JP2000285686A - 不揮発性メモリの書き込み回路 - Google Patents

不揮発性メモリの書き込み回路

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JP2000285686A
JP2000285686A JP8378499A JP8378499A JP2000285686A JP 2000285686 A JP2000285686 A JP 2000285686A JP 8378499 A JP8378499 A JP 8378499A JP 8378499 A JP8378499 A JP 8378499A JP 2000285686 A JP2000285686 A JP 2000285686A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 誤書き換えを防止する。 【解決手段】 フラッシュメモリ1における所定1ブロ
ックの内容を書き換える場合、ページバッファ5、6の
各アドレスに1対1に対応するフラグ回路7内部の12
8個のフラグの状態をフラグ検出回路8で検出する。即
ち、全フラグが予め定められた論理値に変化していない
場合、フラグ検出回路8からの論理値「0」の検出信号
IDALLに従い、制御部9は書き換え動作を再実行さ
せる。これにより、データ書き換えを確実に実現でき
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、不揮発性メモリの
書き込み回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図2は不揮発性メモリの書き込み回路を
示す一般ブロック図である。
【0003】図2において、フラッシュメモリ(10
1)はデータの電気消去及びデータの書き込み読み出し
が可能な不揮発性の特性を有し、マイクロコンピュータ
のプログラムメモリ、データメモリ等に使用される。フ
ラッシュメモリ(101)は一定記憶容量の複数ブロッ
ク1〜nに分割され、各ブロック単位でデータ書き換え
動作を実行する構造である。例えば、フラッシュメモリ
(101)の1ブロックは128バイト(=1ページ)
である。ページバッファ(102)はフラッシュメモリ
(101)の1ブロック分の記憶容量を有する。ページ
バッファ(102)は、フラッシュメモリ(101)の
予め定められた1ブロックの内容を書き換える際、12
8バイト分の新規データが格納される。
【0004】1ブロック単位で全内容を書き換える場
合、パージバッファ(102)の全バイトに対し外部P
ROMライタ等から128バイトの新規データを格納す
る(ステップ1)。フラッシュメモリ(101)のnブ
ロックのうち書き換え対象である所定1ブロックの全内
容を消去する(ステップ2)。フラッシュメモリ(10
1)の所定1ブロックに対しページバッファ(102)
の128バイト分の新規データを書き込む(ステップ
3)。という3個の処理ステップを実行する必要があ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、従来はページ
バッファ(102)の格納状態を確認する手段がない。
即ち、何らかの要因が作用し、ページバッファ(10
2)に対し128バイトの新規データを全て格納できな
かった場合でも、この状態を検出する術がない。従っ
て、フラッシュメモリ(101)の書き換え対象ブロッ
クに対し使用者の意志と異なるデータを書き込んでしま
う不都合があった。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記問題点を
解決する為に創作されたものであり、データの電気消去
及びデータの書き込み読み出しが可能な特性を有し、一
定記憶容量の複数ブロックから成る不揮発性メモリと、
前記不揮発性メモリを構成する1ブロック分の格納容量
を有し、所定1ブロックの書き換えデータを格納するバ
ッファ回路と、前記バッファ回路を構成する各アドレス
に1対1に対応するフラグを有し、前記バッファ回路に
おける前記書き換えデータ格納済みアドレスに対応する
フラグを予め定められた論理値に設定するフラグ回路
と、前記フラグ回路の状態を検出するフラグ検出回路
と、前記バッファ回路の全アドレスの書き換えが実行さ
れなかった時の前記フラグ検出回路の検出結果に従い、
前記バッファ回路の全アドレスに対するデータ格納動作
を再実行させる制御回路と、 を備えたことを特徴とす
る。
【0007】
【発明の実施の形態】本発明の詳細を図面に従って具体
的に説明する。
【0008】図1は本発明の不揮発性メモリの書き込み
回路を示すブロック図である。
【0009】図1において、フラッシュメモリ(1)
は、データを特定ブロック単位で電気消去でき且つデー
タを繰り返し書き込み及び読み出しできる不揮発性の特
性を有し、各々第1記憶領域(1a:LEFT ARRAY)及
び第2記憶領域(1b:RIGHTARRAY)に均等分割され
る。フラッシュメモリ(1)にはマイクロコンピュータ
を各種論理演算動作させる為のプログラムデータ、テー
ブルデータ等が記憶される。フラッシュメモリ(1)の
第1及び第2記憶領域(1a)(1b)は、例えば全記
憶容量が各々64Kバイト(1ワード=8ビットを表す
単位)で構成され、64バイト単位の偶数ブロックEV
ENと奇数ブロックODDを交互に繰り返すものである
(偶数ブロックEVENは0,2,4…番目、奇数ブロ
ックODDは1,3,5…番目を表す)。
【0010】ローデコーダ(2)は、フラッシュメモリ
(1)を構成する第1又は第2記憶領域(1a)(1
b)の何れか一方を選択し、選択された側の記憶領域か
ら64バイト単位の偶数ブロック又は奇数ブロックを選
択するものである。第1カラムデコーダ(3)は、第1
記憶領域(1a)内で指定された64バイト単位の偶数
又は奇数の1ブロック中の所定1バイトのみを選択する
ものである。第2カラムデコーダ(4)は、第2記憶領
域(1b)内で指定された64バイト単位の偶数又は奇
数の1ブロック中の所定1バイトのみを選択するもので
ある。
【0011】ページバッファ(5)(6)は、各々64
バイトの格納容量を有し、即ち、第1及び第2記憶領域
(1a)(1b)を構成する偶数及び奇数ブロックと同
一記憶容量を有する。フラグ回路(7)は、ページバッ
ファ(5)(6)の64バイトの格納位置に1対1に対
応する128個のフラグを有する。フラグ回路(7)に
おける128個の全フラグが論理値「0」に設定された
状態から、ページバッファ(5)(6)に対し新規デー
タを格納すると、新規データ格納位置に1対1に対応す
るフラグは論理値「1」に変化する。フラグ検出回路
(8)は、フラグ回路(7)の128個の全フラグが論
理値「1」になった状態、即ち、ページバッファ(5)
(6)に対し128バイトの新規データが格納された状
態を検出し、論理値「1」の検出信号IDALLを出力
するものである。制御部(9)は、フラグ検出回路
(8)から論理値「1」の検出信号IDALLが供給さ
れた時、ページバッファ(5)(6)に対する128バ
イトの新規データ格納動作を再実行させるものである。
センスアンプ(10)は、カラムデコーダ(3)(4)
から選択出力される1バイトデータを電流増幅するもの
である。IOブロック(11)は、データD7〜D0を
入出力するものである。
【0012】16ビットのアドレスデータA15〜A0
は、フラッシュメモリ(1)及びページバッファ(5)
(6)をアドレス指定する為のデータである。第1記憶
領域(1a)は、256個の偶数ブロックEVEN及び
256個の奇数ブロックODDを交互に配置した合計5
12ブロックから成る。第2記憶領域(1b)も同様に
512ブロックから成る。即ち、ローデコーダ(2)
は、アドレスデータA15〜A8が供給されることによ
り第1及び第2記憶領域(5)(6)間で相対応する1
対の偶数ブロック及び1対の奇数ブロックの合計4ブロ
ックを選択し、アドレスデータA6が供給されることに
より1対の偶数ブロック又は1対の奇数ブロックの何れ
か一方を選択する。カラムデコーダ(3)(4)は、ア
ドレスデータA5〜A0が供給されることによりローデ
コーダ(2)で選択済みの第1及び第2記憶領域(1
a)(1b)における各1ブロック内の所定1バイトを
選択する。但し、カラムデコーダ(3)(4)は、第1
又は第2記憶領域(3)(4)の何れか一方を選択する
為のアドレスデータA7も供給される為、アドレスデー
タA7が論理値「0」の時は第1記憶領域(1a)の所
定1バイトを選択出力し、アドレスデータA7が論理値
「1」の時は第2記憶領域(1b)の所定1バイトを選
択出力する。
【0013】ページバッファ(5)(6)は、第1又は
第2記憶領域(1a)(1b)の何れの内容を書き換え
るかに応じて格納順序が異なる。即ち、第1記憶領域
(1a)の内容を書き換える場合はページバッファ
(5)(6)の順番で新規データを書き込み、第2記憶
領域(1b)の内容を書き換える場合はページバッファ
(6)(5)の順番で新規データを書き込む。従って、
2個のページバッファ(5)(6)は、128バイトの
格納容量を有する1個のページバッファとして見立てる
必要がある為にアドレスデータA6〜A0が供給され、
ページバッファ(5)(6)の格納順序を決定する為に
アドレスデータA7が供給される。
【0014】フラッシュメモリ(1)の所定1ページの
全内容を書き換える場合の動作を説明する。例えば、第
2記憶領域(1b)内の隣接する1対の偶数及び奇数ブ
ロック(斜線)の全内容を書き換える場合とする。先
ず、ページバッファ(6)(5)に対しページバッファ
(6)(5)の順番で128バイトの新規データの格納
動作が実行される。この時、フラグ回路(7)の全フラ
グが論理値「1」に変化していない場合、フラグ検出回
路(8)は、ページバッファ(6)(5)に対し128
バイト分の全新規データが格納されなかったものと判断
し、制御部(9)に対し論理値「0」の検出信号IDA
LLを供給する。制御部(9)は論理値「0」の検出信
号IDALLに従いページバッファ(6)(5)への格
納動作を再実行させる。一方、フラグ回路(7)の全フ
ラグが論理値「1」に変化した場合、フラグ検出回路
(8)は、ページバッファ(6)(5)に対し128バ
イト分の全新規データが格納されたものと判断し、制御
部(9)に対し論理値「1」の検出信号IDALLを供
給する。制御部(9)は論理値「1」の検出信号IDA
LLに従い次の書き換えシーケンスに移行させる。即
ち、第2記憶領域(1b)内における前記1対の偶数及
び奇数ブロックの全内容が消去される。次に、第2記憶
領域(1b)の前記偶数ブロックEVEN(斜線)に対
しページバッファ(6)に格納された64バイト分の新
規データが書き込まれる。次に、ページバッファ(5)
に格納された64バイト分の新規データがIOバス(1
2)、センスアンプ(10)、IOブロック(11)、
IOバス(12)を通ってページバッファ(6)に格納
される。次に、第2記憶領域(1b)の前記奇数ブロッ
クODD(斜線)に対しページバッファ(6)に格納さ
れた別の64バイト分の新規データが書き込まれる。以
上より、第2記憶領域(1b)に対する1ページ分の全
データ書き込み動作が終了する。
【0015】本発明の実施の形態によれば、フラッシュ
メモリ(1)の所定1ブロックに対し新規データを確実
に書き込むことができる。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、不揮発性メモリにおけ
る所定1ブロックの内容を書き換える場合、バッファ回
路の各アドレスに1対1に対応するフラグの状態を検出
し、全フラグが予め定められた論理値に変化していない
場合は書き換え動作を再実行させる様にした為、データ
書き換えを確実に実現できる利点が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の不揮発性メモリの書き込み回路を示す
ブロック図である。
【図2】従来の不揮発性メモリの書き込み回路を示すブ
ロック図である。
【符号の説明】
(1) フラッシュメモリ (5)(6) ページバッファ (7) フラグ回路 (8) フラグ検出回路 (9) 制御部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 データの電気消去及びデータの書き込み
    読み出しが可能な特性を有し、一定記憶容量の複数ブロ
    ックから成る不揮発性メモリと、 前記不揮発性メモリを構成する1ブロック分の格納容量
    を有し、所定1ブロックの書き換えデータを格納するバ
    ッファ回路と、 前記バッファ回路を構成する各アドレスに1対1に対応
    するフラグを有し、前記バッファ回路における前記書き
    換えデータ格納済みアドレスに対応するフラグを予め定
    められた論理値に設定するフラグ回路と、 前記フラグ回路の状態を検出するフラグ検出回路と、 前記バッファ回路の全アドレスの書き換えが実行されな
    かった時の前記フラグ検出回路の検出結果に従い、前記
    バッファ回路の全アドレスに対するデータ格納動作を再
    実行させる制御回路と、 を備えたことを特徴とする不揮発性メモリの書き込み回
    路。
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US7349256B2 (en) 2004-12-21 2008-03-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Flash memory devices and methods of programming the same by overlapping programming operations for multiple mats

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6917543B2 (en) 2002-08-30 2005-07-12 Nec Electronics Corporation Flash memory for improving write access time
US7349256B2 (en) 2004-12-21 2008-03-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Flash memory devices and methods of programming the same by overlapping programming operations for multiple mats
US7580284B2 (en) 2004-12-21 2009-08-25 Samsung Electronics Co., Ltd. Flash memory devices and methods of programming the same by overlapping programming operations for multiple mats
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