JP2000349552A - 温度補償型発振器 - Google Patents
温度補償型発振器Info
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 4
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 4
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 遮断周波数の仕様が異なる温度補償型発振器
を同一条件で製造できなかった。 【解決手段】 温度検出回路11と、制御電圧発生回路
13と、周波数調整回路15と、発振回路17を備え、
制御電圧発生回路13からローパスフィルター19を介
して周波数調整回路15へ制御電圧を出力する温度補償
型発振器においては、ローパスフィルター19の遮断周
波数を不揮発性メモリ53にデータを書き込むことによ
り変化させるようにした。
を同一条件で製造できなかった。 【解決手段】 温度検出回路11と、制御電圧発生回路
13と、周波数調整回路15と、発振回路17を備え、
制御電圧発生回路13からローパスフィルター19を介
して周波数調整回路15へ制御電圧を出力する温度補償
型発振器においては、ローパスフィルター19の遮断周
波数を不揮発性メモリ53にデータを書き込むことによ
り変化させるようにした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、温度補償型発振器
に関するものである。
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】水晶振動子を用いた水晶発振器は、周波
数安定度は他の発振器に比べてより優れているが、近年
の移動体無線の基準発振器として使用する場合は、水晶
振動子の温度特性に起因する発振周波数の変動が問題と
なる。この問題を解決するために、水晶振動子の温度特
性を補償する、所謂温度補償型発振器が広く用いられて
いる。温度補償型発振器の中でも間接法と呼ばれる方式
のものは、近年の集積回路技術の発展に伴い、部品点数
の削減と性能の向上が図られている。間接法の温度補償
型発振器の温度補償原理を図3を用いて説明する。温度
検出回路91は温度に依存した電圧を制御電圧発生回路
93へ出力する。制御電圧発生回路93は温度検出回路
91からの電圧を入力して、増幅、あるいは反転増幅処
理をして、その出力電圧を、ローパスフィルター95を
介して周波数調整回路96へ出力する。周波数調整回路
96は入力された電圧により、水晶発振回路97の発振
周波数を制御する。
数安定度は他の発振器に比べてより優れているが、近年
の移動体無線の基準発振器として使用する場合は、水晶
振動子の温度特性に起因する発振周波数の変動が問題と
なる。この問題を解決するために、水晶振動子の温度特
性を補償する、所謂温度補償型発振器が広く用いられて
いる。温度補償型発振器の中でも間接法と呼ばれる方式
のものは、近年の集積回路技術の発展に伴い、部品点数
の削減と性能の向上が図られている。間接法の温度補償
型発振器の温度補償原理を図3を用いて説明する。温度
検出回路91は温度に依存した電圧を制御電圧発生回路
93へ出力する。制御電圧発生回路93は温度検出回路
91からの電圧を入力して、増幅、あるいは反転増幅処
理をして、その出力電圧を、ローパスフィルター95を
介して周波数調整回路96へ出力する。周波数調整回路
96は入力された電圧により、水晶発振回路97の発振
周波数を制御する。
【0003】温度変化により、水晶発振回路97の発振
周波数が変動した場合、この変動の補償は以下のように
おこなう。制御電圧発生回路93は、温度検出回路91
からの電圧を入力して、周波数調整回路96が水晶発振
回路97の発振周波数を制御して、前述の温度による発
振周波数の変動分を相殺できるような電圧を、周波数調
整回路96へ出力する。
周波数が変動した場合、この変動の補償は以下のように
おこなう。制御電圧発生回路93は、温度検出回路91
からの電圧を入力して、周波数調整回路96が水晶発振
回路97の発振周波数を制御して、前述の温度による発
振周波数の変動分を相殺できるような電圧を、周波数調
整回路96へ出力する。
【0004】こうして水晶発振回路97は温度変化にか
かわらず一定の周波数を発振することができ、温度補償
がなされる。
かわらず一定の周波数を発振することができ、温度補償
がなされる。
【0005】最近の無線通信機器では、その通信方式に
より、基準発振源として用いる温度補償型発振器に対す
る性能要求は大幅に異なる。ビットエラーを重視するデ
ジタル通信方式では、低位相雑音が最重要であり、一方
では、アナログ通信方式の様に、位相雑音はそれほど低
い必要はないが、消費電力の低減のために、温度補償型
発振器の電源供給を間欠的に行うので、電源投入時の高
速な周波数安定がより重要となる。
より、基準発振源として用いる温度補償型発振器に対す
る性能要求は大幅に異なる。ビットエラーを重視するデ
ジタル通信方式では、低位相雑音が最重要であり、一方
では、アナログ通信方式の様に、位相雑音はそれほど低
い必要はないが、消費電力の低減のために、温度補償型
発振器の電源供給を間欠的に行うので、電源投入時の高
速な周波数安定がより重要となる。
【0006】前者の低位相雑音の性能要求の場合は、ロ
ーパスフィルター95の遮断周波数を1Hz程度にし
て、制御電圧発生回路93で発生する雑音成分を除去す
る。
ーパスフィルター95の遮断周波数を1Hz程度にし
て、制御電圧発生回路93で発生する雑音成分を除去す
る。
【0007】一方、後者の性能要求の場合は、前述のよ
うな1Hz程度という低い遮断周波数を持つローパスフ
ィルターは、電源投入時の高速な周波数安定には、重大
な障害となる。この障害を回避するためには、このロー
パスフィルターを除去するか、あるいはローパスフィル
ターの持つ遮断周波数を高くして、電源投入時の高速な
周波数安定に支障をきたさないようにする。
うな1Hz程度という低い遮断周波数を持つローパスフ
ィルターは、電源投入時の高速な周波数安定には、重大
な障害となる。この障害を回避するためには、このロー
パスフィルターを除去するか、あるいはローパスフィル
ターの持つ遮断周波数を高くして、電源投入時の高速な
周波数安定に支障をきたさないようにする。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな異なる性能要求を満たすには、それぞれの要求に合
わせた温度補償型発振器が必要となるため、製造ライン
は2種類の温度補償型発振器を製造することになり、生
産効率の低下を招くだけではなく、在庫量が増大すると
いう課題がある。
うな異なる性能要求を満たすには、それぞれの要求に合
わせた温度補償型発振器が必要となるため、製造ライン
は2種類の温度補償型発振器を製造することになり、生
産効率の低下を招くだけではなく、在庫量が増大すると
いう課題がある。
【0009】[発明の目的]本発明の目的は、上記の問
題点を解決して、不揮発性メモリを搭載した、製造的に
は同一仕様の温度補償型発振器において、この不揮発性
メモリへデータを書き込むことにより、ローパスフィル
ターの遮断周波数を変更して、低位相雑音仕様、および
電源投入時の高速周波数安定仕様の何れの仕様にも対応
できる温度補償型発振器を提供することである。
題点を解決して、不揮発性メモリを搭載した、製造的に
は同一仕様の温度補償型発振器において、この不揮発性
メモリへデータを書き込むことにより、ローパスフィル
ターの遮断周波数を変更して、低位相雑音仕様、および
電源投入時の高速周波数安定仕様の何れの仕様にも対応
できる温度補償型発振器を提供することである。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに本発明の温度補償型発振器は、温度検出回路と、制
御電圧発生回路と、周波数調整回路と、発振回路と、記
憶手段とを備え、温度検出回路は、発振回路の温度を検
出して、その出力電圧を制御電圧発生回路へ入力し、制
御電圧発生回路は、その出力電圧をローパスフィルター
を介して周波数調整回路へ入力して、発振回路の発振周
波数を制御する温度補償型発振器において、このローパ
スフィルターは第1の遮断周波数と第2の遮断周波数の
2つを有し、この2つの遮断周波数を、記憶手段である
例えば不揮発性メモリにデータを書き込むことにより、
択一的に選択することを特徴とする。
めに本発明の温度補償型発振器は、温度検出回路と、制
御電圧発生回路と、周波数調整回路と、発振回路と、記
憶手段とを備え、温度検出回路は、発振回路の温度を検
出して、その出力電圧を制御電圧発生回路へ入力し、制
御電圧発生回路は、その出力電圧をローパスフィルター
を介して周波数調整回路へ入力して、発振回路の発振周
波数を制御する温度補償型発振器において、このローパ
スフィルターは第1の遮断周波数と第2の遮断周波数の
2つを有し、この2つの遮断周波数を、記憶手段である
例えば不揮発性メモリにデータを書き込むことにより、
択一的に選択することを特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】以下本発明の温度補償型発振器を
実施するための最適な実施形態について図面を用いて説
明する。図1は本発明の実施形態における温度補償型発
振器のブロック回路図である。
実施するための最適な実施形態について図面を用いて説
明する。図1は本発明の実施形態における温度補償型発
振器のブロック回路図である。
【0012】[構成説明:図1]図1に示すように、本
発明の温度補償型発振器においては、温度検出回路11
と、制御電圧発生回路13と、周波数調整回路15と、
発振回路17と、ローパスフィルター19と、スイッチ
ング素子51と、不揮発性メモリ53と、抵抗素子2
5、27とで構成する。周波数調整回路15は、MIS
型可変容量コンデンサ31、35で構成する。発振回路
17は、水晶振動子37と、インバーター41と、帰還
抵抗素子39、容量素子43、45とで構成する。ロー
パスフィルター19は、抵抗素子21と、容量素子23
とで構成する。
発明の温度補償型発振器においては、温度検出回路11
と、制御電圧発生回路13と、周波数調整回路15と、
発振回路17と、ローパスフィルター19と、スイッチ
ング素子51と、不揮発性メモリ53と、抵抗素子2
5、27とで構成する。周波数調整回路15は、MIS
型可変容量コンデンサ31、35で構成する。発振回路
17は、水晶振動子37と、インバーター41と、帰還
抵抗素子39、容量素子43、45とで構成する。ロー
パスフィルター19は、抵抗素子21と、容量素子23
とで構成する。
【0013】温度検出回路11は制御電圧発生回路13
に接続し、制御電圧発生回路13はローパスフィルター
19、抵抗素子25、27を介して周波数調整回路15
に接続し、MIS型可変容量コンデンサ31、35の各
々の一方の端子は、容量素子43,45を介して発振回
路17の水晶振動子37の両端に接続し、MIS型可変
容量コンデンサ31、35の各々の他方の端子は接地さ
れている。ローパスフィルター19を構成する抵抗素子
21の両端はスイッチング素子51の端子52、54に
接続している。53は記憶手段である不揮発性メモリで
あり、不揮発性メモリ53はデータ信号出力線55を介
してスイッチング素子51に接続している。また、本実
施形態では記憶手段を不揮発性メモリ53としたが、ワ
ンタイムROM等の他の種類のメモリを用いることも考
えられる。
に接続し、制御電圧発生回路13はローパスフィルター
19、抵抗素子25、27を介して周波数調整回路15
に接続し、MIS型可変容量コンデンサ31、35の各
々の一方の端子は、容量素子43,45を介して発振回
路17の水晶振動子37の両端に接続し、MIS型可変
容量コンデンサ31、35の各々の他方の端子は接地さ
れている。ローパスフィルター19を構成する抵抗素子
21の両端はスイッチング素子51の端子52、54に
接続している。53は記憶手段である不揮発性メモリで
あり、不揮発性メモリ53はデータ信号出力線55を介
してスイッチング素子51に接続している。また、本実
施形態では記憶手段を不揮発性メモリ53としたが、ワ
ンタイムROM等の他の種類のメモリを用いることも考
えられる。
【0014】図2はスイッチング素子51を示す回路図
であり、図1と同一の構成要素には同一の番号をつけて
ある。つぎに図1に示すスイッチング素子51の構成を
説明する。図1に示すスイッチング素子51は、図2に
示すようにPチャネルMOSトランジスタ61と、Nチ
ャネルMOSトランジスタ63と、インバーター65と
で構成する。図2においてPチャネルMOSトランジス
タ61とNチャネルMOSトランジスタ63を並列に接
続し、インバーター65はデータ信号出力線55からの
入力信号を反転させてPチャネルMOSトランジスタ6
1へ入力している。
であり、図1と同一の構成要素には同一の番号をつけて
ある。つぎに図1に示すスイッチング素子51の構成を
説明する。図1に示すスイッチング素子51は、図2に
示すようにPチャネルMOSトランジスタ61と、Nチ
ャネルMOSトランジスタ63と、インバーター65と
で構成する。図2においてPチャネルMOSトランジス
タ61とNチャネルMOSトランジスタ63を並列に接
続し、インバーター65はデータ信号出力線55からの
入力信号を反転させてPチャネルMOSトランジスタ6
1へ入力している。
【0015】[動作の説明:図1および図2]次に図1
および図2を用いて、本発明の実施形態における温度補
償型発振器の動作について説明する。
および図2を用いて、本発明の実施形態における温度補
償型発振器の動作について説明する。
【0016】図1において温度検出回路11は発振回路
17の温度を検出して、温度に依存した電圧を制御電圧
発生回路13へ出力する。制御電圧発生回路13は温度
検出回路11からの電圧を入力して、その出力電圧をロ
ーパスフィルター19、抵抗素子25、27を介して、
周波数調整回路15へ入力する。ローパスフィルター1
9は、その遮断周波数以上の周波数成分を制御電圧発生
回路13の出力電圧から除去して、制御電圧発生回路1
3から周波数調整回路15を介して発振回路17へ雑音
成分が伝達するのを阻止して、発振回路17の発振出力
の位相雑音の増加を防止する。
17の温度を検出して、温度に依存した電圧を制御電圧
発生回路13へ出力する。制御電圧発生回路13は温度
検出回路11からの電圧を入力して、その出力電圧をロ
ーパスフィルター19、抵抗素子25、27を介して、
周波数調整回路15へ入力する。ローパスフィルター1
9は、その遮断周波数以上の周波数成分を制御電圧発生
回路13の出力電圧から除去して、制御電圧発生回路1
3から周波数調整回路15を介して発振回路17へ雑音
成分が伝達するのを阻止して、発振回路17の発振出力
の位相雑音の増加を防止する。
【0017】位相雑音を効果的に低減するにはローパス
フィルター19の遮断周波数は1Hz以下に設定する。
フィルター19の遮断周波数は1Hz以下に設定する。
【0018】抵抗素子25、27は容量素子23が、周
波数調整回路15を構成するMIS型可変容量コンデン
サ31、35へ容量的な影響を及ぼすのを遮断するため
のものである。
波数調整回路15を構成するMIS型可変容量コンデン
サ31、35へ容量的な影響を及ぼすのを遮断するため
のものである。
【0019】周波数調整回路15は入力された電圧を、
MIS型可変容量コンデンサ31、35に印加して、M
IS型可変容量コンデンサ31、35の容量値を変化さ
せて、発振回路17の発振周波数を制御する。
MIS型可変容量コンデンサ31、35に印加して、M
IS型可変容量コンデンサ31、35の容量値を変化さ
せて、発振回路17の発振周波数を制御する。
【0020】容量素子43,45は制御電圧発生回路1
3からの出力電圧に、インバーター41の入力電圧およ
び出力電圧が干渉するのを防止するためのものである。
3からの出力電圧に、インバーター41の入力電圧およ
び出力電圧が干渉するのを防止するためのものである。
【0021】温度変化により、発振回路17の発振周波
数が変動した場合、制御電圧発生回路13は、温度検出
回路11からの電圧を入力して、周波数調整回路15が
発振回路17の発振周波数を制御して、前述の温度によ
る発振周波数の変動分を相殺できるような電圧を、周波
数調整回路15へ入力する。
数が変動した場合、制御電圧発生回路13は、温度検出
回路11からの電圧を入力して、周波数調整回路15が
発振回路17の発振周波数を制御して、前述の温度によ
る発振周波数の変動分を相殺できるような電圧を、周波
数調整回路15へ入力する。
【0022】こうして発振回路17は、温度変化にかか
わらず一定の周波数を発振することができ、温度補償が
なされる。
わらず一定の周波数を発振することができ、温度補償が
なされる。
【0023】次に、本発明の実施形態における温度補償
型発振器の不揮発性メモリへデータを書き込むことによ
るローパスフィルター19の遮断周波数の選択動作につ
いて説明する図1において不揮発性メモリ53に、”
1”のデータを書き込むと、信号出力線55へ高い電圧
の信号を出力する。
型発振器の不揮発性メモリへデータを書き込むことによ
るローパスフィルター19の遮断周波数の選択動作につ
いて説明する図1において不揮発性メモリ53に、”
1”のデータを書き込むと、信号出力線55へ高い電圧
の信号を出力する。
【0024】スイッチング素子51は信号出力線55か
ら高い電圧の信号を入力すると、スイッチング素子51
を構成するPチャネルMOSトランジスタ61とNチャ
ネルMOSトランジスタ63は導通状態となり、スイッ
チング素子51の端子52、54を短絡させて、抵抗素
子21を短絡し、ローパスフィルター19は、スイッチ
ング素子51の短絡抵抗と容量素子23で構成されて、
スイッチング素子51の短絡抵抗値R1と容量素子23
の容量値Cの積である時定数CR1の値で決まる第1の
遮断周波数を選択する。制御電圧発生回路13の出力電
圧を周波数調整回路15へ伝達するのに要する時間は、
ローパスフィルター19の第1の遮断周波数により決ま
る。
ら高い電圧の信号を入力すると、スイッチング素子51
を構成するPチャネルMOSトランジスタ61とNチャ
ネルMOSトランジスタ63は導通状態となり、スイッ
チング素子51の端子52、54を短絡させて、抵抗素
子21を短絡し、ローパスフィルター19は、スイッチ
ング素子51の短絡抵抗と容量素子23で構成されて、
スイッチング素子51の短絡抵抗値R1と容量素子23
の容量値Cの積である時定数CR1の値で決まる第1の
遮断周波数を選択する。制御電圧発生回路13の出力電
圧を周波数調整回路15へ伝達するのに要する時間は、
ローパスフィルター19の第1の遮断周波数により決ま
る。
【0025】温度補償型発振器の最大の用途である移動
体電話機器では、一般的に電源投入時の周波数安定に要
する時間は3m秒から5m秒以下と定められているの
で、実用的にはローパスフィルター19の第1の遮断周
波数は10KHz以上とする必要があり、時定数CR1
の値は1m秒以下とする。
体電話機器では、一般的に電源投入時の周波数安定に要
する時間は3m秒から5m秒以下と定められているの
で、実用的にはローパスフィルター19の第1の遮断周
波数は10KHz以上とする必要があり、時定数CR1
の値は1m秒以下とする。
【0026】不揮発性メモリ53に、”0”のデータを
書き込むと、信号出力線55へ低い電圧の信号を出力す
る。スイッチング素子51は信号出力線55から低い電
圧の信号を入力すると、スイッチング素子51を構成す
るPチャネルMOSトランジスタ61とNチャネルMO
Sトランジスタ63は遮断状態となり、スイッチング素
子51の端子52、54の短絡を開放させて、抵抗素子
21の短絡を開放し、ローパスフィルター19は抵抗素
子21と容量素子23で構成されて、抵抗素子21の抵
抗値R2と容量素子23の容量値Cの積である時定数C
R2の値で決る第2の遮断周波数を選択する。
書き込むと、信号出力線55へ低い電圧の信号を出力す
る。スイッチング素子51は信号出力線55から低い電
圧の信号を入力すると、スイッチング素子51を構成す
るPチャネルMOSトランジスタ61とNチャネルMO
Sトランジスタ63は遮断状態となり、スイッチング素
子51の端子52、54の短絡を開放させて、抵抗素子
21の短絡を開放し、ローパスフィルター19は抵抗素
子21と容量素子23で構成されて、抵抗素子21の抵
抗値R2と容量素子23の容量値Cの積である時定数C
R2の値で決る第2の遮断周波数を選択する。
【0027】制御電圧発生回路13の出力電圧から雑音
を十分に除去するためには、前述のようにローパスフィ
ルター19の第2の遮断周波数を1Hz以下とする。ロ
ーパスフィルター19の第2の遮断周波数を1Hz以下
にするためには、時定数CR2の値は1秒以上とする。
を十分に除去するためには、前述のようにローパスフィ
ルター19の第2の遮断周波数を1Hz以下とする。ロ
ーパスフィルター19の第2の遮断周波数を1Hz以下
にするためには、時定数CR2の値は1秒以上とする。
【0028】前記の時定数CR1とCR2の値を満たす
ためには、Cの値は一定であるから、R1の値はR2の
値の10000分の1以下とする。
ためには、Cの値は一定であるから、R1の値はR2の
値の10000分の1以下とする。
【0029】これを実現するには、単純にR1の値を小
さく、R2の値を大きくすればよいが、製造的な観点に
立つと、R1の値の下限はスイッチング素子51の経済
的な大きさで決まり、R2の値の上限は回路の漏れ電流
で決まる。これらを勘案すると、R1の値はR2の値の
10000分の1から100000分の1の範囲にする
ことにより最も良い結果を得ることができる。1例とし
てはR1=10Kオーム、R2=100Mオームから5
00Mオーム、C=0.01μFとなる。
さく、R2の値を大きくすればよいが、製造的な観点に
立つと、R1の値の下限はスイッチング素子51の経済
的な大きさで決まり、R2の値の上限は回路の漏れ電流
で決まる。これらを勘案すると、R1の値はR2の値の
10000分の1から100000分の1の範囲にする
ことにより最も良い結果を得ることができる。1例とし
てはR1=10Kオーム、R2=100Mオームから5
00Mオーム、C=0.01μFとなる。
【0030】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、出荷段階
で不揮発性メモリへ”1”あるいは”0”のデータを書
き込むことにより、ローパスフィルターの遮断数を選択
できるので、低位相雑音の要求に対しても、電源投入時
の高速な周波数安定の要求に対しても、製造上は同一の
仕様で温度補償型発振器を作ることができるので、製造
ラインの生産効率を向上させ、且つ在庫量も半減させる
ことができる。
で不揮発性メモリへ”1”あるいは”0”のデータを書
き込むことにより、ローパスフィルターの遮断数を選択
できるので、低位相雑音の要求に対しても、電源投入時
の高速な周波数安定の要求に対しても、製造上は同一の
仕様で温度補償型発振器を作ることができるので、製造
ラインの生産効率を向上させ、且つ在庫量も半減させる
ことができる。
【図1】本発明の実施の形態における温度補償型発振器
を示すブロック回路図である。
を示すブロック回路図である。
【図2】本発明の実施の形態におけるスイッチング素子
51を詳細に開示したブロック回路図である。
51を詳細に開示したブロック回路図である。
【図3】従来例における温度補償型発振器を示すブロッ
ク回路図である。
ク回路図である。
11 温度検出回路 13 制御電圧発生回路 15 周波数調整回路 17 発振回路 19 ローパスフィルター 21 抵抗素子 23 容量素子 51 スイッチング素子 53 不揮発性メモリ
Claims (4)
- 【請求項1】 温度検出回路と、制御電圧発生回路と、
周波数調整回路と、発振回路と、記憶手段とを備え、温
度検出回路は、発振回路の温度を検出して、その出力電
圧を制御電圧発生回路へ入力し、制御電圧発生回路は、
その出力電圧をローパスフィルターを介して周波数調整
回路へ入力して、発振回路の発振周波数を制御する温度
補償型発振器において、このローパスフィルターは第1
の遮断周波数と第2の遮断周波数の2つを有し、この2
つの遮断周波数を、前記記憶手段からの選択情報によ
り、択一的に選択することを特徴とする温度補償型発振
器。 - 【請求項2】 請求項1記載の第1の遮断周波数は、請
求項1記載の第2の遮断周波数の10000倍から10
0000倍の範囲にあることを特徴とする温度補償型発
振器。 - 【請求項3】 請求項1記載のローパスフィルターは抵
抗素子と容量素子で構成し、前記記憶手段からの信号に
より開閉するスイッチング素子により、この抵抗素子を
短絡あるいは解放し、このスイッチング素子の短絡抵抗
値は、前記抵抗素子の抵抗値の10000分の1から1
00000分の1の範囲にあることを特徴とする温度補
償型発振器。 - 【請求項4】 前記記憶手段が、不揮発性メモリである
ことを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3に記
載の温度補償型発振器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11159223A JP2000349552A (ja) | 1999-06-07 | 1999-06-07 | 温度補償型発振器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11159223A JP2000349552A (ja) | 1999-06-07 | 1999-06-07 | 温度補償型発振器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000349552A true JP2000349552A (ja) | 2000-12-15 |
Family
ID=15689038
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11159223A Pending JP2000349552A (ja) | 1999-06-07 | 1999-06-07 | 温度補償型発振器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000349552A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111224620A (zh) * | 2020-03-31 | 2020-06-02 | 福州大学 | 一种基于cmos的温度补偿fbar晶体振荡器的电路及工作方法 |
| JP2023040657A (ja) * | 2021-09-10 | 2023-03-23 | 株式会社大真空 | 温度補償型圧電発振器 |
-
1999
- 1999-06-07 JP JP11159223A patent/JP2000349552A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN111224620A (zh) * | 2020-03-31 | 2020-06-02 | 福州大学 | 一种基于cmos的温度补偿fbar晶体振荡器的电路及工作方法 |
| CN111224620B (zh) * | 2020-03-31 | 2024-06-04 | 福州大学 | 一种基于cmos的温度补偿fbar晶体振荡器的电路及工作方法 |
| JP2023040657A (ja) * | 2021-09-10 | 2023-03-23 | 株式会社大真空 | 温度補償型圧電発振器 |
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