TWI494559B - 用於檢查發光二極體之設備及使用該設備之檢查方法 - Google Patents

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Description

用於檢查發光二極體之設備及使用該設備之檢查方法
本申請案係主張於2011年3月28日向韓國智慧財產局所提出申請之韓國專利申請案第10-2011-0027761號之優先權，於此併入該專利申請案所揭露之內容以供參考。
本發明係有關於一種LED之檢查設備及使用該設備之檢查方法，尤係有關於一種藉由檢查LED之外觀和發光特性之用於判斷LED的劣質之檢查設備和使用該設備之檢查方法。
起初，發光二極體(LED)封裝主要用於信號傳遞(signal)。近來，LED封裝之應用越來越廣泛，例如，用於照明設備和行動電話或大面積顯示裝置(如液晶顯示器；LCD)之背光單元(BLU)的光源。LED的需求增加，因為它有相對較低的功耗和比一般燈泡或螢光燈長之壽命。由於需求增加，LED之製造正在迅速增加。因此，也增加在LED發生之缺陷率。因此，LED散散佈給消費者之前，執行LED之外觀和發光特性之檢查，所謂的光致發光(photo luminescence；PL)特性。
已執行用肉眼或使用設備的視覺檢測(vision inspection)，以防止具有各種外部缺陷如外部損壞、污染之類者的LED散佈給消費者。然而，由於發光特性不能藉由視覺檢測被檢查，用於發光特性之專用檢查是必要的。
藉由包括紫外線(UV)燈之顯微鏡可進行發光特性之 檢查。在這裡，藉由機械調整快門，顯微鏡控制紫外線燈發出的光。然而，機械快門操作之使用可能會阻礙發光特性的高速檢查。此外，紫外線燈增加初始費用和維護費用，而可能會減少設備的壽命。
本發明之一態樣提供降低檢查成本和可高速檢測之檢查設備以及使用該檢查設備的檢查方法，其係藉由同時判斷關於外觀和發光特性之LED缺陷。
根據本發明之一態樣，提供一種發光二極體(LED)檢查設備，包括：至少一LED，包含施加於發光表面上之磷光體；第一發光單元，發出可見光至該LED；第二發光單元，發出紫外(UV)光至該LED；攝影單元，藉由拍攝從該LED反射之該可見光產生至少一第一影像資料，及藉由拍攝從該LED反射之該UV光產生至少一第二影像資料；以及判斷單元，以使用該至少一第一影像資料和第二影像資料判斷該LED之外觀和發光特性中的缺陷。
LED檢查設備可復包括光束分離單元，以反射該發出的可見光和傳送該反射的可見光至該LED，並藉由傳送該可見光提供從該LED反射之該可見光至該攝影單元。
從該LED反射之該紫外光可包括藉由該LED與該磷光體轉換之波長之波長轉換光。
LED檢查設備可復包括色彩濾光片(color filter)，其設置於該LED之上部，以通過包括於從該LED反射的該紫外光中之該波長轉換光並過濾該紫外光。
攝影單元可藉由拍攝經該色彩濾光片通過之該波長轉換的光產生第二影像資料。
該判斷單元可從該第一影像資料檢測該LED之校準狀態，和根據該校準狀態判斷二極體的存在。
判斷單元於該二極體被判斷成存在時可比較該第一影像資料與第一參考影像資料，於該第一影像資料不同於該第一參考影像資料時判斷該LED具有缺損的(defective)外觀。
判斷單元於該LED被判斷成具外觀正常時可將該第二影像資料劃分為複數區段並計算複數區段中包括的像素之平均值，於該平均值超出容許範圍時判斷該LED具有缺損的發光特性。
判斷單元於該平均值在該容許範圍內時可影像處理(image-process)該第二影像資料，而於該第二影像資料不同於該第二參考影像資料時比較該第二影像資料與第二參考影像資料和判斷該LED具有缺損的發光特性。
LED檢查設備可復包括：顯示單元，顯示藉由該攝影單元產生之該第一影像資料和該第二影像資料；儲存單元，映射該第一影像資料和該第二影像資料與有關於該LED外觀和發光特性中的缺陷之該判斷單元的判斷結果，並儲存該映射結果。
根據本發明之另一態樣，提供一種LED檢查方法，包括：發出可見光至至少一LED，該LED包括施加於發光表面上之磷光體；藉由拍攝從該LED反射的該可見光產生至 少一第一影像資料；發出紫外(UV)光至該LED；藉由拍攝從該LED反射的該發出紫外光產生至少一第二影像資料；以及使用該第一影像資料和該第二影像資料判斷該LED之外觀和發光特性中的缺陷。
從該LED反射之該紫外光可包括藉由該LED與該磷光體轉換波長之波長轉換光。
該第二影像資料之產生可包括：通過包括於該LED反射的該紫外光之該波長轉換光並過濾該紫外光；以及藉由拍攝該過濾之波長轉換的光產生該第二影像資料。
該缺陷之判斷可包括：從該第一影像資料檢測該LED之校準狀態，和根據該校準狀態判斷二極體的存在；於該二極體被判斷為存在時比較該第一影像資料與第一參考影像資料；以及於該第一影像資料不同於該第一參考影像資料時判斷該LED具有缺損的外觀。
該缺陷之判斷可包括：於該LED被判斷為具有正常的外觀時將該第二影像資料劃分為複數區段並計算該複數區段中包括的像素之平均值；以及於該平均值超出容許範圍時判斷該LED具有缺損的發光特性。
該缺陷之判斷可包括：於該平均值在該容許範圍內時影像處理該第二影像資料；以及於該第二影像資料不同於該第二參考影像資料時比較該第二影像資料與第二參考影像資料和判斷該LED具有缺損的發光特性。
該LED檢查方法可復包括：顯示該第一影像資料和該第二影像資料；映射該第一影像資料和該第二影像資料與 有關於該LED外觀和發光特性中的缺陷之判斷結果，並儲存該映射結果。
以下敘述將部份提出本發明之其他特徵及附加優點，而對熟習該技術區域者在審視下列敘述後或可從本發明之實行學習而使得本發明部分變為明顯。藉由附加之申請專利範圍中特別提出之處，係能實現及獲得本發明之該優點及特徵。
此時將參考附圖詳述本發明的示範具體實施例，其例子繪示附圖中，其中所有類似元件符號表示類似元件。下文中，當判斷相關於本發明的習知功能之說明會混淆本發明的重點時，其將被省略。此處使用的術語僅為說明特定實施例之目的，定義可根據使用者、操作者或消費者而變。因此，用語及用字應機於說明的敘述而予以定義。
第1圖係根據本發明的實施例的發光二極體(LED)檢查設備的結構的方塊圖。參照第1圖，LED檢查設備100可包括LED 110、第一發光單元120、第二發光單元130、光束分離單元140、色彩濾光片150、攝影單元160和判斷單元170。
LED 110可具有包括磷光體的晶片結構，或可具有晶圓級結構。此外，LED 110可在安裝於封裝基板(未顯示)上的封裝結構或模組結構之中。
複數LED 110可排列於陣列板10上。
磷光體可施加於LED 110的發光表面上以轉換自LED 110產生的光的波長。磷光體的類型可根據自LED 110產生的光的顏色和使用LED 110和磷光體實現的光的顏色而不同。
例如，藉由LED 110產生藍色光和使用LED 110和磷光體實現白光時，黃磷光體可用作磷光體。
當藉由LED 110產生紫外線(UV)光而使用LED 110和磷光體實現白光時，藍、綠和紅磷光體可使用作為磷光體。
第一發光單元120發出可見光L1 至LED 110。從第一發光單元120發出之可見光L1 自LED 110反射。第一發光單元120可以是同軸光。除了可見光L1 ，同軸光可進一步發出紫外光。
第二發光單元130可發出紫外光L2 至LED 110。自第二發光單元130發出之紫外光L2 可自LED 110反射。反射之紫外光L2 ’可包括藉由LED 110的主動層(active layer)和磷光體轉換波長之波長轉換光。也就是說，接受紫外光L2 的LED 110的主動層可藉由紫外光L2 激發，從而產生有對應主動層的材料的波長的光。因此，紫外光L2 的波長藉由磷光體轉換。
第二發光單元130可與第一發光單元120的操作相反而開啟和關閉。例如，當第一發光單元120開啟時，第二發光單元130可以關閉。此外，當第一發光單元120關閉時，第二發光單元130可開啟。
第二發光單元130可以是垂直光，並包括複數垂直發光單元。除了紫外光L2 ，垂直光可進一步發出可見光。也 就是說，垂直光可分別發出紫外光L2 和可見光。
光束分離器140可設置於陣列板10的上部。藉由反射第一發光單元120發出的可見光L1 ，光束分離器140可發出可見光L1 到設置於陣列板10上之LED 110。光束分離器140可設置於支撐體141。
此外，光束分離器140可傳送從LED 110反射的可見光L1 ’。更具體地說，從第一發光單元120發出的可見光L1 藉由光束分離器140反射而轉移到LED 110。可見光L1 從LED 110反射變成如藉由光束分離器140傳送的可見光L1 ’。
色彩濾光片150可傳送從LED 110反射的可見光L1 ’和紫外光L2 ’。此時，色彩濾光片150可自可見光L1 ’和紫外光L2 ’移除紫外線成分(UV components)，從而防止紫外線成分推進攝影單元160。除了自第二發光單元130發出的紫外光L2 ，自LED 110反射的紫外光L2 ’可進一步包括藉由LED 110的主動層和磷光體轉換波長之波長轉換光。因此，色彩濾光片150可傳送紫外光L2 ’中所包括之波長轉換光，同時選擇性地只移除紫外光L2 ，從而避免紫外線成分推進攝影單元160。
色彩濾光片150可以固定在其上設置LED 110之陣列板10的上部。然而，色彩濾光片150可以是可移動的。例如，第二發光單元130開啟時，色彩濾光片150可以設置於陣列板10上部，而第二發光單元130關閉時，可移動到另一位置。
攝影單元160可藉由拍攝自LED 110反射的可見光L1 ’產生至少一第一影像資料。此外，攝影單元160可藉由拍攝從LED 110反射並通過色彩濾光片150的紫外光L2 ’產生至少一第二影像資料。攝影單元160可以是包括電荷耦合裝置(CCD)攝影機之拍攝設備。
判斷單元170可使用第一影像資料和第二影像資料判斷LED 110的外觀和發光特性的瑕疵。據示範之實施例，判斷單元170可使用第一影像資料判斷是否LED 110缺損的外觀和使用第二影像資料判斷是否LED 110缺損的發光特性。
判斷單元170可自第一影像資料檢測LED 110的校準狀態。判斷單元170可根據檢測之校準狀態判斷二極體之存在。
判斷單元170可以檢查自第一影像資料檢測的校準狀態，校準狀態有不連續的部分或無法檢測的部分時，判斷二極體不存在。對於二極體不存在部分，不執行在LED 110的外觀和發光特性的缺陷的檢查。
當第一影像資料包括二極體時，判斷單元170可比較第一影像資料與第一參考影像資料，從而判斷LED 110的外觀的缺陷。
第一參考影像資料可以是藉由發出可見光至對應型號或規格的標準LED拍攝之影像資料。也就是說，第一參考影像資料可以是對應正常狀態的參考資料。例如，第一參考影像資料可以是藉由發出可見光至具有相同於LED 110的型號和規格的標準LED拍攝之影像。
根據本發明之實施例，判斷單元170可檢測自第一影像資料的邊界，並比較檢測之邊界與第一參考影像資料之參考邊界，從而判斷LED 110的外觀缺陷。當自第一影像資料檢測之邊界相同於第一參考影像資料的參考邊界時，判斷單元170可判斷LED 110具有正常外觀。
反之，當自第一影像資料檢測的邊界與參考邊界不同，判斷單元170可判斷LED 110的具有缺損的外觀。例如，LED 110可能有如破損(breakage)之損壞或可能被污染。
根據本發明的另一實施例，判斷單元170可測量構成第一影像資料的各像素之像素值，並與對應第一影像資料之各像素之參考像素值比較測量之像素值，從而判斷LED 110的外觀中的缺陷。當第一影像資料包含的m行(row)n列(cloumn)像素的像素值相同於第一參考影像資料包含的m行n列像素的參考像素值，判斷單元170可判斷LED 110具有正常外觀。
然而，當第一影像資料包含的m行n列像素的像素值不同於第一參考影像資料包含的m行n列像素的參考像素值，判斷單元170可判斷LED 110的具有缺損的外觀。例如，LED 110可能有如破損之損壞或可能被污染。
當LED 110判斷外觀正常時，判斷單元170可使用第二影像資料判斷LED 110的發光特性中之缺陷。
判斷單元170可將第二影像資料劃分複數區域，例如 二極體單元區域，並計算複數區域包含之像素的平均值。第二影像資料可以是藉由自LED 110反射的在紫外光L2 ’之外的色彩濾光片過濾之波長轉換光的影像。因此，第二影像資料可以是包括對應產生自藉由紫外光激發之主動層的光、和藉由磷光體波長轉換之光的像素值的影像。
例如，當主動層藉由紫外光激發，從而產生藍色光，而磷光體將紫外光轉換成黃光，在複數區域所包含的像素可具有對應藍色光和黃色光的混合的像素值。因此，當LED 110具有正常的發光特性時，每個區域中的像素的平均值可在容許範圍之內。在這裡，容許範圍可根據LED 110的型號和規格和磷光體而不同。
當從複數區域計算之平均值是在容許範圍之內，判斷單元170可影像處理第二影像資料，並將第二參考影像資料與第二影像資料比較，從而判斷LED 110發光特性的缺陷。
如前所述，第二影像資料可以是包括從藉由紫外光和藉由磷光體波長轉換之光激發的主動層產生的光之影像。由於對應波長轉換的光的像素值，可能無法準確地檢查第二影像資料中的小點或斑點。因此，判斷單元170可將第二影像資料影像處理成黑白(black-and-white)影像。
判斷單元170可比較影像處理之第二影像資料與第二參考影像資料。當影像處理之第二影像資料相同於第二參考影像資料，判斷單元170可判斷LED 110具有正常的發光特性。當第二影像資料不同於第二參考影像資料，判斷 單元170可判斷LED 110具有缺損的發光特性。
藉由逐一比較影像處理之第二影像資料包含的像素與第二參考影像資料包含的像素，判斷單元170可判斷LED 110的發光特性的缺陷。
第二參考影像資料可以是藉由發光紫外光到包括磷光體，對應型號或規格的標準LED拍攝的影像資料。也就是說，第二參考影像資料可以是對應正常的狀態的參考資料。例如，第二參考影像資料可以是藉由發光紫外光至具有相同於LED 110的型號和規格的標準LED而拍攝之影像。
LED檢查設備100可進一步包括顯示單元180和儲存單元190。
顯示單元180可顯示藉由攝影單元160產生的第一影像資料和第二影像資料。因此，操作員可以經顯示單元180用肉眼檢查LED的外觀和發光特性。
當藉由判斷單元170判斷缺陷，儲存單元190可將判斷結果映射第一影像資料和第二影像資料並儲存映射結果。
也就是說，LED檢查設備100可於檢查前以LED 110之型號和規格輸入。儲存單元190可映射輸入型號和規格，有關LED 110的第一影像資料和第二影像資料，以及如“缺損”或“正常”的判斷結果，然後儲存映射的結果資料。
第1圖顯示之LED檢查設備100可藉由檢查LED 110的外觀和發光特性判斷缺陷，同時，相應簡化檢查處理。 此外，使用發出紫外光作為檢查光源的第二發光單元130，LED檢查設備100可在高速執行檢查。
雖然，參考第1圖，已說明判斷單元170藉由使用第一參考影像資料和第二參考影像資料模式匹配以判斷LED缺陷，本發明不限於此實施例。例如，判斷單元170可使用缺損的形狀識別方法或影像處理方法。
第2圖係根據本發明的實施例的LED檢查方法的流程圖。LED檢查方法可藉由第1圖所示之LED檢查設備100執行。
參照第2圖，於操作210，LED檢查設備100可開啟第一發光單元120以發出可見光L1 至LED 110。至少一LED 110可排列於陣列板10上。LED 110可包括施加於發光表面上之磷光體。
於操作220，LED檢查設備100可藉由拍攝自LED 110反射之可見光L1 ’產生第一影像資料。
於操作230，LED檢查設備100可開啟第二發光單元130以發出紫外光L2 至LED 110。當第二發光單元130開啟，第一發光單元120可以關閉。此外，當第二發光單元130開啟，色彩濾光片150可轉移到設置於陣列板10上的LED 110的上部。
於操作240，LED檢查設備100可影像從LED 110反射的紫外光L2 ’，從而產生第二影像資料。在這種情況下，紫外光L2 ’可具有藉由色彩濾光片150移除之UV成分。
於操作250，LED檢查設備100可使用第一影像資料 和第二影像資料判斷LED 110在外觀和發光特性的缺陷。
第3圖係根據本發明的實施例的LED的外觀及發光特性的缺陷的判斷方法的流程圖。第3圖詳細繪示第2圖之操作250。
LED檢查設備100可使用第一影像資料判斷在LED 110的外觀的缺陷，並使用第二影像資料判斷在發光特性的缺陷。
也就是說，於操作301，LED檢查設備100可從第一影像資料檢測LED 110的校準狀態；於操作302，根據檢測之校準狀態判斷二極體之存在。當校準狀態有不連續的部分或無法檢測的部分於第一影像資料時，LED檢查設備100可判斷二極體為不存在。
於操作303，當判斷第一影像資料包括二極體時；於操作304，LED檢查設備100可判斷是否第一影像資料相同於第一參考影像資料。也就是說，LED檢查設備100可比較第一影像資料的邊界和第一參考影像資料之參考邊界，從而判斷是否兩個邊界相同。另外，LED檢查設備100可比較第一影像資料的像素值與第一參考影像資料之參考像素值，從而判斷是否是兩個對應的像素值相同或差異是否於容許範圍之內。
於操作305，當第一影像資料相同於第一參考影像資料，LED檢查設備100可判斷LED 110具有正常外觀。於操作306，當第一影像資料不同於第一參考影像資料，LED檢查設備100可判斷LED 110具有缺損的外觀。在此情形 下，例如，LED 110可能具有如破損之損壞或可能被污染。
於操作307，當判斷LED 110具有正常外觀時，LED檢查設備100可計算第二影像資料之複數區域包括的像素的平均值。
接下來，於操作308，LED檢查設備100可檢查是否平均值是在容許範圍之內。於操作309，平均值是在容許範圍之內時，LED檢查設備100可判斷LED 110具有正常的發光特性；或於操作313，平均值超出容許範圍時，LED檢查設備100可判斷LED 110具有缺損的發光特性。
於操作309，當判斷LED 110有正常的發光特性，於操作310，LED檢查設備100可影像處理第二影像資料。執行影像處理以使用影像處理之第二影像資料第二次判斷LED 110的發光特性的缺陷。
於操作311，LED檢查設備100可判斷是否經影像處理之第二影像資料相同於第二參考影像資料或差異是否在容許範圍之內。具體來說，為了這個目的，包括在第二影像資料中之像素可與包括在第二參考影像資料中之像素比較。
於操作312，當影像處理之第二影像資料相同於第二參考影像資料，LED檢查設備100可判斷LED 110具有正常的發光特性。於操作313，當經影像處理之第二影像資料不同於第二參考影像資料，LED檢查設備100可判斷LED 110具有缺損的發光特性。
於操作314，LED檢查設備100可映射判斷結果與第 一影像資料和第二影像資料並儲存映射結果。也就是說，LED檢查設備100可產生判斷結果資料。
第4圖和第5圖係根據本發明的實施例的第一影像資料和第二影像資料之圖。第4圖顯示藉由發出可見光至複數LED拍攝之第一影像資料400。第5圖顯示藉由發出紫外光至相同LED拍攝之第第二影像資料500。
參照第4圖，第一影像資料400包括第一至第四二極體區域a、b、c和d。於第一至第四二極體區域a、b、c和d中，檢測第一影像資料400的邊界。因此，辨識第二二極體區域b之區域A已損壞。在第一影像資料400之邊界檢測，也可自區域A中包含之損壞區域檢測邊界11 。
第一參考影像資料(未圖示)不包括區域A包括之邊界。也就是說，第一影像資料400不相同於第一參考影像資料。因此，應第一影像資料400的LED可被判斷成具有缺損的外觀。
參照第5圖，第二影像資料500相同於第一影像資料400包括第一至第四二極體區域a、b、c和d。第一至第四二極體區域a、b、c和d可包括從LED的主動層產生的光和藉由磷光體轉換波長的光對應之像素值。
例如，當自LED之主動層產生藍光而磷光體將藍光波長轉換至黃光時，第一到第四二極體區域a、b、c和d包含之像素可具有對應藍光和黃光的混合的像素值。因此，當LED具有正常的發光特性，包含在第一至第四二極體區域a、b、c和d的像素的平均值可在容許範圍之內。
第一至第四二極體區域a、b、c和d之間之第一二極體區域可幾乎沒有包括對應藍光的像素值，但包括對應黃光的像素值。因此，第一二極體區域的像素的平均值可超出容許範圍。也就是說，LED的發光特性有缺陷和不正常產生藍色光。
如第4和5圖所示，由於波長轉換的光，包括在區域A之受損區域未自第二影像資料500檢測。因此，可以使用可見光的影像的第一影像資料400檢查LED的外觀缺陷。
此外，因藉由波長轉換的光，第一影像資料400沒有亮度變化，有關第一二極體區域a的發光特性未以第一影像資料400檢查。因此，在發光特性的缺陷可使用紫外光的影像的第二影像資料500檢查。
第6圖和第7圖係根據本發明的另一實施例的第一影像資料和第二影像資料之圖。第6圖所示之第一影像資料係藉由發射可見光至LED拍攝。第7圖所示之第二影像資料係藉由發射紫外光至同一LED拍攝。
參照第6圖所示之第一影像資料600，在區域B檢查在外觀的缺陷。第一影像資料600和第一參考影像資料(未圖示)之像素值在區域B彼此不對應。因此，對應第一影像資料600的LED可被判斷成受到污染。
第7圖所示之第二影像資料700是其區域B受到污染LED影像。然而，由於波長轉換的光的影響，沒有檢測包括在區域B之發光特性之缺陷。因此，可以使用可見光的影像的第一影像資料600檢查在外觀的缺陷。
第8圖和第9圖係根據本發明的實施例的第二影像資料和影像處理之第二影像資料之圖。在第8圖所示之第二影像資料，使用波長轉換之光檢查LED之發光特性。因此，由於波長轉換之光，小點或斑點可能無法準確地檢查。因此，LED檢查設備可影像處理第二影像資料成黑白影像。
第8圖顯示藉由發出紫外光至LED拍攝之第二影像資料800。第9圖顯示影像處理從第8圖之影像資料800之影像處理之影像資料900。
參照第8和9圖，第二影像資料800和影像處理之第二影像資料900包括在區域C之斑點。斑點與LED之發光特性相關。然而，因使用第二影像資料800可能不能準確進行檢查，可使用影像處理之第二影像資料900於檢查。
第10圖至第12圖係根據本發明的另一實施例的經影像處理之第二影像資料之圖。第10至12圖係藉由拍攝分別包括發光特性之不同的缺陷之LED獲得之影像處理之第二影像資料1000、1100和1200。
第10圖顯示之第二影像資料1000包括在區域D的白點。第11圖顯示之第二影像資料1100包括在區域E之暗點。第12圖顯示之第二影像資料1200包括在區域F的白點和暗點。
LED之圖案(pattern)缺陷造成白點。藉由裂紋發生在半導體層，特別是氮化鎵(GaN)半導體層，可造成暗點。由於這種缺陷，在LED的主動層的能鍵(energy bond)可能無法正常實現，從而導致發生白點或黑點。由於不經視覺檢 查檢查白點和暗點，可使用影像處理之第二影像資料於檢查。
根據本發明實施例的LED檢查設備和方法藉由同時檢查外觀和發光特性判斷缺陷，從而簡化了檢查處理。
根據本發明實施例的LED檢查設備和方法使用UVLED作為檢測光源。因此，可在高速檢查外觀和發光特性。
雖然已顯示並說明一些本發明例示性具體實施例，但本發明不限於此。反而，任何熟習此項技藝之人士均可在不違背本發明之精神及範疇下，對上述例示性具體實施例進行修改，本發明之權利保護範圍之內，應如後述之申請專利範圍及其均等所定義。
10‧‧‧陣列板
100‧‧‧LED檢查設備
110‧‧‧LED
120‧‧‧第一發光單元
130‧‧‧第二發光單元
140‧‧‧光束分離單元
150‧‧‧色彩濾光片
160‧‧‧攝影單元
170‧‧‧判斷單元
180‧‧‧顯示單元
190‧‧‧儲存單元
本發明之其他態樣、優點及特徵，將從實施例說明結合下述隨附圖式而受到更清楚地瞭解：第1圖係根據本發明的實施例的發光二極體(LED)檢查設備的結構的方塊圖；第2圖係根據本發明的實施例的LED檢查方法的流程圖；第3圖係根據本發明的實施例的L的外觀及發光特性的缺陷的判斷方法的流程圖；第4圖和第5圖係根據本發明的實施例的第一影像資料和第二影像資料之圖；第6圖和第7圖係根據本發明的另一實施例的第一影像資料和第二影像資料之圖； 第8圖和第9圖係根據本發明的實施例的第二影像資料和經影像處理之第二影像資料之圖；第10圖至第12圖係根據本發明的另一實施例的經影像處理之第二影像資料之圖。
10‧‧‧陣列板
100‧‧‧LED檢查設備
110‧‧‧LED
120‧‧‧第一發光單元
130‧‧‧第二發光單元
140‧‧‧光束分離單元
150‧‧‧色彩濾光片
160‧‧‧攝影單元
170‧‧‧判斷單元
180‧‧‧顯示單元
190‧‧‧儲存單元

Claims (14)

  1. 一種發光二極體(LED)檢查設備，包括：至少一LED，包含施加於發光表面上之磷光體；第一發光單元，發出可見光至該LED；第二發光單元，發出紫外(UV)光至該LED；攝影單元，藉由拍攝從該LED反射之該可見光產生至少一第一影像資料，及藉由拍攝經由主動層與該LED的磷光體接收該UV光所產生之波長轉換光來產生至少一第二影像資料；判斷單元，以使用該至少一第一影像資料和第二影像資料判斷該LED外觀和發光特性中的缺陷；以及光束分離單元，以反射該發出的可見光和傳送該反射的可見光至該LED，並藉由傳送該可見光提供從該LED反射之該可見光至該攝影單元，其中，從該LED反射之該紫外光包括藉由該LED與該磷光體轉換波長之該波長轉換光。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之LED檢查設備，復包括色彩濾光片，其設置於該LED之上部，以通過藉由該LED接收該UV光所產生之該波長轉換光。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之LED檢查設備，其中，該攝影單元藉由拍攝經該色彩濾光片通過之該波長轉換的光產生第二影像資料。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之LED檢查設備，其中該判斷單元從該第一影像資料檢測該LED之校準狀態，和根 據該校準狀態判斷二極體的存在。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之LED檢查設備，其中，該判斷單元於該二極體被判斷成存在時比較該第一影像資料與第一參考影像資料，於該第一影像資料不同於該第一參考影像資料時判斷該LED具有缺損的外觀。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之LED檢查設備，其中該判斷單元於該LED被判斷成具外觀正常時可將該第二影像資料劃分為複數區段並計算複數區段中包括的像素之平均值，於該平均值超出容許範圍時判斷該LED具有缺損的發光特性。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之LED檢查設備，其中該判斷單元於該平均值在該容許範圍內時可影像處理該第二影像資料，而於該第二影像資料不同於第二參考影像資料時比較該第二影像資料與該第二參考影像資料和判斷該LED具有缺損的發光特性。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之LED檢查設備，復包括：顯示單元，顯示藉由該攝影單元產生之該第一影像資料和該第二影像資料；以及儲存單元，映射該第一影像資料和該第二影像資料與有關於該LED外觀和發光特性中的缺陷之該判斷單元的判斷結果，並儲存該映射結果。
  9. 一種發光二極體(LED)檢查方法，包括：發出可見光至至少一LED，該LED包括施加於發光表面上之磷光體； 藉由拍攝從該LED反射的該可見光產生至少一第一影像資料；發出紫外(UV)光至該LED；藉由拍攝經由主動層與該LED的磷光體接收該UV光所產生之波長轉換光來產生至少一第二影像資料；以及使用該第一影像資料和該第二影像資料判斷在該LED之外觀和發光特性中的缺陷，其中，從該LED反射之該紫外光包括藉由該LED與該磷光體轉換波長之該波長轉換光。
  10. 如申請專利範圍第9項所述之LED檢查方法，其中，該第二影像資料之產生包括：通過藉由該LED接收該UV光所產生之該波長轉換光並過濾該紫外光；以及藉由拍攝該過濾之波長轉換的光產生該第二影像資料。
  11. 如申請專利範圍第9項所述之LED檢查方法，其中，該缺陷之判斷包括：從該第一影像資料檢測該LED之校準狀態，和根據該校準狀態判斷二極體的存在；於判斷該二極體存在時比較該第一影像資料與第一參考影像資料；以及於該第一影像資料不同於該第一參考影像資料時判斷該LED具有缺損的外觀。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之LED檢查方法，其中，該缺陷之判斷包括：於判斷該LED具有正常的外觀時劃分該第二影像資料為複數區段並計算複數區段中包括的像素之平均值；以及於該平均值超出容許範圍時判斷該LED具有缺損的發光特性。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之LED檢查方法，其中，該缺陷之判斷包括：於該平均值在該容許範圍內時影像處理該第二影像資料；以及於該第二影像資料不同於第二參考影像資料時比較該第二影像資料與該第二參考影像資料和判斷該LED具有缺損的發光特性。
  14. 如申請專利範圍第9項所述之LED檢查方法，復包括：顯示該第一影像資料和該第二影像資料；將該第一影像資料和該第二影像資料與有關外觀和發光特性之缺陷之該判斷之結果映射，並儲存該映射結果。
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