JPS60247103A - 簡易平面度測定装置 - Google Patents
簡易平面度測定装置Info
- Publication number
- JPS60247103A JPS60247103A JP10386384A JP10386384A JPS60247103A JP S60247103 A JPS60247103 A JP S60247103A JP 10386384 A JP10386384 A JP 10386384A JP 10386384 A JP10386384 A JP 10386384A JP S60247103 A JPS60247103 A JP S60247103A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- measuring
- display
- round rods
- lamps
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 5
- 239000002184 metal Substances 0.000 abstract description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔従来技術〕
本発明は導体板の平面度を簡便に測定する簡易平面度測
定装置に関する。
定装置に関する。
従来、高精度を要する部品(導体板)の平面度を測定す
るために、それに適応した高価な測定器がある。一方、
目視では判別出来ないが、高精度平面度測距器を使用し
なければならない程の精度を必要としない部品の軸度測
定の為に簡便な方法がなかった。
るために、それに適応した高価な測定器がある。一方、
目視では判別出来ないが、高精度平面度測距器を使用し
なければならない程の精度を必要としない部品の軸度測
定の為に簡便な方法がなかった。
本発明の目的は、このような要求を満たし、簡便に平面
精度を点検できる簡易平面度測定装置を提供することに
ある。
精度を点検できる簡易平面度測定装置を提供することに
ある。
本発明の簡易平面度測定装置は、被測定物を載置すべき
複数の導体棒が互に絶縁して固定された板体からなシこ
れら導体棒の前記被測定物との接触端部が所定平面度に
保持された測定部と、前記各導体棒の配置に対応して複
数の表示灯を平板上に配置した表示部と、前記測定部と
前記表示部との間を前記各導体棒と前記各表示灯の一端
とが対応するように接続するケーブル部と、共通接続さ
れた前記表示灯の他端と前記被測定物との間に表示灯用
電源を供給する電源接続部とを含み構成される。
複数の導体棒が互に絶縁して固定された板体からなシこ
れら導体棒の前記被測定物との接触端部が所定平面度に
保持された測定部と、前記各導体棒の配置に対応して複
数の表示灯を平板上に配置した表示部と、前記測定部と
前記表示部との間を前記各導体棒と前記各表示灯の一端
とが対応するように接続するケーブル部と、共通接続さ
れた前記表示灯の他端と前記被測定物との間に表示灯用
電源を供給する電源接続部とを含み構成される。
次に図面によシ本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の実施例の構成を示す斜視図である。本
実施例は、測定面となる被測定物6を載置する部分が多
数(8個)の金属丸棒4を固定しこれらケ相互に電気的
に絶縁した平板体からなpかつこれら丸棒4の端部が研
摩などによって盛装な平面度を与えられた測定部1と、
これら金属丸棒4の測定点に対応して表示用ランプ(5
,7)を配置した平板部からなる判定表示部2と、これ
ら測定部1と判定表示部2との間を各金属丸棒4と各表
示ランプとが対応するように接続したケーブル8と1表
示ランプと被測定物6との間に接続配線9,10によ多
接続される電源部3とから構成される。
実施例は、測定面となる被測定物6を載置する部分が多
数(8個)の金属丸棒4を固定しこれらケ相互に電気的
に絶縁した平板体からなpかつこれら丸棒4の端部が研
摩などによって盛装な平面度を与えられた測定部1と、
これら金属丸棒4の測定点に対応して表示用ランプ(5
,7)を配置した平板部からなる判定表示部2と、これ
ら測定部1と判定表示部2との間を各金属丸棒4と各表
示ランプとが対応するように接続したケーブル8と1表
示ランプと被測定物6との間に接続配線9,10によ多
接続される電源部3とから構成される。
この被測定物6の測定部を本装置の測定部1に載置して
セットすると、金属丸棒4と接触している位置に対応し
た判定表示部2の表示ランプ5が点灯して表示される。
セットすると、金属丸棒4と接触している位置に対応し
た判定表示部2の表示ランプ5が点灯して表示される。
また1点灯していない表示ランプ7の位置は凹面となっ
ていることを示している。
ていることを示している。
したがって、所定平面度が得られるように、全てのラン
プ(測定部#)が点灯するまで被測定物を加工しなから
測距を繰返すことも簡便に出来る。
プ(測定部#)が点灯するまで被測定物を加工しなから
測距を繰返すことも簡便に出来る。
第1図は本発明の一実施例の構成を示す斜視図である。
図において。
1・・・・・・測定部、2・・・・・・判定表示部、3
・・・・・・電源部、4・・・・・・金属丸棒、5・・
・・・・点灯した表示用ランプ、6・・・・・・被測定
物、7・・・・・・点灯しない表示用ランプ、8・・・
・・・ケーブル、9.10・・・・・・接続配線。 である。
・・・・・・電源部、4・・・・・・金属丸棒、5・・
・・・・点灯した表示用ランプ、6・・・・・・被測定
物、7・・・・・・点灯しない表示用ランプ、8・・・
・・・ケーブル、9.10・・・・・・接続配線。 である。
Claims (1)
- 被測定物を載置すべき複数の導体棒が互に絶縁して固定
された板体からなシこれら導体棒の前記被測定物との接
触端部が所定平面度に保持された測定部と、前記各導体
棒の配置に対応して複数の表示灯を平板上に配置した表
示部と、前記測定部と前記表示部との間を前記各導体棒
と前記各表示灯の一端とが対応するように接続するケー
ブル部と、共通接続された前記表示灯の他端と前記被測
定物との間に表示灯用電源を供給する電源接続部とを含
む簡易平面度測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10386384A JPS60247103A (ja) | 1984-05-23 | 1984-05-23 | 簡易平面度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10386384A JPS60247103A (ja) | 1984-05-23 | 1984-05-23 | 簡易平面度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60247103A true JPS60247103A (ja) | 1985-12-06 |
Family
ID=14365282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10386384A Pending JPS60247103A (ja) | 1984-05-23 | 1984-05-23 | 簡易平面度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60247103A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7243441B2 (en) * | 2003-11-14 | 2007-07-17 | Hitachi Kenki Fine Tech Co., Ltd. | Method and apparatus for measuring depth of holes formed on a specimen |
| CN103644885A (zh) * | 2013-11-18 | 2014-03-19 | 无锡俊达测试技术服务有限公司 | 一种平整度测试装置 |
-
1984
- 1984-05-23 JP JP10386384A patent/JPS60247103A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7243441B2 (en) * | 2003-11-14 | 2007-07-17 | Hitachi Kenki Fine Tech Co., Ltd. | Method and apparatus for measuring depth of holes formed on a specimen |
| CN103644885A (zh) * | 2013-11-18 | 2014-03-19 | 无锡俊达测试技术服务有限公司 | 一种平整度测试装置 |
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