JP2000249643A - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents
冷熱衝撃試験装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】冷熱衝撃試験装置の消費電力量を少なくする必
要があった。 【解決手段】低温室の冷却能力と目標温度到達時間及び
高温室の加熱能力と目標温度到達時間の関係を演算し、
低温試験中は高温室の電気加熱器の運転を、また高温試
験中は低温室の冷凍機及び電気加熱器の運転を制御する
ことにより、消費電力量を節減する効果がある。
要があった。 【解決手段】低温室の冷却能力と目標温度到達時間及び
高温室の加熱能力と目標温度到達時間の関係を演算し、
低温試験中は高温室の電気加熱器の運転を、また高温試
験中は低温室の冷凍機及び電気加熱器の運転を制御する
ことにより、消費電力量を節減する効果がある。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子部品・半導体
等の冷却，加熱の繰返し試験を行う冷熱衝撃試験装置に
係り、特に冷却装置としての圧縮式冷凍機（冷凍機）と
加熱装置としての電気加熱器の省電力運転に関するもの
である。
等の冷却，加熱の繰返し試験を行う冷熱衝撃試験装置に
係り、特に冷却装置としての圧縮式冷凍機（冷凍機）と
加熱装置としての電気加熱器の省電力運転に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】電子部品・半導体等の冷却，加熱の繰返
し試験を行う冷熱衝撃試験装置としては、例えば、特開
平4−194725 号公報記載のものがある。これは、試験室
と該試験室に隣接する低温室及び高温室を備え、これら
低温室及び高温室に蓄えられた低温及び高温の気体を交
互に試験室に送り込んで、試験室内の電子部品・半導体
等の試料を急速に冷却あるいは加熱して熱的な衝撃を加
えるものである。
し試験を行う冷熱衝撃試験装置としては、例えば、特開
平4−194725 号公報記載のものがある。これは、試験室
と該試験室に隣接する低温室及び高温室を備え、これら
低温室及び高温室に蓄えられた低温及び高温の気体を交
互に試験室に送り込んで、試験室内の電子部品・半導体
等の試料を急速に冷却あるいは加熱して熱的な衝撃を加
えるものである。
【０００３】低温室に蓄えられる低温の気体は、冷凍機
の冷却能力と電気加熱器の加熱能力を平衡させ、決めら
れた温度に調節し保持されている。
の冷却能力と電気加熱器の加熱能力を平衡させ、決めら
れた温度に調節し保持されている。
【０００４】一方、高温室に蓄えられる高温の気体は、
電気加熱器の加熱能力を制御して、決められた温度に調
節し保持されている。
電気加熱器の加熱能力を制御して、決められた温度に調
節し保持されている。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術における
低温室の冷凍機と電気加熱器、及び高温室の電気加熱器
は本冷熱衝撃試験装置が運転中は常時運転状態である。
本冷熱衝撃試験装置は、低温あるいは高温の気体を必要
な時に試験室に送り込むものであり、その時の低温及び
高温の気体の温度が試験条件を満足すれば良いものであ
り、必要時以外は低温室の冷却運転及び高温室の加熱運
転は不要であり、常時運転状態にすることは余分な電力
を消費するものであった。
低温室の冷凍機と電気加熱器、及び高温室の電気加熱器
は本冷熱衝撃試験装置が運転中は常時運転状態である。
本冷熱衝撃試験装置は、低温あるいは高温の気体を必要
な時に試験室に送り込むものであり、その時の低温及び
高温の気体の温度が試験条件を満足すれば良いものであ
り、必要時以外は低温室の冷却運転及び高温室の加熱運
転は不要であり、常時運転状態にすることは余分な電力
を消費するものであった。
【０００６】本発明の目的は、上記の余分な消費電力を
抑えた冷熱衝撃試験装置を提供することにある。
抑えた冷熱衝撃試験装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明は低温室の温度，熱容量と次に低温試験にな
るまでの時間に対応して不要な冷凍機及び電気加熱器の
運転を制御するものである。
め、本発明は低温室の温度，熱容量と次に低温試験にな
るまでの時間に対応して不要な冷凍機及び電気加熱器の
運転を制御するものである。
【０００８】高温室についても同様に電気加熱器の運転
を制御するものである。
を制御するものである。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施内容を図面に
基づいて説明する。
基づいて説明する。
【００１０】図１は冷熱衝撃試験装置の縦断面図を、図
２は従来装置の各室の温度変化を示すタイムチャート図
を、図３は冷熱衝撃試験装置の制御回路図を示す。
２は従来装置の各室の温度変化を示すタイムチャート図
を、図３は冷熱衝撃試験装置の制御回路図を示す。
【００１１】図１に示す冷熱衝撃試験装置は試料を試験
室１に収納し、該試験室内を低温環境と高温環境とに交
互に急速変化させて試料の冷熱衝撃試験を行うもので、
試験室１とその試験室１に対してそれぞれ独立する冷風
発生用低温室２及び熱風発生用高温室３とを備えてい
る。
室１に収納し、該試験室内を低温環境と高温環境とに交
互に急速変化させて試料の冷熱衝撃試験を行うもので、
試験室１とその試験室１に対してそれぞれ独立する冷風
発生用低温室２及び熱風発生用高温室３とを備えてい
る。
【００１２】試験室１と低温室２との仕切り壁には、冷
風を試験室１に流入させる冷風供給口４及び試験室１内
の冷風を排出させる冷風排出口５が設けられている。そ
の冷風供給口４及び排出口５には、これを開閉する冷風
切替ダンパ６及び７が設けられている。
風を試験室１に流入させる冷風供給口４及び試験室１内
の冷風を排出させる冷風排出口５が設けられている。そ
の冷風供給口４及び排出口５には、これを開閉する冷風
切替ダンパ６及び７が設けられている。
【００１３】また試験室１と高温室３との仕切り壁には
熱風を試験室内に流入させる熱風供給口８及び熱風排出
口９が設けられている。その熱風供給口８及び熱風排出
口９には、これを開閉する熱風切替ダンパ１０および１
１が設けられている。
熱風を試験室内に流入させる熱風供給口８及び熱風排出
口９が設けられている。その熱風供給口８及び熱風排出
口９には、これを開閉する熱風切替ダンパ１０および１
１が設けられている。
【００１４】上記低温室２内には、該室内の空気を冷却
する蒸発器１２と、冷却された空気を所定温度に調節保
持する電気加熱器１３が設置されるとともに、調節保持
された冷却空気（冷風）を試験室１に送るための送風機
１５が設置され、準備運転段階における冷風を循環させ
る冷風バイパス通路１６が設けられている。ここで、蒸
発器１２は冷凍機を使用した冷凍サイクル（図示せず）
の一部を構成し、冷熱源となるものである。
する蒸発器１２と、冷却された空気を所定温度に調節保
持する電気加熱器１３が設置されるとともに、調節保持
された冷却空気（冷風）を試験室１に送るための送風機
１５が設置され、準備運転段階における冷風を循環させ
る冷風バイパス通路１６が設けられている。ここで、蒸
発器１２は冷凍機を使用した冷凍サイクル（図示せず）
の一部を構成し、冷熱源となるものである。
【００１５】蒸発器１２の風上側には、冷熱を蓄える蓄
冷材１４が配置されている。電動機１７は、送風機１５
の駆動用である。また冷風が冷風バイパス通路１６を通
るときには、冷風切替ダンパ６，７が実線のごとく閉じ
た状態である。
冷材１４が配置されている。電動機１７は、送風機１５
の駆動用である。また冷風が冷風バイパス通路１６を通
るときには、冷風切替ダンパ６，７が実線のごとく閉じ
た状態である。
【００１６】上記の高温室３内には、該室内の空気を加
熱する電気加熱器１８と電気加熱器１８の熱を蓄熱し、
加熱された空気を所定温度に保持する蓄熱材１９と、こ
の加熱空気（熱風）を試験室１に送るための送風機２０
とが配置されるとともに、準備運転段階において熱風を
循環させる熱風バイパス通路２１が設けられている。電
動機２２は送風機２０の駆動用である。また準備運転段
階においては、熱風が熱風バイパス通路２１を通るとき
には、熱風切替ダンパ１０，１１が実線のごとく閉じた
状態である。
熱する電気加熱器１８と電気加熱器１８の熱を蓄熱し、
加熱された空気を所定温度に保持する蓄熱材１９と、こ
の加熱空気（熱風）を試験室１に送るための送風機２０
とが配置されるとともに、準備運転段階において熱風を
循環させる熱風バイパス通路２１が設けられている。電
動機２２は送風機２０の駆動用である。また準備運転段
階においては、熱風が熱風バイパス通路２１を通るとき
には、熱風切替ダンパ１０，１１が実線のごとく閉じた
状態である。
【００１７】次に図２を参照して、従来の冷熱衝撃試験
装置の動作を説明する。試料の冷熱衝撃試験を行う場
合、まず準備運転が行われる。低温室２では、低温切替
ダンパ６，７を閉じることにより（図１の実線で示
す）、空気は冷風バイパス通路１６と蒸発器１２と電気
加熱器１３を循環し（図１の破線矢印で示す）、低温室
温度３２を試験室１の低温試験温度より約１０℃低めに
なるまで冷却運転が行われる。低温室温度は該室内に設
置したセンサ（図示せず）にて監視し、冷凍機による冷
凍サイクルの冷却能力と電気加熱器１３の加熱能力を平
衡させて設定温度に調節保持している。
装置の動作を説明する。試料の冷熱衝撃試験を行う場
合、まず準備運転が行われる。低温室２では、低温切替
ダンパ６，７を閉じることにより（図１の実線で示
す）、空気は冷風バイパス通路１６と蒸発器１２と電気
加熱器１３を循環し（図１の破線矢印で示す）、低温室
温度３２を試験室１の低温試験温度より約１０℃低めに
なるまで冷却運転が行われる。低温室温度は該室内に設
置したセンサ（図示せず）にて監視し、冷凍機による冷
凍サイクルの冷却能力と電気加熱器１３の加熱能力を平
衡させて設定温度に調節保持している。
【００１８】一方、高温室３では、高温切替ダンパ１
０，１１を閉じることにより、空気は熱風バイパス通路
２１と電気加熱器１８を循環し（図１の破線矢印で示
す）、高温室温度３３を試験室１の高温試験温度より約
１０℃高めになるまで加熱運転が行われる。高温室温度
は該室内に設置したセンサ（図示せず）にて監視し、電
気加熱器１８の加熱能力を制御して設定温度に調節保持
している。
０，１１を閉じることにより、空気は熱風バイパス通路
２１と電気加熱器１８を循環し（図１の破線矢印で示
す）、高温室温度３３を試験室１の高温試験温度より約
１０℃高めになるまで加熱運転が行われる。高温室温度
は該室内に設置したセンサ（図示せず）にて監視し、電
気加熱器１８の加熱能力を制御して設定温度に調節保持
している。
【００１９】低温室２及び高温室３の空気温度が設定温
度に到達すると、準備運転が終了し、試験サイクル運転
を始める。この場合、低温試験の時は、冷風切替ダンパ
６，７が開き（図１の破線で示す）低温室２の低温空気
は冷風供給口４及び冷風排出口５を経由して試験室１内
を循環し試験室１及び試料の温度３１を低下させてい
る。この時蓄冷材１４の冷熱量を放出し、速やかに試験
室１内を所定低温試験温度に到達させている。またこの
低温試験時は、試験室１内に設置したセンサ（図示せ
ず）にて温度を監視し、冷凍機及び電気加熱器１３の冷
却及び加熱能力を制御して循環空気温度を低温試験温度
に調節保持している。
度に到達すると、準備運転が終了し、試験サイクル運転
を始める。この場合、低温試験の時は、冷風切替ダンパ
６，７が開き（図１の破線で示す）低温室２の低温空気
は冷風供給口４及び冷風排出口５を経由して試験室１内
を循環し試験室１及び試料の温度３１を低下させてい
る。この時蓄冷材１４の冷熱量を放出し、速やかに試験
室１内を所定低温試験温度に到達させている。またこの
低温試験時は、試験室１内に設置したセンサ（図示せ
ず）にて温度を監視し、冷凍機及び電気加熱器１３の冷
却及び加熱能力を制御して循環空気温度を低温試験温度
に調節保持している。
【００２０】次に高温試験に移った時は、冷風切替ダン
パ６，７は閉じ、熱風切替ダンパ１０，１１が開いて高
温室３の熱風を試験室１に送り込んで高温試験を開始す
る。低温室２は再び準備運転と同じ運転となり、低温室
温度３４を試験室１の低温試験温度より約１０℃低めに
調節保持する。
パ６，７は閉じ、熱風切替ダンパ１０，１１が開いて高
温室３の熱風を試験室１に送り込んで高温試験を開始す
る。低温室２は再び準備運転と同じ運転となり、低温室
温度３４を試験室１の低温試験温度より約１０℃低めに
調節保持する。
【００２１】次に図３により冷熱衝撃試験装置の冷凍機
及び電気加熱器の制御方式について説明する。
及び電気加熱器の制御方式について説明する。
【００２２】本冷熱衝撃試験装置はマイクロコンピュー
タ６０にて制御されている。操作部６１は試験温度，試
験時間等の設定機能と、運転停止の入力機能を有してい
る。試験室／低温室／高温室の各温度はセンサ５５，５
６，５７（白金測温体，熱電対等）にて測定している。
操作部６１にて運転を指示すると、設定条件（各室の温
度，試験時間）に基づいて装置の運転を開始する。
タ６０にて制御されている。操作部６１は試験温度，試
験時間等の設定機能と、運転停止の入力機能を有してい
る。試験室／低温室／高温室の各温度はセンサ５５，５
６，５７（白金測温体，熱電対等）にて測定している。
操作部６１にて運転を指示すると、設定条件（各室の温
度，試験時間）に基づいて装置の運転を開始する。
【００２３】装置の構成機器のうち、冷凍機４８，冷風
切替ダンパ４９，熱風切替ダンパ５０，低温室電動機５
１，高温室電動機５２はマイクロコンピュータ６０によ
るリレー４１〜４５の出力で動作する。
切替ダンパ４９，熱風切替ダンパ５０，低温室電動機５
１，高温室電動機５２はマイクロコンピュータ６０によ
るリレー４１〜４５の出力で動作する。
【００２４】一方、低温室の電気加熱器５３と高温室の
電気加熱器５４はマイクロコンピュータの指示により駆
動回路５８，５９を介してサイリスタ４６，４７にて制
御している。
電気加熱器５４はマイクロコンピュータの指示により駆
動回路５８，５９を介してサイリスタ４６，４７にて制
御している。
【００２５】電気加熱器５３及び５４はサイリスタ４６
及び４７を一定時間内（例えば、３秒）のＯＮ／ＯＦＦ
する比率を変化させて加熱能力を調節している。このＯ
Ｎ／ＯＦＦする比率は、設定温度と現在の測定温度との
差を演算し、ＰＩＤ制御にて変化させている。
及び４７を一定時間内（例えば、３秒）のＯＮ／ＯＦＦ
する比率を変化させて加熱能力を調節している。このＯ
Ｎ／ＯＦＦする比率は、設定温度と現在の測定温度との
差を演算し、ＰＩＤ制御にて変化させている。
【００２６】一方冷凍機は低速運転のＯＮ／ＯＦＦ制御
と、回転数を変えるインバータ制御の方式がある。
と、回転数を変えるインバータ制御の方式がある。
【００２７】このように、低温室２と高温室３の冷凍機
及び電気加熱器は冷熱衝撃試験中は運転状態となる。本
冷熱衝撃試験装置は、低温あるいは高温の気体を必要な
時に試験室１に送り込むものであり、その時の低温及び
高温の気体の温度が試験温度を満足すればよいもので、
必要時以外は低温室２の冷却運転及び高温室３の加熱運
転は不要であり、常時運転状態にすることは余分な電力
を消費するものであった。
及び電気加熱器は冷熱衝撃試験中は運転状態となる。本
冷熱衝撃試験装置は、低温あるいは高温の気体を必要な
時に試験室１に送り込むものであり、その時の低温及び
高温の気体の温度が試験温度を満足すればよいもので、
必要時以外は低温室２の冷却運転及び高温室３の加熱運
転は不要であり、常時運転状態にすることは余分な電力
を消費するものであった。
【００２８】本発明は、この消費電力量を節減する制御
方法を提供するものであり、以下この制御方法を説明す
る。
方法を提供するものであり、以下この制御方法を説明す
る。
【００２９】試験中で低温試験から高温試験に移った時
は、低温室の温度は低温試験温度と同じであり、次の低
温試験開始までに約１０℃低下させる必要がある。この
１０℃低下させるための時間が高温試験時間より短けれ
ば、冷凍機および電気加熱器１３をＯＦＦさせるもので
ある。
は、低温室の温度は低温試験温度と同じであり、次の低
温試験開始までに約１０℃低下させる必要がある。この
１０℃低下させるための時間が高温試験時間より短けれ
ば、冷凍機および電気加熱器１３をＯＦＦさせるもので
ある。
【００３０】一方、冷凍機をＯＦＦさせると低温室の温
度は外部からの侵入熱により、徐々に上昇してくる。従
って、次に低温試験となるまでの時間と目標の（試験温
度−１０℃）までの冷却時間を比較し、必要な時期に冷
凍機及び電気加熱器１３をＯＮさせるものである。
度は外部からの侵入熱により、徐々に上昇してくる。従
って、次に低温試験となるまでの時間と目標の（試験温
度−１０℃）までの冷却時間を比較し、必要な時期に冷
凍機及び電気加熱器１３をＯＮさせるものである。
【００３１】図４はこの冷凍機及び電気加熱器１３をＯ
Ｎ／ＯＦＦさせる判定条件を示すものである。横軸に運
転目標温度（低温室の場合：試験温度−１０℃）と現在
の低温室温度との差を、縦軸に低温室の冷却到達時間を
示す。ＯＮ／ＯＦＦ判定線７０より上部ＩはＯＦＦ領域
を、下部IIはＯＮ領域を示す。
Ｎ／ＯＦＦさせる判定条件を示すものである。横軸に運
転目標温度（低温室の場合：試験温度−１０℃）と現在
の低温室温度との差を、縦軸に低温室の冷却到達時間を
示す。ＯＮ／ＯＦＦ判定線７０より上部ＩはＯＦＦ領域
を、下部IIはＯＮ領域を示す。
【００３２】この判定条件のグラフは、試験温度、低温
室の熱容量により異なるが、準備運転時に適宜温度と経
過時間を測定して、マイクロコンピュータにて求めるこ
とができる。これを図５に示す。準備運転では低温室の
温度は、図５に示すように時間の経過と共に低下してい
く。そして各時間での低温室温度を記憶させておけば、
目標温度に到達する時間△ｔと△Ｄが求まり、これを元
に図４のＯＮ／ＯＦＦ判定条件のグラフ７０を決定でき
る。
室の熱容量により異なるが、準備運転時に適宜温度と経
過時間を測定して、マイクロコンピュータにて求めるこ
とができる。これを図５に示す。準備運転では低温室の
温度は、図５に示すように時間の経過と共に低下してい
く。そして各時間での低温室温度を記憶させておけば、
目標温度に到達する時間△ｔと△Ｄが求まり、これを元
に図４のＯＮ／ＯＦＦ判定条件のグラフ７０を決定でき
る。
【００３３】そして、高温試験中は次の低温試験時間
（高温試験の残時間）までの時間ｔ１と［目標温度−現
在温度］Ｄ１の交点イがＯＮ／ＯＦＦ判定条件線７０よ
り上であれば、ＯＦＦ状態を継続し、時間が経過して該
時間ｔ２と該温度差Ｄ２の交点ロがＯＮ／ＯＦＦ判定条
件線７０と交差したら、冷凍機及び電気加熱器１３をＯ
Ｎし、低温室の温度を冷却することとする。
（高温試験の残時間）までの時間ｔ１と［目標温度−現
在温度］Ｄ１の交点イがＯＮ／ＯＦＦ判定条件線７０よ
り上であれば、ＯＦＦ状態を継続し、時間が経過して該
時間ｔ２と該温度差Ｄ２の交点ロがＯＮ／ＯＦＦ判定条
件線７０と交差したら、冷凍機及び電気加熱器１３をＯ
Ｎし、低温室の温度を冷却することとする。
【００３４】一方、高温室の電気加熱器１８の制御も上
記と同様に行い、必要な時のみ加熱することとする。
記と同様に行い、必要な時のみ加熱することとする。
【００３５】この制御フローチャートを図６に示す。
【００３６】図６の制御は高温及び低温試験中は常時実
行するものである。
行するものである。
【００３７】（１）で高温試験か低温試験かを判定し、
高温試験の時は（２）で次の低温試験時間（高温試験の
残時間）までの時間を演算し、（３）で低温室の温度を
計測し、これらの値を用いて（４）で図４のＯＮ／ＯＦ
Ｆ判定を行い、図４の領域IIの時は（５）低温室の冷凍
機および電気加熱器をＯＮさせる。領域Ｉの時は冷凍機
及び電気加熱器の制御は変更させない。
高温試験の時は（２）で次の低温試験時間（高温試験の
残時間）までの時間を演算し、（３）で低温室の温度を
計測し、これらの値を用いて（４）で図４のＯＮ／ＯＦ
Ｆ判定を行い、図４の領域IIの時は（５）低温室の冷凍
機および電気加熱器をＯＮさせる。領域Ｉの時は冷凍機
及び電気加熱器の制御は変更させない。
【００３８】一方、低温試験時は（６)，(７)，(８)，
(９）に従って高温室の電気加熱器を制御する。
(９）に従って高温室の電気加熱器を制御する。
【００３９】本発明の実施による冷熱衝撃試験装置の温
度変化と冷凍機，電気加熱器の動作タイムチャートを図
７に示す。
度変化と冷凍機，電気加熱器の動作タイムチャートを図
７に示す。
【００４０】低温試験時は、次の高温試験までの時間と
高温室の温度との関係により、高温室の電気加熱器がＯ
ＦＦ（３６，３６′），ＯＮ（３７，３７′）動作を行
う。一方高温試験時は、次の低温試験までの時間と低温
室の温度との関係により、低温室の冷凍機及び電気加熱
器がＯＦＦ（３８，３８′，３８″），ＯＮ（３９，３
９′，３９″）動作を行い、ＯＦＦの期間は消費電力量
の節減が行われることになる。なお、運転開始の準備運
転時は、設定温度と現在温度の差が大きいこと及び早期
に試験を開始させるため全運転を行うこととする。
高温室の温度との関係により、高温室の電気加熱器がＯ
ＦＦ（３６，３６′），ＯＮ（３７，３７′）動作を行
う。一方高温試験時は、次の低温試験までの時間と低温
室の温度との関係により、低温室の冷凍機及び電気加熱
器がＯＦＦ（３８，３８′，３８″），ＯＮ（３９，３
９′，３９″）動作を行い、ＯＦＦの期間は消費電力量
の節減が行われることになる。なお、運転開始の準備運
転時は、設定温度と現在温度の差が大きいこと及び早期
に試験を開始させるため全運転を行うこととする。
【００４１】上記の説明は、冷凍機が一定回転数で運転
するものをＯＮ／ＯＦＦ制御するものであるが、インバ
ータ制御の場合には冷凍機をＯＦＦしないで回転数を最
低回転数に低下させ、電気加熱器の出力もこの冷凍機の
冷却能力に見合った加熱能力まで低下させ、平衡制御さ
せることも可能であり、消費電力量が少なくなる。
するものをＯＮ／ＯＦＦ制御するものであるが、インバ
ータ制御の場合には冷凍機をＯＦＦしないで回転数を最
低回転数に低下させ、電気加熱器の出力もこの冷凍機の
冷却能力に見合った加熱能力まで低下させ、平衡制御さ
せることも可能であり、消費電力量が少なくなる。
【００４２】
【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、低温
室の温度，熱容量、次の低温試験までの時間を考慮して
冷凍機及び電気加熱器の運転を制御することにより、消
費電力量を節減する効果がある。
室の温度，熱容量、次の低温試験までの時間を考慮して
冷凍機及び電気加熱器の運転を制御することにより、消
費電力量を節減する効果がある。
【００４３】同様に高温室においても電気加熱器の運転
を制御して消費電力量を節減する効果がある。
を制御して消費電力量を節減する効果がある。
【図１】本発明の冷熱衝撃試験装置の縦断面図。
【図２】従来の冷熱衝撃試験装置の温度タイムチャート
図。
図。
【図３】本発明の冷熱衝撃試験装置の制御回路図。
【図４】冷凍機及び電気加熱器のＯＮ／ＯＦＦ判定グラ
フ。
フ。
【図５】図４の関係を求める準備運転時の温度変化図。
【図６】本発明における圧縮式冷凍機・電気加熱器の制
御フローチャート図。
御フローチャート図。
【図７】本発明の実施による各室の温度変化と圧縮式冷
凍機・電気加熱器の動作タイムチャート図。
凍機・電気加熱器の動作タイムチャート図。
１…試験室、２…低温室、３…高温室、４…冷風供給
口、５…冷風排出口、６，７，４９…冷風切替ダンパ、
８…熱風供給口、９…熱風排出口、１０，１１，５０…
熱風切替ダンパ、１２…蒸発器、１３…電気加熱器、１
４…蓄冷材、１５，２０…送風機、１６…冷風バイパス
通路、１７，２２…電動機、１８…電気加熱器、１９…
蓄熱材、２１…熱風バイパス通路、３１…試験室温度、
３２，３４…低温室温度、３３,３５…高温室温度、３
６,３６′…高温室電気加熱器ＯＦＦ点、３７，３７′
…高温室電気加熱器ＯＮ点、３８，３８′，３８″…低
温室冷凍機・電気加熱器ＯＦＦ点、３９，３９′，３
９″…低温室冷凍機・電気加熱器ＯＮ点、４１…冷凍機
用リレー、４２…冷風切替ダンパ用リレー、４３…熱風
切替ダンパ用リレー、４４…低温室電動機用リレー、４
５…高温室電動機用リレー、４６，４７…サイリスタ、
４８…冷凍機、５１…低温室電動機、５２…高温室電動
機、５３…低温室電気加熱器、５４…高温室電気加熱
器、５５，５６，５７…温度センサ、５８，５９…サイ
リスタ駆動回路、６０…マイクロコンピュータ、６１…
操作部、７０…ＯＮ／ＯＦＦ判定線。
口、５…冷風排出口、６，７，４９…冷風切替ダンパ、
８…熱風供給口、９…熱風排出口、１０，１１，５０…
熱風切替ダンパ、１２…蒸発器、１３…電気加熱器、１
４…蓄冷材、１５，２０…送風機、１６…冷風バイパス
通路、１７，２２…電動機、１８…電気加熱器、１９…
蓄熱材、２１…熱風バイパス通路、３１…試験室温度、
３２，３４…低温室温度、３３,３５…高温室温度、３
６,３６′…高温室電気加熱器ＯＦＦ点、３７，３７′
…高温室電気加熱器ＯＮ点、３８，３８′，３８″…低
温室冷凍機・電気加熱器ＯＦＦ点、３９，３９′，３
９″…低温室冷凍機・電気加熱器ＯＮ点、４１…冷凍機
用リレー、４２…冷風切替ダンパ用リレー、４３…熱風
切替ダンパ用リレー、４４…低温室電動機用リレー、４
５…高温室電動機用リレー、４６，４７…サイリスタ、
４８…冷凍機、５１…低温室電動機、５２…高温室電動
機、５３…低温室電気加熱器、５４…高温室電気加熱
器、５５，５６，５７…温度センサ、５８，５９…サイ
リスタ駆動回路、６０…マイクロコンピュータ、６１…
操作部、７０…ＯＮ／ＯＦＦ判定線。
フロントページの続き (72)発明者 園田 英博 静岡県清水市村松390番地 日立清水エン ジニアリング株式会社内 (72)発明者 松下 和弘 静岡県清水市村松390番地 日立清水エン ジニアリング株式会社内 (72)発明者 梅原 勝俊 静岡県清水市村松390番地 日立清水エン ジニアリング株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】試験室，低温室，高温室を各独立に設け、
冷凍機を備えた冷凍装置と電気加熱器により低温室内の
気体を冷却するとともに、電気加熱器により高温室内の
気体を加熱し、該加熱された気体と前記冷却された気体
を交互に試験室に送り込んで試験室内に配置された試料
を加熱冷却する冷熱衝撃試験装置において、低温試験中
は高温室の電気加熱器の運転を、高温試験中は低温室の
冷凍機及び電気加熱器の運転を制御することを特徴とす
る冷熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11055092A JP2000249643A (ja) | 1999-03-03 | 1999-03-03 | 冷熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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|---|---|---|---|
| JP11055092A JP2000249643A (ja) | 1999-03-03 | 1999-03-03 | 冷熱衝撃試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000249643A true JP2000249643A (ja) | 2000-09-14 |
| JP2000249643A5 JP2000249643A5 (ja) | 2006-01-05 |
Family
ID=12989105
Family Applications (1)
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|---|---|---|---|
| JP11055092A Withdrawn JP2000249643A (ja) | 1999-03-03 | 1999-03-03 | 冷熱衝撃試験装置 |
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|---|---|
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