JP2017102003A - 線量割出装置、線量割出方法、線量割出プログラムおよび線量割出機能付き測定装置 - Google Patents

Abstract

【課題】特定の物理量を検出する検出器に新たな機器を追加することなく放射線量を割り出すことが可能な線量割出装置を提供する。【解決手段】割出装置５０は、特定の物理量を電圧として検出する検出器２０と、物理量を電圧から電流に変換する変換素子と、放射線の照射によって、電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および既知の電圧に対して出力する電流値のずれ量を記録する記録部５１と、予め取得した放射線の積算照射量とゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および積算照射量とずれ量との相関を示すシフトデータを保持する相関保持部５２と、ゼロ点電流およびゼロ点シフトデータに基づいて積算照射量を推定する第１推定部５３と、ずれ量およびシフトデータに基づいて変換素子の積算照射量を推定する第２推定部５４と、それぞれの推定部が推定した積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量として特定する比較部５６とを備える。【選択図】図１

Description

本発明は、特定の物理量を検出する検出機器による検出地点における線量割出技術に関する。

放射線量が基準値以上であって内部への立ち入りが困難である施設において、その内部の情報の取得が求められることがある。
求められる情報は、例えば、施設内の圧力、温度または施設内に溜まった液体の水位などの物理量に関する情報である。
検出される物理量は、多くの場合、検出器に電圧の形態で検出される。
検出された電圧の伝送方式は、電圧のまま伝送する方式と、電圧からＶ／Ｉ変換によって電流にして伝送する方式と、に大別される。
情報を電流の形態で伝送する方式は、伝送距離が長い場合には電圧のまま伝送するよりもノイズの影響が小さいという特徴がある。

このような物理量を検出して測定する測定装置は、長期間の使用によって測定装置内部のばねの弾性の変化などによって表示された指示値が真値からずれてくることがある。
そこで、一般に、検出器の設置時または設置後所定の期間ごとなど特定の時期で指示値の校正をする。

校正には、ゼロ点校正およびスパン校正の２種類が実施されることが多い。
ゼロ点校正とは、Ｖ／Ｉ変換素子への電圧の入力がゼロのときに指示値がゼロになるようにする校正のことである。
なお、Ｖ／Ｉ変換素子への電圧の入力がゼロのときにＶ／Ｉ変換素子から出力される電流量を、以下「ゼロ点電流」という。

スパン校正とは、Ｖ／Ｉ変換素子へ既知の複数の電圧を入力したときに、入力した各電圧において指示値が物理量の真値を示すようにする校正のことである。
なお、付与された既知の電圧に対して、Ｖ／Ｉ変換素子が出力する電流値の真値からのずれ量を、以下「スパンずれ量」という。

特開平０７−０５４３９４号公報 特開２０００−３３７９４５号公報 実公平３−２８２１号公報

立ち入りが困難な場所に設置された検出機器には、頻繁な交換および補修が困難であることから、構造が簡素で耐久性が高いことに加えて、１台でできるだけ多くの情報を取得することが求められていた。
特に、放射能汚染された施設内に設置される検出機器には、放射線量の取得の要求が高い。
放射線量の情報を取得することで、単に施設内の放射線量を把握することができるだけでなく、被ばく量に基づく検出機器の交換時期も把握することが可能になる。

本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、特定の物理量を検出する検出器に新たな機器を追加することなく検出地点における放射線量を割り出すことが可能な線量割出装置、線量割出方法、線量割出プログラムおよび線量割出機能付き測定装置を提供することを目的とする。

本実施形態にかかる線量割出装置は、放射能汚染された環境下に設置されて検出した特定の物理量をＶ／Ｉ変換素子で電圧から電流に変換して伝送する測定装置に実装される線量割出装置において、放射能汚染による放射線の照射によって、Ｖ／Ｉ変換素子が電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を記録する記録部と、予め取得した放射線の積算照射量とゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および積算照射量とずれ量との相関を示すスパンシフトデータを保持する相関保持部と、記録部に記録されたゼロ点電流およびゼロ点シフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定部と、記録部に記録されたずれ量およびスパンシフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定部と、第１推定部および第２推定部がそれぞれ推定した積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量として特定する比較部と、を備えるものである。

また、本実施形態にかかる線量割出機能付き測定装置は、放射能汚染された環境下に設置されて特定の物理量を電圧として検出する検出器と、物理量を電圧から電流に変換するＶ／Ｉ変換素子と、放射能汚染による放射線の照射によって、Ｖ／Ｉ変換素子が電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を記録する記録部と、予め取得した放射線の積算照射量とゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および積算照射量とずれ量との相関を示すスパンシフトデータを保持する相関保持部と、記録部に記録されたゼロ点電流およびゼロ点シフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定部と、記録部に記録されたずれ量およびスパンシフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定部と、第１推定部および第２推定部がそれぞれ推定した積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量として特定する比較部と、を備えるものである。

また、本実施形態にかかる線量割出方法は、放射能汚染された環境下に設置されて検出した特定の物理量をＶ／Ｉ変換素子で電圧から電流に変換して伝送する測定装置を用いた線量割出方法において、放射能汚染による放射線の照射によって、Ｖ／Ｉ変換素子が電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を取得するステップと、予め取得した放射線の積算照射量とゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および積算照射量とずれ量との相関を示すスパンシフトデータを参照するステップと、記録されたゼロ点電流およびゼロ点シフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定ステップと、記録されたずれ量およびスパンシフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定ステップと、第１推定ステップおよび第２推定ステップで推定したそれぞれの積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量とするステップと、を含むものである。

また、本実施形態にかかる線量割出プログラムは、放射能汚染された環境下に設置されて検出した特定の物理量をＶ／Ｉ変換素子で電圧から電流に変換して伝送する測定装置に適用する線量割出プログラムにおいて、コンピュータに、放射能汚染による放射線の照射によって、Ｖ／Ｉ変換素子が電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を取得するステップ、予め取得した放射線の積算照射量とゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および積算照射量とずれ量との相関を示すスパンシフトデータを参照するステップ、記録されたゼロ点電流およびゼロ点シフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定ステップ、記録されたずれ量およびスパンシフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定ステップ、第１推定ステップおよび第２推定ステップで推定したそれぞれの積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量とするステップ、を実行させるものである。

本発明により、特定の物理量を検出する検出器に新たな機器を追加することなく検出地点における放射線量を割り出すことが可能な線量割出装置、線量割出方法、線量割出プログラムおよび線量割出機能付き測定装置が提供される。

第１実施形態にかかる線量割出装置およびこの線量割出装置が適用される測定装置の概略構成図。 測定装置（投込式水位計）が備える検出器の概略断面図。 （Ａ）はゼロ点シフトデータの一例を示す図、（Ｂ）はスパンシフトデータの一例を示す図。 ゼロ点電流およびスパンずれ量に基づく積算照射量の算出方法の説明図。 第１実施形態にかかる線量割出方法を示すフローチャート。 第２実施形態にかかる線量割出方法の説明図。 第２実施形態にかかる線量割出方法の変形例の説明図。 第３実施形態にかかる線量割出機能付き測定装置の概略構成図。 第３実施形態にかかる線量割出機能付き測定装置が備える補助測定部の浸水部が設けられた検出器の一例を示す図。 （Ａ）は従来の投込式水位計の校正方法の説明図、（Ｂ）は割出付き測定装置を用いた校正方法の説明図。

以下、本実施形態を添付図面に基づいて説明する。
〔測定装置１０〕
まず、線量割出装置５０（以下、単に「割出装置５０」という）が適用される測定装置１０について図１および図２を用いて説明する。

図１は、第１実施形態にかかる割出装置５０およびこの割出装置５０が適用される測定装置１０の概略構成図である。
割出装置５０が適用される測定装置１０は、その検出器２０が放射能汚染された施設内などに設置される。
測定装置１０は、検出器２０で電圧の形態で検出した物理量を電流に変換して、電流の形態で遠隔に伝送する。

測定装置１０は、例えば自然災害の被災時に原子力発電所内に放出されて溜まった冷却液の水位を測定する投込式水位計１０Ａなどである。
以下の実施形態では、投込式水位計１０Ａを測定装置１０の例にとって説明する。
ただし、放射線量の取得が求められる箇所に設けられて検出した情報を電流に変換して伝送するものであれば、投込式水位計１０Ａの例に限らず測定装置１０になりうる。

投込式水位計１０Ａは、図１に示されるように、液中に投げ込まれる検出器２０が、信号線１３を介して変換部１４に接続されている。
変換部１４は、例えば中央制御室内の表示部１７に接続されている。
変換部１４は、検出器２０から受信した液体の水位に関する電流をＩ／Ｖ変換して、表示部１７へ送信する。

ここで、図２は、投込式水位計１０Ａが備える検出器２０の概略断面図である。
検出器２０は、図２に示されるように、一方の底面に入水孔２４が設けられた筐体２１によって、円筒状の外形を有している。
筐体２１の内部には、入水孔２４が設けられた底面の付近に圧力センサ２２が筐体２１を封止するように設置されている。
この圧力センサ２２によって筐体２１の内部は周囲の液体から隔離されて、圧力センサ２２からさらに内部には液体は侵入しない。

一方、入水孔２４が設けられていない他方の底面には、中空ケーブル２３が接続されている。
中空ケーブル２３は、信号線１３および強化線１８とともに被覆されて伝線２９となって水上まで敷かれる。
中空ケーブル２３は、通常時は、水上の開口部で大気開放されており、筐体２１の内部を大気圧Ｐ_atmに維持させている。
つまり、筐体２１の内部に面する片面は大気圧Ｐ_atmを受ける。

一方、圧力センサ２２のうち液体と接触する他面は水圧Ｐ_wを受ける。
圧力センサ２２は、例えば、隔膜にかかる圧力を電気信号の大きさに変換するダイヤフラム２５を利用したものが広く使用されている。
ダイヤフラムとは、弾性のある隔膜のことであり、圧力による隔膜の膨張およびへこみの度合いが読み取られるものである。
この度合いを電気的に読み取る方法には、ダイヤフラム２５に設置された圧電素子によって歪みを感知する半導体歪ゲ−ジ式または変位を感知する静電容量式などがある。

圧力センサ２２が有する水圧側ダイヤフラム２５ｂが受ける水圧Ｐ_wと、基準圧側ダイヤフラム２５ａが中空ケーブル２３を介して受ける大気圧Ｐ_atmとの差圧ΔＰ（図１０）は、電圧に変換されて差分部２６に読み取られる。
なお、ダイヤフラム２５の利用に代えてばね（図示せず）を利用して水圧を計測するものも検出器２０として同様に動作する。

読み取られた電圧は、Ｖ／Ｉ変換素子２８で電流に変換されて、図１に示されるように、変換部１４が接続される信号線１３に出力される。
Ｖ／Ｉ変換素子２８から送信される差圧ΔＰに基づく電気信号は、変換部１４で電圧に変換されて、表示部１７に液体の水位として表示される。

しかし、この水位の指示値は、上述のように水圧Ｐ_wなどの圧力に基づいて計算されるものであるため、実際の水位からずれることがある。
よって、所定の時期に基準圧側ダイヤフラム２５ａ（２５）に既知の圧力を印加して、指示値のゼロ点校正またはスパン校正などの校正がなされる。
印加される圧力は、例えば表示部１７から印加部１６に送信される作業員の指令に従って制御される。
印加部１６は、三方弁１９を介して中空ケーブル２３に接続されている。

（第１実施形態）
引き続き図１を用いて、割出装置５０について説明する。
第１実施形態にかかる割出装置５０は、図１に示されるように、記録部５１、相関保持部５２、第１推定部５３、第２推定部５４、比較部５６、算出部５７（図１中、線量算出部５７）および警告部５８を備える。

記録部５１は、ゼロ点電流およびスパンずれ量（以下、ゼロ点電流およびスパンずれ量を合わせて、「シフト量」という）を記録して蓄積する。
半導体であるＶ／Ｉ変換素子２８に放射線が照射されると、Ｖ／Ｉ変換素子２８から出力される電流が不可逆変化し、シフト量となる。
測定装置１０において物理量の表示する表示機構の機械強度が十分な場合には、シフト量のうち表示機構の劣化によるものは無視することができる。
このようにシフト量を発生させる他の要素を無視または取り除くことができる場合、シフト量の発生は、放射線の照射に起因しているといえる。
そこで、記録部５１は、例えば１月間隔で実施されるゼロ点校正およびスパン校正などの際に確認されたシフト量を記録して蓄積する。

相関保持部５２は、予め取得したゼロ点シフトデータおよびスパンシフトデータを保持する。
ゼロ点シフトデータとは、放射線の積算照射量とゼロ点電流との相関関係を示すデータである。
スパンシフトデータとは、放射線の積算照射量とスパンずれ量との相関関係を示すデータである。

ここで、図３（Ａ）はゼロ点シフトデータの一例を示す図、図３（Ｂ）はスパンシフトデータの一例を示す図である。
図３（Ａ），（Ｂ）いずれも横軸は積算放射線量（ｋＧｙ）である。
また、縦軸は、図３（Ａ）はゼロ点電流、図３（Ｂ）はスパンずれ量である。
図３（Ａ），（Ｂ）からわかるように、Ｖ／Ｉ変換素子２８に用いられる半導体の特性として、シフト量はいずれも、積算放射線量に比例せずに変化する。

例えば、ゼロ点電流（相対値）の絶対値は、２ｋＧｙ程度までは積算放射線量に伴って増加するが、２ｋＧｙ程度を超えると、減少してゼロに近づく。
その後も、ゼロ点電流の絶対値は、いくつかの極値を有して変化する。
相関保持部５２は、実際に用いられる半導体と同類の半導体について予め測定実験などによって取得したゼロ点シフトデータおよびスパンシフトデータを保持する。
なお、ゼロ点シフトデータおよびスパンシフトデータは、グラフデータではなく数値データであってもよい。

記録部５１および相関保持部５２には、それぞれ第１推定部５３および第２推定部５４が接続される。
ここで、図４は、シフト量に基づく積算照射量の算出方法の説明図である。
第１推定部５３は、ゼロ点電流およびゼロ点シフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子２８の積算照射量を少なくとも１つ推定する。

例えば図４に示されるように、複数の検出地点に設置された複数の検出器２０のうちＡ地点に設置されたものが検出したゼロ点電流が、−０．２５（％）であったとする。
この場合Ａ地点の検出器２０の積算照射量は、図４において縦軸が−０．２５の直線と、ゼロ点シフトデータとの交点である（１）、（３）または（４）の値と推定される。
このような手順で、第１推定部５３は、積算照射量を（１）、（３）または（４）の値と推定する。

第２推定部５４は、スパンずれ量およびスパンシフトデータに基づいてＶ／Ｉ変換素子２８の積算照射量を少なくとも１つ推定する。
例えば、Ａ地点に設置された検出器２０で計測されたスパンずれ量が、−１．５（％）であったとする。
第２推定部５４は、第１推定部５３と同様の推定手順で、縦軸が−１．５の直線と、スパンシフトデータとの交点である（１）または（２）の値を積算照射量と推定する。

比較部５６は、第１推定部５３および第２推定部５４がそれぞれ推定した積算照射量を比較して、共通する積算照射量を真の積算照射量として特定する。
図４の例では、（１）〜（４）の推定値のうち（１）のみが共通の推定値であるので、比較部５６は（１）の推定値を真の積算照射量として特定する。
特定された真の積算照射量は、算出部５７に送られる。

算出部５７は、真の積算照射量を検出器２０の検出開始からの期間で除算して放射線量を算出する。
図４の例では、真の積算照射量は１．２ｋＧｙである。
よって、検出開始からの期間が３カ月であるとすると、単位時間当たりの放射線量は、次式Ｍで算出される。
１．２ｋＧｙ／（３カ月×３０日×２４時間）＝０．５５Ｇｙ／ｈ （Ｍ）
算出された単位時間当たりの放射線量は、表示部１７に表示されて運転員に確認される。

また、比較部５６および表示部１７には、警告部５８が接続される。
警告部５８は、算出部５７で特定した積算照射量が既定の閾値より大きい場合に警告をする。
測定装置１０は、長期間の放射線の照射によって劣化して、正確な水位の検出ができなくなる。
そこで、積算照射量に閾値を設定して、積算照射量がこの閾値以上になったときを交換時期として表示部１７に警告を表示する。
なお、閾値を複数設定して、積算照射量の段階に合わせて警告を変化させてもよい。

次に、第１実施形態にかかる線量割出方法を、図５のフローチャートを用いて説明する（適宜、図１および図４を参照）。

まず、ゼロ点校正およびスパン校正などの際に、記録部５１が、確認されたゼロ点電流およびスパンずれ量を取得する（ステップＳ１１）。
そして、第１推定部５３および第２推定部５４が、それぞれ記録部５１および相関保持部５２を参照する。

第１推定部５３は、ゼロ点電流およびゼロ点シフトデータに基づいて、Ｖ／Ｉ変換素子２８の積算照射量を少なくとも１つ推定する（第１推定ステップＳ１２）。
第１推定部５３は、図４においては（１）、（３）および（４）の値を積算照射量として推定する。
また、第２推定部５４は、記録されたスパンずれ量およびスパンシフトデータに基づいて、Ｖ／Ｉ変換素子２８の積算照射量を少なくとも１つ推定する（第２推定ステップＳ１３）。
第２推定部５４は、図４においては（１）および（２）の値を積算照射量として推定する。

そして、比較部５６が、第１推定部５３および第２推定部５４がそれぞれ推定した積算照射量を比較して、共通する積算照射量（１）を真の積算照射量とする（ステップＳ１４）。
さらに、算出部５７が、真の積算照射量から式Ｍのように単位時間当たりの放射線量を算出する（ステップＳ１５）。
算出された単位時間当たりの放射線量は、表示部１７に表示されて運転員に確認される。

算出部５７で特定した積算照射量が既定の閾値以上の場合（ステップＳ１６：ＮＯ）、警告部５８は表示部１７に警告を表示する（ステップＳ１７）。
また、算出部５７で単位時間あたりの放射線量を算出して（ステップＳ１８）、積算照射量とともに表示部１７に表示する（ステップＳ１９）。
算出部５７で特定した積算照射量が既定の閾値以下の場合（ステップＳ１６：ＹＥＳ）、警告はせずに単位時間あたりの放射線量および真の積算照射線量を表示部１７に表示する（ステップＳ１８，ステップＳ１９：ＥＮＤ）。

以上のように、第１実施形態にかかる割出装置５０および線量割出方法によれば、特定の物理量を検出する検出器２０に新たな機器を追加することなく検出地点における放射線量を割り出すことができる。

なお、割出装置５０を測定装置１０に一体化させて全体として１つの線量割出機能付き測定装置９０とすることもできる。

また、例えば、１つの割出装置５０に対して複数の検出器２０または測定装置１０を接続して、それぞれ異なる設置箇所に設置してもよい。
複数の検出器２０または測定装置１０が割出装置５０を共有することで、複数の検出地点の監視および測定装置１０の管理を一極に集中させることができる。

（第２実施形態）
図６は、第２実施形態にかかる線量割出方法の説明図である。
第２実施形態にかかる割出装置５０の第１推定部５３は、図６に示されるように、記録時刻の異なる２以上のゼロ点電流によってゼロ点シフトデータの参照範囲を限定する。
ゼロ点シフトデータは測定実験の結果であることが多いので、多数の極値を有していることがある。

よって、１つのゼロ点電流に対して多数の積算照射線量が推定されてしまい、スパンずれ量と組み合わせても真の積算照射線量が１つに特定されないことがある。
そこで、例えば図６に示されるように、検出開始から１カ月後および３カ月後の２つのゼロ点電流を用いて、区間を[Ａ、Ｂ]に限定する。
この限定によって、（３）および（４）は積算照射量の推定値から除外されることになる。

そして、第１実施形態と同様に、第２推定部５４で推定した積算照射量とで共通な積算照射量を真の積算照射量とする。
また、図７は第２実施形態にかかる線量割出方法の変形例の説明図である。
上述の２以上の記録時刻に基づく区間の限定は、図７に示されるように、第２推定部５４においてスパンシフトデータについて実施してもよい。
つまり、記録時刻の異なる２以上のスパンずれ量によってスパンシフトデータの参照範囲を限定することもできる。

なお、第１推定部５３または第２推定部５４の参照範囲を限定すること以外は、第２実施形態は第１実施形態と同じ構造および動作手順となるので、重複する説明を省略する。
図面においても、共通の構成または機能を有する部分は同一符号で示し、重複する説明を省略する。

以上のように、第２実施形態にかかる線量割出方法は、記録時刻の異なる２以上のシフト量によって参照範囲を限定することで、第１実施形態の効果に加えて、真の積算照射線量を特定することができる。

（第３実施形態）
図８は、第３実施形態にかかる線量割出機能付き測定装置９０（以下、「割出付き測定装置９０」という）の概略構成図である。
また、図９は、第３実施形態にかかる割出付き測定装置９０が備える補助測定部６１の浸水部６１ａ（バブラチューブ６１ａ）が設けられた検出器２０の一例を示す図である。

第３実施形態にかかる割出装置５０は、図８および図９に示されるように、検出器２０の外表面に固定されて検出器２０が受ける水圧Ｐ_wを測定する補助測定部６１を備える。

補助測定部６１は、例えば、検出器２０の外表面に開口端２７が固定されたバブラチューブ６１ａと、バブラチューブ６１ａに背圧Ｐ_sを印加してこの背圧Ｐ_sを測定する計測部６１ｂと、からなる。

計測部６１ｂは、バブラチューブ６１ａの開口端２７からバブルが出るまで背圧Ｐ_sを印加して、この開口端２７からバブルが出る限界の背圧Ｐ_sを計測する。
そして、計測した背圧Ｐ_sを印加部１６に送信して、中空ケーブル２３を介して基準圧側ダイヤフラム２５ａへ印加させる。

開口端２７は検出器２０の外表面に固定されていることから、計測部６１ｂによって印加される限界の背圧Ｐ_sは、水圧Ｐ_wとほぼ同一となる。
なお、例えば開口端２７と水圧側ダイヤフラム２５ｂとの深度にずれがある場合、このずれは、計測部６１ｂにおいて微修正されて、水圧Ｐ_wと完全に一致される。

ここで、図１０（Ａ）は従来の投込式水位計１０Ａの校正方法の説明図、図１０（Ｂ）は割出付き測定装置９０を用いた校正方法の説明図である。
従来では、表示部１７の水位の指示値を校正する場合、検出器２０を一度水面まで引き上げて、水圧側ダイヤフラム２５ｂにかかる水圧Ｐ_wを大気圧Ｐ_atmと一致させていた。
つまり、検出器２０を完全に水上まで引き上げることで、図１０（Ａ）に示されるように、水圧Ｐ_wを降下させて（Ｐ_w→Ｐ_atm）、指示値がゼロ点を示すか確認していた。

一方、第１実施形態にかかる校正方法では、検出器２０を引き上げる代わりに、基準圧側ダイヤフラム２５ａに上述の背圧Ｐ_sを印加して基準圧を変化させる。
つまり、図１０（Ｂ）に示されるように、基準圧側ダイヤフラム２５ａにかかる圧力を上昇させて（Ｐ_atm→Ｐ_s）、基準圧側ダイヤフラム２５ａの圧力を水圧Ｐ_wに一致させる。

校正部１２は、背圧Ｐ_sを基準圧側ダイヤフラム２５ａに印加したときに指示値がゼロ点を示すように指示値を校正する。
また、スパン校正をする際にも、この背圧Ｐ_sを利用することができる。
すなわち、この背圧Ｐ_sとの差圧ΔＰが既定の値となるように印加部１６から圧力を印加することで、検出器２０を引き上げることなくスパン校正をすることができる。

なお、補助測定部６１で測定した圧力に基づいて基準圧側ダイヤフラム２５ａに印加して校正すること以外は、第３実施形態は第１実施形態と同じ構造および動作手順となるので、重複する説明を省略する。
図面においても、共通の構成または機能を有する部分は同一符号で示し、重複する説明を省略する。

以上のように、第３実施形態にかかる割出付き測定装置９０によれば、補助測定部６１で測定された背圧Ｐ_sに基づいて基準圧側ダイヤフラム２５ａに圧力を印加することで、第１実施形態の効果に加えて、検出器２０を引き上げることなく校正をすることができる。

以上述べた少なくとも１つの実施形態にかかる割出装置５０などによれば、特定の物理量を検出する検出器２０に新たな機器を追加することなく検出地点における放射線量を割り出すことができる。

本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。
これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、組み合わせを行うことができる。
これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。

例えば、各実施形態では水位が検出される液体を放射能汚染液体に限定して説明したが、本発明は、対象が放射能汚染液体に限定されない。

１０…測定装置（投込式水位計）、１２…校正部、１３…信号線、１４…変換部、１６…印加部、１７…表示部、１８…強化線、１９…三方弁、２０…検出器、２１…筐体、２２…圧力センサ、２３…中空ケーブル、２４…入水孔、２５（２５ａ，２５ｂ）…ダイヤフラム（基準圧側ダイヤフラム，水圧側ダイヤフラム）、２６…差分部、２７…開口端、２８…Ｖ／Ｉ変換素子、２９…伝線、５０…線量割出装置（割出装置）、５１…記録部、５２…相関保持部、５３…第１推定部、５４…第２推定部、５６…比較部、５７…線量算出部（算出部）、５８…警告部、６１（６１ａ，６１ｂ）…補助測定部（浸水部，計測部）、６１ａ（６１）…バブラチューブ、９０…線量割出機能付き測定装置（割出付き測定装置）、Ｐ_atm…大気圧、Ｐ_s…背圧、Ｐ_w…水圧、ΔＰ…差圧。

Claims (12)

1. 放射能汚染された環境下に設置されて検出した特定の物理量をＶ／Ｉ変換素子で電圧から電流に変換して伝送する測定装置に実装される線量割出装置において、
   前記放射能汚染による放射線の照射によって、前記Ｖ／Ｉ変換素子が前記電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を記録する記録部と、
   予め取得した前記放射線の積算照射量と前記ゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および前記積算照射量と前記ずれ量との相関を示すスパンシフトデータを保持する相関保持部と、
   前記記録部に記録された前記ゼロ点電流および前記ゼロ点シフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定部と、
   前記記録部に記録された前記ずれ量および前記スパンシフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定部と、
   前記第１推定部および前記第２推定部がそれぞれ推定した前記積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量として特定する比較部と、を備えることを特徴とする線量割出装置。
2. 前記真の積算照射量を検出開始からの期間で除算して放射線量を算出する算出部を備える請求項１に記載の線量割出装置。
3. 記録時刻の異なる２以上の前記ゼロ点電流によって前記ゼロ点シフトデータの参照範囲を限定する請求項１または請求項２に記載の線量割出装置。
4. 記録時刻の異なる２以上の前記ずれ量によって前記スパンシフトデータの参照範囲を限定する請求項１から請求項３のいずれか１項に記載の線量割出装置。
5. 特定した前記真の積算照射量が既定の閾値より大きくなった場合に警告をする警告部を備える請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の線量割出装置。
6. 放射能汚染された環境下に設置されて特定の物理量を電圧として検出する検出器と、
   前記物理量を前記電圧から電流に変換するＶ／Ｉ変換素子と、
   前記放射能汚染による放射線の照射によって、前記Ｖ／Ｉ変換素子が前記電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を記録する記録部と、
   予め取得した前記放射線の積算照射量と前記ゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および前記積算照射量と前記ずれ量との相関を示すスパンシフトデータを保持する相関保持部と、
   前記記録部に記録された前記ゼロ点電流および前記ゼロ点シフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定部と、
   前記記録部に記録された前記ずれ量および前記スパンシフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定部と、
   前記第１推定部および前記第２推定部がそれぞれ推定した前記積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量として特定する比較部と、を備えることを特徴とする線量割出機能付き測定装置。
7. 前記検出器は、ダイヤフラム式圧力検出器またはばね式圧力検出器である請求項６に記載の線量割出機能付き測定装置。
8. 前記検出器は複数設けられてそれぞれ異なる設置箇所に設置される請求項６または請求項７に記載の線量割出機能付き測定装置。
9. 前記測定装置は、投込式水圧計である請求項６または請求項８に記載の線量割出機能付き測定装置。
10. 前記検出器は、一部が液体中に開放された筐体の内部を圧力センサで封止して、前記圧力センサが液体から受ける水圧と前記筐体に接続された中空ケーブルによって前記内部から受ける大気圧との差圧を検出し、
    前記検出器の外表面に固定されて前記検出器が受ける前記水圧を計測する計測部と、
    前記計測部で計測された計測水圧を前記中空ケーブルから印加する印加部と、を備える請求項６から請求項９のいずれか１項に記載の線量割出機能付き測定装置。
11. 放射能汚染された環境下に設置されて検出した特定の物理量をＶ／Ｉ変換素子で電圧から電流に変換して伝送する測定装置を用いた線量割出方法において、
    前記放射能汚染による放射線の照射によって、前記Ｖ／Ｉ変換素子が前記電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を取得するステップと、
    予め取得した前記放射線の積算照射量と前記ゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および前記積算照射量と前記ずれ量との相関を示すスパンシフトデータを参照するステップと、
    記録された前記ゼロ点電流および前記ゼロ点シフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定ステップと、
    記録された前記ずれ量および前記スパンシフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定ステップと、
    前記第１推定ステップおよび前記第２推定ステップで推定したそれぞれの積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量とするステップと、を含むことを特徴とする線量割出方法。
12. 放射能汚染された環境下に設置されて検出した特定の物理量をＶ／Ｉ変換素子で電圧から電流に変換して伝送する測定装置に適用する線量割出プログラムにおいて、
    コンピュータに、
    前記放射能汚染による放射線の照射によって、前記Ｖ／Ｉ変換素子が前記電圧の非入力時に出力するゼロ点電流および付与された既知の電圧に対して出力する電流値の真値からのずれ量を取得するステップ、
    予め取得した前記放射線の積算照射量と前記ゼロ点電流との相関を示すゼロ点シフトデータ、および前記積算照射量と前記ずれ量との相関を示すスパンシフトデータを参照するステップ、
    記録された前記ゼロ点電流および前記ゼロ点シフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第１推定ステップ、
    記録された前記ずれ量および前記スパンシフトデータに基づいて前記Ｖ／Ｉ変換素子の積算照射量を少なくとも１つ推定する第２推定ステップ、
    前記第１推定ステップおよび前記第２推定ステップで推定したそれぞれの積算照射量を比較して共通する積算照射量を真の積算照射量とするステップ、を実行させることを特徴とする線量割出プログラム。

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