JP2009021981A - エラー検出コード生成装置および方法 - Google Patents

エラー検出コード生成装置および方法 Download PDF

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Abstract

【課題】エラー検出コードの生成に必要な時間を短縮できるようにしたエラー検出コード生成装置および方法を提供する。
【解決手段】仮想DBI(Data Bus Inversion)情報とデータを用いて仮想エラー検出コードを生成するエラー検出コード生成部と、およびエラー検出コードの生成に関わるデータ数の偶数又は奇数のうちのいずれか1つを定義する偶数/奇数情報、前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報、および前記仮想エラー検出コードを用いて前記エラー検出コードを生成するエラー検出コード再生成部を備える。
【選択図】図2

Description

本発明は、半導体集積回路に関し、特にデータ受信側においてデータのエラー発生有無を判断することができるようにエラー検出コードを生成する装置および方法に関するものである。
データバス反転機能を行うための構成、すなわちデータバス反転部(DBI:Data Bus Inversion)は、データ伝送時、全体データビットのうち、前のデータビットと比較して今のデータビットの論理値が変わる個数が増加することに伴って生じる問題、すなわち同時スイッチングノイズ(Simultaneous Switching Noise)又はシンボル間干渉(Inter Symbol Interference)を防止するために用いられる。
前記データバス反転部は、全体データビットのうちの論理値が変わったビット数が全体データビットの半分以上である場合、DBIフラグ(DBI Flag)をイネーブルにし、正常データの代わりに反転したデータを伝送してデータビットのスイッチング数を半分以下に減らす。
また、半導体回路、例えばDRAMのような半導体記憶装置の場合は、処理速度の高速化のためデータ伝送エラーが誘発される確率が高い。したがって、データ受信側において伝送されたデータのエラー発生有無を判断できるように、データとは別途にエラー検出コードを生成して伝送するためのエラー検出コード生成回路が用いられている。
前記エラー検出コード生成回路にはCRC(Cyclic Redundancy Check)方式が広く用いられている。前記CRCの1種類として、64ビットから8ビットのエラー検出コードを出力するCRC8がある。このCRC方式は、例えば、同期式伝送の場合に使用される誤り検出方式で、巡回符号方式とも呼ばれ、この方式では、送るべきデータ列を高次の多項式(メッセージ多項式と呼ぶ)とみなし、これをあらかじめ定められた生成多項式(Checking Polynomial)で割り、その余り(BCC:Block Check Code)をデータのあとに付加して送信し、受信側では、同じ生成多項式を使って割り算を行い、余りがなければ伝送されたデータは正しいと判断する。
従来の技術に係るデータバス反転部を備えた半導体回路におけるエラー検出コード生成装置の構成を説明すれば次の通りである。
従来の技
術に係るエラー検出コード生成装置は、図1に示すように、データバス反転部10、エラー検出コード生成部20、反転素子IV1、およびマルチプレクサ40を備える。
前記データバス反転部10は、データ線GIO<0:7>を介して64ビットのデータの入力を受けて8ビットのDBIフラグを生成するように構成される。
前記反転素子IV1は前記64ビットのデータを反転させて出力するように構成される。
前記マルチプレクサ40は、前記DBIフラグにより前記64ビットのデータ又は前記反転素子IV1を介して反転した64ビットのデータを選択して出力するように構成される。
従来の技術に係るエラー検出コード生成装置の動作を説明すれば次の通りである。
前記データバス反転部10は、前記64ビットのデータの入力を受けて、各8ビット別に前のデータに比べて論理値が変わったビットが何個であるかを判断する。
前記データバス反転部10は、前記全体データビットのうち、論理値が変わったビット数が全体データビットの半分以上である場合に、前記DBIフラグ(DBI Flag)をローレベルで出力する。
前記マルチプレクサ40は、前記DBIフラグがローレベルである場合に、反転素子IV1によって反転したデータを選択して出力する。
前記エラー検出コード生成部20は、前記マルチプレクサ40から出力された64ビットのデータと前記8ビットのDBIフラグに対するエラー検出コードCRC<0:7>を生成して出力する。
前記エラー検出コード生成部20は、CRC(Cyclic Redundancy Check)方式により64ビットのデータと8ビットのDBIフラグ全て、すなわち72ビットに対する排他的論理和(XOR)演算を行って前記エラー検出コードCRC<0:7>を生成する。
前記エラー検出コードCRC<0:7>は、EDCピン(Error Detection Code Pin)を介して外部のシステム、例えばGPU(Graphic Processing Unit)に出力される。
上述したようにデータバス反転部10を有する半導体回路の場合、エラー検出コードを生成するためには前記8ビットのDBIフラグが必要である。
したがって、従来の技術では、データバス反転機能のための演算動作を先に行った後にエラー検出コードを生成するための演算動作を行うため、エラー検出コードを生成する時間が長くなる問題点がある。また、上述したエラー検出コード生成時間の増加は半導体記憶装置のようなシステムの性能低下の要素として作用し得る。これに似ている技術はアメリカ登録特許6,594,244に開示されている。
米国登録特許6,594,244
本発明は、エラー検出コードの生成に必要な時間を短縮できるようにしたエラー検出コード生成装置および方法を提供することをその目的とする。
本発明に係るエラー検出コード生成装置は、データを仮想的に反転させるための情報である仮想DBI(Data Bus Inversion)情報とデータを用いて仮想エラー検出コードを生成するエラー検出コード生成部と、およびエラー検出コードの生成に関わるデータ数の偶数又は奇数のうちのいずれか1つを定義する偶数/奇数情報、前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報、および前記仮想エラー検出コードを用いて、前記エラー検出コードを生成するエラー検出コード再生成部を備えることを特徴とする。
本発明に係るエラー検出コード生成装置は、データを用いてDBI(Data Bus Inversion)情報を生成するデータバス反転部と、仮想DBI情報と前記データを用いて、前記DBI情報の生成完了前に仮想エラー検出コードを生成するエラー検出コード生成部と、およびエラー検出コードの生成に関わるデータ数の偶数又は奇数のうちのいずれか1つを定義する偶数/奇数情報、前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報、および前記仮想エラー検出コードを用いて、前記エラー検出コードを生成するエラー検出コード再生成部を備えることをまた他の特徴する。
本発明に係るエラー検出コード生成方法は、全体データのうちのエラー検出コードの生成に関わるデータ数の偶数/奇数情報を生成するステップと、仮想DBI情報と前記データを用いて、DBI情報の生成完了前に仮想エラー検出コードを生成するステップと、および前記偶数/奇数情報、全体DBI情報のうちの前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報、および前記仮想エラー検出コードを用いて、実際のエラー検出コードを生成するステップを備えることを特徴とする。
本発明に係るエラー検出コード生成装置および方法は、データバス反転機能を行うための演算時間中に仮想DBIフラグを用いたエラー検出コードの生成演算を一次的に行い、既存のエラー検出コードの生成演算のために必要な信号成分のうち、実際のエラー検出コードの生成に関わる一部信号成分だけを用いて最終的なエラー検出コードの生成演算を行う。したがって、従来の技術に比べてエラー検出コードの生成に必要な時間を大幅に短縮することができる。前記エラー検出コードの生成に必要な時間が短縮されるため、それを用いるシステム、例えば、ダイナミックランダムアクセスメモリ(DRAM)のような半導体記憶装置の性能を向上させることができる。
以下、添付図面を参照して本発明に係るエラー検出コード生成装置および方法の望ましい実施例を説明すれば次の通りである。
本発明に係るエラー検出コード生成装置は、データバス反転機能に係るDBIフラグもエラー検出コードの生成のための演算過程に含めなければならない場合に係る実施例である。したがって、本発明が適用されたシステム、例えば半導体集積回路には前記データバス反転機能を行うためのデータバス反転部100が備えられている。
本発明に係るエラー検出コード生成装置は、図2に示すように、エラー検出コード生成部200およびエラー検出コード再生成部300を備える。
前記エラー検出コード生成部200は、データ線GIO<0:7>を介して入力された64ビットのデータと8ビットの仮想DBIフラグVDBIを用いて仮想エラー検出コードA<0:7>を生成するように構成される。前記仮想DBIフラグVDBIは、前記64ビットのデータを1ビットも反転させない状態で出力する時に用いられるDBIフラグ値に設定される。DBIフラグがハイレベルである場合はデータを反転させないので、前記8ビットの仮想DBIフラグVDBIは全てハイレベル(11111111)に設定され得る。
前記エラー検出コード生成部200は、CRC(Cyclic Redundancy Check)方式による回路構成が可能であり、図1のエラー検出コード生成部20と同様の構成を用いることができる。
前記エラー検出コード再生成部300は、前記仮想エラー検出コードA<0:7>と前記データバス反転部100から出力された実際のDBIフラグB<0:7>および偶数/奇数情報C<0:7>を用いて、エラー検出コードCRC<0:7>を生成するように構成される。前記偶数/奇数情報C<0:7>は、それぞれのデータ線GIO<0:7>を介して順次入力される8ビットデータのうち、エラー検出コードの生成に関わるデータ数が偶数であるか奇数であるかを定義する情報である。前記偶数/奇数情報C<0:7>はC<0>〜C<7>各々に対し8ビットずつ計64ビットで構成される。
前記エラー検出コード再生成部300は、図3に示すように、前記仮想エラー検出コードA<0:7>と前記実際のDBIフラグB<0:7>および偶数/奇数情報C<0:7>の入力を選択的に受け、8ビットのエラー検出コードCRC<0:7>の各ビットを生成するための第1〜第8演算回路(310〜380)を備える。

前記一般式(1)は、仮想エラー検出コードA<0:7>、実際のDBIフラグB<0:7>、および偶数/奇数情報C<0:7>とエラー検出コードCRC0との関係を定義したものである。
前記一般式(1)で定義されたように、エラー検出コードCRC0は、前記実際のDBIフラグB<0:7>とエラー検出コードCRC0に関わる偶数/奇数情報C0[C00〜C07]を各々1ビットずつ対をなして論理積演算を行い、その論理積の結果値と仮想エラー検出コードA0を排他的論理和演算を行うことによって生成されることが分かる。
前記第1演算回路310は、前記一般式(1)の正義による概念的な構成であって、図4に示すように、論理積ロジック311およびXORロジック312を備える。前記論理積ロジック311は第1〜第8アンドゲート(AND0〜AND7)を備える。

表1に示すように、CRC方式の演算原理を用いれば、前記データ線GIO<0:7>を介して第1番目から第8番目まで順次入力される手順別データ(1st data〜8th data)と実際のDBIフラグB<0:7>のうちから、エラー検出コードCRC0の生成時に前記エラー検出コードCRC0の値に影響を及ぼし得るデータとそうでないデータに区分することができる。
前記表1のデータのうち、番号が付されたデータがエラー検出コードCRC0の生成時に前記エラー検出コードCRC0の値に影響を及ぼし得るデータである。前記表1のデータのうち、番号が付されていないデータはエラー検出コードCRC0の生成とは関係ないデータである。
残りのエラー検出コード(CRC1〜CRC7>)に関わるデータもまたCRC方式の演算原理を用いて抽出することができ、前記表1とは異なり得る。
前記仮想エラー検出コードA0は、前記第1番目から第8番目まで順次入力される手順別データ(1st data〜8th data)に対し各々1つずつ8個の信号成分(A00〜A07)に区分することができる。
前記8個の信号成分(A00〜A07)は、それぞれの手順別データ(1st data〜8th data)に対し番号が付されたデータを排他的論理和演算を行った結果値である。例えば、信号成分A02は、第3番目データ(3rd data)のうち、data<18>、data<34>、data<50>、およびdata<66>を排他的論理和演算を行った結果値である。
前記仮想エラー検出コードA0は前記8個の信号成分(A00〜A07)を全て排他的論理和演算を行った結果値である。
前記偶数/奇数情報C0は、前記第1番目から第8番目まで順次8ビットずつ入力される手順別データ(1st data〜8th data)の各々に対し、前記エラー検出コードCRC0値に影響を及ぼし得るデータ数が偶数であるか奇数であるかを定義する情報である。前記偶数/奇数情報C0は、前記第1番目から第8番目まで順次入力される手順別データ(1st data〜8th data)に対し、各々1つずつ8個の信号成分(C00〜C07)に区分することができる。前記表1に記載されたように、順次入力される手順別データ(1st data〜8th data)と実際のDBIフラグB<0:7>のうち、エラー検出コードCRC0の生成時に前記エラー検出コードCRC0の値に影響を及ぼし得るデータとそうでないデータの数はCRC方式の演算原理を用いて抽出したものであって、変わることはない。したがって、前記偶数/奇数情報C0とその信号成分(C00〜C07)の値もまた変わらない固定値である。
入力データ数が偶数である場合、ハイレベルのデータ数が奇数であればローレベルのデータ数も奇数となる。したがって、全ての入力データを反転させてもエラー検出コードCRC0の値は変わらない。
前記偶数/奇数情報(例えば、C00)がハイレベルである場合、すなわちデータ数が奇数であってもDBIフラグ(例えば、B<0>)がハイレベルであれば仮想エラー検出コードA0の値に影響を及ぼさない。前記仮想エラー検出コードA0は仮想DBIフラグVDBIをハイレベルに設定した状態で生成されたものであるためである。
前記エラー検出コードCRC0の生成に関わるデータ数が偶数であるか否かは偶数/奇数情報(C00〜C07)によって把握することができる。前記エラー検出コードCRC0の生成に関わるデータ数が偶数であれば偶数/奇数情報(C00〜C07)はローレベルである。
前記図4に示された第1演算回路310は一般式(1)による概念的な構成である。
実際に第1演算回路310を構成する場合には、表1を基準にして偶数/奇数情報(C00〜C07)のうちのローレベルの偶数/奇数情報(C02,C03,C05,C06)の入力を受けるアンドゲート(AND2,AND3,AND5,AND6)を削除して、図5のように回路面積を減らすことができる。入力信号のうちの1つがローレベルである場合、論理積演算の結果値は常にローレベルであるため、該当論理積回路を構成する必要がないためである。
また、前記DBIフラグB<0:7>がローレベルである場合にだけ仮想エラー検出コードA0の値に影響を及ぼすので、本来のDBIフラグB<0:7>の代わりに前記DBIフラグB<0:7>を反転させた値らが前記論理積ロジック311に入力されるようにする。
前記第2〜第8演算回路(320〜380)は前記第1演算回路310と同一原理によって構成することができる。
このように構成された本発明に係るエラー検出コード生成方法を説明すれば次の通りである。
前記データバス反転部100は、前記64ビットのデータの入力を受けて、各8ビット別に前のデータに比べて論理値が変わったビットが何個であるかを判断する。
前記データバス反転部100は、前記全体データビットのうち、論理値が変わったビット数が全体データビットの半分以上である場合には前記DBIフラグB<0:7>をローレベルで出力する。
前記データバス反転部100は、前記全体データビットのうち、論理値が変わったビット数が全体データビットの半分未満である場合には前記DBIフラグB<0:7>をハイレベルで出力する。
前記エラー検出コード生成部200は、前記64ビットのデータと仮想DBIフラグVDBIに対する仮想エラー検出コードA<0:7>を生成して出力する。
前記エラー検出コード生成部200の仮想エラー検出コードA<0:7>の生成は前記データバス反転部100とは関係なく行われる。前記仮想エラー検出コードA<0:7>は前記DBIフラグB<0:7>に比べて早いか同一時点で生成される。
前記エラー検出コード再生成部300の第1〜第8演算回路(310〜380)は、64ビットのデータのうちのエラー検出コードCRC<0:7>の生成に関わる一部のビットと、8ビットのDBIフラグB<0:7>のうちの一部のビットに対する演算を同時に行って、前記エラー検出コードCRC<0:7>を生成する。
例えば、図1に示された従来技術によれば、エラー検出コード生成部20は、64ビットのデータと8ビットのDBIフラグ全て、すなわち72ビットに対する演算を行って前記エラー検出コードCRC0を生成した。
しかし、本発明では、表1を基準にした時、図4の第1演算回路310は、64ビットのデータのうちのエラー検出コードCRC<0:7>の生成に関わる29ビットと、8ビットのDBIフラグB<0:7>のうちの5ビット、すなわち34ビットに対する演算を行って、前記エラー検出コードCRC<0>を生成する。
前記第2〜第8演算回路(320〜380)の場合も従来の技術に比べて減少したデータと従来の技術に比べて減少したDBIフラグB<0:7>に対する演算を行って、前記エラー検出コードCRC<1:7>を生成する。
例えば、図1に示されたデータバス反転部10の演算時間が'10'、エラー検出コード生成部20の演算時間が'20'と仮定すれば、エラー検出コードCRC<0:7>が生成されるのに必要な総時間は'30'である。
しかし、図2に示された本発明の場合、データバス反転部100の演算時間が'10'、エラー検出コード生成部200が前記データバス反転部100の前に演算が完了するので時間加算はない。そして、エラー検出コード再生成部300は、従来の技術に比べて大概1/2のデータを演算するので概略'10'程度の時間がかかる。したがって、本発明の実施例によってエラー検出コードCRC<0:7>が生成されるのに必要な総時間は'20'未満になる。
上述した程度の時間短縮は、高速化動作を行う半導体記憶装置のようなシステムでは性能を左右する大きい要素として作用し得る。
前記エラー検出コードCRC<0:7>は、EDCピンを介して外部のシステム、例えば、GPU(Graphic Processing Unit)に出力される。
本発明が属する技術分野の当業者であれば、本発明がその技術的思想や必須特徴を変更せず、他の具体的な形態によって実施することができるため、以上で記述した実施形態は全ての面で例示的であり、限定的なものではないものと理解しなければならない。本発明の範囲は前記詳細な説明よりは特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲の意味および範囲そしてその等価概念から導き出される全ての変更又は変形した形態は本発明の範囲に含まれると解釈しなければならない。
従来の技術に係るエラー検出コード生成装置のブロック図である。 本発明に係るエラー検出コード生成装置のブロック図である。 図2のエラー検出コード再生成部のブロック図である。 図3の第1演算回路の概念を示す回路図である。 図3の第1演算回路の実施例を示す回路図である。
符号の説明
100…データバス反転部
200…エラー検出コード生成部
300…エラー検出コード再生成部
310〜380…第1〜第8演算回路
311…論理和ロジック
312…XORロジック

Claims (20)

  1. 仮想DBI情報とデータとを用いて仮想エラー検出コードを生成するエラー検出コード生成部と、
    エラー検出コードの生成に関わるデータ数の偶数又は奇数のうちのいずれか1つを定義する偶数/奇数情報、前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報、および前記仮想エラー検出コードを用いて、前記エラー検出コードを生成するエラー検出コード再生成部と
    を備えることを特徴とするエラー検出コード生成装置。
  2. 前記仮想DBI情報は、前記データを1ビットも反転させない状態で出力する時のDBI情報値に設定されることを特徴とする請求項1に記載のエラー検出コード生成装置。
  3. 前記偶数/奇数情報は、前記エラー検出コード値を可変することができる変数として用いる情報であることを特徴とする請求項1に記載のエラー検出コード生成装置。
  4. 前記偶数/奇数情報は、前記エラー検出コードの生成に関わるデータ数が奇数であることを定義する値を有する情報であることを特徴とする請求項3に記載のエラー検出コード生成装置。
  5. 前記エラー検出コード生成部は、CRCロジックを備えることを特徴とする請求項1に記載のエラー検出コード生成装置。
  6. 前記エラー検出コード再生成部は、前記偶数/奇数情報と前記仮想エラー検出コードの入力を選択的に受け、前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報の入力を共通に受ける複数の演算回路を備えることを特徴とする請求項1に記載のエラー検出コード生成装置。
  7. 前記演算回路は、
    前記偶数/奇数情報および前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報を1ビットずつ論理積演算を行う論理積ロジックと、
    前記論理積ロジックの出力と前記仮想エラー検出コードを排他的論理和演算を行う排他的論理和ロジックと
    を備えることを特徴とする請求項6に記載のエラー検出コード生成装置。
  8. データを用いてDBI情報を生成するデータバス反転部と、
    仮想DBI情報と前記データを用いて、前記DBI情報の生成完了前に仮想エラー検出コードを生成するエラー検出コード生成部と、
    エラー検出コードの生成に関わるデータ数の偶数又は奇数のうちのいずれか1つを定義する偶数/奇数情報、前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報、および前記仮想エラー検出コードを用いて、前記エラー検出コードを生成するエラー検出コード再生成部と
    を備えることを特徴とするエラー検出コード生成装置。
  9. 前記仮想DBI情報は、前記データを1ビットも反転させない状態で出力する時のDBI情報値に設定されることを特徴とする請求項8に記載のエラー検出コード生成装置。
  10. 前記偶数/奇数情報は、前記エラー検出コード値を可変することができる変数として用いる情報であることを特徴とする請求項8に記載のエラー検出コード生成装置。
  11. 前記偶数/奇数情報は、前記エラー検出コードの生成に関わるデータ数が奇数であることを定義する値を有する情報であることを特徴とする請求項10に記載のエラー検出コード生成装置。
  12. 前記エラー検出コード生成部は、CRCロジックを備えることを特徴とする請求項8に記載のエラー検出コード生成装置。
  13. 前記エラー検出コード再生成部は、前記偶数/奇数情報と前記仮想エラー検出コードの入力を選択的に受け、前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報の入力を共通に受ける複数の演算回路を備えることを特徴とする請求項8に記載のエラー検出コード生成装置。
  14. 前記演算回路は、
    前記偶数/奇数情報および前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報を各々1ビットずつ論理積演算を行う論理積ロジックと、
    前記論理積ロジックの出力と前記仮想エラー検出コードを排他的論理和演算を行う排他的論理和ロジックと
    を備えることを特徴とする請求項13に記載のエラー検出コード生成装置。
  15. エラー検出コード生成方法であって、
    全体データのうちのエラー検出コードの生成に関わるデータ数の偶数/奇数情報を生成するステップと、
    仮想DBI情報と前記データを用いて、DBI情報の生成完了前に仮想エラー検出コードを生成するステップと、
    前記偶数/奇数情報、全体DBI情報のうちの前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報、および前記仮想エラー検出コードを用いて、実際のエラー検出コードを生成するステップと
    を備えることを特徴とするエラー検出コード生成方法。
  16. 前記仮想DBI情報は、前記データを1ビットも反転させない状態で出力する時のDBI情報値に設定されることを特徴とする請求項15に記載のエラー検出コード生成方法。
  17. 前記偶数/奇数情報は、前記エラー検出コード値を可変することができる変数として用いる情報であることを特徴とする請求項15に記載のエラー検出コード生成方法。
  18. 前記偶数/奇数情報は、前記エラー検出コードの生成に関わるデータ数が奇数であることを定義する値を有する情報であることを特徴とする請求項17に記載のエラー検出コード生成方法。
  19. 前記仮想エラー検出コードはCRC方式によって生成されることを特徴とする請求項15に記載のエラー検出コード生成方法。
  20. 前記実際のエラー検出コードを生成するステップは、
    前記偶数/奇数情報、全体DBI情報のうちの前記偶数/奇数情報と連関するDBI情報を各々1ビットずつ論理積演算を行うステップと、
    前記論理積演算の結果および前記仮想エラー検出コードを排他的論理和を行いその演算の結果を前記実際のエラー検出コードとして出力するステップと
    を備えることを特徴とする請求項15に記載のエラー検出コード生成方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012100210A (ja) * 2010-11-05 2012-05-24 Nec Corp データ伝送システム、送信回路および受信回路
US11468961B2 (en) 2019-07-09 2022-10-11 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Semiconductor memory device, memory controller, and error notification method

Families Citing this family (42)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006005836B4 (de) * 2006-02-08 2009-01-02 Infineon Technologies Ag Schaltungsanordnung und Verfahren zum Erzeugen von zur Fehlererkennung bei einer digitalen Schaltung auswertbaren Kontrollbits und Anordnung zum Überwachen einer digitalen Schaltung
US8633915B2 (en) 2007-10-04 2014-01-21 Apple Inc. Single-layer touch-sensitive display
US20090174676A1 (en) 2008-01-04 2009-07-09 Apple Inc. Motion component dominance factors for motion locking of touch sensor data
US9760424B2 (en) * 2008-01-31 2017-09-12 Thomson Licensing Dtv Systems and methods for dynamically reporting a boot process in content/service receivers
WO2009108562A2 (en) 2008-02-25 2009-09-03 Rambus Inc. Code-assisted error-detection technique
US8576193B2 (en) * 2008-04-25 2013-11-05 Apple Inc. Brick layout and stackup for a touch screen
US8487898B2 (en) 2008-04-25 2013-07-16 Apple Inc. Ground guard for capacitive sensing
US20100059294A1 (en) * 2008-09-08 2010-03-11 Apple Inc. Bandwidth enhancement for a touch sensor panel
US8319747B2 (en) * 2008-12-11 2012-11-27 Apple Inc. Single layer touch panel with segmented drive and sense electrodes
US9261997B2 (en) * 2009-02-02 2016-02-16 Apple Inc. Touch regions in diamond configuration
US8922521B2 (en) 2009-02-02 2014-12-30 Apple Inc. Switching circuitry for touch sensitive display
US9087025B2 (en) 2009-02-05 2015-07-21 Micron Technology, Inc. Data encoding using spare channels in a memory system
JP5303325B2 (ja) * 2009-03-18 2013-10-02 ルネサスエレクトロニクス株式会社 データ処理装置
US8593410B2 (en) 2009-04-10 2013-11-26 Apple Inc. Touch sensor panel design
US8957874B2 (en) 2009-06-29 2015-02-17 Apple Inc. Touch sensor panel design
US20110134050A1 (en) * 2009-12-07 2011-06-09 Harley Jonah A Fabrication of touch sensor panel using laser ablation
US8260992B2 (en) * 2010-04-12 2012-09-04 Advanced Micro Devices, Inc. Reducing simultaneous switching outputs using data bus inversion signaling
US9652088B2 (en) 2010-07-30 2017-05-16 Apple Inc. Fabrication of touch sensor panel using laser ablation
KR101198250B1 (ko) * 2010-12-06 2012-11-07 에스케이하이닉스 주식회사 오류코드 패턴 형성 회로 및 이를 포함하는 메모리 장치
WO2012106358A1 (en) 2011-01-31 2012-08-09 Everspin Technologies, Inc. Method of reading and writing to a spin torque magnetic random access memory with error correcting code
KR20120098326A (ko) 2011-02-28 2012-09-05 에스케이하이닉스 주식회사 반도체 장치 및 데이터 처리방법
US9329723B2 (en) 2012-04-16 2016-05-03 Apple Inc. Reconstruction of original touch image from differential touch image
US9886141B2 (en) 2013-08-16 2018-02-06 Apple Inc. Mutual and self capacitance touch measurements in touch panel
WO2015178920A1 (en) 2014-05-22 2015-11-26 Onamp Research Llc Panel bootstrapping architectures for in-cell self-capacitance
US10289251B2 (en) 2014-06-27 2019-05-14 Apple Inc. Reducing floating ground effects in pixelated self-capacitance touch screens
US9280251B2 (en) 2014-07-11 2016-03-08 Apple Inc. Funneled touch sensor routing
US9880655B2 (en) 2014-09-02 2018-01-30 Apple Inc. Method of disambiguating water from a finger touch on a touch sensor panel
CN107077260B (zh) 2014-09-22 2020-05-12 苹果公司 触摸控制器和用于触摸传感器面板的方法
US10712867B2 (en) 2014-10-27 2020-07-14 Apple Inc. Pixelated self-capacitance water rejection
US9979416B2 (en) 2014-12-10 2018-05-22 Rambus Inc. Memory controller and method of data bus inversion using an error detection correction code
KR101653468B1 (ko) 2014-12-17 2016-09-01 한양대학교 산학협력단 데이터 반전 코딩 장치 및 방법
AU2016215616B2 (en) 2015-02-02 2018-12-06 Apple Inc. Flexible self-capacitance and mutual capacitance touch sensing system architecture
KR20160105625A (ko) * 2015-02-27 2016-09-07 에스케이하이닉스 주식회사 데이터 저장 장치 및 그것의 동작 방법
US10488992B2 (en) 2015-03-10 2019-11-26 Apple Inc. Multi-chip touch architecture for scalability
US10534481B2 (en) 2015-09-30 2020-01-14 Apple Inc. High aspect ratio capacitive sensor panel
US10365773B2 (en) 2015-09-30 2019-07-30 Apple Inc. Flexible scan plan using coarse mutual capacitance and fully-guarded measurements
AU2017208277B2 (en) 2016-09-06 2018-12-20 Apple Inc. Back of cover touch sensors
KR102810613B1 (ko) * 2016-12-02 2025-05-21 삼성전자주식회사 반도체 장치의 오류 검출 코드 생성 회로, 이를 포함하는 메모리 컨트롤러 및 반도체 메모리 장치
US10606689B2 (en) 2017-04-18 2020-03-31 SK Hynix Inc. Memory system and operating method thereof
US10642418B2 (en) 2017-04-20 2020-05-05 Apple Inc. Finger tracking in wet environment
KR102583797B1 (ko) 2018-04-09 2023-10-05 에스케이하이닉스 주식회사 메모리 시스템 및 메모리 시스템의 동작 방법
US11662867B1 (en) 2020-05-30 2023-05-30 Apple Inc. Hover detection on a touch sensor panel

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10163881A (ja) * 1996-11-27 1998-06-19 Victor Co Of Japan Ltd データ誤り検出符号の算出方法及び算出回路
JP2002199042A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Nec Corp Gfpフレーム転送装置およびgfpフレーム転送方法
JP2007282237A (ja) * 2006-04-04 2007-10-25 Samsung Electronics Co Ltd データバスインバージョンを使う低電力バランスコード

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH063420A (ja) * 1992-06-17 1994-01-11 Toshiba Corp 組み合わせ論理回路のテストパタン生成方法
JPH09204365A (ja) * 1996-01-24 1997-08-05 Sony Corp メモリ検査符号発生回路
KR100227789B1 (ko) * 1996-12-14 1999-11-01 정선종 메모리 테스트 패턴 생성기
JP4272813B2 (ja) * 1997-11-17 2009-06-03 シーゲイト テクノロジー エルエルシー オンチップメモリにおけるデータ健全性のためのcrcを用いる方法および装置
KR100434463B1 (ko) * 1999-01-07 2004-06-05 삼성전자주식회사 부호분할다중접속 통신시스템의 데이터 통신 장치 및 방법
US6490703B1 (en) * 1999-09-30 2002-12-03 Intel Corporation Bus power savings using selective inversion in an ECC system
TW451212B (en) * 1999-12-03 2001-08-21 Macronix Int Co Ltd Read only memory chip having a built in testing circuit
US6584526B1 (en) * 2000-09-21 2003-06-24 Intel Corporation Inserting bus inversion scheme in bus path without increased access latency
US7174498B2 (en) * 2002-02-15 2007-02-06 Intel Corporation Obtaining cyclic redundancy code
US6898648B2 (en) * 2002-02-21 2005-05-24 Micron Technology, Inc. Memory bus polarity indicator system and method for reducing the affects of simultaneous switching outputs (SSO) on memory bus timing
US7613980B2 (en) 2003-06-06 2009-11-03 Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. System for computing a CRC value by processing a data message a word at a time
US20050289435A1 (en) * 2004-06-29 2005-12-29 Mulla Dean A Fast approximate DINV calculation in parallel with coupled ECC generation or correction
KR100643498B1 (ko) * 2005-11-21 2006-11-10 삼성전자주식회사 반도체 메모리에서의 데이터 버스 반전 회로 및 데이터버스 반전 방법
KR100837802B1 (ko) * 2006-09-13 2008-06-13 주식회사 하이닉스반도체 데이터 입출력 오류 검출 기능을 갖는 반도체 메모리 장치

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10163881A (ja) * 1996-11-27 1998-06-19 Victor Co Of Japan Ltd データ誤り検出符号の算出方法及び算出回路
JP2002199042A (ja) * 2000-12-26 2002-07-12 Nec Corp Gfpフレーム転送装置およびgfpフレーム転送方法
JP2007282237A (ja) * 2006-04-04 2007-10-25 Samsung Electronics Co Ltd データバスインバージョンを使う低電力バランスコード

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012100210A (ja) * 2010-11-05 2012-05-24 Nec Corp データ伝送システム、送信回路および受信回路
US11468961B2 (en) 2019-07-09 2022-10-11 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Semiconductor memory device, memory controller, and error notification method

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