JP2003014629A - 二光束分光光度計 - Google Patents
二光束分光光度計Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 セクターミラーの回転数あるいは電源周波数
や電源電圧に関わりなく、大きなＳ／Ｎ比を得ることが
できる二光束分光光度計を提供する。 【解決手段】 ホトインタラプタ４からの同期信号をカ
ウンタ２１で計測し、マイクロプロセッサ２２でセクタ
ーミラー１の回転数を算出する。さらにマイクロプロセ
ッサ２２で、セクターミラー１の回転数よりノイズの振
幅が最大になる周波数を算出し、ノッチフィルタのノッ
チ周波数をこの周波数に設定する。ノッチフィルタはデ
ィジタルフィルタであり、マイクロプロセッサ２２での
数値演算によって実現する。また、ディジタルフィルタ
であるので、ノッチ周波数を容易に変更することができ
るので、ノッチフィルタのノッチ周波数を常に最適に設
定することが可能となり、検出器から得られる信号に対
して、雑音周波数成分を減衰させ、それ以外の目的周波
数成分を通過させることができる。
や電源電圧に関わりなく、大きなＳ／Ｎ比を得ることが
できる二光束分光光度計を提供する。 【解決手段】 ホトインタラプタ４からの同期信号をカ
ウンタ２１で計測し、マイクロプロセッサ２２でセクタ
ーミラー１の回転数を算出する。さらにマイクロプロセ
ッサ２２で、セクターミラー１の回転数よりノイズの振
幅が最大になる周波数を算出し、ノッチフィルタのノッ
チ周波数をこの周波数に設定する。ノッチフィルタはデ
ィジタルフィルタであり、マイクロプロセッサ２２での
数値演算によって実現する。また、ディジタルフィルタ
であるので、ノッチ周波数を容易に変更することができ
るので、ノッチフィルタのノッチ周波数を常に最適に設
定することが可能となり、検出器から得られる信号に対
して、雑音周波数成分を減衰させ、それ以外の目的周波
数成分を通過させることができる。
Description
【０００１】
【発明の属する分野】本発明は二光束分光光度計に関
し、さらに詳しくは鏡または遮光板を回転させて光束を
切り替える二光束分光光度計に関する。
し、さらに詳しくは鏡または遮光板を回転させて光束を
切り替える二光束分光光度計に関する。
【０００２】
【従来の技術】二光束（ダブルビーム）分光光度計は光
源からの光束を２つの光束に分離して、一方の光束を試
料に照射し、他方の光束を参照試料に照射する。この２
つの光束は再度結合されて１つの検出器に入射するか、
またはそのまま２つの検出器に入射し、光強度が測定さ
れる。そして、これら２つの光束による検出信号により
光源の光強度の変動を補償したり、参照試料との差吸収
度を測定することがなされる。この光束の分離や結合を
行うために、多くの場合、セクターミラーと呼ばれる鏡
や遮蔽板を有する板を回転させ、時分割で光束の進路を
切り替えている。
源からの光束を２つの光束に分離して、一方の光束を試
料に照射し、他方の光束を参照試料に照射する。この２
つの光束は再度結合されて１つの検出器に入射するか、
またはそのまま２つの検出器に入射し、光強度が測定さ
れる。そして、これら２つの光束による検出信号により
光源の光強度の変動を補償したり、参照試料との差吸収
度を測定することがなされる。この光束の分離や結合を
行うために、多くの場合、セクターミラーと呼ばれる鏡
や遮蔽板を有する板を回転させ、時分割で光束の進路を
切り替えている。
【０００３】図３にセクターミラーの概略構成図を示
す。セクターミラー４１には開口部４２、４３と、ミラ
ー４４、４５と、遮蔽部４６〜４９が交互に配置されて
いる。セクターミラー４１は開口部４２、４３あるいは
ミラー４４、４５が光路上に来るように設置され、モー
タ等の手段により一定速度で回転される。図２に従来の
二光束分光光度計の概略構成図を示す。光源３１からの
光はモノクロメータ３２により単色化された後、セクタ
ーミラー４１に達する。セクターミラー４１は光路に対
して４５度の角度で、開口部４２、４３およびミラー４
４、４５が光路上に来るように配置され、モータ３４に
より一定速度で回転される。セクターミラー４１が回転
することにより、開口部４２が光路上に来たとき、光源
３１からの光はセクターミラー４１を通過し、試料側セ
ル３６を透過した後ミラー３８で反射され、検出器４０
で検出される。
す。セクターミラー４１には開口部４２、４３と、ミラ
ー４４、４５と、遮蔽部４６〜４９が交互に配置されて
いる。セクターミラー４１は開口部４２、４３あるいは
ミラー４４、４５が光路上に来るように設置され、モー
タ等の手段により一定速度で回転される。図２に従来の
二光束分光光度計の概略構成図を示す。光源３１からの
光はモノクロメータ３２により単色化された後、セクタ
ーミラー４１に達する。セクターミラー４１は光路に対
して４５度の角度で、開口部４２、４３およびミラー４
４、４５が光路上に来るように配置され、モータ３４に
より一定速度で回転される。セクターミラー４１が回転
することにより、開口部４２が光路上に来たとき、光源
３１からの光はセクターミラー４１を通過し、試料側セ
ル３６を透過した後ミラー３８で反射され、検出器４０
で検出される。
【０００４】次に、セクターミラー４１が回転すること
で、遮蔽部４６がモノクロメータ３２からの光を遮断す
ると、検出器４０には光は達せず、検出器４０は遮光さ
れる。よって、セクターミラー４１はチョッパ機能もあ
わせて有している。さらにセクターミラー４１が回転す
ることで、光路上にミラー４４が配置されると、モノク
ロメータ３２からの光はミラー４４で反射され、さらに
ミラー３５で反射された後参照側セル３７を透過し、ミ
ラー３９で反射され、検出器４０で検出される。
で、遮蔽部４６がモノクロメータ３２からの光を遮断す
ると、検出器４０には光は達せず、検出器４０は遮光さ
れる。よって、セクターミラー４１はチョッパ機能もあ
わせて有している。さらにセクターミラー４１が回転す
ることで、光路上にミラー４４が配置されると、モノク
ロメータ３２からの光はミラー４４で反射され、さらに
ミラー３５で反射された後参照側セル３７を透過し、ミ
ラー３９で反射され、検出器４０で検出される。
【０００５】さらにセクターミラー４１が回転すること
により、遮蔽部４７、開口部４３、遮蔽部４８、ミラー
４５、遮蔽部４９が順次光路上に配置され、試料側セル
３６の透過光強度、参照側セル３７の透過光強度が検出
器４０により繰り返し測定される。
により、遮蔽部４７、開口部４３、遮蔽部４８、ミラー
４５、遮蔽部４９が順次光路上に配置され、試料側セル
３６の透過光強度、参照側セル３７の透過光強度が検出
器４０により繰り返し測定される。
【０００６】セクターミラーの回転は、光検出器の出力
信号に雑音をもたらす。この雑音は、二光束の信号を分
離する回路から発生する雑音、ミラーが複数枚ある時に
個々のミラーの取り付けかたや反射率の相違により発生
する雑音、モータとセクターミラーの振動により発生す
る雑音などである。これらの雑音はセクターミラーの回
転数の整数倍の周波数成分を多く持つ。二光束分光光度
計の受光信号処理回路の中には、これらの雑音除去のた
め、ノッチフィルタが設けられている。ノッチフィルタ
のノッチ周波数は、雑音周波数成分を減衰することと、
それ以外の目的周波数成分を通過することを、できるだ
け両立させるように選択される。
信号に雑音をもたらす。この雑音は、二光束の信号を分
離する回路から発生する雑音、ミラーが複数枚ある時に
個々のミラーの取り付けかたや反射率の相違により発生
する雑音、モータとセクターミラーの振動により発生す
る雑音などである。これらの雑音はセクターミラーの回
転数の整数倍の周波数成分を多く持つ。二光束分光光度
計の受光信号処理回路の中には、これらの雑音除去のた
め、ノッチフィルタが設けられている。ノッチフィルタ
のノッチ周波数は、雑音周波数成分を減衰することと、
それ以外の目的周波数成分を通過することを、できるだ
け両立させるように選択される。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】従来の二光束分光光度
計では、ノッチ周波数は固定であった。なぜならば、ノ
ッチフィルタはアナログ回路で構成されており、ノッチ
周波数の変更を、アナログ回路で実施するには回路が複
雑になり、動作が煩雑になるとかコストが上昇するなど
の欠点が大きかったからである。
計では、ノッチ周波数は固定であった。なぜならば、ノ
ッチフィルタはアナログ回路で構成されており、ノッチ
周波数の変更を、アナログ回路で実施するには回路が複
雑になり、動作が煩雑になるとかコストが上昇するなど
の欠点が大きかったからである。
【０００８】セクターミラーを回転させるモータとし
て、誘導電動機（インダクションモータ）や同期電動機
（シンクロナスモータ）のような、電源周波数や電源電
圧に依存して回転数が変わるモータを使用している。モ
ータの回転数が変わる場合、ノッチ周波数が固定である
ので、その周波数は特定の電源周波数や電源電圧に合わ
せて設計しなければならない。このことは、異なる電源
周波数や電源電圧では、目的周波数成分を減衰させ、雑
音成分を透過させることになり、Ｓ／Ｎ比の低下の原因
となる。あるいは、複数の電源周波数や電源電圧の中間
的な値に合わせてノッチ周波数を設計したのであれば、
どの場合にも最適化されていないことになり、やはりＳ
／Ｎ比の低下の原因となる。
て、誘導電動機（インダクションモータ）や同期電動機
（シンクロナスモータ）のような、電源周波数や電源電
圧に依存して回転数が変わるモータを使用している。モ
ータの回転数が変わる場合、ノッチ周波数が固定である
ので、その周波数は特定の電源周波数や電源電圧に合わ
せて設計しなければならない。このことは、異なる電源
周波数や電源電圧では、目的周波数成分を減衰させ、雑
音成分を透過させることになり、Ｓ／Ｎ比の低下の原因
となる。あるいは、複数の電源周波数や電源電圧の中間
的な値に合わせてノッチ周波数を設計したのであれば、
どの場合にも最適化されていないことになり、やはりＳ
／Ｎ比の低下の原因となる。
【０００９】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、セクターミラーの回転数に関わりな
く、あるいは電源周波数や電源電圧に関わりなく、大き
なＳ／Ｎ比を得ることができる二光束分光光度計を提供
することにある。
れたものであり、セクターミラーの回転数に関わりな
く、あるいは電源周波数や電源電圧に関わりなく、大き
なＳ／Ｎ比を得ることができる二光束分光光度計を提供
することにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明の二光束分光光度計は、光源と被測定試料お
よび参照試料との間の光路上に設けられたミラー、開口
部、遮蔽部のいずれかが介在するように切り替える回転
可能なセクターミラーと、このセクターミラーを回転さ
せるモータと、被測定試料または参照試料からの光を検
出する光検出器と、この光検出器からの出力信号におけ
る雑音を除去するノッチフィルタを備えた二光束分光光
度計において、セクターミラーを回転させるモータの回
転数を計測する手段およびノッチフィルタのノッチ周波
数を変更する手段を有し、モータの回転数に応じて、ノ
ッチフィルタのノッチ周波数を変更できるようにしたも
のである。
め、本発明の二光束分光光度計は、光源と被測定試料お
よび参照試料との間の光路上に設けられたミラー、開口
部、遮蔽部のいずれかが介在するように切り替える回転
可能なセクターミラーと、このセクターミラーを回転さ
せるモータと、被測定試料または参照試料からの光を検
出する光検出器と、この光検出器からの出力信号におけ
る雑音を除去するノッチフィルタを備えた二光束分光光
度計において、セクターミラーを回転させるモータの回
転数を計測する手段およびノッチフィルタのノッチ周波
数を変更する手段を有し、モータの回転数に応じて、ノ
ッチフィルタのノッチ周波数を変更できるようにしたも
のである。
【００１１】セクターミラーを回転させるモータの回転
数を計測する手段としては、モータが誘導電動機（イン
ダクションモータ）の場合のようにモータの回転数が電
源周波数と電源電圧に依存している場合は、モータの回
転数をエンコーダ等を使用して直接計測する。また、モ
ータが同期電動機（シンクロナスモータ）の場合のよう
にモータの回転数が電源周波数と同期している場合は、
電源周波数を内蔵のマイクロプロセッサで計測した後、
モータの回転数を算出する。
数を計測する手段としては、モータが誘導電動機（イン
ダクションモータ）の場合のようにモータの回転数が電
源周波数と電源電圧に依存している場合は、モータの回
転数をエンコーダ等を使用して直接計測する。また、モ
ータが同期電動機（シンクロナスモータ）の場合のよう
にモータの回転数が電源周波数と同期している場合は、
電源周波数を内蔵のマイクロプロセッサで計測した後、
モータの回転数を算出する。
【００１２】ノッチフィルタのノッチ周波数を変更する
手段としては、内蔵のマイクロプロセッサでの数値演算
によるディジタルフィルタによって変更が可能である。
また、デルタシグマ方式Ａ／Ｄコンバータの入力段のデ
ィジタルフィルタによっても変更が可能である。
手段としては、内蔵のマイクロプロセッサでの数値演算
によるディジタルフィルタによって変更が可能である。
また、デルタシグマ方式Ａ／Ｄコンバータの入力段のデ
ィジタルフィルタによっても変更が可能である。
【００１３】セクターミラーを回転させるモータの回転
数を計測し、この回転数に応じてノッチフィルタのフィ
ルタ周波数を変更できるようにすることで、常に雑音周
波数成分を減衰させ、それ以外の目的周波数成分を通過
させることが可能になり、セクターミラーの回転数に関
わりなく、あるいは電源周波数や電源電圧に関わりな
く、大きなＳ／Ｎ比を得ることができる。
数を計測し、この回転数に応じてノッチフィルタのフィ
ルタ周波数を変更できるようにすることで、常に雑音周
波数成分を減衰させ、それ以外の目的周波数成分を通過
させることが可能になり、セクターミラーの回転数に関
わりなく、あるいは電源周波数や電源電圧に関わりな
く、大きなＳ／Ｎ比を得ることができる。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の二光束
分光光度計の一実施例の概略構成図である。本実施例の
装置は、光源（図示せず）からの入射光を切り替えるセ
クターミラー１と、セクターミラー１を回転させるモー
タ２と、モータ２に電気を供給する電源３と、セクター
ミラー１に取り付けられたホトインタラプタ４と、鏡５
と、試料側セルホルダ７および参照側セルホルダ８と、
ハーフミラー１０と、鏡１１と、試料側セルホルダ７お
よび参照側セルホルダ８を透過した光を検出する検出器
１３と、検出器１３からの信号を切り替える切り替えス
イッチ１５と、試料側増幅器１６および参照側増幅器１
７と、試料側Ａ／Ｄコンバータ１８および参照側Ａ／Ｄ
コンバータ１９と、カウンタ２１と、マイクロプロセッ
サ２２とから構成されている。
参照しながら詳細に説明する。図１は、本発明の二光束
分光光度計の一実施例の概略構成図である。本実施例の
装置は、光源（図示せず）からの入射光を切り替えるセ
クターミラー１と、セクターミラー１を回転させるモー
タ２と、モータ２に電気を供給する電源３と、セクター
ミラー１に取り付けられたホトインタラプタ４と、鏡５
と、試料側セルホルダ７および参照側セルホルダ８と、
ハーフミラー１０と、鏡１１と、試料側セルホルダ７お
よび参照側セルホルダ８を透過した光を検出する検出器
１３と、検出器１３からの信号を切り替える切り替えス
イッチ１５と、試料側増幅器１６および参照側増幅器１
７と、試料側Ａ／Ｄコンバータ１８および参照側Ａ／Ｄ
コンバータ１９と、カウンタ２１と、マイクロプロセッ
サ２２とから構成されている。
【００１５】次に動作について説明する。光源（図示せ
ず）からの光はモノクロメータ（図示せず）により単色
化された後、セクターミラー１に達する。セクターミラ
ー１は図３で示すものと同様の構成である。セクターミ
ラー１は光路に対して４５度の角度で、開口部４２、４
３およびミラー４４、４５が光路上に来るように配置さ
れ、モータ２により一定速度で回転される。モータ２に
は誘導電動機を使用している。セクターミラー４１が回
転することにより、開口部４２が光路上に来たとき、光
源からの光はセクターミラー１を通過し、試料側セルホ
ルダ７に保持された試料を透過した後ハーフミラー１０
で一部は反射するものの、残りは直進して検出器１３で
検出される。
ず）からの光はモノクロメータ（図示せず）により単色
化された後、セクターミラー１に達する。セクターミラ
ー１は図３で示すものと同様の構成である。セクターミ
ラー１は光路に対して４５度の角度で、開口部４２、４
３およびミラー４４、４５が光路上に来るように配置さ
れ、モータ２により一定速度で回転される。モータ２に
は誘導電動機を使用している。セクターミラー４１が回
転することにより、開口部４２が光路上に来たとき、光
源からの光はセクターミラー１を通過し、試料側セルホ
ルダ７に保持された試料を透過した後ハーフミラー１０
で一部は反射するものの、残りは直進して検出器１３で
検出される。
【００１６】次に、セクターミラー１が回転すること
で、遮蔽部４６が光を遮断すると、検出器１３には光は
達せず、検出器１３は遮光される。よって、セクターミ
ラー１はチョッパ機能もあわせて有している。さらにセ
クターミラー１が回転することで、光路上にミラー４４
が配置されると、光はミラー４４で反射され、さらに鏡
５で反射された後、参照側セルホルダ８に保持されてい
る参照試料を透過し、鏡１１で反射され、さらにハーフ
ミラー１０で一部は直進するものの、残りは反射して検
出器１３で検出される。参照側セルホルダ８には何も設
置されず空気のままのことも多い。
で、遮蔽部４６が光を遮断すると、検出器１３には光は
達せず、検出器１３は遮光される。よって、セクターミ
ラー１はチョッパ機能もあわせて有している。さらにセ
クターミラー１が回転することで、光路上にミラー４４
が配置されると、光はミラー４４で反射され、さらに鏡
５で反射された後、参照側セルホルダ８に保持されてい
る参照試料を透過し、鏡１１で反射され、さらにハーフ
ミラー１０で一部は直進するものの、残りは反射して検
出器１３で検出される。参照側セルホルダ８には何も設
置されず空気のままのことも多い。
【００１７】さらにセクターミラー１が回転することに
より、遮蔽部４７、開口部４３、遮蔽部４８、ミラー４
５、遮蔽部４９が順次光路上に配置され、試料側セルホ
ルダ７の透過光強度、参照側セルホルダ８の透過光強度
が検出器１３により繰り返し測定される。検出器１３か
らの信号は、セクターミラー１による時分割で試料側セ
ルホルダ７と参照側セルホルダ８の信号が重畳している
ので、セクターミラー１に設置されたホトインタラプタ
４の信号に同期して切り替えスイッチ１５を適宜切り替
えれば、試料側増幅器１６と参照側増幅器１７からそれ
ぞれ試料側光束強度と参照側光束強度を表す信号を取り
出すことができる。
より、遮蔽部４７、開口部４３、遮蔽部４８、ミラー４
５、遮蔽部４９が順次光路上に配置され、試料側セルホ
ルダ７の透過光強度、参照側セルホルダ８の透過光強度
が検出器１３により繰り返し測定される。検出器１３か
らの信号は、セクターミラー１による時分割で試料側セ
ルホルダ７と参照側セルホルダ８の信号が重畳している
ので、セクターミラー１に設置されたホトインタラプタ
４の信号に同期して切り替えスイッチ１５を適宜切り替
えれば、試料側増幅器１６と参照側増幅器１７からそれ
ぞれ試料側光束強度と参照側光束強度を表す信号を取り
出すことができる。
【００１８】検出器１３で検出された信号は切り替えス
イッチ１５で切り替えられ、試料側セルホルダ７を透過
した光より得られる信号は試料側増幅器１６に導入され
て増幅され、続いて試料側Ａ／Ｄコンバータ１８でデジ
タル信号に変換された後、マイクロプロセッサ２２でデ
ータ処理、記録が行われる。参照側セルホルダ８を透過
した光より得られる信号は参照側増幅器１７に導入され
て増幅され、続いて参照側Ａ／Ｄコンバータ１９でデジ
タル信号に変換された後、マイクロプロセッサ２２でデ
ータ処理、記録が行われる。
イッチ１５で切り替えられ、試料側セルホルダ７を透過
した光より得られる信号は試料側増幅器１６に導入され
て増幅され、続いて試料側Ａ／Ｄコンバータ１８でデジ
タル信号に変換された後、マイクロプロセッサ２２でデ
ータ処理、記録が行われる。参照側セルホルダ８を透過
した光より得られる信号は参照側増幅器１７に導入され
て増幅され、続いて参照側Ａ／Ｄコンバータ１９でデジ
タル信号に変換された後、マイクロプロセッサ２２でデ
ータ処理、記録が行われる。
【００１９】測定にあたってはまず、あらかじめモータ
２とセクターミラー１が回転することにより発生するノ
イズの周波数成分を調べる。ノイズに関しては多くの場
合、（１）式で示す関係が成り立つ。 ノイズの振幅が最大になる周波数（Ｈｚ）＝セクターミラーの回転数（ｒｐ ｓ）＊ミラーの枚数 ‐‐‐（１） そこで、ホトインタラプタ４からの同期信号をカウンタ
２１で計測し、マイクロプロセッサ２２で（１）式に従
ってノイズの振幅が最大になる周波数を算出し記憶す
る。本実施例においてはモータ２に誘導電動機を用いて
おり、セクターミラー１は変動する負荷ではないので、
回転数は電源３の電源周波数に同期してはいないが、電
源３の電源周波数と電源電圧から一意に決まる値とな
る。電源電圧の変動がわずかな環境であれば、測定開始
前に一度回転数を計測して記憶しておけば十分である。
電源周波数や電源電圧の変動が大きい環境であれば、変
動の周期に応じた頻度で回転数を計測して記憶する。
２とセクターミラー１が回転することにより発生するノ
イズの周波数成分を調べる。ノイズに関しては多くの場
合、（１）式で示す関係が成り立つ。 ノイズの振幅が最大になる周波数（Ｈｚ）＝セクターミラーの回転数（ｒｐ ｓ）＊ミラーの枚数 ‐‐‐（１） そこで、ホトインタラプタ４からの同期信号をカウンタ
２１で計測し、マイクロプロセッサ２２で（１）式に従
ってノイズの振幅が最大になる周波数を算出し記憶す
る。本実施例においてはモータ２に誘導電動機を用いて
おり、セクターミラー１は変動する負荷ではないので、
回転数は電源３の電源周波数に同期してはいないが、電
源３の電源周波数と電源電圧から一意に決まる値とな
る。電源電圧の変動がわずかな環境であれば、測定開始
前に一度回転数を計測して記憶しておけば十分である。
電源周波数や電源電圧の変動が大きい環境であれば、変
動の周期に応じた頻度で回転数を計測して記憶する。
【００２０】セクターミラー１の回転数からノイズの振
幅が最大となる周波数が決まるので、ノッチフィルタの
ノッチ周波数をこの周波数に設定する。ノッチフィルタ
はディジタルフィルタであり、マイクロプロセッサ２２
での数値演算によって実現する。また、ディジタルフィ
ルタであるので、ノッチ周波数を容易に変更することが
できる。マイクロプロセッサ２２内で、ホトインタラプ
タ４からの同期信号をカウンタ２１で計測しマイクロプ
ロセッサ２２で（１）式に従って算出されたノイズの振
幅が最大となる周波数をノッチフィルタのノッチ周波数
とし、試料側Ａ／Ｄコンバータ１８および参照側Ａ／Ｄ
コンバータからの信号を処理する。
幅が最大となる周波数が決まるので、ノッチフィルタの
ノッチ周波数をこの周波数に設定する。ノッチフィルタ
はディジタルフィルタであり、マイクロプロセッサ２２
での数値演算によって実現する。また、ディジタルフィ
ルタであるので、ノッチ周波数を容易に変更することが
できる。マイクロプロセッサ２２内で、ホトインタラプ
タ４からの同期信号をカウンタ２１で計測しマイクロプ
ロセッサ２２で（１）式に従って算出されたノイズの振
幅が最大となる周波数をノッチフィルタのノッチ周波数
とし、試料側Ａ／Ｄコンバータ１８および参照側Ａ／Ｄ
コンバータからの信号を処理する。
【００２１】上記実施例ではモータ２に誘導電動機を用
いているが、同期電動機を用いることもできる。同期電
動機であれば、モータ２の回転数は電源３の電源周波数
に同期して（２）式で表される。 モータの回転数（ｒｐｓ）＝電源周波数（Ｈｚ）／極数＊２ ‐‐‐（２） よって、セクターミラー１の回転数を直接計測しなくて
も、電源３の電源周波数を計測すればモータ２の回転数
を算出でき、減速機構があれば減速比を加味して、セク
ターミラー１の回転数を知ることができる。
いているが、同期電動機を用いることもできる。同期電
動機であれば、モータ２の回転数は電源３の電源周波数
に同期して（２）式で表される。 モータの回転数（ｒｐｓ）＝電源周波数（Ｈｚ）／極数＊２ ‐‐‐（２） よって、セクターミラー１の回転数を直接計測しなくて
も、電源３の電源周波数を計測すればモータ２の回転数
を算出でき、減速機構があれば減速比を加味して、セク
ターミラー１の回転数を知ることができる。
【００２２】試料側Ａ／Ｄコンバータ１８および参照側
Ａ／Ｄコンバータ１９にデルタシグマ方式Ａ／Ｄコンバ
ータを用い、ノッチフィルタとしてのディジタルフィル
タを、これらのデルタシグマ方式Ａ／Ｄコンバータの入
力段のディジタルフィルタによって実現することも可能
である。
Ａ／Ｄコンバータ１９にデルタシグマ方式Ａ／Ｄコンバ
ータを用い、ノッチフィルタとしてのディジタルフィル
タを、これらのデルタシグマ方式Ａ／Ｄコンバータの入
力段のディジタルフィルタによって実現することも可能
である。
【００２３】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、セクターミラー１の回転数
を用いて（１）式によりノイズの振幅が最大となる周波
数を求めているが、機構によっては他の周波数でノイズ
の振幅が最大となることもあるので、振幅が最大となる
周波数を実測で求めてもよい。また、セクターミラー１
の回転数を一定としたが、測定時間、検出器の性能等の
条件により、回転数を切り替えてもよい。上記実施例で
は試料側セルホルダ７および参照側セルホルダ８を通過
する前の光束分離部にセクターミラー１を設置し、光束
結合部にハーフミラー１０を設置しているが、これに代
えてハーフミラー１０の位置、すなわち光束結合部にセ
クターミラーを設置してもよい。
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。例えば、セクターミラー１の回転数
を用いて（１）式によりノイズの振幅が最大となる周波
数を求めているが、機構によっては他の周波数でノイズ
の振幅が最大となることもあるので、振幅が最大となる
周波数を実測で求めてもよい。また、セクターミラー１
の回転数を一定としたが、測定時間、検出器の性能等の
条件により、回転数を切り替えてもよい。上記実施例で
は試料側セルホルダ７および参照側セルホルダ８を通過
する前の光束分離部にセクターミラー１を設置し、光束
結合部にハーフミラー１０を設置しているが、これに代
えてハーフミラー１０の位置、すなわち光束結合部にセ
クターミラーを設置してもよい。
【００２４】
【発明の効果】本発明によれば、セクターミラーを回転
させるモータの回転数を計測し、この回転数に応じてノ
ッチフィルタのフィルタ周波数を変更できるようにした
ので、検出器から得られる信号に対して、常に雑音周波
数成分を減衰させ、それ以外の目的周波数成分を通過さ
せることが可能になり、セクターミラーの回転数に関わ
りなく、あるいは電源周波数や電源電圧に関わりなく、
大きなＳ／Ｎ比を得ることができる。また、本発明の機
能を実現するために、従来の一般市販されている装置に
対して、多くの場合、ソフトウエアまたはＡ／Ｄコンバ
ータのみの変更で対応することができ、既存装置に対し
て大きなコスト上昇や装置の大型化をもたらすことはな
い。
させるモータの回転数を計測し、この回転数に応じてノ
ッチフィルタのフィルタ周波数を変更できるようにした
ので、検出器から得られる信号に対して、常に雑音周波
数成分を減衰させ、それ以外の目的周波数成分を通過さ
せることが可能になり、セクターミラーの回転数に関わ
りなく、あるいは電源周波数や電源電圧に関わりなく、
大きなＳ／Ｎ比を得ることができる。また、本発明の機
能を実現するために、従来の一般市販されている装置に
対して、多くの場合、ソフトウエアまたはＡ／Ｄコンバ
ータのみの変更で対応することができ、既存装置に対し
て大きなコスト上昇や装置の大型化をもたらすことはな
い。
【図１】本発明の二光束分光光度計の一実施例の概略構
成である。
成である。
【図２】従来の二光束分光光度計の概略構成図である。
【図３】セクターミラーの概略構成図である。
１---セクターミラー
２---モータ
３---電源
４---ホトインタラプタ
７---試料側セルホルダ
８---参照側セルホルダ
１３---検出器
１６---試料側増幅器
１７---参照側増幅器
１８---試料側Ａ／Ｄコンバータ
１９---参照側Ａ／Ｄコンバータ
２１---カウンタ
２２---マイクロプロセッサ
Claims (3)
- 【請求項１】 光源と被測定試料および参照試料との間
の光路上に設けられたミラー、開口部、遮蔽部のいずれ
かが介在するように切り替える回転可能なセクターミラ
ーと、該セクターミラーを回転させるモータと、被測定
試料または参照試料からの光を検出する光検出器と、こ
の光検出器からの出力信号における雑音を除去するノッ
チフィルタを備えた二光束分光光度計において、前記モ
ータの回転数を計測する手段および前記ノッチフィルタ
のノッチ周波数を変更する手段を有し、前記モータの回
転数に応じて、前記ノッチフィルタのノッチ周波数を変
更することを特徴とする二光束分光光度計。 - 【請求項２】 モータの回転数を直接計測することを特
徴とする請求項１記載の二光束分光光度計。 - 【請求項３】 モータの電源周波数を計測することによ
りモータの回転数を求めることを特徴とする請求項１記
載の二光束分光光度計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001194641A JP2003014629A (ja) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 二光束分光光度計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001194641A JP2003014629A (ja) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 二光束分光光度計 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003014629A true JP2003014629A (ja) | 2003-01-15 |
Family
ID=19032740
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001194641A Withdrawn JP2003014629A (ja) | 2001-06-27 | 2001-06-27 | 二光束分光光度計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003014629A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006003165A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JP2017138304A (ja) * | 2016-01-18 | 2017-08-10 | ジック エンジニアリング ゲーエムベーハーＳＩＣＫ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ ＧｍｂＨ | 光学センサ |
| CN115682858A (zh) * | 2022-11-09 | 2023-02-03 | 南通斯派特激光科技有限公司 | 一种未爆弹激光销毁器 |
-
2001
- 2001-06-27 JP JP2001194641A patent/JP2003014629A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006003165A (ja) * | 2004-06-16 | 2006-01-05 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
| JP2017138304A (ja) * | 2016-01-18 | 2017-08-10 | ジック エンジニアリング ゲーエムベーハーＳＩＣＫ Ｅｎｇｉｎｅｅｒｉｎｇ ＧｍｂＨ | 光学センサ |
| US10113904B2 (en) | 2016-01-18 | 2018-10-30 | Sick Engineering Gmbh | Optical sensor |
| CN115682858A (zh) * | 2022-11-09 | 2023-02-03 | 南通斯派特激光科技有限公司 | 一种未爆弹激光销毁器 |
| CN115682858B (zh) * | 2022-11-09 | 2023-08-08 | 南通斯派特激光科技有限公司 | 一种未爆弹激光销毁器 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071221 |
|
| A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20090918 |