JP2000293560A - リンク解析装置、リンク解析方法及びリンク解析プログラムが記録された記録媒体 - Google Patents
リンク解析装置、リンク解析方法及びリンク解析プログラムが記録された記録媒体Info
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- JP2000293560A JP2000293560A JP11099322A JP9932299A JP2000293560A JP 2000293560 A JP2000293560 A JP 2000293560A JP 11099322 A JP11099322 A JP 11099322A JP 9932299 A JP9932299 A JP 9932299A JP 2000293560 A JP2000293560 A JP 2000293560A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当該
ＩＣに流れる電流を解析していないため、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができない等の課題があっ
た。 【解決手段】 ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づい
てＳＰＩＣＥ１８を初期化する。
ＩＣに流れる電流を解析していないため、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができない等の課題があっ
た。 【解決手段】 ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づい
てＳＰＩＣＥ１８を初期化する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、空間の電磁界分
布（例えば、基板の内部に存在する回路の電源電圧の振
れによる電磁波の放射）を解析するリンク解析装置及び
リンク解析方法に関するものであり、また、空間の電磁
界分布を解析するリンク解析プログラムが記録された記
録媒体に関するものである。
布（例えば、基板の内部に存在する回路の電源電圧の振
れによる電磁波の放射）を解析するリンク解析装置及び
リンク解析方法に関するものであり、また、空間の電磁
界分布を解析するリンク解析プログラムが記録された記
録媒体に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図６は従来のリンク解析装置の処理手順
を示すフローチャートであり、図において、１は制御プ
ログラム８から電界データ７を受けると、その電界デー
タ７等に基づく電磁界解析を実行してＩＣが存在する空
間（位置周辺）の磁界を求める電磁界解析手法であるＦ
ＤＴＤ（Ｆｉｎｉｔｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ Ｔｉｍ
ｅ Ｄｏｍａｉｎ）、２はＦＤＴＤ１により求められた
磁界を示す磁界データ、３は磁界データ２から変換され
た電流データ、４は１ステップ前の回路解析による最終
状態の電流・電圧データとＦＤＴＤ１から出力された電
流データ３に基づいてＳＰＩＣＥ５を初期化する初期化
処理、５は制御プログラム８から電流データ３を受ける
と、その電流データ３等に基づく回路解析を実行して、
回路と電磁界のリンクポイントでの電圧を求める回路解
析手法であるＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ Ｐｒ
ｏｇｒａｍ ｗｉｔｈ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒ
ｃｕｉｔ Ｅｍｐｈａｓｉｓ）、６はＳＰＩＣＥ５によ
り求められた電圧を示す電圧データ、７は電圧データ６
から変換された電界データ、８はＦＤＴＤ１及びＳＰＩ
ＣＥ５を交互に実行させる制御プログラムである。
を示すフローチャートであり、図において、１は制御プ
ログラム８から電界データ７を受けると、その電界デー
タ７等に基づく電磁界解析を実行してＩＣが存在する空
間（位置周辺）の磁界を求める電磁界解析手法であるＦ
ＤＴＤ（Ｆｉｎｉｔｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃｅ Ｔｉｍ
ｅ Ｄｏｍａｉｎ）、２はＦＤＴＤ１により求められた
磁界を示す磁界データ、３は磁界データ２から変換され
た電流データ、４は１ステップ前の回路解析による最終
状態の電流・電圧データとＦＤＴＤ１から出力された電
流データ３に基づいてＳＰＩＣＥ５を初期化する初期化
処理、５は制御プログラム８から電流データ３を受ける
と、その電流データ３等に基づく回路解析を実行して、
回路と電磁界のリンクポイントでの電圧を求める回路解
析手法であるＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ Ｐｒ
ｏｇｒａｍ ｗｉｔｈ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒ
ｃｕｉｔ Ｅｍｐｈａｓｉｓ）、６はＳＰＩＣＥ５によ
り求められた電圧を示す電圧データ、７は電圧データ６
から変換された電界データ、８はＦＤＴＤ１及びＳＰＩ
ＣＥ５を交互に実行させる制御プログラムである。
【０００３】次に動作について説明する。まず、制御プ
ログラム８は、ＦＤＴＤ１による電磁界解析とＳＰＩＣ
Ｅ５による回路解析をリンクさせるため、ＦＤＴＤ１の
解析結果である電流データ３をＳＰＩＣＥ５に転送する
とともに、ＳＰＩＣＥ５の解析結果である電界データ７
をＦＤＴＤ１に転送して、ＦＤＴＤ１とＳＰＩＣＥ５を
交互に実行させるものである。
ログラム８は、ＦＤＴＤ１による電磁界解析とＳＰＩＣ
Ｅ５による回路解析をリンクさせるため、ＦＤＴＤ１の
解析結果である電流データ３をＳＰＩＣＥ５に転送する
とともに、ＳＰＩＣＥ５の解析結果である電界データ７
をＦＤＴＤ１に転送して、ＦＤＴＤ１とＳＰＩＣＥ５を
交互に実行させるものである。
【０００４】即ち、制御プログラム８は、ＳＰＩＣＥ５
から電界データ７を受けると（ＳＰＩＣＥ５は電界デー
タ７を制御プログラム８に出力すると、次回の回路解析
のため、回路内部の全ての電流・電圧データを保存する
とともに、回路解析を停止する）、その電界データ７を
ＦＤＴＤ１に転送するとともに、ＦＤＴＤ１の待機状態
（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電磁界解析の実行を指
示する。
から電界データ７を受けると（ＳＰＩＣＥ５は電界デー
タ７を制御プログラム８に出力すると、次回の回路解析
のため、回路内部の全ての電流・電圧データを保存する
とともに、回路解析を停止する）、その電界データ７を
ＦＤＴＤ１に転送するとともに、ＦＤＴＤ１の待機状態
（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電磁界解析の実行を指
示する。
【０００５】そして、ＦＤＴＤ１は、制御プログラム８
から電磁界解析の実行指示と電界データ７を受けると、
その電界データ７及び前回解析した電界・磁界データに
基づく電磁界解析を１ステップ実行して、ＩＣが存在す
る空間の磁界を求め、その磁界を示す磁界データ２を電
流データ３に変換する。なお、ＦＤＴＤ１は電磁界解析
を１ステップ実行すると、再度、制御プログラム８から
電磁界解析の実行指示を受けるまで待機するｐａｕｓｅ
状態に移行する。
から電磁界解析の実行指示と電界データ７を受けると、
その電界データ７及び前回解析した電界・磁界データに
基づく電磁界解析を１ステップ実行して、ＩＣが存在す
る空間の磁界を求め、その磁界を示す磁界データ２を電
流データ３に変換する。なお、ＦＤＴＤ１は電磁界解析
を１ステップ実行すると、再度、制御プログラム８から
電磁界解析の実行指示を受けるまで待機するｐａｕｓｅ
状態に移行する。
【０００６】制御プログラム８は、ＦＤＴＤ１が電磁界
解析を実行して、その解析結果である電流データ３を受
けると、その電流データ３をＳＰＩＣＥ５に転送すると
ともに、ＳＰＩＣＥ５を初期化して（１ステップ前の回
路解析による最終状態の電流・電圧データとＦＤＴＤ１
から出力された電流データ３に基づいてＳＰＩＣＥ５を
初期化する）、回路解析の実行を指示する。
解析を実行して、その解析結果である電流データ３を受
けると、その電流データ３をＳＰＩＣＥ５に転送すると
ともに、ＳＰＩＣＥ５を初期化して（１ステップ前の回
路解析による最終状態の電流・電圧データとＦＤＴＤ１
から出力された電流データ３に基づいてＳＰＩＣＥ５を
初期化する）、回路解析の実行を指示する。
【０００７】そして、ＳＰＩＣＥ５は、制御プログラム
８から回路解析の実行指示と電流データ３を受けると、
その電流データ３と前回の解析の最終状態である回路内
部の全ての電流・電圧データに基づく回路解析を１ステ
ップ実行して、回路と電磁界のリンクポイントでの電圧
を求め、その電圧を示す電圧データ６を電界データ７に
変換する。なお、ＳＰＩＣＥ５は回路解析を１ステップ
実行すると、次回の回路解析のため、回路内部の全ての
電流・電圧データを保存するとともに、回路解析を停止
する。
８から回路解析の実行指示と電流データ３を受けると、
その電流データ３と前回の解析の最終状態である回路内
部の全ての電流・電圧データに基づく回路解析を１ステ
ップ実行して、回路と電磁界のリンクポイントでの電圧
を求め、その電圧を示す電圧データ６を電界データ７に
変換する。なお、ＳＰＩＣＥ５は回路解析を１ステップ
実行すると、次回の回路解析のため、回路内部の全ての
電流・電圧データを保存するとともに、回路解析を停止
する。
【０００８】このようにして、ＳＰＩＣＥ５が回路解析
を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ１に対して電
磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ１による電磁界
解析とＳＰＩＣＥ５による回路解析を予め設定された回
数だけ交互に繰り返し実行させることにより、電磁界解
析と回路解析のリンクを実現する。
を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ１に対して電
磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ１による電磁界
解析とＳＰＩＣＥ５による回路解析を予め設定された回
数だけ交互に繰り返し実行させることにより、電磁界解
析と回路解析のリンクを実現する。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】従来のリンク解析装置
は以上のように構成されているので、ＦＤＴＤ１による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ５による回路解析を交互に繰り
返すことにより、電磁界解析と回路解析のリンクを実現
することができるが、ＩＣに正常な電源電圧が印加され
たとき当該ＩＣに流れる電流を解析していないため、Ｉ
Ｃのスイッチング特性を解析することができないなどの
課題があった。
は以上のように構成されているので、ＦＤＴＤ１による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ５による回路解析を交互に繰り
返すことにより、電磁界解析と回路解析のリンクを実現
することができるが、ＩＣに正常な電源電圧が印加され
たとき当該ＩＣに流れる電流を解析していないため、Ｉ
Ｃのスイッチング特性を解析することができないなどの
課題があった。
【００１０】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、ＩＣのスイッチング特性を解析す
ることができるリンク解析装置及びリンク解析方法を得
ることを目的とする。また、この発明は、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができるリンク解析プログラ
ムが記録された記録媒体を得ることを目的とする。
めになされたもので、ＩＣのスイッチング特性を解析す
ることができるリンク解析装置及びリンク解析方法を得
ることを目的とする。また、この発明は、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができるリンク解析プログラ
ムが記録された記録媒体を得ることを目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明に係るリンク解
析装置は、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに
流れる電流を解析し、その電流に基づいて回路解析手段
を初期化する初期化手段を設けたものである。
析装置は、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに
流れる電流を解析し、その電流に基づいて回路解析手段
を初期化する初期化手段を設けたものである。
【００１２】この発明に係るリンク解析装置は、電磁界
解析手段が出力する電流データに対して、初期化手段に
より解析された電流を加算して、その電流データを補正
する電流補正手段と、回路解析手段が出力する電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正手段とを設けたものであ
る。
解析手段が出力する電流データに対して、初期化手段に
より解析された電流を加算して、その電流データを補正
する電流補正手段と、回路解析手段が出力する電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正手段とを設けたものであ
る。
【００１３】この発明に係るリンク解析装置は、電磁界
解析手段により変換された電圧データに対して、ＩＣに
印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補正
する電圧補正手段と、回路解析手段により変換された電
界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算し
て、その電界データを補正する電界補正手段とを設けた
ものである。
解析手段により変換された電圧データに対して、ＩＣに
印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補正
する電圧補正手段と、回路解析手段により変換された電
界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算し
て、その電界データを補正する電界補正手段とを設けた
ものである。
【００１４】この発明に係るリンク解析方法は、電流デ
ータに基づく回路解析を実行する際、ＩＣに電源電圧が
印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電
流に基づいて回路解析を初期化するようにしたものであ
る。
ータに基づく回路解析を実行する際、ＩＣに電源電圧が
印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電
流に基づいて回路解析を初期化するようにしたものであ
る。
【００１５】この発明に係るリンク解析方法は、磁界か
ら変換された電流データに対して、ＩＣに電源電圧が印
加されたとき当該ＩＣに流れる電流を加算して、その電
流データを補正するとともに、電圧から変換された電界
データに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、
その電界データを補正するようにしたものである。
ら変換された電流データに対して、ＩＣに電源電圧が印
加されたとき当該ＩＣに流れる電流を加算して、その電
流データを補正するとともに、電圧から変換された電界
データに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、
その電界データを補正するようにしたものである。
【００１６】この発明に係るリンク解析方法は、ＩＣが
存在する空間の電界を求めるとともに、その電界を電圧
データに変換すると、その電圧データに対して、ＩＣに
印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補正
する一方、ＩＣの両端に印加される電圧を求めるととも
に、その電圧を電界データに変換すると、その電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正するようにしたものである。
存在する空間の電界を求めるとともに、その電界を電圧
データに変換すると、その電圧データに対して、ＩＣに
印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補正
する一方、ＩＣの両端に印加される電圧を求めるととも
に、その電圧を電界データに変換すると、その電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正するようにしたものである。
【００１７】この発明に係るリンク解析プログラムが記
録された記録媒体は、ＩＣに電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回
路解析プログラムを初期化する初期化プログラムを記録
するものである。
録された記録媒体は、ＩＣに電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回
路解析プログラムを初期化する初期化プログラムを記録
するものである。
【００１８】この発明に係るリンク解析プログラムが記
録された記録媒体は、電磁界解析プログラムが出力する
電流データに対して、初期化プログラムにより解析され
た電流を加算して、その電流データを補正する電流補正
プログラムと、回路解析プログラムが出力する電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正プログラムとを記録する
ものである。
録された記録媒体は、電磁界解析プログラムが出力する
電流データに対して、初期化プログラムにより解析され
た電流を加算して、その電流データを補正する電流補正
プログラムと、回路解析プログラムが出力する電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正プログラムとを記録する
ものである。
【００１９】この発明に係るリンク解析プログラムが記
録された記録媒体は、電磁界解析プログラムにより変換
された電圧データに対して、ＩＣに印加される電源電圧
を加算して、その電圧データを補正する電圧補正プログ
ラムと、回路解析プログラムにより変換された電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正プログラムとを記録する
ものである。
録された記録媒体は、電磁界解析プログラムにより変換
された電圧データに対して、ＩＣに印加される電源電圧
を加算して、その電圧データを補正する電圧補正プログ
ラムと、回路解析プログラムにより変換された電界デー
タに対して、電源電圧に対応する電界を減算して、その
電界データを補正する電界補正プログラムとを記録する
ものである。
【００２０】
【発明の実施の形態】以下、この発明の実施の一形態を
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１によるリ
ンク解析方法を示すフローチャートであり、図におい
て、１１は回路解析の初期状態として、ＩＣに正常な電
源電圧が印加されたときの状態を設定する初期状態設定
処理、１２はＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流及び回路内部の全ての電流・電圧を
解析する回路解析手法であるＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａ
ｔｉｏｎ Ｐｒｏｇｒａｍｗｉｔｈ Ｉｎｔｅｇｒａｔ
ｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｅｍｐｈａｓｉｓ）、１３はＳ
ＰＩＣＥ１２の解析結果であるＩＣに流れる電流を保存
する保存処理である。
説明する。 実施の形態１．図１はこの発明の実施の形態１によるリ
ンク解析方法を示すフローチャートであり、図におい
て、１１は回路解析の初期状態として、ＩＣに正常な電
源電圧が印加されたときの状態を設定する初期状態設定
処理、１２はＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流及び回路内部の全ての電流・電圧を
解析する回路解析手法であるＳＰＩＣＥ（Ｓｉｍｕｌａ
ｔｉｏｎ Ｐｒｏｇｒａｍｗｉｔｈ Ｉｎｔｅｇｒａｔ
ｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ Ｅｍｐｈａｓｉｓ）、１３はＳ
ＰＩＣＥ１２の解析結果であるＩＣに流れる電流を保存
する保存処理である。
【００２１】１４は制御プログラム２１から電界データ
２０を受けると、その電界データ２０及び前回解析した
電界・磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣが
存在する空間（位置周辺）の磁界を求める電磁界解析手
法であるＦＤＴＤ（Ｆｉｎｉｔｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃ
ｅ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ）、１５はＦＤＴＤ１４に
より求められた磁界を示す磁界データ、１６は磁界デー
タ１５から変換された電流データ、１７はＳＰＩＣＥ１
２の解析結果であるＩＣに流れる電流及び回路内部の全
ての電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ１８を初期化する
初期化処理、１８は制御プログラム２１から電流データ
１６を受けると、その電流データ１６及び回路内部の全
ての電流・電圧データに基づく回路解析を実行してＩＣ
の両端に印加される電圧を求める回路解析手法であるＳ
ＰＩＣＥ、１９はＳＰＩＣＥ１８により求められた電圧
を示す電圧データ、２０は電圧データ１９から変換され
た電界データ、２１はＦＤＴＤ１４及びＳＰＩＣＥ１８
を交互に実行させる制御プログラムである。
２０を受けると、その電界データ２０及び前回解析した
電界・磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣが
存在する空間（位置周辺）の磁界を求める電磁界解析手
法であるＦＤＴＤ（Ｆｉｎｉｔｅ Ｄｉｆｆｅｒｅｎｃ
ｅ Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ）、１５はＦＤＴＤ１４に
より求められた磁界を示す磁界データ、１６は磁界デー
タ１５から変換された電流データ、１７はＳＰＩＣＥ１
２の解析結果であるＩＣに流れる電流及び回路内部の全
ての電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ１８を初期化する
初期化処理、１８は制御プログラム２１から電流データ
１６を受けると、その電流データ１６及び回路内部の全
ての電流・電圧データに基づく回路解析を実行してＩＣ
の両端に印加される電圧を求める回路解析手法であるＳ
ＰＩＣＥ、１９はＳＰＩＣＥ１８により求められた電圧
を示す電圧データ、２０は電圧データ１９から変換され
た電界データ、２１はＦＤＴＤ１４及びＳＰＩＣＥ１８
を交互に実行させる制御プログラムである。
【００２２】図２はこの発明の実施の形態１によるリン
ク解析装置を示す構成図であり、図において、３１は電
磁界解析プログラムを有し、制御部３６から電界データ
２０を受けると、その電界データ２０及び前回の電界・
磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣが存在す
る空間の磁界を求める電磁界解析部（電磁界解析手
段）、３２は電磁界解析部３１により求められた磁界を
示す磁界データ１５を電流データ１６に変換する磁界・
電流変換部（電磁界解析手段）、３３は回路解析プログ
ラムを有し、制御部３６から電流データ１６を受ける
と、その電流データ１６及び回路内部の全ての電流・電
圧データに基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加
される電圧を求める回路解析部（回路解析手段）、３４
は回路解析部３３により求められた電圧を示す電圧デー
タ１９を電界データ２０に変換する電圧・電界変換部
（回路解析手段）、３５は初期化プログラムを有し、Ｉ
Ｃに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流及
び回路内部の全ての電流・電圧を解析する初期状態設定
部（初期化手段）、３６は初期状態設定部３５により解
析された電流及び回路内部の全ての電流・電圧に基づい
て回路解析部３３を初期化するとともに、電磁界解析部
３１と回路解析部３３を交互に実行させる制御部（初期
化手段）である。
ク解析装置を示す構成図であり、図において、３１は電
磁界解析プログラムを有し、制御部３６から電界データ
２０を受けると、その電界データ２０及び前回の電界・
磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣが存在す
る空間の磁界を求める電磁界解析部（電磁界解析手
段）、３２は電磁界解析部３１により求められた磁界を
示す磁界データ１５を電流データ１６に変換する磁界・
電流変換部（電磁界解析手段）、３３は回路解析プログ
ラムを有し、制御部３６から電流データ１６を受ける
と、その電流データ１６及び回路内部の全ての電流・電
圧データに基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加
される電圧を求める回路解析部（回路解析手段）、３４
は回路解析部３３により求められた電圧を示す電圧デー
タ１９を電界データ２０に変換する電圧・電界変換部
（回路解析手段）、３５は初期化プログラムを有し、Ｉ
Ｃに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流及
び回路内部の全ての電流・電圧を解析する初期状態設定
部（初期化手段）、３６は初期状態設定部３５により解
析された電流及び回路内部の全ての電流・電圧に基づい
て回路解析部３３を初期化するとともに、電磁界解析部
３１と回路解析部３３を交互に実行させる制御部（初期
化手段）である。
【００２３】次に動作について説明する。最初に、電磁
界解析と回路解析のリンクを実現するに際し、ＩＣのス
イッチング特性を解析するため、初期状態設定部３５が
ＳＰＩＣＥ１２による回路解析の初期状態として、ＩＣ
に正常な電源電圧が印加されたときの状態を設定するこ
とにより、当該ＩＣに流れる電流と、回路内部の全ての
電流・電圧を解析する。
界解析と回路解析のリンクを実現するに際し、ＩＣのス
イッチング特性を解析するため、初期状態設定部３５が
ＳＰＩＣＥ１２による回路解析の初期状態として、ＩＣ
に正常な電源電圧が印加されたときの状態を設定するこ
とにより、当該ＩＣに流れる電流と、回路内部の全ての
電流・電圧を解析する。
【００２４】そして、初期状態設定部３５がＩＣに流れ
る電流等を解析すると、制御部３６における制御プログ
ラム２１は、ＦＤＴＤ１４による電磁界解析とＳＰＩＣ
Ｅ１８による回路解析をリンクさせるため、ＦＤＴＤ１
４の解析結果である電流データ１６をＳＰＩＣＥ１８に
転送するとともに、ＳＰＩＣＥ１８の解析結果である電
界データ２０をＦＤＴＤ１４に転送して、ＦＤＴＤ１４
とＳＰＩＣＥ１８を交互に実行させる。
る電流等を解析すると、制御部３６における制御プログ
ラム２１は、ＦＤＴＤ１４による電磁界解析とＳＰＩＣ
Ｅ１８による回路解析をリンクさせるため、ＦＤＴＤ１
４の解析結果である電流データ１６をＳＰＩＣＥ１８に
転送するとともに、ＳＰＩＣＥ１８の解析結果である電
界データ２０をＦＤＴＤ１４に転送して、ＦＤＴＤ１４
とＳＰＩＣＥ１８を交互に実行させる。
【００２５】即ち、制御プログラム２１は、ＳＰＩＣＥ
１８から電界データ２０を受けると（ＳＰＩＣＥ１８は
電界データ２０を制御プログラム２１に出力すると、次
回の回路解析のため、回路内部の全ての電流・電圧デー
タを保存するとともに、回路解析を停止する）、その電
界データ２０をＦＤＴＤ１４に転送するとともに、ＦＤ
ＴＤ１４の待機状態（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電
磁界解析の実行を指示する。
１８から電界データ２０を受けると（ＳＰＩＣＥ１８は
電界データ２０を制御プログラム２１に出力すると、次
回の回路解析のため、回路内部の全ての電流・電圧デー
タを保存するとともに、回路解析を停止する）、その電
界データ２０をＦＤＴＤ１４に転送するとともに、ＦＤ
ＴＤ１４の待機状態（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電
磁界解析の実行を指示する。
【００２６】そして、電磁界解析部３１におけるＦＤＴ
Ｄ１４は、制御プログラム２１から電磁界解析の実行指
示と電界データ２０を受けると、その電界データ２０及
び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析を１ステ
ップ実行して、ＩＣが存在する空間の磁界を求め、磁界
・電流変換部３２がその磁界を示す磁界データ１５を電
流データ１６に変換する。なお、ＦＤＴＤ１４は電磁界
解析を１ステップ実行すると、再度、制御プログラム２
１から電磁界解析の実行指示を受けるまで待機するｐａ
ｕｓｅ状態に移行する。
Ｄ１４は、制御プログラム２１から電磁界解析の実行指
示と電界データ２０を受けると、その電界データ２０及
び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析を１ステ
ップ実行して、ＩＣが存在する空間の磁界を求め、磁界
・電流変換部３２がその磁界を示す磁界データ１５を電
流データ１６に変換する。なお、ＦＤＴＤ１４は電磁界
解析を１ステップ実行すると、再度、制御プログラム２
１から電磁界解析の実行指示を受けるまで待機するｐａ
ｕｓｅ状態に移行する。
【００２７】また、制御部３６における制御プログラム
２１は、ＦＤＴＤ１４が電磁界解析を実行して、その解
析結果である電流データ１６を受けると、その電流デー
タ１６をＳＰＩＣＥ１８に転送するとともに、ＳＰＩＣ
Ｅ１８を初期化して、回路解析の実行を指示する。ただ
し、制御プログラム２１は、初期状態設定部３５の解析
結果、即ち、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流及び前回の解析の最終状態である回
路内部全ての電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ１８を初
期化する。
２１は、ＦＤＴＤ１４が電磁界解析を実行して、その解
析結果である電流データ１６を受けると、その電流デー
タ１６をＳＰＩＣＥ１８に転送するとともに、ＳＰＩＣ
Ｅ１８を初期化して、回路解析の実行を指示する。ただ
し、制御プログラム２１は、初期状態設定部３５の解析
結果、即ち、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流及び前回の解析の最終状態である回
路内部全ての電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ１８を初
期化する。
【００２８】そして、回路解析部３３におけるＳＰＩＣ
Ｅ１８は、制御プログラム２１から回路解析の実行指示
と電流データ１６を受けると、その電流データ１６と前
回の解析結果である回路内部全ての電流・電圧データに
基づく回路解析を１ステップ実行して、ＩＣの両端に印
加される電圧を求め、電圧・電界変換部３４がその電圧
を示す電圧データ１９を電界データ２０に変換する。な
お、ＳＰＩＣＥ１８は回路解析を１ステップ実行する
と、次回の回路解析のため、回路内部全ての電流・電圧
を保存するとともに、回路解析を停止する。
Ｅ１８は、制御プログラム２１から回路解析の実行指示
と電流データ１６を受けると、その電流データ１６と前
回の解析結果である回路内部全ての電流・電圧データに
基づく回路解析を１ステップ実行して、ＩＣの両端に印
加される電圧を求め、電圧・電界変換部３４がその電圧
を示す電圧データ１９を電界データ２０に変換する。な
お、ＳＰＩＣＥ１８は回路解析を１ステップ実行する
と、次回の回路解析のため、回路内部全ての電流・電圧
を保存するとともに、回路解析を停止する。
【００２９】このようにして、ＳＰＩＣＥ１８が回路解
析を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ１４に対し
て電磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ１４による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ１８による回路解析を予め設定
された回数だけ交互に繰り返し実行させることにより、
電磁界解析と回路解析のリンクを実現する。
析を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ１４に対し
て電磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ１４による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ１８による回路解析を予め設定
された回数だけ交互に繰り返し実行させることにより、
電磁界解析と回路解析のリンクを実現する。
【００３０】以上で明らかなように、この実施の形態１
によれば、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当該
ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づいてＳ
ＰＩＣＥ１８を初期化するように構成したので、ＩＣの
スイッチング特性を解析することができる効果を奏す
る。
によれば、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当該
ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づいてＳ
ＰＩＣＥ１８を初期化するように構成したので、ＩＣの
スイッチング特性を解析することができる効果を奏す
る。
【００３１】実施の形態２．図３はこの発明の実施の形
態２によるリンク解析方法を示すフローチャートであ
り、図において、図１と同一符号は同一または相当部分
を示すので説明を省略する。２２はＩＣに正常な電源電
圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流データＩ H 及
び正常な電源電圧に対応する電界データＤH を補正デー
タとして設定する補正設定処理、２３は磁界・電流変換
部３２が出力する電流データＩに電流データＩH を加算
して、電流データＩを補正する補正処理、２４は電圧・
電界変換部３４が出力する電界データＤに電界データＤ
H を減算して、電界データＤを補正する補正処理であ
る。
態２によるリンク解析方法を示すフローチャートであ
り、図において、図１と同一符号は同一または相当部分
を示すので説明を省略する。２２はＩＣに正常な電源電
圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流データＩ H 及
び正常な電源電圧に対応する電界データＤH を補正デー
タとして設定する補正設定処理、２３は磁界・電流変換
部３２が出力する電流データＩに電流データＩH を加算
して、電流データＩを補正する補正処理、２４は電圧・
電界変換部３４が出力する電界データＤに電界データＤ
H を減算して、電界データＤを補正する補正処理であ
る。
【００３２】次に動作について説明する。上記実施の形
態１では、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当該
ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づいてＳ
ＰＩＣＥ１８を初期化するものについて示したが、磁界
・電流変換部３２が出力する電流データは、初期状態設
定部３５により解析された電流に対する変化分であるた
め、その電流データの絶対値は通常小さな値になる。そ
のため、ＳＰＩＣＥ１８による回路解析の解析精度が劣
化し、ＩＣのスイッチング特性の解析が困難になること
がある。
態１では、ＩＣに正常な電源電圧が印加されたとき当該
ＩＣに流れる電流等を解析し、その電流等に基づいてＳ
ＰＩＣＥ１８を初期化するものについて示したが、磁界
・電流変換部３２が出力する電流データは、初期状態設
定部３５により解析された電流に対する変化分であるた
め、その電流データの絶対値は通常小さな値になる。そ
のため、ＳＰＩＣＥ１８による回路解析の解析精度が劣
化し、ＩＣのスイッチング特性の解析が困難になること
がある。
【００３３】同様に、電圧・電界変換部３４が出力する
電界データは、ＩＣに印加された正常な電源電圧の効果
が上乗せされた電界であるため、ＦＤＴＤ１４による電
磁界解析の解析精度が劣化し、ＩＣのスイッチング特性
の解析が困難になることがある。
電界データは、ＩＣに印加された正常な電源電圧の効果
が上乗せされた電界であるため、ＦＤＴＤ１４による電
磁界解析の解析精度が劣化し、ＩＣのスイッチング特性
の解析が困難になることがある。
【００３４】そこで、この実施の形態２では、図示せぬ
電流補正手段が、磁界・電流変換部３２が出力する電流
データＩに電流データＩH を加算して、電流データＩを
補正する一方、図示せぬ電界補正手段が、電圧・電界変
換部３４が出力する電界データＤに電界データＤH を減
算して、電界データＤを補正するようにしている。
電流補正手段が、磁界・電流変換部３２が出力する電流
データＩに電流データＩH を加算して、電流データＩを
補正する一方、図示せぬ電界補正手段が、電圧・電界変
換部３４が出力する電界データＤに電界データＤH を減
算して、電界データＤを補正するようにしている。
【００３５】これにより、ＦＤＴＤ１４には、正常な電
源電圧の変化分としての電界データが与えられる一方、
ＳＰＩＣＥ１８には、変化分としての電流データではな
く、ＩＣに流れる電流データが与えられるため、ＦＤＴ
Ｄ１４による電磁界解析とＳＰＩＣＥ１８による回路解
析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析
を正確に実行することができる効果を奏する。
源電圧の変化分としての電界データが与えられる一方、
ＳＰＩＣＥ１８には、変化分としての電流データではな
く、ＩＣに流れる電流データが与えられるため、ＦＤＴ
Ｄ１４による電磁界解析とＳＰＩＣＥ１８による回路解
析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析
を正確に実行することができる効果を奏する。
【００３６】実施の形態３．図４はこの発明の実施の形
態３によるリンク解析方法を示すフローチャートであ
り、図において、図１と同一符号は同一または相当部分
を示すので説明を省略する。４１は制御プログラム５０
から補正後の電界データ４８を受けると、その電界デー
タ４８及び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析
を実行してＩＣが存在する空間（位置）の電界を求める
ＦＤＴＤ、４２はＦＤＴＤ４１により求められた電界を
示す電界データ、４３は電界データ４２から変換された
電圧データ、４４は電圧データ４３に対してＩＣに印加
される電源電圧を加算して、その電圧データ４３を補正
する補正処理、４５は１ステップ前の最終状態の電流・
電圧に基づいてＳＰＩＣＥ４６を初期化する初期化処
理、４６は制御プログラム５０から補正後の電圧データ
４３を受けると、その電圧データ４３及び回路内部の全
ての電流・電圧データに基づく回路解析を実行してＩＣ
の両端に印加される電圧を求めるＳＰＩＣＥ、４７はＳ
ＰＩＣＥ４６により求められた電圧を示す電圧データ、
４８は電圧データ４７から変換された電界データ、４９
は電界データ４８に対して電源電圧に対応する電界を減
算して、その電界データ４８を補正する補正処理、５０
はＦＤＴＤ４１及びＳＰＩＣＥ４６を交互に実行させる
制御プログラムである。
態３によるリンク解析方法を示すフローチャートであ
り、図において、図１と同一符号は同一または相当部分
を示すので説明を省略する。４１は制御プログラム５０
から補正後の電界データ４８を受けると、その電界デー
タ４８及び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析
を実行してＩＣが存在する空間（位置）の電界を求める
ＦＤＴＤ、４２はＦＤＴＤ４１により求められた電界を
示す電界データ、４３は電界データ４２から変換された
電圧データ、４４は電圧データ４３に対してＩＣに印加
される電源電圧を加算して、その電圧データ４３を補正
する補正処理、４５は１ステップ前の最終状態の電流・
電圧に基づいてＳＰＩＣＥ４６を初期化する初期化処
理、４６は制御プログラム５０から補正後の電圧データ
４３を受けると、その電圧データ４３及び回路内部の全
ての電流・電圧データに基づく回路解析を実行してＩＣ
の両端に印加される電圧を求めるＳＰＩＣＥ、４７はＳ
ＰＩＣＥ４６により求められた電圧を示す電圧データ、
４８は電圧データ４７から変換された電界データ、４９
は電界データ４８に対して電源電圧に対応する電界を減
算して、その電界データ４８を補正する補正処理、５０
はＦＤＴＤ４１及びＳＰＩＣＥ４６を交互に実行させる
制御プログラムである。
【００３７】図５はこの発明の実施の形態３によるリン
ク解析装置を示す構成図であり、図において、５１は電
磁界解析プログラムを有し、制御部５７から補正後の電
界データ４８を受けると、その電界データ４８及び前回
の電界・磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣ
が存在する空間の電界を求める電磁界解析部（電磁界解
析手段）、５２は電磁界解析部５１により求められた電
界を示す電界データ４２を電圧データ４３に変換する電
界・電圧変換部（電磁界解析手段）、５３は電圧補正プ
ログラムを有し、電界・電圧変換部５２により変換され
た電圧データ４３に対して、ＩＣに印加される電源電圧
を加算して、その電圧データ４３を補正する電圧補正部
（電圧補正手段）、５４は回路解析プログラムを有し、
制御部５７から補正後の電圧データ４３を受けると、そ
の電圧データ４３及び回路内部の全ての電流・電圧デー
タに基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加される
電圧を求める回路解析部（回路解析手段）、５５は回路
解析部５４により求められた電圧を示す電圧データ４７
を電界データ４８に変換する電圧・電界変換部（回路解
析手段）、５６は電界補正プログラムを有し、電圧・電
界変換部５５により変換された電界データ４８に対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タ４８を補正する電界補正部（電界補正手段）である。
ク解析装置を示す構成図であり、図において、５１は電
磁界解析プログラムを有し、制御部５７から補正後の電
界データ４８を受けると、その電界データ４８及び前回
の電界・磁界データに基づく電磁界解析を実行してＩＣ
が存在する空間の電界を求める電磁界解析部（電磁界解
析手段）、５２は電磁界解析部５１により求められた電
界を示す電界データ４２を電圧データ４３に変換する電
界・電圧変換部（電磁界解析手段）、５３は電圧補正プ
ログラムを有し、電界・電圧変換部５２により変換され
た電圧データ４３に対して、ＩＣに印加される電源電圧
を加算して、その電圧データ４３を補正する電圧補正部
（電圧補正手段）、５４は回路解析プログラムを有し、
制御部５７から補正後の電圧データ４３を受けると、そ
の電圧データ４３及び回路内部の全ての電流・電圧デー
タに基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加される
電圧を求める回路解析部（回路解析手段）、５５は回路
解析部５４により求められた電圧を示す電圧データ４７
を電界データ４８に変換する電圧・電界変換部（回路解
析手段）、５６は電界補正プログラムを有し、電圧・電
界変換部５５により変換された電界データ４８に対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タ４８を補正する電界補正部（電界補正手段）である。
【００３８】次に動作について説明する。まず、制御部
５７における制御プログラム５０は、ＦＤＴＤ４１によ
る電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析をリンク
させるため、ＦＤＴＤ４１の解析結果である電圧データ
４３をＳＰＩＣＥ４６に転送するとともに、ＳＰＩＣＥ
４６の解析結果である電界データ４８をＦＤＴＤ４１に
転送して、ＦＤＴＤ４１とＳＰＩＣＥ４６を交互に実行
させる。
５７における制御プログラム５０は、ＦＤＴＤ４１によ
る電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析をリンク
させるため、ＦＤＴＤ４１の解析結果である電圧データ
４３をＳＰＩＣＥ４６に転送するとともに、ＳＰＩＣＥ
４６の解析結果である電界データ４８をＦＤＴＤ４１に
転送して、ＦＤＴＤ４１とＳＰＩＣＥ４６を交互に実行
させる。
【００３９】即ち、制御プログラム５０は、ＳＰＩＣＥ
４６から補正後の電界データ４８を受けると、その電界
データ４８をＦＤＴＤ４１に転送するとともに、ＦＤＴ
Ｄ４１の待機状態（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電磁
界解析の実行を指示する。
４６から補正後の電界データ４８を受けると、その電界
データ４８をＦＤＴＤ４１に転送するとともに、ＦＤＴ
Ｄ４１の待機状態（ｐａｕｓｅ状態）を解除して、電磁
界解析の実行を指示する。
【００４０】そして、電磁界解析部５１におけるＦＤＴ
Ｄ４１は、制御プログラム５０から電磁界解析の実行指
示と補正後の電界データ４８を受けると、その電界デー
タ４８及び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析
を１ステップ実行して、ＩＣが存在する空間の電界を求
める。そして、電界・電圧変換部５２は、電磁界解析部
５１が電界を求めると、その電界を示す電界データ４２
を電圧データ４３に変換し、電圧補正部５３が電圧デー
タ４３に対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算し
て、その電圧データ４３を補正する。なお、ＦＤＴＤ４
１は電磁界解析を１ステップ実行すると、再度、制御プ
ログラム５０から電磁界解析の実行指示を受けるまで待
機するｐａｕｓｅ状態に移行する。
Ｄ４１は、制御プログラム５０から電磁界解析の実行指
示と補正後の電界データ４８を受けると、その電界デー
タ４８及び前回の電界・磁界データに基づく電磁界解析
を１ステップ実行して、ＩＣが存在する空間の電界を求
める。そして、電界・電圧変換部５２は、電磁界解析部
５１が電界を求めると、その電界を示す電界データ４２
を電圧データ４３に変換し、電圧補正部５３が電圧デー
タ４３に対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算し
て、その電圧データ４３を補正する。なお、ＦＤＴＤ４
１は電磁界解析を１ステップ実行すると、再度、制御プ
ログラム５０から電磁界解析の実行指示を受けるまで待
機するｐａｕｓｅ状態に移行する。
【００４１】また、制御部５７における制御プログラム
５０は、ＦＤＴＤ４１が電磁界解析を実行して、その解
析結果である補正後の電圧データ４３を受けると、その
電圧データ４３をＳＰＩＣＥ４６に転送するとともに、
ＳＰＩＣＥ４６を初期化して（１ステップ前の最終状態
の電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ４６を初期化す
る）、回路解析の実行を指示する。
５０は、ＦＤＴＤ４１が電磁界解析を実行して、その解
析結果である補正後の電圧データ４３を受けると、その
電圧データ４３をＳＰＩＣＥ４６に転送するとともに、
ＳＰＩＣＥ４６を初期化して（１ステップ前の最終状態
の電流・電圧に基づいてＳＰＩＣＥ４６を初期化す
る）、回路解析の実行を指示する。
【００４２】そして、回路解析部５４におけるＳＰＩＣ
Ｅ４６は、制御プログラム５０から回路解析の実行指示
と補正後の電圧データ４３を受けると、その電圧データ
４３と前回の解析結果である及び回路内部の全ての電流
・電圧データに基づく回路解析を１ステップ実行して、
ＩＣの両端に印加される電圧を求める。そして、電圧・
電界変換部５５は、回路解析部５４が電圧を求めると、
その電圧を示す電圧データ４７を電界データ４８に変換
し、電界補正部５６が電界データ４８に対して、電源電
圧に対応する電界を減算して、その電界データ４８を補
正する。なお、ＳＰＩＣＥ４６は回路解析を１ステップ
実行すると、次回の回路解析のため、回路内部の全ての
電流・電圧データを保存するとともに、回路解析を停止
する。
Ｅ４６は、制御プログラム５０から回路解析の実行指示
と補正後の電圧データ４３を受けると、その電圧データ
４３と前回の解析結果である及び回路内部の全ての電流
・電圧データに基づく回路解析を１ステップ実行して、
ＩＣの両端に印加される電圧を求める。そして、電圧・
電界変換部５５は、回路解析部５４が電圧を求めると、
その電圧を示す電圧データ４７を電界データ４８に変換
し、電界補正部５６が電界データ４８に対して、電源電
圧に対応する電界を減算して、その電界データ４８を補
正する。なお、ＳＰＩＣＥ４６は回路解析を１ステップ
実行すると、次回の回路解析のため、回路内部の全ての
電流・電圧データを保存するとともに、回路解析を停止
する。
【００４３】このようにして、ＳＰＩＣＥ４６が回路解
析を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ４１に対し
て電磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ４１による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析を予め設定
された回数だけ交互に繰り返し実行させることにより、
電磁界解析と回路解析のリンクを実現する。
析を１ステップ実行すると、今度はＦＤＴＤ４１に対し
て電磁界解析の実行を指示するが、ＦＤＴＤ４１による
電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析を予め設定
された回数だけ交互に繰り返し実行させることにより、
電磁界解析と回路解析のリンクを実現する。
【００４４】以上で明らかなように、この実施の形態３
によれば、ＩＣが存在する空間の電界を求めるととも
に、その電界を電圧データに変換すると、その電圧デー
タに対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算して、そ
の電圧データを補正する一方、ＩＣの両端に印加される
電圧を求めるとともに、その電圧を電界データに変換す
ると、その電界データに対して、電源電圧に対応する電
界を減算して、その電界データを補正するように構成し
たので、上記実施の形態２と同様に、ＦＤＴＤ４１によ
る電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析の解析精
度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を正確に実
行することができる効果を奏する。
によれば、ＩＣが存在する空間の電界を求めるととも
に、その電界を電圧データに変換すると、その電圧デー
タに対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算して、そ
の電圧データを補正する一方、ＩＣの両端に印加される
電圧を求めるとともに、その電圧を電界データに変換す
ると、その電界データに対して、電源電圧に対応する電
界を減算して、その電界データを補正するように構成し
たので、上記実施の形態２と同様に、ＦＤＴＤ４１によ
る電磁界解析とＳＰＩＣＥ４６による回路解析の解析精
度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を正確に実
行することができる効果を奏する。
【００４５】
【発明の効果】以上のように、この発明によれば、ＩＣ
に電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解
析し、その電流に基づいて回路解析手段を初期化する初
期化手段を設けるように構成したので、ＩＣのスイッチ
ング特性を解析することができる効果がある。
に電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解
析し、その電流に基づいて回路解析手段を初期化する初
期化手段を設けるように構成したので、ＩＣのスイッチ
ング特性を解析することができる効果がある。
【００４６】この発明によれば、電磁界解析手段が出力
する電流データに対して、初期化手段により解析された
電流を加算して、その電流データを補正する電流補正手
段と、回路解析手段が出力する電界データに対して、電
源電圧に対応する電界を減算して、その電界データを補
正する電界補正手段とを設けるように構成したので、電
磁界解析と回路解析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッ
チング特性の解析を正確に実行することができる効果が
ある。
する電流データに対して、初期化手段により解析された
電流を加算して、その電流データを補正する電流補正手
段と、回路解析手段が出力する電界データに対して、電
源電圧に対応する電界を減算して、その電界データを補
正する電界補正手段とを設けるように構成したので、電
磁界解析と回路解析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッ
チング特性の解析を正確に実行することができる効果が
ある。
【００４７】この発明によれば、電磁界解析手段により
変換された電圧データに対して、ＩＣに印加される電源
電圧を加算して、その電圧データを補正する電圧補正手
段と、回路解析手段により変換された電界データに対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タを補正する電界補正手段とを設けるように構成したの
で、電磁界解析と回路解析の解析精度が向上し、ＩＣの
スイッチング特性の解析を正確に実行することができる
効果がある。
変換された電圧データに対して、ＩＣに印加される電源
電圧を加算して、その電圧データを補正する電圧補正手
段と、回路解析手段により変換された電界データに対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タを補正する電界補正手段とを設けるように構成したの
で、電磁界解析と回路解析の解析精度が向上し、ＩＣの
スイッチング特性の解析を正確に実行することができる
効果がある。
【００４８】この発明によれば、電流データに基づく回
路解析を実行する際、ＩＣに電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回
路解析を初期化するように構成したので、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができる効果がある。
路解析を実行する際、ＩＣに電源電圧が印加されたとき
当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回
路解析を初期化するように構成したので、ＩＣのスイッ
チング特性を解析することができる効果がある。
【００４９】この発明によれば、磁界から変換された電
流データに対して、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流を加算して、その電流データを補正
するとともに、電圧から変換された電界データに対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タを補正するように構成したので、電磁界解析と回路解
析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析
を正確に実行することができる効果がある。
流データに対して、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当
該ＩＣに流れる電流を加算して、その電流データを補正
するとともに、電圧から変換された電界データに対し
て、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デー
タを補正するように構成したので、電磁界解析と回路解
析の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析
を正確に実行することができる効果がある。
【００５０】この発明によれば、ＩＣが存在する空間の
電界を求めるとともに、その電界を電圧データに変換す
ると、その電圧データに対して、ＩＣに印加される電源
電圧を加算して、その電圧データを補正する一方、ＩＣ
の両端に印加される電圧を求めるとともに、その電圧を
電界データに変換すると、その電界データに対して、電
源電圧に対応する電界を減算して、その電界データを補
正するように構成したので、電磁界解析と回路解析の解
析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を正確
に実行することができる効果がある。
電界を求めるとともに、その電界を電圧データに変換す
ると、その電圧データに対して、ＩＣに印加される電源
電圧を加算して、その電圧データを補正する一方、ＩＣ
の両端に印加される電圧を求めるとともに、その電圧を
電界データに変換すると、その電界データに対して、電
源電圧に対応する電界を減算して、その電界データを補
正するように構成したので、電磁界解析と回路解析の解
析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を正確
に実行することができる効果がある。
【００５１】この発明によれば、ＩＣに電源電圧が印加
されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に
基づいて回路解析プログラムを初期化する初期化プログ
ラムを記録するように構成したので、ＩＣのスイッチン
グ特性を解析することができる効果がある。
されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その電流に
基づいて回路解析プログラムを初期化する初期化プログ
ラムを記録するように構成したので、ＩＣのスイッチン
グ特性を解析することができる効果がある。
【００５２】この発明によれば、電磁界解析プログラム
が出力する電流データに対して、初期化プログラムによ
り解析された電流を加算して、その電流データを補正す
る電流補正プログラムと、回路解析プログラムが出力す
る電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
を記録するように構成したので、電磁界解析と回路解析
の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を
正確に実行することができる効果がある。
が出力する電流データに対して、初期化プログラムによ
り解析された電流を加算して、その電流データを補正す
る電流補正プログラムと、回路解析プログラムが出力す
る電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
を記録するように構成したので、電磁界解析と回路解析
の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を
正確に実行することができる効果がある。
【００５３】この発明によれば、電磁界解析プログラム
により変換された電圧データに対して、ＩＣに印加され
る電源電圧を加算して、その電圧データを補正する電圧
補正プログラムと、回路解析プログラムにより変換され
た電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
を記録するように構成したので、電磁界解析と回路解析
の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を
正確に実行することができる効果がある。
により変換された電圧データに対して、ＩＣに印加され
る電源電圧を加算して、その電圧データを補正する電圧
補正プログラムと、回路解析プログラムにより変換され
た電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
を記録するように構成したので、電磁界解析と回路解析
の解析精度が向上し、ＩＣのスイッチング特性の解析を
正確に実行することができる効果がある。
【図１】 この発明の実施の形態１によるリンク解析方
法を示すフローチャートである。
法を示すフローチャートである。
【図２】 この発明の実施の形態１によるリンク解析装
置を示す構成図である。
置を示す構成図である。
【図３】 この発明の実施の形態２によるリンク解析方
法を示すフローチャートである。
法を示すフローチャートである。
【図４】 この発明の実施の形態３によるリンク解析方
法を示すフローチャートである。
法を示すフローチャートである。
【図５】 この発明の実施の形態３によるリンク解析装
置を示す構成図である。
置を示す構成図である。
【図６】 従来のリンク解析装置の処理手順を示すフロ
ーチャートである。
ーチャートである。
３１，５１ 電磁界解析部（電磁界解析手段）、３２
磁界・電流変換部（電磁界解析手段）、３３，５４ 回
路解析部（回路解析手段）、３４，５５ 電圧・電界変
換部（回路解析手段）、３５ 初期状態設定部（初期化
手段）、３６制御部（初期化手段）、５２ 電界・電圧
変換部（電磁界解析手段）、５３ 電圧補正部（電圧補
正手段）、５６ 電界補正部（電界補正手段）。
磁界・電流変換部（電磁界解析手段）、３３，５４ 回
路解析部（回路解析手段）、３４，５５ 電圧・電界変
換部（回路解析手段）、３５ 初期状態設定部（初期化
手段）、３６制御部（初期化手段）、５２ 電界・電圧
変換部（電磁界解析手段）、５３ 電圧補正部（電圧補
正手段）、５６ 電界補正部（電界補正手段）。
Claims (9)
- 【請求項１】 電界データに基づく電磁界解析を実行し
てＩＣが存在する空間の磁界を求めるとともに、その磁
界を電流データに変換して出力する電磁界解析手段と、
上記電磁界解析手段が出力する電流データに基づく回路
解析を実行してＩＣの両端に印加される電圧を求めると
ともに、その電圧を電界データに変換して上記電磁界解
析手段に出力する回路解析手段と、上記ＩＣに電源電圧
が印加されたとき当該ＩＣに流れる電流を解析し、その
電流に基づいて上記回路解析手段を初期化する初期化手
段とを備えたリンク解析装置。 - 【請求項２】 電磁界解析手段が出力する電流データに
対して、初期化手段により解析された電流を加算して、
その電流データを補正する電流補正手段と、回路解析手
段が出力する電界データに対して、電源電圧に対応する
電界を減算して、その電界データを補正する電界補正手
段とを設けたことを特徴とする請求項１記載のリンク解
析装置。 - 【請求項３】 電界データに基づく電磁界解析を実行し
てＩＣが存在する空間の電界を求めるとともに、その電
界を電圧データに変換する電磁界解析手段と、上記電磁
界解析手段により変換された電圧データに対して、ＩＣ
に印加される電源電圧を加算して、その電圧データを補
正する電圧補正手段と、上記電圧補正手段により補正さ
れた電圧データに基づく回路解析を実行して上記ＩＣの
両端に印加される電圧を求めるとともに、その電圧を電
界データに変換する回路解析手段と、上記回路解析手段
により変換された電界データに対して、電源電圧に対応
する電界を減算して、その電界データを補正する電界補
正手段とを備えたリンク解析装置。 - 【請求項４】 電界データに基づく電磁界解析を実行し
てＩＣが存在する空間の磁界を求め、その磁界を電流デ
ータに変換して出力する一方、その電流データに基づく
回路解析を実行してＩＣの両端に印加される電圧を求
め、その電圧を電界データに変換して出力するリンク解
析方法において、その電流データに基づく回路解析を実
行する際、上記ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該Ｉ
Ｃに流れる電流を解析し、その電流に基づいて回路解析
を初期化することを特徴とするリンク解析方法。 - 【請求項５】 磁界から変換された電流データに対し
て、ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに流れる
電流を加算して、その電流データを補正するとともに、
電圧から変換された電界データに対して、電源電圧に対
応する電界を減算して、その電界データを補正すること
を特徴とする請求項４記載のリンク解析方法。 - 【請求項６】 電界データに基づく電磁界解析を実行し
てＩＣが存在する空間の電界を求めるとともに、その電
界を電圧データに変換すると、その電圧データに対し
て、ＩＣに印加される電源電圧を加算して、その電圧デ
ータを補正する一方、その補正された電圧データに基づ
く回路解析を実行して上記ＩＣの両端に印加される電圧
を求めるとともに、その電圧を電界データに変換する
と、その電界データに対して、電源電圧に対応する電界
を減算して、その電界データを補正するリンク解析方
法。 - 【請求項７】 電界データに基づく電磁界解析を実行し
てＩＣが存在する空間の磁界を求めるとともに、その磁
界を電流データに変換して出力する電磁界解析プログラ
ムと、上記電磁界解析プログラムが出力する電流データ
に基づく回路解析を実行してＩＣの両端に印加される電
圧を求めるとともに、その電圧を電界データに変換して
上記電磁界解析プログラムに出力する回路解析プログラ
ムと、上記ＩＣに電源電圧が印加されたとき当該ＩＣに
流れる電流を解析し、その電流に基づいて上記回路解析
プログラムを初期化する初期化プログラムとから構成さ
れたリンク解析プログラムが記録された記録媒体。 - 【請求項８】 電磁界解析プログラムが出力する電流デ
ータに対して、初期化プログラムにより解析された電流
を加算して、その電流データを補正する電流補正プログ
ラムと、回路解析プログラムが出力する電界データに対
して、電源電圧に対応する電界を減算して、その電界デ
ータを補正する電界補正プログラムとが記録されたこと
を特徴とする請求項７記載のリンク解析プログラムが記
録された記録媒体。 - 【請求項９】 電界データに基づく電磁界解析を実行し
てＩＣが存在する空間の電界を求めるとともに、その電
界を電圧データに変換する電磁界解析プログラムと、上
記電磁界解析プログラムにより変換された電圧データに
対して、ＩＣに印加される電源電圧を加算して、その電
圧データを補正する電圧補正プログラムと、上記電圧補
正プログラムにより補正された電圧データに基づく回路
解析を実行して上記ＩＣの両端に印加される電圧を求め
るとともに、その電圧を電界データに変換する回路解析
プログラムと、上記回路解析プログラムにより変換され
た電界データに対して、電源電圧に対応する電界を減算
して、その電界データを補正する電界補正プログラムと
から構成されたリンク解析プログラムが記録された記録
媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11099322A JP2000293560A (ja) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | リンク解析装置、リンク解析方法及びリンク解析プログラムが記録された記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11099322A JP2000293560A (ja) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | リンク解析装置、リンク解析方法及びリンク解析プログラムが記録された記録媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000293560A true JP2000293560A (ja) | 2000-10-20 |
Family
ID=14244412
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11099322A Pending JP2000293560A (ja) | 1999-04-06 | 1999-04-06 | リンク解析装置、リンク解析方法及びリンク解析プログラムが記録された記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000293560A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7957150B2 (en) | 2008-02-21 | 2011-06-07 | Hitachi, Ltd. | Support method and apparatus for printed circuit board |
| JP2015135636A (ja) * | 2014-01-17 | 2015-07-27 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 解析支援装置、および解析支援方法 |
-
1999
- 1999-04-06 JP JP11099322A patent/JP2000293560A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7957150B2 (en) | 2008-02-21 | 2011-06-07 | Hitachi, Ltd. | Support method and apparatus for printed circuit board |
| US8355258B2 (en) | 2008-02-21 | 2013-01-15 | Hitachi, Ltd. | Support method and apparatus for printed circuit board |
| JP2015135636A (ja) * | 2014-01-17 | 2015-07-27 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 解析支援装置、および解析支援方法 |
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