JP2005137002A - 通過帯域幅の制御が可能なスタック形バルク音響共鳴器用帯域フィルタ - Google Patents

通過帯域幅の制御が可能なスタック形バルク音響共鳴器用帯域フィルタ Download PDF

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Abstract

【課題】 低挿入損失で、帯域外除去に優れた帯域フィルタを提供する。
【解決手段】 スタック状の対をなす膜状バルク音響共鳴器(FBAR)とFBAR間の音響デカップラを備えた帯域フィルタが得られる。FBARには、それぞれ、向かい合った平面電極と、電極間の圧電材料層が含まれている。音響デカップラは、FBAR間の音響エネルギの結合を制御する。すなわち、音響デカップラによって結合されるFBAR間の音響エネルギは、典型的なSBARにおけるような、FBAR間の直接接触によって結合される音響エネルギよりも少なくなる。音響結合が低減すると、低挿入損失で、その通過帯域における周波数応答がフラットであり、通過帯域幅が、中心周波数の約3%〜約5%の範囲内にあり、帯域外除去に優れるといった望ましい特性が、帯域フィルタに与えられる。
【選択図】図5B

Description

この発明は、音響共鳴器(acoustic resonator)用の帯域フィルタに関する。
電気帯域フィルタは、多種多様なタイプの消費者用及び工業電子製品において、ある周波数範囲内における電気信号の選択または除去に利用されている。近年、こうした製品の物理的サイズが、大幅に縮小される傾向にあるが、製品の回路の複雑性は増す傾向にある。従って、大幅に小型化された、高性能の帯域フィルタが要求されている。こうした帯域フィルタが特に要求されるのは、アンテナが、2つの帯域フィルタを含む送受切換え器を介して送信機の出力及び受信機の入力に接続されている、携帯電話である。
最新の携帯電話には、帯域フィルタのそれぞれに、その各構成要素が膜状バルク音響共鳴器(FBAR、Film Bulk Acoustic Resonator)である梯子型回路が含まれる、送受切換え器が組み込まれている。本開示の譲受人に譲渡され、参考までに本開示において援用されている先行技術文献(例えば、特許文献1参照)に、こうした送受切換え器が開示されている。こうした送受切換え器は、送信器の出力とアンテナの間に直列に接続された送信機帯域フィルタと、アンテナと受信機の入力の間にある90°移相器に直列に接続された受信機帯域フィルタから構成されている。送信機帯域フィルタと受信機帯域フィルタの通過帯域の中心周波数は、互いにオフセットしている。
図1には、送受切換え器の送信機帯域フィルタとして用いるのに適したFBARベースの帯域フィルタ10の具体例が示されている。送信機帯域フィルタは、梯子型回路に接続された直列FBAR12と並列FBAR14から構成されている。直列FBAR12は、共振周波数が並列FBAR14よりも高い。
現在では本件の出願人に譲渡され、参考までに本開示において援用されている先行技術文献(例えば、特許文献2参照)には、FBARの開示がある。図2には、FBARの典型的な実施態様20が示されている。FBAR20は、1対の電極24及び26と、電極間に挟まれた圧電材料層22から構成されている。圧電材料及び電極は、基板30に形成されたキャビティ28上に吊るされている。このFBARを吊るすやり方によって、電極間に印加された電気信号に応答して、FBARを機械的に共振させることが可能になる。FBARの機械的共振を可能にする他の吊り下げ方式も可能である。
上述の特許文献2には、スタック形薄膜音響共鳴器(SBAR、Stacked Thin-Film Bulk Resonator)も開示されている。図3には、特許文献2に開示のSBARの典型的な実施態様40が示されている。SBAR40は、3つの電極24、26、44と交互配置された2つの圧電材料層22、42から構成されている。電極44と26の間に入力電気信号が加えられ、電極24と26の間に出力電気信号が生じる。中央電極26は、入力と出力の両方に対して共通である。
特許文献2に開示のSBARは、固有の帯域通過特性を備えているので、帯域フィルタとしての利用が有望であるとみなされた。しかし、SBARの実際例は、極めて狭い通過帯域幅を示し、このため、SBARは、上述の携帯電話の送受切換え器用途を含む、大部分の帯域フィルタ用途において利用に適さないことになる。図3に示すSBAR40の実際例の周波数応答(曲線46)と図1に示すFBARベースの梯子型帯域フィルタの実際例の周波数応答(曲線48)を比較した図4において、SBARの狭い通過帯域幅を確かめることが可能である。また、図4に示すように、図1に示す梯子型フィルタの周波数応答は、通過帯域外で急激に低下するのが有利であるが、中心周波数からの周波数差がさらに増大すると、周波数応答が再び上昇するのが望ましくない。
米国特許第6,262,637号明細書 米国特許第5,587,620号明細書
低挿入損失で、その通過帯域における周波数応答がフラットであり、通過帯域幅が、およそ0.5GHz〜約10GHzの任意の箇所にある中心周波数の約3%〜約5%の範囲内にあり、帯域外除去に優れた帯域フィルタが求められている。また、SBARの構造が単純なこうした帯域フィルタが求められている。
本発明によれば、第1の態様において、スタック状の対をなす膜状バルク音響共鳴器(FBAR)とFBAR間の音響デカップラを備えた帯域フィルタが得られる。FBARには、それぞれ、向かい合った平面電極と、電極間の圧電材料層が含まれている。音響デカップラは、FBAR間の音響エネルギの結合を制御する。すなわち、音響デカップラによって結合されるFBAR間の音響エネルギは、図3に示す典型的なSBARにおけるような、FBAR間の直接接触によって結合される音響エネルギよりも少なくなる。音響結合が低減すると、低挿入損失で、その通過帯域における周波数応答がフラットであり、通過帯域幅が、中心周波数の約3%〜約5%の範囲内にあり、帯域外除去に優れるといった望ましい特性が、帯域フィルタに与えられる。
実施態様の1つでは、音響デカップラに、音響インピーダンスがFBARの他の材料に比べて小さい音響デカップリング材料の層が含まれている。もう1つの実施態様では、音響デカップラに、ブラッグ構造が含まれている。
本発明によれば、もう1つの態様において、中心周波数によって特性が決まる帯域フィルタが得られる。帯域フィルタは、スタック対をなす膜状バルク音響共鳴器(FBAR)と、FBAR間の音響デカップリング材層を備えている。FBARは、それぞれ、向かい合った平面電極と、電極間の圧電材料層を備えている。音響デカップリング材料層は、周波数が中心周波数に等しい周波数の音波の、音響デカップリング材料内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい公称厚さを備えている。音響デカップリング材料は、音響インピーダンスが圧電材料の音響インピーダンスよりも低い。
本発明によれば、もう1つの実施態様において、電気的濾波方法が得られる。この方法では、1対の膜状バルク音響共鳴器(FBAR)が得られる。FBARの一方には、入力電気信号が加えられる。FBAR間において音響エネルギが結合される。結合される音響エネルギは、FBAR間の直接接触によって結合される音響エネルギより少ない。濾波出力電気信号が、FBARのもう一方から出力される。
本発明によれば、最後の実施態様において、音響結合素子の制作方法が得られる。この方法では、第1の膜状バルク音響共鳴器(FBAR)が製作され、第1のFBAR上に、音響デカップラが製作される。第2のFBARは、音響デカップラ上に製作される。音響デカップラ上に第2のFBARを製作するには、音響デカップラを最高温度にさらすことが必要になる。第2のFBARの製作に先立って、第1のFBARと音響デカップラが、最高温度以上の温度でベーキングを施される。これによって、第2のFBARと音響デカップラとの確実な結合が保証される。
図3に示すSBARは、一方がもう一方の上にスタックされた、2つのFBARから構成されるものとみなすことが可能である。FBARの一方は、電極24と26の間に挟まれた圧電層22から構成されている。FBARのもう一方は、電極26と44の間に挟まれた圧電層42から構成されている。両方のFBARに共通の電極26は、FBAR間における音響エネルギの密結合を可能にする。この結果、FBARが音響的に極めて過剰に結合されるので、SBAR40は図4の曲線46に例示された単一ローレンツ共振を示すことになる。単一ローレンツ共振は、広い通過帯域、フラットな帯域内周波数応答、通過帯域外における急激なロール・オフといった望ましい特性を備える帯域フィルタの設計を困難または不可能にする。
図5Aは、本発明による帯域フィルタの典型的な実施態様100の構造を示す概略図である。図5Bは、図5Aの断面線5B−5Bに沿った断面図である。帯域フィルタ100は、スタック対をなす膜状バルク音響共鳴器(FBAR)110及び120から構成されている。図示の例の場合、FBAR110の上に、FBAR120がスタックされている。FBAR110は、向かい合った平面電極112及び114と、電極間の圧電材料層116から構成されている。FBAR120は、向かい合った平面電極122及び124と、電極間の圧電材料層126から構成されている。帯域フィルタ100は、さらに、FBAR110と120の間、とりわけ、電極114と122の間にある音響デカップラ130から構成されている。音響デカップラは、FBAR110と120の間における音響エネルギの結合を制御する。すなわち、音響デカップラによって結合されるFBAR間の音響エネルギは、図3に示す典型的なSBARにおけるような、FBAR間の直接接触によって結合される音響エネルギよりも少なくなる。
図示の例の場合、スタック形FBAR110及び120は、基板102に形成されたキャビティ104上に吊るされている。このスタック形FBARを吊るすやり方によって、その一方の電極間に印加された入力電気信号に応答して、スタック形FBARを機械的に共振させることが可能になる。入力電気信号に応答して、スタック形FBARの機械的共振を可能にする他の吊り下げ方式も可能である。例えば、スタック形FBARは、その開示が参考までに本開示において援用されている、米国特許文献第6,107,721号明細書において開示されているように、基板102内または上に形成された不整合音響ブラッグ・リフレクタ(不図示)の上に配置することも可能である。
上述のように、音響デカップラ130は、FBAR110と120との間における音響結合を制御する。音響デカップラ130によって得られる音響結合は、図3に示すSBAR実施態様におけるFBAR間の音響結合よりも大幅に少ない。結果として、FBAR110及び120が、過剰結合することはなく、帯域フィルタ100は、図4(曲線46)に示す過剰結合する従来のSBARの単一ローレンツ共振とは異なり、比較的通過帯域が広く、帯域内周波数応答がフラットで、通過帯域外におけるロール・オフが急激になる。帯域フィルタ100の周波数応答が、さらに図6に関連して、以下に述べられる。
図5Cは、音響デカップラ130の第1の実施態様の拡大図である。音響デカップラが、それぞれ、FBAR110及び120の電極114と122の間に配置された、音響デカップリング材料の層131から構成されている(図5B)。音響デカップリング材料層131は、周波数が帯域フィルタ100の中心周波数に等しい音波の、音響デカップリング材料内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい公称厚さを備えている。音響デカップリング材料は、音響インピーダンスが、FBAR110、120を構成する圧電材料よりも低い。さらに、入力と出力間に電気的アイソレーションを施す帯域フィルタ100の実施態様では、音響デカップリング材料は、さらに、電気抵抗率が高く、誘電率が低い。
上述のように、音響デカップラ130の音響デカップリング材料は、音響インピーダンスがFBAR110及び120の圧電材料よりも低い。また、音響デカップリング材料は、音響インピーダンスが空気よりもかなり高い。ある材料の音響インピーダンスは、その材料内における応力対粒子速度の比であり、raylと略記されるレイリー単位で測定される。FBARの層116、216の圧電材料は、一般に窒化アルミニウム(AlN)である。AlNの音響インピーダンスは、一般に、約35Mraylであり、典型的な電極材料であるモリブデンの音響インピーダンスは、約63Mraylである。空気の音響インピーダンスは、約1kraylである。FBAR110、120の材料が上述のとおりである帯域フィルタ100の実施態様の場合、音響インピーダンスが約2Mrayl〜約16Mraylの範囲内の材料が、層131の音響デカップリング材料としてうまく機能する。
図6には、帯域フィルタ100について計算された周波数応答が、音響デカップラ130の実施態様を構成する層131の音響デカップリング材料の音響インピーダンスにどれほど左右されるかを示すグラフである。例示の実施態様は、中心周波数が約1,900MHzである。音響デカップラの音響デカップリング材料の音響インピーダンスが、約4Mrayl、たとえばポリイミド、(曲線140)、8Mrayl(曲線142)、及び、16Mrayl(曲線144)である実施態様について計算された周波数応答が示されている。明らかに、帯域フィルタの通過帯域幅は、音響デカップリング材料の音響インピーダンスが増すにつれて広くなる。従って、音響デカップリング材料を適切に選択することによって、所望の通過帯域特性を備えた帯域フィルタ100の実施態様を製作することが可能になる。
層131の音響デカップリング材料がポリイミド(曲線140)である実施態様は、FBAR110、120間において音響エネルギのやや不足気味の結合を示すが、それにもかかわらず、通過帯域幅は有効である。音響デカップリング材料の音響インピーダンスが約8Mrayl(曲線142)の実施態様は、FBAR110、120間において音響エネルギのほぼ臨界結合を示す。音響デカップリング材料の音響インピーダンスが約16Mrayl(曲線144)である実施態様は、FBAR110、120間における音響エネルギのかなりの過剰結合に特有の二重ピークを帯域内応答において示すことになる。音響デカップリング材料の音響インピーダンスが4Mraylと8Mraylの中間である実施態様は、FBAR110、120間における音響エネルギの臨界結合を表わしたフラットな部分を含む帯域内応答を示す。さらに、図6に示すように、音響デカップリング材料の音響インピーダンスが8Mrayl以下の実施態様は、挿入損失が3dB未満であり、実施態様によっては、挿入損失が1dB未満のものもある。
図5Cに示す音響デカップラ130の実施態様は、周波数が帯域フィルタの中心周波数に等しい音波の、音響デカップリング材料内における波長の4分の1に等しい、すなわち、t≒λn/4の公称厚さを有する音響デカップリング材料の層131から構成されており、ここで、tは層131の厚さであり、λnは、周波数が帯域フィルタ100の通過帯域の中心周波数に等しい音波の、音響デカップリング材料内における波長である。代わりに、公称厚さの約±10%の範囲内の層131の厚さを利用することも可能である。代わりに、多少性能が劣化するが、この範囲外の厚さを利用することも可能である。しかし、層131の厚さは、一方の極値の0λn(図3参照)及びもう一方の極値のλn/2から大幅に異なることが望ましい。
より一般的には、図5Cに示す音響デカップラ130の実施態様は、周波数が帯域フィルタ100の中心周波数に等しい音波の、音響デカップリング材料内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい、すなわち、t≒(2m+1)λn/4の公称厚さを有する音響デカップリング材料の層131から構成されており、ここで、t及びλnは、上記定義の通りであり、mは、0以上の整数である。この場合、代わりに、公称厚さからλn/4の約±10%だけ異なる厚さの層131を利用することも可能である。性能が多少劣化するものの、この範囲外の厚さ許容差を利用することも可能であるが、層131の厚さは、λn/2の整数倍から大幅に異なるのが望ましい。
音響デカップラ130の実施態様の1つにおいて、層131は、電極114上に音響デカップリング材料をスピン・コーティングすることによって形成される。スピン・コーティングによって形成される層は、一般に、層131の音響デカップリング材料によってコーティングされる表面の輪郭のために厚さの異なる領域を備えている。こうした実施態様の場合、音響デカップリング材料の層131の厚さは、電極114と122の間に位置する層の一部の厚さである。
多くのプラスチック材料は、上述の範囲内の音響インピーダンスを有しており、上述の厚さ範囲内で均一な厚さの層に適用可能である。従って、こうしたプラスチック材料は、潜在的に、音響デカップラ130を構成する層131の音響デカップリング材料として用いるのに適している。しかし、音響デカップリング材料は、電極114に音響デカップリング材料の層131を付着させて、音響デカップラ130を形成した後で実施される製作工程の温度に耐えることも可能でなければならない。さらに詳細に後述するように、帯域フィルタ100の実際の実施態様では、電極122及び124と、圧電層126及びは、層131の付着後、スパッタリングによって付着させられる。これらの付着プロセス中に、300℃もの高温に達することになる。従って、こうした温度で安定状態を保つプラスチックが、音響デカップリング材料として望ましい。
プラスチック材料は、一般に、FBAR110及び120の他の材料に比べると、単位長あたりの音響減衰量が極めて大きい。しかし、音響デカップラ130の上述の実施態様は、一般に、厚さが1μm未満のプラスチック音響デカップリング材料の層131から構成されるので、音響デカップリング材料の層131によって導入される音響減衰は、一般に、ごくわずかである。
実施態様の1つでは、ポリイミドが層131の音響デカップリング材料として利用される。ポリイミドは、E.I.du Pont de Nemours and companyによってKaptonTMの商標で販売されている。こうした実施態様の場合、音響デカップラ130は、スピン・コーティングで電極114に塗布されたポリイミドの層131から構成される。ポリイミドの音響インピーダンスは約4Mraylである。もう1つの実施態様では、ポリ(パラキシリレン)が、層131の音響デカップリング材料として用いられる。こうした実施態様の場合、音響デカップラ130は、真空蒸着によって電極114に被着させられたポリ(パラキシリレン)の層131から構成される。ポリ(パラキシリレン)は、当該技術においてパリレンとしても知られている。パリレンが製造される二量体前駆物質であるジパラキシリレン、及び、パリレンの層の真空蒸着を実施するための装置は、多くの供給業者から入手可能である。パリレンの音響インピーダンスは、約2.8Mraylである。
代替実施態様の場合、音響デカップラ130を構成する層131の音響デカップリング材料は、音響インピーダンスがFBAR110及び120の材料よりかなり高い。この時点において、この特性を備えた材料は知られていないが、今後こうした材料の入手が可能になる可能性があるか、あるいは、より音響インピーダンスの低いFBAR材料が、今後入手可能になる可能性がある。こうした音響インピーダンスの高い音響デカップリング材料の層131の厚さは、上述の通りである。
図5Dは、ブラッグ構造161を組み込んだ音響デカップラ130の第2の実施態様を示す、帯域フィルタ100の一部の拡大図である。ブラッグ構造161は、高音響インピーダンスのブラッグ素子165と167の間に挟まれた低音響インピーダンスのブラッグ素子163から構成されている。低音響インピーダンスのブラッグ素子163は、低音響インピーダンス材料の層であり、一方、高音響インピーダンスのブラッグ素子165及び167は、それぞれ、高音響インピーダンス材料の層である。ブラッグ素子の音響インピーダンス材料特性は、互いに対して、さらに、層116及び126の圧電材料の音響インピーダンスに対して、「低」及び「高」として示される。さらに、入力と出力の間に電気的アイソレーションを施す帯域フィルタ100の実施態様では、ブラッグ素子の少なくとも1つが、さらに、高電気抵抗率及び低誘電率を備えている。
ブラッグ素子161、163、及び、165を構成する層は、それぞれ、周波数が帯域フィルタ100の中心周波数に等しい音波の、層材料内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい公称厚さを備えている。代わりに、波長の4分の1の約±10%だけ公称厚さとは異なる層を利用することも可能である。性能が多少劣化するものの、この範囲外の厚さ許容差を利用することも可能であるが、層の厚さは、波長の2分の1の整数倍から大幅に異なるのが望ましい。
実施態様の1つでは、低音響インピーダンスのブラッグ素子163は、音響インピーダンスが約13Mraylの二酸化珪素(SiO2)の層であり、高音響インピーダンスのブラッグ素子165及び167のそれぞれは、それぞれ、電極114及び122と同じ材料、すなわち、音響インピーダンスが約63Mraylのモリブデンの層である。FBAR110及び120(図5B)の、それぞれ、高音響インピーダンスのブラッグ素子165及び167と電極114及び122に、それぞれ、同じ材料を用いることによって、高音響インピーダンのブラッグ素子165及び167は、さらに、それぞれ、電極114及び122の働きをすることが可能になる。
ある例では、高音響インピーダンスのブラッグ素子165及び167は、周波数が帯域フィルタ100の通過帯域の中心周波数に等しい音波の、モリブデン内における波長の4分の1の厚さを備え、低音響インピーダンスのブラッグ素子163は、周波数が変成器の通過帯域の中心周波数に等しい音波の、SiO2内における波長の4分の3の厚さを備えている。低音響インピーダンスのブラッグ素子163として、4分の1波長の厚さのSiO2層の代わりに、4分の3波長の厚さのSiO2層を利用することによって、FBAR110と120の間のキャパシタンスが減少する。
高音響インピーダンスのブラッグ素子165及び167と低音響インピーダンスのブラッグ素子163との音響インピーダンス差が比較的少ない実施態様の場合、ブラッグ構造161は、2つ以上の(例えば、nの)低音響インピーダンスのブラッグ素子が、対応する数の(すなわち、n+1の)高インピーダンスのブラッグ素子と交互配置された構成とすることが可能である。ブラッグ素子の1つだけしか絶縁する必要がない。例えば、ブラッグ構造は、3つの高音響インピーダンスのブラッグ素子と交互配置された2つの低音響インピーダンスのブラッグ素子から構成することが可能である。
ウェーハ・スケール製作を利用して、帯域フィルタ100と同様の数千の帯域フィルタが一度に製作される。こうしたウェーハ・スケール製作によって、帯域フィルタの製作が低コストになる。典型的な製作方法については、次に、図7A〜図7Jの平面図及び図7K〜図7Tの断面図に関連して述べることにする。
単結晶シリコンのウェーハが用意される。ウェーハの一部は、製作される各帯域フィルタ毎に、帯域フィルタ100の基板102に対応する基板を構成する。図7A〜図7J及び図7K〜図7Tには、ウェーハの一部内及びウェーハの一部上における帯域フィルタ100の製作が例示されており、以下の説明では、それについて解説される。帯域フィルタ100が製作されると、ウェーハ上の残りの帯域フィルタが、同様に製作される。
帯域フィルタ100の基板102を構成するウェーハの一部に、選択的にウェット・エッチングが施されて、図7A及び7Kに示すようなキャビティ104が形成される。
ウェーハ表面に、キャビティを充填するのに十分な厚さの充填材料の層(不図示)が付着させられる。次に、ウェーハ表面を平坦化して、充填材料で充填されたキャビティが残される。図7B及び図7Lには、充填材料105を充填した、基板102のキャビティ104が示されている。
実施態様の1つでは、充填材料は、燐酸シリケート・ガラス(PSG)であり、従来の低圧化学蒸着(LPCVD)を用いて付着させられた。充填材料は、代わりに、スパッタリングまたはスピン・コーティングによって付着させることも可能である。
金属層が、ウェーハ表面及び充填材料上に付着させられる。金属にパターン形成を施して、図7C及び7Mに示すような、電極112、ボンディング・パッド132、及び、電極112とボンディング・パッド132の間に延びる電気トレース133が形成される。電極112は、一般に、ウェーハの主表面に対して平行な平面に不規則な形状を備えている。不規則な形状は、その開示が参考までに本開示において援用されている、米国特許第6,215、375号明細書に開示されているように、電極がその一部を形成するFBAR110における横モードを最小限に抑える。電極112は、充填材料105の表面の一部が露出したままになるように整形され、配置されているので、後述するように、エッチングによって、後で、充填材料を除去することが可能である。
電極112、114、122、及び、124(図5B)が形成される金属層は、ウェーハの主表面に対して平行なそれぞれの平面において、電極112及び114の形状、サイズ、配向、及び、位置が同じになり、電極122及び124の形状、サイズ、配向、及び、位置が同じになり、一般に、電極114及び122の形状、サイズ、配向、及び、位置が同じになるように、パターン形成が施される。
実施態様の1つでは、電極112、ボンディング・パッド132、及び、トレース133を形成するために付着させられた金属は、モリブデンであった。モリブデンは、スパッタリングによって、約440nmの厚さに付着させられ、ドライ・エッチングでパターン形成を施されて、約26,000平方μmの面積の五角形電極が形成された。代わりに、電極112、ボンディング・パッド132、及び、トレース133の材料として、タングステン、ニオブ、及び、チタンのような他の耐熱金属を利用することも可能である。あるいはまた、電極、ボンディング・パッド、及び、トレースに、2つ以上の材料による層を含むことも可能である。
圧電材料の層を付着させて、パターン形成を施し、図7D及び7Nに示すように、圧電層116が形成される。圧電層116にパターン形成を施して、電極112の充填材料105の表面の一部、及び、ボンディング・パッド132が露出させられる。さらに、圧電層116にパターン形成を施して、充填材料の表面の別の部分への接近を可能にするウィンドウ119が形成される。
実施態様の1つでは、圧電層116を形成するために付着させられた圧電材料は、窒化アルミニウムであり、スパッタリングによって約780nmの厚さに付着させられた。圧電材料は、水酸化カリウムによるウェット・エッチングを施すか、または、塩素ベースのドライ・エッチングによってパターン形成が施された。圧電層116の代替材料には、酸化亜鉛及びジルコン酸チタン酸鉛が含まれている。
金属層が付着させられ、パターン形成を施されて、図7E及び図7Oに示すように、電極114、ボンディング・パッド134、及び、電極114とボンディング・パッド134の間に延びる電気トレース135が形成される。
実施態様の1つでは、電極114を形成するために付着させられた金属は、モリブデンであった。モリブデンは、スパッタリングによって約440μmの厚さに付着させられ、ドライ・エッチングによってパターン形成が施された。代わりに、電極114、ボンディング・パッド134、及び、トレース135の材料として、他の耐熱金属を利用することも可能である。あるいはまた、電極、ボンディング・パッド、及び、トレースに、2つ以上の材料からなる層を含むことも可能である。
次に、音響デカップリング材料の層が付着させられ、パターン形成を施されて、図7F及び図7Pに示すように、音響デカップラ130が形成される。音響デカップラ130は、少なくとも電極114を覆い、さらに、充填材料105の表面の一部、及び、ボンディング・パッド132及び134を露出するように整形される。音響デカップラ130は、さらに、パターン形成を施されて、充填材料の表面の別の部分に対する接近を可能にするウィンドウ119が形成される。
実施態様の1つでは、音響デカップリング材料は、ポリイミドであり、厚さが約750nm、すなわち、ポリイミドにおける中心周波数波長の4分の3であった。ポリイミドが、スピン・コーティングによって付着させられ、フォトリソグラフィによってパターン形成を施された。ポリイミドは感光性であり、従って、フォトレジストが不要になる。上述のように、音響デカップリング材料として、他のプラスチック材料を利用することが可能である。音響デカップリング材料は、スピン・コーティング以外の方法によって付着させることが可能である。
音響デカップラ130の材料が、ポリイミドである実施態様の1つにおいて、ポリイミドの付着及びパターン形成後、後続の処理を実施する前に、約300℃でウェーハのベーキングが行われた。ベーキングによって、ポリイミドの揮発性成分が蒸発するので、後続処理中に、こうした揮発性成分が蒸発することによって生じる、引き続き付着させられる層の剥離が阻止される。
金属層が付着させられ、パターン形成を施されて、図7G及び図7Qに示すように、電極122からボンディング・パッド134まで延びる電気トレース137が形成される。ボンディング・パッド134は、電気トレース135によって電極114にも電気的に接続される。
実施態様の1つでは、電極122を形成するために付着させられた金属は、モリブデンであった。モリブデンは、スパッタリングによって、約440nmの厚さに付着させられ、ドライ・エッチングによってパターン形成を施された。代わりに、電極122及びトレース137の材料として、他の耐熱金属を利用することも可能である。あるいはまた、電極及びトレースには、2つ以上の材料からなる層を含むことも可能である。
圧電材料の層が付着させられ、パターン形成を施されて、圧電層126が形成される。図7H及び図7Rに示すように、圧電層126は、ボンディング・パッド132及び134が露出し、充填材料の105の表面の一部が露出するように成形される。圧電層126は、さらに、パターン形成を施されて、充填材料の表面の別の部分に対する接近を可能にするウィンドウ119が形成される。
実施態様の1つでは、圧電層126を形成するために付着させられた圧電材料は、窒化アルミニウムであり、スパッタリングによって約780nmの厚さに付着させられた。圧電材料は、水酸化カリウムによるウェット・エッチングを施すか、または、塩素ベースのドライ・エッチングによってパターン形成が施された。圧電層126の代替材料には、酸化亜鉛及びジルコン酸チタン酸鉛が含まれている。
金属層が付着させられ、パターン形成を施されて、図7Iび図7Sに示すように、電極124、ボンディング・パッド138、及び、電極124からボンディング・パッド138まで延びる電気トレース139が形成される。
実施態様の1つでは、電極124を形成するために付着させられた金属は、モリブデンであった。モリブデンは、スパッタリングによって、約440nmの厚さに付着させられ、ドライ・エッチングによってパターン形成を施された。代わりに、電極124、ボンディング・パッド138、及び、トレース139の材料として、他の耐熱金属を利用することも可能である。あるいはまた、電極、ボンディング・パッド、及び、トレースには、2つ以上の材料からなる層を含むことも可能である。
次に、ウェーハに等方性ウェット・エッチングを施して、キャビティ104から充填材料105が除去される。上述のように、充填材料105の表面の一部は、例えば、ウィンドウ119によって露出したままである。図7J及び図7Tに示すように、エッチング・プロセスによって、キャビティ104の上に吊るされた帯域フィルタ100は残される。
実施態様の1つでは、充填材料105の除去に用いられたエッチング液は希フッ化水素酸であった。
露出したボンディング・パッド132、134、及び、138の表面には、金の保護層が付着させられる。
次に、ウェーハが、帯域フィルタ100を含む個別帯域フィルタに分割される。各帯域フィルタは、パッケージ内に実装され、次に、帯域フィルタのボンディング・パッド132、134、及び、138と、パッケージの一部をなすパッドとの間で、電気的接続が施される。
図5Dに示すように、音響デカップラ130にブラッグ構造が組み込まれた実施態様の1つが、上述のものと同様のプロセスによって製作される。このプロセスには、下記のように相違がある。
圧電材料の層を付着させ、パターン形成を施して、圧電層116を形成した後、図7E及び図7Oに示すのと同様のやり方で、金属層を付着させて、パターン形成を施し、図5Dに示す高音響インピーダンス・ブラッグ素子165、ボンディング・パッド134、及び、高音響インピーダンス・ブラッグ素子165とボンディング・パッド134の間に延びる電気トレース135が形成される。金属層が、周波数が帯域フィルタ100の中心周波数に等しい音波の、金属内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい公称厚さになるように付着させられる。高音響インピーダンス・ブラッグ素子165は、さらに、図5Dに示す電極114の働きをする。
実施態様の1つでは、高音響インピーダンス・ブラッグ素子165を形成するために付着させられた金属は、モリブデンであった。モリブデンは、スパッタリングによって約820nm(Mo内における波長の4分の1)の厚さに付着させられ、ドライ・エッチングによってパターン形成が施された。代わりに、高音響インピーダンス・ブラッグ素子165、ボンディング・パッド134、及び、トレース135の材料として、他の耐熱金属を利用することも可能である。あるいはまた、高音響インピーダンス・ブラッグ素子、ボンディング・パッド、及び、トレースに、2つ以上の材料からなる層を含むことも可能である。
次に、低音響インピーダンス材料の層が付着させられ、パターン形成を施されて、図7F及び図7Pに示すのと同様のやり方で、低音響インピーダンス・ブラッグ素子163が形成される。低音響インピーダンス材料の層は、周波数が帯域フィルタ100の中心周波数に等しい周波数を有する音響波の材料内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい厚さに付着させられる。低音響インピーダンス・ブラッグ素子163は、少なくとも高音響インピーダンス・ブラッグ素子165を覆い、さらに、充填材料105の表面の一部、及び、ボンディング・パッド132及び134を露出するように整形される。低音響インピーダンス材料の層は、さらに、パターン形成を施されて、充填材料の表面の別の部分に対する接近を可能にするウィンドウ119が形成される。
実施態様の1つでは、低音響インピーダンス材料は、厚さが約790nmのSiO2であった。SiO2は、スパッタリングによって付着させられ、エッチングによってパターン形成が施された。低音響インピーダンス・ブラッグ素子の材料として利用可能な他の低音響インピーダンス材料には、燐酸シリケート・ガラス(PSG)、二酸化チタン、及び、フッ化マグネシウムが含まれる。あるいはまた、スパッタリング以外の方法によって、低音響インピーダンス材料を付着させることも可能である。
金属層が付着させられ、パターン形成を施されて、図7G及び図7Qに示すのと同様のやり方で、図5Dに示す高音響インピーダンス・ブラッグ素子167、及び、高音響インピーダンス・ブラッグ素子167からボンディング・パッド134まで延びる電気トレース137が形成される。ボンディング・パッド134は、トレース135によって高音響インピーダンス・ブラッグ素子167にも電気的に接続されている。金属層は、周波数が帯域フィルタ100の中心周波数に等しい音波の、金属内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい公称厚さになるように付着させられる。高音響インピーダンス・ブラッグ素子167は、さらに、図5Dに示す電極122の働きをする。
実施態様の1つでは、高音響インピーダンス・ブラッグ素子167及び電気トレース137を形成するために付着させられた金属は、モリブデンであった。モリブデンは、スパッタリングによって約820nm(Mo内における波長の4分の1)の厚さに付着させられ、ドライ・エッチングによってパターン形成が施された。代わりに、それぞれ、高音響インピーダンス・ブラッグ素子167及びトレース137の材料として、他の耐熱金属を利用することも可能である。あるいはまた、高音響インピーダンス・ブラッグ素子及びトレースに、2つ以上の材料からなる層を含むことも可能である。
次に、図7H及び図7Rに関連して上述のように、圧電材料の層を付着させて、パターン形成を施すことによって、圧電層126が形成され、このプロセスが上述のように続行されて、帯域フィルタ100の製作が完了する。
帯域フィルタ100は、次のように利用される。電極114及び122に電気的に接続されたボンディング・パッド134によって、帯域フィルタ100の接地端子が形成され、電極112に電気的に接続されたボンディング・パッド132によって、帯域フィルタ100の入力端子が形成され、電極124に電気的に接続されたボンディング・パッド138によって、帯域フィルタ100の出力端子が形成される。入力端子と出力端子は、置き換えることが可能である。
上述のように、帯域フィルタ100は、さらに、入力と出力の間に電気的アイソレーションを施すことが可能である。こうした実施態様の場合、電極122及びトレース137が形成されている金属に追加ボンディング・パッド(不図示)が形成され、トレース137が、電極122からボンディング・パッド134ではなく、この追加ボンディング・パッドまで延びる。それぞれ、電極112及び114に電気的に接続されたボンディング・パッド132と134が、1対の入力端子を形成し、トレース137によって電極122及びボンディング・パッド138に電気的に接続された追加ボンディング・パッド(不図示)が、1対の出力端子を形成する。入力端子及び出力端子は、電気的に、互いに分離される。再度、入力端子及び出力端子は、置き換えることが可能である。
図6と図4の曲線46を比較すると明らかなように、帯域フィルタ100の帯域外周波数応答の勾配は、図1に示す梯子型帯域フィルタ10ほど急峻ではない。またこの比較によって明らかなように、梯子型帯域フィルタ10とは異なり、帯域フィルタ100の周波数応答は、初期の急激な低下後に、再度上昇することはない。図8は、帯域外周波数応答の勾配が帯域フィルタ100よりも急峻で、初期の急激な低下後、周波数応答が、図1に示す梯子型帯域フィルタのよりもかなり低いレベルまで上昇する、本発明による帯域フィルタの典型的な実施態様200の概略図である。
帯域フィルタ200は、図5A及び図5Bに関連して上述の帯域フィルタ100と直列に接続された、単純化されたFBARベースの梯子型フィルタ210から構成されている。梯子型フィルタ210は、直列FBAR212及び214と、並列FBAR216から構成される。直列FBAR212及び214の共振周波数は、並列FBAR214より高い。
帯域フィルタ100の場合、電極112は、アースに接続され、電極114及び122は、梯子型フィルタ210の出力、すなわち、FBAR214の電極218に接続されて、電極124が、帯域フィルタ200の出力端子を形成している。FBAR212、214、及び、216、及び、帯域フィルタ100は、帯域フィルタ100の通過帯域が梯子型フィルタ210よりも広くなるように構成されている。
図9は、帯域フィルタ200について計算された周波数応答(曲線242)と図5A及び図5Bに示す帯域フィルタ100について計算された周波数応答(曲線244)を示すグラフである。このグラフに示すように、帯域フィルタ200の帯域外周波数応答の勾配は帯域フィルタ100よりも急峻であり、初期の急激な低下後、周波数応答が上昇するレベルは、図4に示す梯子型帯域フィルタよりも低い。
上述の特許文献1に開示のように、FBARベースの梯子型フィルタを構成するFBARは、一般に、全て、同じ圧電材料層を利用して製作される。帯域フィルタ200は、同様に製作されることが出来る。帯域フィルタ100のFBAR110(図5B)は、FBAR212、214、及び、216として、同じ圧電材料層を利用して製作される。FBAR110の電極112は、FBAR216の電極220と同じ金属層の一部である。FBAR110の電極114は、FBAR214の電極218と同じ金属層の一部である。FBAR110、212、214、及び、216の製作後、音響デカップリング材料の層を付着させて、パターン形成を施し、電極114に音響デカップラ130が形成される。次に、上述のものと同様のプロセスを利用して、音響デカップラ上にFBAR120が製作される。
FBAR212の電極222及びFBAR216の電極220に対する電気的接続部によって、帯域フィルタ200の入力端子が得られ、一方、帯域フィルタ100の電極112及び124に対する電気的接続部によって、帯域フィルタ200の出力端子が形成される。
本開示では、例証となる実施態様を用いて本発明が詳細に解説されている。しかし、付属の請求項によって定義される本発明は、上で述べた実施態様に制限されるものではない。
FBARを組み込んだ帯域フィルタの概略図である。 FBARの略側面図である。 SBARの略側面図である。 図3に示すSBARについて計算された周波数応答と図1に示すFBARベースの帯域フィルタについて計算された周波数応答を比較するグラフである。 本発明による帯域フィルタの第1の実施態様の一例に関する平面図である。 図5Aに示す帯域フィルタの断面線5B−5Bに沿った断面図である。 音響デカップラの第1の実施態様を示す、図5Aに示す帯域フィルタの一部の断面線5B−5Bに沿った拡大断面図である。 音響デカップラの第2の実施態様を示す、図5Aに示す帯域フィルタの一部の断面線5B−5Bに沿った拡大断面図である。 音響インピーダンスの異なる音響デカップリング材料による音響デカップラを組み込んだ、本発明による帯域フィルタの実施態様について計算された周波数応答を比較するグラフである。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 帯域フィルタを製作するためのプロセスを例示した平面図。 図7Aの断面線7K−7Kに沿った断面図。 図7Bの断面線7L−7Lに沿った断面図。 図7Cの断面線7M−7Mに沿った断面図。 図7Dの断面線7N−7Nに沿った断面図。 図7Eの断面線7O−7Oに沿った断面図。 図7Fの断面線7P−7Pに沿った断面図。 図7Gの断面線7Q−7Qに沿った断面図。 図7Hの断面線7R−7Rに沿った断面図。 図7Iの断面線7S−7Sに沿った断面図。 図7Jの断面線7T−7Tに沿った断面図。 本発明による帯域フィルタの第2の実施態様の一例に関する概略図である。 図8に示す帯域フィルタの実施態様について計算された周波数応答と、図5A及び図5Bに示す帯域フィルタの実施態様について計算された周波数応答を比較するグラフである。
符号の説明
100 帯域フィルタ
106 圧電材料層
110 第1の膜状バルク音響共鳴器
112、114 平面電極
120 第2の膜状バルク音響共鳴器
130 音響デカップラ
131 音響デカップリング材料層
134、137 電気接続
210 梯子型フィルタ
212 追加膜状バルク音響共鳴器

Claims (14)

  1. 向かい合った平面電極、および該電極間の圧電材料の層を具備する、スタック状の対をなす膜状バルク音響共鳴器(FBAR)と、
    前記FBAR間の音響デカップラと、
    を備える、帯域フィルタ。
  2. 前記音響デカップラが、音響デカップリング材料の層を有する、請求項1に記載の帯域フィルタ。
  3. 前記圧電材料が音響インピーダンスを有することと、
    前記音響デカップリング材料の音響インピーダンスが、前記圧電材料の音響インピーダンスと空気の音響インピーダンスの中間にあることを特徴とする、請求項2に記載の帯域フィルタ。
  4. 前記帯域フィルタが、中心周波数によって特性が決まることと、
    前記音響デカップリング材料の層が、周波数が前記中心周波数等しい音波の、前記音響デカップリング材料内における波長の4分の1の奇整数倍に等しい公称厚さを有することを特徴とする、請求項2または3に記載の帯域フィルタ。
  5. 前記音響デカップリング材料にプラスチックが含まれる、請求項2、3、または、4に記載の帯域フィルタ。
  6. 前記プラスチック材料にポリイミドまたはポリ(パラキシリレン)が含まれる、請求項5に記載の帯域フィルタ。
  7. 前記音響デカップラが、ブラッグ構造を有する、請求項1に記載の帯域フィルタ。
  8. さらに、FBARの電極のうち隣接する電極間の電気的接続を具備する、請求項1から7のいずれかに記載の帯域フィルタ。
  9. さらに、前記スタック対をなすFBARに電気的に直列に接続された梯子型フィルタを備える、請求項1から8いずれかに記載の帯域フィルタ。
  10. 前記梯子型フィルタが追加FBARを具備する、請求項9に記載の帯域フィルタ。
  11. 電気的濾波方法であって、
    先行請求項の任意の1つによる帯域フィルタを設けるステップと、
    FBARの一方に入力電気信号を加えるステップと、
    他方のFBARから濾波出力電気信号を取り出すステップとを有する、
    方法。
  12. 音響結合素子を製作する方法であって、
    第1の膜状バルク音響共鳴器(FBAR)を製作するステップと、
    前記第1のFBAR上に音響デカップラを製作するステップと、
    前記音響デカップラを最高温度にさらすことを含めて、前記音響デカップラ上に第2のFBARを製作するステップと、
    前記第2のFBARの製作前に、前記第1のFBAR及び前記音響デカップラに前記最高温度以上の温度でベーキングを施すステップを有する、方法。
  13. 前記音響デカップラがポリイミドの層を有する、請求項12に記載の方法。
  14. 前記音響デカップラの製作ステップに、スピン・コーティングによるポリイミド層の付着が含まれる、請求項13に記載の方法。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007052370A1 (ja) * 2005-11-04 2009-04-30 株式会社村田製作所 圧電薄膜共振子
US7554427B2 (en) 2007-01-15 2009-06-30 Hitachi Media Electronics Co., Ltd. Thin film bulk acoustic wave resonator and filter, and radio frequency module using them
WO2010079614A1 (ja) 2009-01-09 2010-07-15 太陽誘電株式会社 フィルタ素子、分波器および電子装置
JP2011176744A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Taiyo Yuden Co Ltd フィルタ、デュープレクサ、通信モジュール、通信装置
JP2012100029A (ja) * 2010-11-01 2012-05-24 Taiyo Yuden Co Ltd 弾性波デバイス

Families Citing this family (107)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7275292B2 (en) 2003-03-07 2007-10-02 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method for fabricating an acoustical resonator on a substrate
US7362198B2 (en) * 2003-10-30 2008-04-22 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd Pass bandwidth control in decoupled stacked bulk acoustic resonator devices
US7019605B2 (en) * 2003-10-30 2006-03-28 Larson Iii John D Stacked bulk acoustic resonator band-pass filter with controllable pass bandwidth
EP1528677B1 (en) * 2003-10-30 2006-05-10 Agilent Technologies, Inc. Film acoustically-coupled transformer with two reverse c-axis piezoelectric elements
US6946928B2 (en) * 2003-10-30 2005-09-20 Agilent Technologies, Inc. Thin-film acoustically-coupled transformer
US7358831B2 (en) * 2003-10-30 2008-04-15 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator (FBAR) devices with simplified packaging
KR20050066104A (ko) * 2003-12-26 2005-06-30 삼성전기주식회사 Fbar 소자 및 그 제조방법
US7615833B2 (en) 2004-07-13 2009-11-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator package and method of fabricating same
US7388454B2 (en) * 2004-10-01 2008-06-17 Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd Acoustic resonator performance enhancement using alternating frame structure
DE102004054895B4 (de) * 2004-11-12 2007-04-19 Infineon Technologies Ag Dünnschicht-BAW-Filter sowie Verfahren zur Herstellung eines Dünnschicht-BAW-Filters
US8981876B2 (en) * 2004-11-15 2015-03-17 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Piezoelectric resonator structures and electrical filters having frame elements
US7202560B2 (en) 2004-12-15 2007-04-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Wafer bonding of micro-electro mechanical systems to active circuitry
US7791434B2 (en) * 2004-12-22 2010-09-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator performance enhancement using selective metal etch and having a trench in the piezoelectric
US7427819B2 (en) * 2005-03-04 2008-09-23 Avago Wireless Ip Pte Ltd Film-bulk acoustic wave resonator with motion plate and method
US7369013B2 (en) * 2005-04-06 2008-05-06 Avago Technologies Wireless Ip Pte Ltd Acoustic resonator performance enhancement using filled recessed region
US7436269B2 (en) * 2005-04-18 2008-10-14 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically coupled resonators and method of making the same
US7934884B2 (en) * 2005-04-27 2011-05-03 Lockhart Industries, Inc. Ring binder cover
US7562429B2 (en) * 2005-06-20 2009-07-21 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Suspended device and method of making
US7443269B2 (en) 2005-07-27 2008-10-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method and apparatus for selectively blocking radio frequency (RF) signals in a radio frequency (RF) switching circuit
US7868522B2 (en) 2005-09-09 2011-01-11 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Adjusted frequency temperature coefficient resonator
US7391286B2 (en) * 2005-10-06 2008-06-24 Avago Wireless Ip Pte Ltd Impedance matching and parasitic capacitor resonance of FBAR resonators and coupled filters
US7675390B2 (en) * 2005-10-18 2010-03-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single decoupled stacked bulk acoustic resonator
US7525398B2 (en) * 2005-10-18 2009-04-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically communicating data signals across an electrical isolation barrier
US7425787B2 (en) 2005-10-18 2008-09-16 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single insulated decoupled stacked bulk acoustic resonator with acoustically-resonant electrical insulator
US7737807B2 (en) 2005-10-18 2010-06-15 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating series-connected decoupled stacked bulk acoustic resonators
US7423503B2 (en) * 2005-10-18 2008-09-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating film acoustically-coupled transformer
US7463499B2 (en) * 2005-10-31 2008-12-09 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte Ltd. AC-DC power converter
US7561009B2 (en) * 2005-11-30 2009-07-14 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator (FBAR) devices with temperature compensation
US7612636B2 (en) * 2006-01-30 2009-11-03 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Impedance transforming bulk acoustic wave baluns
US20070210724A1 (en) * 2006-03-09 2007-09-13 Mark Unkrich Power adapter and DC-DC converter having acoustic transformer
US7746677B2 (en) 2006-03-09 2010-06-29 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. AC-DC converter circuit and power supply
US7479685B2 (en) * 2006-03-10 2009-01-20 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Electronic device on substrate with cavity and mitigated parasitic leakage path
US20070228876A1 (en) * 2006-03-31 2007-10-04 Chien-Min Sung Diamond Frequency Control Devices and Associated Methods
US7629865B2 (en) 2006-05-31 2009-12-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Piezoelectric resonator structures and electrical filters
US7586389B2 (en) * 2006-06-19 2009-09-08 Maxim Integrated Products, Inc. Impedance transformation and filter using bulk acoustic wave technology
US7598827B2 (en) * 2006-06-19 2009-10-06 Maxim Integrated Products Harmonic termination of power amplifiers using BAW filter output matching circuits
FI121722B (fi) * 2006-09-18 2011-03-15 Valtion Teknillinen Levykondensaattori- tai levyresonaattorijärjestely
US8925163B2 (en) 2006-09-18 2015-01-06 Teknologian Tutkimuskeskus Vtt Method of manufacturing laterally coupled BAW thin films
US7508286B2 (en) * 2006-09-28 2009-03-24 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. HBAR oscillator and method of manufacture
JP2008245243A (ja) * 2007-02-26 2008-10-09 Epson Toyocom Corp 輪郭振動子、輪郭振動子の調整方法
US20080202239A1 (en) * 2007-02-28 2008-08-28 Fazzio R Shane Piezoelectric acceleration sensor
US7777318B2 (en) * 2007-07-24 2010-08-17 Northrop Grumman Systems Corporation Wafer level packaging integrated hydrogen getter
CN101873200A (zh) 2007-09-06 2010-10-27 夏普株式会社 通信设备和通信方法
US20090079520A1 (en) * 2007-09-20 2009-03-26 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically coupled resonators having resonant transmission minima
US20090079514A1 (en) * 2007-09-24 2009-03-26 Tiberiu Jamneala Hybrid acoustic resonator-based filters
US7791435B2 (en) 2007-09-28 2010-09-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Single stack coupled resonators having differential output
US7786826B2 (en) * 2007-10-12 2010-08-31 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Apparatus with acoustically coupled BAW resonators and a method for matching impedances
JP5279068B2 (ja) * 2008-02-15 2013-09-04 太陽誘電株式会社 圧電薄膜共振子、フィルタ、通信モジュール、および通信装置
US7732977B2 (en) * 2008-04-30 2010-06-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Transceiver circuit for film bulk acoustic resonator (FBAR) transducers
US7855618B2 (en) * 2008-04-30 2010-12-21 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator electrical impedance transformers
JP5226409B2 (ja) 2008-07-17 2013-07-03 太陽誘電株式会社 共振デバイス、通信モジュール、通信装置、共振デバイスの製造方法
US8291559B2 (en) * 2009-02-24 2012-10-23 Epcos Ag Process for adapting resonance frequency of a BAW resonator
US8198958B1 (en) * 2009-03-30 2012-06-12 Triquint Semiconductor, Inc. Power amplifier matching RF system and method using bulk acoustics wave device
US8248185B2 (en) * 2009-06-24 2012-08-21 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator structure comprising a bridge
US8902023B2 (en) * 2009-06-24 2014-12-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator structure having an electrode with a cantilevered portion
US9847768B2 (en) * 2009-11-23 2017-12-19 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Polarity determining seed layer and method of fabricating piezoelectric materials with specific C-axis
US8193877B2 (en) * 2009-11-30 2012-06-05 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Duplexer with negative phase shifting circuit
US9243316B2 (en) 2010-01-22 2016-01-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Method of fabricating piezoelectric material with selected c-axis orientation
US8796904B2 (en) 2011-10-31 2014-08-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator comprising piezoelectric layer and inverse piezoelectric layer
US8587391B2 (en) * 2010-02-23 2013-11-19 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic coupling layer for coupled resonator filters and method of fabricating acoustic coupling layer
US8283999B2 (en) * 2010-02-23 2012-10-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator structures comprising a single material acoustic coupling layer comprising inhomogeneous acoustic property
US8390397B2 (en) * 2010-03-29 2013-03-05 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator structure comprising hybrid electrodes
US20120066876A1 (en) * 2010-09-16 2012-03-22 Huffman James D Creating an improved piezoelectric layer for transducers
CN101958696B (zh) * 2010-09-27 2013-04-17 张�浩 温度补偿薄膜体波谐振器及加工方法
US8962443B2 (en) 2011-01-31 2015-02-24 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Semiconductor device having an airbridge and method of fabricating the same
US9203374B2 (en) 2011-02-28 2015-12-01 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator comprising a bridge
US9148117B2 (en) 2011-02-28 2015-09-29 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Coupled resonator filter comprising a bridge and frame elements
US9136818B2 (en) 2011-02-28 2015-09-15 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked acoustic resonator comprising a bridge
US9154112B2 (en) 2011-02-28 2015-10-06 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Coupled resonator filter comprising a bridge
US9425764B2 (en) 2012-10-25 2016-08-23 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accoustic resonator having composite electrodes with integrated lateral features
US9048812B2 (en) 2011-02-28 2015-06-02 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic wave resonator comprising bridge formed within piezoelectric layer
US9083302B2 (en) 2011-02-28 2015-07-14 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked bulk acoustic resonator comprising a bridge and an acoustic reflector along a perimeter of the resonator
US9490771B2 (en) 2012-10-29 2016-11-08 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising collar and frame
US9444426B2 (en) 2012-10-25 2016-09-13 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accoustic resonator having integrated lateral feature and temperature compensation feature
US9490418B2 (en) 2011-03-29 2016-11-08 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator comprising collar and acoustic reflector with temperature compensating layer
US8575820B2 (en) 2011-03-29 2013-11-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Stacked bulk acoustic resonator
US9401692B2 (en) 2012-10-29 2016-07-26 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator having collar structure
US8350445B1 (en) 2011-06-16 2013-01-08 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Bulk acoustic resonator comprising non-piezoelectric layer and bridge
JP5394451B2 (ja) * 2011-07-26 2014-01-22 株式会社アドバンテスト アクチュエータの製造方法、スイッチ装置、伝送路切替装置、および試験装置
US8922302B2 (en) 2011-08-24 2014-12-30 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator formed on a pedestal
US11595760B2 (en) 2011-12-23 2023-02-28 Shenzhen Shokz Co., Ltd. Bone conduction speaker and compound vibration device thereof
US9608592B2 (en) * 2014-01-21 2017-03-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic wave resonator (FBAR) having stress-relief
US8941286B2 (en) * 2012-02-14 2015-01-27 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device
US9385684B2 (en) 2012-10-23 2016-07-05 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator having guard ring
TWI493868B (zh) 2013-01-02 2015-07-21 財團法人工業技術研究院 微機電共振裝置
JP6185292B2 (ja) * 2013-06-10 2017-08-23 太陽誘電株式会社 弾性波デバイス
CN103607178B (zh) * 2013-09-17 2016-10-05 诺思(天津)微系统有限公司 薄膜体波谐振器及提高其品质因数的方法
CN103701425B (zh) * 2013-10-25 2017-05-03 诺思(天津)微系统有限公司 滤波器及其制造方法
US11627419B2 (en) 2014-01-06 2023-04-11 Shenzhen Shokz Co., Ltd. Systems and methods for suppressing sound leakage
US9537465B1 (en) * 2014-06-06 2017-01-03 Akoustis, Inc. Acoustic resonator device with single crystal piezo material and capacitor on a bulk substrate
DE102014111993B4 (de) * 2014-08-21 2017-12-21 Snaptrack, Inc. Mikroakustische Bauelement mit verbesserter Temperaturkompensation
CN107340317A (zh) * 2017-06-19 2017-11-10 天津大学 一种气体识别方法、气体传感器及气体识别装置
CN107453729B (zh) * 2017-06-28 2021-04-06 中国电子科技集团公司第五十五研究所 一种基于复合结构的温度补偿薄膜体声波谐振器
US10476480B1 (en) 2018-07-06 2019-11-12 Globalfoundries Singapore Pte. Ltd. Dual-mode MEMS resonator, oscillator, sensor, timing device, acoustic filter and front-end module and the methods of making
EP3952336A4 (en) 2019-04-30 2022-05-18 Shenzhen Shokz Co., Ltd. AUDIBLE OUTPUT DEVICE
CN110082376B (zh) * 2019-05-20 2024-01-30 中国人民大学 一种双列单晶中子分析器单元
CN110460307B (zh) * 2019-07-31 2023-07-14 华南理工大学 一种温度自适应fbar振荡电路
US11646760B2 (en) * 2019-09-23 2023-05-09 Ticona Llc RF filter for use at 5G frequencies
CN111740003A (zh) * 2020-06-22 2020-10-02 济南晶正电子科技有限公司 一种压电薄膜体及其制备方法、空腔型器件及其制备方法
CN112383286B (zh) * 2020-08-04 2021-09-21 诺思(天津)微系统有限责任公司 体声波谐振器组件及其制造方法、滤波器及电子设备
CN114070255A (zh) * 2020-08-06 2022-02-18 诺思(天津)微系统有限责任公司 叠置体声波谐振器组件及制造方法、滤波器及电子设备
CN114070249B (zh) * 2020-08-06 2026-04-28 诺思(天津)微系统有限责任公司 带声学解耦层的体声波谐振器组件、滤波器及电子设备
CN114070225B (zh) * 2020-08-06 2026-03-06 诺思(天津)微系统有限责任公司 带声学解耦层的半导体结构及制造方法及电子设备
CN114070237B (zh) * 2020-08-06 2025-10-17 诺思(天津)微系统有限责任公司 带声学解耦层的体声波谐振器组件、滤波器及电子设备
CN114070224A (zh) * 2020-08-06 2022-02-18 诺思(天津)微系统有限责任公司 带声学解耦层的体声波谐振器组件及制造方法、滤波器及电子设备
US12620970B2 (en) * 2024-01-25 2026-05-05 Qualcomm Incorporated Integrated devices with multiple acoustic resonator chiplets
CN119727656A (zh) * 2025-02-27 2025-03-28 杭州电子科技大学 一种滤波器、有效机电耦合系数可调的温度补偿型baw器件及其制备方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1188111A (ja) * 1997-05-21 1999-03-30 Nokia Mobile Phones Ltd 結晶フィルター構造および薄膜バルク弾性波共振器を利用したフィルター
JP2000278068A (ja) * 1999-01-22 2000-10-06 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波装置の周波数調整方法
JP2002120364A (ja) * 2000-10-17 2002-04-23 Fuji Xerox Co Ltd 音響波インクジェット記録ヘッド及び音響波インクジェット記録装置

Family Cites Families (211)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1307476A (fr) * 1960-12-12 1962-10-26 U S Sonics Corp Amplificateur sélecteur de fréquences
US3189851A (en) * 1962-06-04 1965-06-15 Sonus Corp Piezoelectric filter
US3321648A (en) * 1964-06-04 1967-05-23 Sonus Corp Piezoelectric filter element
GB1207974A (en) * 1966-11-17 1970-10-07 Clevite Corp Frequency selective apparatus including a piezoelectric device
US3422371A (en) * 1967-07-24 1969-01-14 Sanders Associates Inc Thin film piezoelectric oscillator
US3826931A (en) 1967-10-26 1974-07-30 Hewlett Packard Co Dual crystal resonator apparatus
US3582839A (en) * 1968-06-06 1971-06-01 Clevite Corp Composite coupled-mode filter
US3607761A (en) 1968-12-09 1971-09-21 Continental Oil Co Soap bars containing salts of fatty acids derived from the guerbet reaction
US3610969A (en) * 1970-02-06 1971-10-05 Mallory & Co Inc P R Monolithic piezoelectric resonator for use as filter or transformer
US3845402A (en) 1973-02-15 1974-10-29 Edmac Ass Inc Sonobuoy receiver system, floating coupler
FR2380666A1 (fr) 1977-02-14 1978-09-08 Cii Honeywell Bull Systeme de commande de decoupage pour convertisseur dans une alimentation electrique continue
US4084217A (en) * 1977-04-19 1978-04-11 Bbc Brown, Boveri & Company, Limited Alternating-current fed power supply
GB2033185B (en) * 1978-09-22 1983-05-18 Secr Defence Acoustic wave device with temperature stabilisation
US4281299A (en) 1979-11-23 1981-07-28 Honeywell Inc. Signal isolator
ZA81781B (en) 1980-02-13 1982-03-31 Int Computers Ltd Digital systems
US4320365A (en) * 1980-11-03 1982-03-16 United Technologies Corporation Fundamental, longitudinal, thickness mode bulk wave resonator
JPS58137317A (ja) * 1982-02-09 1983-08-15 Nec Corp 圧電薄膜複合振動子
GB2137056B (en) 1983-03-16 1986-09-03 Standard Telephones Cables Ltd Communications apparatus
US4625138A (en) 1984-10-24 1986-11-25 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Piezoelectric microwave resonator using lateral excitation
US4719383A (en) * 1985-05-20 1988-01-12 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy Piezoelectric shear wave resonator and method of making same
SE465946B (sv) * 1986-09-11 1991-11-18 Bengt Henoch Anordning foer oeverfoering av elektrisk energi till elektrisk utrustning genom omagnetiska och elektriskt isolerande material
US4906840A (en) 1988-01-27 1990-03-06 The Board Of Trustees Of Leland Stanford Jr., University Integrated scanning tunneling microscope
US4841429A (en) 1988-03-24 1989-06-20 Hughes Aircraft Company Capacitive coupled power supplies
US4836882A (en) 1988-09-12 1989-06-06 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method of making an acceleration hardened resonator
US5118982A (en) 1989-05-31 1992-06-02 Nec Corporation Thickness mode vibration piezoelectric transformer
US5048036A (en) 1989-09-18 1991-09-10 Spectra Diode Laboratories, Inc. Heterostructure laser with lattice mismatch
DE69129879T2 (de) 1990-05-22 1999-02-18 Canon K.K., Tokio/Tokyo Datenaufzeichnungsgerät
US5241456A (en) 1990-07-02 1993-08-31 General Electric Company Compact high density interconnect structure
JP2995076B2 (ja) 1990-07-24 1999-12-27 富士通株式会社 半導体装置
US5162691A (en) 1991-01-22 1992-11-10 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Cantilevered air-gap type thin film piezoelectric resonator
US5294898A (en) * 1992-01-29 1994-03-15 Motorola, Inc. Wide bandwidth bandpass filter comprising parallel connected piezoelectric resonators
US5382930A (en) * 1992-12-21 1995-01-17 Trw Inc. Monolithic multipole filters made of thin film stacked crystal filters
US5384808A (en) * 1992-12-31 1995-01-24 Apple Computer, Inc. Method and apparatus for transmitting NRZ data signals across an isolation barrier disposed in an interface between adjacent devices on a bus
US5448014A (en) 1993-01-27 1995-09-05 Trw Inc. Mass simultaneous sealing and electrical connection of electronic devices
US5465725A (en) 1993-06-15 1995-11-14 Hewlett Packard Company Ultrasonic probe
US5587620A (en) * 1993-12-21 1996-12-24 Hewlett-Packard Company Tunable thin film acoustic resonators and method for making the same
US5594705A (en) * 1994-02-04 1997-01-14 Dynamotive Canada Corporation Acoustic transformer with non-piezoelectric core
US5864261A (en) * 1994-05-23 1999-01-26 Iowa State University Research Foundation Multiple layer acoustical structures for thin-film resonator based circuits and systems
JPH0878786A (ja) 1994-09-02 1996-03-22 Mitsubishi Electric Corp 歪量子井戸の構造
US5692279A (en) 1995-08-17 1997-12-02 Motorola Method of making a monolithic thin film resonator lattice filter
CN1183587C (zh) 1996-04-08 2005-01-05 德克萨斯仪器股份有限公司 用于把两个集成电路直流上相互隔离的方法和设备
US5714917A (en) * 1996-10-02 1998-02-03 Nokia Mobile Phones Limited Device incorporating a tunable thin film bulk acoustic resonator for performing amplitude and phase modulation
US5873154A (en) * 1996-10-17 1999-02-23 Nokia Mobile Phones Limited Method for fabricating a resonator having an acoustic mirror
US6087198A (en) 1998-02-12 2000-07-11 Texas Instruments Incorporated Low cost packaging for thin-film resonators and thin-film resonator-based filters
US5872493A (en) * 1997-03-13 1999-02-16 Nokia Mobile Phones, Ltd. Bulk acoustic wave (BAW) filter having a top portion that includes a protective acoustic mirror
US5853601A (en) 1997-04-03 1998-12-29 Northrop Grumman Corporation Top-via etch technique for forming dielectric membranes
US6339048B1 (en) * 1999-12-23 2002-01-15 Elementis Specialties, Inc. Oil and oil invert emulsion drilling fluids with improved anti-settling properties
US6040962A (en) * 1997-05-14 2000-03-21 Tdk Corporation Magnetoresistive element with conductive films and magnetic domain films overlapping a central active area
JP3378775B2 (ja) 1997-07-07 2003-02-17 株式会社村田製作所 圧電共振子およびその周波数調整方法
US5982297A (en) 1997-10-08 1999-11-09 The Aerospace Corporation Ultrasonic data communication system
US6873065B2 (en) * 1997-10-23 2005-03-29 Analog Devices, Inc. Non-optical signal isolator
DE19755893C2 (de) 1997-12-08 2001-01-25 Claus Rein Verfahren und Anordnung zur Energie- und Informationsübertragung mittels Ultraschall
DE69836011T2 (de) 1998-01-16 2007-05-24 Mitsubishi Denki K.K. Piezoelektrische dünnschichtanordnung
US6197261B1 (en) * 1998-02-02 2001-03-06 Richard A. Linville Machine for opening blood segments
US5936150A (en) 1998-04-13 1999-08-10 Rockwell Science Center, Llc Thin film resonant chemical sensor with resonant acoustic isolator
US5953479A (en) 1998-05-07 1999-09-14 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Tilted valance-band quantum well double heterostructures for single step active and passive optical waveguide device monolithic integration
US6286207B1 (en) * 1998-05-08 2001-09-11 Nec Corporation Resin structure in which manufacturing cost is cheap and sufficient adhesive strength can be obtained and method of manufacturing it
JP4326151B2 (ja) 1998-05-08 2009-09-02 アバゴ・テクノロジーズ・ワイヤレス・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド 薄膜圧電振動子
JPH11345406A (ja) * 1998-05-29 1999-12-14 Sony Corp マスクパターンの形成方法及び薄膜磁気ヘッドの製造方法
US6060818A (en) * 1998-06-02 2000-05-09 Hewlett-Packard Company SBAR structures and method of fabrication of SBAR.FBAR film processing techniques for the manufacturing of SBAR/BAR filters
DE19826152A1 (de) 1998-06-12 1999-12-16 Thomson Brandt Gmbh Anordnung mit einem Schaltnetzteil und einem Mikroprozessor
US6150703A (en) 1998-06-29 2000-11-21 Trw Inc. Lateral mode suppression in semiconductor bulk acoustic resonator (SBAR) devices using tapered electrodes, and electrodes edge damping materials
US6252229B1 (en) 1998-07-10 2001-06-26 Boeing North American, Inc. Sealed-cavity microstructure and microbolometer and associated fabrication methods
WO2000028606A1 (en) * 1998-11-09 2000-05-18 Richard Patten Bishop Multi-layer piezoelectric electrical energy transfer device
CN1291369A (zh) * 1998-12-22 2001-04-11 精工爱普生株式会社 电力供给装置、电力接收装置、电力传输系统、电力传输方法、便携式机器和计时装置
FI113211B (fi) * 1998-12-30 2004-03-15 Nokia Corp Balansoitu suodatinrakenne ja matkaviestinlaite
US6215375B1 (en) 1999-03-30 2001-04-10 Agilent Technologies, Inc. Bulk acoustic wave resonator with improved lateral mode suppression
JP3531522B2 (ja) 1999-04-19 2004-05-31 株式会社村田製作所 圧電共振子
US6262637B1 (en) 1999-06-02 2001-07-17 Agilent Technologies, Inc. Duplexer incorporating thin-film bulk acoustic resonators (FBARs)
DE19931297A1 (de) * 1999-07-07 2001-01-11 Philips Corp Intellectual Pty Volumenwellen-Filter
FI107660B (fi) 1999-07-19 2001-09-14 Nokia Mobile Phones Ltd Resonaattorirakenne
JP4420538B2 (ja) 1999-07-23 2010-02-24 アバゴ・テクノロジーズ・ワイヤレス・アイピー(シンガポール)プライベート・リミテッド ウェーハパッケージの製造方法
US6265246B1 (en) 1999-07-23 2001-07-24 Agilent Technologies, Inc. Microcap wafer-level package
US6228675B1 (en) * 1999-07-23 2001-05-08 Agilent Technologies, Inc. Microcap wafer-level package with vias
US6107721A (en) 1999-07-27 2000-08-22 Tfr Technologies, Inc. Piezoelectric resonators on a differentially offset reflector
US6617750B2 (en) 1999-09-21 2003-09-09 Rockwell Automation Technologies, Inc. Microelectricalmechanical system (MEMS) electrical isolator with reduced sensitivity to inertial noise
US6292336B1 (en) 1999-09-30 2001-09-18 Headway Technologies, Inc. Giant magnetoresistive (GMR) sensor element with enhanced magnetoresistive (MR) coefficient
KR100413789B1 (ko) 1999-11-01 2003-12-31 삼성전자주식회사 고진공 패키징 마이크로자이로스코프 및 그 제조방법
US6307447B1 (en) 1999-11-01 2001-10-23 Agere Systems Guardian Corp. Tuning mechanical resonators for electrical filter
JP2001196883A (ja) 1999-11-01 2001-07-19 Murata Mfg Co Ltd 圧電共振素子の周波数調整方法
US6441539B1 (en) 1999-11-11 2002-08-27 Murata Manufacturing Co., Ltd. Piezoelectric resonator
JP2001244778A (ja) * 1999-12-22 2001-09-07 Toyo Commun Equip Co Ltd 高周波圧電振動子
EP1117017B1 (fr) * 2000-01-10 2009-09-09 ETA SA Manufacture Horlogère Suisse Dispositif pour produire un signal ayant une fréquence sensiblement indépendante de la température
US6479320B1 (en) 2000-02-02 2002-11-12 Raytheon Company Vacuum package fabrication of microelectromechanical system devices with integrated circuit components
US6521477B1 (en) * 2000-02-02 2003-02-18 Raytheon Company Vacuum package fabrication of integrated circuit components
US6466418B1 (en) 2000-02-11 2002-10-15 Headway Technologies, Inc. Bottom spin valves with continuous spacer exchange (or hard) bias
US6262600B1 (en) 2000-02-14 2001-07-17 Analog Devices, Inc. Isolator for transmitting logic signals across an isolation barrier
DE10007577C1 (de) * 2000-02-18 2001-09-13 Infineon Technologies Ag Piezoresonator
DE10014300A1 (de) 2000-03-23 2001-10-04 Infineon Technologies Ag Halbleiterbauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
WO2001078229A1 (en) 2000-04-06 2001-10-18 Koninklijke Philips Electronics N.V. Tunable filter arrangement comprising resonators.
US6441481B1 (en) * 2000-04-10 2002-08-27 Analog Devices, Inc. Hermetically sealed microstructure package
US6384697B1 (en) * 2000-05-08 2002-05-07 Agilent Technologies, Inc. Cavity spanning bottom electrode of a substrate-mounted bulk wave acoustic resonator
GB0012439D0 (en) * 2000-05-24 2000-07-12 Univ Cranfield Improvements to filters
GB0014963D0 (en) 2000-06-20 2000-08-09 Koninkl Philips Electronics Nv A bulk acoustic wave device
US6355498B1 (en) 2000-08-11 2002-03-12 Agere Systems Guartian Corp. Thin film resonators fabricated on membranes created by front side releasing
US6420820B1 (en) * 2000-08-31 2002-07-16 Agilent Technologies, Inc. Acoustic wave resonator and method of operating the same to maintain resonance when subjected to temperature variations
US6377137B1 (en) * 2000-09-11 2002-04-23 Agilent Technologies, Inc. Acoustic resonator filter with reduced electromagnetic influence due to die substrate thickness
US6530515B1 (en) * 2000-09-26 2003-03-11 Amkor Technology, Inc. Micromachine stacked flip chip package fabrication method
US6486751B1 (en) * 2000-09-26 2002-11-26 Agere Systems Inc. Increased bandwidth thin film resonator having a columnar structure
US6542055B1 (en) * 2000-10-31 2003-04-01 Agilent Technologies, Inc. Integrated filter balun
WO2002037708A2 (en) 2000-11-03 2002-05-10 Paratek Microwave, Inc. Method of channel frequency allocation for rf and microwave duplexers
US6515558B1 (en) * 2000-11-06 2003-02-04 Nokia Mobile Phones Ltd Thin-film bulk acoustic resonator with enhanced power handling capacity
GB0029090D0 (en) * 2000-11-29 2001-01-10 Univ Cranfield Improvements in or relating to filters
US6550664B2 (en) * 2000-12-09 2003-04-22 Agilent Technologies, Inc. Mounting film bulk acoustic resonators in microwave packages using flip chip bonding technology
US6424237B1 (en) 2000-12-21 2002-07-23 Agilent Technologies, Inc. Bulk acoustic resonator perimeter reflection system
US6407649B1 (en) 2001-01-05 2002-06-18 Nokia Corporation Monolithic FBAR duplexer and method of making the same
US6518860B2 (en) * 2001-01-05 2003-02-11 Nokia Mobile Phones Ltd BAW filters having different center frequencies on a single substrate and a method for providing same
US6512300B2 (en) * 2001-01-10 2003-01-28 Raytheon Company Water level interconnection
JP2002217676A (ja) 2001-01-17 2002-08-02 Murata Mfg Co Ltd 圧電フィルタ
US6462631B2 (en) 2001-02-14 2002-10-08 Agilent Technologies, Inc. Passband filter having an asymmetrical filter response
US6583374B2 (en) 2001-02-20 2003-06-24 Rockwell Automation Technologies, Inc. Microelectromechanical system (MEMS) digital electrical isolator
US6714102B2 (en) * 2001-03-01 2004-03-30 Agilent Technologies, Inc. Method of fabricating thin film bulk acoustic resonator (FBAR) and FBAR structure embodying the method
US6483229B2 (en) 2001-03-05 2002-11-19 Agilent Technologies, Inc. Method of providing differential frequency adjusts in a thin film bulk acoustic resonator (FBAR) filter and apparatus embodying the method
US6617249B2 (en) 2001-03-05 2003-09-09 Agilent Technologies, Inc. Method for making thin film bulk acoustic resonators (FBARS) with different frequencies on a single substrate and apparatus embodying the method
US6874211B2 (en) * 2001-03-05 2005-04-05 Agilent Technologies, Inc. Method for producing thin film bulk acoustic resonators (FBARs) with different frequencies on the same substrate by subtracting method and apparatus embodying the method
US6787048B2 (en) 2001-03-05 2004-09-07 Agilent Technologies, Inc. Method for producing thin bulk acoustic resonators (FBARs) with different frequencies on the same substrate by subtracting method and apparatus embodying the method
US6469597B2 (en) 2001-03-05 2002-10-22 Agilent Technologies, Inc. Method of mass loading of thin film bulk acoustic resonators (FBAR) for creating resonators of different frequencies and apparatus embodying the method
US6566979B2 (en) * 2001-03-05 2003-05-20 Agilent Technologies, Inc. Method of providing differential frequency adjusts in a thin film bulk acoustic resonator (FBAR) filter and apparatus embodying the method
JP4058970B2 (ja) * 2001-03-21 2008-03-12 セイコーエプソン株式会社 ニオブ酸カリウム圧電薄膜を有する表面弾性波素子、周波数フィルタ、発振器、電子回路、及び電子機器
KR100489851B1 (ko) 2001-03-23 2005-05-17 노키아 코포레이션 필터디바이스
US6548943B2 (en) 2001-04-12 2003-04-15 Nokia Mobile Phones Ltd. Method of producing thin-film bulk acoustic wave devices
US6472954B1 (en) 2001-04-23 2002-10-29 Agilent Technologies, Inc. Controlled effective coupling coefficients for film bulk acoustic resonators
US6668618B2 (en) 2001-04-23 2003-12-30 Agilent Technologies, Inc. Systems and methods of monitoring thin film deposition
US6441702B1 (en) 2001-04-27 2002-08-27 Nokia Mobile Phones Ltd. Method and system for wafer-level tuning of bulk acoustic wave resonators and filters
US6476536B1 (en) 2001-04-27 2002-11-05 Nokia Corporation Method of tuning BAW resonators
US6489688B1 (en) 2001-05-02 2002-12-03 Zeevo, Inc. Area efficient bond pad placement
US6601276B2 (en) 2001-05-11 2003-08-05 Agere Systems Inc. Method for self alignment of patterned layers in thin film acoustic devices
JP2005236337A (ja) * 2001-05-11 2005-09-02 Ube Ind Ltd 薄膜音響共振器及びその製造方法
JP2002374144A (ja) 2001-06-15 2002-12-26 Ube Electronics Ltd 薄膜圧電共振器
KR100398365B1 (ko) * 2001-06-25 2003-09-19 삼성전기주식회사 폭방향 파동이 억제되는 박막 공진기
JP3903842B2 (ja) * 2001-07-03 2007-04-11 株式会社村田製作所 圧電共振子、フィルタおよび電子通信機器
CA2453136A1 (en) 2001-07-09 2003-01-23 Samuel Bogoch Replikin peptides and uses thereof
US6710681B2 (en) * 2001-07-13 2004-03-23 Agilent Technologies, Inc. Thin film bulk acoustic resonator (FBAR) and inductor on a monolithic substrate and method of fabricating the same
US6936954B2 (en) 2001-08-29 2005-08-30 Honeywell International Inc. Bulk resonator
US6803835B2 (en) 2001-08-30 2004-10-12 Agilent Technologies, Inc. Integrated filter balun
DE10147075A1 (de) 2001-09-25 2003-04-30 Infineon Technologies Ag Piezoelektrisches Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
DE10149542A1 (de) 2001-10-08 2003-04-17 Infineon Technologies Ag BAW-Resonator
US6593870B2 (en) 2001-10-18 2003-07-15 Rockwell Automation Technologies, Inc. MEMS-based electrically isolated analog-to-digital converter
US6630753B2 (en) 2001-10-29 2003-10-07 International Business Machines Corporation Low cost redundant AC to DC power supply
US6808955B2 (en) * 2001-11-02 2004-10-26 Intel Corporation Method of fabricating an integrated circuit that seals a MEMS device within a cavity
DE10155927A1 (de) 2001-11-14 2003-06-05 Infineon Technologies Ag Passivierter BAW-Resonator und BAW-Filter
US6720844B1 (en) * 2001-11-16 2004-04-13 Tfr Technologies, Inc. Coupled resonator bulk acoustic wave filter
US6510703B1 (en) * 2001-11-27 2003-01-28 Cohand Technology Co., Ltd. Method for controlling corresponding energy supply of a heat source unit of a refrigeration air conditioning system based on required energy value calculated from output power value
US6710508B2 (en) * 2001-11-27 2004-03-23 Agilent Technologies, Inc. Method for adjusting and stabilizing the frequency of an acoustic resonator
TWI281277B (en) 2001-11-29 2007-05-11 Matsushita Electric Industrial Co Ltd Driving circuit of piezoelectric transformer, cold cathode tube light-emitting device, liquid crystal panel and electronic machine mounted with liquid crystal panel
DE10160617A1 (de) * 2001-12-11 2003-06-12 Epcos Ag Akustischer Spiegel mit verbesserter Reflexion
US6600390B2 (en) 2001-12-13 2003-07-29 Agilent Technologies, Inc. Differential filters with common mode rejection and broadband rejection
US20030111439A1 (en) 2001-12-14 2003-06-19 Fetter Linus Albert Method of forming tapered electrodes for electronic devices
US6906451B2 (en) 2002-01-08 2005-06-14 Murata Manufacturing Co., Ltd. Piezoelectric resonator, piezoelectric filter, duplexer, communication apparatus, and method for manufacturing piezoelectric resonator
US6670866B2 (en) 2002-01-09 2003-12-30 Nokia Corporation Bulk acoustic wave resonator with two piezoelectric layers as balun in filters and duplexers
US20030141946A1 (en) 2002-01-31 2003-07-31 Ruby Richard C. Film bulk acoustic resonator (FBAR) and the method of making the same
US6873529B2 (en) * 2002-02-26 2005-03-29 Kyocera Corporation High frequency module
CN1292533C (zh) * 2002-03-15 2006-12-27 松下电器产业株式会社 平衡高频器件,平衡特性的改进方法和采用此类器件的平衡高频电路
US6673697B2 (en) 2002-04-03 2004-01-06 Intel Corporation Packaging microelectromechanical structures
US6635509B1 (en) 2002-04-12 2003-10-21 Dalsa Semiconductor Inc. Wafer-level MEMS packaging
TW540173B (en) 2002-05-03 2003-07-01 Asia Pacific Microsystems Inc Bulk acoustic device having integrated fine-tuning and trimming devices
JP2004001928A (ja) * 2002-05-30 2004-01-08 Sharp Corp シート体供給搬送装置
WO2004001964A1 (ja) 2002-06-20 2003-12-31 Ube Industries, Ltd. 薄膜圧電共振器、薄膜圧電デバイスおよびその製造方法
JP4039322B2 (ja) * 2002-07-23 2008-01-30 株式会社村田製作所 圧電フィルタ、デュプレクサ、複合圧電共振器および通信装置、並びに、圧電フィルタの周波数調整方法
US20040016995A1 (en) 2002-07-25 2004-01-29 Kuo Shun Meen MEMS control chip integration
US6828713B2 (en) 2002-07-30 2004-12-07 Agilent Technologies, Inc Resonator with seed layer
JP4128836B2 (ja) 2002-09-27 2008-07-30 Tdk株式会社 薄膜圧電共振子、それを用いたフィルタ及びデュプレクサ
DE10246791B4 (de) 2002-10-08 2017-10-19 Snaptrack, Inc. Mit akustischen Volumenwellen arbeitender Resonator und Schaltung mit dem Resonator
JP2004147246A (ja) 2002-10-28 2004-05-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電振動子、それを用いたフィルタ及び圧電振動子の調整方法
US6944432B2 (en) * 2002-11-12 2005-09-13 Nokia Corporation Crystal-less oscillator transceiver
FR2848036B1 (fr) * 2002-11-28 2005-08-26 St Microelectronics Sa Support pour resonateur acoustique, resonateur acoustique et circuit integre correspondant
DE10256937B4 (de) 2002-12-05 2018-02-01 Snaptrack, Inc. Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement mit unsymmetrisch/symmetrischer Beschaltung
JP3889351B2 (ja) * 2002-12-11 2007-03-07 Tdk株式会社 デュプレクサ
DE10258422A1 (de) * 2002-12-13 2004-06-24 Epcos Ag Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement mit gekoppelten Resonatoren
JP4342174B2 (ja) 2002-12-27 2009-10-14 新光電気工業株式会社 電子デバイス及びその製造方法
DE10301261B4 (de) * 2003-01-15 2018-03-22 Snaptrack, Inc. Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement und Verfahren zur Herstellung
KR100455127B1 (ko) 2003-01-24 2004-11-06 엘지전자 주식회사 박막 용적 탄성파 공진기를 이용한 물질 센서 모듈
KR100486627B1 (ko) 2003-02-21 2005-05-03 엘지전자 주식회사 반도체 패키지
JP2004304704A (ja) 2003-04-01 2004-10-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜音響共振子、及び、薄膜音響共振子回路
DE10317969B4 (de) 2003-04-17 2005-06-16 Epcos Ag Duplexer mit erweiterter Funktionalität
DE10319554B4 (de) * 2003-04-30 2018-05-09 Snaptrack, Inc. Mit akustischen Volumenwellen arbeitendes Bauelement mit gekoppelten Resonatoren
US6927651B2 (en) 2003-05-12 2005-08-09 Agilent Technologies, Inc. Acoustic resonator devices having multiple resonant frequencies and methods of making the same
US6954121B2 (en) 2003-06-09 2005-10-11 Agilent Technologies, Inc. Method for controlling piezoelectric coupling coefficient in film bulk acoustic resonators and apparatus embodying the method
EP1489740A3 (en) * 2003-06-18 2006-06-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Electronic component and method for manufacturing the same
US6924717B2 (en) 2003-06-30 2005-08-02 Intel Corporation Tapered electrode in an acoustic resonator
JP2005057332A (ja) * 2003-08-04 2005-03-03 Tdk Corp フィルタ装置およびそれを用いた分波器
US6777263B1 (en) 2003-08-21 2004-08-17 Agilent Technologies, Inc. Film deposition to enhance sealing yield of microcap wafer-level package with vias
US7230511B2 (en) * 2003-09-12 2007-06-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Thin film bulk acoustic resonator, method for producing the same, filter, composite electronic component device, and communication device
JP2005117641A (ja) * 2003-09-17 2005-04-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 圧電体共振器、それを用いたフィルタ及び共用器
US7358831B2 (en) 2003-10-30 2008-04-15 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Film bulk acoustic resonator (FBAR) devices with simplified packaging
EP1528677B1 (en) 2003-10-30 2006-05-10 Agilent Technologies, Inc. Film acoustically-coupled transformer with two reverse c-axis piezoelectric elements
US7242270B2 (en) 2003-10-30 2007-07-10 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Decoupled stacked bulk acoustic resonator-based band-pass filter
US7019605B2 (en) * 2003-10-30 2006-03-28 Larson Iii John D Stacked bulk acoustic resonator band-pass filter with controllable pass bandwidth
US6946928B2 (en) * 2003-10-30 2005-09-20 Agilent Technologies, Inc. Thin-film acoustically-coupled transformer
US7362198B2 (en) * 2003-10-30 2008-04-22 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd Pass bandwidth control in decoupled stacked bulk acoustic resonator devices
TWI228869B (en) 2003-12-30 2005-03-01 Ind Tech Res Inst Noise reduction method of filter
GB0403481D0 (en) 2004-02-17 2004-03-24 Transense Technologies Plc Interrogation method for passive sensor monitoring system
US7084553B2 (en) 2004-03-04 2006-08-01 Ludwiczak Damian R Vibrating debris remover
DE602004013534D1 (de) 2004-03-09 2008-06-19 Infineon Technologies Ag Akustischer Volumenwellen - Filter und Verfahren zur Vermeidung unerwünschter Seitendurchgänge
JP4078555B2 (ja) 2004-03-17 2008-04-23 セイコーエプソン株式会社 ニオブ酸カリウム堆積体の製造方法
US6963257B2 (en) 2004-03-19 2005-11-08 Nokia Corporation Coupled BAW resonator based duplexers
JP3875240B2 (ja) 2004-03-31 2007-01-31 株式会社東芝 電子部品の製造方法
US7280007B2 (en) * 2004-11-15 2007-10-09 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Thin film bulk acoustic resonator with a mass loaded perimeter
TWI365603B (en) 2004-10-01 2012-06-01 Avago Technologies Wireless Ip A thin film bulk acoustic resonator with a mass loaded perimeter
US20060087199A1 (en) * 2004-10-22 2006-04-27 Larson John D Iii Piezoelectric isolating transformer
US7098758B2 (en) 2004-11-03 2006-08-29 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically coupled thin-film resonators having an electrode with a tapered edge
US7791434B2 (en) 2004-12-22 2010-09-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic resonator performance enhancement using selective metal etch and having a trench in the piezoelectric
US7425787B2 (en) * 2005-10-18 2008-09-16 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single insulated decoupled stacked bulk acoustic resonator with acoustically-resonant electrical insulator
US7737807B2 (en) * 2005-10-18 2010-06-15 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating series-connected decoupled stacked bulk acoustic resonators
US7525398B2 (en) * 2005-10-18 2009-04-28 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustically communicating data signals across an electrical isolation barrier
US7600371B2 (en) * 2005-10-18 2009-10-13 The Boeing Company Thrust reversers including support members for inhibiting deflection
US20070085632A1 (en) * 2005-10-18 2007-04-19 Larson John D Iii Acoustic galvanic isolator
US7675390B2 (en) * 2005-10-18 2010-03-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating single decoupled stacked bulk acoustic resonator
US7423503B2 (en) * 2005-10-18 2008-09-09 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic galvanic isolator incorporating film acoustically-coupled transformer
US7586392B2 (en) 2006-01-23 2009-09-08 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. Dual path acoustic data coupling system and method
US7514844B2 (en) 2006-01-23 2009-04-07 Avago Technologies Wireless Ip (Singapore) Pte. Ltd. Acoustic data coupling system and method

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1188111A (ja) * 1997-05-21 1999-03-30 Nokia Mobile Phones Ltd 結晶フィルター構造および薄膜バルク弾性波共振器を利用したフィルター
JP2000278068A (ja) * 1999-01-22 2000-10-06 Murata Mfg Co Ltd 弾性表面波装置の周波数調整方法
JP2002120364A (ja) * 2000-10-17 2002-04-23 Fuji Xerox Co Ltd 音響波インクジェット記録ヘッド及び音響波インクジェット記録装置

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2007052370A1 (ja) * 2005-11-04 2009-04-30 株式会社村田製作所 圧電薄膜共振子
JP4803183B2 (ja) * 2005-11-04 2011-10-26 株式会社村田製作所 圧電薄膜共振子
US7554427B2 (en) 2007-01-15 2009-06-30 Hitachi Media Electronics Co., Ltd. Thin film bulk acoustic wave resonator and filter, and radio frequency module using them
WO2010079614A1 (ja) 2009-01-09 2010-07-15 太陽誘電株式会社 フィルタ素子、分波器および電子装置
US8228138B2 (en) 2009-01-09 2012-07-24 Taiyo Yuden Co., Ltd. Filter element, duplexer and electronic device having piezoelectric thin-film resonators stacked vertically
JP2011176744A (ja) * 2010-02-25 2011-09-08 Taiyo Yuden Co Ltd フィルタ、デュープレクサ、通信モジュール、通信装置
US9236848B2 (en) 2010-02-25 2016-01-12 Taiyo Yuden Co., Ltd. Filter, duplexer, communication module and communication device
JP2012100029A (ja) * 2010-11-01 2012-05-24 Taiyo Yuden Co Ltd 弾性波デバイス
US8841819B2 (en) 2010-11-01 2014-09-23 Taiyo Yuden Co., Ltd. Acoustic wave device

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