JP2000294408A - 電圧非直線抵抗体の製造方法 - Google Patents
電圧非直線抵抗体の製造方法Info
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- JP2000294408A JP2000294408A JP11100173A JP10017399A JP2000294408A JP 2000294408 A JP2000294408 A JP 2000294408A JP 11100173 A JP11100173 A JP 11100173A JP 10017399 A JP10017399 A JP 10017399A JP 2000294408 A JP2000294408 A JP 2000294408A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】電圧非直線性等の諸電気特性に優れ、従来に比
べサージ耐量特性がより向上し、信頼性の優れたＺｎＯ
を主成分とする電圧非直線抵抗体の製造方法を提供す
る。 【解決手段】２０〜２５μm 毎に分級した粒度分布を下
記のように制御した粉体を成形し、焼結する。最大量の
区間の量を４５wt.%以上とし、第二最大量の粉体は最大
量の区間の下の区間とし、２５wt.%以上とする。最大量
の区間の上の区間の粉体量は２５wt.%未満とする。
べサージ耐量特性がより向上し、信頼性の優れたＺｎＯ
を主成分とする電圧非直線抵抗体の製造方法を提供す
る。 【解決手段】２０〜２５μm 毎に分級した粒度分布を下
記のように制御した粉体を成形し、焼結する。最大量の
区間の量を４５wt.%以上とし、第二最大量の粉体は最大
量の区間の下の区間とし、２５wt.%以上とする。最大量
の区間の上の区間の粉体量は２５wt.%未満とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、通常過電圧保護用
素子として用いられる酸化亜鉛（以下ZnOと記す）を主
成分とする電圧非直線抵抗体の製造方法に関する。
素子として用いられる酸化亜鉛（以下ZnOと記す）を主
成分とする電圧非直線抵抗体の製造方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】ZnOを主成分とした電圧非直線抵抗体は
一般に制限電圧が低く、電圧非直線指数が大きいなどの
特徴を有している。そのため半導体素子のような過電流
耐量の小さいもので構成される機器の過電圧に対する保
護、もしくは電力機器の保護を目的とするアレスタ素子
として広く利用されている。
一般に制限電圧が低く、電圧非直線指数が大きいなどの
特徴を有している。そのため半導体素子のような過電流
耐量の小さいもので構成される機器の過電圧に対する保
護、もしくは電力機器の保護を目的とするアレスタ素子
として広く利用されている。
【０００３】これに関連して、ZnOを主成分とし、これ
に副成分として少なくとも一種の稀土類元素を総量で
０．０８〜５．０原子%（以下at.%と記す) 、コバルト
を０．１〜１０．０at.%、マグネシウム，カルシウムの
うち少なくとも一種を０．０１〜５．０at.%、カリウ
ム，セシウム，ルビジウムのうち少なくとも一種を総量
で０．０１〜１．０at.%、クロムを０．０１〜１．０a
t.%、ホウ素を５×１０-4〜１×１０-1at.%、アルミニ
ウム，ガリウム，インジウムのうち少なくとも一種を総
量で１×１０-4〜５×１０-2at.% およびビスマスを
０．７〜１．１at.%、およびアンチモンをビスマスとの
添加比でSb/Bi=０．８〜１．２の範囲で添加し、焼成す
ることにより優れた電圧非直線抵抗体を製造できること
がわかっている。
に副成分として少なくとも一種の稀土類元素を総量で
０．０８〜５．０原子%（以下at.%と記す) 、コバルト
を０．１〜１０．０at.%、マグネシウム，カルシウムの
うち少なくとも一種を０．０１〜５．０at.%、カリウ
ム，セシウム，ルビジウムのうち少なくとも一種を総量
で０．０１〜１．０at.%、クロムを０．０１〜１．０a
t.%、ホウ素を５×１０-4〜１×１０-1at.%、アルミニ
ウム，ガリウム，インジウムのうち少なくとも一種を総
量で１×１０-4〜５×１０-2at.% およびビスマスを
０．７〜１．１at.%、およびアンチモンをビスマスとの
添加比でSb/Bi=０．８〜１．２の範囲で添加し、焼成す
ることにより優れた電圧非直線抵抗体を製造できること
がわかっている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような電
圧非直線抵抗体には、組成の素子特性のばらつきが大き
く、製品の歩留まりが低下するという問題がある。素子
特性のばらつきの主な原因としては、成形時に素子中に
入る物理的欠陥と、焼成中の添加元素の蒸発とが考えら
れる。本発明はこのうちの前者、成形時に起こる問題を
解決する方法を与えるものである。
圧非直線抵抗体には、組成の素子特性のばらつきが大き
く、製品の歩留まりが低下するという問題がある。素子
特性のばらつきの主な原因としては、成形時に素子中に
入る物理的欠陥と、焼成中の添加元素の蒸発とが考えら
れる。本発明はこのうちの前者、成形時に起こる問題を
解決する方法を与えるものである。
【０００５】成形に由来する素子特性のばらつきの原因
は以下のように説明できる。酸化亜鉛に副添加物が加え
られた混合粉体は、成形金型に充填された後に加圧成形
される。このとき成形体は成形密度が素子内において均
一であり、かつ空隙がないことが望ましい。
は以下のように説明できる。酸化亜鉛に副添加物が加え
られた混合粉体は、成形金型に充填された後に加圧成形
される。このとき成形体は成形密度が素子内において均
一であり、かつ空隙がないことが望ましい。
【０００６】しかし実際には型充填の際の不均一、加圧
中の圧力分布等によって、素子内には密度分布、空隙が
存在している。これらの不均一が焼成後も残るため素子
特性が低下すると考えられる。
中の圧力分布等によって、素子内には密度分布、空隙が
存在している。これらの不均一が焼成後も残るため素子
特性が低下すると考えられる。
【０００７】本発明は上述の点に鑑みてなされたもので
ありその目的は、粒度分布が適正な粉体を使用すること
により成形時に発生する素子内部の不均一性をできるだ
け小さくして、電圧非直線性に優れ、サージ耐量の大き
い電圧非直線抵抗体を安定に提供することにある。
ありその目的は、粒度分布が適正な粉体を使用すること
により成形時に発生する素子内部の不均一性をできるだ
け小さくして、電圧非直線性に優れ、サージ耐量の大き
い電圧非直線抵抗体を安定に提供することにある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記の課題解決のため本
発明は、ZnOを主成分とする粉末を造粒し、その粉体を
成形し、焼成してなる電圧非直線抵抗体の製造方法にお
いて、造粒粉体の粒度分布を２０〜２５μmの区間幅で
分級したとき、最大量の区間の量が粉体全量に対して４
５重量% （以下wt.%と記す）以上である分布をもつ粉体
を成形し、焼成するものとする。特に、第二最大量の区
間の量が粉体全量に対して２５wt.%以上であることがよ
い。
発明は、ZnOを主成分とする粉末を造粒し、その粉体を
成形し、焼成してなる電圧非直線抵抗体の製造方法にお
いて、造粒粉体の粒度分布を２０〜２５μmの区間幅で
分級したとき、最大量の区間の量が粉体全量に対して４
５重量% （以下wt.%と記す）以上である分布をもつ粉体
を成形し、焼成するものとする。特に、第二最大量の区
間の量が粉体全量に対して２５wt.%以上であることがよ
い。
【０００９】更に、第二最大量の区間が、最大量の区間
の直下の区間であることが良い。最大量の区間の直上の
区間の量が、粉体全量に対して２５wt.%未満であること
が良い。そのようにすれば、後述の実験結果に見られる
ように、面内の特性分布が均一で、サージ耐量の大きい
抵抗体素子が得られる。
の直下の区間であることが良い。最大量の区間の直上の
区間の量が、粉体全量に対して２５wt.%未満であること
が良い。そのようにすれば、後述の実験結果に見られる
ように、面内の特性分布が均一で、サージ耐量の大きい
抵抗体素子が得られる。
【００１０】上記のようにするとサージ耐量が増大する
機構の定量的な説明は困難であるが、半定量的には次の
ように考えられる。最大量の区間の粉体が４５% 以上す
なわち約半分あれば、その粉体で基本的な構造がかたち
づくられ、緻密な焼結体になる。
機構の定量的な説明は困難であるが、半定量的には次の
ように考えられる。最大量の区間の粉体が４５% 以上す
なわち約半分あれば、その粉体で基本的な構造がかたち
づくられ、緻密な焼結体になる。
【００１１】その基本的な構造に対して、理想的な均一
球形モデルの場合には、体積にして約２６% の空間がで
きる。その空間を埋めるには、基本的な構造の粉体より
小さい直径の粉体が適する。（焼結時にボイド無く埋め
る）理想的なモデルでは、その直径は０．２６の三乗根
である０．６４倍のものが適する。例えば実用的にやり
やすい５０〜７０μm の粉体を中心に２０〜２５μm を
区間幅とするときは、その直下の区間のものが適するこ
とになる。空間を小さな粉体で埋めることができれば、
一層強固な焼結体ができる。
球形モデルの場合には、体積にして約２６% の空間がで
きる。その空間を埋めるには、基本的な構造の粉体より
小さい直径の粉体が適する。（焼結時にボイド無く埋め
る）理想的なモデルでは、その直径は０．２６の三乗根
である０．６４倍のものが適する。例えば実用的にやり
やすい５０〜７０μm の粉体を中心に２０〜２５μm を
区間幅とするときは、その直下の区間のものが適するこ
とになる。空間を小さな粉体で埋めることができれば、
一層強固な焼結体ができる。
【００１２】実際には最大量の区間の粉体より大きな区
間の粉体が含まれるので、空間を埋める量としては約２
６% ×４５% の空間分に、大きな区間の粉体の空間分を
加えて基本的な粉体の半分程度、すなわち全量の２５%
以上が適当であろう。
間の粉体が含まれるので、空間を埋める量としては約２
６% ×４５% の空間分に、大きな区間の粉体の空間分を
加えて基本的な粉体の半分程度、すなわち全量の２５%
以上が適当であろう。
【００１３】最大量の区間の粉体より大きな区間の粉体
が、例えば最大量の区間の粉体の半分以上（４５% ×１
／２）含まれると、基本的な構造が歪むため結合強度が
低下すると考えられ、好ましくない。
が、例えば最大量の区間の粉体の半分以上（４５% ×１
／２）含まれると、基本的な構造が歪むため結合強度が
低下すると考えられ、好ましくない。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明を実施例に基づき説
明する。次に、本発明による電圧非直線抵抗体の具体的
な例について述べる。 ［実施例］ZnO 粉末に、酸化プラセオジム（Pr6O11）を
０．５at.%，酸化コバルト（Co3O 4）を３．０at.%、炭
酸カルシウム（CaCO3 ）を０．３at.%、炭酸カリウム
（K2CO3）を０．１at.%、酸化クロム（Cr2O3）を０．１
at.%、酸化アルミニウム（Al2O3）を０．００５at.%、
酸化ホウ素（B2O3）を０．００８at.%、酸化ビスマス
（Bi2O3）を０．８at.%、および酸化アンチモン（Sb
2O3）１．０at.%を、後記の表１に記載した所定量添加
し、バインダーを加えて十分に混合した後、ディスク回
転式の噴霧乾燥機を用いて粉体を造粒した。このとき造
粒条件を変えて粒度分布の異なる１３種類の試料を作製
した。
明する。次に、本発明による電圧非直線抵抗体の具体的
な例について述べる。 ［実施例］ZnO 粉末に、酸化プラセオジム（Pr6O11）を
０．５at.%，酸化コバルト（Co3O 4）を３．０at.%、炭
酸カルシウム（CaCO3 ）を０．３at.%、炭酸カリウム
（K2CO3）を０．１at.%、酸化クロム（Cr2O3）を０．１
at.%、酸化アルミニウム（Al2O3）を０．００５at.%、
酸化ホウ素（B2O3）を０．００８at.%、酸化ビスマス
（Bi2O3）を０．８at.%、および酸化アンチモン（Sb
2O3）１．０at.%を、後記の表１に記載した所定量添加
し、バインダーを加えて十分に混合した後、ディスク回
転式の噴霧乾燥機を用いて粉体を造粒した。このとき造
粒条件を変えて粒度分布の異なる１３種類の試料を作製
した。
【００１５】粒度分布を制御する方法としては、噴霧乾
燥を行う際に原料および水、バインダーが混合された泥
奬を供給する量を制御した。ディスク回転式の噴霧乾燥
機であれば、ディスクの回転数を制御する方法でも良
い。但しこれら条件はそれぞれの乾燥機ごとにその条件
は異なってくると思われる。また同じディスク回転式の
噴霧乾燥機でも機種ごとで適切な分布が得られる条件は
異なってくる。従ってそれぞれの機器において最適の条
件を見つける必要がある。さらにノズル噴霧式の噴霧乾
燥機を使用した場合は、ノズル噴霧式に適合した制御を
行う必要がある。
燥を行う際に原料および水、バインダーが混合された泥
奬を供給する量を制御した。ディスク回転式の噴霧乾燥
機であれば、ディスクの回転数を制御する方法でも良
い。但しこれら条件はそれぞれの乾燥機ごとにその条件
は異なってくると思われる。また同じディスク回転式の
噴霧乾燥機でも機種ごとで適切な分布が得られる条件は
異なってくる。従ってそれぞれの機器において最適の条
件を見つける必要がある。さらにノズル噴霧式の噴霧乾
燥機を使用した場合は、ノズル噴霧式に適合した制御を
行う必要がある。
【００１６】粉体の粒度分布はふるい震とう器を用いて
測定した。ふるいは目の粗さが３２μm 、５３μm 、７
５μm 、１００μm 、１２５μm のものを使用し、粉体
約３g を５分間震とう器にかけた後、それぞれのふるい
に残った粉体の重量を測定した。表１に、作製した粉体
の粒度分布とその重量百分率（wt.%）とを示す。
測定した。ふるいは目の粗さが３２μm 、５３μm 、７
５μm 、１００μm 、１２５μm のものを使用し、粉体
約３g を５分間震とう器にかけた後、それぞれのふるい
に残った粉体の重量を測定した。表１に、作製した粉体
の粒度分布とその重量百分率（wt.%）とを示す。
【００１７】
【表１】 作製した粉体を直径１５．８５mmの円盤状に加圧成形し
た後、蓋付きのアルミナ容器中に設置し１０５０〜１２
５０℃の空気中で２時間焼成して焼結体を得た。得られ
た焼結体を厚さ３．５mm程度に研磨し、非直線抵抗体試
料とした。
た後、蓋付きのアルミナ容器中に設置し１０５０〜１２
５０℃の空気中で２時間焼成して焼結体を得た。得られ
た焼結体を厚さ３．５mm程度に研磨し、非直線抵抗体試
料とした。
【００１８】電気特性としては抵抗体試料に１mA の電
流を流したときの電極間電圧をV1mA、同様に５０Aの電
流を流したときの電極間電圧をV50Aとし、V50AとV1mAの
比を制限電圧比（V50A/V1mA）として算出した。この制
限電圧比は電圧非直線抵抗体の保護レベルの高さを表
し、これが１に近いほど回路の保護レベルが高いことに
なる。通常の素子では１．４５以上である。
流を流したときの電極間電圧をV1mA、同様に５０Aの電
流を流したときの電極間電圧をV50Aとし、V50AとV1mAの
比を制限電圧比（V50A/V1mA）として算出した。この制
限電圧比は電圧非直線抵抗体の保護レベルの高さを表
し、これが１に近いほど回路の保護レベルが高いことに
なる。通常の素子では１．４５以上である。
【００１９】同様に１０μAの電流を流したときの電極
間電圧を V10μAとし、 V10μAとV1mAの比を V10μA/V1
mAとして算出した。この比は電圧非直線抵抗体の漏れ電
流の大小を表し、これが１に近いほど漏れ電流が少ない
ことになる。通常の素子では０．９以下である。表２
は、試作した抵抗体試料の電気特性の評価結果である。
間電圧を V10μAとし、 V10μAとV1mAの比を V10μA/V1
mAとして算出した。この比は電圧非直線抵抗体の漏れ電
流の大小を表し、これが１に近いほど漏れ電流が少ない
ことになる。通常の素子では０．９以下である。表２
は、試作した抵抗体試料の電気特性の評価結果である。
【００２０】
【表２】 各試料を５個作成し、その平均値を求めた。粉体の粒度
分布によって電気特性に大きな違いが認められる。
分布によって電気特性に大きな違いが認められる。
【００２１】制限電圧比（V50A/V1mA）が従来のものの
値である１．４５未満のものは、試料番号で、No. ２
と、No. ６〜１４である。V10μA/V1mAが従来のものの
値である０．９０を越えるものは、やはり試料番号で、
No. ２と、No. ６〜１４である。
値である１．４５未満のものは、試料番号で、No. ２
と、No. ６〜１４である。V10μA/V1mAが従来のものの
値である０．９０を越えるものは、やはり試料番号で、
No. ２と、No. ６〜１４である。
【００２２】また、他の電気特性としてサージ耐量を求
めた。サージ耐量としては、２ms幅の方形波電流を１０
Aステップで印加して、貫通破壊、沿面破壊のない最大
電流値から算出した。算出式は以下の通りである。 サージ耐量[J/cm3]=最大電流[A]×V50A[V]×0.002[s]／
素子の体積[cm3] 通常の素子のサージ耐量は４７０[J/cm3] 程度である。
めた。サージ耐量としては、２ms幅の方形波電流を１０
Aステップで印加して、貫通破壊、沿面破壊のない最大
電流値から算出した。算出式は以下の通りである。 サージ耐量[J/cm3]=最大電流[A]×V50A[V]×0.002[s]／
素子の体積[cm3] 通常の素子のサージ耐量は４７０[J/cm3] 程度である。
【００２３】サージ耐量の測定結果も表２に記した。サ
ージ耐量が従来のものの値である４７０［J/cm3]を越え
るるものは、試料番号でNo. ７〜１４である。
ージ耐量が従来のものの値である４７０［J/cm3]を越え
るるものは、試料番号でNo. ７〜１４である。
【００２４】電気特性の評価結果の良好なNo. ７〜１４
の特徴として、次の結論が引き出される。 最大量の区間の量としては粉体全量の４５wt.%以上あ
る方が良い。 第二最大量の区間の量としては、粉体全量の２５wt.%
以上ある方が良い。特に、No. ７〜９とNo. １０〜１４
との比較から、 第二最大量の区間としては、最大量の区間の上にある
より、下にあるほうが良い。 最大量の区間の上の区間の量は、粉体全量の２５wt.%
未満である方が良い。
の特徴として、次の結論が引き出される。 最大量の区間の量としては粉体全量の４５wt.%以上あ
る方が良い。 第二最大量の区間の量としては、粉体全量の２５wt.%
以上ある方が良い。特に、No. ７〜９とNo. １０〜１４
との比較から、 第二最大量の区間としては、最大量の区間の上にある
より、下にあるほうが良い。 最大量の区間の上の区間の量は、粉体全量の２５wt.%
未満である方が良い。
【００２５】次に、一部の非直線抵抗体試料の表面にス
ポット電極と呼ばれる多数の微細な電極をスクリーン印
刷で塗布し、焼き付けをおこなった。スポット電極の大
きさは１mm角である。裏面の電極は大きな共通電極とし
た。図２は、そのスポット電極の配置図である。スポッ
ト電極を用い非直線抵抗体試料の各素子について電気特
性を測定し、その面内における分布を評価した。
ポット電極と呼ばれる多数の微細な電極をスクリーン印
刷で塗布し、焼き付けをおこなった。スポット電極の大
きさは１mm角である。裏面の電極は大きな共通電極とし
た。図２は、そのスポット電極の配置図である。スポッ
ト電極を用い非直線抵抗体試料の各素子について電気特
性を測定し、その面内における分布を評価した。
【００２６】図１（ａ）の左側の図は、表１のNo. ３で
作製した電圧非直線抵抗体において１０μAの電流を流
したときの電極間電圧 V10μAを、各スポット電極の位
置に記した面内分布図である。但し、平均値を０として
平均値からの変化量の%で示してある。また平均値より
低い電圧を示した電極の値は四角で囲んである。図１
（ａ）の右側の図は、電極間電圧 V10μAの面内分布を
三次元表示した分布図であり、電圧の高い方を上にして
示している。
作製した電圧非直線抵抗体において１０μAの電流を流
したときの電極間電圧 V10μAを、各スポット電極の位
置に記した面内分布図である。但し、平均値を０として
平均値からの変化量の%で示してある。また平均値より
低い電圧を示した電極の値は四角で囲んである。図１
（ａ）の右側の図は、電極間電圧 V10μAの面内分布を
三次元表示した分布図であり、電圧の高い方を上にして
示している。
【００２７】V10μAは、大きくばらついていることがわ
かる。このような電圧分布では特に電圧の低い部分が問
題になる。つまり電圧が低いということは低電圧でも大
きな電流が流れやすい傾向をもつため、過大な電圧がか
かった場合、その部分に電流が集中して素子が破壊する
おそれがある。
かる。このような電圧分布では特に電圧の低い部分が問
題になる。つまり電圧が低いということは低電圧でも大
きな電流が流れやすい傾向をもつため、過大な電圧がか
かった場合、その部分に電流が集中して素子が破壊する
おそれがある。
【００２８】No. ３の粉体で作製した素子のサージ耐量
が３９０J/cm3 と低いのはこのような原因によると考え
られる。図１（ｂ）はこのNo. ３の粒度分布を改変した
後の評価結果である。粒度分布の改変にはふるいを使用
して、粒径が３２〜５２μmのものと５３〜７４μmのも
のをより分け、前者を４０wt.%、後者を６０wt.%の割合
で混合した後に素子を成形、焼成したものである。図１
（ｂ）の右側の図は、三次元表示した分布図である。
が３９０J/cm3 と低いのはこのような原因によると考え
られる。図１（ｂ）はこのNo. ３の粒度分布を改変した
後の評価結果である。粒度分布の改変にはふるいを使用
して、粒径が３２〜５２μmのものと５３〜７４μmのも
のをより分け、前者を４０wt.%、後者を６０wt.%の割合
で混合した後に素子を成形、焼成したものである。図１
（ｂ）の右側の図は、三次元表示した分布図である。
【００２９】粒度分布としてはかなり単純ではあるが、
上記の、、、を全て満足していることになる。
図１（ｂ）の右側の図を、図１（ａ）右図と比較すると
電圧分布のばらつきが全体的に押さえられているのがわ
かる。この素子のサージ耐量は５１０J/cm3 を示し、や
はりNo. ３の測定結果を上回るサージ耐量を示した。
上記の、、、を全て満足していることになる。
図１（ｂ）の右側の図を、図１（ａ）右図と比較すると
電圧分布のばらつきが全体的に押さえられているのがわ
かる。この素子のサージ耐量は５１０J/cm3 を示し、や
はりNo. ３の測定結果を上回るサージ耐量を示した。
【００３０】図１（ｃ）の左側の図は、表１のNo. １３
の抵抗体素子の電極間電圧V10μA分布図である。図１
（ｃ）の右側の図は、面内分布を三次元表示した分布図
であり、非常にばらつきが少なくなっている。この素子
は、５５８J/cm3 と高いサージ耐量を示したが、このよ
うに全体が均一な特性をもっていたためであることがわ
かる。
の抵抗体素子の電極間電圧V10μA分布図である。図１
（ｃ）の右側の図は、面内分布を三次元表示した分布図
であり、非常にばらつきが少なくなっている。この素子
は、５５８J/cm3 と高いサージ耐量を示したが、このよ
うに全体が均一な特性をもっていたためであることがわ
かる。
【００３１】図１（ａ）〜（ｃ）から粒度分布を適切に
することは、確かに作製した素子の不均一性を低減
し、、素子特性の向上に寄与していることが理解され
る。造粒した段階では不適当な粒度分布をもつ粉体で
も、例えばふるい等を使用して各粒度に分級した後、適
当な分布に混ぜ直すことにより、本発明の効果を得るこ
とができる。
することは、確かに作製した素子の不均一性を低減
し、、素子特性の向上に寄与していることが理解され
る。造粒した段階では不適当な粒度分布をもつ粉体で
も、例えばふるい等を使用して各粒度に分級した後、適
当な分布に混ぜ直すことにより、本発明の効果を得るこ
とができる。
【００３２】
【発明の効果】以上説明したように、ZnOを主成分した
電圧非直線抵抗体の製造方法において、粒度分布を所定
の分布に制御した造粒粉体を成形し、焼成することによ
り、電圧非直線性等の諸電気特性に優れ、従来に比べサ
ージ耐量特性がより向上し、信頼性の優れた電圧非直線
抵抗体を安定に得ることができる。
電圧非直線抵抗体の製造方法において、粒度分布を所定
の分布に制御した造粒粉体を成形し、焼成することによ
り、電圧非直線性等の諸電気特性に優れ、従来に比べサ
ージ耐量特性がより向上し、信頼性の優れた電圧非直線
抵抗体を安定に得ることができる。
【００３３】直接、造粒条件により適当な粒度分布を得
られなくても、例えば、ふるい等を使用して各粒度に分
級した後、適当な分布に混ぜ直して適当な粒度分布とし
ても良い。本発明は、サージ耐量が大きく、信頼性の優
れた電圧非直線抵抗体の安定的な製造方法として極めて
有意義な発明である。
られなくても、例えば、ふるい等を使用して各粒度に分
級した後、適当な分布に混ぜ直して適当な粒度分布とし
ても良い。本発明は、サージ耐量が大きく、信頼性の優
れた電圧非直線抵抗体の安定的な製造方法として極めて
有意義な発明である。
【図１】（ａ）はNo. ３の粉体による抵抗体素子の電圧
分布図と三次元表示した分布図、（ｂ）はNo. ３の粉体
の粒度分布を改変した抵抗体素子の電圧分布図と三次元
表示した分布図、（ｃ）はNo. １３の粉体による抵抗体
素子の電圧分布図と三次元表示した分布図
分布図と三次元表示した分布図、（ｂ）はNo. ３の粉体
の粒度分布を改変した抵抗体素子の電圧分布図と三次元
表示した分布図、（ｃ）はNo. １３の粉体による抵抗体
素子の電圧分布図と三次元表示した分布図
【図２】電圧非直線抵抗体の電圧分布を評価するための
スポット電極配置図
スポット電極配置図
フロントページの続き (72)発明者 向江 和郎 神奈川県川崎市川崎区田辺新田１番１号 富士電機株式会社内 Ｆターム(参考） 5E034 CA07 CB01 CC03 CC06 CC18 DA03 DE04 DE07
Claims (5)
- 【請求項１】酸化亜鉛を主成分とする粉末を造粒し、そ
の粉体を成形し、焼成してなる電圧非直線抵抗体の製造
方法において、造粒粉体を適当な区間で分級したとき、
粒度分布の最大量の区間の平均直径に対して、第二最大
量の区間の平均直径が約０．６４倍であり、最大量の区
間の量が粉体全量に対して４５wt.%以上である分布をも
つ粉体を成形し、焼成することを特徴とする電圧非直線
抵抗体の製造方法。 - 【請求項２】酸化亜鉛を主成分とする粉末を造粒し、そ
の粉体を成形し、焼成してなる電圧非直線抵抗体の製造
方法において、造粒粉体の粒度分布を２０〜２５μmの
区間幅で分級したとき、最大量の区間の量が粉体全量に
対して４５wt.%以上である分布をもつ粉体を成形し、焼
成することを特徴とする電圧非直線抵抗体の製造方法。 - 【請求項３】第二最大量の区間の量が粉体全量に対して
２５wt.%以上であることを特徴とする請求項１または２
に記載の電圧非直線抵抗体の製造方法。 - 【請求項４】第二最大量の区間が、最大量の区間の直下
の区間であることを特徴とする請求項３に記載の電圧非
直線抵抗体の製造方法。 - 【請求項５】最大量の区間の直上の区間の量が、粉体全
量に対して２５wt.%未満であることを特徴とする請求項
１ないし４のいずれかに記載の電圧非直線抵抗体の製造
方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11100173A JP2000294408A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11100173A JP2000294408A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000294408A true JP2000294408A (ja) | 2000-10-20 |
Family
ID=14266938
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11100173A Pending JP2000294408A (ja) | 1999-04-07 | 1999-04-07 | 電圧非直線抵抗体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000294408A (ja) |
-
1999
- 1999-04-07 JP JP11100173A patent/JP2000294408A/ja active Pending
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