JP2000504111A - 分析測定器のためのコロナ放電イオン源 - Google Patents

分析測定器のためのコロナ放電イオン源

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Abstract

(57)【要約】 分析すべきサンプルの分子が導入されるイオン移動度セル(10)を具えたイオン移動度分光計。イオン移動度セル(10)はコロナ放電イオン化源(40)により生成したイオンでドープされる。動作の1つのモードにおいては、コロナ放電イオン化源(40)は継続的ドーパント流を生成するように動作して、および動作の第2のモードにおいては、コロナ放電イオン化源はドーパントイオンを選択的に生成する。動作の非連続モードにおいては、イオン移動度セル(10)はその代わりとして化学的ドーパントイオンを用いてドープすることができ、る2つのドーパント形態の間の切り替えが非常に迅速に達成される。イオン移動度分光計は爆発性化合物および麻酔薬の検出に対して好適であり、コロナ放電イオン化源からのイオンでドープされた爆発物のイオン移動度スペクトルは、化学的ドーパントでドープされたかかる爆発性化合物のイオン移動度スペクトルと異なる。

Description

【発明の詳細な説明】 分析測定器のためのコロナ放電イオン源 本発明は分析機器において用いるためのコロナ放電イオン源に関し、特にイオ ン移動度分光計(ion mobility spectrometer)において用いるための、コロナ放 電イオン源に関する。 従来、コロナ放電源はイオン移動度分光計において測定器の操作に必要な一次 イオンの生成のために用いられてきた。測定器は共に係属中の公開されたPCT 出願第WO/9311554号に示される。 そのようなコロナ放電イオン源を使用する主な理由は、最も頻繁に使用された ニッケル63放射性イオン化源を置き換えるためであった。コロナ放電イオン源 はニッケル63源よりも極めて安価である。それはまた放射性源の健康および安 全の要求事項に準拠せず、したがって国境などを越えて容易に運搬することがで きる。 ニッケル63源をコロナイオン源に置換するにあたって、コロナ放電イオン化 源を取りつけたイオン移動度分光計がニッケル63源を取りつけたときと同じの 範囲の化合物を検出することを保証するために、可能な限りニッケル63源によ り生成されるイオン−分子化学を再現することを重点としてきた。 図4は検出されるべき化合物または不純物の導入が無いときのイオン移動度分 光計の典型的出力を示す。このピークは複雑な系列のイオン−分子反応から得ら れた安定な分子イオン種に相当し、およびこのピークは一般に反応イオンピーク (Reactant Ion Peak: RIP)と呼ばれる。検出されるべきサンプル、たとえ ばこの例においてはRDX(セムテックス(Semtex)の主要成分)など、がイオン 移動度分光計に導入されたときに、反応イオンのみならず別のピーク(単数また は複数のピーク)が検出される。この方法に伴う問題点は、実際には、イオン移 動度分光計に入るサンプルが極めて多数の他の化合物を含有していることである 。もしこれら化合物がRDXイオンと類似の移動度を有するならば、RDXの代 表的ピークの大きさが減少し、およびある場合には汚染物質によってRDX ピークがもはや明確に視認できない程度にまで抑制される可能性がある。これら の条件下のイオン移動度分光計の出力の概略のプロットを図11に示す。 化学的ドーピングとして知られている技術が開発されてこの問題と取り組み、 そしてこの技術はイオン移動度分光法および化学的イオン化質量分析法(massspe ctrometry)に頻繁に使用されている。化学的ドーピングは一次イオンを生成する ために使用されるイオン化源(すなわち、コロナ放電イオン源またはニッケル6 3イオン源のいずれか)にかかわらずに用いて、装置に導入されたサンプル蒸気 をイオン化するやり方を変えてもよい。 そのような化学的ドーパントの使用は、プロクター(Procter)とトッド(Todd) とによってアナリティカル・ケミストリー(Ana1ytical Chemistry)、56巻、1 1号、1794−1797頁に記載されている。 概略において、化学的ドーパントは、典型的に蒸気またはガスの形態で測定装 置のイオン化領域に導入されて、ドーパントの化学物質が測定装置のイオン化領 域において主要な反応イオン種になるようにし、および、もし入ってくるサンプ ル蒸気分子がイオン化されるべきならば、サンプル蒸気分子はドーパント反応イ オンとのイオン−分子反応を受ける必要がある。 本発明によれば、コロナドーパントイオンを発生するように配置されたコロナ 放電イオン化源を含む分析用測定装置を提供する。 コロナ放電の点の周囲のエネルギー密度があるレベルより上位にあるとき、新 たな反応化合物が生成されるかもしれない。典型的には、放電が空気中で行われ るとき、これらの化合物はオゾン、窒素酸化物および励起された中性状態の窒素 を含む。これらの反応化合物が分析用測定装置中のイオン−分子化学に影響を及 ぼすので、以前の研究はその化合物の濃度を最小化して、それら化合物が測定装 置の機能に及ぼす作用を無視できるようにすることに向けられてきた。 しかし、コロナ放電イオン化源の生成物をドーパントイオンとして用いること ができ、それによって測定装置のイオン−分子化学を外部の制御のもとで変更さ せることができることが見いだされた。 好ましくは、分析用測定装置はイオン移動度分光計であり、そのイオン化領域 はコロナ放電イオン化源によって生成されたコロナドーパントイオンによって ドープされる。 たとえばコロナ放電の電子的制御によって、イオン移動度分光計のドーピング の形態は迅速にかつ容易に変更して、変化するイオン化化学条件を提供し、それ によって測定装置の感度および/または選択性を容易に変更することが可能であ る。 好ましくは、コロナ放電イオン化源はコロナドーパントイオンが実質的に連続 的に発生するように配置される。そのような条件下では、爆発性化合物の蒸気の ような小数の種類のサンプル蒸気のみが、効率的なイオン化、したがって検出が 可能である。このように、これらの化合物に対する分析用測定装置の選択性は、 放電化合物によってドープされていないシステムの選択性よりも良好である。 あるいはまた、分析用測定装置はコロナ放電イオン化源を切り替えるための切 り換え手段を有して、ドーパントイオンを選択的に生成するようにしてもよい。 したがって、コロナ放電イオン化源を取りつけた分析用測定装置は、時にはコロ ナドーパントイオンを生成してそのイオン化源のイオン化領域にドープするよう な条件下で動作することができ、および、またある時には、それらコロナドーパ ントイオンを生成しないような条件下で動作し、その時には非ドープ系として動 作することもできる。 ドープされた系とドープされない系との間の切り換えは、たとえば、電子的切 り換え手段により非常に短い時間内に、典型的には1秒の何分の一以内で、達成 することができる。したがって、イオン移動度分光計に加えられたサンプル蒸気 は、たとえば、2つの異なるドーピングの形態の下で迅速に分析することが可能 である。 2つの異なる形態の下でのサンプル蒸気の分析によって付加的な同定情報が提 供される。たとえば、系がドープされていない時にはサンプル蒸気をイオン化す ることができるが、放電化合物によってドープされた時にはそのサンプル蒸気が イオン化できず、そしてこれはサンプル蒸気が爆発性化合物からのものではない ことを指摘するのに役に立つこともありうる。他の場合においては、検出された イオンの移動度が2つのドーピングの形態のもとで異なっていてもよく、および そのサンプル蒸気から生成するイオン種が2つの形態において異なることを示す ことができる。両方の形態においてイオン化したすべてのサンプル蒸気がそれら の移動度を同じ量だけ変化させなかったときには、移動度はさらなる識別情報を も提供する。 好ましくは、分析用測定装置は異なる化学的ドーパントイオンを生成するよう に配置された化学的ドーパント手段をさらに有する。好ましくは、コロナ放電イ オン化源によりコロナドーパントイオンが生成されていない時に、化学的ドーパ ントイオンが生成される。化学的ドーパント手段は、分析用測定装置の循環する ガス流の中に取りつけられたガス透過性源とすることができる。 たとえば、もしコロナ放電イオン化源によって生成されたコロナドーパントイ オンの電子親和力またはプロトン親和力が透過性源から得られる化学ドーパント イオンのそれら親和力よりも大きいならば、このモードの動作は価値がある。 もし分析用測定装置がイオン移動度分光計ならば、分析すべきサンプルのイオ ン化に必要な1次イオンは、コロナドーパントイオンをも生成するコロナ放電イ オン源によって生成されるか、あるいはまたたとえばニッケル63などの放射性 源によって生成されるかのいずれであってもよい。後者の場合、コロナ放電イオ ン化源は測定装置のイオン化領域には取りつけられず、むしろその領域の外部に 、および可能であればイオン移動度分光計の本体の外側に、たとえば測定装置内 へのガス流の中に取りつけられることができる。たとえばコロナ放電イオン化源 はセルと結合された入ってくるガス流と直列に配置されてもよい。 コロナ放電によって生成されるコロナドーパントイオンはセル内に搬送され、 そして導入されるサンプルのイオン化の手段として作用するコロナ放電源なしに 、上述したようにしてドーパントとして作用する。この方法は、測定装置の中へ の高濃度のドーパントイオンの供給を可能にして、より積極的にセルをドープす ることができる。コロナドーパント化合物の生成を電子的に制御して、つけ加え られた測定装置の感度および選択性を増加することができる。 コロナ放電イオン化源は好ましくはシングル・ポイント源(single pointsourc e)またはダブル・ポイント源(double point source)のいずれかを有するパルス 化コロナイオン化装置である。 本発明をより容易に理解するために、特定の実施の形態を添付の図面を参照 し、実施例により記載する。これら図面において: 図1aは、化学的ドーパントの供給を一定にして、コロナイオン源ドーピング の動作を説明するために用いられるイオン移動度分光計の必須の要素の線図であ り; 図1bは、化学的ドーパントの供給を一定にする代りに化学的ドーパントの選 択的ドーピングを可能にするための切り換え配置を有する、図1aのイオン移動 度分光計を示す線図であり; 図2は、図1の装置において用いられるコロナイオン化源の概略の図であり; 図3および図4は、図1のイオン移動度分光計においてコロナイオン化源のド ーピングを使用した場合および不使用の場合のイオンピークをそれぞれプロット したグラフであり; 図5から図10までは、以下に記載する種々のサンプルの導入により図1のイ オン移動度分光計から得られた、イオンピークをプロットしたグラフであり;お よび 図11は、化学物質によってドープされないときの先行技術のイオン移動度分 光計の出力の概略図である。 図1aまたは図1bを参照するに、コロナイオン源ドーピングの発生および供 給を説明するために用いた装置はイオン移動度セル10を具えて、前記イオン移 動度セルがイオン注入ゲート12、およびドリフト管16に沿ってドリフト電界 (electric drift field)を確立するための電極18を有するドリフト領域16、 およびコレクタ電極20を有する。 サンプル材料は、熱脱着源30およびイオン注入ゲート12の領域においてイ オン移動度セル10に取りつけられたコロナイオン化源40を介してイオン移動 度セル10内に導入される。 サンプルワイプ(sample wipe)32によって、熱脱着源30内に導入された材 料は十分に加熱されて気化を起こし、脱着された蒸気は、キャリアガス流通過管 34を通してイオン化が行われるコロナイオン化源40内に流し込まれ、サンプ ルイオンは、いかなる未反応のドーパントイオンとも一緒になり、105℃のセ ル温度において動作するイオン移動度セル10の中に流し込まれる。 得られたプロットに関係する条件においては、サンプルはPTFEサンプルワ イプ32上に微粒子の形態で系に提供される。熱脱着源30はサンプルワイプに 向けて200℃の乾燥空気の流れを提供して、このように検体の蒸気をキャリア ガス流通過管34内に放出する。その検体の蒸気は続いてデュアル・ポイント(d ual point)コロナ放電イオン化源40に流し込まれ、ここでは検体分子とその源 において生成された反応イオンとの間の一連のイオン−分子反応の後に生成物イ オンが形成される。これらの生成物イオン(および通常はいくらかの未反応の反 応イオン)は次にゲートされてセルのドリフト領域16の中に入り、ここでそれ らはそれらのイオン移動度に応じて電気的に分離され、そして検出される。 イオン移動度セル10には、当業界においてよく知られている、たとえばポン プ24のようにその正確な動作のために必要な通常のキャリアおよびドリフトガ ス流を確立するための補助的手段と、電極18に印加された電位によって必要な ドリフト電界を確立するための手段とを設ける。 図1aにおいて、化学的ドーパント源26は分析用測定装置の循環ガス流内に 配置する。この循環はポンプ24を用いて行われる。化学的ドーパント源は、た とえば、ガス透過性源である。 図1bは、イオン移動度分光計に化学的ドーパントが選択的に添加されること ができるようにするための他の配置を示す。切り換え手段28は循環ガス流内に 用いられる。これは、たとえば、バルブ(表示せず)を含んでもよい。スイッチ 28は、その図に示したように、化学ドーパント源をガス流回路の中にもたらす ことおよびその外へ持ち出すことができる。 イオン化装置の本質的特徴を図2に示す。コロナイオン化源40は、ともに直 径10μmの2本の細い金製のワイヤ42および44を有し、これらワイヤ42 および44は、電気的に絶縁されたフルオロシント(Fluorosint)ホルダ内に設置 された清浄なスズメッキされた銅ワイヤ46および48上にスポット溶接されて いる。両ポイントは直径8mmの円形の断面を有する源領域54内に出現する。 作動中、源ブロック56は常に電気的に接地されている。 上述したコロナイオン化源40はパルスモードにおいて作動されて、関連する イオン移動度分光計内において分析のためのイオンのパケットを生成する。その 源40によって形成されたイオンは標準のブラッドベリー−ニールセン(Bradbur y-Nielsen)イオンゲート58に向けてドリフトし、そのゲートを通ってそれらイ オンは通常の手法によってイオン移動度分光計のドリフト空間に注入される。 一次コロナポイント42に印加されたコロナパルスと、イオン注入ゲート58 に印加されたゲーティングパルスとの間の遅延を最適化して、分光計のドリフト 空間内へのイオンの伝搬を最大とするようになし、その遅延は、源40の形状お よび寸法に従って、lmsから2msの範囲内にある。 源40の良好に動作させるために、共に生成されるべきイオンと同一極性であ る、一定の直流電圧およびパルス電圧の双方を1次ポイント42に印加し、一方 、2次ポイント44は1次ポイントの電圧とは反対の極性の直流電圧に保たれる 。 分光計のコロナイオン化源40において優勢であるイオン一分子化学は、2次 ポイント44における2次ポイント電圧を自続直流コロナ放電を開始するのに必 要な閾置電圧の下方から上方へ切り替えることによって、著しく変えることがで きる。 2次ポイント44におけるコロナ放電が自続的でない(すなわち、動作にあた り、コロナ放電が1次ポイントからの影響を必要とする)とき、イオン化学は標 準のニッケル63イオン化源を用いたイオン移動度分光計のイオン化学と事実上 同一であるが、一方、2次ポイント44において自続式のコロナ放電が確立され ているときには、異なるイオン化学(“立ち上がり端縁(leading edge)”化学と 称する)が観測される。 したがって、2次ポイント44に印加される電圧に不連続変化を起こさせるこ とによって源領域54において優勢であるイオン化学を変更することは単純なこ とである。これは、たとえば、ソフトウェアにより制御することのできるスイッ チ51を用いて行うことができる。 コロナイオン化源40において安定な動作を実現するために、1次ポイント4 2に印加された直流電圧は−300Vと−600Vとの間に設定し、およびパル スの大きさは−1.5kVと−2.5kVとの間に設定した。付随する図面に おいて示した全てのスペクトルに対して、実験条件は1つの例外を除いて同一で ある。その例外は、通常のイオン化学を用いて動作したとき、すなわちポイント 44上で自続式のコロナ放電なしに動作した時に、2次ポイント電圧を+800 Vに設定し、および、ポイント44における自続式のコロナ放電を伴う“立ち上 がり端縁”化学で動作したときは、+1100Vに設定したことである。 上述したパルスモードのデュアル・ポイントコロナ放電イオン化源40を取り つけたイオン移動度分光計のイオン化領域において優勢であるイオン−分子化学 はコロナポイント電圧を適当に変化させることにより著しく変更することができ る。(a)系の応答が慣例のニッケル63イオン化源(普通のイオン化学)の応 答に類似している形態において、および(b)いずれかのコロナポイントのエネ ルギー密度が反応領域にさらなるイオン種を導入するのに十分なほど高い場合に 、動作しているコロナ系を用いて、負イオンの移動度スペクトルが記録されてい る。後者の場合には、図3からわかるように、通常の反応イオンピーク62の立 ち上がり端縁に強いイオンピーク60が観測される。そのような状況に適合する 場合には、その効果は“立ち上がり端縁”化学と称する。 図4は、通常のイオン化学で得られた反応イオンピーク64を示す。 両方のスペクトルは、図1の系に導入された清浄なPTFEサンプルワイプ3 2を用いて記録され、および8個のイオンゲートパルスの平均をとった。 図面中に存在する全てのスペクトルは、ニコレ(Nico1et)の4904デジタル ・オシロスコープを用い、イオン移動度分光計10のコレクタ電極20に取り付 けた信号処理および分析回路から送られた、8個の各イオンゲートパルスの間に 生成された8個の独立のスペクトルの平均をとった信号であって、およびフロッ ピー・ディスクにストアした。 高爆発物のRDXが、それが“通常”および“立ち上がり端縁”化学が使用さ れる時のスペクトルにおける定性的な差を示す典型的な実証用化合物として選択 された。 9ngの量のRDXが清浄なサンプルワイプ上に付着されて、および図1の系 に提供された。普通のイオン化学が優勢であるとき、図5に示したスペクトルに 3つの強い生成物イオンピーク70、72、および74が9.76、10.47 および11.13msにおいて観測される。 立ち上がり端縁化学を導入する効果は、図6からわかるように、9.76およ び10.47msにおけるピークを抑制すること、および追加の生成物イオンピ ーク76が11.48msにおいて生じることである。スペクトルにおけるこの 明白な変化はRDXの同定のさらなる手段として利用できる。 化学を変更する間にサンプルワイプ32は熱脱着源30から取り除かないよう にして、図5および図6に示したスペクトルは同一のサンプルに対して記録され た。 清浄なサンプルワイプを、“WD−40”潤滑剤で汚染された一枚の紙で拭い て、そして図1の系に提供した。 図7は、通常のイオン化学を用いて得られたスペクトルを示す。 立ち上がり端縁化学を導入する効果は、図8に見られるように記録される。1 4.5msおよび17.5msにおける広いピーク80および82の強度は、1 0.5msにおけるピーク84および7.0msと9msとの間の86の強度の ように、大きく減少される。図7の通常の化学のスペクトルにおいて明瞭ではな い、追加のピーク88が約9.6msにおいて観測される。 RDXに対する系の応答に及ぼす“WD−40”バックグラウンドの効果は、 通常および立ち上がり端縁化学の両者について、図9および図10に示される。 図9は、WD−40に汚染され、およびその上に付着した9ngのRDXをも 有するワイプから得られたスペクトルを示す。このスペクトルは通常のイオン化 学を用いて記録された。明瞭に、RDX蒸気に関連する3つの生成したイオンピ ーク90、92、94が、WD−40汚染物に対応する広いピーク96および9 8と同じように観測された。 しかし、図1の測定装置が立ち上がり端縁化学で動作したとき、図10は、W D−40汚染ピーク96および98の強度が抑制されるが、図6のピーク76に 対応するRDXピーク100は存続することを示しており、このように立ち上が り端縁モードにおいてイオン化源40を用いたときに、RDXの存在を示すイ オンピーク100の強さのいかなる著しい低下を伴うことなく、バックグラウン ドの汚染を選択的に抑制する図1の系の能力を実証する。 イオン移動度分光計における用途を参照して本発明を記述してきたが、以前に 化学的ドーピングが使用されている適切な測定装置用途にも本発明を利用するこ ともできる。 加えて、本発明は、典型的には非常に高いプロトン親和力を有する麻酔薬の検 出に容易に利用することができる。動作における主要な差異は、放電ポイントに おける電圧の極性を切り替えることにより行われる“正イオン”モードにおいて イオン移動度分光計を動作させなければならないことである。コロナ放電イオン 化源により生じた、積極的な輸送(deportation)に付随する適当な化学的デポー ト(deport)はアンモニアである。 サリンのような他の気体もまた検出できる。
【手続補正書】 【提出日】1998年11月10日(1998.11.10) 【補正内容】 (1)明細書第10頁第6行(加えて、本発明は、…)から第12行(…また検 出できる。)までを削除する。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 テイラー,スティーブン,ジョン 英国 エイチピー6 5アールイー バッ キンガムシャ アメルスハム ハイド ヒ ース ウエストフィールド 2 (72)発明者 クラーク,アラステアー 英国 ダブリュディー2 5ジーエス ハ ートフォードシャ ワットフォード カー トランド クロウズ 47 (72)発明者 アーノルド,ポール,ダグラス 英国 エムケー42 9ティーエル ベッド フォードシャ ベッドフォード グロスタ ー ロード 33 【要約の続き】

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. コロナドーパントイオンを生成するように構成されたコロナ放電イオン化 源を含むことを特徴とする分析用測定装置。 2. 請求項1に記載の分析用測定装置において、前記測定装置がイオン移動度 分光計であり、そのイオン化領域をコロナ放電イオン化源により生成されたコロ ナドーパントイオンでドープすることを特徴とする分析用測定装置。 3. 請求項1または請求項2に記載の分析用測定装置において、コロナドーパ ントイオンを実質的に連続的に生成するようにコロナ放電イオン化源を構成した ことを特徴とする分析用測定装置。 4. 請求項1または請求項2に記載の分析用測定装置において、コロナ放電イ オン化源を切り替えて、コロナドーパントイオンが選択的に生成されるようにす る切り換え手段をさらに具えたことを特徴とする分析用測定装置。 5. 請求項4に記載の分析用測定装置において、異なる化学的ドーパントイオ ンを生成するように構成された化学的ドーパント手段をさらに具えたことを特徴 とする分析用測定装置。 6. 請求項5に記載の分析用測定装置において、前記化学的ドーパント手段は 、前記分析用測定装置の循環ガス流内に配設されたガス透過性源であることを特 徴とする分析用測定装置。 7. 請求項2から6のいずれかに記載の分析用測定装置において、前記コロナ 放電イオン化源により分析されるべきサンプルのイオン化のための一次イオンを 発生することを特徴とする分析用測定装置。 8. 請求項2から6のいずれかに記載の分析用測定装置において、分析される べきサンプルのイオン化のための一次イオンを生成するための放射性源をさらに 具えたことを特徴とする分析用測定装置。 9. 請求項8に記載の分析用測定装置において、前記コロナ放電イオン化源が 前記測定装置の外側に配置したことを特徴とする分析用測定装置。 10. 請求項9に記載の分析用測定装置において、前記コロナ放電イオン化源 が前記測定装置へのガス流内に配置したことを特徴とする分析用測定装置。 11. 請求項2から10のいずれかに記載の分析用測定装置において、前記コ ロナ放電イオン化源がシングル・ポイント源を有するパルスコロナイオン化装置 であることを特徴とする分析用測定装置。 12. 請求項2から10のいずれかに記載の分析用測定装置において、コロナ 放電イオン化源は、ダブル・ポイント源を有するパルスコロナイオン化装置であ ることを特徴とする分析用測定装置。 13. 前述の請求項のいずれかに記載の分析用測定装置において、爆発性化合 物を検出するようにしたことを特徴とする分析用測定装置。 14. 添付図面の図1から10を参照して特定して記載されおよび図1から1 0に示されているように、実質的に構成されおよび配置されたことを特徴とする 分析用測定装置。
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Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002141017A (ja) * 2000-08-02 2002-05-17 Ion Track Instruments Llc イオン移動度スペクトロメータ
JP2006507508A (ja) * 2002-09-25 2006-03-02 ユーティー−バッテル,エルエルシー 小型イオン移動度分光計用のパルス放電イオン源
JP2007504633A (ja) * 2003-05-13 2007-03-01 スミスズ グループ ピーエルシー Imsシステム
JP2008528993A (ja) * 2005-01-29 2008-07-31 スミスズ ディテクション−ワトフォード リミテッド 分析装置
JP2008541084A (ja) * 2005-05-14 2008-11-20 スミスズ ディテクション−ワトフォード リミテッド 検出システム及びドーパント
JP2009519462A (ja) * 2005-12-16 2009-05-14 スミスズ ディテクション‐トロント リミテッド 改良型のサンプル受けデバイスを備えるイオン移動度分光分析器
JP2010520597A (ja) * 2007-03-03 2010-06-10 スミスズ ディテクション−ワトフォード リミテッド 二つのドリフトチャンバを有するイオン移動度スペクトロメータ
JP2013535015A (ja) * 2010-06-29 2013-09-09 エンパイア テクノロジー ディベロップメント エルエルシー 粒子を検出または収集するための方法およびシステム
JP2014518380A (ja) * 2011-06-16 2014-07-28 スミスズ ディテクション モントリオール インコーポレイティド ループ形状イオン化源
CN106645368A (zh) * 2015-11-03 2017-05-10 中国科学院大连化学物理研究所 一种血液中丙泊酚在线检测仪及其应用
JP2023527044A (ja) * 2020-05-27 2023-06-26 スミスズ ディテクション-ワトフォード リミテッド イオンシャッタ、イオンシャッタのコントロール方法、及び検知方法及び装置

Families Citing this family (67)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9914552D0 (en) * 1999-06-23 1999-08-25 Graseby Dynamics Ltd Ion mobility spectrometers
DE19938392B4 (de) * 1999-08-05 2007-11-08 Dräger Safety AG & Co. KGaA Einlasssystem für Ionenmobilitätsspektrometer
WO2001033605A2 (en) * 1999-10-29 2001-05-10 Rijksuniversiteit Groningen Atmospheric pressure photoionization (appi): a new ionization method for liquid chromatography-mass spectrometry
US6639214B1 (en) * 2000-05-09 2003-10-28 Air Products And Chemicals, Inc. Method of improving the performance of an ion mobility spectrometer used to detect trace atmospheric impurities in gases
US6627878B1 (en) * 2000-07-11 2003-09-30 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy (Chemical agent) point detection system (IPDS) employing dual ion mobility spectrometers
GB0107311D0 (en) * 2001-03-23 2001-05-16 Secr Defence Corona ionisation source
DE10125907A1 (de) 2001-05-28 2002-12-12 Michael Karas Separation von chiralen Substanzen in einem Ionenmobilitätsspektrometer durch Zuführung selektiv wechselwirkender Kollisionsgase
US6797943B2 (en) * 2002-05-07 2004-09-28 Siemens Ag Method and apparatus for ion mobility spectrometry
US7095019B1 (en) 2003-05-30 2006-08-22 Chem-Space Associates, Inc. Remote reagent chemical ionization source
DE10235612B4 (de) * 2002-08-02 2012-06-21 Siemens Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung der Qualität von Schmieröl
US6803563B2 (en) * 2002-08-02 2004-10-12 Flender Service Gmbh Method and apparatus for monitoring the quality of lubricant
JP3787116B2 (ja) * 2002-11-06 2006-06-21 株式会社日立製作所 化学剤の探知方法
JP2004212073A (ja) 2002-12-27 2004-07-29 Hitachi Ltd 危険物探知装置及び危険物探知方法
JP4303499B2 (ja) * 2003-03-24 2009-07-29 株式会社日立ハイテクコントロールシステムズ 化学剤の探知装置
US6949741B2 (en) 2003-04-04 2005-09-27 Jeol Usa, Inc. Atmospheric pressure ion source
US7112785B2 (en) * 2003-04-04 2006-09-26 Jeol Usa, Inc. Method for atmospheric pressure analyte ionization
US20040262686A1 (en) * 2003-06-26 2004-12-30 Mohamad Shaheen Layer transfer technique
US20050082472A1 (en) * 2003-08-01 2005-04-21 Gerd Dahms Method and apparatus for monitoring the quality of lubricant
ITMI20041523A1 (it) * 2004-07-27 2004-10-27 Getters Spa Spettrometro di mobilita' ionica comprendente un elemento ionizzante a scarica a corona
US7138626B1 (en) * 2005-05-05 2006-11-21 Eai Corporation Method and device for non-contact sampling and detection
US7568401B1 (en) 2005-06-20 2009-08-04 Science Applications International Corporation Sample tube holder
US7326926B2 (en) * 2005-07-06 2008-02-05 Yang Wang Corona discharge ionization sources for mass spectrometric and ion mobility spectrometric analysis of gas-phase chemical species
JP2009501925A (ja) * 2005-07-20 2009-01-22 スミスズ ディテクション−ワトフォード リミテッド 検出システム
US7507972B2 (en) * 2005-10-10 2009-03-24 Owlstone Nanotech, Inc. Compact ionization source
US7576322B2 (en) * 2005-11-08 2009-08-18 Science Applications International Corporation Non-contact detector system with plasma ion source
US8026477B2 (en) * 2006-03-03 2011-09-27 Ionsense, Inc. Sampling system for use with surface ionization spectroscopy
US7700913B2 (en) 2006-03-03 2010-04-20 Ionsense, Inc. Sampling system for use with surface ionization spectroscopy
EP2035122A4 (en) 2006-05-26 2010-05-05 Ionsense Inc BENDING SAMPLING SYSTEM WITH OPEN TUBE FOR USE WITH SURFACE TREATMENT TECHNOLOGY
US7928364B2 (en) * 2006-10-13 2011-04-19 Ionsense, Inc. Sampling system for containment and transfer of ions into a spectroscopy system
US8440965B2 (en) 2006-10-13 2013-05-14 Ionsense, Inc. Sampling system for use with surface ionization spectroscopy
GB0620748D0 (en) 2006-10-19 2006-11-29 Smiths Group Plc Spectrometer apparatus
GB0621990D0 (en) * 2006-11-04 2006-12-13 Smiths Group Plc Detection
GB0625481D0 (en) * 2006-12-20 2007-01-31 Smiths Group Plc Detector apparatus and pre-concentrators
GB0625480D0 (en) * 2006-12-20 2007-01-31 Smiths Group Plc Detector apparatus, pre-concentrators and methods
GB0625478D0 (en) 2006-12-20 2007-01-31 Smiths Group Plc Detection apparatus
GB0625479D0 (en) 2006-12-20 2007-01-31 Smiths Group Plc Detection apparatus
TWI320395B (en) * 2007-02-09 2010-02-11 Primax Electronics Ltd An automatic duplex document feeder with a function of releasing paper jam
GB0707254D0 (en) 2007-04-14 2007-05-23 Smiths Detection Watford Ltd Detectors and ion sources
US8123396B1 (en) 2007-05-16 2012-02-28 Science Applications International Corporation Method and means for precision mixing
WO2009018305A1 (en) * 2007-07-30 2009-02-05 Particle Measuring Systems, Inc. Detection of analytes using ion mobility spectrometry
US8008617B1 (en) 2007-12-28 2011-08-30 Science Applications International Corporation Ion transfer device
GB2461346B (en) * 2008-07-04 2013-02-13 Smiths Group Plc Electrical connectors
GB0817433D0 (en) * 2008-09-23 2008-10-29 Thermo Fisher Scient Bremen Ion trap for cooling ions
GB2465166A (en) * 2008-11-06 2010-05-12 Brixs Ltd Security apparatus comprising an ion mobility spectrometer
US8071957B1 (en) 2009-03-10 2011-12-06 Science Applications International Corporation Soft chemical ionization source
US8207497B2 (en) 2009-05-08 2012-06-26 Ionsense, Inc. Sampling of confined spaces
US8716655B2 (en) * 2009-07-02 2014-05-06 Tricorntech Corporation Integrated ion separation spectrometer
CN103594327B (zh) * 2009-11-20 2016-06-15 同方威视技术股份有限公司 离子迁移谱仪以及提高其检测灵敏度的方法
CN102074448B (zh) * 2009-11-20 2014-09-24 同方威视技术股份有限公司 离子迁移谱仪以及提高其检测灵敏度的方法
CN101788529B (zh) * 2010-01-27 2013-09-11 徐伟 化学战剂检测仪及用其检测化学战剂的方法
US8822949B2 (en) 2011-02-05 2014-09-02 Ionsense Inc. Apparatus and method for thermal assisted desorption ionization systems
US8901488B1 (en) 2011-04-18 2014-12-02 Ionsense, Inc. Robust, rapid, secure sample manipulation before during and after ionization for a spectroscopy system
US8597405B2 (en) 2011-08-23 2013-12-03 Empire Technology Development Llc Self-cleaning electret filter
US8723111B2 (en) * 2011-09-29 2014-05-13 Morpho Detection, Llc Apparatus for chemical sampling and method of assembling the same
US9347917B2 (en) * 2012-03-28 2016-05-24 Dh Technologies Development Pte. Ltd. Mass spectrometry systems and methods for analyses on lipid and other ions using a unique workflow
US9337007B2 (en) 2014-06-15 2016-05-10 Ionsense, Inc. Apparatus and method for generating chemical signatures using differential desorption
CN104091750B (zh) * 2014-07-03 2017-02-15 广东南海启明光大科技有限公司 一种带载气和迁移气的脉冲离子阱迁移管
US9899196B1 (en) 2016-01-12 2018-02-20 Jeol Usa, Inc. Dopant-assisted direct analysis in real time mass spectrometry
US10636640B2 (en) 2017-07-06 2020-04-28 Ionsense, Inc. Apparatus and method for chemical phase sampling analysis
CN110958914A (zh) 2017-08-10 2020-04-03 拉皮斯坎系统股份有限公司 使用热稳定收集装置的物质检测的系统和方法
WO2019231859A1 (en) 2018-06-01 2019-12-05 Ionsense Inc. Apparatus and method for reducing matrix effects when ionizing a sample
CN110880445B (zh) 2018-09-06 2025-04-18 同方威视技术股份有限公司 一种基于脉冲采样的离子迁移谱仪及嗅探装置
US11609214B2 (en) 2019-07-31 2023-03-21 Rapiscan Systems, Inc. Systems and methods for improving detection accuracy in electronic trace detectors
JP7591031B2 (ja) 2019-08-26 2024-11-27 パーティクル・メージャーリング・システムズ・インコーポレーテッド トリガされるサンプリングシステム及び方法
JP7705845B2 (ja) 2019-10-28 2025-07-10 イオンセンス インコーポレイテッド 大気リアルタイムイオン化
WO2021231625A1 (en) 2020-05-12 2021-11-18 Rapiscan Systems, Inc. Sensitivity traps for electronic trace detection
US11913861B2 (en) 2020-05-26 2024-02-27 Bruker Scientific Llc Electrostatic loading of powder samples for ionization

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4271357A (en) * 1978-05-26 1981-06-02 Pye (Electronic Products) Limited Trace vapor detection
US5234838A (en) * 1990-04-17 1993-08-10 Environmental Technologies Group, Inc. Ammonia monitor based on ion mobility spectrometry with selective dopant chemistry
US5095206A (en) * 1990-06-01 1992-03-10 Environmental Technologies Group, Inc. Method and apparatus for improving the specificity of an ion mobility spectrometer utillizing sulfur dioxide dopant chemistry
US5283199A (en) * 1990-06-01 1994-02-01 Environmental Technologies Group, Inc. Chlorine dioxide monitor based on ion mobility spectrometry with selective dopant chemistry
WO1993011554A1 (en) * 1991-12-03 1993-06-10 Graseby Dynamics Limited Corona discharge ionisation source
GB2291200A (en) 1994-07-15 1996-01-17 Ion Track Instr Ion mobility spectrometer and method of operation for enhanced detection of narotics

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002141017A (ja) * 2000-08-02 2002-05-17 Ion Track Instruments Llc イオン移動度スペクトロメータ
JP2006507508A (ja) * 2002-09-25 2006-03-02 ユーティー−バッテル,エルエルシー 小型イオン移動度分光計用のパルス放電イオン源
JP2007504633A (ja) * 2003-05-13 2007-03-01 スミスズ グループ ピーエルシー Imsシステム
JP2008528993A (ja) * 2005-01-29 2008-07-31 スミスズ ディテクション−ワトフォード リミテッド 分析装置
JP2008541084A (ja) * 2005-05-14 2008-11-20 スミスズ ディテクション−ワトフォード リミテッド 検出システム及びドーパント
JP2009519462A (ja) * 2005-12-16 2009-05-14 スミスズ ディテクション‐トロント リミテッド 改良型のサンプル受けデバイスを備えるイオン移動度分光分析器
JP2010520597A (ja) * 2007-03-03 2010-06-10 スミスズ ディテクション−ワトフォード リミテッド 二つのドリフトチャンバを有するイオン移動度スペクトロメータ
JP2013535015A (ja) * 2010-06-29 2013-09-09 エンパイア テクノロジー ディベロップメント エルエルシー 粒子を検出または収集するための方法およびシステム
JP2014518380A (ja) * 2011-06-16 2014-07-28 スミスズ ディテクション モントリオール インコーポレイティド ループ形状イオン化源
CN106645368A (zh) * 2015-11-03 2017-05-10 中国科学院大连化学物理研究所 一种血液中丙泊酚在线检测仪及其应用
CN106645368B (zh) * 2015-11-03 2019-02-15 中国科学院大连化学物理研究所 一种血液中丙泊酚在线检测仪及其应用
JP2023527044A (ja) * 2020-05-27 2023-06-26 スミスズ ディテクション-ワトフォード リミテッド イオンシャッタ、イオンシャッタのコントロール方法、及び検知方法及び装置
JP7820311B2 (ja) 2020-05-27 2026-02-25 スミスズ ディテクション-ワトフォード リミテッド イオンシャッタ、イオンシャッタのコントロール方法、及び検知方法及び装置

Also Published As

Publication number Publication date
CA2245512C (en) 2004-11-02
WO1997028444A1 (en) 1997-08-07
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JP3844783B2 (ja) 2006-11-15
DE69720419T2 (de) 2004-03-04
EP0877934B1 (en) 2003-04-02
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US6225623B1 (en) 2001-05-01
DE69720419D1 (de) 2003-05-08
IL125514A0 (en) 1999-03-12
CA2245512A1 (en) 1997-08-07

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