JP2012505966A - 低温基板上の薄膜を還元する方法 - Google Patents
低温基板上の薄膜を還元する方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2012505966A JP2012505966A JP2011532100A JP2011532100A JP2012505966A JP 2012505966 A JP2012505966 A JP 2012505966A JP 2011532100 A JP2011532100 A JP 2011532100A JP 2011532100 A JP2011532100 A JP 2011532100A JP 2012505966 A JP2012505966 A JP 2012505966A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- oxide
- substrate
- thin film
- copper
- reducing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/09—Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/10—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
- H05K3/105—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern by conversion of non-conductive material on or in the support into conductive material, e.g. by using an energy beam
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/1601—Process or apparatus
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/1601—Process or apparatus
- C23C18/1633—Process of electroless plating
- C23C18/1655—Process features
- C23C18/1658—Process features with two steps starting with metal deposition followed by addition of reducing agent
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/1601—Process or apparatus
- C23C18/1633—Process of electroless plating
- C23C18/1655—Process features
- C23C18/1664—Process features with additional means during the plating process
- C23C18/1667—Radiant energy, e.g. laser
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C18/00—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating
- C23C18/16—Chemical coating by decomposition of either liquid compounds or solutions of the coating forming compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating; Contact plating by reduction or substitution, e.g. electroless plating
- C23C18/31—Coating with metals
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/02—Details
- H05K1/03—Use of materials for the substrate
- H05K1/0393—Flexible materials
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/08—Treatments involving gases
- H05K2203/087—Using a reactive gas
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/11—Treatments characterised by their effect, e.g. heating, cooling, roughening
- H05K2203/1157—Using means for chemical reduction
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/12—Using specific substances
- H05K2203/125—Inorganic compounds, e.g. silver salt
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2203/00—Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
- H05K2203/15—Position of the PCB during processing
- H05K2203/1545—Continuous processing, i.e. involving rolls moving a band-like or solid carrier along a continuous production path
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Chemically Coating (AREA)
- Other Surface Treatments For Metallic Materials (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Manufacture And Refinement Of Metals (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Electrodes Of Semiconductors (AREA)
- Manufacturing Of Electric Cables (AREA)
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Pest Control & Pesticides (AREA)
- Ceramic Engineering (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
Abstract
Description
本発明は、2008年10月17日に出願された米国特許出願第61/196,531号(発明の名称「Method and Apparatus for Reacting Thin Films on Low Temperature Substrates at High Speeds」)に関し、この出願は本明細書において参照として援用される。
1.技術分野
本発明は、一般に、硬化法に関し、特に、低温基板上の薄膜を還元する方法に関する。
電子回路を作製するための1つのアプローチは、金属インクを用いて導電体を基板上に印刷した後、その基板を加熱して金属インクの粒子を焼結させ、導電線(trace)を形成することである。一般に、電気伝導(electrically conduction)に適した印刷される金属の多くは、焼結させて導電性になるために、多くの場合、それらの融点から200℃以内までの非常に高い温度まで加熱することを必要とする。
intense pulsed light)を用いて提供する方法である。このレドックス反応は、有機化合物による金属酸化物の還元であってもよく、低温基板上で行ってもよい。
f=0.2*s*o/w
ここで、s=ウェブ速度[フィート/分]
o=重複係数
w=硬化ヘッド幅[インチ]
重複係数は、基板が任意の1ヶ所で受ける平均ストロボパルス数である。例えば、ウェブ速度200フィート/分、重複係数5、硬化ヘッド幅2.75インチの場合、ストロボのパルス率は72.7Hzである。
アルコルビン酸リデューサー
3.0gの<50nm酸化銅(II)、3.6gの脱イオン水、0.15gのPVP K−30、0.3gのエチレングリコール、0.04gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.02gのDynol(登録商標)604、0.02gのBYK(登録商標)−020、および0.66gのアスコルビン酸を20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
エチレングリコール/グリセロールリデューサー
2.0gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.7gの脱イオン水、0.10gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.03gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および0.32gのグリセロールを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
エチレングリコール/グリセロールリデューサー
2.0gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.4gの脱イオン水、0.10gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.03gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および0.67gのグリセロールを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
エチレングリコール/グリセロールリデューサー
2.0gのNanoArc(登録商標)酸化銅、4.9gの脱イオン水、0.10gのPVP K−30、0.5gのエチレングリコール、0.03gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および1.32gのグリセロールを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
グルコースリデューサー
1.75gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.3gの脱イオン水、0.09gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.02gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および0.79gのグルコースを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
グルコースリデューサー
1.75gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.3gの脱イオン水、0.09gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.02gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および1.59gのグルコースを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
ヘキサンジオールリデューサー
1.5gのNanoArc(登録商標)酸化銅、7.5gの脱イオン水、0.08gのPVP K−30、0.8gのエチレングリコール、0.03gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.02gのDynol(登録商標)604、および0.47gの1,2−ヘキサンジオールを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
グルタル酸リデューサー
1.5gの<50nm酸化銅(II)、6.8gの脱イオン水、0.08gのPVP K−30、0.8gのエチレングリコール、0.03gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.02gのDynol(登録商標)604、および0.47gのグルタル酸を20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
ポリアクリルアミドリデューサー
1.75gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.3gの脱イオン水、0.09gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.02gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および1.25gのポリアクリルアミドを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
ペンタエリスリトールリデューサー
1.75gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.3gの脱イオン水、0.09gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.02gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および0.90gのペンタエリスリトールを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
コハク酸リデューサー
1.75gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.3gの脱イオン水、0.09gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.02gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および0.71gのコハク酸(ナトリウム塩)を20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
炭素リデューサー
1.75gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.3gの脱イオン水、0.09gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.02gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および0.32gのカーボンブラックを20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
尿酸リデューサー
1.75gのNanoArc(登録商標)酸化銅、5.3gの脱イオン水、0.09gのPVP K−30、0.6gのエチレングリコール、0.02gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.01gのDynol(登録商標)604、および0.89の尿酸を20mLバイアル内で混合して酸化銅分散液を作製した。5gの酸化ジルコニウム粉砕媒体を加え、バイアルを60分間撹拌した。
グリセロールリデューサーを加えたインクジェット
まず、52.5gのNanoArc(登録商標)酸化銅、2.6gのPVP K−30、および294.9gの脱イオン水の混合物を粉砕して酸化銅分散液を作製した。その結果得られた平均粒径は115nmであった。8.4gの粉砕酸化銅分散液、1.0gのグリセロール、0.5gのエチレングリコール、0.04gのTriton(登録商標)X−100、および0.03gのBYK(登録商標)−020を混合してインクジェット用インクを作製した。
アスコルビン酸およびグリセロールリデューサーを加えた銅粉
2.5gの三井製銅粉、0.04gのBYK(登録商標)−020、0.04gのTergitol(登録商標)TMN−6、0.25gのPVP K−30、0.89gのグリセロール、0.45gのエチレングリコール、0.76gのアスコルビン酸を7.57gの脱イオン水中で混合して銅分散液を作製した。
アスコルビン酸リデューサーを加えたインクジェット
まず、52.5gのNanoArc(登録商標)酸化銅、2.6gのPVP K−30、および294.9gの脱イオン水の混合物を粉砕して酸化銅分散液を作製した。その結果得られた平均粒径は115nmであった。8.4gの粉砕酸化銅分散液、1.0gのグリセロール、0.5gのエチレングリコール、0.04gのTriton(登録商標)X−100、および0.03gのBYK(登録商標)−020を混合して第1のインクジェット用インクを作製した。0.1gのBYK(登録商標)−020、0.2gのTriton(登録商標)X−100、10.0gのアスコルビン酸、3.0gのエチレングリコール、4.5gのグリセロールを42.5gの脱イオン水中で混合して第2のインクジェット用インクを作製した。
アスコルビン酸リデューサーを加えた硫酸銅
脱イオン水中に20wt%のCuSO4・5H2Oを入れて第1の溶液を作製した。0.1gのBYK(登録商標)−020、0.2gのTriton(登録商標)X−100、10.0gのアスコルビン酸、3.0gのエチレングリコール、4.5gのグリセロールを42.5gの脱イオン水中で混合して第2の溶液を作製した。
アルミニウムリデューサー
0.29gのValimet−H2アルミニウム粉、0.77gのSigma−Aldrich製<5ミクロン酸化銅(II)、0.11gのPVP K−30を6.0gの脱イオン水に入れて分散液を作製した。
Claims (20)
- 基板上に導電性薄膜を作製する方法であって、
還元性金属化合物および還元剤を液体中に分散させる工程と、
該分散液を薄膜として基板上に堆積させる工程と、
周囲雰囲気中において、該薄膜を該基板とともにパルス電磁放射線に曝露し、該還元性金属化合物と該還元剤とを化学的に反応させて該薄膜を導電性にする工程と、
を包含する、方法。 - 前記基板は紙である、請求項1に記載の方法。
- 前記紙はインク受容層でコーティングされる、請求項2に記載の方法。
- 前記基板はポリマーである、請求項1に記載の方法。
- 前記ポリマーはインク受容層でコーティングされる、請求項4に記載の方法。
- 前記パルス電磁放射線は、レーザー、閃光ランプ、指向性プラズマアークランプ、マイクロ波、高周波誘導加熱器、電子ビーム、およびアークランプのいずれか1つにより発生される、請求項1に記載の方法。
- 前記液体は水である、請求項1に記載の方法。
- 前記曝露する工程は、前記基材が硬化する間に、前記パルス電磁放射線源を通過するように該基板を搬送する工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記還元性金属化合物は金属酸化物である、請求項1に記載の方法。
- 前記還元性金属化合物は、酸化モリブデン、酸化タングステン、酸化レニウム、酸化鉄、酸化ルテニウム、酸化オスミウム、酸化コバルト、酸化ロジウム、酸化イリジウム、酸化ニッケル、酸化パラジウム、酸化白金、酸化銅、酸化銀、酸化金、酸化亜鉛、酸化カドミウム、酸化インジウム、酸化ゲルマニウム、酸化スズ、酸化鉛、酸化アンチモン、および酸化ビスマスからなる群から選択される化合物である、請求項1に記載の方法。
- 前記還元性金属化合物は金属塩である、請求項1に記載の方法。
- 前記還元剤は、アルコール類、アルデヒド類、カルボン酸類、およびカーボンブラックからなる群から選択される化合物である、請求項1に記載の方法。
- 前記還元剤は、アルミニウム、マグネシウム、およびリチウムの群から選択される、請求項1に記載の方法。
- 前記還元剤は、グリセロール、アスコルビン酸、1,2−ヘキサンジオール、およびグルタル酸をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記分散させる工程は、ポリビニルピロリドンまたはポリスチレン−アクリレート共重合体を含む任意の数の分散剤を用いて前記還元性金属化合物および前記還元剤を分散させる工程をさらに含む、請求項1に記載の方法。
- 前記堆積は印刷により行われる、請求項1に記載の方法。
- 前記パルス電磁放射線は20ms未満のパルス長を有する、請求項1に記載の方法。
- 前記パルス電磁放射線は500W/cm2よりも強い、請求項1に記載の方法。
- 基板上に導電性薄膜を作製する方法であって、
金属および還元剤を液体中に分散させる工程と、
該分散液を薄膜として基板上に堆積させる工程と、
周囲雰囲気中において、該薄膜を該基板とともにパルス電磁放射線に曝露し、該還元性金属化合物と、形成し得る金属酸化物および該還元剤とを化学的に反応させて該薄膜を導電性にする工程と、
を包含する、方法。 - 低温基板上の薄膜を還元する方法であって、
還元性金属化合物を第1の液体中に分散させる工程と、
還元剤を第2の液体中に分散させる工程と、
該第1の分散液および該第2の分散液を薄膜として基板上に堆積させる工程と、
周囲雰囲気中において、該薄膜を該基板とともにパルス電磁放射線に曝露し、該基板上で該還元性金属化合物と該還元剤とのレドックス反応を開始する工程と、
を包含する、方法。
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US19653108P | 2008-10-17 | 2008-10-17 | |
| US61/196,531 | 2008-10-17 | ||
| PCT/US2009/038289 WO2010044904A1 (en) | 2008-10-17 | 2009-03-25 | Method for reducing thin films on low temperature substrates |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014224144A Division JP2015034352A (ja) | 2008-10-17 | 2014-11-04 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2012505966A true JP2012505966A (ja) | 2012-03-08 |
| JP5922929B2 JP5922929B2 (ja) | 2016-05-24 |
Family
ID=42106805
Family Applications (7)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011532100A Active JP5922929B2 (ja) | 2008-10-17 | 2009-03-25 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
| JP2011532314A Expired - Fee Related JP5401550B2 (ja) | 2008-10-17 | 2009-10-19 | 低温基板上の薄膜を高速で反応させる方法および装置 |
| JP2013222959A Pending JP2014033227A (ja) | 2008-10-17 | 2013-10-28 | 低温基板上の薄膜を高速で反応させる方法および装置 |
| JP2014224144A Withdrawn JP2015034352A (ja) | 2008-10-17 | 2014-11-04 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
| JP2016156258A Active JP6328702B2 (ja) | 2008-10-17 | 2016-08-09 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
| JP2018079858A Pending JP2018131691A (ja) | 2008-10-17 | 2018-04-18 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
| JP2019147583A Withdrawn JP2019189947A (ja) | 2008-10-17 | 2019-08-09 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
Family Applications After (6)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2011532314A Expired - Fee Related JP5401550B2 (ja) | 2008-10-17 | 2009-10-19 | 低温基板上の薄膜を高速で反応させる方法および装置 |
| JP2013222959A Pending JP2014033227A (ja) | 2008-10-17 | 2013-10-28 | 低温基板上の薄膜を高速で反応させる方法および装置 |
| JP2014224144A Withdrawn JP2015034352A (ja) | 2008-10-17 | 2014-11-04 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
| JP2016156258A Active JP6328702B2 (ja) | 2008-10-17 | 2016-08-09 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
| JP2018079858A Pending JP2018131691A (ja) | 2008-10-17 | 2018-04-18 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
| JP2019147583A Withdrawn JP2019189947A (ja) | 2008-10-17 | 2019-08-09 | 低温基板上の薄膜を還元する方法 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US20110262657A1 (ja) |
| EP (2) | EP2347032B1 (ja) |
| JP (7) | JP5922929B2 (ja) |
| KR (3) | KR20150125016A (ja) |
| CN (4) | CN102245804A (ja) |
| CA (3) | CA2740618C (ja) |
| WO (2) | WO2010044904A1 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013196881A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Osaka Univ | 導電パターン形成方法及び光照射またはマイクロ波加熱による導電パターン形成用組成物 |
| WO2016152722A1 (ja) * | 2015-03-24 | 2016-09-29 | 昭和電工株式会社 | 導電パターン形成用組成物及び導電パターン形成方法 |
| JP2016541121A (ja) * | 2013-12-04 | 2016-12-28 | フラウンホーファー−ゲゼルシャフト ツル フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシュング エー ファウFraunhofer−Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V. | プラスチック基板上に導電性構造体を形成する方法 |
| JPWO2016111133A1 (ja) * | 2015-01-06 | 2017-08-17 | 株式会社フジクラ | 導体層の製造方法及び配線基板 |
Families Citing this family (37)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2633768B2 (ja) | 1992-05-27 | 1997-07-23 | 新日本製鐵株式会社 | 連続鋳造モールド内溶鋼流動制御方法 |
| JP2633764B2 (ja) | 1992-05-27 | 1997-07-23 | 新日本製鐵株式会社 | 連続鋳造モールド内溶鋼流動制御方法 |
| JP2633767B2 (ja) | 1992-05-27 | 1997-07-23 | 新日本製鐵株式会社 | 連続鋳造モールド内溶鋼流動制御方法 |
| JP2633769B2 (ja) | 1992-05-27 | 1997-07-23 | 新日本製鐵株式会社 | 連続鋳造モールド内溶鋼流動制御方法 |
| US8410712B2 (en) * | 2008-07-09 | 2013-04-02 | Ncc Nano, Llc | Method and apparatus for curing thin films on low-temperature substrates at high speeds |
| US8834957B2 (en) * | 2008-11-05 | 2014-09-16 | Lg Chem, Ltd. | Preparation method for an electroconductive patterned copper layer |
| US10000411B2 (en) | 2010-01-16 | 2018-06-19 | Cardinal Cg Company | Insulating glass unit transparent conductivity and low emissivity coating technology |
| US10060180B2 (en) | 2010-01-16 | 2018-08-28 | Cardinal Cg Company | Flash-treated indium tin oxide coatings, production methods, and insulating glass unit transparent conductive coating technology |
| US10000965B2 (en) | 2010-01-16 | 2018-06-19 | Cardinal Cg Company | Insulating glass unit transparent conductive coating technology |
| US8907258B2 (en) * | 2010-04-08 | 2014-12-09 | Ncc Nano, Llc | Apparatus for providing transient thermal profile processing on a moving substrate |
| US20120017829A1 (en) * | 2010-07-21 | 2012-01-26 | Xenon Corporation | Reduction of stray light during sinterinig |
| DE102011089884B4 (de) * | 2011-08-19 | 2016-03-10 | Von Ardenne Gmbh | Niedrigemittierende Beschichtung und Verfahren zur Herstellung eines niedrigemittierenden Schichtsystems |
| TW201339279A (zh) * | 2011-11-24 | 2013-10-01 | Showa Denko Kk | 導電圖型形成方法及藉由光照射或微波加熱的導電圖型形成用組成物 |
| TWI481326B (zh) * | 2011-11-24 | 2015-04-11 | Showa Denko Kk | A conductive pattern forming method, and a conductive pattern forming composition by light irradiation or microwave heating |
| TWI569700B (zh) * | 2011-11-25 | 2017-02-01 | 昭和電工股份有限公司 | 導電性圖案生成方法 |
| KR102122749B1 (ko) * | 2012-06-05 | 2020-06-15 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 기재막 및 소결 방법 |
| JP2014011256A (ja) * | 2012-06-28 | 2014-01-20 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 熱処理方法および熱処理装置 |
| JP5283291B1 (ja) * | 2012-07-03 | 2013-09-04 | 石原薬品株式会社 | 導電膜形成方法及び焼結進行剤 |
| JP5275498B1 (ja) | 2012-07-03 | 2013-08-28 | 石原薬品株式会社 | 導電膜形成方法及び焼結進行剤 |
| WO2014026187A2 (en) * | 2012-08-10 | 2014-02-13 | Karim Rezaoul | Flash lamps in a continuous motion process |
| JP6093136B2 (ja) * | 2012-09-26 | 2017-03-08 | 株式会社Screenホールディングス | 熱処理方法および熱処理装置 |
| JP6366577B2 (ja) * | 2013-04-26 | 2018-08-01 | 昭和電工株式会社 | 導電パターンの製造方法及び導電パターン形成基板 |
| CN104185378A (zh) * | 2013-05-21 | 2014-12-03 | 群创光电股份有限公司 | 导电线路的制备方法、以及具有导电线路的装置 |
| FR3008228B1 (fr) | 2013-07-02 | 2015-07-17 | Commissariat Energie Atomique | Procede d'assemblage de deux composants electroniques, de type flip-chip par recuit uv, assemblage obtenu |
| KR101506504B1 (ko) * | 2013-08-22 | 2015-03-30 | (주)유니버셜스탠다드테크놀러지 | 대면적 광소결 장치 |
| EP3083034A4 (en) * | 2013-12-20 | 2017-09-13 | Xenon Corporation | Continuous flash lamp sintering |
| DE102016112836A1 (de) * | 2016-06-14 | 2017-12-14 | Leander Kilian Gross | Verfahren und Vorrichtung zur thermischen Behandlung eines Substrats |
| WO2019088965A1 (en) * | 2017-10-30 | 2019-05-09 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Three-dimensional printing |
| KR102068285B1 (ko) * | 2018-02-12 | 2020-01-20 | 한양대학교 산학협력단 | 환원된 금속 산화물의 제조 방법 및 이를 포함하는 리튬이온 이차 전지 |
| US10959441B2 (en) | 2018-04-18 | 2021-03-30 | Xenon Corporation | Ultraviolet treatment of food products to kill microorganisms while retaining fruit bloom |
| JP7263124B2 (ja) * | 2018-05-30 | 2023-04-24 | 旭化成株式会社 | インクジェット用酸化銅インク及びこれを用いて導電性パターンを付与した導電性基板の製造方法 |
| CN110774766B (zh) * | 2018-07-31 | 2025-02-28 | 北京梦之墨科技有限公司 | 一种液态金属供墨系统的还原墨路 |
| US11028012B2 (en) | 2018-10-31 | 2021-06-08 | Cardinal Cg Company | Low solar heat gain coatings, laminated glass assemblies, and methods of producing same |
| WO2020198138A1 (en) | 2019-03-22 | 2020-10-01 | Xenon Corporation | Flash lamp system for disinfecting conveyors |
| US11996384B2 (en) | 2020-12-15 | 2024-05-28 | Pulseforge, Inc. | Method and apparatus for debonding temporarily bonded wafers in wafer-level packaging applications |
| JP7766688B2 (ja) * | 2021-05-31 | 2025-11-10 | 株式会社パイロットコーポレーション | 筆記具用インキ組成物及び筆記具用インキ組成物を収容してなる筆記具 |
| US12553129B2 (en) | 2022-12-07 | 2026-02-17 | Applied Materials, Inc. | Electrochemical reduction of surface metal oxides |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3239373A (en) * | 1962-04-24 | 1966-03-08 | Louis S Hoodwin | Printed circuit process |
| US4526807A (en) * | 1984-04-27 | 1985-07-02 | General Electric Company | Method for deposition of elemental metals and metalloids on substrates |
| US4668533A (en) * | 1985-05-10 | 1987-05-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Ink jet printing of printed circuit boards |
| JPH0537126A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-12 | Toshiba Corp | 金属酸化物を用いた配線基板および情報記録媒体 |
| JPH0852933A (ja) * | 1994-07-11 | 1996-02-27 | Agfa Gevaert Nv | インクジェットによる印刷版の製造方法 |
| JP2008522369A (ja) * | 2004-11-24 | 2008-06-26 | ノバセントリックス コーポレイション | ナノ材料組成物の電気的使用、めっき的使用および触媒的使用 |
Family Cites Families (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1427315A (fr) * | 1964-02-24 | 1966-02-04 | Yawata Iron & Steel Co | Procédé pour la formation de revêtements isolants électriques sur les tôles électriques |
| US4159414A (en) * | 1978-04-25 | 1979-06-26 | Massachusetts Institute Of Technology | Method for forming electrically conductive paths |
| FR2537898A1 (fr) * | 1982-12-21 | 1984-06-22 | Univ Paris | Procede de reduction de composes metalliques par les polyols, et poudres metalliques obtenues par ce procede |
| US4592929A (en) * | 1984-02-01 | 1986-06-03 | Shipley Company Inc. | Process for metallizing plastics |
| US6326130B1 (en) * | 1993-10-07 | 2001-12-04 | Mallinckrodt Baker, Inc. | Photoresist strippers containing reducing agents to reduce metal corrosion |
| US5938848A (en) * | 1996-06-27 | 1999-08-17 | Nordson Corporation | Method and control system for applying solder flux to a printed circuit |
| KR100803186B1 (ko) * | 2000-12-15 | 2008-02-14 | 디 아리조나 보드 오브 리전츠 | 나노입자 함유 전구체를 사용한 금속의 패턴형성 방법 |
| CN1297398C (zh) * | 2001-07-06 | 2007-01-31 | 钟渊化学工业株式会社 | 层压体及其制造方法 |
| US20060159838A1 (en) * | 2005-01-14 | 2006-07-20 | Cabot Corporation | Controlling ink migration during the formation of printable electronic features |
| US20040185388A1 (en) * | 2003-01-29 | 2004-09-23 | Hiroyuki Hirai | Printed circuit board, method for producing same, and ink therefor |
| JP4416080B2 (ja) * | 2003-01-29 | 2010-02-17 | 富士フイルム株式会社 | プリント配線基板形成用インク、プリント配線基板の形成方法及びプリント配線基板 |
| JP2004277627A (ja) | 2003-03-18 | 2004-10-07 | Asahi Kasei Corp | インクジェット用インクおよびこれを用いた金属含有薄膜の形成方法 |
| JP2004277868A (ja) * | 2003-03-19 | 2004-10-07 | Mitsubishi Paper Mills Ltd | 導電性組成物の作製方法 |
| US20040234916A1 (en) * | 2003-05-21 | 2004-11-25 | Alexza Molecular Delivery Corporation | Optically ignited or electrically ignited self-contained heating unit and drug-supply unit employing same |
| JP2005071805A (ja) * | 2003-08-25 | 2005-03-17 | Fuji Photo Film Co Ltd | 金属酸化物及び/又は金属水酸化物の粒子と金属の粒子を含む組成物、組成物を用いたプリント配線基板、その製造方法及びそれに用いるインク |
| US7547647B2 (en) * | 2004-07-06 | 2009-06-16 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method of making a structure |
| JP2008527169A (ja) * | 2005-01-10 | 2008-07-24 | イシウム リサーチ デベロップメント カンパニー オブ ザ ヘブリュー ユニバーシティー オブ イエルサレム | 金属ナノ粒子の水系分散物 |
| US20060258136A1 (en) * | 2005-05-11 | 2006-11-16 | Guangjin Li | Method of forming a metal trace |
| US20070193026A1 (en) | 2006-02-23 | 2007-08-23 | Chun Christine Dong | Electron attachment assisted formation of electrical conductors |
| EP2066497B1 (en) * | 2006-08-07 | 2018-11-07 | Inktec Co., Ltd. | Manufacturing methods for metal clad laminates |
| US10231344B2 (en) * | 2007-05-18 | 2019-03-12 | Applied Nanotech Holdings, Inc. | Metallic ink |
-
2009
- 2009-03-25 CA CA2740618A patent/CA2740618C/en active Active
- 2009-03-25 WO PCT/US2009/038289 patent/WO2010044904A1/en not_active Ceased
- 2009-03-25 CN CN2009801503274A patent/CN102245804A/zh active Pending
- 2009-03-25 US US13/124,781 patent/US20110262657A1/en not_active Abandoned
- 2009-03-25 EP EP09820923.2A patent/EP2347032B1/en active Active
- 2009-03-25 KR KR1020157030385A patent/KR20150125016A/ko not_active Ceased
- 2009-03-25 CN CN201510329127.2A patent/CN104894538A/zh active Pending
- 2009-03-25 JP JP2011532100A patent/JP5922929B2/ja active Active
- 2009-03-25 CA CA2910493A patent/CA2910493C/en active Active
- 2009-03-25 KR KR1020117011229A patent/KR101600559B1/ko active Active
- 2009-10-19 WO PCT/US2009/061172 patent/WO2010045639A1/en not_active Ceased
- 2009-10-19 CA CA2740786A patent/CA2740786C/en active Active
- 2009-10-19 EP EP09821387.9A patent/EP2347638B1/en active Active
- 2009-10-19 KR KR1020117011230A patent/KR101604437B1/ko active Active
- 2009-10-19 US US12/581,606 patent/US20100098874A1/en not_active Abandoned
- 2009-10-19 JP JP2011532314A patent/JP5401550B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-10-19 CN CN2009801453843A patent/CN102217429B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2009-10-19 CN CN201310495062.XA patent/CN103796425B/zh not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-10-28 JP JP2013222959A patent/JP2014033227A/ja active Pending
-
2014
- 2014-11-04 JP JP2014224144A patent/JP2015034352A/ja not_active Withdrawn
-
2016
- 2016-08-09 JP JP2016156258A patent/JP6328702B2/ja active Active
-
2018
- 2018-04-18 JP JP2018079858A patent/JP2018131691A/ja active Pending
-
2019
- 2019-08-09 JP JP2019147583A patent/JP2019189947A/ja not_active Withdrawn
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3239373A (en) * | 1962-04-24 | 1966-03-08 | Louis S Hoodwin | Printed circuit process |
| US4526807A (en) * | 1984-04-27 | 1985-07-02 | General Electric Company | Method for deposition of elemental metals and metalloids on substrates |
| US4668533A (en) * | 1985-05-10 | 1987-05-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Ink jet printing of printed circuit boards |
| JPH0537126A (ja) * | 1991-07-30 | 1993-02-12 | Toshiba Corp | 金属酸化物を用いた配線基板および情報記録媒体 |
| JPH0852933A (ja) * | 1994-07-11 | 1996-02-27 | Agfa Gevaert Nv | インクジェットによる印刷版の製造方法 |
| JP2008522369A (ja) * | 2004-11-24 | 2008-06-26 | ノバセントリックス コーポレイション | ナノ材料組成物の電気的使用、めっき的使用および触媒的使用 |
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2013196881A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Osaka Univ | 導電パターン形成方法及び光照射またはマイクロ波加熱による導電パターン形成用組成物 |
| JP2016541121A (ja) * | 2013-12-04 | 2016-12-28 | フラウンホーファー−ゲゼルシャフト ツル フェルデルング デル アンゲヴァンテン フォルシュング エー ファウFraunhofer−Gesellschaft zur Foerderung der angewandten Forschung e.V. | プラスチック基板上に導電性構造体を形成する方法 |
| JPWO2016111133A1 (ja) * | 2015-01-06 | 2017-08-17 | 株式会社フジクラ | 導体層の製造方法及び配線基板 |
| KR20170101249A (ko) | 2015-01-06 | 2017-09-05 | 가부시키가이샤후지쿠라 | 도체층의 제조 방법 및 배선 기판 |
| US10015890B2 (en) | 2015-01-06 | 2018-07-03 | Fujikura Ltd. | Method of manufacturing conductive layer and wiring board |
| WO2016152722A1 (ja) * | 2015-03-24 | 2016-09-29 | 昭和電工株式会社 | 導電パターン形成用組成物及び導電パターン形成方法 |
| KR20170088955A (ko) * | 2015-03-24 | 2017-08-02 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 도전 패턴 형성용 조성물 및 도전 패턴 형성 방법 |
| JPWO2016152722A1 (ja) * | 2015-03-24 | 2018-01-18 | 昭和電工株式会社 | 導電パターン形成用組成物及び導電パターン形成方法 |
| KR102096826B1 (ko) * | 2015-03-24 | 2020-04-03 | 쇼와 덴코 가부시키가이샤 | 도전 패턴 형성용 조성물 및 도전 패턴 형성 방법 |
Also Published As
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6328702B2 (ja) | 低温基板上の薄膜を還元する方法 | |
| US11172579B2 (en) | Method for reducing thin films on low temperature substrates | |
| CN102601363B (zh) | 金属纳米材料合成物的电、镀敷和催化使用 | |
| US10537029B2 (en) | Method for reducing thin films on low temperature substrates | |
| FILM | FIG. I | |
| HK1172865A (en) | Electrical, plating and catalytic uses of metal nanomaterial compositions |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20120215 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130123 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20130617 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130823 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131122 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140701 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20141104 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20141224 |
|
| A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20150206 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20151225 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20160127 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160229 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20160415 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5922929 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
