JPH11160217A - 中和制御機能付き冷熱衝撃試験装置 - Google Patents
中和制御機能付き冷熱衝撃試験装置Info
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- JPH11160217A JPH11160217A JP34377197A JP34377197A JPH11160217A JP H11160217 A JPH11160217 A JP H11160217A JP 34377197 A JP34377197 A JP 34377197A JP 34377197 A JP34377197 A JP 34377197A JP H11160217 A JPH11160217 A JP H11160217A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試験槽の温度到達時間を短縮する。
【解決手段】 試験槽の温度設定部３２の設定温度を変
えると、設定変更検出部４で検出し、切換制御部８が最
大出力付与部９を作動させ、加熱器１１又は冷却装置２
１の出力を１００％とし、これらと予熱槽１の蓄熱量又
は予冷槽２の冷熱量とを試験槽に供給し、昇温又は降温
速度を速くする。予熱槽又は予冷槽と試験槽との温度が
中和すると、温度変化率計算部５で温度センサ３３の測
定値から計算した温度変化率よりも温度変化率設定部で
設定した中和時の温度変化率が大きくなり、比較部７が
この比較結果を切換制御部８に送り、ＰＩＤ制御部３１
を有効にして通常の制御をする。 【効果】 設定変更時のＰＩＤ制御部の暴走が防止さ
れ、昇温又は降温速度が速くなると共に、適正時期の制
御切換によって到達温度のオーバーシュートも防止され
る。
えると、設定変更検出部４で検出し、切換制御部８が最
大出力付与部９を作動させ、加熱器１１又は冷却装置２
１の出力を１００％とし、これらと予熱槽１の蓄熱量又
は予冷槽２の冷熱量とを試験槽に供給し、昇温又は降温
速度を速くする。予熱槽又は予冷槽と試験槽との温度が
中和すると、温度変化率計算部５で温度センサ３３の測
定値から計算した温度変化率よりも温度変化率設定部で
設定した中和時の温度変化率が大きくなり、比較部７が
この比較結果を切換制御部８に送り、ＰＩＤ制御部３１
を有効にして通常の制御をする。 【効果】 設定変更時のＰＩＤ制御部の暴走が防止さ
れ、昇温又は降温速度が速くなると共に、適正時期の制
御切換によって到達温度のオーバーシュートも防止され
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、加熱手段を備えた
予熱槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によっ
て温度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを
備え試験槽の温度が低温から高温又は高温から低温に切
り換えられると加熱手段又は冷却手段で加熱された予熱
槽又冷却された予冷槽の気体が試験槽に導入されて循環
される冷熱衝撃試験装置に関する。
予熱槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によっ
て温度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを
備え試験槽の温度が低温から高温又は高温から低温に切
り換えられると加熱手段又は冷却手段で加熱された予熱
槽又冷却された予冷槽の気体が試験槽に導入されて循環
される冷熱衝撃試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】冷熱衝撃試験装置では、試験槽内の温度
を迅速に且つ小さい変動幅で制御できるように通常ＰＩ
Ｄ制御器を用いている。一方、試験槽内に入れられた試
料に温度衝撃を与えるために、予冷槽及び予熱槽及びを
設け、試料の低温さらし中又は高温さらし中のときを除
いて、それぞれの槽内で低温空気又は高温空気を循環さ
せ、低温さらし又は高温さらしモードでは、ダンパーを
開閉して低温又は高温の空気を瞬時に試験槽内に導入し
て循環させ、試験槽内を急激に温度変化させられるよう
にしている。
を迅速に且つ小さい変動幅で制御できるように通常ＰＩ
Ｄ制御器を用いている。一方、試験槽内に入れられた試
料に温度衝撃を与えるために、予冷槽及び予熱槽及びを
設け、試料の低温さらし中又は高温さらし中のときを除
いて、それぞれの槽内で低温空気又は高温空気を循環さ
せ、低温さらし又は高温さらしモードでは、ダンパーを
開閉して低温又は高温の空気を瞬時に試験槽内に導入し
て循環させ、試験槽内を急激に温度変化させられるよう
にしている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ところが、ＰＩＤ制御
器がダンパーの開閉による試験槽内の急激な温度変化を
外乱による制御の暴走と判断し、一時的に冷凍機又は加
熱器の出力を下げる方向に制御する現象が発生すること
が判明した。そのため、冷凍機又は加熱器の出力が低下
する分だけ、試験槽内の目標温度への到達時間が遅くな
るという不具合が発生した。この場合、試験槽が目的と
する温度に到達し、設定温度との偏差が±０℃になるま
でＰＩＤ制御器を作動させないようにして、出力を最大
値に維持する方法も考えられる。しかし、この場合に
は、制御遅れによって槽内温度がオーバーシュートする
可能性がある。
器がダンパーの開閉による試験槽内の急激な温度変化を
外乱による制御の暴走と判断し、一時的に冷凍機又は加
熱器の出力を下げる方向に制御する現象が発生すること
が判明した。そのため、冷凍機又は加熱器の出力が低下
する分だけ、試験槽内の目標温度への到達時間が遅くな
るという不具合が発生した。この場合、試験槽が目的と
する温度に到達し、設定温度との偏差が±０℃になるま
でＰＩＤ制御器を作動させないようにして、出力を最大
値に維持する方法も考えられる。しかし、この場合に
は、制御遅れによって槽内温度がオーバーシュートする
可能性がある。
【０００４】なお、従来技術として、供試品が設定温度
に到達したかどうかを判定すると共に、これを検出して
試験モードを切り換え、通常設定される一定のさらし時
間を短縮する方法及び装置は提案されている（特開平６
ー１２３６８７号公報参照）。しかしこの装置では、試
験モード切換からさらし温度へ到達するまでの時間を短
縮することはできるない。
に到達したかどうかを判定すると共に、これを検出して
試験モードを切り換え、通常設定される一定のさらし時
間を短縮する方法及び装置は提案されている（特開平６
ー１２３６８７号公報参照）。しかしこの装置では、試
験モード切換からさらし温度へ到達するまでの時間を短
縮することはできるない。
【０００５】そこで本発明は従来技術に於ける上記問題
を解決し、試験槽の目的温度への到達が早く且つ的確
で、試験能率の向上された冷熱衝撃試験装置を提供する
ことを課題とする。
を解決し、試験槽の目的温度への到達が早く且つ的確
で、試験能率の向上された冷熱衝撃試験装置を提供する
ことを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題を解決
するために、請求項１の発明は、加熱手段を備えた予熱
槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温
度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え
前記試験槽の温度が低温から高温に切り換えられると前
記加熱手段で加熱された前記予熱槽の気体が前記試験槽
に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、前
記温度設定部で設定された温度が低温から高温に変更さ
れたかどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試
験槽の温度の上昇率を測定する温度上昇率測定手段と、
前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前
記予熱槽の放熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記
試験槽の温度の上昇率を付与できる温度上昇率付与手段
と、前記温度上昇率測定手段によって測定された測定温
度上昇率と前記温度上昇率付与手段によって付与された
温度均衡時近傍温度上昇率とを比較する比較手段と、前
記設定値変更検出手段が設定された温度が低温から高温
に変更されたことを検出した場合において前記比較手段
が前記測定温度上昇率と前記温度均衡時近傍温度上昇率
とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部
の制御に優先して前記加熱手段の加熱能力を大きくする
ように指示できる指示手段と、を有することを特徴とす
る。
するために、請求項１の発明は、加熱手段を備えた予熱
槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温
度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え
前記試験槽の温度が低温から高温に切り換えられると前
記加熱手段で加熱された前記予熱槽の気体が前記試験槽
に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、前
記温度設定部で設定された温度が低温から高温に変更さ
れたかどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試
験槽の温度の上昇率を測定する温度上昇率測定手段と、
前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前
記予熱槽の放熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記
試験槽の温度の上昇率を付与できる温度上昇率付与手段
と、前記温度上昇率測定手段によって測定された測定温
度上昇率と前記温度上昇率付与手段によって付与された
温度均衡時近傍温度上昇率とを比較する比較手段と、前
記設定値変更検出手段が設定された温度が低温から高温
に変更されたことを検出した場合において前記比較手段
が前記測定温度上昇率と前記温度均衡時近傍温度上昇率
とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部
の制御に優先して前記加熱手段の加熱能力を大きくする
ように指示できる指示手段と、を有することを特徴とす
る。
【０００７】請求項２の発明は、加熱手段を備えた予熱
槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温
度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え
前記試験槽の温度が高温から低温に切り換えられると前
記冷却手段で冷却された前記予冷槽の気体が前記試験槽
に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、前
記温度設定部で設定された温度が高温から低温に変更さ
れたどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試験
槽の温度の下降率を測定する温度下降率測定手段と、前
記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前記
予冷槽の吸熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記試
験槽の温度の下降率を付与できる温度下降率付与手段
と、前記温度下降率測定手段によって測定された測定温
度下降率と前記温度下降率付与手段によって付与された
温度均衡時近傍温度下降率とを比較する比較手段と、前
記設定値変更検出手段が設定された温度が高温から低温
に変更されたことを検出した場合において前記比較手段
が前記測定温度下降率と前記温度均衡時近傍温度下降率
とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部
の制御に優先して前記冷却手段の冷却能力を大きくする
ように指示できる指示手段と、を有することを特徴とす
る。
槽と冷却手段を備えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温
度設定部で設定された温度に制御される試験槽とを備え
前記試験槽の温度が高温から低温に切り換えられると前
記冷却手段で冷却された前記予冷槽の気体が前記試験槽
に導入されて循環される冷熱衝撃試験装置において、前
記温度設定部で設定された温度が高温から低温に変更さ
れたどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試験
槽の温度の下降率を測定する温度下降率測定手段と、前
記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前記
予冷槽の吸熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記試
験槽の温度の下降率を付与できる温度下降率付与手段
と、前記温度下降率測定手段によって測定された測定温
度下降率と前記温度下降率付与手段によって付与された
温度均衡時近傍温度下降率とを比較する比較手段と、前
記設定値変更検出手段が設定された温度が高温から低温
に変更されたことを検出した場合において前記比較手段
が前記測定温度下降率と前記温度均衡時近傍温度下降率
とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部
の制御に優先して前記冷却手段の冷却能力を大きくする
ように指示できる指示手段と、を有することを特徴とす
る。
【０００８】
【発明の実施の形態】図１は本発明を適用した冷熱衝撃
試験装置の構成例を示す。冷熱衝撃試験装置は本体部分
１００、操作制御部分２００等によって構成されてい
る。本体部分１００は、断熱槽１０１に囲われていて、
加熱手段としての加熱器１１を備えた予熱槽１と冷却手
段としての冷却装置２１を備えた予冷槽２とＰＩＤ制御
部３１によって温度設定部３２で設定された温度に制御
される試験槽３とを備えている。そして、これらの３槽
により、試験槽３の温度条件を例えばＴ1 ＝−６５℃か
らＴ2 ＝１５０℃までの低温から高温又はこれと反対の
高温から低温に切り換え、加熱器１１又は冷却装置２１
で加熱又は冷却された予熱槽１又は予冷槽２の気体とし
ての空気を試験槽３に導入して循環させ、低温さらしと
高温さらしとの交互の繰り返し試験を行うことができ
る。
試験装置の構成例を示す。冷熱衝撃試験装置は本体部分
１００、操作制御部分２００等によって構成されてい
る。本体部分１００は、断熱槽１０１に囲われていて、
加熱手段としての加熱器１１を備えた予熱槽１と冷却手
段としての冷却装置２１を備えた予冷槽２とＰＩＤ制御
部３１によって温度設定部３２で設定された温度に制御
される試験槽３とを備えている。そして、これらの３槽
により、試験槽３の温度条件を例えばＴ1 ＝−６５℃か
らＴ2 ＝１５０℃までの低温から高温又はこれと反対の
高温から低温に切り換え、加熱器１１又は冷却装置２１
で加熱又は冷却された予熱槽１又は予冷槽２の気体とし
ての空気を試験槽３に導入して循環させ、低温さらしと
高温さらしとの交互の繰り返し試験を行うことができ
る。
【０００９】冷熱衝撃試験装置の操作制御部分２００
は、前記ＰＩＤ制御部３１に加えて、試験条件切換時の
温度制御部分として、設定値変更検出手段としての前記
温度設定部３２及び設定変更検出部４、温度上昇率測定
手段又は温度下降率測定手段としての試験槽３の温度セ
ンサ３３及び温度変化率計算部５、温度上昇率付与手段
又は温度下降率付与手段としての温度変化率設定部６、
比較手段としての温度変化率比較部７、指示手段として
の切換制御部８及び最大出力付与器９、等を備えてい
る。
は、前記ＰＩＤ制御部３１に加えて、試験条件切換時の
温度制御部分として、設定値変更検出手段としての前記
温度設定部３２及び設定変更検出部４、温度上昇率測定
手段又は温度下降率測定手段としての試験槽３の温度セ
ンサ３３及び温度変化率計算部５、温度上昇率付与手段
又は温度下降率付与手段としての温度変化率設定部６、
比較手段としての温度変化率比較部７、指示手段として
の切換制御部８及び最大出力付与器９、等を備えてい
る。
【００１０】本体部分１００の予熱槽１内には、前記加
熱器１１と共に、試験槽３を介して高温空気を循環させ
るための高温主送風機１２及び高温空気を内部循環させ
る補助送風機１３が設けられている。予冷槽２内には、
前記冷却装置２１と共に、試験槽３を介して低温空気を
循環させる低温送風機２２及び冷熱量を蓄積する蓄冷器
２３が設けられている。冷却装置２１は、本例では冷凍
機２１ａ及び冷却温度調整用の温調加熱器２１ｂで構成
されている。冷凍機２１ａには、図示していないが、冷
却用の蒸発器及びこれを通過させて低温空気を供給し槽
内循環も可能にする送風機が設けられている。
熱器１１と共に、試験槽３を介して高温空気を循環させ
るための高温主送風機１２及び高温空気を内部循環させ
る補助送風機１３が設けられている。予冷槽２内には、
前記冷却装置２１と共に、試験槽３を介して低温空気を
循環させる低温送風機２２及び冷熱量を蓄積する蓄冷器
２３が設けられている。冷却装置２１は、本例では冷凍
機２１ａ及び冷却温度調整用の温調加熱器２１ｂで構成
されている。冷凍機２１ａには、図示していないが、冷
却用の蒸発器及びこれを通過させて低温空気を供給し槽
内循環も可能にする送風機が設けられている。
【００１１】試験槽３には、高温空気入口及び出口のダ
ンパー１４及び１５と低温空気入口及び出口のダンパー
２４及び２５とが装着されている。これらの開閉によ
り、上記の如く高温又は低温空気が導入され、内部に入
れられる電気・電子機器やそれらの部品等の試料Ｗを高
温さらし及び低温さらしの繰り返しによって冷熱衝撃試
験できるようになっている。図の実線及び鎖線はそれぞ
れ試料Ｗの低温さらし及び高温さらし時のダンパーの開
閉状態を示す。なお、図示していないが、通常これらの
試験と組み合わせて常温さらし試験もできるように、外
気の吸入排出口及びそれらのダンパ等が設けられる。符
号３３は温度センサである。
ンパー１４及び１５と低温空気入口及び出口のダンパー
２４及び２５とが装着されている。これらの開閉によ
り、上記の如く高温又は低温空気が導入され、内部に入
れられる電気・電子機器やそれらの部品等の試料Ｗを高
温さらし及び低温さらしの繰り返しによって冷熱衝撃試
験できるようになっている。図の実線及び鎖線はそれぞ
れ試料Ｗの低温さらし及び高温さらし時のダンパーの開
閉状態を示す。なお、図示していないが、通常これらの
試験と組み合わせて常温さらし試験もできるように、外
気の吸入排出口及びそれらのダンパ等が設けられる。符
号３３は温度センサである。
【００１２】試験条件切換時の温度制御部分の設定変更
検出部４は、温度設定部３２で設定された温度が低温か
ら高温又は高温から低温に変更されたどうかを検出す
る。即ち、前の設定値を記憶しておき、後の設定値を取
り入れて両者を比較し、設定温度の低温から高温への切
り換え又はこの反対の切り換えを検出する。
検出部４は、温度設定部３２で設定された温度が低温か
ら高温又は高温から低温に変更されたどうかを検出す
る。即ち、前の設定値を記憶しておき、後の設定値を取
り入れて両者を比較し、設定温度の低温から高温への切
り換え又はこの反対の切り換えを検出する。
【００１３】設定値は、低温さらし及び高温さらしの繰
り返し試験時には、例えば図４に示す如く、一定の時間
間隔ｔ1 、ｔ2 で−６５°Ｃの低温Ｔ1 から１５０°Ｃ
の高温Ｔ2 までの温度変化を繰り返すように、タイマ等
を介在させて通常自動的に設定される。但し、マニュア
ル設定も可能であることは勿論である。この例では、設
定変更検出部４がＴ1 を記憶しているときに、自動又は
手動操作によって温度設定部３２でＴ2 が設定されたと
すると、これらを比較し、低温から高温への切換え、即
ち、低温さらしモードから高温さらしモードに変更され
たことが検出される。
り返し試験時には、例えば図４に示す如く、一定の時間
間隔ｔ1 、ｔ2 で−６５°Ｃの低温Ｔ1 から１５０°Ｃ
の高温Ｔ2 までの温度変化を繰り返すように、タイマ等
を介在させて通常自動的に設定される。但し、マニュア
ル設定も可能であることは勿論である。この例では、設
定変更検出部４がＴ1 を記憶しているときに、自動又は
手動操作によって温度設定部３２でＴ2 が設定されたと
すると、これらを比較し、低温から高温への切換え、即
ち、低温さらしモードから高温さらしモードに変更され
たことが検出される。
【００１４】温度変化率計算部５は、タイマを内蔵して
いて、試験槽の温度センサ３３の測定値を短い時間間隔
をおいて複数回として例えば２回入力し、この間の検出
値の差を経過した時間で割って温度変化率Ｔ´pv＝dT/d
t(pv) を算出し、これを試験槽の測定温度変化率とす
る。計算値がプラスのときには温度上昇率とし、マイナ
スのときには温度下降率とする。マイナスのときには、
以下においては絶対値の大小によって判断される。
いて、試験槽の温度センサ３３の測定値を短い時間間隔
をおいて複数回として例えば２回入力し、この間の検出
値の差を経過した時間で割って温度変化率Ｔ´pv＝dT/d
t(pv) を算出し、これを試験槽の測定温度変化率とす
る。計算値がプラスのときには温度上昇率とし、マイナ
スのときには温度下降率とする。マイナスのときには、
以下においては絶対値の大小によって判断される。
【００１５】温度変化率設定部６では、予熱槽１又は予
冷槽２の空気が試験槽３に導入されて循環され、予熱槽
１の放熱効果又は予冷槽２の吸熱効果がなくなり、試験
槽３と同程度の温度になったときの値である温度均衡時
近傍温度上昇率又は下降率を設定によって付与すること
ができる。なお、上昇率及び下降率の両方を変化率Ｔ´
sv＝dT/dt(sv) とする。又、温度均衡時近傍温度上昇
率、下降率又は変化率を、以下では「中和時上昇率」
「中和時下降率」又は「中和時変化率」という。
冷槽２の空気が試験槽３に導入されて循環され、予熱槽
１の放熱効果又は予冷槽２の吸熱効果がなくなり、試験
槽３と同程度の温度になったときの値である温度均衡時
近傍温度上昇率又は下降率を設定によって付与すること
ができる。なお、上昇率及び下降率の両方を変化率Ｔ´
sv＝dT/dt(sv) とする。又、温度均衡時近傍温度上昇
率、下降率又は変化率を、以下では「中和時上昇率」
「中和時下降率」又は「中和時変化率」という。
【００１６】更に説明すると、例えば予熱槽１では、補
助送風機１３が連続運転されていると共に、加熱器１１
が高温さらし時の温度より少し高い温度に制御されてい
て、槽内では高温空気が循環され、槽内の装備品や内壁
等の熱保有体がこれらと同じ温度になっていて、高温熱
量を保有している。その結果、ダンパー１４、１５が開
かれると、低温状態になっている試験槽に予熱槽内の空
気が送られて循環され、予熱槽が試験槽に保有する高温
熱量を移転する放熱作用をなす。そして、この放熱作用
とヒータの加熱熱量とによって試験槽３内の温度が次第
に上昇するが、一方では、予熱槽１内の蓄熱温度が低下
するため、両槽の温度が接近して放熱作用がなくなり、
両槽が温度的に中和した状態になる。
助送風機１３が連続運転されていると共に、加熱器１１
が高温さらし時の温度より少し高い温度に制御されてい
て、槽内では高温空気が循環され、槽内の装備品や内壁
等の熱保有体がこれらと同じ温度になっていて、高温熱
量を保有している。その結果、ダンパー１４、１５が開
かれると、低温状態になっている試験槽に予熱槽内の空
気が送られて循環され、予熱槽が試験槽に保有する高温
熱量を移転する放熱作用をなす。そして、この放熱作用
とヒータの加熱熱量とによって試験槽３内の温度が次第
に上昇するが、一方では、予熱槽１内の蓄熱温度が低下
するため、両槽の温度が接近して放熱作用がなくなり、
両槽が温度的に中和した状態になる。
【００１７】その後、試験槽３は加熱器１１の加熱量だ
けで昇温する。又、試験槽３内の温度が上昇すると、予
熱槽１をある程度再加熱することにもなる。試験槽３の
中和時温度上昇率とは、このような状態になったときの
近傍の温度上昇率を言う。そして、本例では、この中和
時温度上昇率を、実際の装置毎に予め熱量計算したり試
験することによって求めておき、その値を温度変化率設
定部６で設定することによって付与するようにしてい
る。但し、例えば各槽の適当な位置の壁面やその近傍に
温度センサを設け、これらの温度が一定値以内に接近し
ているときの実測値を中和時温度変化率とし、これを自
動的に付与できるようにすることも可能である。
けで昇温する。又、試験槽３内の温度が上昇すると、予
熱槽１をある程度再加熱することにもなる。試験槽３の
中和時温度上昇率とは、このような状態になったときの
近傍の温度上昇率を言う。そして、本例では、この中和
時温度上昇率を、実際の装置毎に予め熱量計算したり試
験することによって求めておき、その値を温度変化率設
定部６で設定することによって付与するようにしてい
る。但し、例えば各槽の適当な位置の壁面やその近傍に
温度センサを設け、これらの温度が一定値以内に接近し
ているときの実測値を中和時温度変化率とし、これを自
動的に付与できるようにすることも可能である。
【００１８】温度変化率比較部７は、試験槽の温度セン
サ３３で測定され温度変化率計算部５で計算された測定
温度変化率と前記温度変化率設定部６によって付与され
た中和時温度変化率とを入力してこれらを比較する。こ
の比較は、それぞれの変化率の絶対値で行われる。
サ３３で測定され温度変化率計算部５で計算された測定
温度変化率と前記温度変化率設定部６によって付与され
た中和時温度変化率とを入力してこれらを比較する。こ
の比較は、それぞれの変化率の絶対値で行われる。
【００１９】切換制御部８及び最大出力付与部９は、設
定変更検出部４が設定された温度が低温から高温又は高
温から低温に変更されたことを検出した場合において、
温度変化率比較部７が測定温度上昇率又は下降率Ｔ´pv
と設定された中和時温度上昇率又は下降率Ｔ´svとがほ
ぼ同じになったと判断するまで、ＰＩＤ制御部３１の制
御に優先して加熱器１１の加熱能力又は冷却装置２１の
冷却能力を大きくするように指示できる。
定変更検出部４が設定された温度が低温から高温又は高
温から低温に変更されたことを検出した場合において、
温度変化率比較部７が測定温度上昇率又は下降率Ｔ´pv
と設定された中和時温度上昇率又は下降率Ｔ´svとがほ
ぼ同じになったと判断するまで、ＰＩＤ制御部３１の制
御に優先して加熱器１１の加熱能力又は冷却装置２１の
冷却能力を大きくするように指示できる。
【００２０】即ち、切換制御部８は、予熱槽１又は予冷
槽２と試験槽３との間が温度均衡状態に到達していない
と判断したときは、最大出力設定部９の方に動作信号を
送り、ＰＩＤ制御部３１の制御に優先して、加熱器１１
又は冷却装置２１の出力を例えば１００％にするように
指示できる。これにより、加熱器１１又は冷却装置２１
の駆動器１１ａ又は２１ｃを介してそれぞれを１００％
出力で駆動する。なお本例では、冷却装置２１の出力を
１００％にするために、温調用加熱器２１ｂを設けてそ
の出力を０％にするようにしている。比較部７が測定温
度変化率Ｔ´pvより中和時温度変化率Ｔ´svの方が大き
くなったと判断したときには、当然ＰＩＤ制御部３１に
よる制御に移行する。
槽２と試験槽３との間が温度均衡状態に到達していない
と判断したときは、最大出力設定部９の方に動作信号を
送り、ＰＩＤ制御部３１の制御に優先して、加熱器１１
又は冷却装置２１の出力を例えば１００％にするように
指示できる。これにより、加熱器１１又は冷却装置２１
の駆動器１１ａ又は２１ｃを介してそれぞれを１００％
出力で駆動する。なお本例では、冷却装置２１の出力を
１００％にするために、温調用加熱器２１ｂを設けてそ
の出力を０％にするようにしている。比較部７が測定温
度変化率Ｔ´pvより中和時温度変化率Ｔ´svの方が大き
くなったと判断したときには、当然ＰＩＤ制御部３１に
よる制御に移行する。
【００２１】図２及び図３は、以上のような試験条件切
換時の温度制御部分による制御フローの一例を示す。こ
の制御が開始されると、設定変更検出部４で試験槽３の
設定温度Ｔsv2 が前の設定温度Ｔsv1 から変更されたど
うかを判断し（Ｓー１）、続いてその変更値が前の値よ
り大きいか小さいかを判断する（Ｓー２）。これによ
り、低温さらしから高温さらしへの変更又は高温さらし
から低温さらしへの変更の何れであるかが判別される。
換時の温度制御部分による制御フローの一例を示す。こ
の制御が開始されると、設定変更検出部４で試験槽３の
設定温度Ｔsv2 が前の設定温度Ｔsv1 から変更されたど
うかを判断し（Ｓー１）、続いてその変更値が前の値よ
り大きいか小さいかを判断する（Ｓー２）。これによ
り、低温さらしから高温さらしへの変更又は高温さらし
から低温さらしへの変更の何れであるかが判別される。
【００２２】Ｔsv2 がＴsv1 より大きくなっている場
合、即ち低温さらしから高温さらしに設定変更されてい
る場合には、本例では、温度変化率比較部７に追加機能
を設け、現在の試験槽の温度Ｔpvと設定温度Ｔsv2 ＋ｘ
とを比較するようにしている（Ｓー３）。これにより、
前者が後者より小さいときには、即ち、低温から高温に
設定変更された場合において、ヒステリシスx を加えて
も温度の実測値が設定値に到達していないときには、そ
の結果を切換制御部８に送り、最大出力付与部９を作動
させ、加熱器１１を１００％出力で駆動する（Ｓー
４）。なお、このステップ（Ｓー３）を設けるのは、ノ
イズや外乱又は過渡期の制御乱れ等に対応できるように
するためである。
合、即ち低温さらしから高温さらしに設定変更されてい
る場合には、本例では、温度変化率比較部７に追加機能
を設け、現在の試験槽の温度Ｔpvと設定温度Ｔsv2 ＋ｘ
とを比較するようにしている（Ｓー３）。これにより、
前者が後者より小さいときには、即ち、低温から高温に
設定変更された場合において、ヒステリシスx を加えて
も温度の実測値が設定値に到達していないときには、そ
の結果を切換制御部８に送り、最大出力付与部９を作動
させ、加熱器１１を１００％出力で駆動する（Ｓー
４）。なお、このステップ（Ｓー３）を設けるのは、ノ
イズや外乱又は過渡期の制御乱れ等に対応できるように
するためである。
【００２３】次に、温度変化率比較部７で実際の温度上
昇率Ｔ´pvと温度変化率設定部６で設定された中和時温
度上昇率Ｔ´svと比較し（Ｓー５）、前者が後者と同等
以下の値になっていれば、即ち予熱槽１と試験槽３とが
温度的に中和状態になれば、ＰＩＤ制御部３１による制
御の初期値を決定するために更にＴpvとＴsv2 との比較
し（Ｓー６）、前者が後者より小さい通常の値になって
いれば、初期操作量を１００％にしてＰＩＤ制御部３１
を作動させ（Ｓー７）、ノイズや外乱又は過渡期の制御
乱れ等のためにＴpvがＴsv2 より小さくなっていた場合
には、初期操作量ｙでＰＩＤ制御部３１を作動させる
（Ｓー８）。
昇率Ｔ´pvと温度変化率設定部６で設定された中和時温
度上昇率Ｔ´svと比較し（Ｓー５）、前者が後者と同等
以下の値になっていれば、即ち予熱槽１と試験槽３とが
温度的に中和状態になれば、ＰＩＤ制御部３１による制
御の初期値を決定するために更にＴpvとＴsv2 との比較
し（Ｓー６）、前者が後者より小さい通常の値になって
いれば、初期操作量を１００％にしてＰＩＤ制御部３１
を作動させ（Ｓー７）、ノイズや外乱又は過渡期の制御
乱れ等のためにＴpvがＴsv2 より小さくなっていた場合
には、初期操作量ｙでＰＩＤ制御部３１を作動させる
（Ｓー８）。
【００２４】外乱等によりステップ（Ｓー３）で既にＴ
pvが（Ｔsv2 ＋ｘ）より大きくなっている場合には、初
期操作量０でＰＩＤ制御部３１を作動させる（Ｓー
９）。上記初期操作量ｙは、例えばＴpvとＴsv2 との偏
差に対応した値に決定される。ステップ（Ｓ−５）で中
和点に到達していないと判断された場合には、一定の制
御周期でステップ（Ｓ−３）からの制御が繰り返され
る。その結果、中和点までは加熱器が１００％出力で駆
動され、昇温時間が速くなる。
pvが（Ｔsv2 ＋ｘ）より大きくなっている場合には、初
期操作量０でＰＩＤ制御部３１を作動させる（Ｓー
９）。上記初期操作量ｙは、例えばＴpvとＴsv2 との偏
差に対応した値に決定される。ステップ（Ｓ−５）で中
和点に到達していないと判断された場合には、一定の制
御周期でステップ（Ｓ−３）からの制御が繰り返され
る。その結果、中和点までは加熱器が１００％出力で駆
動され、昇温時間が速くなる。
【００２５】図３は、ダンパー１４、１５が閉鎖され２
４、２５が開かれ、高温さらしから低温さらしに設定変
更されたときの制御フローを示す。図２に示すステップ
（Ｓー２）でＴsv2 がＴsv1 より小さいことが検出され
ると、図１に示す冷却装置２１の温調用加熱器２１ｂが
制御される。即ち、図２の場合と同様に、切換制御部８
で最大出力付与部９を作動させ、温調用加熱器２１ｂの
出力を０％にして冷却装置２１の出力を１００％にし
（Ｓー１）、以下のステップ（Ｓー２〜５）では図２の
（Ｓー５〜８）と全く同様の制御を行う。なお、Ｔ´pv
とＴ´svとを絶対値で比較するのは、温度上昇時と温度
下降時とを同様に扱うためである。低温さらしモードへ
の切換時にも、中和点までは冷却装置の能力が１００％
に維持されるので、試験槽の温度下降速度が速くなる。
４、２５が開かれ、高温さらしから低温さらしに設定変
更されたときの制御フローを示す。図２に示すステップ
（Ｓー２）でＴsv2 がＴsv1 より小さいことが検出され
ると、図１に示す冷却装置２１の温調用加熱器２１ｂが
制御される。即ち、図２の場合と同様に、切換制御部８
で最大出力付与部９を作動させ、温調用加熱器２１ｂの
出力を０％にして冷却装置２１の出力を１００％にし
（Ｓー１）、以下のステップ（Ｓー２〜５）では図２の
（Ｓー５〜８）と全く同様の制御を行う。なお、Ｔ´pv
とＴ´svとを絶対値で比較するのは、温度上昇時と温度
下降時とを同様に扱うためである。低温さらしモードへ
の切換時にも、中和点までは冷却装置の能力が１００％
に維持されるので、試験槽の温度下降速度が速くなる。
【００２６】図４は、低温さらしモードと高温さらしモ
ードとを交互に切り換えたときの試験槽温度の変化状態
の一例を示す。例えば点Ｐ1 で設定温度が低温Ｔ1 から
高温Ｔ2 に切り換えられ、ダンパー２４、２５が閉じて
ダンパー１４、１５が開くと、予熱槽内の高温空気が試
験槽に流入し、予熱槽の蓄熱量が加熱器の加熱量と共に
試験槽に持ち込まれ、試験槽の温度が急上昇する。この
ようなときに加熱器出力のＰＩＤ制御を継続すると、急
激な温度変化を外乱による温度の暴走と判断し、加熱器
出力を下げるように操作されるが、以上のように、点Ｐ
1 で加熱出力を１００％にするので、温度上昇曲線のＣ
部分は最大又はこれに近い温度上昇率Ｔ´pv＝ tanθ1
で推移する。
ードとを交互に切り換えたときの試験槽温度の変化状態
の一例を示す。例えば点Ｐ1 で設定温度が低温Ｔ1 から
高温Ｔ2 に切り換えられ、ダンパー２４、２５が閉じて
ダンパー１４、１５が開くと、予熱槽内の高温空気が試
験槽に流入し、予熱槽の蓄熱量が加熱器の加熱量と共に
試験槽に持ち込まれ、試験槽の温度が急上昇する。この
ようなときに加熱器出力のＰＩＤ制御を継続すると、急
激な温度変化を外乱による温度の暴走と判断し、加熱器
出力を下げるように操作されるが、以上のように、点Ｐ
1 で加熱出力を１００％にするので、温度上昇曲線のＣ
部分は最大又はこれに近い温度上昇率Ｔ´pv＝ tanθ1
で推移する。
【００２７】両室の温度が中和点Ｐ2 に近づくと、予熱
槽熱量の持込み量が減少するため、加熱器出力が１００
％であっても試験槽の温度上昇率は低下する。そして、
中和温度になると、試験槽は加熱器の出力だけで加熱さ
れる。このような状態のときに、加熱器出力１００％制
御からＰＩＤ制御に移行する。従って、ＰＩＤ制御が暴
走することなく、このときの状況に適合した制御を行な
う。その結果、加熱器の能力を最も効率良く利用するこ
とができ、モード切換から高温到達までの時間ｔを最短
にして、試験能率を上げることができる。なお、中和点
Ｐ2 が高温Ｔ2に近い位置にあるのは、通常予熱槽が試
験槽よりも十分大きい熱容量を持つためである。
槽熱量の持込み量が減少するため、加熱器出力が１００
％であっても試験槽の温度上昇率は低下する。そして、
中和温度になると、試験槽は加熱器の出力だけで加熱さ
れる。このような状態のときに、加熱器出力１００％制
御からＰＩＤ制御に移行する。従って、ＰＩＤ制御が暴
走することなく、このときの状況に適合した制御を行な
う。その結果、加熱器の能力を最も効率良く利用するこ
とができ、モード切換から高温到達までの時間ｔを最短
にして、試験能率を上げることができる。なお、中和点
Ｐ2 が高温Ｔ2に近い位置にあるのは、通常予熱槽が試
験槽よりも十分大きい熱容量を持つためである。
【００２８】中和点Ｐ2 では、曲線Ｃ部分に較べて温度
上昇率Ｔ´pv＝ tanθ2 が十分小さくなり、計算等で求
めた中和時温度上昇率である設定値Ｔ´svが正確で測定
値と一致していれば、丁度中和点Ｐ2 でＰＩＤ制御に移
行する。しかし、測定温度変化率Ｔ´pvは中和点Ｐ2 の
近傍で大きく変化するので、設定値Ｔ´pvがそれ程正確
でなくても、この近傍で確実にＰＩＤ制御への移行が実
行される。従って、本発明の制御方式によれば、加熱器
の出力が有効に利用されると共に、試験槽温度がオーバ
ーシュートするおそれがなく、試験槽温度を安定して高
温Ｔ2 へ到達させることができる。
上昇率Ｔ´pv＝ tanθ2 が十分小さくなり、計算等で求
めた中和時温度上昇率である設定値Ｔ´svが正確で測定
値と一致していれば、丁度中和点Ｐ2 でＰＩＤ制御に移
行する。しかし、測定温度変化率Ｔ´pvは中和点Ｐ2 の
近傍で大きく変化するので、設定値Ｔ´pvがそれ程正確
でなくても、この近傍で確実にＰＩＤ制御への移行が実
行される。従って、本発明の制御方式によれば、加熱器
の出力が有効に利用されると共に、試験槽温度がオーバ
ーシュートするおそれがなく、試験槽温度を安定して高
温Ｔ2 へ到達させることができる。
【００２９】点Ｐ3 で設定温度を高温Ｔ2 から低温Ｔ1
に切り換えたときには、温度は下降するが、上記と同様
の温度変化傾向になる。即ち、予冷槽内の低温空気が試
験槽に流入し、蓄冷器２４を含む予冷槽の蓄熱量が冷却
装置の冷却量と共に試験槽に持ち込まれ、試験槽の温度
が急下降する。この場合、点Ｐ3 で冷却出力を１００％
にするので、温度下降曲線のＣ´部分は最大又はこれに
近い温度下降率Ｔ´pv＝ tanθ3 の絶対値で推移する。
に切り換えたときには、温度は下降するが、上記と同様
の温度変化傾向になる。即ち、予冷槽内の低温空気が試
験槽に流入し、蓄冷器２４を含む予冷槽の蓄熱量が冷却
装置の冷却量と共に試験槽に持ち込まれ、試験槽の温度
が急下降する。この場合、点Ｐ3 で冷却出力を１００％
にするので、温度下降曲線のＣ´部分は最大又はこれに
近い温度下降率Ｔ´pv＝ tanθ3 の絶対値で推移する。
【００３０】両室の温度が中和点Ｐ4 に近づくと温度下
降率は低下し、中和温度になると、冷却出力１００％制
御からＰＩＤ制御に移行し、このときの状況に適合した
制御を行なう。その結果、冷却装置の能力を最も効率良
く利用することができ、モード切換から低温到達までの
時間ｔ´を最短にして、試験能率を上げることができ
る。又、中和点Ｐ4 では、曲線Ｃ´部分に較べて温度下
降率Ｔ´pv＝ tanθ4 の絶対値が十分小さくなり、中和
点Ｐ4 又はその近傍で確実にＰＩＤ制御への移行が実行
され、試験槽温度をオーバーシュートさせることなく安
定して低温Ｔ1 へ到達させることができる。なお、中和
点Ｐ4 が低温に近い位置にあるのは、蓄熱器２３同の熱
保有体を持つ予冷槽が試験槽よりも十分大きい熱容量を
持つためである。
降率は低下し、中和温度になると、冷却出力１００％制
御からＰＩＤ制御に移行し、このときの状況に適合した
制御を行なう。その結果、冷却装置の能力を最も効率良
く利用することができ、モード切換から低温到達までの
時間ｔ´を最短にして、試験能率を上げることができ
る。又、中和点Ｐ4 では、曲線Ｃ´部分に較べて温度下
降率Ｔ´pv＝ tanθ4 の絶対値が十分小さくなり、中和
点Ｐ4 又はその近傍で確実にＰＩＤ制御への移行が実行
され、試験槽温度をオーバーシュートさせることなく安
定して低温Ｔ1 へ到達させることができる。なお、中和
点Ｐ4 が低温に近い位置にあるのは、蓄熱器２３同の熱
保有体を持つ予冷槽が試験槽よりも十分大きい熱容量を
持つためである。
【００３１】
【発明の効果】以上の如く本発明によれば、試験槽の温
度が低温から高温又は高温から低温に切り換えられると
加熱手段又は冷却手段で加熱又は冷却された予熱槽又は
予冷槽の気体が試験槽に導入されて循環されるので、試
験槽には加熱手段又は冷却手段の加熱熱量又は冷却熱量
と共に予熱槽又は予冷槽の保有する高温熱量又は低温熱
量が導入される。このときには、試験槽に与えられる加
熱熱量又は冷却熱量が多く、この状態を持続させること
によって試験槽を早く温度上昇又は温度下降させること
ができる。一方、この試験槽の温度は基本的にはＰＩＤ
制御の対象になっている。
度が低温から高温又は高温から低温に切り換えられると
加熱手段又は冷却手段で加熱又は冷却された予熱槽又は
予冷槽の気体が試験槽に導入されて循環されるので、試
験槽には加熱手段又は冷却手段の加熱熱量又は冷却熱量
と共に予熱槽又は予冷槽の保有する高温熱量又は低温熱
量が導入される。このときには、試験槽に与えられる加
熱熱量又は冷却熱量が多く、この状態を持続させること
によって試験槽を早く温度上昇又は温度下降させること
ができる。一方、この試験槽の温度は基本的にはＰＩＤ
制御の対象になっている。
【００３２】ここで、設定値変更検出手段と温度上昇率
又は下降率測定手段と温度上昇率又は下降率付与手段と
比較手段と指示手段とを設けているので、これらによ
り、温度設定部で設定された温度が変更されたかどうか
を検出し、設定された温度の変更が検出されると、ＰＩ
Ｄ制御部の制御に優先して加熱手段の加熱能力又は冷却
手段の冷却能力を大きくするように指示できるので、例
えばこれらの能力を１００％にすることができる。その
結果、設定変更時の急激な温度変化がＰＩＤ制御部の制
御能力を超えるような状態のときに、ＰＩＤ制御部によ
って加熱手段又は冷却手段の能力を低下させるような制
御が確実に防止される。
又は下降率測定手段と温度上昇率又は下降率付与手段と
比較手段と指示手段とを設けているので、これらによ
り、温度設定部で設定された温度が変更されたかどうか
を検出し、設定された温度の変更が検出されると、ＰＩ
Ｄ制御部の制御に優先して加熱手段の加熱能力又は冷却
手段の冷却能力を大きくするように指示できるので、例
えばこれらの能力を１００％にすることができる。その
結果、設定変更時の急激な温度変化がＰＩＤ制御部の制
御能力を超えるような状態のときに、ＰＩＤ制御部によ
って加熱手段又は冷却手段の能力を低下させるような制
御が確実に防止される。
【００３３】予熱槽又は予冷槽の高温又は低温気体が試
験槽を循環すると、試験槽の温度が上昇又は下降すると
共に予熱槽の温度が低下するか又は予冷槽の温度が上昇
し、各槽間の温度が均衡した状態になる。この時から
は、加熱手段又は冷却手段は試験槽と共に予熱槽又は予
冷槽もある程度加熱又は冷却しつつ試験槽を昇温又は降
温させるので、温度上昇率又は下降率が大幅に低下す
る。本発明では、比較手段により、測定温度上昇率又は
下降率と付与された温度均衡時近傍温度上昇率又は下降
率とを比較し、比較手段が測定値と付与値とが同程度に
なったと判断するまで指示手段がＰＩＤ制御を保留させ
るので、それまでの間、試験槽の温度上昇率又は温度下
降率を最大にし、昇温及び降温時間を最短にして試験能
率を上げることができる。
験槽を循環すると、試験槽の温度が上昇又は下降すると
共に予熱槽の温度が低下するか又は予冷槽の温度が上昇
し、各槽間の温度が均衡した状態になる。この時から
は、加熱手段又は冷却手段は試験槽と共に予熱槽又は予
冷槽もある程度加熱又は冷却しつつ試験槽を昇温又は降
温させるので、温度上昇率又は下降率が大幅に低下す
る。本発明では、比較手段により、測定温度上昇率又は
下降率と付与された温度均衡時近傍温度上昇率又は下降
率とを比較し、比較手段が測定値と付与値とが同程度に
なったと判断するまで指示手段がＰＩＤ制御を保留させ
るので、それまでの間、試験槽の温度上昇率又は温度下
降率を最大にし、昇温及び降温時間を最短にして試験能
率を上げることができる。
【００３４】一方、その後は原則的なＰＩＤ制御に復帰
するので、ＰＩＤ制御部が的確に試験槽の温度を制御を
することができる。その結果、設定変更時の強制的な大
出力付与制御を温度均衡時点でＰＩＤ制御に切り換える
ことにより、その後の試験槽の温度上昇を迅速且つ適正
な状態にし、到達温度のオーバーシュートも確実に防止
することができる。
するので、ＰＩＤ制御部が的確に試験槽の温度を制御を
することができる。その結果、設定変更時の強制的な大
出力付与制御を温度均衡時点でＰＩＤ制御に切り換える
ことにより、その後の試験槽の温度上昇を迅速且つ適正
な状態にし、到達温度のオーバーシュートも確実に防止
することができる。
【図１】本発明を適用した冷熱衝撃試験装置の全体構成
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図２】上記装置によって低温さらしから高温さらしに
切り換えたときの制御の一例を示すフローチャートであ
る。
切り換えたときの制御の一例を示すフローチャートであ
る。
【図３】上記装置によって高温さらしから低温さらしに
切り換えたときの制御の一例を示す部分フローチャート
である。
切り換えたときの制御の一例を示す部分フローチャート
である。
【図４】低温さらしと高温さらしとの切換時の試験槽温
度の変化状態を示す曲線図である。
度の変化状態を示す曲線図である。
１ 予熱槽 ２ 予冷槽 ３ 試験槽 ４ 設定変更検出部（設定値変更検出手
段） ５ 温度変化率計算部（温度上昇率及び下
降率測定手段） ６ 温度変化率付与部（温度上昇率及び下
降率付与手段） ７ 温度変化率比較部（比較手段） ８ 切換制御部（指示手段） ９ 最大出力付与部（指示手段） １１ 加熱器（加熱手段） ２１ 冷却装置（冷却手段） ２１ａ 冷凍機（冷却手段） ２１ｂ 温調用加熱器（冷却手段） ３１ ＰＩＤ制御部 ３２ 温度設定部（設定値変更検出手段） ３３ 温度センサ（温度上昇率及び下降率測
定手段）
段） ５ 温度変化率計算部（温度上昇率及び下
降率測定手段） ６ 温度変化率付与部（温度上昇率及び下
降率付与手段） ７ 温度変化率比較部（比較手段） ８ 切換制御部（指示手段） ９ 最大出力付与部（指示手段） １１ 加熱器（加熱手段） ２１ 冷却装置（冷却手段） ２１ａ 冷凍機（冷却手段） ２１ｂ 温調用加熱器（冷却手段） ３１ ＰＩＤ制御部 ３２ 温度設定部（設定値変更検出手段） ３３ 温度センサ（温度上昇率及び下降率測
定手段）
Claims (2)
- 【請求項１】 加熱手段を備えた予熱槽と冷却手段を備
えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温度設定部で設定さ
れた温度に制御される試験槽とを備え前記試験槽の温度
が低温から高温に切り換えられると前記加熱手段で加熱
された前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環
される冷熱衝撃試験装置において、 前記温度設定部で設定された温度が低温から高温に変更
されたかどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記
試験槽の温度の上昇率を測定する温度上昇率測定手段
と、前記予熱槽の気体が前記試験槽に導入されて循環さ
れ前記予熱槽の放熱効果がなくなった温度均衡時近傍の
前記試験槽の温度の上昇率を付与できる温度上昇率付与
手段と、前記温度上昇率測定手段によって測定された測
定温度上昇率と前記温度上昇率付与手段によって付与さ
れた温度均衡時近傍温度上昇率とを比較する比較手段
と、前記設定値変更検出手段が設定された温度が低温か
ら高温に変更されたことを検出した場合において前記比
較手段が前記測定温度上昇率と前記温度均衡時近傍温度
上昇率とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ
制御部の制御に優先して前記加熱手段の加熱能力を大き
くするように指示できる指示手段と、を有することを特
徴とする冷熱衝撃試験装置。 - 【請求項２】 加熱手段を備えた予熱槽と冷却手段を備
えた予冷槽とＰＩＤ制御部によって温度設定部で設定さ
れた温度に制御される試験槽とを備え前記試験槽の温度
が高温から低温に切り換えられると前記冷却手段で冷却
された前記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環
される冷熱衝撃試験装置において、 前記温度設定部で設定された温度が高温から低温に変更
されたどうかを検出する設定値変更検出手段と、前記試
験槽の温度の下降率を測定する温度下降率測定手段と、
前記予冷槽の気体が前記試験槽に導入されて循環され前
記予冷槽の吸熱効果がなくなった温度均衡時近傍の前記
試験槽の温度の下降率を付与できる温度下降率付与手段
と、前記温度下降率測定手段によって測定された測定温
度下降率と前記温度下降率付与手段によって付与された
温度均衡時近傍温度下降率とを比較する比較手段と、前
記設定値変更検出手段が設定された温度が高温から低温
に変更されたことを検出した場合において前記比較手段
が前記測定温度下降率と前記温度均衡時近傍温度下降率
とがほぼ同じになったと判断するまで前記ＰＩＤ制御部
の制御に優先して前記冷却手段の冷却能力を大きくする
ように指示できる指示手段と、を有することを特徴とす
る冷熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34377197A JP3724619B2 (ja) | 1997-11-27 | 1997-11-27 | 中和制御機能付き冷熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34377197A JP3724619B2 (ja) | 1997-11-27 | 1997-11-27 | 中和制御機能付き冷熱衝撃試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11160217A true JPH11160217A (ja) | 1999-06-18 |
| JP3724619B2 JP3724619B2 (ja) | 2005-12-07 |
Family
ID=18364121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34377197A Expired - Fee Related JP3724619B2 (ja) | 1997-11-27 | 1997-11-27 | 中和制御機能付き冷熱衝撃試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3724619B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103394378A (zh) * | 2013-07-09 | 2013-11-20 | 广州国技试验仪器有限公司 | 一种具有独立加热通道和制冷通道的试验箱 |
| CN106199255A (zh) * | 2016-06-30 | 2016-12-07 | 中国航空无线电电子研究所 | 一种高低温试验设备及其试验方法 |
| JP2017015434A (ja) * | 2015-06-29 | 2017-01-19 | 株式会社日立空調Ｓｅ | 環境試験装置 |
| CN116409578A (zh) * | 2023-05-22 | 2023-07-11 | 长三角一体化示范区(浙江嘉善)嘉芯半导体设备科技有限公司 | 一种存放样品的输送系统 |
| CN117434984A (zh) * | 2023-12-06 | 2024-01-23 | 重庆苏试四达试验设备有限公司 | 一种环境试验箱的温度控制系统及方法 |
-
1997
- 1997-11-27 JP JP34377197A patent/JP3724619B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103394378A (zh) * | 2013-07-09 | 2013-11-20 | 广州国技试验仪器有限公司 | 一种具有独立加热通道和制冷通道的试验箱 |
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| CN106199255A (zh) * | 2016-06-30 | 2016-12-07 | 中国航空无线电电子研究所 | 一种高低温试验设备及其试验方法 |
| CN106199255B (zh) * | 2016-06-30 | 2022-12-27 | 中国航空无线电电子研究所 | 一种高低温试验设备及其试验方法 |
| CN116409578A (zh) * | 2023-05-22 | 2023-07-11 | 长三角一体化示范区(浙江嘉善)嘉芯半导体设备科技有限公司 | 一种存放样品的输送系统 |
| CN117434984A (zh) * | 2023-12-06 | 2024-01-23 | 重庆苏试四达试验设备有限公司 | 一种环境试验箱的温度控制系统及方法 |
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| Publication number | Publication date |
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| JP3724619B2 (ja) | 2005-12-07 |
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