JP2000332600A - 温度補償システム - Google Patents
温度補償システムInfo
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- JP2000332600A JP2000332600A JP11144298A JP14429899A JP2000332600A JP 2000332600 A JP2000332600 A JP 2000332600A JP 11144298 A JP11144298 A JP 11144298A JP 14429899 A JP14429899 A JP 14429899A JP 2000332600 A JP2000332600 A JP 2000332600A
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 abstract description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03L—AUTOMATIC CONTROL, STARTING, SYNCHRONISATION OR STABILISATION OF GENERATORS OF ELECTRONIC OSCILLATIONS OR PULSES
- H03L1/00—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply
- H03L1/02—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only
- H03L1/022—Stabilisation of generator output against variations of physical values, e.g. power supply against variations of temperature only by indirect stabilisation, i.e. by generating an electrical correction signal which is a function of the temperature
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Inductance-Capacitance Distribution Constants And Capacitance-Resistance Oscillators (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電圧制御発振器VCOなど半導体装置の入力
端子に印加する電圧に、通常の回路素子を用いて、任意
の温度特性を持たせること。 【解決手段】 ベースに入力電圧が印加されるバイポー
ラトランジスタと電源間に第3抵抗を直列に接続し、こ
のバイポーラトランジスタのベースと出力との間に第1
抵抗を接続し、かつこのバイポーラトランジスタのエミ
ッタと出力との間に第2抵抗を接続して温度補償システ
ムを構成する。この構成によれば、バイポーラトランジ
スタのベースエミッタ間の温度特性と第1抵抗及び第2
抵抗の温度特性とを組み合わせ、任意の温度特性を出力
電圧に与えることができ、温度特性を実質的になくすこ
とができる。
端子に印加する電圧に、通常の回路素子を用いて、任意
の温度特性を持たせること。 【解決手段】 ベースに入力電圧が印加されるバイポー
ラトランジスタと電源間に第3抵抗を直列に接続し、こ
のバイポーラトランジスタのベースと出力との間に第1
抵抗を接続し、かつこのバイポーラトランジスタのエミ
ッタと出力との間に第2抵抗を接続して温度補償システ
ムを構成する。この構成によれば、バイポーラトランジ
スタのベースエミッタ間の温度特性と第1抵抗及び第2
抵抗の温度特性とを組み合わせ、任意の温度特性を出力
電圧に与えることができ、温度特性を実質的になくすこ
とができる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路な
どの電気装置において、温度特性を簡易な構成で補償す
る温度補償システムに関する。
どの電気装置において、温度特性を簡易な構成で補償す
る温度補償システムに関する。
【0002】
【従来の技術】半導体集積回路装置やディスクリート部
品を組み合わせてシステムを構成する場合、所要の機能
毎に各構成要素を選定していき、全体を纏めていく。こ
の場合に、各構成要素の組み合わせを工夫しても希望の
特性を得ることができないケースが、屡々発生する。
品を組み合わせてシステムを構成する場合、所要の機能
毎に各構成要素を選定していき、全体を纏めていく。こ
の場合に、各構成要素の組み合わせを工夫しても希望の
特性を得ることができないケースが、屡々発生する。
【0003】特に周囲温度が、室温であるなど常温の状
態では不都合がなくても、高温度状態やあるいは低温度
状態において特性が悪化するという、温度特性に起因し
て問題が発生する場合が多い。このような場合に、別の
半導体集積回路を選定するか、関連する他のブロックを
改変して吸収したり、あるいは使用条件を狭めたりし
て、対応してきている。これらは、いずれも逃げの手段
であり、本質的な対応策ではない。
態では不都合がなくても、高温度状態やあるいは低温度
状態において特性が悪化するという、温度特性に起因し
て問題が発生する場合が多い。このような場合に、別の
半導体集積回路を選定するか、関連する他のブロックを
改変して吸収したり、あるいは使用条件を狭めたりし
て、対応してきている。これらは、いずれも逃げの手段
であり、本質的な対応策ではない。
【0004】1例として、従来の電圧制御発振器VCO
について、図11を参照して説明する。図11(a)に
おいて、電圧制御発振器VCOの外付け端子に外付け抵
抗Rが接続され、入力端子INに可変電圧源Bの電圧V
が印加され、出力端子OUTから発振された出力周波数
fが出力される。この入力電圧Vと出力周波数fとは、
図11(b)に示されるように比例的な関係にあり、特
定の出力周波数fとなるように入力電圧Vを定めて使用
される。
について、図11を参照して説明する。図11(a)に
おいて、電圧制御発振器VCOの外付け端子に外付け抵
抗Rが接続され、入力端子INに可変電圧源Bの電圧V
が印加され、出力端子OUTから発振された出力周波数
fが出力される。この入力電圧Vと出力周波数fとは、
図11(b)に示されるように比例的な関係にあり、特
定の出力周波数fとなるように入力電圧Vを定めて使用
される。
【0005】この電圧制御発振器VCOの回路では、入
力電圧Vを一定としても、電圧制御発振器VCOの外付
け抵抗Rに温度特性があること、あるいは電圧制御発振
器VCO自体の内部回路構成部材に温度特性を有してい
ることから、発振周波数は温度依存性を持ち、例えば図
11(c)の破線、一点鎖線に示されるように、周囲温
度と共にその発振周波数が変動してしまう。なお、同図
中の実線は温度特性のない理想的な特性を示すものであ
る。
力電圧Vを一定としても、電圧制御発振器VCOの外付
け抵抗Rに温度特性があること、あるいは電圧制御発振
器VCO自体の内部回路構成部材に温度特性を有してい
ることから、発振周波数は温度依存性を持ち、例えば図
11(c)の破線、一点鎖線に示されるように、周囲温
度と共にその発振周波数が変動してしまう。なお、同図
中の実線は温度特性のない理想的な特性を示すものであ
る。
【0006】このような温度による発振周波数への影響
をなくすためには、電圧制御発振器VCOの外付け抵抗
Rに、温度特性のない高級な抵抗を使用するとか、ある
いは逆に電圧制御発振器VCO自体の温度特性をもキャ
ンセルできる特別な温度特性を持つ抵抗を注文生産する
などして確保し、全体の温度依存性をゼロ付近に近づけ
るように、工夫がなされていた。
をなくすためには、電圧制御発振器VCOの外付け抵抗
Rに、温度特性のない高級な抵抗を使用するとか、ある
いは逆に電圧制御発振器VCO自体の温度特性をもキャ
ンセルできる特別な温度特性を持つ抵抗を注文生産する
などして確保し、全体の温度依存性をゼロ付近に近づけ
るように、工夫がなされていた。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに外付け抵抗として、高価な抵抗を使用するか、手間
暇を掛けて特別な抵抗を作る必要があり、また、前述の
ように別の半導体集積回路を選定するか、関連する他の
ブロックを改変して吸収するか、あるいは使用条件を狭
めたりして対応する必要があり、いずれの手段を執るに
しても、研究・開発の足かせとなることがある。
うに外付け抵抗として、高価な抵抗を使用するか、手間
暇を掛けて特別な抵抗を作る必要があり、また、前述の
ように別の半導体集積回路を選定するか、関連する他の
ブロックを改変して吸収するか、あるいは使用条件を狭
めたりして対応する必要があり、いずれの手段を執るに
しても、研究・開発の足かせとなることがある。
【0008】そこで、本発明は、電圧制御発振器VCO
など半導体装置の入力端子に印加する電圧に、通常の回
路素子を用いて、任意の温度特性を持たせることができ
る温度補償システムを提供することを目的とする。
など半導体装置の入力端子に印加する電圧に、通常の回
路素子を用いて、任意の温度特性を持たせることができ
る温度補償システムを提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の温度補償シス
テムは、ベースに入力電圧が印加されるバイポーラトラ
ンジスタと、電源間に前記バイポーラトランジスタと直
列に接続された第3抵抗と、前記バイポーラトランジス
タのベースと出力との間に接続された第1抵抗と、前記
バイポーラトランジスタと前記第3抵抗との接続点と前
記出力との間に接続された第2抵抗と、を備えることを
特徴とする。
テムは、ベースに入力電圧が印加されるバイポーラトラ
ンジスタと、電源間に前記バイポーラトランジスタと直
列に接続された第3抵抗と、前記バイポーラトランジス
タのベースと出力との間に接続された第1抵抗と、前記
バイポーラトランジスタと前記第3抵抗との接続点と前
記出力との間に接続された第2抵抗と、を備えることを
特徴とする。
【0010】この請求項1記載の構成によれば、バイポ
ーラトランジスタのベース・エミッタ間の温度特性と第
1抵抗及び第2抵抗の温度特性とを組み合わせる簡易な
構成により、任意の温度特性を出力電圧に与えることが
できる。従って、電圧制御発振器VCOなどの半導体集
積回路自体、あるいはこれを使用した装置全体の温度特
性を実質的になくすことができる。
ーラトランジスタのベース・エミッタ間の温度特性と第
1抵抗及び第2抵抗の温度特性とを組み合わせる簡易な
構成により、任意の温度特性を出力電圧に与えることが
できる。従って、電圧制御発振器VCOなどの半導体集
積回路自体、あるいはこれを使用した装置全体の温度特
性を実質的になくすことができる。
【0011】請求項2の温度補償システムは、ベースに
入力電圧が印加される入力用バイポーラトランジスタ
と、1又は直列接続された複数のダイオードあるいはダ
イオード接続バイポーラトランジスタと、電源間に、前
記入力用バイポーラトランジスタおよび前記1又は直列
接続された複数のダイオードあるいはダイオード接続バ
イポーラトランジスタとともに、直列に接続された第3
抵抗と、前記入力用バイポーラトランジスタのベースと
出力との間に接続された第1抵抗と、前記1又は直列接
続された複数のダイオードあるいはダイオード接続バイ
ポーラトランジスタと前記第3抵抗との接続点と前記出
力との間に接続された第2抵抗と、備えることを特徴と
する。
入力電圧が印加される入力用バイポーラトランジスタ
と、1又は直列接続された複数のダイオードあるいはダ
イオード接続バイポーラトランジスタと、電源間に、前
記入力用バイポーラトランジスタおよび前記1又は直列
接続された複数のダイオードあるいはダイオード接続バ
イポーラトランジスタとともに、直列に接続された第3
抵抗と、前記入力用バイポーラトランジスタのベースと
出力との間に接続された第1抵抗と、前記1又は直列接
続された複数のダイオードあるいはダイオード接続バイ
ポーラトランジスタと前記第3抵抗との接続点と前記出
力との間に接続された第2抵抗と、備えることを特徴と
する。
【0012】この請求項2記載の構成によれば、入力用
バイポーラトランジスタと直列にダイオードあるいはダ
イオード接続バイポーラトランジスタを接続しているこ
とにより、等価的に大きくされたバイポーラトランジス
タのベースエミッタ間電圧の温度特性と第1抵抗及び第
2抵抗の温度特性とを組み合わせることにより、より大
きい範囲での温度補償を行うことが可能となり、簡易な
構成で、広い範囲の任意の温度特性を出力電圧に与える
ことができる。従って、電圧制御発振器VCOなどの半
導体集積回路自体、あるいはこれを使用した装置全体の
温度特性を実質的になくすることができる。
バイポーラトランジスタと直列にダイオードあるいはダ
イオード接続バイポーラトランジスタを接続しているこ
とにより、等価的に大きくされたバイポーラトランジス
タのベースエミッタ間電圧の温度特性と第1抵抗及び第
2抵抗の温度特性とを組み合わせることにより、より大
きい範囲での温度補償を行うことが可能となり、簡易な
構成で、広い範囲の任意の温度特性を出力電圧に与える
ことができる。従って、電圧制御発振器VCOなどの半
導体集積回路自体、あるいはこれを使用した装置全体の
温度特性を実質的になくすることができる。
【0013】請求項3の温度補償システムは、請求項
1,2に記載された温度補償システムにおいて、第1抵
抗及び第2抵抗のいずれか一方あるいは双方の抵抗値を
可変としたことを特徴とする。
1,2に記載された温度補償システムにおいて、第1抵
抗及び第2抵抗のいずれか一方あるいは双方の抵抗値を
可変としたことを特徴とする。
【0014】この請求項3記載の構成によれば、請求項
1,2と同様の効果を奏すると共に、第1抵抗、第2抵
抗の抵抗値を可変としていることで、それぞれの抵抗に
よる温度特性の影響度を調整することができ、より適切
に補償電圧を設定することができる。
1,2と同様の効果を奏すると共に、第1抵抗、第2抵
抗の抵抗値を可変としていることで、それぞれの抵抗に
よる温度特性の影響度を調整することができ、より適切
に補償電圧を設定することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例について、
図面を参照して、説明する。
図面を参照して、説明する。
【0016】図1は、本発明の第1実施例に係る温度補
償システムの構成図を示すものである。図1において、
温度補償される半導体集積回路として、電圧制御発振器
VCOが示されている。この電圧制御発振器VCOは、
入力インピーダンスがZiであり、入力端子INに温度
補償された制御電圧が供給される。
償システムの構成図を示すものである。図1において、
温度補償される半導体集積回路として、電圧制御発振器
VCOが示されている。この電圧制御発振器VCOは、
入力インピーダンスがZiであり、入力端子INに温度
補償された制御電圧が供給される。
【0017】温度補償の回路は、電源VCCとアース間
にNPN型のバイポーラトランジスタTRと第3抵抗R
3とが直列接続され、このバイポーラトランジスタTR
のベースbと電圧制御発振器VCOの入力端子INとの
間に第1抵抗R1が接続され、またバイポーラトランジ
スタTRのエミッタeと電圧制御発振器VCOの入力端
子INとの間に第2抵抗R2が接続される。そして、バ
イポーラトランジスタTRのベースbに電圧可変直流電
源Bが接続され、電圧制御発振器VCOの制御電圧Vb
が印加されている。
にNPN型のバイポーラトランジスタTRと第3抵抗R
3とが直列接続され、このバイポーラトランジスタTR
のベースbと電圧制御発振器VCOの入力端子INとの
間に第1抵抗R1が接続され、またバイポーラトランジ
スタTRのエミッタeと電圧制御発振器VCOの入力端
子INとの間に第2抵抗R2が接続される。そして、バ
イポーラトランジスタTRのベースbに電圧可変直流電
源Bが接続され、電圧制御発振器VCOの制御電圧Vb
が印加されている。
【0018】この温度補償回路において、電圧制御発振
器VCOの入力端子INには、制御電圧Vbが第1抵抗
R1を介した第1経路と、制御電圧Vbがトランジスタ
TRのベースb−エミッタe及び第2抵抗R2を介した
第2経路の2つの経路で供給される。
器VCOの入力端子INには、制御電圧Vbが第1抵抗
R1を介した第1経路と、制御電圧Vbがトランジスタ
TRのベースb−エミッタe及び第2抵抗R2を介した
第2経路の2つの経路で供給される。
【0019】この場合、トランジスタTRのベースb−
エミッタeの電圧は、ダイオードの順方向電圧に相当す
る電圧であり、約−2mV/℃の温度特性を有している
から、前記第1経路では、第1抵抗R1の抵抗値とその
温度特性に依存した電圧が電圧制御発振器VCOの入力
端子INに与えられ、また前記第2経路では、トランジ
スタTRのベース・エミッタ間電圧Vbeの大きさとそ
の温度特性及び第2抵抗R2の抵抗値とその温度特性に
依存した電圧が電圧制御発振器VCOの入力端子INに
与えられ、これらが入力インピーダンスZiとの関係で
加算されて、電圧制御発振器VCOの温度補償された制
御電圧となる。
エミッタeの電圧は、ダイオードの順方向電圧に相当す
る電圧であり、約−2mV/℃の温度特性を有している
から、前記第1経路では、第1抵抗R1の抵抗値とその
温度特性に依存した電圧が電圧制御発振器VCOの入力
端子INに与えられ、また前記第2経路では、トランジ
スタTRのベース・エミッタ間電圧Vbeの大きさとそ
の温度特性及び第2抵抗R2の抵抗値とその温度特性に
依存した電圧が電圧制御発振器VCOの入力端子INに
与えられ、これらが入力インピーダンスZiとの関係で
加算されて、電圧制御発振器VCOの温度補償された制
御電圧となる。
【0020】そして、トランジスタTRのベース・エミ
ッタ間電圧Vbeの大きさとその温度特性はほぼ一定の
値(約0.6V、約−2mV/℃)を持っているから、
第1抵抗R1の抵抗値とその温度特性及び第2抵抗R2
の抵抗値とその温度特性を、補償しようとする電圧制御
発振器VCOの温度特性に合わせて設定し選択すること
により、可変直流電源Bからの制御電圧Vbに対する電
圧制御発振器VCOの温度特性を平坦な特性に補償する
ことができる。端的にいえば、第2抵抗R2の抵抗値を
小さくすればトランジスタTRのベース・エミッタ間電
圧Vbeの温度特性の影響が大きくなり、逆に第2抵抗
R2の抵抗値を大きくすればトランジスタTRのベース
・エミッタ間電圧Vbeの温度特性の影響は小さくな
る。また、電圧制御発振器VCOなどの単体の半導体集
積回路装置のみでなく、複数の回路装置、部品などを組
み合わせたシステムの温度特性に合わせて、この温度補
償回路の特性を設定することができる。
ッタ間電圧Vbeの大きさとその温度特性はほぼ一定の
値(約0.6V、約−2mV/℃)を持っているから、
第1抵抗R1の抵抗値とその温度特性及び第2抵抗R2
の抵抗値とその温度特性を、補償しようとする電圧制御
発振器VCOの温度特性に合わせて設定し選択すること
により、可変直流電源Bからの制御電圧Vbに対する電
圧制御発振器VCOの温度特性を平坦な特性に補償する
ことができる。端的にいえば、第2抵抗R2の抵抗値を
小さくすればトランジスタTRのベース・エミッタ間電
圧Vbeの温度特性の影響が大きくなり、逆に第2抵抗
R2の抵抗値を大きくすればトランジスタTRのベース
・エミッタ間電圧Vbeの温度特性の影響は小さくな
る。また、電圧制御発振器VCOなどの単体の半導体集
積回路装置のみでなく、複数の回路装置、部品などを組
み合わせたシステムの温度特性に合わせて、この温度補
償回路の特性を設定することができる。
【0021】この温度補償のために必要とされるトラン
ジスタTR、各抵抗R1〜R3は、通常市販されている
ものでよく、なんら特別な素子を必要としないから、簡
易に構成することができる。もちろんのことであるが、
これらの素子は集積回路装置の部品として作り込むこと
もできるし、またディスクリートな部品とすることもで
きる。
ジスタTR、各抵抗R1〜R3は、通常市販されている
ものでよく、なんら特別な素子を必要としないから、簡
易に構成することができる。もちろんのことであるが、
これらの素子は集積回路装置の部品として作り込むこと
もできるし、またディスクリートな部品とすることもで
きる。
【0022】また、補償しようとする電圧制御発振器V
COの温度特性が与えられたときに、トランジスタTR
のベース・エミッタ間電圧Vbeの大きさとその温度特
性はほぼ一定の値(約0.6V、約−2mV/℃)を持
っているから、これらの条件を前提として、第1〜第3
抵抗、特に第1抵抗R1及び第2抵抗R2を抵抗値可変
型の抵抗器としておき、その抵抗値を可変調整すること
により、電圧制御発振器VCOなどの温度補償される電
気装置の特性に合わせて、温度補償特性を設定すること
ができる。
COの温度特性が与えられたときに、トランジスタTR
のベース・エミッタ間電圧Vbeの大きさとその温度特
性はほぼ一定の値(約0.6V、約−2mV/℃)を持
っているから、これらの条件を前提として、第1〜第3
抵抗、特に第1抵抗R1及び第2抵抗R2を抵抗値可変
型の抵抗器としておき、その抵抗値を可変調整すること
により、電圧制御発振器VCOなどの温度補償される電
気装置の特性に合わせて、温度補償特性を設定すること
ができる。
【0023】図2は、本発明の第2実施例に係る温度補
償システムの構成図を示すものである。図2において、
図1と異なる点は、バイポーラトランジスタTRがPN
P型となっていることと、これに伴い回路配置が一部逆
になっていることである。その他の構成は図1における
と同様であり、対応する箇所には同じ符号を付してい
る。
償システムの構成図を示すものである。図2において、
図1と異なる点は、バイポーラトランジスタTRがPN
P型となっていることと、これに伴い回路配置が一部逆
になっていることである。その他の構成は図1における
と同様であり、対応する箇所には同じ符号を付してい
る。
【0024】この図2の実施例においては、図1におけ
ると同様の温度補償機能を果たすことができるが、バイ
ポーラトランジスタTRがPNP型とされていることに
より、温度補償電圧が図1におけるNPN型のトランジ
スタの場合と逆になる。従って、図1のようにNPN型
バイポーラトランジスタTRを用いた温度補償回路と図
2のようにPNP型バイポーラトランジスタTRを選択
して用いることで、より広い範囲の温度補償を行うこと
ができる。
ると同様の温度補償機能を果たすことができるが、バイ
ポーラトランジスタTRがPNP型とされていることに
より、温度補償電圧が図1におけるNPN型のトランジ
スタの場合と逆になる。従って、図1のようにNPN型
バイポーラトランジスタTRを用いた温度補償回路と図
2のようにPNP型バイポーラトランジスタTRを選択
して用いることで、より広い範囲の温度補償を行うこと
ができる。
【0025】図3は、本発明の第3実施例に係る温度補
償システムの構成図を示すものである。図3において、
図1と異なる点は、1ないし複数のNPN型バイポーラ
トランジスタTR1〜TRnを直列に接続し、この内の
第1のNPN型バイポーラトランジスタTR1のベース
bに制御電圧Vbを印加すると共に、他の直列接続され
たNPN型バイポーラトランジスタTR2〜TRnをそ
れぞれコレクタとベースとを接続してダイオード接続と
している。これに伴い、第3抵抗R3はダイオード接続
されたNPN型バイポーラトランジスタTR2〜TRn
とアース間に接続され、また第2抵抗R2はダイオード
接続されたNPN型バイポーラトランジスタTR2〜T
Rnと第3抵抗R3の接続点と電圧制御発振器VCOの
入力端子INとの間に接続される。その他の構成は図1
におけると同様であり、対応する箇所には同じ符号を付
している。
償システムの構成図を示すものである。図3において、
図1と異なる点は、1ないし複数のNPN型バイポーラ
トランジスタTR1〜TRnを直列に接続し、この内の
第1のNPN型バイポーラトランジスタTR1のベース
bに制御電圧Vbを印加すると共に、他の直列接続され
たNPN型バイポーラトランジスタTR2〜TRnをそ
れぞれコレクタとベースとを接続してダイオード接続と
している。これに伴い、第3抵抗R3はダイオード接続
されたNPN型バイポーラトランジスタTR2〜TRn
とアース間に接続され、また第2抵抗R2はダイオード
接続されたNPN型バイポーラトランジスタTR2〜T
Rnと第3抵抗R3の接続点と電圧制御発振器VCOの
入力端子INとの間に接続される。その他の構成は図1
におけると同様であり、対応する箇所には同じ符号を付
している。
【0026】この図3の実施例においては、図1におけ
ると同様の温度補償機能を果たすことができる。さら
に、ベースに入力電圧Vbが印加される入力用バイポー
ラトランジスタと直列に複数(n個)のダイオード接続
バイポーラトランジスタを接続しているから、第2抵抗
R2と入力電圧Vbとの間には、電圧値で約0.6×n
(V)、温度補償電圧で約−2×n(mV/℃)が得ら
れる。これにより、図1,図2の場合と比較してより大
きな範囲での温度補償を行うことができる。
ると同様の温度補償機能を果たすことができる。さら
に、ベースに入力電圧Vbが印加される入力用バイポー
ラトランジスタと直列に複数(n個)のダイオード接続
バイポーラトランジスタを接続しているから、第2抵抗
R2と入力電圧Vbとの間には、電圧値で約0.6×n
(V)、温度補償電圧で約−2×n(mV/℃)が得ら
れる。これにより、図1,図2の場合と比較してより大
きな範囲での温度補償を行うことができる。
【0027】図4は、本発明の第4実施例に係る温度補
償システムの構成図を示すものである。図4において、
図2と異なる点は、1〜複数のPNP型バイポーラトラ
ンジスタTR1〜TRnを直列に接続し、この内の第1
のPNP型バイポーラトランジスタTR1のベースbに
制御電圧Vbを印加すると共に、他の直列接続されたN
PN型バイポーラトランジスタTR2〜TRnをそれぞ
れコレクタとベースとを接続してダイオード接続として
いる。これに伴い、第3抵抗R3はダイオード接続され
たNPN型バイポーラトランジスタTR2〜TRnと電
源VCC間に接続され、また第2抵抗R2はダイオード
接続されたPNP型バイポーラトランジスタTR2〜T
Rnと第3抵抗R3の接続点と電圧制御発振器VCOの
入力端子INとの間に接続される。その他の構成は図2
におけると同様であり、対応する箇所には同じ符号を付
している。
償システムの構成図を示すものである。図4において、
図2と異なる点は、1〜複数のPNP型バイポーラトラ
ンジスタTR1〜TRnを直列に接続し、この内の第1
のPNP型バイポーラトランジスタTR1のベースbに
制御電圧Vbを印加すると共に、他の直列接続されたN
PN型バイポーラトランジスタTR2〜TRnをそれぞ
れコレクタとベースとを接続してダイオード接続として
いる。これに伴い、第3抵抗R3はダイオード接続され
たNPN型バイポーラトランジスタTR2〜TRnと電
源VCC間に接続され、また第2抵抗R2はダイオード
接続されたPNP型バイポーラトランジスタTR2〜T
Rnと第3抵抗R3の接続点と電圧制御発振器VCOの
入力端子INとの間に接続される。その他の構成は図2
におけると同様であり、対応する箇所には同じ符号を付
している。
【0028】この図4の実施例においては、図2におけ
ると同様の温度補償機能を果たすことができる。さら
に、図3における実施例と同様に、ベースに入力電圧V
bが印加される入力用バイポーラトランジスタと直列に
複数のダイオード接続バイポーラトランジスタを接続し
ているから、第2抵抗R2と入力電圧Vbとの間には、
電圧値で約0.6×n(V)、温度補償電圧で約−2×
n(mV/℃)が得られるから、図1,図2の場合と比
較してより大きな範囲での温度補償を行うことができ
る。
ると同様の温度補償機能を果たすことができる。さら
に、図3における実施例と同様に、ベースに入力電圧V
bが印加される入力用バイポーラトランジスタと直列に
複数のダイオード接続バイポーラトランジスタを接続し
ているから、第2抵抗R2と入力電圧Vbとの間には、
電圧値で約0.6×n(V)、温度補償電圧で約−2×
n(mV/℃)が得られるから、図1,図2の場合と比
較してより大きな範囲での温度補償を行うことができ
る。
【0029】この図4の実施例においては、大きな範囲
での温度補償を行うことができるが、バイポーラトラン
ジスタTR1〜TRnがPNP型とされていることによ
り、温度補償電圧が図3におけるNPN型のトランジス
タの場合と逆になる。従って、図3のようにNPN型バ
イポーラトランジスタTR1〜TRnを用いた温度補償
回路と図4のようにPNP型バイポーラトランジスタT
R1〜TRnを選択して用いることで、さらにより広い
範囲の温度補償を行うことができる。
での温度補償を行うことができるが、バイポーラトラン
ジスタTR1〜TRnがPNP型とされていることによ
り、温度補償電圧が図3におけるNPN型のトランジス
タの場合と逆になる。従って、図3のようにNPN型バ
イポーラトランジスタTR1〜TRnを用いた温度補償
回路と図4のようにPNP型バイポーラトランジスタT
R1〜TRnを選択して用いることで、さらにより広い
範囲の温度補償を行うことができる。
【0030】なお、図3及び図4の実施例において、ダ
イオード接続バイポーラトランジスタTR2〜TRnは
ダイオードとして用いられるものであるから、当然のこ
とであるがダイオードに置き換えることができるし、ま
た図3におけるダイオード接続バイポーラトランジスタ
TR2〜TRnをPNP型のものとすること、あるいは
図4におけるダイオード接続バイポーラトランジスタT
R2〜TRnをNPN型のものとすることもできる。
イオード接続バイポーラトランジスタTR2〜TRnは
ダイオードとして用いられるものであるから、当然のこ
とであるがダイオードに置き換えることができるし、ま
た図3におけるダイオード接続バイポーラトランジスタ
TR2〜TRnをPNP型のものとすること、あるいは
図4におけるダイオード接続バイポーラトランジスタT
R2〜TRnをNPN型のものとすることもできる。
【0031】図5〜図8は、前述した図1〜図4におけ
る実施例での変形例を示すものである。すなわち、前述
した図1〜図4における実施例では、第1抵抗R1,第
2抵抗R2を抵抗値可変型抵抗器として、その抵抗値を
可変調整することにより、電圧制御発振器VCOなどの
温度補償される対象となる電気装置の特性に合わせて、
温度補償特性を設定することができる。そして、温度補
償される対象となる電気装置に要求される温度補償の精
度、これら各抵抗器R1,R2の温度補償への影響度な
どを考慮すると、一部の抵抗器を省略することができ
る。
る実施例での変形例を示すものである。すなわち、前述
した図1〜図4における実施例では、第1抵抗R1,第
2抵抗R2を抵抗値可変型抵抗器として、その抵抗値を
可変調整することにより、電圧制御発振器VCOなどの
温度補償される対象となる電気装置の特性に合わせて、
温度補償特性を設定することができる。そして、温度補
償される対象となる電気装置に要求される温度補償の精
度、これら各抵抗器R1,R2の温度補償への影響度な
どを考慮すると、一部の抵抗器を省略することができ
る。
【0032】例えば、図5、図6は、それぞれ図1,図
2において、第1抵抗R1を無限大の抵抗値として、省
略したものを示している。また図7,図8はそれぞれ図
3,図4において、第1抵抗R1を無限大の抵抗値とし
て省略し、かつ第2抵抗R2を抵抗値ゼロとして省略し
たものである。このように各種の条件を考慮すれば、一
部の抵抗器を省略することが可能である。
2において、第1抵抗R1を無限大の抵抗値として、省
略したものを示している。また図7,図8はそれぞれ図
3,図4において、第1抵抗R1を無限大の抵抗値とし
て省略し、かつ第2抵抗R2を抵抗値ゼロとして省略し
たものである。このように各種の条件を考慮すれば、一
部の抵抗器を省略することが可能である。
【0033】次に、本発明の適用例を図10(a)、
(b)に示す。なお、図9(a)、(b)は対比のため
に示す参考図である。
(b)に示す。なお、図9(a)、(b)は対比のため
に示す参考図である。
【0034】図9(a)は、ディジタル・ビデオ・カセ
ットレコーダ(DVC)のデータに追従するデータロッ
ク電圧制御発振器VCOの制御回路を示すものである。
この図において、電圧制御発振器VCOはフリーランニ
ング発振周波数を定める直流電圧が制御端子Vに供給さ
れている。これは電源電圧VCCと制御電源Bとの電圧
を抵抗器(1.8kΩ、15kΩ)で分圧した電圧が供
給され、この電圧値は例えば41.85MHzで発振す
るように制御電源Bの調整により制御される。そして、
信号電圧Sが入力端子INに供給される。この構成によ
り、制御端子Vに与えられる電圧に応じた周波数(4
1.85MHz)を中心とし、入力端子INに印加され
る信号電圧に応じて変化した発振周波数が出力端子OU
Tから出力される。
ットレコーダ(DVC)のデータに追従するデータロッ
ク電圧制御発振器VCOの制御回路を示すものである。
この図において、電圧制御発振器VCOはフリーランニ
ング発振周波数を定める直流電圧が制御端子Vに供給さ
れている。これは電源電圧VCCと制御電源Bとの電圧
を抵抗器(1.8kΩ、15kΩ)で分圧した電圧が供
給され、この電圧値は例えば41.85MHzで発振す
るように制御電源Bの調整により制御される。そして、
信号電圧Sが入力端子INに供給される。この構成によ
り、制御端子Vに与えられる電圧に応じた周波数(4
1.85MHz)を中心とし、入力端子INに印加され
る信号電圧に応じて変化した発振周波数が出力端子OU
Tから出力される。
【0035】この電圧制御発振器VCOは、汎用品であ
る面実装小型の集積回路装置のものが採用されており、
システム的には良好な特性を示している。しかし、その
温度特性は悪く、図9(b)に示されるように周囲温度
の上昇と共に発振周波数が急激に低下する傾向がある。
る面実装小型の集積回路装置のものが採用されており、
システム的には良好な特性を示している。しかし、その
温度特性は悪く、図9(b)に示されるように周囲温度
の上昇と共に発振周波数が急激に低下する傾向がある。
【0036】この汎用品の電圧制御発振器VCOに対
し、本発明の温度補償回路、具体的にはNPN型バイポ
ーラトランジスタTR、第2抵抗R2、第3抵抗R3か
らなる、図1の実施例の温度補償回路を適用した。その
結果、図10(b)の特性図に示されるように、出力周
波数の温度特性を平坦にすることができた。
し、本発明の温度補償回路、具体的にはNPN型バイポ
ーラトランジスタTR、第2抵抗R2、第3抵抗R3か
らなる、図1の実施例の温度補償回路を適用した。その
結果、図10(b)の特性図に示されるように、出力周
波数の温度特性を平坦にすることができた。
【0037】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、バイポー
ラトランジスタのベースエミッタ間の温度特性と第1抵
抗及び第2抵抗の温度特性とを組み合わせる簡易な構成
により、任意の温度特性を出力電圧に与えることができ
る。従って、電圧制御発振器VCOなどの半導体集積回
路自体、あるいはこれを使用した装置全体の温度特性を
実質的になくすることができる。
ラトランジスタのベースエミッタ間の温度特性と第1抵
抗及び第2抵抗の温度特性とを組み合わせる簡易な構成
により、任意の温度特性を出力電圧に与えることができ
る。従って、電圧制御発振器VCOなどの半導体集積回
路自体、あるいはこれを使用した装置全体の温度特性を
実質的になくすることができる。
【0038】請求項2記載の発明によれば、入力用バイ
ポーラトランジスタと直列にダイオードあるいはダイオ
ード接続バイポーラトランジスタを接続していることに
より、等価的に大きくされたバイポーラトランジスタの
ベースエミッタ間電圧の温度特性と第1抵抗及び第2抵
抗の温度特性とを組み合わせることにより、より大きい
範囲での温度補償を行うことが可能となり、簡易な構成
で、広い範囲の任意の温度特性を出力電圧に与えること
ができる。従って、電圧制御発振器VCOなどの半導体
集積回路自体、あるいはこれを使用した装置全体の温度
特性を実質的になくすることができる。
ポーラトランジスタと直列にダイオードあるいはダイオ
ード接続バイポーラトランジスタを接続していることに
より、等価的に大きくされたバイポーラトランジスタの
ベースエミッタ間電圧の温度特性と第1抵抗及び第2抵
抗の温度特性とを組み合わせることにより、より大きい
範囲での温度補償を行うことが可能となり、簡易な構成
で、広い範囲の任意の温度特性を出力電圧に与えること
ができる。従って、電圧制御発振器VCOなどの半導体
集積回路自体、あるいはこれを使用した装置全体の温度
特性を実質的になくすることができる。
【0039】請求項3記載の発明によれば、請求項1,
2と同様の効果を奏すると共に、第1抵抗、第2抵抗の
抵抗値を可変としていることで、それぞれの抵抗による
温度特性の影響度を調整することができ、より適切に補
償電圧を設定することができる。
2と同様の効果を奏すると共に、第1抵抗、第2抵抗の
抵抗値を可変としていることで、それぞれの抵抗による
温度特性の影響度を調整することができ、より適切に補
償電圧を設定することができる。
【図1】本発明の第1実施例に係る温度補償システムの
構成図。
構成図。
【図2】本発明の第2実施例に係る温度補償システムの
構成図。
構成図。
【図3】本発明の第3実施例に係る温度補償システムの
構成図。
構成図。
【図4】本発明の第4実施例に係る温度補償システムの
構成図。
構成図。
【図5】本発明の第1実施例に係る温度補償システムの
変形例。
変形例。
【図6】本発明の第2実施例に係る温度補償システムの
変形例。
変形例。
【図7】本発明の第3実施例に係る温度補償システムの
変形例。
変形例。
【図8】本発明の第4実施例に係る温度補償システムの
変形例。
変形例。
【図9】対比のために示す参考図。
【図10】本発明の適用例を示す図。
【図11】従来の電圧制御発振器の構成図。
VCO 電圧制御発振器 R1 第1抵抗 R2 第2抵抗 R3 第3抵抗 TR バイポーラトランジスタ B 制御電源
Claims (3)
- 【請求項1】 ベースに入力電圧が印加されるバイポー
ラトランジスタと、 電源間に前記バイポーラトランジスタと直列に接続され
た第3抵抗と、 前記バイポーラトランジスタのベースと出力との間に接
続された第1抵抗と、 前記バイポーラトランジスタと前記第3抵抗との接続点
と前記出力との間に接続された第2抵抗と、 を備えることを特徴とする温度補償システム。 - 【請求項2】 ベースに入力電圧が印加される入力用バ
イポーラトランジスタと、 1又は直列接続された複数のダイオードあるいはダイオ
ード接続バイポーラトランジスタと、 電源間に、前記入力用バイポーラトランジスタおよび前
記1又は直列接続された複数のダイオードあるいはダイ
オード接続バイポーラトランジスタとともに、直列に接
続された第3抵抗と、 前記入力用バイポーラトランジスタのベースと出力との
間に接続された第1抵抗と、 前記1又は直列接続された複数のダイオードあるいはダ
イオード接続バイポーラトランジスタと前記第3抵抗と
の接続点と前記出力との間に接続された第2抵抗と、 備えることを特徴とする温度補償システム。 - 【請求項3】 請求項1,2に記載された温度補償シス
テムにおいて、第1抵抗及び第2抵抗のいずれか一方あ
るいは双方の抵抗値を可変としたことを特徴とする温度
補償システム。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11144298A JP2000332600A (ja) | 1999-05-25 | 1999-05-25 | 温度補償システム |
| US09/577,739 US6407616B1 (en) | 1999-05-25 | 2000-05-23 | Temperature compensation circuit for an electronic device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11144298A JP2000332600A (ja) | 1999-05-25 | 1999-05-25 | 温度補償システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000332600A true JP2000332600A (ja) | 2000-11-30 |
Family
ID=15358824
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11144298A Withdrawn JP2000332600A (ja) | 1999-05-25 | 1999-05-25 | 温度補償システム |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6407616B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000332600A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013187716A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-09-19 | Fuji Electric Co Ltd | 電圧制御発振器 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20080018482A1 (en) * | 2006-07-11 | 2008-01-24 | Chi-Kun Chiu | Temperature sensing apparatus utilizing bipolar junction transistor, and related method |
| CN106094962A (zh) * | 2016-06-29 | 2016-11-09 | 电子科技大学 | 一种温度补偿电路 |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3701004A (en) * | 1971-05-13 | 1972-10-24 | Us Army | Circuit for generating a repeatable voltage as a function of temperature |
| US3715609A (en) * | 1971-08-17 | 1973-02-06 | Tektronix Inc | Temperature compensation of voltage controlled resistor |
| US4030023A (en) * | 1976-05-25 | 1977-06-14 | Rockwell International Corporation | Temperature compensated constant voltage apparatus |
| US4348633A (en) * | 1981-06-22 | 1982-09-07 | Motorola, Inc. | Bandgap voltage regulator having low output impedance and wide bandwidth |
| US4727269A (en) * | 1985-08-15 | 1988-02-23 | Fairchild Camera & Instrument Corporation | Temperature compensated sense amplifier |
| US4749889A (en) * | 1986-11-20 | 1988-06-07 | Rca Licensing Corporation | Temperature compensation apparatus |
| JPH02191012A (ja) * | 1989-01-20 | 1990-07-26 | Nec Corp | 電圧発生回路 |
| JP2588789B2 (ja) * | 1990-06-20 | 1997-03-12 | 国際電気株式会社 | 温度補償型レベル検出器 |
-
1999
- 1999-05-25 JP JP11144298A patent/JP2000332600A/ja not_active Withdrawn
-
2000
- 2000-05-23 US US09/577,739 patent/US6407616B1/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013187716A (ja) * | 2012-03-07 | 2013-09-19 | Fuji Electric Co Ltd | 電圧制御発振器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US6407616B1 (en) | 2002-06-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050425 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20070404 |