JP2000266517A - ガラス管の測定方法 - Google Patents
ガラス管の測定方法Info
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Abstract
赤外線領域の光のみを透過する結晶化ガラス製のガラス
管の同心度を正確に測定すること。 【解決手段】 本発明のガラス管1の測定方法は、ガラ
ス管1をレーザー光線2で走査し、外周1aの両エッジ
部1c、1dおよび内孔1bの両エッジ部1e、1fで
生じるレーザー光線2の光量の変化をセンサー8で感知
して電圧信号S1に変換し、電圧信号S1が信号レベル
V1、V2となる位置で、それぞれ両エッジ部の検出に
要する時間を計測して外周1a、内孔1bの中心位置1
h、1iを算出し、中心位置1hと中心位置1iとの距
離から同心度を測定するもので、信号レベルV2を、ガ
ラス管1を透過するレーザー光線2の光量に応じて調節
する。
Description
いたガラス管の同心度を測定する測定方法に関する。
ように行われている。図5に示すように、レーザー測定
装置3のレーザー光源4から出射された約680nmの
波長を有する赤色のレーザー光線2を、反射鏡を取り付
けた回転駆動あるいは往復駆動する反射体からなる偏向
手段5により所定の周期で偏向し、偏向されたレーザー
光線2をコリメータレンズ6により平行にしてガラス管
1の軸方向に対して直角に走査し、ガラス管1を透過し
たレーザー光線2を集光レンズ7でセンサー8の表面に
集光し、ガラス管1の外周1aおよび内孔1bの両エッ
ジ部で生じるレーザー光線2の光量の変化をセンサー8
で感知して電圧信号S1に変換する。処理部9では、ガ
ラス管1を走査した部分の電圧信号S1の立ち下がりR
1、信号ピークP1、P2、P3、立ち上がりR2と所
定の信号レベルV1とが交わって交点〜交点が生じ
る。これらの交点のうち、交点、が外周1aのエッ
ジ部1d、1cと、交点、が内孔1bのエッジ部1
e、1fと、それぞれ対応しており、交点の検出時刻
と交点の検出時刻とを平均して外周1aの両エッジ部
1c、1dの中心位置1hに対応する時刻toを算出
し、ほぼ同時に得られる交点の検出時刻と交点の検
出時刻とを平均して内孔1bの両エッジ部1e、1fの
中心位置1iに対応する時刻tiを算出し、時刻toか
ら時刻tiまでに要する時間を長さに換算してガラス管
1の外周1aの中心位置1hから内孔1bの中心位置1
iまでの距離を算出する。このような計測処理をガラス
管1の外周1aに対して複数方向に行うことにより、ガ
ラス管1の同心度を求めている。出力された同心度の値
は、表示部10に表示される。
管の光透過率が大きく変化した場合、図5(C)に示す
ように、ガラス管1の中央部を透過するレーザー光線2
aの光量が小さくなり、この光量の変化をセンサー8で
感知して電気信号S1aに変換すると、信号ピークP2
が信号レベルV1よりも低くなって交点、が生じ
ず、本来、外周1aの片方のエッジ1dに対応している
6番目に所定の信号レベルV1になる交点を内孔1b
のエッジ部1fに対応する交点として誤って検出して
しまい、ガラス管1の内孔1bの中心位置1iに対応す
る時刻tiを算出することができないという問題があ
る。
化ガラスからなり、可視光の光透過率が非常に低い場
合、従来の約680nmの波長を有する赤色のレーザー
光線2を用いて走査すると、レーザー光線2a等がガラ
ス管1を十分透過せず、ガラス管1を走査した電圧信号
S1の信号ピークP1、P2、P3が低くなり、図5
(C)と同様に、内孔1bの両エッジ部1e、1fを検
出できず、内孔1bの中心位置1iに対応する時刻ti
を算出することができないという問題がある。
ガラス管の同心度の測定方法を提供することを目的とす
る。
測定方法は、レーザー光線をガラス管の軸方向に対して
直角に、かつガラス管の外周に対して複数方向に走査
し、ガラス管の外周および内孔のそれぞれの両エッジ部
で生じるレーザー光線の光量の変化をセンサーで感知し
て電気信号に変換し、電気信号が所定の信号レベルとな
る位置を求めてガラス管の外周および内孔のそれぞれの
両エッジ部を検出し、一方のエッジ部の位置及び他方の
エッジ部の位置から外周および内孔のそれぞれの中心位
置を算出し、外周の中心位置と内孔の中心位置との距離
から同心度を測定するガラス管の測定方法において、内
孔の両エッジ部を検出する前記信号レベルを、ガラス管
を透過するレーザー光線の光量に応じて調節することを
特徴とする。
孔のエッジ部を検出する信号レベルを調節する際に、ガ
ラス管を透過するレーザー光線の基準となる光量の計測
位置をガラス管の外径寸法に応じて調節することを特徴
とする。
ガラス管が赤外線領域の光を透過する結晶化ガラスから
なり、ガラス管を透過するレーザー光線の波長が100
0nm以上であることを特徴とする。
両エッジ部を検出する信号レベルを、ガラス管を透過す
るレーザー光線の光量に応じて調節するので、従来の測
定方法では、ガラス管の光透過率が変わる度に行われて
いたレーザー光線が内孔の両エッジ部を検出する信号レ
ベルを手動で調節する作業が不要となり、レーザー光線
に対する光透過率が異なるガラス管の内孔の中心位置を
正確に測定することができる。
ば、内孔のエッジ部を検出する信号レベルを調節する際
に、ガラス管を透過するレーザー光線の基準となる光量
の計測位置をガラス管の外径寸法に応じて調節するの
で、従来ガラス管の外径寸法が変わる度に行われていた
ガラス管を透過するレーザー光線の基準となる光量の計
測位置を手動で調節する作業が不要となり、外径寸法が
異なるガラス管の内孔の中心位置を正確に測定すること
ができる。
ば、ガラス管が赤外線領域の光を透過する結晶化ガラス
からなり、ガラス管を透過するレーザー光線の波長が1
000nm以上であるので、従来測定できなかった結晶
化ガラス製のガラス管の内孔の中心位置を正確に測定す
ることができる。
明図であって、(A)はレーザー測定装置の概念図、
(B)はガラス管を走査するレーザー光線の説明図であ
る。この図で、1はガラス管を、2はレーザー光線を、
3はレーザー測定装置を、4はレーザー光源を、5はレ
ーザー光線2の偏向手段を、6はレーザー光線2のコリ
メータレンズを、7はレーザー光線2の集光レンズを、
8はレーザー光線2を電圧信号S1に変換するセンサー
を、9は電圧信号S1をガラス管1の外周1aの中心位
置1hおよび内孔1bの中心位置1iを算出し、同心度
に換算する処理部を、10は処理部9で算出されたガラ
ス管1の同心度を表示する表示部をそれぞれ示してい
る。図2は、ガラス管1の光透過率が変化した場合の処
理部9内部の説明図である。図3は、ガラス管1の外径
寸法が変化した場合の説明図である。図4は、ガラス管
1の外径寸法に応じてガラス管1を透過するレーザー光
線2の光量の計測位置1gを調節する調節手段11を有
し、かつガラス管1の測定位置1gを透過するレーザー
光線2の光量に応じて変化するVP値を検出し、信号レ
ベルV2を調節する処理部9の回路9aの説明図であ
る。
定器3は、図1に示すように、レーザーダイオードを用
いて1550nmの波長を有するレーザー光線2を出射
するレーザー光源4と、反射鏡を取り付けた反射体を回
転駆動あるいは振動させることによりレーザー光源4か
ら出射されたレーザー光線2を反射する偏向手段5と、
偏向手段5で偏向されたレーザー光線2を平行にしてガ
ラス管1の軸方向に対して直角に走査するコリメータレ
ンズ6と、ガラス管1を透過したレーザー光線2を集光
する集光レンズ7と、集光レンズ7で集光されたレーザ
ー光線2を電圧信号S1に変換するセンサー8と、電圧
信号S1が信号レベルV1となる点で外周1aの両エッ
ジ部1c、1dを検出して各検出時刻を平均処理して外
周1aの中心位置1hに対応する時刻toを算出し、電
圧信号S1が信号レベルV2となる点で内孔1bの両エ
ッジ部1e、1fを検出して各検出時刻を平均処理し
て、内孔1bの中心位置1iに対応する時刻tiを算出
し、時刻toと時刻tiとの差のΔtを高分解能クロッ
クパルス等を用いて長さの単位を有する距離Kに換算
し、一連の計測処理をガラス管1の外周1aの全方向に
対して行い、中心位置1hに対する中心位置1iの最大
移動距離をガラス管1の同心度として算出する処理する
処理部9と、処理部9で換算されたガラス管1の同心度
を表示する表示部10とからなる。レーザー測定器3
は、上記の構成からなり、ガラス管1をレーザー光線2
の走査範囲内にレーザー光線2の走査方向に対してガラ
ス管1の軸方向が直角になるように位置させて回転手段
(図示省略)を用いて12rpmの回転速度でガラス管
1を2回転させることにより、10,000点のデータ
を採取するようになっている。
示すように、ガラス管1を透過するレーザー光線2の基
準となる光量の計測位置を光量が最も多い計測位置1g
にすると、計測位置1gに対応する電圧信号S1の電圧
はVPとなる。この電圧VPは、ガラス管1の光透過率
に連動して変化する。信号レベルV2を電圧VPに対し
て40〜60%の間の一定の比率、例えば50%に定め
ると、信号レベルV2と電圧信号S1とが安定して交点
〜交点を生じるので、ガラス管1の光透過率が変化
した場合でも安定して内孔1bの両エッジ部1e、1f
を検出することができ、中心位置1iに対応する正確な
時刻tiを算出することが可能になる。例えば、図2に
示すように、ガラス管1の光透過率が低下して電圧信号
S1が電圧信号S1aのように変化した場合、電圧VP
は電圧VP’に変化し、それに連動して信号レベルV2
が信号レベルV2’に設定されるので、信号レベルV
2’と電圧信号S1aとが安定して交点〜交点を生
じ、内孔1bの中心位置1iに対応する時刻tiを算出
することができる。
2の基準となる光量の計測位置1gを固定した場合、図
3に示すように、ガラス管1の外径寸法が所定の測定範
囲D1内にある場合、電圧信号S1と信号レベルV2が
交差して内径の測定は可能であるが、外径寸法が大きく
なって測定範囲D1を越えてガラス管20のような寸法
になった場合、次のような問題が生じる。
圧信号S1からガラス管20の電圧信号S1bのように
変化し、光量の計測位置が固定した計測位置1gではレ
ーザー光線の光量が低くなっており、光量に対応する電
圧VP’に対して一定の比率で信号レベルV2’を定め
ると、信号レベルV2’は信号S1bと交差せず、内孔
1bの中心位置1iの算出が不可能になる。そのため、
測定範囲をD2に広げて光量の計測位置を1gから1j
の位置に調節する作業が必要になる。一方、ガラス管の
外径寸法が設定した測定範囲に対して非常に小さくなっ
た場合も同様に最適な測定範囲および最適な光量の計測
位置に調整する作業が必要になる。
内孔の両エッジ部1e、1fを検出する信号レベルV2
を調節する際に、ガラス管を透過するレーザー光線2の
基準となる光量の計測位置をガラス管の外径の寸法に応
じて調節するものである。
合、まず、図1に示すように、ガラス管1をレーザー光
線2の走査範囲内でレーザー光線2の走査方向に対して
ガラス管1の軸方向が直角になるように位置させる。
1c、1dおよび内孔1bの両エッジ部1e、1fで生
じるレーザー光線2の光量の変化をセンサー8で感知し
て電圧信号S1に変換すると、図4に示すように、処理
部9で電圧信号S1のガラス管1を透過した部分で、立
ち下がりR1、信号ピークP1、信号ピークP2、信号
ピークP3、立ち上がりR2を有する波形になる。電圧
信号S1の立ち下がりR1、立ち上がりR2と、信号レ
ベルV1とが交わって交点、が生じる。この信号を
波形成形して矩形状の電圧信号S2として出力し、矩形
状の電圧信号S2の立ち上がりの時刻が外周1aのエッ
ジ部1cの検出時刻t1、電圧信号S2の立ち下がりの
時刻がエッジ部1dの検出時刻t2となり、時刻t1と
時刻t2を平均することにより、外周1aの中心位置1
hに対応する時刻toを算出する。
2の光量の計測位置1gをガラス管1の外径の寸法に応
じて調節する調節手段11として、まず電圧信号S2の
立ち下がりの時刻をt1から信号ピークP1が立ち上が
り始める時刻t3、信号ピークP3が下がり終わる時刻
t4を設定して波形成形により矩形状の電圧信号S3を
得る。次いで、電圧信号S3により電圧信号S1をサン
プリングして時刻t3から時刻t4の範囲で電圧信号S
1の微分処理を行い、その変曲点の位置を特定して信号
ピークP1の最も電圧の高くなる時刻tPを得る。この
時刻tPに対応する位置が光量の計測位置1gとなる。
計測した電圧VPに対して信号レベルV2を、電圧信号
S1と必ず交点〜交点で交わる、例えば、電圧VP
の50%の電圧に設定する。
交わって交点〜交点を生じた信号を波形成形して矩
形状の電圧信号S4とし、この電圧信号S4を波形成形
して矩形状の電圧信号S5として出力し、内孔1bのエ
ッジ部1eに対応する交点の検出時刻t5と、エッジ
部1fに対応する交点の検出時刻t6とを平均して内
孔1bの中心位置1iに対応する時刻tiを算出する。
hに対応する時刻toと内孔1bの中心位置1iに対応
する時刻tiまでの時間Δtを高分解能クロックパルス
等を用いて長さに換算してガラス管1の一測定方向にお
ける外周1aの中心位置1hを基準として、内孔1bの
中心位置1iの距離Kを算出する。一連の計測処理をガ
ラス管1を管軸を中心に2回転させて周方向に10,0
00回測定を行うことにより、中心位置1hの時刻to
に対し中心位置1iの時刻tiが遅くなる範囲の距離K
の正の最大値と、時刻toに対し時刻tiが早い範囲の
距離Kの負の最小値とを検出し、その差をガラス管1の
同心度として算出する。算出した同心度は表示部10へ
出力して表示する。
る光透過率が80〜90%の範囲にある異なる光透過率
を有するガラス管、および外径が1.0〜5.0mmお
よび内径が0.05〜0.5mmの範囲にある寸法の異
なるガラス管1の同心度を測定した。
線領域の波長900nmの光を5%、波長1500nm
の光を75%、波長1600nmの光を80%以上透過
する結晶化ガラスからなるガラス管1に、レーザー光源
4にレーザーダイオードを使用して波長1550nmの
レーザー光線2を走査し、ガラス管1の同心度を測定し
た。
測定方法では、20±5℃の環境下で、レーザー光線に
対する光透過率が80〜90%の範囲にある異なる光透
過率を有するガラス管、外径が1.0〜5.0mmおよ
び内径が0.1〜0.5mmの範囲にある寸法の異なる
ガラス管、赤外線領域の光を透過する結晶化ガラス製の
ガラス管のそれぞれの同心度を光軸方向の測定範囲±
0.2mm内で、直線性±0.1μm、再現性±0.5
μm以内の精度で測定することができた。
レーザー光線に対する光透過率が異なるガラス管、外径
寸法の異なるガラス管、および可視光をほとんど透過せ
ず赤外線領域の光を透過する結晶化ガラス製のガラス管
のそれぞれの同心度を正確に測定することができる実用
上優れた効果を奏するものである。
て、(A)はレーザー測定装置の概念図、(B)はガラ
ス管を走査するレーザー光線の説明図。
が変化した場合の処理部の出力パターンの説明図。
となる光量の計測位置を外径に応じて調節する必要性を
説明した図。
概念回路図、(B)は信号パターンの説明図。
(A)はレーザー測定装置の概念図、(B)はガラス管
を走査するレーザー光線の説明図、(C)は従来の処理
部の出力パターンの説明図。
信号 V1、V2、V2’ 信号レベル
Claims (3)
- 【請求項1】 レーザー光線をガラス管の軸方向に対し
て直角に、かつガラス管の外周に対して複数方向に走査
し、ガラス管の外周および内孔のそれぞれの両エッジ部
で生じるレーザー光線の光量の変化をセンサーで感知し
て電気信号に変換し、電気信号が所定の信号レベルとな
る位置を求めてガラス管の外周および内孔のそれぞれの
両エッジ部を検出し、一方のエッジ部の位置及び他方の
エッジ部の位置から外周および内孔のそれぞれの中心位
置を算出し、外周の中心位置と内孔の中心位置との距離
から同心度を測定するガラス管の測定方法において、内
孔の両エッジ部を検出する前記信号レベルを、ガラス管
を透過するレーザー光線の光量に応じて調節することを
特徴とするガラス管の測定方法。 - 【請求項2】 内孔のエッジ部を検出する信号レベルを
調節する際に、ガラス管を透過するレーザー光線の基準
となる光量の計測位置をガラス管の外径寸法に応じて調
節することを特徴とする請求項1に記載のガラス管の測
定方法。 - 【請求項3】 ガラス管が赤外線領域の光を透過する結
晶化ガラスからなり、ガラス管を透過するレーザー光線
の波長が1000nm以上であることを特徴とする請求
項1または請求項2に記載のガラス管の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07249399A JP3912645B2 (ja) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | ガラス管の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP07249399A JP3912645B2 (ja) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | ガラス管の測定方法 |
Publications (2)
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|---|---|
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| JP3912645B2 JP3912645B2 (ja) | 2007-05-09 |
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|---|---|---|---|
| JP07249399A Expired - Fee Related JP3912645B2 (ja) | 1999-03-17 | 1999-03-17 | ガラス管の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3912645B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006075832A1 (en) * | 2005-01-13 | 2006-07-20 | Ls Cable Ltd. | Outer and inner diameter measuring apparatus and method for transparent tube |
| WO2015036631A1 (es) * | 2013-09-13 | 2015-03-19 | Abengoa Solar New Technologies, S.A. | Espectrofotómetro para caracterización de receptores de colectores solares |
-
1999
- 1999-03-17 JP JP07249399A patent/JP3912645B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| WO2006075832A1 (en) * | 2005-01-13 | 2006-07-20 | Ls Cable Ltd. | Outer and inner diameter measuring apparatus and method for transparent tube |
| KR100624256B1 (ko) * | 2005-01-13 | 2006-09-19 | 엘에스전선 주식회사 | 투명한 튜브의 외경과 내경을 측정하기 위한 장치 및 방법 |
| WO2015036631A1 (es) * | 2013-09-13 | 2015-03-19 | Abengoa Solar New Technologies, S.A. | Espectrofotómetro para caracterización de receptores de colectores solares |
| US10379034B2 (en) | 2013-09-13 | 2019-08-13 | Abengoa Solar New Technologies, S.A. | Spectrophotometer for the characterisation of receivers of solar collectors |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3912645B2 (ja) | 2007-05-09 |
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