JP2000314624A - スリップフォーム工法における測量システムおよび該測量システムを用いたスリップフォーム工法 - Google Patents
スリップフォーム工法における測量システムおよび該測量システムを用いたスリップフォーム工法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】スリップフォーム型枠の複数の位置を１人で同
時に自動計測可能にするとともに、型枠の修正作業を容
易に行うことにより施工精度の向上を図る。 【解決手段】構築すべき塔状構造物１にスリップフォー
ム型枠２を壁面に沿って配置し、スリップフォーム型枠
をスライドアップさせながら型枠内にコンクリートを打
設するスリップフォーム工法において、塔状構造物１内
の基盤３上に設置される複数のレーザ発光手段４と、こ
れら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリップフォ
ーム型枠２に設置される複数の受光手段５と、各受光手
段の検知信号により各測定点の位置座標を算出する位置
座標算出手段６ａと、算出された位置座標とレーザ発光
手段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算する
変位量演算手段７ａと、演算された変位量を表示する変
位量表示手段７ｂとを備えた構成。
時に自動計測可能にするとともに、型枠の修正作業を容
易に行うことにより施工精度の向上を図る。 【解決手段】構築すべき塔状構造物１にスリップフォー
ム型枠２を壁面に沿って配置し、スリップフォーム型枠
をスライドアップさせながら型枠内にコンクリートを打
設するスリップフォーム工法において、塔状構造物１内
の基盤３上に設置される複数のレーザ発光手段４と、こ
れら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリップフォ
ーム型枠２に設置される複数の受光手段５と、各受光手
段の検知信号により各測定点の位置座標を算出する位置
座標算出手段６ａと、算出された位置座標とレーザ発光
手段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算する
変位量演算手段７ａと、演算された変位量を表示する変
位量表示手段７ｂとを備えた構成。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、煙突、サイロ、ビ
ルなどの塔状構造物を構築するためのスリップフォーム
工法の技術分野に属する。
ルなどの塔状構造物を構築するためのスリップフォーム
工法の技術分野に属する。
【０００２】
【従来の技術】スリップフォーム工法は、分割された門
型構造からなるスリップフォーム型枠を、構築しようと
する躯体壁面に沿って配置するとともに、スリップフォ
ーム型枠を躯体に埋設したロッドで支持させ、油圧ジャ
ッキでロッドを支柱として徐々にスライドアップさせな
がらスリップフォーム型枠内にコンクリートを打設し、
塔状鉄筋コンクリート構造物を構築する工法である。
型構造からなるスリップフォーム型枠を、構築しようと
する躯体壁面に沿って配置するとともに、スリップフォ
ーム型枠を躯体に埋設したロッドで支持させ、油圧ジャ
ッキでロッドを支柱として徐々にスライドアップさせな
がらスリップフォーム型枠内にコンクリートを打設し、
塔状鉄筋コンクリート構造物を構築する工法である。
【０００３】この塔状構造物の施工管理においては、筒
体の高さ、中心位置（倒れ）、筒体回転量、半径、壁圧
の５項目を迅速に測定する必要がある。この測定を行う
場合に、本出願人が特開平４−６９５１５号公報により
提案した鉛直度測定システムを採用することが考えられ
る。この測定システムは、地上面の既知座標に固定され
る回転台と、該回転台に配設されレーザを鉛直方向に投
光する発光部と、被測定物の頭部に固定される受光部
と、コントローラとを備え、地上面の既知座標を測定フ
ロア上に移動させ、測定フロア上の被測定物の位置を測
定するシステムである。
体の高さ、中心位置（倒れ）、筒体回転量、半径、壁圧
の５項目を迅速に測定する必要がある。この測定を行う
場合に、本出願人が特開平４−６９５１５号公報により
提案した鉛直度測定システムを採用することが考えられ
る。この測定システムは、地上面の既知座標に固定され
る回転台と、該回転台に配設されレーザを鉛直方向に投
光する発光部と、被測定物の頭部に固定される受光部
と、コントローラとを備え、地上面の既知座標を測定フ
ロア上に移動させ、測定フロア上の被測定物の位置を測
定するシステムである。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ところで、スリップフ
ォーム型枠を用いる塔状構造物の施工管理においては、
スリップフォーム型枠のスライドアップ毎に型枠の変形
状況を迅速に確認し、塔状構造物構築時のサイクルタイ
ムを乱すことなく、型枠の修正作業に迅速にフィードバ
ックさせる必要がある。しかしながら、上記従来の測定
システムをスリップフォーム工法に適用する場合には、
レーザ発光部、受光部およびコントローラを複数組（２
〜４組）設ける必要があり、これら複数の位置を同時計
測するためには、複数の人間が同時に計測開始ボタンを
押さなければならず、また、複数位置の測定データの整
理作業に時間がかかるという問題を有している。
ォーム型枠を用いる塔状構造物の施工管理においては、
スリップフォーム型枠のスライドアップ毎に型枠の変形
状況を迅速に確認し、塔状構造物構築時のサイクルタイ
ムを乱すことなく、型枠の修正作業に迅速にフィードバ
ックさせる必要がある。しかしながら、上記従来の測定
システムをスリップフォーム工法に適用する場合には、
レーザ発光部、受光部およびコントローラを複数組（２
〜４組）設ける必要があり、これら複数の位置を同時計
測するためには、複数の人間が同時に計測開始ボタンを
押さなければならず、また、複数位置の測定データの整
理作業に時間がかかるという問題を有している。
【０００５】本発明は、上記従来の問題および課題を解
決するものであって、スリップフォーム型枠の複数の位
置を１人で同時に自動計測可能にするとともに、型枠の
修正作業を容易に行うことができるような情報を提供し
施工精度の向上を図ることができるスリップフォーム工
法における測量システムおよび該測量システムを用いた
スリップフォーム工法を提供することを目的とする。
決するものであって、スリップフォーム型枠の複数の位
置を１人で同時に自動計測可能にするとともに、型枠の
修正作業を容易に行うことができるような情報を提供し
施工精度の向上を図ることができるスリップフォーム工
法における測量システムおよび該測量システムを用いた
スリップフォーム工法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の測量システムは、構築すべき塔状構造物に
スリップフォーム型枠を壁面に沿って配置し、スリップ
フォーム型枠をスライドアップさせながら型枠内にコン
クリートを打設するスリップフォーム工法において、塔
状構造物内の基盤上に設置される複数のレーザ発光手段
と、これら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリッ
プフォーム型枠に設置される複数の受光手段と、各受光
手段の検知信号により各測定点の位置座標を算出する位
置座標算出する手段と、算出された位置座標とレーザ発
光手段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算す
る変位量演算手段と、演算された変位量を表示する変位
量表示手段とを備えたことを特徴とし、また、本発明の
スリップフォーム工法は、構築すべき塔状構造物にスリ
ップフォーム型枠を壁面に沿って配置し、スリップフォ
ーム型枠をスライドアップさせながら型枠内にコンクリ
ートを打設するスリップフォーム工法において、塔状構
造物内の基盤上に設置される複数のレーザ発光手段と、
これら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリップフ
ォーム型枠に設置される複数の受光手段と、各受光手段
の検知信号により各測定点の位置座標を算出する位置座
標算出する手段と、算出された位置座標とレーザ発光手
段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算する変
位量演算手段と、演算された変位量を表示する変位量表
示手段とを備えた測量システムを用い、変位量が所定値
を越えた場合に、スリップフォーム型枠の修正作業を行
うことを特徴とする。
に、本発明の測量システムは、構築すべき塔状構造物に
スリップフォーム型枠を壁面に沿って配置し、スリップ
フォーム型枠をスライドアップさせながら型枠内にコン
クリートを打設するスリップフォーム工法において、塔
状構造物内の基盤上に設置される複数のレーザ発光手段
と、これら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリッ
プフォーム型枠に設置される複数の受光手段と、各受光
手段の検知信号により各測定点の位置座標を算出する位
置座標算出する手段と、算出された位置座標とレーザ発
光手段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算す
る変位量演算手段と、演算された変位量を表示する変位
量表示手段とを備えたことを特徴とし、また、本発明の
スリップフォーム工法は、構築すべき塔状構造物にスリ
ップフォーム型枠を壁面に沿って配置し、スリップフォ
ーム型枠をスライドアップさせながら型枠内にコンクリ
ートを打設するスリップフォーム工法において、塔状構
造物内の基盤上に設置される複数のレーザ発光手段と、
これら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリップフ
ォーム型枠に設置される複数の受光手段と、各受光手段
の検知信号により各測定点の位置座標を算出する位置座
標算出する手段と、算出された位置座標とレーザ発光手
段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算する変
位量演算手段と、演算された変位量を表示する変位量表
示手段とを備えた測量システムを用い、変位量が所定値
を越えた場合に、スリップフォーム型枠の修正作業を行
うことを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しつつ説明する。図１は、本発明のスリップフォ
ーム工法における測量システムの１実施形態を示す構成
図である。
を参照しつつ説明する。図１は、本発明のスリップフォ
ーム工法における測量システムの１実施形態を示す構成
図である。
【０００８】塔状構造物１の上部には、壁面に沿ってス
リップフォーム型枠２（便宜上円周で示す）が設置され
ている。塔状構造物１内の基盤３上には、４つのレーザ
発光手段４が設置される。設置条件は、対向するレーザ
発光手段４を結ぶ直線の中点が塔状構造物１の中心にな
るように設置することである。
リップフォーム型枠２（便宜上円周で示す）が設置され
ている。塔状構造物１内の基盤３上には、４つのレーザ
発光手段４が設置される。設置条件は、対向するレーザ
発光手段４を結ぶ直線の中点が塔状構造物１の中心にな
るように設置することである。
【０００９】一方、スリップフォーム型枠２には、４つ
のレーザ発光手段４の鉛直線方向に対向するように受光
手段５が取り付けられている。各受光手段５で得られた
検知信号は、コントローラ６の位置検出手段６ａに送ら
れ、ここで、各測定点の位置座標が算出される。算出さ
れた位置座標は、パソコン７の変位量演算手段７ａにお
いてレーザ発光手段４の既知座標と比較され、各測定点
の変位量が演算され、演算された変位量の値は、ＣＲＴ
画面やプリンタ等からなる変位量表示手段７ｂに出力さ
れる。そして、この変位量に基づいて、変位量修正手段
８においてスリップフォーム型枠の修正が行われる。修
正方法は、ロッドや油圧ジャッキ、ヨークの傾き調整
等、周知の方法を採用する。
のレーザ発光手段４の鉛直線方向に対向するように受光
手段５が取り付けられている。各受光手段５で得られた
検知信号は、コントローラ６の位置検出手段６ａに送ら
れ、ここで、各測定点の位置座標が算出される。算出さ
れた位置座標は、パソコン７の変位量演算手段７ａにお
いてレーザ発光手段４の既知座標と比較され、各測定点
の変位量が演算され、演算された変位量の値は、ＣＲＴ
画面やプリンタ等からなる変位量表示手段７ｂに出力さ
れる。そして、この変位量に基づいて、変位量修正手段
８においてスリップフォーム型枠の修正が行われる。修
正方法は、ロッドや油圧ジャッキ、ヨークの傾き調整
等、周知の方法を採用する。
【００１０】なお、塔状構造物１の内部には測量架台９
が構築され、測量架台９上にトータルステーション（光
波測距儀による３次元測量装置）１０およびパソコン１
０’が設置されている。トータルステーション１０およ
びパソコン１０’は、スリップフォーム型枠２の複数箇
所に設置されたミラー１１を視準して精密測量を行うた
めのシステムである。
が構築され、測量架台９上にトータルステーション（光
波測距儀による３次元測量装置）１０およびパソコン１
０’が設置されている。トータルステーション１０およ
びパソコン１０’は、スリップフォーム型枠２の複数箇
所に設置されたミラー１１を視準して精密測量を行うた
めのシステムである。
【００１１】図２は、図１で説明したレーザ発光手段４
と受光手段５を説明するための断面図である。スリップ
フォーム型枠２は、門型構造からなるヨーク２ａと、ヨ
ーク２ａに形成された内側作業床２ｂ、外側作業床２
ｃ、上部作業床２ｄおよび型枠２ｅ、２ｆを備え、ヨー
ク２ａは、塔状構造物１に埋設したロッド１２で支持さ
れ、油圧ジャッキ１３でロッド１２を支柱として徐々に
スライドアップさせながら型枠２ｅ、２ｆ内にコンクリ
ートを打設していく。内側作業床２ｂの下面には受光手
段５が取り付けられ、内側作業床２ｂ上にはコントロー
ラ６およびパソコン７が設置され、また、ミラー（又は
プリズム）１１が図示矢印に示すように傾斜可能に設け
られている。
と受光手段５を説明するための断面図である。スリップ
フォーム型枠２は、門型構造からなるヨーク２ａと、ヨ
ーク２ａに形成された内側作業床２ｂ、外側作業床２
ｃ、上部作業床２ｄおよび型枠２ｅ、２ｆを備え、ヨー
ク２ａは、塔状構造物１に埋設したロッド１２で支持さ
れ、油圧ジャッキ１３でロッド１２を支柱として徐々に
スライドアップさせながら型枠２ｅ、２ｆ内にコンクリ
ートを打設していく。内側作業床２ｂの下面には受光手
段５が取り付けられ、内側作業床２ｂ上にはコントロー
ラ６およびパソコン７が設置され、また、ミラー（又は
プリズム）１１が図示矢印に示すように傾斜可能に設け
られている。
【００１２】レーザ発光手段４は、ベース台４ａ、回転
台４ｂ、不可視光レーザ発振器４ｃとから構成される。
ベース台４ａは予め墨出しされた位置に回転台４ｂを固
定するための治具であり、回転台４ｂは、レーザ発振器
４ｃの下部に取り付けたセンサにより、予め設定された
回転数で一方向に回転する構造になっている。回転台４
ｂは、鉛直方向の測定精度を補正するものであり、ベー
ス台４ａの位置ずれによりレーザ発振器４ｃからの発光
位置がずれていても、また、レーザ光が長い距離の間に
真の鉛直線からずれることもあり、この場合、回転台４
ｂを１回転、または２回転以上回転させることにより鉛
直方向の真の位置を決定するためのものである。
台４ｂ、不可視光レーザ発振器４ｃとから構成される。
ベース台４ａは予め墨出しされた位置に回転台４ｂを固
定するための治具であり、回転台４ｂは、レーザ発振器
４ｃの下部に取り付けたセンサにより、予め設定された
回転数で一方向に回転する構造になっている。回転台４
ｂは、鉛直方向の測定精度を補正するものであり、ベー
ス台４ａの位置ずれによりレーザ発振器４ｃからの発光
位置がずれていても、また、レーザ光が長い距離の間に
真の鉛直線からずれることもあり、この場合、回転台４
ｂを１回転、または２回転以上回転させることにより鉛
直方向の真の位置を決定するためのものである。
【００１３】レーザ発光手段４により回転しながら発振
されたレーザは上部の受光手段５で総計２５６回（もし
くは１２６回）測定され、平均値を算出しレーザ発振位
置を測定する。受光手段５は、可視光遮断フィルタを有
し、Ｘ、Ｙ方向の位置検出用のフォトダイオードマトリ
ックスにて構成され、所定の時間、レーザ光の軌跡をサ
ーチすることにより、揺れ幅、レーザ光の輝度、測定領
域等の計測パラメータを算出し、デジタルデータをコン
トローラ６へ送信する。また、受光手段５で得られたデ
ータは所定周期毎にコントローラ６へ送信される。
されたレーザは上部の受光手段５で総計２５６回（もし
くは１２６回）測定され、平均値を算出しレーザ発振位
置を測定する。受光手段５は、可視光遮断フィルタを有
し、Ｘ、Ｙ方向の位置検出用のフォトダイオードマトリ
ックスにて構成され、所定の時間、レーザ光の軌跡をサ
ーチすることにより、揺れ幅、レーザ光の輝度、測定領
域等の計測パラメータを算出し、デジタルデータをコン
トローラ６へ送信する。また、受光手段５で得られたデ
ータは所定周期毎にコントローラ６へ送信される。
【００１４】図３は、スリップフォーム工法による塔状
構造物の管理精度の例を示している。塔状構造物の施工
管理項目は、スリップフォーム型枠の半径、壁厚、塔状
構造物とスリップフォーム型枠との芯ずれ、回転（ねじ
れ）、レベル（高さ）の５項目であり、概ね管理値を許
容精度の１／２と定め、スリップフォーム施工中に、こ
の値を越えると修正作業を行う。
構造物の管理精度の例を示している。塔状構造物の施工
管理項目は、スリップフォーム型枠の半径、壁厚、塔状
構造物とスリップフォーム型枠との芯ずれ、回転（ねじ
れ）、レベル（高さ）の５項目であり、概ね管理値を許
容精度の１／２と定め、スリップフォーム施工中に、こ
の値を越えると修正作業を行う。
【００１５】上記５項目の精度を測定するために、本実
施形態においては、図４に示すように、成形精度確認の
ための計測と滑動（スライド）中の修正のための計測と
の２本立ての測量を実施するが、本発明はとくに後者の
測量に特徴を有している。
施形態においては、図４に示すように、成形精度確認の
ための計測と滑動（スライド）中の修正のための計測と
の２本立ての測量を実施するが、本発明はとくに後者の
測量に特徴を有している。
【００１６】前者の成形精度確認のための計測は１回／
１日行われ、図１に示すように、スリップフォーム型枠
２の内側３０点にミラー１１を設置し、その座標位置
（ｘ、ｙ、ｚ）をトータルステーション１０により測定
し、これを携帯パソコンに送信し、現在打設中の塔状構
造物の高さ、芯ずれ、回転角、半径を求め、また、コン
ベックスにより壁厚を測定する。
１日行われ、図１に示すように、スリップフォーム型枠
２の内側３０点にミラー１１を設置し、その座標位置
（ｘ、ｙ、ｚ）をトータルステーション１０により測定
し、これを携帯パソコンに送信し、現在打設中の塔状構
造物の高さ、芯ずれ、回転角、半径を求め、また、コン
ベックスにより壁厚を測定する。
【００１７】後者の型枠修正のための測量は、レーザ発
光手段４、受光手段５（ＶＬ装置）を用いてスリップフ
ォーム型枠２の４点について芯ずれと回転角を計測する
もので、通常はスライドアップ毎に１回行い、型枠修正
時は確認できる頻度で適宜行う。高さは型枠の１点につ
いてスチールテープにより計測する。なお、これら計測
値は、トータルステーション１０での精密測量の測定結
果と比較され、型枠修正のための測量にフィードバック
される。
光手段４、受光手段５（ＶＬ装置）を用いてスリップフ
ォーム型枠２の４点について芯ずれと回転角を計測する
もので、通常はスライドアップ毎に１回行い、型枠修正
時は確認できる頻度で適宜行う。高さは型枠の１点につ
いてスチールテープにより計測する。なお、これら計測
値は、トータルステーション１０での精密測量の測定結
果と比較され、型枠修正のための測量にフィードバック
される。
【００１８】図５は、計測すべき芯ずれと回転角を説明
するための図である。塔状構造物１の底部の中心位置Ｏ
を通る鉛直線Ｖに対して、鉛直線Ｖを含むＸ平面と、Ｘ
平面に直角なＹ平面が設定され、スリップフォーム型枠
２の中心位置Ｏ’を通る鉛直線Ｖ’に対して、鉛直線
Ｖ’を含むＸ’平面と、Ｘ’平面に直角なＹ’平面が設
定され、スリップフォーム型枠２が変形した場合の中心
位置の芯ずれδと回転角θを測定する。
するための図である。塔状構造物１の底部の中心位置Ｏ
を通る鉛直線Ｖに対して、鉛直線Ｖを含むＸ平面と、Ｘ
平面に直角なＹ平面が設定され、スリップフォーム型枠
２の中心位置Ｏ’を通る鉛直線Ｖ’に対して、鉛直線
Ｖ’を含むＸ’平面と、Ｘ’平面に直角なＹ’平面が設
定され、スリップフォーム型枠２が変形した場合の中心
位置の芯ずれδと回転角θを測定する。
【００１９】図６〜図８は、図１の変位量表示手段７ｂ
において表示される表示面の例を示している。図６にお
いては、塔状構造物１の既知座標（レーザ発光手段４の
位置）Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに対するスリップフォーム型枠２
の測定点Ａ’、Ｂ’、Ｃ’、Ｄ’および中心の位置座標
（Ｘ、Ｙ）、回転角（回転量）θ、芯ずれδの量が表示
されている。なお、測定点の座標は接線方向がＸ座標で
ある。これらの変形量に基づいてスリップフォーム型枠
２を容易に修正することが可能となる。
において表示される表示面の例を示している。図６にお
いては、塔状構造物１の既知座標（レーザ発光手段４の
位置）Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄに対するスリップフォーム型枠２
の測定点Ａ’、Ｂ’、Ｃ’、Ｄ’および中心の位置座標
（Ｘ、Ｙ）、回転角（回転量）θ、芯ずれδの量が表示
されている。なお、測定点の座標は接線方向がＸ座標で
ある。これらの変形量に基づいてスリップフォーム型枠
２を容易に修正することが可能となる。
【００２０】図７においては、Ｂ点での回転角θＢの管
理図が示され、図８においては芯ずれδ量の管理図が示
されている。これらの管理図から測定値が管理値を越え
た場合にスリップフォーム型枠２の修正作業を行うこと
になる。以上の変形量のデータおよび管理データは、１
分／回程度で迅速に提供され、型枠修正作業を行うか否
かの判断はもとより、型枠修正中の位置の確認を迅速に
行うことができ、型枠の修正作業を容易に行うことがで
き、施工精度の向上を図ることができる。
理図が示され、図８においては芯ずれδ量の管理図が示
されている。これらの管理図から測定値が管理値を越え
た場合にスリップフォーム型枠２の修正作業を行うこと
になる。以上の変形量のデータおよび管理データは、１
分／回程度で迅速に提供され、型枠修正作業を行うか否
かの判断はもとより、型枠修正中の位置の確認を迅速に
行うことができ、型枠の修正作業を容易に行うことがで
き、施工精度の向上を図ることができる。
【００２１】以上、本発明の実施の形態について説明し
たが、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変
更が可能である。例えば、上記実施形態においては、ス
リップフォーム型枠修正のための測量を４点について計
測しているが、これに限定されるものではなく、２点以
上を測定すればよい。
たが、本発明はこれに限定されるものではなく種々の変
更が可能である。例えば、上記実施形態においては、ス
リップフォーム型枠修正のための測量を４点について計
測しているが、これに限定されるものではなく、２点以
上を測定すればよい。
【００２２】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、スリップフォーム型枠の複数の位置を１人で
同時に自動計測可能にするとともに、同時計測データを
もとにスリップフォーム型枠の芯ずれ量、回転量、中心
座標値が出力されるため、型枠の修正作業を容易に行う
ことができ、施工精度の向上を図ることができる。ま
た、これに加えて三次元測量装置と組み合わせることに
より、高精度かつ手間の少ない施工管理が可能になる。
によれば、スリップフォーム型枠の複数の位置を１人で
同時に自動計測可能にするとともに、同時計測データを
もとにスリップフォーム型枠の芯ずれ量、回転量、中心
座標値が出力されるため、型枠の修正作業を容易に行う
ことができ、施工精度の向上を図ることができる。ま
た、これに加えて三次元測量装置と組み合わせることに
より、高精度かつ手間の少ない施工管理が可能になる。
【図１】本発明のスリップフォーム工法における測量シ
ステムの１実施形態を示す構成図である。
ステムの１実施形態を示す構成図である。
【図２】図１で説明したレーザ発光手段と受光手段を説
明するための断面図である。
明するための断面図である。
【図３】スリップフォーム工法による塔状構造物の管理
精度の例を示す図である。
精度の例を示す図である。
【図４】本発明に係わる測量方法を説明するための図で
ある。
ある。
【図５】計測すべき芯ずれと回転角を説明するための図
である。
である。
【図６】図１の変位量表示手段において表示される表示
画面の例を示す図である。
画面の例を示す図である。
【図７】図１の変位量表示手段において表示される表示
画面の例を示す図である。
画面の例を示す図である。
【図８】図１の変位量表示手段において表示される表示
画面の例を示す図である。
画面の例を示す図である。
１…塔状構造物 ２…スリップフォーム型枠 ３…基盤 ４…レーザ発光手段 ５…受光手段 ６ａ…位置座標算出手段 ７ａ…変位量演算手段 ７ｂ…変位量表示手段
フロントページの続き (72)発明者 田中仁志 東京都港区芝浦一丁目２番３号 清水建設 株式会社内 (72)発明者 守屋紀和 東京都港区芝浦一丁目２番３号 清水建設 株式会社内 Ｆターム(参考） 2E177 FA02 FA07
Claims (5)
- 【請求項１】構築すべき塔状構造物にスリップフォーム
型枠を壁面に沿って配置し、スリップフォーム型枠をス
ライドアップさせながら型枠内にコンクリートを打設す
るスリップフォーム工法において、 塔状構造物内の基盤上に設置される複数のレーザ発光手
段と、これら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリ
ップフォーム型枠に設置される複数の受光手段と、各受
光手段の検知信号により各測定点の位置座標を算出する
位置座標算出する手段と、算出された位置座標とレーザ
発光手段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算
する変位量演算手段と、演算された変位量を表示する変
位量表示手段とを備えたことを特徴とする測量システ
ム。 - 【請求項２】前記変位量は、各測定点の位置座標および
回転量並びに塔状構造物の中心位置であることを特徴と
する請求項１記載の測量システム。 - 【請求項３】前記レーザ発光手段から発振されるレーザ
を回転させ、受光手段でレーザ発振位置を複数回測定す
ることを特徴とする請求項１記載の測量システム。 - 【請求項４】請求項１記載の測量システムに加えて、ス
リップフォーム型枠に複数のミラーを設置し、これらの
ミラーを三次元測量装置により視準することによりスリ
ップフォーム型枠の精密測量を行うことを特徴とする測
量システム。 - 【請求項５】構築すべき塔状構造物にスリップフォーム
型枠を壁面に沿って配置し、スリップフォーム型枠をス
ライドアップさせながら型枠内にコンクリートを打設す
るスリップフォーム工法において、 塔状構造物内の基盤上に設置される複数のレーザ発光手
段と、これら複数のレーザ発光手段の鉛直線方向にスリ
ップフォーム型枠に設置される複数の受光手段と、各受
光手段の検知信号により各測定点の位置座標を算出する
位置座標算出する手段と、算出された位置座標とレーザ
発光手段の既知座標とを比較し各測定点の変位量を演算
する変位量演算手段と、演算された変位量を表示する変
位量表示手段とを備えた測量システムを用い、 変位量が所定値を越えた場合に、スリップフォーム型枠
の修正作業を行うことを特徴とするスリップフォーム工
法。
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