JP2007243783A - 位相同期回路 - Google Patents

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正憲 原
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Abstract

【課題】入力クロック信号に位相同期化した出力クロック信号を得る為の位相同期回路に関し、特性の経年変化の影響を受けないようにする。
【解決手段】発振器17の出力のクロック信号CLK−CをDDS14により分周して出力クロック信号CLK−Eとし、この出力クロック信号又は出力信号を分周したクロック信号と入力クロック信号との位相を位相比較器12により比較し、位相比較出力信号によりDDS14を制御して、入力クロック信号CLK−Aに位相同期した出力クロック信号CLK−Eを出力する位相同期回路であって、位相比較器12の位相比較出力信号を、ループフィルタ13を介してDDS14に制御値として入力する制御値を所定期間経過毎に格納し、自走モード時に、格納してある制御値を読出して、DDS14に入力する不揮発性メモリ18を設けたものである。
【選択図】図1

Description

本発明は、外部から供給されるクロック信号に位相同期したクロック信号を出力する位相同期回路に関する。
位相同期回路は、各種の構成が知られており、例えば、入力された信号と電圧制御発振器の出力信号又はその出力信号を分周した信号との位相比較を行い、位相差に対応した制御電圧を電圧制御発振器に入力し、この電圧制御発振器の出力信号の位相を、入力された信号の位相に同期化させる構成が一般的である。又このような位相同期回路を用いて、伝送路等の外部から入力されたクロック信号に位相同期化したクロック信号を生成し、そのクロック信号に同期して、伝送路等によるデータの受信処理や送信処理を行う構成も知られている。例えば、図3に示すように、ネットワーク、伝送路等の外部装置31から外部インタフェース機能部33を介して基準発振器機能部32にクロック信号を入力し、このクロック信号に位相同期したクロック信号を基準発振器機能部32から出力して、装置内の外部インタフェース機能部33、信号処理機能部34、デバッガ機能部35等に供給し、そのクロック信号に同期して、データ処理等を行う構成が知られている。
前述の基準発振器機能部32は、例えば、図4に示す構成を有するものであり、32は基準発振器機能部、33は外部インタフェース機能部、41は外部クロック信号を入力するシステムクロック部、42は位相比較器、43はループフィルタ、44はDDS(ダイレクト・ディジタル・シンセサイザ)、45は高周波雑音成分を除去するローパスフィルタ(LPF)、46は分周器(1/n)、47は高安定度の発振器、48は電圧制御発振器(VCO)、49は制御電圧発生部(VG)を示す。又CLK−A〜CLK−Gは、各部のクロック信号を示す。
前述のように、図1に於ける伝送路等の外部装置31からのクロック信号を、外部インタフェース機能部33に入力すると、外部インタフェース機能部33から基準発振器機能部32に入力クロック信号CLK−Aとして入力する。システムクロック部41は、入力クロック信号CLK−Aの正常性をチェックし、正常の場合、入力クロック信号CLK−Aと同一のクロック信号CLK−Bを位相比較器42に入力する。位相比較器42は、このクロック信号CLK−Bと、分周器46によりクロック信号CLK−Bと同一周波数となるように分周したクロック信号CLK−Fとの位相比較を行う。
又発振器47の出力のクロック信号CLK−CをDDS44に入力し、位相比較器42の位相比較出力信号を、ループフィルタ43を介してDDS44の制御信号として入力し、発振器47の出力のクロック信号CLK−Cを、ループフィルタ43とDDS44とに入力する。又位相比較器42の位相比較出力信号を、ループフィルタ42を介して、DDS44の制御信号として入力し、DDS44の分周比の制御を行い、入力クロック信号CLK−Aに位相同期化したクロック信号CLK−Dを、高周波雑音成分を除去する為のローパスフィルタ45を介して出力クロック信号CLK−Eとし、外部インタフェース機能部33等に供給する。
又出力クロック信号CLK−Eの周波数が入力クロック信号CLK−Aと同一の周波数となるように、分周器46により分周したクロック信号CLK−Fを位相比較器41に入力する。又電圧制御発振器18からのクロック信号CLK−Gを、位相比較器42の位相比較タイミング信号として入力する。なお、出力クロック信号CLK−Eを制御電圧発生部49に入力し、その制御電圧発生部49からの制御電圧を電圧制御発振器48に入力する構成に於いて、電圧制御発振器48を、固定の周波数のクロック信号CLK−Gを出力する発振器とすることもできる。
前述の入力クロック信号CLK−Aは、例えば8kHz、出力クロック信号CLK−Eは、例えば8MHzとすることができる。この場合、分周器46は、1/1000の分周比の構成とすることになる。又位相比較器42の位相比較タイミング信号とするクロック信号CLK−Gは、例えば80kHzとすることができる。又発振器47の出力クロック信号CLK−Cは、例えば17MHzとすることができる。
又各種の電子回路に於いては、周囲環境や動作条件等の種々の条件により、特性が時間の経過に従って僅かであるが変化する。それによって、例えば、高精度に設定した周波数が変化する場合がある。このような出力周波数の変化を補正する従来例として、例えば、発振器に可変シンセサイザを接続し、発振器の出力周波数を可変シンセサイザにより所望の周波数として出力する構成に於いて、発振器の出力周波数は、運転開始から周囲環境等に応じて変化するから、発振器の特性変化を予測して、所定の期間経過毎の補正値をメモリに予め格納し、所定期間経過毎に、メモリから読出した補正値により可変シンセサイザを制御して、出力周波数の経年変化を補償する手段が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
特開昭61−220526号公報
従来の位相同期回路は、図1及び図2に示すように、伝送路等の外部装置31からの入力クロック信号CLK−Aに位相同期化する伝送路同期モードと、入力クロック信号CLK−Aが入力されない状態の自走モードとの何れかによる動作を行うものであり、伝送路同期モードの場合は、入力クロック信号CLK−Aに位相同期化したクロック信号CLK−Eを出力することができるが、自走モードの場合は、基準となるクロック信号CLK−Aが入力されないので、例えば、工場出荷時に、発振器47の初期特性を測定し、出力クロック信号CLK−Eが所定の周波数となるように、DDS44の制御値を設定するものである。
例えば、出力周波数とDDS制御値との関係が、図5に示す場合、即ち、DDS44に対する制御値を初期固定値Mにより、所望の出力周波数foutとなるように設定しても、発振器47の特性が時間経過に従って変化し、例えば、数年後には、初期固定値Mによる出力周波数がfout+Δfに変化する。即ち、工場出荷時に特性を測定して所望の精度の出力クロック信号CLK−Eとなるように設定しても、経過時間が長くなると、自走モードに於ける出力クロック信号CLK−Eの精度が劣化する問題がある。
自走モードは、入力クロック信号CLK−A断の場合や、基準発振器機能部32を含む装置の移設時等に於いて発生するものであり、DDS44の制御値を精度良く設定しても、自走モードとなった時に、図5に示すように、Δfの周波数変化となる。このような問題点を回避する為には、再度工場等に於いて特性を測定し、DDS44の制御値を設定し直すか、或いは、その装置の設置個所に於いて、測定器類を運搬して、特性測定を行うことにより、DDS44の制御値の再設定処理を行うことが必要となる問題がある。又前述の特許文献1に示されているように、予め所定期間経過後の変化を予測した補正値をメモリに格納し、所定期間経過毎に、その補正値をメモリから読出して変化分を補正する手段は、総て同一の動作環境とは限らないから、確実な補正は困難である問題がある。
本発明は、前述の問題点を解決するものであり、経年劣化に対応したDDSの制御値の自動更新を可能とすることを目的とする。
本発明の位相同期回路は、発振器の出力のクロック信号をDDSにより分周して出力クロック信号とし、該出力クロック信号又は該出力信号を分周したクロック信号と入力クロック信号との位相を比較し、位相比較出力信号により前記DDSを制御して、前記入力クロック信号に位相同期した出力クロック信号を出力する位相同期回路に於いて、前記位相比較器の位相比較出力信号を、ループフィルタを介して前記DDSに入力する制御値を格納し、自走モード時に前記制御値を読出して前記DDSに入力する不揮発性メモリを設けたものである。
又入力クロック信号の断検出機能を有するシステムクロック部から前記入力クロック信号を位相比較器に入力し、発振器の出力のクロック信号をDDSにより分周して出力クロック信号とし、該出力クロック信号又は該出力信号を分周したクロック信号を前記位相比較器に入力して位相を比較し、位相比較出力信号により前記DDSを制御して、前記入力クロック信号に位相同期した出力クロック信号を出力する位相同期回路に於いて、前記位相比較器の位相比較出力信号を、ループフィルタを介して前記DDSに入力する制御値とし、該制御値を所定期間経過毎に格納し、前記システムクロック部による入力クロック信号の断検出による自走モード時に最新の格納制御値を読出して前記DDSに入力する不揮発性メモリを設けたものである。
DDSの制御値を不揮発性メモリに格納し、入力クロック信号断の状態の自走モードに於いて、不揮発性メモリに格納した最新の制御値を読出してDDSの制御値とすることにより、経年変化によっても自走モード時の出力クロック信号を、工場出荷時に調整して設定した特性に殆ど同一の特性として出力することができる。
本発明の位相同期回路は、発振器の出力のクロック信号をDDSにより分周して出力クロック信号とし、この出力クロック信号又は出力信号を分周したクロック信号と入力クロック信号との位相を位相比較器により比較し、位相比較出力信号によりDDSを制御して、入力クロック信号に位相同期した出力クロック信号を出力する位相同期回路であって、位相比較器の位相比較出力信号を、ループフィルタを介してDDSに制御値として入力する制御値を所定期間経過毎に格納し、自走モード時に、格納してある制御値を読出して、DDSに入力する不揮発性メモリを設けたものである。
図1は、本発明の実施例1の説明図であり、外部インタフェース機能部と基準発振器機能部とを、運用系と待機系との冗長構成とした場合を示す。なお、本発明は、運用系又は待機系の何れか一方のみを有する構成とすることも可能である。図1に於いて、1は伝送路等を含む外部装置,2a,2bは外部インタフェース機能部、3a,3bは基準発振器機能部、4は信号処理機能部、5はデバッガ機能部、11a,11bはシステムクロック部、12a,12bは位相比較器、13a,13bはループフィルタ、14a,14bはDDS、15a,15bはローパスフィルタ(LPF)、16a,16bは分周器(1/n)、17a,17bは発振器、18a,18bは不揮発性メモリ(M)(以下「メモリ」とする)、19a,19bはメモリ制御部を示す。
伝送路等の外部装置1からのクロック信号を、運用系と待機系との外部インタフェース機能部2a,2bにより受信し、それぞれ受信したクロック信号CLK−Aを運用系と待機系との基準発振器機能部3a,3bのシステムクロック部11a,11bに入力し、且つ運用系のシステムクロック部11aからのクロック信号CLK−Bを待機系のシステムクロック部11bに入力し、待機系のシステムクロック部11bからのクロック信号CLK−Bを運用系のシステムクロック部11aに入力する。なお位相比較器12a,12bに位相比較のタイミング信号を入力する為の発振器等については図示を省略している。以下、各部の記号の運用系を示すaと、待機系を示すbとを省略して説明する。
システムクロック部11は、運用系と待機系との外部インタフェース機能部2からのクロック信号CLK−Aを監視すると共に、運用系と待機系とのシステムクロック部11からのクロック信号CLK−Bについても相互に監視して、正常なクロック信号CLK−Bを位相比較器12に入力する。又所定期間経過毎にメモリ制御部19に指示して、ループフィルタ13からDDS14に入力する制御値をメモリ18に書込み、又外部装置1からのクロック信号が入力されない自走モードに於いて、メモリ制御部19に指示して、メモリ18に書込んである制御値を読出して、DDS14に入力する制御機能を含むものである。
又位相比較器12は、クロック信号CLK−B,CLK−Fの位相を比較して、その位相比較出力信号を、ループフィルタ13を介してDDS14の制御値として入力する。又その制御値をメモリ18に入力する。このメモリ18は、フラッシュメモリ等の不揮発性メモリであり、前述のように、年数や月数等による所定期間毎に、DDS14に入力された制御値をメモリ制御部19により順次書込む。又自走モード時には、前述のように、入力クロック信号断の検出を行ったシステムクロック部11からの指示に従って、メモリ制御部19によりメモリ18から最新の制御値を読出して、DDS14に入力する。なお、メモリ18から読出した制御値を、ループフィルタ13を介してDDS14に入力する構成とすることも可能である。又発振器17の出力のクロック信号CLK−CをDDS14により分周し、ローパスフィルタ15により高周波雑音成分を除去して出力クロック信号CLK−Eとし、信号処理機能部4と、デバッガ機能部5と、外部インタフェース機能部2とに入力する。又その出力クロック信号CLK−Eを分周器16により分周して、位相比較器12に入力するクロック信号CLK−Fとする。
基準発振器機能部3又はこれを含む装置の工場出荷時等に於いて、発振器17の特性を測定し、自走モードに於いて所定の周波数のクロック信号CLK−Eを出力できるように、DDS14の制御値をメモリ18に初期制御値として設定する。この状態の装置の運用を開始する場合、外部装置1からのクロック信号が入力されない自走モードに於いては、メモリ18に設定された初期制御値によりDDS14が制御されるから、基準発振器機能部3の出力クロック信号CLK−Eは、所望の周波数のクロック信号CLK−Eとなり、各部に供給することができる。
又運用開始後の周囲環境の温度や湿度等の条件に対応して、各部の特性が変化する。又基準発振器機能部3の発振器17についても同様に特性劣化が進行する。しかし、伝送路同期モードで運用中は、外部装置1からのクロック信号に位相同期化させるものであるから、発振器17の特性変化による影響は、DDS14の制御によって出力クロック信号CLK−Eには影響はない。このような状態に於いて、外部装置1からのクロック信号が断となった場合や、装置の移設時等の自走モードで動作する場合、メモリ制御部19によりメモリ18から最新の制御値を読出して、DDS14の制御値とする。それにより、伝送路同期モード時の出力クロック信号CLK−Eと同様な運用開始初期時の精度の出力クロック信号CLK−Eとすることができる。
図2は、動作説明図であり、横軸をDDS制御値、縦軸を発振器17の出力周波数として示し、初期特性は、工場出荷時等に於けるもので、例えば、自走モード用制御値“1111”を初期値としてメモリ18に格納する。それによるDDS制御値Mにより出力周波数foutのクロック信号を出力することができる。そして運用開始からX年後、発振器17の特性変化より、DDS制御値を初期値のMとして自走モードで運用すると、出力周波数はfout+Δfとなる。しかし、伝送路同期モードによる運用状態に於いては、ループフィルタ13を介してDDS14に入力される制御値を、“1112”として、出力周波数foutを維持するように制御する。この時の制御値を自走モード用制御値として、メモリ18に格納する。従って、X年経過後に、自走モードとなった場合、メモリ18に格納された自走モード用制御値“1112”によるDDS制御値Mによって、出力周波数はfoutに維持されることになる。
同様に、Y年後、発振器17の特性変化により、自走モードの場合に、DDS制御値がMの場合、出力周波数はfout+Δfとなる。この場合の伝送路同期モードに於ける自走モード用制御値は“1113”であるとすると、これをメモリ18に格納する。従って、Y年経過後に自走モードとなった場合、メモリ18に格納された自走モード用制御値“1113”によるDDS制御値Mによって、出力周波数は初期状態と同一のfoutとすることができる。
又メモリ18に対するDDS制御値を書込む時に、運用系の外部インタフェース機能部2aからのクロック信号CLK−Aが正常の場合に、そのクロック信号CLK−Aと、そのクロック信号CLK−Aを基にした運用系のシステムクロック部11aからのクロック信号CLK−Bと、待機系のシステムクロック部11bからのクロック信号CLK−Bととの3種類のクロック信号を比較して、2種類以上のクロック信号が許容周波数偏差ΔF以内の場合に、前述の所定期間経過毎のDDS制御値をメモリ18に書込む制御を行い、その条件を満たさない状態の場合は、システムクロック部12a,12b等の異常発生として、上位の監視装置(図示せず)に通知する。即ち、正常な状態に於ける所定期間経過毎のDDS制御値のみをメモリ18a,18bに格納する。
又前述のDDS制御値をメモリ18に書込む時間間隔は、工場出荷時又は運用開始時からの年数、月数等による経過期間毎とするもので、例えば、システムクロック部11或いはメモリ制御部19に所定期間を設定し、カレンダ機能等により工場出荷時又は運用開始時からの経過期間の計測を行い、設定した所定期間経過毎に於けるDDS14の制御値をメモリ18に書込む構成とする実施例について説明しているが、発振器17を主とした周辺回路の特性変化の進行状況に応じて所定期間の設定を行うこともできる。例えば、周囲環境の温度が高い場合は、低い場合に比較して、特性変化が早くなるのが一般的であるから、周囲温度測定手段を設け、測定温度に対応して初期設定期間を変更することにより、特性変化の進行状況に対応することもできる。又伝送路同期モードによる運用中のDDS制御値の変化(ループフィルタ13の出力信号の変化)が、所定の閾値を超えた時に、その時点の制御値をメモリ18に書込むように制御することもできる。それにより、自走モードとなった場合に、少なくとも許容範囲内の出力周波数とすることができる。
本発明の実施例1の説明図である。 本発明の実施例1の動作説明図である。 クロック信号に従って動作する装置の説明図である。 従来例の基準発振器機能部の説明図である。 従来例の特性説明図である。
符号の説明
1 外部装置
2a,2b 外部インタフェース機能部
3a,3b 基準発振器機能部
4 信号処理機能部
5 デバッガ機能部
11a,11b システムクロック部
12a,12b 位相比較器
13a,13b ループフィルタ
14a,14b DDS
15a,15b ローパスフィルタ(LPF)
16a,16b 分周器(1/n)
17a,17b 発振器
18a,18b 不揮発性メモリ(M)
19a,19b メモリ制御部

Claims (2)

  1. 発振器の出力のクロック信号をDDSにより分周して出力クロック信号とし、該出力クロック信号又は該出力信号を分周したクロック信号と入力クロック信号との位相を比較し、位相比較出力信号により前記DDSを制御して、前記入力クロック信号に位相同期した出力クロック信号を出力する位相同期回路に於いて、
    前記位相比較器の位相比較出力信号を、ループフィルタを介して前記DDSに入力する制御値を格納し、自走モード時に前記制御値を読出して前記DDSに入力する不揮発性メモリを設けた
    ことを特徴とする位相同期回路。
  2. 入力クロック信号の断検出機能を有するシステムクロック部から前記入力クロック信号を位相比較器に入力し、発振器の出力のクロック信号をDDSにより分周して出力クロック信号とし、該出力クロック信号又は該出力信号を分周したクロック信号を前記位相比較器に入力して位相を比較し、位相比較出力信号により前記DDSを制御して、前記入力クロック信号に位相同期した出力クロック信号を出力する位相同期回路に於いて、
    前記位相比較器の位相比較出力信号を、ループフィルタを介して前記DDSに入力する制御値とし、該制御値を所定期間経過毎に格納し、前記システムクロック部による入力クロック信号の断検出による自走モード時に最新の格納制御値を読出して前記DDSに入力する不揮発性メモリを設けた
    ことを特徴とする位相同期回路。
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