JP2002158251A - 超音波ボンディング方法 - Google Patents

超音波ボンディング方法

Info

Publication number
JP2002158251A
JP2002158251A JP2000355410A JP2000355410A JP2002158251A JP 2002158251 A JP2002158251 A JP 2002158251A JP 2000355410 A JP2000355410 A JP 2000355410A JP 2000355410 A JP2000355410 A JP 2000355410A JP 2002158251 A JP2002158251 A JP 2002158251A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bonding
ultrasonic
height position
ultrasonic vibration
joined
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000355410A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3567884B2 (ja
Inventor
Takashige Sakai
隆茂 酒井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2000355410A priority Critical patent/JP3567884B2/ja
Publication of JP2002158251A publication Critical patent/JP2002158251A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3567884B2 publication Critical patent/JP3567884B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/072Connecting or disconnecting of bump connectors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/01Manufacture or treatment
    • H10W72/015Manufacture or treatment of bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711Apparatus therefor
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/0711Apparatus therefor
    • H10W72/07141Means for applying energy, e.g. ovens or lasers
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/072Connecting or disconnecting of bump connectors
    • H10W72/07221Aligning
    • H10W72/07223Active alignment, e.g. using optical alignment using marks or sensors
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/072Connecting or disconnecting of bump connectors
    • H10W72/07231Techniques
    • H10W72/07232Compression bonding, e.g. thermocompression bonding
    • H10W72/07233Ultrasonic bonding, e.g. thermosonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/072Connecting or disconnecting of bump connectors
    • H10W72/07231Techniques
    • H10W72/07236Soldering or alloying
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • H10W72/07511Treating the bonding area before connecting, e.g. by applying flux or cleaning
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • H10W72/07521Aligning
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • H10W72/07531Techniques
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/071Connecting or disconnecting
    • H10W72/075Connecting or disconnecting of bond wires
    • H10W72/07531Techniques
    • H10W72/07532Compression bonding, e.g. thermocompression bonding
    • H10W72/07533Ultrasonic bonding, e.g. thermosonic bonding
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W72/00Interconnections or connectors in packages
    • H10W72/50Bond wires
    • H10W72/531Shapes of wire connectors
    • H10W72/536Shapes of wire connectors the connected ends being ball-shaped

Landscapes

  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 簡便な方法により高い信頼性でボンディング
状態を検査することができる超音波ボンディング方法を
提供することを目的とする。 【解決手段】 キャピラリツール2aによってワイヤの
下端部に形成されたボールBを加重と超音波振動によっ
てボンディング面に接合するワイヤボンディングにおい
て、ボールBがボンディング面に当接したタイミングt
1およびボンディング工程終了のタイミングt3後キャ
ピラリツール2aの上昇開始までの間のいずれかのタイ
ミングにおいてキャピラリツール2aの高さ位置LA,
LBを計測するとともに、振動子の駆動電流をボンディ
ング工程の少なくとも前期および後期の2回計測して電
流値UA,UBを求め、これらの計測データに基づいて
接合状態を判定する。これにより、超音波ボンディング
装置に備えられた機能のみを利用して、簡便な方法で高
い信頼性の接合状態判定を行うことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ワイヤやバンプを
などの接合対象物を電子部品や基板などの被接合物に超
音波振動によって接合する超音波ボンディング方法に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体素子の電極を接続用端子などとワ
イヤによって導通させるワイヤボンディングや、電子部
品に形成されたバンプを回路電極と接合するバンプボン
ディングにおいては、超音波圧接が用いられる。この方
法は、ワイヤやバンプなどの接合対象物を当接ツールに
当接させて押圧しながら接合対象物に超音波振動を与
え、接合面を微小に振動させて摩擦を生じさせることに
より接合面を密着させるものである。
【0003】超音波ボンディングの過程においては、接
合対象物と被接合物との接合が正常に行われたか否かを
検出するためのボンディング検査が行われる。従来の超
音波ボンディングにおいては、接合対象物と被接合物と
の間の電気的な導通を検査することで不着状態を検出す
る方法や、超音波振動子の駆動電流値の変化などを判定
指標値として用いる方法などによって、ボンディング結
果の良否を判定するようにしていた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記電
気的な導通を検査する方法では専用の検査装置をボンデ
ィング装置以外に別途必要とし、設備費用を要するとと
もにボンディング後に別途検査作業を行う必要があって
手間を要するという問題点があり、また振動子の駆動電
流値などを指標値として用いる方法では、接合状態を高
い信頼性で検出することができなかった。
【0005】そこで本発明は、簡便な方法により高い信
頼性でボンディング状態を検査することができる超音波
ボンディング方法を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の超音波ボ
ンディング方法は、当接ツールに保持された接合対象物
に荷重と超音波振動を作用させて被接合物に接合する超
音波ボンディング方法であって、前記接合対象物が被接
合物に当接したタイミングにおける前記当接ツールの高
さ位置を計測する第1の高さ位置計測工程と、接合対象
物に当接ツールによって荷重と超音波振動を作用させな
がら接合対象物と被接合物とを接合するボンディング工
程と、前記ボンディング工程の少なくとも前期および後
期において前記当接ツールを超音波振動させる振動子の
駆動電流およびまたは駆動電圧を計測する超音波計測工
程と、前記ボンディング工程終了後前記当接ツールの上
昇開始までの間のいずれかのタイミングにおいて当接ツ
ールの高さ位置を計測する第2の高さ位置計測工程と、
前記第1の高さ位置計測工程、超音波計測工程および第
2の高さ位置計測工程で得られた計測データに基づいて
接合状態を判定する接合判定工程とを含む。
【0007】請求項2記載の超音波ボンディング方法
は、請求項1記載の超音波ボンディング方法であって、
前記超音波測定工程において得られた計測データよりイ
ンピーダンスを求め、前記接合判定工程において、前記
第1の高さ位置計測工程、第2の高さ位置計測工程で得
られた計測データおよび前記インピーダンスに基づいて
接合状態を判定する。
【0008】請求項3記載の超音波ボンディング方法
は、請求項1記載の超音波ボンディング方法であって、
前記第1の高さ位置計測工程で計測した当接ツールの高
さ位置と、第2の高さ位置計測工程で計測した当接ツー
ルの高さ位置との差よりボンディング工程における接合
対象物の沈み込み量を求め、前記超音波計測工程で得ら
れた2つの計測データより超音波振動の状態を表す超音
波振動指標値の変化量を求め、この沈み込み量と超音波
振動指標値の変化量とに基づいて、接合状態の判定を行
う。
【0009】請求項4記載の超音波ボンディング方法
は、請求項3記載の超音波ボンディング方法であって、
前記超音波振動指標値の変化量は、駆動電流または駆動
電圧の差である。
【0010】請求項5記載の超音波ボンディング方法
は、請求項2および3記載の超音波ボンディング方法で
あって、前記超音波振動指標値の変化量は、インピーダ
ンスの差である。
【0011】請求項6記載の超音波ボンディング方法
は、請求項1記載の超音波ボンディング方法であって、
前記超音波ボンディングは、ワイヤと電極とを接合する
ワイヤボンディングである。
【0012】請求項7記載の超音波ボンディング方法
は、請求項1記載の超音波ボンディング方法であって、
前記超音波ボンディングは、電子部品の電極を基板の電
極にバンプを介して接合するバンプボンディングであ
る。
【0013】請求項8記載の超音波ボンディング方法
は、当接ツールに保持された接合対象物に荷重と超音波
振動を作用させて被接合物に接合する超音波ボンディン
グ方法であって、前記接合対象物が被接合物に当接した
タイミングにおける前記当接ツールの高さ位置を計測す
る第1の高さ位置計測工程と、接合対象物に当接ツール
によって荷重と超音波振動を作用させながら接合対象物
と被接合物とを接合するボンディング工程と、前記ボン
ディング工程の少なくとも前期と後期において前記当接
ツールを超音波振動させる振動子の駆動電流およびまた
は駆動電圧を計測する超音波計測工程と、前記ボンディ
ング工程終了後、前記当接ツールの上昇開始までの間の
いずれかのタイミングにおいて当接ツールの高さ位置を
計測する第2の高さ位置計測工程と、前記第1の高さ位
置計測工程で計測した当接ツールの高さ位置と第2の高
さ位置計測工程で計測した当接ツールの高さ位置との差
よりボンディング工程における接合対象物の沈み込み量
を求める沈み込み量算出工程と、前記超音波計測工程で
得られた2つの計測データより超音波振動の状態を表す
超音波振動指標値の変化量を求める変化量算出工程と、
前記沈み込み量と超音波振動指標値の変化量を座標系に
持つグラフをモニタに表示しこのグラフ上に算出した沈
み込み量と超音波振動指標値の変化量とで定められるボ
ンディング結果点を表示する工程とを含む。
【0014】請求項9記載の超音波ボンディング方法
は、請求項8記載の超音波ボンディング方法であって、
前記超音波振動指標値は、駆動電流値、駆動電圧値、イ
ンピーダンスのいずれかである。
【0015】請求項10記載の超音波ボンディング方法
は、請求項8記載の超音波ボンディング方法であって、
前記超音波ボンディングは、ワイヤと電極とを接合する
ワイヤボンディングである。
【0016】請求項11記載の超音波ボンディング方法
は、請求項8記載の超音波ボンディング方法であって、
前記超音波ボンディングは、電子部品の電極を基板の電
極にバンプを介して接合するバンプボンディングであ
る。
【0017】本発明によれば、接合対象物が被接合物に
当接したタイミングおよびボンディング工程終了後当接
ツールの上昇開始までの間のいずれかのタイミングにお
いて当接ツールの高さ位置を計測するとともに、ボンデ
ィング工程の少なくとも前期と後期において当接ツール
を超音波振動させる振動子の駆動電流およびまたは駆動
電圧を計測し、これらの計測データに基づいて接合状態
を判定することにより、超音波ボンディング装置に備え
られた機能のみを利用して、簡便な方法で高い信頼性の
接合状態判定を行うことができる。
【0018】
【発明の実施の形態】(実施の形態1)図1は本発明の
実施の形態1のワイヤボンディング装置の構成を示すブ
ロック図、図2は本発明の実施の形態1のワイヤボンデ
ィング装置のボンディング時計測処理のフロー図、図3
は本発明の実施の形態1のワイヤボンディング装置の接
合判定処理のフロー図、図4は本発明の実施の形態1の
ワイヤボンディング装置によるボンディング動作の工程
説明図、図5は本発明の実施の形態1のワイヤボンディ
ング装置による接合判定条件を示すグラフである。本実
施の形態1は、超音波ボンディングの接合対象物として
のワイヤを被接合物である電極に接合するワイヤボンデ
ィングの例を示している。
【0019】まず図1を参照してワイヤボンディング装
置のボンディング機構について説明する。図1におい
て、ホーン駆動機構1は水平方向に延出したホーン2を
備えている。ホーン2の先端部にはキャピラリツール2
aが装着されており、ホーン2の後端部には超音波振動
を発生する振動子4が結合されている。振動子4はUS
ドライバ9によって駆動される。ホーン2は駆動ブロッ
ク3によって支持されており、駆動ブロック3はZ軸ド
ライバ8に駆動されるモータ5によって水平な回転軸3
a廻りに所定角度の回動が可能となっている。この回動
はエンコーダ6によってその回動量が検出され、検出信
号はアンプ7を介してZ軸ドライバ8に伝達される。
【0020】USドライバ9によって振動子4を駆動す
ることにより、ホーン2を介してキャピラリツール2a
には超音波振動が印加される。そしてモータ5を駆動し
てホーン2を回転軸3a廻りに回動させることによりキ
ャピラリツール2aは昇降する。ボンディング動作は、
キャピラリツール2aにボンディングワイヤを挿通さ
せ、ボンディングワイヤの下端にボールを形成させた状
態で行われる。すなわちキャピラリツール2aの昇降動
作と超音波振動の印加を制御して、ボールを当接ツール
としてのキャピラリツール2aによって基板の電極など
のボンディング面に押し付け、ボールに押圧荷重と超音
波振動を作用させることにより、ワイヤボンディングが
行われる。
【0021】制御系について説明する。図1において破
線枠10は制御部を示しており、制御部10は入出力部
11、位置検出部12、当接検出部13、処理部14お
よび記憶部15を備えている。位置検出部12はエンコ
ーダ6からZ軸ドライバ8を介して出力されるパルス信
号をカウントすることにより、キャピラリツール2aの
下端部の高さ位置を検出する。検出結果は入出力部11
を介して処理部14へ伝達される。当接検出部13は、
キャピラリツール2aによってワイヤ下端のボールをボ
ンディング面に押し付けるボンディング動作において、
ボールがボンディング面に当接したタイミングを検出す
る。検出結果は同様に処理部14に伝達される。
【0022】USドライバ9は処理部14から入出力部
11を介して超音波振動の発振指令を受け、この発振指
令に従って振動子4を駆動する。またUSドライバ9は
振動子4を駆動する際の駆動電流のモニタ値を出力す
る。出力信号は入出力部11を介して処理部14へ伝達
される。処理部14は次の各部を備えており、それぞれ
以下の処理を行う。ボンディング処理部14aは、ホー
ン駆動機構1によるボンディング動作の制御処理を行
う。計測処理部14bは、ボンディング過程におけるキ
ャピラリツール2aの高さ位置や電流モニタ値の計測処
理を行う。判定処理部14cは、これらの計測結果に基
づいて、ボンディング時の接合状態の良否判定処理を行
う。表示処理部14dは、前記判定結果や操作画面を表
示装置16に表示させるためのデータ処理を行う。記憶
部15は接合状態の判定を行うための判定条件データな
どの各種データを記憶する。表示装置16はモニタであ
り、判定結果や計測データ、その他操作画面の表示を行
う。
【0023】このワイヤボンディング装置のボンディン
グ機構は上記の様に構成されており、次にワイヤボンデ
ィング過程において行われるボンディング時計測処理お
よび接合判定処理について、図2、図3のフロー図に沿
って図4を参照しながら説明する。なお図4は、ボンデ
ィング動作時のキャピラリツール2aの高さ位置を示す
Z軸変位、キャピラリツール2aによるボール押圧のタ
イミング、振動子4を駆動する電源の電圧および電流の
変化状態を経時的に示している。
【0024】まずボンディング時計測処理について説明
する。ボンディング時計測は、図2において、キャピラ
リツール2a(図4参照)の下降が開始する(ST
1)。このときキャピラリツール2aは、ワイヤをスパ
ークさせることにより形成されたボールBを下端部に保
持している。この下降過程において、当接検出部13は
ボールBの下端部がボンディング面に当接したか否かを
監視し(ST2)、当接が検出されたならば、図4に示
すようにそのタイミングt1におけるキャピラリツール
2aの高さ位置LAを、位置検出部12によって計測し
記憶部15に記憶させる(ST3)(第1高さ位置計測
工程)。
【0025】この後ボンディング工程に移行する。すな
わちボールBにキャピラリツール2aによって押圧荷重
を印加するとともに、タイミングt2において振動子4
を駆動して超音波振動の発振を開始する(ST4)。こ
のボンディング工程において、超音波振動の状態を示す
超音波振動指標値としての振動子4の駆動電流値のモニ
タが行われ、電流モニタ値が最大となったならば(ST
5)、この最大電流モニタ値UAを記憶させる(ST
6)。次に超音波発振完了のタイミングか否かを判定し
(ST7)、完了のタイミングならば現在の電流モニタ
値UBを記憶させ(ST8)。
【0026】次いで現在のキャピラリツール2aの高さ
検出値LBを記憶させる(ST9)(第2高さ位置計測
工程)。高さ検出値LBの計測は、ボンディング工程が
タイミングt3にて終了した後、キャピラリツール2a
が上昇を開始するタイミングt4までの間に行えばよ
い。すなわち図4に示すように、ボンディング工程にお
いては、少くとも前期(最大電流モニタ値計測時)およ
び後期(超音波発振完了時)の2回電流値の計測を行う
(超音波計測工程)。そしてこれによりボンディング時
計測を終了する。
【0027】なおここでは振動子4の駆動電圧は、図4
に示すように一定に保たれることから駆動電流のみを計
測対象とした。電圧を変動させる駆動方式を採用する場
合には、電圧値が計測対象となる。また電圧値、電流値
の双方を計測しこれらの計測値からインピーダンスを求
めるようにしてもよい、すなわち超音波振動指標値とし
て、電流値、電圧値、インピーダンスのいずれを用いて
もよい。
【0028】次に図3を参照して接合判定処理について
説明する。この接合判定処理は上記ボンディング時計測
の第1の高さ位置計測工程、超音波計測工程および第2
の高さ位置計測工程で得られた計測データに基づいて、
接合状態を判定するものである。まず先に計測された高
さ検出値LA,LBより沈み込み量ΔLを算出する(S
T11)。次に、超音波振動指標値の変化量を算出する
(ST12)。上記例では超音波振動指標値として電流
値を用いており、電流モニタ値UAとUBの差ΔUを求
める。
【0029】次に沈み込み量ΔLと超音波振動指標値の
変化量ΔUに基づいて、接合状態の判定を行う(ST1
3)。そしてこの判定結果は、計測結果とともに表示装
置16のモニタ画面に表示される(ST14)。ここで
接合状態の判定に用いられる判定基準について図5を参
照して説明する。図5は上述のΔU,ΔLをそれぞれ横
軸、縦軸とする2次元のデータ領域を示すものであり、
UA,LAをそれぞれの座標軸上での上限とする範囲内
で、A1〜A5の5領域に区分されている。
【0030】これらの領域の境界は、横軸上で設定され
る基準値U1、縦軸上で設定される2つの基準値L1,
L2によって定められる。これらの基準値はボンディン
グ結果の適正条件を規定するものであり、ΔUについて
は基準値U1以上であることが、またΔLについては基
準値L1〜L2の範囲にあることが適正条件とされる。
【0031】以下、各領域について説明する。まず領域
A1はΔLが(−)側、すなわち全くボンディングによ
るボールBの沈下がない領域と、ΔLが基準値L1以下
でかつΔUがU1以下の領域とを含んでおり、いずれの
場合もボールBがボンディングされていない不着領域を
示している。領域A2は、沈下量ΔLは適正範囲にある
ものの、ΔUが条件を満たしておらず、ボンディング強
度が十分でない強度不足領域を示している。領域A3
は、ΔLが適正範囲を超えており、ボールBが過度に押
しつぶされた圧着過剰領域を、また領域A5は、逆にボ
ールBの押しつぶし量が不足の圧着不足領域を示してい
る。そしてΔUがU1以上で、かつΔLがL1〜L2の
範囲にある領域A4が、適正領域を示している。
【0032】すなわち前述のボンディング時計測によっ
てΔU,ΔLを求め、これらの2つの計測データで示す
データ点(ΔU,ΔL)が上記領域のいずれに属するか
を判断することにより、ボンディング時の接合状態の良
否を判定することができる。上述の基準値U1,L1,
L2は、経験データを統計的に整理することにより求め
られ、記憶部15に数値データとして記憶される。
【0033】なお図3のフロー図において、ST13に
おける接合状態の判定を行わず、ST14において計測
結果のみを表示させ、作業者が表示内容によって良否を
判断するようにしてもよい。本実施の形態に示すように
判定条件は2つのデータによって定められるデータ点
(ボンディング結果点)がいずれの領域に属するかを目
視判断するだけで、正しい判定が行えることから、作業
者への判定負荷が極めて軽減されたものとなっている。
【0034】このように、ボンディング時に、ボールの
沈下量および超音波振動状態の指標値としての電流値、
電圧値またはインピーダンスの変化量を求め、これらの
2つの計測データを基準値と比較することにより、ワイ
ヤボンディング装置に備えられている機能に特別な機能
を付加することなく、接合状態の判定を行うことができ
る。
【0035】(実施の形態2)図6は本発明の実施の形
態2の電子部品のボンディング装置の構成を示すブロッ
ク図、図7は本発明の実施の形態2の電子部品のボンデ
ィング装置のボンディング動作の工程説明図である。本
実施の形態2は、超音波ボンディングの接合対象物とし
ての電子部品のバンプを、被接合物としての基板の電極
に接合するバンプボンディングの例を示している。
【0036】図6において基板保持部20上には、電極
21aが形成された基板21が保持されている。基板保
持部20の上方には、ボンディング部23が配設されて
いる。ボンディング部23はモータおよびエンコーダを
内蔵したツール昇降駆動部24を備えており、ツール昇
降駆動部24はホルダ25に保持された当接ツールとし
てのボンディングツール26を昇降駆動する。ボンディ
ングツール26は、下方に突出した接合作用部26aを
備えており、接合作用部26aはバンプ付きの電子部品
22を吸着して保持するとともに、電子部品22を基板
21に対して押圧する。このときボンディングツール2
6に装着された振動子27を駆動することにより、電子
部品22には超音波振動が印加される。
【0037】図6において、制御部31、Z軸ドライバ
30、アンプ29およびUSドライバ28は、実施の形
態1における制御部10、Z軸ドライバ8、アンプ7お
よびUSドライバ9と同様の機能を有しており、ボンデ
ィングツール26による電子部品22の超音波ボンディ
ング工程において、実施の形態1に示す例と同様のボン
ディング時計測処理、接合状態の判定処理および表示装
置32への表示処理を行う。
【0038】すなわち図7に示すように、ボンディング
ツール26の接合作用部26aに保持された電子部品2
2を基板21の電極21aに対して下降させ、バンプ2
2aが電極21aに当接したタイミングt1において、
ボンディングツール26の接合作用部26aの下端部の
高さ位置L’Aを計測し記憶させる(第1の高さ位置計
測工程)。そして電子部品22を押圧してバンプ22a
に押圧荷重を印加するとともに超音波振動を印加し、実
施の形態1と同様の超音波振動指標値の変化量を求める
(超音波計測工程)。すなわち、超音波ボンディング工
程の前期と後期において、電流モニタ値U’A、U’B
を計測し記憶させる。
【0039】次いで超音波ボンディング後、ボンディン
グツール26を上昇させるまでの間に、再度ボンディン
グツール26の下端部の高さ位置L’Bを計測して記憶
させる(第2の高さ位置計測工程)。そして、実施の形
態1と同様に、第1の高さ位置計測工程、超音波計測工
程および第2の高さ位置計測工程の計測データに基づい
て、バンプ22aの電極21aへの接合状態の判定を行
う。この実施の形態2においても、実施の形態1と同様
に超音波ボンディングによる接合状態の判定を簡便に行
うことができる。
【0040】
【発明の効果】本発明によれば、接合対象物が被接合物
に当接したタイミングおよびボンディング工程終了後当
接ツールの上昇開始までの間のいずれかのタイミングに
おいて当接ツールの高さ位置を計測するとともに、当接
ツールを超音波振動させる振動子の駆動電流およびまた
は駆動電圧をボンディング工程の少なくとも前期および
後期の2回計測し、これらの計測データに基づいて接合
状態を判定するようにしたので、超音波ボンディング装
置に備えられた機能のみを利用して、簡便な方法で高い
信頼性の接合状態判定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1のワイヤボンディング装
置の構成を示すブロック図
【図2】本発明の実施の形態1のワイヤボンディング装
置のボンディング時計測処理のフロー図
【図3】本発明の実施の形態1のワイヤボンディング装
置の接合測定処理のフロー図
【図4】本発明の実施の形態1のワイヤボンディング装
置によるボンディング動作の工程説明図
【図5】本発明の実施の形態1のワイヤボンディング装
置による接合判定条件を示すグラフ
【図6】本発明の実施の形態2の電子部品のボンディン
グ装置の構成を示すブロック図
【図7】本発明の実施の形態2の電子部品のボンディン
グ装置のボンディング動作の工程説明図
【符号の説明】
1 ホーン駆動機構 2a キャピラリツール 4、27 振動子 10、31 制御部 12 位置検出部 13 当接検出部 14 処理部 16 表示装置 24 ツール昇降駆動部 26 ボンディングツール 27 振動子

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】当接ツールに保持された接合対象物に荷重
    と超音波振動を作用させて被接合物に接合する超音波ボ
    ンディング方法であって、前記接合対象物が被接合物に
    当接したタイミングにおける前記当接ツールの高さ位置
    を計測する第1の高さ位置計測工程と、接合対象物に当
    接ツールによって荷重と超音波振動を作用させながら接
    合対象物と被接合物とを接合するボンディング工程と、
    前記ボンディング工程の少なくとも前期と後期において
    前記当接ツールを超音波振動させる振動子の駆動電流お
    よびまたは駆動電圧を計測する超音波計測工程と、前記
    ボンディング工程終了後前記当接ツールの上昇開始まで
    の間のいずれかのタイミングにおいて当接ツールの高さ
    位置を計測する第2の高さ位置計測工程と、前記第1の
    高さ位置計測工程、超音波計測工程および第2の高さ位
    置計測工程で得られた計測データに基づいて接合状態を
    判定する接合判定工程とを含むことを特徴とする超音波
    ボンディング方法。
  2. 【請求項2】前記超音波測定工程において得られた計測
    データよりインピーダンスを求め、前記接合判定工程に
    おいて、前記第1の高さ位置計測工程、第2の高さ位置
    計測工程で得られた計測データおよび前記インピーダン
    スに基づいて接合状態を判定することを特徴とする請求
    項1記載の超音波ボンディング方法。
  3. 【請求項3】前記第1の高さ位置計測工程で計測した当
    接ツールの高さ位置と、第2の高さ位置計測工程で計測
    した当接ツールの高さ位置との差よりボンディング工程
    における接合対象物の沈み込み量を求め、前記超音波計
    測工程で得られた2つの計測データより超音波振動の状
    態を表す超音波振動指標値の変化量を求め、この沈み込
    み量と超音波振動指標値の変化量とに基づいて、接合状
    態の判定を行うことを特徴とする請求項1記載の超音波
    ボンディング方法。
  4. 【請求項4】前記超音波振動指標値の変化量は、駆動電
    流または駆動電圧の差であることを特徴とする請求項3
    記載の超音波ボンディング方法。
  5. 【請求項5】前記超音波振動指標値の変化量は、インピ
    ーダンスの差であることを特徴とする請求項2および3
    記載の超音波ボンディング方法。
  6. 【請求項6】前記超音波ボンディングは、ワイヤと電極
    とを接合するワイヤボンディングであることを特徴とす
    る請求項1記載の超音波ボンディング方法。
  7. 【請求項7】前記超音波ボンディングは、電子部品の電
    極を基板の電極にバンプを介して接合するバンプボンデ
    ィングであることを特徴とする請求項1記載の超音波ボ
    ンディング方法。
  8. 【請求項8】当接ツールに保持された接合対象物に荷重
    と超音波振動を作用させて被接合物に接合する超音波ボ
    ンディング方法であって、前記接合対象物が被接合物に
    当接したタイミングにおける前記当接ツールの高さ位置
    を計測する第1の高さ位置計測工程と、接合対象物に当
    接ツールによって荷重と超音波振動を作用させながら接
    合対象物と被接合物とを接合するボンディング工程と、
    前記ボンディング工程の少なくとも前期と後期において
    前記当接ツールを超音波振動させる振動子の駆動電流お
    よびまたは駆動電圧を計測する超音波計測工程と、前記
    ボンディング工程終了後、前記当接ツールの上昇開始ま
    での間のいずれかのタイミングにおいて当接ツールの高
    さ位置を計測する第2の高さ位置計測工程と、前記第1
    の高さ位置計測工程で計測した当接ツールの高さ位置と
    第2の高さ位置計測工程で計測した当接ツールの高さ位
    置との差よりボンディング工程における接合対象物の沈
    み込み量を求める沈み込み量算出工程と、前記超音波計
    測工程で得られた2つの計測データより超音波振動の状
    態を表す超音波振動指標値の変化量を求める変化量算出
    工程と、前記沈み込み量と超音波振動指標値の変化量を
    座標系に持つグラフをモニタに表示しこのグラフ上に算
    出した沈み込み量と超音波振動指標値の変化量とで定め
    られるボンディング結果点を表示する工程とを含むこと
    を特徴とする超音波ボンディング方法。
  9. 【請求項9】前記超音波振動指標値は、駆動電流値、駆
    動電圧値、インピーダンスのいずれかであることを特徴
    とする請求項8記載の超音波ボンディング方法。
  10. 【請求項10】前記超音波ボンディングは、ワイヤと電
    極とを接合するワイヤボンディングであることを特徴と
    する請求項8記載の超音波ボンディング方法。
  11. 【請求項11】前記超音波ボンディングは、電子部品の
    電極を基板の電極にバンプを介して接合するバンプボン
    ディングであることを特徴とする請求項8記載の超音波
    ボンディング方法。
JP2000355410A 2000-11-22 2000-11-22 超音波ボンディング方法 Expired - Fee Related JP3567884B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000355410A JP3567884B2 (ja) 2000-11-22 2000-11-22 超音波ボンディング方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000355410A JP3567884B2 (ja) 2000-11-22 2000-11-22 超音波ボンディング方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002158251A true JP2002158251A (ja) 2002-05-31
JP3567884B2 JP3567884B2 (ja) 2004-09-22

Family

ID=18827825

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000355410A Expired - Fee Related JP3567884B2 (ja) 2000-11-22 2000-11-22 超音波ボンディング方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3567884B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246185A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Toray Eng Co Ltd 超音波接合装置および超音波接合方法
JP2010153672A (ja) * 2008-12-26 2010-07-08 Nec Corp 半導体装置の製造装置およびその製造方法
WO2018110417A1 (ja) * 2016-12-14 2018-06-21 株式会社新川 ワイヤボンディング装置及びワイヤボンディング方法
WO2024122441A1 (ja) * 2022-12-07 2024-06-13 ダイキンファインテック株式会社 超音波発生装置および基板処理装置
JP2024161600A (ja) * 2019-06-04 2024-11-19 クリック アンド ソッファ インダストリーズ、インク. ボンディングワイヤーとワイヤーボンディング装置上のボンディング位置との間のボンディングを検出する方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009246185A (ja) * 2008-03-31 2009-10-22 Toray Eng Co Ltd 超音波接合装置および超音波接合方法
JP2010153672A (ja) * 2008-12-26 2010-07-08 Nec Corp 半導体装置の製造装置およびその製造方法
WO2018110417A1 (ja) * 2016-12-14 2018-06-21 株式会社新川 ワイヤボンディング装置及びワイヤボンディング方法
JP2024161600A (ja) * 2019-06-04 2024-11-19 クリック アンド ソッファ インダストリーズ、インク. ボンディングワイヤーとワイヤーボンディング装置上のボンディング位置との間のボンディングを検出する方法
WO2024122441A1 (ja) * 2022-12-07 2024-06-13 ダイキンファインテック株式会社 超音波発生装置および基板処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3567884B2 (ja) 2004-09-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4925083A (en) Ball bonding method and apparatus for performing the method
US8800843B2 (en) Bonding apparatus
US4984730A (en) Quality control for wire bonding
JP5310841B2 (ja) 接合品質検査装置及び接合品質検査方法
JP3007195B2 (ja) ボンディング装置およびボンディング部検査装置
US4373653A (en) Method and apparatus for ultrasonic bonding
JPH1140611A (ja) バンプボンディング方法およびバンプボンディング装置
KR102006806B1 (ko) 실시간 초음파 용접 품질 판단 시스템
JPWO2000013229A1 (ja) バンプ接合判定装置及び方法、並びに半導体部品製造装置及び方法
KR20140138903A (ko) 와이어 본딩 장치 및 반도체 장치의 제조 방법
WO2018110417A1 (ja) ワイヤボンディング装置及びワイヤボンディング方法
WO2000013229A1 (en) Bump joining judging device and method, and semiconductor component production device and method
JP3772175B2 (ja) 超音波溶着装置
JP3567884B2 (ja) 超音波ボンディング方法
KR20110119304A (ko) 본딩면의 바운싱 모니터링 장치, 이를 구비한 와이어 본딩 장치 및 본딩면의 바운싱 모니터링 방법
JP3565019B2 (ja) バンプ付き電子部品のボンディング方法
JP2003258021A (ja) ワイヤボンディング装置
JP2017216314A (ja) ボンディング装置、ボンディング方法及びプログラム
JPH09270440A (ja) 半導体実装方法とその半導体実装装置
JP4013502B2 (ja) 超音波ボンディング装置及び超音波ボンディング方法
JP2004335941A (ja) ボンディング装置およびボンディング方法
JPH0699289A (ja) 超音波接合方法
TWI847614B (zh) 半導體裝置製造裝置及檢查方法
JPH0360881A (ja) 超音波溶接機
JPH08203955A (ja) ボンディング装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040301

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20040309

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20040428

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040525

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040607

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080625

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080625

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090625

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100625

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100625

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110625

Year of fee payment: 7

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees