JP2000321012A - 塗膜の膜厚計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 個人差なく高精度に測定が可能な塗膜の膜厚
計を得る。 【解決手段】 ウェット状態の塗膜の膜厚を測定する
塗膜の膜厚計であって、被測定物の素地表面からの設置
高さが異なるように配置した複数の膜厚測定電極７ａ、
７ｂおよび７ｃと、複数の膜厚測定電極７ａ、７ｂおよ
び７ｃのそれぞれに塗膜が接触したときに塗膜を通して
被測定物の素地に電流を流す回路と、電流の流れた膜厚
測定電極を特定する手段とからなる塗膜の膜厚計。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、完全な液膜状態
から半乾燥状態になるまでの塗膜（総称してウェット状
態の塗膜という）の膜厚を、塗膜に電流を流すことによ
り測定する塗膜の膜厚計に関する。

【０００２】

【従来の技術】ウェット状態での塗膜の膜厚を測定する
従来の測定方法としては、JIS K ５４００「塗料一般
試験方法」に規定するくし型ウェットフィルム膜厚計や
ロ−タリ−型ウェットフィルム膜厚計、または特公平５
−７９１２１号公報に開示されたスライド式ウェットフ
ィルム膜厚計を使用した方法が採用されている。

【０００３】このうち、くし型ウェットフィルム膜厚計
を使用する膜厚の測定方法は、図４に示すように、複数
のくし歯２１ａを有するくし型ウェットフィルム膜厚計
２１を、測定対象物の素地２２上の塗膜２３に垂直にな
るようにして軽く当てる。この塗膜の膜厚測定方法にお
いては、複数のくし歯２１ａの列の両端部２１ｂの素地
２２と接触する面２１ｃ（基準面）から各くし歯２１ａ
の先端までの距離、したがってくし歯２１ａの長さが、
長いものから短いものまで、くし歯２１ａによって段階
的に変化させてあるので、塗膜２３の表面がどのくし歯
２１ａの先端に接触しているか（それぞれのくし歯２１
ａに素地２２面からの距離が表示してある）で、塗膜の
膜厚が分かるようになっている。

【０００４】ロ−タリ−型ウェットフィルム膜厚計を使
用する膜厚の測定方法は、図５（ａ）に示すように、偏
芯輪３１の両側に支持輪３２を設け、その外側に偏芯輪
３１の軸心と軸心を同じくする保持用つまみ３３を設け
たロ−タリ−型ウェットフィルム膜厚計３４を使用す
る。偏芯輪３１の外周の１点と支持輪３２の外周の１点
は、一致するように構成されており、この点が膜厚０の
点となる。そして、この点から円周方向に沿って離れる
にしたがって、偏芯輪３１の軸心３１ａから半径方向に
引いた線の、偏芯輪３１の外周を横切る点と支持輪３２
の外周を横切る点との間の距離は大きくなる。したがっ
て、図５（ｂ）に示すように、保持つまみ３３を持ち、
支持輪３２を測定対象物の素地３５に接触させながら、
支持輪３２を素地３５上で塗料層３６内を回転させ、支
持輪３２の円周方向どの位置で、塗膜３６の表面が偏芯
輪３１に接触するかを把握することにより、塗膜の膜厚
が分かるようになっている。

【０００５】また、特公平５−７９１２１号公報に開示
されたスライド式ウェットフィルム膜厚計を使用した塗
膜の膜厚測定方法は、図６に示すように、下縁４１が塗
膜の表面に対して傾斜し、かつ目盛４２が付された測定
子４３を、塗膜に載置される基台４４に上下方向にスラ
イド可能に、ブロック４５を介して取り付けたウェット
フィルム膜厚計を使用するものであり、測定子４３をス
ライドさせて、測定子４３が塗膜に接触したときの目盛
４２を読み取って、膜厚を測定するものである。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の膜厚測定器を使用した塗膜の膜厚測定方法に
は、次のような問題点がある。

【０００７】膜厚測定の作業として、膜厚測定器の設
置、目盛の読み取りという動作が必要であり、膜厚測定
が効率的に行なえない。

【０００８】また、測定毎に測定値の読み取りが必要で
あるため、暗所では膜厚測定後に、目盛りをいちいち照
明で照らして、測定値を確認しなければならないという
わずらわしさがある。

【０００９】また、膜厚測定に必要とする面積が大きく
なるため、平な面での測定は可能であるが、測定面が小
さい端部やパイプの内外面、あるいは凹凸のある被測定
物の測定が不可能であり、作業性も非常に悪い。

【００１０】また、頭上にある被測定物の膜厚測定の場
合、膜厚測定器を固定し、均一な押圧力で測定しなけれ
ばならないが、この際に塗膜がずれたり、測定器が斜め
に当たることがあり、正確な膜厚を測定するのが困難で
ある。

【００１１】さらには、測定作業のやり方や、測定値の
読み取りに個人差が出やすく、膜厚を高精度に測定する
のが困難である。

【００１２】この発明は、従来技術の上述のような問題
点を解消するためになされたものであり、完全な液膜状
態から半乾燥状態の塗膜の膜厚を、個人差がないので高
精度に測定することのできる塗膜の膜厚計を提供するこ
とを目的としている。

【００１３】

【課題を解決するための手段】この発明に係る塗膜の膜
厚計は、ウェット状態の塗膜の膜厚を測定する塗膜の膜
厚計であって、被測定物の素地表面からの設置高さが異
なるように配置した複数の膜厚測定電極と、該複数の膜
厚測定電極のそれぞれに塗膜が接触したときに塗膜を通
して被測定物の素地に電流を流す回路と、電流の流れた
膜厚測定電極を特定し表示する手段とからなるものであ
る。

【００１４】どの高さにある膜厚測定電極の表示ランプ
が点灯したかによって、塗膜の膜厚の測定が可能である
ので、個人差による測定のバラツキをなくせるととも
に、測定面積の小さい被測定対象物の膜厚測定も容易に
行なうことができる。

【００１５】また、膜厚が表示ランプにより確認できる
ので、暗所での測定も容易に行なえる。

【００１６】

【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を、図面を
参照して説明する。

【００１７】図１〜図３は、この発明の実施の形態の塗
膜の膜厚計の説明図であり、図１（ａ）はこの膜厚計の
斜視図、図１（ｂ）はこの膜厚計の先端部分の正面断面
図である。図２はこの膜厚計に使用する基本回路、図３
はこの膜厚計の詳細回路図である。

【００１８】この膜厚計は、本体１が棒状体をしてお
り、本体上端部に電極スイッチ２が、本体下端部に測定
部３が設けられている。測定部３は、膜厚を測定すると
きに被測定物の素地１３に接触させる接触部４と、接触
部４の素地接触面４ａに設けられた基準電極５および基
準電極５に接続された配線６と、基準電極５よりも上方
に階段状に取り付けた複数の膜厚測定電極７ａ、７ｂお
よび７ｃと、それぞれの膜厚測定電極７ａ、７ｂおよび
７ｃに接続された配線８ａ、８ｂおよび８ｃが設けられ
ており、基準電極５を被測定物の素地１３に接触させる
ことにより、導電できる。

【００１９】そして、それぞれの膜厚測定電極７ａ、７
ｂまたは７ｃに、ウェット状の塗膜１４が接触すると、
前記基準電極５と膜厚測定電極７ａ、７ｂまたは７ｃと
被測定物の素地１３との間に塗膜１４を介して電流が流
れ、本体１の上部に設けられている表示ランプ９ａ、９
ｂまたは９ｃが点灯するようになっている。

【００２０】図２は図１で示した基準電極５と膜厚測定
電極７間に塗膜１４を介して電流が流れたときに、表示
ランプ９が点灯されるようにした基本回路を示すもので
ある。この回路においては、膜厚測定電極７がウェット
状の塗膜１４に接触したときに、基準電極５と接触して
いる被測定物の素地１３と膜厚測定電極７との間に塗膜
１４を介して電流が流れ、電源１０、トランジスタ１１
と基準電極５に接続された配線６、および膜厚測定電極
７に接続された配線８をつなぐ回路が形成され、電源１
０からの電流が膜厚測定電極７を通って、トランジスタ
１１側に流れる。

【００２１】そして、電流の大きさが一定値以上になる
と、電流がトランジスタ１１を通って発光ダイオ−ド１
２に流れ、前述した表示ランプ９が点灯される。

【００２２】電源１０は、例えば、カメラ用３Ｖリチウ
ム電池等小型の電池を１個使用すればよい。膜厚計を小
型で携帯しやすいものにするためには、電池は小型のも
のが好ましい。基準電極５、膜厚測定電極７は、銅板等
導電性に優れた材料のもので、寸法、形状は１ｍｍφの
円板や１ｍｍ角の正方形等が好ましい。

【００２３】また、測定部３は絶縁性のあるプラスチッ
ク材料、例えばテフロン樹脂等で絶縁シ−ルする。

【００２４】図３は本発明の膜厚計の実際の回路の一例
を示したものである。この回路では塗膜厚さが、例えば
０．３ｍｍであるか、０．５ｍｍであるか、または０．
８ｍｍであるかを検知することが可能な膜厚計を示した
ものである。

【００２５】この場合、膜厚測定電極７ａが塗膜に接触
したときには、電源１０、トランジスタ１１ａと基準電
極５に接続した配線６と膜厚測定電極７ａに接続した配
線８ａをつなぐ回路が形成され、電源１０からの電流が
膜厚測定電極７ａを通って、トランジスタ１１ａ側に流
れる。

【００２６】そして、電流の大きさが一定値以上になる
と、電流がトランジスタ１１ａを通って発光ダイオ−ド
１２ａに流れ、前述した表示ランプ９ａが点灯される。

【００２７】また、膜厚測定電極７ｂが塗膜に接触に接
触したときには、電源１０、トランジスタ１１ｂと基準
電極５に接続した配線６と膜厚測定電極７ｂに接続した
配線８ｂをつなぐ回路が形成され、電源１０からの電流
が膜厚測定電極７ｂを通って、トランジスタ１１ｂ側に
流れる。

【００２８】そして、電流の大きさが一定値以上になる
と、電流がトランジスタ１１ｂを通って発光ダイオ−ド
１２ｂに流れ、前述した表示ランプ９ｂが表示ランプ９
ａとともに点灯される。

【００２９】また、膜厚測定電極５ｃが塗膜に接触に接
触したときには、電源１０、トランジスタ１１ｃと基準
電極５に接続した配線６と膜厚測定電極７ｃに接続した
配線８ｃをつなぐ回路が形成され、電源１０からの電流
が膜厚測定電極７ｃを通って、トランジスタ１１ｃ側に
流れる。

【００３０】そして、電流の大きさが一定値以上になる
と、電流がトランジスタ１１ｃを通って発光ダイオ−ド
１２ｃに流れ、前述した表示ランプ９ｃが表示ランプ９
ａおよび９ｂとともに点灯される。

【００３１】本発明の塗膜の膜厚計においては、上述し
たように、膜厚の大きさによって、複数の表示ランプの
点灯状態が異なるので、表示ランプの点灯状態によっ
て、塗膜の膜厚を測定することができる。

【００３２】図３で説明した本発明の膜厚計の実際の回
路の一例では、３段階の膜厚を測定する例を示したが、
適当な数の段階の膜厚を測定するように、適宜設定して
もよい。

【００３３】なお、膜厚測定電極の設置高さの範囲や、
膜厚測定電極の数、設置ピッチは、使用目的にしたがっ
て、適宜決定すればよい。

【００３４】

【発明の効果】この発明により、完全な液膜状態から半
乾燥状態の塗膜の膜厚を、個人差が発生することなく高
精度に測定することができるとともに、狭い測定面積の
対象物の膜厚も容易に測定することができる。

【００３５】また、膜厚測定と同時に、実際の膜厚を読
み取ることができるので、膜厚測定作業が大幅に能率ア
ップできる。特に、暗所での測定の際には、目盛の読み
取りと目盛を明りで照らすという作業をなくすことがで
きるので、その有用性はさらに高まる。

【００３６】また、表示ランプを見ることにより、膜厚
の確認ができるので、特に暗所での測定作業が容易にな
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の実施の形態の塗膜の膜厚計の説明図
であり、（ａ）はこの膜厚計の斜視図、（ｂ）はこの膜
厚計の先端部分の正面断面図である。

【図２】この発明の実施の形態の塗膜の膜厚計の基本回
路図である。

【図３】この発明の実施の形態の塗膜の膜厚計の詳細回
路図である。

【図４】従来のくし型ウェットフィルム膜厚計を使用す
る膜厚の測定方法を説明する正面図である。

【図５】従来のロ−タリ−型ウェットフィルム膜厚計を
使用する膜厚の測定方法を説明する説明図であり、
（ａ）は正面図、（ｂ）は側面図である。

【図６】従来のスライド式ウェットフィルム膜厚計の斜
視図である。

【符号の説明】

１ 本体 ２ オンオフスイッチ ３ 測定部 ４ 接触部 ５ 基準電極 ６ 配線 ７、７ａ、７ｂ、７ｃ 膜厚測定電極 ８ａ、８ｂ、８ｃ 配線 ９ａ、９ｂ、９ｃ 表示ランプ １０ 電源 １１、１１ａ、１１ｂ、１１ｃ トランジスタ １２、１２ａ、１２ｂ、１２ｃ 発光ダイオ−ド １３ 被測定物の素地 １４ 塗膜

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 岡野 嘉宏 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 梶山 浩志 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 北川 尚男 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 Ｆターム(参考） 2F063 AA16 BC09 BD13 CA09 DA02 DB04 DB07 DC08 DD06 FA09 MA03

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ウェット状態の塗膜の膜厚を測定する塗
   膜の膜厚計であって、被測定物の素地表面からの設置高
   さが異なるように配置した複数の膜厚測定電極と、該複
   数の膜厚測定電極のそれぞれに塗膜が接触したときに塗
   膜を通して被測定物の素地に電流を流す回路と、電流の
   流れた膜厚測定電極を特定し表示する手段とからなるこ
   とを特徴とする塗膜の膜厚計。