JP2000293560A - Link analysis device, link analysis method, and recording medium on which link analysis program is recorded - Google Patents
Link analysis device, link analysis method, and recording medium on which link analysis program is recordedInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、空間の電磁界分
布（例えば、基板の内部に存在する回路の電源電圧の振
れによる電磁波の放射）を解析するリンク解析装置及び
リンク解析方法に関するものであり、また、空間の電磁
界分布を解析するリンク解析プログラムが記録された記
録媒体に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a link analyzing apparatus and a link analyzing method for analyzing an electromagnetic field distribution in a space (for example, electromagnetic wave radiation due to fluctuation of a power supply voltage of a circuit existing inside a substrate). Further, the present invention relates to a recording medium on which a link analysis program for analyzing a space electromagnetic field distribution is recorded.
【０００２】[0002]
【従来の技術】図６は従来のリンク解析装置の処理手順
を示すフローチャートであり、図において、１は制御プ
ログラム８から電界データ７を受けると、その電界デー
タ７等に基づく電磁界解析を実行してＩＣが存在する空
間（位置周辺）の磁界を求める電磁界解析手法であるＦ
ＤＴＤ（Ｆｉｎｉｔｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ Ｔｉｍ
ｅ Ｄｏｍａｉｎ）、２はＦＤＴＤ１により求められた
磁界を示す磁界データ、３は磁界データ２から変換され
た電流データ、４は１ステップ前の回路解析による最終
状態の電流・電圧データとＦＤＴＤ１から出力された電
流データ３に基づいてＳＰＩＣＥ５を初期化する初期化
処理、５は制御プログラム８から電流データ３を受ける
と、その電流データ３等に基づく回路解析を実行して、
回路と電磁界のリンクポイントでの電圧を求める回路解
析手法であるＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ Ｐｒ
ｏｇｒａｍ ｗｉｔｈ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒ
ｃｕｉｔ Ｅｍｐｈａｓｉｓ）、６はＳＰＩＣＥ５によ
り求められた電圧を示す電圧データ、７は電圧データ６
から変換された電界データ、８はＦＤＴＤ１及びＳＰＩ
ＣＥ５を交互に実行させる制御プログラムである。2. Description of the Related Art FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure of a conventional link analysis apparatus. In FIG. 6, when an electric field data 7 is received from a control program 8, an electromagnetic field analysis based on the electric field data 7 is executed. F, which is an electromagnetic field analysis method for obtaining a magnetic field in a space (around the position) where an IC exists
DTD (Finite Difference Tim)
e Domain), 2 is magnetic field data indicating the magnetic field obtained by FDTD1, 3 is current data converted from magnetic field data 2, 4 is current / voltage data in the final state by circuit analysis one step before, and is output from FDTD1. The initialization processing 5 for initializing the SPICE 5 based on the received current data 3 receives the current data 3 from the control program 8, and executes a circuit analysis based on the current data 3 and the like.
SPICE (Simulation Pr) which is a circuit analysis method for obtaining a voltage at a link point between a circuit and an electromagnetic field
ogram with Integrated Cir
(Cut Emphasis), 6 is voltage data indicating a voltage obtained by SPICE 5, and 7 is voltage data 6
8 is FDTD1 and SPI
This is a control program for alternately executing CE5.
【０００３】次に動作について説明する。まず、制御プ
ログラム８は、ＦＤＴＤ１による電磁界解析とＳＰＩＣ
Ｅ５による回路解析をリンクさせるため、ＦＤＴＤ１の
解析結果である電流データ３をＳＰＩＣＥ５に転送する
とともに、ＳＰＩＣＥ５の解析結果である電界データ７
をＦＤＴＤ１に転送して、ＦＤＴＤ１とＳＰＩＣＥ５を
交互に実行させるものである。Next, the operation will be described. First, the control program 8 performs the electromagnetic field analysis by the FDTD 1 and the SPIC.
In order to link the circuit analysis by E5, the current data 3 which is the analysis result of FDTD1 is transferred to SPICE5, and the electric field data 7 which is the analysis result of SPICE5.
Is transferred to FDTD1, and FDTD1 and SPICE5 are alternately executed.
【０００４】即ち、制御プログラム８は、ＳＰＩＣＥ５
から電界データ７を受けると（ＳＰＩＣＥ５は電界デー
タ７を制御プログラム８に出力すると、次回の回路解析
のため、回路内部の全ての電流・電圧データを保存する
とともに、回路解析を停止する）、その電界データ７を
ＦＤＴＤ１に転送するとともに、ＦＤＴＤ１の待機状態
（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電磁界解析の実行を指
示する。[0004] That is, the control program 8 includes a SPICE5
(The SPICE 5 outputs the electric field data 7 to the control program 8 and saves all the current / voltage data inside the circuit and stops the circuit analysis for the next circuit analysis). The electric field data 7 is transferred to the FDTD 1 and the standby state (pause state) of the FDTD 1 is released to instruct execution of the electromagnetic field analysis.
【０００５】そして、ＦＤＴＤ１は、制御プログラム８
から電磁界解析の実行指示と電界データ７を受けると、
その電界データ７及び前回解析した電界・磁界データに
基づく電磁界解析を１ステップ実行して、ＩＣが存在す
る空間の磁界を求め、その磁界を示す磁界データ２を電
流データ３に変換する。なお、ＦＤＴＤ１は電磁界解析
を１ステップ実行すると、再度、制御プログラム８から
電磁界解析の実行指示を受けるまで待機するｐａｕｓｅ
状態に移行する。The FDTD 1 has a control program 8
When receiving the instruction to execute the electromagnetic field analysis and the electric field data 7 from the
The electromagnetic field analysis based on the electric field data 7 and the previously analyzed electric / magnetic field data is executed in one step to determine the magnetic field in the space where the IC exists, and the magnetic field data 2 indicating the magnetic field is converted into the current data 3. When the FDTD 1 executes the electromagnetic field analysis for one step, the pause mode waits again until an instruction to execute the electromagnetic field analysis is received from the control program 8.
Transition to the state.
【０００６】制御プログラム８は、ＦＤＴＤ１が電磁界
解析を実行して、その解析結果である電流データ３を受
けると、その電流データ３をＳＰＩＣＥ５に転送すると
ともに、ＳＰＩＣＥ５を初期化して（１ステップ前の回
路解析による最終状態の電流・電圧データとＦＤＴＤ１
から出力された電流データ３に基づいてＳＰＩＣＥ５を
初期化する）、回路解析の実行を指示する。When the FDTD 1 executes the electromagnetic field analysis and receives the current data 3 which is the analysis result, the control program 8 transfers the current data 3 to the SPICE 5 and initializes the SPICE 5 (one step before). And FDTD1 in the final state by the circuit analysis of
The SPICE 5 is initialized based on the current data 3 output from the CPU 3), and execution of circuit analysis is instructed.
【０００７】そして、ＳＰＩＣＥ５は、制御プログラム
８から回路解析の実行指示と電流データ３を受けると、
その電流データ３と前回の解析の最終状態である回路内
部の全ての電流・電圧データに基づく回路解析を１ステ
ップ実行して、回路と電磁界のリンクポイントでの電圧
を求め、その電圧を示す電圧データ６を電界データ７に
変換する。なお、ＳＰＩＣＥ５は回路解析を１ステップ
実行すると、次回の回路解析のため、回路内部の全ての
電流・電圧データを保存するとともに、回路解析を停止
する。[0007] When the SPICE 5 receives the instruction to execute the circuit analysis and the current data 3 from the control program 8,
One step of circuit analysis is performed based on the current data 3 and all current and voltage data inside the circuit, which is the final state of the previous analysis, to find the voltage at the link point between the circuit and the electromagnetic field, and indicates the voltage. The voltage data 6 is converted into electric field data 7. When the SPICE 5 executes one step of the circuit analysis, the SPICE 5 saves all the current / voltage data inside the circuit and stops the circuit analysis for the next circuit analysis.
【０００８】このようにして、ＳＰＩＣＥ５が回路解析
を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ１に対して電
磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ１による電磁界
解析とＳＰＩＣＥ５による回路解析を予め設定された回
数だけ交互に繰り返し実行させることにより、電磁界解
析と回路解析のリンクを実現する。When the SPICE 5 executes the circuit analysis in one step, the FDTD 1 is instructed to execute the electromagnetic field analysis. Only by alternately and repeatedly executing it, a link between electromagnetic field analysis and circuit analysis is realized.
【０００９】[0009]
【発明が解決しようとする課題】従来のリンク解析装置
は以上のように構成されているので、ＦＤＴＤ１による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ５による回路解析を交互に繰り
返すことにより、電磁界解析と回路解析のリンクを実現
することができるが、ＩＣに正常な電源電圧が印加され
たとき当該ＩＣに流れる電流を解析していないため、Ｉ
Ｃのスイッチング特性を解析することができないなどの
課題があった。Since the conventional link analysis apparatus is configured as described above, the electromagnetic field analysis by the FDTD 1 and the circuit analysis by the SPICE 5 are alternately repeated to link the electromagnetic field analysis and the circuit analysis. Can be realized, but the current flowing through the IC when a normal power supply voltage is applied to the IC is not analyzed.
There was a problem that the switching characteristics of C could not be analyzed.
【００１０】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、ＩＣのスイッチング特性を解析す
ることができるリンク解析装置及びリンク解析方法を得
ることを目的とする。また、この発明は、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができるリンク解析プログラ
ムが記録された記録媒体を得ることを目的とする。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and has as its object to provide a link analysis device and a link analysis method capable of analyzing the switching characteristics of an IC. Another object of the present invention is to obtain a recording medium on which a link analysis program capable of analyzing switching characteristics of an IC is recorded.
【００１１】[0011]
【課題を解決するための手段】この発明に係るリンク解
析装置は、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに
流れる電流を解析し、その電流に基づいて回路解析手段
を初期化する初期化手段を設けたものである。A link analysis device according to the present invention analyzes a current flowing through an IC when a power supply voltage is applied to the IC, and initializes a circuit analysis means based on the current. Means are provided.
【００１２】この発明に係るリンク解析装置は、電磁界
解析手段が出力する電流データに対して、初期化手段に
より解析された電流を加算して、その電流データを補正
する電流補正手段と、回路解析手段が出力する電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正手段とを設けたものであ
る。A link analyzing apparatus according to the present invention comprises: a current correcting means for adding a current analyzed by an initializing means to current data output from an electromagnetic field analyzing means to correct the current data; An electric field correction means is provided for subtracting an electric field corresponding to the power supply voltage from the electric field data output by the analysis means and correcting the electric field data.
【００１３】この発明に係るリンク解析装置は、電磁界
解析手段により変換された電圧データに対して、ＩＣに
印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補正
する電圧補正手段と、回路解析手段により変換された電
界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算し
て、その電界データを補正する電界補正手段とを設けた
ものである。A link analyzing apparatus according to the present invention includes a voltage correcting means for adding a power supply voltage applied to an IC to voltage data converted by an electromagnetic field analyzing means to correct the voltage data, and a circuit. An electric field correction means for subtracting an electric field corresponding to a power supply voltage from the electric field data converted by the analysis means and correcting the electric field data is provided.
【００１４】この発明に係るリンク解析方法は、電流デ
ータに基づく回路解析を実行する際、ＩＣに電源電圧が
印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電
流に基づいて回路解析を初期化するようにしたものであ
る。According to the link analysis method of the present invention, when a circuit analysis based on current data is executed, a current flowing through the IC when a power supply voltage is applied is analyzed, and the circuit analysis is initialized based on the current. It is intended to be.
【００１５】この発明に係るリンク解析方法は、磁界か
ら変換された電流データに対して、ＩＣに電源電圧が印
加されたとき当該ＩＣに流れる電流を加算して、その電
流データを補正するとともに、電圧から変換された電界
データに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、
その電界データを補正するようにしたものである。According to the link analysis method of the present invention, a current flowing through an IC when a power supply voltage is applied to the IC is added to the current data converted from the magnetic field to correct the current data. The electric field corresponding to the power supply voltage is subtracted from the electric field data converted from the voltage,
The electric field data is corrected.
【００１６】この発明に係るリンク解析方法は、ＩＣが
存在する空間の電界を求めるとともに、その電界を電圧
データに変換すると、その電圧データに対して、ＩＣに
印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補正
する一方、ＩＣの両端に印加される電圧を求めるととも
に、その電圧を電界データに変換すると、その電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正するようにしたものである。According to the link analysis method of the present invention, an electric field in a space where an IC exists is obtained, and when the electric field is converted into voltage data, a power supply voltage applied to the IC is added to the voltage data. When the voltage data is corrected, the voltage applied to both ends of the IC is obtained, and the voltage is converted into electric field data. Then, the electric field corresponding to the power supply voltage is subtracted from the electric field data to obtain the electric field. The data is corrected.
【００１７】この発明に係るリンク解析プログラムが記
録された記録媒体は、ＩＣに電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回
路解析プログラムを初期化する初期化プログラムを記録
するものである。The recording medium on which the link analysis program according to the present invention is recorded analyzes the current flowing through the IC when the power supply voltage is applied to the IC, and initializes the circuit analysis program based on the current. It records the program.
【００１８】この発明に係るリンク解析プログラムが記
録された記録媒体は、電磁界解析プログラムが出力する
電流データに対して、初期化プログラムにより解析され
た電流を加算して、その電流データを補正する電流補正
プログラムと、回路解析プログラムが出力する電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正プログラムとを記録する
ものである。The recording medium on which the link analysis program according to the present invention is recorded corrects the current data by adding the current analyzed by the initialization program to the current data output by the electromagnetic field analysis program. A current correction program and an electric field correction program for correcting the electric field data by subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the electric field data output by the circuit analysis program are recorded.
【００１９】この発明に係るリンク解析プログラムが記
録された記録媒体は、電磁界解析プログラムにより変換
された電圧データに対して、ＩＣに印加される電源電圧
を加算して、その電圧データを補正する電圧補正プログ
ラムと、回路解析プログラムにより変換された電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正プログラムとを記録する
ものである。The recording medium storing the link analysis program according to the present invention corrects the voltage data by adding the power supply voltage applied to the IC to the voltage data converted by the electromagnetic field analysis program. A voltage correction program and an electric field correction program for subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the electric field data converted by the circuit analysis program and correcting the electric field data are recorded.
【００２０】[0020]
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１によるリ
ンク解析方法を示すフローチャートであり、図におい
て、１１は回路解析の初期状態として、ＩＣに正常な電
源電圧が印加されたときの状態を設定する初期状態設定
処理、１２はＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流及び回路内部の全ての電流・電圧を
解析する回路解析手法であるＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａ
ｔｉｏｎ Ｐｒｏｇｒａｍｗｉｔｈ Ｉｎｔｅｇｒａｔ
ｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｅｍｐｈａｓｉｓ）、１３はＳ
ＰＩＣＥ１２の解析結果であるＩＣに流れる電流を保存
する保存処理である。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the present invention will be described below. Embodiment 1 FIG. FIG. 1 is a flowchart showing a link analysis method according to Embodiment 1 of the present invention. In the figure, reference numeral 11 denotes an initial state for setting a state when a normal power supply voltage is applied to an IC as an initial state of circuit analysis. The setting process 12 is a SPICE (Simula) which is a circuit analysis method for analyzing a current flowing through the IC when a normal power supply voltage is applied to the IC and all currents and voltages inside the circuit.
Tion Program With Integrat
ed Circuit Emphasis), 13 is S
This is storage processing for storing the current flowing through the IC, which is the analysis result of PICE12.
【００２１】１４は制御プログラム２１から電界データ
２０を受けると、その電界データ２０及び前回解析した
電界・磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣが
存在する空間（位置周辺）の磁界を求める電磁界解析手
法であるＦＤＴＤ（Ｆｉｎｉｔｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃ
ｅ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ）、１５はＦＤＴＤ１４に
より求められた磁界を示す磁界データ、１６は磁界デー
タ１５から変換された電流データ、１７はＳＰＩＣＥ１
２の解析結果であるＩＣに流れる電流及び回路内部の全
ての電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ１８を初期化する
初期化処理、１８は制御プログラム２１から電流データ
１６を受けると、その電流データ１６及び回路内部の全
ての電流・電圧データに基づく回路解析を実行してＩＣ
の両端に印加される電圧を求める回路解析手法であるＳ
ＰＩＣＥ、１９はＳＰＩＣＥ１８により求められた電圧
を示す電圧データ、２０は電圧データ１９から変換され
た電界データ、２１はＦＤＴＤ１４及びＳＰＩＣＥ１８
を交互に実行させる制御プログラムである。When the electric field data 20 is received from the control program 21, the electromagnetic field analysis based on the electric field data 20 and the previously analyzed electric / magnetic field data is executed to obtain the magnetic field in the space (around the position) where the IC exists. FDTD (Finite Difference), an electromagnetic field analysis method
e Time Domain), 15 is magnetic field data indicating a magnetic field obtained by the FDTD 14, 16 is current data converted from the magnetic field data 15, and 17 is SPICE1.
Initialization processing for initializing the SPICE 18 based on the current flowing through the IC and all the currents and voltages inside the circuit, which is the result of the analysis 2. Upon receiving the current data 16 from the control program 21, the initialization processing 18 Performs circuit analysis based on all internal current and voltage data and performs IC
Is a circuit analysis method for obtaining a voltage applied to both ends of
PICE, 19 is voltage data indicating the voltage obtained by SPICE 18, 20 is electric field data converted from voltage data 19, 21 is FDTD 14 and SPICE 18.
Are executed alternately.
【００２２】図２はこの発明の実施の形態１によるリン
ク解析装置を示す構成図であり、図において、３１は電
磁界解析プログラムを有し、制御部３６から電界データ
２０を受けると、その電界データ２０及び前回の電界・
磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣが存在す
る空間の磁界を求める電磁界解析部（電磁界解析手
段）、３２は電磁界解析部３１により求められた磁界を
示す磁界データ１５を電流データ１６に変換する磁界・
電流変換部（電磁界解析手段）、３３は回路解析プログ
ラムを有し、制御部３６から電流データ１６を受ける
と、その電流データ１６及び回路内部の全ての電流・電
圧データに基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加
される電圧を求める回路解析部（回路解析手段）、３４
は回路解析部３３により求められた電圧を示す電圧デー
タ１９を電界データ２０に変換する電圧・電界変換部
（回路解析手段）、３５は初期化プログラムを有し、Ｉ
Ｃに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流及
び回路内部の全ての電流・電圧を解析する初期状態設定
部（初期化手段）、３６は初期状態設定部３５により解
析された電流及び回路内部の全ての電流・電圧に基づい
て回路解析部３３を初期化するとともに、電磁界解析部
３１と回路解析部３３を交互に実行させる制御部（初期
化手段）である。FIG. 2 is a block diagram showing a link analyzing apparatus according to the first embodiment of the present invention. In the figure, reference numeral 31 denotes an electromagnetic field analysis program. Data 20 and previous electric field
An electromagnetic field analysis unit (electromagnetic field analysis means) for performing an electromagnetic field analysis based on the magnetic field data to obtain a magnetic field in the space where the IC is located; Magnetic field to be converted to data 16
The current conversion unit (electromagnetic field analysis unit) 33 has a circuit analysis program, and upon receiving the current data 16 from the control unit 36, executes a circuit analysis based on the current data 16 and all current / voltage data inside the circuit. A circuit analysis unit (circuit analysis means) for obtaining a voltage applied to both ends of the IC
Is a voltage / electric field conversion unit (circuit analysis means) for converting the voltage data 19 indicating the voltage obtained by the circuit analysis unit 33 into electric field data 20; 35 has an initialization program;
An initial state setting unit (initializing means) 36 for analyzing a current flowing through the IC when a power supply voltage is applied to C and all currents and voltages inside the circuit, and a current and a circuit analyzed by the initial state setting unit 35 A control unit (initializing means) that initializes the circuit analysis unit 33 based on all internal currents and voltages, and alternately executes the electromagnetic field analysis unit 31 and the circuit analysis unit 33.
【００２３】次に動作について説明する。最初に、電磁
界解析と回路解析のリンクを実現するに際し、ＩＣのス
イッチング特性を解析するため、初期状態設定部３５が
ＳＰＩＣＥ１２による回路解析の初期状態として、ＩＣ
に正常な電源電圧が印加されたときの状態を設定するこ
とにより、当該ＩＣに流れる電流と、回路内部の全ての
電流・電圧を解析する。Next, the operation will be described. First, in realizing the link between the electromagnetic field analysis and the circuit analysis, the initial state setting unit 35 sets the IC state as the initial state of the circuit analysis by the SPICE 12 in order to analyze the switching characteristics of the IC.
By setting the state when a normal power supply voltage is applied to the IC, the current flowing through the IC and all the currents and voltages inside the circuit are analyzed.
【００２４】そして、初期状態設定部３５がＩＣに流れ
る電流等を解析すると、制御部３６における制御プログ
ラム２１は、ＦＤＴＤ１４による電磁界解析とＳＰＩＣ
Ｅ１８による回路解析をリンクさせるため、ＦＤＴＤ１
４の解析結果である電流データ１６をＳＰＩＣＥ１８に
転送するとともに、ＳＰＩＣＥ１８の解析結果である電
界データ２０をＦＤＴＤ１４に転送して、ＦＤＴＤ１４
とＳＰＩＣＥ１８を交互に実行させる。When the initial state setting unit 35 analyzes the current and the like flowing through the IC, the control program 21 in the control unit 36 analyzes the electromagnetic field by the FDTD 14 and the SPIC.
To link the circuit analysis by E18, FDTD1
4 is transferred to the SPICE 18, and the electric field data 20, which is the analysis result of the SPICE 18, is transferred to the FDTD 14.
And SPICE 18 are executed alternately.
【００２５】即ち、制御プログラム２１は、ＳＰＩＣＥ
１８から電界データ２０を受けると（ＳＰＩＣＥ１８は
電界データ２０を制御プログラム２１に出力すると、次
回の回路解析のため、回路内部の全ての電流・電圧デー
タを保存するとともに、回路解析を停止する）、その電
界データ２０をＦＤＴＤ１４に転送するとともに、ＦＤ
ＴＤ１４の待機状態（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電
磁界解析の実行を指示する。That is, the control program 21 executes the SPICE
When the electric field data 20 is received from the SPICE 18 (the SPICE 18 outputs the electric field data 20 to the control program 21, it saves all current and voltage data inside the circuit and stops the circuit analysis for the next circuit analysis). The electric field data 20 is transferred to the FDTD 14 and the FD
The standby state (pause state) of the TD 14 is released, and execution of the electromagnetic field analysis is instructed.
【００２６】そして、電磁界解析部３１におけるＦＤＴ
Ｄ１４は、制御プログラム２１から電磁界解析の実行指
示と電界データ２０を受けると、その電界データ２０及
び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析を１ステ
ップ実行して、ＩＣが存在する空間の磁界を求め、磁界
・電流変換部３２がその磁界を示す磁界データ１５を電
流データ１６に変換する。なお、ＦＤＴＤ１４は電磁界
解析を１ステップ実行すると、再度、制御プログラム２
１から電磁界解析の実行指示を受けるまで待機するｐａ
ｕｓｅ状態に移行する。The FDT in the electromagnetic field analysis unit 31
When D14 receives the instruction to perform the electromagnetic field analysis and the electric field data 20 from the control program 21, the D14 executes one step of the electromagnetic field analysis based on the electric field data 20 and the previous electric field / magnetic field data, and executes The magnetic field is obtained, and the magnetic field / current converter 32 converts the magnetic field data 15 indicating the magnetic field into current data 16. When the FDTD 14 executes the electromagnetic field analysis for one step, the control program 2 is again executed.
Pa to wait until receiving an electromagnetic field analysis execution instruction from pa
Transition to the use state.
【００２７】また、制御部３６における制御プログラム
２１は、ＦＤＴＤ１４が電磁界解析を実行して、その解
析結果である電流データ１６を受けると、その電流デー
タ１６をＳＰＩＣＥ１８に転送するとともに、ＳＰＩＣ
Ｅ１８を初期化して、回路解析の実行を指示する。ただ
し、制御プログラム２１は、初期状態設定部３５の解析
結果、即ち、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流及び前回の解析の最終状態である回
路内部全ての電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ１８を初
期化する。The control program 21 in the control unit 36 transmits the current data 16 to the SPICE 18 when the FDTD 14 executes the electromagnetic field analysis and receives the current data 16 as the analysis result.
E18 is initialized to instruct execution of circuit analysis. However, the control program 21 obtains the analysis result of the initial state setting unit 35, that is, the current flowing through the IC when a normal power supply voltage is applied to the IC and the current / voltage of all the currents and voltages inside the circuit which is the final state of the previous analysis The SPICE 18 is initialized based on.
【００２８】そして、回路解析部３３におけるＳＰＩＣ
Ｅ１８は、制御プログラム２１から回路解析の実行指示
と電流データ１６を受けると、その電流データ１６と前
回の解析結果である回路内部全ての電流・電圧データに
基づく回路解析を１ステップ実行して、ＩＣの両端に印
加される電圧を求め、電圧・電界変換部３４がその電圧
を示す電圧データ１９を電界データ２０に変換する。な
お、ＳＰＩＣＥ１８は回路解析を１ステップ実行する
と、次回の回路解析のため、回路内部全ての電流・電圧
を保存するとともに、回路解析を停止する。The SPIC in the circuit analysis unit 33
When E18 receives an instruction to execute a circuit analysis and the current data 16 from the control program 21, the E18 executes one step of circuit analysis based on the current data 16 and the current / voltage data of all the inside of the circuit which is the result of the previous analysis. The voltage applied to both ends of the IC is obtained, and the voltage / electric field converter 34 converts the voltage data 19 indicating the voltage into electric field data 20. When the SPICE 18 executes one step of circuit analysis, the SPICE 18 saves all currents and voltages inside the circuit and stops the circuit analysis for the next circuit analysis.
【００２９】このようにして、ＳＰＩＣＥ１８が回路解
析を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ１４に対し
て電磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ１４による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ１８による回路解析を予め設定
された回数だけ交互に繰り返し実行させることにより、
電磁界解析と回路解析のリンクを実現する。When the SPICE 18 executes the circuit analysis in one step, the FDTD 14 is instructed to execute the electromagnetic field analysis. Only by alternately and repeatedly executing
A link between electromagnetic field analysis and circuit analysis is realized.
【００３０】以上で明らかなように、この実施の形態１
によれば、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当該
ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づいてＳ
ＰＩＣＥ１８を初期化するように構成したので、ＩＣの
スイッチング特性を解析することができる効果を奏す
る。As is clear from the above, the first embodiment
According to the above, when a normal power supply voltage is applied to an IC, a current or the like flowing through the IC is analyzed, and S is determined based on the current or the like.
Since the configuration is such that the PICE 18 is initialized, it is possible to analyze the switching characteristics of the IC.
【００３１】実施の形態２．図３はこの発明の実施の形
態２によるリンク解析方法を示すフローチャートであ
り、図において、図１と同一符号は同一または相当部分
を示すので説明を省略する。２２はＩＣに正常な電源電
圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流データＩ H 及
び正常な電源電圧に対応する電界データＤH を補正デー
タとして設定する補正設定処理、２３は磁界・電流変換
部３２が出力する電流データＩに電流データＩH を加算
して、電流データＩを補正する補正処理、２４は電圧・
電界変換部３４が出力する電界データＤに電界データＤ
H を減算して、電界データＤを補正する補正処理であ
る。Embodiment 2 FIG. 3 shows an embodiment of the present invention.
9 is a flowchart showing a link analysis method according to state 2.
In the drawing, the same reference numerals as those in FIG.
Therefore, the description is omitted. 22 is a normal power supply to the IC.
Data I flowing through the IC when pressure is applied HPassing
Field data D corresponding to the normal and normal power supply voltageHThe correction day
23 is a magnetic field / current conversion
The current data I output by the section 32HAdd
Then, a correction process for correcting the current data I is performed.
The electric field data D output by the electric field conversion unit 34 includes the electric field data D
HIs subtracted to correct the electric field data D.
You.
【００３２】次に動作について説明する。上記実施の形
態１では、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当該
ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づいてＳ
ＰＩＣＥ１８を初期化するものについて示したが、磁界
・電流変換部３２が出力する電流データは、初期状態設
定部３５により解析された電流に対する変化分であるた
め、その電流データの絶対値は通常小さな値になる。そ
のため、ＳＰＩＣＥ１８による回路解析の解析精度が劣
化し、ＩＣのスイッチング特性の解析が困難になること
がある。Next, the operation will be described. In the first embodiment, when a normal power supply voltage is applied to the IC, the current and the like flowing through the IC are analyzed, and S is determined based on the current and the like.
Although the case where the PICE 18 is initialized has been described, since the current data output from the magnetic field / current conversion unit 32 is a change with respect to the current analyzed by the initial state setting unit 35, the absolute value of the current data is usually small. Value. For this reason, the analysis accuracy of the circuit analysis by the SPICE 18 may deteriorate, and it may be difficult to analyze the switching characteristics of the IC.
【００３３】同様に、電圧・電界変換部３４が出力する
電界データは、ＩＣに印加された正常な電源電圧の効果
が上乗せされた電界であるため、ＦＤＴＤ１４による電
磁界解析の解析精度が劣化し、ＩＣのスイッチング特性
の解析が困難になることがある。Similarly, since the electric field data output from the voltage / electric field converter 34 is an electric field in which the effect of the normal power supply voltage applied to the IC is added, the analysis accuracy of the electromagnetic field analysis by the FDTD 14 is deteriorated. In some cases, it becomes difficult to analyze the switching characteristics of the IC.
【００３４】そこで、この実施の形態２では、図示せぬ
電流補正手段が、磁界・電流変換部３２が出力する電流
データＩに電流データＩH を加算して、電流データＩを
補正する一方、図示せぬ電界補正手段が、電圧・電界変
換部３４が出力する電界データＤに電界データＤH を減
算して、電界データＤを補正するようにしている。Therefore, in the second embodiment, the current correcting means (not shown) corrects the current data I by adding the current data I H to the current data I output from the magnetic field / current converter 32. An electric field correction unit (not shown) corrects the electric field data D by subtracting the electric field data D H from the electric field data D output from the voltage / electric field converter 34.
【００３５】これにより、ＦＤＴＤ１４には、正常な電
源電圧の変化分としての電界データが与えられる一方、
ＳＰＩＣＥ１８には、変化分としての電流データではな
く、ＩＣに流れる電流データが与えられるため、ＦＤＴ
Ｄ１４による電磁界解析とＳＰＩＣＥ１８による回路解
析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析
を正確に実行することができる効果を奏する。As a result, the FDTD 14 is supplied with electric field data as a normal power supply voltage change,
Since the SPICE 18 is supplied with current data flowing through the IC instead of current data as a change, the FDT
The analysis accuracy of the electromagnetic field analysis by D14 and the circuit analysis by SPICE 18 are improved, and an effect that the analysis of the switching characteristics of the IC can be accurately executed is achieved.
【００３６】実施の形態３．図４はこの発明の実施の形
態３によるリンク解析方法を示すフローチャートであ
り、図において、図１と同一符号は同一または相当部分
を示すので説明を省略する。４１は制御プログラム５０
から補正後の電界データ４８を受けると、その電界デー
タ４８及び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析
を実行してＩＣが存在する空間（位置）の電界を求める
ＦＤＴＤ、４２はＦＤＴＤ４１により求められた電界を
示す電界データ、４３は電界データ４２から変換された
電圧データ、４４は電圧データ４３に対してＩＣに印加
される電源電圧を加算して、その電圧データ４３を補正
する補正処理、４５は１ステップ前の最終状態の電流・
電圧に基づいてＳＰＩＣＥ４６を初期化する初期化処
理、４６は制御プログラム５０から補正後の電圧データ
４３を受けると、その電圧データ４３及び回路内部の全
ての電流・電圧データに基づく回路解析を実行してＩＣ
の両端に印加される電圧を求めるＳＰＩＣＥ、４７はＳ
ＰＩＣＥ４６により求められた電圧を示す電圧データ、
４８は電圧データ４７から変換された電界データ、４９
は電界データ４８に対して電源電圧に対応する電界を減
算して、その電界データ４８を補正する補正処理、５０
はＦＤＴＤ４１及びＳＰＩＣＥ４６を交互に実行させる
制御プログラムである。Embodiment 3 FIG. 4 is a flowchart showing a link analysis method according to Embodiment 3 of the present invention. In the figure, the same reference numerals as those in FIG. 41 is a control program 50
Receiving the corrected electric field data 48 from the FDTD, the FDTD for obtaining the electric field in the space (position) where the IC is present by executing the electromagnetic field analysis based on the electric field data 48 and the previous electric field / magnetic field data, and 42 using the FDTD 41 Electric field data indicating the applied electric field; 43, voltage data converted from the electric field data 42; 44, a correction process for adding the power supply voltage applied to the IC to the voltage data 43 to correct the voltage data 43; 45 is the current in the final state one step before.
Upon receiving the corrected voltage data 43 from the control program 50, the initialization processing for initializing the SPICE 46 based on the voltage executes a circuit analysis based on the voltage data 43 and all current / voltage data inside the circuit. IC
SPICE for calculating the voltage applied to both ends of the
Voltage data indicating the voltage determined by PICE46,
48 is electric field data converted from the voltage data 47, 49
Is a correction process for subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the electric field data 48 to correct the electric field data 48;
Is a control program for alternately executing the FDTD 41 and the SPICE 46.
【００３７】図５はこの発明の実施の形態３によるリン
ク解析装置を示す構成図であり、図において、５１は電
磁界解析プログラムを有し、制御部５７から補正後の電
界データ４８を受けると、その電界データ４８及び前回
の電界・磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣ
が存在する空間の電界を求める電磁界解析部（電磁界解
析手段）、５２は電磁界解析部５１により求められた電
界を示す電界データ４２を電圧データ４３に変換する電
界・電圧変換部（電磁界解析手段）、５３は電圧補正プ
ログラムを有し、電界・電圧変換部５２により変換され
た電圧データ４３に対して、ＩＣに印加される電源電圧
を加算して、その電圧データ４３を補正する電圧補正部
（電圧補正手段）、５４は回路解析プログラムを有し、
制御部５７から補正後の電圧データ４３を受けると、そ
の電圧データ４３及び回路内部の全ての電流・電圧デー
タに基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加される
電圧を求める回路解析部（回路解析手段）、５５は回路
解析部５４により求められた電圧を示す電圧データ４７
を電界データ４８に変換する電圧・電界変換部（回路解
析手段）、５６は電界補正プログラムを有し、電圧・電
界変換部５５により変換された電界データ４８に対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タ４８を補正する電界補正部（電界補正手段）である。FIG. 5 is a block diagram showing a link analyzing apparatus according to a third embodiment of the present invention. In FIG. 5, reference numeral 51 denotes an electromagnetic field analysis program, which receives the corrected electric field data 48 from the control unit 57. Performs an electromagnetic field analysis based on the electric field data 48 and the previous electric / magnetic field data, and
An electromagnetic field analysis unit (electromagnetic field analysis means) for obtaining an electric field in a space in which an electric field exists, and an electric field / voltage conversion unit (electromagnetic field conversion unit) 52 for converting electric field data 42 indicating the electric field obtained by the electromagnetic field analysis unit 51 into voltage data 43 The field analysis unit 53 includes a voltage correction program, and corrects the voltage data 43 by adding the power supply voltage applied to the IC to the voltage data 43 converted by the electric field / voltage conversion unit 52. The voltage correction unit (voltage correction means) 54 has a circuit analysis program,
When the corrected voltage data 43 is received from the control unit 57, a circuit analysis is performed based on the voltage data 43 and all the current / voltage data inside the circuit to obtain a voltage applied to both ends of the IC. Circuit analysis means), 55 is voltage data 47 indicating the voltage obtained by the circuit analysis unit 54
A voltage / electric field converter (circuit analysis means) for converting the electric field data 48 into electric field data 48, and has an electric field correction program. Is subtracted to correct the electric field data 48.
【００３８】次に動作について説明する。まず、制御部
５７における制御プログラム５０は、ＦＤＴＤ４１によ
る電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析をリンク
させるため、ＦＤＴＤ４１の解析結果である電圧データ
４３をＳＰＩＣＥ４６に転送するとともに、ＳＰＩＣＥ
４６の解析結果である電界データ４８をＦＤＴＤ４１に
転送して、ＦＤＴＤ４１とＳＰＩＣＥ４６を交互に実行
させる。Next, the operation will be described. First, the control program 50 in the control unit 57 transfers the voltage data 43, which is the analysis result of the FDTD 41, to the SPICE 46 to link the electromagnetic field analysis by the FDTD 41 and the circuit analysis by the SPICE 46,
The electric field data 48 as the analysis result of 46 is transferred to the FDTD 41, and the FDTD 41 and the SPICE 46 are alternately executed.
【００３９】即ち、制御プログラム５０は、ＳＰＩＣＥ
４６から補正後の電界データ４８を受けると、その電界
データ４８をＦＤＴＤ４１に転送するとともに、ＦＤＴ
Ｄ４１の待機状態（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電磁
界解析の実行を指示する。That is, the control program 50 executes the SPICE
When the corrected electric field data 48 is received from the FDTD 41, the electric field data 48 is transferred to the FDTD 41 and
The standby state (pause state) of D41 is released, and execution of the electromagnetic field analysis is instructed.
【００４０】そして、電磁界解析部５１におけるＦＤＴ
Ｄ４１は、制御プログラム５０から電磁界解析の実行指
示と補正後の電界データ４８を受けると、その電界デー
タ４８及び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析
を１ステップ実行して、ＩＣが存在する空間の電界を求
める。そして、電界・電圧変換部５２は、電磁界解析部
５１が電界を求めると、その電界を示す電界データ４２
を電圧データ４３に変換し、電圧補正部５３が電圧デー
タ４３に対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算し
て、その電圧データ４３を補正する。なお、ＦＤＴＤ４
１は電磁界解析を１ステップ実行すると、再度、制御プ
ログラム５０から電磁界解析の実行指示を受けるまで待
機するｐａｕｓｅ状態に移行する。The FDT in the electromagnetic field analysis unit 51
When D41 receives the instruction to execute the electromagnetic field analysis and the corrected electric field data 48 from the control program 50, the D41 executes the electromagnetic field analysis based on the electric field data 48 and the previous electric field / magnetic field data by one step, and the IC exists. Find the electric field in the space where When the electromagnetic field analysis unit 51 obtains the electric field, the electric field / voltage conversion unit 52 outputs electric field data 42 indicating the electric field.
Is converted into voltage data 43, and the voltage correction unit 53 corrects the voltage data 43 by adding the power supply voltage applied to the IC to the voltage data 43. FDTD4
1 executes the electromagnetic field analysis by one step, and shifts to a pause state in which the control program 50 waits until receiving an instruction to execute the electromagnetic field analysis from the control program 50 again.
【００４１】また、制御部５７における制御プログラム
５０は、ＦＤＴＤ４１が電磁界解析を実行して、その解
析結果である補正後の電圧データ４３を受けると、その
電圧データ４３をＳＰＩＣＥ４６に転送するとともに、
ＳＰＩＣＥ４６を初期化して（１ステップ前の最終状態
の電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ４６を初期化す
る）、回路解析の実行を指示する。When the FDTD 41 executes the electromagnetic field analysis and receives the corrected voltage data 43 which is the analysis result, the control program 50 in the control unit 57 transfers the voltage data 43 to the SPICE 46 and
The SPICE 46 is initialized (the SPICE 46 is initialized based on the current and voltage in the final state one step before), and the execution of the circuit analysis is instructed.
【００４２】そして、回路解析部５４におけるＳＰＩＣ
Ｅ４６は、制御プログラム５０から回路解析の実行指示
と補正後の電圧データ４３を受けると、その電圧データ
４３と前回の解析結果である及び回路内部の全ての電流
・電圧データに基づく回路解析を１ステップ実行して、
ＩＣの両端に印加される電圧を求める。そして、電圧・
電界変換部５５は、回路解析部５４が電圧を求めると、
その電圧を示す電圧データ４７を電界データ４８に変換
し、電界補正部５６が電界データ４８に対して、電源電
圧に対応する電界を減算して、その電界データ４８を補
正する。なお、ＳＰＩＣＥ４６は回路解析を１ステップ
実行すると、次回の回路解析のため、回路内部の全ての
電流・電圧データを保存するとともに、回路解析を停止
する。The SPIC in the circuit analysis unit 54
When E46 receives the instruction to execute the circuit analysis and the corrected voltage data 43 from the control program 50, the E46 performs a circuit analysis based on the voltage data 43 and the previous analysis result and all the current / voltage data inside the circuit. Step through,
The voltage applied to both ends of the IC is obtained. And the voltage
When the circuit analysis unit 54 obtains the voltage, the electric field conversion unit 55
The voltage data 47 indicating the voltage is converted into electric field data 48, and the electric field correction unit 56 corrects the electric field data 48 by subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the electric field data 48. When the SPICE 46 executes the circuit analysis for one step, the SPICE 46 saves all current / voltage data inside the circuit and stops the circuit analysis for the next circuit analysis.
【００４３】このようにして、ＳＰＩＣＥ４６が回路解
析を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ４１に対し
て電磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ４１による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析を予め設定
された回数だけ交互に繰り返し実行させることにより、
電磁界解析と回路解析のリンクを実現する。When the SPICE 46 executes the circuit analysis in one step, the FDTD 41 is instructed to execute the electromagnetic field analysis. Only by alternately and repeatedly executing
A link between electromagnetic field analysis and circuit analysis is realized.
【００４４】以上で明らかなように、この実施の形態３
によれば、ＩＣが存在する空間の電界を求めるととも
に、その電界を電圧データに変換すると、その電圧デー
タに対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算して、そ
の電圧データを補正する一方、ＩＣの両端に印加される
電圧を求めるとともに、その電圧を電界データに変換す
ると、その電界データに対して、電源電圧に対応する電
界を減算して、その電界データを補正するように構成し
たので、上記実施の形態２と同様に、ＦＤＴＤ４１によ
る電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析の解析精
度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を正確に実
行することができる効果を奏する。As is clear from the above, the third embodiment
According to the method, when an electric field in a space where an IC exists is obtained, and the electric field is converted into voltage data, a power supply voltage applied to the IC is added to the voltage data to correct the voltage data. , The voltage applied to both ends of the IC is obtained, and when the voltage is converted into electric field data, the electric field corresponding to the power supply voltage is subtracted from the electric field data to correct the electric field data. Therefore, as in the second embodiment, the analysis accuracy of the electromagnetic field analysis by the FDTD 41 and the circuit analysis by the SPICE 46 are improved, and the effect of accurately analyzing the switching characteristics of the IC is achieved.
【００４５】[0045]
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、ＩＣ
に電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解
析し、その電流に基づいて回路解析手段を初期化する初
期化手段を設けるように構成したので、ＩＣのスイッチ
ング特性を解析することができる効果がある。As described above, according to the present invention, the IC
When the power supply voltage is applied to the IC, the current flowing through the IC is analyzed, and the initialization means for initializing the circuit analysis means is provided based on the current, so that the switching characteristics of the IC can be analyzed. effective.
【００４６】この発明によれば、電磁界解析手段が出力
する電流データに対して、初期化手段により解析された
電流を加算して、その電流データを補正する電流補正手
段と、回路解析手段が出力する電界データに対して、電
源電圧に対応する電界を減算して、その電界データを補
正する電界補正手段とを設けるように構成したので、電
磁界解析と回路解析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッ
チング特性の解析を正確に実行することができる効果が
ある。According to the present invention, the current correction means for adding the current analyzed by the initialization means to the current data output from the electromagnetic field analysis means to correct the current data and the circuit analysis means An electric field correction means for correcting the electric field data by subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the output electric field data is provided, so that the analysis accuracy of the electromagnetic field analysis and the circuit analysis is improved, There is an effect that the analysis of the switching characteristics of the IC can be executed accurately.
【００４７】この発明によれば、電磁界解析手段により
変換された電圧データに対して、ＩＣに印加される電源
電圧を加算して、その電圧データを補正する電圧補正手
段と、回路解析手段により変換された電界データに対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タを補正する電界補正手段とを設けるように構成したの
で、電磁界解析と回路解析の解析精度が向上し、ＩＣの
スイッチング特性の解析を正確に実行することができる
効果がある。According to the present invention, the power supply voltage applied to the IC is added to the voltage data converted by the electromagnetic field analysis means, and the voltage correction means for correcting the voltage data and the circuit analysis means Since the electric field correction means for correcting the electric field data by subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the converted electric field data is provided, the analysis accuracy of the electromagnetic field analysis and the circuit analysis is improved. This has the effect that the analysis of the switching characteristics of the IC can be executed accurately.
【００４８】この発明によれば、電流データに基づく回
路解析を実行する際、ＩＣに電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回
路解析を初期化するように構成したので、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができる効果がある。According to the present invention, when a circuit analysis based on current data is executed, a current flowing through the IC when a power supply voltage is applied is analyzed, and the circuit analysis is initialized based on the current. , The switching characteristics of the IC can be analyzed.
【００４９】この発明によれば、磁界から変換された電
流データに対して、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流を加算して、その電流データを補正
するとともに、電圧から変換された電界データに対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タを補正するように構成したので、電磁界解析と回路解
析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析
を正確に実行することができる効果がある。According to the present invention, the current flowing through the IC when the power supply voltage is applied to the IC is added to the current data converted from the magnetic field to correct the current data and to convert the current data. An electric field corresponding to the power supply voltage is subtracted from the obtained electric field data to correct the electric field data, so that the analysis accuracy of the electromagnetic field analysis and the circuit analysis is improved, and the analysis of the switching characteristics of the IC is performed. There is an effect that can be executed accurately.
【００５０】この発明によれば、ＩＣが存在する空間の
電界を求めるとともに、その電界を電圧データに変換す
ると、その電圧データに対して、ＩＣに印加される電源
電圧を加算して、その電圧データを補正する一方、ＩＣ
の両端に印加される電圧を求めるとともに、その電圧を
電界データに変換すると、その電界データに対して、電
源電圧に対応する電界を減算して、その電界データを補
正するように構成したので、電磁界解析と回路解析の解
析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を正確
に実行することができる効果がある。According to the present invention, the electric field in the space where the IC is located is obtained, and when the electric field is converted into voltage data, the power supply voltage applied to the IC is added to the voltage data to obtain the voltage. While correcting data, IC
When the voltage applied to both ends of the power supply is obtained and the voltage is converted into electric field data, the electric field corresponding to the power supply voltage is subtracted from the electric field data, and the electric field data is corrected. The analysis accuracy of the electromagnetic field analysis and the circuit analysis is improved, and there is an effect that the analysis of the switching characteristics of the IC can be accurately executed.
【００５１】この発明によれば、ＩＣに電源電圧が印加
されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に
基づいて回路解析プログラムを初期化する初期化プログ
ラムを記録するように構成したので、ＩＣのスイッチン
グ特性を解析することができる効果がある。According to the present invention, when the power supply voltage is applied to the IC, the current flowing through the IC is analyzed, and the initialization program for initializing the circuit analysis program is recorded based on the current. This has the effect that the switching characteristics of the IC can be analyzed.
【００５２】この発明によれば、電磁界解析プログラム
が出力する電流データに対して、初期化プログラムによ
り解析された電流を加算して、その電流データを補正す
る電流補正プログラムと、回路解析プログラムが出力す
る電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
を記録するように構成したので、電磁界解析と回路解析
の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を
正確に実行することができる効果がある。According to the present invention, the current analysis program that adds the current analyzed by the initialization program to the current data output by the electromagnetic field analysis program to correct the current data and the circuit analysis program An electric field correction program that corrects the electric field data by subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the output electric field data is recorded, so the analysis accuracy of the electromagnetic field analysis and the circuit analysis is improved. This has the effect that the analysis of the switching characteristics of the IC can be executed accurately.
【００５３】この発明によれば、電磁界解析プログラム
により変換された電圧データに対して、ＩＣに印加され
る電源電圧を加算して、その電圧データを補正する電圧
補正プログラムと、回路解析プログラムにより変換され
た電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
を記録するように構成したので、電磁界解析と回路解析
の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を
正確に実行することができる効果がある。According to the present invention, a voltage correction program for adding a power supply voltage applied to an IC to voltage data converted by an electromagnetic field analysis program and correcting the voltage data, and a circuit analysis program An electric field correction program that corrects the electric field data by subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the converted electric field data is recorded, improving the analysis accuracy of electromagnetic field analysis and circuit analysis. However, there is an effect that the analysis of the switching characteristics of the IC can be executed accurately.
【図１】 この発明の実施の形態１によるリンク解析方
法を示すフローチャートである。FIG. 1 is a flowchart showing a link analysis method according to Embodiment 1 of the present invention.
【図２】 この発明の実施の形態１によるリンク解析装
置を示す構成図である。FIG. 2 is a configuration diagram illustrating a link analysis device according to the first embodiment of the present invention.
【図３】 この発明の実施の形態２によるリンク解析方
法を示すフローチャートである。FIG. 3 is a flowchart showing a link analysis method according to Embodiment 2 of the present invention.
【図４】 この発明の実施の形態３によるリンク解析方
法を示すフローチャートである。FIG. 4 is a flowchart showing a link analysis method according to Embodiment 3 of the present invention.
【図５】 この発明の実施の形態３によるリンク解析装
置を示す構成図である。FIG. 5 is a configuration diagram illustrating a link analysis device according to a third embodiment of the present invention.
【図６】 従来のリンク解析装置の処理手順を示すフロ
ーチャートである。FIG. 6 is a flowchart showing a processing procedure of a conventional link analysis device.
３１，５１ 電磁界解析部（電磁界解析手段）、３２
磁界・電流変換部（電磁界解析手段）、３３，５４ 回
路解析部（回路解析手段）、３４，５５ 電圧・電界変
換部（回路解析手段）、３５ 初期状態設定部（初期化
手段）、３６制御部（初期化手段）、５２ 電界・電圧
変換部（電磁界解析手段）、５３ 電圧補正部（電圧補
正手段）、５６ 電界補正部（電界補正手段）。31, 51 electromagnetic field analysis unit (electromagnetic field analysis means), 32
Magnetic field / current conversion section (electromagnetic field analysis means), 33, 54 circuit analysis section (circuit analysis means), 34, 55 voltage / electric field conversion section (circuit analysis means), 35 initial state setting section (initialization means), 36 Control unit (initializing means), 52 electric field / voltage converting unit (electromagnetic field analyzing means), 53 voltage correcting unit (voltage correcting means), 56 electric field correcting unit (electric field correcting means).
Claims (9)
てＩＣが存在する空間の磁界を求めるとともに、その磁
界を電流データに変換して出力する電磁界解析手段と、
上記電磁界解析手段が出力する電流データに基づく回路
解析を実行してＩＣの両端に印加される電圧を求めると
ともに、その電圧を電界データに変換して上記電磁界解
析手段に出力する回路解析手段と、上記ＩＣに電源電圧
が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その
電流に基づいて上記回路解析手段を初期化する初期化手
段とを備えたリンク解析装置。An electromagnetic field analysis means for performing an electromagnetic field analysis based on electric field data to obtain a magnetic field in a space where an IC is present, converting the magnetic field into current data and outputting the current data,
Circuit analysis means for performing a circuit analysis based on the current data output by the electromagnetic field analysis means to obtain a voltage applied to both ends of the IC, converting the voltage into electric field data and outputting the electric field data to the electromagnetic field analysis means A link analysis device comprising: a power supply voltage applied to the IC; a current flowing through the IC; and an initialization unit configured to initialize the circuit analysis unit based on the current.
対して、初期化手段により解析された電流を加算して、
その電流データを補正する電流補正手段と、回路解析手
段が出力する電界データに対して、電源電圧に対応する
電界を減算して、その電界データを補正する電界補正手
段とを設けたことを特徴とする請求項１記載のリンク解
析装置。2. The method according to claim 1, wherein the current analyzed by the initialization means is added to the current data output by the electromagnetic field analysis means.
Current correction means for correcting the current data; and electric field correction means for correcting the electric field data by subtracting the electric field corresponding to the power supply voltage from the electric field data output from the circuit analysis means. The link analysis device according to claim 1, wherein
てＩＣが存在する空間の電界を求めるとともに、その電
界を電圧データに変換する電磁界解析手段と、上記電磁
界解析手段により変換された電圧データに対して、ＩＣ
に印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補
正する電圧補正手段と、上記電圧補正手段により補正さ
れた電圧データに基づく回路解析を実行して上記ＩＣの
両端に印加される電圧を求めるとともに、その電圧を電
界データに変換する回路解析手段と、上記回路解析手段
により変換された電界データに対して、電源電圧に対応
する電界を減算して、その電界データを補正する電界補
正手段とを備えたリンク解析装置。3. An electromagnetic field analysis based on electric field data is performed to determine an electric field in a space where an IC is present, and the electromagnetic field analysis means converts the electric field into voltage data. IC for voltage data
And a voltage correcting means for correcting the voltage data by adding the power supply voltage applied to the IC, and performing a circuit analysis based on the voltage data corrected by the voltage correcting means to calculate a voltage applied to both ends of the IC. Circuit analysis means for obtaining and converting the voltage into electric field data; and electric field correction means for correcting the electric field data by subtracting an electric field corresponding to a power supply voltage from the electric field data converted by the circuit analysis means. And a link analysis device.
てＩＣが存在する空間の磁界を求め、その磁界を電流デ
ータに変換して出力する一方、その電流データに基づく
回路解析を実行してＩＣの両端に印加される電圧を求
め、その電圧を電界データに変換して出力するリンク解
析方法において、その電流データに基づく回路解析を実
行する際、上記ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該Ｉ
Ｃに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回路解析
を初期化することを特徴とするリンク解析方法。4. An electromagnetic field analysis based on electric field data is executed to obtain a magnetic field in a space where an IC is present, and the magnetic field is converted into current data and output, while a circuit analysis based on the current data is executed. In a link analysis method for obtaining a voltage applied to both ends of an IC, converting the voltage into electric field data and outputting the electric field data, when performing a circuit analysis based on the current data, when a power supply voltage is applied to the IC, I
A link analysis method characterized by analyzing a current flowing through C and initializing a circuit analysis based on the current.
て、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる
電流を加算して、その電流データを補正するとともに、
電圧から変換された電界データに対して、電源電圧に対
応する電界を減算して、その電界データを補正すること
を特徴とする請求項４記載のリンク解析方法。5. A method according to claim 1, wherein a current flowing through the IC when a power supply voltage is applied to the IC is added to the current data converted from the magnetic field to correct the current data.
The link analysis method according to claim 4, wherein the electric field data corresponding to the power supply voltage is subtracted from the electric field data converted from the voltage to correct the electric field data.
てＩＣが存在する空間の電界を求めるとともに、その電
界を電圧データに変換すると、その電圧データに対し
て、ＩＣに印加される電源電圧を加算して、その電圧デ
ータを補正する一方、その補正された電圧データに基づ
く回路解析を実行して上記ＩＣの両端に印加される電圧
を求めるとともに、その電圧を電界データに変換する
と、その電界データに対して、電源電圧に対応する電界
を減算して、その電界データを補正するリンク解析方
法。6. An electromagnetic field analysis based on electric field data is performed to determine an electric field in a space where an IC is present, and when the electric field is converted into voltage data, a power supply voltage applied to the IC with respect to the voltage data To correct the voltage data, while performing a circuit analysis based on the corrected voltage data to obtain a voltage applied to both ends of the IC, and converting the voltage to electric field data. A link analysis method for subtracting an electric field corresponding to a power supply voltage from electric field data and correcting the electric field data.
てＩＣが存在する空間の磁界を求めるとともに、その磁
界を電流データに変換して出力する電磁界解析プログラ
ムと、上記電磁界解析プログラムが出力する電流データ
に基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加される電
圧を求めるとともに、その電圧を電界データに変換して
上記電磁界解析プログラムに出力する回路解析プログラ
ムと、上記ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに
流れる電流を解析し、その電流に基づいて上記回路解析
プログラムを初期化する初期化プログラムとから構成さ
れたリンク解析プログラムが記録された記録媒体。7. An electromagnetic field analysis program that executes an electromagnetic field analysis based on electric field data to obtain a magnetic field in a space where an IC is present, converts the magnetic field into current data, and outputs the current data. A circuit analysis program that performs a circuit analysis based on the output current data to obtain a voltage applied to both ends of the IC, converts the voltage into electric field data, and outputs the electric field data to the electromagnetic field analysis program; A recording medium on which a link analysis program is recorded, the program analyzing a current flowing through the IC when a voltage is applied, and initializing the circuit analysis program based on the current.
ータに対して、初期化プログラムにより解析された電流
を加算して、その電流データを補正する電流補正プログ
ラムと、回路解析プログラムが出力する電界データに対
して、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デ
ータを補正する電界補正プログラムとが記録されたこと
を特徴とする請求項７記載のリンク解析プログラムが記
録された記録媒体。8. A current correction program for adding a current analyzed by an initialization program to current data output by an electromagnetic field analysis program to correct the current data, and an electric field data output by a circuit analysis program 8. The recording medium according to claim 7, wherein an electric field correction program for correcting the electric field data by subtracting an electric field corresponding to the power supply voltage is recorded.
てＩＣが存在する空間の電界を求めるとともに、その電
界を電圧データに変換する電磁界解析プログラムと、上
記電磁界解析プログラムにより変換された電圧データに
対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算して、その電
圧データを補正する電圧補正プログラムと、上記電圧補
正プログラムにより補正された電圧データに基づく回路
解析を実行して上記ＩＣの両端に印加される電圧を求め
るとともに、その電圧を電界データに変換する回路解析
プログラムと、上記回路解析プログラムにより変換され
た電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
から構成されたリンク解析プログラムが記録された記録
媒体。9. An electromagnetic field analysis program for executing an electromagnetic field analysis based on electric field data to determine an electric field in a space where an IC is present, and converting the electric field into voltage data; and an electromagnetic field analysis program converted by the electromagnetic field analysis program. The power supply voltage applied to the IC is added to the voltage data, and a voltage correction program for correcting the voltage data and a circuit analysis based on the voltage data corrected by the voltage correction program are executed to execute the circuit analysis of the IC. A voltage applied to both ends is obtained, a circuit analysis program for converting the voltage into electric field data, and an electric field corresponding to the power supply voltage are subtracted from the electric field data converted by the circuit analysis program, and the electric field is calculated. A recording medium on which a link analysis program including an electric field correction program for correcting data is recorded.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11099322A JP2000293560A (en) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | Link analysis device, link analysis method, and recording medium on which link analysis program is recorded |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11099322A JP2000293560A (en) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | Link analysis device, link analysis method, and recording medium on which link analysis program is recorded |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000293560A true JP2000293560A (en) | 2000-10-20 |
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ID=14244412
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11099322A Pending JP2000293560A (en) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | Link analysis device, link analysis method, and recording medium on which link analysis program is recorded |
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| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000293560A (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7957150B2 (en) | 2008-02-21 | 2011-06-07 | Hitachi, Ltd. | Support method and apparatus for printed circuit board |
| JP2015135636A (en) * | 2014-01-17 | 2015-07-27 | 富士通セミコンダクター株式会社 | Analysis support apparatus and analysis support method |
-
1999
- 1999-04-06 JP JP11099322A patent/JP2000293560A/en active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7957150B2 (en) | 2008-02-21 | 2011-06-07 | Hitachi, Ltd. | Support method and apparatus for printed circuit board |
| US8355258B2 (en) | 2008-02-21 | 2013-01-15 | Hitachi, Ltd. | Support method and apparatus for printed circuit board |
| JP2015135636A (en) * | 2014-01-17 | 2015-07-27 | 富士通セミコンダクター株式会社 | Analysis support apparatus and analysis support method |
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