JP2000298817A - 接触型磁気ヘッドの製造方法 - Google Patents
接触型磁気ヘッドの製造方法Info
- Publication number
- JP2000298817A JP2000298817A JP11103312A JP10331299A JP2000298817A JP 2000298817 A JP2000298817 A JP 2000298817A JP 11103312 A JP11103312 A JP 11103312A JP 10331299 A JP10331299 A JP 10331299A JP 2000298817 A JP2000298817 A JP 2000298817A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic pole
- hard coating
- head
- pad
- magnetic head
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Adjustment Of The Magnetic Head Position Track Following On Tapes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 特別の装置を用いることなく、磁極先端の露
出加工を短時間で行うことが可能な接触型磁気ヘッドの
製造方法を提供すること。また、補助パッドを備えた接
触型磁気ヘッドにあっては、磁極パッドと補助パッドの
高さを容易にそろえることが可能な接触型磁気ヘッドの
製造方法を提供すること。 【解決手段】 基板12上に分離層14を形成し、さら
に分離層14上に複数のヘッド素子を含む素子層16を
形成して素子板10とする。次に、磁極18が形成され
た素子層16の表面に硬質被膜20を形成した後、素子
板10の状態で硬質被膜20の表面をラッピングし、磁
極18先端をほぼ完全に露出させる。さらに、磁極18
先端を磁極保護膜30で覆い、硬質被膜20の不要部分
を除去して磁極パッド54及び補助パッド56を形成し
た後、素子層16に含まれる各ヘッド素子を素子板10
から分離・切断して、接触型磁気ヘッド50を得る。
出加工を短時間で行うことが可能な接触型磁気ヘッドの
製造方法を提供すること。また、補助パッドを備えた接
触型磁気ヘッドにあっては、磁極パッドと補助パッドの
高さを容易にそろえることが可能な接触型磁気ヘッドの
製造方法を提供すること。 【解決手段】 基板12上に分離層14を形成し、さら
に分離層14上に複数のヘッド素子を含む素子層16を
形成して素子板10とする。次に、磁極18が形成され
た素子層16の表面に硬質被膜20を形成した後、素子
板10の状態で硬質被膜20の表面をラッピングし、磁
極18先端をほぼ完全に露出させる。さらに、磁極18
先端を磁極保護膜30で覆い、硬質被膜20の不要部分
を除去して磁極パッド54及び補助パッド56を形成し
た後、素子層16に含まれる各ヘッド素子を素子板10
から分離・切断して、接触型磁気ヘッド50を得る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、接触型磁気ヘッド
の製造方法に関し、更に詳しくは、コンピュータ、デジ
タルカメラ、デジタルAV等に用いられるフロッピーデ
ィスク、磁気テープ、磁気ディスク等の磁気記録媒体の
高密度記録・再生に好適な接触型磁気ヘッドの製造方法
に関するものである。
の製造方法に関し、更に詳しくは、コンピュータ、デジ
タルカメラ、デジタルAV等に用いられるフロッピーデ
ィスク、磁気テープ、磁気ディスク等の磁気記録媒体の
高密度記録・再生に好適な接触型磁気ヘッドの製造方法
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】フロッピーディスク、磁気テープ、ハー
ドディスク等、磁気記録媒体への高密度記録・再生を達
成するには、磁気ヘッドから発生する漏れ磁束が書き込
まれる磁気記録媒体の領域を微小化し、この微小領域か
ら正確に磁気記録情報を読み出す必要がある。そのため
には、磁気記録媒体と磁気ヘッドとをできる限り接近さ
せることが望ましい。このような観点から開発された磁
気記録・再生装置としては、磁極を備えた接触パッドを
磁気記録媒体に直接接触させながら磁気記録情報の記録
・再生を行う接触型磁気ヘッドが知られている。
ドディスク等、磁気記録媒体への高密度記録・再生を達
成するには、磁気ヘッドから発生する漏れ磁束が書き込
まれる磁気記録媒体の領域を微小化し、この微小領域か
ら正確に磁気記録情報を読み出す必要がある。そのため
には、磁気記録媒体と磁気ヘッドとをできる限り接近さ
せることが望ましい。このような観点から開発された磁
気記録・再生装置としては、磁極を備えた接触パッドを
磁気記録媒体に直接接触させながら磁気記録情報の記録
・再生を行う接触型磁気ヘッドが知られている。
【0003】例えば、特開平8−203190号公報に
は、磁気ヘッドスライダ(ヘッドチップ)にダイヤモン
ドからなる1個の接触パッドを設け、接触パッドの先端
を、中心線平均粗さRmaxが0.5nm程度となるよ
うに球面研磨した接触型磁気ヘッドが開示されている。
は、磁気ヘッドスライダ(ヘッドチップ)にダイヤモン
ドからなる1個の接触パッドを設け、接触パッドの先端
を、中心線平均粗さRmaxが0.5nm程度となるよ
うに球面研磨した接触型磁気ヘッドが開示されている。
【0004】また、特願平9−225724号には、薄
膜状のヘッドチップに、磁極を有する接触パッド(以
下、これを「磁極パッド」という。)と、この磁極パッ
ドの接触走行を安定化させるための2個の接触パッド
(以下、これを「補助パッド」という。)を設けた接触
型磁気ヘッドが本件出願人により提案されている。
膜状のヘッドチップに、磁極を有する接触パッド(以
下、これを「磁極パッド」という。)と、この磁極パッ
ドの接触走行を安定化させるための2個の接触パッド
(以下、これを「補助パッド」という。)を設けた接触
型磁気ヘッドが本件出願人により提案されている。
【0005】このような接触パッドを備えた接触型磁気
ヘッドは、リソグラフィ技術を用いて製造することがで
きる。具体的には、以下のような手順により製造するの
が一般的である。すなわち、まず、図4(a)に示すよ
うに、基板12の上に、適当なエッチング液に溶解可能
な材料からなる分離層14を形成し、さらに、分離層1
4の上に素子層16を形成して、素子板10を作製す
る。
ヘッドは、リソグラフィ技術を用いて製造することがで
きる。具体的には、以下のような手順により製造するの
が一般的である。すなわち、まず、図4(a)に示すよ
うに、基板12の上に、適当なエッチング液に溶解可能
な材料からなる分離層14を形成し、さらに、分離層1
4の上に素子層16を形成して、素子板10を作製す
る。
【0006】素子層16は、その内部に磁気ヨーク、コ
イル等からなる多数のヘッド素子(図示せず)が周期的
に形成され、その表面には、各磁気ヨークと磁気的に連
結している多数の磁極18、18…が形成されたもので
ある。
イル等からなる多数のヘッド素子(図示せず)が周期的
に形成され、その表面には、各磁気ヨークと磁気的に連
結している多数の磁極18、18…が形成されたもので
ある。
【0007】次に、図4(b)に示すように、磁極18
が形成された素子層16の表面に、接触パッドの主要部
となる硬質被膜20を形成する。次いで、エッチングに
より、硬質被膜20の不要部分を選択的に除去する。こ
れにより、図4(c)に示すように、素子層16の表面
に、複数の磁極パッド54と複数の補助パッド56が形
成される。
が形成された素子層16の表面に、接触パッドの主要部
となる硬質被膜20を形成する。次いで、エッチングに
より、硬質被膜20の不要部分を選択的に除去する。こ
れにより、図4(c)に示すように、素子層16の表面
に、複数の磁極パッド54と複数の補助パッド56が形
成される。
【0008】次に、図4(d)に示すように、磁極パッ
ド54及び補助パッド56が形成された素子層16の表
面を保護膜22で覆う。次いで、図4(e)に示すよう
に、素子層16から、少なくとも分離層14に達する複
数の溝28、28…を入れる。さらに、これをエッチン
グ液に浸漬して分離層14を溶解除去した後、保護膜2
2を除去すれば、図4(f)に示すように、磁極パッド
54及び補助パッド56を備えた多数の接触型磁気ヘッ
ド50、50…を素子板10から分離することができ
る。
ド54及び補助パッド56が形成された素子層16の表
面を保護膜22で覆う。次いで、図4(e)に示すよう
に、素子層16から、少なくとも分離層14に達する複
数の溝28、28…を入れる。さらに、これをエッチン
グ液に浸漬して分離層14を溶解除去した後、保護膜2
2を除去すれば、図4(f)に示すように、磁極パッド
54及び補助パッド56を備えた多数の接触型磁気ヘッ
ド50、50…を素子板10から分離することができ
る。
【0009】最後に、図5に示すように、接触型磁気ヘ
ッド50の磁極パッド54及び補助パッド56が設けら
れた面と反対側の面に埋設されたAuパッド(図示せ
ず)を露出させ、Auパッドとサスペンション58を接
合すれば、サスペンション58で支持された接触型磁気
ヘッド50が得られる。
ッド50の磁極パッド54及び補助パッド56が設けら
れた面と反対側の面に埋設されたAuパッド(図示せ
ず)を露出させ、Auパッドとサスペンション58を接
合すれば、サスペンション58で支持された接触型磁気
ヘッド50が得られる。
【0010】ところで、上述のような製造工程を経て得
られる接触型磁気ヘッド50は、磁極18の先端が硬質
被膜20で覆われた状態になっている。接触型磁気ヘッ
ド50においては、硬質被膜20としてダイヤモンドラ
イクカーボン(以下、これを「DLC」という。)を用
いるのが一般的であるが、DLCは非磁性材料である。
られる接触型磁気ヘッド50は、磁極18の先端が硬質
被膜20で覆われた状態になっている。接触型磁気ヘッ
ド50においては、硬質被膜20としてダイヤモンドラ
イクカーボン(以下、これを「DLC」という。)を用
いるのが一般的であるが、DLCは非磁性材料である。
【0011】磁極18先端が非磁性材料で覆われたまま
では、磁極18と磁気記録媒体の間が磁気的に絶縁さ
れ、磁気情報の記録再生を行うことができない。そのた
め、このような接触型磁気ヘッド50は、使用に先立
ち、磁極18の先端を覆っている硬質被膜20を除去
し、磁極18先端を完全に露出させる必要がある。
では、磁極18と磁気記録媒体の間が磁気的に絶縁さ
れ、磁気情報の記録再生を行うことができない。そのた
め、このような接触型磁気ヘッド50は、使用に先立
ち、磁極18の先端を覆っている硬質被膜20を除去
し、磁極18先端を完全に露出させる必要がある。
【0012】このような磁極18先端の硬質被膜20
は、サスペンション58により支持された各接触型磁気
ヘッド50を個別にラッピング加工することにより除去
するのが一般的である。また、磁極18先端を確実に露
出させるために、磁極18先端の硬質被膜20の除去量
をモニターしながらラッピング加工を行う方法も知られ
ている。
は、サスペンション58により支持された各接触型磁気
ヘッド50を個別にラッピング加工することにより除去
するのが一般的である。また、磁極18先端を確実に露
出させるために、磁極18先端の硬質被膜20の除去量
をモニターしながらラッピング加工を行う方法も知られ
ている。
【0013】例えば、米国特許第5,632,699号
公報には、磁極先端がDLCで覆われた接触型磁気ヘッ
ドと、磁気情報が書き込まれたディスクとを摺動させ、
ディスクからの信号をその接触型磁気ヘッドにより受信
し、この信号の大きさに基づいて磁極先端を覆っている
DLCの除去量をモニターしながらラッピングする方法
が開示されている。
公報には、磁極先端がDLCで覆われた接触型磁気ヘッ
ドと、磁気情報が書き込まれたディスクとを摺動させ、
ディスクからの信号をその接触型磁気ヘッドにより受信
し、この信号の大きさに基づいて磁極先端を覆っている
DLCの除去量をモニターしながらラッピングする方法
が開示されている。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】ディスクからの信号を
モニターしながら磁極先端をラッピングする方法は、製
造された各接触型磁気ヘッドの磁極先端を覆っているD
LCの除去量を個別に最適化できるという利点がある。
しかしながら、信号をモニターするための装置が別途必
要になり、工程が煩雑になるという問題がある。
モニターしながら磁極先端をラッピングする方法は、製
造された各接触型磁気ヘッドの磁極先端を覆っているD
LCの除去量を個別に最適化できるという利点がある。
しかしながら、信号をモニターするための装置が別途必
要になり、工程が煩雑になるという問題がある。
【0015】また、接触パッドに用いられるDLC等の
硬質被膜は、極めて硬度が高く、耐摩耗性に富んでい
る。そのため、素子層18を基板12から分離・切断し
て接触型磁気ヘッド50とした後、各接触型磁気ヘッド
50について、個別にラッピングする方法では、ラッピ
ングディスクを傷つけたり、あるいは、ラッピングに長
時間を要し、製造コストの増大を招くという問題があ
る。
硬質被膜は、極めて硬度が高く、耐摩耗性に富んでい
る。そのため、素子層18を基板12から分離・切断し
て接触型磁気ヘッド50とした後、各接触型磁気ヘッド
50について、個別にラッピングする方法では、ラッピ
ングディスクを傷つけたり、あるいは、ラッピングに長
時間を要し、製造コストの増大を招くという問題があ
る。
【0016】さらに、磁極18が突設された素子層16
の表面に硬質被膜20を形成すると、図4に示すよう
に、磁極18の上に硬質被膜20が厚く盛り上がった状
態となる。このような状態から磁極パッド54及び補助
パッド56を形成すると、図5に示すように、磁極パッ
ド54の高さが補助パッド56の高さより高くなるとい
う問題がある。
の表面に硬質被膜20を形成すると、図4に示すよう
に、磁極18の上に硬質被膜20が厚く盛り上がった状
態となる。このような状態から磁極パッド54及び補助
パッド56を形成すると、図5に示すように、磁極パッ
ド54の高さが補助パッド56の高さより高くなるとい
う問題がある。
【0017】磁極パッド54と補助パッド56の高さが
異なっていると、図6に示すように、接触型磁気ヘッド
50と、回転しているラッピングディスク60とを平行
に接触させることができないので、ラッピング過程にお
いて、磁極パッド54と補助パッド56の高さを揃える
のは極めて困難である。
異なっていると、図6に示すように、接触型磁気ヘッド
50と、回転しているラッピングディスク60とを平行
に接触させることができないので、ラッピング過程にお
いて、磁極パッド54と補助パッド56の高さを揃える
のは極めて困難である。
【0018】本発明が解決しようとする課題は、特別の
装置を用いることなく磁極先端の露出加工を短時間で行
うことができ、これにより製造コストを大幅に低減する
ことが可能な接触型磁気ヘッドの製造方法を提供するこ
とにある。
装置を用いることなく磁極先端の露出加工を短時間で行
うことができ、これにより製造コストを大幅に低減する
ことが可能な接触型磁気ヘッドの製造方法を提供するこ
とにある。
【0019】また、本発明が解決しようとする他の課題
は、補助パッドを備えた接触型磁気ヘッドにおいて、磁
極パッドと補助パッドの高さを容易にそろえることが可
能な接触型磁気ヘッドの製造方法を提供することにあ
る。
は、補助パッドを備えた接触型磁気ヘッドにおいて、磁
極パッドと補助パッドの高さを容易にそろえることが可
能な接触型磁気ヘッドの製造方法を提供することにあ
る。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、基板上に、分離層を介して、複数のヘッ
ド素子を含む素子層が形成された素子板を作製する素子
板作製工程と、前記素子層に含まれる各ヘッド素子を前
記素子板から分離・切断する分離・切断工程とを備えて
いる接触型磁気ヘッドの製造方法において、磁極が突設
された前記素子層の表面に硬質被膜を形成する硬質被膜
形成工程と、前記素子板の状態で前記硬質被膜の表面を
ラッピングし、前記磁極先端を覆う前記硬質被膜の全部
又は一部を除去するウエハラップ工程と、該ウエハラッ
プ工程により前記硬質被膜の全部又は一部を除去した前
記磁極先端に、前記分離層を溶解するためのエッチング
液に対する耐性を有し、かつ、前記硬質被膜より硬度の
低い保護膜を形成する保護膜形成工程とを、さらに備え
ていることを要旨とするものである。
に、本発明は、基板上に、分離層を介して、複数のヘッ
ド素子を含む素子層が形成された素子板を作製する素子
板作製工程と、前記素子層に含まれる各ヘッド素子を前
記素子板から分離・切断する分離・切断工程とを備えて
いる接触型磁気ヘッドの製造方法において、磁極が突設
された前記素子層の表面に硬質被膜を形成する硬質被膜
形成工程と、前記素子板の状態で前記硬質被膜の表面を
ラッピングし、前記磁極先端を覆う前記硬質被膜の全部
又は一部を除去するウエハラップ工程と、該ウエハラッ
プ工程により前記硬質被膜の全部又は一部を除去した前
記磁極先端に、前記分離層を溶解するためのエッチング
液に対する耐性を有し、かつ、前記硬質被膜より硬度の
低い保護膜を形成する保護膜形成工程とを、さらに備え
ていることを要旨とするものである。
【0021】上記構成を有する本発明に係る接触型磁気
ヘッドの製造方法によれば、複数のヘッド素子が作り込
まれた素子板の状態で、磁極先端を覆う硬質被膜の全部
又は一部を除去するためのラッピング加工が行われるの
で、各ヘッド素子毎に磁極の露出加工を行う場合に比較
して、ラッピングに要する総作業時間を大幅に短縮する
ことができる。
ヘッドの製造方法によれば、複数のヘッド素子が作り込
まれた素子板の状態で、磁極先端を覆う硬質被膜の全部
又は一部を除去するためのラッピング加工が行われるの
で、各ヘッド素子毎に磁極の露出加工を行う場合に比較
して、ラッピングに要する総作業時間を大幅に短縮する
ことができる。
【0022】また、素子板の表面に形成された硬質被膜
全体が平坦化されるので、補助パッドを備えた接触型磁
気ヘッドを製造する場合であっても、磁極パッドと補助
パッドの高さを容易に揃えることができる。
全体が平坦化されるので、補助パッドを備えた接触型磁
気ヘッドを製造する場合であっても、磁極パッドと補助
パッドの高さを容易に揃えることができる。
【0023】さらに、硬質被膜の全部又は一部が除去さ
れた磁極先端に保護膜が形成されるので、素子板から各
ヘッド素子を分離、切断する際に曝される腐食環境から
磁極を保護することができる。また、保護膜として、硬
質被膜より低い硬度を有する材質を用いれば、各ヘッド
素子に分離、切断した後に簡単なラッピングを行うだけ
で、磁極先端の保護膜を容易に除去することができる。
れた磁極先端に保護膜が形成されるので、素子板から各
ヘッド素子を分離、切断する際に曝される腐食環境から
磁極を保護することができる。また、保護膜として、硬
質被膜より低い硬度を有する材質を用いれば、各ヘッド
素子に分離、切断した後に簡単なラッピングを行うだけ
で、磁極先端の保護膜を容易に除去することができる。
【0024】また、前記ウエハラップ工程は、前記硬質
被膜に1又は2以上のホール部を設け、該ホール部を用
いて前記硬質被膜の膜厚をモニターしながら、ラッピン
グを行うことが望ましい。硬質被膜にホール部を設ける
と、ホール部に触針を挿入する等の手段により硬質被膜
の膜厚を計測することができ、磁極先端の硬質被膜の除
去量を正確、かつ容易に判断することができる。
被膜に1又は2以上のホール部を設け、該ホール部を用
いて前記硬質被膜の膜厚をモニターしながら、ラッピン
グを行うことが望ましい。硬質被膜にホール部を設ける
と、ホール部に触針を挿入する等の手段により硬質被膜
の膜厚を計測することができ、磁極先端の硬質被膜の除
去量を正確、かつ容易に判断することができる。
【0025】
【発明の実施の形態】以下に、本発明の一実施の形態に
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図1〜図3
に、本発明に係る接触型磁気ヘッドの製造工程の一例を
示す。図1〜図3において、本実施の形態に係る接触型
磁気ヘッドの製造方法は、素子板作製工程と、硬質被膜
形成工程と、ウエハラップ工程と、保護膜形成工程と、
接触パッド形成工程と、切断・分離工程と、ディスクラ
ップ工程とを備えている。
ついて図面を参照しながら詳細に説明する。図1〜図3
に、本発明に係る接触型磁気ヘッドの製造工程の一例を
示す。図1〜図3において、本実施の形態に係る接触型
磁気ヘッドの製造方法は、素子板作製工程と、硬質被膜
形成工程と、ウエハラップ工程と、保護膜形成工程と、
接触パッド形成工程と、切断・分離工程と、ディスクラ
ップ工程とを備えている。
【0026】まず、素子板作製工程について説明する。
素子板作製工程は、図1(a)に示すように、基板12
の上に分離層14を介して素子層16が形成された素子
板10を作製する工程である。基板12は、素子層16
を支持するためのものであり、用途に応じて、種々の形
状、材質を有するものが用いられる。一般的には、アル
ミナ、TiC等のセラミックスからなる直径約150m
m、厚さ2〜3mm程度のセラミック基板が用いられ
る。
素子板作製工程は、図1(a)に示すように、基板12
の上に分離層14を介して素子層16が形成された素子
板10を作製する工程である。基板12は、素子層16
を支持するためのものであり、用途に応じて、種々の形
状、材質を有するものが用いられる。一般的には、アル
ミナ、TiC等のセラミックスからなる直径約150m
m、厚さ2〜3mm程度のセラミック基板が用いられ
る。
【0027】分離層14は、基板12と素子層16とを
接着すると同時に、製造工程の最終段階において基板1
2と素子層16とを分離させる役割を有するものであ
る。従って、分離層14には、適当なエッチング液によ
り容易に溶解する材料が用いられる。具体的には、銅、
クロム、ニッケル等からなる金属薄膜が好適である。
接着すると同時に、製造工程の最終段階において基板1
2と素子層16とを分離させる役割を有するものであ
る。従って、分離層14には、適当なエッチング液によ
り容易に溶解する材料が用いられる。具体的には、銅、
クロム、ニッケル等からなる金属薄膜が好適である。
【0028】なお、分離層14は、真空蒸着、スパッタ
リング、メッキ等の周知の手段を用いて基板12上に形
成することができる。また、分離層14の厚さは、成膜
速度、基板12と素子層16との分離の容易性等を考慮
して、任意に定めるとよい。通常は、数μm〜十数μm
程度である。
リング、メッキ等の周知の手段を用いて基板12上に形
成することができる。また、分離層14の厚さは、成膜
速度、基板12と素子層16との分離の容易性等を考慮
して、任意に定めるとよい。通常は、数μm〜十数μm
程度である。
【0029】素子層16は、分離・切断後に接触型磁気
ヘッドとなる複数のヘッド素子(図示せず)が周期的に
形成された層であり、その厚さは、通常、50μm程度
である。素子層16に含まれるヘッド素子の数は、素子
の大きさにもよるが、直径150mm程度の基板12を
用いる場合には、数千個〜1万個程度となる。
ヘッドとなる複数のヘッド素子(図示せず)が周期的に
形成された層であり、その厚さは、通常、50μm程度
である。素子層16に含まれるヘッド素子の数は、素子
の大きさにもよるが、直径150mm程度の基板12を
用いる場合には、数千個〜1万個程度となる。
【0030】このような素子層16は、リソグラフィ技
術を用いて作製することができ、得られた素子層16
は、多数の薄膜が積層された積層構造を呈している。素
子層16の主要部分には、一般に、アルミナ、シリカ等
のセラミックス材料が用いられる。また、素子層16の
内部には、磁気ヨーク、コイル、リード線、接続パッド
(Auパッド)等の構成要素がヘッド素子の数だけ形成
されている。
術を用いて作製することができ、得られた素子層16
は、多数の薄膜が積層された積層構造を呈している。素
子層16の主要部分には、一般に、アルミナ、シリカ等
のセラミックス材料が用いられる。また、素子層16の
内部には、磁気ヨーク、コイル、リード線、接続パッド
(Auパッド)等の構成要素がヘッド素子の数だけ形成
されている。
【0031】また、素子層16の表面には、複数の磁極
18、18…が突設されている。各磁極18、18…
は、それぞれ、素子層16内に形成された各磁気ヨーク
(図示せず)につながっており、磁極18及び磁気ヨー
クにより磁気回路が構成されている。
18、18…が突設されている。各磁極18、18…
は、それぞれ、素子層16内に形成された各磁気ヨーク
(図示せず)につながっており、磁極18及び磁気ヨー
クにより磁気回路が構成されている。
【0032】なお、磁極18には、一般にNiFe(パ
ーマロイ)等の軟磁性材料が用いられるが、磁極先端な
ど、記録時に磁束密度が非常に高くなる部分について
は、CoZrTaなどのCo系アモルファス材料や、F
eTaNなどの高飽和磁化材料を用いてもよく、特に限
定されるものではない。
ーマロイ)等の軟磁性材料が用いられるが、磁極先端な
ど、記録時に磁束密度が非常に高くなる部分について
は、CoZrTaなどのCo系アモルファス材料や、F
eTaNなどの高飽和磁化材料を用いてもよく、特に限
定されるものではない。
【0033】次に、硬質被膜形成工程について説明す
る。硬質被膜形成工程は、図1(b)に示すように、磁
極18が形成された素子板10の表面に硬質被膜20を
成膜する工程である。硬質被膜20は、接触パッドの主
要部分となるので、少なくとも磁極18が完全に覆われ
る厚さとなるまで積層する。
る。硬質被膜形成工程は、図1(b)に示すように、磁
極18が形成された素子板10の表面に硬質被膜20を
成膜する工程である。硬質被膜20は、接触パッドの主
要部分となるので、少なくとも磁極18が完全に覆われ
る厚さとなるまで積層する。
【0034】また、この時、磁極18は、素子層16の
表面から突出した状態になっているので、素子層16の
表面と同様に磁極18先端にも硬質被膜20が積層さ
れ、磁極18先端では、硬質被膜20が盛り上がった状
態になる。
表面から突出した状態になっているので、素子層16の
表面と同様に磁極18先端にも硬質被膜20が積層さ
れ、磁極18先端では、硬質被膜20が盛り上がった状
態になる。
【0035】ここで、硬質被膜20の材質は、少なくと
も磁極18より高い硬度を有するものであればよい。硬
質被膜20としては、具体的には、DLC、TiC、ア
ルミナ等を用いるのが好ましい。特に、DLCは、硬度
が極めて高い反面、摩擦係数が小さいという特徴を有し
ているので、接触パッドの材質として好適である。
も磁極18より高い硬度を有するものであればよい。硬
質被膜20としては、具体的には、DLC、TiC、ア
ルミナ等を用いるのが好ましい。特に、DLCは、硬度
が極めて高い反面、摩擦係数が小さいという特徴を有し
ているので、接触パッドの材質として好適である。
【0036】硬質被膜20としてDLCを用いる場合、
成膜は、スパッタリング、プラズマCVD等の方法によ
り行うことができる。素子層16の主要部にアルミナを
用いる場合、DLCとの良好な密着力が得られないの
で、その場合には、DLCを成膜する前に、あらかじめ
素子層16の上にSi薄膜を形成しておくとよい。
成膜は、スパッタリング、プラズマCVD等の方法によ
り行うことができる。素子層16の主要部にアルミナを
用いる場合、DLCとの良好な密着力が得られないの
で、その場合には、DLCを成膜する前に、あらかじめ
素子層16の上にSi薄膜を形成しておくとよい。
【0037】また、硬質被膜20を素子層16の表面に
形成した後、硬質被膜20に、素子層16に達するホー
ル部21を形成するとよい。具体的には、ホール部21
を形成したい部分以外の部分を適当なマスク材で被覆
し、露出している部分をエッチングにより除去すればよ
い。ホール部21は、1個でもよいが、基板12の直径
が大きい場合、高い膜厚測定精度が要求される場合等に
は、硬質被膜20の全面に渡って複数個のホール部21
を設けるようにするとよい。
形成した後、硬質被膜20に、素子層16に達するホー
ル部21を形成するとよい。具体的には、ホール部21
を形成したい部分以外の部分を適当なマスク材で被覆
し、露出している部分をエッチングにより除去すればよ
い。ホール部21は、1個でもよいが、基板12の直径
が大きい場合、高い膜厚測定精度が要求される場合等に
は、硬質被膜20の全面に渡って複数個のホール部21
を設けるようにするとよい。
【0038】次に、ウエハラップ工程について説明す
る。ウエハラップ工程は、図1(c)に示すように、ラ
ッピング加工により、素子板10上に形成された硬質被
膜20の凹凸を除去すると共に、磁極18先端を覆って
いる硬質被膜20を除去する工程である。
る。ウエハラップ工程は、図1(c)に示すように、ラ
ッピング加工により、素子板10上に形成された硬質被
膜20の凹凸を除去すると共に、磁極18先端を覆って
いる硬質被膜20を除去する工程である。
【0039】ここで、ウエハラップ工程においては、磁
極18先端を覆っている硬質被膜20の全てが除去さ
れ、磁極18先端が完全に露出するまでラッピングして
もよく、あるいは、磁極18先端に、硬質被膜20が若
干残った状態となるまでラッピングしてもよい。但し、
硬質被膜20の残り厚さが厚すぎると、後述するディス
クラップ工程に要する作業時間が増大するので、磁極1
8先端の硬質被膜20の残り厚さが10nm以下となる
ように、ラッピングすることが好ましい。
極18先端を覆っている硬質被膜20の全てが除去さ
れ、磁極18先端が完全に露出するまでラッピングして
もよく、あるいは、磁極18先端に、硬質被膜20が若
干残った状態となるまでラッピングしてもよい。但し、
硬質被膜20の残り厚さが厚すぎると、後述するディス
クラップ工程に要する作業時間が増大するので、磁極1
8先端の硬質被膜20の残り厚さが10nm以下となる
ように、ラッピングすることが好ましい。
【0040】また、この時、ラッピング時間を測定する
ことにより、硬質被膜20の除去量を調節してもよい
が、ホール部21を用いて硬質被膜20の膜厚を適宜測
定しながらラッピングを行うとよい。具体的には、ホー
ル部21に触針を差し込み、硬質被膜20の膜厚を計測
すればよい。なお、ラッピング方法は、特に限定される
ものではない。例えば、ディスクを用いてラッピングし
てもよく、あるいはテープを用いてラッピングしてもよ
い。
ことにより、硬質被膜20の除去量を調節してもよい
が、ホール部21を用いて硬質被膜20の膜厚を適宜測
定しながらラッピングを行うとよい。具体的には、ホー
ル部21に触針を差し込み、硬質被膜20の膜厚を計測
すればよい。なお、ラッピング方法は、特に限定される
ものではない。例えば、ディスクを用いてラッピングし
てもよく、あるいはテープを用いてラッピングしてもよ
い。
【0041】このように、数千個〜1万個のヘッド素子
を含む素子板10の状態でラッピングを行えば、僅か1
回のラッピング加工で、数千個〜1万個の磁極18先端
をほぼ露出させることができる。そのため、ヘッド素子
毎に行っていた従来の磁極露出方法と比較して、ラッピ
ングに要する総作業時間を大幅に短縮することができ
る。
を含む素子板10の状態でラッピングを行えば、僅か1
回のラッピング加工で、数千個〜1万個の磁極18先端
をほぼ露出させることができる。そのため、ヘッド素子
毎に行っていた従来の磁極露出方法と比較して、ラッピ
ングに要する総作業時間を大幅に短縮することができ
る。
【0042】また、ホール部21に触針を差し込む等の
手段を用いて膜厚を測定しながら素子板10のラッピン
グを行えば、磁極18先端を覆う硬質被膜20の除去量
を正確、かつ容易に判定することができる。
手段を用いて膜厚を測定しながら素子板10のラッピン
グを行えば、磁極18先端を覆う硬質被膜20の除去量
を正確、かつ容易に判定することができる。
【0043】次に、保護膜形成工程について説明する。
保護膜形成工程は、図1(d)に示すように、磁極18
先端をほぼ露出させた素子板10の表面に、磁極18を
保護するための保護膜30(以下、これを「磁極保護膜
30」という。)を形成する工程である。
保護膜形成工程は、図1(d)に示すように、磁極18
先端をほぼ露出させた素子板10の表面に、磁極18を
保護するための保護膜30(以下、これを「磁極保護膜
30」という。)を形成する工程である。
【0044】ここで、磁極保護膜30は、後述する切断
・分離工程において使用するエッチング液から磁極18
を保護するために用いられるものである。従って、磁極
保護膜30には、切断・分離工程において使用されるエ
ッチング液に対する高い耐食性を有する材料を用いる必
要がある。
・分離工程において使用するエッチング液から磁極18
を保護するために用いられるものである。従って、磁極
保護膜30には、切断・分離工程において使用されるエ
ッチング液に対する高い耐食性を有する材料を用いる必
要がある。
【0045】また、磁極保護膜30は、分離・切断工程
後に、後述するディスクラップ工程においてラッピング
により除去することになるが、磁極保護膜30の硬度が
高すぎると、磁極保護膜30の除去に長時間を要するの
で好ましくない。従って、磁極保護膜30には、少なく
とも、硬質被膜20よりも硬度が低い材料を用いること
が望ましい。特に、硬質被膜20の100倍以上のラッ
ピング速度を有する材料が磁極保護膜30として好適で
ある。
後に、後述するディスクラップ工程においてラッピング
により除去することになるが、磁極保護膜30の硬度が
高すぎると、磁極保護膜30の除去に長時間を要するの
で好ましくない。従って、磁極保護膜30には、少なく
とも、硬質被膜20よりも硬度が低い材料を用いること
が望ましい。特に、硬質被膜20の100倍以上のラッ
ピング速度を有する材料が磁極保護膜30として好適で
ある。
【0046】磁極保護膜30としては、具体的には、炭
化珪素、シリコン、シリカ、アルミナ、あるいは、ハー
ドべークしたフォトレジストの表面に金属膜を形成した
複合被膜等が好ましい。特に、ハードベークしたフォト
レジストと金属膜からなる複合被膜は、他の材質に比較
して硬度が低いことに加え、有機溶剤により容易に溶解
除去することもできるので、磁極保護膜30として特に
好適である。
化珪素、シリコン、シリカ、アルミナ、あるいは、ハー
ドべークしたフォトレジストの表面に金属膜を形成した
複合被膜等が好ましい。特に、ハードベークしたフォト
レジストと金属膜からなる複合被膜は、他の材質に比較
して硬度が低いことに加え、有機溶剤により容易に溶解
除去することもできるので、磁極保護膜30として特に
好適である。
【0047】次に、接触パッド形成工程について説明す
る。接触パッド形成工程は、硬質被膜20の不要部分を
除去し、硬質被膜20からなる接触パッドを形成する工
程である。図1(e)に、素子層16表面に、複数の磁
極パッド54、54…と、複数の補助パッド56、56
…が形成された状態を示す。
る。接触パッド形成工程は、硬質被膜20の不要部分を
除去し、硬質被膜20からなる接触パッドを形成する工
程である。図1(e)に、素子層16表面に、複数の磁
極パッド54、54…と、複数の補助パッド56、56
…が形成された状態を示す。
【0048】磁極パッド54及び補助パッド56の大き
さは、用途にもよるが、高密度の記録再生用として使用
する場合には、長さ数十μm〜百μm、高さ数μm程度
である。また、磁極パッド54及び補助パッド56を形
成するには、例えば、硬質被膜20の表面の内、接触パ
ッドを形成したい部分に適当なマスク材を被覆し、次い
で、マスク材で覆われていない部分の硬質被膜20をエ
ッチングにより選択的に除去すればよい。硬質被膜20
としてDLCを用いる場合、エッチング方法としては、
リアクティブイオンエッチング(以下、これを「RI
E」という。)を用いるとよい。
さは、用途にもよるが、高密度の記録再生用として使用
する場合には、長さ数十μm〜百μm、高さ数μm程度
である。また、磁極パッド54及び補助パッド56を形
成するには、例えば、硬質被膜20の表面の内、接触パ
ッドを形成したい部分に適当なマスク材を被覆し、次い
で、マスク材で覆われていない部分の硬質被膜20をエ
ッチングにより選択的に除去すればよい。硬質被膜20
としてDLCを用いる場合、エッチング方法としては、
リアクティブイオンエッチング(以下、これを「RI
E」という。)を用いるとよい。
【0049】次に、切断・分離工程について説明する。
切断・分離工程は、基板12から磁極パッド54及び補
助パッド56が形成された素子層16を分離し、各ヘッ
ド素子の境界線に沿って切断する工程である。具体的に
は、以下の手順に従い、素子層16の分離・切断を行う
とよい。
切断・分離工程は、基板12から磁極パッド54及び補
助パッド56が形成された素子層16を分離し、各ヘッ
ド素子の境界線に沿って切断する工程である。具体的に
は、以下の手順に従い、素子層16の分離・切断を行う
とよい。
【0050】すなわち、まず、図1(f)に示すよう
に、磁極パッド54及び補助パッド56が形成された素
子層16の表面に不要物が付着するのを防止するための
保護膜22(以下、これを「表面保護膜22」とい
う。)を形成する。表面保護膜22としては、例えば、
フォトレジスト膜が好適である。
に、磁極パッド54及び補助パッド56が形成された素
子層16の表面に不要物が付着するのを防止するための
保護膜22(以下、これを「表面保護膜22」とい
う。)を形成する。表面保護膜22としては、例えば、
フォトレジスト膜が好適である。
【0051】次に、図1(g)に示すように、素子層1
6に含まれるヘッド素子の境界線に沿って、素子層16
から、少なくとも分離層14に達する溝28、28…を
入れる。この場合、溝28、28…の先端は、基板12
に達していてもよい。
6に含まれるヘッド素子の境界線に沿って、素子層16
から、少なくとも分離層14に達する溝28、28…を
入れる。この場合、溝28、28…の先端は、基板12
に達していてもよい。
【0052】次いで、溝28が形成された素子板10を
エッチング液に浸漬する。これにより、溝28を通って
分離層14に達したエッチング液により分離層14が溶
解し、所定時間経過後には、各ヘッド素子が基板12か
ら完全に分離する。その後、分離したヘッド素子の表面
を覆っている表面保護膜22を除去すれば、図1(h)
に示すように、接触型磁気ヘッド50が得られる。
エッチング液に浸漬する。これにより、溝28を通って
分離層14に達したエッチング液により分離層14が溶
解し、所定時間経過後には、各ヘッド素子が基板12か
ら完全に分離する。その後、分離したヘッド素子の表面
を覆っている表面保護膜22を除去すれば、図1(h)
に示すように、接触型磁気ヘッド50が得られる。
【0053】なお、溝28は、ダイシングにより形成し
もよく、あるいは、レーザースクライブにより形成して
もよい。特に、レーザースクライブは、溝28の幅を数
十μm程度にすることができるので、材料歩留まりが向
上するという利点がある。また、エッチング液には、分
離層14のみを溶解するものが用いられる。例えば、分
離層14として銅を用いる場合は、エッチング液として
熱硝酸を用いればよい。
もよく、あるいは、レーザースクライブにより形成して
もよい。特に、レーザースクライブは、溝28の幅を数
十μm程度にすることができるので、材料歩留まりが向
上するという利点がある。また、エッチング液には、分
離層14のみを溶解するものが用いられる。例えば、分
離層14として銅を用いる場合は、エッチング液として
熱硝酸を用いればよい。
【0054】次に、ディスクラップ工程について説明す
る。ディスクラップ工程は、磁極保護膜30を除去する
と共に、磁極18先端を完全に露出させる工程である。
具体的には、以下のような手順により、ディスクラップ
を行うとよい。
る。ディスクラップ工程は、磁極保護膜30を除去する
と共に、磁極18先端を完全に露出させる工程である。
具体的には、以下のような手順により、ディスクラップ
を行うとよい。
【0055】すなわち、接触型磁気ヘッド50の上下面
の内、磁極パッド54及び補助パッド56が形成された
面と反対側の面には、ヘッド側の電極となるAuパッド
(図示せず)が埋設されているので、まず、このAuパ
ッドの露出加工を行う。次いで、Auパッドとサスペン
ション58を接合する。これにより、図2に示すよう
に、サスペンション58で支持された接触型磁気ヘッド
50が得られる。
の内、磁極パッド54及び補助パッド56が形成された
面と反対側の面には、ヘッド側の電極となるAuパッド
(図示せず)が埋設されているので、まず、このAuパ
ッドの露出加工を行う。次いで、Auパッドとサスペン
ション58を接合する。これにより、図2に示すよう
に、サスペンション58で支持された接触型磁気ヘッド
50が得られる。
【0056】次に、図3に示すように、サスペンション
58で支持された接触型磁気ヘッド50を、回転してい
るラッピングディスク60に押圧し、磁極パッド54及
び補助パッド56先端のラッピングを行う。なお、ラッ
ピングは、磁極保護膜30が除去され、かつ、磁極18
が完全に露出するまで行われる。
58で支持された接触型磁気ヘッド50を、回転してい
るラッピングディスク60に押圧し、磁極パッド54及
び補助パッド56先端のラッピングを行う。なお、ラッ
ピングは、磁極保護膜30が除去され、かつ、磁極18
が完全に露出するまで行われる。
【0057】本発明によれば、ウエハラップ工程におい
て予め硬質被膜20が平坦化されているので、磁極パッ
ド54と補助パッド56の高さがほぼ等しい接触型磁気
ヘッド50が得られる。そのため、ディスクラップ工程
において、接触型磁気ヘッド50とラッピングディスク
60とをほぼ平行に接触させることができ、磁極パッド
54と補助パッド56とを均等にラッピングすることが
できる。
て予め硬質被膜20が平坦化されているので、磁極パッ
ド54と補助パッド56の高さがほぼ等しい接触型磁気
ヘッド50が得られる。そのため、ディスクラップ工程
において、接触型磁気ヘッド50とラッピングディスク
60とをほぼ平行に接触させることができ、磁極パッド
54と補助パッド56とを均等にラッピングすることが
できる。
【0058】また、磁極保護膜30として、硬質被膜2
0より硬度の低い材料を用いているので、磁極保護膜3
0の除去に長時間を要しない。しかも、ウエハラップ工
程において、予め磁極18先端の硬質被膜20がほぼ除
去されているので、単に時間を決めてラッピングをする
だけでも磁極18を確実に露出させることができる。そ
のため、ラッピングディスク60からの信号をモニター
しながらラッピングを行うための装置が不要となり、製
造工程を簡略化することができる。
0より硬度の低い材料を用いているので、磁極保護膜3
0の除去に長時間を要しない。しかも、ウエハラップ工
程において、予め磁極18先端の硬質被膜20がほぼ除
去されているので、単に時間を決めてラッピングをする
だけでも磁極18を確実に露出させることができる。そ
のため、ラッピングディスク60からの信号をモニター
しながらラッピングを行うための装置が不要となり、製
造工程を簡略化することができる。
【0059】なお、レーザースクライブにより溝28を
入れる場合、レーザーにより溶融した基板12、分離層
14及び/又は素子層16の成分がドロスとなって素子
層16表面に付着する。この状態で分離層14のエッチ
ングを行うと、ドロスがエッチング液の進入を妨げ、分
離層14の溶解速度を遅延させる原因となる。
入れる場合、レーザーにより溶融した基板12、分離層
14及び/又は素子層16の成分がドロスとなって素子
層16表面に付着する。この状態で分離層14のエッチ
ングを行うと、ドロスがエッチング液の進入を妨げ、分
離層14の溶解速度を遅延させる原因となる。
【0060】また、素子層16を基板12から分離する
際、ドロスによって素子層16と基板12とが機械的に
固着され、素子層16の分離が困難となる場合がある。
さらに、ドロスが付着したまま各ヘッド素子に切り離
し、接触型磁気ヘッド50として使用すると、付着した
ドロスにより磁気記録媒体を傷つけるおそれがある。
際、ドロスによって素子層16と基板12とが機械的に
固着され、素子層16の分離が困難となる場合がある。
さらに、ドロスが付着したまま各ヘッド素子に切り離
し、接触型磁気ヘッド50として使用すると、付着した
ドロスにより磁気記録媒体を傷つけるおそれがある。
【0061】従って、レーザースクライブにより溝28
を入れた後、素子層16を分離する前に、ドロスを除去
することが望ましい。具体的には、特開平10−361
6号公報において本件出願人により提案されている方法
を用いて、ドロスを除去するとよい。
を入れた後、素子層16を分離する前に、ドロスを除去
することが望ましい。具体的には、特開平10−361
6号公報において本件出願人により提案されている方法
を用いて、ドロスを除去するとよい。
【0062】すなわち、まず、磁極パッド54及び補助
パッド56が形成された素子板10の表面全体を表面保
護膜22で覆った後に、レーザースクライブにより溝2
8を入れる。次いで、素子層16を溶解可能なエッチン
グ液に基板10を浸漬し、付着したドロスと素子層16
の界面に空隙を形成する。さらに、基板10に対し、メ
ガソニック等を用いて超音波振動を付与する。これによ
り、ドロスが破壊され、素子層16からドロスを容易に
除去することができる。
パッド56が形成された素子板10の表面全体を表面保
護膜22で覆った後に、レーザースクライブにより溝2
8を入れる。次いで、素子層16を溶解可能なエッチン
グ液に基板10を浸漬し、付着したドロスと素子層16
の界面に空隙を形成する。さらに、基板10に対し、メ
ガソニック等を用いて超音波振動を付与する。これによ
り、ドロスが破壊され、素子層16からドロスを容易に
除去することができる。
【0063】また、レーザースクライブにより溝28を
入れる場合、すべての溝28を分離層14に達する深さ
の溝(以下、これを「全切り溝」という。)としてもよ
いが、特開平10−3615号公報において本件出願人
により提案されているように、全切り溝を複数条平行的
に形成すると共に、素子層16の内部で止まる溝(以
下、これを「半切り溝」という。)を全切り溝と交差す
る方向に複数条形成するようにしてもよい。
入れる場合、すべての溝28を分離層14に達する深さ
の溝(以下、これを「全切り溝」という。)としてもよ
いが、特開平10−3615号公報において本件出願人
により提案されているように、全切り溝を複数条平行的
に形成すると共に、素子層16の内部で止まる溝(以
下、これを「半切り溝」という。)を全切り溝と交差す
る方向に複数条形成するようにしてもよい。
【0064】このように全切り溝と半切り溝を互いに交
差するように形成すると、素子層16を基板12から分
離したときに、各ヘッド素子の離散を防止できるという
利点がある。特に、複数のヘッド素子が半切り溝でつな
がった短冊状の要素が、少なくともその一端において並
列に連結しているシートとして素子層16を分離すれ
ば、シートの状態で各ヘッド素子を後工程に供すること
ができ、作業効率が向上するという利点がある。
差するように形成すると、素子層16を基板12から分
離したときに、各ヘッド素子の離散を防止できるという
利点がある。特に、複数のヘッド素子が半切り溝でつな
がった短冊状の要素が、少なくともその一端において並
列に連結しているシートとして素子層16を分離すれ
ば、シートの状態で各ヘッド素子を後工程に供すること
ができ、作業効率が向上するという利点がある。
【0065】以上、本発明の実施の形態について詳細に
説明したが、本発明は、上記実施の形態に何ら限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々
の改変が可能である。
説明したが、本発明は、上記実施の形態に何ら限定され
るものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々
の改変が可能である。
【0066】例えば、上記実施の形態においては、磁極
パッド54及び補助パッド56の双方を備えた接触型磁
気ヘッド50の製造方法について説明したが、磁極パッ
ド54のみを備えた接触型磁気ヘッドに対しても本発明
を適用することができる。
パッド54及び補助パッド56の双方を備えた接触型磁
気ヘッド50の製造方法について説明したが、磁極パッ
ド54のみを備えた接触型磁気ヘッドに対しても本発明
を適用することができる。
【0067】また、本発明は、水平磁化を行う誘導型の
接触型磁気ヘッド、垂直磁化を行う接触型磁気ヘッド、
あるいは、磁気抵抗効果を利用するMRヘッドに対して
も適用でき、これにより上記実施の形態と同様の効果を
得ることができる。
接触型磁気ヘッド、垂直磁化を行う接触型磁気ヘッド、
あるいは、磁気抵抗効果を利用するMRヘッドに対して
も適用でき、これにより上記実施の形態と同様の効果を
得ることができる。
【0068】
【発明の効果】本発明に係る接触型磁気ヘッドの製造方
法は、基板上に分離層を介して素子層が形成された素子
板の状態で磁極先端を覆う硬質被膜の全部又は一部を除
去するためのラッピングを行うようにしたので、各接触
型磁気ヘッド毎に個別に磁極露出加工を行う場合に比較
して、ラッピングに要する作業時間を大幅に短縮できる
という効果がある。
法は、基板上に分離層を介して素子層が形成された素子
板の状態で磁極先端を覆う硬質被膜の全部又は一部を除
去するためのラッピングを行うようにしたので、各接触
型磁気ヘッド毎に個別に磁極露出加工を行う場合に比較
して、ラッピングに要する作業時間を大幅に短縮できる
という効果がある。
【0069】また、素子板の状態で磁極先端の硬質被膜
をほぼ除去した後、分離層を溶解するエッチング液に対
する耐性を有し、かつ、少なくとも磁極先端に硬質被膜
より硬度の低い磁極保護膜を形成しているので、磁極の
腐食を防止することができるという効果がある。また、
各ヘッド素子に分離、切断した後に行われる磁極先端を
露出させるためのラッピング加工も簡略化されるという
効果がある。
をほぼ除去した後、分離層を溶解するエッチング液に対
する耐性を有し、かつ、少なくとも磁極先端に硬質被膜
より硬度の低い磁極保護膜を形成しているので、磁極の
腐食を防止することができるという効果がある。また、
各ヘッド素子に分離、切断した後に行われる磁極先端を
露出させるためのラッピング加工も簡略化されるという
効果がある。
【0070】さらに、素子板の状態で磁極先端の硬質被
膜をラッピングにより除去する際、硬質被膜に1又は2
以上のホール部を設け、ホール部を用いて硬質被膜の膜
厚をモニターしながらラッピングを行えば、硬質被膜の
除去量を正確、かつ容易に判断することができるという
効果がある。
膜をラッピングにより除去する際、硬質被膜に1又は2
以上のホール部を設け、ホール部を用いて硬質被膜の膜
厚をモニターしながらラッピングを行えば、硬質被膜の
除去量を正確、かつ容易に判断することができるという
効果がある。
【0071】以上のように、本発明に係る接触型磁気ヘ
ッドの製造方法によれば、従来、長時間を要していたラ
ッピング工程の作業時間を大幅に短縮することができ、
これにより、製造コストの大幅な削減が可能となるもの
であり、産業上その効果の極めて大きい発明である。
ッドの製造方法によれば、従来、長時間を要していたラ
ッピング工程の作業時間を大幅に短縮することができ、
これにより、製造コストの大幅な削減が可能となるもの
であり、産業上その効果の極めて大きい発明である。
【図1】本発明に係る接触型磁気ヘッドの製造方法を示
す工程図である。
す工程図である。
【図2】図2(a)は、図1に示す工程を経て得られた
接触型磁気ヘッドをサスペンションで支持した状態を示
す底面図であり、図2(b)は、その正面図である。
接触型磁気ヘッドをサスペンションで支持した状態を示
す底面図であり、図2(b)は、その正面図である。
【図3】図2に示す接触型磁気ヘッドの磁極パッド先端
をラッピングしている状態を示す図である。
をラッピングしている状態を示す図である。
【図4】従来の接触型磁気ヘッドの製造方法を示す工程
図である。
図である。
【図5】図5(a)は、図5に示す工程を経て得られた
接触型磁気ヘッドをサスペンションで支持した状態を示
す底面図であり、図5(b)は、その正面図である。
接触型磁気ヘッドをサスペンションで支持した状態を示
す底面図であり、図5(b)は、その正面図である。
【図6】図5に示す接触型磁気ヘッドの磁極パッド先端
をラッピングしている状態を示す図である。
をラッピングしている状態を示す図である。
10 素子板 12 基板 14 分離層 16 素子層 18 磁極 20 硬質被膜 30 保護膜(磁極保護膜) 50 接触型磁気ヘッド 54 接触パッド(磁極パッド) 56 接触パッド(補助パッド)
Claims (2)
- 【請求項1】 基板上に、分離層を介して、複数のヘッ
ド素子を含む素子層が形成された素子板を作製する素子
板作製工程と、前記素子層に含まれる各ヘッド素子を前
記素子板から分離・切断する分離・切断工程とを備えて
いる接触型磁気ヘッドの製造方法において、 磁極が突設された前記素子層の表面に硬質被膜を形成す
る硬質被膜形成工程と、 前記素子板の状態で前記硬質被膜の表面をラッピング
し、前記磁極先端を覆う前記硬質被膜の全部又は一部を
除去するウエハラップ工程と、 該ウエハラップ工程により前記硬質被膜の全部又は一部
を除去した前記磁極先端に、前記分離層を溶解するため
のエッチング液に対する耐性を有し、かつ、前記硬質被
膜より硬度の低い保護膜を形成する保護膜形成工程と
を、さらに備えていることを特徴とする接触型磁気ヘッ
ドの製造方法。 - 【請求項2】 前記ウエハラップ工程は、前記硬質被膜
に1又は2以上のホール部を設け、該ホール部を用いて
前記硬質被膜の膜厚をモニターしながら、ラッピングを
行うことを特徴とする請求項1に記載の接触型磁気ヘッ
ドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11103312A JP2000298817A (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | 接触型磁気ヘッドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11103312A JP2000298817A (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | 接触型磁気ヘッドの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000298817A true JP2000298817A (ja) | 2000-10-24 |
Family
ID=14350701
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11103312A Pending JP2000298817A (ja) | 1999-04-09 | 1999-04-09 | 接触型磁気ヘッドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000298817A (ja) |
-
1999
- 1999-04-09 JP JP11103312A patent/JP2000298817A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6635184B1 (en) | Method for pattern-etching alumina layers and products | |
| US20060215314A1 (en) | Magnetic write head with trailing shield throat pad | |
| JP3394266B2 (ja) | 磁気書込/読取ヘッドの製造方法 | |
| JPH1131308A (ja) | Mr複合ヘッドおよびその製造方法 | |
| JP2961667B2 (ja) | 磁気記録用書き込みおよび/または読み取りヘツドの製造方法 | |
| US6416935B1 (en) | Method for forming the air bearing surface of a slider | |
| US6503406B1 (en) | Method for forming the air bearing surface of a slider using nonreactive plasma | |
| US6428715B1 (en) | Method for producing sliders | |
| JP2000298817A (ja) | 接触型磁気ヘッドの製造方法 | |
| JPH10247305A (ja) | 複合型薄膜磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP2000298819A (ja) | 接触型磁気ヘッドの製造方法 | |
| US5999380A (en) | Smooth topography head surface on a head with patterned pole | |
| JP2000298820A (ja) | 接触型磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP2727275B2 (ja) | 集積磁気ヘッドの製造法 | |
| JP3332222B2 (ja) | スライダ用素材の製造方法、スライダの製造方法およびスライダ用素材 | |
| US7526856B2 (en) | Method for fabricating a magnetic head using a ferrofluid mask | |
| JP2003535426A (ja) | 誘電層を備えた磁気記録ヘッド | |
| JPH04182911A (ja) | 薄膜磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP2001266307A (ja) | 接触型磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP2000298821A (ja) | 接触型磁気ヘッドの製造方法 | |
| JPH11144212A (ja) | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 | |
| JP2003022638A (ja) | 薄膜磁気ヘッド及びその製造方法 | |
| JP2001266306A (ja) | 接触型磁気ヘッドの製造方法及び接触型磁気ヘッド製造用素子板 | |
| JP2002056508A (ja) | 接触型磁気ヘッドの製造方法 | |
| JP2887204B2 (ja) | 狭トラック磁気ヘッドの製造方法 |