JP2001243473A - 画像濃淡ムラ検出方法 - Google Patents
画像濃淡ムラ検出方法Info
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- JP2001243473A JP2001243473A JP2000057337A JP2000057337A JP2001243473A JP 2001243473 A JP2001243473 A JP 2001243473A JP 2000057337 A JP2000057337 A JP 2000057337A JP 2000057337 A JP2000057337 A JP 2000057337A JP 2001243473 A JP2001243473 A JP 2001243473A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】カラーフィルターのムラ検出にて、点状ムラの
検出感度を向上させる画像濃淡ムラ検出方法を提供する
こと。 【解決手段】１）２次元画像の画素からＷｘ、Ｗｙ画素
の占める領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値
（ＬAP）を作製し、２）領域（ＡＰ）からＤ画素外側に
位置する幅Ｈ画素のドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する
全画素の平均輝度値（ＬAS）を作製し、３）平均輝度値
（ＬAP）と平均輝度値（ＬAS）との差を、ムラ検出の閾
値と比較し、ムラ領域を検出すること。
検出感度を向上させる画像濃淡ムラ検出方法を提供する
こと。 【解決手段】１）２次元画像の画素からＷｘ、Ｗｙ画素
の占める領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値
（ＬAP）を作製し、２）領域（ＡＰ）からＤ画素外側に
位置する幅Ｈ画素のドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する
全画素の平均輝度値（ＬAS）を作製し、３）平均輝度値
（ＬAP）と平均輝度値（ＬAS）との差を、ムラ検出の閾
値と比較し、ムラ領域を検出すること。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、本来検査領域内全
域において一定濃度であることが期待される検査対象物
に生じた部分的な濃淡を、その撮影画像から解析、検出
するムラ領域の検出方法に関するものであり、特に、カ
ラーフィルターなどのムラ検査において用いられる画像
濃淡ムラ検出方法に関する。
域において一定濃度であることが期待される検査対象物
に生じた部分的な濃淡を、その撮影画像から解析、検出
するムラ領域の検出方法に関するものであり、特に、カ
ラーフィルターなどのムラ検査において用いられる画像
濃淡ムラ検出方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】カラー液晶表示装置の色表示用のカラー
フィルターやカラービデオカメラの色分解用のカラーフ
ィルターの品質検査の一環として画像解析装置を用いた
ムラ検査が広く行われている。この画像解析装置は通
常、画像入力装置、コンピュータ、照明、及び付属装置
類からなり、カラーフィルターを透過光で撮影すること
によって画像データを得た後、コンピュータによって画
像処理を行い、ムラ領域を特定している。これに用いら
れる画像処理方法としては、例えば、画像データの１画
素毎にデジタルフィルタ、２次微分処理等を施した後、
別途設定した閾値と比較して閾値を越えた部分をムラ領
域として特定するというものである。
フィルターやカラービデオカメラの色分解用のカラーフ
ィルターの品質検査の一環として画像解析装置を用いた
ムラ検査が広く行われている。この画像解析装置は通
常、画像入力装置、コンピュータ、照明、及び付属装置
類からなり、カラーフィルターを透過光で撮影すること
によって画像データを得た後、コンピュータによって画
像処理を行い、ムラ領域を特定している。これに用いら
れる画像処理方法としては、例えば、画像データの１画
素毎にデジタルフィルタ、２次微分処理等を施した後、
別途設定した閾値と比較して閾値を越えた部分をムラ領
域として特定するというものである。
【０００３】しかしながら、カラー液晶表示装置に用い
るカラーフィルターをフォトリソグラフィー法によって
製造すると、製造プロセス上の避けられない要因からカ
ラーフィルターには直径が数画素程度の点状ムラが生じ
ることがあり、これを皆無にすることは現状では不可能
である。また、ムラの直径、形状、境界部の濃度勾配等
は千差万別であり、従来多用されてきた３×３画素程度
のデジタルフィルタでは、このような点状ムラの形状に
うまく当てはまる確率は低く、点状ムラを検出すること
は困難なものであった。
るカラーフィルターをフォトリソグラフィー法によって
製造すると、製造プロセス上の避けられない要因からカ
ラーフィルターには直径が数画素程度の点状ムラが生じ
ることがあり、これを皆無にすることは現状では不可能
である。また、ムラの直径、形状、境界部の濃度勾配等
は千差万別であり、従来多用されてきた３×３画素程度
のデジタルフィルタでは、このような点状ムラの形状に
うまく当てはまる確率は低く、点状ムラを検出すること
は困難なものであった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、このような
従来の問題点に鑑みなされたものであり、その課題とす
るところは、カラーフィルターなどの品質検査における
ムラ検出において、特に、点状ムラに対する検出感度を
向上させ、点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検
出方法を提供することにある。
従来の問題点に鑑みなされたものであり、その課題とす
るところは、カラーフィルターなどの品質検査における
ムラ検出において、特に、点状ムラに対する検出感度を
向上させ、点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検
出方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は、検査対象物を
撮影して得られた２次元画像を解析し、部分的に濃度が
高いあるいは低い領域（ムラ領域）を検出する画像濃淡
ムラ検出において、 １）撮影して得られた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y
0 ）に位置する画素からＸ軸方向へＷｘ（整数でＷｘ≧
１）、Ｙ軸方向へＷｙ（整数でＷｙ≧１）画素の占める
領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値（ＬAP）を
作製し、 ２）該領域（ＡＰ）の周辺部の、該領域（ＡＰ）からＤ
（整数でＤ≧１）画素外側に位置する幅Ｈ（整数でＨ≧
１）画素のドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の
平均輝度値（ＬAS）を作製し、 ３）該平均輝度値（ＬAP）と該平均輝度値（ＬAS）との
差を、予め設定したムラ検出の閾値と比較し、ムラ領域
を検出することを特徴とする画像濃淡ムラ検出方法であ
る。
撮影して得られた２次元画像を解析し、部分的に濃度が
高いあるいは低い領域（ムラ領域）を検出する画像濃淡
ムラ検出において、 １）撮影して得られた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y
0 ）に位置する画素からＸ軸方向へＷｘ（整数でＷｘ≧
１）、Ｙ軸方向へＷｙ（整数でＷｙ≧１）画素の占める
領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値（ＬAP）を
作製し、 ２）該領域（ＡＰ）の周辺部の、該領域（ＡＰ）からＤ
（整数でＤ≧１）画素外側に位置する幅Ｈ（整数でＨ≧
１）画素のドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の
平均輝度値（ＬAS）を作製し、 ３）該平均輝度値（ＬAP）と該平均輝度値（ＬAS）との
差を、予め設定したムラ検出の閾値と比較し、ムラ領域
を検出することを特徴とする画像濃淡ムラ検出方法であ
る。
【０００６】また、本発明は、上記発明による画像濃淡
ムラ検出方法において、前記ある座標（ｘ0 ，y 0 ）
を、前記撮影して得られた２次元画像の全領域にわたっ
て順次更新し、ムラ領域を検出することを特徴とする画
像濃淡ムラ検出方法である。
ムラ検出方法において、前記ある座標（ｘ0 ，y 0 ）
を、前記撮影して得られた２次元画像の全領域にわたっ
て順次更新し、ムラ領域を検出することを特徴とする画
像濃淡ムラ検出方法である。
【０００７】また、本発明は、上記発明による画像濃淡
ムラ検出方法において、前記Ｗｘ及びＷｙを変化させた
ＷｘとＷｙとの複数の組み合わせにて、複数個のムラ領
域を検出し、該複数個のムラ領域の和をもって検査対象
物のムラ領域とすることを特徴とする画像濃淡ムラ検出
方法である。
ムラ検出方法において、前記Ｗｘ及びＷｙを変化させた
ＷｘとＷｙとの複数の組み合わせにて、複数個のムラ領
域を検出し、該複数個のムラ領域の和をもって検査対象
物のムラ領域とすることを特徴とする画像濃淡ムラ検出
方法である。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を詳細
に説明する。図１〜図４は、本発明による画像濃淡ムラ
検出方法の一実施例を模式的に示す説明図である。図１
において、（ＡＴ）は、撮影して得られた２次元画像の
全領域の画素をＸＹ直交座標上に示したものである。Ａ
（ｘ0 ，ｙ0 ）は、この２次元画像の、ある座標
（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画素Ａを示している。
に説明する。図１〜図４は、本発明による画像濃淡ムラ
検出方法の一実施例を模式的に示す説明図である。図１
において、（ＡＴ）は、撮影して得られた２次元画像の
全領域の画素をＸＹ直交座標上に示したものである。Ａ
（ｘ0 ，ｙ0 ）は、この２次元画像の、ある座標
（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画素Ａを示している。
【０００９】図１は、Ｗｘ＝２、Ｗｙ＝２、すなわち、
撮影して得られた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）
に位置する画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応した領域
（ＡＰ１）の全画素が２×２＝４画素の場合を示したも
のである。また、Ｄ＝２、Ｈ＝１、すなわち、ドーナツ
状領域（ＡＳ１）は、この領域（ＡＰ１）からＤ＝２画
素外側に位置する幅Ｈ＝１画素で構成された場合を示し
たものである。尚、領域（ＡＰ１）は右上がり斜線、ド
ーナツ状領域（ＡＳ１）は右下がり斜線で示した領域で
ある。
撮影して得られた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）
に位置する画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応した領域
（ＡＰ１）の全画素が２×２＝４画素の場合を示したも
のである。また、Ｄ＝２、Ｈ＝１、すなわち、ドーナツ
状領域（ＡＳ１）は、この領域（ＡＰ１）からＤ＝２画
素外側に位置する幅Ｈ＝１画素で構成された場合を示し
たものである。尚、領域（ＡＰ１）は右上がり斜線、ド
ーナツ状領域（ＡＳ１）は右下がり斜線で示した領域で
ある。
【００１０】図２は、Ｗｘ＝５、Ｗｙ＝５、すなわち、
撮影して得られた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）
に位置する画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応した領域
（ＡＰ２）の全画素が５×５＝２５画素の場合を示した
ものである。また、Ｄ＝２、Ｈ＝１、すなわち、ドーナ
ツ状領域（ＡＳ２）は、この領域（ＡＰ２）からＤ＝２
画素外側に位置する幅Ｈ＝１画素で構成された場合を示
したものである。尚、領域（ＡＰ２）は右上がり斜線、
ドーナツ状領域（ＡＳ２）は右下がり斜線で示した領域
である。
撮影して得られた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）
に位置する画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応した領域
（ＡＰ２）の全画素が５×５＝２５画素の場合を示した
ものである。また、Ｄ＝２、Ｈ＝１、すなわち、ドーナ
ツ状領域（ＡＳ２）は、この領域（ＡＰ２）からＤ＝２
画素外側に位置する幅Ｈ＝１画素で構成された場合を示
したものである。尚、領域（ＡＰ２）は右上がり斜線、
ドーナツ状領域（ＡＳ２）は右下がり斜線で示した領域
である。
【００１１】本実施例においては、Ｗｘ及びＷｙを２〜
５の範囲で変化させたＷｘとＷｙとの複数の組み合わせ
にて、複数個のムラ領域を検出し、これら複数個のムラ
領域の和をもって検査対象物のムラ領域とする画像濃淡
ムラ検出方法について説明する。図３は、上記Ｗｘ及び
Ｗｙを２〜５の範囲で変化させた際の、ＷｘとＷｙとの
複数の組み合わせ中の１組み合わせを示したものであ
る。すなわち、Ｗｘ＝４、Ｗｙ＝３、撮影して得られた
２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画素Ａ
（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応した領域（ＡＰ３）の全画
素が４×３＝１２画素で、また、Ｄ＝２、Ｈ＝１、ドー
ナツ状領域（ＡＳ３）は、この領域（ＡＰ３）からＤ＝
２画素外側に位置する幅Ｈ＝１画素で構成された場合を
示したものである。
５の範囲で変化させたＷｘとＷｙとの複数の組み合わせ
にて、複数個のムラ領域を検出し、これら複数個のムラ
領域の和をもって検査対象物のムラ領域とする画像濃淡
ムラ検出方法について説明する。図３は、上記Ｗｘ及び
Ｗｙを２〜５の範囲で変化させた際の、ＷｘとＷｙとの
複数の組み合わせ中の１組み合わせを示したものであ
る。すなわち、Ｗｘ＝４、Ｗｙ＝３、撮影して得られた
２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画素Ａ
（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応した領域（ＡＰ３）の全画
素が４×３＝１２画素で、また、Ｄ＝２、Ｈ＝１、ドー
ナツ状領域（ＡＳ３）は、この領域（ＡＰ３）からＤ＝
２画素外側に位置する幅Ｈ＝１画素で構成された場合を
示したものである。
【００１２】先ず、図１に示すように、Ｄ＝２、Ｈ＝
１、及びＷｘ＝２、Ｗｙ＝２と設定して、撮影して得ら
れた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画
素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））から、Ｘ軸方向へＷｘ＝２、
Ｙ軸方向へＷｙ＝２画素の占める領域（ＡＰ１）に位置
する全画素の平均輝度値（ＬAP1 ）を求める。Ｌ
AP1 （ｘ0 ，y 0 ）を、画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に
対応したＷｘ＝２、Ｗｙ＝２の領域（ＡＰ１）の平均輝
度値とすると、ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）は以下に示す数式
（１）にて表される。
１、及びＷｘ＝２、Ｗｙ＝２と設定して、撮影して得ら
れた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画
素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））から、Ｘ軸方向へＷｘ＝２、
Ｙ軸方向へＷｙ＝２画素の占める領域（ＡＰ１）に位置
する全画素の平均輝度値（ＬAP1 ）を求める。Ｌ
AP1 （ｘ0 ，y 0 ）を、画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に
対応したＷｘ＝２、Ｗｙ＝２の領域（ＡＰ１）の平均輝
度値とすると、ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）は以下に示す数式
（１）にて表される。
【００１３】 ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）＝ΣＬ（ｘi ，y j ）／（Ｗｘ×Ｗｙ）・・・（１） ｉ＝０〜（Ｗｘ−１） ｊ＝０〜（Ｗｙ−１） すなわち、この際には、（ｉ＝０，ｊ＝０）、（ｉ＝
０，ｊ＝１）、（ｉ＝１，ｊ＝０）、（ｉ＝１，ｊ＝
１）の４画素の平均輝度値を表したものとなる。
０，ｊ＝１）、（ｉ＝１，ｊ＝０）、（ｉ＝１，ｊ＝
１）の４画素の平均輝度値を表したものとなる。
【００１４】次に、この領域（ＡＰ１）の周辺部の、こ
の領域（ＡＰ１）からＤ＝２画素外側に位置する幅Ｈ＝
１画素のドーナツ状領域（ＡＳ１）に位置する全画素の
平均輝度値（ＬAS1 ）を求める。ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）
を、画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応したドーナツ状
領域（ＡＳ１）の平均輝度値とすると、ＬAS1 （ｘ0 ，
y 0 ）は以下に示す数式（２）にて表される。尚、ドー
ナツ状領域（ＡＳ１）は図４に示すように、ＡＳ１ａ、
ＡＳ１ｂ、ＡＳ１ｃ、ＡＳ１ｄに４分割したものを集約
した。
の領域（ＡＰ１）からＤ＝２画素外側に位置する幅Ｈ＝
１画素のドーナツ状領域（ＡＳ１）に位置する全画素の
平均輝度値（ＬAS1 ）を求める。ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）
を、画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y 0 ））に対応したドーナツ状
領域（ＡＳ１）の平均輝度値とすると、ＬAS1 （ｘ0 ，
y 0 ）は以下に示す数式（２）にて表される。尚、ドー
ナツ状領域（ＡＳ１）は図４に示すように、ＡＳ１ａ、
ＡＳ１ｂ、ＡＳ１ｃ、ＡＳ１ｄに４分割したものを集約
した。
【００１５】 ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）＝｛ΣＬAS1a（ｘi1，y j1）／（Ｗｘ＋２Ｄ＋２Ｈ）｝ ＋｛ΣＬAS1b（ｘi2，y j2）／（Ｗｘ＋２Ｄ＋２Ｈ）｝ ＋｛ΣＬAS1c（ｘi3，y j3）／（Ｗｙ＋２Ｄ）｝ ＋｛ΣＬAS1d（ｘi4，y j4）／（Ｗｙ＋２Ｄ）｝ ・・・・・・・・・・・（２） ｉ1 ＝−（Ｄ＋Ｈ）〜（（Ｗｘ−１）＋Ｄ＋Ｈ） ｊ1 ＝−（Ｄ＋Ｈ） ｉ2 ＝−（Ｄ＋Ｈ）〜（（Ｗｘ−１）＋Ｄ＋Ｈ） ｊ2 ＝（Ｄ＋Ｈ） ｉ3 ＝−（Ｄ＋Ｈ） ｊ3 ＝−（Ｄ）〜（（Ｗｙ−１）＋Ｄ） ｉ4 ＝（Ｄ＋Ｈ） ｊ4 ＝−（Ｄ）〜（（Ｗｙ−１）＋Ｄ） ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）＝｛ΣＬAS1a（ｘi1，y j1）＋ΣＬAS1b（ｘi2，y j2） ＋ΣＬAS1c（ｘi3，y j3）＋ΣＬAS1d（ｘi4，y j4）｝／｛２（Ｗｘ＋２Ｄ＋２ Ｈ）＋２（Ｗｙ＋２Ｄ）｝ ・・・・・・・・・・・・・・・・（３） すなわち、この際には、（ｊ＝−３，ｉ＝−３〜４）の
８画素、（ｊ＝３，ｉ＝−３〜４）の８画素、（ｉ＝−
３，ｊ＝−２〜３）の６画素、（ｉ＝３，ｊ＝−２〜
３）の６画素の合計２８画素の平均輝度値を表したもの
となる。尚、数式（２）はドーナツ状領域（ＡＳ１）を
４分割したもの、数式（３）は４分割したものを集約し
て表したものである。
８画素、（ｊ＝３，ｉ＝−３〜４）の８画素、（ｉ＝−
３，ｊ＝−２〜３）の６画素、（ｉ＝３，ｊ＝−２〜
３）の６画素の合計２８画素の平均輝度値を表したもの
となる。尚、数式（２）はドーナツ状領域（ＡＳ１）を
４分割したもの、数式（３）は４分割したものを集約し
て表したものである。
【００１６】続いて、上記領域（ＡＰ１）の平均輝度
値、ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）と、上記ドーナツ状領域（Ａ
Ｓ１）の平均輝度値、ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）との差を求
める。この差が、予め設定したムラ検出の閾値（Ｓ）と
比較し、閾値よりも大きい場合、すなわち、以下に示す
数式（４）の関係が成立するとき、画素Ａ（Ａ（ｘ0，y
0 ））に対応した領域（ＡＰ１）がムラ領域であると
判断するものである。 ｜ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）−ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）｜＞Ｓ ・・・・（４） そして、その判断結果をＣ（ｘ0 ，y 0 ）＝１［ムラ領
域である］とする。ただし、判断を行う前に、予めＣ
（ｘ0 ，y 0 ）＝０［ムラ領域でない］に設定してお
く。
値、ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）と、上記ドーナツ状領域（Ａ
Ｓ１）の平均輝度値、ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）との差を求
める。この差が、予め設定したムラ検出の閾値（Ｓ）と
比較し、閾値よりも大きい場合、すなわち、以下に示す
数式（４）の関係が成立するとき、画素Ａ（Ａ（ｘ0，y
0 ））に対応した領域（ＡＰ１）がムラ領域であると
判断するものである。 ｜ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）−ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）｜＞Ｓ ・・・・（４） そして、その判断結果をＣ（ｘ0 ，y 0 ）＝１［ムラ領
域である］とする。ただし、判断を行う前に、予めＣ
（ｘ0 ，y 0 ）＝０［ムラ領域でない］に設定してお
く。
【００１７】上記のようにして、検査対象物内のある特
定箇所がムラ領域であるか否かの判定を行うことができ
る。すなわち、ある特定箇所の座標を、前記ある座標
（ｘ0，y 0 ）に代えて設定することによって可能とな
る。尚、本発明において、Ｄ＝２、Ｈ＝１、及びＷｘ＝
２、Ｗｙ＝２は、検査対象物におけるムラの直径、形
状、境界部の濃度勾配等を考慮して設定するものである
が、Ｄは、９≧Ｄ≧１程度、Ｈは、３≧Ｈ≧１程度、及
びＷｘは、１〜６程度、Ｗｘは、１〜６程度のものであ
る。
定箇所がムラ領域であるか否かの判定を行うことができ
る。すなわち、ある特定箇所の座標を、前記ある座標
（ｘ0，y 0 ）に代えて設定することによって可能とな
る。尚、本発明において、Ｄ＝２、Ｈ＝１、及びＷｘ＝
２、Ｗｙ＝２は、検査対象物におけるムラの直径、形
状、境界部の濃度勾配等を考慮して設定するものである
が、Ｄは、９≧Ｄ≧１程度、Ｈは、３≧Ｈ≧１程度、及
びＷｘは、１〜６程度、Ｗｘは、１〜６程度のものであ
る。
【００１８】また、引き続き、画素Ａ（Ａ（ｘ0 ，y
0 ））の座標を次々に更新しながら、撮影して得られ
た２次元画像の全体に対して上記演算を繰り返すと、こ
の演算の繰り返しによって、前記設定条件（Ｄ＝２、Ｈ
＝１、及びＷｘ＝２、Ｗｙ＝２）での点状ムラの検出を
２次元画像の全体に対して行うことになる。尚、２次元
画像の周辺部分、上方辺部、及び左方辺部の（Ｄ＋Ｈ）
画素、右方辺部の（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｘ−１））画素、下方
辺部の（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｙ−１））画素に関しては演算が
出来ないため点状ムラの検出は除外することになる。
0 ））の座標を次々に更新しながら、撮影して得られ
た２次元画像の全体に対して上記演算を繰り返すと、こ
の演算の繰り返しによって、前記設定条件（Ｄ＝２、Ｈ
＝１、及びＷｘ＝２、Ｗｙ＝２）での点状ムラの検出を
２次元画像の全体に対して行うことになる。尚、２次元
画像の周辺部分、上方辺部、及び左方辺部の（Ｄ＋Ｈ）
画素、右方辺部の（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｘ−１））画素、下方
辺部の（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｙ−１））画素に関しては演算が
出来ないため点状ムラの検出は除外することになる。
【００１９】更に、Ｄ＝２、Ｈ＝１にて、Ｗｘ及びＷｙ
を２〜５の範囲で変化させたＷｘとＷｙとの複数の組み
合わせにて、複数個のムラ領域を検出することにより、
ムラ領域の検出の精度を更にさせることが出来るものと
なる。例えば、図１に示す設定（Ｄ＝２、Ｈ＝１、及び
Ｗｘ＝２、Ｗｙ＝２）から、その１組み合わせである図
３に示す設定（Ｄ＝２、Ｈ＝１、及びＷｘ＝４、Ｗｙ＝
３）など、多くのＷｘとＷｙとの組み合わせを経て図２
に示す設定（Ｄ＝２、Ｈ＝１、及びＷｘ＝５、Ｗｙ＝
５）に至る複数の組み合わせにて、複数個のムラ領域を
検出するものである。そして、この際の最終のムラ領域
は、これら複数個のムラ領域の和をもって検査対象物の
ムラ領域とする。
を２〜５の範囲で変化させたＷｘとＷｙとの複数の組み
合わせにて、複数個のムラ領域を検出することにより、
ムラ領域の検出の精度を更にさせることが出来るものと
なる。例えば、図１に示す設定（Ｄ＝２、Ｈ＝１、及び
Ｗｘ＝２、Ｗｙ＝２）から、その１組み合わせである図
３に示す設定（Ｄ＝２、Ｈ＝１、及びＷｘ＝４、Ｗｙ＝
３）など、多くのＷｘとＷｙとの組み合わせを経て図２
に示す設定（Ｄ＝２、Ｈ＝１、及びＷｘ＝５、Ｗｙ＝
５）に至る複数の組み合わせにて、複数個のムラ領域を
検出するものである。そして、この際の最終のムラ領域
は、これら複数個のムラ領域の和をもって検査対象物の
ムラ領域とする。
【００２０】上述のように、本発明による画像濃淡ムラ
検出方法においては、着目する領域（ＡＰ）と比較する
領域（ＡＳ）との間をＤ（整数でＤ≧１）画素外側に離
すことによってムラ領域辺縁部の濃度変動が急峻である
か、緩やかであるかによる検出力の差を回避し、感度良
くムラ領域を検出するとが可能となる。また、Ｗｘ及び
Ｗｙを変更しながらＷｘとＷｙとの複数の組み合わせに
て、繰り返し複数個のムラ領域を検出することによっ
て、ムラの直径、形状、境界部の濃度勾配等による検出
力の差を回避し、感度良くムラ領域を検出するとが可能
となる。
検出方法においては、着目する領域（ＡＰ）と比較する
領域（ＡＳ）との間をＤ（整数でＤ≧１）画素外側に離
すことによってムラ領域辺縁部の濃度変動が急峻である
か、緩やかであるかによる検出力の差を回避し、感度良
くムラ領域を検出するとが可能となる。また、Ｗｘ及び
Ｗｙを変更しながらＷｘとＷｙとの複数の組み合わせに
て、繰り返し複数個のムラ領域を検出することによっ
て、ムラの直径、形状、境界部の濃度勾配等による検出
力の差を回避し、感度良くムラ領域を検出するとが可能
となる。
【００２１】図５は、本発明による画像濃淡ムラ検出方
法におけるムラ領域検出のフローの一例を示す説明図で
ある。先ず、図１における設定条件、Ｄ＝２、Ｈ＝１、
及び前記Ｃ＝０［ムラ領域でない］、及びＷｘ＝２、Ｗ
ｙ＝２を設定する。次に、図１における、撮影して得ら
れた２次元画像の全領域の左上方端からＸ軸及びＹ軸方
向に各々（Ｄ＋Ｈ＋１）画素離れてた座標（ｘa ，
ｙa ）を設定する。尚、Ｘmax 、及びＹmax は、各々Ｘ
軸方向のデータサイズ、及びＹ軸方向のデータサイズで
ある。
法におけるムラ領域検出のフローの一例を示す説明図で
ある。先ず、図１における設定条件、Ｄ＝２、Ｈ＝１、
及び前記Ｃ＝０［ムラ領域でない］、及びＷｘ＝２、Ｗ
ｙ＝２を設定する。次に、図１における、撮影して得ら
れた２次元画像の全領域の左上方端からＸ軸及びＹ軸方
向に各々（Ｄ＋Ｈ＋１）画素離れてた座標（ｘa ，
ｙa ）を設定する。尚、Ｘmax 、及びＹmax は、各々Ｘ
軸方向のデータサイズ、及びＹ軸方向のデータサイズで
ある。
【００２２】次に、前記数式（１）を一般化した数式
（１１） ＬAP（ｘ，y ）＝ΣＬ（ｘi ，y j ）／（Ｗｘ×Ｗｙ） ・・・・（１１） ｉ＝０〜（Ｗｘ−１） ｊ＝０〜（Ｗｙ−１） に従って、撮影して得られた２次元画像の上記座標（ｘ
a ，y a ）に位置する画素Ｂ（Ｂ（ｘa ，y a ））か
ら、Ｘ軸方向へＷｘ＝２、Ｙ軸方向へＷｙ＝２画素の占
める領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値
（ＬAP）を求める。
（１１） ＬAP（ｘ，y ）＝ΣＬ（ｘi ，y j ）／（Ｗｘ×Ｗｙ） ・・・・（１１） ｉ＝０〜（Ｗｘ−１） ｊ＝０〜（Ｗｙ−１） に従って、撮影して得られた２次元画像の上記座標（ｘ
a ，y a ）に位置する画素Ｂ（Ｂ（ｘa ，y a ））か
ら、Ｘ軸方向へＷｘ＝２、Ｙ軸方向へＷｙ＝２画素の占
める領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値
（ＬAP）を求める。
【００２３】次に、前記数式（３）を一般化した数式
（１３） ＬAS（ｘ，y ）＝｛ΣＬAS a（ｘi1，y j1）＋ΣＬAS b（ｘi2，y j2）＋ΣＬ AS c （ｘi3，y j3）＋ΣＬAS d（ｘi4，y j4）｝／｛２（Ｗｘ＋２Ｄ＋２Ｈ）＋ ２（Ｗｙ＋２Ｄ）｝ ・・・・・・・・・・・・・・・（１３） に従って、この領域（ＡＰ）の周辺部の、この領域（Ａ
Ｐ）からＤ＝２画素外側に位置する幅Ｈ＝１画素のドー
ナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の平均輝度値（Ｌ
AS）を求める。
（１３） ＬAS（ｘ，y ）＝｛ΣＬAS a（ｘi1，y j1）＋ΣＬAS b（ｘi2，y j2）＋ΣＬ AS c （ｘi3，y j3）＋ΣＬAS d（ｘi4，y j4）｝／｛２（Ｗｘ＋２Ｄ＋２Ｈ）＋ ２（Ｗｙ＋２Ｄ）｝ ・・・・・・・・・・・・・・・（１３） に従って、この領域（ＡＰ）の周辺部の、この領域（Ａ
Ｐ）からＤ＝２画素外側に位置する幅Ｈ＝１画素のドー
ナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の平均輝度値（Ｌ
AS）を求める。
【００２４】続いて、上記領域（ＡＰ）の平均輝度値、
ＬAP（ｘa ，y a ）と、上記ドーナツ状領域（ＡＳ）の
平均輝度値、ＬAS（ｘa ，y a ）との差を求める。この
差が、予め設定したムラ検出の閾値と比較し閾値（Ｓ）
よりも大きい場合、すなわち、以下に示す数式（４）を
一般化した数式（１４）の関係が成立するとき、画素Ｂ
（Ｂ（ｘa ，y a ））に対応した領域（ＡＰ）がムラ領
域であると判断するものである。 ｜ＬAP（ｘ，y ）−ＬAS（ｘ，y ）｜＞Ｓ ・・・・（１４） そして、その判断結果をＣ（ｘ，y ）＝１［ムラ領域で
ある］とする。尚、差を求める前の判断結果は、予め、
Ｃ（ｘ，y ）＝０［ムラ領域でない］にセットしてあ
る。
ＬAP（ｘa ，y a ）と、上記ドーナツ状領域（ＡＳ）の
平均輝度値、ＬAS（ｘa ，y a ）との差を求める。この
差が、予め設定したムラ検出の閾値と比較し閾値（Ｓ）
よりも大きい場合、すなわち、以下に示す数式（４）を
一般化した数式（１４）の関係が成立するとき、画素Ｂ
（Ｂ（ｘa ，y a ））に対応した領域（ＡＰ）がムラ領
域であると判断するものである。 ｜ＬAP（ｘ，y ）−ＬAS（ｘ，y ）｜＞Ｓ ・・・・（１４） そして、その判断結果をＣ（ｘ，y ）＝１［ムラ領域で
ある］とする。尚、差を求める前の判断結果は、予め、
Ｃ（ｘ，y ）＝０［ムラ領域でない］にセットしてあ
る。
【００２５】引き続き、同様にしてｘ＝ｘa+1 、すなわ
ち、ｘa のＸ軸方向に隣接する画素（ｘa+1 ，ｙa ）の
ＬAP（ｘa+1 ，y a ）、ＬAS（ｘa+1 ，y a ）を求め、
その差の判断結果を得る。そして、順次ｘ＞｛Ｘmax −
（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｘ−１）｝に至るまでＸ軸方向の各画素
の判断結果を得る。次に、ｙ＝ｙa+1 、すなわち、画素
Ｂ（Ｂ（ｘa ，y a ））のＹ軸方向に隣接する画素（ｘ
a ，ｙa+1 ）のＬAP（ｘa ，y a+1 ）、ＬAS（ｘa ，y
a+1 ）を求め、その差の判断結果を得る。そして、順次
ｘ＞｛Ｘmax −（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｘ−１）｝に至るまでＸ
軸方向の各画素の判断結果を得る。
ち、ｘa のＸ軸方向に隣接する画素（ｘa+1 ，ｙa ）の
ＬAP（ｘa+1 ，y a ）、ＬAS（ｘa+1 ，y a ）を求め、
その差の判断結果を得る。そして、順次ｘ＞｛Ｘmax −
（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｘ−１）｝に至るまでＸ軸方向の各画素
の判断結果を得る。次に、ｙ＝ｙa+1 、すなわち、画素
Ｂ（Ｂ（ｘa ，y a ））のＹ軸方向に隣接する画素（ｘ
a ，ｙa+1 ）のＬAP（ｘa ，y a+1 ）、ＬAS（ｘa ，y
a+1 ）を求め、その差の判断結果を得る。そして、順次
ｘ＞｛Ｘmax −（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｘ−１）｝に至るまでＸ
軸方向の各画素の判断結果を得る。
【００２６】同様にして、順次ｙ＞｛Ｙmax −（Ｄ＋Ｈ
＋（Ｗｙ−１）｝に至るまで、すなわち、２次元画像の
左下方端に位置する画素のＸ軸方向の全画素までの判断
結果を得る。すなわち、以上により、前記設定条件（Ｄ
＝２、Ｈ＝１、及び前記Ｂ＝０［ムラ領域でない］、及
びＷｘ＝２、Ｗｙ＝２）での、２次元画像の周辺部分を
除く領域の全画素の判断結果（ムラ領域の検出）を得る
ことになる。ここで、周辺部分としては、上方辺部、及
び左方辺部の（Ｄ＋Ｈ）画素、右方辺部の（Ｄ＋Ｈ＋
（Ｗｘ−１））画素、下方辺部の（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｙ−
１））画素である。
＋（Ｗｙ−１）｝に至るまで、すなわち、２次元画像の
左下方端に位置する画素のＸ軸方向の全画素までの判断
結果を得る。すなわち、以上により、前記設定条件（Ｄ
＝２、Ｈ＝１、及び前記Ｂ＝０［ムラ領域でない］、及
びＷｘ＝２、Ｗｙ＝２）での、２次元画像の周辺部分を
除く領域の全画素の判断結果（ムラ領域の検出）を得る
ことになる。ここで、周辺部分としては、上方辺部、及
び左方辺部の（Ｄ＋Ｈ）画素、右方辺部の（Ｄ＋Ｈ＋
（Ｗｘ−１））画素、下方辺部の（Ｄ＋Ｈ＋（Ｗｙ−
１））画素である。
【００２７】次に、前記設定条件であるＤ＝２、Ｈ＝
１、及び前記Ｃ＝０［ムラ領域でない］、及びＷｘ＝
２、Ｗｙ＝２の内、順次変化させるＷｘ及びＷｙの値を
５とし、Ｗｘ及びＷｙを変化させたＷｘとＷｙとの複数
の組み合わせにて、上記処理を行うことにより、複数個
のムラ領域を検出する。そして、最終のムラ領域は、こ
れら複数個のムラ領域の和をもって検査対象物のムラ領
域とする。
１、及び前記Ｃ＝０［ムラ領域でない］、及びＷｘ＝
２、Ｗｙ＝２の内、順次変化させるＷｘ及びＷｙの値を
５とし、Ｗｘ及びＷｙを変化させたＷｘとＷｙとの複数
の組み合わせにて、上記処理を行うことにより、複数個
のムラ領域を検出する。そして、最終のムラ領域は、こ
れら複数個のムラ領域の和をもって検査対象物のムラ領
域とする。
【００２８】
【発明の効果】本発明は、検査対象物を撮影して得られ
た２次元画像を解析し、部分的に濃度が高いあるいは低
い領域（ムラ領域）を検出する画像濃淡ムラ検出におい
て、ａ）ある座標（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画素からＸ
軸方向へＷｘ、Ｙ軸方向へＷｙ画素の占める領域（Ａ
Ｐ）に位置する全画素の平均輝度値（ＬAP）を作製し、
ｂ）領域（ＡＰ）からＤ画素外側に位置する幅Ｈ画素の
ドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の平均輝度値
（ＬAS）を作製し、ｃ）該平均輝度値（ＬAP）と該平均
輝度値（ＬAS）との差を、予め設定したムラ検出の閾値
と比較し、ムラ領域を検出する画像濃淡ムラ検出方法で
あるので、カラーフィルターなどの品質検査における特
定箇所のムラ検出において、ムラ領域辺縁部の濃度変動
が急峻であるか、緩やかであるかによる検出力の差を回
避した、特に、点状ムラに対する検出感度を向上させ、
点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検出方法とな
る。
た２次元画像を解析し、部分的に濃度が高いあるいは低
い領域（ムラ領域）を検出する画像濃淡ムラ検出におい
て、ａ）ある座標（ｘ0 ，y 0 ）に位置する画素からＸ
軸方向へＷｘ、Ｙ軸方向へＷｙ画素の占める領域（Ａ
Ｐ）に位置する全画素の平均輝度値（ＬAP）を作製し、
ｂ）領域（ＡＰ）からＤ画素外側に位置する幅Ｈ画素の
ドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の平均輝度値
（ＬAS）を作製し、ｃ）該平均輝度値（ＬAP）と該平均
輝度値（ＬAS）との差を、予め設定したムラ検出の閾値
と比較し、ムラ領域を検出する画像濃淡ムラ検出方法で
あるので、カラーフィルターなどの品質検査における特
定箇所のムラ検出において、ムラ領域辺縁部の濃度変動
が急峻であるか、緩やかであるかによる検出力の差を回
避した、特に、点状ムラに対する検出感度を向上させ、
点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検出方法とな
る。
【００２９】また、本発明は、上記画像濃淡ムラ検出方
法において、ある座標（ｘ0 ，y 0）を、撮影して得ら
れた２次元画像の全領域にわたって順次更新し、ムラ領
域を検出する画像濃淡ムラ検出方法であるので、カラー
フィルターなどの品質検査におけるムラ検出において、
検査対象物の全領域にわたってムラ領域辺縁部の濃度変
動が急峻であるか、緩やかであるかによる検出力の差を
回避した、特に、点状ムラに対する検出感度を向上さ
せ、点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検出方法
となる。
法において、ある座標（ｘ0 ，y 0）を、撮影して得ら
れた２次元画像の全領域にわたって順次更新し、ムラ領
域を検出する画像濃淡ムラ検出方法であるので、カラー
フィルターなどの品質検査におけるムラ検出において、
検査対象物の全領域にわたってムラ領域辺縁部の濃度変
動が急峻であるか、緩やかであるかによる検出力の差を
回避した、特に、点状ムラに対する検出感度を向上さ
せ、点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検出方法
となる。
【００３０】また、本発明は、上記画像濃淡ムラ検出方
法において、Ｗｘ及びＷｙを変化させたＷｘとＷｙとの
複数の組み合わせにて、複数個のムラ領域を検出し、こ
れら複数個のムラ領域の和をもって検査対象物のムラ領
域とする画像濃淡ムラ検出方法であるので、カラーフィ
ルターなどの品質検査におけるムラ検出において、ムラ
の直径、形状、境界部の濃度勾配等による検出力の差を
回避した、特に、点状ムラに対する検出感度を向上さ
せ、点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検出方法
となる。
法において、Ｗｘ及びＷｙを変化させたＷｘとＷｙとの
複数の組み合わせにて、複数個のムラ領域を検出し、こ
れら複数個のムラ領域の和をもって検査対象物のムラ領
域とする画像濃淡ムラ検出方法であるので、カラーフィ
ルターなどの品質検査におけるムラ検出において、ムラ
の直径、形状、境界部の濃度勾配等による検出力の差を
回避した、特に、点状ムラに対する検出感度を向上さ
せ、点状ムラの検出を容易にする画像濃淡ムラ検出方法
となる。
【図１】本発明による画像濃淡ムラ検出方法の一実施例
を模式的に示す説明図である。
を模式的に示す説明図である。
【図２】本発明による画像濃淡ムラ検出方法の一実施例
を模式的に示す説明図である。
を模式的に示す説明図である。
【図３】本発明による画像濃淡ムラ検出方法の一実施例
を模式的に示す説明図である。
を模式的に示す説明図である。
【図４】本発明による画像濃淡ムラ検出方法の一実施例
を模式的に示す説明図である。
を模式的に示す説明図である。
【図５】本発明による画像濃淡ムラ検出方法におけるム
ラ領域検出のフローの一例を示す説明図である。
ラ領域検出のフローの一例を示す説明図である。
Ａ（ｘ0 ，y 0 ）…ある座標（ｘ0 ，y 0 ）に位置する
画素Ａ Ｂ（ｘa ，y a ）…座標（ｘa ，y a ）に位置する画素
Ｂ ＡＰ…Ｗｘ×Ｗｙ画素の占める領域 ＡＰ１…画素Ａに対応したＷｘ＝２、Ｗｙ＝２の領域 ＡＰ２…画素Ａに対応したＷｘ＝５、Ｗｙ＝５の領域 ＡＰ３…画素Ａに対応したＷｘ＝４、Ｗｙ＝３の領域 ＡＳ…ドーナツ状領域 ＡＳ１…画素Ａに対応したＷｘ＝２、Ｗｙ＝２、Ｄ＝
２、Ｈ＝１のドーナツ状領域 ＡＳ２…画素Ａに対応したＷｘ＝５、Ｗｙ＝５、Ｄ＝
２、Ｈ＝１のドーナツ状領域 ＡＳ３…画素Ａに対応したＷｘ＝４、Ｗｙ＝３、Ｄ＝
２、Ｈ＝１のドーナツ状領域 ＡＴ…撮影して得られた２次元画像の全領域の画素 ＬAP…領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値 ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）…画素Ａに対応したＷｘ＝２、Ｗ
ｙ＝２の領域（ＡＰ１）の平均輝度値 ＬAS…ドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の平均
輝度値 ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）…画素Ａに対応したドーナツ状領
域（ＡＳ１）に位置する全画素の平均輝度値 Ｓ…ムラ検出の閾値 Ｘmax …Ｘ軸方向のデータサイズ Ｙmax …Ｙ軸方向のデータサイズ
画素Ａ Ｂ（ｘa ，y a ）…座標（ｘa ，y a ）に位置する画素
Ｂ ＡＰ…Ｗｘ×Ｗｙ画素の占める領域 ＡＰ１…画素Ａに対応したＷｘ＝２、Ｗｙ＝２の領域 ＡＰ２…画素Ａに対応したＷｘ＝５、Ｗｙ＝５の領域 ＡＰ３…画素Ａに対応したＷｘ＝４、Ｗｙ＝３の領域 ＡＳ…ドーナツ状領域 ＡＳ１…画素Ａに対応したＷｘ＝２、Ｗｙ＝２、Ｄ＝
２、Ｈ＝１のドーナツ状領域 ＡＳ２…画素Ａに対応したＷｘ＝５、Ｗｙ＝５、Ｄ＝
２、Ｈ＝１のドーナツ状領域 ＡＳ３…画素Ａに対応したＷｘ＝４、Ｗｙ＝３、Ｄ＝
２、Ｈ＝１のドーナツ状領域 ＡＴ…撮影して得られた２次元画像の全領域の画素 ＬAP…領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値 ＬAP1 （ｘ0 ，y 0 ）…画素Ａに対応したＷｘ＝２、Ｗ
ｙ＝２の領域（ＡＰ１）の平均輝度値 ＬAS…ドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の平均
輝度値 ＬAS1 （ｘ0 ，y 0 ）…画素Ａに対応したドーナツ状領
域（ＡＳ１）に位置する全画素の平均輝度値 Ｓ…ムラ検出の閾値 Ｘmax …Ｘ軸方向のデータサイズ Ｙmax …Ｙ軸方向のデータサイズ
Claims (3)
- 【請求項１】検査対象物を撮影して得られた２次元画像
を解析し、部分的に濃度が高いあるいは低い領域（ムラ
領域）を検出する画像濃淡ムラ検出において、 １）撮影して得られた２次元画像のある座標（ｘ0 ，y
0 ）に位置する画素からＸ軸方向へＷｘ（整数でＷｘ≧
１）、Ｙ軸方向へＷｙ（整数でＷｙ≧１）画素の占める
領域（ＡＰ）に位置する全画素の平均輝度値（ＬAP）を
作製し、 ２）該領域（ＡＰ）の周辺部の、該領域（ＡＰ）からＤ
（整数でＤ≧１）画素外側に位置する幅Ｈ（整数でＨ≧
１）画素のドーナツ状領域（ＡＳ）に位置する全画素の
平均輝度値（ＬAS）を作製し、 ３）該平均輝度値（ＬAP）と該平均輝度値（ＬAS）との
差を、予め設定したムラ検出の閾値と比較し、ムラ領域
を検出することを特徴とする画像濃淡ムラ検出方法。 - 【請求項２】前記ある座標（ｘ0 ，y 0 ）を、前記撮影
して得られた２次元画像の全領域にわたって順次更新
し、ムラ領域を検出することを特徴とする請求項１記載
の画像濃淡ムラ検出方法。 - 【請求項３】前記Ｗｘ及びＷｙを変化させたＷｘとＷｙ
との複数の組み合わせにて、複数個のムラ領域を検出
し、該複数個のムラ領域の和をもって検査対象物のムラ
領域とすることを特徴とする請求項１、又は請求項２記
載の画像濃淡ムラ検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000057337A JP2001243473A (ja) | 2000-03-02 | 2000-03-02 | 画像濃淡ムラ検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000057337A JP2001243473A (ja) | 2000-03-02 | 2000-03-02 | 画像濃淡ムラ検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001243473A true JP2001243473A (ja) | 2001-09-07 |
Family
ID=18578149
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000057337A Pending JP2001243473A (ja) | 2000-03-02 | 2000-03-02 | 画像濃淡ムラ検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001243473A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054247A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Sharp Corp | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| KR20140073259A (ko) * | 2012-12-06 | 2014-06-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 |
-
2000
- 2000-03-02 JP JP2000057337A patent/JP2001243473A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010054247A (ja) * | 2008-08-26 | 2010-03-11 | Sharp Corp | 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 |
| KR20140073259A (ko) * | 2012-12-06 | 2014-06-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 |
| KR101966075B1 (ko) | 2012-12-06 | 2019-04-05 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치의 얼룩 검출 장치 및 방법 |
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