JP2003124663A - 冷却装置 - Google Patents

冷却装置

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  • Cooling Or The Like Of Electrical Apparatus (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 できる限り小さな押し付け力で冷却対象物の
表面に満遍なく放熱部品を接触させ続けることができる
冷却装置を提供する。 【解決手段】 電子部品19とヒートシンク14との間
には熱伝導性流動体23が挟み込まれる。熱伝導性流動
体23は電子部品19とヒートシンク14との間で密着
性を高めると同時に、その流動性に基づき所定の吸着力
を発揮する。吸着力は、電子部品19の表面に沿ってヒ
ートシンク14の横滑りを許容するものの、電子部品1
9の表面に直交する垂直方向にヒートシンク14の変位
を規制する。ヒートシンク14は大気圧で電子部品19
上に保持されることができる。ヒートシンク14の横滑
りは規制されることから、電子部品19の傾斜や振動に
も拘わらず、ヒートシンク14と電子部品19との間に
は十分な広がりで熱伝導性流動体23は確保される。熱
伝導性流動体23は十分な吸着力を発揮し続ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばヒートシン
クといった放熱部品で電子部品といった冷却対象物から
の放熱を促進する冷却装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば特開2000−22059号公報
に開示されるように、プリント基板に実装された電子部
品の冷却にあたってヒートシンクは広く用いられる。こ
ういったヒートシンクは、平坦な対向面で電子部品の表
面に受け止められる。このとき、ヒートシンクは、でき
る限り広い接触面で電子部品の表面に接触することが望
まれる。広い接触面の確保にあたって、ヒートシンクは
電子部品に対して押し付けられる。この押し付けにあた
って例えば巻きばねの付勢力は利用される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】過度の押し付け力でヒ
ートシンクが電子部品に押し付けられると、電子部品内
に大きな応力は生み出される。過度の押し付け力が継続
的に作用すると、電子部品の変形は引き起こされる。こ
ういった応力や変形が回避されれば、電気的な接触不良
や耐久性の低下は確実に回避されることができると考え
られる。電子部品に対して作用する外力はできる限り除
去されることが望まれる。
【0004】本発明は、上記実状に鑑みてなされたもの
で、できる限り小さな押し付け力で冷却対象物の表面に
満遍なく放熱部品を接触させ続けることができる冷却装
置を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、第1発明によれば、対向面で冷却対象物の表面に受
け止められる放熱部品と、冷却対象物の表面および対向
面の間に挟み込まれて、冷却対象物の表面に直交する垂
直方向に放熱部品の変位を規制する熱伝導性流動体と、
冷却対象物の表面に沿った放熱部品の横滑りを制限する
横滑り規制機構とを備えることを特徴とする冷却装置が
提供される。
【0006】また、第2発明によれば、冷却対象物の表
面に沿って広がる熱伝導性流動体と、熱伝導性流動体上
に配置されて、大気圧で冷却対象物の表面に押し付けら
れる放熱部品と、冷却対象物の表面に沿った放熱部品の
横滑りを制限する横滑り規制機構とを備えることを特徴
とする冷却装置が提供される。
【0007】熱伝導性流動体は冷却対象物の表面と放熱
部品の対向面との間で密着性を高める。冷却対象物の表
面や放熱部品の対向面で相当に平面度が悪い場合でも、
放熱部品は広い接触面で満遍なく冷却対象物に接触する
ことができる。冷却対象物と放熱部品との間で高い熱伝
導特性は確立される。冷却対象物の熱は効率的に放熱部
品に受け渡されることができる。冷却対象物の放熱は促
進される。
【0008】しかも、熱伝導性流動体が面同士の間に挟
み込まれると、熱伝導性流動体はその流動性に基づき所
定の吸着力を発揮することができる。こうした吸着力
は、冷却対象物の表面に沿って放熱部品の横滑りを許容
するものの、冷却対象物の表面に直交する垂直方向に放
熱部品の変位を規制する。すなわち、熱伝導性流動体は
放熱部品の剥離を防止する。
【0009】その一方で、横滑り規制機構の働きで放熱
部品の横滑りは制限される。放熱部品が受け止められる
表面の傾斜や冷却対象物の振動にも拘わらず、冷却対象
物の表面に沿った放熱部品の変位は規制される。放熱部
品と冷却対象物との間には十分な広がりで熱伝導性流動
体は確保されることができる。熱伝導性流動体は冷却対
象物の表面と放熱部品の対向面との間で十分な吸着力を
確保し続けることができる。
【0010】以上のような冷却装置では、放熱部品の横
滑りが規制される限り、熱伝導性流動体の働きのみで放
熱部品は冷却対象物の表面に保持されることができる。
放熱部品は大気圧のみで冷却対象物の表面に押し付けら
れる。過度の押し付け力は確実に回避されることができ
る。
【0011】横滑り規制機構は、冷却対象物および放熱
部品の周囲を囲み、冷却対象物および放熱部品に対して
垂直方向に相対的に変位する枠体を備えることが望まれ
る。こういった枠体は放熱部品に対して簡単に着脱され
ることができる。こういった枠体が放熱部品から取り外
されれば、冷却対象物の表面に沿って放熱部品の横滑り
は実現されることができる。こうして放熱部品は冷却対
象物の表面から簡単に離脱することができる。放熱部品
は比較的に簡単に冷却対象物から取り外されることがで
きる。
【0012】その他、横滑り規制機構は、冷却対象物に
形成されて、放熱部品の横滑り時に放熱部品に係り合う
突片を備えてもよく、放熱部品に形成されて、放熱部品
の横滑り時に冷却対象物に係り合う突片を備えてもよ
い。これらの突片に代えて、冷却装置は、冷却対象物を
変位不能に支持する支持体と、この支持体上に変位不能
に配置されて、放熱部品の横滑り時に放熱部品に係り合
う突片とをさらに備えてもよい。
【0013】熱伝導性流動体の実現にあたって、流動体
にはセラミック粒子および金属粒子の少なくともいずれ
か一方が含まれればよい。こういったセラミック粒子や
金属粒子は高い熱伝導特性を備えることから、流動体の
熱伝導特性は高められることができる。
【0014】熱伝導性流動体の実現にあたって、流動体
には例えばシリコーングリースが用いられてもよい。シ
リコーングリースは、温度変化にも拘わらず長期間にわ
たって固有の流動性を維持することができる。したがっ
て、冷却対象物の温度上昇にも拘わらず長期間にわたっ
て熱伝導性流動体の流動性は維持され続けることができ
る。放熱部品は確実に長期間にわたって冷却対象物の表
面に保持され続けることができる。
【0015】前述の横滑り規制機構は、所定の範囲で冷
却対象物の表面に沿って放熱部品の横滑りを許容しても
よい。一般に、冷却対象物が発熱すると、いわゆる熱膨
張率の違いに基づき冷却対象物の表面と放熱部品の対向
面との間に相対的な横ずれが生じる。熱伝導性流動体は
その流動性に基づきこういった横ずれを容易に吸収する
ことができる。しかも、たとえ冷却対象物や放熱部品が
熱膨張しても、前述のように放熱部品の横滑りを許容す
る空間が横滑り規制機構には確保されることから、冷却
対象物や放熱部品、横滑り規制機構で内部応力の発生は
確実に阻止されることができる。
【0016】放熱部品は例えばヒートシンクに構成され
ればよい。ヒートシンクは、例えば冷却対象物の表面に
受け止められる平板状の受熱部と、この受熱部から垂直
方向に立ち上がるフィンとを備えればよい。この種の冷
却装置は例えばプリント配線基板上の電子部品の冷却に
利用されることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照しつつ本発
明の一実施形態を説明する。
【0018】図1は電子部品実装基板11を概略的に示
す。この電子部品実装基板11は、後述されるように表
面で1または複数の電子部品を受け止める例えば樹脂製
のプリント配線基板12を備える。電子部品同士は、例
えばプリント配線基板12の表面(または内部)に張り
巡らされる導電配線パターン(図示されず)の働きで相
互に電気的に接続される。こういった電子部品実装基板
11は、例えばサーバといったコンピュータシステムに
組み込まれることができる。
【0019】プリント配線基板12の表面には本発明の
第1実施形態に係る冷却装置13が搭載される。各冷却
装置13は放熱部品すなわちヒートシンク14を備え
る。ヒートシンク14には、平板状の受熱部14aと、
この受熱部14aから垂直方向に立ち上がる複数枚のフ
ィン14bとが形成される。隣接するフィン14b同士
の間には同一方向に延びる通気路15が区画される。こ
ういった電子部品実装基板11が例えばサーバに組み込
まれる場合には、送風ユニットの働きで通気路15を通
過する気流は生み出されればよい。ヒートシンク14は
例えばアルミニウムや銅といった金属材料から成型され
ればよい。
【0020】各冷却装置13は、プリント配線基板12
の表面に沿ってヒートシンク14の受熱部14aを取り
囲む枠部材16をさらに備える。枠部材16には、プリ
ント配線基板12の表面から立ち上がって、四方から受
熱部14aの外周に向き合わせられる4つの壁体17が
区画される。枠部材16は、例えばプリント配線基板1
2の表面に直交する垂直方向PDに変位可能にヒートシ
ンク14に装着される。こういった枠部材16は例えば
樹脂材から成型されればよい。
【0021】図2に示されるように、ヒートシンク14
の受熱部14aは、平坦な対向面18で冷却対象物すな
わち電子部品19の表面に受け止められる。ここで、電
子部品19は例えばBGA(ボールグリッドアレイ)構
造半導体パッケージに構成される。このBGA構造半導
体パッケージでは、小型セラミック基板21の表面すな
わち上向き面に半導体チップ(図示されず)が搭載され
る。小型セラミック基板21の裏面すなわち下向き面に
は複数個の端子バンプ22が取り付けられる。端子バン
プ22は、プリント配線基板12上で対応する端子パッ
ド(図示されず)に受け止められる。こうして電子部品
19すなわちBGA構造半導体パッケージとプリント配
線基板12との間には電気的接続が確立される。端子バ
ンプ22は例えばはんだといった導電材料から構成され
ればよい。小型セラミック基板21とプリント配線基板
12との間にはいわゆるアンダーフィル材が挟み込まれ
てもよい。ただし、電子部品19はこういった形態に限
られるものではない。
【0022】電子部品19の表面とヒートシンク14の
対向面18との間には熱伝導性流動体すなわちサーマル
グリース23が挟み込まれる。サーマルグリース23
は、例えばシリコーングリースと、このシリコーングリ
ース中に分散する熱伝導性フィラーとから構成される。
熱伝導性フィラーには例えばセラミック粒子や金属粒子
が利用されればよい。
【0023】こういったサーマルグリース23は電子部
品19とヒートシンク14との間で密着性を高める。電
子部品19の表面やヒートシンク14の対向面18で相
当程度の表面粗さが確立されても、ヒートシンク14は
広い接触面で満遍なく電子部品19に接触することがで
きる。電子部品19とヒートシンク14との間で高い熱
伝導特性は確立される。電子部品19の熱は効率的にヒ
ートシンク14の受熱部14aに受け渡されることがで
きる。ヒートシンク14からの放熱は促進される。
【0024】しかも、こういったサーマルグリース23
が面同士の間に挟み込まれると、サーマルグリース23
はシリコーングリースの流動性に基づき所定の吸着力を
発揮することができる。こうした吸着力は、電子部品1
9の表面に沿ってヒートシンク14の横滑りを許容する
ものの、電子部品19の表面に直交する垂直方向PDに
ヒートシンク14の変位を規制する。すなわち、サーマ
ルグリース23はヒートシンク14の剥離を防止する。
このとき、ヒートシンク14は大気圧のみで電子部品1
9の表面に押し付けられる。
【0025】図2から明らかなように、前述の枠部材1
6はプリント配線基板12の表面に沿って電子部品19
を取り囲む。枠部材16の壁体17は所定の間隔で四方
から電子部品19の外周に向き合わせられる。例えばプ
リント配線基板12の搬送といった場面では、プリント
配線基板12の傾斜や振動に基づき電子部品19の表面
に沿ってヒートシンク14は横滑りする。このとき、枠
部材16はヒートシンク14とともにプリント配線基板
12の表面に沿って移動する。こうした移動の後に壁体
17の内面は電子部品19の外周に受け止められる。こ
うして枠部材16は所定の範囲内でヒートシンク14の
横滑りを制限することができる。すなわち、枠部材16
の働きによれば、ヒートシンク14の横滑りにも拘わら
ず、ヒートシンク14と電子部品19との間には十分な
広がりでサーマルグリース23は確保されることができ
る。サーマルグリース23は電子部品19の表面とヒー
トシンク14の対向面との間で十分な吸着力を確保し続
けることができる。特に、サーバに組み込まれる電子部
品実装基板11は垂直姿勢に保持されることが多い。こ
ういった場合でも、枠部材16は確実にヒートシンク1
4の横滑りの範囲を規定することができる。このように
枠部材16は本発明に係る横滑り規制機構として機能す
ることができる。
【0026】以上のような冷却装置13では、前述のよ
うにヒートシンク14の横滑りが規制される限り、サー
マルグリース23の働きのみでヒートシンク14は電子
部品19の表面に保持されることができる。ヒートシン
ク14は大気圧のみで電子部品19の表面に押し付けら
れる。電子部品19には過度の押し付け力が加えられる
ことはない。電子部品19の変形や内部応力の発生は極
力阻止されることができる。
【0027】一般に、電子部品19が発熱すると、いわ
ゆる熱膨張率の違いに基づき電子部品19の表面とヒー
トシンク14の対向面18との間に相対的な横ずれが生
じる。サーマルグリース23はシリコーングリースの流
動性に基づきこういった横ずれを容易に吸収することが
できる。しかも、たとえ電子部品19やヒートシンク1
4が熱膨張しても、前述のように電子部品19やヒート
シンク14と枠部材16との間には所定の間隔が確保さ
れることから、電子部品19やヒートシンク14、枠部
材16で内部応力の発生は確実に阻止されることができ
る。
【0028】前述のようなシリコーングリースは、温度
変化にも拘わらず長期間にわたって固有の流動性を維持
することができる。したがって、電子部品19の温度上
昇にも拘わらず長期間にわたってサーマルグリース23
の流動性は維持され続けることができる。ヒートシンク
14は確実に長期間にわたって電子部品19の表面に保
持され続けることができる。
【0029】図3に示されるように、枠部材16とヒー
トシンク14との間には変位規制機構25が確立されて
もよい。この変位規制機構25は、例えば壁体17の内
面から突出する突起26で構成されればよい。こういっ
た突起26の働きによれば、樹脂製枠部材16の弾性力
に基づき枠部材16はヒートシンク14上に保持される
ことができる。このとき、ヒートシンク14には、枠部
材16が規定のセット位置に到達した際に突起26を受
け入れる窪み(図示されず)が形成されてもよい。この
セット位置では、枠部材16はヒートシンク14および
電子部品19を完全に取り囲む。こういった突起26は
ヒートシンク14側に形成されてもよい。この種の変位
規制機構25は枠部材16と電子部品19との間に確立
されてもよい。
【0030】次に本発明の第1実施形態に係る冷却装置
13の着脱方法を簡単に説明する。図4に示されるよう
に、冷却装置13の装着にあたってプリント配線基板1
2は水平姿勢で保持される。プリント配線基板12上に
は予め電子部品19は実装される。電子部品19の表面
にはサーマルグリース23が盛られる。電子部品19の
表面が四角形で規定される場合には、サーマルグリース
23は四角形の中央付近に盛られるとともに2本の対角
線に沿って盛られればよい。
【0031】続いて、電子部品19の表面にヒートシン
ク14は搭載される。受熱部14aの形状は電子部品1
9の外形に合わせ込まれる。ヒートシンク14は所定の
圧力で電子部品19すなわちプリント配線基板12に向
けて押し付けられる。こうした押し付け力の働きでサー
マルグリース23はヒートシンク14の対向面18と電
子部品19の表面との間に満遍なく広がることができ
る。この時点で、ヒートシンク14の対向面18と電子
部品19の表面との間には十分な吸着力が確立される。
垂直方向PDに沿ったヒートシンク14の変位は規制さ
れる。押し付け力が解放されても、ヒートシンク14は
電子部品19上に留まる。
【0032】こうしてヒートシンク14の搭載が完了す
ると、図5に示されるように、ヒートシンク14および
電子部品19には相次いで枠部材16が装着される。枠
部材16の下端はプリント配線基板12の表面に受け止
められる。こうして冷却装置13の装着は完了する。
【0033】冷却装置13の取り外しにあたって、図6
に示されるように、プリント配線基板12から枠部材1
6は取り外される。枠部材16は垂直方向PDに引き抜
かれる。その後、図7に示されるように、ヒートシンク
14には水平方向に沿って外力EFが加えられる。ヒー
トシンク14は電子部品19の表面に沿って簡単に横滑
りする。こうしてヒートシンク14は電子部品19の表
面から簡単に離脱することができる。ヒートシンク14
の取り外しは完了する。
【0034】図8は本発明の第2実施形態に係る冷却装
置13aを概略的に示す。この冷却装置13aでは、ヒ
ートシンク14の受熱部14aは電子部品19の表面に
比べて大きく形成される。したがって、受熱部14aの
対向面18は部分的に電子部品19の表面に受け止めら
れる。電子部品19の表面とヒートシンク14との間に
はサーマルグリース23が挟み込まれる。サーマルグリ
ース23は、前述と同様に、電子部品19とヒートシン
ク14との間で密着性を高めると同時に、電子部品19
の表面に直交する垂直方向PDにヒートシンク14の変
位を規制する。サーマルグリース23はヒートシンク1
4の剥離を防止する。ヒートシンク14は大気圧のみで
電子部品19の表面に押し付けられる。
【0035】冷却装置13aは、電子部品19およびヒ
ートシンク14の受熱部14aを取り囲む枠部材31を
さらに備える。この枠部材31には、四方から電子部品
19の外周に向き合わせられる4つの下側壁体32が区
画される。下側壁体32の上端には、ヒートシンク14
の対向面18に向き合わせられつつ水平方向に外側に広
がる水平壁33が接続される。水平壁33の外周には、
水平壁33の表面から立ち上がって四方からヒートシン
ク14の受熱部14aの外周に向き合わせられる4つの
上側壁体34が区画される。こういった枠部材31は例
えば樹脂材から成型されればよい。
【0036】枠部材31は、電子部品19の表面に直交
する垂直方向PDに変位可能にヒートシンク14に装着
される。こういった装着にあたって、枠部材31とヒー
トシンク14との間には前述と同様に例えば変位規制機
構35が確立される。この変位規制機構35は、例えば
上側壁体34の内面から突出する突起36と、枠部材3
1が規定のセット位置に位置決めされる際に突起36を
受け入れる窪み(図示されず)とで構成されればよい。
【0037】図8から明らかなように、枠部材31が規
定のセット位置に位置決めされると、枠部材31はプリ
ント配線基板12の表面から浮き上がる。このセット位
置では、枠部材31はヒートシンク14および電子部品
19を完全に取り囲む。枠部材31すなわち下側壁体3
2の下端とプリント配線基板12の表面との間には所定
の間隔SPが確保される。このとき、垂直方向PDに測
定される枠部材31の総高さTHは、プリント配線基板
12の表面からヒートシンク14の対向面18まで垂直
方向PDに測定される高さSHよりも小さく設定され
る。
【0038】例えばプリント配線基板12の搬送といっ
た場面では、プリント配線基板12の傾斜や振動に基づ
き電子部品19の表面に沿ってヒートシンク14は横滑
りする。このとき、枠部材31はヒートシンク14とと
もにプリント配線基板12の表面に沿って移動する。こ
うした移動の後に下側壁体32の内面は電子部品19の
外周に受け止められる。こうして枠部材31は、前述と
同様に、所定の範囲内でヒートシンク14の横滑りを制
限することができる。サーマルグリース23は電子部品
19の表面とヒートシンク14の対向面18との間で十
分な吸着力を確保し続けることができる。このように枠
部材31は本発明に係る横滑り規制機構として機能する
ことができる。
【0039】次に本発明の第2実施形態に係る冷却装置
13aの着脱方法を簡単に説明する。この第2実施形態
では、ヒートシンク14の搭載に先立ってプリント配線
基板12上の電子部品19には枠部材31が装着され
る。枠部材31の下端はプリント配線基板12の表面に
到達してもよい。枠部材31の装着後に、前述と同様
に、電子部品19の表面にサーマルグリース23は盛ら
れる。
【0040】その後、電子部品19の表面にヒートシン
ク14は搭載される。ヒートシンク14の向きは枠部材
31の向きに対して合わせ込まれる。ヒートシンク14
は所定の圧力で電子部品19すなわちプリント配線基板
12に向けて押し付けられる。こうした押し付け力の働
きでサーマルグリース23はヒートシンク14の対向面
18と電子部品19の表面との間に満遍なく広がること
ができる。この時点で、ヒートシンク14の対向面18
と電子部品19の表面との間には十分な吸着力が確立さ
れる。押し付け力が解放されても、ヒートシンク14は
電子部品19上に留まる。
【0041】その後、枠部材はプリント配線基板12の
表面から引き上げられる。枠部材の動きは電子部品19
の外形で案内される。例えば水平壁33の上面がヒート
シンク14の対向面18に衝突すると、変位規制機構3
5の突起36は窪みに入り込む。こうして枠部材31は
規定のセット位置に位置決めされる。枠部材31自身の
弾性力の働きで枠部材31はヒートシンク14に係り止
めされる。ヒートシンク14の受熱部14aおよび電子
部品19は完全に枠部材31に取り囲まれる。冷却装置
13aの装着は完了する。
【0042】冷却装置13aの取り外しにあたって、図
9に示されるように、枠部材31はプリント配線基板1
2の表面に向けて引き下ろされる。枠部材31の下端が
完全にプリント配線基板12の表面に受け止められる
と、枠部材31の上側壁体34は完全にヒートシンク1
4から離脱する。プリント配線基板12の表面からヒー
トシンク14の対向面18まで測定される高さSHより
も枠部材31の総高さTHは低いことから、枠部材31
の上端は、受熱部14aの対向面18を含む仮想平面P
Lよりも下方に位置する。
【0043】この状態で、図10に示されるように、ヒ
ートシンク14には水平方向に沿って外力EFが加えら
れる。ヒートシンク14は、枠部材31に接触すること
なく電子部品19の表面に沿って簡単に横滑りする。こ
うしてヒートシンク14は電子部品19の表面から簡単
に離脱することができる。ヒートシンク14の取り外し
は完了する。
【0044】図11は本発明の第3実施形態に係る冷却
装置13bを概略的に示す。この第3実施形態に係る冷
却装置13bは、前述の枠部材16、31に代えて、電
子部品19の表面から立ち上がって、所定の間隔で四方
から放熱部品すなわちヒートシンク14の外周に向き合
わせられる4つの突片41を備える。こういった突片4
1は電子部品19に一体に形成されればよい。隣接する
突片41同士は相互に接続されてもよい。こうした接続
によれば、ヒートシンク14の受熱部14aを受け入れ
る凹み42が電子部品19の表面に区画されることがで
きる。電子部品19は切れ目なく突片41に取り囲まれ
る。図中、第1および第2実施形態の構成と同様な作用
や機能を発揮する構成には同一の参照符号が付される。
【0045】例えばプリント配線基板12の搬送といっ
た場面では、プリント配線基板12の傾斜や振動に基づ
き電子部品19の表面に沿ってヒートシンク14は横滑
りする。電子部品19上の突片41はヒートシンク14
の外周に係り合う。こうして突片41は、前述の枠部材
16、31と同様に、所定の範囲内でヒートシンク14
の横滑りを制限することができる。このように突片41
は本発明に係る横滑り規制機構として機能することがで
きる。
【0046】図12は本発明の第4実施形態に係る冷却
装置13cを概略的に示す。この第4実施形態に係る冷
却装置13cは、前述の枠部材16、31に代えて、放
熱部品すなわちヒートシンク14の対向面18から立ち
上がって、所定の間隔で四方から電子部品19の外周に
向き合わせられる4つの突片43を備える。こういった
突片43はヒートシンク14に一体に形成されればよ
い。隣接する突片43同士は相互に接続されてもよい。
こうした接続によれば、電子部品19を受け入れる凹み
44がヒートシンク14の対向面に区画されることがで
きる。電子部品19は切れ目なく突片43に取り囲まれ
る。図中、第1および第2実施形態の構成と同様な作用
や機能を発揮する構成には同一の参照符号が付される。
【0047】例えばプリント配線基板12の搬送といっ
た場面では、プリント配線基板12の傾斜や振動に基づ
き電子部品19の表面に沿ってヒートシンク14は横滑
りする。ヒートシンク14上の突片43は電子部品19
の外周に係り合う。こうして突片43は、前述の枠部材
16、31と同様に、所定の範囲内でヒートシンク14
の横滑りを制限することができる。このように突片43
は本発明に係る横滑り規制機構として機能することがで
きる。
【0048】図13は本発明の第5実施形態に係る冷却
装置13dを概略的に示す。この第5実施形態に係る冷
却装置13dは、前述の枠部材16、31に代えて、プ
リント配線基板12の表面から立ち上がって、所定の間
隔で四方から放熱部品すなわちヒートシンク14の外周
に向き合わせられる4つの突片45を備える。こういっ
た突片45は、例えばねじ46といった結合機構でプリ
ント配線基板12の表面に固定されればよい。隣接する
突片45同士は相互に接続されてもよい。こうした接続
によれば、電子部品19およびヒートシンク14の受熱
部14aを取り囲む枠が区画されることができる。ヒー
トシンク14は切れ目なく突片45に取り囲まれる。図
中、第1および第2実施形態の構成と同様な作用や機能
を発揮する構成には同一の参照符号が付される。
【0049】例えばプリント配線基板12の搬送といっ
た場面では、プリント配線基板12の傾斜や振動に基づ
き電子部品19の表面に沿ってヒートシンク14は横滑
りする。プリント配線基板12上の突片45はヒートシ
ンク14の外周に係り合う。こうして突片45は、前述
の枠部材16、31と同様に、所定の範囲内でヒートシ
ンク14の横滑りを制限することができる。このように
突片45は本発明に係る横滑り規制機構として機能する
ことができる。
【0050】図14から明らかなように、ヒートシンク
14の対向面18には、プリント配線基板12の表面か
ら立ち上がる突片45を受け入れる溝47が形成されて
もよい。電子部品19の表面でヒートシンク14が横滑
りすると、プリント配線基板12上の突片45は溝47
の壁面に係り合う。こうして突片45と溝47との協働
で、ヒートシンク14の横滑りは所定の範囲内に制限さ
れることができる。
【0051】このとき、プリント配線基板12から立ち
上がる突片45には、プリント配線基板12上に固定さ
れる例えば金属製のスティフナが利用されることができ
る。スティフナは例えば電子部品19の周囲に切れ目な
く取り付けられる。こういったスティフナによれば、電
子部品19の周囲でプリント配線基板12のねじれや撓
みは防止されることができる。
【0052】以上のような冷却装置13、13a〜13
dでは、例えばヒートシンク14と電子部品19との間
に剥離機構が組み込まれてもよい。こういった剥離機構
は、例えば図15に示されるように、ヒートシンク14
の受熱部14aに形成されるねじ孔48と、このねじ孔
48にねじ込まれるねじ49とで構成されればよい。ヒ
ートシンク14の取り付けにあたって、ねじ49は例え
ば休止位置に位置決めされる。この休止位置では、ねじ
49の先端は電子部品19の表面に向き合わせられる。
ねじ49の頭は、ヒートシンク14の表面から浮き上が
った状態に保持される。ヒートシンク14の取り外しに
あたって、ねじ49はねじ孔48にねじ込まれる。ねじ
49の先端は電子部品19の表面に受け止められる。さ
らにねじ49がねじ込まれると、ねじ49の回転は垂直
方向PDの推進力に変換される。こうしてヒートシンク
14は、サーマルグリース23の吸着力に抗して比較的
に簡単に電子部品19の表面から引き剥がされることが
できる。
【0053】なお、以上のような冷却装置13、13a
〜13dでは、枠部材16の内面や突片41、43、4
5と電子部品19やヒートシンク14の外周とは完全に
密着し合ってもよい。この場合には、ヒートシンク14
の横滑りは完全に阻止されることができる。
【0054】(付記1) 対向面で冷却対象物の表面に
受け止められる放熱部品と、冷却対象物の表面および対
向面の間に挟み込まれる熱伝導性流動体と、冷却対象物
の表面に沿った放熱部品の横滑りを制限する横滑り規制
機構とを備えることを特徴とする冷却装置。
【0055】(付記2) 付記1に記載の冷却装置にお
いて、前記横滑り規制機構は、冷却対象物および放熱部
品の周囲を囲み、冷却対象物および放熱部品に対して冷
却対象物の表面に直交する垂直方向に相対的に変位する
枠体を備えることを特徴とする冷却装置。
【0056】(付記3) 付記1に記載の冷却装置にお
いて、前記横滑り規制機構は、前記冷却対象物に形成さ
れて、放熱部品の横滑り時に放熱部品に係り合う突片を
備えることを特徴とする冷却装置。
【0057】(付記4) 付記1に記載の冷却装置にお
いて、前記横滑り規制機構は、前記放熱部品に形成され
て、放熱部品の横滑り時に冷却対象物に係り合う突片を
備えることを特徴とする冷却装置。
【0058】(付記5) 付記1に記載の冷却装置にお
いて、前記冷却対象物を変位不能に支持する支持体と、
この支持体上に変位不能に配置されて、放熱部品の横滑
り時に放熱部品に係り合う突片とをさらに備えることを
特徴とする冷却装置。
【0059】(付記6) 付記1〜5のいずれかに記載
の冷却装置において、前記熱伝導性流動体にはセラミッ
ク粒子および金属粒子の少なくともいずれか一方が含ま
れることを特徴とする冷却装置。
【0060】(付記7) 付記6に記載の冷却装置にお
いて、前記セラミック粒子および金属粒子はグリース中
に分散することを特徴とする冷却装置。
【0061】(付記8) 付記1〜7のいずれかに記載
の冷却装置において、前記横滑り規制機構は前記横滑り
の範囲を規定することを特徴とする冷却装置。
【0062】(付記9) 付記1〜8のいずれかに記載
の冷却装置において、前記放熱部品は、前記垂直方向に
立ち上がるフィンを備えることを特徴とする冷却装置。
【0063】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、できる限
り小さな押し付け力で冷却対象物の表面に満遍なく放熱
部品は接触し続けることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の第1実施形態に係る冷却装置の外観
を概略的に示す電子部品実装基板の斜視図である。
【図2】 図1の2−2線に沿った拡大部分断面図であ
る。
【図3】 変位規制機構の構成を概略的に示す拡大垂直
断面図である。
【図4】 電子部品上にヒートシンクを搭載する場面を
示すプリント配線基板の拡大部分垂直断面図である。
【図5】 電子部品およびヒートシンクに枠部材を装着
する場面を示す電子部品実装基板の拡大部分垂直断面図
である。
【図6】 電子部品およびヒートシンクから枠部材を取
り外す場面を示す電子部品実装基板の拡大部分垂直断面
図である。
【図7】 電子部品からヒートシンクを離脱させる場面
を示すプリント配線基板の拡大部分垂直断面図である。
【図8】 本発明の第2実施形態に係る冷却装置を示す
電子部品実装基板の拡大部分垂直断面図である。
【図9】 ヒートシンクから枠部材を離脱させる場面を
示す電子部品実装基板の拡大部分垂直断面図である。
【図10】 電子部品からヒートシンクを離脱させる場
面を示すプリント配線基板の拡大部分垂直断面図であ
る。
【図11】 本発明の第3実施形態に係る冷却装置を示
す電子部品実装基板の拡大部分垂直断面図である。
【図12】 本発明の第4実施形態に係る冷却装置を示
す電子部品実装基板の拡大部分垂直断面図である。
【図13】 本発明の第5実施形態に係る冷却装置を示
す電子部品実装基板の拡大部分垂直断面図である。
【図14】 第5実施形態の変形例に係る冷却装置を示
す電子部品実装基板の拡大部分垂直断面図である。
【図15】 剥離機構の構成を概略的に示す電子部品お
よびヒートシンクの拡大部分垂直断面図である。
【符号の説明】
13 冷却装置、13a〜13d 冷却装置、14 放
熱部品としてのヒートシンク、14b フィン、16
横滑り規制機構としての枠体すなわち枠部材、18 対
向面、19 冷却対象物としての電子部品、23 熱伝
導性流動体としてのサーマルグリース、31 横滑り規
制機構としての枠体すなわち枠部材、41 横滑り規制
機構としての突片、43 横滑り規制機構としての突
片、45横滑り規制機構としての突片。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 23/40 H01L 23/36 Z M

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 対向面で冷却対象物の表面に受け止めら
    れる放熱部品と、冷却対象物の表面および対向面の間に
    挟み込まれる熱伝導性流動体と、冷却対象物の表面に沿
    った放熱部品の横滑りを制限する横滑り規制機構とを備
    えることを特徴とする冷却装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の冷却装置において、前
    記横滑り規制機構は、冷却対象物および放熱部品の周囲
    を囲み、冷却対象物および放熱部品に対して冷却対象物
    の表面に直交する垂直方向に相対的に変位する枠体を備
    えることを特徴とする冷却装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2に記載の冷却装置にお
    いて、前記熱伝導性流動体にはセラミック粒子および金
    属粒子の少なくともいずれか一方が含まれることを特徴
    とする冷却装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の冷却装置において、前
    記セラミック粒子および金属粒子はグリース中に分散す
    ることを特徴とする冷却装置。
  5. 【請求項5】 請求項1〜4のいずれかに記載の冷却装
    置において、前記横滑り規制機構は前記横滑りの範囲を
    規定することを特徴とする冷却装置。
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Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005159346A (ja) * 2003-11-21 2005-06-16 Lg Electronics Inc 放熱装置を有する携帯端末機
JP2006156630A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Toppan Printing Co Ltd 多層回路配線板用支持基板及びそれを用いた多層回路配線板
JP2007184400A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Opnext Japan Inc 光伝送モジュールおよび半導体装置
JPWO2006087770A1 (ja) * 2005-02-15 2008-07-03 富士通株式会社 パッケージユニット
KR101026591B1 (ko) * 2007-09-25 2011-04-04 인텔 코오퍼레이션 박형의 tim 코어리스, 고밀도, 범프리스 패키지를 형성하는 방법 및 그에 의해 형성된 구조물들
JP2018073859A (ja) * 2016-10-24 2018-05-10 日本電気株式会社 冷却装置、搭載方法、冷却構造
US10049960B2 (en) 2014-01-06 2018-08-14 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device
WO2019167908A1 (ja) * 2018-02-28 2019-09-06 株式会社村田製作所 高周波モジュール
WO2023145964A1 (ja) * 2022-01-31 2023-08-03 京セラ株式会社 半導体モジュール
JP2024088004A (ja) * 2022-12-20 2024-07-02 東芝テック株式会社 情報処理装置

Families Citing this family (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6724080B1 (en) * 2002-12-20 2004-04-20 Altera Corporation Heat sink with elevated heat spreader lid
DE20309244U1 (de) * 2003-06-16 2003-08-14 Uniwill Computer Corp., Chung Li, Tao Yuan Struktur zur Abschottung eines thermischen Zwischenmaterials
US7372147B2 (en) * 2003-07-02 2008-05-13 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Supporting a circuit package including a substrate having a solder column array
TWI231017B (en) * 2003-08-18 2005-04-11 Advanced Semiconductor Eng Heat dissipation apparatus for package device
US20070114658A1 (en) * 2004-08-24 2007-05-24 Carlos Dangelo Integrated Circuit Micro-Cooler with Double-Sided Tubes of a CNT Array
US8048688B2 (en) * 2006-10-24 2011-11-01 Samsung Electronics Co., Ltd. Method and apparatus for evaluation and improvement of mechanical and thermal properties of CNT/CNF arrays
US7732918B2 (en) * 2003-08-25 2010-06-08 Nanoconduction, Inc. Vapor chamber heat sink having a carbon nanotube fluid interface
US7538422B2 (en) * 2003-08-25 2009-05-26 Nanoconduction Inc. Integrated circuit micro-cooler having multi-layers of tubes of a CNT array
US7477527B2 (en) * 2005-03-21 2009-01-13 Nanoconduction, Inc. Apparatus for attaching a cooling structure to an integrated circuit
US7109581B2 (en) * 2003-08-25 2006-09-19 Nanoconduction, Inc. System and method using self-assembled nano structures in the design and fabrication of an integrated circuit micro-cooler
US7551446B2 (en) * 2005-11-03 2009-06-23 Intel Corporation Thermal management device attachment
US7468886B2 (en) * 2007-03-05 2008-12-23 International Business Machines Corporation Method and structure to improve thermal dissipation from semiconductor devices
US8169789B1 (en) * 2007-04-10 2012-05-01 Nvidia Corporation Graphics processing unit stiffening frame
US7790511B2 (en) * 2007-06-11 2010-09-07 International Business Machines Corporation Method for direct heat sink attachment
CN102299127B (zh) * 2011-07-13 2013-12-11 台达电子企业管理(上海)有限公司 用于封装元件的双向散热器及其组装方法
US8698291B2 (en) * 2011-12-15 2014-04-15 Freescale Semiconductor, Inc. Packaged leadless semiconductor device
US8803302B2 (en) 2012-05-31 2014-08-12 Freescale Semiconductor, Inc. System, method and apparatus for leadless surface mounted semiconductor package
US10090173B2 (en) 2015-06-05 2018-10-02 International Business Machines Corporation Method of fabricating a chip module with stiffening frame and directional heat spreader
US20210289658A1 (en) * 2016-09-21 2021-09-16 Tti (Macao Commercial Offshore) Limited Improved heat sink and heat dissipation structure
US10424527B2 (en) * 2017-11-14 2019-09-24 International Business Machines Corporation Electronic package with tapered pedestal
DE102018215338B3 (de) * 2018-09-10 2020-01-16 Dürkopp Adler AG Kühlvorrichtung für mindestens ein auf einer Leiterplatte montiertes Bauelement
US11177192B2 (en) * 2018-09-27 2021-11-16 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Semiconductor device including heat dissipation structure and fabricating method of the same
US11373929B1 (en) * 2020-02-03 2022-06-28 Xilinx, Inc. Thermal heat spreader plate for electronic device
WO2022071940A1 (en) * 2020-09-30 2022-04-07 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Thermal modules
GB2601357B (en) 2020-11-27 2023-02-01 Nexalus Ltd Modular thermal heat sink device
US11641727B2 (en) * 2021-03-23 2023-05-02 Hewlett Packard Enterprise Development Lp Cooling system for an electronic circuit module
USD1118551S1 (en) * 2023-12-19 2026-03-17 Nakamura Magic Co., Ltd. Heat sink

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3904262A (en) * 1974-09-27 1975-09-09 John M Cutchaw Connector for leadless integrated circuit packages
JPS633443A (ja) 1986-06-23 1988-01-08 Nec Corp 半導体装置
US5313099A (en) 1993-03-04 1994-05-17 Square Head, Inc. Heat sink assembly for solid state devices
JPH1029687A (ja) 1996-07-12 1998-02-03 Ngk Spark Plug Co Ltd 電子部品用パッケージ
US5883783A (en) * 1997-07-15 1999-03-16 Intel Corporation GT clip design for an electronic packaging assembly
JP3380170B2 (ja) 1998-07-07 2003-02-24 富士通株式会社 電子装置
JP2000150736A (ja) 1998-11-13 2000-05-30 Shinko Electric Ind Co Ltd 半導体モジュール用放熱板および半導体モジュール

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005159346A (ja) * 2003-11-21 2005-06-16 Lg Electronics Inc 放熱装置を有する携帯端末機
US7286360B2 (en) 2003-11-21 2007-10-23 Lg Electronics Inc. Heat radiating system and method for a mobile communication terminal
JP2006156630A (ja) * 2004-11-29 2006-06-15 Toppan Printing Co Ltd 多層回路配線板用支持基板及びそれを用いた多層回路配線板
JPWO2006087770A1 (ja) * 2005-02-15 2008-07-03 富士通株式会社 パッケージユニット
JP4589960B2 (ja) * 2005-02-15 2010-12-01 富士通株式会社 パッケージユニット
JP2007184400A (ja) * 2006-01-06 2007-07-19 Opnext Japan Inc 光伝送モジュールおよび半導体装置
KR101026591B1 (ko) * 2007-09-25 2011-04-04 인텔 코오퍼레이션 박형의 tim 코어리스, 고밀도, 범프리스 패키지를 형성하는 방법 및 그에 의해 형성된 구조물들
US10049960B2 (en) 2014-01-06 2018-08-14 Mitsubishi Electric Corporation Semiconductor device
JP2018073859A (ja) * 2016-10-24 2018-05-10 日本電気株式会社 冷却装置、搭載方法、冷却構造
US10755997B2 (en) 2016-10-24 2020-08-25 Nec Corporation Cooling device and mounting method
WO2019167908A1 (ja) * 2018-02-28 2019-09-06 株式会社村田製作所 高周波モジュール
JPWO2019167908A1 (ja) * 2018-02-28 2020-12-17 株式会社村田製作所 高周波モジュール
US11302606B2 (en) 2018-02-28 2022-04-12 Murata Manufacturing Co., Ltd. High-frequency module
JP7067609B2 (ja) 2018-02-28 2022-05-16 株式会社村田製作所 高周波モジュール
WO2023145964A1 (ja) * 2022-01-31 2023-08-03 京セラ株式会社 半導体モジュール
JP2024088004A (ja) * 2022-12-20 2024-07-02 東芝テック株式会社 情報処理装置

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