JP2010508564A - 顕微鏡において発生させられる光ビームの光出力を測定するための装置及び方法 - Google Patents

Abstract

【課題】顕微鏡を分解すること又はサンプルを除去することが余議されることなく、顕微鏡における光出力を容易に測定するための方法及び装置を提供することを主な課題とする。
【手段】挿入スライドを受けるためのスロットを標準的に備えた顕微鏡において発生させられる光ビームの光出力を測定するための方法であって、顕微鏡の対物レンズのバック瞳近くのスロットに取外し自在な測定プローブを挿入することによって光出力を測定する工程を含んでいる。光ビームが達したサンプル上においえて利用可能なパワーを、瞳の直径と対物レンズの透過係数と共に、測定プローブによって検出された光出力の関数（ｆｕｎｃｔｉｏｎ）として決定する。

Description

本発明は、顕微鏡において発生させられる光ビームの光出力を測定するための方法及び装置に関するものである。

顕微鏡による検査においては、それに関連する用途に従って、ハロゲンランプ，水銀灯／キセノンランプ，レーザー，フラッシュランプ及びフォトダイオードの如き様々な光源が用いられている。これら光源のパワーが過剰であったり、不十分であったり、または、変動するような場合に問題となるが、これらの問題は、結像のチェーン（ｃｈａｉｎ）の他のエレメントがパワーの問題を補償するのに十分でない場合にのみ表面化する。顕微鏡により生物学的対象物を検査する時に遭遇する以下のケースを一例として引用することができる。
・励起光源は弱いが、使用されるカメラが良質で、上質な画像を得ることを他の何よりも可能なものにする。この場合に用いられるパワーは妥当なのか？異常に弱く用いられている光源が非適切に調整されているか否かを判断するために結像の実験的状態と別の顕微鏡の実験状態とを比較する仕方、または、良好な妥協点は、良好な照明と低い感度のカメラでは不可能である。
・細胞（ｃｅｌｌ）が引き起こされる光毒症に対抗しないようなパワーを使用することだけでは、実験者は蛍光発光中の細胞を確認することができない。それは、非適切に調整された採集のチェーンによるものなのか？励起の弱い強さと良質なカメラとで、実験を向上させることを望むことができるか？
・共焦点顕微鏡検査法において、イメージ中の異常構造が観察される。それは、時間の経過中におけるレーザーの強さの変動に起因するのか、または、スキャナーの問題に起因するのか？
・更に、共焦点顕微鏡検査法においては、結像は、通常の強さの強度を必要とする。それは、対物レンズに強い強度を導入することの必要性、または、コントロールパワー装置の光源の異常状態の単純な結果、または、入射瞳よりも大きなビームの直径であっても対物レンズに強さを加える励起のパス（ｐａｔｈ）に対応するものであるのか？第一のケースにおいてはサンプル又は検出の側での解決策が求められるのに対して、第二のケースにおいては機器のアップストリーム励起を検査することが求められる。

我々が正に喚起し且つ時には実験の進展、時にはステップ診断（ｓｔｅｐ ｄｉａｇｎｏｓｉｓ）の進展に伴う問題のある状況以外に、実験の完全な限界，フォトフィジック（ｐｈｏｔｏｐｈｙｓｉｃ）の良好なコントロール又は実験的再現性のためのインルーチン（ｉｎ ｒｏｕｔｉｎｅ）のために、パワーの測定が必要とされるという状況がある。

最後に、フォトマニュピレーション（ｐｈｏｔｏｍａｎｉｐｕｌａｔｉｏｎ）（光活性化，ＦＲＡＰ，ＦＣＳ）を履行する実験に関して、定量的な条件は、どの程度の再現性が可能でないのか及び非常に難しい実験結果の比較に関係なく、サンプルに送られるパワーを正確に知ることである。使用されるパワーを殆ど日常的に測定すること、特に、パワーをコントロールする変調器（音響光学変調器，電気光学変調器，偏光ブレード）への指示に従ってパワーのカーブを知ることの必要性が存在する。実際に、光出力が変調器によってコントロールされた時に、送られたパワーが、指令と応答との間での非線形挙動に起因して、「指令」パワーに相当しないことが屡々観察される。

更に、度々、パワーは、それ自体正確に知られていないレーザーパワーのパーセンテージとして指令される。最良のケースでは、いくつかの共焦点顕微鏡は、例えば、顕微鏡の対物レンズにおける有好なパワーを認識することなく、スキャンヘッドで通常検出されるパワーを示すフォトダイオードによる内部較正（ｉｎｔｅｒｎａｌ ｃａｉｂｒａｔｉｏｎ）を提案している。

更に、低強度の蛍光，光毒症の制限，要求さるフォトフィジック効果のコントロール関するサンプルの重要性に起因して、サンプル内に導入される光出力を知ることが特に興味を引き起こされる。この点に関しては、優良な測定場所はサンプルそのものである。

サンプルの面である測定点は、二つの異なる方法によりアクセス可能である。一方で、蛍光プラスティックブレード（ｐｌａｓｔｉｃ ｂｌａｄｅ）のような、その感受性が知られている、「標準的な」蛍光材料を使用することは可能である。このような測定法は、励起と検出との相対的なメリットに量的にアクセスすることなく、「励起−検出」チェーンの全ての有効性を再現的な態様で試験することを可能にさせる。更に、この測定法は、サンプルを敢えて取り除くが、そのことが欠点を露呈することとなる。他の実施方法は、焦点面におけるルミナスパワーを直接的に測定することである。

この試みは、光が強くフォーカスされる領域において、例えば、開口（ａｐｅｒｔｕｒｅ）の分布に左右されるシリコンフォトダイオードタイプの表面、要求される光結合タイプの表面（水又は油）における測定の如き、検出の問題点を有している。例えば、合焦レーザーの場合における光の強いコンセントレーションは、検出器の飽和と測定の非線形に帰着する。フォトダイオードによる代替策はボロメーターであるが、このタイプの標準センサーは扱い難い。

従来、顕微鏡における光出力をコントロールするための機器を開示した米国特許出願公開２００４／０２３８７１９（特許文献１）が知られている。その機器は、光出力を測定するための測定装置と、光出力の選択可能なレベルを達成するために、測定された光出力の機能として高周波光源をコントロールするためのコントロールユニットを有している。その測定装置は、走査光学システム（ｓｃａｎｎｉｎｇ ｏｐｔｉｃａｌ ｓｙｓｔｅｍ）とチューブ光学システム（ｔｕｂｅ ｏｐｔｉｃａｌ ｓｙｓｔｅｍ）との間に配置することができる。光出力の正確な制御を行うために、米国特許出願公開２００４／０２３８７１９（特許文献１）は、測定装置をサンプルから直前のアップストリームに配置するについて開示している。

この方法には、上述した第二の方法の問題点を有している。
米国特許出願公開２００４／０２３８７１９

従って、本発明の目的は、顕微鏡を分解すること又はサンプルを除去することが余議されることなく、顕微鏡における光出力を容易に測定するための方法を提供することにある。

本発明の別の目的は、製造業者，エンジニア及びメインテナンス者の分析を可能にさせ、ユーザーの実験の進展を可能にさせ、実験条件の最適化の利益が得られ、または、性能の比較又は標準化の要請に応えることの可能な新規な方法を提供することにある。更に、本発明は、顕微鏡の製造業者の規格に対応するために、顕微鏡の取り付けに関する質管理のための新規な器具を提供することを目的とする。更に、本発明は、医学おける標準較正のための新規な器具、即ち、顕微鏡が医学における所定基準に合致していることを証明することを可能にする器具を提供することを目的とする。

本発明の別の目的は、顕微鏡に置かれたサンプルに達する光出力を正確に測定するための方法を提供することにある。

上述した目的の少なくとも一つは、挿入スライドを受けるためのスロットを標準的に装備している顕微鏡において発生させられる光ビームの光出力を測定するための本発明による方法によって達成される。この方法は、取り外し可能な測定プローブを顕微鏡の対物レンズのバック瞳（ｂａｃｋ ｐｕｐｉｌ）近くにある前記スロットに挿入することにより光出力を測定する工程を含んでいる。

本発明の方法では、測定プローブが所定の標準スロットに挿入されるので、光ビームがアクセスし易くなる。実際に、実験室の顕微鏡の多くは、ノマルスキータイプのコントラスト装置、又は偏光子／アナライザーを受け入れるためのこのようなスロットを装備している。従来技術に反して、本発明による検出位置は、上手く定められており、常に同一であるため、比較測定が可能である。本発明は、顕微鏡の変更を必要とすることなく、以前の及び将来の顕微鏡を使用することができる。

測定プローブを対物レンズのバック瞳近くに位置させることにより、信頼性のある測定を行うことができる。そこでは、弱いインシデンス（ｗｅａｋ ｉｎｃｉｄｅｎｃｅ）で光が注ぎ込まれ、その光の強さは比較的均一である。

本発明の有益な実施形態によれば、光ビームが達するサンプル上でアクセス可能なパワーＰ_{ｓａｍｐｌｅ}は、対物レンズのバック瞳の直径に相当する直径の絞りを介して測定プローブによって検出される光出力Ｐ_{ｄｅｔｅｃｔｏｒ}と対物レンズの透過係数ｔとの積であり、即ち、Ｐ_{ｓａｍｐｌｅ}＝Ｐ_{ｄｅｔｅｃｔｏｒ}×ｔである。

本発明は、測定プローブがサンプル上の光出力を評価することを可能にする位置に配置されているという事実によって、著しく注目に値する。

有益なことに、測定プローブは、顕微鏡のスロットに測定プローブが挿入された時に、光ビームの光路に配置される検出装置を含んでいる。この検出装置はフォトダイオードの如きフォト検出器を含んでいてもよい。

発明の実施形態によれば、測定プローブは、検出装置から外部ユニットへ前置増幅された測定信号（ｐｒｅ−ａｍｐｌｉｆｉｅｄ ｍｅａｓｕｒｉｎｇ ｓｉｇｎａｌ）を送るための小型一次回路を含んでいて、外部ユニットは、小型一次回路をコントロールし且つ測定信号を処理することができる。

この小型一次回路は、測定プローブに配置されて、フォトダイオードによって発生させられた信号を受信するよう構成されている電子回路であってもよい。前記信号に関して予備処理を施してもよい。例えば、小型一次回路は、検出装置のダイナミックレンジ（ｄｙｎａｍｉｃ ｒａｎｇｅ）を拡張するために、線形トランスインピーダンス プリアンプ（ｌｉｎｅａｒ ｔｒａｎｓ ｉｍｐｅｄａｎｃｅ ｐｒｅ−ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）及び／又は対数プリアンプ（ｌｏｇａｒｉｔｈｍｉｃ ｐｒｅ−ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を有していてもよい。対数又は線形プリアンプによって発生させられる信号は外部ユニットによって受信され、外部ユニットは、この信号を処理して、検出された光出力の値を表示するよう構成されている。

更に、検出装置における何らかの光飽和（ｏｐｔｉｃａｌ ｓａｔｕｒａｔｉｏｎ）を避けるために、本発明による方法は、光ビームの光路において、測定プローブからのアップストリームに取外し自在な減衰器（ａｔｔｅｎｕａｔｏｒ）を配置する工程を更に含んでいる。この減衰器具は、検出装置の前方に配置される取り外し可能な吸収ニュートラルフィルターであってもよい。

有益なことに、測定精度を更に改善させるために、本発明による方法は、検出装置を対物レンズの瞳の直径に合わせるために測定プローブの検出装置に配置されている絞りを調整する工程を更に含んでいる。その絞りは、サイズの異なる一組のリング又は調整可能なリングであってもよい。

測定プローブ上に配置されている活性素子の全てと共に測定プローブは、外部ユニットと電気的に接続されている。その外部ユニットは、オシロスコープに適しているアナログ測定信号を発生するものであることが有益である。本発明による方法は、測定作業を開始する前に、測定プローブを較正する工程を含んでいてもよい。それ故、外部ユニットは、所定の処理に従って測定プローブをコントロールするよう構成されている。外部ユニットは、線形・対数設定の間に、切り替えの如く、小型一次回路をコントロールするものであってもよい。また、それは、ディテクターのアテニュエーション（ａｔｔｅｎｕａｔｉｏｎ）とプリアンプのゲインをコントロールするものであってもよい。ゲインのコントロールによって、光ビームのパワーがどうであろうとも、外部ユニットが許容可能な信号レベルを受信することを可能にさせる。

本発明の一実施形態によれば、外部ユニットはコンピューターに接続されていてもよい。そして、外部ユニットは、測定プローブとコンピューターとの間のゲートウェイとして機能する。

本発明の変形例によれば、測定プローブは、コンピューターに直接的に電気的接続されていてもよい。そのコンピューターは、測定プローブから送られる信号を処理するための通常のソフトウェアとハードウェアを装備している。測定プローブのパワー供給は、ＵＳＢ型コネクターを通して行うことができる。コンピューターとのデジタル通信のために、アナログ−デジタルコンバーターを小型一次回路内に設けてもよく、そうでない場合には、コンピューターは、アナログ−デジタルコンバーターを有するドーターカード（ｄａｕｇｈｔｅｒ ｃａｒｄ）を備えていてもよい。

本発明の別の側面によれば、挿入スライドを受けるためのスロットを標準的に装備している顕微鏡において発生させられる光ビームの光出力を測定するための機器が提供される。その機器は、顕微鏡の対物レンズのバック瞳近くにあるスロットに挿入されるよう設計された取り外し自在な測定プローブを有している。

限定的でない一実施形態によれば、測定プローブは、
測定プローブがスロットに挿入された時に光ビームの光路に位置しているフォトディテクターと、
前記フォトディテクターに接続された小型一次回路と、
前記小型一次回路をコントロール及び電気供給のための外部ユニットと接続するためのコネクターを有していてもよい。

コネクターは、電気供給ライン及び通信ラインを伝えるＵＳＢコネクターを含んでいてもよい。

少なくともフォトディテクターと小型一次回路は取り外し自在に測定プローブに配置されているのが有益である。こうして、フォトディテクターと小型一次回路とを含んでいる単一の組立体は、特別な顕微鏡スロットにスライドされるよう設計されたハウジングを構成している複数の測定プローブに適合させるようにできる。

本発明のこれらの及びその他の特徴並びに利点については、後述する本発明の好ましい実施形態に関する詳細説明からより明らかになるであろう。

茲で、同じ部品に関しては同じ参照符号が付された図面を参照して、本発明について説明する。図１は、直視共焦点顕微鏡１（倒立顕微鏡であってもよい）を示した図で、この顕微鏡は、一般に、検体４が配置される載物台３を支持しているガントリー（ｇａｎｔｒｙ）２を含んでいる。ガントリー２上には共焦点スキャンヘッド５が配置されている。接眼レンズ７によって観察される検体４の上方には、少なくとも一つの対物レンズ６が位置している。通常、顕微鏡１は、スライダー９が挿入されるスロット８を有している。このスライダーは、対物レンズ６のバック瞳孔（ｂａｃｋ ｐｕｐｉｌ）近くの光ビームパス中に配置される偏光子又はコントラストデバイス（ｃｏｎｔｒａｓｔ ｄｅｖｉｃｅ）を通常含んでいる。本発明による測定プローブ１０は、図２に示されており、対物レンズ６を通る光ビームを検出するよう構成されている。この測定プローブ１０は、スロット８に挿入されるように設計されている。そのため、測定プローブ１０の形状は、スライド９の形状を模して形成されている。測定プローブ１０は、主に、薄シリコンフォトダイオード１１と小型一次回路とＵＳＢ型電子コネクター１３とを含んでいる。小型一次回路１２は、外部デジタル指令に応答する、伝達インピーダンスプリアンプ、及び選択ゲイン装置を有するＣＭＳ回路である。

図３は、本発明の好ましい実施形態を示している。この実施形態においては、測定装置１０が、ケーブル１４とコネクター１３とを介して外部コントロールユニット１５に接続されている。測定装置１０と外部コントロールユニットとの間の通信によって、以下のアイテムが伝送される。
・電気供給
・アナログ出力信号
・飽和ライン（１ビット）
・弱信号ライン（１ビット）
・固定ゲインコントロールライン（２ビット）
・較正ライン
・ログ／出力スイッチ用の論理ライン

有益なことに、小型一次回路１２は、フォトダイオードのダイナミックレンジを拡張するための対数プリアンプ（ｌｏｇａｒｉｔｈｍｉｃ ｐｒｅ−ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を有している。別の実施形態では、この回路は線形プリアンプを有している。従って、測定プローブは、高レベルの精度と直線性とを有していることを特徴とする。対数プリアンプによって発生させられる対数信号は、例えばμＷでのパワー値を記憶及び／又は表示する外部コントロール装置１５において処理される。対数プリアンプは、測定範囲を変更するための手段を備えた外部装置を提供することを避ける。本発明によれば、測定範囲は、ピコアンペアとミリアンペアと間で、正確には七つの大きさに拡張する。そのようにするために、外部装置１５は、対数データをアーギュメントに変換するための手段を含んでいる。この変換手段は、マイクロプロセッサー又はルックアップ表中に存在するものであってもよい。アナログ−デジタルコンバータを、コンピューター等との通信用外部装置に提供してもよい。

正確には、外部コントロール装置１５は、次のような機能を発揮するように構成されている。
・測定装置の電気供給
・四つの位置でのゲインコントロール
・波長表示による感度補正
・ボルト又はμＷ／ｍＷでの測定表示（３ディジット）
・測定装置の較正
・オスロスコープのためのアナログ出力（５０ Ｏｈｍｓ）

また、外部コントロールユニットは、１Ｈｚ毎に通常アップデートされる光出力平均値を表示するよう構成されている。外部コントロールユニットに記憶されているデータは、プリンター又はコンピューター１６に送ることができる。

コンピューター１６を使用する場合には、外部コントロールユニット１５は、測定装置に勝って外部コントロールユニット１５のコントロール機能を不活性にさせることによって、測定装置とコンピューター間の通信を許容するゲートウェイとして機能する。また、コンピューター１６は、顕微鏡１に接続してもよい。従って、測定プローブから取り出された情報に関して顕微鏡１をコントロールすることが可能である。従って、コンピューター１６は、例えば、光ビーム源、又は顕微鏡１のスキャンヘッドをコントロールするようにできる。本発明の有益な実施形態によれば、コンピューター１６は、図３中に点線で示されているケーブル１４を介してＵＳＢ型コネクター１３に直接接続してもよい。

コンピューター１６のこのような構成によって、次のような非限定的機能を発揮することが可能になる。
・顕微鏡に提供される変調器の較正中に、正確な較正を実現するために光出力の測定値を使用することができること（この機能は、共焦点レーザーの較正中に幾分有用である）。
・単一の顕微鏡の様々な光源によって発生させられる光出を比較すること、
・パワー励起のフラクチュエーションを分析するためにタイムシリーズ（ｔｉｍｅ ｓｅｒｉｅｓ）Ｉ（ｔ）をデータ収集すること、パワースペクトルの測定と、自己相関機能とを発揮すること（上述したフラクチュエーションの測定は、線形プリアンプの広いバンド幅構成で最適に達成され、ソース安定性を分析するために高周波（１００ｋＨｚ−１Ｍｈｚ）又は低周波で達成することができる）。
・各点において励起パワーを表すイメージを形成するために光出力オプティカルパワーのデータ収集をすること（上述したイメージは、共焦点ソフトウェアによって好ましく作成され、診断（ｄｉａｇｎｏｓｔｉｃ）のために使用することができる）。

本発明の別の側面によれば、図４に示したように、検出装置１０は、光ビームのイメージを得るためのイメージディテクター１１ｂｉｓを有していてもよい。全パワーの測定値は、光ビームのイメージの測定値に置換される。

同様に、測定プローブは、検出装置から外部ユニットへイメージを送るための小型一次回路１２ｂｉｓを有している。この外部ユニットは、小型一次回路１２ｂｉｓをコントロールし、光ビーム強度の空間分布を決定するために測定信号を処理することができるようになっている。小型一次回路１２ｂｉｓは、イメージ検出器をコントロールして、イメージ検出器からのイメージを伝送するようになっている電子デバイスである。

イメージ検出器は、例えば１０ｍｍ×１０ｍｍの四角形フォーマットのＣＣＤ、又はＣＭＯＳ中にあるものであってもよい。

本発明によれば、次のようなことを正確に具体化させることができるようになる。
・光ビームが、バック瞳の周辺環状エリアを照し、それ故、エバネッセント光をサンプル上で観察すること。
・広い焦点ボリュームを確保するために、光ビームが、バック瞳の中心を照らすこと。

有益なことに、外部ユニットは、イメージ検出器からのイメージを全パワーに変換することができる。これは、光ビームが、バック瞳の開度に略等しい断面寸法を持ってイメージ検出器に達した時に好ましく実施される。有益なことに、外部ユニットは、ゲインと測定プローブに関する暴露とをコントロールするよう構成されている。イメージ検出器の直線性、ゲインコントロール及びゲインの暴露コントロールによって、外部ユニットがイメージを光ビームの全パワーへ適切に変換すること可能にさせる。

本発明は、顕微鏡の標準化又はベンチマーキング（ｂｅｎｃｈｍａｒｋｉｎｇ）の要請に応えるように、時間の経過中における同一顕微鏡に関する性能の比較又は器械間の性能の比較を可能にさせる。標準化は、顕微鏡法において未だ十分に普及していないが、特に、性能の基準が必要とされる蛍光の診断顕微鏡法において進歩している医療プラクティスの影響下で益々不可欠になっていくものと考えることが相当である。診断のための蛍光チップの大量な導入は、上述した要請を強化するものでもある。励起と検出の面で個別に実施される、顕微鏡のベンチマーキングと、様々な主要部の性能に関する相対的評価は、製造業者、インテグレーター（ｉｎｔｅｇｒａｔｏｒ）及びユーザーの興味を刺激することができる。クロンディアグ（Ｃｌｏｎｄｉａｇ）のＦｌｕｏｒＩＳ又はスマートチップ，分子プローブ又はＦＣＳＣのサイトメトリー（ｃｙｔｏｍｅｔｒｙ）用の較正の基準ボール，ＣａｌＳｌｉｄｅ及び蛍光性スライドの如き蛍光のサンプル標準のトレードで見受けられる様子を通して、この傾向を銘記することができる。

本発明の様々な側面について好ましい実施形態を用いて説明したが、本発明は、それらに限定されるものではなく、本願の特許請求の範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で完全に保護されるものであると理解される。

標準スロットを有する従来の共焦点顕微鏡の概略図である。 本発明による測定装置を伴った図１の顕微鏡の概略図である。 本発明に係る実施形態を示した概略図である。 空間分布測定装置の概略図である。

Claims (25)

1. 標準で挿入スライドを挿入するためのスロットが装備されている、顕微鏡内で形成される光線の光出力の測定方法。この方法は、顕微鏡のバック瞳近く、上記スロットに取り外し可能測定プローブを挿入することによる、光出力の測定ステップを構成する。
2. 光線が達するサンプルで利用可能なエネルギーＰ_{ｓａｍｐｌｅ}が、対物レンズのバック瞳と同じ直径の絞りを通して上記測定プローブで検出された光出Ｐ_{ｄｅｔｅｃｔｏｒ}と対物レンズの透過係数ｔとの積、即ち、Ｐ_{ｓａｍｐｌｅ}＝Ｐ_{ｄｅｔｅｃｔｏｒ}×ｔである、請求項１に記載の方法。
3. 測定プローブが、上記スロットに挿入された時に、光線光路に配置された検出装置を構成する、請求項１、又は２に記載の方法。
4. 検出装置がフォトダイオードを構成する、請求項３に記載の方法。
5. 測定プローブが、検出装置から外部ユニットへ測定信号を送るために、小型一次回路を構成する、請求項４に記載の方法。上記外部ユニットは、上記小型一次回路の管理、及び測定信号を処理することが出来る。
6. 小型一次回路が、上記検出装置のダイナミックレンジを拡張するための、線形トランスインピーダンスプリアンプ、又は対数プリアンプを構成する、請求項５に記載の方法。
7. 外部ユニットが、線形、及び対数プリアンプ間のスイッチで小型一次回路を管理する、請求項５、又は６に記載の方法。
8. 検出装置が、イメージ検出器を構成する、請求項３に記載の方法。
9. 測定プローブが、検出装置から外部ユニットに測定信号を送るための、小型一次回路を構成する、請求項８に記載の方法。上記外部ユニットは、上記小型一次回路を管理し、光線強度の空間的配分を決定するために測定信号を処理することが出来る。
10. イメージ検出器が、ＣＣＤ、又はＣＭＯＳ検出器に構成される、請求項８、又は９に記載の方法。
11. 光線が、バック瞳（ｐｕｐｉｌ）の周辺環状エリアを照らす、請求項８から１０の何れかに記載の方法。
12. 光線が、バック瞳（ｐｕｐｉｌ）の中心部を照らす、請求項８から１０の何れかに記載の方法。
13. 取り外し可能アテニュエーターアップストリーム（ａｔｔｅｎｕａｔｏｒ ｕｐｓｔｒｅａｍ）を、測定プローブから光線光路に配置するステップを更に構成する、前記請求項の何れかに記載の方法。
14. 上記測定プローブの検出装置に、対物レンズの瞳（ｐｕｐｉｌ）に対する、上記検出装置に順応するために、配置された絞りを調整するステップを更に構成する、前期請求項の何れかに記載の方法。
15. 測定プローブが、上記測定プローブに電気供給を行う外部ユニットに接続された、前記請求項のいずれかに記載の方法。
16. 外部ユニットが、オシロスコープに順応するアナログ測定信号を発生する、請求項１５に記載の方法。
17. 外部ユニットが、測定プロセスが開始される前に、測定プローブを較正する、請求項１５、又は１６に記載の方法。
18. 外部ユニットが、コンピューターに接続された、請求項１５に記載の方法。上記外部ユニットは、測定プローブ及び上記コンピューター間の通り道として作動する。
19. 測定プローブが、上記測定プローブに電気供給を行うコンピューターに直接接続された、請求項１に記載の方法。
20. 顕微鏡で形成された光線のオプティカルパワーを測定するための器具。上記顕微鏡には、挿入スライドを挿入するためのスロットが標準で装備されている。その器具は、顕微鏡のバック瞳（ｐｕｐｉｌ）近く、上記スロットに挿入するようデザインされた、取り外し可能測定プローブを構成する。
21. 測定プローブが、以下項目を構成する、請求項２０に記載の器具。
    ・測定プローブが、上記スロットに挿入された時に、光線光路に配置されたフォトディテクター
    ・上記フォトディテクターに接続された、小型一次回路
    ・小型一次回路の、管理及び電気供給を行う、外部ユニットに接続するためのコネクター
22. 測定プローブが、以下項目を構成する、請求項２０に記載の器具。
    ・測定プローブが上記スロットに挿入された時に、光線光路に配置された、イメージ検出器
    ・上記イメージ検出器に接続された、小型一次回路
    ・小型一次回路の、管理及び電気供給を行う、外部ユニットに接続するための、コネクター
23. 少なくとも、フォトディテクター、又はイメージ検出器、及び小型一次回路が、測定プローブに取り外しできるよう配置された、請求項２１、又は２２に記載の器具。
24. 小型一次回路が、通信インピーダンスプリアンプ（ｔｒａｎｓｆｅｒ ｉｍｐｅｄａｎｃｅ ｐｒｅ−ａｍｐｌｉｆｉｅｒ）を構成する、請求項２１に記載の器具。
25. 測定プローブが、対物レンズの瞳（ｐｕｐｉｌ）の直径に対して、上記検出装置に適合する絞りを構成する、請求項２０に記載の器具。

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