JP2000266518A - ガラス管の測定方法 - Google Patents

ガラス管の測定方法

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JP2000266518A JP11072363A JP7236399A JP2000266518A JP 2000266518 A JP2000266518 A JP 2000266518A JP 11072363 A JP11072363 A JP 11072363A JP 7236399 A JP7236399 A JP 7236399A JP 2000266518 A JP2000266518 A JP 2000266518A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 光透過率や外径寸法が異なるガラス管および
赤外線領域の光のみを透過する結晶化ガラス製のガラス
管の外径および内径を正確に測定すること。 【解決手段】 本発明のガラス管1の測定方法は、ガラ
ス管1をレーザー光線2で走査し、外周1aの両エッジ
部1c、1dおよび内孔1bの両エッジ部1e、1fで
生じるレーザー光線2の光量の変化をセンサー8で感知
して電圧信号S1に変換し、電圧信号S1が信号レベル
V1、V2となる位置で、それぞれ両エッジ部の検出に
要する時間を計測して外径および内径を測定するもの
で、信号レベルV2を、ガラス管1を透過するレーザー
光線2の光量に応じて調節する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザー光線を用
いたガラス管の外径および内径の測定方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、ガラス管の外径および内径の測定
は、次のように行われている。図5に示すように、レー
ザー測定装置3のレーザー光源4から出射された約68
0nmの波長を有する赤色のレーザー光線2を、反射鏡
を取り付けた回転駆動あるいは往復駆動する反射体から
なる偏向手段5により所定の周期で偏向し、偏向された
レーザー光線2をコリメータレンズ6により平行にして
ガラス管1の軸方向に対して直角に走査し、ガラス管1
を透過したレーザー光線2を集光レンズ7でセンサー8
の表面に集光し、ガラス管1の外周1aおよび内孔1b
の両エッジ部で生じるレーザー光線2の光量の変化をセ
ンサー8で感知して電圧信号S1に変換し、処理部9で
電圧信号S1のガラス管1を走査した部分の立ち下がり
R1、信号ピークP1、P2、P3、立ち上がりR2が
所定の信号レベルV1とが交わって交点〜交点が生
じる。これらの交点のうち、交点、が外周1aのエ
ッジ部1d、1cと、交点、が内孔1bのエッジ部
1e、1fと、それぞれ対応しており、交点の検出か
ら交点の検出までに要する時間(外周1aのエッジ部
1cからエッジ部1dに対応)、および交点の検出か
ら交点の検出までに要する時間(内孔1bのエッジ部
1eからエッジ部1fに対応)を計測し、処理部9でそ
れぞれの計測時間を長さに換算処理してガラス管1の外
径および内径が測定される。測定されたガラス管1の外
径および内径の寸法は表示部10へ出力されて表示する
ようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ガラス
管の光透過率が大きく変化した場合、図5(C)に示す
ように、ガラス管1の中央部を透過するレーザー光線2
aの光量が小さくなり、この光量の変化をセンサー8で
感知して電気信号S1aに変換すると、信号ピークP2
が信号レベルV1よりも低くなって交点、が生じ
ず、本来、外周1aの片方のエッジ1dに対応している
6番目に所定の信号レベルV1になる交点を内孔1b
のエッジ部1fに対応する交点として誤って検出して
しまい、ガラス管1の内径が測定できないという問題が
ある。
【0004】また、ガラス管1が、乳白色を呈する結晶
化ガラスからなり、可視光の光透過率が非常に低い場
合、従来の約680nmの波長を有する赤色のレーザー
光線2を用いて走査すると、レーザー光線2a等がガラ
ス管1を十分透過せず、図5(C)と同様に、ガラス管
1を走査した電圧信号S1の信号ピークP1、P2、P
3が低くなり、内孔1bの両エッジ部1e、1fを検出
できず、内径の測定ができないという問題がある。
【0005】本発明は、上記従来の問題点を解決したガ
ラス管の外径および内径の測定方法を提供することを目
的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明に係るガラス管の
測定方法は、レーザー光線をガラス管の軸方向に対して
直角に走査し、ガラス管の外周および内孔のそれぞれの
両エッジ部で生じるレーザー光線の光量の変化をセンサ
ーで感知して電気信号に変換し、電気信号が所定の信号
レベルとなる位置を求めてガラス管の外周および内孔の
それぞれの両エッジ部を検出し、一方のエッジ部の検出
から他方のエッジ部の検出までに要する時間を計測して
外径および内径を測定するガラス管の測定方法におい
て、内孔の両エッジ部を検出する信号レベルを、ガラス
管を透過するレーザー光線の光量に応じて調節すること
を特徴とする。
【0007】また、本発明のガラス管の測定方法は、内
孔の両エッジ部を検出する信号レベルを調節する際に、
ガラス管を透過するレーザー光線の基準となる光量の計
測位置をガラス管の外径の寸法に応じて調節することを
特徴とする。
【0008】さらに、本発明のガラス管の測定方法は、
ガラス管が赤外線領域の光を透過する結晶化ガラスから
なり、レーザー光線の波長が1000nm以上であるこ
とを特徴とする。
【0009】
【作用】本発明のガラス管の測定方法によれば、内孔の
両エッジ部を検出する信号レベルを、ガラス管を透過す
るレーザー光線の光量に応じて調節するので、従来の測
定方法では、ガラス管の光透過率が変わる度にレーザー
光線が内孔の両エッジ部を検出する信号レベルを手動で
調節しなければならず時間を要していたが、このような
調節作業が不要となり、光透過率が異なるガラス管の内
径を正確に測定することができる。
【0010】また、本発明によれば、内孔の両エッジ部
を検出する信号レベルを調節する際に、ガラス管を透過
するレーザー光線の基準となる光量の計測位置をガラス
管の外径寸法に応じて調節するので、ガラス管の外径寸
法が変わる度にガラス管を透過するレーザー光線の基準
となる光量の計測位置を手動で調節しなければならず時
間を要していたものが、このような調節作業が不要とな
り、外径寸法が異なるガラス管の内径を正確に測定する
ことができる。
【0011】さらに、本発明によれば、ガラス管が赤外
線領域の光を透過する結晶化ガラスからなり、レーザー
光線の波長が1000nm以上であるので、従来の測定
方法では、レーザー光線が十分にガラス管を透過せず、
ガラス管の内径が測定できなかった結晶化ガラス製のガ
ラス管の内径を正確に測定することができる。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の形態の説
明図であって、(A)はレーザー測定装置の概念図、
(B)はガラス管を走査するレーザー光線の説明図であ
る。この図で、1はガラス管を、2はレーザー光線を、
3はレーザー測定装置を、4はレーザー光源を、5はレ
ーザー光線2の偏向手段を、6はレーザー光線2のコリ
メータレンズを、7はレーザー光線2の集光レンズを、
8はレーザー光線2を電圧信号S1に変換するセンサー
を、9は電圧信号S1を外径および内径の寸法に換算す
る処理部を、10は処理部9で換算されたガラス管1の
外径および内径の寸法を表示する表示部をそれぞれ示し
ている。図2は、ガラス管1の光透過率が変化した場合
の処理部9内部の説明図である。図3は、ガラス管1の
外径寸法が変化した場合の説明図である。図4は、ガラ
ス管1の外径寸法に応じてガラス管1を透過するレーザ
ー光線2の光量の計測位置1gを調節する調節手段11
を有し、かつガラス管1の測定位置1gを透過するレー
ザー光線2の光量に応じて変化するVP値を検出し、信
号レベルV2を調節する処理部9の回路9aの説明図で
ある。
【0013】本発明の実施の形態で使用するレーザー測
定装置3は、図1に示すように、レーザーダイオードを
用いて1550nmの波長を有するレーザー光線2を出
射するレーザー光源4と、反射鏡を取り付けた反射体を
回転駆動あるいは振動させることによりレーザー光源4
から出射されたレーザー光線2を反射する偏向手段5
と、偏向手段5で偏向されたレーザー光線2を平行にし
てガラス管1の軸方向に対して直角に走査するコリメー
タレンズ6と、ガラス管1を透過したレーザー光線2を
集光する集光レンズ7と、集光レンズ7で集光されたレ
ーザー光線2を電圧信号S1に変換するセンサー8と、
電圧信号S1が信号レベルV1となる点で外周1aの両
エッジ部1c、1dを検出し、外周1aの一方のエッジ
部1cの検出から他方のエッジ部1dの検出までに要す
る時間を計測し、計測した時間を外径寸法に換算し、電
圧信号S1が信号レベルV2となる点で内孔1bの両エ
ッジ部1e、1fを検出し、内孔1bの一方のエッジ部
1eの検出から他方のエッジ部1fの検出までに要する
時間を計測し、計測した時間を内径の寸法に換算する処
理部9と、処理部9で換算されたガラス管1の外径およ
び内径の寸法を表示する表示部10とからなる。
【0014】本発明のガラス管の測定方法では、図1に
示すように、ガラス管1を透過するレーザー光線2の基
準となる光量の計測位置を光量が最も多い計測位置1g
にすると、計測位置1gに対応する電圧信号S1の電圧
はVPとなる。この電圧VPは、ガラス管1の光透過率
に連動して変化する。信号レベルV2を電圧VPに対し
て40〜60%の間の一定の比率、例えば50%に定め
ると、信号レベルV2と電圧信号S1とが安定して交点
〜交点を生じるので、ガラス管1の光透過率が変化
した場合でも安定して内孔1bの両エッジ部1e、1f
を検出することができ、正確な内径を計測することが可
能になる。例えば、図2に示すように、ガラス管1の光
透過率が低下して電圧信号S1が電圧信号S1aのよう
に変化した場合、電圧VPは電圧VP’に変化し、それ
に連動して信号レベルV2が信号レベルV2’に設定さ
れるので、信号レベルV2’と信号S1aとが安定して
交点〜交点を生じ、内径を計測することができる。
【0015】しかし、ガラス管を透過するレーザー光線
の基準となる光量の計測位置1gを固定した場合、図3
に示すように、ガラス管1の外径寸法が所定の測定範囲
D1内にある場合、信号S1と信号レベルV2が交差し
て内径の測定は可能であるが、外径寸法が大きくなって
測定範囲D1を越えてガラス管20のような寸法になっ
た場合、次のような問題が生じる。
【0016】外径寸法が大きくなると、ガラス管1の電
圧信号S1からガラス管20の電圧信号S1bのように
変化し、光量の計測位置が固定した計測位置1gではレ
ーザー光線の光量が低くなっており、光量に対応する電
圧VP’に対して一定の比率で信号レベルV2’を定め
ると、信号レベルV2’は信号S1bと交差せず、内径
の計測が不可能になる。そのため、測定範囲をD2に広
げて光量の計測位置を1gから1hの位置に調節する作
業が必要になる。一方、ガラス管の外径寸法が設定した
測定範囲に対して非常に小さくなった場合、大きくなっ
たときと同様の問題が生じ、このような場合も同様に最
適な測定範囲および最適な光量の計測位置に調整する作
業が必要になる。
【0017】本発明の好ましいガラス管の測定方法は、
内孔の両エッジ部1e、1fを検出する信号レベルV2
を調節する際に、ガラス管1を透過するレーザー光線2
の基準となる光量の計測位置1gをガラス管1の外径の
寸法に応じて調節するものである。
【0018】次に、ガラス管1の外径および内径を測定
する場合を説明する。先ず、図1に示すように、ガラス
管1をレーザー光線2の走査範囲内でレーザー光線2の
走査方向に対してガラス管1の軸方向が直角になるよう
に位置させる。
【0019】ガラス管1の外周1aの両エッジ部1c、
1dおよび内孔1bの両エッジ部1e、1fで生じるレ
ーザー光線2の光量の変化をセンサー8で感知して電圧
信号S1に変換すると、図4に示すように、処理部9で
電圧信号S1のガラス管1を透過した部分で、立ち下が
りR1、信号ピークP1、信号ピークP2、信号ピーク
P3、立ち上がりR2を有する波形になる。電圧信号S
1の立ち下がりR1、立ち上がりR2と、信号レベルV
1とが交わって交点、が生じる。この信号を波形成
形して矩形状の電圧信号S2として出力し、外周1aの
エッジ部1cからエッジ部1dまでに対応する交点の
検出から交点の検出、即ち、電圧信号S2の立ち上が
りの時刻をt0から立ち下がりの時刻をt1までに要す
る時間Δtoを高分解能クロックパルス等を用いて計測
し、計測した時間Δtoを長さに換算処理してガラス管
1の外径を算出する。
【0020】次に、ガラス管1を透過するレーザー光線
2の光量の計測位置1gをガラス管1の外径の寸法に応
じて調節する調節手段11として、まず電圧信号S2の
立ち下がりの時刻をt0から信号ピークP1が立ち上が
り始める時刻t2、信号ピークP3が下がり終わる時刻
t3を検出して波形成形により矩形状の電圧信号S3を
得る。次いで、電圧信号S3により電圧信号S1をサン
プリングして時刻t2から時刻t3の範囲で電圧信号S
1を微分処理を行い、その変曲点の位置を特定して信号
ピークP1の最も電圧の高くなる時刻tPを得る。この
時刻tPに対応する位置が光量の計測位置1gとなる。
計測した電圧VPに対して信号レベルV2を、電圧信号
S1と必ず交点〜交点で交わる、例えば、電圧VP
の50%の電圧に設定する。
【0021】次に、電圧信号S1と信号レベルV2とが
交わって交点〜交点を生じた信号を波形成形して矩
形状の電圧信号S4とし、この信号を波形成形して矩形
状の電圧信号S5として出力し、内孔1bのエッジ部1
eからエッジ部1fまでに対応する交点の検出から交
点の検出、即ち、時刻t4から時刻t5までに要する
時間Δtiを計測し、計測した時間Δtiを長さに換算
処理してガラス管1の内径を算出する。測定されたガラ
ス管1の外径および内径の寸法は表示部10へ出力して
表示する。
【0022】以上のようにして、レーザー光線2に対す
る光透過率が80〜90%の範囲にある異なる光透過率
を有するガラス管、および外径が1.0〜5.0mmお
よび内径が0.05〜0.5mmの範囲にある寸法の異
なるガラス管の外径および内径の寸法を測定した。
【0023】また、乳白色を呈し、1mmの厚さで赤外
線領域の波長900nmの光を5%、波長1500nm
の光を75%、波長1600nmの光を80%以上透過
する結晶化ガラスからなるガラス管1に、レーザー光源
4にレーザーダイオードを使用して波長1550nmの
レーザー光線2を走査し、ガラス管1の外径および内径
の寸法を測定した。
【0024】上記本発明の実施の形態によるガラス管の
外径、内径の測定方法では、20±5℃の環境下で、レ
ーザー光線に対する光透過率が80〜90%の範囲にあ
る異なる光透過率を有するガラス管、外径が1.0〜
5.0mmおよび内径が0.1〜0.5mmの範囲にあ
る寸法の異なるガラス管、赤外線領域の光を透過する結
晶化ガラス製のガラス管のそれぞれの外径および内径を
光軸方向の測定範囲±0.2mm内で、直線性±0.1
μm、再現性±0.5μm以内の精度で測定することが
できた。
【0025】
【発明の効果】本発明のガラス管の測定方法によれば、
レーザー光線に対する光透過率が異なるガラス管、外径
寸法の異なるガラス管、および可視光をほとんど透過せ
ず赤外線領域の光を透過する結晶化ガラス製のガラス管
のそれぞれの外径および内径を正確に測定することがで
きる実用上優れた効果を奏するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のガラス管の測定方法の説明図であっ
て、(A)はレーザー測定装置の概念図、(B)はガラ
ス管を走査するレーザー光線の説明図。
【図2】本発明の説明図であって、ガラス管の光透過率
が変化した場合の処理部の出力パターンの説明図。
【図3】本発明の説明図であって、レーザー光線の基準
となる光量の計測位置を外径に応じて調節する必要性を
説明した図。
【図4】処理部の説明図であって、(A)は信号処理の
概念回路図、(B)は信号パターンの説明図。
【図5】従来のガラス管の測定方法の説明図であって、
(A)はレーザー測定装置の概念図、(B)はガラス管
を走査するレーザー光線の説明図、(C)は従来の処理
部の出力パターンの説明図。
【符号の説明】
1、20 ガラス管 1a 外周 1b 内孔 1c、1d、1e、1f エッジ部 1g、1h 計測位置 2 レーザー光線 3 レーザー測定装置 4 レーザー光源 5 偏向手段 6 コリメータレンズ 7 集光レンズ 8 センサー 9 処理部 9a 回路 10 表示部 11 調節手段 D1、D2 測定範囲 P1、P2、P3 信号ピーク S1、S1a、S1b、S2、S3、S4、S5 電圧
信号 V1、V2、V2’ 信号レベル
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2F065 AA06 AA26 AA27 BB08 BB22 BB23 CC00 DD05 FF02 GG06 GG12 GG22 HH03 JJ01 JJ15 LL04 LL13 MM16 MM28 NN11 PP22 QQ01 QQ08 QQ13 QQ29 UU02 UU05

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザー光線をガラス管の軸方向に対し
    て直角に走査し、ガラス管の外周および内孔のそれぞれ
    の両エッジ部で生じるレーザー光線の光量の変化をセン
    サーで感知して電気信号に変換し、電気信号が所定の信
    号レベルとなる位置を求めてガラス管の外周および内孔
    のそれぞれの両エッジ部を検出し、一方のエッジ部の検
    出から他方のエッジ部の検出までに要する時間を計測し
    て外径および内径を測定するガラス管の測定方法におい
    て、内孔の両エッジ部を検出する信号レベルを、ガラス
    管を透過するレーザー光線の光量に応じて調節すること
    を特徴とするガラス管の測定方法。
  2. 【請求項2】 内孔の両エッジ部を検出する信号レベル
    を調節する際に、ガラス管を透過するレーザー光線の基
    準となる光量の計測位置をガラス管の外径の寸法に応じ
    て調節することを特徴とする請求項1に記載のガラス管
    の測定方法。
  3. 【請求項3】 ガラス管が赤外線領域の光を透過する結
    晶化ガラスからなり、レーザー光線の波長が1000n
    m以上であることを特徴とする請求項1または請求項2
    に記載のガラス管の測定方法。
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