JP2000516338A - ソース側負荷を有する電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置 - Google Patents
ソース側負荷を有する電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置Info
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Abstract
(57)【要約】
本発明は電界効果により制御可能な電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置を記述する。この回路装置は、電界効果により制御可能な別の半導体構成素子を有し、両方の半導体構成素子のドレイン端子及びゲート端子はそれぞれ相互に接続されており、この別の半導体構成素子を負荷電流の数分の1の電流が流れ、この回路装置は、両方の半導体構成素子のドレインソース電圧に依存してこの別の半導体構成素子の負荷電流を調整する手段を有する。この回路装置は、さらに別の手段(5)が設けられており、この別の手段(5)は、この別の半導体構成素子(2)を流れる負荷電流(I/n)を基準電流と比較し、さらにこの負荷電流が調整された電流を下回る場合には出力信号を発生することを特徴とする、電界効果により制御可能な電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置。
Description
【発明の詳細な説明】
ソース側負荷を有する電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置
記述
本発明は請求項1の上位概念記載の電界効果により制御される電力半導体構成
素子の小電流における負荷電流を検出するための回路装置に関する。
このような回路装置は例えばR,Frank及びA.Pshaenichの論文“Surviving Shor
t Circuits”,Machine Design,March 8,1990,p.89〜96に記述されている。こ
の論文では次のような原理が示されている。すなわち、パワーMOSFETの負
荷電流は、類似の面積に関してより小さいMOSFETをこのパワーMOSFE
Tに対して並列に接続し、さらにこのより小さいパワーMOSFET、いわゆる
「センス」FETのソース側に抵抗を直列に接続することによって検出できる、
という原理が示されている。パワーFETのドレイン側に負荷が接続されている
場合、他のFETには負荷電流にほぼ比例する電流が流れる。この場合、比例係
数はセンスFETの電流を導く面積のパワーFETの電流を導く面積に対する比
率に依存する。負荷をすなわちパワーFETを負荷電流が流れる場合、従ってこ
の負荷電流にほぼ比例する電流がセンスFET及び測
定抵抗を流れる。この測定抵抗においてこの負荷電流にほぼ比例する電圧が取り
出される。
この場合、前提条件は、この測定抵抗がこの負荷に適合するように調整されて
いることである。従って、他の負荷の場合には、測定抵抗を変更するか又は電圧
を検出する評価ロジックを変更する必要がある。
よって、従来の解決法においては、パワートランジスタでの電圧降下が測定さ
れる。この電圧降下が所定の値、例えば10mVより低い場合、無負荷を通知す
るロジック信号が発生される。従って、無負荷閾値の大きさはこのパワートラン
ジスタのオン抵抗に依存しており、よって結果的に不正確である。さらに小さな
負荷電流の測定の場合には誤差がますます大きくなる。
本発明の課題は、正確な無負荷識別回路を有する、ソース側負荷を有する電力
半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置を提供することである。
上記課題は請求項1の特徴部分記載の構成によって解決される。本発明の改善
実施形態は従属請求項の特徴部分記載の構成から得られる。
本発明の回路によって有利には電圧降下の代わりに「センス」電流がロジック
信号の検出のために使用される。
有利にはこの装置全体によって付加的に負荷欠如の場合にはこの半導体スイッ
チの制御が遮断切換される
。
本発明を次に2つの図面に基づいて詳しく説明する。
図1は本発明の回路装置を示す。
図2は図1のブロック5の実施形態を示す。
図1には参照符号1によってMOSFETの形式の電力半導体構成素子が示さ
れている。この電力半導体構成素子のドレインは給電電圧端子11に接続されて
いる。ソース端子は負荷4を介してアースに接続されている。さらにセンスFE
T2が設けられており、このセンスFET2のドレイン端子は同様に給電電圧端
子11に接続されている。ソース端子は別のMOSFET6の負荷区間を介して
評価装置5の入力側aに接続されている。演算増幅器3が設けられており、この
演算増幅器3の正の入力側はパワーMOSFET1のソース端子に接続され、こ
の演算増幅器3の反転入力側はMOSFET2のソース端子に接続されている。
パワーMOSFET1のゲート端子及びセンスMOSFET2のゲート端子は互
いに接続され、さらにチャージポンプ9の出力側に接続されている。このチャー
ジポンプ9は一方では給電電圧端子11に接続され、コンデンサ8を介して発振
器7の出力側に接続されている。この発振器7は入力側端子10に接続される入
力側を有する。さらにこの発振器7はアースに接続されている。相応の接続線路
e及びbを介して評価装置
5は給電電圧及びアースに接続されている。この評価装置5はさらに出力側d及
びcを有し、出力側cは出力側端子13に接続されている。出力側dはは別の演
算増幅器14の非反転入力側に接続され、この演算増幅器14の反転入力側はパ
ワーMOSFET1のソース端子に接続されている。パワーMOSFET1のゲ
ート端子は抵抗12を介してそのソース端子に接続されている。演算増幅器14
の出力側は発振器7の制御入力側に結合されている。
図2には図1の評価装置5の実施形態が示されている。接続端子aはMOSF
ET20のゲート端子及びドレイン端子に接続されている。さらにこの接続端子
aはMOSFET21のゲート端子に接続されている。MOSFET21のドレ
イン端子は電流源22を介して接続端子eに接続されている。この接続端子eさ
らに抵抗23を介してさらに別のMOSFET24のドレイン端子に接続されて
いる。抵抗23に対して並列に順方向にダイオード25が接続されている。さら
に接続端子eは電流源26を介してMOSFET28のドレイン端子及び出力側
端子cに接続される。MOSFET20、21、24及び28のソース端子は接
続端子bに接続されている。MOSFET28のドレイン端子とソース端子との
間にはツェナーダイオード27が逆方向に接続されている。MOSFET21の
ドレイン端子はMOSFET24のゲート端子及びM
OSFET28のゲート端子に接続されている。MOSFET24のドレイン端
子は出力側端子dに接続されている。
図1によれば、端子10に入力電圧を印加すると発振器が活性化され、これに
よりチャージポンプが動作状態になり、さらにパワーMOSFET1及びセンス
MOSFET2が導通切換される。この結果、電流が負荷4を流れ、演算増幅器
3の2つの入力側端子において異なる電位が発生する。演算増幅器3はこの差を
MOSFET6の制御によって相殺する。このようにして実際には負荷抵抗4は
MOSFET6の負荷区間によってプロポーショナルにシミュレートされる。し
かし、パワーMOSFET1を小電流が流れるの場合には、負荷4における電圧
も小さく、演算増幅器の誤差が調整過程にますます影響を及ぼして行く。これを
回避するためには、負荷4を流れる負荷電流負Iの数分の1の電流を形成する負
荷電流I/nが評価装置5の入力側に供給される。この評価装置5はこの負荷電
流から相応な大きさの基準電圧及びロジック信号を発生する。この基準電圧は演
算増幅器14の非反転入力側に供給され、この演算増幅器14はこの基準電圧を
負荷4で降下する電圧と比較する。この演算増幅器14の出力信号によって、負
荷欠如の場合には又は負荷損失の場合には、発振器7が遮断切換される。評価装
置5の任務は、入力側のセンス電流から出力端子dに
おける基準電圧を発生すること及び出力側cにおける無負荷通報のためのロジッ
ク電圧を生成することである。
これに関して図2で示されている実施例はトランジスタ20及び21による第
1のコンパレータ段を使用する。これらトランジスタ20及び21は入力してく
る比例負荷電流を電流源22の電流と比較する。入力側aの比例負荷電流が基準
電流22より小さい場合、抵抗23に亘る電圧降下が出力側dにおける基準電圧
を決定する。この電圧に合わせてパワートランジスタ1の電圧降下が調整される
。ダイオード25はこの基準電圧を入力側端子eにおける給電電圧Vbbを基準に
して例えば0.7Vに制限する。同時にコンパレータ20、21はレベル補助段
26、27を切り換える。このレベル補助段26、27でロジック信号「無負荷
」が生成される。従って、回路装置全体はパワーMOSFET1のオン抵抗に依
存せず、よって温度に対して安定している。
本発明をハイサイド(High-Side)スイッチに基づいて説明したが、本発明は
ローサイドスイッチに対しても適用可能である。この場合には、負荷4は2つの
MOSFETのドレイン側に設けるが、制御可能なスイッチ6及び測定抵抗5は
MOSFET2のソース側に接続したままにしておく。
【手続補正書】特許法第184条の8第1項
【提出日】平成10年6月23日(1998.6.23)
【補正内容】
明細書
ソース側負荷を有する電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置
記述
本発明は請求項1の上位概念記載の電界効果により制御される電力半導体構成
素子の小電流における負荷電流を検出するための回路装置に関する。
ヨーロッパ特許公開0294882号公報はインテリジェントハイサイド(Hi
gh-Side)パワースイッチを有する回路装置を記述している。このインテリジェ
ントハイサイドパワースイッチはMOSFETとして構成されており、電流セン
シングのための第2のMOSFETを有する。両方のMOSFETのゲート端子
及びドレイン端子はそれぞれ相互に接続されている。第2のMOSFETを負荷
MOSFETの負荷電流の数分の1の電流(fraction)が流れる。さらに、この
回路装置は電流検出装置を有する。負荷電流を検出するために、負荷MOSFE
Tのソース端子及び第2のMOSFETのソース端子はそれぞれ演算増幅器の入
力側に接続され、この演算増幅器の出力側は第3のMOSFETを制御する。こ
の第3のMOSFETの負荷区間は第2のMOSFETの負荷区間に直列に接続
されている。これによって、第2のMOSFETの電
流は、負荷MOSFETのドレイン-ソース電圧と第2のMOSFETのドレイ
ン-ソース電圧とが一致するように調整される。基準電流源を用いて、測定され
た電流と基準電流との間の比較が行われる。基準電流と第2のMOSFETを流
れるセンス電流との差に依存してロジック信号が発生される。
米国特許5004970号明細書は、パワーMOSFETに直列接続された負
荷を流れる、所定の基準電流よりも小さい負荷電流を検出するための回路装置を
記述している。目的は負荷遮断の検出である。この回路装置は、第2のMOSF
ET、抵抗器及び演算増幅器から構成される電圧検出装置を有する。この電圧検
出装置はパワーMOSFETのドレイン-ソース電圧を監視する。パワーMOS
FET及び第2のMOSFETはこの場合両方のソース端子とゲート端子とが相
互に接続されるように接続されている。パワーMOSFETのドレイン-ソース
電圧と第2のMOSFETのドレイン-ソース電圧とが同一である場合、第2の
MOSFETを流れる負荷電流の数分の1の電流が比較的少ない個数のセルのた
めにこの第2のMOSFETを流れる。さらにこの回路装置は別の演算増幅器を
有するフィードバック分岐路を有し、この別の演算増幅器には入力信号として負
荷における電圧及び基準電圧が供給される。他の演算増幅器において負荷におけ
る電圧が基準電圧よりも小さくなるやいなや、ゲート
-ソース電圧を低減されるように、この別の演算増幅器の出力側はパワーMOS
FETのゲート端子及び第2のMOSFETのゲート端子を制御する。
このような回路装置は例えばR.Frank及びA.Pshaenichの論文“Surviving Shor
t Circuits”,Machine Design,March 8,1990,p.89〜96に記述されている。こ
の論文では次のような原理が示されている。すなわち、パワ−MOSFETの負
荷電流は、面積に関してより小さい類似のMOSFETをこのパワーMOSFE
Tに対して並列に接続し、このより小さいパワーMOSFET、いわゆる「セン
ス」FETのソース側に抵抗を直列に接続することによって検出できる、という
原理が示されている。パワーFETのドレイン側に負荷が接続されている場合、
他のFETには負荷電流にほぼ比例する電流が流れる。この場合、比例係数はこ
のセンスFETの電流を導く面積とパワーFETの電流を導く面積との比率に依
存する。負荷を、すなわちパワーFETを負荷電流が流れる場合、従ってこの負
荷電流にほぼ比例する大きさの電流がセンスFET及び測定抵抗を流れる。この
測定抵抗においてこの負荷電流にほぼ比例する電圧が取り出される。
この場合、前提条件は、この測定抵抗がこの負荷に適合するように調整されて
いることである。従って、他の負荷の場合には、測定抵抗を変更するか又は電圧
を検出する評価ロジックを変更する必要がある。
よって、従来の解決法においては、パワートランジスタにおける電圧降下が測
定される。この電圧降下が所定の値、例えば10mVを下回る場合、無負荷を通
報するロジック信号が発生される。従って、無負荷閾値の大きさはこのパワート
ランジスタのオン抵抗に依存し、従って結果的に不正確である。さらに測定の際
の誤差は小さな負荷電流の場合にはますます大きくなる。
本発明の課題は、ソース側負荷を有する電力半導体構成素子の負荷電流を検出
するための回路装置を提供することであり、この回路装置は微少電流の場合でも
精確に作動し、正確な無負荷識別回路を有する。
上記課題は請求項1の特徴部分記載の構成によって解決される。本発明の改善
実施形態は従属請求項の特徴部分記載の構成から得られる。
本発明の回路によって有利には電圧降下の代わりに「センス」電流がロジック
信号の検出のために使用される。
有利には付加的に負荷欠如の場合にはこの装置全体によってこの半導体スイッ
チの制御が遮断切換される。
本発明を次に2つの図面に基づいて詳しく説明する。
図1は本発明の回路装置を示す。
図2は図1のブロック5の実施形態を示す。
図1には参照符号1によってMOSFETの形式の電力半導体構成素子が示さ
れている。この電力半導体構成素子のドレインは給電電圧端子11に接続されて
いる。ソース端子は負荷4を介してアースに接続されている。さらにセンスFE
T2が設けられており、このセンスFET2のドレイン端子は同様に給電電圧端
子11に接続されている。ソース端子は別のMOSFET6の負荷区間を介して
評価装置5の入力側aに接続されている。演算増幅器3が設けられており、この
演算増幅器3の正の入力側はパワーMOSFET1のソース端子に接続され、こ
の演算増幅器3の反転入力側はMOSFET2のソース端子に接続されている。
この演算増幅器3の出力側はMOSFET6のゲート端子に接続されている。パ
ワーMOSFET1のゲート端子及びセンスMOSFET2のゲート端子は互い
に接続され、さらにチャージポンプ9の出力側に接続されている。このチャージ
ポンプ9は一方では給電電圧端子11に接続され、さらにコンデンサ8を介して
発振器7の出力側に接続されている。この発振器7は入力側端子10に接続され
る入力側を有する。さらにこの発振器7はアースに接続されている。相応の接続
線路e及びbを介して評価装置5は給電電圧及びアースに接続されている。この
評価装置5はさらに出力側d及びcを有し、出力側cは出力側端子13に接続さ
れている。出力側dは別の演算増幅器14の非反転入
力側に接続され、この演算増幅器14の反転入力側はパワーMOSFET1のソ
ース端子に接続されている。パワーMOSFET1のゲート端子は抵抗12を介
してそのソース端子に接続されている。演算増幅器14の出力側は発振器7の制
御入力側に結合されている。
図2には図1の評価装置5の実施形態が示されている。接続端子aはMOSF
ET20のゲート端子及びドレイン端子に接続されている。さらにこの接続端子
aはMOSFET21のゲート端子に接続されている。MOSFET21のドレ
イン端子は電流源22を介して接続端子eに接続されている。この接続端子eは
さらに抵抗23を介してさらに別のMOSFET24のドレイン端子に接続され
ている。抵抗23に対して並列に順方向にダイオード25が接続されている。さ
らに接続端子eは電流源26を介してMOSFET28のドレイン端子及び出力
側端子cに接続される。MOSFET20、21、24及び28のソース端子は
接続端子bに接続されている。MOSFET28のドレイン端子とソース端子と
の間にはツェナーダイオード27が逆方向に接続されている。MOSFET21
のドレイン端子はMOSFET24のゲート端子及びMOSFET28のゲート
端子に接続されている。MOSFET24のドレイン端子は出力側端子dに接続
されている。
図1によれば、端子10に入力電圧を印加すると発振器が活性化され、これに
よりチャージポンプが動作状態になり、さらにパワーMOSFET1及びセンス
MOSFET2が導通切換される。この結果、電流が負荷4を流れ、演算増幅器
3の入力側端子において異なる電位が発生する。演算増幅器3はこの差をMOS
FET6の制御によって相殺する。このようにして実際に負荷抵抗4はMOSF
ET6の負荷区間によってプロポーショナルにシミュレートされる。しかし、パ
ワーMOSFET1を小電流が流れる場合には、負荷4における電圧も小さく、
演算増幅器の誤差がますます調整過程に影響してゆく。これを回避するためには
、負荷4を流れる負荷電流Iの数分の1の電流を形成するMOSFET6を流れ
る負荷電流I/nが評価装置5の入力側に供給される。この評価装置5はこの負
荷電流から相応な大きさの基準電圧及びロジック信号を発生する。この基準電圧
は演算増幅器14の非反転入力側に供給され、この演算増幅器14はこの基準電
圧を負荷4で降下する電圧と比較する。この演算増幅器14の出力信号によって
、負荷の欠如の場合又は負荷損失の場合には、発振器7が遮断切換される。評価
装置5の任務は、入力側aのセンス電流から出力端子dにおける基準電圧を発生
すること及び出力側cにおける無負荷通報のためのロジック電圧を生成すること
である。
これに関して図2で示されている実施例は、トランジスタ20及び21による
第1のコンパレータ段を使用する。これらトランジスタ20及び21は入力され
る比例負荷電流を電流源22の電流と比較する。入力側aの比例負荷電流が基準
電流22より小さい場合、抵抗23における電圧降下が出力側dにおける基準電
圧を決定する。この電圧に合わせてパワートランジスタ1の電圧降下が調整され
る。ダイオード25はこの基準電圧を入力側端子eにおける給電電圧Vbbを基準
にして例えば0.7Vに制限する。同時にコンパレータ20、21はレベル補助
段26、27を切り換える。このレベル補助段26、27においてロジック信号
「無負荷(ノッキング制御(No-Load)」が生成される。従って、この回路装置
全体はパワーMOSFET1のオン抵抗に依存せず、よって温度に関して安定し
ている。
本発明をハイサイドスイッチに基づいて説明したが、本発明はローサイドスイ
ッチにも適用可能である。この場合には、負荷4は2つのMOSFETのドレイ
ン側に設けられるが、制御可能なスイッチ6及び測定抵抗5はMOSFET2の
ソース側に接続したままにしておく。
請求の範囲
1. 電界効果により制御可能な電力半導体構成素子(1)の負荷電流を検出す
るための回路装置であって、
該回路装置は、電界効果により制御可能な別の半導体構成素子(2)を有し、
両方の半導体構成素子(1、2)のドレイン端子D及びゲート端子Gはそれぞれ
相互に接続されており、前記別の半導体構成素子(2)を前記負荷電流の数分の
1の電流が流れ、
前記回路装置は、前記両方の半導体構成素子(1、2)のドレイン-ソース電
圧に依存して前記別の半導体構成素子の負荷電流を調整する手段を有し、
前記回路装置は、さらに別の手段(5)を有し、該さらに別の手段(5)は、
前記別の半導体構成素子(2)を流れる負荷電流(I/n)を基準電流と比較し
、さらに前記負荷電流が設定された値を下回る場合には出力信号Cを発生し、
前記回路装置は、前記半導体構成素子(1、2)に対する制御信号を発生する
ための制御可能な装置(7、8、9)を有する、電界効果により制御可能な電力
半導体構成素子(1)の負荷電流を検出するための回路装置において、
第3の手段(14)が設けられており、該第3の手段(14)は前記別の半導
体構成素子の負荷電流(I
/n)に依存して及び前記半導体構成素子(1)の負荷電流に依存して制御信号
を発生するための前記制御可能な装置(7、8、9)を投入切換乃至は遮断切換
することを特徴とする、電界効果により制御可能な電力半導体構成素子(1)の
負荷電流を検出するための回路装置。
2. 半導体構成素子(1)のゲート端子は抵抗(12)を介して前記半導体構
成素子(1)のソース端子に接続されていることを特徴とする請求項1記載の回
路装置。
3. 演算増幅器(14)が設けられており、該演算増幅器(14)には一方で
は別の半導体構成素子(2)の負荷電流(I/n)から導出される基準電圧(Ur
ef)が及び他方では負荷(4)における電圧が供給され、前記演算増幅器(14
)の出力側は制御可能な装置(8、9)の制御入力側に接続されていることを特
徴とする請求項2記載の回路装置。
4. 別の半導体構成素子(2)を流れる負荷電流(I/n)を調整するための
手段は演算増幅器(3)を有し、該演算増幅器(3)の入力側はそれぞれ半導体
構成素子(1、2)のソース端子に接続されており、前記演算増幅器(3)の出
力側は第3の半導体構成素子(6)のゲートに接続されており、前記第3の半導
体構成素子(6)の負荷区間は前記別の半導体構成素子(2)の負荷区間に直列
に接続されていることを特
徴とする請求項1〜3までのうちの1項記載の回路装置。
5. 制御信号を発生するための制御可能な装置(7、8、9)は、後置接続さ
れたチャージポンプ(9)を有する制御可能な発振器(7)を有することを特徴
とする請求項1〜4までのうちの1項記載の回路装置。
6. 別の半導体構成素子(2)を流れる負荷電流を評価するための手段は、該
負荷電流(I/n)を基準電流と比較し、基準電圧(Uref)を発生し、該基準電
圧(Uref)は前記負荷電流がこの基準電流より小さい場合には前記負荷電流に
依存して発生され、さもなければ一定に保持されることを特徴とする請求項1〜
5までのうちの1項記載の回路装置。
7. 出力段(26、27、28)が設けられており、該出力段(26、27、
28)はデジタル出力信号を発生することを特徴とする請求項1〜6までのうち
の1項記載の回路装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1. 電界効果により制御可能な電力半導体構成素子の負荷電流を検出するため の回路装置であって、 該回路装置は、電界効果により制御可能な別の半導体構成素子を有し、両方の 半導体構成素子のドレイン端子及びゲート端子はそれぞれ相互に接続されており 、前記別の半導体構成素子を前記負荷電流の数分の1の電流が流れ、 前記回路装置は、前記両方の半導体構成素子のドレインソース電圧に依存して 前記別の半導体構成素子の負荷電流を調整する手段を有する、電界効果により制 御可能な電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための回路装置において、 さらに別の手段(5)が設けられており、該別の手段(5)は、前記別の半導 体構成素子(2)を流れる負荷電流(I/n)を基準電流と比較し、さらに前記 負荷電流が調整された電流を下回る場合には出力信号を発生することを特徴とす る、電界効果により制御可能な電力半導体構成素子の負荷電流を検出するための 回路装置。 2. 制御可能な装置(7、8、9)は半導体構成素子(1、2)に対する制御 信号を発生するために設けられており、 第3の手段(5、14)が設けられており、該第3 の手段(5、14)は前記別の半導体構成素子の負荷電流(I/n)に依存して 及び前記半導体構成素子(1)の負荷電流に依存して前記制御信号を発生するた めの前記制御可能な装置(7、8、9)を投入切換乃至は遮断切換することを特 徴とする請求項1記載の回路装置。 3. 半導体構成素子(1)のゲート端子は抵抗(12)を介して前記半導体構 成素子(1)のソース端子に接続されていることを特徴とする請求項2記載の回 路装置。 4. 演算増幅器(14)が設けられており、該演算増幅器(14)には一方で は前記別の半導体構成素子(2)の負荷電流(I/n)から導出される基準電圧 (Uref)及び他方では負荷(4)における電圧が供給され、前記演算増幅器 (14)の出力側は制御可能な装置(7)の制御入力側に接続されていることを 特徴とする請求項2又は3記載の回路装置。 5. 別の半導体構成素子(7)を流れる負荷電流(I/n)を調整するための 手段は演算増幅器(3)を有し、該演算増幅器(3)の入力側はそれぞれ半導体 構成素子(1、2)のソース端子に接続されており、前記演算増幅器(3)の出 力側は第3の半導体構成素子(6)のゲートに接続されており、前記第3の半導 体構成素子(6)の負荷区間は前記別の半導体構成素子(2)の負荷区間に対し て直列に接続されているこ とを特徴とする請求項1〜4までのうちの1項記載の回路装置。 6. 制御信号を発生するための装置は、後置接続されたチャージポンプ(9) を有する制御可能な発振器(7)を有することを特徴とする請求項2〜5までの うちの1項記載の回路装置。 7. 別の半導体構成素子(1)を流れる負荷電流を評価するための手段は、負 荷電流(I/n)を基準電流と比較し、さらに基準電圧(Uref)を発生し、該基 準電圧(Uref)は、前記基準電流を下回る場合には前記負荷電流に依存して発 生され、さもなければ一定に保持されることを特徴とする請求項2〜6までのう ちの1項記載の回路装置。 8. 出力段(26、27、28)が設けられており、該出力段(26、27、 28)はデジタル出力信号を発生することを特徴とする請求項2〜7までのうち の1項記載の回路装置。
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