JP2003124258A - 半導体チップの実装方法、および半導体チップの実装構造 - Google Patents

半導体チップの実装方法、および半導体チップの実装構造

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JP2003124258A JP2001311035A JP2001311035A JP2003124258A JP 2003124258 A JP2003124258 A JP 2003124258A JP 2001311035 A JP2001311035 A JP 2001311035A JP 2001311035 A JP2001311035 A JP 2001311035A JP 2003124258 A JP2003124258 A JP 2003124258A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の半導体チップを、異方性導電膜を介し
て基板に実装する場合において、各半導体チップのバン
プと基板上の接続端子部とを確実に導通させることがで
きる半導体チップの実装方法、および半導体チップの実
装構造を提供する。 【解決手段】 複数のバンプが突出形成されている複数
の半導体チップを、上記各バンプのそれぞれと対応する
複数の接続端子部が表面に形成されている基板に対し
て、上記各バンプと上記各接続端子部とが異方性導電膜
を介して導通するようにして実装する方法であって、上
記複数の半導体チップは、全体としての厚みが互いに異
なるように形成されており、実装される際には、その厚
みが薄いものから順に、上記基板上に圧着されることを
特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本願発明は、基板上に異方性
導電膜を介して複数の半導体チップを実装する半導体チ
ップの実装方法、および半導体チップの実装構造に関す
る。
【0002】
【従来の技術】半導体チップの実装構造には、複数のバ
ンプが突出形成されている複数の半導体チップが、上記
各バンプのそれぞれと対応する複数の接続端子部が表面
に形成されている基板上に異方性導電膜を介して実装さ
れているものがある。この種の従来の半導体チップの実
装構造の一例を図7に示す。この半導体チップの実装構
造は、たとえば液晶テレビや携帯型電話機などに組み込
まれている液晶表示モジュール100に適用されたもの
であり、2つの半導体チップ101,102を、液晶表
示面となる一方のガラス基板3上に直接実装した構造、
いわゆるCOG(Chip On Glass)方式のものである。
【0003】この液晶表示モジュール100は、重なり
合った2枚のガラス基板3,3′を有しており、その間
には、液晶封止部が形成されている。一方の基板3は、
他方の基板3′の側部からはみ出るように形成された延
出部3Aを有しており、この延出部3Aの表面に2つの
半導体チップ101,102が実装されている。より詳
細には、延出部3Aの表面には液晶封止部から引き出す
ようにして透明電極パターンが形成されており、この透
明電極パターンの各所には、図8に示すように、各半導
体チップ101,102に設けられた複数のバンプ11
のそれぞれと対応する複数の接続端子部31が形成され
ている。各半導体チップ101,102は、異方性導電
膜4を介して各バンプ11と各接続端子部31とが導通
するように実装されている。
【0004】2つの半導体チップ102,103は、こ
の液晶表示モジュールを駆動するためのICであり、そ
の全体としての厚みが略同等とされている。また、これ
ら2つの半導体チップ101,102は、この液晶表示
モジュール100の小型化などのため、基板3上におい
て互いに隣接するように配置されており、これに伴っ
て、この液晶表示モジュール100では、異方性導電膜
4として、半導体チップ101,102の両者に共通の
ものが用いられている。
【0005】異方性導電膜4は、たとえば、図9(a)
および図9(b)に示すように、樹脂製のボール41a
の表面にNiあるいはAuなどの導電層41bをメッキ
することにより形成された導電性粒子41を、エポキシ
樹脂など絶縁性を有する接着母材42中に分散混入した
ものである。このような異方性導電膜4を用いれば、バ
ンプ11と接続端子部31との厚み方向に沿う隙間に、
導電性粒子41を挟み込むように介在させることによっ
て、これらの導電性粒子41を介して各バンプ11と各
接続端子部31とを導通させることができる。
【0006】上記半導体チップ101、102を実装す
るには、基板3上に上記異方性導電膜4を形成してお
き、半導体チップ101,102をそれぞれ、各バンプ
11が各接続端子部31と対応するように基板3上に載
置する。その後、半導体チップ101,102を基板3
上に圧着する。半導体101,102の圧着に際して
は、図8に示すように、半導体チップ101,102を
加熱しつつ基板3に向けて押圧する周知の圧着ヘッドD
を用いるのが一般的である。このような圧着ヘッドDを
用いることによって、上記接着母材42が軟化させられ
て、半導体チップ101,102が基板3上に接合さ
れ、かつ、上記導電性粒子41が各バンプ11と各接続
端子部31との間で狭持されることにより各バンプ11
と各接続端子部31との導通が達成されうる。このよう
にして、半導体チップ101,102は、基板3上に熱
圧着される。なお、圧着ヘッドDは、一般的に、半導体
チップ101,102に比してその大きさが大とされて
おり、2つの半導体チップ101,102は、上述した
ように、全体としての厚みが略同等とされているととも
に、互いに隣接するように配置されているので、2つの
半導体チップ101,102の基板3への熱圧着は、一
括して行なわれる。
【0007】しかしながら、2つの半導体チップ10
1,102は、全体としての厚みが略同等とされている
とはいえども、たとえば、異方性導電膜4上に載置され
た状態において上面が同一平面上に配置されていない場
合や、圧着ヘッドDと各半導体チップ101,102の
上面とが平行に配置されていない場合などでは、圧着ヘ
ッドDを用いて2つの半導体チップ101,102を一
括して押圧する際に、半導体チップ101,102にか
かる押圧力が、部位ごとに異なることがあった。これに
より、たとえば、図9(a)に示すように、半導体チッ
プ101,102のバンプ11と接続端子部31との間
で上記導電性粒子41が押しつぶされることにより、導
電性粒子41の表面の導電層41bにクラック40が発
生することがあった。また、たとえば、図9(b)に示
すように、バンプ11と接続端子部31との間の距離が
導電性粒子41の直径よりも大となり、導電性粒子41
がバンプ11と接続端子部31の両者に当接しないこと
があった。これらの場合では、導電性粒子41がバンプ
11と接続端子部31との間を導通させることができな
くなるため、半導体チップ101,102の接続不良が
発生するという問題が生じていた。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】本願発明は、上記した
事情のもとで考え出されたものであって、複数の半導体
チップを、異方性導電膜を介して基板に実装する場合に
おいて、各半導体チップのバンプと基板上の接続端子部
とを確実に導通させることができる半導体チップの実装
方法、および半導体チップの実装構造を提供することを
その課題とする。
【0009】
【発明の開示】上記課題を解決するため、本願発明で
は、次の技術的手段を講じている。
【0010】すなわち、本願発明の第1の側面により提
供される半導体チップの実装方法は、複数のバンプが突
出形成されている複数の半導体チップを、上記各バンプ
のそれぞれと対応する複数の接続端子部が表面に形成さ
れている基板に対して、上記各バンプと上記各接続端子
部とが異方性導電膜を介して導通するようにして実装す
る方法であって、上記複数の半導体チップは、全体とし
ての厚みが互いに異なるように形成されており、実装さ
れる際には、その厚みが薄いものから順に、上記基板上
に圧着されることを特徴としている。
【0011】好ましい実施の形態においては、上記基板
は、液晶表示装置の表示部用として重ね合わせられた2
枚の透明基板のうちの一方の透明基板であり、上記各半
導体チップはそれぞれ、上記液晶表示装置を駆動するた
めのICである構成とされる。
【0012】本願発明の第2の側面により提供される半
導体チップの実装構造は、複数のバンプが突出形成され
ている複数の半導体チップを、上記各バンプのそれぞれ
と対応する複数の接続端子部が表面に形成されている基
板上に対して、上記各バンプと上記各接続端子部とが異
方性導電膜を介して導通するようにして実装した半導体
チップの実装構造であって、上記各半導体チップは、全
体としての厚みが互いに異なるように形成されていると
ともに、共通の異方性導電膜を介して、互いに隣接して
実装されていることを特徴としている。
【0013】一般に、半導体チップを基板に対して異方
性導電膜を介して実装する場合には、半導体チップを基
板に向けて押圧する圧着ヘッドが用いられる。本願発明
において、複数の半導体チップは、互いに隣接して実装
されるが、全体としての厚みが互いに異なるように形成
されているので、その厚みが薄いものから順に圧着され
ていくことによって、厚みがより厚い半導体チップを圧
着ヘッドで押圧する際に、圧着ヘッドが、既に実装し
た、厚みのより薄い半導体チップに当接することがな
い。これにより、厚みがより薄い半導体チップは、実装
された状態から基板に対してさらに押圧されない。ま
た、厚みがより厚い半導体チップを基板に対して所望の
押圧力で押圧することができる。すなわち、各半導体チ
ップを基板に対して押圧する押圧力を各半導体チップご
とに制御することができる。したがって、上記各半導体
チップの各バンプと上記各接続端子部との間で異方性導
電膜内の導電性粒子を適切な圧力で挟み込むことができ
る。その結果、従来例のように、導電性粒子にクラック
が発生したり、各バンプと各接続端子部との間の導電性
粒子がそれら両者に当接しない状態が生じるのを防止す
ることができ、各バンプと各接続端子部とを確実に導通
させることができる。
【0014】本願発明のその他の特徴および利点につい
ては、以下に行う発明の実施の形態の説明から、より明
らかになるであろう。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本願発明の好ましい実施の
形態について、図面を参照して具体的に説明する。
【0016】図1は、本願発明に係る半導体チップの実
装構造の一例を示す概略斜視図、図2は、図1のII−II
線に沿う断面図、図3は、図1のIII−III線に沿う断面
図である。また、図4(a)ないし図6は、本願発明に
係る半導体チップの実装方法を説明するための一連の図
である。なお、これらの図において、従来例を示す図7
ないし図9に表された部材、部分等と同等のものにはそ
れぞれ同一の符号を付してある。
【0017】図1に示すように、半導体チップの実装構
造Aは、液晶表示モジュールに適用されたものであっ
て、2枚の基板3,3′を有しており、そのうちの一方
の基板3上に2つの半導体チップ1,2が異方性導電膜
4を介して実装されている。
【0018】上記2枚の基板3,3′は、液晶表示面を
形成するための部材であって、たとえばガラスなどによ
り形成された透明基板であり、互いに重ね合わせられて
いる。これら2枚の基板3,3′間には、図2に示すよ
うに、その間隔を一定の狭隙に保つように、かつ互いに
重なり合う部分の周囲を囲むように形成されたシール材
33が狭持されており、このシール材33の内側には液
晶30が封止されている。
【0019】これらの基板3,3′のうち、一方の基板
3には、上記半導体チップ1,2を実装するための延出
部3Aが設けられており、この延出部3Aは、他方の基
板3′の側部からはみ出るように形成されている。各基
板3,3′の内面には、図2に示すように、たとえばI
TO(Indium Tin Oxide)を蒸着するなどして形成され
た透明電極パターン32,32′が設けられており、こ
れらのうち、一方の基板3に形成された透明電極パター
ン32は、延出部3A上まで連続している。この透明電
極パターン32における延出部3A上の各所には、半導
体チップ1,2を接続するための複数の接続端子部31
が形成されている。これら複数の接続端子部31は、図
3に示すように、各半導体チップ1,2の後述する複数
のバンプ11のそれぞれと対応するように配置されてい
る。
【0020】上記2つの半導体チップ1,2はそれぞ
れ、この液晶表示モジュールを駆動するためのICであ
り、図3に示すように、その裏面側に接点となる複数の
バンプ11が突出形成されている。各半導体チップ1,
2は、これら各バンプ11と各接続端子部31とが異方
性導電膜4を介して導通するようにして基板3に実装さ
れる。これら2つの半導体チップ1,2は、この液晶表
示モジュールAの小型化などのため、図1に示すよう
に、基板3上において互いに隣接するように配置されて
おり、これに伴って、この液晶表示モジュールAでは、
図3に示すように、異方性導電膜4として、半導体チッ
プ1,2の両者に共通する1つのものが用いられてい
る。
【0021】各半導体チップ1,2は、その外装とし
て、たとえば樹脂などにより形成されたパッケージを有
しており、このようなパッケージを形成する際に、その
厚みを変えるなどして、図3に示すように、2つの半導
体チップ1,2のそれぞれにおける全体としての厚みが
互いに異なるように構成されている。具体的には、半導
体チップ1の全体としての厚みtが、半導体チップ1の
全体としての厚みt′よりも小とされている。
【0022】上記異方性導電膜4は、図3に示すよう
に、絶縁性を有する接着母材42内に多数の導電性粒子
41を分散混入させたものである。接着母材42は、た
とえばエポキシ樹脂などの熱硬化性樹脂から形成され、
熱硬化させる前の段階においてフィルム状(固体状)の
ものや粘液状のものがある。各導電粒子41は、たとえ
ば、図5および図6に示すように、粒径が約3μm〜1
5μm程度とされた樹脂製のボール41aの表面にNi
およびAuなどの導電層41bをメッキすることによっ
て形成される。このような異方性導電膜4は、半導体チ
ップ1,2を実装する際、加圧・加熱などされることに
よって接着母材42が軟化させられ、その後、冷却・固
化されることによって、半導体チップ1,2の裏面と基
板3の表面とを接合する。このとき、バンプ11と接続
端子部31との間では、異方性導電膜4の厚みが比較的
小となり、この間に導電性粒子41が挟み込まれるよう
に介在することによって、半導体チップ1,2と接続端
子部31とが電気的に接続される。一方、異方性導電膜
4の厚みが比較的大となる部位では、各導電性粒子41
が分散したままの状態となり、絶縁性が維持される。
【0023】以下、半導体チップの実装方法を順を追っ
て説明する。
【0024】上記2つの半導体チップ1,2を基板3の
延出部3A上に実装するには、まず、図4(a)および
図4(b)に示すように、基板3の延出部3A上に異方
性導電膜4を形成する。より詳細には、図4(a)に示
すように、この異方性導電膜4は、上記接着母材42が
フィルム状に形成されているタイプのものであり、延出
部3Aにおける上記接続端子部31を含む所定の領域を
覆うようなサイズとされたものが、基板3上に載置され
る。そして、この異方性導電膜4は、基板3上において
不用意に位置ずれしないように、たとえば加熱あるいは
接着されるなどして、図4(b)に示すように、基板3
の表面に仮固定される。
【0025】次いで、図5および図6に示すように、2
つの半導体チップ1,2を、その厚みが薄いものから順
に基板3上に実装する。
【0026】すなわち、まず、図5に示すように、厚み
が薄い半導体チップ1を、基板3に対して、各バンプ1
1が各接続端子部31に対応するように熱圧着する。こ
の工程においては、予め半導体チップ1を異方性導電膜
4上に吸着コレットなどにより載置しておき、周知の圧
着ヘッドDを用いて、半導体チップ1を加熱しつつ所定
の押圧力で基板3に向けて押しつける。これにより、上
記接着母材42は、軟化させられ、その後、冷却・固化
されることによって、半導体チップ1の裏面と基板3の
表面とを接合する。一方、上記導電性粒子41は、各接
続端子部31と半導体チップ1の各バンプ11との間で
適切な圧力で挟み込まれた状態となり、各バンプ11と
各接続端子部31とを導通させることが可能となる。
【0027】そして、半導体チップ1の場合と同様の手
順により、図6に示すように、圧着ヘッドDを用いて半
導体チップ2を基板3上に熱圧着する。このとき、半導
体チップ2は、半導体チップ1よりも厚みが大とされて
いるので、上述したように半導体チップ1と半導体チッ
プ2とが互いに隣接して実装される場合でも、圧着ヘッ
ドDは、半導体チップ2を押圧している状態において、
先に実装した半導体チップ1に当接することがない。こ
れにより、各接続端子部31と半導体チップ2の各バン
プ11との間で、導電性粒子41を適切な圧力で挟み込
むことができ、かつ、各接続端子部31と先に実装した
半導体チップ1の各バンプ11との間の導電性粒子41
がさらに加圧されるのを防止することができる。
【0028】したがって、各接続端子部31と、半導体
チップ1,2の双方における各バンプ11との間で導電
性粒子41を適切な圧力で挟み込むことができる。すな
わち、従来例のように、各接続端子部31と各バンプ1
1との間の距離が導電性粒子41の直径よりも大となる
のを防止することができるとともに、各接続端子部31
と各バンプ11との間で導電性粒子41がつぶれて上記
導電層41bにクラックが発生するのを防止することが
できる。その結果、各バンプ11と各接続端子部31と
を確実に導通させることができ、半導体チップの接続不
良を防止することができる。
【0029】もちろん、この発明の範囲は上述した実施
の形態に限定されるものではない。たとえば、本実施形
態では、半導体チップの実装構造は、液晶表示モジュー
ルに適用されているが、これを他の装置に適用すること
もできる。
【0030】また、たとえば、本実施形態では、基板に
対して2つの半導体チップが実装されるが、3つ以上の
半導体チップが実装されてもよい。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明に係る半導体チップの実装構造の一例
を示す概略斜視図である。
【図2】図1のII−II線に沿う断面図である。
【図3】図1のIII−III線に沿う断面図である。
【図4】(a)および(b)は、本願発明に係る半導体
チップの実装方法を説明するための一連の図である。
【図5】本願発明に係る半導体チップの実装方法を説明
するための一連の図である。
【図6】本願発明に係る半導体チップの実装方法を説明
するための一連の図である。
【図7】従来の半導体チップの実装構造の一例を示す概
略斜視図である。
【図8】図7のVIII−VIII線に沿う断面図である。
【図9】(a)および(b)は、図8の要部を拡大して
示す図である。
【符号の説明】
1,2 半導体チップ 3 基板 4 異方性導電膜 11 バンプ 31 接続端子部 A 半導体チップの実装構造

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のバンプが突出形成されている複数
    の半導体チップを、上記各バンプのそれぞれと対応する
    複数の接続端子部が表面に形成されている基板に対し
    て、上記各バンプと上記各接続端子部とが異方性導電膜
    を介して導通するようにして実装する方法であって、 上記複数の半導体チップは、全体としての厚みが互いに
    異なるように形成されており、実装される際には、その
    厚みが薄いものから順に、上記基板上に圧着されること
    を特徴とする、半導体チップの実装方法。
  2. 【請求項2】 上記基板は、液晶表示装置の表示部用と
    して重ね合わせられた2枚の透明基板のうちの一方の透
    明基板であり、 上記各半導体チップはそれぞれ、上記液晶表示装置を駆
    動するためのICである、請求項1に記載の半導体チッ
    プの実装方法。
  3. 【請求項3】 複数のバンプが突出形成されている複数
    の半導体チップを、上記各バンプのそれぞれと対応する
    複数の接続端子部が表面に形成されている基板上に対し
    て、上記各バンプと上記各接続端子部とが異方性導電膜
    を介して導通するようにして実装した半導体チップの実
    装構造であって、 上記各半導体チップは、全体としての厚みが互いに異な
    るように形成されているとともに、共通の異方性導電膜
    を介して、互いに隣接して実装されていることを特徴と
    する、半導体チップの実装構造。
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