JP2000304702A - 粒状物品位判別方法およびその装置 - Google Patents
粒状物品位判別方法およびその装置Info
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Abstract
存を廃止しても、分析結果の裏付けを可能にし、分析結
果の信頼性を向上させることのできる粒状物の品位判別
方法及びその装置の提供を課題とする。 【解決手段】複数のサンプル粒状物に光を照射して反射
光と透過光の画像信号を撮影手段2で受光し、画像処理
手段3において画像信号を画像処理して粒状物の光学情
報を得て、該光学情報によって形状情報を求め、演算制
御手段4において、光学情報と形状情報とに基づいて完
全粒、未完粒を含む品位別に粒状物を判別し、少なくと
も粒状物品位別に粒数をカウントし該カウントに基づく
粒数比を求め、前記光学情報を加工してサンプル粒状物
の画像を作成し、前記求めた粒状物品位別粒数と粒数比
及びサンプル粒状物の画像とを同時にカラープリンター
5又はカラーディスプレイ6に出力する。
Description
の食品、産業資材等の粒状物の品位(品質)を分析する
粒状物品位判別方法およびその装置に関する。
剤などの粒状物は、品質判定装置を用いてサンプル中の
異物や不良品あるいはその程度を判別しその混入割合を
演算して、製品の品質ランクを決定したり、品質管理の
基準としている。
平9−292344号に開示されている技術が挙げられ
る。これは農産物である穀物の玄米サンプル中に含まれ
る整流、未熟粒、被害粒及び着色粒などの品位に基づい
てその粒数を演算するものである。この米粒品位判別装
置は、外周縁に複数個の試料採取孔を設けた円盤を回転
させて、試料採取孔の試料玄米一粒ごとに光を照射し
て、玄米の反射光量や透過光量を受光するようにしてあ
る。受光した光量から判別データを演算し、この判別デ
ータと予め定めた判別アルゴリズムによって、玄米一粒
毎の品位を決定するものである。
画像データを得ることにより、画像データから穀粒の輪
郭を判別し、この輪郭と輪郭で決定された穀粒画像の色
彩と、更に予め決定された判別アルゴリズムとによって
穀粒の品位を決定する粒状物装置がある。
物品位判別装置においては、測定終了後、プリンタなど
の出力装置によって、測定日、サンプル番号またはロッ
トナンバー及び測定粒数などの記録とともに品位ごとの
粒数やその比率といった測定結果を印字して分析結果の
管理資料としていた。
測定結果のみが印字された分析結果だけでは、それが実
際に分析したサンプルに対応した分析結果であることを
証明することは難しく、何らかの裏付けが欲しいところ
である。あるいは分析装置の判別のためのしきい値など
が最適であったことを裏付ける資料は備えていなかっ
た。
レベータやライスセンターでは荷受け時の自主検定のた
めに穀粒品位判別装置を用いているが、ここでは生産者
との間に検査結果に対する誤解が生じたとき検査結果を
裏付けるための分析サンプルを保存している。つまり、
生産者に代金が支払われるまでは、いつでも分析結果と
分析サンプルとが照合できるように、数ケ月から1年間
は分析サンプルを低温保管していた。しかし、粒状物が
気温や湿度の影響で変質、劣化するものにおいては慎重
に保管しなければならず、例えば穀粒は低温貯蔵する必
要があり、そのためには保管場所と保管作業の手間と、
更に保管コストがかかるという問題があった。
止しても、分析結果の裏付けを可能にし、分析結果の信
頼性を向上させることのできる粒状物の品位判別方法及
びその装置の提供を技術的課題とする。
め、複数のサンプル粒状物に光を照射して反射光と透過
光の画像信号を受光し、該画像信号を画像処理して粒状
物の光学情報を得て、該光学情報によって形状情報を求
め、前記光学情報と形状情報とに基づいて完全粒、未完
粒を含む品位別に粒状物を判別して、少なくとも粒状物
品位別に粒数をカウントし該カウントに基づく粒数比を
求め、前記光学情報を加工してサンプル粒状物の画像を
作成し、前記求めた粒状物品位別粒数と粒数比及びサン
プル粒状物の画像とを同時に表示又は印字する粒状物品
位判別とした。
って品位判別して、同じ画像信号によってサンプル粒状
物のサンプル画像を作成して加え、これらを同時に印刷
・表示するようにしたので、品位判別結果として信頼性
が向上するだけでなく、品位判別結果に加えたサンプル
画像と、実際のサンプル粒状物とが同一であることを裏
付けるものとなる。
が既知の粒状物から光学情報及び形状情報とを得て、粒
状物品位を目的変数とし光学情報および形状情報を説明
変数として解析した粒状物品位を求めるための粒状物品
位関係式と、品位が未知の粒状物の光学情報及び形状情
報とから、品位が未知の粒状物の品位を判別するように
した。このように、透過光量と反射光量とにより得られ
た粒状物の品位に関する形状情報と光学情報と、予め定
めた粒状物品位関係式とによって品位判別するので、粒
状物品位判別関係式に導入する値を速く求めれば、それ
だけ速く品位が判別できる。画像処理技術の向上で画像
処理が高速化されてきたことから、品位判別の高速化が
可能となった。つまり粒状物品位判別関係式を決定して
おいて、画像処理することと品位判別することを区別し
て行うようにした。
ごとのサンプル画像を作成し、粒数比と予め定めた総粒
数に基づいて品位別の粒数を演算し、演算結果に基づい
てサンプル画像を配列して、サンプル粒状物の画像を作
成するようにした。したがって、撮影したサンプル粒状
物の粒数が、サンプル画像のために予め定めた総粒数よ
り多くても、総粒数と粒数比に基づいて演算された品位
別粒数に応じて、品位別の画像をサンプル粒状物の画像
からとりだしてサンプル画像を作成する。できあがった
サンプル画像は、品位判別したサンプル粒状物の品位別
粒数比と同じであり、粒数がサンプル粒状物の粒数と異
なっても、サンプル画像として信頼性は高いものとなっ
ている。
含み、光学情報のうち輝度によって粒状物の形状情報を
得るものであり、特に透過情報から得られる輝度の違い
は、粒状物の外形状と、粒状物の異色部分あるいは内質
に応じた内形状として検出することができ、様々な要素
を含んだ情報とすることができる。反射光による光学情
報は、粒状物の色彩を明確に把握することができる。こ
のような透過と反射による光学情報によって、外形、内
質、色彩に亘る判別が可能である。更に形状情報は、粒
状物の長さと幅及び面積を含むものであり、粒状物の形
状を特定するには必須の項目である。
により説明する。図1に示すものは粒状物品位判別装置
1の制御ブロック図である。粒状物品位判別装置1は、
粒状物から透過光に基づく複数のサンプル粒状物の画像
と、反射光に基づく複数のサンプル粒状物の画像とを取
得するための、粒状物を撮影する受光素子を具備したカ
メラ2からなる撮影手段と、該カメラ2が接続され、カ
メラ2によって撮影して得られる粒状物の信号を、粒状
物の品位に関連する光学情報に変換するなど画像処理を
行う画像処理手段3(例えば「PCIバスボード」)
と、該画像処理手段3により得られる光学情報に基づい
て粒状物品位を判別し、サンプル粒状物のサンプル画像
と品位に基づく粒数と粒数比とを同時に出力する演算制
御手段4(例えば「パーソナルコンピュータなど」)
と、該演算制御手段4から出力されたサンプル画像と粒
数及び粒数比とを印刷するプリンタ5と、これらを表示
するカラーディスプレイ6とからなっている。画像処理
手段3は市販の画像処理ボートであればよく、このボー
ドを使用して画像処理を進めるための画像処理アプリケ
ーションが演算制御手段4に備えられる。
センサー(512×440画素)を備えサンプル粒状物
の画像を撮影するカメラ2によって撮影した信号は画像
処理手段3に入力される。画像処理手段3には入力され
た信号(NTSC信号)をアナログ・デジタル変換する
A/D変換器3aと、変換されたデジタル信号を粒状物
の品位に関連する光学情報、例えばYUV(明るさ、色
差)信号やこのYUV信号を更にHSI(色相、色彩、
輝度)信号に変換する処理部3bと、所定の容量、例え
ば512×512を40面程度の記憶容量を備え、前記
処理部3bで処理された値を記憶する記憶部3cと、画
像を出力する出力ポート3dとを備えている。出力ポー
ト3dにはカラーモニタ7が接続され入力画像や画像処
理手段3によって処理された画像を可視表示する。この
処理部3bの信号処理動作は、後述する演算制御手段4
に記憶した画像処理アプリケーションによって制御され
る。
子)4aを中心にして、画像処理手段3の入出力ポート
であるPCIバス4b、プリンタ5に印刷データを出力
する出力ポート4c、関係式やプログラム等を記憶させ
た読み出し専用記憶素子(以下「ROM」という)4
d、画像処理アプリケーションや画像データ等を記憶す
る読み出し書き込み記憶素子(以下「RAM」という)
4e、外部からデータを入力するための入力ポート4f
がそれぞれ接続してある。入力ポート4fにはキーボー
ドなど入力手段8が接続される。ところで画像処理アプ
リケーションとしては「VisualC++」(Micros
oft社登録商標)などが利用でき、該アプリケーション
は使用に際してRAM4eに記憶される。したがってカ
メラ2によって撮影されたデータが信号処理手段3に入
力された後は、画像処理アプリケーションによって信号
処理手段3の処理部3bは動作して、信号形態をNTS
C信号からYUV信号に変換したり、更にYUV信号を
HSI信号に変換する。また、このように変換された信
号のどの部分を利用してデータ処理するといった手順に
ついては別にROM4dに記憶したプログラムによって
その処理は制御される。
説明する。図2及び図3で示すように、ステッピングモ
ータ20の回転軸21に軸支され透明ガラスからなる回
転円盤22を備え、円盤22円周の一方23に設置した
フィーダ装置24(以下「フィーダ」という)によって
サンプル粒状物25を円盤22上に供給し、円盤22を
モータ20によって回転させて円盤22円周の他方の撮
影ポイント26に粒状物を移動させる。またフィーダ2
4のトラフ28に関連してサンプル粒状物を貯留するホ
ッパー29を備える。撮影ポイント26には、円盤22
に垂直な撮影視線27を想定して視線27の上方側には
ドーナツ状の光源30とカメラ31及び光源30とカメ
ラ31との間にスリット32とを配設し、視線27の下
方側には同様の光源34とカメラ35及びスリット36
とを配設してある。カメラ31,35は、それぞれのス
リット32,36を介して撮影ポイント26上に供給さ
れた粒状物を撮影する。光源30,34も同様に撮影ポ
イント26の粒状物を照明する。更に光源34の側方に
は円盤22上の粒状物に対し斜めから照明する面光源3
8を備える。
26と光源30との間に、視線27を遮るように乳白色
板40と黒色板41の2種類を一体にした背景板42
と、撮影ポイント26と光源34との間に、視線27を
遮るように乳白色板43と黒色板44の2種類を一体に
した背景板45とを、入れ替え自在にしてある。つまり
図3の平面図で示すように、背景板42,45はステッ
ピングモータ46の1つの回転軸47によって軸支さ
れ、モータ46の回転によって背景板42(乳白色板4
0、黒色板41)、背景板45(乳白色板43、黒色板
44)、背景板なし48と回転自在に切り換えることが
できるよう配してある。更に図2及び図5で示すよう
に、光源34とスリット36との間に、視線27を遮る
ように黒色板からなる背景板49が入れ替え自在となる
よう、ステッピングモータ50の回転軸51に軸支され
回転自在にしてある。
ック図で表した制御装置60によって制御される。制御
装置60は、中央演算処理素子(CPU)61を中心に
して、入出力ポート62と読み出し記憶素子(ROM)
63読み出し書き込み記憶素子64が接続されている。
入出力ポート62には、モータ駆動部64とフィーダ2
4及び光源駆動部65と、更にカメラ31,35が接続
してある。モータ駆動部64には、モータ20,44,
49が接続され、予めROM63に記憶したプログラム
にそったCPU61の指令によって、それぞれのモータ
は回転駆動される。モータの回転駆動によって、モータ
20においてはサンプル粒状物25が撮影ポイント26
に供給され、モータ46においては背景板42,45が
適宜入れ替えられ、モータ50においては背景板49が
適宜入れ替えられる。また光源駆動部65には光源3
0,34,38が接続してあり、予めROM63に記憶
したプログラムにそったCPU61の指令によって、そ
れぞれの光源は点灯、消灯する。カメラは制御装置60
の指令によって撮影し、撮影して得た画像データは制御
装置60の指令によって画像処理手段3に送出する。
記憶してある。ホッパー29にサンプル粒状物を投入し
て測定を開始すると、フィーダ24が駆動(7−1)さ
れるとともにモータ20が駆動(7−2)され、フィー
ダ24から粒状物は1層状態になって円盤22に供給さ
れる。一定量供給したらフィーダ24を停止(7−3)
し、モータ20を所定量回転させ粒状物を撮影ポイント
26に到達させて停止(7−4)する。モータ46を所
定量回転させて乳白色板43を視点27位置に配置し、
下部光源34を点灯させて、上部カメラ31で粒状物の
上部からその透過光を撮影(7−5)して画像データを
送出する。このとき得られる画像データには、例えば4
50粒程度の粒状物の画像が存在する。次にモータ46
を所定量回転させて黒色板44を視点27位置に配置
し、光源を上部光源30に切り換えて点灯し、上部カメ
ラ31で穀粒の反射光を撮影(7−6)して画像データ
を送出する。同様にモータ46を所定量回転させて乳白
色板40を視点27位置に配置し、光源を上部光源30
に切り換えて点灯させて、下部カメラ35で粒状物の下
部からその透過光を撮影(7−7)し、画像データを送
出する。またモータ46を所定量回転させて黒色板41
を視点27位置に配置し、光源を下部光源34に切り換
えて点灯させて、下部カメラ35で粒状物の下部からそ
の反射光を撮影(7−8)し画像データを送出する。最
後にモータ46を所定量回転させて背景板なし48を視
点27位置に配置し、モータ50を所定量回転させて黒
色板49を視点位置に配置し、光源を面光源38に切り
換えて点灯させて、カメラ31で粒状物の上部から斜光
による透過光を撮影(7−9)して画像データを送出す
る。撮影した画像データは画像処理手段3に送出され
る。以上の5画面の撮影が終了すると、モータ20を所
定量回転させて撮影が終了した粒状物は排出手段(図示
せず)で排出(7−10)され終了する。なお撮影手段
2の制御装置60と演算制御手段4とは電気的に連絡し
ておくことが好ましく、演算制御手段4の画像データ要
求信号に応じて前述の動作を繰り返し実行するようプロ
グラムすることにより自動化できる。
算制御手段4のROM4dに記憶したプログラムに沿っ
て、接続された画像処理手段3で画像処理される。以下
において、乳白色の背景板40,43としたときの上部
カメラ31と下部カメラ35から得られる透過光は、共
に同様の画像処理が行われるので一方の説明のみとす
る。同様に黒色の背景板41,44としたときの上部カ
メラ31と下部カメラ35から得られる反射光は、共に
同様の画像処理が行われるので一方の説明のみとする。
まず、乳白色の背景板40,43としたときの上部カメ
ラ31と下部カメラ35から得られる透過光の画像デー
タの画像処理について、図8乃至図11により説明す
る。
8で説明する。信号の演算制御手段4は、カメラ2によ
り撮影されたサンプル粒状物の透過画像データ(NTS
C信号)を取り込み(8−1)、画像データ(NTS
C)を画像処理手段3でYUV信号に変換(8−2)し
て記憶部3cに記憶するよう指令する。更に演算制御手
段4は、記憶部3cのYUV信号のうち輝度信号を用い
て、画素ごとに所定のしきい値を基準として画像処理手
段3で2値化処理(8−3)を指令する。2値化処理す
ると粒状物の輪郭を図9のように掴むことができる。し
たがって粒状物の輪郭を抽出(8−4)する処理を指令
する。粒状物の外形状が得られると、外形状内の画素数
から面積が得られ、画像処理にて図形の長軸と短軸とを
決定して幅と長さを特定することができ、これを後段で
行う。ここでは1つの粒状物のみを示したが、通常、画
像データは複数個の粒状物データを取り込んでいるの
で、粒状物1個ごとに識別する記号を付すラベリング
(8−5)を行う。更にYUV信号のうち輝度信号を用
いて、輝度信号からエッジ画像を抽出(8−6)するよ
う指令する。エッジ画像は輝度信号を微分処理して得ら
れる画像であり、輝度の勾配があるところを信号として
取り出すように処理するものである。例えば図10のよ
うに粒状物の一部に着色がある場合、あるいは内質に不
透明な部分がある場合のように粒状物の輪郭部分や、他
と色彩の異なる境界部分などは輝度の勾配が存在するの
で、これらをエッジ処理すると、図11のような画像に
して取り出すことができる。
物の輪郭からは、粒状物1つごとに面積と円形度、長
さ、幅を演算(8−7)するよう指令する。エッジ画像
からは、画素ごとの輝度について、粒状物1つごとにエ
ッジ画像の信号のヒストグラムを作成(8−8)するよ
う指令する。さらに輝度信号そのものからは、粒状物1
つごとに輝度信号のヒストグラムを作成(8−9)する
よう指令する。ここでは粒状物の輪郭を形状情報とし
て、またYUV信号と輝度信号とエッジ画像のヒストグ
ラム及び輝度信号のヒストグラムを光学情報とする。以
上の特徴項は演算制御手段4のRAM4eに粒状物のラ
ベルごとに記憶(8−10)する。以上、透過光による
画像データからは、乳白色の背景板を透過した拡散光
が、粒状物の形状と粒状物内質に関係する光として検出
され、サンプル粒状物の個々の形状と透過光量を検出す
ることによって、粒状物の形状に関係する特徴と透過光
量の特徴を取得することができる。なお、ここで処理す
る輝度信号はモノクロ信号で可能である。
により説明する。演算制御手段4は、カメラ2により撮
影された反射画像データ(NTSC信号)を取りんで
(12−1)、画像データ(NTSC)を画像処理手段
3でYUV信号に変換(12−2)して記憶部3cに記
憶するよう指令する。更に演算制御手段4は、記憶部3
cのYUV信号をHSI信号に変換(12−3)して記
憶するよう指令する。更にSI(色彩、輝度)信号から
エッジ画像を抽出(12−4)するよう指令する。エッ
ジ画像の内容については前述のとおりである。次に粒状
物の特徴を抽出するために、HSI信号からは1つの粒
状物ごとにHSI信号のヒストグラムを作成(12−
5)するよう指令する。またSI信号のエッジ画像から
は1つの粒状物ごとにエッジ画像のヒストグラムを作成
(12−6)するよう指令する。ここでは粒状物のYU
V信号とHSI信号とHSI信号のヒストグラム及びエ
ッジ画像のヒストグラムを光学情報とする。以上の特徴
項は演算制御手段4のRAM4eに記憶される。このと
き粒状物1つごとのラベルは透過画像処理のときに付し
たラベルを対応させて流用するとよい。また透過画像処
理とは別に反射画像処理のラベルを付して、同じ粒状物
のデータとなるように対応させて記憶してもよい。以
上、反射光による画像データ、つまり黒色板を背景とし
て粒状物から得られる反射光からは、粒状物の色彩に関
係する光として検出され、サンプル粒状物個々の反射光
を検出することによって、粒状物の色彩に関する特徴を
取得することができる。なお、ここでの信号はカラー信
号である。
13乃至図15により説明する。演算制御手段4は、カ
メラ2により撮影された反射画像データ(NTSC信
号)を画像処理手段3に取りんで(13−1)、画像デ
ータ(NTSC)を画像処理手段3でYUV信号に変換
(13−2)して記憶部3cに記憶するよう指令する。
更に演算制御手段4は、記憶部3cのYUV信号のうち
輝度信号からエッジ画像を抽出(13−3)する。これ
は図14で示すように内部に亀裂が生じている粒状物に
亀裂面に対してほぼ直角に斜光を照射すると、亀裂面を
境にして光の照射側が明るく他方が暗く見えるので、輝
度に関する微分処理であるエッジ画像を抽出すると、図
15のように、亀裂部分が粒状物を横断(あるいは縦
断)する線として抽出できる。次に粒状物の特徴を抽出
するために、演算制御手段4は、エッジ画像をハフ変換
(13−4)して亀裂に伴う線を特定するよう指令す
る。以上の特徴項は演算制御手段4のRAM4eに記憶
される。ここでは粒状物のYUV信号とエッジ画像及び
バフ変換した値とを光学情報とする。このとき粒状物1
つごとのラベルは透過画像処理のときに付したラベルを
対応させて流用するとよい。
データにおいてはリファレンスとする基準板による基準
光データの取得を省いたが、基準板の明るさや画像を基
準データとして先に取り込んでおくことにより、各画像
データを補正すること、より詳しくは、背景となる背景
板の輝度や色彩を平均化することもできる。
式が記憶してある。この粒状物品位関係式は次のように
して求めてある。つまり、予め粒状物品位を特定した、
品位が既知の粒状物から、前述した透過画像による粒状
物の面積と円形度、長さ、幅、粒状物のエッジ画像の信
号のヒストグラム、粒状物の輝度信号のヒストグラム
と、反射画像による粒状物のHSI信号のヒストグラ
ム、粒状物のエッジ画像のヒストグラムと、斜光画像に
よる粒状物のエッジ画像をハフ変換した信号とを得て、
これらの情報を説明変数とし、粒状物の品位である完全
粒や未完粒、穀粒では整粒、未熟粒、死米などを目的変
数として、重回帰分析などの線形解析やニューラルネッ
トワークなどの非線形解析によって、品位が未知の粒状
物品位を求めるための粒状物品位関係式を作るものであ
る。したがって品位が未知の粒状物の、前記透過光画像
や反射光画像あるいは斜光画像によって与えられた情報
と、前記粒状物品位関係式とによって、品位が未知の粒
状物の品位を特定することができる。なお、前記した各
情報は一例であり、全ての情報を利用することが必要条
件ではない。また線形解析や非線形解析については、公
知の解析法が利用できる。
ラム全体について図16において更に説明する。カメラ
2からサンプル粒状物の画像データを得て(16−
1)、処理可能な画像データに変換(16−2)して記
憶部3cに記憶する。ここで得た画像データは演算制御
手段4と画像処理手段3とによって前述のとおり粒状物
ごとに画像処理(16−3)され、例えば450粒分
の、画像処理された形状情報と光学情報を得る。形状情
報及び光学情報と、粒状物品位関係式とによって、粒状
物のラベルごとに品位を演算特定(16−4)し、品位
ごとの粒数を演算(16−5)する。更に品位ごとに粒
数比を演算(16−6)する。反射画像データの処理で
得た記憶部3cの例えばYUV信号による画像を区切っ
て一粒ごとの画像データを得て、記憶部3cに記憶する
よう画像処理手段に指令(16−7)する。ここでの画
像処理は、まず透過光画像データによって前述のように
粒状物の一粒ごとの外形状を判別し、この外形状に基づ
いて同じラベルの反射光画像データを一粒毎に分割し
て、最終的に並べ替えるとよい。サンプル画像は、反射
光画像データを利用して作成すると、色彩が明確であり
視覚的によい。演算制御手段4では、求めた品位ごとの
粒数と粒数比、及び一粒毎の画像データ450粒分のサ
ンプル画像を同時に、所定のフォーマットにして出力ポ
ート4cからカラープリンター5あるいはカラーディス
プレイ6に出力(16−8)する。このときの印刷の一
例を穀粒の品位判別を例として図17に示す。このよう
に本発明では、品位と品位別粒数及び粒数比に加えて、
画像として取得したサンプル粒状物のサンプル画像を付
加して提供することができる。サンプル粒状物の品位判
別のために取得したサンプル粒状物そのものの撮影デー
タによって品位判別し、加えてサンプル画像も作成する
ことができる。
前述のとおりでよいが、カラープリンター5の印刷紙面
の大きさあるいはディスプレイ6の解像度の関係から1
00粒程度しか印刷、表示できないときには図18で示
すように処理される。つまり、図16の(16−7)に
代えて、品位ごとの粒数比と印字・表示可能な粒数10
0粒とから品位ごとの粒数を算出(18−7)する。品
位毎の粒数に応じて、記憶部3cから該当の画像データ
を任意に選択(18−8)する。求めた品位ごとの粒数
と粒数比、及び選択した画像データ100粒分を同時
に、所定のフォーマットにして出力ポート4cからカラ
ープリンター5あるいはカラーディスプレイ6に出力
(18−9)する。このときの印刷の一例を穀粒の品位
判別を例として図19に示す。
6−7)に代えて、品位ごとの粒数比と印字・表示可能
な粒数100粒とから品位ごとの粒数を算出(20−
7)する。記憶部3cの画像データから品位を代表する
画像を品位ごとに1つずつ選択(20−8)する。品位
ごとの粒数と粒数比、及び選択した品位ごとの画像を先
に算出した粒数分複写して得た品位別粒数分の画像デー
タとを同時に、所定のフォーマットにして出力ポート4
cからカラープリンター5あるいはカラーディスプレイ
6に出力(20−9)する。
比、さらにはサンプル粒状物のサンプル画像を同時に印
刷表示するに際して、品位判別のため取得した撮影デー
タを利用して品位判別とサンプル画像の作成を行うこと
ができ、第1に品位判別のためのデータと第2にサンプ
ル画像作成のためのデータを共通にできて、第1と第2
の画像取得にあたっては、同一の手段でよく最小限の装
置構成で実現できる。
たサンプル粒状物そのものの撮影データによって品位判
別し、加えてサンプル画像も作成するようにしたので、
品位判別の結果とそのサンプル画像を同一紙面に表示で
きるだけでなく、装置において一連の決められた手順で
処理されるので、品位判別のもとになったサンプル粒状
物と、品位判別と同時に表示されるサンプル画像の粒状
物との同一性は信頼できるものである。
取得した透過光量と反射光量と、線形解析あるいは非線
形解析により定めた品位判別関係式とによって、サンプ
ル粒状物の品位判別を行うと、一粒ごとの画像データを
処理するときの処理速度は画像処理アプリケーションと
画像処理ボードの処理速度に委ねられ、画像処理は処理
速度の高速化に伴って向上しており、これを利用した品
位判別関係式との演算も高速に処理されることから、予
め品位判別関係式を決定しておくことにより、これらの
処理は高速化される。
ータと品位判別のデータを共通にして、サンプル画像の
信頼性を向上させることができるだけでなく、品位判別
結果とサンプル粒状物のサンプル画像を同時に印刷・表
示できるので、データの信頼性を裏付けるためのサンプ
ル粒状物の保管は不要であり、粒状物の品位判別に際し
て、そのための保管庫は不要となる。
ある。
る。
像の一例を示す図である。
示す図である。
の一例を示す図である。
ある。
る。
す図である。
の一例を示す図である。
る。
る。
ャートである。
判別の測定結果の一例である。
ャートである。
Claims (12)
- 【請求項1】複数のサンプル粒状物に光を照射して反射
光と透過光の画像信号を受光し、 該画像信号を画像処理して粒状物の光学情報を得て、 該光学情報によって形状情報を求め、 前記光学情報と形状情報とに基づいて完全粒、未完粒を
含む粒状物品位別に粒状物を判別して、 少なくとも粒状物品位別に粒数をカウントし該カウント
に基づく粒数比を求め、 前記光学情報を加工してサンプル粒状物の画像を作成
し、 前記求めた粒状物品位別粒数と粒数比及びサンプル粒状
物の画像とを同時に表示又は印字することを特徴とする
粒状物品位判別方法。 - 【請求項2】粒状物品位が既知の粒状物から光学情報及
び形状情報とを得て、粒状物品位を目的変数とし光学情
報および形状情報を説明変数として解析した粒状物品位
を求めるための粒状物品位関係式と、品位が未知の粒状
物の光学情報及び形状情報とから、品位が未知の粒状物
の品位を判別することを特徴とする請求項1記載の粒状
物品位判別方法。 - 【請求項3】光学情報から粒状物品位別に1粒ごとのサ
ンプル画像を作成し、粒数比と予め定めた総粒数に基づ
いて品位別の粒数を演算し、演算結果に基づいてサンプ
ル画像を配列して、サンプル粒状物の画像を作成するこ
とを特徴とする請求項1または2記載の粒状物品位判別
方法。 - 【請求項4】光学情報は、粒状物の色相と色彩と輝度を
含むことを特徴とする請求項1または2記載の粒状物品
位判別方法。 - 【請求項5】光学情報のうち輝度によって粒状物の形状
情報を得ることを特徴とする請求項4記載の粒状物品位
判別方法。 - 【請求項6】形状情報は、粒状物の長さと幅及び面積を
含むことを特徴とする請求項1または2記載の粒状物品
位判別方法。 - 【請求項7】透過光に基づく複数のサンプル粒状物の画
像と、反射光に基づく複数のサンプル粒状物の画像とを
取得する撮影手段と該撮像手段が接続され、撮像手段に
より得られる信号を、粒状物の品位に関連する光学情報
に変換する画像処理手段と、 光学情報に基づいて粒状物品位を判別する判別処理と、
粒状物品位別粒数と粒数比を演算する演算処理と、粒状
物品位別粒数と粒数比及び粒状物の画像を合成して出力
する画像生成処理と、を備える演算制御手段と、 該演算制御手段によって出力された、粒状物品位粒数と
粒数比及び画像とを表示又は印字する表示手段と、 を備えることを特徴とする粒状物品位判別装置。 - 【請求項8】粒状物品位が既知の粒状物から光学情報と
該光学情報から形状情報とを得て、粒状物品位を目的変
数とし光学情報および形状情報を説明変数として解析し
た、判別処理のための粒状物品位関係式を記憶した記憶
部を演算制御手段に備えることを特徴とする請求項7記
載の粒状物品位判別装置。 - 【請求項9】画像生成処理は、画像処理手段によって光
学情報から粒状物品位別に1粒ごとのサンプル画像を作
成し、粒数比と予め定めた総粒数に基づいて品位別の粒
数を演算し、該演算結果に基づいてサンプル画像を配列
して、サンプル粒状物の画像を作成することを特徴とす
る請求項7または8記載の粒状物品位判別装置。 - 【請求項10】光学情報は、粒状物の色相と色彩と輝度
を含むことを特徴とする請求項7または8記載の粒状物
品位判別装置。 - 【請求項11】光学情報のうち輝度によって粒状物の形
状情報を得ることを特徴とする請求項10記載の粒状物
品位判別装置。 - 【請求項12】形状情報は、粒状物の長さと幅及び面積
を含むことを特徴とする請求項7または8記載の粒状物
品位判別装置。
Priority Applications (11)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11540599A JP2000304702A (ja) | 1999-04-22 | 1999-04-22 | 粒状物品位判別方法およびその装置 |
| KR1020000020004A KR20000077034A (ko) | 1999-04-22 | 2000-04-17 | 입상물의 품질을 평가하기 위한 장치 및 방법 |
| CA002306060A CA2306060A1 (en) | 1999-04-22 | 2000-04-18 | Apparatus and method for evaluating quality of granular object |
| DK00303384T DK1046902T3 (da) | 1999-04-22 | 2000-04-20 | Apparat og fremgangsmåde til evaluering af kvaliteten af granulære objekter |
| AT00303384T ATE284029T1 (de) | 1999-04-22 | 2000-04-20 | Vorrichtung und verfahren zur auswertung der qualität von körnigen objekten |
| DE60016304T DE60016304D1 (de) | 1999-04-22 | 2000-04-20 | Vorrichtung und Verfahren zur Auswertung der Qualität von körnigen Objekten |
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| US09/556,947 US6427128B1 (en) | 1999-04-22 | 2000-04-21 | Apparatus and method for evaluating quality of granular object |
| CNB001070177A CN1296701C (zh) | 1999-04-22 | 2000-04-24 | 评估颗粒状物体质量的装置和方法 |
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|---|---|---|---|
| JP11540599A JP2000304702A (ja) | 1999-04-22 | 1999-04-22 | 粒状物品位判別方法およびその装置 |
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|---|---|
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ID=14661767
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| Country | Link |
|---|---|
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Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005506546A (ja) * | 2001-10-24 | 2005-03-03 | ペー.アー.エル.エム.マイクロレーザー テヒノロギース アーゲー | レーザ顕微解剖システム |
| JP2008502916A (ja) * | 2004-06-09 | 2008-01-31 | コグネックス・テクノロジー・アンド・インベストメント・コーポレーション | マシンビジョン検出器の設定および試験の方法と装置 |
| JP2010540957A (ja) * | 2007-10-01 | 2010-12-24 | 大韓民国農村振興庁 | 白米及び玄米の外観品位測定装置並びに方法 |
| WO2011125927A1 (ja) * | 2010-04-01 | 2011-10-13 | 新日本製鐵株式会社 | 粒子測定装置および粒子測定方法 |
| CN113706527A (zh) * | 2021-10-27 | 2021-11-26 | 南通宝田包装科技有限公司 | 一种化妆品包装的质量检测方法及系统 |
| CN119044165A (zh) * | 2024-10-30 | 2024-11-29 | 河北凯阔食品集团股份有限公司 | 用于亚麻籽油生产的亚麻籽原材料品质检测系统及方法 |
-
1999
- 1999-04-22 JP JP11540599A patent/JP2000304702A/ja active Pending
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005506546A (ja) * | 2001-10-24 | 2005-03-03 | ペー.アー.エル.エム.マイクロレーザー テヒノロギース アーゲー | レーザ顕微解剖システム |
| JP2008502916A (ja) * | 2004-06-09 | 2008-01-31 | コグネックス・テクノロジー・アンド・インベストメント・コーポレーション | マシンビジョン検出器の設定および試験の方法と装置 |
| JP2010540957A (ja) * | 2007-10-01 | 2010-12-24 | 大韓民国農村振興庁 | 白米及び玄米の外観品位測定装置並びに方法 |
| WO2011125927A1 (ja) * | 2010-04-01 | 2011-10-13 | 新日本製鐵株式会社 | 粒子測定装置および粒子測定方法 |
| JP5114690B2 (ja) * | 2010-04-01 | 2013-01-09 | 新日鐵住金株式会社 | 粒子測定装置および粒子測定方法 |
| KR101340765B1 (ko) | 2010-04-01 | 2013-12-11 | 신닛테츠스미킨 카부시키카이샤 | 입자 측정 장치 및 입자 측정 방법 |
| US9372072B2 (en) | 2010-04-01 | 2016-06-21 | Nippon Steel & Sumitomo Metal Corporation | Particle measuring device and particle measuring method |
| CN113706527A (zh) * | 2021-10-27 | 2021-11-26 | 南通宝田包装科技有限公司 | 一种化妆品包装的质量检测方法及系统 |
| CN113706527B (zh) * | 2021-10-27 | 2021-12-21 | 南通宝田包装科技有限公司 | 一种化妆品包装的质量检测方法及系统 |
| CN119044165A (zh) * | 2024-10-30 | 2024-11-29 | 河北凯阔食品集团股份有限公司 | 用于亚麻籽油生产的亚麻籽原材料品质检测系统及方法 |
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