JP2012196656A - ハニカムフィルタ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】ハニカムフィルタ20は、水銀圧入法による細孔分布から求めたハニカムフィルタの10μm以下の下流部と上流部との細孔容積の差である細孔容積差が、0.01cm3/g以上0.08cm3/g以下の範囲で、隔壁部及び捕集層が形成されている。
また、ハニカムフィルタにおいて、下流部では2μm以上9μm以下の第1細孔径範囲に第1細孔容積ピークを示し、10μm以上25μm以下の第2細孔径範囲に第1細孔容積ピークよりも大きい第2細孔容積ピークを示す。一方、上流部では10μm以上25μm以下の第2細孔径範囲にのみ第2細孔容積ピークを示す。更に、ハニカムフィルタの上流部及び下流部は、気孔率が35%以上70%以下の範囲であることがより好ましい。
【選択図】図1
Description
流体の流路となる複数のセルを形成する複数の多孔質の隔壁部と、
前記隔壁部上に形成され前記流体に含まれる固体成分を捕集する捕集層と、を備え、
水銀圧入法により測定された前記セルの下流部の10μm以下の細孔容積が、水銀圧入法により測定された前記セルの上流部の10μm以下の細孔容積に比して0.01cm3/g以上0.08cm3/g以下の範囲で大きいものである。
SiC粉末及び金属Si粉末を80:20の質量割合で混合し、これにメチルセルロース及びヒドロキシプロポキシルメチルセルロース、界面活性剤及び水を添加して混練し、可塑性の坏土を得る。所定の金型を用いてこの坏土を押出成形し、所望形状のハニカムセグメント成形体を成形した。ここでは、隔壁部の厚さが305μm、セルピッチが1.47mm、断面が35mm×35mm、長さが152mmの形状に成形した。次に、得られたハニカムセグメント成形体をマイクロ波により乾燥させ、更に熱風にて乾燥させた後、目封止をして、酸化雰囲気において550℃、3時間で仮焼きした後に、不活性雰囲気下にて1400℃、2時間の条件で本焼成を行った。目封止部の形成は、セグメント成形体の一方の端面のセル開口部に交互にマスクを施し、マスクした端面をSiC原料を含有する目封止スラリーに浸漬し、開口部と目封止部とが交互に配設されるように行った。また、他方の端面にも同様にマスクを施し、一方が開口し他方が目封止されたセルと一方が目封止され他方が開口したセルとが交互に配設されるように目封止部を形成した。得られたハニカムセグメント焼成体の排ガス流入側の開口端部より、隔壁の平均細孔径よりも小さい平均粒径を有するSiC粒子を含む空気を流入させ、且つハニカムセグメントの流出側より吸引しながら、排ガス流入側の隔壁の表層に堆積させた。このとき、後述する捕集層の細孔分布調整処理を行い、ハニカムフィルタの上流領域及び下流領域での細孔分布を調整した捕集層を隔壁部に形成した。次に、大気雰囲気下にて1300℃、2時間の条件の熱処理により、隔壁の表層に堆積させたSiC粒子同士、及び堆積させたSiC粒子と隔壁を構成するSiC及びSi粒子と結合させた。このように、隔壁部上に捕集層を形成したハニカムセグメントを作製した。このようにして得られたハニカムセグメントの側面に、アルミナシリケートファイバ、コロイダルシリカ、ポリビニルアルコール、SiC、および水を混練してなる接合用スラリーを塗布し、互いに組み付けて圧着した後、加熱乾燥して、全体形状が四角形状のハニカムセグメント接合体を得た。さらに、そのハニカムセグメント接合体を、円柱形状に研削加工した後、その周囲を、接合用スラリーと同等の材料からなる外周コート用スラリーで被覆し、乾燥により硬化させることにより所望の形状、セグメント形状、セル構造を有する円柱形状のハニカムフィルタを得た。ここでは、ハニカムフィルタは、断面の直径が144mm、長さが152mmの形状とし、隔壁部の厚を300μm、セルピッチを1.47mmとした。なお、隔壁部の気孔率及び細孔径は水銀ポロシメータ(Micromeritics社製Auto PoreIII型式9405)を用いて測定した。また、捕集層の原料粒子の平均粒径は、レーザ回折/散乱式粒度分布測定装置(堀場製作所社製LA−910)を用い、水を分散媒として測定したメディアン径(D50)である。
捕集層の粒子群を形成するSiC粒子を空気及び造孔材と共にハニカムセグメントへ供給し、SiC粒子を隔壁部上に堆積させた。このとき、造孔材の粒度や粒度分布、添加量、供給空気流量、などの条件を適宜設定することにより、制御することができる。ここでは、造孔材として澱粉を用いた。更に、ハニカムセグメントの上流領域や下流領域など、所定の領域の隔壁部に、アルコールや水、樹脂などを含ませておくことで、空気の透過抵抗を高めることにより、供給した捕集層原料粒子や造孔材の堆積領域を制御することができる。例えば、捕集層原料粒子に添加する造孔材の添加量を3質量%〜45質量%としたり、造孔材のメディアン粒径D50を0.7μm〜8.0μmとしたり、造孔材の粒度分布としてのシャープネス指数Dsを0.4〜1.9としたり、流体の流量を780L/min〜820L/minとしたりすることにより、上流部や下流部での細孔容積、ピーク細孔径などの値を変更した。また、下流側領域の製膜時には、下流側領域以外の領域を樹脂埋めした。一方、下流側領域の製膜後は、樹脂を燃焼除去したのち、この下流側領域を樹脂埋めし、下流側領域以外を製膜した。このようにして、各領域の捕集層の気孔率や細孔径を制御した。
まず、重量比でアルミナ:白金:セリア系材料=7:0.5:2.5とし、セリア系材料を重量比でCe:Zr:Pr:Y:Mn=60:20:10:5:5とした原料を混合し、溶媒を水とした触媒のスラリーを調製した。次に、ハニカムセグメントの出口端面(排ガスが流出する側)を所定の高さまで浸漬させ、入口端面(排ガスが流入する側)より、所定の吸引圧力と吸引流量に調整しながら所定時間にわたって吸引し、隔壁に触媒を担持し、120℃2時間で乾燥させた後、550℃1時間で焼付けを行った。ハニカムフィルタの単位体積当たりの触媒量は、45g/Lとなるようにした。
作製したハニカムフィルタの細孔分布測定を水銀ポロシメータ(Micromeritics社製Auto PoreIII型式9405)を用いて測定した。まず、図2に示すように、測定用試料は、ハニカムフィルタの全長に対して上流側端面から20%の部位にてハニカムフィルタを輪切りにし、その断面における中央部分より約1cm角程度の測定用試料を3つ切り出した(上流部試料)。同様に、ハニカムフィルタの全長に対して上流側端面から50%の部位にてハニカムフィルタを輪切りにし、その断面における中央部分より約1cm角程度の測定用試料を1つ切り出した(中流部試料)。また、ハニカムフィルタの全長に対して下流側端面から20%の部位にてハニカムフィルタを輪切りにし、その断面における中央部分より約1cm角程度の測定用試料を3つ切り出した(下流部試料)。これらの試料を用い、水銀圧入法による測定をJIS−R1655に準じて行った。
ハニカムフィルタの上流部及び中流部での第2細孔容積ピーク位置を14μm、気孔率を40%とし、下流部の第2細孔容積ピークを14μm、気孔率を40%とし、下流部の10μm以下の細孔容積から上流部の10μm以下の細孔容積を差し引いた細孔容積差(以下単に細孔容積差と称する)を0cm3/gとしたハニカムフィルタを実験例1とした。また、細孔容積差を0.01cm3/gとした以外は実験例1と同様に作製したハニカムフィルタを実験例2とした。また、細孔容積差を0.03cm3/gとした以外は実験例1と同様に作製したハニカムフィルタを実験例3とした。また、細孔容積差を0.05cm3/gとした以外は実験例1と同様に作製したハニカムフィルタを実験例4とした。また、細孔容積差を0.07cm3/gとした以外は実験例1と同様に作製したハニカムフィルタを実験例5とした。また、細孔容積差を0.08cm3/gとした以外は実験例1と同様に作製したハニカムフィルタを実験例6とした。また、細孔容積差を0.09cm3/gとした以外は実験例1と同様に作製したハニカムフィルタを実験例7とした。
ハニカムフィルタの上流部及び中流部での第2細孔容積ピーク位置を14μm、気孔率を40%とし、下流部での第1細孔容積ピーク位置を1μmとし、第2細孔容積ピーク位置を14μmとし、気孔率を40%とし、細孔容積差を0.04cm3/gとしたハニカムフィルタを実験例8とした。また、下流部での第1細孔容積ピーク位置を2μmとした以外は実験例8と同様に作製したハニカムフィルタを実験例9とした。また、下流部での第1細孔容積ピーク位置を3μmとした以外は実験例8と同様に作製したハニカムフィルタを実験例10とした。また、下流部での第1細孔容積ピーク位置を5μmとした以外は実験例8と同様に作製したハニカムフィルタを実験例11とした。また、下流部での第1細孔容積ピーク位置を7μmとした以外は実験例8と同様に作製したハニカムフィルタを実験例12とした。また、下流部での第1細孔容積ピーク位置を9μmとした以外は実験例8と同様に作製したハニカムフィルタを実験例13とした。また、下流部での第1細孔容積ピーク位置を10μmとした以外は実験例8と同様に作製したハニカムフィルタを実験例14とした。
ハニカムフィルタの上流部及び中流部での第2細孔容積ピーク位置を9μm、気孔率を40%とし、下流部での第1細孔容積ピーク位置を4μmとし、第2細孔容積ピーク位置を9μmとし、気孔率を40%とし、細孔容積差を0.04cm3/gとしたハニカムフィルタを実験例15とした。また、上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を10μmとした以外は実験例15と同様に作製したハニカムフィルタを実験例16とした。また、上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を12μmとした以外は実験例15と同様に作製したハニカムフィルタを実験例17とした。また、上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を15μmとした以外は実験例15と同様に作製したハニカムフィルタを実験例18とした。また、上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を20μmとした以外は実験例15と同様に作製したハニカムフィルタを実験例19とした。また、上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を22μmとした以外は実験例15と同様に作製したハニカムフィルタを実験例20とした。また、上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を25μmとした以外は実験例15と同様に作製したハニカムフィルタを実験例21とした。また、上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を27μmとした以外は実験例15と同様に作製したハニカムフィルタを実験例22とした。
ハニカムフィルタの上流部、中流部及び下流部での第2細孔容積ピーク位置を14μm、気孔率を33%とし、下流部での第1細孔容積ピーク位置を4μmとし、細孔容積差を0.04cm3/gとしたハニカムフィルタを実験例23とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を35%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例24とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を40%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例25とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を45%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例26とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を50%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例27とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を55%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例28とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を60%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例29とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を65%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例30とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を70%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例31とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を73%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例32とした。また、上流部、中流部及び下流部での気孔率を75%とした以外は実験例23と同様に作製したハニカムフィルタを実験例33とした。
上記作製したハニカムフィルタを2.0Lディーゼルエンジンの直下位置に搭載し、エンジンを2500rpm、40Nmに一定に保ち、PM堆積過程の圧力損失を計測した。一定時間後にハニカムフィルタをエンジンより取り外し、重量を計測した。試験前の重量と比較することで、PM堆積量を算出し、4g/L堆積時の圧力損失を計測対象のハニカムフィルタの圧力損失値とした。
電気炉にて大気雰囲気下で850℃、8時間一定でハニカムフィルタをエージングし、実車の耐久状態を模擬させた。その後、圧力損失試験と同様の手順でPMを8g/L堆積させたあと、2500rpm、40Nmで一定状態にてポストインジェクションによる強制再生を行い、ハニカムフィルタの入口ガス温度を650℃まで上昇させ、10分間保持した。試験後に重量を計測し、8g/Lに対する燃焼したPM量から再生効率を算出し、その値をエージング後の浄化性能とした。
圧力損失試験の計測時にハニカムフィルタの前後にてスモーク値を計測し、ハニカムフィルタ入口のスモーク値に対するハニカムフィルタ通過によるスモーク捕捉率を計測対象の捕集効率とした。スモーク値計測器は、AVL製スモークメーターAVL415Sを用いた。
実験例1〜33についての測定結果等を表4に示した。図5は、実験例10のLog微分細孔容積分布の測定結果であり、図6は、実験例29のLog微分細孔容積分布の測定結果である。また、図7は、実験例1〜7の圧力損失及び浄化性能と細孔容積との関係図であり、図8は、実験例8〜14の圧力損失及び浄化性能と第1細孔容積ピークとの関係図であり、図9は、実験例15〜22の圧力損失及び捕集性能と第2細孔容積ピークとの関係図であり、図10は、実験例23〜33の圧力損失及び浄化性能と気孔率との関係図である。図5,6に示すように、ハニカムフィルタの下流部では、2μm以上9μm以下の第1細孔径範囲に第1細孔容積ピークを示し、10μm以上25μm以下の第2細孔径範囲に第1細孔容積ピークよりも大きい第2細孔容積ピークを示した。一方、ハニカムフィルタの上流部では、10μm以上25μm以下の第2細孔径範囲にのみ第2細孔容積ピークを示した。このように、ハニカムフィルタの下流部の細孔容積が大きいため、下流部により多く捕集層が形成されているものと推察された。
また、隔壁部の気孔率が35%以上では、圧力損失が低減した。これは、触媒コート後に隔壁部の細孔のパーミアビリティが小さくなる事によるものと推察された。
一方、隔壁部の気孔率が70%を超えると、エージング後浄化性能が低下した。これは、隔壁部の細孔容積が大きすぎるため、触媒のほとんどが隔壁部側に堆積してしまい、捕集層には十分な触媒が担持されなかったものと推察された。
Claims (8)
- 流体の流路となる複数のセルを形成する複数の多孔質の隔壁部と、
前記隔壁部上に形成され前記流体に含まれる固体成分を捕集する捕集層と、を備え、
水銀圧入法により測定された前記セルの下流部の10μm以下の細孔容積が、水銀圧入法により測定された前記セルの上流部の10μm以下の細孔容積に比して0.01cm3/g以上0.08cm3/g以下の範囲で大きい、ハニカムフィルタ。 - 前記下流部の水銀圧入法により測定されたLog微分細孔容積分布では、第1の細孔径範囲で第1の細孔容積ピークを示し、前記第1の細孔容積ピークの細孔径よりも大きい第2の細孔径を含む第2の細孔径範囲で前記第1の細孔容積ピークよりも大きい第2の細孔容積ピークを示し、
前記上流部の水銀圧入法により測定されたLog微分細孔容積分布では、前記第2の細孔径範囲で前記第2の細孔容積ピークのみを示す、請求項1に記載のハニカムフィルタ。 - 前記第1の細孔径範囲は、2μm以上9μm以下の範囲であり、
前記第2の細孔径範囲は、10μm以上25μm以下の範囲である、請求項2に記載のハニカムフィルタ。 - 前記上流部及び前記下流部の水銀圧入法により測定された気孔率は、35%以上70%以下の範囲である、請求項1〜3のいずれか1項に記載のハニカムフィルタ。
- 前記捕集層は、気体を搬送媒体とし該捕集層の原料である無機材料を前記セルへ供給することにより形成されている、請求項1〜4のいずれか1項に記載のハニカムフィルタ。
- 前記隔壁部は、コージェライト、SiC、ムライト、チタン酸アルミニウム、アルミナ、窒化珪素、サイアロン、リン酸ジルコニウム、ジルコニア、チタニア及びシリカから選択される1以上の無機材料を含んで形成されている、請求項1〜5のいずれか1項に記載のハニカムフィルタ。
- 前記ハニカムフィルタは、前記隔壁部及び前記捕集層を有する2以上のハニカムセグメントが接合層によって接合されて形成されている、請求項1〜6のいずれか1項に記載のハニカムフィルタ。
- 触媒が担持されている、請求項1〜7のいずれか1項に記載のハニカムフィルタ。
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