JP2017208806A - 信号伝送装置 - Google Patents
信号伝送装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017208806A JP2017208806A JP2017069150A JP2017069150A JP2017208806A JP 2017208806 A JP2017208806 A JP 2017208806A JP 2017069150 A JP2017069150 A JP 2017069150A JP 2017069150 A JP2017069150 A JP 2017069150A JP 2017208806 A JP2017208806 A JP 2017208806A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead frame
- signal
- transmission device
- transmission
- semiconductor chip
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/811—Multiple chips on leadframes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01F—MAGNETS; INDUCTANCES; TRANSFORMERS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR MAGNETIC PROPERTIES
- H01F38/00—Adaptations of transformers or inductances for specific applications or functions
- H01F38/14—Inductive couplings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P1/00—Auxiliary devices
- H01P1/20—Frequency-selective devices, e.g. filters
- H01P1/201—Filters for transverse electromagnetic waves
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P1/00—Auxiliary devices
- H01P1/20—Frequency-selective devices, e.g. filters
- H01P1/201—Filters for transverse electromagnetic waves
- H01P1/203—Strip line filters
- H01P1/20327—Electromagnetic interstage coupling
- H01P1/20336—Comb or interdigital filters
- H01P1/20345—Multilayer filters
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P5/00—Coupling devices of the waveguide type
- H01P5/02—Coupling devices of the waveguide type with invariable factor of coupling
- H01P5/022—Transitions between lines of the same kind and shape, but with different dimensions
- H01P5/028—Transitions between lines of the same kind and shape, but with different dimensions between strip lines
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B1/00—Details of transmission systems, not covered by a single one of groups H04B3/00 - H04B13/00; Details of transmission systems not characterised by the medium used for transmission
- H04B1/38—Transceivers, i.e. devices in which transmitter and receiver form a structural unit and in which at least one part is used for functions of transmitting and receiving
- H04B1/40—Circuits
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B5/00—Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems
- H04B5/20—Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems characterised by the transmission technique; characterised by the transmission medium
- H04B5/24—Inductive coupling
- H04B5/26—Inductive coupling using coils
- H04B5/266—One coil at each side, e.g. with primary and secondary coils
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04B—TRANSMISSION
- H04B5/00—Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems
- H04B5/70—Near-field transmission systems, e.g. inductive or capacitive transmission systems specially adapted for specific purposes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W20/00—Interconnections in chips, wafers or substrates
- H10W20/40—Interconnections external to wafers or substrates, e.g. back-end-of-line [BEOL] metallisations or vias connecting to gate electrodes
- H10W20/497—Inductive arrangements or effects of, or between, wiring layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/421—Shapes or dispositions
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01P—WAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
- H01P7/00—Resonators of the waveguide type
- H01P7/08—Strip line resonators
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
- H10W70/40—Leadframes
- H10W70/421—Shapes or dispositions
- H10W70/424—Cross-sectional shapes
- H10W70/427—Bent parts
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/071—Connecting or disconnecting
- H10W72/075—Connecting or disconnecting of bond wires
- H10W72/07551—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting
- H10W72/07554—Connecting or disconnecting of bond wires characterised by changes in properties of the bond wires during the connecting changes in dispositions
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/30—Die-attach connectors
- H10W72/351—Materials of die-attach connectors
- H10W72/353—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics
- H10W72/354—Materials of die-attach connectors not comprising solid metals or solid metalloids, e.g. ceramics comprising polymers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5445—Dispositions of bond wires being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/5449—Dispositions of bond wires not being orthogonal to a side surface of the chip, e.g. fan-out arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/50—Bond wires
- H10W72/541—Dispositions of bond wires
- H10W72/547—Dispositions of multiple bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W74/00—Encapsulations, e.g. protective coatings
- H10W74/01—Manufacture or treatment
- H10W74/016—Manufacture or treatment using moulds
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/736—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/752—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between stacked chips
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/753—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between laterally-adjacent chips
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/756—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked lead frame, conducting package substrate or heat sink
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Near-Field Transmission Systems (AREA)
Abstract
【課題】小型化が容易な信号伝送装置を提供する。【解決手段】信号伝送装置は、第一リードフレームと、第一リードフレームから離間する第二リードフレームと、第一リードフレームに電気的に接続される一次側半導体チップと、第二リードフレームに電気的に接続される二次側半導体チップと、一次側半導体チップに電気的に接続される送信部および二次側半導体チップに電気的に接続される受信部を含み、かつ、送信部から受信部に信号を絶縁伝送する信号絶縁器とを備える。信号絶縁器は、第一リードフレーム及び第二リードフレームに接合される第一主面を有する。【選択図】図6B
Description
本開示は、信号伝送装置に関する。
基板およびコイルトランスデューサの下に、入力リードフレームと出力リードフレームとを備えるアイソレータが、開示されている(例えば、特許文献1参照)。
しかしながら、従来技術では、信号伝送装置を小型化することが難しいという問題がある。そこで、本開示は、小型化が容易な信号伝送装置を提供する。
本開示の一態様に係る信号伝送装置は、第一リードフレームと、前記第一リードフレームから離間する第二リードフレームと、前記第一リードフレームに電気的に接続される一次側半導体チップと、前記第二リードフレームに電気的に接続される二次側半導体チップと、前記一次側半導体チップに電気的に接続される送信部、および前記二次側半導体チップに電気的に接続される受信部を含み、前記送信部から前記受信部に信号を絶縁伝送する信号絶縁器とを備える。前記信号絶縁器は、第一主面を有し、前記第一主面は、前記第一リードフレーム及び前記第二リードフレームに接合される。
本開示によれば、小型化が容易な信号伝送装置が実現される。
(本開示の基礎となった知見)
まず、本発明者らの着眼点が、下記に説明される。
まず、本発明者らの着眼点が、下記に説明される。
回路間での電気的な絶縁を確保しながら、信号を伝送する非接触伝送技術は、様々な電子機器で求められている。例えば、高電圧回路と低電圧回路とを動作させる際、低電圧回路の誤動作又は故障を防ぐために、接地電位が異なる回路同士のグランド・ループを断ち切る。これにより、高電圧回路と低電圧回路とを接続した際に、高電圧回路から低電圧回路へ過剰電圧が印加されることを抑制することができる。
電気的な絶縁が確保された信号伝送装置として、例えば、電力用半導体素子のゲート端子に電力を供給するゲートドライバLSI(Large−Scale Integration)が知られている。また、上述した信号伝送装置及び電力用半導体素子からなるモータ駆動用あるいは電力制御用のパワー回路システムにおいて、パワー回路システム全体の小型化の要望に伴い、信号伝送装置は、小型で、かつ、高放熱のパッケージ構造が求められている。
図1〜4を用いて、従来の信号伝送装置の説明を行う。図1は、比較例1における樹脂封止前の信号伝送装置10dを示す上面図である。図2は、比較例1の切断ライン21に沿ってリードフレームが切断された信号伝送装置10dの構成を示す上面図である。図3は、図1の破線III−IIIに沿って切断された信号伝送装置10dの断面図である。
以下の説明における用語「厚み」は、信号伝送装置の第一主面、及び/又は、信号伝送装置が実装されている回路基板の主面に対して垂直な方向の長さに相当する。以下の説明における用語「上面(top surface)」、「下面(bottom surface)」、「上方に(above)」、「下に(below)」は、説明目的で使用しており、必ずしも相対的な位置を限定するものではない。これらの用語は、適切な状況下で交換可能であって、本開示の種々の実施形態は、ここで説明又は図示される以外の他の向きでも動作可能である。
まず、信号伝送装置10dの製造工程を説明する。電磁共鳴結合器100と、送信回路チップ15aと、受信回路チップ15bとがリードフレームシート11cの主面に実装される。図1に示すように、リードフレームシート11cは、1個又は複数個のリードフレームを含む。送信回路チップ15a及び受信回路チップ15bは、ワイヤ18によって、電磁共鳴結合器100と電気的に接続される。その後、電磁共鳴結合器100、送信回路チップ15a及び受信回路チップ15bはモールド樹脂13によって封止されて、パッケージ化される。その後、リードフレームシート11cは、切断ライン21に沿って切断され、これにより、図2に示すような第一リードフレーム19e及び第二リードフレーム19fが得られる。なお、リードフレームの主面とは、電磁共鳴結合器100が実装される面であり、信号伝送装置10dが実装される回路基板の主面に平行な面である。
第一リードフレーム19e及び第二リードフレーム19fは、モールド樹脂13を用いた樹脂封止によって反り返ることを抑制するために、モールド時にはリードフレームシート11cにおいて固定されている。また、電磁共鳴結合器100の下に設けられたモールド樹脂13の厚みは、熱抵抗を下げ、かつ、放熱性を高めるために、できるだけ薄くすることが求められる。
第一リードフレーム19e及び第二リードフレーム19fは、吊りリード12により固定された状態で樹脂封止される。送信回路チップ15a、受信回路チップ15b、又は電磁共鳴結合器100のサイズに応じて、第一リードフレーム19e又は第二リードフレーム19fの面積が大きくなる場合がある。あるいは、第一リードフレーム19eと第二リードフレーム19fとは、面積が大きく異なる場合がある。上述した2つの場合においては、樹脂封止によって第一リードフレーム19e及び第二リードフレーム19fが反り返ることを抑制するために、吊りリード12は、固く、かつ、幅を広く設計される。
しかしながら、吊りリード12を固く、かつ、幅を広くした場合、リードフレームシート11cの切断時の切断応力が大きくなるため、モールド樹脂13と吊りリード12との間で界面の剥離及び/又は樹脂クラックが発生する虞がある。その結果、信号伝送装置10dの耐湿性などの信頼性が低下する虞がある。
電磁共鳴結合器100の厚みが大きい場合、モールド樹脂13のうち、リードフレームの上方に位置する部分の厚みが、リードフレームの下に位置する部分の厚みと大きく異なる。そのため、信号伝送装置10dの下にモールド樹脂13が十分に充填されない虞がある。この場合、信号伝送装置10dにおける絶縁性が劣化する虞があり、第一リードフレーム19e又は第二リードフレーム19fの端部ではモールド樹脂13との界面剥離が発生する虞がある。
なお、吊りリード12は、端子と兼用される場合もある。図4は、このような比較例2における樹脂封止前の信号伝送装置を示す上面図である。
図4に示すように、リードフレームシート11dは、GND(グランド)端子となるリードが吊りリード12として兼用される。GND端子となるリードが吊りリード12として兼用される場合、リードフレームシート11dのGND端子の数が増える。そのため、信号伝送装置は小型化が困難となる。信号伝送装置を小型化する場合、吊りリード12と兼用されるGND端子を除いた端子の数が制限される。なお、リードとは、リードフレームシート11dが切断ライン21で切断された後、信号伝送装置を外部の部品及び/又は回路と金属配線などを介して接続するために用いられる部分である。
以上の着眼点に基づいて、本発明者は、本開示の構成を創作するに至った。
本開示の一態様に係る信号伝送装置は、第一リードフレームと、前記第一リードフレームと隙間を空けて配置される第二リードフレームと、前記第一リードフレームと電気的に接続され、伝送信号を送信する一次側半導体チップと、前記第二リードフレームと電気的に接続され、前記伝送信号を受信する二次側半導体チップと、前記一次側半導体チップから送信された前記伝送信号を、前記二次側半導体チップに非接触伝送する絶縁用素子とを備え、前記絶縁用素子は、一次側絶縁用素子と二次側絶縁用素子とを備え、前記一次側絶縁用素子は、前記一次側半導体チップと電気的に接続され、前記一次側半導体チップから送信された前記伝送信号を、前記二次側絶縁用素子に非接触伝送し、前記二次側絶縁用素子は、前記二次側半導体チップと電気的に接続され、前記非接触伝送された前記伝送信号を前記二次側半導体チップに送信し、前記絶縁用素子は、前記第一リードフレーム及び前記第二リードフレームの両方に接合される接合面を有する。
前記絶縁用素子の前記接合面には、前記絶縁用素子と前記第一リードフレームとを接合するための第一パッド部と、前記絶縁用素子と前記第二リードフレームとを接合するための第二パッド部とが含まれてもよい。
前記第一パッド部は、金属により形成され、接着剤によって前記第一リードフレームに接合され、前記第二パッド部は、金属により形成され、接着剤によって前記第二リードフレームに接合されてもよい。
前記一次側半導体チップは、送信回路チップであり、前記二次側半導体チップは、受信回路チップであり、前記絶縁用素子は、電磁共鳴結合器でもよい。
前記絶縁用素子の、前記接合面と交差する第一側面には、前記隙間とつながるように第一の溝が設けられていてもよい。
前記一次側絶縁用素子及び前記二次側絶縁用素子は、前記接合面と交差する方向において対向するように配置され、前記一次側絶縁用素子及び前記二次側絶縁用素子は、前記第一の溝に沿って屈曲していてもよい。
前記絶縁用素子の、前記第一側面と反対側の第二側面には、前記隙間とつながるように第二の溝が設けられ、前記一次側絶縁用素子及び前記二次側絶縁用素子は、前記第一の溝及び前記第二の溝に沿って屈曲していてもよい。
前記第一の溝及び前記第二の溝の少なくとも一方の断面形状は、U字状又は円弧状でもよい。
前記一次側半導体チップは、前記第一リードフレームに接合され、前記二次側半導体チップは、前記第二リードフレームに接合されてもよい。
前記一次側半導体チップは、前記第一リードフレームに接合され、前記二次側半導体チップは、前記絶縁用素子の前記接合面と反対側の面に接合されてもよい。
前記一次側半導体チップは、前記絶縁用素子の前記接合面と反対側の面に接合され、前記二次側半導体チップは、前記第二リードフレームに接合されてもよい。
信号伝送装置は、さらに、モールド樹脂を備え、前記一次側半導体チップ、前記二次側半導体チップ及び前記絶縁用素子は、前記モールド樹脂によって封止されていてもよい。
以下、実施の形態について、図面を参照しながら具体的に説明する。
なお、以下で説明する実施の形態は、いずれも包括的又は具体的な例を示すものである。以下の実施の形態で示される数値、形状、材料、構成要素、構成要素の位置及び接続形態、ステップ、ステップの順序などは、一例であり、本開示を限定する主旨ではない。以下の実施の形態における構成要素のうち、最上位概念を示す独立請求項に記載されていない構成要素については、任意の構成要素として説明される。なお、各図は模式図であり、必ずしも厳密に図示されたものではない。各図において、実質的に同一の構成に対しては同一の符号を付しており、重複する説明は省略または簡略化される場合がある。
(実施の形態1)
以下、図5〜図7Bを用いて実施の形態1を説明する。
以下、図5〜図7Bを用いて実施の形態1を説明する。
図5は、実施の形態1に係る信号伝送装置10のシステム構成を示すブロック図である。
図5に示すように、信号伝送装置10は、送信回路チップ15aと、受信回路チップ15bと、電磁共鳴結合器100とを備える。
信号伝送装置10は、リードフレームを用いた樹脂パッケージ型の半導体装置である。信号伝送装置10は、絶縁デバイスを用いて、絶縁を確保しながら、信号を非接触伝送する。
電磁共鳴結合器100は、送信共鳴器105と受信共鳴器108とを備える。電磁共鳴結合器100は、本開示における「信号絶縁器」の一例である。信号絶縁器は、絶縁用素子と呼ばれる場合がある。送信共鳴器105は、本開示における「送信部」の一例であり、受信共鳴器108は、本開示における「受信部」の一例である。送信部は、一次側絶縁用素子と呼ばれる場合があり、受信部は、二次側絶縁用素子と呼ばれる場合がある。
電磁共鳴結合器100は、送信共鳴器105と受信共鳴器108との間で生じる、LC共振に基づく共鳴現象を利用し、送信側と受信側との絶縁を確保した状態で、電力及び信号を伝送することができる。
送信回路チップ15aは、本開示における「一次側半導体チップ」の一例である。送信回路チップ15aは、電源26から供給される電力、及び、信号源25から供給される入力信号を取得する。送信回路チップ15aは、変調回路を含み、変調回路は、高周波を入力信号に応じて変調して伝送信号を生成し、これを電磁共鳴結合器100の送信共鳴器105に送信する。高周波の周波数は、入力信号の周波数よりも高い。送信回路チップ15aは、例えば、送信回路を含む半導体チップである。なお、送信回路チップ15aは、高周波を生成する高周波発生器を含んでもよいし、外部から高周波を取得してもよい。
本開示における高周波の周波数帯は、例えば、マイクロ波帯(ミリ波帯を含む)である。高周波の周波数は、例えば、2.4GHz以上5.8GHz以下であるが、特にこれに限定されない。電磁共鳴結合器100は、トランスを用いた磁気結合型アイソレータに比べて非常に高い周波数の高周波を伝送できる。
送信共鳴器105は、送信回路チップ15aから伝送信号を受信し、これを受信共鳴器108に非接触伝送する。受信共鳴器108は、送信共鳴器105から伝送信号を受信し、これを受信回路チップ15bに送信する。
受信回路チップ15bは、本開示における「二次側半導体チップ」の一例である。受信回路チップ15bは、整流回路を含み、整流回路は、電磁共鳴結合器100の受信共鳴器108が受信した伝送信号を整流し、入力信号に対応する出力信号を生成する。受信回路チップ15bは、例えば、受信回路を含む半導体チップである。
図6Aは、信号伝送装置10の斜視図である。図6Bは、信号伝送装置10の内部構成を示す斜視図である。図7Aは、図6Aの破線VIIA−VIIAに沿って切断された信号伝送装置10の断面図である。図7Bは、樹脂封止前の信号伝送装置10を示す上面図である。なお、図7Bは、断面を示す図ではないが、図を分かり易くするためにリードフレームシート11にハッチングを入れて記載している。
図6A〜図7Bに示すように、信号伝送装置10は、第一リードフレーム19aと、第二リードフレーム19bとを備える。信号伝送装置10は、送信回路チップ15aと、受信回路チップ15bと、接着剤16と、電磁共鳴結合器100と接着剤17と、ワイヤ18と、モールド樹脂13とを備える。
リードフレームシート11は、図7Bに示すように電磁共鳴結合器100、送信回路チップ15a及び受信回路チップ15bが実装された後、モールド金型に入れられ、樹脂封止される。その後、樹脂封止されたリードフレームシート11は、切断ライン21に沿って切断される。そして、リードが曲げられることで、信号伝送装置10が得られる。なお、リードフレームシート11は、板状の金属である。
第一リードフレーム19aは、送信回路チップ15aが電気的に接続されるリードフレームである。第一リードフレーム19aの主面には、送信回路チップ15aが接着剤16によって接合される。
第二リードフレーム19bは、受信回路チップ15bが電気的に接続されるリードフレームである。第二リードフレーム19bの主面には、受信回路チップ15bが接着剤16によって接合される。
第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bは、接触せずに離れて配置される。
電磁共鳴結合器100を介して、伝送信号が、送信回路チップ15aから受信回路チップ15bに非接触伝送される。電磁共鳴結合器100は、主面を有し、接着剤17によって、当該主面と第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bの両方の主面に接合される。言い換えると、電磁共鳴結合器100の主面(すなわち第一主面)は、電磁共鳴結合器100が第一リードフレーム19aに接合される第一接合領域と、電磁共鳴結合器100が第二リードフレーム19bに接合される第二接合領域とを含む。第一主面が平面である場合、電磁共鳴結合器100は、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bと、同一平面内で接合される。
電磁共鳴結合器100は、ワイヤ18によって送信回路チップ15a及び受信回路チップ15bのそれぞれと電気的に接続される。送信回路チップ15aは、ワイヤ18によって第一リードフレーム19aのリードに電気的に接続されている。受信回路チップ15bは、ワイヤ18によって第二リードフレーム19bのリードに電気的に接続されている。
接着剤17は、電磁共鳴結合器100の下面を第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bに接合するために用いられる。接着剤17は、特に限定されないが、例えば、エポキシ系接着剤又はAgペーストなどである。
送信回路チップ15aは、伝送信号を電磁共鳴結合器100に送信する。送信回路チップ15aは、第一リードフレーム19aの主面上に接着剤16によって接合される。送信回路チップ15aは、ワイヤ18によって電磁共鳴結合器100と電気的に接続される。
受信回路チップ15bは、電磁共鳴結合器100から伝送信号を受信する。受信回路チップ15bは、第二リードフレーム19bの主面上に接着剤16によって接合される。受信回路チップ15bは、ワイヤ18によって電磁共鳴結合器100と電気的に接続される。
接着剤16は、送信回路チップ15aを第一リードフレーム19aに接合するために用いられる。接着剤16は、受信回路チップ15bを第二リードフレーム19bに接合するために用いられる。接着剤16は、特に限定されないが、例えば、Agペーストあるいははんだなどである。
モールド樹脂13は、送信回路チップ15a、受信回路チップ15b、及び電磁共鳴結合器100を封止するために用いられる。モールド樹脂13は、送信回路チップ15a、受信回路チップ15b、及び電磁共鳴結合器100を、外部からの衝撃から保護し、かつ/又は、硫化水素や二酸化硫黄などの気体から保護する。モールド樹脂13は、特に限定されないが、例えば、エポキシ樹脂である。
ワイヤ18は、送信回路チップ15a、受信回路チップ15bを、電磁共鳴結合器100、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bに電気的に接続させるために用いられる。ワイヤ18は、特に限定されないが、例えば、金により形成される。
以上の構成によれば、電磁共鳴結合器100は、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bと接合される。つまり、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bは電磁共鳴結合器100によって支持される。これにより、樹脂封止後のパッケージ応力による第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bの反りを抑制することができる。
電磁共鳴結合器100によって、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bの反りが抑制されるため、吊りリード12をなくす、あるいは、その数を減らすことができる。これにより、信号伝送装置10がより小型化されうる。また、吊りリード12を切断する際の切断応力によるモールド樹脂13と吊りリード12との間の界面剥離、あるいは樹脂クラックが抑制されうる。そのため、信号伝送装置10は、耐湿性などの信頼性が向上する。
次に、図8A〜図9を用いて、実施の形態1の変形例を説明する。
図8Aは、実施の形態1の変形例1における信号伝送装置10aの断面図である。図8Aに示す断面は、図7Aに対応する断面である。図8Bは、実施の形態1の変形例1における樹脂封止前の信号伝送装置10aを示す上面図である。なお、図8Bは、断面を示す図ではないが、図を分かり易くするためにリードフレームシート11aにハッチングを入れて記載している。
図8A及び図8Bに示すように、信号伝送装置10aは、第一リードフレーム19cと、第二リードフレーム19dと、送信回路チップ15aと、受信回路チップ15bと、電磁共鳴結合器100とを備える。
電磁共鳴結合器100の下面は、第一リードフレーム19c及び第二リードフレーム19dの両方に接着剤17によって接合される。電磁共鳴結合器100の上面には、受信回路チップ15bが接合される。電磁共鳴結合器100は、送信回路チップ15a及び受信回路チップ15bにワイヤ18で電気的に接続される。
第一リードフレーム19cと送信回路チップ15aのリードとは、ワイヤ18によって接続される。第二リードフレーム19dと受信回路チップ15bのリードとは、ワイヤ18によって接続される。第一リードフレーム19cには、送信回路チップ15aが接着剤16により接合される。
本変形例1によれば、第二リードフレーム19dの面積を減らすことが可能となる。そのため、信号伝送装置10aは、より小型化されうる。なお、電磁共鳴結合器100には、受信回路チップ15bではなく、送信回路チップ15aが接合されてもよいし、送信回路チップ15a及び受信回路チップ15bの両方が接合されてもよい。これにより、第一リードフレーム19c又は第二リードフレーム19dの少なくともいずれか一方の面積を減らすことが可能となる。そのため、信号伝送装置10aを回路基板などに設置する際に必要な面積は低減される。
図9は、実施の形態1の変形例2における信号伝送装置10bの断面図である。図9に示す断面は、図7Aに対応する断面である。図9に示すように、実施の形態1の変形例2における信号伝送装置10bの電磁共鳴結合器100は、第一パッド24a及び第二パッド24bを備える。電磁共鳴結合器100の下面は、レジスト層117で覆われている(後述の図12参照)。第一パッド24a及び第二パッド24bは、レジスト層117の開口に形成され、電磁共鳴結合器100の接合面として利用される。
レジスト層117は、電磁共鳴結合器100を保護し、例えば、ポリイミドなどの非導電性の材料で形成される。
第一パッド24a及び第二パッド24bは、それぞれ、電磁共鳴結合器100と第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bとを接合しやすくする。第一パッド24a及び第二パッド24bは、金属で形成されればよく、特定の材料に限定されない。
電磁共鳴結合器100と第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bとは金属間接合となる。そのため、電磁共鳴結合器100と第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bとの接合は、送信回路チップ15aと第一リードフレーム19aとの接合、及び/又は、受信回路チップ15bと第二リードフレーム19bとの接合と同じ工程で行われうる。これにより、接合工程が簡単化される。なお、これらの接合は、例えば、はんだ又はAgペーストを用いて行われうる。
以上のように、本実施の形態において、信号伝送装置10は、第一リードフレーム19aと、第一リードフレーム19aと隙間を空けて配置される第二リードフレーム19bとを備える。信号伝送装置10は、第一リードフレーム19aと電気的に接続され、伝送信号を送信する送信回路チップ15aと、第二リードフレーム19bと電気的に接続され、伝送信号を受信する受信回路チップ15bとを備える。信号伝送装置10は、送信回路チップ15aから送信された伝送信号を、受信回路チップ15bに非接触伝送する電磁共鳴結合器100を備える。電磁共鳴結合器100は、送信共鳴器105と受信共鳴器108とを備える。送信共鳴器105は、送信回路チップ15aと電気的に接続され、送信回路チップ15aから送信された伝送信号を、受信共鳴器108に非接触伝送する。受信共鳴器108は、受信回路チップ15bと電気的に接続され、非接触伝送された伝送信号を受信回路チップ15bに送信する。電磁共鳴結合器100は、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bの両方に接合される主面を有する。
これにより、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bは電磁共鳴結合器100によって支持される。そのため、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bは、吊りリード12がなくても、樹脂封止前後の応力による第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bの反りが抑制される。そのため、信号伝送装置10は、吊りリード12が不要となり、より小型化される。信号伝送装置10は、吊りリード12が切断ライン21に沿って切断される際の、切断応力によるモールド樹脂13と吊りリード12との間の界面剥離、あるいは樹脂クラックがなくなるため、耐湿性などの信頼性の劣化が抑制される。
電磁共鳴結合器100の接合面には、電磁共鳴結合器100と第一リードフレーム19aとを接合するための第一パッド24aと、電磁共鳴結合器100と第二リードフレーム19bとを接合するための第二パッド24bとが含まれてもよい。
これにより、電磁共鳴結合器100は、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bと接合しやすくなる。
第一パッド24aは、金属により形成され、接着剤17によって第一リードフレーム19aに接合されてもよい。第二パッド24bは、金属により形成され、接着剤17によって第二リードフレーム19bに接合されてもよい。
送信回路チップ15aは、第一リードフレーム19aに接合されてもよく、受信回路チップ15bは、第二リードフレーム19bに接合されてもよい。これにより、信号伝送装置10の厚みをより薄くできるため、信号伝送装置10はより小型化される。
送信回路チップ15aは、第一リードフレーム19cに接合されてもよく、受信回路チップ15bは、電磁共鳴結合器100の上面に接合されてもよい。これにより、第二リードフレーム19dの面積が低減され、信号伝送装置10を回路基板などに設置する際に必要な面積が低減される。
送信回路チップ15aは、電磁共鳴結合器100の上面に接合されてもよく、受信回路チップ15bは、第二リードフレーム19dに接合されてもよい。これにより、第一リードフレーム19cの面積が低減され、信号伝送装置10を回路基板などに設置する際に必要な面積が低減される。
信号伝送装置10は、さらに、モールド樹脂13を備えてもよい。この場合、送信回路チップ15a、受信回路チップ15b及び電磁共鳴結合器100は、モールド樹脂13によって封止されてもよい。送信回路チップ15a、受信回路チップ15b及び電磁共鳴結合器100は、モールド樹脂13によって保護されるので、故障しにくくなる。その結果、信号伝送装置10の信頼性が向上する。
(実施の形態2)
以下、図10A〜図14を用いて、実施の形態2を説明する。なお、上述の実施の形態1と重複する説明は、適宜、省略される。
以下、図10A〜図14を用いて、実施の形態2を説明する。なお、上述の実施の形態1と重複する説明は、適宜、省略される。
図10Aは、実施の形態2における信号伝送装置10cの内部構成を示す斜視図である。図10Bは、実施の形態2における樹脂封止前の信号伝送装置10cを示す上面図である。なお、図10Bに示すリードフレームシート11は、断面を示す図ではないが、図を分かり易くするためにハッチングを入れて記載している。
図10A及び図10Bに示すように、実施の形態2における信号伝送装置10cは、第一リードフレーム19aと、第二リードフレーム19bと、送信回路チップ15aと、受信回路チップ15bと、電磁共鳴結合器100aとを備える。信号伝送装置10cは、モールド樹脂13によって封止されることによってパッケージ化される。第一リードフレーム19aと第二リードフレーム19bとは、隙間20を介して離れて配置される。
電磁共鳴結合器100aは、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19b、並びに、それらの間に設けられた隙間20の上に配置され、接着剤17によって第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bに接合される。電磁共鳴結合器100aは、送信回路チップ15a及び受信回路チップ15bのそれぞれと、ワイヤ18によって電気的に接続される。
送信回路チップ15aは、接着剤16によって第一リードフレーム19aに接合される。送信回路チップ15aは、第一リードフレーム19aのリードとワイヤ18によって電気的に接続される。
受信回路チップ15bは、接着剤16によって第二リードフレーム19bに接合される。受信回路チップ15bは、第二リードフレーム19bのリードとワイヤ18によって電気的に接続される。
実施の形態2において、電磁共鳴結合器100aは、電磁共鳴結合器100aの第一側面に第一の溝22aを有し、第一側面とは反対側の第二側面に第二の溝22bを有する。第一の溝22a及び第二の溝22bは、電磁共鳴結合器100aを貫通して隙間20とつながるように隙間20の上方に位置する。
この構成によれば、第一リードフレーム19aと第二リードフレーム19bとの間の隙間20の上方に位置する第一の溝22a及び第二の溝22bを介して、リードフレームの下までモールド樹脂13を充填できる。これにより、信号伝送装置10cの絶縁性の劣化が抑制され、第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bの端部におけるモールド樹脂13の剥離が抑制される。
なお、電磁共鳴結合器100aの形状は一例である。第一の溝22aあるいは第二の溝22bのように形成される溝は、一つでもよいし、複数形成されてもよい。あるいは、溝の代わりに、例えば、電磁共鳴結合器100aの上面から下面までを貫通する貫通孔(図示せず)が設けられてもよい。第一の溝22a、第二の溝22b、及び貫通孔(図示せず)は、本開示における「切り欠き」の一例である。切り欠きは、リードフレームの下までモールド樹脂13の充填不足が抑制されるように形成されていればよく、その形状は限定されない。
例えば、モールド樹脂13は、電磁共鳴結合器100aの上面を覆う上側領域と、電磁共鳴結合器100aの下面を覆う下側領域と、切り欠きの中を通って上側領域及び下側領域をつなぐ領域とを含む。下側領域は、例えば、第一リードフレーム19a及び前記第二リードフレーム19bの間の隙間20を埋めている。
以下、実施の形態2の変形例における樹脂封止前の信号伝送装置として、電磁共鳴結合器100aと形状が異なる電磁共鳴結合器を備える信号伝送装置について説明する。図11は、実施の形態2の変形例における樹脂封止前の信号伝送装置を示す上面図である。なお、図11は、断面を示す図ではないが、図を分かり易くするためにリードフレームシート11にハッチングを入れて記載している。
図11に示すように、第一の溝22a及び第二の溝22bは、部分的に曲面状を有し、角を有していない。図11に示されるように、電磁共鳴結合器100bの主面に平行な面で切断された第一の溝22a及び第二の溝22bの断面形状は、U字状である。あるいは、第一の溝22a及び第二の溝22bの断面形状は円弧状であってもよい。これにより、モールド樹脂13の充填不足が効果的に抑制され、モールド樹脂13の充填不足による剥離などの信頼性劣化が効果的に抑制される。
以下、図12〜図14を用いて、電磁共鳴結合器100aを説明する。
図12は、実施の形態2における電磁共鳴結合器100aを示す分解斜視図である。図13は、図12の破線XIII−XIIIに沿って切断された電磁共鳴結合器100aの断面図である。なお、図12に示す送信配線104、送信共鳴器105、受信配線107及び受信共鳴器108は、断面を示す図ではないが、図を分かり易くするためにハッチングを入れて記載している。
図12に示すように、電磁共鳴結合器100aは、送信基板101と、送信基板101の上に設置された受信基板102と、受信基板102の上に設置されたキャップ基板103とを備える。送信基板101の下には、裏面グランド112が配置される。裏面グランド112の下には、絶縁層118が配置される。絶縁層118の下には、レジスト層117と第一パッド24a及び第二パッド24bとが配置される。レジスト層117の開口には、第一パッド24a及び第二パッド24bが配置される。キャップ基板103の上には、キャップグランド114が配置される。キャップグランド114の上にはレジスト層117が配置される。
ここで、第一パッド24a及び第二パッド24bの形成方法の一具体例を説明する。まず、裏面グランド112の下に絶縁層118を形成する。次に、絶縁層118の下に金属層を形成する。形成された金属層をエッチングすることで、第一パッド24a及び第二パッド24bとなる金属層を形成する。さらに、レジスト層117を当該金属層及び絶縁層118の下面に塗布し、その後にレジスト層117をエッチングする。エッチングにより、第一パッド24a及び第二パッド24bとなる金属層をレジスト層117から露出させるように開口を形成する。こうして、絶縁層118の下に、レジスト層117と第一パッド24a及び第二パッド24bとを形成する。なお、図12と図9とで第一パッド24a及び第二パッド24bの形状が異なるが、特にこれらの形状に限定されるものではない。第一パッド24a及び第二パッド24bの下面は、レジスト層117の下面と面一になるように形成されてもよいし、レジスト層117の下面よりも下方に位置するように形成されてもよい。いずれの場合であっても、第一パッド24a及び第二パッド24bの下面が、電磁共鳴結合器100aの下面(すなわち、第一主面)を構成する。
送信基板101は、送信配線104と、送信共鳴器105とを備え、送信共鳴器105にはスリット106が設けられている。送信基板101の上面には、送信配線104と送信共鳴器105とが配置される。送信配線104の一端は、送信共鳴器105と電気的に接続されている。送信配線104の一端と送信共鳴器105との接続部は、送信共鳴器105の一端から送信共鳴器105の配線長の4分の1の長さに相当する位置に設けられる。送信配線104の他端は、ビア140aを通じて入力端子110と接続される。入力端子110は、送信回路チップ15aと電気的に接続される。送信配線104及び送信共鳴器105は、金属で形成されればよく、特定の材料に限定されないが、例えば、金で形成される。
送信基板101は、第一の溝22a及び第二の溝22bを備える。送信共鳴器105の配線は、第一の溝22a及び第二の溝22bの少なくともいずれか一方に沿うように配置される。
送信基板101は、送信回路チップ15aから送信された伝送信号を、受信基板102に非接触伝送する。非接触伝送された伝送信号は、受信基板102から受信回路チップ15bに入力される。
受信基板102は、受信配線107と、受信共鳴器108とを備え、受信共鳴器108にはスリット109が設けられている。受信基板102の上面には、受信配線107と、受信共鳴器108とが配置される。受信配線107の一端は、受信共鳴器108と電気的に接続されている。受信配線107の一端と受信共鳴器108との接続部は、受信共鳴器108の一端から受信共鳴器108の配線の長さの4分の1の長さに相当する位置に設けられる。受信配線107の他端は、ビア140bを通じて出力端子111と接続される。出力端子111は、受信回路チップ15bと電気的に接続される。受信配線107及び受信共鳴器108は、金属で形成されればよく、特定の材料に限定されないが、例えば、金で形成される。
受信基板102は、第一の溝22a及び第二の溝22bを備える。受信共鳴器108の配線は、第一の溝22a及び第二の溝22bの少なくともいずれか一方に沿うように配置される。
キャップ基板103は、受信配線107及び受信共鳴器108を保護する。キャップ基板103の上面には、当該上面を覆うように、キャップグランド114が形成される。キャップ基板103の上面の一部は、キャップグランド114が形成されておらず、当該部分に入力端子110と、出力端子111と、送信側グランド端子115とが形成される。キャップ基板103は、第一の溝22a及び第二の溝22bを有する。
送信基板101、受信基板102、及びキャップ基板103の材料は、特に限定されないが、例えば、誘電体でもよい。送信基板101、受信基板102、及びキャップ基板103の材料は、例えば、サファイアでもよい。送信基板101、受信基板102、及びキャップ基板103の材料は、例えば、シリコン半導体でもよい。
裏面グランド112は、送信基板101で伝送される伝送信号の基準電位を表す配線である。裏面グランド112は、ビア140cを通じてキャップ基板103の送信側グランド端子115と接続される。裏面グランド112は、特に限定されないが、例えば、金属で形成される。裏面グランド112は、例えば、銅により形成される。ビア140a、ビア140b及びビア140cは、例えば、銅によって形成されるが、他の金属によって形成されてもよく、特に限定されない。
キャップグランド114は、受信基板102で伝送される伝送信号の基準電位を表す配線である。キャップグランド114の上面は、レジスト層117で覆われているが、一部が覆われていない。キャップグランド114の上面において、レジスト層117で覆われていない部分は、受信側グランド端子116として用いられる。キャップグランド114は、金属で形成されればよく、特に限定されないが、例えば、銅で形成される。
レジスト層117は、電磁共鳴結合器100aの上側及び下側を保護する非導電性の材料である。レジスト層117は、特に限定されないが、例えば、ポリイミドである。
第一パッド24a及び第二パッド24bは、電磁共鳴結合器100aと第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bとをより簡単に接合させやすくする。第一パッド24a及び第二パッド24bは、例えば、金属で形成されればよく、特定の材料に限定されない。
絶縁層118は、電磁共鳴結合器100aと第一リードフレーム19a及び第二リードフレーム19bとを絶縁させるために用いられる非導電性の材料である。絶縁層118の材料は、例えば、送信基板101、受信基板102、及び/又は、キャップ基板103と同様の材料が用いられてもよく、特に限定されない。絶縁層118の材料は、例えば、誘電体でもよいし、サファイアでもよいし、又はシリコン半導体でもよく、特に限定されない。
次に、送信共鳴器105及び受信共鳴器108について説明する。送信共鳴器105の配線形状と、受信共鳴器108の配線形状とは、同じ形状であり、同じ大きさである。送信共鳴器105及び受信共鳴器108は、送信基板101の主面に垂直な方向から見た場合に、送信共鳴器105の輪郭と受信共鳴器108の輪郭とが、送信配線104、受信配線107、スリット106及びスリット109を除いて一致するように、送信基板101及び受信基板102は配置される。輪郭が一致するとは、輪郭が完全に一致することに限定されず、製造上の配置の誤差等によるズレを無視した場合に一致することをも包含する。なお、送信基板101の主面とは、送信基板101上の送信共鳴器105及び送信配線104が設けられる面である。
送信共鳴器105と受信共鳴器108とは、送信基板101の主面に垂直な方向から見た場合に、送信共鳴器105の形状及び受信共鳴器108の形状が点対称の関係となるように配置される。
次に、送信共鳴器105の形状について説明する。なお、受信共鳴器108の形状及び大きさは、送信共鳴器105と同じであるため、説明を省略する。
送信共鳴器105は、スリット106において部分的に開放された開ループ形状の配線を有する。この配線は、当該配線が囲む領域の内側に向かって折り込まれた2つの凹部を有する。2つの凹部の一方には、スリット106が設けられている。
送信共鳴器105は、スリット106を除いて、送信配線104を通る直線に対して線対称な形状を有する。送信配線104は、スリット106を通る直線に対して線対称な形状を有する。送信共鳴器105は、スリット106を除いて、送信共鳴器105が囲む領域の中心点に対して点対称な形状を有する。
送信共鳴器105及び受信共鳴器108の配線のそれぞれは、第一の溝22a及び第二の溝22bの少なくともいずれか一方に沿うように延びる。図12において、送信共鳴器105及び受信共鳴器108の配線それぞれは、第一の溝22a及び第二の溝22bに沿うように内側に折り込まれた2つの凹部を有する。これにより、電磁共鳴結合器100aの第一の溝22a及び第二の溝22bを通して、リードフレームの下までモールド樹脂13の充填が行われ、かつ、送信共鳴器105と受信共鳴器108とを電磁共鳴結合させることが可能となる。
送信基板101の主面と垂直な方向における、送信共鳴器105と、受信共鳴器108との距離は、電磁共鳴結合器100aによって伝送される伝送信号の波長程度以下であってもよい。これにより、送信共鳴器105と受信共鳴器108とが強力に電磁共鳴結合する。例えば、送信基板101の主面に垂直な方向における送信共鳴器105と受信共鳴器108との距離が、伝送される伝送信号の波長の2分の1以下となるように設計されてもよい。具体的には、受信基板102の厚みが、伝送される伝送信号の波長の2分の1以下となるように設計される。
ここで、伝送信号の波長とは信号が伝送される配線材料による波長の短縮率、及び送信共鳴器105と受信共鳴器108との間に介在する誘電体による波長短縮率を考慮した波長である。実施の形態2では、例えば、配線の材料である金、及び基板の材料であるサファイアによって上述した波長短縮率が定められる。
以下、図14を用いて、実施の形態2における電磁共鳴結合器100aの送信共鳴器105についてさらに詳細に説明する。なお、送信共鳴器105の配線形状と、受信共鳴器108の配線形状とは、同じ形状であり、かつ、同じ大きさであるため、受信共鳴器108の説明は省略し、送信共鳴器105に関して詳細に説明する。
共鳴器がLC共振器である場合、その自己共振周波数は、典型的に、その共鳴器の自己インダクタンス(L)、自己キャパシタンス(C)、によって決定される。つまり、共鳴器のインダクタンス成分及びキャパシタンス成分が大きくなると、自己共振周波数は低くなる。
オープンリング型電磁共鳴結合器の場合、共鳴器の配線により自己インダクタンスが決定され、共鳴器の配線に設けられた切断されたスリットによって自己キャパシタンスが決定される。
オープンリング型電磁共鳴結合器の場合、重ね合わせられた共鳴器間の電磁界を集中させることで、共鳴器のインダクタンス成分又はキャパシタンス成分を大きくすることができる。具体的には、例えば、スリットの電磁界を強めると、共鳴器のキャパシタンス成分を大きくすることができる。
電磁共鳴結合器100aでは、スリット106の周辺に配線を密集させることで、スリット106の周辺の電磁界を強め、送信共鳴器105のキャパシタンス成分を大きくしている。これにより、電磁共鳴結合器100aの動作周波数を下げている。
電磁共鳴結合器100aにおいて、送信共鳴器105の配線は、スリット106付近で折り込まれており、これによって、スリット106周辺の配線の密度が高くなっている。これにより、スリット106の周辺の電磁界が強まり、送信共鳴器105のキャパシタンス成分が大きくなる。その結果、電磁共鳴結合器100aの動作周波数が低減されうる。
図14は、実施の形態2における送信基板の上面図である。第1配線部120bは、送信共鳴器105の配線のうち、スリット106を挟んで互いに対向する2つ端部を含む部分である。第2配線部120dは、送信共鳴器105の配線のうち、2つの端部が互いに対向する方向と垂直な方向において第1配線部120bと対向する部分である。第3配線部120aは、送信共鳴器105の配線のうち、第1配線部120bの一端から、第1配線部120bとは異なる方向に延びる部分である。第4配線部120cは、送信共鳴器105の配線のうち、第1配線部120bの他端から、第1配線部120bとは異なる方向に延びる部分である。図14及び図12によれば、第1配線部120bは、送信共鳴器105の配線のうち、第二の溝22bの底部に沿って延びる部分に相当し、第2配線部120dは、送信共鳴器105の配線のうち、第一の溝22aの底部に沿って延びる部分に相当する。第3配線部120aは、送信共鳴器105の配線のうち、第二の溝22bの一方の側壁に沿って延びる部分に相当し、第4配線部120cは、送信共鳴器105の配線のうち、第二の溝22bの他の側壁に沿って延びる部分に相当する。このとき、第1配線部120bと第2配線部120dとの間の間隔d1、並びに、第3配線部120aと第4配線部120cとの間の間隔d3は、次のように設計されうる。
配線を伝搬する高周波の電磁界は、配線の幅よりも広がって伝搬する。電磁界の広がりは、配線の閉じ込め度によって決定され、おおよそ配線の線幅の4倍まで広がる。そのため、電磁界を強めたい場合、間隔d1及び/又は間隔d3は配線の線幅のおおよそ4倍以内となるように設計されうる。説明は省略されるが、第2配線部120dの両端からそれぞれ延びる一対の配線部の間の間隔d2についても、同様である。
このように、スリット106の周辺において、配線を密集させ、電磁界を集中させることは、送信共鳴器105の自己キャパシタンス成分が大きくなることと等価である。送信共鳴器105を形成する配線同士を近接させ、電磁界を集中させることは、送信共鳴器105の自己インダクタンス成分が大きくなることと等価である。つまり、動作周波数は、間隔d1〜d3、及び配線の線幅で決まる。よって、送信共鳴器105に凹部を設けることで、電磁共鳴結合器100aの動作周波数を下げることができる。また、送信共鳴器105の配線が、内側に折り込まれた2つの凹部を有することにより、単位面積当たりに収容される配線の長さをより長くすることができる。そのため、電磁共鳴結合器100aの動作周波数をより下げることが可能である。
2つの凹部のいずれか一方は、スリット106を備える。スリット106は、送信共鳴器105を形成する配線で囲まれた領域の中心付近に設けられる。送信共鳴器105は、スリット106によって切断されることで対峙する2つの配線端に、送信共鳴器105を形成する他の部分の配線を近接させた形状である。そのため、送信共鳴器105は、キャパシタンス成分が大きくなり、かつ、インダクタンス成分が大きくなる。
なお、送信共鳴器105の配線のうち、凹部を構成する部分を除いた部分の輪郭は、特に限定されず、例えば、ブラケット形状でもよいし、アングルブラケット(山括弧)形状でもよいし、丸括弧形状でもよい。
送信共鳴器105の配線のうち凹部を構成する部分の輪郭は、図12及び14に示されるようなブラケット形状には限定されず、例えば、アングルブラケット(山括弧)形状でもよいし、丸括弧形状でもよい。
送信共鳴器105の凹部を構成する配線は、第一の溝22a及び第二の溝22bに沿うように屈曲していてもよい。電磁共鳴結合を強めたい場合、上述した寸法になるように共鳴器を配線し、第一の溝22a及び第二の溝22bが当該凹部に沿うように形成されてもよい。これにより、電磁共鳴結合器100の第一の溝22a及び第二の溝22bを通して、リードフレームの下までモールド樹脂13が十分に充填されやすくなる。送信共鳴器105の配線は第一の溝22a及び第二の溝22bに沿って配置されるので、電磁共鳴結合器100aの形状にあわせて送信共鳴器105に2つの凹部が設けられる。なお、送信共鳴器105は、少なくとも1つの凹部を有していればよく、2つの凹部が設けられることは必須ではない。
以上、一つ又は複数の態様に係る信号伝送装置について、実施の形態に基づいて説明したが、本開示は、この実施の形態に限定されるものではない。本開示の趣旨を逸脱しない限り、当業者が思いつく各種変形を本実施の形態に施したもの、あるいは異なる実施の形態における構成要素を組み合わせて構築される形態も、一つ又は複数の態様の範囲内に含まれてもよい。
(その他の実施の形態)
以上のように、本開示における技術の例示として、実施の形態1及び実施の形態2を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。上述した実施の形態1及び実施の形態2で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。
以上のように、本開示における技術の例示として、実施の形態1及び実施の形態2を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。上述した実施の形態1及び実施の形態2で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。
そこで、以下、その他の実施の形態を例示する。
実施の形態2において、電磁共鳴結合器100aは、送信回路チップ15a又は受信回路チップ15bの基準電位を設定するために、裏面グランド112又はキャップグランド114を備えた。しかしながら、送信基板101は、送信回路チップ15aの基準電位を設定するために、コプレーナグランド(図示せず)を備えてもよい。例えば、コプレーナグランド(図示せず)は、送信基板101上であって、かつ、送信配線104、並びに、送信共鳴器105及びこれによって囲まれる領域から所定の距離だけ離れた位置に、設けられてもよい。送信基板101は、マイクロストリップ線路構造、又はグランデッドコプレーナ線路構造を有してもよい。さらに、送信配線104及び送信共鳴器105の周辺に形成されたコプレーナグランドと裏面グランド112とは、ビアによって電気的に接続されてもよい。これにより、電磁共鳴結合器における伝送信号の伝送効率が向上する。
同様に、受信基板102は、コプレーナグランド(図示せず)を備えてもよい。例えば、コプレーナグランド(図示せず)は、受信基板102上であって、かつ、受信配線107、並びに、受信共鳴器108及びこれによって囲まれる領域から所定の距離だけ離れた位置に、設けられてもよい。さらに、受信配線107及び受信共鳴器108の周辺に形成されたコプレーナグランドとキャップグランド114とは、ビアによって電気的に接続されてもよい。これにより、電磁共鳴結合器における伝送信号の伝送効率が向上する。受信基板102は、グランデッドコプレーナ線路構造でもよい。
実施の形態2において、送信共鳴器105は、線対称な形状を有するが、特にこれに限定されない。送信共鳴器105が線対称な形状を有さない場合でも、同様の機能を有する場合もある。
本開示は、パワーデバイスなどの駆動信号を伝送する信号伝送装置に利用可能である。
10、10a、10b、10c、10d 信号伝送装置
11、11a、11c、11d リードフレームシート
12 吊りリード
13 モールド樹脂
15a 送信回路チップ
15b 受信回路チップ
16、17 接着剤
18 ワイヤ
19a、19c、19e 第一リードフレーム
19b、19d、19f 第二リードフレーム
20 隙間
21 切断ライン
22a 第一の溝
22b 第二の溝
24a 第一パッド
24b 第二パッド
25 信号源
26 電源
100、100a、100b 電磁共鳴結合器
101 送信基板
102 受信基板
103 キャップ基板
104 送信配線
105 送信共鳴器
106 スリット
107 受信配線
108 受信共鳴器
109 スリット
110 入力端子
111 出力端子
112 裏面グランド
114 キャップグランド
115 送信側グランド端子
116 受信側グランド端子
117 レジスト層
118 絶縁層
120a 第3配線部
120b 第1配線部
120c 第4配線部
120d 第2配線部
140a、140b、140c ビア
d1、d2、d3 間隔
11、11a、11c、11d リードフレームシート
12 吊りリード
13 モールド樹脂
15a 送信回路チップ
15b 受信回路チップ
16、17 接着剤
18 ワイヤ
19a、19c、19e 第一リードフレーム
19b、19d、19f 第二リードフレーム
20 隙間
21 切断ライン
22a 第一の溝
22b 第二の溝
24a 第一パッド
24b 第二パッド
25 信号源
26 電源
100、100a、100b 電磁共鳴結合器
101 送信基板
102 受信基板
103 キャップ基板
104 送信配線
105 送信共鳴器
106 スリット
107 受信配線
108 受信共鳴器
109 スリット
110 入力端子
111 出力端子
112 裏面グランド
114 キャップグランド
115 送信側グランド端子
116 受信側グランド端子
117 レジスト層
118 絶縁層
120a 第3配線部
120b 第1配線部
120c 第4配線部
120d 第2配線部
140a、140b、140c ビア
d1、d2、d3 間隔
Claims (13)
- 第一リードフレームと、
前記第一リードフレームから離間する第二リードフレームと、
前記第一リードフレームに電気的に接続される一次側半導体チップと、
前記第二リードフレームに電気的に接続される二次側半導体チップと、
前記一次側半導体チップに電気的に接続される送信部と、前記二次側半導体チップに電気的に接続される受信部とを含み、前記送信部から前記受信部に信号を絶縁伝送する信号絶縁器とを備え、
前記信号絶縁器は、第一主面を有し、
前記第一主面は、前記第一リードフレーム及び前記第二リードフレームに接合される、
信号伝送装置。 - 前記信号絶縁器は、前記第一主面内に、前記第一リードフレームに接合される第一パッドと、前記第二リードフレームに接合される第二パッドとを含む、
請求項1に記載の信号伝送装置。 - 前記第一パッドは、金属により形成され、接着剤によって前記第一リードフレームに接合され、
前記第二パッドは、金属により形成され、接着剤によって前記第二リードフレームに接合される、
請求項2に記載の信号伝送装置。 - 前記一次側半導体チップは、送信回路を含み、
前記二次側半導体チップは、受信回路を含み、
前記信号絶縁器は、電磁共鳴結合器である、
請求項1から3のいずれか1項に記載の信号伝送装置。 - 前記信号絶縁器は、前記第一主面に対向する第二主面と、前記第一主面及び前記第二主面の間をつなぐ複数の側面とを有し、
前記信号絶縁器は、前記複数の側面の一部によって画定される第一の溝を有し、
前記第一の溝は、前記第二主面から前記第一主面へ延びて、前記第一リードフレーム及び前記第二リードフレームの間の隙間に達する、
請求項1から4のいずれか1項に記載の信号伝送装置。 - 前記送信部及び前記受信部は、前記第一主面と交差する方向において対向し、
前記送信部及び前記受信部は、それぞれ、前記第一の溝の断面形状に沿って屈曲する配線を含む、
請求項5に記載の信号伝送装置。 - 前記信号絶縁器は、さらに、前記複数の側面の他の一部によって画定され、かつ、前記第一の溝と対向する第二の溝を有し、
前記第二の溝は、前記第二主面から前記第一主面へ延びて、前記隙間に達し、
前記送信部及び前記受信部のそれぞれにおいて、前記配線はさらに前記第二の溝の断面形状に沿って屈曲する、
請求項6に記載の信号伝送装置。 - 前記第一の溝及び前記第二の溝の少なくとも一方の前記断面形状は、U字状又は円弧状である、
請求項7に記載の信号伝送装置。 - 前記一次側半導体チップは、前記第一リードフレームに接合され、
前記二次側半導体チップは、前記第二リードフレームに接合される、
請求項1から8のいずれか1項に記載の信号伝送装置。 - 前記一次側半導体チップは、前記第一リードフレームに接合され、
前記二次側半導体チップは、前記信号絶縁器のうち前記第一主面と対向する第二主面に接合される、
請求項1から4のいずれか1項に記載の信号伝送装置。 - 前記一次側半導体チップは、前記信号絶縁器のうち前記第一主面と対向する第二主面に接合され、
前記二次側半導体チップは、前記第二リードフレームに接合される、
請求項1から4のいずれか1項に記載の信号伝送装置。 - 前記一次側半導体チップ、前記二次側半導体チップ及び前記信号絶縁器を封止するモールド樹脂をさらに備える、
請求項1から11のいずれか1項に記載の信号伝送装置。 - 前記一次側半導体チップ、前記二次側半導体チップ及び前記信号絶縁器を覆うモールド樹脂をさらに備え、
前記信号絶縁器は、少なくとも1つの切り欠きを有し、
前記モールド樹脂は、前記信号絶縁器の前記第一主面を覆う第一領域と、前記第一リードフレーム及び前記第二リードフレームの間の隙間に埋め込まれた第二領域と、前記少なくとも1つの切り欠きの中に埋め込まれて、かつ、前記第一領域及び前記第二領域をつなぐ少なくとも1つの第三領域とを含む、
請求項1から4のいずれか1項に記載の信号伝送装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2016097468 | 2016-05-13 | ||
| JP2016097468 | 2016-05-13 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017208806A true JP2017208806A (ja) | 2017-11-24 |
Family
ID=60297143
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2017069150A Pending JP2017208806A (ja) | 2016-05-13 | 2017-03-30 | 信号伝送装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US10297538B2 (ja) |
| JP (1) | JP2017208806A (ja) |
| CN (1) | CN107369667A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022080160A (ja) * | 2020-11-17 | 2022-05-27 | キヤノン株式会社 | 無線伝送システム、制御方法、およびプログラム |
| WO2023176270A1 (ja) * | 2022-03-15 | 2023-09-21 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10483178B2 (en) * | 2017-01-03 | 2019-11-19 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor device including an encapsulation material defining notches |
| EP3679385B1 (en) * | 2017-09-07 | 2022-10-26 | Amherst College | Loop-gap resonators for spin resonance spectroscopy |
| US12272567B2 (en) * | 2020-07-30 | 2025-04-08 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Manufacturing method for high-frequency package |
| CN115985893B (zh) * | 2023-01-16 | 2026-03-10 | 西南交通大学 | 一种集成电路封装引线框架上的m型磁耦合结构 |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5839049U (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-14 | 富士通株式会社 | チツプキヤリア |
| JP2005311099A (ja) * | 2004-04-22 | 2005-11-04 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP2007329246A (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-20 | Fuji Xerox Co Ltd | 積層型半導体パッケージ、半導体素子基板、および半導体パッケージ |
| JP2010212682A (ja) * | 2009-02-26 | 2010-09-24 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | コイルトランスデューサにおける電磁干渉の最小化 |
| US20100259909A1 (en) * | 2006-08-28 | 2010-10-14 | Avago Technologies Ecbu (Singapore) Pte. Ltd. | Widebody Coil Isolators |
| WO2012153531A1 (ja) * | 2011-05-11 | 2012-11-15 | パナソニック株式会社 | 電磁共鳴結合器 |
| US20150200162A1 (en) * | 2014-01-10 | 2015-07-16 | Fairchild Semiconductor Corporation | Isolation between semiconductor components |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6828661B2 (en) * | 2001-06-27 | 2004-12-07 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Lead frame and a resin-sealed semiconductor device exhibiting improved resin balance, and a method for manufacturing the same |
| US8385043B2 (en) | 2006-08-28 | 2013-02-26 | Avago Technologies ECBU IP (Singapoare) Pte. Ltd. | Galvanic isolator |
| US7791900B2 (en) | 2006-08-28 | 2010-09-07 | Avago Technologies General Ip (Singapore) Pte. Ltd. | Galvanic isolator |
| US7570144B2 (en) * | 2007-05-18 | 2009-08-04 | Chartered Semiconductor Manufacturing, Ltd. | Integrated transformer and method of fabrication thereof |
| JP5417128B2 (ja) * | 2008-11-27 | 2014-02-12 | 新光電気工業株式会社 | リードフレーム及びその製造方法、及び半導体装置 |
| JP2010226343A (ja) | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | 磁気結合装置 |
| JP5646830B2 (ja) * | 2009-09-02 | 2014-12-24 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置、半導体装置の製造方法、及びリードフレーム |
| JP5377778B2 (ja) * | 2011-05-11 | 2013-12-25 | パナソニック株式会社 | 電磁共鳴結合器 |
| KR101388423B1 (ko) * | 2012-05-30 | 2014-04-23 | 에스티에스반도체통신 주식회사 | 고용량 적층형 반도체 패키지 제조방법 |
| US20150004902A1 (en) | 2013-06-28 | 2015-01-01 | John M. Pigott | Die-to-die inductive communication devices and methods |
-
2017
- 2017-03-09 CN CN201710138188.XA patent/CN107369667A/zh active Pending
- 2017-03-30 JP JP2017069150A patent/JP2017208806A/ja active Pending
- 2017-04-25 US US15/497,189 patent/US10297538B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5839049U (ja) * | 1981-09-08 | 1983-03-14 | 富士通株式会社 | チツプキヤリア |
| JP2005311099A (ja) * | 2004-04-22 | 2005-11-04 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
| JP2007329246A (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-20 | Fuji Xerox Co Ltd | 積層型半導体パッケージ、半導体素子基板、および半導体パッケージ |
| US20100259909A1 (en) * | 2006-08-28 | 2010-10-14 | Avago Technologies Ecbu (Singapore) Pte. Ltd. | Widebody Coil Isolators |
| JP2010212682A (ja) * | 2009-02-26 | 2010-09-24 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | コイルトランスデューサにおける電磁干渉の最小化 |
| WO2012153531A1 (ja) * | 2011-05-11 | 2012-11-15 | パナソニック株式会社 | 電磁共鳴結合器 |
| US20150200162A1 (en) * | 2014-01-10 | 2015-07-16 | Fairchild Semiconductor Corporation | Isolation between semiconductor components |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2022080160A (ja) * | 2020-11-17 | 2022-05-27 | キヤノン株式会社 | 無線伝送システム、制御方法、およびプログラム |
| JP7630967B2 (ja) | 2020-11-17 | 2025-02-18 | キヤノン株式会社 | 無線伝送システム、制御方法、およびプログラム |
| WO2023176270A1 (ja) * | 2022-03-15 | 2023-09-21 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
| JP2023135196A (ja) * | 2022-03-15 | 2023-09-28 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
| JP7677196B2 (ja) | 2022-03-15 | 2025-05-15 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US20170330824A1 (en) | 2017-11-16 |
| US10297538B2 (en) | 2019-05-21 |
| CN107369667A (zh) | 2017-11-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2017208806A (ja) | 信号伝送装置 | |
| JP6238175B2 (ja) | 電磁共鳴結合器及び高周波伝送装置 | |
| JP5646830B2 (ja) | 半導体装置、半導体装置の製造方法、及びリードフレーム | |
| US9972587B2 (en) | Signal transmission device using electromagnetic resonance coupler | |
| US8952518B2 (en) | Semiconductor device housing package, and semiconductor apparatus and electronic apparatus including the same | |
| US10777493B2 (en) | Semiconductor device mounting board and semiconductor package | |
| JP2017220927A (ja) | 電磁共鳴結合器、及び、伝送装置 | |
| CN116847544A (zh) | 隔离器 | |
| JP5088059B2 (ja) | アイソレータおよびアイソレータの製造方法 | |
| JP2011029446A (ja) | 高周波モジュール及び高周波モジュールの製造方法 | |
| CN103426844B (zh) | 宽带全密封微波器件封装 | |
| JP2017011876A (ja) | スイッチング電源およびアイソレータ | |
| TW201918135A (zh) | 翻轉式磁耦合封裝結構及其引線架組件與製造方法 | |
| CN100521531C (zh) | 电子装置及其所使用的封装 | |
| JP2002185201A (ja) | 高周波用配線基板 | |
| JP4121988B2 (ja) | マイクロ波モジュール | |
| JP6591912B2 (ja) | 半導体素子パッケージおよび半導体装置 | |
| JP2009212309A (ja) | 半導体パッケージ | |
| JP4957652B2 (ja) | 高周波モジュール | |
| JP5856274B2 (ja) | 半導体装置、半導体装置の製造方法、及びリードフレーム | |
| US20260082954A1 (en) | Isolator | |
| US12548875B2 (en) | Isolator | |
| JP2007234763A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
| JP2006287962A (ja) | 高周波送受信モジュール | |
| WO2021079782A1 (ja) | 絶縁伝送装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190419 |
|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200214 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200303 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200929 |