JP2012208122A - 発光素子検査装置およびその検査方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明の実施形態に係る発光素子検査装置は光放出面上に蛍光体物質を含む少なくとも1つ以上の発光素子と、可視光線を発光素子に照射する第1照明ユニットと、紫外線を発光素子に照射する第2照明ユニットと、発光素子から反射された可視光線を撮像して少なくとも1つ以上の第1映像データを生成し、発光素子から反射された紫外線を撮像して少なくとも1つ以上の第2映像データを生成する映像撮像ユニットと、第1映像データおよび第2映像データを用いて発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無を判断する判断ユニットとを備える。
【選択図】図1
Description
110 発光素子
120 第1照明ユニット
130 第2照明ユニット
140 光分割ユニット
150 カラーフィルタ
160 映像撮像ユニット
170 判断ユニット
Claims (17)
- 光放出面上に蛍光体物質を含む少なくとも1つ以上の発光素子と、
可視光線を前記発光素子に照射する第1照明ユニットと、
紫外線を前記発光素子に照射する第2照明ユニットと、
前記発光素子から反射された可視光線を撮像して少なくとも1つ以上の第1映像データを生成し、前記発光素子から反射された紫外線を撮像して少なくとも1つ以上の第2映像データを生成する映像撮像ユニットと、
前記第1映像データおよび前記第2映像データを用いて前記発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無を判断する判断ユニットと、
を備えることを特徴とする発光素子検査装置。 - 前記第1照明ユニットから照射された可視光線を反射させて前記発光素子に伝達し、前記発光素子から反射された可視光線を透過させて前記映像撮像ユニットに提供する光分割ユニットをさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の発光素子検査装置。
- 前記発光素子から反射された紫外線は、前記発光素子および前記蛍光体物質によって波長変換された波長変換光を含むことを特徴とする請求項1または2に記載の発光素子検査装置。
- 前記発光素子の光放出面上の領域に位置して前記発光素子から反射された紫外線に含まれた前記波長変換光を通過させて前記紫外線をフィルタリングするカラーフィルタをさらに備えることを特徴とする請求項3に記載の発光素子検査装置。
- 前記映像撮像ユニットは、前記カラーフィルタを通過した前記波長変換光を撮像して前記第2映像データを生成することを特徴とする請求項4に記載の発光素子検査装置。
- 前記判断ユニットは、前記第1映像データから前記発光素子の整列状態を検出し、検出された前記整列状態に応じて前記発光素子が存在するか否かを判断することを特徴とする請求項1から5の何れか1項に記載の発光素子検査装置。
- 前記判断ユニットは、前記発光素子が存在すると判断された場合、前記第1映像データを第1基準映像データと比較し、前記第1映像データと前記第1基準映像データとが異なる場合、前記発光素子の外観は不良であると判断することを特徴とする請求項6に記載の発光素子検査装置。
- 前記判断ユニットは、前記発光素子の外観が正常であると判断された場合、前記第2映像データを複数の領域に区分して区分された前記複数の領域の各々について、含まれている画素の平均値を算出し、前記複数の領域に対する平均値が許容誤差の範囲から離れる場合、前記発光素子の発光特性は不良であると判断することを特徴とする請求項7に記載の発光素子検査装置。
- 前記判断ユニットは、前記算出された平均値が許容誤差の範囲に含まれる場合は前記第2映像データを映像処理し、前記映像処理された第2映像データを第2基準映像データと比較して異なる場合は前記発光素子の発光特性は不良であると判断することを特徴とする請求項8に記載の発光素子検査装置。
- 前記映像撮像ユニットによって生成された前記第1映像データおよび前記第2映像データを表示するディスプレイユニットと、
前記判断ユニットによって発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無が判断された場合、前記判断された結果を前記第1映像データおよび前記第2映像データとマッチングして格納する格納ユニットと、
をさらに備えることを特徴とする請求項1から9の何れか1項に記載の発光素子検査装置。 - 光放出面上に蛍光体物質を含む少なくとも1つ以上の発光素子に可視光線を照射するステップと、
前記発光素子から反射された可視光線を撮像して少なくとも1つ以上の第1映像データを生成するステップと、
前記発光素子に紫外線を照射するステップと、
前記発光素子から反射された紫外線を撮像して少なくとも1つ以上の第2映像データを生成するステップと、
前記第1映像データおよび前記第2映像データを用いて前記発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無を判断するステップと、
を含むことを特徴とする発光素子検査方法。 - 前記発光素子から反射された紫外線は、前記発光素子および前記蛍光体物質によって波長変換された波長変換光を含むことを特徴とする請求項11に記載の発光素子検査方法。
- 前記第2映像データを生成するステップは、
前記発光素子から反射された紫外線に含まれた波長変換光を通過させ、前記紫外線をフィルタリングするステップと、
フィルタリングされた前記波長変換光を撮像して前記第2映像データを生成するステップと、
を含むことを特徴とする請求項11または12に記載の発光素子検査方法。 - 前記発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無を判断するステップは、
前記第1映像データから前記発光素子の整列状態を検出し、検出された前記整列状態に応じて前記発光素子が存在するか否かを判断するステップと、
前記発光素子が存在すると判断された場合、前記第1映像データを第1基準映像データと比較するステップと、
前記第1映像データと前記第1基準映像データとが異なる場合、前記発光素子の外観は不良であると判断するステップと、
を含むことを特徴とする請求項11から13の何れか1項に記載の発光素子検査方法。 - 前記発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無を判断するステップは、
前記発光素子の外観が正常であると判断された場合、前記第2映像データを複数の領域に区分し、区分された前記複数の領域の各々について、含まれている画素の平均値を算出するステップと、
前記複数の領域に対する平均値が許容誤差の範囲から離れる場合、前記発光素子の発光特性は不良であると判断するステップと、
をさらに含むことを特徴とする請求項14に記載の発光素子検査方法。 - 前記発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無を判断するステップは、
算出された前記平均値が許容誤差の範囲に含まれる場合、前記第2映像データに映像処理をするステップと、
前記映像処理がなされた第2映像データを第2基準映像データと比較して異なる場合、前記発光素子の発光特性は不良であると判断するステップと、
をさらに含むことを特徴とする請求項15に記載の発光素子検査方法。 - 前記生成された前記第1映像データおよび前記第2映像データを表示するステップと、
前記発光素子の外観および発光特性に対する不良の有無が判断された場合、前記判断された結果を前記第1映像データおよび前記第2映像データとマッチングして格納するステップと、
をさらに含むことを特徴とする請求項11から16の何れか1項に記載の発光素子検査方法。
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Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014149206A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子の検査方法及び半導体発光素子の製造方法 |
| JP2014157131A (ja) * | 2013-02-18 | 2014-08-28 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子の検査方法及び半導体発光素子の製造方法 |
| JP2018529215A (ja) * | 2015-06-09 | 2018-10-04 | ツェットカーヴェー グループ ゲーエムベーハー | 回路支持体の位置的に正確な実装のための方法 |
| KR20200001302A (ko) * | 2018-06-27 | 2020-01-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 모니터용 유기 발광 다이오드 디스플레이 장치 및 그의 영상 처리 방법 |
| CN112284285A (zh) * | 2019-07-25 | 2021-01-29 | 东和株式会社 | 检查系统、检查方法、切断装置以及树脂成形装置 |
Families Citing this family (63)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11010841B2 (en) | 2008-10-02 | 2021-05-18 | Ecoatm, Llc | Kiosk for recycling electronic devices |
| US10853873B2 (en) | 2008-10-02 | 2020-12-01 | Ecoatm, Llc | Kiosks for evaluating and purchasing used electronic devices and related technology |
| US20130144797A1 (en) * | 2008-10-02 | 2013-06-06 | ecoATM, Inc. | Method And Apparatus For Recycling Electronic Devices |
| CN105303699B (zh) | 2008-10-02 | 2018-10-09 | 埃科亚特姆公司 | 针对设备的二手市场和自动售货系统 |
| AT513747B1 (de) | 2013-02-28 | 2014-07-15 | Mikroelektronik Ges Mit Beschränkter Haftung Ab | Bestückungsverfahren für Schaltungsträger und Schaltungsträger |
| CN104111160A (zh) * | 2013-04-22 | 2014-10-22 | 展晶科技(深圳)有限公司 | 发光二极管的检测系统及其检测方法 |
| GB2514180A (en) * | 2013-05-17 | 2014-11-19 | Nanomex Ltd | An optical inspection system |
| KR102050365B1 (ko) * | 2013-08-23 | 2020-01-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치의 불량 검출 방법 및 유기 발광 표시 장치 |
| KR102192572B1 (ko) * | 2014-06-09 | 2020-12-18 | 삼성전자주식회사 | 광원 모듈의 불량 검사방법, 광원 모듈의 제조 방법 및 광원 모듈 검사장치 |
| KR101533588B1 (ko) * | 2014-06-19 | 2015-07-03 | 한국광기술원 | 발광 소자 불량 검출 장치 및 방법 |
| KR20160011102A (ko) * | 2014-07-21 | 2016-01-29 | 삼성전자주식회사 | 발광 소자 패키지의 제조 방법 |
| TWI504912B (zh) * | 2014-08-07 | 2015-10-21 | Utechzone Co Ltd | 光源設備 |
| WO2016053378A1 (en) | 2014-10-02 | 2016-04-07 | ecoATM, Inc. | Wireless-enabled kiosk for recycling consumer devices |
| EP3859697A1 (en) | 2014-10-02 | 2021-08-04 | ecoATM, LLC | Application for device evaluation and other processes associated with device recycling |
| US10445708B2 (en) | 2014-10-03 | 2019-10-15 | Ecoatm, Llc | System for electrically testing mobile devices at a consumer-operated kiosk, and associated devices and methods |
| KR102227774B1 (ko) * | 2014-10-23 | 2021-03-16 | 삼성전자주식회사 | 발광다이오드 패키지 제조방법 |
| WO2016069738A1 (en) | 2014-10-31 | 2016-05-06 | ecoATM, Inc. | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
| US20170169401A1 (en) | 2015-12-11 | 2017-06-15 | ecoATM, Inc. | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
| KR20160056167A (ko) | 2014-11-11 | 2016-05-19 | 삼성전자주식회사 | 발광 장치의 제조 방법, 발광 모듈 검사 장비 및 발광 모듈의 양불 판단 방법 |
| WO2016091536A1 (en) * | 2014-12-09 | 2016-06-16 | Asml Netherlands B.V. | Method and apparatus for image analysis |
| US10437157B2 (en) | 2014-12-09 | 2019-10-08 | Asml Netherlands B.V. | Method and apparatus for image analysis |
| WO2016094789A1 (en) | 2014-12-12 | 2016-06-16 | ecoATM, Inc. | Systems and methods for recycling consumer electronic devices |
| DK178701B1 (en) * | 2015-04-01 | 2016-11-21 | Spx Flow Tech Danmark As | A method and a system for monitoring spray nozzles in a spray drying or spray cooling chamber |
| MX364984B (es) | 2015-04-10 | 2019-04-11 | Quim Tech S A De C V | Dispositivo para observacion de obleas y sus conexiones en el fondo de las capsulas de diodos emisores de luz a traves de sus cupulas transparentes. |
| US10180248B2 (en) | 2015-09-02 | 2019-01-15 | ProPhotonix Limited | LED lamp with sensing capabilities |
| KR102430499B1 (ko) * | 2015-09-22 | 2022-08-11 | 삼성전자주식회사 | Led 조명의 검사 장치 및 검사 방법 |
| US10269110B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-04-23 | Ecoatm, Llc | Methods and systems for detecting cracks in illuminated electronic device screens |
| KR102746079B1 (ko) | 2016-08-03 | 2024-12-24 | 삼성전자주식회사 | 발광소자 패키지의 검사 장치 및 제조 장치 |
| CN107833526B (zh) * | 2016-09-15 | 2021-05-28 | 伊乐视有限公司 | 拾取-移除系统以及发光显示器的修复方法 |
| TWI606532B (zh) * | 2017-04-17 | 2017-11-21 | 旺矽科技股份有限公司 | 微發光二極體晶圓的測試方法 |
| CN107611046A (zh) * | 2017-07-28 | 2018-01-19 | 华灿光电(浙江)有限公司 | 一种内层缺陷的检测装置及检测方法 |
| KR102446211B1 (ko) | 2017-12-11 | 2022-09-23 | 삼성디스플레이 주식회사 | 발광 소자의 검사 방법 및 발광 소자의 검사 장치 |
| CN108456864B (zh) * | 2017-12-28 | 2020-07-07 | 华灿光电(浙江)有限公司 | 外延层的生长设备和外延层生长过程中的缺陷检测方法 |
| JP6954142B2 (ja) * | 2018-01-17 | 2021-10-27 | オムロン株式会社 | 画像検査装置および照明装置 |
| TWI665649B (zh) * | 2018-02-27 | 2019-07-11 | Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. | 微型led陣列、顯示幕及電子裝置 |
| US10612978B2 (en) | 2018-03-01 | 2020-04-07 | International Business Machines Corporation | Light emitting diode color resolution testing |
| EP3581921A1 (en) * | 2018-06-11 | 2019-12-18 | Roche Diabetes Care GmbH | Method for evaluating a suitability of lighting conditions for detecting an analyte in a sample using a camera of a mobile device |
| CN109215026B (zh) * | 2018-09-29 | 2022-02-11 | 广东工业大学 | 一种基于机器视觉的高速准确led缺陷检测方法 |
| US10746667B2 (en) * | 2018-11-27 | 2020-08-18 | General Electric Company | Fluorescent penetrant inspection system and method |
| KR102942007B1 (ko) | 2018-12-19 | 2026-03-19 | 에코에이티엠, 엘엘씨 | 이동 전화기 및 다른 전자 디바이스의 판매 및/또는 구매를 위한 시스템 및 방법 |
| US12322259B2 (en) | 2018-12-19 | 2025-06-03 | Ecoatm, Llc | Systems and methods for vending and/or purchasing mobile phones and other electronic devices |
| KR102206753B1 (ko) | 2019-01-24 | 2021-01-22 | 주식회사 수아랩 | 결함 검사 장치 |
| EP3924918B1 (en) | 2019-02-12 | 2026-04-01 | ecoATM, LLC | Kiosk for evaluating and purchasing used electronic devices |
| US11462868B2 (en) | 2019-02-12 | 2022-10-04 | Ecoatm, Llc | Connector carrier for electronic device kiosk |
| US11798250B2 (en) | 2019-02-18 | 2023-10-24 | Ecoatm, Llc | Neural network based physical condition evaluation of electronic devices, and associated systems and methods |
| KR102320874B1 (ko) * | 2019-03-15 | 2021-11-03 | 한국세라믹기술원 | 결정 성장 방법에 의하여 제조된 탄화규소의 자외선을 이용한 두께 측정 장치 및 측정 방법 |
| CN112629827A (zh) * | 2019-09-24 | 2021-04-09 | 成都辰显光电有限公司 | Led芯片检测装置及led芯片检测方法 |
| CN112635340B (zh) * | 2019-10-09 | 2023-11-03 | 台湾爱司帝科技股份有限公司 | 发光二极管晶圆检测装置与方法 |
| CN112665824A (zh) * | 2019-10-15 | 2021-04-16 | 成都辰显光电有限公司 | 微发光二极管检测设备 |
| KR102736806B1 (ko) * | 2019-12-03 | 2024-12-04 | 삼성디스플레이 주식회사 | 결함 검사 장치 및 그 결함 검사 방법 |
| JP2023508903A (ja) | 2019-12-18 | 2023-03-06 | エコエーティーエム, エルエルシー | 携帯電話および他の電子デバイスを販売および/または買取するためのシステムならびに方法 |
| TWI748344B (zh) * | 2020-02-14 | 2021-12-01 | 聚積科技股份有限公司 | 發光二極體調屏標準判定模型建立方法 |
| CN111722074B (zh) * | 2020-06-03 | 2023-06-20 | 四川蓝景光电技术有限责任公司 | 一种led标识标牌故障定位方法、装置和系统 |
| KR102796638B1 (ko) * | 2020-07-10 | 2025-04-16 | 삼성디스플레이 주식회사 | 미세 구조체를 포함하는 잉크의 제조 방법 |
| EP4197083B1 (en) | 2020-08-17 | 2024-10-09 | ecoATM, LLC | Connector carrier for electronic device kiosk |
| US11922467B2 (en) | 2020-08-17 | 2024-03-05 | ecoATM, Inc. | Evaluating an electronic device using optical character recognition |
| US12271929B2 (en) | 2020-08-17 | 2025-04-08 | Ecoatm Llc | Evaluating an electronic device using a wireless charger |
| WO2022040667A1 (en) | 2020-08-17 | 2022-02-24 | Ecoatm, Llc | Evaluating an electronic device using a wireless charger |
| EP4738801A2 (en) | 2020-08-25 | 2026-05-06 | ecoATM, LLC | Evaluating and recycling electronic devices |
| KR102503772B1 (ko) * | 2020-11-16 | 2023-02-24 | 삼성디스플레이 주식회사 | 디스플레이 장치의 검사 방법 및 디스플레이 장치 검사 장치 |
| US12462635B2 (en) | 2021-07-09 | 2025-11-04 | Ecoatm, Llc | Identifying electronic devices using temporally changing information |
| CN114823408B (zh) * | 2022-05-05 | 2023-10-24 | 无锡美科微电子技术有限公司 | 晶圆检测系统与晶圆检测方法 |
| KR102674430B1 (ko) * | 2024-02-13 | 2024-06-12 | 주식회사 영선기계 | 유지보수가 용이한 핀치롤 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004108911A (ja) * | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Y Systems:Kk | 発光素子の膜厚及び波長の測定方法と、前記測定に用いられる測定装置 |
| JP2005049308A (ja) * | 2003-07-31 | 2005-02-24 | Innotech Corp | 電子部品の光学的検査装置および方法 |
| JP2006162427A (ja) * | 2004-12-07 | 2006-06-22 | Toshiba Corp | Ledチップの検査方法及びledチップの検査装置 |
| JP2007299788A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-15 | Optrex Corp | Led点灯検査装置 |
| JP2009128366A (ja) * | 2007-11-23 | 2009-06-11 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 発光素子検査装置及びこれを用いた発光素子検査方法 |
| JP2009158903A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-07-16 | Toshiba Lighting & Technology Corp | Led発光ユニット及び発光装置 |
| JP2009175150A (ja) * | 2009-01-23 | 2009-08-06 | Saki Corp:Kk | 被検査体の検査装置 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3761252B2 (ja) | 1996-07-18 | 2006-03-29 | 花王株式会社 | 吸水性ポリマー粒子の散布状態検出装置 |
| JP3657930B2 (ja) | 2002-07-05 | 2005-06-08 | パイオニアプラズマディスプレイ株式会社 | プラズマディスプレイパネルの製造方法、蛍光体層の検査方法及び蛍光体層の検査装置 |
| JP2009538955A (ja) * | 2006-05-29 | 2009-11-12 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 発光ダイオード用の無機蛍光体 |
| EP2188588A1 (en) | 2007-07-23 | 2010-05-26 | Rigaku Automation Inc. | Computer controllable led light source for device for inspecting microscopic objects |
| EP2225600A2 (en) | 2007-09-05 | 2010-09-08 | Chroma Technology Corporation | Light source |
| KR100990641B1 (ko) * | 2008-06-04 | 2010-10-29 | 삼성엘이디 주식회사 | Led 검사 장치 및 그 방법 |
| KR101046057B1 (ko) | 2008-11-28 | 2011-07-01 | 삼성엘이디 주식회사 | 발광소자 검사장치 및 이를 이용한 발광소자 검사방법 |
| CN101552313B (zh) | 2009-05-22 | 2013-02-27 | 重庆大学 | 一种磁场激励的led在线检测方法 |
| KR101650390B1 (ko) * | 2009-09-14 | 2016-08-25 | 주식회사 탑 엔지니어링 | 양자점 코팅을 이용한 발광 다이오드의 리페어 방법 및 장치 |
-
2011
- 2011-03-28 KR KR1020110027761A patent/KR101856533B1/ko active Active
-
2012
- 2012-02-29 TW TW101106483A patent/TWI494559B/zh active
- 2012-03-05 US US13/412,197 patent/US8922643B2/en active Active
- 2012-03-26 JP JP2012069438A patent/JP5419304B2/ja active Active
- 2012-03-28 CN CN201210086528.6A patent/CN102721694B/zh active Active
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004108911A (ja) * | 2002-09-18 | 2004-04-08 | Y Systems:Kk | 発光素子の膜厚及び波長の測定方法と、前記測定に用いられる測定装置 |
| JP2005049308A (ja) * | 2003-07-31 | 2005-02-24 | Innotech Corp | 電子部品の光学的検査装置および方法 |
| JP2006162427A (ja) * | 2004-12-07 | 2006-06-22 | Toshiba Corp | Ledチップの検査方法及びledチップの検査装置 |
| JP2007299788A (ja) * | 2006-04-27 | 2007-11-15 | Optrex Corp | Led点灯検査装置 |
| JP2009128366A (ja) * | 2007-11-23 | 2009-06-11 | Samsung Electro Mech Co Ltd | 発光素子検査装置及びこれを用いた発光素子検査方法 |
| JP2009158903A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-07-16 | Toshiba Lighting & Technology Corp | Led発光ユニット及び発光装置 |
| JP2009175150A (ja) * | 2009-01-23 | 2009-08-06 | Saki Corp:Kk | 被検査体の検査装置 |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014149206A (ja) * | 2013-01-31 | 2014-08-21 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子の検査方法及び半導体発光素子の製造方法 |
| JP2014157131A (ja) * | 2013-02-18 | 2014-08-28 | Nichia Chem Ind Ltd | 半導体発光素子の検査方法及び半導体発光素子の製造方法 |
| JP2018529215A (ja) * | 2015-06-09 | 2018-10-04 | ツェットカーヴェー グループ ゲーエムベーハー | 回路支持体の位置的に正確な実装のための方法 |
| KR20200001302A (ko) * | 2018-06-27 | 2020-01-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 모니터용 유기 발광 다이오드 디스플레이 장치 및 그의 영상 처리 방법 |
| KR102552965B1 (ko) | 2018-06-27 | 2023-07-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 모니터용 유기 발광 다이오드 디스플레이 장치 및 그의 영상 처리 방법 |
| CN112284285A (zh) * | 2019-07-25 | 2021-01-29 | 东和株式会社 | 检查系统、检查方法、切断装置以及树脂成形装置 |
| JP2021021592A (ja) * | 2019-07-25 | 2021-02-18 | Towa株式会社 | 検査システム、検査方法、切断装置、及び樹脂成形装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
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