JP2017005702A - 傾斜スキャン・ライン撮像システム - Google Patents
傾斜スキャン・ライン撮像システム Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017005702A JP2017005702A JP2016112579A JP2016112579A JP2017005702A JP 2017005702 A JP2017005702 A JP 2017005702A JP 2016112579 A JP2016112579 A JP 2016112579A JP 2016112579 A JP2016112579 A JP 2016112579A JP 2017005702 A JP2017005702 A JP 2017005702A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scan line
- scan
- camera
- transport
- transport system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/12—Scanning systems using multifaceted mirrors
- G02B26/125—Details of the optical system between the polygonal mirror and the image plane
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/00795—Reading arrangements
- H04N1/00827—Arrangements for reading an image from an unusual original, e.g. 3-dimensional objects
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Studio Devices (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
Description
[1]
運搬システムと、
スキャン・ラインが運搬される物体の撮像表面に関して傾斜されるように前記運搬システムの上方、下方、および側方のうちの少なくとも1つに位置決めされる光学要素と、
を包含する光学システム。
[2]
前記スキャン・ラインは、前記スキャン・ラインの端が最適焦点から遠くになるように傾斜される、上記[1]に記載の光学システム。
[3]
前記光学要素は、カメラおよびミラーを含む、上記[1]に記載の光学システム。
[4]
前記カメラおよび前記ミラーは、ボトム・スキャン応用のために前記運搬システムの側方に位置決めされる、上記[3]に記載の光学システム。
[5]
前記カメラおよび前記ミラーは、前記運搬システムの運搬装置の間に形成されるギャップまたは間隙の側方に位置決めされる、上記[3]に記載の光学システム。
[6]
前記傾斜されたスキャン・ラインは、撮像表面の平面に関して約+/−45°である、上記[3]に記載の光学システム。
[7]
前記ミラーは、トップ・スキャン応用のために前記運搬システムの上方に位置決めされる、上記[3]に記載の光学システム。
[8]
前記光学要素のスキャン平面は、運搬システムの表面に対して垂直である、上記[1]に記載の光学システム。
[9]
隣接する運搬装置の間にギャップを伴う複数の運搬装置を包含する運搬システムと、
前記ギャップのうちの1つを通じて、スキャン・ラインが、運搬される物体の撮像される表面に関して傾斜されるようにスキャン平面を投影する、少なくともカメラと、
を包含する光学システム。
[10]
前記傾斜されるスキャン・ラインの端が、前記運搬システムのための最適焦点から遠い、上記[9]に記載の光学システム。
[11]
少なくとも前記カメラが、ボトム・スキャン応用のために前記運搬システムの下方および側方に位置決めされる、上記[9]に記載の光学システム。
[12]
少なくとも前記カメラが、前記運搬システムの運搬装置の側方に位置決めされる、上記[9]に記載の光学システム。
[13]
さらに、投影されるスキャン・ラインを折返し、前記スキャン平面を前記運搬される物体の撮像される表面に投影するために、前記カメラに関して位置決めされるミラーを包含する、上記[9]に記載の光学システム。
[14]
前記カメラのスキャン平面は、前記運搬システムの表面に対して垂直である、上記[9]に記載の光学システム。
[15]
前記スキャン・ラインの端は、傾斜されて焦平面から離される、上記[9]に記載の光学システム。
[16]
運搬システム上の物体をスキャンする方法であって、それが前記運搬システムに沿って輸送される間に、傾斜された角度で前記物体にスキャン・ラインを投影することを包含する方法。
[17]
前記スキャン・ラインの投影は、傾斜されて焦平面から離される、上記[16]に記載の方法。
[18]
前記スキャン・ラインの投影は、前記運搬システムの側方にあるカメラから投影される、上記[16]に記載の方法。
[19]
前記スキャン・ラインの投影は、前記運搬システムの上方から投影される、上記[16]に記載の方法。
[20]
前記スキャン・ラインの投影は、前記運搬システムの表面に対して垂直な焦平面を提供する、上記[16]に記載の方法。
110 カメラ
110’ カメラ
120 ミラー
130 運搬システム、運搬機表面、運搬機システム、運搬装置システム
130a ギャップまたは間隙
140 スキャン・ライン
140a スキャン平面
170 グレア角度
180 グレア角度
200 トップ・スキャン撮像システム
200’ サイド・スキャン撮像システム
300 従来のサイド・スキャン撮像システム、従来システム
Claims (20)
- 運搬システムと、
スキャン・ラインが運搬される物体の撮像表面に関して傾斜されるように前記運搬システムの上方、下方、および側方のうちの少なくとも1つに位置決めされる光学要素と、
を包含する光学システム。 - 前記スキャン・ラインは、前記スキャン・ラインの端が最適焦点から遠くになるように傾斜される、請求項1に記載の光学システム。
- 前記光学要素は、カメラおよびミラーを含む、請求項1に記載の光学システム。
- 前記カメラおよび前記ミラーは、ボトム・スキャン応用のために前記運搬システムの側方に位置決めされる、請求項3に記載の光学システム。
- 前記カメラおよび前記ミラーは、前記運搬システムの運搬装置の間に形成されるギャップまたは間隙の側方に位置決めされる、請求項3に記載の光学システム。
- 前記傾斜されたスキャン・ラインは、撮像表面の平面に関して約+/−45°である、請求項3に記載の光学システム。
- 前記ミラーは、トップ・スキャン応用のために前記運搬システムの上方に位置決めされる、請求項3に記載の光学システム。
- 前記光学要素のスキャン平面は、前記運搬システムの表面に対して垂直である、請求項1に記載の光学システム。
- 隣接する運搬装置の間にギャップを伴う複数の運搬装置を包含する運搬システムと、
前記ギャップのうちの1つを通じて、スキャン・ラインが、運搬される物体の撮像される表面に関して傾斜されるようにスキャン平面を投影する、少なくともカメラと、
を包含する光学システム。 - 前記傾斜されるスキャン・ラインの端が、前記運搬システムのための最適焦点から遠い、請求項9に記載の光学システム。
- 少なくとも前記カメラが、ボトム・スキャン応用のために前記運搬システムの下方および側方に位置決めされる、請求項9に記載の光学システム。
- 少なくとも前記カメラが、前記運搬システムの運搬装置の側方に位置決めされる、請求項9に記載の光学システム。
- さらに、投影されるスキャン・ラインを折返し、前記スキャン平面を前記運搬される物体の撮像される表面に投影するために、前記カメラに関して位置決めされるミラーを包含する、請求項9に記載の光学システム。
- 前記カメラのスキャン平面は、前記運搬システムの表面に対して垂直である、請求項9に記載の光学システム。
- 前記スキャン・ラインの端は、傾斜されて焦平面から離される、請求項9に記載の光学システム。
- 運搬システム上の物体をスキャンする方法であって、それが前記運搬システムに沿って輸送される間に、傾斜された角度で前記物体にスキャン・ラインを投影することを包含する方法。
- 前記スキャン・ラインの投影は、傾斜されて焦平面から離される、請求項16に記載の方法。
- 前記スキャン・ラインの投影は、前記運搬システムの側方にあるカメラから投影される、請求項16に記載の方法。
- 前記スキャン・ラインの投影は、前記運搬システムの上方から投影される、請求項16に記載の方法。
- 前記スキャン・ラインの投影は、前記運搬システムの表面に対して垂直な焦平面を提供する、請求項16に記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US14/734,639 US10244149B2 (en) | 2015-06-09 | 2015-06-09 | Imaging system with scan line titled off focal plane |
| US14/734,639 | 2015-06-09 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017005702A true JP2017005702A (ja) | 2017-01-05 |
| JP6659469B2 JP6659469B2 (ja) | 2020-03-04 |
Family
ID=56296463
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2016112579A Expired - Fee Related JP6659469B2 (ja) | 2015-06-09 | 2016-06-06 | 傾斜スキャン・ライン撮像システム |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10244149B2 (ja) |
| EP (1) | EP3104591A3 (ja) |
| JP (1) | JP6659469B2 (ja) |
| AU (2) | AU2016202961A1 (ja) |
| CA (1) | CA2931065A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10244149B2 (en) | 2015-06-09 | 2019-03-26 | Lockheed Martin Corporation | Imaging system with scan line titled off focal plane |
| EP4270917B1 (de) * | 2022-04-29 | 2024-04-24 | Sick Ag | Kamera und verfahren zur erfassung eines objekts |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0292168A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | Maki Seisakusho:Kk | 物品の下面撮像装置 |
| JPH0937031A (ja) * | 1995-07-21 | 1997-02-07 | Minolta Co Ltd | 原稿読み取り装置 |
| US6484066B1 (en) * | 1999-10-29 | 2002-11-19 | Lockheed Martin Corporation | Image life tunnel scanner inspection system using extended depth of field technology |
| WO2011113044A2 (en) * | 2010-03-12 | 2011-09-15 | Sunrise R&D Holdings, Llc | System and method for product identification |
Family Cites Families (27)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4090775A (en) * | 1974-06-26 | 1978-05-23 | Daniel Richard Lobb | Moveable optical probe for viewing a scale model with image tilting |
| US4319270A (en) * | 1979-01-12 | 1982-03-09 | Kobe Steel, Ltd. | Surface inspection system for hot radiant material |
| US4939355A (en) | 1988-01-22 | 1990-07-03 | Spectra-Physics, Inc. | Automatic package label scanner |
| DE4022733C1 (en) * | 1989-12-19 | 1991-05-08 | Elpatronic Ag, Zug, Ch | Three=dimensional cavity inspection appts. - uses matrix or line camera to receive reflected light via gp. of four mirrors and deflecting mirror |
| US5446271A (en) | 1993-08-06 | 1995-08-29 | Spectra-Physics Scanning Systems, Inc. | Omnidirectional scanning method and apparatus |
| US6012816A (en) * | 1996-10-08 | 2000-01-11 | Beiser; Leo | Optical projection apparatus and method |
| JPH11230728A (ja) * | 1998-02-10 | 1999-08-27 | Ntt Fanet Systems Kk | 検査対象物の外観検査方法とその装置 |
| DE10207538A1 (de) * | 2002-02-22 | 2003-09-04 | Sick Ag | Optoelektronischer Codeleser |
| US6830377B2 (en) * | 2002-05-30 | 2004-12-14 | Illinois Tool Works Inc. | Reclosable packaging with gas barrier incorporated in zipper |
| JP4028306B2 (ja) * | 2002-06-26 | 2007-12-26 | 富士フイルム株式会社 | デジタル撮像装置 |
| US20040000115A1 (en) * | 2002-07-01 | 2004-01-01 | Cox Alan D. | Fence post repair support bracket |
| US7156311B2 (en) * | 2003-07-16 | 2007-01-02 | Scanbuy, Inc. | System and method for decoding and analyzing barcodes using a mobile device |
| US20050189329A1 (en) * | 2003-09-02 | 2005-09-01 | Somit Talwar | Laser thermal processing with laser diode radiation |
| US20070267584A1 (en) | 2006-05-19 | 2007-11-22 | Psc Scanning, Inc. | Optical code reader using an anamorphic Scheimpflug optical system |
| US8355581B2 (en) | 2007-03-06 | 2013-01-15 | Advanced Vision Technology (Avt) Ltd. | System and method for detecting the contour of an object on a moving conveyor belt |
| WO2009111596A2 (en) * | 2008-03-04 | 2009-09-11 | Infusion Innovations, Inc. | Devices, assemblies, and methods for controlling fluid flow |
| US8319262B2 (en) * | 2009-07-31 | 2012-11-27 | Sri International | Substrate bias for CMOS imagers |
| US8881984B2 (en) * | 2009-12-31 | 2014-11-11 | Samsung Electrônica da Amazônia Ltda. | System and automatic method for capture, reading and decoding barcode images for portable devices having digital cameras |
| US8462206B1 (en) | 2010-02-25 | 2013-06-11 | Amazon Technologies, Inc. | Image acquisition system |
| WO2011108054A1 (ja) * | 2010-03-05 | 2011-09-09 | 山一電機株式会社 | 非接触式コネクタ |
| FR2963093B1 (fr) | 2010-07-26 | 2012-08-03 | Vit | Installation d'inspection optique 3d de circuits electroniques |
| KR101240947B1 (ko) * | 2010-12-30 | 2013-03-18 | 주식회사 미르기술 | 비전검사장치 |
| US8939369B2 (en) * | 2011-01-24 | 2015-01-27 | Datalogic ADC, Inc. | Exception detection and handling in automated optical code reading systems |
| US20150031024A1 (en) * | 2011-07-30 | 2015-01-29 | The Regents Of The University Of California | Enzymatic preparation of 10 base to 50 kb double-strand dna reagent for sequencing with a nanopore-polymerase sequencing device |
| US9632301B2 (en) | 2011-09-21 | 2017-04-25 | Huron Technologies International Inc. | Slide scanner with a tilted image |
| DE102014105759A1 (de) * | 2014-04-24 | 2015-10-29 | Sick Ag | Kamera und Verfahren zur Erfassung eines bewegten Stroms von Objekten |
| US10244149B2 (en) | 2015-06-09 | 2019-03-26 | Lockheed Martin Corporation | Imaging system with scan line titled off focal plane |
-
2015
- 2015-06-09 US US14/734,639 patent/US10244149B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2016
- 2016-05-09 AU AU2016202961A patent/AU2016202961A1/en not_active Abandoned
- 2016-05-19 EP EP16170332.7A patent/EP3104591A3/en not_active Withdrawn
- 2016-05-26 CA CA2931065A patent/CA2931065A1/en not_active Abandoned
- 2016-06-06 JP JP2016112579A patent/JP6659469B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2017
- 2017-12-18 AU AU2017279566A patent/AU2017279566B2/en not_active Ceased
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0292168A (ja) * | 1988-09-29 | 1990-03-30 | Maki Seisakusho:Kk | 物品の下面撮像装置 |
| JPH0937031A (ja) * | 1995-07-21 | 1997-02-07 | Minolta Co Ltd | 原稿読み取り装置 |
| US6484066B1 (en) * | 1999-10-29 | 2002-11-19 | Lockheed Martin Corporation | Image life tunnel scanner inspection system using extended depth of field technology |
| WO2011113044A2 (en) * | 2010-03-12 | 2011-09-15 | Sunrise R&D Holdings, Llc | System and method for product identification |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP3104591A3 (en) | 2017-02-08 |
| US10244149B2 (en) | 2019-03-26 |
| US20160366310A1 (en) | 2016-12-15 |
| AU2017279566B2 (en) | 2019-11-21 |
| CA2931065A1 (en) | 2016-12-09 |
| AU2017279566A1 (en) | 2018-01-18 |
| AU2016202961A1 (en) | 2017-01-05 |
| JP6659469B2 (ja) | 2020-03-04 |
| EP3104591A2 (en) | 2016-12-14 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6567126B1 (en) | Planar focus correction | |
| US7896506B2 (en) | Image processing apparatus | |
| JP2999925B2 (ja) | 物品側面撮像装置 | |
| CN109949728B (zh) | 一种显示面板的检测装置 | |
| TW200933134A (en) | Inspection method and inspection apparatus of display panel | |
| US20110228115A1 (en) | Large Format Digital Camera | |
| JP6697285B2 (ja) | ウェハ欠陥検査装置 | |
| WO2016203639A1 (ja) | 部品実装装置および部品実装装置における部品実装判定方法 | |
| US7869021B2 (en) | Multiple surface inspection system and method | |
| JP6659469B2 (ja) | 傾斜スキャン・ライン撮像システム | |
| WO2017061213A1 (ja) | 投射型表示装置および画像補正方法 | |
| US9686517B2 (en) | Optical system and image compensating method of optical apparatus | |
| KR950704700A (ko) | 원거리 화면의 촬영방법 및 장치(process and device for taking a distance image) | |
| JP2017096654A (ja) | 撮影システム | |
| US12327767B2 (en) | Optical inspection apparatus in semiconductor process system | |
| KR102673138B1 (ko) | 웨이퍼 고속 촬영 시스템 | |
| JP2020514844A (ja) | 光学投影方法および光学投影装置 | |
| JP2000121574A (ja) | 鋼板の疵検査装置 | |
| JP7616953B2 (ja) | 撮影装置及び撮影方法 | |
| TWI454831B (zh) | 影像擷取系統及其影像擷取方法 | |
| JPH117518A (ja) | 画面の撮像装置 | |
| JPS58157588A (ja) | 溶接線位置変化検出方法 | |
| JPH07261065A (ja) | 光部品の相対位置調整方法及び相対位置調整装置 | |
| KR101316039B1 (ko) | 수광장치와 이를 이용한 기판 품질검사장치 | |
| CN110459156B (zh) | 朗伯伺服式传感器定位及定时 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160606 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170724 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170801 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20171031 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20180116 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180516 |
|
| A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20180613 |
|
| A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20180713 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190807 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191120 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200206 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6659469 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |