JP2000284182A - 自動合焦システムのための合焦用フィラメント - Google Patents

自動合焦システムのための合焦用フィラメント

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JP2000284182A JP2000069136A JP2000069136A JP2000284182A JP 2000284182 A JP2000284182 A JP 2000284182A JP 2000069136 A JP2000069136 A JP 2000069136A JP 2000069136 A JP2000069136 A JP 2000069136A JP 2000284182 A JP2000284182 A JP 2000284182A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 一つの平面に対するガラス検体の位置の変動
を自動的に補正し得る絶対的表面基準を提供する。 【解決手段】 光源18と対物レンズ24との間の光路
内に1本のフィラメント34を配置し、このフィラメン
ト34を、ガラス検体12の表面14に合焦するように
光路内に位置決めし、対物レンズ24の視野内にフィラ
メント34の像が映ったときに、対物レンズ24が合焦
された表面14を特定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、検査装置のための
自動合焦システムに関し、特に、ガラスシートの検査に
適した自動合焦システムに関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の自動合焦システムにおける一つの
問題点は、これらシステムが本質的にサンプル表面に対
する基準を備えていないことである。すなわち、従来の
殆ど全ての自動合焦システムは、ガラス内の微粒子また
は含有物のエッジのコントラストを最大にして、個々の
微粒子のシャープな像を得ることに依存している。
【0003】しかしながら、このような合焦方法は、ガ
ラスの表面に関するいかなる情報をも提供しない。表面
の情報または深さの情報については、これらの既知の手
法の多くが、光軸と平行に較正された軸に依存してお
り、これは、固定された平面上にガラスが保持されるこ
とを必要とする。その他のレーザーを利用する手法で
は、光線をガラスの表面から反射させることに依存して
いる。これらの手法は、固定された平面からの変動の補
正こそ行なうものの、浅い焦点深度と短い作動距離とを
有する20倍を超える高倍率の対物レンズに限定され、
この浅い焦点深度と短い作動距離とは、一般に550×
650mmないし850×900mmの大きいガラスシ
ートを検査する場合に問題となる。
【0004】このような大きいガラスシートは、検査の
際に、固定された平面に保持することが不可能ではない
にしろ、困難であり、そのガラスの表面のシートに亘る
変動がガラス自体の厚さよりも大きいことが多い。この
ような比較的大きいガラスは、厚さが0.7mmないし
1.1mmに過ぎないであろうから、垂れ下がったり曲
がったりする傾向がある。さらに、液晶ディスプレイ用
ガラスの検査に際し、このガラスの前面または背面に何
かが接触すると欠陥部を生じるであろうから、このよう
なガラスシートはその縁部分のみで支持しなければなら
ない。垂れ下がりの問題について説明すると、850×
900×0.7mmのガラスシートが水平に配置され、
かつその縁部分のみで支持された場合、中心部分におい
ては2ないし3インチ(約5ないし7.5cm)も垂れ
下がり、一方、同じガラスシートが垂直に支持された場
合には、垂れ下がりはずっと少なくなるが、ガラスシー
トは一方向またはその反対方向に若干は曲がる筈であ
る。
【0005】20倍を超える高倍率の対物レンズを用い
た場合、このようなレンズの作動距離はガラスシートの
厚さよりも短いことが多いから、ガラス検体の両面上の
微粒子の像を映すのは実際には不可能なことが多い。超
長作動距離対物レンズ(ELWD)はこれらの問題の緩
和に役立つが、ELWDレンズは、通常のレンズよりも
高価なことが多い。したがって、前面と背面との双方の
像を映すためには、シートを裏返さなければならず、2
度目の段取りが必要になる。
【0006】したがって、本発明の目的は、一つの平面
に対するガラスの位置の変動を自動的に補正し得る絶対
的表面基準を提供することによって、従来技術の問題点
を解決した合焦用フィラメント技法を提供することにあ
り、この技法はまた、約7ないし10mmの比較的長い
作動距離を有する約10ないし20倍の比較的低倍率の
対物レンズの使用を可能にするものである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、検査装置の光
路内に位置決めされた1本の細いフィラメントを利用す
ることによって、ガラス検体の指定された表面上に自動
的に合焦させる方法および装置に関するものである。上
記フィラメントは、対物レンズがガラス上の微粒子を映
すのと同じ平面上に合焦されるように位置決めされる。
【0008】上記対物レンズがガラスの前面または背面
のいずれかに合焦されているときに、明るい視野照明を
用いて上記フィラメントの影を視野内に見ることができ
る。このフィラメントの影は、ガラス検体の前面または
背面のいずれかに現れるので、上記フィラメントは、一
つの平面に対するガラスシートの位置の変動を自動的に
補正し得る絶対的表面基準を提供する。
【0009】
【発明の実施の形態】検査システムにおける本発明によ
る自動合焦技術の作用効果をより良く理解するために、
特定の平面内に全体が存在しない所定の表面上に対物レ
ンズを合焦させる問題についてまず説明する。従来の自
動合焦手法の殆どが、較正された軸に依存しているため
に、これらは検体が常に空間の同一点にあると仮定して
いる。しかしながら、検体の位置が大きく変動すること
によって、このような自動合焦手法は誤った結果を招い
ている。
【0010】図1を参照すると、固定焦点距離dを有す
る対物レンズ10は、較正された軸Rすなわち基準位置
から3通りの異なる位置P1,P2およびP3に配置さ
れたものとして示されている。上面14と下面16とを
有するガラス検体12は、基準軸Rに関連して位置決め
されている。図1に示されているように、ガラス検体1
2の上面14および下面16は、完全に平滑でかつ基準
軸Rと平行である。軸Rの位置はその位置が実際に知ら
れた基準位置であるために、軸Rは、距離D1,D2お
よびD3に対応する正確な位置を決定するために較正さ
れている。図1に示されているように、対物レンズ10
が基準軸RからD2の距離に位置決めされている場合、
検体12の上面14に対物レンズ10が合焦する。同様
に、位置P3に見られるように、対物レンズ10が基準
軸RからD3の距離に位置決めされている場合、検体1
2の下面16に対物レンズ10が合焦する。位置P1に
おいては、固定焦点距離dがガラス検体12に達してい
ないから、基準軸RからD1の距離に位置決めされてい
る対物レンズ10は、絶対に合焦しない。
【0011】図2においては、対物レンズ10が基準軸
Rから等しい距離D2にある位置P1,P2およびP3
に配置されている。しかしながら、ガラス検体12は、
その上面14および下面16が基準軸Rと平行な面に存
在しないように湾曲した状態で示されている。さらに、
図2に示された検体12の上面14および下面16は平
滑でなく表面輪郭が変動している。所定の作動距離dを
有する対物レンズ10は、全ての位置P1,P2および
P3について基準軸Rから所定距離D2に配置されてい
るが、検体12が湾曲して基準軸Rと平行な面内に存在
しないので、対物レンズ10は検体12の種々の部位に
合焦する。すなわち、位置P1においては、対物レンズ
10は検体12の下面16に合焦している。位置P2に
おいては、対物レンズ10が検体12の上面14に合焦
しているが、位置P3においては、対物レンズ10は検
体12のどの部位にも合焦していない。したがって、一
つの平面に対する検体の表面における変動または曲がり
の量をコントロールできない場合には、検体の表面上の
特定の欠陥部または微粒子の位置を突き止めるために、
較正された軸を用いて対物レンズがどの面に合焦してい
るかを正確に決定することは実際上不可能になる。
【0012】固定された平面からの変動を補正するため
に利用し得る従来技術もあるが、これらは、浅い焦点深
度と短い作動距離とを有する高倍率(20倍を超える)
の対物レンズに限定される。その上、図2において指摘
されたように、基準平面からのガラスシートを横切る方
向のガラス表面の距離の変動は、ガラスの厚さよりも大
きいことがあり得る。高倍率レンズの作動距離はガラス
の厚さよりも短いことが多いので、高倍率レンズを用い
て表面上の微粒子を映すのは、多くの場合不可能であ
り、かくして前面および背面の双方を映すためには検体
を裏返すことが必要になる。この問題は図3に明確に示
されている。
【0013】一般に、対物レンズの倍率が高くなる程、
焦点深度は浅くなり、作動距離は短くなる。図3は2つ
の例を示しており、一方は低倍率の対物レンズを用い、
他方は高倍率の対物レンズを用いている。対物レンズ1
0の作動距離すなわち固定焦点距離はdで示され、高倍
率レンズ10は低倍率レンズ10よりも短い作動距離d
を有する。また、図3に示されているように、高倍率レ
ンズ10の焦点深度は低倍率レンズ10の焦点深度より
もかなり浅い。レーザーを用いる或る種の自動合焦技法
では、表面に正確に焦点を合わすために、高倍率レンズ
の浅い焦点深度に依存している。しかしながら、これら
対物レンズの作動距離はガラスの厚さよりも短いので、
両面を検査するにはガラス検体を裏返す作業が必要にな
る。もし検体を裏返さなければ、下面に合焦する以前に
対物レンズが検体表面に接触し、図3の高倍率レンズが
示しているように、現実に検体12の上面14に衝撃を
与えることになる。
【0014】ガラスシートの表面上の欠陥部または微粒
子を検査する場合、どちらの面にこのような欠陥部また
は微粒子が存在するかを特定する必要がある。対物レン
ズがガラスシート上の微粒子を映すのに利用されるのと
同じ平面上に合焦するように、1本の細いフィラメント
を検査システムの光路内に配置することによって、ガラ
スシートの前面または背面に対物レンズが合焦されたと
き、明るい照明を用いればフィラメントの像または影を
視野内に見ることができる。細い合焦用フィラメント
は、反射照明または透過照明を用いたときに光路内に整
列させることができる。対物レンズをガラス検体の前面
または背面から離れるように動かして、この対物レンズ
をガラスの内部に合焦させることによって、合焦用フィ
ラメントの影が消滅する。視野内の合焦用フィラメント
の像の直径は、フィラメントをサンプル表面上に合焦さ
せるレンズによって決定される。倍率20倍の対物レン
ズを用いることによって、像は、約3mm未満、好まし
くは約100μm未満の太さを有する実際のフィラメン
トの寸法の約1/4となる。細いフィラメントの方が、
視野の端に位置決めされる像に対して、より明瞭な線を
与える。
【0015】本発明による光学的較正には、コーラー
(Kohler)照明装置の配置が含まれる。このコーラー照
明装置においては、視野絞りの像が検体表面に合焦し、
かつ非拡散ランプ光源の像は開口絞り平面に合焦するの
で、本発明においては、視野絞りが効果的にフィラメン
トに置き換えられる。かくして、合焦用フィラメントは
視野絞り位置における付加的照明器内に配置される。こ
れにより、明視野照明と暗視野照明との切替えが視野絞
りを調節することなしに可能になるという利点が得られ
る。
【0016】図4に示されているように、上面14と下
面16とを備えたガラス検体シート12のための検査シ
ステムは、反射照明を提供するランプハウス18と、一
対の光学素子20と、ミラーブロック22とを備えてい
る。顕微鏡の対物レンズのような対物レンズ24は検体
12の近傍に配置されている。対眼レンズまたはビデオ
カメラ26が像を見るために配置されている。
【0017】透過照明を提供するための付加的なランプ
ハウス28が示されており、集光レンズ光学部材30が
ランプハウス28と同軸上に配置されている。検査シス
テム内の2か所に位置決めされた合焦用フィラメント3
2,34の位置は、透過と反射との2種類の異なる照明
態様に応じて設定されている。一度に1本の合焦用フィ
ラメントが用いられ、上方のフィラメント34は反射照
明とともに利用され、下方のフィラメント32は透過照
明とともに利用される。反射照明もしくは透過照明のい
ずれかを用いれば、明視野照明もしくは暗視野照明を得
ることが可能である。しかしながら、合焦用フィラメン
トの像は明視野照明を用いることによってのみ見ること
ができる。対物レンズがサンプル表面に合焦された場
合、そのサンプル表面に合焦されたフィラメントの像を
見ることができる。
【0018】上記合焦用フィラメントは、光学素子にお
いて見えるように合焦するまで矢a−aで示された光軸
に沿って動かしてもよいが、フィラメントを検体表面に
合焦させるために選ばれるレンズは、その位置が明確に
定められていなければならない。合焦用フィラメント
は、このフィラメントを検体の表面に合焦させるように
光軸a−aに沿って前後にスライドされる摺動機構に取
り付けてもよい。この摺動機構は、合焦用フィラメント
を視野内の片側またはその反対側に片寄せて位置決めす
るために、光軸a−aに垂直な軸b−bに沿ってスライ
ドされる。
【0019】合焦用フィラメントが、光学素子において
見えるように合焦するまで光軸に沿って移動された後、
検体の表面に合焦されて、ガラス検体の上面および下面
が特定可能になる。対物レンズがガラス検体に向かって
移動するにつれて合焦用フィラメントの影が光学レンズ
またはカメラの視野に現れる。最初に見えたときは、対
物レンズが検体の上面上に合焦されたときである。対物
レンズの同一方向への移動が継続されるにつれて、焦点
がガラス検体の内部を通過するので、合焦用フィラメン
トが映像から消滅する。しかしながら、対物レンズが検
体の下面上に合焦されるまで移動したとき、合焦用フィ
ラメントが再び現れる。
【0020】視野内の同一部位における同一対象物を毎
回探すために、エッジ・アルゴリズムを特別に作成する
ことができるから、検体の上面上または下面上に合焦用
フィラメントの影を合焦させる原理を、自動合焦を容易
にするために用いることができる。このエッジ・アルゴ
リズムは、合焦用フィラメントを自動的に見付ける単な
る一つの方法であるけれども、前述のように、ガラスの
特定の表面を手動で観察しても差支えない。合焦用フィ
ラメントが正しく機能するためには、ガラスの表面に対
物レンズが合焦するのと同時に合焦用フィラメントが正
確に合焦するように、合焦用フィラメントを検査システ
ムの内部に位置決めしなければならない。
【0021】図5は、ガラスサンプルが上面側に欠陥部
を有する場合、ガラスサンプルが欠陥部を内部に含有す
る場合、およびガラスサンプルが下面側に欠陥部を有す
る場合において、CCDカメラまたは光学レンズによっ
て観察される種々の映像を示す。前述のように、光学レ
ンズの視野内に見える合焦用フィラメントの影35は、
視野の一側に片寄せられている。このフィラメントを視
野の一側に片寄せる目的は、単にフィラメントが、表面
上に存在する微粒子または欠陥部の像の邪魔にならない
ようにするためだけである。
【0022】1番目の状態では、ガラスサンプルが上面
側に欠陥部を有し、対物レンズが検体の上面上に合焦す
ると、合焦用フィラメントの影35が映像に現れるが、
次いで焦点がサンプル内部を通って移動するにつれて消
滅し、対物レンズが検体の下面上に合焦すると、再び現
れる。ガラスが欠陥部を内部に含有する2番目の状態で
は、影35が上面を示すが、含有欠陥部が現れると消滅
し、対物レンズが検体の下面上に合焦すると、再び現れ
る。ガラスサンプルが下面側に欠陥部を有する3番目の
状態では、合焦用フィラメントの影35が上面側に現
れ、焦点がサンプル内部に移動するにつれて消滅し、対
物レンズが検体の下面上に合焦して欠陥部を映すと、影
35が再び現れる。
【0023】かくして、一方の表面において合焦用フィ
ラメントの像が映り、焦点がサンプル内部を通って移動
するにつれて像が消滅し、サンプルの反対面において像
が再び出現することは、欠陥部がガラスのどの部位に存
在するかを特定することに関する本発明の重要な一面で
ある。この合焦用フィラメントを利用する方法により、
一つの平面に対するガラスの位置の変動の自動的な補正
を可能にするための絶対的表面基準が提供され、20倍
未満の低倍率と、約7ないし10mmの比較的長い作動
距離とを有する対物レンズを用いることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】基準線から平らなガラス検体の両面上に合焦さ
せることを示す概略図
【図2】基準線から湾曲したガラス検体の両面上に合焦
させることを示す概略図
【図3】約10ないし20倍の倍率を有する低倍率レン
ズと、20倍を超える倍率を有する高倍率レンズとの焦
点深度と作動距離との変化を示す概略図
【図4】本発明によるフィラメント合焦方法を利用した
光学装置の概略図
【図5】視野内における合焦用フィラメントの影の出現
状態を示す概略図
【符号の説明】
12 検体 14 上面 16 下面 18,28 ランプハウス 20 光学素子 24 対物レンズ 26 対眼レンズまたはビデオカメラ 30 光学部材 32,34 合焦用フィラメント

Claims (19)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも1個の光源および1個の対物
    レンズを備えた自動合焦システムの形成方法であって、 前記光源と前記対物レンズとの間の光路内に1本のフィ
    ラメントを配置し、 該フィラメントを、該フィラメントが検体の表面に合焦
    されて合焦用フィラメントとして機能するように前記光
    路内に位置決めし、 前記表面を特定するために、前記対物レンズが前記表面
    上に合焦されたときに前記フィラメントの像を視野内に
    形成する、各工程を含むことを特徴とする前記方法。
  2. 【請求項2】 固定された平面に対する前記検体の位置
    の変動を自動的に補正する絶対的表面基準を提供するた
    めに、前記フィラメントの像を利用する工程を含むこと
    を特徴とする請求項1記載の方法。
  3. 【請求項3】 約3mm未満の太さを有する1本のフィ
    ラメントを前記光路内に位置決めする工程を含むことを
    特徴とする請求項1記載の方法。
  4. 【請求項4】 約100μm未満の太さを有する1本の
    フィラメントを前記光路内に位置決めする工程を含むこ
    とを特徴とする請求項1記載の方法。
  5. 【請求項5】 前記対物レンズが前記検体の表面上の欠
    陥部を映すのに利用するのと同じ平面上に前記フィラメ
    ントを合焦させるために、該フィラメントを光軸に沿っ
    て移動させる工程を含むことを特徴とする請求項1記載
    の方法。
  6. 【請求項6】 前記フィラメントの像を前記視野内の一
    側に片寄せて位置決めするために、前記フィラメントを
    前記光軸を横切って移動させる工程を含むことを特徴と
    する請求項1記載の方法。
  7. 【請求項7】 透過照明のための1個の光源と、反射照
    明のための別の1個の光源とを提供する工程を含むこと
    を特徴とする請求項1記載の方法。
  8. 【請求項8】 前記1個の光源の光路内に1本のフィラ
    メントを提供し、かつ前記別の1個の光源の光路内に別
    の1本のフィラメントを提供する工程を含むことを特徴
    とする請求項7記載の方法。
  9. 【請求項9】 1個のガラス検体を提供し、 前記対物レンズを前記ガラス検体に向かって移動させ、
    前記視野内の前記合焦用フィラメントの像によって前記
    検体の上面を特定し、 前記対物レンズの前記ガラス検体に向かう移動を継続し
    て前記合焦用フィラメントの像を消滅させ、 前記ガラス検体の下面を特定するために、前記合焦用フ
    ィラメントの像が前記下面に再び出現するまで前記対物
    レンズの前記ガラス検体に向かう移動を継続する、各工
    程を含むことを特徴とする請求項1記載の方法。
  10. 【請求項10】 前記合焦用フィラメントの像を前記対
    物レンズの焦点面に合焦させる工程を含むことを特徴と
    する請求項1記載の方法。
  11. 【請求項11】 ガラスシートの両面および内部の欠陥
    部を検査し、該欠陥部の存在する部位を特定する方法で
    あって、 1個の光源と1個の対物レンズとの間の光路内に合焦用
    フィラメントを備えた光学的検査システムを提供し、 前記対物レンズが前記ガラスシートの表面上の欠陥部を
    映すのに利用するのと同じ平面上に前記合焦用フィラメ
    ントが合焦するように、該フィラメントを位置決めし、 前記合焦用フィラメントの影が視野に現れるまで、前記
    対物レンズを前記ガラスシートに向かって移動させ、こ
    れにより、前記ガラスシートの第1の表面を特定し、 前記対物レンズの焦点がさらに前記ガラスシートに向か
    って移動されるのにつれて前記対物レンズの焦点が前記
    ガラスシートの内部を移動することによって、前記フィ
    ラメントの影を消滅させ、 前記フィラメントの影が視野に再び出現するまで前記対
    物レンズの前記ガラス検体に向かう移動を継続し、これ
    により前記ガラスシートの第2の表面を特定する、各工
    程を含むことを特徴とする前記方法。
  12. 【請求項12】 前記視野内の、前記ガラスの表面に現
    れるいかなる欠陥部からも離れた一側に、前記フィラメ
    ントの影を片寄せて位置決めするために、前記フィラメ
    ントを前記光軸を横切って移動させる工程を含むことを
    特徴とする請求項11記載の方法。
  13. 【請求項13】 前記合焦用フィラメントを利用して、
    一つの平面に対する前記ガラスシートの位置の変動を自
    動的に補正するための絶対的表面基準を提供する工程を
    含むことを特徴とする請求項11記載の方法。
  14. 【請求項14】 20倍以下の倍率と、約7mmないし
    10mmまでの作動距離とを有する対物レンズを提供す
    る工程を含むことを特徴とする請求項11記載の方法。
  15. 【請求項15】 ガラス検体の両面を検査する装置であ
    って、 少なくとも1個の光源と、 1個の対物レンズと、 前記光源の光路内に提供された1本のフィラメントと、 前記対物レンズが前記ガラス検体の一方の表面に合焦さ
    れたとき、前記フィラメントを視野内に映すために、該
    フィラメントを前記ガラス検体の表面に合焦させる手段
    と、を備えていることを特徴とする前記装置。
  16. 【請求項16】 反射照明のための第1の光源と、 透過照明のための第2の光源と、 前記第1の光源の光路内に位置決めされた第1の合焦用
    フィラメントと、 前記第2の光源の光路内に位置決めされた第2の合焦用
    フィラメントと、を備えていることを特徴とする請求項
    15記載の装置。
  17. 【請求項17】 前記対物レンズが、20倍未満の倍率
    と、約7mmないし10mmまでの作動距離とを有する
    ことを特徴とする請求項15記載の装置。
  18. 【請求項18】 前記フィラメントが約3mm未満の太
    さを有することを特徴とする請求項15記載の装置。
  19. 【請求項19】 前記フィラメントが約100μm未満
    の太さを有することを特徴とする請求項15記載の装
    置。
JP2000069136A 1999-03-11 2000-03-13 自動合焦システムのための合焦用フィラメント Expired - Lifetime JP4668381B2 (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
US266256 1999-03-11
US09/266,256 US6396039B1 (en) 1999-03-11 1999-03-11 Focusing filament for autofocus system

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004361384A (ja) * 2003-05-31 2004-12-24 Samsung Corning Precision Glass Co Ltd ガラス基板内欠陥の深さ方向位置検出方法
JP2005201887A (ja) * 2003-12-16 2005-07-28 Hitachi High-Tech Electronics Engineering Co Ltd ガラス基板の検査方法及び検査装置、並びに表示用パネルの製造方法
JP2008076223A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置
JP2013145123A (ja) * 2012-01-13 2013-07-25 Seiwa Optical Co Ltd 広角反射同軸照明付光学系
JP2015528590A (ja) * 2012-08-31 2015-09-28 ナノトロニクス イメージング リミテッド ライアビリティ カンパニーNanotronics Imaging,Llc. 透明な又は低コントラストの試料の分析のための自動顕微鏡焦点システム及び方法

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7538815B1 (en) 2002-01-23 2009-05-26 Marena Systems Corporation Autofocus system and method using focus measure gradient
JP4104924B2 (ja) * 2002-07-08 2008-06-18 東レエンジニアリング株式会社 光学的測定方法およびその装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6219685B2 (ja) * 1979-01-19 1987-04-30 Hitachi Ltd
JPH0547635A (ja) * 1991-08-13 1993-02-26 Nikon Corp 投影露光装置
JPH08106051A (ja) * 1994-10-04 1996-04-23 Nikon Corp 顕微鏡の落射照明装置
JPH0968404A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Sony Corp 顕微鏡装置
JPH10111460A (ja) * 1996-10-08 1998-04-28 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
JPH10161038A (ja) * 1996-12-05 1998-06-19 Nikon Corp 顕微鏡
JPH10268203A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
JPH1164735A (ja) * 1997-08-25 1999-03-05 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 顕微鏡

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4980763A (en) * 1989-06-12 1990-12-25 Welch Allyn, Inc. System for measuring objects viewed through a borescope
US5239170A (en) * 1991-10-23 1993-08-24 Karl Suss America, Incorporated Autofocus method and apparatus for imaging microscopy using a predetermined visual imaging feature
US5647025A (en) * 1994-09-20 1997-07-08 Neopath, Inc. Automatic focusing of biomedical specimens apparatus
JP4097761B2 (ja) * 1998-03-02 2008-06-11 オリンパス株式会社 自動焦点顕微鏡及び自動合焦検出装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6219685B2 (ja) * 1979-01-19 1987-04-30 Hitachi Ltd
JPH0547635A (ja) * 1991-08-13 1993-02-26 Nikon Corp 投影露光装置
JPH08106051A (ja) * 1994-10-04 1996-04-23 Nikon Corp 顕微鏡の落射照明装置
JPH0968404A (ja) * 1995-08-31 1997-03-11 Sony Corp 顕微鏡装置
JPH10111460A (ja) * 1996-10-08 1998-04-28 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
JPH10161038A (ja) * 1996-12-05 1998-06-19 Nikon Corp 顕微鏡
JPH10268203A (ja) * 1997-03-24 1998-10-09 Olympus Optical Co Ltd 顕微鏡
JPH1164735A (ja) * 1997-08-25 1999-03-05 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 顕微鏡

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004361384A (ja) * 2003-05-31 2004-12-24 Samsung Corning Precision Glass Co Ltd ガラス基板内欠陥の深さ方向位置検出方法
JP2005201887A (ja) * 2003-12-16 2005-07-28 Hitachi High-Tech Electronics Engineering Co Ltd ガラス基板の検査方法及び検査装置、並びに表示用パネルの製造方法
JP2008076223A (ja) * 2006-09-21 2008-04-03 Matsushita Electric Ind Co Ltd 円筒状透明体の検査方法とそれに用いる検査装置
JP2013145123A (ja) * 2012-01-13 2013-07-25 Seiwa Optical Co Ltd 広角反射同軸照明付光学系
JP2015528590A (ja) * 2012-08-31 2015-09-28 ナノトロニクス イメージング リミテッド ライアビリティ カンパニーNanotronics Imaging,Llc. 透明な又は低コントラストの試料の分析のための自動顕微鏡焦点システム及び方法

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