JP2000329516A - アライメントマーク - Google Patents

アライメントマーク

Info

Publication number
JP2000329516A
JP2000329516A JP11138985A JP13898599A JP2000329516A JP 2000329516 A JP2000329516 A JP 2000329516A JP 11138985 A JP11138985 A JP 11138985A JP 13898599 A JP13898599 A JP 13898599A JP 2000329516 A JP2000329516 A JP 2000329516A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
alignment
mark
alignment mark
line segments
positioning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11138985A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Asano
武史 浅野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP11138985A priority Critical patent/JP2000329516A/ja
Publication of JP2000329516A publication Critical patent/JP2000329516A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光学系を低倍率に設定した状態で、高精度の
位置合わせを行うことができ、位置合わせ装置の画像処
理機構を簡素化する。 【解決手段】 一方のアライメントマーク200は、予
め設定された基準方向に対して平行方向の線分201
A、201Bと直交方向の線分202A、202Bと
が、全体として略+字状に交差している。また、各線分
201A、201B、202A、202Bが交差する中
心部に、円形のネガマーク203Aを構成する正方形の
マーク203が形成されている。また、他方のアライメ
ントマーク300は、各線分201A、201B、20
2A、202Bを挟んで線対称となる複数対の線分30
1A、301B、302A、302Bを有する。また、
各線分301A、301B、302A、302Bが交差
する中心部に、円形のポジマーク303が形成されてい
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板を互いに重ね
合わせて位置合わせする際に、互いに重ね合わされて位
置合わせ状態を確認するためのアライメントマークに関
する。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えばカラー液晶表示パネル
を構成するマトリクス型液晶トランジスタ(TFT)素
子基板とカラーフィルタ(CF)基板とを重ね合わせて
接合する装置においては、開口率低下防止や色むら防止
のために、各基板を高精度に位置合わせして接合する必
要がある。そこで、各基板の重なり合う位置にアライメ
ントマークを設け、このアライメントマークに基づいて
位置合わせを行うようになっている。
【0003】図3(A)(B)(C)は、従来のアライ
メントマークの具体例を示す説明図である。図3(A)
は、十字形のネガマークとポジマークを組み合わせたも
のであり、図3(B)は、正方形のネガマークとポジマ
ークを組み合わせたものである。図3(C)は、円形の
ネガマークとポジマークを組み合わせたものである。こ
れらのアライメントマークは、後述のような方法によっ
て自動認識され、位置合わせに用いられるが、このよう
な自動位置合わせの他にマニュアル操作による対応にも
考慮し、各アライメントマークの形状寸法差が数μmと
なるように設定されている。このため、アライメントマ
ークの形状寸法は高精度なものが要求される。
【0004】また、アライメントマークを自動認識する
方法としては、プログラム内に登録したパターン形状と
基板から読み取った実際のアライメントマーク形状との
相関を判定することにより、マークの一致を認識する方
法(以下、パターンマッチング法という)と、基板から
読み取った実際のアライメントマークをモニタ内の水
平、垂直線にしたがって走査し、マークのエッジを求め
た後、その座標軸からの2乗平均演算を行い、マークの
一致を認識する方法(以下、エッジ検出法という)とが
ある。それぞれの特徴として、パターンマッチング法は
高速処理は可能であるが、マーク品質の影響を受け易
く、相関値が低下すると検出できなくなる。一方、エッ
ジ検出は、処理速度は遅いものの、マーク品質の影響を
受けにくいという利点がある。現状では、高速処理の要
請が高いため、パターンマッチング法が主流となりつつ
ある。
【0005】また、図3に示した各アライメントマーク
において、図3(B)(C)に示すアライメントマーク
では、単純な正方形や円形のマークであるため、視野内
にある異物(ゴミ等)と誤認識されやすい。そこで、図
3(A)に示すように、特徴ある十字形のマークとし、
視野内における画像情報を増やし、特徴をもたせる方法
を採用している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述のよう
なアライメントマークの自動認識による位置合わせにお
いて、双方の基板が位置合わせ前の状態では、各アライ
メントマークの位置は当然ずれているものである。した
がって、自動位置合わせを行うためには、各マークをC
CD等の撮像素子で読み取る場合、各マークが撮像素子
の視野内に入っている必要があることから、光学倍率を
下げて視野角を広くすることが考えられる。しかし、こ
のように視野角を広くすると、撮像素子で読み取るマー
クの大きさも撮像素子の分解能に対して小さくなり、画
像処理情報量が少なくなって高精度の位置合わせを行う
ことが困難となる。そこで従来は、撮像素子の光学系を
低倍率で粗い位置合わせを行い、ある程度位置合わせを
行った後、光学系を高倍率に切り替えて高精度の位置合
わせを行っている。このため、撮像素子の画像処理機構
が複雑化するという欠点がある。
【0007】そこで本発明の目的は、光学系を低倍率に
設定した状態で、高精度の位置合わせを行うことがで
き、位置合わせ装置の画像処理機構を簡素化することが
可能なアライメントマークを提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は前記目的を達成
するため、少なくとも一方が透明な一対の被位置合わせ
部材に設けられ、前記各被位置合わせ部材を互いに重ね
合わせて位置合わせする際に、互いに重ね合わされて位
置合わせ状態を確認するためのアライメントマークにお
いて、一方の被位置合わせ部材のアライメントマークは
予め設定された基準方向に対して平行方向と直交方向の
線分より構成され、他方の被位置合わせ部材のアライメ
ントマークは前記平行方向及び/または直交方向の線分
に対して所定の角度を有し、前記平行方向または直交方
向の線分を挟んで線対称となる複数対の線分の組み合わ
せより構成されていることを特徴とする。
【0009】本発明のアライメントマークにおいて、各
被位置合わせ部材を位置合わせする場合、一方の被位置
合わせ部材のアライメントマークとして設けられた平行
方向の線分及び/または直交方向の線分に対し、他方の
被位置合わせ部材のアライメントマークとして設けられ
た線分が所定の角度をもって線対称となる状態で重なり
合うことになる。したがって、各線分を一定以上の長さ
とすれば、低倍率であっても、線分の各部において画像
認識に必要な十分な形状情報を採取することができるた
め、この形状情報に基づいて、高精度に各アライメント
マークの位置関係を認識でき、正確な位置合わせを行う
ことが可能である。したがって、アライメントマークを
撮像する光学系の倍率を2段階で制御することなく、低
倍率でアライメントマークの自動認識を高精度に行うこ
とができ、位置合わせ装置の画像処理機構を簡素化する
ことが可能となる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明によるアライメント
マークの実施の形態について説明する。図1は、本発明
の実施の形態によるアライメントマークを示す説明図で
あり、図2は、図1に示すアライメントマークを用いた
位置合わせ装置の一例を示す斜視図である。
【0011】図2に示す位置合わせ装置は、カラー液晶
表示パネルを構成するマトリクス型液晶トランジスタ素
子基板(TFT基板)10とカラーフィルタ基板(CF
基板)20とを重ね合わせて接合する装置である。この
位置合わせ装置は、基台ベース101上にX−Yアライ
メントステージ106を配置し、このステージ106上
に水平回転方向(θ)に調整可能な下定盤104が配置
されている。そして、各軸方向のモータ110A、11
0B、110C等による駆動制御により、下定盤104
をXYθ方向に移動する。また、下定盤104には、エ
アによる吸着機構(図示略)が接続されており、搬送機
構(図示略)によって下定盤104の上面に搬送されて
きたTFT基板10が吸着保持されるようになってい
る。
【0012】また、基台ベース101には、複数の支柱
112が設けられており、これら支柱112によって上
フレーム114が設けられている。そして、この上フレ
ーム114には、一対のアクチュエータ102が設置さ
れており、上フレーム114の下面に配置された上(加
圧)定盤103を昇降自在に支持している。上定盤10
3には、エアによる吸着機構(図示略)が接続されてお
り、搬送機構(図示略)によって上定盤103の下面に
搬送されてきたCF基板20が吸着保持されるようにな
っている。上定盤103の4つのコーナ部には、TFT
基板10とCF基板20の各コーナ部に設けられたアラ
イメントマーク200、300を撮像する4つのCCD
カメラ105が設けられている。
【0013】このような位置合わせ装置では、上定盤1
03と下定盤104に図示のように直交方向から搬送さ
れてきたTFT基板10とCF基板20を保持する。そ
して、アクチュエータ102によって上定盤103を下
定盤104に接近させ、各CCDカメラ105によって
各アライメントマーク200、300を撮像し、パター
ン認識を行いながら、下定盤104の位置をXYθ方向
に制御し、TFT基板10とCF基板20の位置合わせ
を行う。その後、アクチュエータ102によって上定盤
103を下定盤104に加圧し、2つの基板10、20
を貼り合わせ、その貼り合わせ基板30を搬送機構(図
示略)によって搬出する。
【0014】次に、以上のような位置合わせ装置で使用
する本例のアライメントマーク200、300につい
て、図1に基づき説明する。図1(A)に示すように、
一方のアライメントマーク200は、予め設定された基
準方向(この基準方向は任意の方向に設定可能である)
に対して平行方向の線分201A、201Bと直交方向
の線分202A、202Bとが、全体として略+字状に
交差したものである。また、各線分201A、201
B、202A、202Bが交差する中心部に、円形のネ
ガマーク203Aを構成する正方形のマーク203が形
成されている。なお、上記マーク203の形状は正方形
に限られるものではなく例えばリング状(環状)であっ
てもよい。また、図1(B)に示すように、他方のアラ
イメントマーク300は、アライメントマーク200の
各線分201A、201B、202A、202Bに対し
て所定の角度(本例では45°)を有し、各線分201
A、201B、202A、202Bを挟んで線対称とな
る略×字状に交差した複数対の線分301A、301
B、302A、302Bを有する。また、各線分301
A、301B、302A、302Bが交差する中心部
に、円形のポジマーク303が形成されている。
【0015】また、ポジマーク303は、マーク203
のネガマーク203Aに対し、数μm程度小さい径を有
し、位置合わせが適正に行われた状態で、図1(C)に
示すように、ネガマーク203Aとポジマーク303と
が同心状に配置され、ポジマーク303の外周にネガマ
ーク203Aによる数μmの円環状のネガ領域が形成さ
れる。本例では、例えばTFT基板10にアライメント
マーク200を設け、また、CF基板20にアライメン
トマーク300を設けるものとする。ただし、この関係
は反対であってもよい。
【0016】以上のような本例のアライメントマーク2
00、300では、各基板10、20を位置合わせする
場合、TFT基板10に設けたアライメントマーク20
0の各線分201A、201B、202A、202Bに
対し、CF基板20に設けたアライメントマークの各線
分301A、301B、302A、302Bが所定の角
度をもって線対称となる状態で重なり合うことになる。
また、各線分201A、201B、202A、202
B、301A、301B、302A、302Bは、それ
ぞれ十分な長さを有している。
【0017】したがって、各基板10、20が完全に位
置合わせされていない状態で、CCDカメラ105の光
学系が低倍率で、分解能が小さい場合であっても、線分
201A、201B、202A、202B、301A、
301B、302A、302Bの各部において、画像認
識に必要な十分な形状情報を採取することができる。こ
のため、この形状情報に基づいて、高精度に各アライメ
ントマークの位置関係を認識でき、正確な位置合わせを
行うことが可能である。したがって、アライメントマー
ク200、300を撮像する光学系の倍率を従来のよう
に2段階で制御することなく、低倍率でアライメントマ
ーク200、300の自動認識を高精度に行うことがで
き、位置合わせ装置の画像処理機構を簡素化することが
可能となる。
【0018】また、各アライメントマーク200、30
0に同心状のネガマーク203Aとポジマーク303と
を設けることにより、自動認識だけでなく、目視による
位置合わせに対応することができる。これは、例えばT
FTの膜厚の影響や大幅な異形状の基板を処理するため
に、アライメントマークの画像処理ができない場合で
も、このネガマーク203Aとポジマーク303とをモ
ニタで表示し、これを目視で確認しながら、位置合わせ
をマニュアル操作で高精度に行うことができる。すなわ
ち、上述したネガマーク203Aとポジマーク303の
間には、適正な位置合わせ状態において、数μmの円環
状のネガ領域が形成されるため、この円環状のネガ領域
が360°均一な厚みの真円状になるように、目視で確
認しながらマニュアル操作を行うことで、各基板10、
20を数μmの精度で位置合わせを行うことが可能とな
る。
【0019】以上のような構成により、本例のアライメ
ントマークを用いて低倍率から高倍率まで、高精度なア
ライメントが可能となり、マーク認識装置における画像
処理機構の簡素化を図ることが可能となる。また、アラ
イメントマークの各線分を十分長くすることにより、マ
ーク形状誤差に対する影響を少なくすることが可能とな
り、パターン認識処理が容易となる。また、上述したア
ライメントマーク300の各線分をアライメントマーク
200の各線分に対して45°(点対称)とすること
で、マーク形状全体が視野内になくても、アライメント
マーク200の第1象現から第4象現まで、マークを回
転させて検出することが可能となり、検出エリアの向上
を図ることができる。
【0020】なお、以上の例は、本発明のアライメント
マークをTFT基板10とCF基板20とを貼り合わせ
る装置に適用した場合について説明したが、本発明は、
これに限定されることなく、各種基板の位置合わせ装置
に広く適用し得るものである。また、基板以外の被位置
合わせ部材の位置合わせにも用いることができる。ま
た、上述の例では、一方のアライメントマーク200の
各線分に対して他方のアライメントマーク300の各線
分を45°(点対称)に形成したが、点対称に限るもの
ではなく、アライメントマーク200の平行線分または
直交線分に対して線対称に形成したものであってもよ
い。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように本発明のアライメン
トマークでは、一方の被位置合わせ部材のアライメント
マークを予め設定された基準方向に対して平行方向と直
交方向の線分より構成するとともに、他方の被位置合わ
せ部材のアライメントマークを前記平行方向及び/また
は直交方向の線分に対して所定の角度を有し、前記平行
方向または直交方向の線分を挟んで線対称となる複数対
の線分の組み合わせより構成した。
【0022】このため、各アライメントマークを自動認
識する撮像装置が低倍率であっても、線分の各部におい
て画像認識に必要な十分な形状情報を採取することがで
き、この形状情報に基づいて高精度に各アライメントマ
ークの位置関係を認識でき、正確な位置合わせを行うこ
とが可能である。したがって、アライメントマークを撮
像する光学系の倍率を従来のように2段階で制御するこ
となく、低倍率でアライメントマークの自動認識を高精
度に行うことができ、位置合わせ装置の画像処理機構を
簡素化できる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態によるアライメントマーク
を示す説明図である。
【図2】図1に示すアライメントマークを用いた位置合
わせ装置の一例を示す斜視図である。
【図3】従来のアライメントマークの具体例を示す説明
図である。
【符号の説明】
200、300……アライメントマーク、201A、2
01B、202A、202B、301A、301B、3
02A、302B……線分、203……正方形マーク、
203A……円形ネガマーク、303……円形ポジマー
ク。

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくとも一方が透明な一対の被位置合
    わせ部材に設けられ、前記各被位置合わせ部材を互いに
    重ね合わせて位置合わせする際に、互いに重ね合わされ
    て位置合わせ状態を確認するためのアライメントマーク
    において、 一方の被位置合わせ部材のアライメントマークは予め設
    定された基準方向に対して平行方向と直交方向の線分よ
    り構成され、 他方の被位置合わせ部材のアライメントマークは前記平
    行方向及び/または直交方向の線分に対して所定の角度
    を有し、前記平行方向または直交方向の線分を挟んで線
    対称となる複数対の線分の組み合わせより構成されてい
    る、 ことを特徴とするアライメントマーク。
  2. 【請求項2】 前記各アライメントマークのうち、一方
    のアライメントマークの中心部に円形のポジマークを有
    し、他方のアライメントマークの中心部に前記ポジマー
    クより大きい直径を有する円形のネガマークを有するこ
    とを特徴とする請求項1記載のアライメントマーク。
  3. 【請求項3】 前記被位置合わせ部材は、板状に形成さ
    れた部材であることを特徴とする請求項1記載のアライ
    メントマーク。
  4. 【請求項4】 前記一方の被位置合わせ部材は液晶表示
    パネルの画素駆動トランジスタを搭載した素子基板であ
    り、前記他方の被位置合わせ部材は前記液晶表示パネル
    のカラーフィルタ基板であることを特徴とする請求項3
    記載のアライメントマーク。
  5. 【請求項5】 前記各被位置合わせ部材は、位置合わせ
    後に一体に接合されるものであることを特徴とする請求
    項1記載のアライメントマーク。
JP11138985A 1999-05-19 1999-05-19 アライメントマーク Pending JP2000329516A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11138985A JP2000329516A (ja) 1999-05-19 1999-05-19 アライメントマーク

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11138985A JP2000329516A (ja) 1999-05-19 1999-05-19 アライメントマーク

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000329516A true JP2000329516A (ja) 2000-11-30

Family

ID=15234795

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11138985A Pending JP2000329516A (ja) 1999-05-19 1999-05-19 アライメントマーク

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000329516A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007123076A1 (ja) 2006-04-19 2007-11-01 Sharp Kabushiki Kaisha 液滴塗布装置
CN112233552A (zh) * 2020-10-10 2021-01-15 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板及其显示装置
JP2021025921A (ja) * 2019-08-06 2021-02-22 株式会社キーエンス 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2007123076A1 (ja) 2006-04-19 2007-11-01 Sharp Kabushiki Kaisha 液滴塗布装置
US8079662B2 (en) 2006-04-19 2011-12-20 Sharp Kabushiki Kaisha Drop coating apparatus
JP2021025921A (ja) * 2019-08-06 2021-02-22 株式会社キーエンス 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
JP7332386B2 (ja) 2019-08-06 2023-08-23 株式会社キーエンス 三次元形状測定装置及び三次元形状測定方法
CN112233552A (zh) * 2020-10-10 2021-01-15 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板及其显示装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11099368B2 (en) Camera and specimen alignment to facilitate large area imaging in microscopy
KR100838684B1 (ko) 접합방법 및 접합기판 제조장치
JPH0990308A (ja) 矩形基板の位置決め装置
CN119008454A (zh) 一种键合装置
JP2000329516A (ja) アライメントマーク
JP2675307B2 (ja) プリアライナー装置
JP3061651B2 (ja) 貼り合わせ装置
JP2006292426A (ja) 座標測定方法及び寸法測定方法
JP4147911B2 (ja) 電気光学装置の製造方法
TWM649301U (zh) 晶圓粗糙度檢查裝置及晶圓檢查機
JP3180004B2 (ja) 露光フィルムの整合方法及び整合装置
JP2003179122A (ja) 基板検査装置
JP2007212939A (ja) 位置ずれ検査方法、プログラム及び位置ずれ検査装置
CN207466064U (zh) 贴合装置
JPH09312808A (ja) Ccdカメラ及びそのccdチップとレンズの位置合わせ方法
JPH0435846A (ja) 半導体ウエハの位置合せ方法
JPH08181062A (ja) 位置決め装置及び位置決め方法
JPH07270716A (ja) 光学装置
JP2003148930A (ja) 基板検査装置
KR101774019B1 (ko) 영상굴절렌즈를 구비하는 본딩장치
JP2006019454A (ja) 駆動素子搭載方法
JPH05152421A (ja) 半導体ウエハの位置合せ方法
KR100209243B1 (ko) Pdic(photo diode ic) 접합장치 및 방법
JPS59165419A (ja) 原画位置整合装置
JPH0435845A (ja) 半導体ウエハの位置合せ装置