JP2007256540A - 液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置 - Google Patents

Abstract

【課題】マルチ絵素駆動に対応し得る液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置を提供する。
【解決手段】各保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４が４ライン毎に互いに接続されている。全ての走査信号線２を接続した１系統の検査用ゲート配線２２にて走査信号を入力する。複数のデータ信号線３には、隣接するデータ信号線３毎に反対極性のデータ信号を供給する。複数の第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２に対応する保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ３及び保持容量ラインＣＳ２・ＣＳ４をそれぞれ束ねて接続した第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２の検査用保持容量配線２６を設ける。検査用保持容量配線２６には、互いに位相を反対にした交流（ＡＣ）信号を入力する。
【選択図】図１

Description

本発明は、複数の画素を備え、上記複数の画素のそれぞれは、それぞれの液晶層に互いに異なる電圧を印加することができる第１副画素及び第２副画素を有する液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置に関するものである。

大型液晶ＴＶ用ディスプレイの斜め方向視角に対する白浮きを抑制するマルチ絵素駆動では、補助容量配線に、ゲート信号に同期して位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力することによって、中間調を１絵素内で複数階調にて構成する。この結果、中間調付近での階調−輝度カーブが緩やかになり、画素容量差起因のムラ品位の向上が図られるようになっている。

このような複数の副画素を有する表示装置として、例えば、特許文献１、特許文献２に開示された液晶表示装置がある。これらの液晶表示装置では、１画素を上下２つの副画素に分割し、互いに逆の位相の信号電圧が印加される２つの保持容量配線が設けられたものからなっている。

上記保持容量配線には、ゲート信号のオフ後に容量結合を行うタイミングで、ソースから供給されるドレイン信号電圧（Ｖｓ）の突き上げに寄与する保持容量波形電圧（保持容量Ｃｓ極性が＋）と、ドレイン信号電圧（Ｖｓ）の突き下げに寄与する保持容量波形電圧（保持容量Ｃｓ極性が−）との２種類が、互いに逆の位相の信号電圧として上下２つの副画素のそれぞれに印加される。

これにより、上下２つの副画素に対して、一方が明るい副画素及び他方が暗い副画素を形成する。

このような、液晶表示装置は、大型又は高い高精細な液晶表示装置に対して、視野角特性を改善することを容易に実現できる構成を有する装置と期待されている。

ところで、液晶パネルが製造されたときには、液晶パネルの欠陥検査が行われる。従来の例えば、特許文献３に開示された液晶パネル簡易検査配線方法では、図８に示すように、１つのゲートブロック（実装後に１つのゲートドライバを割り当てる単位）にて、ゲート配線を奇数本目（ＶＧ（ｎ））と偶数本目（ＶＧ（ｎ＋１））とでそれぞれ束ねている（１ブロック当たり２種類のゲート信号）。

これにより、各画素が点灯するか否かについて確認できるものとなっている。すなわち断線等の有無に関する欠陥検査が確認できるものとなっている。なお、他の液晶パネル簡易検査配線方法も、特許文献３〜４に開示しているように、同様の方法を採用している。
特開２００５−１８９８０４号公報（２００５年７月１４日公開） 特開２００４−３６１９３０号公報（平成１６年２月２６日公開） 特開平６−８２８１７号公報（１９９４年３月２５日公開） 特開平２−７２３９２号公報（１９９０年３月１２日公開） 特開平１０−４８０９２号公報（１９９８年２月２０日公開）

しかしながら、上記従来の液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置は、マルチ絵素駆動に対応するものではない。

すなわち、液晶パネルの欠陥検査を主目的とする従来のパネル簡易検査用配線では、検査冶具の簡略化や配線の配置領域の制約等により、例えばゲート信号に関しては、奇数本目と偶数本目とをそれぞれ結線し、２種類のゲート信号を入力しているにすぎない。したがって、従来通りの直流（ＤＣ）信号１種類にて駆動せざるを得ないため、マルチ絵素駆動に基づく欠陥検査が確認できないという問題点を有している。

この結果、マルチ絵素駆動に伴うムラ品位を過剰検査してしまう場合や、マルチ絵素駆動時特有の縦分割絵素間リーク時に中間調にて縦連結輝点化するといった欠陥を、パネル検査時に検出できないといった問題点があり、生産効率低下や実装部材のコストロスが発生している。

本発明は、上記従来の問題点に鑑みなされたものであって、その目的は、マルチ絵素駆動に対応し得る液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置を提供することにある。

本発明の液晶表示装置の検査方法は、上記課題を解決するために、走査信号線、データ信号線、保持容量配線、及び上記走査信号線とデータ信号線との各交差部に画素を備え、各画素が複数の副画素から構成されていると共に、上記保持容量配線は上記各走査信号線を挟む複数の副画素に対応して順次配設されているアクティブマトリクス基板を備えた液晶表示装置の検査方法において、上記各保持容量配線が同一一定ライン毎に互いに接続されている場合には、上記全ての走査信号線を接続した１系統の検査用ゲート配線にて走査信号を入力し、上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、上記複数の副画素に対応する保持容量配線をそれぞれ各画素同士で束ねて接続した該副画素の複数分の検査用保持容量配線を設けると共に、上記検査用保持容量配線には、互いに位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力することを特徴としている。

上記の発明によれば、各保持容量配線が同一一定ライン毎に互いに接続されている。

この場合には、全ての走査信号線を接続した１系統の検査用ゲート配線にて走査信号を入力する。また、複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給する。

したがって、１つのデータ信号線を介して選択された全走査信号線の画素に信号を書き込む信号及び極性は全部同一であり、隣接するデータ信号線に対して反対極性の信号を書き込むことにより、ソースライン反転駆動して、液晶に書き込む極性を反転駆動する。

さらに、複数の副画素に対応する保持容量配線をそれぞれ各画素同士で束ねて接続した該副画素の複数分の検査用保持容量配線を設けると共に、上記検査用保持容量配線には、互いに位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力する。

これにより、検査用保持容量配線に対応する副画素とを例えば「明表示」と「暗表示」とにすることができる。

この結果、フレーム間の表示画面の繰り返しを目視検査することによって、例えば暗、明の順に表示される副画素間にリーク欠陥があると、「縦連結輝点欠陥」として視認でき、パネル検査の段階で検出できる。

したがって、マルチ絵素駆動に対応し得る液晶表示装置の検査方法を提供することができる。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法は、上記課題を解決するために、走査信号線、データ信号線、保持容量配線、及び上記走査信号線とデータ信号線との各交差部に画素を備え、各画素が複数の副画素から構成されていると共に、上記保持容量配線は上記各走査信号線を挟む複数の副画素に対応して順次配設されているアクティブマトリクス基板を備えた液晶表示装置の検査方法において、上記各保持容量配線が同一一定ライン毎に互いに接続されている場合には、上記全ての走査信号線を偶数ライン毎及び奇数ライン毎の２系統になるように接続した検査用ゲート配線にそれぞれ異なる走査信号を入力し、上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、上記複数の副画素に対応する保持容量配線をそれぞれ各画素同士で束ねて接続した該副画素の複数分の検査用保持容量配線を設けると共に、上記検査用保持容量配線には、互いに位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力することを特徴としている。

上記の発明によれば、全ての走査信号線を偶数ライン毎及び奇数ライン毎の２系統になるように接続した検査用ゲート配線にそれぞれ異なる走査信号を入力する。

したがって、検査用ゲート配線の数を２本にすると、データ信号線方向の副画素へ印加する信号電圧を、＋、＋、−、−のように、極性を変えて反転駆動できるので、より最終製品の駆動形態に近い検査が可能となる。

したがって、マルチ絵素駆動に対応し得る液晶表示装置の検査方法を提供することができる。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法は、上記課題を解決するために、走査信号線、データ信号線、保持容量配線、及び上記走査信号線とデータ信号線との各交差部に画素を備え、各画素が複数の副画素から構成されていると共に、上記保持容量配線は上記各走査信号線を挟む複数の副画素に対応して順次配設されているアクティブマトリクス基板を備えた液晶表示装置の検査方法において、上記各保持容量配線が一定ライン毎に互いに接続されてＮ相（Ｎは２以上の整数）を形成し、かつ各相の各ラインに対して順次保持容量信号を入力するときに、第Ｎ相における最後のラインと第１相における最初のラインとが互いに逆の位相の電圧が入力できるように接続されている場合には、上記全ての走査信号線を２ライン毎の２系統になるように接続して該２系統に対して異なる走査信号を入力し、上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、上記各相の対応するラインの保持容量配線同士を接続して束ねたＮ系統の検査用保持容量配線を設け、これらＮ系統の検査用保持容量配線には、上記走査信号線からの走査信号に同期して位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力することを特徴としている。

上記の発明によれば、各保持容量配線が一定ライン毎に互いに接続されてＮ相（Ｎは２以上の整数）を形成し、かつ各相の各ラインに対して順次保持容量信号を入力するときに、第Ｎ相における最後のラインと第１相における最初のラインとが互いに逆の位相の電圧が入力できるように接続されている。

この場合には、全ての走査信号線を２ライン毎の２系統になるように接続して該２系統に対して異なる走査信号を入力する。また、複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給する。

この結果、全走査信号線を２回の走査に分けて駆動する。そして、この２回の走査においてデータ信号線に印加する電圧の極性を反転するので、隣接するデータ信号線とに反対極性の信号を書き込むことにより、ソースライン反転駆動を行い、かつ走査信号線（複数の副画素）毎のドット反転駆動を行って液晶に書き込む極性を反転駆動する。

このとき、本発明では、上記各相の対応するラインの保持容量配線同士を接続して束ねたＮ系統の検査用保持容量配線を設け、これらＮ系統の検査用保持容量配線には、上記走査信号線からの走査信号に同期して位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力する。

これにより、２フレームの表示画面の繰り返しを目視検査することによって、暗、明の順に表示される副画素間にリーク欠陥があると、「縦連結輝点欠陥」として視認でき、検出できる。

次に、データ信号線３に印加する電圧を反転させ破線にて示すようにして、２フレームの表示画面の繰り返し（列方向にデータ信号線Ｓ１列は暗、明の順に表示し、データ信号線Ｓ２列は明、暗の順に表示する）を目視検査することによって、暗、明の順に表示される第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２間にリーク欠陥があると、「縦連結輝点欠陥」として視認でき、パネル検査の段階で検出できる。

したがって、マルチ絵素駆動に対応し得る液晶表示装置の検査方法を提供することができる。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法では、前記走査信号線に走査信号を入力するための検査用ゲートパッドを設けることが好ましい。

これにより、検査用ゲートパッドから走査信号線に走査信号を入力することができる。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法では、前記保持容量配線に保持容量信号を入力するための検査用保持容量パッドを設けることが好ましい。

これにより、検査用保持容量パッドから保持容量配線に保持容量信号を入力することができる。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法では、前記検査用ゲートパッド又は検査用保持容量パッドを、アクティブマトリクス基板に設けることが好ましい。

これにより、アクティブマトリクス基板に設けられた検査用ゲートパッド又は検査用保持容量パッドにて、走査信号又は保持容量信号を入力することができる。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法では、前記検査用ゲートパッド又は検査用保持容量パッドに、探針を接触させて検査することが好ましい。これにより、簡単に検査することができる。

また、本発明の液晶表示装置は、上記課題を解決するために、上記記載の液晶表示装置の検査方法に使用することを特徴としている。それゆえ、マルチ絵素駆動に対応し得る液晶表示装置を提供することができる。

本発明の液晶表示装置の検査方法は、以上のように、各保持容量配線が同一一定ライン毎に互いに接続されている場合には、上記全ての走査信号線を接続した１系統の検査用ゲート配線にて走査信号を入力し、上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、上記複数の副画素に対応する保持容量配線をそれぞれ各画素同士で束ねて接続した該副画素の複数分の検査用保持容量配線を設けると共に、上記検査用保持容量配線には、互いに位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力する方法である。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法は、以上のように、各保持容量配線が同一一定ライン毎に互いに接続されている場合には、上記全ての走査信号線を偶数ライン毎及び奇数ライン毎の２系統になるように接続した検査用ゲート配線にそれぞれ異なる走査信号を入力し、上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、上記複数の副画素に対応する保持容量配線をそれぞれ各画素同士で束ねて接続した該副画素の複数分の検査用保持容量配線を設けると共に、上記検査用保持容量配線には、互いに位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力する方法である。

また、本発明の液晶表示装置の検査方法は、以上のように、各保持容量配線が一定ライン毎に互いに接続されてＮ相（Ｎは２以上の整数）を形成し、かつ各相の各ラインに対して順次保持容量信号を入力するときに、第Ｎ相における最後のラインと第１相における最初のラインとが互いに逆の位相の電圧が入力できるように接続されている場合には、上記全ての走査信号線を２ライン毎の２系統になるように接続して該２系統に対して異なる走査信号を入力し、上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、上記各相の対応するラインの保持容量配線同士を接続して束ねたＮ系統の検査用保持容量配線を設け、これらＮ系統の検査用保持容量配線には、上記走査信号線からの走査信号に同期して位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力する方法である。

また、本発明の液晶表示装置は、以上のように、上記記載の液晶表示装置の検査方法に使用するものである。

それゆえ、マルチ絵素駆動に対応し得る液晶表示装置の検査方法を提供することができるという効果を奏する。

〔実施の形態１〕
本発明の一実施形態について図１ないし図５に基づいて説明すれば、以下の通りである。

本実施の形態の液晶表示パネルは、例えば、フルハイビジョン規格に対応したパネルであり、行方向にｍ＝１９２０×３画素（赤（Ｒ）・緑（Ｇ）・青（Ｂ）の各絵素に対応）、列方向にｎ＝１０８０画素の画素がマトリクス状に配設されている。

また、本実施の形態の液晶表示パネルは、マルチ絵素構造を有している。すなわち、マルチ絵素構造では、各赤（Ｒ）・緑（Ｇ）・青（Ｂ）の画素が２以上の副画素に分割され、副画素電極がそれぞれ個別に駆動される。このような２以上の副画素により画素が構成される形態は、例えば画素欠陥が発生したときに修正を行っても、正常画素の割合の低下が抑えられるため有利な形態である。

また、マルチ絵素構造が適用される場合、副画素のうちの少なくとも２つは輝度が互いに異なるものであることが好ましい。この形態によれば、１つの画素内に明るい副画素及び暗い副画素の両方が存在するため、面積階調によって中間調を表現することができ、液晶表示画面の斜め視角における白浮きを改善するのに好適である。

さらに、上記マルチ絵素構造を採用する本実施の形態の液晶表示装置は、互いに逆の位相の信号電圧が印加される２以上の保持容量配線が設けられたものであり、上記２以上の保持容量配線は、それぞれ異なる副画素に対応する画素電極と絶縁層を介して重なる構造を有する。このような形態は、明るい副画素及び暗い副画素を形成するのに好適である。なお、２以上の保持容量配線に印加される互いに逆の位相の信号電圧とは、画素分割構造の画素において、面積階調を操作するために用いられる保持容量Ｃｓ波形電圧のことを意味し、ゲート信号のオフ後に、容量結合を行うタイミングで、ソースから供給されるドレイン信号電圧（Ｖｓ）の突き上げに寄与する保持容量Ｃｓ波形電圧（保持容量Ｃｓ極性が＋）と、ドレイン信号電圧（Ｖｓ）の突き下げに寄与する保持容量Ｃｓ波形電圧（保持容量Ｃｓ極性が−）との２種類がある。

このような画素分割法（面積階調技術）においては、保持容量Ｃｓ波形電圧、保持容量Ｃｓ及び液晶容量の容量結合により、画素毎への実効電圧を副画素毎に代えることによって、明・暗の副画素を形成させ、これらのマルチ駆動を実現することができる。

なお、画素分割構造としては、例えば、明るい副画素の面積が暗い副画素の面積と等しい１：１画素分割構造や、明るい副画素の面積が暗い副画素の面積の１／３である１：３画素分割構造等が挙げられる。中でも、１：３画素分割構造が液晶ディスプレイ画面の斜め視角における白浮き対策（視野角改善）として特に有効である。

上記マルチ絵素構造を有するアクティブマトリクス基板１０を備えた液晶表示装置の構成を、図３に基づいて詳述する。図３は、１画素の構成を示す平面図である。

同図に示すように、上記アクティブマトリクス基板１０は、マトリクス状に配された画素領域１と、互いに直交する走査信号線２（列方向、図中左右方向）及びデータ信号線３（行方向、図中上下方向）と、第１保持容量配線１１及び第２保持容量配線１２とを備えている。

画素領域１には、これら走査信号線２とデータ信号線３との交差部分に、アクティブ素子であるスイッチング素子としてのＴＦＴ（Thin Film Transistor：薄膜トランジスタ）４が設けられている。アクティブ素子であるＴＦＴ４は、ゲート電極として機能する走査信号線２と、データ信号線３に接続されたソース電極５と、互いに向かい合う第１ドレイン電極６ａ及び第２ドレイン電極６ｂとを備えている。この結果、上記ＴＦＴ４は、ソース電極５と走査信号線２に接続されるゲート電極と第１ドレイン電極６ａとによって構成される第１ＴＦＴ４ａと、ソース電極５と走査信号線２に接続されるゲート電極と第２ドレイン電極６ｂとによって構成される第２ＴＦＴ４ｂとを含んでいる。

そして、第１ドレイン電極６ａ及び第２ドレイン電極６ｂはそれぞれ、配線部を構成する導電層からなる第１ドレイン引出し配線７ａ及び第２ドレイン引出し配線７ｂに接続されている。第１ドレイン引出し配線７ａ及び第２ドレイン引出し配線７ｂは、それぞれ層間絶縁膜を貫く第１コンタクトホール８ａ及び第２コンタクトホール８ｂを介して第１副画素電極１ａ及び第２副画素電極１ｂと接続されている。なお、例えば３７インチ（＝９４ｃｍ）９６０×５４０ドットの液晶表示装置の場合、１画素サイズは２８４μｍ×８５４μｍであり、第１副画素電極１ａ及び第２副画素電極１ｂの大きさはその約１／２である。

上記の構成のアクティブマトリクス基板１０の各画素では、図４に示す等価回路が実現される。

すなわち、第１副画素電極１ａが第１ＴＦＴ４ａを介してデータ信号線３に接続され、第２副画素電極１ｂが第２ＴＦＴ４ｂを介してデータ信号線３に接続される。なお、第１ＴＦＴ４ａ及び第２ＴＦＴ４ｂのゲートはいずれも走査信号線２に接続される。また、第１副画素電極１ａに接続された第１保持容量上電極９ａと第１保持容量配線１１との間で第１保持容量（Strage Capacitor）Ｃｃｓ１が形成され、第２副画素電極１ｂに接続された第２保持容量上電極９ｂと第２保持容量配線１２との間で第２保持容量Ｃｃｓ２が形成される。なお、第１保持容量配線１１及び第２保持容量配線１２には、互いに異なる保持容量信号（補助容量対向電圧）が供給される。

同図に示すように、第１副画素電極１ａ、共通対向電極Ｅｃ、及び両者間の液晶層によって第１副画素容量Ｃｐ１が構成され、第２副画素電極１ｂ、対向電極Ｅｃ、及び両者間の液晶層によって第２副画素容量Ｃｐ２が構成される。

次に、この保持容量信号を用いた駆動方法の一例について、前記図４に示す画素の等価回路と、各信号の電圧波形（タイミング）を示した図５（ａ）（ｂ）とに基づいて説明する。図５（ａ）はｎフレーム目の駆動波形を示すものであり、図５（ｂ）はｎ＋１フレーム目の駆動波形を示すものである。なお、図５（ｂ）は図５（ａ）に対して極性反転したものとなっている。

図５（ａ）（ｂ）に示した電圧波形によれば、第１副画素Ｐ１が明副画素となり、第２副画素Ｐ２が暗副画素となる。Ｖｇはゲート電圧を示し、Ｖｓはソース電圧を示し、Ｖｃｓ１・Ｖｃｓ２は第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２のそれぞれの保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２の電圧を示し、Ｖｌｃ１及びＶｌｃ２はそれぞれ第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２の画素電極の電圧を示す。

本実施の形態では、図５（ａ）に示すように、ｎフレーム目にソース電圧の中央値Ｖｓｃに対して、プラス極性としてソース電圧にＶｓｐを与え、図５（ｂ）に示すように、次の（ｎ＋１）フレーム目にマイナス極性としてソース電圧にＶｓｎを与え、かつ、フレーム毎にドット反転を行う。保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２には、第１保持容量電圧Ｖｃｓ１及び第２保持容量電圧Ｖｃｓ２を振幅電圧Ｖａｄで振幅させ、保持容量ラインＣＳ１の位相と保持容量ラインＣＳ２の位相とを１８０度ずらした信号を入力する。

図５（ａ）を参照して、ｎフレーム目のときの各信号の電圧の経時変化を説明する。

時刻Ｔ１のとき、ゲート電圧ＶｇがＶｇＬからＶｇＨに変化し、両副画素の第１ＴＦＴ４ａ及び第２ＴＦＴ４ｂがＯＮ状態となり、第１液晶容量Ｃｌｃ１・第２液晶容量Ｃｌｃ２及び第１保持容量Ｃｃｓ１・第２保持容量Ｃｃｓ２にＶｓｐの電圧が印加される。

時刻Ｔ２のとき、ゲート電圧ＶｇがＶｇＨからＶｇＬに変化し、第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２の第１ＴＦＴ４ａ及び第２ＴＦＴ４ｂがＯＦＦ状態となり、第１液晶容量Ｃｌｃ１・第２液晶容量Ｃｌｃ２及び第１保持容量Ｃｃｓ１・第２保持容量Ｃｃｓ２がデータ信号線３と電気的に絶縁される。なお、この直後に寄生容量等の影響による引き込み現象のために、第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２のそれぞれにＶｄ１及びＶｄ２の引き込み電圧が発生し、各第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２の第１副画素電圧Ｖｌｃ１及び第２副画素電圧Ｖｌｃ２は、
Ｖｌｃ１＝Ｖｓｐ−Ｖｄ１
Ｖｌｃ２＝Ｖｓｐ−Ｖｄ２
となる。

また、このとき、第１保持容量電圧Ｖｃｓ１及び第２保持容量電圧Ｖｃｓ２は、
Ｖｃｓ１＝Ｖｃｏｍ−Ｖａｄ
Ｖｃｓ２＝Ｖｃｏｍ＋Ｖａｄ
である。

なお、第１引き込み電圧Ｖｄ１及び第２引き込み電圧Ｖｄ２は、下記の式のようになる。

Ｖｄ１，Ｖｄ２＝（ＶｇＨ−ＶｇＬ）×Ｃｇｄ／（Ｃｌｃ（Ｖ）＋Ｃｇｄ＋Ｃｃｓ）
ここで、ＶｇＨ及びＶｇＬはそれぞれ第１ＴＦＴ４ａ及び第２ＴＦＴ４ｂのゲートオン時の電圧及びゲートオフ時の電圧、Ｃｇｄは第１ＴＦＴ４ａ及び第２ＴＦＴ４ｂのゲートとドレインとの間に生じる寄生容量、Ｃｌｃ（Ｖ）は液晶容量の静電容量（容量値）、Ｃｃｓは保持容量の静電容量（容量値）を示す。

次に、時刻Ｔ３のとき、保持容量ラインＣＳ１の第１保持容量電圧Ｖｃｓ１がＶｃｏｍ−ＶａｄからＶｃｏｍ＋Ｖａｄへ変化し、保持容量ラインＣＳ２の第２保持容量電圧Ｖｃｓ２がＶｃｏｍ＋ＶａｄからＶｃｏｍ−Ｖａｄへ変化する。このとき各第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２の第１副画素電圧Ｖｌｃ１及び第２副画素電圧Ｖｌｃ２は、
Ｖｌｃ１＝Ｖｓｐ−Ｖｄ１＋２×Ｋ×Ｖａｄ
Ｖｌｃ２＝Ｖｓｐ−Ｖｄ２−２×Ｋ×Ｖａｄ
となる。ただし、Ｋ＝Ｃｃｓ／（Ｃｌｃ（Ｖ）＋Ｃｃｓ）である。

時刻Ｔ４では、第１保持容量電圧Ｖｃｓ１がＶｃｏｍ＋ＶａｄからＶｃｏｍ−Ｖａｄへ変化し、第２保持容量電圧Ｖｃｓ２がＶｃｏｍ−ＶａｄからＶｃｏｍ＋Ｖａｄへ変化する。このとき第１副画素電圧Ｖｌｃ１及び第２副画素電圧Ｖｌｃ２は、
Ｖｌｃ１＝Ｖｓｐ−Ｖｄ１
Ｖｌｃ２＝Ｖｓｐ−Ｖｄ２
となる。

時刻Ｔ５では、第１保持容量電圧Ｖｃｓ１がＶｃｏｍ−ＶａｄからＶｃｏｍ＋Ｖａｄへ変化し、第２保持容量電圧Ｖｃｓ２がＶｃｏｍ＋ＶａｄからＶｃｏｍ−Ｖａｄへ変化する。このとき第１副画素電圧Ｖｌｃ１及び第２副画素電圧Ｖｌｃ２は、
Ｖｌｃ１＝Ｖｓｐ−Ｖｄ１＋２×Ｋ×Ｖａｄ
Ｖｌｃ２＝Ｖｓｐ−Ｖｄ２−２×Ｋ×Ｖａｄ
となる。

後は、次にＶｇ＝ＶｇＨとなり書き込みが行われるまで、水平走査期間１Ｈの整数倍毎に、第１保持容量電圧Ｖｃｓ１及び第２保持容量電圧Ｖｃｓ２と第１副画素電圧Ｖｌｃ１及び第２副画素電圧Ｖｌｃ２とは、時刻Ｔ４と時刻Ｔ５との動作を交互に繰り返す。したがって、第１副画素電圧Ｖｌｃ１及び第２副画素電圧Ｖｌｃ２の実効値は、
Ｖｌｃ１＝Ｖｓｐ−Ｖｄ１＋Ｋ×Ｖａｄ
Ｖｌｃ２＝Ｖｓｐ−Ｖｄ２−Ｋ×Ｖａｄ
となる。

ｎフレーム目において、各副画素の液晶層に印加される実効電圧は、
Ｖ１＝Ｖｓｐ−Ｖｄ１＋Ｋ×Ｖａｄ−Ｖｃｏｍ
Ｖ２＝Ｖｓｐ−Ｖｄ２−Ｋ×Ｖａｄ−Ｖｃｏｍ
となるため、第１副画素Ｐ１が明副画素となり、第２副画素Ｐ２が暗副画素となる。

以上のように、本実施の形態のアクティブマトリクス基板１０を備えた液晶表示装置では、上述したマルチ画素駆動が行われる。なお、ここでは寄生容量すなわちデータ信号線３と第１副画素電極１ａ・第２副画素電極１ｂとの寄生容量等は省略して説明した。また、ここでは簡易的に第１保持容量電圧Ｖｃｓ１の位相と第２保持容量電圧Ｖｃｓ２の位相とを１８０度ずらしているが、１画素を形成する副画素が明画素と暗画素となればよいので必ずしも位相のずれが１８０度でなくても構わない。また、第１保持容量電圧Ｖｃｓ１及び第２保持容量電圧Ｖｃｓ２のパルス幅をＶｓと同等としたがこれに限らず、例えば大型高精細の液晶表示装置を駆動する場合の保持容量信号遅延による保持容量の充電不足を考慮してパルス幅を変更すればよい。

ところで、上記構成のアクティブマトリクス基板１０を備えた液晶表示装置の表示パネルを製造した場合、各画素が正常に点灯するか、断線又はリークの発生がないか否かについて、検査が行われる。

本実施の形態では、以下の方法によって検査するようにしている。なお、以下の説明では、話を簡単にするために、図１に示すように、各保持容量配線は、４本の保持容量幹配線２５のいずれか１つに、保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４の順に４本周期で接続されているものとする。

同図に示すように、上記４本一組の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４は、アクティブマトリクス基板１０の検査用又はアクティブマトリクス基板１０の駆動用として、１組以上、パネル検査後分断されるガラス基板側（被分断ガラス基板）とパネル側とにまたがって配設（引き出し線）される。なお、本実施の形態では、２組以上の４本一組の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４の検査が可能となっている。

上記引き出し線の内、検査用保持容量配線２６は、下記の図示しないゲート駆動回路に接続されても良いし、又はゲート駆動回路を回避して、ＴＡＢ間を通って被分断ガラス基板に引き出されても良い。

ここで、本実施の形態の液晶表示装置のゲート駆動方法は、例えば、ゲート両側駆動としている。したがって、ガラス基板分断後にＴＡＢ付けされる図示しないゲート駆動回路は、左右各４ＴＡＢで構成できる。

また、図１に示すアクティブマトリクス基板１０では、保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４に対する検査用保持容量配線２６は２本構成としている。

一方、走査信号線２は左右両側の被分断ガラス基板において、１本の検査用ゲート配線２２にまとめている。

上記検査用ゲート配線２２に、検査用ゲートパッド２３を設けても良い。この検査用ゲートパッド２３は、表示パネル２１にあっても良く、被分断ガラス基板側にあっても良い。表示パネル２１に検査用ゲートパッド２３を設けると、被分断ガラスの分断面積を少なくできる。検査用ゲートパッド２３を表示パネル２１側に設ける場合、表示パネル２１側の引き出し線に直接検査用ゲートパッド２３を接続するのではなく、被分断ガラス基板側の引き出し線を介して検査用ゲートパッド２３に電気的に繋がる構成とする方が好ましい。このようにすることにより、検査後は、検査用ゲートパッド２３は電気的に絶縁され、保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４や走査信号線２に不要な容量を付加しない。また、表示パネル２１に実装されるゲート駆動回路ＩＣは、左右各４個なので、十分、ゲート駆動回路ＩＣの間に検査用ゲートパッド２３を設けるスペースがある。

また、同様に、検査用保持容量配線２６のための検査用保持容量パッド２４を表示パネル２１に設けることが可能である。

次に、本実施の形態のアクティブマトリクス基板１０を備えた液晶表示装置の検査方法を、図１、及び図２のタイミングチャートに基づいて説明する。

１つの走査信号線２に対応する１つの画素をＣ（ｍ，ｎ）とする。今、Ｃ（１，１）に着目すると、走査信号線Ｇ１が選択され、ハイレベルになり、データ信号線Ｓ１に印加された信号を画素Ｃ（１，１）の第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２に書き込み、それぞれ独立に制御できる保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２の検査用保持容量配線２６・２６を１８０度位相を変えて振動させると、上記第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２に所望の明表示と暗表示とを表示することが可能となる。

４本の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４が使用されている表示パネル２１から検査用保持容量配線２６の数を２本に決定する方法は以下のようにして決定する。

まず、１つの走査信号線２に対して、２本の独立した保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４の奇数・偶数のペアーが必要なことは上記した通りである。したがって、さらに、保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４を共通接続しても、隣接する保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４を独立に制御できるかを検討すればよい。

本実施の形態の場合は、奇数の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ３同士を共通接続しても隣接する保持容量ラインＣＳ２・ＣＳ４を独立に制御できるという関係は変わらない。同様に、偶数の保持容量ラインＣＳ２・ＣＳ４同士を共通接続しても、隣接する保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ３を独立に制御できるという関係は変わらない、したがって、奇数の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ３同士を共通接続し、かつ偶数の保持容量ラインＣＳ２・ＣＳ４同士を共通接続することにより、検査用保持容量配線２６の数を２本にできる。この結果、検査用ゲート配線２２の数を１本にできる。

本実施の形態においては、走査信号線２は両側駆動としたので、検査用ゲート配線２２を左右に各１本設けている。

上述したように、本実施の形態では、検査用ゲート配線２２により全走査信号線２を同時に駆動する。したがって、１つのデータ信号線Ｓｍを介して選択された全走査信号線２の画素に信号を書き込む信号及び極性は全部同一であり、隣接するデータ信号線Ｓｍ＋１とデータ信号線Ｓｍとに対して反対極性の信号を書き込むことにより、ソースライン反転駆動して、液晶に書き込む極性を反転駆動する。

図２において、ＶＤは垂直同期信号であり、この垂直同期信号ＶＤによって、ゲート電圧ＶＧｎ（ｎ＝１）が印加される。このゲート電圧ＶＧｎを１垂直走査期間中に１回１Ｈ（水平走査期間）以下の期間でハイレベルにする。また、この１垂直走査期間中、保持容量電極電圧Ｖｃｓ１をローレベルに制御し、かつ保持容量電極電圧Ｖｃｓ２をハイレベルに制御して対応する第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２とを「明表示」と「暗表示」とにする。

本実施の形態では、保持容量電極電圧Ｖｃｓ１・Ｖｃｓ２の周期は例えば１０８Ｈとしている。次のフレームではデータ信号線Ｓｍに印加する電圧の極性を反転する。図２においては、データ信号線印加電圧ＶＳｍは、ｍ＝１、３、…列に印加する信号を実線で示している。

本実施の形態では、ソースライン反転駆動を採用しているので、当然、第１副画素Ｐ１の行は、明、暗を交互に変えて表示される。

上記２フレームの表示画面の繰り返し（列方向にＳ１列は明、暗の順に表示し、Ｓ２列は暗、明の順に表示）を目視検査することによって、暗、明の順に表示される副画素間にリーク欠陥があると、「縦連結輝点欠陥」として視認でき、検出できる。

次に、データ信号線３に印加する電圧を反転させ、破線のように２フレームの表示画面の繰り返し（列方向にＳ１列は暗、明の順に表示し、Ｓ２列は明、暗の順に表示）を目視検査することによって、暗、明の順に表示される副画素間にリーク欠陥があると、「縦連結輝点欠陥」として視認でき、検出できる。

なお、パネル検査後に片側７ＴＡＢ〜８ＴＡＢ程度の信号線駆動回路が実装される。

このように、本実施の形態の構成によると、検査用ゲートパッド２３から検査用の信号を与えることにより、「縦連結輝点欠陥」をパネル検査の段階で検出できる。すなわち、状態不良（ムラ）について、実装後の実駆動と同等の階調−輝度カーブを実現できる。特に、絵素容量差起因のムラについては実駆動と同レベルでの検査判定が可能であり、過剰検査を防止できる。したがって、再検査、実装後のレベルとの相対比較等の作業を削減できる。

また、縦分割絵素間リークについて、中間調でリーク部分割絵素下側が明絵素となる信号を入力した場合、輝点となるため、パネル検査にて不良検出が可能である。この結果、実装部材のロスが防げる。

なお、縦分割絵素間リークについて、ＴＦＴ基板検査時にも同様の信号を入力することによって検出が可能であれば、ＴＦＴ工程内にて修正を行うことにより良品とすることが可能である。

また、データ信号線駆動回路に関しては、上下両側駆動であっても良く、片側駆動であっても良い。また、本実施の形態に示したように、データ信号線３を２系統に分離しても良く、分離しなくて全信号線同一極性の駆動検査としても良い。

上述したように、検査用ゲート配線２２の数を、本実施の形態では１本にしたが、奇数番目の走査信号線２用と偶数番目の走査信号線２用とに２本にしても良い。検査用ゲート配線２２の数を２本にすると、データ信号線３方向の副画素へ印加する信号電圧を、＋、＋、−、−のように、極性を変えて反転駆動できるので、より最終製品の駆動形態に近い検査が可能となる。

〔実施の形態２〕
本発明の他の実施の形態について図６及び図７に基づいて説明すれば、以下の通りである。なお、本実施の形態において説明すること以外の構成は、前記実施の形態１と同じである。また、説明の便宜上、前記の実施の形態１の図面に示した部材と同一の機能を有する部材については、同一の符号を付し、その説明を省略する。

本実施の形態のアクティブマトリクス基板３０を備えた液晶表示装置の検査方法を、図６に基づいて説明する。

本実施の形態の液晶表示装置の検査方法では、図６に示すように、４本一組の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４と、走査信号線２を２系統１組として２本の検査用ゲート配線３２・３２に分離することとによって、隣接する第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２の明暗表示を制御できる。したがって、検査用保持容量配線３６の数を４本としている。また、これに伴い検査用ゲート配線３２の数を２本としている。

同図に示すように、上記４本一組の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４は、アクティブマトリクス基板３０の検査用又はアクティブマトリクス基板３０の駆動用として、１組以上、パネル検査後分断されるガラス基板側（被分断ガラス基板）と表示パネル２１側とにまたがって配設（引き出し線）される。なお、本実施の形態では、複数組の４本一組の保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４の検査が可能となっている。

上記引き出し線の内、検査用ゲート配線３２は、図示しないゲート駆動回路に接続されても良いし、又はゲート駆動回路を回避して、ＴＡＢ間を通って被分断ガラス基板に引き出されても良い。

ここで、本実施の形態のアクティブマトリクス基板３０を備えた液晶表示装置のゲート駆動方法は、例えば、ゲート片側駆動としている。したがって、ガラス基板分断後にＴＡＢ付けされるゲート駆動回路は、左右どちらかに３ＴＡＢで構成できる。

なお、本実施の形態の検査用保持容量配線３６は、ゲート駆動回路が実装される側の被分断ガラス基板に４本配設する構成としたが、必ずしもこれに限らず、データ信号線駆動回路が実装される側の被分断ガラス基板に配設しても良い。

また、２本の検査用ゲート配線３２・３２をゲート駆動回路が配設される側に配設しても良い。とにかく、走査信号線２は左右両側のどちらか一方の、被分断ガラス基板において、２本の検査用ゲート配線３２・３２にまとめている。

上記検査用ゲート配線３２・３２に、検査用ゲートパッド３３を設けても良い。検査用ゲートパッド３３・３３は表示パネル２１側にあっても良く、被分断ガラス基板側にあっても良い。表示パネル２１側に検査用ゲートパッド３３・３３を設けると、被分断ガラスの分断面積を少なくできる。検査用ゲートパッド３３・３３を表示パネル２１側に設ける場合、表示パネル２１側の引き出し線に直接検査用ゲートパッド３３・３３を接続するのではなく、被分断ガラス基板側の引き出し線を介して検査用ゲートパッド３３・３３に電気的に繋がる構成とする方が好ましい。

また、同様にして、検査用保持容量配線３６のための検査用保持容量パッド３４…を表示パネル２１に設けることが可能である。

上述のようにすることにより、検査後は、検査用ゲートパッド３３・３３は電気的に絶縁され、保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４や走査信号線２に不要な容量を付加しない。また、ゲート基板側に実装されるゲート駆動回路（ＩＣ）は、左右どちらか３個なので、十分ゲート駆動回路（ＩＣ）の間に検査用ゲートパッド３３・３３を設けるスペースがある。

次に、本実施の形態のアクティブマトリクス基板３０を備えた液晶表示装置の検査方法を、図６（図１）、及び図７のタイミングチャートに基づいて説明する。

図６（図１参照）に示すように、１つの走査信号線２に対応する１つの画素をＣ（ｍ，ｎ）とする。今、Ｃ（１，１）に着目すると、走査信号線Ｇ１が選択され（図６のＧ奇数系とは、走査信号線Ｇ１・Ｇ２・Ｇ５・Ｇ６の走査信号線２が共通接続された検査用ゲート配線３２のことである）、ハイレベルになり、データ信号線Ｓ１（図６においてＳｍとは、データ信号線Ｓ１・Ｓ３等のことを指す）に印加された信号を画素Ｃ（１，１）の第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２に書き込み、それぞれ独立に制御できる保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ３、及び保持容量ラインＣＳ２・ＣＳ４を１８０度位相を変えて振動させると、第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２に所望の明表示と暗表示を表示することが可能となる。

走査信号線２の奇数系と走査信号線２の偶数系とは、１垂直走査期間中にそれぞれ１回走査される。したがって、それぞれの走査期間中に、データ信号線３に印加する電圧と保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４に印加する電圧の極性とレベルを制御することにより、図７のデータ信号線３が実線で示す電位の場合、データ信号線Ｓ１の列の副画素を明、暗、明、暗の順に、表示できる。同様に、走査信号線２方向の各副画素を「＋」、「−」の順に極性を変えて、ソースライン反転駆動できる。

表示パネル２１の検査に、４本の検査用保持容量配線３６…と２本の検査用ゲート配線３２・３２とを用いることを決定する手順は前記実施の形態１と同様である。

まず、１つの走査信号線２に対して、２本の独立した保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４の奇数・偶数のペアが必要なことは実施の形態１に記載の通りである。

したがって、さらに、保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４を共通接続しても、隣接する保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４を独立に制御できるかを検討すればよい。

本実施の形態の場合は、走査信号線Ｇ１・Ｇ３行の第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２の構成を比較すると、前記実施の形態１に比べて保持容量ラインＣＳ１・ＣＳ２・ＣＳ３・ＣＳ４が異なる検査用保持容量配線３６に接続されている。したがって、これら第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２を独立に明、暗制御する構成として、検査用ゲート配線３２を４本、かつ検査用保持容量配線３６を２本にする構成と、検査用ゲート配線３２を２本にし、かつ検査用保持容量配線３６を４本にする構成とがある。表示パネル２１内に既に４本の保持容量幹配線３５があることを考慮すると、検査用ゲート配線３２を２本、かつ検査用保持容量配線３６を４本にする構成の方が既にある保持容量幹配線３５を利用できる点で有利である。

上述したように、本実施の形態は、全走査信号線２を２回の走査に分けて駆動する。かつ２回の走査で、データ信号線３に印加する電圧の極性を反転するので、隣接するデータ信号線Ｓｍとデータ信号線Ｓｍ＋１とに反対極性の信号を書き込むことにより、ソースライン反転駆動を行い、かつ２本の走査信号線２（４副画素）毎のドット反転駆動を行って液晶に書き込む極性を反転駆動する。

図７において、ＶＤは垂直同期信号であり、この垂直同期信号ＶＤによって、ゲート電圧ＶＧ奇数（走査信号線２に印加する電圧であり、ｎ＝１、２、５、６）であり、上記ゲート電圧ＶＧ奇数とゲート電圧ＶＧ偶数とを、１垂直走査期間中に１回１Ｈ（水平走査期間）以下の期間、ハイレベルにし、上記１垂直走査期間中に、保持容量電極電圧Ｖｃｓ１・Ｖｃｓ３をローレベルに制御し、保持容量電極電圧Ｖｃｓ２・Ｖｃｓ４をハイレベルに制御して対応する第１副画素Ｐ１と第２副画素Ｐ２とを「明表示」と「暗表示」とにする。保持容量電極電圧Ｖｃｓ１・Ｖｃｓ２・Ｖｃ３・Ｖｃ４の周期は例えば４８Ｈとしている。次のフレームではデータ信号線Ｓｍに印加する電圧の極性を反転する。図７においては、データ信号線印加電圧ＶＳｍは、ｍ＝１、３、…に印加する信号電圧を実線で示している。

本実施の形態では、ソースライン反転駆動しているので、当然、第１副画素Ｐ１の行は、明、暗を交互に変えて表示される。

上記の２フレームの表示画面の繰り返し（列方向にデータ信号線Ｓ１列は明、暗の順に表示し、データ信号線Ｓ２列は暗、明の順に表示する）を目視検査することによって、暗、明の順に表示される第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２間にリーク欠陥があると、「縦連結輝点欠陥」として視認でき、検出できる。

次に、データ信号線３に印加する電圧を反転させ破線にて示すようにして、２フレームの表示画面の繰り返し（列方向にデータ信号線Ｓ１列は暗、明の順に表示し、データ信号線Ｓ２列は明、暗の順に表示する）を目視検査することによって、暗、明の順に表示される第１副画素Ｐ１及び第２副画素Ｐ２間にリーク欠陥があると、「縦連結輝点欠陥」として視認でき、検出できる。

したがって、本実施の形態の構成によると、検査用ゲートパッド３３・３３から検査用の信号を与えることにより、「縦連結輝点欠陥」をパネル検査の段階で検出できる。

なお、図示しない信号線駆動回路に関しては、上下両側駆動であっても良く、片側駆動であっても良い。また、本実施の形態に示したようにデータ信号線Ｓｍを２系統に分離しても良く、分離しなくて全信号線同一極性の駆動検査としても良い。

なお、本実施形態の液晶表示パネルは、例えば、ＸＣＡ規格に対応したパネルであり、行方向にｍ＝１０２４×３画素（赤（Ｒ）・緑（Ｇ）・青（Ｂ）の各絵素に対応）、列方向にｎ＝７６８画素の画素がマトリクス状に配設されている。

本実施の形態では、パネル検査後に片側４ＴＡＢ〜８ＴＡＢ程度の図示しない信号線駆動回路が実装される。この結果、液晶表示装置に対しては、実装後のゲート線駆動回路又は信号線駆動回路を介して、表示パネル２１の保持容量幹配線３５に暗、明表示に必要な信号を供給することができる。

本発明は、走査信号線、データ信号線、保持容量配線、及び上記走査信号線とデータ信号線との各交差部に画素を備え、各画素が複数の副画素から構成されていると共に、上記保持容量配線は上記各走査信号線を挟む複数の副画素に対応して順次配設されているアクティブマトリクス基板を備えた液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置に利用することができる。

本発明における液晶表示装置の検査方法の実施の一形態を示すものであり、表示パネルの検査のための配線を示す回路図である。 上記表示パネルの検査のための信号のタイミング関係を示すタイミングチャートである。 上記表示パネルにおけるマルチ絵素の構造を示す平面図である。 上記表示パネルにおけるマルチ絵素の構造を示す等価回路図である。 （ａ）は上記液晶表示装置の第Ｎフレームでの駆動状態を示すタイミングチャートであり、（ｂ）は上記液晶表示装置の第Ｎ＋１フレームでの駆動状態を示すタイミングチャートである。 本発明における液晶表示装置の検査方法の他の実施の形態を示すものであり、表示パネルの検査のための配線を示す回路図である。 上記表示パネルの検査のための信号のタイミング関係を示すタイミングチャートである。 従来の液晶表示装置の検査方法を示すものであり、表示パネルの検査のための配線を示す回路図である。

符号の説明

１ 画素領域
１ａ 第１副画素電極
１ｂ 第２副画素電極
２ 走査信号線
３ データ信号線
４ ＴＦＴ
４ａ 第１ＴＦＴ
４ｂ 第２ＴＦＴ
９ａ 第１保持容量上電極
９ｂ 第２保持容量上電極
１０ アクティブマトリクス基板
１１ 第１保持容量配線
１２ 第２保持容量配線
２１ 表示パネル
２２ 検査用ゲート配線
２３ 検査用ゲートパッド
２４ 検査用保持容量パッド
２５ 保持容量幹配線
２６ 検査用保持容量配線
３０ アクティブマトリクス基板
３２ 検査用ゲート配線
３３ 検査用ゲートパッド
３４ 検査用保持容量パッド
３５ 保持容量幹配線
３６ 検査用保持容量配線
Ｐ１ 第１副画素
Ｐ２ 第２副画素

Claims (8)

1. 走査信号線、データ信号線、保持容量配線、及び上記走査信号線とデータ信号線との各交差部に画素を備え、各画素が複数の副画素から構成されていると共に、上記保持容量配線は上記各走査信号線を挟む複数の副画素に対応して順次配設されているアクティブマトリクス基板を備えた液晶表示装置の検査方法において、
   上記各保持容量配線が同一一定ライン毎に互いに接続されている場合には、
   上記全ての走査信号線を接続した１系統の検査用ゲート配線にて走査信号を入力し、
   上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、
   上記複数の副画素に対応する保持容量配線をそれぞれ各画素同士で束ねて接続した該副画素の複数分の検査用保持容量配線を設けると共に、上記検査用保持容量配線には、互いに位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
2. 走査信号線、データ信号線、保持容量配線、及び上記走査信号線とデータ信号線との各交差部に画素を備え、各画素が複数の副画素から構成されていると共に、上記保持容量配線は上記各走査信号線を挟む複数の副画素に対応して順次配設されているアクティブマトリクス基板を備えた液晶表示装置の検査方法において、
   上記各保持容量配線が同一一定ライン毎に互いに接続されている場合には、
   上記全ての走査信号線を偶数ライン毎及び奇数ライン毎の２系統になるように接続した検査用ゲート配線にそれぞれ異なる走査信号を入力し、
   上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、
   上記複数の副画素に対応する保持容量配線をそれぞれ各画素同士で束ねて接続した該副画素の複数分の検査用保持容量配線を設けると共に、上記検査用保持容量配線には、互いに位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
3. 走査信号線、データ信号線、保持容量配線、及び上記走査信号線とデータ信号線との各交差部に画素を備え、各画素が複数の副画素から構成されていると共に、上記保持容量配線は上記各走査信号線を挟む複数の副画素に対応して順次配設されているアクティブマトリクス基板を備えた液晶表示装置の検査方法において、
   上記各保持容量配線が一定ライン毎に互いに接続されてＮ相（Ｎは２以上の整数）を形成し、かつ各相の各ラインに対して順次保持容量信号を入力するときに、第Ｎ相における最後のラインと第１相における最初のラインとが互いに逆の位相の電圧が入力できるように接続されている場合には、
   上記全ての走査信号線を２ライン毎の２系統になるように接続して該２系統に対して異なる走査信号を入力し、
   上記複数のデータ信号線には、隣接するデータ信号線毎に反対極性のデータ信号を供給し、
   上記各相の対応するラインの保持容量配線同士を接続して束ねたＮ系統の検査用保持容量配線を設け、これらＮ系統の検査用保持容量配線には、上記走査信号線からの走査信号に同期して位相をずらした交流（ＡＣ）信号を入力することを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
4. 前記走査信号線に走査信号を入力するための検査用ゲートパッドを設けることを特徴とする請求項１、２又は３記載の液晶表示装置の検査方法。
5. 前記保持容量配線に保持容量信号を入力するための検査用保持容量パッドを設けることを特徴とする請求項１、２又は３記載の液晶表示装置の検査方法。
6. 前記検査用ゲートパッド又は検査用保持容量パッドを、アクティブマトリクス基板に設けることを特徴とする請求項４又は５記載の液晶表示装置の検査方法。
7. 前記検査用ゲートパッド又は検査用保持容量パッドに、探針を接触させて検査することを特徴とする請求項４又は５記載の液晶表示装置の検査方法。
8. 請求項１〜７のいずれか１項に記載の液晶表示装置の検査方法に使用することを特徴とする液晶表示装置。

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