JP2000258131A - 非接触伸び計 - Google Patents

非接触伸び計

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JP2000258131A
JP2000258131A JP11061753A JP6175399A JP2000258131A JP 2000258131 A JP2000258131 A JP 2000258131A JP 11061753 A JP11061753 A JP 11061753A JP 6175399 A JP6175399 A JP 6175399A JP 2000258131 A JP2000258131 A JP 2000258131A
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JP11061753A
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English (en)
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Nobunari Takahashi
信成 高橋
Naoto Watanabe
直人 渡邉
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JT Tohsi Inc
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JT Tohsi Inc
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 試験片の破断伸び計測を高精度に、しかも効
率的に行い得る非接触伸び計を提供する。 【解決手段】 試験片Sに対する破断伸び試験の開始に
先立って該試験片に付された標線間の距離を初期標線間
距離Loとして計測した後(ステップS1)、試験片に
対する破断伸び試験を実行する(ステップS2)。そし
て試験片が破断したならば試験機本体から試験片を取り
外すことなく該試験機本体を駆動して、破断した各試験
片の破断面が互いに突き合わせる(ステップS4,S
5)。このようにして破断面を互いに突き合わせた状態
において標線間の距離を破断面突き合わせ標線間距離L
として計測する(ステップS6)。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、試験片の破断伸び
計測を高精度に、しかも効率的に行い得る非接触伸び計
に関する。
【0002】
【関連する背景技術】試験片の引っ張り試験は、試験片
の両端を支持した試験機本体にて該試験片に引っ張り荷
重を加えながら、その伸び量を計測することによりなさ
れる。特に最近では、該試験片の伸び方向に所定の距離
Loを隔てて平行に付した2本の標線をカメラにてそれ
ぞれ撮像し、その画像から上記各標線の位置変位をそれ
ぞれ求めることで前記試験片の伸び量を非接触に計測す
ることも行われている。
【0003】ところで引っ張り試験の1つに破断伸び試
験がある。この破断伸び試験は、引っ張り荷重を掛ける
ことで試験片を破断させ、その破断に至ったときの該試
験片の伸び率を求めることによってなされる。ちなみに
試験片が破断したときの伸び量は、破断した試験片の破
断面を互いに突き合わせ、この状態において該試験片の
伸び方向に予め所定の距離Loを隔てて平行に付した2
本の標線間の距離Lを計測することで、[L−Lo]と
して求められる。そして該試験片の破断伸び率K(%)は K(%) =[(L−Lo)/Lo]×100(%) として求められる。
【0004】具体的には、破断した一対の試験片を試験
機本体から取り外してこれらの破断試験片をその中心線
が一致するように位置合わせしながらその破断面を互い
に突き合わせ、この状態でその表面をセロハンテープ等
で固定した後、ノギス等を用いて標線間距離Lを計測し
ている。そして予め計測されている標線間距離Loとか
ら破断伸び率Kを計算している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上述した
如く一対の破断試験片の破断面を、その中心線を一致さ
せながら突き合わせるには手間が掛かり、しかもその破
断面を精度良く突き合わせることが困難である。特にそ
の破断面は、破断状況に起因して不揃いになり易く、そ
の中心線を一致させること自体が困難である。この為、
高精度な測定が期待できなかった。
【0006】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たもので、その目的は、試験片の破断伸び計測を高精度
に、しかも効率的に行うことのできる非接触伸び計を提
供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
べく本発明に係る非接触伸び計は、試験片の両端をそれ
ぞれ支持して該試験片に引っ張り荷重を加える試験機本
体と、前記試験片の伸び方向に所定の距離を隔てて該試
験片に平行に付された2本の標線をそれぞれ撮像するカ
メラとを備えてなり、前記試験片に対する引っ張り試験
の開始に先立って前記カメラにより撮像された画像中の
前記各標線イメージの位置から前記標線間の距離を計測
し(初期標線間距離計測手段)、その後、前記試験片に
対する引っ張り試験を実行し、この引っ張り試験により
前記試験片が破断したならば、破断した各試験片の破断
面が互いに突き合う位置まで前記試験機本体を駆動して
その破断面を突き合わせる(破断面突き合わせ手段)。
そして上記破断面が互いに突き合わせられた状態におい
て前記カメラにより撮像された画像中の前記各標線イメ
ージの位置から前記標線間の距離を計測する(破断面突
き合わせ標線間距離計測手段)ことを特徴としている。
【0008】即ち、本発明に係る非接触伸び計は、引っ
張り荷重を掛けることで試験片が破断したとき、該試験
片を試験機本体から取り外すことなしに、その破断面が
互いに突き合う位置まで前記試験機本体を駆動して破断
した試験片を突き合わせ、この状態において前記カメラ
により撮像された画像から前記標線間の距離を破断突き
合わせ標線間距離として計測することを特徴としてい
る。ちなみに上記破断した試験片の破断面の突き合わせ
は、例えば試験片の両端間に生じる荷重を検出しながら
行われる。
【0009】また前記破断面突き合わせ標線間距離計測
は、破断した試験片の各破断面を互いに突き合せた状態
における前記2本の標線間の距離を前記カメラにより撮
像された画像から検出される各標線の位置から、或いは
請求項2に記載するように前記引っ張り試験の実行に伴
って前記試験片が破断した後に検出される前記標線間の
距離と、破断した試験片の一方をその破断面が互いに突
き合う位置まで移動させたときの、該一方の試験片に付
された標線の変位距離とから求めることを特徴としてい
る。
【0010】また本発明の好ましい態様は、請求項3に
記載するように前記カメラとして、前記試験片の伸び方
向にそれぞれ移動可能に支持された第1および第2のカ
メラを用い、前記各標本線間距離計測手段は、上記第1
および第2のカメラの各位置とこれらの各カメラにより
それぞれ撮像された画像中における前記各標線イメージ
の位置とから前記各標線の位置をそれぞれ求めることを
特徴としている。
【0011】更に本発明は、請求項4に記載するように
前記初期標線間距離計測手段により計測された初期標線
間距離Loと、前記破断面突き合わせ標線間距離計測手
段により計測された破断面突き合わせ標線間距離Lとに
従い、前記試験片の破断伸び率を算出する手段を備える
ことを特徴としている。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の一
実施形態に係る非接触伸び計について説明する。図1は
この実施形態に係る非接触伸び計の概略構成を示してお
り、Sは図示しない試験機本体にその両端がそれぞれ装
着されて引っ張り試験に供せられる試験片、またR1,R
2は上記試験片Sに、予めその伸び方向に所定の距離Lo
を隔てて平行に付された2本の標線である。これらの各
標線R1,R2は、前記試験片Sの平行部に、例えば50
mmの距離を隔てて塗料等を用いて描かれた直線マーク
からなる。尚、複数本の試験片Sがロットを単位として
供給されて引っ張り試験に供される場合には、これらの
各試験片Sの略同一位置に前記各標線R1,R2がそれぞ
れ付される。
【0013】さて試験機本体に組み込まれて上記試験片
Sの伸びを、該試験片Sと非接触に計測する非接触伸び
計は、前記各標線R1,R2をそれぞれ撮像する高倍率の
第1および第2のカメラ1,2と、これらの各カメラ1,
2の側部に装着されて該カメラ1,2による撮像領域
(試験片Sの各標線部分)を照明する光源3,4とを備
えている。これらの各カメラ1,2は第1および第2の
移動ステージ5,6にそれぞれ支持されて前記試験片S
の伸び方向に沿って平行移動自在に設けられている。ち
なみに上記各ステージ5,6は、パルスモータ7,8によ
り駆動される送りねじ7a,8aに噛合し、前記パルスモ
ータ7,8の回転制御の下で前記試験片Sの伸び方向に
移動(上下動)されて位置調整されるようになってい
る。
【0014】尚、前記カメラ1,2は、例えばCCDイ
メージセンサ(エリアセンサ)を撮像素子として内蔵
し、前記各標線R1,R2をそれぞれ含む前記試験片Sの
部分的な表面像を、例えば略等倍の撮像倍率で近接撮像
(マクロ撮影)して高解像度の画像信号を得る如く構成
される。またカメラ1,2による前記各標線R1,R2を含
む表面像の撮像は合焦点状態で行われ、これによって常
に鮮明な画像が求められるようになっている。
【0015】しかして上述した如く各カメラ1,2によ
り撮像された前記各標線R1,R2を含む試験片Sの部分
的な表面像(画像)は、画像処理部11,12を介して
CPUからなる演算処理部13に取り込まれ、所定の画
像処理が施されて前記各画像中における標線イメージの
位置が検出される。そして前記各画像においてそれぞれ
検出された標線位置は、例えばディスプレイ14上に並
列に表示される。この際、前記各カメラ1,2にて撮像
された生の画像をTVモニタ(図示せず)に直接的に表
示しながら、前記演算処理部13にて求めた前記標線R
1,R2をそれぞれ含む処理画像を前記ディスプレイ14
上に表示するようにしても良い。
【0016】尚、前記ディスプレイ14には、前記各カ
メラ1,2の移動をマニュアル操作する為のソフトスイ
ッチや、カメラ1,2に対する初期設定等を指示する為
のソフトスイッチ、更には前記試験機本体の作動を制御
する為のソフトスイッチ等を表示したオペレーション領
域が設けられる。更にこのディスプレイ14には引っ張
り試験により計測された荷重と伸びとの関係をグラフ表
示するグラフ表示領域等が設けられる。このようなディ
スプレイ14の表示画面をインターフェースとして、引
っ張り試験に対する各種条件等の設定入力や、更には伸
び計に対する初期設定処理等が行われる。
【0017】さて前記演算処理部13は、予め準備され
た伸び計測用のソフトウェア・アプリケーションに従っ
て前記各カメラ1,2によりそれぞれ撮像された画像中
における標線イメージを検出して該標線イメージの重心
位置を求める機能を備えている。そして各画像において
求められた標線イメージの重心位置と、予め設定された
各画像中の基準位置(例えば画像中心)との差(画像上
の距離)から、前記標線が上記基準位置に位置付けられ
ていた状態からのずれ量、ひいては試験片Sの伸びに伴
う標線R1,R2の各変位量をそれぞれ検出するものとな
っている。
【0018】ちなみに上記各標線R1,R2の変位量は、
例えば前記カメラ1,2による撮像倍率と前記CCDイ
メージセンサの画素配列ピッチとに従って前記画像にお
ける1画素間の当たりの距離(単位距離)を予め求めて
おき、この単位距離を前記画像上で求められる標線イメ
ージの重心位置と基準位置との差(画像上の距離)に乗
じることにより算出される。この際、前記カメラ1,2
によりそれぞれ求められた画像信号を、適宜、内挿演算
を施しながら拡大処理し、この拡大処理された画像から
標線R1,R2の変位位置を検出することで、その計測精
度を高くすることも可能である。
【0019】しかして前記演算処理部13は、前記カメ
ラ1,2によってそれぞれ撮像される画像中から前記標
線イメージが外れるような場合、換言すれば試験片Sの
伸びに伴って標線R1,R2の位置が変位して前記各カメ
ラ1,2による撮像範囲の限界に達するようなときに位
置制御部15,16を起動する。そしてそのときに画像
上から求められている標線イメージの重心位置と前記基
準位置との差(画像上の距離)に従って、前記位置制御
部15,16の制御の下で前記パルスモータ7,8をそれ
ぞれ駆動し、前記試験片Sの伸びに伴う標線R1,R2の
移動方向にカメラ1,2をそれぞれ移動させている。上
記位置制御部15,16による前記各カメラ1,2の移動
は、例えば各カメラ1,2によりそれぞれ撮像される画
像中の標線イメージの重心位置が前記各画像における前
記基準位置となるように、即ち、撮像画像における基準
位置に前記標線R1,R2を捉えるように前記各カメラ1,
2の位置を制御して行われる。具体的には前記各位置制
御部15,16は、各画像から求められる前記標線イメ
ージの重心位置と前記画面の基準位置との差に相当する
分、前記パルスモータ7,8を駆動することでカメラ1,
2を移動させ、これによって試験片Sの伸びに伴う標線
R1,R2の移動に追従してカメラ1,2の位置を変化させ
るものとなっている。
【0020】ここで前記カメラ1,2によりそれぞれ撮
像された画像中における標線イメージの位置検出による
前記試験片Sの伸びの計測について簡単に説明すると、
試験片Sに付された2本の標線R1,R2は、図2に示す
ように試験片Sの上方向への引っ張りによる該試験片S
の伸びに伴い、次第に上方向に移動する。従って各標線
R1,R2をそれぞれ撮像する2台のカメラ1,2を、上記
各標線R1,R2の移動に伴って上方向に平行移動させ、
常に各標線R1,R2をその画像中心に捉えるようにすれ
ば、各カメラ1,2の位置P1,P2から標線R1,R2間の
距離Lを、また各カメラ1,2の移動距離から試験片S
の伸び量を求めることが可能となる。
【0021】具体的には上部カメラ(第1のカメラ)1
の位置をP1、下部カメラ(第2のカメラ)2の位置を
P2とした場合、標線R1,R2間の距離Lを L=P1−P2 として求めることができる。また上部カメラ(第1のカ
メラ)1の移動量をCH、下部カメラ(第2のカメラ)
2の移動量をCLとした場合、試験片Sの標線間の伸び
量Eを E=CH−CL として求めることができる。
【0022】尚、カメラ1,2の位置を固定した状態に
おいて、各カメラ1,2によりそれぞれ撮像される画像
中における標線イメージの位置変化から、試験片Sの伸
びに伴う標線R1,R2の位置をそれぞれ求めることもで
きる。具体的には前記カメラ1,2によりそれぞれ撮像
された画像における標線イメージの基準位置からの変位
量から、前記各標線R1,R2の変位量DH,DLをそれぞれ
求める。そしてこれらの標線R1,R2の変位量DH,DLか
ら前述したように試験片Sの標線R1,R2間の伸び量E
を E=DH−DL として求めることもできる。またこの場合、標線R1,R
2間の距離Lは、固定された上部および下部カメラ1,2
の各位置をP1,P2としてL=(P1+DH)−(P2+D
L)として求められる。尚、上記変位量DH,DLは、前述
したように画像上で検出される標線イメージの変位量
に、画素ピッチや撮像倍率等に依存する係数を乗じて求
められる。
【0023】しかしながらこのようにして求め得る標線
R1,R2間の伸び量Eには限界があり、標線R1,R2がカ
メラ1,2の視野から外れた場合には、当然のことなが
らその計測ができなくなる。従ってこの場合には、各画
像における標線イメージの位置が予め定められた撮像範
囲の限界に達したとき、前記パルスモータ7,8を駆動
することで各カメラ1,2がその基準位置に前記標線R
1,R2を捉えるようにそのカメラ位置を移動させ、その
ときの各カメラ1,2の移動量CH,CLを加えながら、前
述した如く各画像中の標線イメージの位置から求められ
る標線R1,R2の変位量DH,DLに基づいて標線間の伸び
量Eを E=(LH+CH)−(LL+CL) として求めるようにすれば良い。更に標線R1,R2間の
距離Lについては L=(P1+DH+CH)−(P2+DL+CL) として求めるようにすれば良い。
【0024】さて基本的には上述したようにして試験片
Sの伸び量E、および標線R1,R2間の距離Lを検出す
る非接触伸び計においてこの発明が特徴とするところ
は、次のように破断伸び試験を実行する機能を備えた点
にある。即ち、この破断伸び試験は、先ず、前記演算処
理部13において引っ張り試験の開始に先立って前記カ
メラ1,2によりそれぞ撮像された画像、および各カメ
ラ1,2の位置に従って図3(a)に示すように前記標線
R1,R2間の距離Loを初期標線間距離として計測する機
能(初期標線間距離計測手段)、その後、引っ張り試験
の実行に伴って試験片Sが図3(b)に示すように破断し
たとき、試験機本体を手動操作する等して前記引っ張り
荷重を掛けた向きと逆向きに試験機本体を作動させ、図
3(c)に示すように2つに分離した試験片S1,S2を互
いに接近させてその破断面を互いに突き合わせる機能
(破断面突き合わせ手段)、そしてこれらの破断面を突
き合わせた状態において前記前記カメラ1,2によりそ
れぞ撮像された画像、および各カメラ1,2の位置に従
って前記標線R1,R2間の距離Lを破断面突き合わせ標
線間距離として計測する機能(破断面突き合わせ標線間
距離計測手段)とを用いて実行される。
【0025】要すれば試験開始に先立って試験片Sに予
め付された標線R1,R2間の距離Loを計測した後、該試
験片Sに引っ張り荷重を加え、試験片Sが破断したなら
ば該試験片Sを試験機本体から取り外すことなしに前記
引っ張り荷重方向とは逆向きに変位させてその破断面を
互いに突き合わせ、破断面を突き合わせた状態で前記試
験片Sの標線R1,R2間の距離Lを計測することを特徴
としている。そしてこれらの計測された初期標線間距離
Loと破断面突き合わせ標線間距離Lとに従い、該試験
片Sの破断伸び率Kを算出することを特徴としている。
【0026】尚、図3において21,22は、試験機本
体に設けられて試験片Sの両端をそれぞれ支持するチャ
ックである。これらの各チャックは上部クロスヘッドお
よび下部クロスヘッドに取り付けられて該クロスヘッド
の上下動に伴い前記試験片Sに荷重を加える如く構成さ
れている。ちなみに引っ張り試験は、下部クロスヘッド
の位置を固定した状態で、上部クロスヘッドを上昇移動
させることにより前記試験片Sに引っ張り荷重を加えて
実行される。また破断した試験片の各破断面の突き合わ
せは前記上部クロスヘッドを下降させることにより行わ
れ、例えば前記各チャックにより支持された前記試験片
Sの両端間に荷重が生じたとき、これを破断面が突き合
わせられた状態として検出することによって行われる。
【0027】より具体的には図4にその概略的な処理手
順を示すように、先ず、試験機本体に試験片Sを装着
し、この状態において前記カメラ1,2により前記各標
線R1,R2を撮像して、その標線画像から標線R1,R2間
の距離Loを初期標線間距離として計測する[ステップ
S1]。しかる後、試験機本体を作動させて前記試験片
Sに引っ張り荷重を加える[ステップS2]。この試験
片Sへの引っ張り荷重の印加は、例えば前記下部クロス
ヘッドを固定した状態において上部クロスヘッドを上昇
させることによってなされる。しかして試験片Sの引っ
張りは、該試験片Sに加わる荷重を監視しながら行われ
る。この際、試験片Sの伸びに伴う標線R1,R2の変位
に追従して、その位置検出が行われることは言うまでも
ない。
【0028】しかして上記試験片Sの伸びが限界に達し
て該試験片Sが破断すると、これに伴って試験片Sに加
わっていた急激に荷重が零(0)となる。このような荷
重の変化を逐次判定することで試験片Sの破断が検出さ
れる[ステップS3]。換言すれば試験片Sに加わる荷
重が零(0)となるまで、試験片Sに引っ張り荷重が継
続的に加えられる。
【0029】さて試験片Sが破断すると、この破断を検
出して試験機本体の駆動が速やかに停止されて引っ張り
荷重の印加が停止されるが、破断により分離した上方の
試験片はその引っ張り慣性力を受けて図3(b)に示すよ
うにその破断位置よりも上方に変位する。但し、この上
方への変位はブレーキ機構等を用いることで或る程度の
範囲に抑えられる。そこで今度は、試験機本体をマニュ
アル操作する等して上部クロスヘッドを下降させ[ステ
ップS4]、つまり前述した引っ張り荷重方向とは逆向
きに試験片Sを変位させることでその破断面を互いに突
き合わせる。この破断面の突き合わせは、試験片Sの両
端に加わる荷重を検出しながら行われ、或る荷重が検出
されたとき、その荷重が破断面の突き合わせにより生じ
たものであると判断して実行される[ステップS5]。
尚、その破断面が互いに近接するまで目視により上部ク
ロスヘッドを下降させた後、荷重の発生を監視しながら
上記上部クロスヘッドを徐々に下降させて、その破断面
の無理な荷重を加えることなしに突き合わるようにする
ことが好ましい。
【0030】しかして試験片Sの破断面が、図3(c)に
示すように互いに突き合わされた場合には、次に前記カ
メラ1,2を用いて前記標線R1,R2間の距離Lを再度計
測し、その計測値を破断面突き合わせ標線間距離として
求める[ステップS6]。そしてこのようにして求めら
れた破断面突き合わせ標線間距離Lと、前述した如く試
験の開始に先立って求められた初期標線間距離Loとに
基づいて、その破断伸び率Kを算出する。
【0031】尚、破断面突き合わせ標線間距離Lを求め
るに際し、例えば図3(b)に示すように試験片Sが破断
した状態における標線R1,R2間の距離Lcを計測し、こ
の状態から上部クロスヘッドを下降させて図3(c)に示
すようにその破断面を互いに突き合わせる。この際、下
部クロスヘッドの位置は固定されたままであり、下側の
標線R2の位置が変化しないので、前記上部クロスヘッ
ドの下降に伴う上側の標線R1の下降量Ldだけを計測し L=Lc−Ld として破断面突き合わせ標線間距離Lを求めるようにす
ることも可能である。
【0032】かくしてこのようにして試験機本体を、引
っ張り荷重を加える向きとは逆向きに作動させて試験片
Sの破断面を互いに突き合わせ、その破断面突き合わせ
標線間距離Lを計測する本装置によれば、破断により2
つに分離した試験片S(S1,S2)を試験機本体から取
り外すことがないので、破断により分離した2つの試験
片S1,S2の破断面を正確に突き合わせることができ
る。しかもその中心線を正確に一致させて破断面を突き
合わせることができるので、その中心線のずれ等に起因
する誤差要因の入り込みを効果的に防止することができ
る。更には初期標線間距離Loの測定系と同じ測定系を
用いて破断面突き合わせ標線間距離Lを求めることがで
きるので、この点でもその試験精度を高めることができ
る等の効果が奏せられる。
【0033】また上述した機能を備えた本装置によれ
ば、破断した試験片S1,S2を試験機本体から取り外し
た後、その破断面を互いに突き合わせてセロハンテープ
等により両者を固定一体化する等の作業が不要なので、
その作業手間を大幅に軽減することができ、以て作業効
率の向上を図り得る等の効果が奏せられる。更には破断
面の突き合わせ作業についても、試験機本体が基本的に
備える荷重計測機能やクロスヘッドの上下駆動機構等を
有効に活用して実行することができるので、装置構成が
複雑化する等の虞もない等の効果が奏せられる。
【0034】尚、本発明は上述した実施形態に限定され
るものではない。例えば下部クロスヘッド側を下降させ
て試験片Sに引っ張り荷重を加えることも勿論可能であ
り、また標線R1,R2の変位の幅がカメラ1,2の視野範
囲に収まるならば、カメラ1,2を固定したまま標線R
1,R2の位置検出を行うことも可能である。またここで
は2台のカメラ1,2を用いて2本の標線R1,R2をそれ
ぞれ検出するようにしたが、1台のカメラ(ラインセン
サ)を用いて上記各標線R1,R2の位置を検出し、その
標線間距離を計測することも可能である。その他、本発
明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施する
ことができる。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、試
験片を破断伸び試験するに先立って該試験片に付された
標線間の距離を計測し、その後、試験片に引っ張り荷重
を加えることで破断伸び試験を実行する。そして試験片
が破断したとき、該試験片を試験機本体から取り外すこ
となしに試験機本体を駆動してその破断面を互いに突き
合わせ、この状態において前記標線間の距離を計測する
ので、ずれを招くことなくその破断面を正確に突き合わ
せて該試験片の破断伸び率を効率的に、しかも高精度に
計測し得る等の実用上多大なる効果が奏せられる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る非接触伸び計の要部
概略構成図。
【図2】図1に示す非接触伸び計における試験片に付さ
れた標線の検出作用を説明するための図。
【図3】本発明の特徴的な破断伸び試験の形態を模式的
に示す図。
【図4】本発明の特徴的な破断伸び試験の概略的な処理
手順を示す図。
【符号の説明】
1 第1のカメラ 2 第2のカメラ 11,12 画像処理部 13 演算処理部 14 ディスプレイ 15,16 位置制御部 S 試験片 R1,R2 標線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA17 AA22 AA65 BB13 BB15 BB28 CC00 DD04 DD06 EE00 FF04 FF42 FF67 GG13 JJ03 JJ05 JJ09 JJ26 NN20 PP02 PP11 PP22 QQ21 QQ23 QQ25 QQ27 QQ28 QQ31 SS02 SS13 2G061 AA01 AB03 BA20 DA07 DA20 EA01 EA02 EB07

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 試験片の両端をそれぞれ支持して該試験
    片に引っ張り荷重を加える試験機本体と、 前記試験片の伸び方向に所定の距離を隔てて該試験片に
    平行に付された2本の標線をそれぞれ撮像するカメラ
    と、 前記試験片に対する引っ張り試験の開始に先立って前記
    カメラにより撮像された画像中の前記各標線イメージの
    位置から前記標線間の距離を計測する初期標線間距離計
    測手段と、 前記引っ張り試験の実行に伴って前記試験片が破断した
    後、破断した試験片の各破断面が互いに突き合う位置ま
    で前記試験機本体を駆動する破断面突き合わせ手段と、 上記各破断面が互いに突き合わせられた状態において前
    記カメラにより撮像された画像中の前記標線イメージの
    位置から前記標線間の距離を計測する破断面突き合わせ
    標線間距離計測手段とを具備したことを特徴とする非接
    触伸び計。
  2. 【請求項2】 前記破断面突き合わせ標線間距離計測手
    段は、前記引っ張り試験の実行に伴って前記試験片が破
    断した後に検出される前記標線間の距離と、破断した試
    験片の一方をその破断面が互いに突き合う位置まで移動
    させたときの該一方の試験片に付された標線の変位距離
    とから、前記破断面突き合わせ標線間距離を求めること
    を特徴とする請求項1に記載の非接触伸び計。
  3. 【請求項3】 前記カメラは、前記試験片の伸び方向に
    それぞれ移動可能に支持された第1および第2のカメラ
    からなり、 前記各標線間距離計測手段は、第1および第2のカメラ
    の各位置とこれらの各カメラによりそれぞれ撮像された
    画像中における前記各標線イメージの位置とから前記各
    標線の位置をそれぞれ求めることを特徴とする請求項1
    に記載の非接触伸び計。
  4. 【請求項4】 請求項1に記載の非接触伸び計におい
    て、 前記初期標線間距離計測手段により計測された初期標線
    間距離と、前記破断面突き合わせ標線間距離計測手段に
    より計測された破断面突き合わせ標線間距離とに従い、
    前記試験片の破断伸び率を算出する手段を備えることを
    特徴とする非接触伸び計。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112213194A (zh) * 2020-11-04 2021-01-12 上海国缆检测中心有限公司 材料延伸率测试系统及方法
JPWO2021074943A1 (ja) * 2019-10-14 2021-04-22
WO2022074879A1 (ja) * 2020-10-09 2022-04-14 株式会社島津製作所 材料試験機

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021074943A1 (ja) * 2019-10-14 2021-04-22
WO2021074943A1 (ja) * 2019-10-14 2021-04-22 株式会社Fuji 測定装置、実装機、クランプ状態取得装置
JP7389130B2 (ja) 2019-10-14 2023-11-29 株式会社Fuji 測定装置、実装機、クランプ状態取得装置
WO2022074879A1 (ja) * 2020-10-09 2022-04-14 株式会社島津製作所 材料試験機
CN112213194A (zh) * 2020-11-04 2021-01-12 上海国缆检测中心有限公司 材料延伸率测试系统及方法

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