさまざま
な熱変動によって、回路の望ましくない挙動が生じる場
合が多い。
【0003】デジタル・システムの場合、情報は、主と
して、信号がある状態から別の状態に変化することによ
って伝送又は処理される。タイミング情報には信号が変
化する時間に関する情報が含まれている。タイミング情
報を処理又は伝送しているデジタル回路は、一連の入力
状態遷移(input state transitions)の結果として、一
連の出力状態遷移を生成する。入力遷移のタイミング情
報間における関係は、システムの出力に反映されなけれ
ばならない。さらに、入力状態の変化の間における時間
経過は、それぞれの入力状態の変化によって生じる出力
状態の変化の間における時間経過であることが望まし
い。さもなければ、そのシステムによってタイミング情
報が変化したことになり、これは多くの応用例において
回避されるべきである。
【0004】UK−A−2316559には、その出力
駆動段の電力消費を検出し、その電力消費を補正及び制
御することによって、波形振幅及び出力タイミングを比
較的安定させる温度補償駆動回路が開示されている。温
度検出器が、出力素子の温度変化を検出し、温度補償器
が、温度検出器からの温度検出信号に応答し、入力信号
と比較して、出力信号のタイミングを調整する。すなわ
ち、これによって、温度によって引き起こされるパルス
遅延時間の変動に起因するタイミング偏差(timing devi
ation)の補償が可能になる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】デジタル回路の場合、
これまでの計測によれば、熱変動のために、全パルス持
続時間の合計と全周期との比としてのデューティ・サイ
クルに依存するタイミング・ドリフトが生じる場合があ
る。したがって、多くの従来の回路は、このデューティ
・サイクル・ドリフト、すなわち、例えば、2ns〜
0.5nsのデューティ・サイクルによって決まる伝搬
遅延の変動を低減させることが立証された対応する構成
要素間における良好な熱結合(thermal coupling)が得ら
れるように設計されている。しかし、最新のデジタル用
途の場合、熱結合は、例えば、100ps以下の値まで
デューティ・サイクル・ドリフトを短縮するのに十分で
あるとは立証されていない。さらに、物理的理由から、
理想的な熱結合が全く不可能であることは明らかであ
り、大幅に改善されたとしても、熱結合には必ず限界が
ある。
【0006】上記から明らかなように、GB−A−23
16559に開示されているデューティ・サイクル・ド
リフト又は遅延時間の変動等のタイミング情報は、熱変
動によって変化する可能性がある。
【0007】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
であり、デジタル・システムにおけるタイミング情報を
なるべく不変の状態に維持するため、熱変動の改善され
た補償を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によって実施され
る熱的効果(thermal effect)の補償に関するより明確な
理解が得られるように、熱変動の効果を説明する新たな
理論モデルについて明らかにする。このモデルの例証
は、例えば、デジタル回路において用いられる入力及び
出力レベルを固定して、当該技術において周知である図
6に示す差動増幅器の例に関して行われる。
【0009】差動増幅器は、差分入力信号(differentia
l input signal)IN及びNINを受信し、差分出力O
UT及びNOUTを送出する。信号NINは、信号IN
に対する補数(complement)であり、したがって、信号N
OUTは、信号OUTの補数を表している。差動増幅器
の構成及び機能は、当該技術において周知であるため、
本明細書において詳述しない。
【0010】図6は、共通エミッタが電流源I1に結合
された、2つのNPNトランジスタQ1及びQ2から構
成されている差動増幅器を示す回路図である。入力信号
IN及びNINは、それぞれ、トランジスタQ1及びQ
2のベースに結合されている。トランジスタQ1及びQ
2のコレクタは、インピーダンスRを介して、高電位源
(source of high potencial)VCCに結合されており、
それぞれ、出力信号OUT及びNOUTを送出する。
【0011】論理的に“LOW”レベル状態(すなわ
ち、IN=LOWレベルで、NIN=HIGHレベルの
場合)において、トランジスタQ1はオフになり、トラ
ンジスタQ1の電力消費Pd1_loはゼロになる。ト
ランジスタQ2はオンになり、トランジスタQ2の電力
消費Pd2_loは、下記のようになる: Pd2_lo=I1・VCE2_lo =I1・(VCC-R・I1-VE) =I1・(VCC-R・I1-(Vnin_lo-VBE2)) ここで、VCE2_loは、トランジスタQ2のコレク
タ・エミッタ電圧を表し、VEは、結合されたエミッタ
における電圧を表している。Vnin_loは、トラン
ジスタQ2のベースにおける電圧であって、実質的に、
論理“HIGH”レベルの電位を表しており、VBE2
は、トランジスタQ2のベース・エミッタ電圧である。
【0012】論理“HIGH”レベル状態(IN=HI
GHレベルで、NIN=LOWレベルの場合)におい
て、トランジスタQ1はオンになり、電力消費Pd1_
hiは、下記のようになる: Pd1_hi=I1・VCE1_hi =I1・(VCC-R・I1) =I1・(VCC-R・I1-(Vin_hi-VBE1)) ここで、VCE1は、トランジスタQ1のコレクタ・エ
ミッタ電圧を表している。Vin_hiは、トランジス
タQ1のベースにおける電圧であって、実質的に、論理
“HIGH”レベル状態の電位を表しており、VBE1
は、トランジスタQ1のベース・エミッタ電圧である。
トランジスタQ2はオフのため、電力消費Pd2_hi
はゼロである。
【0013】印加される論理電位(logic potential)が
下記のように実質的に等しいものと仮定すると: Vnin_lo=Vin_hi Vnin_hi=Vin_lo さらに、トランジスタQ1及びQ2が実質的に等しいも
のと仮定すると、下記のようになる。 VBE=VBE2_lo=VBE1_hi VCE=VCE2_lo=VCE1_hi Pd2_hi=Pd1_lo=0 Pd=Pd2_lo=Pd1_hi したがって:
【0014】
【数1】
【0015】
【数2】
【0016】これにより、Pdは、スイッチ投入時にお
けるトランジスタQ1又はQ2の電力消費を表すことに
なる。
【0017】図7は、図6の差動増幅器における2つの
トランジスタQ1及びQ2の熱的表現(thermal represe
ntation)を示す回路図である。「電気的表現(electrica
l world)」と同様に、トランジスタQ1及びQ2による
電力消費Pdの熱表現は、それぞれ、RCネットワーク
に電流を供給する電流源Pd1及びPd2として表すこ
とができる。熱抵抗器Rthは、オーム抵抗器に相当
し、熱キャパシタンスCthは、電気キャパシタンスに
相当し、温度は、電圧に相当する。したがって、オーム
の法則(V=I・R)は、熱的にはTemp=Pd・R
thとして表すことが可能である。
【0018】熱抵抗器Rth1は、トランジスタQ1と
Q2との間における熱の流れを表している。熱キャパシ
タンスCthと並列に配置された熱抵抗器Rthは周囲
の領域方向へのトランジスタの熱の流れを表し、それに
よって熱キャパシタンスCthは温度分布の制限速度を
反映する。トランジスタQ1及びQ2の電力消費Pdが
変化した場合、トランジスタの実際の温度は、すぐにそ
れに追従(follow)することができず、熱時定数Tthを
備えるある種のロー・パス関数(low pass function)に
よって追従することになる。簡略化のため、トランジス
タQ1及びQ2が、ほぼ等しく、したがって、各トラン
ジスタが熱キャパシタンスCthと並列に配置された熱
抵抗器Rth2を備えることによって、周囲の領域に向
かう熱流を表すように構成されているものと仮定する。
【0019】論理“LOW”レベル状態(IN=LOW
レベルで、NIN=HIGHレベルであり、したがっ
て、トランジスタQ1はオフになり、その電力消費Pd1
_loは、ゼロになる、すなわち、Pd1_lo=0)に
おいて、下記の数式が得られる: したがって、“LOW”レベル状態における温度差dT
emp_loは下記のように定義される: 論理“HIGH”レベル状態(IN=HIGHレベル
で、NIN=LOWレベルであり、したがって、トラン
ジスタQ2はオフになり、その電力消費Pd2_hi
は、ゼロになる、すなわち、Pd2_hi=0)におい
て、下記の式が得られる: Temp1_hi=Pd1_hi・(Rth2||(Rth1+Rth2)) =Pd1_hi・Rth2・(Rth1+Rth2)/(2・Rth2+Rth1) Temp2_hi=Temp1_hi・Rth2/(Rth1+Rth2) =Pd1_hi・Rth2・Rth2/(2・Rth2+Rth1) したがって、“HIGHレベル状態における温度差dT
emp_hiは下記のように定義される: dTemp _hi=Temp2_hi-Temp1_hi =-Pd1_hi・Rth1・Rth2/(2・Rth2+Rth1)
【0020】Pd1_hi=Pd2_lo=Pd、及
び、Pd2_hi=Pd1_lo=0と仮定すると、両
論理状態間における温度差、したがって、電力消費の差
は、次の通りである:
【0021】
【数3】
【0022】
【数4】
【0023】熱時定数Tthは、Pd1及び/又はPd
2が変化する場合の、温度Temp1とTemp2の差
を表した指数関数の時定数に相当し、次のようになる:
【0024】
【数5】
【0025】図8は、トランジスタQ1及びQ2の温度
が異なる場合の図6の差動増幅器の静的挙動(static be
havior)を示す説明図である。トランジスタQ1及びQ
2の温度Temp1及びTemp2が等しい場合を除く
と、差動増幅器は、オフセット電圧Vosが生じたよう
な動作をする。入力信号IN−NINが、オフセット電
圧Vos=Vo(Temp1<Tempの場合)で正
か、又は、オフセット電圧Vos=−Vo(Temp1
>Temp2)で負の場合、出力信号OUT−NOUT
はゼロである。これは、シリコン・ダイオードが、通
常、負の温度係数を備えているので、温度が上昇する
と、電圧が低下するためである。
【0026】キャパシタンス、電流増幅率β、又は、遷
移頻度(transit frequency)ftのような、温度によっ
て変化するトランジスタQ1及びQ2の他の特性が存在
する。しかし、ベース・エミッタ電圧VBEの変化が、
この種の用途における最大のエラーの原因であることが
明らかになっている。すなわち、他の影響を無視するこ
とが可能であり、入力信号の交差点(crossing point)の
時間(IN−NIN=Vosの場合)から出力信号の交
差点の時間(OUT−NOUT=0の場合)までとして
の伝搬遅延は、温度に依存せず、差動増幅器の固定伝搬
時間Tpdを表すものと仮定される。
【0027】図9(a)及び図9(b)は、図6の差動
増幅器における実際の信号と仮想信号を表した説明図で
ある。入力信号の論理状態、したがって、出力信号の論
理状態を変化させると、オフセット電圧Vosは、図9
(a)に示すように(時定数Tthに応じて)動的に変
化する。
【0028】入力信号IN−NINとオフセット電圧V
osの実際の差(図9(a)参照)は、図9(b)から
明らかなように、ある種のロー・パス特性を示してい
る。図9(b)に示す電圧差(IN−NIN)−Vos
は、図6の回路で測定可能な物理的信号を表すものでは
ない。図9(b)に示すこの電圧差だけが、本発明の原
理をより明確に理解するための有効なツールに相当し、
差動増幅器の入力における「有効信号」として理解し得
るものである。
【0029】図10及び図11は、図6による差動回路
の熱時定数Tthよりはるかに小さい、パルス幅PWi
nを備えた入力パルスの動的挙動を示す説明図である。
図10には、短い正の入力パルスの例が示されており、
一方、図11には、短い負の入力パルスの挙動が示され
ている。この原理は、正のパルスの場合も、負のパルス
の場合も同じなので、図10及び図11についてまとめ
て説明する。両方の場合とも、入力パルス(入力信号I
N、NIN及びIN−NINで表される)は、かなりの
長時間(>>Tth)にわたる静的LOW状態の後で追
従するので、トランジスタQ1は「コールド(cold)」状
態にあり、一方、トランジスタQ2は「ホット(hot)」
状態にあるものと仮定することができる。
【0030】オフセット電圧Vosのため、差動増幅器
は、IN−NIN=0の時点では、すぐにはスイッチせ
ず、入力信号IN−NIN=Vo(図11では:IN−
NIN=−Vo)になると始めてスイッチする。差動回
路の通常の伝搬時間Tpdは、この時点から出力信号O
UT−NOUT=0までかかる。条件IN−NIN=V
o(図11では:IN−NIN=−Vo)は、“LO
W”レベルから“HIGH”レベルへの(図11で
は:”HIGH”レベルから“LOW”レベルへの)移
行中にIN−NIN=0になる通常の交差点の後で、し
たがって、”HIGH”レベルから“LOW”レベルへ
の(図11では:“LOW”レベルから”HIGH”レ
ベルへの)移行中にIN−NIN=0になる通常の交差
点の後に、満たされるので、“LOW”レベルから”H
IGH”レベルへの遷移(正の遷移)の有効伝搬遅延T
pdlhは、”HIGH”レベルから“LOW”レベル
への遷移(負の遷移)の有効伝搬遅延Tpdhlより長
くなる(図11では:短くなる)。しかし、正の遷移と
負の遷移との間及び正のパルスと負のパルスの間におけ
る有効伝搬遅延の変動によって、出力パルス幅PWou
tが変化し、PWout<PWinになると、結果とし
て、タイミング情報に変化を生じる。
【0031】図10及び図11によれば、(パルスの極
性によって決まる)負の遷移と正の遷移の伝搬遅延の差
のために、入力信号のパルス幅に対して出力信号のパル
ス幅が変化するので、オフセット電圧Vosの効果は容
易に明らかになる。このパルス幅の変化の効果は、オフ
セット電圧が一定のままである限り、再現可能である。
【0032】特に、図9(a)及び9(b)に関して上
記から明らかなように、オフセット電圧Vosは、温度
変化の影響下において時間とともに変化する。一方、各
デバイスの温度、及び、それによるデバイス間の温度
は、それぞれのデバイスに加えられる一連の信号及びそ
れぞれのスイッチング・ポイントより前の電力消費によ
って決まる。つまり、各遷移の有効伝搬遅延は、前の信
号の「履歴」によって決まることになる。言うまでもな
く、こうしたデータ又は履歴依存性は、特に、タイミン
グが重要な用途において許容することのできないタイミ
ング情報の全く再現不可能な変更をもたらすことにな
る。一般的な用途において、このようなデータに依存す
る温度効果は、予測不能であり、つまり、重要なデジタ
ル・システム設計の性能、特に、デジタル自動テスト装
置(ATE)のようなテスト及び測定システムのタイミ
ング精度を低下させる、「データ依存ジッタ(data-depe
ndentjitter)」が生じることになる。さらに、分離され
た短いパルスは、さらに短くなるので(図10及び図1
1参照)、帯域幅制限効果(bandwidth-limiting effec
t)がある。
【0033】図10及び図11において、オフセット電
圧Vosの変化は、ゼロ・オフセット状態に関して示さ
れている。図10及び図11のパルスは、図9(a)に
示すパルスに対して比較的短くなるように選択されるの
で、図10及び図11におけるオフセット電圧Vosの
変化は、図9(a)に対して比較的小さい。
【0034】図1〜図11に関して、上記説明から明ら
かなように、タイミング情報の変化、つまり、図6の差
動増幅器におけるタイミング・エラーは、直接、下記の
要素によって決まる: −入力信号IN−NINのスルー・レート(すなわち、
通常、V/nsで表現される遷移速度)。 −2つのトランジスタQ1及びQ2の熱結合。 −オン時におけるそれぞれのトランジスタQ1又はQ2
の電力消費。 −温度に依存したベース・エミッタ電圧変化。
【0035】スルー・レートが高くなると、オフセット
電圧の効果が低下するので、さらに、タイミング情報に
対する効果が低下することになる。より優れた速度能力
(speed capacity)を備えたICテクノロジの最近の進歩
によって、スルー・レートが高くなり、この結果、より
高速のトランジスタの代価が、より縮小されるジオメト
リ及びより小さくなるキャパシタンス(例えば、トレン
チの分離の拡大による)によって支払われることにな
り、それによって、熱抵抗が増加するので、再び、より
高いスルー・レートの効果が相殺される。
【0036】伝搬遅延の変動及びパルス幅の変化の影響
が、当該技術において観測されているが、一般に、オフ
セット電圧の変動に対処するものであり、したがって、
この影響をいかに説明し、解説するかが分からなかっ
た。様々なオフセット電圧の影響を克服するアプローチ
の1つが、ヒューレット・パッカード製HP 8300
0における、別の電圧を重畳して、オフセット電圧を補
償することであった。オフセット電圧の補償回路は、当
該技術において周知であり、例えば、US−A−4,4
64,631、US−A−4,717,888、US−
A−4,827,222、US−A−5,045,80
6、US−A−5,132,559、US−A−5,8
12,005、又は、US−A−E,987,327に
開示されている。こうしたタイミング・エラーを、ただ
し、逆方向に導入することを意図した、入力信号又は出
力信号に対する電圧の印加が積極的に試みられてきた。
しかし、こうした全ての取り組みにおける問題は、補償
量の決定及び制御が困難であることであった。タイミン
グ・エラーの影響を評価(assess)するには、高度な試験
方法が必要とされ、したがって、一方で、それぞれの補
償電圧を供給するにも、高度な回路が必要とされる。容
易に分かるように、この種の影響をベースにした補償
は、満足のゆくものではなく、さらに、間違った「補
償」によって、信号に対してさらなるタイミング・エラ
ーが加えられる可能性がある。
【0037】本発明によれば、タイミング情報に対する
熱的影響の補償を改善することができる。
【0038】
【発明の実施の形態】図1(a)及び図1(b)は、信
号に依存する温度を有する構成要素によって生じる信号
歪みを補償するための本発明による回路構造の原理を示
すブロック図である。
【0039】図1(a)は、補償のない回路C1の構造
を示すブロック図である。回路C1は、外部信号として
入力信号SIG_INを受信し、出力信号SIG_OU
Tを送出する。信号Sinは、入力信号SIG_INか
ら得られる少なくとも1つの内部信号を表し、信号So
utは、外部出力信号SIG_OUTを供給する少なく
とも1つの出力信号を表している。回路C1には、さら
に、それぞれが、それぞれの温度Ti(i=1...
n)を備える少なくとも1つのデバイスDi(i=
1...n)を有しており、この結果、それぞれの温度
Ti及び/又は少なくとも1つのデバイスD1...D
nの間におけるそれぞれの温度差は、加えられる内部入
力信号Sinによって決定する。したがって、各デバイ
スDiは、信号に依存する温度Ti=fi(Sin)を
示す。
【0040】図1(b)は、本発明による信号補償の原
理を示すブロック図である。もう1つの補償回路C2
が、補償されるべき回路C1と直列に接続されている。
回路C1に対応して、補償回路C2には、それぞれ、下
記のように、加えられる内部信号Sincに依存したデ
バイス温度Tpi(i=1...n)を示す、少なくと
も1つのデバイスDpi(i=1...n)を含む: Tpi=fci(Sinc) これにより、内部信号Sincは、図1(b)のSIG
_INのように加えられる外部信号から得られる。
【0041】補償回路C2の各デバイスDpiの熱特性
は、回路C1の対応するデバイスDiに比例するか、又
は、他の何らかの既知の関係をなしている。この熱特性
は、直接的及び/又は間接的熱特性を表すことが可能で
ある。直接的熱特性は、電気特性の温度依存性及び/又
は熱抵抗及び/又はキャパシタンスのように、それぞれ
のデバイス自体によって決まり、直接そのデバイスから
「生じる(originate)」。間接的熱特性は、他のデバイ
スに対する熱抵抗及び/又はキャパシタンス及び/又は
対応するデバイスDpiとDiの間の電気的関係等の他
のデバイスに対する各デバイスによって決まる。
【0042】補償回路C2は、各デバイスDpiの温度
Tpi及び/又は異なるデバイスDpiとDpj(j=
1...n及びi≠j)との間の温度差を制御して、回
路C1とは反対又は逆の歪み(distortion)を有する出力
信号Sig_IN´(入力信号Sig_INによって決
まる)を送出するように設計されている。回路C1及び
C2を直列に結合し、それによって、回路C1及びC2
の順序が図1(b)に示すように、又は、その逆になる
ようにすることによって、回路C1及びC2の直列接続
の最端部における出力SIG_OUTにおいて、歪みの
影響を除去することが可能になる。
【0043】歪みの種類及び回路C1の機能性によっ
て、例えば、回路C1から補償回路C2へのフィードバ
ック信号として、少なくとも1つの出力信号SIG_f
bを供給することが可能である。
【0044】次に、本発明の原理について、図6に示す
差動増幅回路の例に関して説明する。なお、本発明の原
理は、増幅器の用途又は差分信号を用いる回路にも制限
されるものではなく、任意の種類の回路に適用すること
ができる。
【0045】図2は、本発明に係る差動増幅器を示す回
路図である。トランジスタQ1及びQ2の信号に依存す
る温度によって生じるタイミング・エラーは、それぞ
れ、入力信号IN及びNINとトランジスタQ1及びQ
2のベースとの間の入力経路内にそれぞれのバッファ段
B1及びB2を追加することによって除去される。バッ
ファ段B1及びB2は、差動回路におけるトランジスタ
Q1及びQ2とほぼ同じ、しかし、符号が逆の、熱的挙
動を生じる。バッファ段B1は、入力信号INとトラン
ジスタQ1のベースとの間にエミッタ・フォロワとして
結合されたバッファ・トランジスタQ3を有する。トラ
ンジスタQ3のエミッタは、電流源I2に結合されてい
る。したがって、バッファ段B2において、入力信号N
INとトランジスタQ2のベースとの間にエミッタ・フ
ォロワとして結合されたトランジスタQ4が形成され
る。Q4のエミッタが、電流源I2にほぼ対応する電流
源I2’に結合されるので、I2=I2’と仮定するこ
とができる。
【0046】論理状態(“LOW”レベル又は“HIG
H”レベル状態)によって、バッファ・トランジスタQ
3及びQ4の一方又は両方の両端における電圧、すなわ
ち、トランジスタQ3及びQ4の電力消費及び温度が調
節(modulate)され、その結果生じる電圧エラー(voltage
error)は、電流源I1に結合されたトランジスタQ1
及びQ2のそれぞれに対して方向が反対になる。
【0047】トランジスタQ3及びQ4は、トランジス
タQ1及びQ2の挙動に比例した電気的及び熱的挙動を
生じるように選択される。さらに、トランジスタQ3及
びQ4は、それらの間の熱的関係が、トランジスタQ1
及びQ2の間の熱的関係に比例するように構成されてい
る。これは、トランジスタQ3及びQ4のサイズ及び互
いの距離が、トランジスタQ1及びQ2に対して比例す
るので、実現することが可能である。これによって、ト
ランジスタQ3及びQ4に関連した熱抵抗及びキャパシ
タンスは、確実にトランジスタQ1及びQ2に比例す
る。
【0048】増幅器AMP1及びAMP2は、出力電圧
OUT及びNOUTに比例した電圧をバッファ段B1及
びB2に供給することが可能であり、さらに、DC電圧
を印加することも可能である。2つの増幅器AMP1及
びAMP2を設ける代わりに、ノードCL3及びCL4
においてより高い電圧の脈動(swing)を生じさせる1つ
の増幅器AMPだけしか設けないことも可能である。増
幅器AMP1及びAMP2(又はAMP)の出力によっ
て、エミッタ・フォロワ・トランジスタQ3及び/又は
Q4のコレクタCL3及び/又はCL4の電圧が調節さ
れる。
【0049】増幅器AMP1及びAMP2(又はAM
P)の入力は、後述のように出力OUT及びNOUTか
ら直接得ることができるが、図4に示すように発生させ
ることもできる。図4の実施形態の場合、第2の差動増
幅器は、第1の差動増幅器(トランジスタQ1及びQ2
から構成される)と並列に結合されている。第2の差動
増幅器は、第1の差動増幅器に従って作製(build up)さ
れており、第2の差動増幅器は、共通エミッタが電流源
13に結合され、コレクタがそれぞれインピーダンスR
1を介して高電位源VCC1に結合されたトランジスタ
Q5及びQ6を含んでいる。トランジスタQ5及びQ6
のベースは、それぞれ、相補入力信号IN及びNINを
受信する。(増幅器AMP1及びAMP2としての)ト
ランジスタQ7及びQ8は、それぞれ、出力信号OUT
及びNOUTに(構成要素R、R1、I3、I1間の関
係に基づいて比例するように)対応するトランジスタQ
5及びQ6のコレクタにおける信号をバッファし、トラ
ンジスタQ3及びQ4のコレクタCL3及びCL4にそ
の信号を供給する。図4の回路は、必要な構成要素が少
ないので、図2の回路よりも簡単な回路構成が得られ
る。さらに、図4の出力ノードOUT及びNOUTは、
負荷されない。
【0050】図2及び図4から明らかになるように、バ
ッファ段B1及びB2は、それぞれ、トランジスタQ1
及びQ2によって提供される電力消費調節を受けるよう
になっており、したがって、バッファ段B1及びB2
は、差分入力信号IN−NINとトランジスタQ1及び
Q2のそれぞれの制御電極(ベース)との間に結合され
る。図2におけるトランジスタQ3及びQ4の電力消費
は、直接トランジスタQ1及びQ2によって調節される
が、図4の実施形態では、電力消費の間接的調節が施さ
れる。図4の場合、第2の差動増幅器は、第1の差動増
幅器に従って作製されており、したがって、トトランジ
スタQ1及びQ2が、トランジスタQ5及びQ6に従っ
て造られ、それに基づく挙動を示すので、トランジスタ
Q1及びQ2だけが、電力消費に間接的調節を施すこと
になる。
【0051】次に、トランジスタQ3及びQ4のサイズ
及び互いの距離は、トランジスタQ1及びQ2と同じで
あり、トランジスタQ3及びQ4に関連した熱抵抗及び
キャパシタンスがトランジスタQ1及びQ2の場合と同
じになる、特別な例(図2及び図4)を説明する。トラ
ンジスタQ3及びQ4は、トランジスタ対Q1/Q2と
Q3/Q4との間の熱的影響を回避又は軽減するため、
トランジスタQ1及びQ2から十分に離して配置するこ
とが望ましい。
【0052】両方の論理状態(“LOW”レベル、”H
IGH”レベル)間におけるバッファ・トランジスタQ
3及びQ4の電力消費の差は、下記の通りである:
【0053】
【数6】
【0054】
【数7】
【0055】図4の実施形態の場合、これにより、下記
のようになる:
【0056】
【数8】
【0057】
【数9】
【0058】両方の論理状態間における電力消費の差
は、トランジスタQ3は、トランジスタQ1と同じであ
るが、符号が逆になる場合、温度の影響による電圧変化
が相互補償するので、トランジスタQ1及びQ3を通る
信号の組み合わせによって、電圧オフセット・エラーが
生じることはない。これは、トランジスタQ4及びQ2
にも同様に当てはまる。
【0059】タイミング・エラーの完全補償条件は、下
記の通りである:
【0060】
【数10】
【0061】
【数11】
【0062】数10及び数11の場合、式1及び2を修
正して、バッファ・トランジスタQ3及びQ4による入
力信号IN及びNINのさらなる電圧降下を反映しなけ
ればならず、これによって、VBE3=VBE4=VB
Efになると仮定されるが、VBEfは、トランジスタ
Q3及びQ4のベース・エミッタ電圧を表しているの
で、次のようになる:
【0063】
【数12】
【0064】
【数13】
【0065】数6、数8、数10及び数12によって、
次の条件が得られる:
【0066】
【数14】
【0067】したがって、数7、数9、数11及び数1
3によって、次の条件が得られる:
【0068】
【数15】
【0069】なお、数14及び数15は同じ条件を表し
ている。
【0070】図2又は図4における回路の信号が、図5
(a)及び図5(b)に示されている。図5(a)及び
図5(b)の信号は、図9(a)及び図9(b)に示さ
れた信号に対応する。しかし、トランジスタQ3及びQ
4のエミッタにおいて、すなわち、トランジスタQ1及
びQ2のベースにおいて信号が変化させられるため、差
動増幅器における「有効信号」(E1−E2)−Vos
(図5(b)を参照)は、入力信号IN−NIN(図5
(a)を参照)にほぼ一致し、つまり、E1はノードE
1における信号に相当し、E2はノードE2における信
号に相当する。図5(a)から明らかなように、オフセ
ット電圧Vosの影響は、トランジスタQ1及びQ2の
ベースで信号E1−E2を変化させることによって効率
よく補償することが可能である。
【0071】図2又は図4の回路の簡略化は、次の仮定
の条件の下に実施することが可能である: I1=I2=I VBE=VBEf=0.8V
【0072】これによって、(数14又は数15から)
簡略化条件は次のようになる:
【0073】
【数16】
【0074】
【数17】
【0075】ゼロ・タイミング・エラーのより一般的な
条件は、トランジスタQ1とQ3との論理“LOW”レ
ベル状態と“HIGH”レベル状態の間の電力消費の差
が、トランジスタQ2とQ4との場合と同じであれば、
次のようになる:
【0076】
【数18】
【0077】これは、非対称電流及び/又は電圧が必要
とされる場合に有用である。
【0078】次に、図2及び図4の回路を、図1(b)
に対応する図3に示すブロック図で説明する。(デバイ
スDp1及びDp2に対応する)トランジスタQ3及び
Q4は、信号SIG_INを受信して、差動増幅器C1
(図6を参照)の(デバイスD1及びD2に対応する)
トランジスタQ1及びQ2に対して、補償信号SIG_
IN´を供給する。次に、トランジスタQ1及びQ2
は、タイミング・エラーのほとんどない出力SIG_O
UTを送出する。トランジスタQ1及びQ2は、さら
に、増幅器AMP1及びAMP2を介して任意のフィー
ドバック・ループSIG_fb1及びSIG_fb2を
形成する。図4の回路が、フィードバック・ループのな
い回路を表していることを理解されたい。
【0079】サイズ及び互いの距離が比例の関係にある
トランジスタQ1〜Q4の規定の立体配置のため、トラ
ンジスタQ3とQ4との熱的関係が、トランジスタQ1
とQ2との熱的関係に比例するので、トランジスタQ3
及びQ4は、トランジスタQ1及びQ2の挙動とは逆の
温度依存電気的挙動を示す。したがって、信号SIG_
IN´に対する、回路C1のように、補償回路C2の信
号SIG_IN´は信号SIG_INに対して生じるの
と逆のタイミング・エラーを生じるので、全体として、
信号SIG_OUTは、信号SIG_INとほぼ同じタ
イミング情報を示し、タイミング・エラーがほとんどな
い。
【0080】上記から明らかなように、動的熱不整合(d
ynamic thermal mismatch)によって生じる差動増幅器の
タイミング・エラー及び帯域幅制限は、図2及び図3に
示すエラーの原因に対して「逆の(against)」働きをす
るバッファ回路を追加することによって除去することが
可能である。
【0081】本発明の解説はバイポーラ技術に関連して
行われてきたが、FET等の他の適合する技術又は技術
の組み合わせを適切に適用することも可能であることは
明白である。FFT技術の場合、エミッタ・フォロワの
代わりに、ソース・フォロワが用いられる。
【0082】以下に、本発明の実施の形態を要約する。 1.第1の回路(C1)における熱変動によって生じる
入力信号(SIG_IN)のタイミング情報の変化を補
償するための補償回路(C2)であって、前記第1の回
路(C1)が、前記入力信号(SIG_IN)に依存す
る温度(Ti)をそれぞれ有する少なくとも1つのデバ
イス(Di)を備え、前記入力信号(SIG_IN)に
依存する温度(Tpi)をそれぞれ有する少なくとも1
つの補償デバイス(Dpi)を備え、当該補償回路(C
2)が、前記第1の回路(C1)に直列に接続され、こ
の直列接続によって前記入力信号(SIG_IN)を受
信し、前記入力信号(SIG_IN)とほぼ同じタイミ
ング情報を備えたタイミング補償出力信号(SIG_O
UT)を送出し、前記少なくとも1つの補償デバイス
(Dpi)のうち少なくとも1つの熱特性が、前記第1
の回路(C1)の前記少なくとも1つのデバイス(D
i)のうち対応する1つに比例の関係又は他の何らかの
既知の関係をなし、当該補償回路(C2)によって、第
1の回路(C1)とほぼ反対又は逆の熱歪みを有する補
償出力信号(SIG_IN’)を送出する補償回路(C
2)。
【0083】2.前記第1の回路(C1)から当該補償
回路(C2)に少なくとも1つのフィードバック信号
(SIG_fb)を供給することを更に有する上記1に
記載の補償回路(C2)。
【0084】3.前記第1の回路(C1)は、第1の電
流源(I1)に結合された第1のトランジスタ(Q1)
及び第2のトランジスタ(Q2)を有する差動増幅器
(図6)であり、前記第1のトランジスタ(Q1)及び
前記第2のトランジスタ(Q2)の第1の電極によっ
て、出力信号(OUT−NOUT)を供給し、当該補償
回路(C2;図2、図3及び図4)であって、前記第1
のトランジスタ(Q1)によって施される直接又は間接
電力消費調節を受けて、前記入力信号(IN)と前記第
1のトランジスタ(Q1)の制御電極との間に結合され
る第1のバッファ段(B1)と、前記第2のトランジス
タ(Q2)によって施される直接又は間接電力消費調節
を受けて、前記入力信号(NIN)と前記第2のトラン
ジスタ(Q2)の制御電極との間に結合される第2のバ
ッファ段(B2)と、を備える上記1又は2に記載の補
償回路(C2)。
【0085】4.入力信号(IN−NIN)を受信し
て、出力信号(OUT−NOUT)を送出する差動増幅
器(図2及び図4)であって、第1の電流源(I1)に
結合されて、第1の電極から出力信号(OUT−NOU
T)を送出する第1のトランジスタ(Q1)及び第2の
トランジスタ(Q2)と、前記第1のトランジスタ(Q
1)によって施される直接又は間接電力消費調節を受け
て、前記入力信号(IN)と前記第1のトランジスタ
(Q1)の制御電極との間に結合される第1のバッファ
段(B1)と、前記第2のトランジスタ(Q2)によっ
て施される直接又は間接電力消費調節を受けて、前記入
力信号(NIN)と前記第2のトランジスタ(Q2)の
制御電極との間に結合される第2のバッファ段(B2)
と、を備える差動増幅器。
【0086】5.第1のバッファ段(B1)に、その制
御電極において入力信号(IN)を受信し、その第1の
電極が第1のトランジスタ(Q1)の制御電極及び第2
の電流源(I2)に結合される第3のトランジスタ(Q
3)が含まれていることと、第2のバッファ段(B2)
に、その制御電極において入力信号(NIN)を受信
し、その第1の電極が第2のトランジスタ(Q2)の制
御電極及び第3の電流源(I2’)に結合される第4の
トランジスタ(Q3)が含まれている上記3に記載の補
償回路又は上記4に記載の差動増幅器。
【0087】6.第3のトランジスタ(Q3)及び第4
のトランジスタ(Q4)が、前記第1のトランジスタ
(Q1)及び前記第2のトランジスタ(Q2)に対して
比例するサイズ及び互いの距離を備えている上記5に記
載の補償回路(C2)又は差動増幅器。
【0088】7.前記入力信号(SIG_IN)が、差
分入力信号(IN−NIN)であり、前記出力信号(S
IG_OUT)が、差分出力信号(OUT−NOUT)
である上記1乃至6のいずれかに記載の補償回路(C
2)又は差動増幅器。
【0089】8.前記熱特性が、それぞれのデバイス自
体によって決まる直接的熱特性、なるべくなら、電気特
性の温度依存性及び/又は熱抵抗及び/又はキャパシタ
ンスを表す上記1乃至7のいずれかに記載の補償回路
(C2)又は差動増幅器。
【0090】9.熱特性が、他のデバイスと関連して、
それぞれのデバイスによって決まる間接的熱特性、なる
べくなら、他のデバイスに対する熱抵抗及び/又はキャ
パシタンス及び/又は対応するデバイス(Dpi及びD
i)間における電気的関係を表す上記1乃至8のいずれ
かに記載の補償回路(C2)又は差動増幅器。
【0091】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、タイミング情報に対する熱的影響の補償を改
善するすることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、補償のない回路C1の構造を示すブ
ロック図である。(b)は、本発明に係る信号に依存す
る温度を有する構成要素によって生じた信号歪みを補償
するための回路構造の原理を示すブロック図である。
【図2】本発明に係る差動増幅器を示す回路図である。
【図3】本発明に係る差動増幅器を示すブロック図であ
る。
【図4】本発明の望ましい実施形態を示す回路図であ
る。
【図5】(a)は、図2及び図4の差動増幅器における
実際の信号及び仮想信号を表した説明図である。(b)
は、図2及び図4の差動増幅器における実際の信号及び
仮想信号を表した説明図である。
【図6】当該技術において周知の差動増幅器を示す回路
図である。
【図7】図6の差動増幅器の熱的表現を示す説明図であ
る。
【図8】図6の差動増幅器の静的挙動を示す説明図であ
る。
【図9】(a)は、図6の差動増幅器における実際の信
号と仮想信号を表した説明図である。(b)は、図6の
差動増幅器における実際の信号と仮想信号を表した説明
図である。
【図10】パルス幅が図6による差動回路の熱時定数よ
りはるかに短い正の入力パルスの動的挙動を示す説明図
である。
【図11】パルス幅が図6による差動回路の熱時定数よ
りはるかに短い負の入力パルスの動的挙動を示す説明図
である。
【符号の説明】
B1,B2 バッファ段 C1 回路 C2 補償回路 Di,Dpi デバイス Q1,Q2,Q3,Q4 トランジスタ
フロントページの続き (71)出願人 399117121 395 Page Mill Road P alo Alto,California U.S.A.

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1の回路(C1)における熱変動によっ
    て生じる入力信号(SIG_IN)のタイミング情報の
    変化を補償するための補償回路(C2)であって、 前記第1の回路(C1)が、前記入力信号(SIG_I
    N)に依存する温度(Ti)をそれぞれ有する少なくと
    も1つのデバイス(Di)を備え、前記入力信号(SI
    G_IN)に依存する温度(Tpi)をそれぞれ有する
    少なくとも1つの補償デバイス(Dpi)を備え、 当該補償回路(C2)が、前記第1の回路(C1)に直
    列に接続され、この直列接続によって前記入力信号(S
    IG_IN)を受信し、前記入力信号(SIG_IN)
    とほぼ同じタイミング情報を備えたタイミング補償出力
    信号(SIG_OUT)を送出し、 前記少なくとも1つの補償デバイス(Dpi)のうち少
    なくとも1つの熱特性が、前記第1の回路(C1)の前
    記少なくとも1つのデバイス(Di)のうち対応する1
    つに比例の関係又は他の何らかの既知の関係をなし、 当該補償回路(C2)によって、第1の回路(C1)と
    ほぼ反対又は逆の熱歪みを有する補償出力信号(SIG
    _IN’)を送出することを特徴とする補償回路(C
    2)。
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