JP2003258078A - 基板支持装置及びそれを用いた搬送装置 - Google Patents

基板支持装置及びそれを用いた搬送装置

Info

Publication number
JP2003258078A
JP2003258078A JP2002052274A JP2002052274A JP2003258078A JP 2003258078 A JP2003258078 A JP 2003258078A JP 2002052274 A JP2002052274 A JP 2002052274A JP 2002052274 A JP2002052274 A JP 2002052274A JP 2003258078 A JP2003258078 A JP 2003258078A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
supporting
tray
plate holder
transport
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2002052274A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsutsugu Hanazaki
哲嗣 花崎
Asako Ishida
麻子 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2002052274A priority Critical patent/JP2003258078A/ja
Publication of JP2003258078A publication Critical patent/JP2003258078A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manipulator (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 基板を支持した際に実質的な撓みを小さくす
ることができる基板支持装置、及びそれを用いた搬送装
置を提供する。 【解決手段】 基板支持装置であるトレイTは、基板P
を支持する支持面22を有する支持部20を備えてお
り、支持部20の形状は、基板Pを支持する支持面22
側が凸となるように予め撓ませた構成となっている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板を支持する基
板支持装置、及びこの基板支持装置を用いた搬送装置に
関し、特に液晶表示デバイス等の製造等で使用する大型
基板を支持するのに好適な基板支持装置、及び搬送装置
に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より、例えば液晶ディスプレイ(総
称としてフラットパネルディスプレイ)を製造する工程
においては、各種の装置、例えば露光装置や検査装置な
どの大型基板の処理装置が用いられている。これらの処
理装置を用いた露光工程、検査工程では、大型基板(ガ
ラス基板)を処理装置にロードする作業とアンロードす
る作業とを自動的に行う基板搬送装置が用いられてい
る。特開2001−100169号公報には、基板支持
装置であるトレイで基板を支持しつつ搬送する技術が開
示されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記従来技術は、基板
の撓みを抑制しながら搬送することができるので有効で
ある。ところが、以下に述べるような問題が生じるよう
になった。近年、露光装置において、デバイスパターン
の微細化の要求から投影光学系は大N.A.化され、こ
れに伴い投影光学系と基板ステージとの間の空間(いわ
ゆるワーキングディスタンス)は狭くなる傾向にある。
一方で、使用されるガラス基板はますます大型化される
傾向にあり、これに伴ってトレイの支持面を大型化する
必要がある。ところが、トレイが大型化すると自重によ
り撓みやすくなってトレイの最上端と撓みにより下がっ
たトレイの最下端との幅である実質的な厚みが増してし
まう。すると、基板ステージに基板をトレイごとロード
しようとする場合、実質的な厚みが増したトレイやトレ
イを支持する搬送ハンドが狭いワーキングディスタンス
に入り込みずらくなってしまうという問題が生じるよう
になった。
【0004】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
もので、基板を支持した際に実質的な厚みを小さくする
ことができる基板支持装置、及びそれを用いた搬送装置
を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
め本発明は、実施の形態に示す図1〜図12に対応付け
した以下の構成を採用している。本発明の基板支持装置
は、基板を支持する基板支持装置において、前記基板を
支持する支持面を有する支持部を備え、前記支持部の形
状は、前記基板を支持する前記支持面側が凸となるよう
に予め撓ませたことを特徴とする。
【0006】本発明によれば、基板を支持する支持面側
が凸となるように予め撓ませたことにより、基板を支持
面で支持した際、基板の重みによって支持面は凹むよう
に変形される。したがって、基板支持装置は基板を支持
した際、実質的な厚みを小さくされた状態となり、狭い
空間(ワーキングディスタンス)に対しても円滑に入り
込むことができる。
【0007】本発明の搬送装置は、上記記載の基板支持
装置を搬送する搬送ハンドを備えたことを特徴とする。
【0008】本発明によれば、撓みの発生を抑えられた
基板支持装置で基板を支持しつつ搬送できるので、狭い
空間(ワーキングディスタンス)に対しても基板を搬送
できる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の基板支持装置及び
搬送装置の第1実施形態について図1から図6を参照し
ながら説明する。図1は、本発明に係る搬送装置Hを備
え、感光剤を塗布された基板(感光基板)Pに対して露
光処理を行う露光処理システムSYSの全体概略を示す
断面平面図である。
【0010】露光処理システムSYSは、基板Pに液晶
表示デバイス用パターンを露光する露光装置EXと、パ
ターンが露光された基板Pに対してパターン領域の周辺
に露光処理を行う周辺露光装置ESと、搬送ロボット
(搬送装置)Hと、搬出入部5と、ダミーポート(受け
渡し部)7とを備えており、これらは高度に清浄化さ
れ、且つ所定温度及び湿度に調整されたチャンバCH内
に収められている。基板Pは液晶ディスプレイパネル製
造に用いられる角形のガラス基板であって、例えば厚さ
0.7〜1.1mm、平面視の大きさ600mm×60
0mm以上のものである。
【0011】図2は、露光装置EX、搬送ロボットH、
及び搬出入部5の外観斜視図である。露光装置EXは、
マスク(レチクル)Mを露光光(露光用照明光)ELで
照明する不図示の照明系と、液晶表示デバイス用パター
ンが形成されたマスクMを保持する不図示のマスクステ
ージと、このマスクステージの下方に配置された投影光
学系PLと、投影光学系PLの下方でベース8上をX軸
方向及びY軸方向の2次元方向に移動する基板ステージ
としてのプレートホルダ9とを備えている。
【0012】なお、以下の説明において、投影光学系P
Lの光軸方向をZ軸方向とし、水平面内においてZ軸方
向と直交する方向をX軸方向とし、水平面内においてX
軸方向と直交する方向をY軸方向とする。また、それぞ
れの軸線まわり方向をθZ、θX、θY方向とする。
【0013】投影光学系PLには、等倍の正立正像を投
影する光学系が用いられている。この露光装置EXで
は、プレートホルダ9上に長方形の基板Pが載置された
状態でステップ・アンド・スキャン方式の露光が行わ
れ、マスクMに形成されたパターンが基板P上の複数、
例えば4つの露光領域(パターン領域)に順次転写され
るようになっている。すなわち、この露光装置EXで
は、照明系からの露光光ELにより、マスクM上のスリ
ット状の照明領域が照明された状態で、制御装置(制御
部)CONTによって不図示の駆動系を介して、マスク
Mを支持するマスクステージと基板Pを支持するプレー
トホルダ9とを同期して所定の走査方向(ここではY軸
方向とする)に同一速度で同一方向に移動させることに
より、基板P上の1つの露光領域にマスクMのパターン
が逐次転写される、すなわち走査露光が行われる。
【0014】この1つの露光領域に対する走査露光の終
了後に、制御装置CONTによりプレートホルダ9を次
の露光領域の走査開始位置まで所定量X軸方向に移動す
るステッピング動作が行われる。そして、露光装置EX
では、このような走査露光とステッピング動作とを繰り
返し行うことにより、順次4つの露光領域にマスクMの
パターンが転写されるようになっている。
【0015】搬送ロボット(搬送装置)Hは、水平関節
型構造を有し、露光装置EX、搬出入部5、周辺露光装
置ESおよびダミーポート7に対向して配置されてお
り、垂直な関節軸を介して連結された複数部分から成る
アーム部10と、このアーム部10の先端に設けられ、
2本の爪部11を有する搬送ハンド12と、アーム部1
0を駆動する駆動装置13とを備えている。
【0016】搬送ロボットH(搬送ハンド12)は、後
に詳述するトレイ(基板支持装置)Tを介して基板Pを
支持し、搬送する。搬送ハンド12は、X軸方向、Y軸
方向、Z軸方向、θX方向、θY方向、θZ方向のそれ
ぞれに移動可能となっており、搬送ハンド12に支持さ
れたトレイT及び基板Pは所定の位置に搬送されるよう
になっている。
【0017】図2では、基板Pを支持するトレイTが搬
送ロボットHの爪部11によって下方から保持され、搬
送ハンド12によってトレイTが支持されている状態が
示されている。
【0018】なお、この搬送ロボットHは、図2には便
宜上図示していないが、搬送ハンド12の下方に設けら
れ、この搬送ハンド12と同様の機構を有し、且つ独立
駆動可能な搬送ハンドを備えたダブルハンド構造(ダブ
ルアーム構造)になっている。
【0019】搬出入部5は、露光処理システムSYSに
隣接配置されたコータ・デベロッパ(不図示)において
感光剤が塗布された基板Pが搬入されて受け渡しされる
とともに、搬入された基板Pの温度を調整する搬入ポー
トとしての搬入プレートホルダ14と、この搬入プレー
トホルダ14の上方に配置され、露光装置EXで露光処
理が施された基板Pが受け渡される搬出ポートとしての
搬出プレートホルダ15とから概略構成されている(図
1及び図2では搬出プレートホルダ15のみが図示され
ている)。また、これらプレートホルダ14,15は、
θZ方向(Z軸周り)に回転可能になっており、搬送ハ
ンド12に対する相対的な回転方向の位置補正をした
り、基板Pを90度回転させることができる。更に、搬
出入部5には、トレイTの形状を検出可能な検出装置3
0が設けられている。検出装置30は、搬出入部5に搬
送されたトレイTの高さ方向の位置を光学的に検出可能
な複数の高さセンサ32a〜32iと、高さセンサ32
a〜32iのそれぞれの検出信号に基づいてトレイTの
形状(撓み量)及び姿勢を求める演算部31とを備えて
いる。高さセンサ32a〜32iは搬出入部5のプレー
トホルダ15(14)を包囲するように等間隔で配置さ
れており、検出信号を演算部31に出力する。演算部3
1は、高さセンサ32a〜32iの検出結果に基づいて
トレイTの形状及び姿勢を求め、求めた結果を制御装置
CONTに出力するようになっている。
【0020】図1に戻って、周辺露光装置ESは、露光
装置EXで露光処理が行われた基板Pを保持する基板ホ
ルダとしてのプレートホルダ(受け渡し部)16と、こ
の基板Pのパターン領域の周辺に露光処理を行う照明系
等の処理部(不図示)とを備えている。ここで露光処理
された基板Pは、パターン領域の周辺に塗布された感光
剤を露光される。なお、露光装置EXの露光処理に先立
って周辺露光装置ESによる周辺露光(非パターン部の
露光)を行ってもよい。
【0021】ダミーポート7は、露光処理システムSY
Sが周辺露光装置ESを搭載しない場合や、周辺露光装
置ESを搭載していても使用しない場合に用いられるも
のであって、後述する搬送途中のトレイTを一時的に保
持する構成になっている。
【0022】図3(a)は、本発明に係るトレイ(基板
支持装置)Tを示す平面図、図3(b)は図3(a)の
側面図である。図3(a)に示すように、トレイTは縦
横に所定間隔で格子状に張り巡らされた複数本の線状部
材19により全体として略矩形状に形成された支持部2
0を備えている。また、複数本の線状部材19によって
構成される各格子の内部には、いずれもが基板Pよりも
小さい四角形の開口部21が複数形成されている。これ
らの複数本の線状部材19は、ここでは相互に溶接さ
れ、あるいは格子状に組み合わされている。
【0023】トレイTの支持部20は、その上面である
支持面22で基板Pを支持するようになっている。支持
面22には、支持部20に支持された基板Pの側面を保
持して基板の落下を防止するとともに概ね位置決めする
位置決め部23(23a、23b、23c)及び24
(24a、24b、24c)が設けられている。位置決
め部23、24のそれぞれは支持面22に突設された凸
部である。位置決め部23a〜23cの配置は、支持部
20の第1端部20A側において、位置決め部23bの
位置が位置決め部23aと23cとを結ぶ直線よりも基
板の外側に位置し、第1端部20A及び第1端部20A
に隣接する両端部を支持するように配設される。一方、
位置決め部24a〜24cの配置は、支持部20の第2
端部20B側において、位置決め部24bの位置が位置
決め部24aと24cとを結ぶ直線よりも基板の外側に
位置し、第2端部20B及び第2端部20Bに隣接する
両端部を支持するように配設される。ここで、図2に示
すように、トレイTは第1端部20A及び第2端部20
Bのそれぞれを爪部11に一致されるように、すなわ
ち、位置決め部23a、23cのならび方向と爪部11
の長手方向とが略平行、且つ、位置決め部24a、24
bのならび方向と爪部11の長手方向とが略平行となる
ように搬送ハンド12に支持されるようになっている。
【0024】ここで、以下の説明において、支持面22
に沿う位置決め部23a〜23c(24a〜24c)の
並び方向を「第1の方向V1」、支持面22に沿って第
1の方向V1と略直交する方向を「第2の方向V2」と
適宜称する。
【0025】図3(b)に示すように、支持部20の形
状は、基板Pを支持していない状態において、支持面2
2側が凸となるように予め撓まされている。具体的に
は、支持部20の形状は、少なくとも第2の方向V2か
ら見て上向き凸状に反る形状に設定されている。
【0026】支持部20の形成材料としては、各種合成
樹脂、あるいは金属を用いることができる。具体的に
は、ナイロン、ポリプロピレン、AS樹脂、ABS樹
脂、ポリカーボネート、繊維強化プラスチック、ステン
レス鋼等が挙げられる。繊維強化プラスチックとして
は、GFRP(Glass Fiber Reinforced Plastic:ガラ
ス繊維強化熱硬化性プラスチック)やCFRP(Carbon
Fiber Reinforced Plastic:炭素繊維強化熱硬化性プ
ラスチック)が挙げられる。本実施形態において、支持
部20はCFRPによって形成されることが好ましい。
支持部20をCFRPによって形成することにより、基
板Pを支持するための所望の強度が得られるとともに、
所望の可撓性が得られる。
【0027】支持部20においては、全部がCFRP部
材であってもよいし、一部がCFRP部材であってもよ
い。例えば、複数本ある線状部材19のうちの一部がC
FRP部材によって形成され、その他の部分が他の材料
によって形成された構成でもよい。支持部20のうちの
一部にCFRP部材を用いる場合は、所望の方向、本実
施形態においては第1の方向V1に可撓性を有するよう
にするために、CFRP部材の配置位置が設定される。
つまり、第1の方向V1を撓み方向とするように支持部
20の強度分布が設定される。
【0028】なお、支持部20上の線状部材19が交わ
る箇所にデルリンなどのプラスチックからなる部材を接
着(もしくはネジ止め)して、この複数のデルリンによ
り複数の点で基板Pを支持してもよい。この場合、デル
リンの高さを位置決め部23,24の高さよりも低くし
ておけばよい。
【0029】図4(a)は、搬送ロボットHの搬送ハン
ド12にトレイTが支持されている状態を第2の方向V
2から見た側面図である。図4(a)に示すように、ト
レイTは基板Pを支持していない状態において、支持面
22側が凸となるように撓まされた形状となっている。
そして、トレイTは基板Pを支持した際、図4(b)に
示すように、支持面22を略平面とする。すなわち、支
持面22側を凸とするように予め撓まされていたトレイ
Tは、基板Pを支持することによって下方に撓み、全体
の撓みがキャンセルされて支持面22を略平面とする。
トレイTは、基板Pを支持することにより、少なくとも
第1の方向V1における投影面積(図4符号AR参照)
を小さくされる。すなわち、トレイTは基板Pを支持す
ることにより実質的な厚みを小さくする。
【0030】ここで、基板Pを支持しない状態における
トレイTの撓み量は、基板Pの大きさや重さ、あるいは
形状に応じて、基板Pを支持した際に支持面22に沿う
第1の方向V1における投影面積ARが所定値以下とな
るように、詳しくは支持面22が略平面となるように、
実験あるいは数値計算(有限要素法解析など)で予め求
められている。トレイTはNC工作機械などを用いて加
工できる。
【0031】図2に戻って、露光装置EXのプレートホ
ルダ9の上面には、線状部材19の配置に対応して、上
記支持部20が嵌合する溝部9aが形成されている。溝
部9aの深さは、支持部20が嵌合して沈み込んだとき
に、位置決め部23,24がプレートホルダ9の上面か
ら突出して配設されている。また、このプレートホルダ
9の上面は、基板Pの撓みを除去するように平面度よく
仕上げられている。さらに、プレートホルダ9の上面に
は、基板Pをこの面に倣わせて密着させるための吸気孔
(不図示)がトレイTの複数の開口部21に対応して設
けられている。各吸気孔は、不図示の真空ポンプに接続
されている。
【0032】同様に、搬出入部5のプレートホルダ15
(14)の上面にも、線状部材19の配置に対応して、
上記支持部20が嵌合する溝部5aが形成されている。
この溝部5aの深さも上記溝部9aと同じ深さに設定さ
れている。また、プレートホルダ15の上面にも、基板
Pをこの面に倣わせて密着させるための吸気孔(不図
示)がトレイTの複数の開口部21に対応して設けられ
ている。
【0033】更に、図1に示すように、周辺露光装置E
Sのプレートホルダ16の上面にも、線状部材19の配
置に対応して、上記支持部20が嵌合する溝部16aが
形成されている。この溝部16aの深さも上記溝部9a
と同じ深さに設定されている。また、プレートホルダ1
6の上面にも、基板Pをこの面に倣わせて密着させるた
めの吸気孔(不図示)がトレイTの複数の開口部21に
対応して設けられている。
【0034】次に、上述した構成を有するトレイ(基板
支持装置)Tを用いて基板Pを搬送する方法について説
明する。ここでは、基板PをトレイTに載置し、このト
レイTに載置された基板Pを搬送ロボットHで露光装置
EXに対して搬入及び搬出する手順について説明する。
【0035】感光剤を塗布された基板Pがコータ・デベ
ロッパから露光処理システムSYSの搬入ポート(プレ
ートホルダ)14に搬送される。プレートホルダ14に
は、不図示のトレイライブラリに収容されている複数の
トレイTのうちの1つが、不図示のトレイ用搬送装置に
よって配置されている。トレイTは線状部材19をプレ
ートホルダ14の溝部5aに嵌合させつつ沈み込むよう
にプレートホルダ14に配置されている。ここで、トレ
イTの位置決め部23,24はプレートホルダ14の上
面から突出している。そして、コータ・デベロッパ側の
基板受け渡し装置が、トレイTを配置されているプレー
トホルダ14の上面に感光剤を塗布された基板Pを搬送
する。基板Pはプレートホルダ14の上面から突出して
いる位置決め部23,24に位置決めされつつプレート
ホルダ14の上面に支持される。ここで、基板Pは、プ
レートホルダ14に支持された状態で、露光処理が実施
される温度に調整される。
【0036】続いて、搬送ロボットHのうち、駆動装置
13によりアーム部10を介して搬送ハンド12が駆動
され、トレイTと一体的に温度調整済みの基板Pを保持
する。搬送ハンド12はトレイTの下面を支持しつつ上
昇し、トレイTで支持した基板Pとプレートホルダ14
の上面とを離間させる。ここで、搬送ハンド12は爪部
11により、トレイTの下面のうち第1端部20A及び
第2端部20Bの一部を支持する。
【0037】搬送ロボットHは、基板Pを支持したトレ
イTを上昇させたら、プレートホルダ14上方で一旦停
止する。次いで、トレイTとプレートホルダ14とが離
間した状態で、トレイT及び基板Pの搬送経路中である
搬出入部5に設けられている検出装置30が、制御装置
CONTの制御のもとで基板Pを支持しているトレイT
の形状(撓み量及び撓み方向)及び姿勢を検出する。
【0038】検出装置30は、トレイTの下方に位置す
る高さセンサ32(32a〜32i)によってトレイT
下面の複数位置における高さ方向の位置(高さセンサ3
2a〜32iのそれぞれとトレイTとの距離)を検出す
る。高さセンサ32は送光部と受光部とを備え、高さセ
ンサ32a〜32iのそれぞれの送光部から射出された
検出光はトレイTの下面の複数の位置に照射される。こ
こで、トレイTの第1端部20A及び第2端部20Bの
下面は搬送ハンド12の爪部11によってその一部を支
持されているので、搬送ハンド12で支持されている以
外の部分に検出光を照射することにより、高さセンサ3
2a〜32iのそれぞれはトレイTの高さ方向の位置を
検出することができる。そして、検出光を照射されトレ
イTの下面の複数の位置で発生した光(反射光)は、高
さセンサ32a〜32iのそれぞれの受光部で受光され
る。高さセンサ32a〜32iのそれぞれは受光部での
受光信号に基づいてトレイTの高さ方向における位置を
検出する。
【0039】高さセンサ32a〜32iのそれぞれの検
出信号は演算部31に出力され、演算部31は複数の高
さセンサ32a〜32iのそれぞれの検出結果に基づい
て、基板Pを支持するトレイTの形状(撓み量及び撓み
方向)及び姿勢を求める。検出装置30の演算部31は
トレイTの形状及び姿勢に関する情報を制御装置CON
Tに出力する。なお、高さセンサ32c〜32eだけで
も、搬送ハンド12で基板とともにトレイTを搬送する
際に計測することにより、トレイTの形状及び姿勢の情
報を得ることができる。
【0040】制御装置CONTは、検出装置30の検出
結果に基づいて、基板Pを支持したトレイTの撓み量が
予め設定されている所定値(許容値)を越えたかどうか
を判別する。具体的には、検出装置30の検出結果に基
づいて、制御装置CONTは、トレイTが基板Pを支持
した際に、第1の方向V1における投影面積ARが所定
値を越えたかどうかを判別する。そして、図5(a)に
示すように、プレートホルダ14から離間したトレイT
の支持面22が略平面となって支持部20の第1の方向
V1における投影面積ARが所定値以下であると判断し
たら、制御装置CONTは搬送ロボットHによってこの
トレイTを基板Pごと露光装置EXのプレートホルダ9
に対して搬送する。
【0041】ここで、所定値(許容値)とは、露光装置
EXの投影光学系PLとプレートホルダ9との間の空間
(ワーキングディスタンス)に基板Pを支持したトレイ
Tが円滑に入り込むことができるトレイTの実質的な厚
み(すなわち第1の方向V1における投影面積)に基づ
く値であって、この許容値以下であれば、基板Pを支持
したトレイTは投影光学系PLとプレートホルダ9との
間の空間に円滑に入り込むことができる。つまり、前記
所定値は露光装置EXの投影光学系PLとプレートホル
ダ9との間の距離(すなわちワーキングディスタンス)
に応じて設定される値である。
【0042】一方、図5(b)に示すように、プレート
ホルダ14から離間したトレイTの支持面22が大きく
撓んでおり、支持部20の第1の方向V1における投影
面積ARが所定値以上であると判断したら、制御装置C
ONTは搬送ロボットHによるトレイTの露光装置EX
に対する搬送を行わず、所定の処理を行う。支持部20
の投影面積ARが所定値以上であると判断された際の所
定の処理とは、例えば、制御装置CONTが、搬送ロボ
ットHによる搬送動作を停止する処理である。そして、
この撓み量が異常なトレイ(異常トレイ)Tあるいは基
板Pを露光装置EX外部に取り出すために、搬送ロボッ
トHは異常トレイT及び基板Pを搬出入部5に戻す。そ
して、作業者が搬出入部5にアクセスしてこの異常トレ
イTを取り出す。
【0043】なお、図5(b)では、基板Pを支持して
いるトレイTは支持面22側が凸であるように示されて
いるが、基板Pの重みによって支持面22側が凹となる
場合もある。いずれにせよ、トレイTの第1の方向V1
における投影面積ARが所定値以上であれば、トレイT
は露光装置EXに搬送されない。
【0044】このように、搬送ロボットHは検出装置3
0の検出結果に基づいて搬送動作を制御される。そし
て、制御装置CONTは、基板Pを支持したトレイTの
撓み量が予め設定されている所定値を越えたかどうかを
判別し、この判別した結果に基づいて搬送ロボットHを
制御する。
【0045】また、制御装置CONTは、検出装置30
で検出した撓み量に関する情報に基づいて、搬送ハンド
12の駆動量を可変とするようになっている。つまり、
トレイTは所定値(許容値)以下の撓み量であっても、
大きく撓んでいる場合と小さく撓んでいる場合とがあ
る。制御装置CONTは、トレイTの撓み量が大きい場
合には、例えば搬送ハンド12による搬送速度を遅くし
たり、トレイT(基板P)と露光装置EX内の各装置・
部材等との接触を回避するために搬送ハンド12の位置
(姿勢)を調整したりする。こうすることにより、搬送
ハンド12はトレイT及び基板Pの損傷を防止しつつ搬
送動作を行うことができる。逆に、トレイTの撓みが小
さい場合には、制御装置CONTは、搬送ハンド12に
よる搬送速度を速くして搬送する。こうすることによ
り、搬送ハンド12の処理効率が向上される。このよう
に、検出装置30で検出したトレイTの撓み量に基づい
て、搬送ハンド12の搬送速度及び位置(姿勢)を含む
駆動量を可変とすることにより、トレイT(基板P)の
損傷などの不具合を防止しつつ効率良く搬送動作が行わ
れる。
【0046】支持部20の第1の方向V1における投影
面積ARが所定値以下であると判断されたトレイTは、
搬送ロボットHによって基板Pとともに露光装置EXの
プレートホルダ9に対して搬送される。搬送ロボットH
の搬送ハンド12は、基板Pが露光装置EXのプレート
ホルダ9に対向するように向きを変え、トレイTをプレ
ートホルダ9の上方まで搬送する。このとき、搬送ロボ
ットHは、トレイTの支持部20の格子を構成する各線
状部材19とプレートホルダ9の溝部9aとを対向させ
るように、プレートホルダ9に対する搬送ハンド12の
姿勢及び位置を駆動装置13により補正する。
【0047】ここで、搬送ハンド12でトレイTを露光
装置EXのプレートホルダ9に搬送する際、搬送ハンド
12のプレートホルダ9に対する搬送方向(ワーキング
ディスタンスに対する挿入方向)とトレイTの第1の方
向V1とは一致している。つまり、トレイTの形状は、
基板Pを支持することによって撓んだ際、プレートホル
ダ9に対する搬送方向における投影面積ARが所定値以
下になるように設定されている。トレイTは基板Pを支
持した際、支持面22が略平面になるように予め設定さ
れているので、搬送ハンド12は基板Pを支持したトレ
イTを投影光学系PLとプレートホルダ9との間の空間
に円滑に挿入できる。
【0048】次に、駆動装置13によって、搬送アーム
12が所定量下降駆動され、その結果、支持部20の格
子を構成する各線状部材19がプレートホルダ9の溝部
9aに嵌まり、支持部20がプレートホルダ9の上面よ
り下がり、基板Pがプレートホルダ9の上面に載置され
る。支持部20は溝部9aに沈み込むが、位置決め部2
3,24はプレートホルダ9の上面から突出するので、
基板Pに対する位置決めは維持される。そして、制御装
置CONTにより真空ポンプの吸引が開始され、プレー
トホルダ9にトレイTの複数の開口部21に対応して形
成された各吸気孔を介して基板Pの下面がプレートホル
ダ9に吸着され固定される。
【0049】プレートホルダ9へ基板Pが渡されると、
駆動装置13により搬送ハンド12が駆動され、プレー
トホルダ9から退避する。図6には、この搬送ハンド1
2のプレートホルダ9からの退避が完了した直後の状態
が示されている。なお、この図6は、プレートホルダ9
から基板Pの搬出が開始される直前の状態を示す図でも
ある。
【0050】そして、プレートホルダ9に基板Pが載置
されたら、マスクMは照明系により露光光ELで照明さ
れる。露光光ELで照明されたマスクMのパターンは投
影光学系PLを介してプレートホルダ9の基板Pに投影
露光される。
【0051】次に、露光処理終了後のプレートホルダ9
からの基板Pの搬出動作について説明する。なお、以下
の説明では搬送ハンド12が基板Pの搬出を行うように
説明するが、ダブルハンド構造のうちのもう1つの搬送
ハンドが搬出を行うようにしてもよい。
【0052】露光処理が終了すると、駆動装置13によ
り搬送ハンド12が駆動され、プレートホルダ9上に載
置されたトレイTの下方でプレートホルダ9のX軸方向
両側に搬送ハンド12の2本の爪部11が−Y方向側か
ら挿入される。これと同時に、制御装置CONTにより
真空ポンプによる吸引が解除され、プレートホルダ9に
よる基板Pの吸着が解除される。
【0053】次に、駆動装置13により搬送ハンド12
が所定量上方に駆動されると、搬送ハンド12の爪部1
1によってトレイTの第1端部20A及び第2端部20
Bの下面に当接し、さらに上方に搬送ハンド12が駆動
されると、基板Pを支持するトレイTがプレートホルダ
9の上方に持ち上げられ、支持部20と溝部9aとの嵌
合が解除される。ここで、位置決め部23,24が基板
Pに対する位置決め状態を維持しているので、トレイT
を上方へ移動したときに基板PをトレイTの支持部20
上に円滑に載置することができる。
【0054】この支持部20と溝部9aとの嵌合解除が
完了する位置までトレイTが持ち上げられた時点で、駆
動装置13により搬送ハンド12が駆動され、基板Pを
保持したトレイTがプレートホルダ9上から退避され
る。かくして、露光装置EXに対する基板Pの搬出動作
が完了する。なお、搬送ロボットHによる周辺露光装置
ESのプレートホルダ16に対する基板Pの搬入、搬出
動作は、上記露光装置EXのプレートホルダ9に対する
搬入、搬出と同様の動作で行われる。
【0055】以上説明したように、トレイTは、基板P
を支持する支持面22側を凸となるように予め撓まされ
ているので、基板Pを支持面22で支持した際、基板P
の重みによって支持面22は逆方向に(凹むように)変
形され、例えば略平面となり、実質的な厚みを小さくす
る。したがって、ワーキングディスタンスが狭くでもこ
のワーキングディスタンスに対して基板Pを支持したト
レイTは円滑に挿入され、基板Pは露光装置EXのプレ
ートホルダ9に対して円滑に搬送される。
【0056】そして、支持部20は、基板Pを支持した
際に、少なくとも第1の方向V1における投影面積AR
が、投影光学系PLとプレートホルダ9との間に円滑に
入り込むことができる程度にその撓み量(実質的な厚
み)を予め設定されており、搬送ロボットHは、この第
1の方向V1と露光装置EXのプレートホルダ9に対す
る搬送方向とを一致させた状態でプレートホルダ9に対
してトレイTを搬送するので、搬送ハンド12はトレイ
Tとともに基板Pをプレートホルダ9に円滑に搬送でき
る。
【0057】なお、上記実施形態では、トレイTの撓み
量を検出する検出装置30は、露光処理システムSYS
に対するコータ・デベロッパ(周辺装置)からの搬出入
部5に設けられている構成であるが、例えば、露光装置
EXのプレートホルダ9近傍に検出装置30を設けてお
き、トレイTに支持された基板Pをプレートホルダ9に
対してロードする直前に撓み量の検出が行われるように
してもよい。あるいは、露光装置EXのプレートホルダ
9を包囲するように高さセンサ32を設けておき、トレ
イTに支持された基板Pをプレートホルダ9に対してロ
ードする時に撓み量の検出が行われるようにしてもよ
い。また、搬出入部5とプレートホルダ9近傍とのそれ
ぞれに検出装置30が設けられている構成でもよい。す
なわち、トレイTの撓み量を検出する検出装置30は、
基板Pを支持するトレイTの搬送経路中であれば、設置
位置や設置数は任意でよい。また、上記実施形態では、
検出装置30は複数の高さセンサ32を備え、高さセン
サ32それぞれの検出信号に基づいてトレイTの撓み量
を検出する構成であるが、高さセンサ32の数や位置は
任意でよい。
【0058】更に、検出装置30は、トレイTの側方か
ら撓み量を検出可能な光学式センサであってもよい。こ
の光学式センサは、送光部と、トレイTを挟んで送光部
と反対側に設けられた受光部とを備え、送光部により検
出用ビーム光をトレイTの側方から照射し、トレイTか
ら射出されたビーム光を受光部で検出できたかどうかに
よってトレイTの撓み量が所定値以下であるかどうかを
判別する。例えば、撓み量が所定値以下である場合、送
光部から射出したビーム光はトレイTで遮られて受光部
に受光されず、一方、撓み量が所定値以上であれば、送
光部から射出したビーム光はトレイTを通過して受光部
に受光される。
【0059】また、基板Pを支持したトレイTの撓み量
を検出するために、例えばトレイTの裏面あるいは表面
(支持面22)のいずれかに反射膜を設けておき、この
反射膜に対して送光部より光を照射し、反射膜で発生し
た光(反射光)が、所定の位置に固定されている受光部
に受光されたかどうかによって、基板Pを支持したトレ
イTの撓み量が所定値以下であるかどうかを判別するよ
うにしてもよい。
【0060】また、上記実施形態では、搬出入部5にお
いて搬送ハンド12によりトレイTを基板Pごと持ち上
げ、検出装置30は基板Pを支持している状態のトレイ
Tの撓み量を検出する構成であるが、例えば、搬出入部
5にコータ・デベロッパ側から基板Pが搬送される前
に、搬送ハンド12がトレイTを持ち上げ(このとき基
板PはトレイTに載置されていない)、この搬送ハンド
12に支持されているトレイTを所定の押圧装置により
基板Pの重さ及び大きさに応じた力及び範囲で押圧し、
このときのトレイTの撓み量を検出装置30が検出する
構成としてもよい。あるいは、トレイTに基板Pの重さ
及び大きさと同じダミー基板を載置した状態で検出装置
30がトレイTの撓み量を検出するようにしてもよい。
こうすることにより、コータ・デベロッパ側から基板P
が搬送される前に、トレイライブラリから搬送されたト
レイTが所望の撓み量を有しているかどうかを予め検査
することができる。
【0061】トレイTは基板Pを支持していない状態に
おいて、支持面22側が凸となるように撓んでいればよ
く、上記実施形態に示したように第1の方向V1側に撓
んでいる形状の他に、第2の方向V2側に撓んでいる形
状でもよい。更には、第1の方向V1及び第2の方向V
2のそれぞれに撓んでいて平面視中央部が隆起している
ような形状でもよい。そして、基板Pを支持した状態に
おいて、少なくとも第1の方向V1(露光装置EXのプ
レートホルダ9に対する搬送方向)における投影面積A
Rが所定値以下となるように設定されていることによ
り、トレイTは基板Pを支持した状態でワーキングディ
スタンスに対して円滑に搬送可能となる。
【0062】図7は、本発明のトレイTの第2実施形態
を示す側面図である。ここで、以下の説明において、上
述した第1実施形態と同一あるいは同等の構成部分につ
いては同一の符号を付し、その説明を簡略もしくは省略
する。図7に示すトレイTのうち支持面22と反対側の
面(裏面)25には凹部25aが設けられており、搬送
ハンド12にはトレイTの凹部25aと嵌合する凸部1
2aが設けられている。そして、凹部25aと凸部12
aとを嵌合することにより、搬送ハンド12とトレイT
とは位置決めされる。ここで、トレイTに凸部を設け、
搬送ハンド12に凹部を設けてもよい。このように、ト
レイTに搬送ハンド12に対する位置決め部を設けるこ
とが可能である。
【0063】そして、この凹部25aによって、トレイ
Tの裏面25と支持面(表面)22とが区別できるよう
になっている。このように、位置決め部としての凹部2
5aは、トレイTの支持面22及び裏面25を表示する
表示部としての機能も有する。トレイTに支持面22の
位置を表示する表示部を設けたことにより、例えば作業
者がトレイライブラリや搬出入部5にトレイTを手動で
セットする際、支持面22を正しく上側に向けることが
でき、正確な作業を行うことができる。
【0064】なお、トレイTの支持面22を表示する表
示部としては、例えば支持面22及び裏面25の少なく
ともいずれか一方に貼付されるラベルなどでもよい。ま
た、ラベルの表面に反射膜を設けておけば、このラベル
に検出光を照射することにより、ラベルから発生した光
に基づいて支持面22の位置を光学的に検出できる。更
に、トレイTの支持面22と裏面25とを区別するため
に、トレイTに表示部を設けず、例えば、トレイライブ
ラリと搬出入部5との搬送経路中に、基板Pを支持して
いないトレイTの形状(撓み方向)を検出可能な検出装
置を設けておき、この検出装置の検出結果に基づいて、
トレイTの支持面22(すなわち凸に膨らんでいる側の
面)を判別するようにしてもよい。
【0065】図8は、本発明のトレイTの第3実施形態
を示す図であって、トレイTが搬送ハンド12に支持さ
れている状態を示す斜視図である。図8に示すように、
トレイTは、支持部20の支持面22側に複数の切欠部
40を有している。切欠部40のそれぞれは、トレイT
の第1の方向V1すなわち搬送ハンド12のプレートホ
ルダ9に対する搬送方向に沿って所定間隔で形成されて
いる。このうち、切欠部40が形成されている線状部材
19はCFRP部材によって構成されている。なお、切
欠部40が形成されている線状部材19はCFRP部材
でなくても、前述した各種合成樹脂や金属によって構成
されていてもよい。あるいはトレイTの全部がCFRP
部材によって構成されていてもよい。支持部20の支持
面22側に、第1の方向V1に所定間隔で切欠部40が
形成されていることにより、支持面22は第1の方向V
1に撓むようになっている。そして、支持部20で基板
Pを支持することにより、支持面22は略平面となるよ
うに設定されている。
【0066】このように、CFRP部材のような剛性が
高く、中央部を膨らませるような3次元的立体加工をし
難い部材であっても、支持部20を第1の方向V1に撓
ませるために切欠部40を設けるだけで、トレイTを所
定の方向すなわち第1の方向V1に容易に撓ませること
ができる。
【0067】なお、本実施形態において、切欠部40
は、第1の方向V1に延びる3本の線状部材19のそれ
ぞれに2つずつ形成されている構成であるが、その形成
位置や数は任意に設定可能である。例えば、切欠部40
は、第1の方向V1に延びる線状部材19に加え第2の
方向V2に延びる線状部材19に形成されていてもよ
く、更に、第2の方向V2に所定間隔で形成されていて
もよい。
【0068】図9は、本発明のトレイTの第4実施形態
を示す図であって、搬送ハンド12に支持されている状
態を示す斜視図である。図9に示すように、トレイT
は、基板Pを支持する支持部20と、支持部20のうち
第1の方向V1(搬送ハンド12のプレートホルダ9に
対する搬送方向)の両端に設けられた重り部材50A,
50Bとを有している。重り部材50A,50Bによっ
て、支持部20の支持面22は第1の方向V1に支持面
22側を凸とするように撓んでいる。そして、基板Pを
支持部20で支持することにより、支持面22は略平面
となるように設定されている。なお、搬送ハンド12は
段部12Bを有しており、この段部12Bによって搬送
ハンド12と下方に垂下する重り部材50Aとは干渉せ
ず、重り部材50Aによる支持部20を撓ませる作用は
妨げられないようになっている。
【0069】このように、トレイTのうち支持部20の
第1の方向V1外側に重り部材50A,50Bを設ける
ことによっても、トレイTの支持部20の形状は、支持
面22側が凸となるように撓ませることができる。
【0070】なお、本実施形態において、重り部材50
A,50Bのそれぞれは、支持部20の第1の方向V1
両端に一様に配置される構成であるが、例えば矩形状の
支持部20の隅部のみに重り部材を設ける構成とするこ
ともできる。こうすることにより、支持部20は、平面
視中央部が隆起するように撓まされる。また、重り部材
の設置位置は支持部20の第1の方向V1の端部に限ら
ず、第2の方向V2の端部に設けてもよい。このよう
に、重り部材の設置位置や重さによって、支持部20の
撓み量や撓み方向を任意に設定できる。
【0071】また、支持部20の一部にガイド部を形成
しておき、このガイド部に沿って重り部材50A,50
Bが第1の方向V1に移動可能に、すなわち伸縮するよ
うにしてもよい。こうすることにより、重り部材の位置
を調整するだけで支持部20の撓み量を調整することが
できる。もちろん、重り部材を第2の方向V2に移動可
能に設けてもよい。
【0072】図10及び図11は本発明のトレイTの第
5実施形態を示す図であって、図10は、搬送ハンド1
2に支持されている状態を示す斜視図、図11は図10
のA−A矢視図である。
【0073】図10において、トレイTの支持部20
は、支持面22の撓み量を検出する検出部60を備えて
いる。本実施形態において検出部60は複数の歪ゲージ
によって構成されている。複数の歪ゲージ(検出部)6
0は支持部20のうち線状部材19の側面の複数箇所に
それぞれ設けられている。歪ゲージ60は支持面22の
撓み量に応じた検出信号を出力する。
【0074】また、図11に示すように、トレイTの支
持部20は、歪ゲージ60からの出力信号を外部に送信
する信号送信部61を備えている。そして、搬送ハンド
12には、トレイTの信号送信部61からの信号を受信
する受信部62が設けられている。受信部62は検出装
置30としての演算部31に接続されている。信号送信
部61及び受信部62は電気接点であり、複数の歪ゲー
ジ60からのそれぞれの検出信号は信号送信部61及び
受信部62を介して演算部31に出力される。演算部3
1は複数の歪ゲージ60からの出力信号に基づいて、支
持面22の撓み量及び撓み方向を求めることができる。
【0075】そして、演算部31で求めた支持面22の
撓み量及び撓み方向の情報は、第1実施形態同様、制御
装置CONTに出力される。制御装置(制御部)CON
Tは、検出装置30である演算部31の検出結果に基づ
いて、搬送ロボットHを制御する。制御装置CONT
は、受信部62で受信した信号に基づく撓み量の情報に
基づいて、第1実施形態同様、搬送ハンド12の駆動量
(搬送速度及び位置)を調整しつつ、基板Pとともにト
レイTを搬送する。
【0076】このように、トレイTにトレイTの撓み量
を検出する歪ゲージ60を設けることもできる。そし
て、搬送ハンド12に歪ゲージ60からの出力信号を信
号送信部61を介して受信可能な受信部62を設けるこ
とにより、制御装置CONTは、搬送ハンド12の搬送
動作中において常時(あるいは周期的に)トレイTの撓
み量に関する情報を得ることができる。したがって、搬
送中において、例えば撓み量が小さい場合には搬送ハン
ド12による搬送速度を速くするといった制御が可能と
なり、また、搬送速度を速くした結果、撓み量が大きく
なってしまった場合には、搬送速度を遅くするといった
制御も可能となる。このように、トレイTに歪ゲージ6
0を設け、搬送中における撓み量をモニターするように
したので、制御装置CONTは搬送ハンド12の駆動量
を可変とし、トレイTの撓み量に応じた最適な搬送動作
(搬送速度や位置)を得ることができる。
【0077】なお、上記実施形態の基板としては、液晶
表示デバイス用のガラス基板のみならず、半導体デバイ
ス用の半導体ウエハや、薄膜磁気ヘッド用のセラミック
ウエハ、あるいは露光装置EXで用いられるマスク等が
適用される。
【0078】露光装置EXとしては、マスクMと基板P
とを同期移動してマスクMのパターンを走査露光するス
テップ・アンド・スキャン方式の走査型露光装置(スキ
ャニング・ステッパー;USP5,473,410)の他に、マスク
Mと基板Pとを静止した状態でマスクMのパターンを露
光し、基板Pを順次ステップ移動させるステップ・アン
ド・リピート方式の投影露光装置(ステッパー)にも適
用することができる。
【0079】露光装置EXの種類としては、基板Pに液
晶表示デバイスパターンを露光する液晶表示デバイス製
造用の露光装置に限られず、ウエハに半導体デバイスパ
ターンを露光する半導体デバイス製造用の露光装置や、
薄膜磁気ヘッド、撮像素子(CCD)あるいはレチクル
などを製造するための露光装置などにも広く適用でき
る。
【0080】また、露光用照明光ELの光源として、超
高圧水銀ランプから発生する輝線(g線(436n
m)、h線(404.7nm)、i線(365n
m))、KrFエキシマレーザ(248nm)、ArF
エキシマレーザ(193nm)、F2レーザ(157n
m)のみならず、X線や電子線などの荷電粒子線を用い
ることができる。例えば、電子線を用いる場合には電子
銃として、熱電子放射型のランタンヘキサボライト(L
aB6)、タンタル(Ta)を用いることができる。さ
らに、電子線を用いる場合は、マスクMを用いる構成と
してもよいし、マスクMを用いずに直接基板上にパター
ンを形成する構成としてもよい。また、YAGレーザや
半導体レーザ等の高周波などを用いてもよい。
【0081】投影光学系PLの倍率は、等倍系のみなら
ず縮小系および拡大系のいずれでもよい。また、投影光
学系PLとしては、エキシマレーザなどの遠紫外線を用
いる場合は硝材として石英や蛍石などの遠紫外線を透過
する材料を用い、F2レーザやX線を用いる場合は反射
屈折系または屈折系の光学系にし(マスクMも反射型タ
イプのものを用いる)、また電子線を用いる場合には光
学系として電子レンズおよび偏向器からなる電子光学系
を用いればよい。なお、電子線が通過する光路は、真空
状態にすることはいうまでもない。また、投影光学系P
Lを用いることなく、マスクMと基板Pとを密接させて
マスクMのパターンを露光するプロキシミティ露光装置
にも適用可能である。
【0082】プレートホルダやマスクステージにリニア
モータ(USP5,623,853またはUSP5,528,118参照)を用い
る場合は、エアベアリングを用いたエア浮上型およびロ
ーレンツ力またはリアクタンス力を用いた磁気浮上型の
どちらを用いてもよい。また、プレートホルダやマスク
ステージは、ガイドに沿って移動するタイプでもよく、
ガイドを設けないガイドレスタイプであってもよい。
【0083】プレートホルダやマスクステージの駆動機
構としては、二次元に磁石を配置した磁石ユニット(永
久磁石)と、二次元にコイルを配置した電機子ユニット
とを対向させ電磁力によりプレートホルダやマスクステ
ージを駆動する平面モータを用いてもよい。この場合、
磁石ユニットと電機子ユニットとのいずれか一方をプレ
ートホルダやマスクステージに接続し、磁石ユニットと
電機子ユニットとの他方をプレートホルダやマスクステ
ージの移動面側(ベース)に設ければよい。
【0084】プレートホルダの移動により発生する反力
は、投影光学系PLに伝わらないように、特開平8−1
66475号公報(USP5,528,118)に記載されているよ
うに、フレーム部材を用いて機械的に床(大地)に逃が
してもよい。本発明はこのような構造を備えた露光装置
においても適用可能である。マスクステージの移動によ
り発生する反力は、投影光学系PLに伝わらないよう
に、特開平8−330224号公報(US S/N 08/416,55
8)に記載されているように、フレーム部材を用いて機
械的に床(大地)に逃がしてもよい。本発明はこのよう
な構造を備えた露光装置においても適用可能である。
【0085】以上のように、本願実施形態の露光処理シ
ステムSYS及び露光装置EXは、本願特許請求の範囲
に挙げられた各構成要素を含む各種サブシステムを、所
定の機械的精度、電気的精度、光学的精度を保つよう
に、組み立てることで製造される。これら各種精度を確
保するために、この組み立ての前後には、各種光学系に
ついては光学的精度を達成するための調整、各種機械系
については機械的精度を達成するための調整、各種電気
系については電気的精度を達成するための調整が行われ
る。各種サブシステムから露光装置への組み立て工程
は、各種サブシステム相互の、機械的接続、電気回路の
配線接続、気圧回路の配管接続等が含まれる。この各種
サブシステムから露光装置への組み立て工程の前に、各
サブシステム個々の組み立て工程があることはいうまで
もない。各種サブシステムの露光装置への組み立て工程
が終了したら、総合調整が行われ、露光装置全体として
の各種精度が確保される。なお、露光装置の製造は温度
およびクリーン度等が管理されたクリーンルームで行う
ことが望ましい。
【0086】液晶表示デバイスや半導体デバイス等のデ
バイスは、図12に示すように、デバイスの機能・性能
設計を行うステップ201、この設計ステップに基づい
たマスクM(レチクル)を製作するステップ202、デ
バイスの基材である基板(ウエハ、ガラスプレート)を
製造するステップ203、前述した実施形態の露光装置
EXによりマスクMのパターンを基板Pに露光する基板
処理ステップ204、デバイス組み立てステップ(ダイ
シング工程、ボンディング工程、パッケージ工程を含
む)205、検査ステップ206等を経て製造される。
【0087】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1記載の基
板支持装置によれば、基板を支持する支持面側が凸とな
るように予め撓ませたので、基板を支持面で支持した
際、基板の重みによって凹むように変形され、実質的な
厚みを小さくされた状態となる。したがって、基板が大
型化してもこの基板を安定して支持しながら、基板を損
傷させることなく狭い空間に対しても円滑に搬送できる
という効果が得られる。
【0088】請求項2記載の基板支持装置によれば、支
持部はCFRP部材を含む構成なので、基板を支持する
のに十分な強度を維持しつつ所望の可撓性を得られると
いう効果が得られる。
【0089】請求項3記載の基板支持装置によれば、支
持面を予め所定の方向に撓ませるため支持面側に切欠部
を設けたので、3次元的立体加工をし難い部材であって
も、所定の方向に容易に撓ませることができるという効
果が得られる。
【0090】請求項4,5記載の基板支持装置によれ
ば、基板を支持した際に、支持面に沿う少なくとも第1
の方向における投影面積が、所定値以下となるように設
定されているので、基板を支持した状態で所定の方向を
搬送方向に一致させた状態で搬送されることにより、狭
い空間に対しても円滑に搬送されるという効果が得られ
る。
【0091】請求項6,7記載の基板支持装置によれ
ば、支持面の撓み量を検出する検出部を備えるととも
に、検出部を外部に送信する信号送信部を備えた構成な
ので、撓み量をモニターしつつ基板を支持することがで
きるという効果が得られる。
【0092】請求項8記載の搬送装置によれば、本発明
の基板支持装置を搬送する搬送ハンドを備えた構成なの
で、実質的な厚みを抑えつつ基板支持装置で基板を搬送
できる。したがって、狭い空間に対しても基板を損傷す
ることなく円滑に搬送できるという効果が得られる。
【0093】請求項9,10記載の搬送装置によれば、
基板支持装置に設けられた信号送信部からの信号を受信
する受信部を備えた構成なので、受信部の受信信号に基
づいて基板支持装置の撓み量に関する情報をモニターす
ることができる。そして、受信部で受信した撓み量に関
する情報に基づいて、搬送ハンドの駆動量が可変とされ
る構成なので、搬送中において、例えば基板支持装置の
撓み量が十分に小さい場合には搬送ハンドによる搬送速
度を速くすることができるなど、モニターした情報に基
づいて、所望の撓み量を維持しつつ搬送効率を向上で
き、最適な搬送動作を行うことができるという効果が得
られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板支持装置を搬送する搬送装置を含
む基板処理システムを示す断面平面図である。
【図2】本発明の基板支持装置を搬送する搬送装置の外
観斜視図である。
【図3】本発明の基板支持装置の第1実施形態を示す図
であって、(a)は平面図、(b)は(a)の側面図で
ある。
【図4】搬送ハンドに支持された基板支持装置を示す図
であって、(a)は基板支持装置が基板を支持していな
い状態を示す図、(b)は基板支持装置が基板を支持し
ている状態を示す図である。
【図5】基板支持装置の撓み量を検出する検出装置を説
明するための側面図である。
【図6】基板支持装置で支持された基板が搬送ハンドに
よって搬送される様子を示す斜視図である。
【図7】本発明の基板支持装置の第2実施形態を示す図
であって、搬送ハンドに支持された状態を示す側面図で
ある。
【図8】本発明の基板支持装置の第3実施形態を示す図
であって、搬送ハンドに支持された状態を示す斜視図で
ある。
【図9】本発明の基板支持装置の第4実施形態を示す図
であって、搬送ハンドに支持された状態を示す斜視図で
ある。
【図10】本発明の基板支持装置の第5実施形態を示す
図であって、搬送ハンドに支持された状態を示す斜視図
である。
【図11】図10のA−A矢視図である。
【図12】デバイス製造工程の一例を示すフローチャー
ト図である。
【符号の説明】
12 搬送ハンド 20 支持部 22 支持面 40 切欠部 60 歪ゲージ(検出部) 61 信号送信部 62 受信部 CONT 制御装置(制御部) H 搬送ロボット(搬送装置) P 基板 T トレイ(基板支持装置) V1 第1の方向
フロントページの続き Fターム(参考) 2H088 FA17 FA28 FA30 MA20 3C007 AS05 AS24 BS15 CV07 CW07 DS01 ES17 KS06 KS07 KS36 KV04 KV11 KX19 LU01 MT02 MT04 MT09 NS09 5F031 CA02 CA05 FA01 FA02 FA07 FA15 GA38 GA43 GA47 GA49 GA50 HA13 HA53 JA01 JA05 JA06 JA07 JA21 JA32 JA45 JA51 KA03 KA06 KA11 MA24 MA26 MA27 MA33 PA02 PA08 PA10 5F046 CD01 CD05 CD06

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板を支持する基板支持装置において、 前記基板を支持する支持面を有する支持部を備え、 前記支持部の形状は、前記基板を支持する前記支持面側
    が凸となるように予め撓ませたことを特徴とする基板支
    持装置。
  2. 【請求項2】 前記支持部は、CFRP部材を含む構成
    であることを特徴とする請求項1記載の基板支持装置。
  3. 【請求項3】 前記CFRP部材は、前記支持面を予め
    所定の方向に撓ませるため前記支持部の前記支持面側に
    切欠部を有することを特徴とする請求項2記載の基板支
    持装置。
  4. 【請求項4】 前記支持部は、前記基板を支持した際
    に、該支持面に沿う少なくとも第1の方向における投影
    面積が所定値以下となるように設定されていることを特
    徴とする請求項1〜3のいずれか一項記載の基板支持装
    置。
  5. 【請求項5】 前記支持面は、前記基板を支持した際
    に、該支持面が略平面となることを特徴とする請求項4
    記載の基板支持装置。
  6. 【請求項6】 前記支持部は、前記支持面の撓み量を検
    出する検出部を備えたことを特徴とする請求項1〜5の
    いずれか一項記載の基板支持装置。
  7. 【請求項7】 前記支持部は、前記検出部で検出した撓
    み量を外部に送信する信号送信部を備えたことを特徴と
    する請求項6記載の基板支持装置。
  8. 【請求項8】 請求項1記載の基板支持装置を搬送する
    搬送ハンドを備えたことを特徴とする搬送装置。
  9. 【請求項9】 請求項7記載の基板支持装置を搬送する
    搬送ハンドと、 前記基板支持装置に設けられた前記信号送信部からの信
    号を受信する受信部とを備えたことを特徴とする搬送装
    置。
  10. 【請求項10】 前記搬送ハンドの駆動を制御する制御
    部を備え、 前記制御部は、前記受信部で受信した前記撓み量に基づ
    いて、前記搬送ハンドの駆動量を可変とすることを特徴
    とする請求項9記載の搬送装置。
JP2002052274A 2002-02-27 2002-02-27 基板支持装置及びそれを用いた搬送装置 Pending JP2003258078A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002052274A JP2003258078A (ja) 2002-02-27 2002-02-27 基板支持装置及びそれを用いた搬送装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2002052274A JP2003258078A (ja) 2002-02-27 2002-02-27 基板支持装置及びそれを用いた搬送装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2003258078A true JP2003258078A (ja) 2003-09-12

Family

ID=28664021

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002052274A Pending JP2003258078A (ja) 2002-02-27 2002-02-27 基板支持装置及びそれを用いた搬送装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2003258078A (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005208319A (ja) * 2004-01-22 2005-08-04 Sharp Corp 液晶表示装置
JP2005243809A (ja) * 2004-02-25 2005-09-08 Canon Inc 露光装置、および該露光装置に好適に用いられる駆動手段
JP2006123209A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Nippon Steel Composite Co Ltd 精密機器用複合構造材、精密機器用複合構造材の製造方法及び精密機器用部品
JP2006269867A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Canon Inc 露光装置
JP2006267802A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Dainippon Printing Co Ltd 露光装置および露光方法
JP2008004647A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Canon Inc 位置決め装置、露光装置及びデバイスの製造方法
WO2009147769A1 (ja) * 2008-06-06 2009-12-10 シャープ株式会社 表示装置の製造方法及び表示装置
JP2009295682A (ja) * 2008-06-03 2009-12-17 Mitsubishi Materials Techno Corp ガラス板のハンドリング装置
JP2011097043A (ja) * 2009-09-30 2011-05-12 Kyocera Corp 吸着用部材およびこれを用いた吸着装置、並びに光照射装置および荷電粒子線装置
JP2011097044A (ja) * 2009-09-30 2011-05-12 Kyocera Corp 吸着用部材およびこれを用いた吸着装置、並びに光照射装置および荷電粒子線装置
KR101232610B1 (ko) * 2010-05-19 2013-02-13 삼성전자주식회사 기판 처리장치

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005208319A (ja) * 2004-01-22 2005-08-04 Sharp Corp 液晶表示装置
JP2005243809A (ja) * 2004-02-25 2005-09-08 Canon Inc 露光装置、および該露光装置に好適に用いられる駆動手段
JP2006123209A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Nippon Steel Composite Co Ltd 精密機器用複合構造材、精密機器用複合構造材の製造方法及び精密機器用部品
JP2006269867A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Canon Inc 露光装置
JP2006267802A (ja) * 2005-03-25 2006-10-05 Dainippon Printing Co Ltd 露光装置および露光方法
JP2008004647A (ja) * 2006-06-20 2008-01-10 Canon Inc 位置決め装置、露光装置及びデバイスの製造方法
JP2009295682A (ja) * 2008-06-03 2009-12-17 Mitsubishi Materials Techno Corp ガラス板のハンドリング装置
WO2009147769A1 (ja) * 2008-06-06 2009-12-10 シャープ株式会社 表示装置の製造方法及び表示装置
US8582072B2 (en) 2008-06-06 2013-11-12 Sharp Kabushiki Kaisha Method for manufacturing display device and display device
JP2011097043A (ja) * 2009-09-30 2011-05-12 Kyocera Corp 吸着用部材およびこれを用いた吸着装置、並びに光照射装置および荷電粒子線装置
JP2011097044A (ja) * 2009-09-30 2011-05-12 Kyocera Corp 吸着用部材およびこれを用いた吸着装置、並びに光照射装置および荷電粒子線装置
KR101232610B1 (ko) * 2010-05-19 2013-02-13 삼성전자주식회사 기판 처리장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP7758139B2 (ja) 搬送システム、露光装置、及び搬送方法
CN113608418B (zh) 测量系统及基板处理系统、及元件制造方法
TWI913199B (zh) 測量系統、測量方法及曝光方法
TWI480709B (zh) 物體交換方法、曝光方法、搬送系統及曝光裝置、以及元件製造方法
US9865494B2 (en) Substrate holding method, substrate holding apparatus, exposure apparatus and exposure method
KR102746062B1 (ko) 기판 유지 장치, 노광 장치 및 디바이스 제조 방법
JP5469852B2 (ja) 搬送装置、搬送方法、露光装置、露光方法、及びデバイス製造方法
JP6245308B2 (ja) 基板搬送方法、デバイス製造方法、基板搬送装置および露光装置
KR20140119715A (ko) 플렉시블 기판을 로드하는 장치 및 리소그래피 장치
JP2004273702A (ja) 搬送装置及び搬送方法、露光装置
JP2013506973A (ja) 露光装置及びデバイス製造方法
TW201723675A (zh) 曝光裝置、曝光方法、平面顯示器之製造方法、及元件製造方法
JP2003258078A (ja) 基板支持装置及びそれを用いた搬送装置
JP2004001924A (ja) 搬送装置及び露光装置
JP2005044882A (ja) 搬送装置及び露光装置
KR100825691B1 (ko) 기판지지장치 및 기판처리장치
WO2007046430A1 (ja) 物体の搬出入方法及び搬出入装置、露光方法及び露光装置、並びにデバイス製造方法
JP2000031250A (ja) 搬送装置及び搬送方法
JP2004163366A (ja) 計測方法、基板保持方法、基板保持装置及び露光装置
JP2001332600A (ja) 搬送方法、露光装置
JP2005026446A (ja) 基板搬送装置、露光装置、基板計測装置及び基板搬送方法
JP2002367888A (ja) 露光装置、基板収納装置、デバイス製造システム
JPWO2006070748A1 (ja) メンテナンス方法、露光装置、メンテナンス部材
JPH11145048A (ja) 露光装置
JP2010267807A (ja) 基板保持装置、ステージ装置、露光装置、及びデバイス製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050228

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20071114

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071116

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20080311