JP2000339193A

JP2000339193A - テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテストケース生成プログラムを記録した媒体

Info

Publication number: JP2000339193A
Application number: JP11150035A
Authority: JP
Inventors: Kazuo Tamakashiwa; 和男玉柏
Original assignee: Sharp Corp
Current assignee: Sharp Corp
Priority date: 1999-05-28
Filing date: 1999-05-28
Publication date: 2000-12-08

Abstract

(57)【要約】【課題】操作者が内部条件を設定する操作を知らなく
ても、テストを行なうことが可能なテストケースを生成
するテストケース生成装置を提供すること。【解決手段】テストケース生成装置は、対象となる機
器の内部条件に応じて次の状態に遷移する形式の操作仕
様を入力する操作仕様入力部２１と、対象となる機器内
部の初期条件を入力する初期条件入力部２２と、操作仕
様入力部２１によって入力された操作仕様および初期条
件入力部２２によって入力された初期条件から、イベン
トによって次の状態に遷移する形式の操作仕様に変換す
る操作仕様変換部２３と、操作仕様変換部２３によって
変換された操作仕様からテストケースを生成して出力す
るテストケース出力部２４とを含む。作成された操作仕
様は、イベントによって次の状態に遷移する形式の操作
仕様であるので、操作者が内部条件を設定する操作を知
らなくてもテストを行なうことが可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、家電機器や情報処
理装置等の電子機器のテストケースを自動生成する技術
に関し、特に、入出力装置を備えた機器の操作仕様書お
よび内部条件の初期値からテストケースを自動生成する
テストケース生成装置、テストケース生成方法およびテ
ストケース生成プログラムを記録した媒体に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、家電機器や情報処理装置等の電子
機器の高機能化および多機能化が進み、その電子機器の
操作仕様は複雑化および大規模化しつつある。これら電
子機器の品質を保証するためには、出荷時において、想
定し得る操作手順を全て網羅するテストケースを生成
し、そのテストケースに基づいてテストを行なうことに
より全ての機能が正常に動作することを確認することが
必要とされる。

【０００３】テストケースを作成する第１の方法とし
て、操作者がテストケースを作成する電子機器を実際に
操作し、その操作履歴を記憶する方法がある。操作者が
マウスやキーボードによって電子機器を操作する際その
操作手順を順次記録しておき、この記録された操作履歴
を再実行させることによって、電子機器のテストが行な
われる。しかし、この方法によって全てのテストケース
を作成するためには、予め全ての操作手順を決めてお
き、操作者がその操作手順に従って操作を行なう必要が
あるため、漏れのないテストケースを作成するのが困難
であるという問題点があった。

【０００４】この問題点を解決する方法として、状態遷
移仕様情報等からテストケースを自動生成する方法があ
る。特開平９−２２３０４０号公報に開示された発明
は、ソフトウェアのシステムテスト支援装置に関するも
のである。このシステムテスト支援装置には、ユーザに
よって定義される構造仕様ファイル、状態遷移仕様ファ
イルおよび個別状態遷移ファイルに従ってテストシナリ
オを生成するテストシナリオ生成手段が設けられ、状態
遷移仕様ファイルを用いてソフトウェアのＧＵＩ（Grap
hical User Interface）部が有する全ての状態と全て
の状態遷移とを網羅するために必要なテストシナリオを
生成する。このようにして、利用者がソフトウェアの仕
様情報を定義するだけでテストシナリオが自動的に生成
され、予め人手によりマウスやキーボード等を実際に操
作して、操作履歴を記録する必要がなくなる。

【０００５】しかし、特開平９−２２３０４０号公報に
開示された発明によれば、たとえば、ＧＵＩ部品の属性
が異なれば別の状態となるため状態遷移仕様を詳細に定
義する必要があり、状態数の多い製品レベルの操作仕様
を作成する場合には不向きである。また、製品の操作仕
様を記述する際、設計の初期段階からＧＵＩ部品の属性
や内部条件の違いを考慮して状態遷移が定義された操作
仕様を記述することは困難である。

【０００６】また、一般的に操作仕様が作成される際、
まず概略の操作仕様が記述され、そして段階的に設計が
詳細化されてゆく。そのため、状態遷移表によって操作
仕様が記述される際、画面に現れるＧＵＩ部品の属性が
異なれば別の状態であるとして細かく状態を分けて設計
するよりも、ある程度機能的にまとまった単位を1状態
とし、同じイベントが与えられても内部条件に応じて次
に遷移する状態が変わるような記述ができれば、操作仕
様の記述が容易となる。このような記述が可能なツール
も市販されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】上述したように、同じ
イベントが与えられても内部条件に応じて次に遷移する
状態が変わるように記述された操作仕様書からテストケ
ースを生成する方法として、たとえば、操作仕様書の状
態遷移をグラフ化し、このグラフ上で全ての状態遷移を
網羅するパスを検出してテストケースを生成する方法を
挙げることができる。しかし、この方法においては、テ
スト担当者自身が内部条件を満足させるための操作手順
自体を知らなければテストを行なうことができないとい
う問題点があった。また、このテストケースは、イベン
トを与えれば次の状態に遷移する形式のものではないの
で、テストを自動化することができないという問題点も
あった。

【０００８】本発明は、上記問題点を解決するためにな
されたものであり、第１の目的は、操作者が内部条件を
設定する操作を知らなくてもテストが行なえるテストケ
ース生成装置を提供することである。

【０００９】第２の目的は、テストの自動化が可能なテ
ストケースを生成できるテストケース生成装置を提供す
ることである。

【００１０】第３の目的は、操作者が内部条件を設定す
る操作を知らなくてもテストが行なえるテストケース生
成方法を提供することである。

【００１１】第４の目的は、テストの自動化が可能なテ
ストケースを生成できるテストケース生成方法を提供す
ることである。

【００１２】第５の目的は、操作者が内部条件を設定す
る操作を知らなくてもテストを行なえるテストケース生
成プログラムを記録した媒体を提供することである。

【００１３】第６の目的は、テストの自動化が可能なテ
ストケースを生成できるテストケース生成プログラムを
記録した媒体を提供することである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載のテスト
ケース生成装置は、対象となる機器の内部条件に応じて
次の状態に遷移する形式の操作仕様を入力するための操
作仕様入力手段と、対象となる機器内部の初期条件を入
力するための初期条件入力手段と、操作仕様入力手段に
よって入力された操作仕様および初期条件入力手段によ
って入力された初期条件から、イベントによって次の状
態に遷移する形式の操作仕様に変換するための操作仕様
変換手段と、操作仕様変換手段によって変換された操作
仕様からテストケースを生成して出力するためのテスト
ケース出力手段とを含む。

【００１５】操作仕様変換手段は、操作仕様入力手段に
よって入力された操作仕様および初期条件入力手段によ
って入力された初期条件から、イベントによって次の状
態に遷移する形式の操作仕様に変換するので、操作者が
内部条件を設定する操作を知らなくてもテストを行なう
ことが可能となる。また、イベントによって次の状態に
遷移する形式の操作仕様であるので、テストの自動化が
可能となる。

【００１６】請求項２に記載のテストケース生成装置
は、請求項１記載のテストケース生成装置であって、操
作仕様変換手段は操作仕様入力手段によって入力された
操作仕様からグラフを生成するためのグラフ生成手段
と、初期条件入力手段によって入力された初期条件に基
づいて、グラフ生成手段によって生成されたグラフ内の
状態が分割されたグラフを生成するための状態分割手段
と、状態分割手段によって生成されたグラフに対して、
始点となる状態から終点となる状態へ遷移する辺が割り
当てられたグラフを生成するための辺割当手段と、辺割
当手段によって生成されたグラフにおいて、初期状態か
ら到達不能な状態および到達不能な状態から遷移する辺
を削除したグラフを生成するための第１の削除手段と、
第１の削除手段によって削除が行なわれた後のグラフ上
で全ての状態を含み、かつ自己ループを含まないパスを
検索するための第１の検索手段とを含む。

【００１７】第１の検索手段は、第１の削除手段によっ
て削除が行なわれた後のグラフ上で全ての状態を含み、
かつ自己ループを含まないパスを検索するので、テスト
ケース出力手段はそのパスに基づいてテストケースを生
成することが可能となる。

【００１８】請求項３に記載のテストケース生成装置
は、請求項２記載のテストケース生成装置であって、操
作仕様変換手段はさらに第１の削除手段によって削除が
行なわれた後のグラフ上で、第１の検索手段によって検
索されたパス内の辺と同じ辺を削除し、第１の検索手段
によって検索されたパス内にない辺のうち同じ辺のいず
れか１つを残して他の辺を削除したグラフを生成するた
めの第２の削除手段と、第２の削除手段によって生成さ
れたグラフ上で、第１の検索手段によって検索されたパ
スを通過しない辺を通過するパスを検索するための第２
の検索手段とを含む。

【００１９】第２の検索手段は、第２の削除手段によっ
て生成されたグラフ上で、第１の検索手段によって検索
されたパスを通過しない辺を通過するパスを検索するの
で、漏れのないテストケースを生成することが可能とな
る。

【００２０】請求項４に記載のテストケース生成装置
は、請求項２または３記載のテストケース生成装置であ
って、状態分割手段は初期条件入力手段によって入力さ
れた初期条件に存在する条件をラベル中に有する辺と接
続する状態を分割し、初期条件に存在する条件を設定す
る処理を有する辺と接続する状態を分割する。

【００２１】状態分割手段は、初期条件入力手段によっ
て入力された初期条件に存在する条件をラベル中に有す
る辺と接続する状態を分割し、初期条件に存在する条件
を設定する処理を有する辺と接続する状態を分割するの
で、状態数の増加を抑えることができ、テストケース生
成に要する時間を削減することが可能となる。

【００２２】請求項５に記載のテストケース生成方法
は、対象となる機器の内部条件に応じて次の状態に遷移
する形式の操作仕様を入力するステップと、対象となる
機器内部の初期条件を入力するステップと、入力された
操作仕様および入力された初期条件から、イベントによ
って次の状態に遷移する形式の操作仕様に変換するステ
ップと、変換された操作仕様からテストケースを生成し
て出力するステップとを含む。

【００２３】入力された操作仕様および初期条件から、
イベントによって次の状態に遷移する形式の操作仕様に
変換するので、操作者が内部条件を設定する操作を知ら
なくてもテストを行なうことが可能となる。また、イベ
ントによって次の状態に遷移する形式の操作仕様である
ので、テストの自動化が可能となる。

【００２４】請求項６に記載のテストケース生成方法
は、請求項５記載のテストケース生成方法であって、操
作仕様を変換するステップは、入力された操作仕様から
第１のグラフを生成するステップと、入力された初期条
件に基づいて、生成された第１のグラフ内の状態が分割
された第２のグラフを生成するステップと、生成された
第２のグラフに対して、始点となる状態から終点となる
状態へ遷移する辺が割り当てられた第３のグラフを生成
するステップと、生成された第３のグラフにおいて、初
期状態から到達不能な状態および該到達不能な状態から
遷移する辺を削除した第４のグラフを生成するステップ
と、第４のグラフ上で全ての状態を含み、かつ自己ルー
プを含まないパスを検索するステップとを含む。

【００２５】第４のグラフ上で全ての状態を含み、かつ
自己ループを含まないパスを検索するので、そのパスに
基づいてテストケースを生成することが可能となる。

【００２６】請求項７に記載のテストケース生成方法
は、請求項６記載のテストケース生成方法であって、操
作仕様を変換するステップはさらに第４のグラフ上で、
検索されたパス内の辺と同じ辺を削除し、検索されたパ
ス内にない辺のうち同じ辺のいずれか１つを残して他の
辺を削除した第５のグラフを生成するステップと、第５
のグラフ上で、検索されたパスを通過しない辺を通過す
るパスを検索するステップとを含む。

【００２７】第４のグラフ上で、検索されたパスを通過
しない辺を通過するパスを検索するので、漏れのないテ
ストケースを生成することが可能となる。

【００２８】請求項８に記載のテストケース生成方法
は、請求項６または７記載のテストケース生成方法であ
って、第２のグラフを生成するステップは入力された初
期条件に存在する条件をラベル中に有する辺と接続する
状態を分割し、初期条件に存在する条件を設定する処理
を有する辺と接続する状態を分割するステップを含む。

【００２９】入力された初期条件に存在する条件をラベ
ル中に有する辺と接続する状態を分割し、初期条件に存
在する条件を設定する処理を有する辺と接続する状態を
分割するので、状態数の増加を抑えることができ、テス
トケース生成に要する時間を削減することが可能とな
る。

【００３０】請求項９に記載の媒体に記録されたテスト
ケース生成プログラムは、対象となる機器の内部条件に
応じて次の状態に遷移する形式の操作仕様を入力するス
テップと、対象となる機器内部の初期条件を入力するス
テップと、入力された操作仕様および入力された初期条
件から、イベントによって次の状態に遷移する形式の操
作仕様に変換するステップと、変換された操作仕様から
テストケースを生成して出力するステップとを含む。

【００３１】入力された操作仕様および初期条件から、
イベントによって次の状態に遷移する形式の操作仕様に
変換するので、操作者が内部条件を設定する操作を知ら
なくてもテストを行なうことが可能となる。また、イベ
ントによって次の状態に遷移する形式の操作仕様である
ので、テストの自動化が可能となる。

【００３２】請求項１０に記載の媒体に記録されたテス
トケース生成プログラムは、請求項９記載のテストケー
ス生成プログラムであって、操作仕様を変換するステッ
プは、入力された操作仕様から第１のグラフを生成する
ステップと、入力された初期条件に基づいて、生成され
た第１のグラフ内の状態が分割された第２のグラフを生
成するステップと、生成された第２のグラフに対して、
始点となる状態から終点となる状態へ遷移する辺が割り
当てられた第３のグラフを生成するステップと、生成さ
れた第３のグラフにおいて、初期状態から到達不能な状
態および該到達不能な状態から遷移する辺を削除した第
４のグラフを生成するステップと、第４のグラフ上で全
ての状態を含み、かつ自己ループを含まないパスを検索
するステップとを含む。

【００３３】第４のグラフ上で全ての状態を含み、かつ
自己ループを含まないパスを検索するので、そのパスに
基づいてテストケースを生成することが可能となる。

【００３４】請求項１１に記載の媒体に記録されたテス
トケース生成プログラムは、請求項１０記載のテストケ
ース生成プログラムであって、操作仕様を変換するステ
ップはさらに第４のグラフ上で、検索されたパス内の辺
と同じ辺を削除し、検索されたパス内にない辺のうち同
じ辺のいずれか１つを残して他の辺を削除した第５のグ
ラフを生成するステップと、第５のグラフ上で、前記検
索されたパスを通過しない辺を通過するパスを検索する
ステップとを含む。

【００３５】第４のグラフ上で、検索されたパスを通過
しない辺を通過するパスを検索するので、漏れのないテ
ストケースを生成することが可能となる。

【００３６】請求項１２に記載の媒体に記録されたテス
トケース生成プログラムは、請求項１０または１１記載
のテストケース生成プログラムであって、第２のグラフ
を生成するステップは、入力された初期条件に存在する
条件をラベル中に有する辺と接続する状態を分割し、初
期条件に存在する条件を設定する処理を有する辺と接続
する状態を分割するステップを含む。

【００３７】入力された初期条件に存在する条件をラベ
ル中に有する辺と接続する状態を分割し、初期条件に存
在する条件を設定する処理を有する辺と接続する状態を
分割するので、状態数の増加を抑えることができ、テス
トケース生成に要する時間を削減することが可能とな
る。

【００３８】

【発明の実施の形態】図１は、本発明のテストケース生
成装置の外観例を示す図である。テストケース生成装置
は、コンピュータ本体１、グラフィックディスプレイ装
置２、磁気テープ４が装着される磁気テープ装置３、キ
ーボード５、マウス６、ＣＤ−ＲＯＭ（Compact Disc-
Read Only Memory）８が装着されるＣＤ−ＲＯＭ装置
７、および通信モデム９を含む。テストケース生成プロ
グラムは、磁気テープ４またはＣＤ―ＲＯＭ８等の記憶
媒体によって供給される。テストケース生成プログラム
はコンピュータ本体１によって実行され、操作者はグラ
フィックディスプレイ装置２を見ながらキーボード５ま
たはマウス６を操作することによってテストケースの生
成を行う。また、テストケース生成プログラムは他のコ
ンピュータより通信回線を経由し、通信モデム９を介し
てコンピュータ本体１に供給されてもよい。

【００３９】図２は、本発明のテストケース生成装置の
構成例を示すブロック図である。図１に示すコンピュー
タ本体１は、ＣＰＵ１０、ＲＯＭ（Read Only Memor
y)１１、ＲＡＭ（Random Access Memory）１２および
ハードディスク１３を含む。ＣＰＵ１０は、グラフィッ
クディスプレイ装置２、磁気テープ装置３、キーボード
５、マウス６、ＣＤ−ＲＯＭ装置７、通信モデム９、Ｒ
ＯＭ１１、ＲＡＭ１２またはハードディスク１３との間
でデータを入出力しながら処理を行う。磁気テープ４ま
たはＣＤ−ＲＯＭ８に記録されたテストケース生成プロ
グラムは、ＣＰＵ１０により磁気テープ装置３またはＣ
Ｄ−ＲＯＭ装置７を介して一旦ハードディスク１３に格
納される。ＣＰＵ１０は、ハードディスク１３から適宜
テストケース生成プログラムをＲＡＭ１２にロードして
実行することによってテストケースの生成を行う。

【００４０】図３は、本実施の形態におけるテストケー
ス生成装置の概略構成を示すブロック図である。このテ
ストケース生成装置は、同じイベントであっても内部条
件に応じて複数の状態遷移先を記述可能な操作仕様が入
力される操作仕様入力部２１と、内部変数値等の初期条
件が入力される初期条件入力部２２と、操作仕様入力部
２１に入力された操作仕様および初期条件入力部２２に
入力された初期条件から、操作仕様をイベントのみで次
状態に遷移する形式に変換する操作仕様変換部２３と、
操作仕様変換部２３によって変換された操作仕様からテ
ストケースを生成して出力するテストケース出力部２４
とを含む。

【００４１】図４は、本実施の形態におけるテストケー
ス生成装置の処理手順を説明するためのフローチャート
である。まず、操作仕様入力部２１によって操作仕様書
が入力され、初期条件入力部２２によって初期条件設定
表が入力される（Ｓ１）。

【００４２】図５は、操作仕様入力部２１に入力される
操作仕様書の一例を示す図である。この操作仕様書は、
たとえば、テキストファイル等の機械的に読み取り可能
な形式で記述されている。この操作仕様書の１行目に
は、初期状態がＳ０であることが記述されている。ま
た、操作仕様書の２行目には、それぞれの欄が現状態、
イベント、条件（内部条件）、次状態および処理の内容
であることが記述されている。

【００４３】たとえば、３行目には、現状態がＳ０のと
きにイベントｅ１の操作が行なわれた場合、条件がｃ１
＝Ｔ（真）であれば次状態Ｓ１へ遷移し、そのとき何も
処理を行なわないことを示している。また、４行目に
は、現状態がＳ０のときにイベントｅ１の操作が行なわ
れた場合、条件がｃ１＝Ｆ（偽）であれば次状態Ｓ２へ
遷移し、そのとき何も処理を行なわないことを示してい
る。さらに、８行目には、現状態がＳ３のときにイベン
トｅ３の操作が行なわれた場合、無条件に次状態Ｓ３へ
遷移し、そのとき条件ｃ１にＦ（偽）を設定する処理を
実行することを示している。

【００４４】図６は、初期条件入力部２２に入力される
初期条件設定表の一例を示す図である。この初期条件設
定表は、たとえば、テキストファイル等の機械的に読み
取り可能な形式で記述されている。図６には、内部条件
ｃ１の初期値がＴ（真）であることが記述されている。

【００４５】再び、図４に示すフローチャートの説明に
戻る。操作仕様変換部２３は、操作仕様入力部２１によ
って入力された操作仕様書からグラフ（以下、グラフＧ
と呼ぶ。）を作成する（Ｓ２）。図７は、図５に示す操
作仕様書から作成したグラフＧを示している。図７に示
すように、頂点（丸または２重丸で囲まれた部分）が状
態に対応し、辺（頂点から頂点へ伸びている矢印）が状
態遷移に対応する。辺に付されているラベルは、（イベ
ント、条件、処理の集合）を表わしている。たとえば、
状態Ｓ０から状態Ｓ１への状態遷移を表わす辺（ｅ１，
ｃ１，Φ）は、図５に示す３行目の記述に対応してい
る。すなわち、状態Ｓ０のときにイベントｅ１の操作が
行なわれた場合、内部条件がｃ１＝Ｔ（真）であれば次
状態Ｓ１へ処理Φを実行しながら遷移することを示して
いる。なお、Φは空集合を表わしており、状態Ｓ０から
状態Ｓ１へ何も処理せずに遷移することを示している。

【００４６】また、図７において、状態Ｓ３から状態Ｓ
３への状態遷移を表わす辺（ｅ３，ＮＵＬＬ，｛ｃ１←
Ｆ｝）は、図５に示す８行目の記述に対応している。す
なわち、状態Ｓ３のときにイベントｅ３の操作が行なわ
れた場合、内部条件がＮＵＬＬで（無条件に）状態Ｓ３
へ遷移し、そのとき条件ｃ１にＦ（偽）を設定する処理
を実行することを示している。

【００４７】再び、図４に示すフローチャートの説明に
戻る。次に、操作仕様変換部２３は、初期条件設定表に
基づいてグラフＧ内の状態を以下に示す規則に基づいて
２つの条件付き状態に分割する。

【００４８】（１）初期条件設定表に存在する条件ｃｉ
をラベル内に有する辺と接続している状態を、２つの条
件付き状態に分割する。

【００４９】（２）条件ｃｉを設定する処理をラベル内
に有する辺と接続している状態を、２つの条件付き状態
に分割する。

【００５０】図８は、図７に示すグラフＧ内の状態が２
つの条件付き状態に分割された後のグラフを示してい
る。たとえば、条件ｃ１をラベル内に有する辺（ｅ１，
ｃ１，Φ）と接続している状態Ｓ０は、２つの条件付き
状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｔ）および（Ｓ０，ｃ１＝Ｆ）に分
割される。また、条件ｃ１を設定する処理をラベル内に
有する辺（ｅ３，ＮＵＬＬ，｛ｃ１←Ｆ｝）と接続して
いる状態Ｓ３は、２つの条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝
Ｔ）および（Ｓ３，ｃ１＝Ｆ）に分割される。このよう
にして、状態Ｓ０、Ｓ１、Ｓ２およびＳ３がそれぞれ２
つの条件付き状態に分割される。

【００５１】このように、全ての状態を内部条件に従っ
て分割するのではなく、テストケース生成に必要な状態
のみを分割することによって、状態数の増加を抑えて探
索空間を縮小し、テスト生成に要する時間を削減してい
る。

【００５２】再び、図４に示すフローチャートの説明に
戻る。次に、操作仕様変換部２３は、ステップＳ３にお
いて分割された状態に対し、図８に示すグラフＧに基づ
いて辺の割り当てを行なう（Ｓ４）。図９は、図８に示
すグラフ内の分割された状態に対して、辺を割り当てた
後のグラフを示している。図９に示すように、たとえ
ば、状態Ｓ３から状態Ｓ０への遷移を表わす辺（ｅ４，
ＮＵＬＬ，Φ）は、条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｔ）か
ら条件付き状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｔ）への遷移を表わす辺
（ｅ４，ＮＵＬＬ，Φ）および条件付き状態（Ｓ３，ｃ
１＝Ｆ）から条件付き状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｆ）への遷移
を表わす辺（ｅ４，ＮＵＬＬ，Φ）に分割される。

【００５３】また、自己ループを形成する辺（ｅ３，Ｎ
ＵＬＬ，｛ｃ１←Ｆ｝）は、条件付き状態（Ｓ３，ｃ１
＝Ｔ）から条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｆ）への遷移を
表わす辺（ｅ３，ＮＵＬＬ，｛ｃ１←Ｆ｝）および条件
付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｆ）から条件付き状態（Ｓ３，
ｃ１＝Ｆ）への遷移を表わす辺（ｅ３，ＮＵＬＬ，｛ｃ
１←Ｆ｝）に分割される。また、状態Ｓ０から状態Ｓ１
への遷移を表わす辺（ｅ１，ｃ１，Φ）は、内部条件ｃ
１＝Ｔの場合の遷移を表わしているので、条件付き状態
（Ｓ０，ｃ１＝Ｔ）から条件付き状態（Ｓ１，ｃ１＝
Ｔ）への遷移を表わす辺（ｅ１，ｃ１，Φ）のみとな
る。一方、状態Ｓ０から状態Ｓ２への遷移を表わす辺
（式（１）に示す）は、内部条件ｃ１＝Ｆの場合の遷移
を表わしているので、条件付き状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｆ）
から条件付き状態（Ｓ２，ｃ１＝Ｆ）への遷移を表わす
辺（式（１）に示す）のみとなる。

【００５４】

【数１】

【００５５】次に、操作仕様変換部２３は、ステップＳ
４において辺が割り当てられたグラフから以下に示す規
則に基づいて条件付き状態および辺を削除する（Ｓ
５）。

【００５６】（１）初期状態から到達不能な条件付き状
態を削除する。（２）初期状態から到達不能な条件付き
状態から遷移する辺を削除する。

【００５７】図１０は、図９に示すグラフから上記規則
を満たす条件付き条件および辺を削除した後のグラフを
示している。たとえば、図９に示す条件付き状態（Ｓ
１，ｃ１＝Ｆ）および（Ｓ２，ｃ１＝Ｔ）は、初期状態
（Ｓ０，ｃ１＝Ｔ）から到達不能な条件付き状態である
ので削除される。また、初期状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｔ）か
ら到達不能な条件付き状態（Ｓ２，ｃ１＝Ｔ）から状態
Ｓ５へ遷移する辺（ｅ６，ＮＵＬＬ，Φ）が削除され
る。このようにして作成されたグラフを以下Ｇｃと表記
する。

【００５８】次に、操作仕様変換部２３は、グラフＧｃ
上で全ての状態を含み、かつ自己ループを含まないパス
の集合を検索し、このパスの集合をテストケース集合
（ＴＣ１）とする（Ｓ６）。図１１は、図１０に示すグ
ラフＧｃを検索することによって作成されたテストケー
ス集合の一例を示すグラフである。操作仕様変換部２３
は、グラフＧｃを検索することによって、以下に示すテ
ストケース集合ＴＣ１（３つのテストケースＴＳ１〜Ｔ
Ｓ３）が作成される。

【００５９】

【数２】

【００６０】次に、操作仕様変換部２３は、グラフＧか
らグラフＧｃを生成する際に複数に分割された辺におい
て、以下の規則に基づいて辺を削除する（Ｓ７）。

【００６１】（１）分割された辺のうちいずれか１つが
ＴＣ１に現れていれば、現れていない辺を全て削除す
る。

【００６２】（２）分割された辺のうちいずれもＴＣ１
に現れていなければ、どれか１つの辺を残して他の辺を
全て削除する。

【００６３】図１２は、上述した規則に基づいて図１１
に示すグラフＧｃ上の辺を削除した後のグラフを示して
いる。たとえば、条件付き状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｔ）から
条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｔ）へ遷移する辺（ｅ２，
ＮＵＬＬ，Φ）はテストケース集合ＴＣ１の１つである
ＴＳ１に現れるので、ＴＣ１に現れない条件付き状態
（Ｓ０，ｃ１＝Ｆ）から条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝
Ｆ）への辺を削除する。また、条件付き状態（Ｓ３，ｃ
１＝Ｔ）において自己ループを形成する辺（ｅ５，ＮＵ
ＬＬ，Φ）と、条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｆ）におい
て自己ループを形成する辺（ｅ５，ＮＵＬＬ，Φ）と
は、いずれもＴＣ１に現れていないので、いずれか１つ
の辺を残して他の辺を削除する。図１２においては、条
件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｆ）において自己ループを形
成する辺（ｅ５，ＮＵＬＬ，Φ）が削除されている。

【００６４】次に、操作仕様変換部２３は、ステップＳ
６において作成されたテストケース集合ＴＣ１の中に含
まれていない辺があれば、その辺を通過するパスを求め
て新たにテストケース集合ＴＣ２とする（Ｓ８）。図１
３は、図１２に示すグラフに新たに作成されたテストケ
ース集合ＴＣ２が付加された後のグラフを示している。
たとえば、自己ループを形成する辺（ｅ５，ＮＵＬＬ，
Φ）はテストケース集合ＴＣ１には含まれない辺である
ので、この辺を通過するような次式に示すパスを求めて
テストケースＴＣ２とする。

【００６５】

【数３】

【００６６】最後に、テストケース出力部２４は、操作
仕様変換部２３によって求められたテストケース集合Ｔ
Ｃ１およびＴＣ２を出力して（Ｓ９）、処理を終了す
る。図１４は、テストケース出力部２４によって出力さ
れた出力結果を示す図である。たとえば、テストケース
ＴＳ１は、条件付き状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｔ）からイベン
トｅ２によって条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｔ）へ遷移
し、条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｔ）からイベントｅ３
によって条件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｆ）へ遷移し、条
件付き状態（Ｓ３，ｃ１＝Ｆ）からイベントｅ４によっ
て条件付き状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｆ）へ遷移し、条件付き
状態（Ｓ０，ｃ１＝Ｆ）からイベントｅ１によって条件
付き状態（Ｓ２，ｃ１＝Ｆ）へ遷移し、条件付き状態
（Ｓ２，ｃ１＝Ｆ）からイベントｅ６によって状態Ｓ５
へ遷移することを示している。

【００６７】図１５〜図１８は、本実施の形態における
テストケース生成装置をさらに具体的に説明するための
図である。図１５は、テスト対象となる機器（たとえ
ば、コピー機）の操作部の概略を示しており、４個の操
作ボタンを含んでいる。

【００６８】図１６は、図１５に示す操作ボタンが押下
された場合の機器の状態遷移を示す図である。たとえ
ば、初期状態である“電源オフ状態”において、“電源
ボタン”が押下されたとき、“通常運転変数”がＴの場
合には“通常運転状態”へ遷移する。また、初期状態で
ある“電源オフ状態”において、“電源ボタン”が押下
されたとき、“通常運転変数”がＦの場合には“メンテ
サービス受付状態”へ遷移する。また、初期状態である
“電源オフ状態”において、“隠しボタン１”が押下さ
れると無条件に“メンテサービス移行状態”へ遷移す
る。さらには、初期状態である“電源オフ状態”におい
て、“試運転ボタン”が押下されると無条件に“試運転
状態”へ遷移する。

【００６９】また、“メンテサービス移行状態”におい
て、“隠しボタン２”が押下されると、“通常運転変
数”にＦが設定されて“メンテサービス移行状態”に留
まる（他の状態へ遷移しない）。また、“メンテサービ
ス受付状態”において、“隠しボタン１”が押下される
と無条件に“メンテサービス実施状態”へ遷移する。

【００７０】図１７は、このテストケースを作成する際
の初期条件設定表を示す図である。図１７に示すよう
に、通常運転変数にＴが設定されているので、初期状態
である“電源オフ状態”において“電源ボタン”が押下
されると、“通常運転状態”へ遷移することになる。

【００７１】図１６に示すグラフ（状態遷移図）は、図
７に示すグラフと１対１に対応することから、４つのテ
ストケースＴＳ１〜ＴＳ４が生成される。図１８は、生
成されたテストケースを示す図である。たとえば、テス
トケースＴＳ１においては以下に示す状態遷移が行なえ
るか否かのテストであることを示している。

【００７２】（１）“電源オフ状態”において、“隠し
ボタン１”が押下されると“メンテサービス移行状態”
へ遷移する。

【００７３】（２）次に、“メンテサービス移行状態”
において、“隠しボタン２”が押下されると“通常運転
変数”をＦに変更する処理を行ない、“メンテサービス
移行状態”に留まる。

【００７４】（３）次に、“メンテサービス移行状態”
において、“隠しボタン１”が押下されると“電源オフ
状態”へ遷移する。

【００７５】（４）次に、“電源オフ状態”において、
“電源ボタン”が押下されると“メンテサービス受付状
態”へ遷移する。

【００７６】（５）次に、“メンテサービス受付状態”
において、“隠しボタン１”が押下されると“メンテサ
ービス実施状態”へ遷移する。

【００７７】このようにして、イベントのみで次の状態
へ遷移するテストケースが自動的に生成される。

【００７８】以上説明したように、本実施の形態におけ
るテストケース生成装置によれば、操作者が機器の内部
条件の設定を意識せずに、イベントのみで次の状態へ遷
移する形式のテストケースを生成することが可能となっ
た。また、生成されたテストケースはイベントのみによ
って状態が遷移するので、テストを自動化することが可
能となり、ソフトウェアの品質を向上させることが可能
となった。

【００７９】今回開示された実施の形態は、すべての点
で例示であって制限的なものではないと考えられるべき
である。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請
求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味
および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図さ
れる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態におけるテストケース生成
装置の外観例を示す図である。

【図２】本発明の実施の形態におけるテストケース生成
装置の構成例を示すブロック図である。

【図３】本発明の実施の形態におけるテストケース生成
装置の概略構成を示すブロック図である。

【図４】本発明の実施の形態におけるテストケース生成
装置の処理手順を説明するためのフローチャートであ
る。

【図５】操作仕様入力部２１に入力される操作仕様書の
一例を示す図である。

【図６】初期条件入力部２２に入力される初期条件設定
表の一例を示す図である。

【図７】図５に示す操作仕様書から作成したグラフを示
す図である。

【図８】図７に示すグラフＧ内の状態が２つの条件付き
状態に分割された後のグラフを示す図である。

【図９】図８に示すグラフ内の分割された状態に対し
て、辺を割り当てた後のグラフを示す図である。

【図１０】図９に示すグラフから所定の規則に基づいて
条件付き条件および辺を削除した後のグラフを示す図で
ある。

【図１１】図１０に示すグラフを検索することによって
作成されたテストケース集合のグラフを示す図である。

【図１２】図１１に示すグラフから所定の規則に基づい
て辺を削除した後のグラフを示す図である。

【図１３】図１２に示すグラフに新たに作成されたテス
トケース集合ＴＣ２が付加された後のグラフを示す図で
ある。

【図１４】テストケース出力部２４によって出力された
出力結果を示す図である。

【図１５】テスト対象となる機器の操作部の概略を示す
図である。

【図１６】図１５に示す機器の操作ボタンが押下された
場合の機器の状態遷移を示す図である。

【図１７】図１６に示す状態遷移図からテストケースを
作成する際の初期条件設定表を示す図である。

【図１８】図１６に示す状態遷移図から生成されたテス
トケースを示す図である。

【符号の説明】

１コンピュータ本体２グラフィックディスプレイ装置３磁気テープ装置４磁気テープ５キーボード６マウス７ＣＤ−ＲＯＭ装置８ＣＤ−ＲＯＭ９通信モデム１０ＣＰＵ１１ＲＯＭ１２ＲＡＭ１３ハードディスク２１操作仕様入力部２２初期条件入力部２３操作仕様変更部２４テストケース出力部

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】対象となる機器の内部条件に応じて次の
状態に遷移する形式の操作仕様を入力するための操作仕
様入力手段と、前記対象となる機器内部の初期条件を入力するための初
期条件入力手段と、前記操作仕様入力手段によって入力された操作仕様およ
び前記初期条件入力手段によって入力された初期条件か
ら、イベントによって次の状態に遷移する形式の操作仕
様に変換するための操作仕様変換手段と、前記操作仕様変換手段によって変換された操作仕様から
テストケースを生成して出力するためのテストケース出
力手段とを含むテストケース生成装置。
【請求項２】前記操作仕様変換手段は、前記操作仕様
入力手段によって入力された操作仕様からグラフを生成
するためのグラフ生成手段と、前記初期条件入力手段によって入力された初期条件に基
づいて、前記グラフ生成手段によって生成されたグラフ
内の状態が分割されたグラフを生成するための状態分割
手段と、前記状態分割手段によって生成されたグラフに対して、
始点となる状態から終点となる状態へ遷移する辺が割り
当てられたグラフを生成するための辺割当手段と、前記辺割当手段によって生成されたグラフにおいて、初
期状態から到達不能な状態および該到達不能な状態から
遷移する辺を削除したグラフを生成するための第１の削
除手段と、前記第１の削除手段によって削除が行なわれた後のグラ
フ上で全ての状態を含み、かつ自己ループを含まないパ
スを検索するための第１の検索手段とを含む、請求項１
記載のテストケース生成装置。
【請求項３】前記操作仕様変換手段はさらに、前記第
１の削除手段によって削除が行なわれた後のグラフ上
で、前記第１の検索手段によって検索されたパス内の辺
と同じ辺を削除し、前記第１の検索手段によって検索さ
れたパス内にない辺のうち同じ辺のいずれか１つを残し
て他の辺を削除したグラフを生成するための第２の削除
手段と、前記第２の削除手段によって生成されたグラフ上で、前
記第１の検索手段によって検索されたパスを通過しない
辺を通過するパスを検索するための第２の検索手段とを
含む、請求項２記載のテストケース生成装置。
【請求項４】前記状態分割手段は、前記初期条件入力
手段によって入力された初期条件に存在する条件をラベ
ル中に有する辺と接続する状態を分割し、前記初期条件
に存在する条件を設定する処理を有する辺と接続する状
態を分割する、請求項２または３記載のテストケース生
成装置。
【請求項５】対象となる機器の内部条件に応じて次の
状態に遷移する形式の操作仕様を入力するステップと、前記対象となる機器内部の初期条件を入力するステップ
と、前記入力された操作仕様および前記入力された初期条件
から、イベントによって次の状態に遷移する形式の操作
仕様に変換するステップと、前記変換された操作仕様からテストケースを生成して出
力するステップとを含むテストケース生成方法。
【請求項６】前記操作仕様を変換するステップは、前
記入力された操作仕様から第１のグラフを生成するステ
ップと、前記入力された初期条件に基づいて、前記生成された第
１のグラフ内の状態が分割された第２のグラフを生成す
るステップと、前記生成された第２のグラフに対して、始点となる状態
から終点となる状態へ遷移する辺が割り当てられた第３
のグラフを生成するステップと、前記生成された第３のグラフにおいて、初期状態から到
達不能な状態および該到達不能な状態から遷移する辺を
削除した第４のグラフを生成するステップと、前記第４
のグラフ上で全ての状態を含み、かつ自己ループを含ま
ないパスを検索するステップとを含む、請求項５記載の
テストケース生成方法。
【請求項７】前記操作仕様を変換するステップはさら
に、前記第４のグラフ上で、前記検索されたパス内の辺
と同じ辺を削除し、前記検索されたパス内にない辺のう
ち同じ辺のいずれか１つを残して他の辺を削除した第５
のグラフを生成するステップと、前記第５のグラフ上で、前記検索されたパスを通過しな
い辺を通過するパスを検索するステップとを含む、請求
項６記載のテストケース生成方法。
【請求項８】前記第２のグラフを生成するステップ
は、前記入力された初期条件に存在する条件をラベル中
に有する辺と接続する状態を分割し、前記初期条件に存
在する条件を設定する処理を有する辺と接続する状態を
分割するステップを含む、請求項６または７記載のテス
トケース生成方法。
【請求項９】対象となる機器の内部条件に応じて次の
状態に遷移する形式の操作仕様を入力するステップと、前記対象となる機器内部の初期条件を入力するステップ
と、前記入力された操作仕様および前記入力された初期条件
から、イベントによって次の状態に遷移する形式の操作
仕様に変換するステップと、前記変換された操作仕様からテストケースを生成して出
力するステップとを含むテストケース生成プログラムを
記録した媒体。
【請求項１０】前記操作仕様を変換するステップは、
前記入力された操作仕様から第１のグラフを生成するス
テップと、前記入力された初期条件に基づいて、前記生成された第
１のグラフ内の状態が分割された第２のグラフを生成す
るステップと、前記生成された第２のグラフに対して、始点となる状態
から終点となる状態へ遷移する辺が割り当てられた第３
のグラフを生成するステップと、前記生成された第３のグラフにおいて、初期状態から到
達不能な状態および該到達不能な状態から遷移する辺を
削除した第４のグラフを生成するステップと、前記第４
のグラフ上で全ての状態を含み、かつ自己ループを含ま
ないパスを検索するステップとを含む、請求項９記載の
テストケース生成プログラムを記録した媒体。
【請求項１１】前記操作仕様を変換するステップはさ
らに、前記第４のグラフ上で、前記検索されたパス内の
辺と同じ辺を削除し、前記検索されたパス内にない辺の
うち同じ辺のいずれか１つを残して他の辺を削除した第
５のグラフを生成するステップと、前記第５のグラフ上で、前記検索されたパスを通過しな
い辺を通過するパスを検索するステップとを含む、請求
項１０記載のテストケース生成プログラムを記録した媒
体。
【請求項１２】前記第２のグラフを生成するステップ
は、前記入力された初期条件に存在する条件をラベル中
に有する辺と接続する状態を分割し、前記初期条件に存
在する条件を設定する処理を有する辺と接続する状態を
分割するステップを含む、請求項１０または１１記載の
テストケース生成プログラムを記録した媒体。