JP2000350439A - 昇圧回路 - Google Patents

昇圧回路

Info

Publication number
JP2000350439A
JP2000350439A JP11157912A JP15791299A JP2000350439A JP 2000350439 A JP2000350439 A JP 2000350439A JP 11157912 A JP11157912 A JP 11157912A JP 15791299 A JP15791299 A JP 15791299A JP 2000350439 A JP2000350439 A JP 2000350439A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
boosting
booster
output
cell group
clock
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11157912A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3402259B2 (ja
Inventor
Masaru Kawai
賢 河合
Tomonori Kataoka
知典 片岡
Ikuo Fuchigami
郁雄 渕上
Yoichi Nishida
要一 西田
Tomoo Kimura
智生 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP15791299A priority Critical patent/JP3402259B2/ja
Publication of JP2000350439A publication Critical patent/JP2000350439A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3402259B2 publication Critical patent/JP3402259B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Dc-Dc Converters (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の昇圧セル群を備えた昇圧回路におい
て、出力電圧及び電流駆動能力を容易に最適化するとと
もに、回路規模を削減する。 【解決手段】 入力電圧を昇圧して出力する少なくとも
1つの昇圧セルで構成された複数の昇圧セル群P1〜P
nに対して、昇圧セル群切替手段10を設けたことによ
り、各昇圧セル群P1〜Pnを直列または並列または直
並列の所望の接続構成に変えることができる昇圧回路。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、不揮発性半導体記
憶装置及び半導体集積回路装置における昇圧回路に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】近年、不揮発性半導体記憶装置、たとえ
ばフラッシュEEPROMでは、書き込み/消去及び読
み出し時において、種々の高電圧を供給できる昇圧回路
が広く利用されている。
【0003】この種の昇圧回路は、昇圧セルの段数を切
り替えることにより、選択的に所望の高電圧を供給で
き、不揮発性半導体記憶装置の単一電源動作に非常に貢
献している。
【0004】このような外部の電源電圧を内部で昇圧し
て選択的に所望の高電圧を供給する昇圧回路として、た
とえば、特開平10-304653号公報に開示された図16に
示すようなチャージポンプ型昇圧回路が知られている。
なお、図16のチャージポンプ型昇圧回路は正昇圧回路
である。
【0005】以下、従来の昇圧回路である図16につい
て説明する。1はチャージポンプ手段、2は出力端子、
3はクロック生成手段、4は出力整流部である。
【0006】図16に示すチャージポンプ型昇圧回路
は、直列に接続された昇圧セル群P1〜Pnからなるチ
ャージポンプ手段1と、チャージポンプ手段の各昇圧セ
ル群P1〜Pnに供給されるクロックを生成するクロッ
ク生成手段3、チャージポンプ手段の出力を整流する出
力整流部から構成される。
【0007】従来のチャージポンプ型昇圧回路は、昇圧
用クロックCLK1〜CLKnを入力して、チャージポ
ンプ手段1を構成する少なくとも1つの昇圧セルで構成
されている各昇圧セル群P1〜Pn(この場合1つの昇
圧セルを昇圧セル群と呼んでいる)を選択的に駆動し、
昇圧セル群P1〜Pnの段数を切り替えることにより、
電源電圧Vddから昇圧される電圧を所望の電圧に切り替
え、その電圧Vppを出力端子2から得るものであって、
ダイオードDo1〜Donが直列接続され、各々のダイ
オードD1〜Dnのカソードに対しては、昇圧用の容量
性素子C1〜Cnを介してクロック生成手段3から生成
される昇圧用のクロックCLK1〜CLKnが供給され
る。出力整流部4は整流用ダイオードDo1〜Donと容
量性素子Coから構成され、各昇圧セル群P1〜Pnの出
力がそれぞれ整流用ダイオードDo1〜Donと容量性素
子Coを介して共通の出力端子2に接続されている。ク
ロック生成手段3からは、各昇圧セル群P1〜Pnの個
数に応じた昇圧用クロックCLK1〜CLKnが供給さ
れ、各クロックCLK1〜CLKnがそれぞれ個別に各
昇圧セル群P1〜Pnに与えられている。また、クロッ
ク生成手段3から出力される昇圧用クロックCLK1〜
CLKnの内、奇数番目のクロックCLK1、CLK3
・・・と、偶数番目のクロックCLK2、CLK4・・
・とは、同一周波数でかつ逆位相の関係であって、各ク
ロックCLK1〜CLKnはすべてLレベルの時にはG
NDレベルに、Hレベルの時には電源電圧のVddレベル
になるように設定されている。
【0008】以上のように構成された昇圧回路につい
て、以下その動作を説明する。
【0009】始めに、クロック生成手段3から昇圧用ク
ロックCLK1〜CLKnが全て出力されている場合を
考える。
【0010】まず、奇数番目のクロックCLK1、CL
K3・・・がLレベル、偶数番目のクロックCLK2、
CLK4・・・がHレベルのとき、ダイオードD1には
順バイアスが加わり、容量性素子C1が充電されるの
で、初段の昇圧セル群P1のノードN1の電位は、Vddか
らダイオードD1の電圧降下分(=Vd)を引いた(Vdd-Vd)
の値になる。次に、奇数番目のクロックCLK1、CL
K3・・・がHレベル、偶数番目のクロックCLK2、
CLK4・・・がLレベルになると、ノードN1の電位
は(Vdd-Vd)からVdd分だけ昇圧されて(2Vdd-Vd)の値とな
る。
【0011】また、このとき、次段の昇圧セル群P2の
ダイオードD2に順バイアスが加わり、容量性素子C2
が充電されるので、そのノードN2の電位は、前段の昇
圧セル群P1のノードN1の電位からダイオードD2に
よる電圧降下分(=Vd)を引いた(2Vdd-Vd)-Vd=2(Vdd-Vd)
の値になる。続いて、奇数番目のクロックCLK1、C
LK3・・・がLレベル、偶数番目のクロックCLK
2、CLK4・・・がHレベルになると、ノードN2の
電位は2(Vdd-Vd)からVdd分だけ昇圧されて(3Vdd-2Vd)の
値となる。
【0012】また、このとき、次段の昇圧セル群P3の
ダイオードD3に順バイアスが加わり、容量性素子C3
が充電されるので、そのノードN3の電位は、前段の昇
圧セル群P2のノードN2の電位からダイオードD3に
よる電圧降下分(=Vd)を引いた(3Vdd-2Vd)-Vd=3(Vdd-V
d)の値になる。
【0013】以下、同様の動作を繰り返すことにより、
各昇圧セル群P1〜Pnの段数分だけ昇圧され、n段目
の昇圧セル群PnのノードNnの電位は、n・(Vdd-Vd)と
なる。そして、出力端子2で得られる最終的な出力電圧
Vppは、出力整流部4でノードNnの電位を保持するの
で、(n+1)・(Vdd-Vd)の値となる。
【0014】ただし、このような最終的な出力電圧Vpp=
(n+1)・(Vdd-Vd)に到達するまでの過渡的な動作は、出
力電圧Vppが低い場合、まず、昇圧セル群P1のノードN
1からダイオードDo1を介してVppに電荷を供給する。出
力端子2の電位Vppが徐々に上がっていくと、ダイオー
ドDo1は逆バイアスとなるため、その動作が停止する。
その後、ノードN1より昇圧されるノードN2からダイ
オードDo2を介してVppに電荷を供給する。出力端子2
の電位Vppが徐々に上がっていくと、ダイオードDo2は
逆バイアスとなるため、その動作が停止する。
【0015】以上の動作を繰り返し、出力端子2の最終
的な出力電圧Vppは(n+1)・(Vdd-Vd)の値となる。
【0016】ここで、たとえば、ある動作モードで出力
電圧Vppとしてn・(Vdd-Vd)の電圧が必要となった場合、
図示されていないマイクロコンピュータ等の制御回路か
らクロック制御信号を与えて、クロック生成手段3から
出力されている昇圧用クロックCLK1〜CLKnの
内、n段目の昇圧セル群Pnに供給されているクロック
CLKnの出力のみを停止する。すると、この昇圧セル
群Pnにおける昇圧動作が停止するが、それより前段側
にある各昇圧セル群P1〜P(n-1)にはクロックCLK1
〜CLK(n-1)が継続的に供給されるので、(n-1)段目の
昇圧セル群P(n-1)のノードN(n-1)の電位は昇圧されて
(n-1)・(Vdd-Vd)となる。
【0017】このとき、整流用ダイオードDo(n-1)と容
量性素子Coからなる出力整流部4によって、この(n-1)
段目の昇圧セル群P(n-1)のノードN(n-1)の電位を保持
するので、出力端子2で得られる最終的な出力電圧Vpp
は、n・(Vdd-Vd)の値となる。なお、この場合、他の整
流用ダイオードDo1〜Do(n-2)は逆バイアスになるので
動作はしない。
【0018】以上の動作から明らかなように、クロック
番号の大きな昇圧用クロックから順次クロックを停止し
ていくことで、出力端子2で得られる最終的な出力電圧
Vppの電位は減少していくことになる。
【0019】すなわち、クロック生成手段3から与えら
れる昇圧用クロックCLK1〜CLKnを供給するか、
停止するかを制御することによって、出力電圧Vppの値
として(Vdd-Vd)の整数倍の出力を任意に得ることができ
る。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の構成では、同時に1種類の出力電圧しか取り出せ
ず、さらに、電流負荷の変動に応じて電流駆動能力を変
更することができなかったので、同時に数種類の高電圧
が必要な場合に、もう1つ昇圧回路を用意する必要があ
り、またフラッシュEEPROM等の読み出しモードの
ように高い電流駆動能力が必要な場合に、最大の電流負
荷を考慮に入れて、電流駆動能力を設定しなければなら
ないため、容量性素子の面積が大きくなり、電流負荷が
小さい動作モードの場合にはその面積が非効率的に利用
されているという問題があった。
【0021】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、動作モードに応じて、数種類の高電圧の同時供給お
よび電流駆動能力の変更を可能とし、さらに回路規模削
減により低コスト化できるとともに効率良く安定した出
力電圧を供給できる高信頼性の昇圧回路を提供すること
を目的としている。
【0022】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明における昇圧回路は以下のように構成されて
いる。
【0023】請求項1に対応する発明は、入力電圧を昇
圧して出力する少なくとも1つの昇圧セルで構成された
複数個の昇圧セル群と、制御信号に応じて少なくとも2
つの前記昇圧セル群を直列または並列または直並列の組
み合わせのいずれかの形態で接続するよう切り替える昇
圧セル群切替手段と、前記昇圧セル群の出力を入力とし
半波整流して出力する整流手段とを備え、前記整流手段
の出力は全て共通の出力端子に出力されることを特徴と
する昇圧回路である。この構成によって、前記昇圧セル
群を直列または並列または直並列の組み合わせのいずれ
かの形態で自在に接続できるため、動作モードに対応し
た電流駆動能力を実現させつつ前記昇圧セル群の最終段
目の出力電圧を供給できる。
【0024】請求項2に対応する発明は、入力電圧を昇
圧して出力する少なくとも1つの昇圧セルで構成された
複数個の昇圧セル群と、制御信号に応じて少なくとも2
つの前記昇圧セル群を直列または並列または直並列の組
み合わせのいずれかの形態で接続するよう切り替える昇
圧セル群切替手段と、前記昇圧セル群の出力を入力とし
半波整流して出力する整流手段と、出力切替制御信号に
応じて前記ダイオード素子の出力の少なくとも1つを少
なくとも1つの出力端子に接続するよう切り替える出力
切替手段とを備えたことを特徴とする昇圧回路である。
この構成によって、請求項1に対応する作用と同様の作
用を奏することができ、さらに、最終段以外の前記昇圧
セル群の出力も同時に出力電圧として供給できる。
【0025】請求項3に対応する発明は、請求項1ない
し請求項2いずれか一項に記載の昇圧回路において、少
なくとも1つの出力電圧を入力としその電圧レベルを検
知する電圧レベル検知手段を備え、前記電圧レベル検知
手段の検知レベルに応じて前記昇圧セル群切替手段を制
御する前記制御信号を調整し、前記昇圧セル群を直列ま
たは並列または直並列に接続するよう切り替えることを
特徴とする昇圧回路である。この構成によって、請求項
1ないし請求項2に対応する作用と同様の作用を奏する
ことができ、さらに、出力電圧の電圧値を判定して前記
昇圧セル群切替手段を制御する前記制御信号を調整する
ことにより、前記昇圧セル群の接続を所望の接続に切り
替えることができるので、出力電圧を最適化できる。
【0026】請求項4に対応する発明は、請求項1ない
し請求項2いずれか一項に記載の昇圧回路において、少
なくとも1つの出力端子から流れる負荷電流の電流レベ
ルを検知する電流レベル検知手段を備え、前記電流レベ
ル検知手段の検知レベルに応じて前記昇圧セル群切替手
段を制御する前記制御信号を調整し、前記昇圧セル群を
直列または並列または直並列に接続するよう切り替える
ことを特徴とする昇圧回路である。この構成によって、
請求項1ないし請求項2に対応する作用と同様の作用を
奏することができ、さらに、負荷電流の電流値を判定し
て前記昇圧セル群切替手段を制御する前記制御信号を調
整することにより、前記昇圧セル群の接続を所望の接続
に切り替えることができるので、電流駆動能力を最適化
できる。
【0027】請求項5に対応する発明は、入力電圧を昇
圧して出力する少なくとも1つの昇圧セルで構成された
複数個の昇圧セル群と、位相制御信号に応じて各々の前
記昇圧セル群に位相を制御しながら各々昇圧用クロック
を供給する位相可変クロック生成手段と、前記昇圧セル
群の出力を入力とし半波整流して出力する整流手段とを
備えたことを特徴とする昇圧回路である。この構成によ
って、前記昇圧用クロックの位相をそれぞれ独立にずら
せるので、昇圧動作によって発生するノイズを低減でき
る。
【0028】請求項6に対応する発明は、請求項1〜4
のいずれか一項に記載の昇圧回路において、位相制御信
号に応じて各々の前記昇圧セル群に位相を制御しながら
各々昇圧用クロックを供給する位相可変クロック生成手
段とを備えたことを特徴とする昇圧回路である。この構
成によって、請求項1〜請求項4に対応する作用と同様
の作用を奏することができ、さらに、前記昇圧用クロッ
クの位相をそれぞれ独立にずらせるので、昇圧動作によ
って発生するノイズを低減できる。
【0029】請求項7に対応する発明は、入力電圧を昇
圧して出力する少なくとも1つの昇圧セルで構成された
複数個の昇圧セル群と、周波数制御信号に応じて各々の
前記昇圧セル群に周波数を制御しながら各々昇圧用クロ
ックを供給する周波数可変クロック生成手段と、前記昇
圧セル群の出力を入力とし半波整流して出力する整流手
段とを備えた昇圧回路である。この構成によって、前記
周波数可変クロック生成手段から出力される前記昇圧用
クロックの周波数を制御でき、前記昇圧用クロックの周
波数をそれぞれ独立に変えることができるので、所望の
前記昇圧セル群に対して周波数を変えた前記昇圧用クロ
ックを供給でき、前記昇圧セル群個々の電流駆動能力を
最適化できる。また、前記昇圧用クロックを停止するこ
とによって、動作モードに応じて不必要な前記昇圧セル
群を停止することもできる。
【0030】請求項8に対する発明は、請求項1〜4の
いずれか一項に記載の昇圧回路において、周波数制御信
号に応じて各々の前記昇圧セル群に周波数を制御しなが
ら各々昇圧用クロックを供給する周波数可変クロック生
成手段を備えたことを特徴とする昇圧回路である。この
構成によって、請求項1〜請求項4に対応する作用と同
様の作用を奏することができ、さらに、前記昇圧用クロ
ックの周波数をそれぞれ独立に変えることができるの
で、所望の前記昇圧セル群に対して周波数を変えた前記
昇圧用クロックを供給でき、前記昇圧セル群個々の電流
駆動能力を最適化できる。また、前記昇圧用クロックを
停止することによって、動作モードに応じて不必要な前
記昇圧セル群を停止することもできる。
【0031】請求項9に対する発明は、入力電圧を昇圧
して出力する少なくとも1つの昇圧セルで構成された複
数個の昇圧セル群と、振幅制御信号に応じて各々の前記
昇圧セル群に振幅を制御しながら各々昇圧用クロックを
供給する振幅可変クロック生成手段と、前記昇圧セル群
の出力を入力とし半波整流して出力する整流手段とを備
えた昇圧回路である。この構成によって、請求項1〜請
求項4に対応する作用と同様の作用を奏することがで
き、さらに、前記振幅可変クロック生成手段から出力さ
れる前記昇圧用クロックの振幅を制御でき、前記昇圧用
クロックの振幅をそれぞれ独立に変えることができるの
で、所望の前記昇圧セル群に対して振幅を変えた前記昇
圧用クロックを供給でき、前記昇圧セル群個々の電流駆
動能力を最適化できる。
【0032】請求項10に対する発明は、請求項1〜4
のいずれか一項に記載の昇圧回路において、振幅制御信
号に応じて各々の前記昇圧セル群に振幅を制御しながら
各々昇圧用クロックを供給する振幅可変クロック生成手
段を備えたことを特徴とする昇圧回路である。この構成
によって、請求項1〜請求項4に対応する作用と同様の
作用を奏することができ、さらに、前記昇圧用クロック
の振幅をそれぞれ独立に変えることができるので、所望
の前記昇圧セル群に対して振幅を変えた前記昇圧用クロ
ックを供給でき、前記昇圧セル群個々の電流駆動能力を
最適化できる。
【0033】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照しながら説明する。
【0034】図1は本発明の第1の実施形態における昇
圧回路の構成を示すブロック図であり、図16に示した従
来例に対応する部分には同一の符号を付す。図1におい
て、10は、制御信号により昇圧セル群の接続関係を切
り替える昇圧セル群切替手段である。各昇圧セル群P1
〜Pnの出力がそれぞれ整流用ダイオードDo1〜Don
と容量性素子Coを介して共通の出力端子2に接続され
て出力整流部4を構成している点は図16に示した従来例
の場合と同様である。
【0035】本実施形態における特徴は、入力された電
圧を昇圧して出力する複数の昇圧セル群P1〜Pnが、
昇圧セル群P1〜Pnを直列または並列または直並列に
接続するよう切り替える昇圧セル群切替手段10を介して
図のように接続され、各昇圧セル群P1〜Pnは各昇圧
用クロックCLK1〜CLKnにより駆動され、昇圧セ
ル群切替手段10は制御信号によって制御されていること
である。この構成により、昇圧セル群P1〜Pnを直列
または並列または直並列の組み合わせのいずれかの形態
で自在に接続できる。
【0036】具体的には、図2に示すように例えば、3
つの昇圧セル群P1〜P3が制御信号12、13により制御さ
れる昇圧セル群切替スイッチ14、15を介して図に示すよ
うに接続され、各昇圧セル群P1〜P3は各昇圧用クロッ
クCLK1〜CLK3により駆動されている。また、各昇
圧セル群P1〜P3の出力がそれぞれ整流用ダイオードD
o1〜Do3と容量性素子Coを介して共通の出力端子2に
接続されて出力整流部4を構成している点は図16に示し
た従来例の場合と同様である。なお、昇圧セル群切替ス
イッチ14、15は昇圧セル群切替手段10を構成している。
【0037】また、各昇圧セル群P1〜P3は互いに同一
構成であり、図3に示すように、複数のダイオードD1
1、D12及び容量性素子C11、C12から構成され、図示
されていないクロック生成手段から供給される昇圧用ク
ロックCLKまたはその反転信号により駆動され、容量
性素子C11からC12への電荷転送及びC12の充電と、容
量性素子C11の充電及びC12から出力側への電荷転送と
が交互に行われることにより、入力電圧を昇圧して出力
する機能をもっている。ここで、従来例である図16を説
明した時のように入力電圧を電源電圧のVddレベル、昇
圧用クロックCLKのL及びHレベルをそれぞれGND
レベル及び電源電圧のVddレベル、ダイオードD11、D1
2による電圧降下分をVdとすると、昇圧して出力される
電圧は、従来例である図16のチャージポンプ手段1と同
じ動作原理で、最小値及び最大値をそれぞれ2(Vdd-Vd)
及び(3Vdd-2Vd)として振動する。
【0038】また、昇圧セル群切替スイッチ14は、制御
信号12のL及びHレベルに応じて、昇圧セル群P2への
入力を電源電圧Vdd及び1段目の昇圧セル群P1の出力側
のノードN1に切り替えられる。同様に、昇圧セル群切
替スイッチ15は、制御信号13のL及びHレベルに応じ
て、昇圧セル群P3への入力を電源電圧Vdd及び2段目
の昇圧セル群P2の出力側のノードN2に切り替えられ
る。
【0039】以上のように構成された本実施例の昇圧回
路について、以下、その動作を説明する。
【0040】まず、図示されていないクロック生成手段
から同一の昇圧用クロックCLK1〜CLK3がすべて供
給され、各昇圧用クロックCLK1〜CLK3のL及びH
レベルがそれぞれGNDレベル及び電源電圧のVddレベ
ルに設定されている場合を考える。このとき、図示され
ていないマイクロコンピュータ等の制御回路から各制御
信号12、13を共にLレベルに設定すると、図2に示すよ
うに各昇圧セル群P1〜P3が3並列に接続され、図16の
従来例の昇圧回路および上記の構成で説明したように、
1段目の昇圧セル群P1〜P3の出力が保持されて、出力
電圧Vppレベルとして3(Vdd-Vd)が得られる。なお、各制
御信号12、13を共にHレベルに設定すると、各昇圧セル
群P1〜P3がすべて直列に接続され、3段目の昇圧セル
群P3の出力が保持されて、出力電圧Vppレベルとして7
(Vdd-Vd)を得ることもできる。
【0041】また、各制御信号12、13をそれぞれL及び
Hレベルに設定すると、昇圧セル群P1、P2は並列に接
続され、さらに昇圧セル群P2、P3は直列に接続され、
2段目の昇圧セル群P3の出力が保持されて、出力電圧Vp
pレベルとして5(Vdd-Vd)を得ることもできる。
【0042】ここで、電源電圧Vddを2.5[V]、図3におけ
る昇圧セル群P中のダイオードD11、D12による電圧降
下分Vdを0.5[V]に設定すると、たとえば、フラッシュEE
PROM等の読み出しモードでは、昇圧セル群P1〜P3を3
並列に接続することにより、容量性素子の面積を大きく
することなく、電流駆動能力を高めつつ出力電圧Vppと
して6[V]を供給でき、高電圧が必要な書き込み/消去モ
ードでは、昇圧セル群P1〜P3をすべて直列に接続し
て、出力電圧Vppとして高電圧14[V]を供給できる。ま
た、ある動作モードでは、昇圧セル群P1、P2を並列に
接続させ、昇圧セル群P2、P3を直列に接続することに
より、出力電圧Vppとして高電圧10[V]を供給できる。
【0043】以上のように第1の実施形態によれば、昇
圧セル群切替手段10を設けたことにより、昇圧セル群を
所望の構成に接続することができ、動作モードに応じて
制御信号により所望の電流駆動能力及び高電圧を1つの
昇圧回路で実現できる。
【0044】なお、本実施形態では、各昇圧セル群P1
〜Pnの構成素子としてダイオードD11、D12を用い、
出力整流部4の構成素子としてもダイオードDo1〜Do
nを用いたが、これらのダイオードに替えて、MOSト
ランジスターを用いても同様の効果を得ることができ
る。
【0045】さらに、本実施形態で使用した昇圧セル群
は、非常に基本的なチャージポンプ型昇圧回路で構成さ
れていたが、そのチャージポンプ型昇圧回路の代わりに
しきい値電圧相殺型や相補型のチャージポンプ型昇圧回
路等でも同様の効果を得ることができる。
【0046】また、本実施形態の具体例では、各昇圧セ
ル群P1〜P3を構成している昇圧セルR1、R2の数が2
つとしたが、昇圧セル群が1つあるいは3つ以上の昇圧
セルで構成されていても同様の効果を得ることができ
る。
【0047】さらに、本実施形態では、各昇圧セル群P
1〜P3を構成している昇圧セルの数が全て等しかった
が、それぞれ等しくなくても同様の効果を得ることがで
きる。この場合には、昇圧セル群の出力を所望の電圧に
なるようにより柔軟に調節できる。
【0048】また、整流用ダイオードDo1〜Donを各
昇圧セル群P1〜Pn毎に接続しているが、所望の昇圧
セル群のみに接続しても、同様の効果を得ることができ
る。ただし、その場合には、ある昇圧セル群接続パター
ン時において、電流駆動能力を高めることができなくな
ったり、取り出せる出力電圧の種類が減少するが、整流
用ダイオードを削減することができ、回路規模削減に有
利になる。
【0049】図4は本発明の第2の実施形態における昇
圧回路の構成を示すブロック図であり、図1に示した第
1の実施形態と対応する部分については同一の符号を付
す。図4において、16は出力整流部4の出力を切り替
えるための出力切替制御信号、17は出力切替制御信号
16に従って出力整流部4の出力を切り替え新たな出力
とする出力切替手段である。
【0050】この第2の実施形態の特徴は、出力制御切
替信号16に応じて、各整流用ダイオードDo1〜Don
の出力と各容量性素子Co1〜Conをそれぞれ接続してな
るノードX1〜Xnを入力とし、その入力を少なくとも
1つの出力端子Y1〜Ymに接続するよう切り替える出
力切替手段17を備えたことである。
【0051】具体的な例としては、図5に示すような構
成であり、図2に示した第1の実施形態と対応する部分
については同一の符号を付す。この実施形態の特徴は、
図5に示すように各ノードX1〜X3と各出力端子Y1、
Y2が接続され、出力切替制御信号16のH/Lレベルに応
じて出力端子Y1とY2を接続するか(ON状態)しないか
(OFF状態)を切り替える出力切替スイッチ18を備えたこ
とである。なお、図5のような各ノードX1〜X3と各出
力端子Y1、Y2の接続パターン及び出力切替スイッチ18
は出力切替手段17を構成している。その他の構成は、図
2に示した第1の実施形態と同様であるので、ここでは
詳細な説明は省略する。
【0052】以上のように構成された本実施例の昇圧回
路について、以下、その動作を説明する。
【0053】図示されていないクロック生成手段から同
一の昇圧用クロックCLK1〜CLK3がすべて供給さ
れ、各昇圧用クロックCLK1〜CLK3のL及びHレベ
ルがそれぞれGNDレベル及び電源電圧のVddレベルに
設定されている点は第1の実施形態の場合と同様であ
る。
【0054】また、図示されていないマイクロコンピュ
ータ等の制御回路からの各制御信号12、13に応じて、昇
圧セル群P2、P3の入力が電源電圧のVddレベル及び昇
圧セル群P1、P2の出力ノードN1、N2に切り替わる
点も第1の実施形態の場合と同様である。
【0055】この第2の実施形態の特徴は、各制御信号
12、13、及び出力切替制御信号16に応じて各昇圧セル
群P1〜P3の接続構成を変化させ、各出力端子Y1、Y2
から同時に複数の所望の出力電圧を得ることができる点
である。たとえば、図5に示すように、各制御信号12、
13を共にHレベルに設定すると、各昇圧セル群P1〜P3
がすべて直列(1直列3段構成)に接続され、この時、
出力切替制御信号16をLレベルに設定すると、各出力端
子Y1とY2が分離され、出力端子Y1からは、2段目の昇
圧セル群P2の出力が保持されて、出力電圧として10
[V](=5(Vdd-Vd))が得られ、出力端子Y2からは、3段
目の昇圧セル群P3の出力が保持されて、出力電圧とし
て14[V](=7(Vdd-Vd))が得られる。つまり、同時に複数
の出力電圧を得ることができる。
【0056】また、各制御信号12、13をそれぞれL及び
Hレベルに設定すると、昇圧セル群P1、P2は並列に接
続され、さらに昇圧セル群P2、P3は直列に接続され、
この時、出力切替制御信号16をLレベルに設定すると、
各出力端子Y1とY2が分離され、出力端子Y1からは、
1段目の昇圧セル群P1、P2の出力が保持されて、出力
電圧として6[V](=3(Vdd-Vd))が得られ、出力端子Y2か
らは、2段目の昇圧セル群P3の出力が保持されて、出力
電圧として10[V](=5(Vdd-Vd))が得られる。このとき
も、同時に複数の出力電圧を供給できるが、特に出力端
子Y1からは、電流駆動能力が高められた出力電圧を供
給することができる。
【0057】さらに、各制御信号12、13を共にLレベル
に、出力切替制御信号16をHレベルに設定すると、各出
力端子Y1とY2が接続され、各昇圧セル群P1〜P3が3
並列に接続されることにより、各出力端子Y1、Y2に
は共に1段目の昇圧セル群P1〜P3の出力が保持され
て、出力電圧として6[V](=3(Vdd-Vd))が得られる。な
お、出力切替制御信号16をHレベルに設定すると、各出
力端子Y1とY2が接続されるので、図2に示された第1
の実施形態の場合と同じ動作になる。
【0058】ここで、上記の動作をまとめると、図6の
動作図のようになる。
【0059】以上のように第2の実施形態によれば、昇
圧セル群切替手段10及び出力切替手段17を設けたことに
より、昇圧セル群を所望の構成に接続し、複数の出力電
圧を同時に供給することができる。すなわち、動作モー
ドに応じて所望の電流駆動能力を実現させつつ、複数の
高電圧を1つの昇圧回路で供給できる。
【0060】さらに、低電圧出力時には、有効に働いて
いない昇圧セル群を、低電圧出力をしている昇圧セル群
に対して並列に接続することにより、所望の電流駆動能
力に高めることができ、各昇圧セル群を有効利用できる
ので、面積的に有利になる。
【0061】図7は本発明の第3の実施形態における昇
圧回路の構成を示すブロック図であり、図4に示した第
2の実施形態と対応する部分については同一の符号を付
す。
【0062】この第3の実施形態の特徴は、出力端子Y
1〜Ymの信号の少なくとも1つを入力とし、その入力
された信号の電圧レベルを検知して、その電圧レベルに
応じて昇圧セル群切替手段10を制御する電圧レベル検知
手段19を備えたことである。
【0063】具体的な例としては、図8に示すような構
成があり、図5に示した第2の実施形態と対応する部分
については同一の符号を付す。
【0064】この実施形態の特徴は、出力端子Y2の信
号を入力とし、その入力された信号の電圧レベルを検知
して、その電圧レベルに応じて各制御信号12、13を制御
し、昇圧セル群切替スイッチ14、15を切り替える電圧レ
ベル検知手段19を備えたことである。その他の構成は、
図5に示した第2の実施形態と同様であるので、ここで
は詳細な説明は省略する。
【0065】以上のように構成された本実施例の昇圧回
路について、以下、その動作を説明する。
【0066】図示されていないクロック生成手段から同
一の昇圧用クロックCLK1〜CLK3がすべて供給さ
れ、各昇圧用クロックCLK1〜CLK3のL及びHレベ
ルがそれぞれGNDレベル及び電源電圧のVddレベルに
設定されている点は第1及び第2の実施形態の場合と同
様である。
【0067】また、図示されていないマイクロコンピュ
ータ等の制御回路からの各制御信号12、13に応じて、昇
圧セル群P2、P3の入力が電源電圧のVddレベル及び昇
圧セル群P1、P2の出力ノードN1、N2に切り替わる
点も第1及び第2の実施形態の場合と同様である。
【0068】さらに、図8に示すように各ノードX1〜
X3と各出力端子Y1、Y2が接続され、出力切替制御信
号16のH/Lレベルに応じて出力端子Y1とY2を接続する
か(ON状態)しないか(OFF状態)を切り替える点も第2
の実施形態の場合と同様である。
【0069】この第3の実施形態の特徴は、以下の点に
ある。
【0070】たとえば、第1及び第2の実施形態と同様
に電源電圧Vdd=2.5[V]、電圧降下分Vd=0.5[V]とし、昇
圧セル群P1、P2は並列に接続され、さらに昇圧セル群
P2、P3は直列に接続されている場合、出力端子Y2に
は、出力切替スイッチ18のON、OFFに無関係に、常に10
[V](=5(Vdd-Vd))が出力される。
【0071】また、電源電圧Vdd=2[V]、電圧降下分Vd=
0.5[V]とし、昇圧セル群P1、P2は並列に接続され、さ
らに昇圧セル群P2、P3は直列に接続されている場合、
出力端子Y2には、7.5[V](=5(Vdd-Vd))が出力される。
つまり、外部の電源電圧Vddが、ノイズや負荷電流が流
れることにより変動した場合、出力端子Y2の出力電圧
もそれに応じて変動する。
【0072】そこで、電圧レベル検知手段19により出
力端子Y2の電圧レベルを検知し、出力端子Y2の電圧
が所望の電圧よりも高い場合には、たとえば、各昇圧セ
ル群P1〜P3がすべて直列に接続されている構成から
昇圧セル群P1、P2は並列接続かつ昇圧セル群P2、P3
は直列接続される構成に昇圧セル群を組替えて、昇圧セ
ル群の段数を減らすように昇圧セル群切替スイッチ14、
15を制御する。
【0073】これとは逆に、出力端子Y2の電圧が所望
の電圧よりも低い場合には、昇圧セル群の段数を増やす
ように昇圧セル群切替スイッチ14、15を制御する。ここ
で、たとえば、出力端子Y2からの所望の出力電圧を10
[V]とした場合、電源電圧Vddが2.5[V]から2[V]に変動す
ると、そのままでは出力端子Y2からの出力電圧が7.5
[V]になり、低過ぎることになるので、これを電圧レベ
ル検知手段19により検知し、昇圧セル群の段数を増や
すように昇圧セル群切替スイッチ14、15を制御し、各昇
圧セル群P1〜P3をすべて直列に接続する。そうする
と、出力端子Y2には、出力切替スイッチ18のON、OF
Fに無関係に、10.5[V](=7(Vdd-Vd))が出力され、Vdd=2.
5[V]時の所望の出力電圧10[V]に近づけることができ
る。
【0074】以上のように第3の実施形態によれば、電
圧レベル検知手段19を設けたことにより、電源電圧Vd
dが変動して各出力端子Y1〜Ymの出力電圧が変動し
た場合でも、各出力電圧を検知し、昇圧セル群切替手段
10を制御して、昇圧セル群の段数を調整することによ
り、常に安定した出力電圧が得られるようになり、信頼
性が飛躍的に向上する。
【0075】なお、電流負荷が変動して、各出力端子Y
1〜Ymの出力電圧が変動した場合でも、各出力電圧を
検知し、昇圧セル群切替手段10を制御して、直列接続
されている昇圧セル群の段数を増減したり、並列接続さ
れている昇圧セル群の数を増減したりするなどして、昇
圧セル群の接続構成を調整することにより、所望の出力
電圧に近づけることができる。
【0076】また、図7に示す第3の実施形態では、出
力端子Y1〜Ymの全ての電圧レベルを検知していた
が、一部の出力端子の電圧レベルのみを検知しても同様
の効果を得ることができる。ただし、その場合には、検
知できる出力電圧の数が減少することになるが、その分
電圧レベル検知手段19の構造も簡素化され、さらに配
線領域も削減されるので、回路規模を低減できる。
【0077】図9は本発明の第4の実施形態における昇
圧回路の構成を示すブロック図であり、図4に示した第
2の実施形態と対応する部分については同一の符号を付
す。
【0078】この第4の実施形態の特徴は、出力端子Y
1〜Ymの少なくとも1つを入力とし、その出力端子Y1
〜Ymから流れる負荷電流の電流レベルを検知して、そ
の電流レベルに応じて昇圧セル群切替手段10を制御す
る電流レベル検知手段20を備えたことである。その他
の構成は、図4に示した第2の実施形態と同様であるの
で、ここでは詳細な説明は省略する。
【0079】以上のように構成された本実施例の昇圧回
路について、以下、その動作を説明する。
【0080】図示されていないクロック生成手段から同
一の昇圧用クロックCLK1〜CLKnがすべて供給さ
れている点は第1から第3の実施形態の場合と同様であ
る。
【0081】また、図示されていないマイクロコンピュ
ータ等の制御回路からの制御信号に応じて、各昇圧セル
群P1〜Pnが直列または並列または直並列の組み合わ
せのいずれかの形態で自在に接続するよう切り替わる点
も第1から第3の実施形態の場合と同様である。
【0082】さらに、出力切替制御信号16に応じて各
ノードX1〜Xnと各出力端子Y1〜Ymが所望の接続に
切り替わる点も第2及び第3の実施形態の場合と同様で
ある。
【0083】この第4の実施形態の特徴は、以下の点に
ある。
【0084】たとえば、昇圧セル群P1〜P(n-1)が全て
並列に接続され、昇圧セル群P(n-1)、Pnが直列に接
続されているとし、出力端子Y1〜Ymが、出力端子Y
1及びY2の2つのみとし、さらに(n-1)並列に接続
された1段目の昇圧セル群P1〜P(n-1)の出力が出力端
子Y1に、2段目の昇圧セル群Pnの出力が出力端子Y
2に接続されている場合、出力端子Y1を流れる負荷電
流の電流レベルを検知する。このとき、検知された負荷
電流の電流レベルが所望の電流レベルよりも増加した場
合、制御信号に応じて昇圧セル群切替手段10を制御
し、2段目の昇圧セル群Pnを1段目の昇圧セル群P1〜
P(n-1)に並列に追加することにより、電流駆動能力を
高めることができる。
【0085】以上のように第4の実施形態によれば、電
流レベル検知手段20を設けたことにより、出力端子Y1
〜Ymを流れる負荷電流の増加に応じてその電流レベル
を検知し、制御信号に応じて昇圧セル群切替手段10を
制御することにより、所望の段数目にある1つないし複
数の昇圧セル群に1つないし複数の昇圧セル群を並列に
付加することができ、電流駆動能力を高めることができ
る。
【0086】なお、図9に示す第4の実施形態では、出
力端子Y1〜Ymから流れる全ての負荷電流レベルを検
知していたが、一部の出力端子から流れる負荷電流レベ
ルのみを検知しても同様の効果を得ることができる。た
だし、その場合には、検知できる負荷電流の数が減少す
ることになるが、その分電流レベル検知手段20の構造
も簡素化されるので、回路規模を低減できる。
【0087】図10は本発明の第5の実施形態における
昇圧回路の構成を示すブロック図であり、図1に示した
第1の実施形態と対応する部分については同一の符号を
付す。
【0088】この第5の実施形態の特徴は、位相制御信
号に応じて各昇圧セル群P1〜Pnに所望の位相制御が
なされた昇圧用クロックCLK1〜CLKnを供給する
位相可変クロック生成手段21を備えたことである。
【0089】その他の構成は、図1に示した第1の実施
形態と同様であるので、ここでは詳細な説明は省略す
る。
【0090】以上のように構成された本実施の形態の昇
圧回路について、以下、その動作を説明する。
【0091】図示されていないマイクロコンピュータ等
の制御回路からの制御信号に応じて、各昇圧セル群P1
〜Pnが直列または並列または直並列の組み合わせのい
ずれかの形態で自在に接続するよう切り替わる点も第1
から第4の実施形態の場合と同様である。
【0092】また、各昇圧セル群P1〜Pnの出力がそ
れぞれ整流用ダイオードDo1〜Donと容量性素子Co
を介して共通の出力端子2に接続されて出力整流部4を
構成し、出力端子2には、最終段目の昇圧セル群の出力
が供給される点は第1の実施形態の場合と同様である。
【0093】この第5の実施形態の特徴は、以下の点に
ある。
【0094】たとえば、制御信号により各昇圧セル群P
1〜Pnをすべて並列に接続して使用する場合、位相制
御信号に応じて位相可変クロック生成手段21を制御し、
図11に示すように各昇圧用クロックCLK1〜CLK
n(周期T)の位相をそれぞれ等間隔にずらすように設
定すると、各昇圧セル群P1〜Pnにおける昇圧動作
(入力される昇圧用クロックと同じ周波数で、昇圧され
た電圧が振動する。)のピークを分散させることができ
るので、ノイズ発生を低減でき、さらに、出力端子2か
ら安定した出力電圧を得ることができる。
【0095】以上のように第5の実施形態によれば、位
相可変クロック生成手段21を設けたことにより、位相
制御信号に応じて各昇圧セル群P1〜Pnに所望の位相
制御がなされた昇圧用クロックCLK1〜CLKnを供
給できるので、ノイズ発生を低減でき、さらに出力端子
2から安定した出力電圧を供給できる。
【0096】なお、部分的に並列接続されている昇圧セ
ル群に対して、位相可変クロック生成手段21から所望
の位相制御がなされた昇圧用クロックを供給しても、同
様の効果を得ることができる。
【0097】また、第2から第4の実施形態に記載の昇
圧回路において、位相可変クロック生成手段21を設け
ても同様の効果を得ることができる。
【0098】図12は本発明の第6の実施形態における
昇圧回路の構成を示すブロック図であり、図1に示した
第1の実施形態と対応する部分については同一の符号を
付す。
【0099】この第6の実施形態の特徴は、周波数制御
信号に応じて各昇圧セル群P1〜Pnに所望の周波数制
御がなされた昇圧用クロックCLK1〜CLKnを供給
する周波数可変クロック生成手段22を備えたことであ
る。
【0100】その他の構成は、図1に示した第1の実施
形態と同様であるので、ここでは詳細な説明は省略す
る。
【0101】以上のように構成された本実施の形態の昇
圧回路について、以下、その動作を説明する。
【0102】図示されていないマイクロコンピュータ等
の制御回路からの制御信号に応じて、各昇圧セル群P1
〜Pnが直列または並列または直並列の組み合わせのい
ずれかの形態で自在に接続するよう切り替わる点も第1
から第5の実施形態の場合と同様である。
【0103】また、各昇圧セル群P1〜Pnの出力がそ
れぞれ整流用ダイオードDo1〜Donと容量性素子Co
を介して共通の出力端子2に接続されて出力整流部4を
構成し、出力端子2には、最終段目の昇圧セル群の出力
が供給される点も第1及第5の実施形態の場合と同様で
ある。
【0104】この第6の実施形態の特徴は、以下の点に
ある。
【0105】たとえば、制御信号により各昇圧セル群P
1〜Pnをすべて直列に接続して使用している場合、周
波数制御信号に応じて周波数可変クロック生成手段22
を制御し、図13に示すように各昇圧用クロックCLK
1〜CLKn(周期T)の周波数を2倍に設定(周期T
/2)すると、各昇圧セル群P1〜Pnにおける昇圧動
作(入力される昇圧用クロックと同じ周波数で、昇圧さ
れた電圧が振動する。)能力が2倍に高められるので、
出力端子2からは、電流駆動能力が2倍に高められた出
力電圧を得ることができる。
【0106】以上のように第6の実施形態によれば、周
波数可変クロック生成手段22を設けたことにより、周
波数制御信号に応じて各昇圧セル群P1〜Pnに所望の
周波数制御がなされた昇圧用クロックCLK1〜CLK
nを供給することができ、出力電圧の電流駆動能力を所
望の大きさに高めることができる。
【0107】さらに、昇圧用クロックの周波数を上げ、
電流駆動能力を高めることにより、並列接続で用いられ
ている昇圧セル群の数を減らすことができるので、回路
規模の削減ができ、低コスト化できる。
【0108】また逆に、昇圧用クロックCLK1〜CL
Knの少なくとも1つの周波数を小さくすることによ
り、無駄な出力電圧の電流駆動能力を小さくすることも
できるが、この場合には、消費電力を低減できる。
【0109】さらに、各昇圧セル群P1〜Pnがすべて
直列に接続されていなくても、同様の効果を得ることが
できる。
【0110】また、昇圧用クロックの周波数をゼロにし
て、昇圧用クロックを停止することもできるが、最終段
目の昇圧セル群に供給されている昇圧用クロックから順
次停止させていくことにより、出力電圧を調整すること
もできる。この場合、不要な昇圧用クロックの生成及び
昇圧セル群の不要な昇圧動作を完全に停止することがで
きるので、消費電力を低減できる。
【0111】さらに、第2から第4の実施形態に記載の
昇圧回路において、周波数可変クロック生成手段22を
設けても同様の効果を得ることができる。
【0112】図14は本発明の第7の実施形態における
昇圧回路の構成を示すブロック図であり、図1に示した
第1の実施形態と対応する部分については同一の符号を
付す。
【0113】この第7の実施形態の特徴は、振幅制御信
号に応じて各昇圧セル群P1〜Pnに所望の振幅制御が
なされた昇圧用クロックCLK1〜CLKnを供給する
振幅可変クロック生成手段23を備えたことである。
【0114】また、各昇圧セル群P1〜Pnは図3に示
すように2つの昇圧セルR1、R2で構成されていると
する。
【0115】その他の構成は、図1に示した第1の実施
形態と同様であるので、ここでは詳細な説明は省略す
る。
【0116】以上のように構成された本実施の形態の昇
圧回路について、以下、その動作を説明する。
【0117】図示されていないマイクロコンピュータ等
の制御回路からの制御信号に応じて、各昇圧セル群P1
〜Pnが直列または並列または直並列の組み合わせのい
ずれかの形態で自在に接続するよう切り替わる点も第1
から第6の実施形態の場合と同様である。
【0118】また、各昇圧セル群P1〜Pnの出力がそ
れぞれ整流用ダイオードDo1〜Donと容量性素子Co
を介して共通の出力端子2に接続されて出力整流部4を
構成し、出力端子2には、最終段目の昇圧セル群の出力
が供給される点も第1、第5及び第6の実施形態の場合
と同様である。
【0119】この第7の実施形態の特徴は、以下の点に
ある。
【0120】たとえば、制御信号により各昇圧セル群P
1〜Pnをすべて直列に接続して使用している場合、振
幅制御信号に応じて振幅可変クロック生成手段23を制
御し、図15に示すようにn番目の昇圧用クロックCL
Knの振幅のみを2倍(2Vdd)に設定すると、昇圧セ
ル群Pnにおける昇圧動作能力が高められる。
【0121】具体的には、電源電圧Vddを2.5[V]、図3
におけるダイオードD11、D12による電圧降下分Vd
を0.5[V]、昇圧セル群P1〜Pnの数nを3とすると、
通常の各昇圧用クロックCLK1〜CLKn(Lレベル
がGNDレベル、Hレベルが電源電圧Vddレベル)を用
いて各昇圧セル群P1〜Pnを駆動した場合、出力端子
2から得られる最終的な電圧は14[V](=(2n+1)(Vdd-Vd))
となるが、図15に示すようにn番目の昇圧用クロック
CLKnの振幅のみを2倍(2Vdd)に設定すると、出
力端子2から得られる最終的な電圧は21[V](=2n(Vdd-V
d)+2(2Vdd-Vd))となり、最終的な出力電圧を大きくする
ことができる。
【0122】以上のように第7の実施形態によれば、振
幅可変クロック生成手段23を設けたことにより、振幅制
御信号に応じて各昇圧セル群P1〜Pnに所望の振幅制
御がなされた昇圧用クロックCLK1〜CLKnを供給
できるので、各昇圧セル群P1〜Pnの構成を変えず
に、最終的な出力電圧を所望の電圧に変えることができ
る。
【0123】なお、上記の例では、昇圧用クロックCL
Knの振幅を大きくしたが、昇圧用クロックCLK1〜
CLKnの少なくとも1つの振幅を小さくすることによ
り、最終的な出力電圧を下げることもできるが、この場
合、消費電力を低減できる。
【0124】また、各昇圧セル群P1〜Pnがすべて直
列に接続されていなくても、同様の効果を得ることがで
きる。
【0125】さらに、第2から第4の実施形態に記載の
昇圧回路において、振幅可変クロック生成手段23を設
けても同様の効果を得ることができる。
【0126】その他、本発明はその要旨を逸脱しない範
囲で種々変形して実施できる。
【0127】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、入
力電圧を昇圧して出力する少なくとも1つの昇圧セルで
構成された複数の昇圧セル群に対して、昇圧セル群切替
手段を設けたことにより、昇圧セル群を直列または並列
または直並列の所望の接続構成に変えることができ、1
つの昇圧回路で出力電圧及び電流駆動能力を最適化で
き、さらに昇圧セル群を効率良く利用するため回路規模
を削減できる、低コスト、高効率及び高信頼性の優れた
昇圧回路を実現するものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態における昇圧回路の構
成を示すブロック図
【図2】本発明の第1の実施形態における昇圧回路の構
成の一例を示すブロック図
【図3】昇圧セルで構成された昇圧セル群の構成を示す
回路図
【図4】本発明の第2の実施形態における昇圧回路の構
成を示すブロック図
【図5】本発明の第2の実施形態における昇圧回路の構
成の一例を示すブロック図
【図6】本発明の第2の実施形態における昇圧セル群の
接続構成に応じて、取り出せる出力電圧の種類を説明す
るための図
【図7】本発明の第3の実施形態における昇圧回路の構
成を示すブロック図
【図8】本発明の第2の実施形態における昇圧回路の構
成の一例を示すブロック図
【図9】本発明の第4の実施形態における昇圧回路の構
成を示すブロック図
【図10】本発明の第5の実施形態における昇圧回路の
構成を示すブロック図
【図11】本発明の第5の実施形態における昇圧セル群
に入力する昇圧用クロックの波形の一例を示す図
【図12】本発明の第6の実施形態における昇圧回路の
構成を示すブロック図
【図13】本発明の第6の実施形態における昇圧セル群
に入力する昇圧用クロックの波形の一例を示す図
【図14】本発明の第7の実施形態における昇圧回路の
構成を示すブロック図
【図15】本発明の第7の実施形態における昇圧セル群
に入力する昇圧用クロックの波形の一例を示す図
【図16】従来の昇圧回路の構成を示す回路図
【符号の説明】
1 チャージポンプ手段 2 クロック生成手段 3 出力整流部 10 昇圧セル群切換手段 12,13 制御信号 14,15昇圧セル群切換スイッチ 16 出力切換制御信号 17 出力切換手段 18 出力切換スイッチ 19 電圧レベル検知手段 20 電流レベル検知手段 21 位相可変クロック生成手段 22 周波数可変クロック生成手段 23 振幅可変クロック生成手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 渕上 郁雄 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 西田 要一 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 (72)発明者 木村 智生 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5H730 AA14 AA15 BB02 BB57 BB82 BB86 FD01 FG07

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力電圧を昇圧して出力する少なくとも
    1つの昇圧セルで構成された複数個の昇圧セル群と、制
    御信号に応じて少なくとも2つの前記昇圧セル群を直列
    または並列または直並列の組み合わせのいずれかの形態
    で接続するよう切り替える昇圧セル群切替手段と、前記
    昇圧セル群の出力を入力とし半波整流して出力する整流
    手段とを備え、前記整流手段の出力は全て共通の出力端
    子に出力されることを特徴とする昇圧回路。
  2. 【請求項2】 入力電圧を昇圧して出力する少なくとも
    1つの昇圧セルで構成された複数個の昇圧セル群と、制
    御信号に応じて少なくとも2つの前記昇圧セル群を直列
    または並列または直並列の組み合わせのいずれかの形態
    で接続するよう切り替える昇圧セル群切替手段と、前記
    昇圧セル群の出力を入力とし半波整流して出力する整流
    手段と、出力切替制御信号に応じて前記整流手段の出力
    の少なくとも1つを少なくとも1つの出力端子に接続す
    るよう切り替える出力切替手段とを備えたことを特徴と
    する昇圧回路。
  3. 【請求項3】 請求項1ないし請求項2いずれか一項に
    記載の昇圧回路において、少なくとも1つの出力電圧を
    入力としその電圧レベルを検知する電圧レベル検知手段
    を備え、前記電圧レベル検知手段の検知レベルに応じて
    前記昇圧セル群切替手段を制御する前記制御信号を調整
    し、前記昇圧セル群を直列または並列または直並列に接
    続するよう切り替えることを特徴とする昇圧回路。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし請求項2いずれか一項に
    記載の昇圧回路において、少なくとも1つの出力端子か
    ら流れる負荷電流の電流レベルを検知する電流レベル検
    知手段を備え、前記電流レベル検知手段の検知レベルに
    応じて前記昇圧セル群切替手段を制御する前記制御信号
    を調整し、前記昇圧セル群を直列または並列または直並
    列に接続するよう切り替えることを特徴とする昇圧回
    路。
  5. 【請求項5】 入力電圧を昇圧して出力する少なくとも
    1つの昇圧セルで構成された複数個の昇圧セル群と、位
    相制御信号に応じて各々の前記昇圧セル群に位相を制御
    しながら各々昇圧用クロックを供給する位相可変クロッ
    ク生成手段と、前記昇圧セル群の出力を入力とし半波整
    流して出力する整流手段とを備えたことを特徴とする昇
    圧回路。
  6. 【請求項6】 請求項1〜4のいずれか一項に記載の昇
    圧回路において、位相制御信号に応じて各々の前記昇圧
    セル群に位相を制御しながら各々昇圧用クロックを供給
    する位相可変クロック生成手段とを備えたことを特徴と
    する昇圧回路。
  7. 【請求項7】 入力電圧を昇圧して出力する少なくとも
    1つの昇圧セルで構成された複数個の昇圧セル群と、周
    波数制御信号に応じて各々の前記昇圧セル群に周波数を
    制御しながら各々昇圧用クロックを供給する周波数可変
    クロック生成手段と、前記昇圧セル群の出力を入力とし
    半波整流して出力する整流手段とを備えたことを特徴と
    する昇圧回路。
  8. 【請求項8】 請求項1〜4のいずれか一項に記載の昇
    圧回路において、周波数制御信号に応じて各々の前記昇
    圧セル群に周波数を制御しながら各々昇圧用クロックを
    供給する周波数可変クロック生成手段を備えたことを特
    徴とする昇圧回路。
  9. 【請求項9】 入力電圧を昇圧して出力する少なくとも
    1つの昇圧セルで構成された複数個の昇圧セル群と、振
    幅制御信号に応じて各々の前記昇圧セル群に振幅を制御
    しながら各々昇圧用クロックを供給する振幅可変クロッ
    ク生成手段と、前記昇圧セル群の出力を入力とし半波整
    流して出力する整流手段とを備えたことを特徴とする昇
    圧回路。
  10. 【請求項10】 請求項1〜4のいずれか一項に記載の
    昇圧回路において、振幅制御信号に応じて各々の前記昇
    圧セル群に振幅を制御しながら各々昇圧用クロックを供
    給する振幅可変クロック生成手段を備えたことを特徴と
    する昇圧回路。
JP15791299A 1999-06-04 1999-06-04 昇圧回路 Expired - Fee Related JP3402259B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15791299A JP3402259B2 (ja) 1999-06-04 1999-06-04 昇圧回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15791299A JP3402259B2 (ja) 1999-06-04 1999-06-04 昇圧回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000350439A true JP2000350439A (ja) 2000-12-15
JP3402259B2 JP3402259B2 (ja) 2003-05-06

Family

ID=15660179

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15791299A Expired - Fee Related JP3402259B2 (ja) 1999-06-04 1999-06-04 昇圧回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3402259B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004102780A1 (ja) * 2003-05-13 2004-11-25 Fujitsu Limited 半導体集積回路装置
JP2006087074A (ja) * 2004-08-17 2006-03-30 Nec Electronics Corp センサ用電源回路およびそれを用いたマイクロホンユニット
JP2007336722A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Sharp Corp 昇圧回路及び昇圧回路を用いた半導体装置
US7315194B2 (en) 2004-06-09 2008-01-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Booster circuit
JP2008005650A (ja) * 2006-06-23 2008-01-10 Toppan Printing Co Ltd チャージポンプ回路
JP2008054471A (ja) * 2006-08-28 2008-03-06 Toshiba Corp 昇圧回路および電圧供給回路
JP2008508841A (ja) * 2004-07-29 2008-03-21 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ チャージポンプを備えた装置、及びかかる装置を備えたlcdドライバ
JP2008193766A (ja) * 2007-02-01 2008-08-21 Spansion Llc 電圧発生回路及びその制御方法
JP2010231790A (ja) * 2010-04-23 2010-10-14 Renesas Electronics Corp 半導体装置
JP2014230365A (ja) * 2013-05-21 2014-12-08 新電元工業株式会社 電源装置及びこれを備えた電子部品試験装置
JP2018182819A (ja) * 2017-04-05 2018-11-15 株式会社デンソー チャージポンプ回路
CN114696594A (zh) * 2020-12-29 2022-07-01 上海神奕医疗科技有限公司 电源系统及输出电压控制方法
EP4580023A1 (en) 2023-12-27 2025-07-02 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Charge pump circuit

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04355661A (ja) * 1991-05-31 1992-12-09 Oki Electric Ind Co Ltd チャージポンプ回路
JPH05252731A (ja) * 1992-01-31 1993-09-28 Nec Corp 半導体集積回路
JPH10304653A (ja) * 1997-04-22 1998-11-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体昇圧回路
JPH1141917A (ja) * 1997-07-22 1999-02-12 S I I R D Center:Kk 電子機器
JPH1139893A (ja) * 1997-07-23 1999-02-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH1198010A (ja) * 1997-09-22 1999-04-09 Nec Yamagata Ltd 低電源用半導体装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04355661A (ja) * 1991-05-31 1992-12-09 Oki Electric Ind Co Ltd チャージポンプ回路
JPH05252731A (ja) * 1992-01-31 1993-09-28 Nec Corp 半導体集積回路
JPH10304653A (ja) * 1997-04-22 1998-11-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体昇圧回路
JPH1141917A (ja) * 1997-07-22 1999-02-12 S I I R D Center:Kk 電子機器
JPH1139893A (ja) * 1997-07-23 1999-02-12 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置
JPH1198010A (ja) * 1997-09-22 1999-04-09 Nec Yamagata Ltd 低電源用半導体装置

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN100423421C (zh) * 2003-05-13 2008-10-01 富士通株式会社 半导体集成电路装置
US7113027B2 (en) 2003-05-13 2006-09-26 Fujitsu Limited Semiconductor integrated circuit device
WO2004102780A1 (ja) * 2003-05-13 2004-11-25 Fujitsu Limited 半導体集積回路装置
US7508252B2 (en) 2003-05-13 2009-03-24 Fujitsu Microelectronics Limited Semiconductor integrated circuit device
US7315194B2 (en) 2004-06-09 2008-01-01 Kabushiki Kaisha Toshiba Booster circuit
JP2008508841A (ja) * 2004-07-29 2008-03-21 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ チャージポンプを備えた装置、及びかかる装置を備えたlcdドライバ
JP2006087074A (ja) * 2004-08-17 2006-03-30 Nec Electronics Corp センサ用電源回路およびそれを用いたマイクロホンユニット
JP2007336722A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Sharp Corp 昇圧回路及び昇圧回路を用いた半導体装置
JP2008005650A (ja) * 2006-06-23 2008-01-10 Toppan Printing Co Ltd チャージポンプ回路
US8130026B2 (en) 2006-08-28 2012-03-06 Kabushiki Kaisha Toshiba Booster circuit and voltage supply circuit
JP2008054471A (ja) * 2006-08-28 2008-03-06 Toshiba Corp 昇圧回路および電圧供給回路
JP2008193766A (ja) * 2007-02-01 2008-08-21 Spansion Llc 電圧発生回路及びその制御方法
JP2010231790A (ja) * 2010-04-23 2010-10-14 Renesas Electronics Corp 半導体装置
JP2014230365A (ja) * 2013-05-21 2014-12-08 新電元工業株式会社 電源装置及びこれを備えた電子部品試験装置
JP2018182819A (ja) * 2017-04-05 2018-11-15 株式会社デンソー チャージポンプ回路
CN114696594A (zh) * 2020-12-29 2022-07-01 上海神奕医疗科技有限公司 电源系统及输出电压控制方法
EP4580023A1 (en) 2023-12-27 2025-07-02 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Charge pump circuit
KR20250101898A (ko) 2023-12-27 2025-07-04 도요타지도샤가부시키가이샤 차지 펌프 회로
US12614980B2 (en) 2023-12-27 2026-04-28 Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha Charge pump circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JP3402259B2 (ja) 2003-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3488587B2 (ja) 昇圧回路及びこれを備えたicカード
JP2004274861A (ja) 昇圧回路
CN101542879B (zh) 多输出电源设备
US5581455A (en) Capacitive charge pump, BiCMOS circuit for low supply voltage and method therefor
US6693483B2 (en) Charge pump configuration having closed-loop control
JP3402259B2 (ja) 昇圧回路
JP2005538670A (ja) モジュラチャージポンプアーキテクチャ
US6816000B2 (en) Booster circuit
CN101159412A (zh) 包含升压电路的电子器件
US6903600B2 (en) Capacitor charge sharing charge pump
US20020014909A1 (en) Pump circuit boosting a supply voltage
JP5038706B2 (ja) 昇圧回路
JP2005267734A (ja) 昇圧回路及びそれを用いた不揮発性メモリ
CN101114524A (zh) 升压电路
US6605985B2 (en) High-efficiency power charge pump supplying high DC output currents
JP2010259155A (ja) 半導体装置
JP3544815B2 (ja) 電源回路及び不揮発性半導体記憶装置
JP4007494B2 (ja) 昇圧装置
JP3578248B2 (ja) 半導体昇圧回路
JP3566950B2 (ja) 昇圧回路を備えた半導体装置
JP2001069747A (ja) 昇圧回路
JP2003007075A (ja) 不揮発性半導体記憶装置
TW466495B (en) Charge pump circuit
CN114189147A (zh) 电荷泵电路及存储器
JP3560438B2 (ja) 昇圧回路及び降圧回路

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080229

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090228

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100228

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100228

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120229

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees