JP2017223630A

JP2017223630A - ソケット

Info

Publication number: JP2017223630A
Application number: JP2016121156A
Authority: JP
Inventors: 宏真寺西; Hirosane Teranishi; 貴浩酒井; Takahiro Sakai
Original assignee: Omron Corp; Omron Tateisi Electronics Co
Current assignee: Omron Corp
Priority date: 2016-06-17
Filing date: 2016-06-17
Publication date: 2017-12-21
Anticipated expiration: 2036-06-17
Also published as: US20190128922A1; KR101865533B1; CN108401443B; WO2017217043A1; CN113030522B; CN113030522A; DE112017003002T5; US10598695B2; CN108401443A; KR20180014860A; JP6627655B2

Abstract

【課題】接触子を正確に位置決めできるソケットを提供すること【解決手段】ソケット（１）が、一端に第１接点（４）を有し他端に第２接点（５）を有する接触子（２）を第１，第２接点（４，５）の各々が露出した状態で収納保持可能な収納凹部（２０）を各々有する一対のハウジング（１０，１０）と、一対のハウジング（１０，１０）の一方のハウジングの収納凹部（２０）と、一対のハウジング（１０，１０）の他方のハウジングの収納凹部（２０）とが、対を成すように隣接して配置されるように、一対のハウジング（１０，１０）を相互に独立して位置決めする位置決め部材（３０）と、を備える。【選択図】図２

Description

本発明は、ソケットに関する。

カメラあるいは液晶パネル等の電子部品モジュールでは、一般に、その製造工程において、導通検査および動作特性検査等が行われる。これらの検査は、プローブピンを用いて、電子部品モジュールに設置されている本体基板と接続するためのＦＰＣ接触電極、あるいは、実装された基板対基板コネクタ等の電極部と検査装置とを接続することにより行われる。

このような接触子を収納するソケットとしては、例えば、特許文献１に記載されたものがある。このソケットは、等間隔で配置され、かつ、各々が接触子を収納可能な複数対のスリットを備えている。

特開２０１１−１９６８４４号公報

しかし、前記ソケットでは、対をなすスリットの間隔が予め決められているため、例えば、検査装置あるいは検査対象物の端子の加工に誤差があった場合、検査装置あるいは検査対象物の端子に合わせて、接触子を正確に位置決めすることができないおそれがある。

そこで、本発明は、接触子を正確に位置決めできるソケットを提供することを課題とする。

本発明のソケットは、
各々が、一端に第１接点を有し他端に第２接点を有する接触子を前記第１，第２接点の各々が露出した状態で収納保持可能な収納凹部を有する一対のハウジングと、
前記一対のハウジングの一方のハウジングの前記収納凹部と、前記一対のハウジングの他方のハウジングの前記収納凹部とが、対を成すように隣接して配置されるように、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めする位置決め部材と、
を備える。

本発明のソケットによれば、各々が接触子を収納保持可能でかつ対をなす収納凹部が、一対の別々にハウジングに配置され、一対のハウジングが位置決め部材により相互に独立して位置決めされるので、例え、検査装置あるいは検査対象物の端子の加工に誤差があった場合でも、検査装置あるいは検査対象物の端子に合わせて接触子を正確に位置決めできる。

本発明の第１実施形態のソケットを用いた検査ユニットを検査装置あるいは検査対象物の基板に取り付けた状態を示す斜視図。図１のII−II線に沿った断面図。図１のソケットのハウジングの正面方向から見た斜視図。図１のソケットのハウジングの背面方向から見た斜視図。図１のソケットのハウジングの正面図。図５のVI−VI線に沿った断面図。図１のソケットのベースハウジングの正面方向から見た斜視図。図１のソケットのベースハウジングの背面方向から見た斜視図。図１のソケットのベースハウジングの背面図。図９のＸ−Ｘ線に沿った断面図。図１のソケットの組立工程を説明するための図。図１１に続く、図１のソケットの組立工程を説明するための図。図１２に続く、図１のソケットの組立工程を説明するための図。図１３に続く、図１のソケットの組立工程を説明するための図。図１のソケットの他の例を説明するための断面図。図１５のソケットの平面図。図１５に続く、図１のソケットの他の例を説明するための断面図。図１７のソケットの平面図。本発明の第２実施形態のソケットを用いた検査ユニットを検査装置あるいは検査対象物の基板に取り付けた状態を示す断面図。本発明の第３実施形態のソケットを用いた検査ユニットを検査装置あるいは検査対象物の基板に取り付けた状態を示す断面図。

以下、本発明の一実施形態を添付図面に従って説明する。なお、以下の説明では、必要に応じて特定の方向あるいは位置を示す用語（例えば、「上」、「下」、「右」、「左」を含む用語）を用いるが、それらの用語の使用は図面を参照した発明の理解を容易にするためであって、それらの用語の意味によって本発明の技術的範囲が限定されるものではない。また、以下の説明は、本質的に例示に過ぎず、本発明、その適用物、あるいは、その用途を制限することを意図するものではない。さらに、図面は模式的なものであり、各寸法の比率等は現実のものとは必ずしも合致していない。

（第１実施形態）
本発明の第１実施形態のソケット１は、絶縁性を有し、例えば、図１に示すように、接触子の一例のプローブピン２を収納保持した状態で検査装置あるいは検査対象物の基板９０に取り付けられる。このソケット１は、プローブピン２と共に検査ユニット１００を構成している。

ソケット１は、図１に示すように、一対の絶縁性のハウジング１０，１０と、位置決め部材の一例の絶縁性のベースハウジング３０とを備えている。

各ハウジング１０は、図２に示すように、例えば、薄板状で導電性を有するプローブピン２の長手方向両端の第１，第２接点４，５が露出した状態で、プローブピン２を収納保持可能な収納部凹部２０を有している。この収納凹部２０は、例えば、細長い矩形の平面形状を有している。

各ハウジング１０の収納凹部２０は、１個であってもよいが、例えば複数個の収納凹部２０が一列に配置されており、一対のハウジング１０の収納凹部２０の配列方向が互いに平行に構成されていてもよい。すなわち、一対のハウジング１０，１０は、図１に示すように、各ハウジング１０の複数個の収納凹部２０が対を成すように隣接し、かつ、各複数個の収納凹部の配列方向が互いに平行に配置されるように、ベースハウジング３０により位置決めされている。

各プローブピン２は、図２に示すように、弾性部３と、弾性部３の一端に設けられた第１接点４と、弾性部３の他端に設けられた一対の第２接点５とで構成されている。第１接点４は、弾性部３の上端の幅方向の一端から上側に突出している。また、一対の第２接点５は、弾性部３の下端の幅方向の両端から下側に突出している。

なお、以下の説明において、平面視における隣接する収納凹部２０の配列方向をＸ方向、このＸ方向に直交する方向をＹ方向とする。また、Ｘ，Ｙ方向に直交するソケット１の高さ方向をＺ方向とする。

各ハウジング１０は、図３，図４に示すように、収納凹部２０の列方向（Ｘ方向）とは直交する方向に延び、かつ、図３においてはＹ方向左側に向かう方向が下り方向の階段状に形成され、プローブピン収納保持部として機能する高段部１１と、位置決め部として機能する低段部１２とで構成されている。

高段部１１には、複数の収納凹部２０が設けられている。各収納凹部２０は、図３〜図６に示すように、Ｘ方向に沿って間隔を空けて列を成すように配置されている。各収納凹部２０のＺ方向下側には、各収納凹部２０のプローブピン挿入開口として機能し、かつ、高段部１１のＺ方向下側の面に開口する開口部２１が設けられている。また、各収納凹部２０のＺ方向上側には、各収納凹部２０の底面を貫通し、かつ、高段部１１のＺ方向上側の面に開口するスロット２２が設けられている。

各収納凹部２０の開口部２１は、図２に示すように、プローブピン２を収納凹部２０の外部から収納凹部２０の内部に挿入可能になっている。また、プローブピン２を収納凹部２０に収納した状態では、開口部２１から第２接点５の各々がハウジング１０の外部に露出するようになっている。

各収納凹部２０のスロット２２は、プローブピン２の第２接点４を収納凹部２０の内部から挿入可能になっている。プローブピン２を第１接点４から順に開口部２１を介して収納凹部２０に収納すると、プローブピン２の第１接点４が収納凹部２０を通ってスロット２２からハウジング１０の外部に露出し、弾性部３が収納凹部２０の底面に支持されるようになっている。

すなわち、各収納凹部２０は、プローブピン２の第１，第２接点４，５がハウジング１０の外部に露出した状態で各プローブピン２を収納可能かつ保持可能になっている。

また、図６に示すように、各収納凹部２０のＹ方向の長さは開口部２１のＹ方向の長さと同じで、スロット２２のＹ方向の長さは、各収納凹部２０のＹ方向の長さより短くなっている。

低段部１２は、収納凹部２０の列方向（Ｘ方向）に沿って間隔を空けて配置された保持孔部１３と位置決め孔部１４とを有している。

保持孔部１３は、低段部１２のＸ方向の中央に設けられている。この保持孔部１３は、Ｚ方向から見た平面視において円形状を有し、Ｚ方向に貫通している。保持孔部１３のＺ方向の上端には、図４に示すように、鍔部１５が設けられている。この鍔部１５により、保持孔部１３のＺ方向上端の開口の径Ｒ１（図３に示す）が、Ｚ方向下端の開口の径Ｒ２（図４に示す）よりも小さくなっている。このような寸法構成にすることにより、例えば、ねじ等の締結部材をハウジング１０のＺ方向の下側の面（図４に示す面）から保持孔部１３に挿入したときに、締結部材のねじ軸部に対して張り出したねじ頭が、保持孔部１３からハウジング１０の外部に突出することを回避できる。

位置決め孔部１４は、保持孔部１３のＸ方向の両側にそれぞれ設けられている。各位置決め孔部１４は、Ｚ方向から見た平面視において保持孔部１３よりも径の小さい円形状を有し、Ｚ方向に貫通している。

なお、保持孔部１３および一対の位置決め孔部１４は、それらの中心を結んだ直線が収納凹部２０の列方向、すなわち、Ｘ方向と略平行になるように配置されている。

ベースハウジング３０は、図７，図８に示すように、略方形の板状で、Ｘ方向に延びるＹ方向の中心線ＣＬに対して対称な形状を有している。

ベースハウジング３０の中央には、保持凹部３１が設けられている。この保持凹部３１は、図９，図１０に示すように、Ｚ方向から見た平面視において略矩形状を有し、Ｙ方向が長手方向となるように配置されている。

保持凹部３１の中央には、ベースハウジング３０をＺ方向に貫通する開口部３２が設けられている。この開口部３２は、一対のハウジング１０，１０をベースハウジング３０で保持したときに、各ハウジング１０の高段部１１が位置するようになっている。

なお、保持凹部３１および開口部３２のＸ方向沿いの両側面のＸ方向の両端には、Ｚ方向から視た平面視において半円状の切欠３６が設けられている。この切欠３６には、ハウジング１０の脱着に用いる工具が差し込み可能になっており、一対のハウジング１０，１０の保持凹部３１への脱着を容易にしている。

また、保持凹部３１の開口部３２のＹ方向の両側には、Ｙ方向に間隔を空け、かつ、Ｘ方向に沿って間隔を空けて配置された保持孔部３３および位置決め孔部３４が設けられている。保持孔部３３は、Ｘ方向の中央に配置され、位置決め孔部３４は、保持孔部３３のＸ方向の両側に配置されている。

保持孔部３３は、Ｚ方向から見た平面視において円形状を有し、Ｚ方向に貫通している。この保持孔部３３は、ハウジング１０の保持孔部１３のＺ方向上端の径Ｒ１と同径であり、ハウジング１０をベースハウジング３０に位置決めしたときに、ハウジング１０の保持孔部１３と同軸になるように設けられている。ベースハウジング３０は、この保持孔部３３と、ハウジング１０の保持孔部１３とを介して、ねじ等の締結部材によりハウジング１０を保持する。

位置決め孔部３４は、Ｚ方向から見た平面視において円形状を有し、Ｚ方向に貫通している。この位置決め孔部３４は、ハウジング１０の位置決め孔部１４と同径であり、ハウジング１０をベースハウジング３０に位置決めしたときに、ハウジング１０の位置決め孔部１４と同軸になるように設けられている。この位置決め孔部３４と、ハウジング１０の位置決め孔部１４とは、後述する位置決め用ピン４０（図１１参照）がそれぞれに挿入されることにより、ハウジング１０がベースハウジング３０に位置決めされる。

ベースハウジング３０のＺ方向から見た平面視における各隅部には、ベースハウジング３０を検査装置あるいは検査対象物の基板９０に対して位置決めするベース位置決め部としての貫通孔３５が設けられている。これらの４個の貫通孔３５を介して、ベースハウジング３０が基板９０に位置決めされる。

続いて、図１１〜図１４を参照して、ソケット１を用いた検査ユニット１００の組み立て方法を説明する。

まず、図１１に示すように、ベースハウジング３０の位置決め孔部３４の各々に、位置決め用ピン４０の一端を挿入し、その他端を保持凹部３１内に突出させておく。そして、高段部１１のスロット２２が開口している面を開口部３２に対向させ、位置決め孔部１４の各々を位置決め用ピン４０に対向させた状態で、一対のハウジング１０，１０を順に保持凹部３１内に収容する。

このとき、ハウジング１０の位置決め孔部１４とベースハウジング３０の位置決め孔部３４とを介して、位置決め用ピン４０によって、ハウジング１０をベースハウジング３０に位置決めして、仮止めする。すなわち、一対のハウジング１０，１０は、ベースハウジング３０によって、一方のハウジングの収納凹部２０と他方のハウジングの収納凹部２０とが対を成すように隣接し、かつ、一対のハウジング１０，１０の収納凹部２０の配列方向が互いに平行（略平行を含む）になるように、相互に独立して位置決めされる。

一対のハウジング１０，１０が保持凹部３１内に収容されると、ベースハウジング３０に対する一対のハウジング１０，１０の位置決めを調整する。ハウジング１０の位置決め孔部１４とベースハウジング３０の位置決め孔部３４との各々は、図２に示すように、位置決め用ピン４０を挿入した状態で、位置決め用ピン４０に対して、若干の隙間１７，３７を有している。この隙間１７，３７により、一対のハウジング１０，１０およびベースハウジング３０の各々の位置を独立して移動させて、ベースハウジング３０に対する一対のハウジング１０，１０の位置決めを調整することができる。

なお、ハウジング１０の位置決め孔部１４と位置決め用ピン４０との間の隙間１７、および、ベースハウジング３０の位置決め孔部３４と位置決め用ピン４０との間の隙間３７は、いずれか一方のみ設けた場合であってもベースハウジング３０に対して一対のハウジング１０，１０を位置決め調整できる。

ベースハウジング３０に対する一対のハウジング１０，１０の位置決めの調整が完了すると、図１２に示すように、ベースハウジング３０に対する一対のハウジング１０，１０の調整された位置決め状態で、一対のハウジング１０，１０をベースハウジング３０に固定して、ソケット１の組み立てを終了する。一対のハウジング１０，１０とベースハウジング３０との間の固定は、ハウジング１０の保持孔部１３とベースハウジング３０の保持孔部３３とを介して、ねじ等の締結部材６０により行われる。

一対のハウジング１０，１０が保持凹部３１に収容されると、図１２に示すように、一対のハウジング１０，１０をベースハウジング３０に固定して、ソケット１の組み立てが終了する。一対のハウジング１０，１０とベースハウジング３０との間の固定は、ハウジング１０の保持孔部１３とベースハウジング３０の保持孔部３３とを介して、ねじ等の締結部材６０により行われる。

なお、図２に示すように、ソケット１の高さ方向（Ｚ方向）の両面は、一対のハウジング１０，１０とベースハウジング３０との間に段差のないフラットな状態になっている。

ソケット１の組み立てが終了すると、図１３に示すように、プローブピン２を第１接点４から収納凹部２０内に挿入し、必要とする全ての収納凹部２０内にプローブピン２を収納して、検査ユニット１００の組み立てを終了する。

組み立てられた検査ユニット１００は、図２に示すように、検査装置あるいは検査対象物の基板９０に対して、プローブピン２の第２接点５が基板９０の端子９１に当接するように位置決めされる。検査ユニット１００と検査装置あるいは検査対象物との間の位置決めは、図１４に示すように、検査ユニット１００の４個の貫通孔３５と基板９０に設けられた４個の位置決め用孔部９２とを介して行われる。

このように、第１実施形態のソケット１では、各々がプローブピン２を収納保持可能でかつ対をなす収納凹部２０が、一対の別々のハウジング１０，１０に配置され、その一対のハウジング１０，１０がベースハウジング３０に対して相互に独立して位置決めされる。このため、例え、検査装置あるいは検査対象物の端子の加工に誤差があった場合でも、検査装置あるいは検査対象物の端子に合わせて、ベースハウジング３０に対するそれぞれのハウジング１０，１０の位置決めを調整すればよく、プローブピン２を正確に位置決めできる。

また、１つのベースハウジング３０により一対のハウジング１０，１０がそれぞれ独立して位置決めされ、かつ、一体的に保持されるので、一対のハウジング１０，１０が高い精度で位置決めされた状態で、一対のハウジング１０，１０を含むソケット１を検査装置あるいは検査対象物の基板９０等に容易に取り付けることができる。

また、各ハウジング１０において、複数個の収納凹部２０が間隔を空けて列を成すように配置されている。これにより、検査装置あるいは検査対象物の端子の様々な態様に対応できる。

また、ベースハウジング３０に貫通孔３５を設けているので、ベースハウジング３０を検査装置あるいは検査対象物に対して正確に位置決めすることができる。

なお、第１実施形態のソケット１では、ベースハウジング３０は、低段部１２のＹ方向の長さＷが異なる複数対のハウジング１０，１０を位置決めし、保持することができる。例えば、図１５，図１６に示すように、低段部１２のＹ方向の長さＷ１のハウジング１０を用いることで、対を成すプローブピン２の（Ｙ方向の）ピッチを狭ピッチＰ１にすることができる。また、図１７，図１８に示すように、低段部１２のＹ方向の長さＷ２（ただし、Ｗ１＞Ｗ２）のハウジング１０を用いることで、対を成すプローブピン２の（Ｙ方向の）ピッチを図１５，図１６のピッチＰ１よりも広いピッチＰ２にすることができる。すなわち、ハウジング１０の形状（特に、長さ寸法）を変更するだけで、検査装置あるいは検査対象物の端子の様々な態様に適用することできる。

また、ハウジング１０の形状に加えて、プローブピン２の第１，第２接点４，５の形状を変更することで、適用可能な検査装置あるいは検査対象物の端子の態様の範囲を広げることができる。このため、ベースハウジング３０を汎用化することができるので、ソケット１並びに検査ユニット１００の生産性を向上させることができる。

（第２実施形態）
図１９に示すように、第２実施形態のソケット１０１は、位置決め部材の別の例としての基板取付ピン１３０を用いて、一対のハウジング１０，１０を検査装置あるいは検査対象物の基板９０に位置決めしつつ直接取り付けている点で、第１実施形態のソケット１とは異なっている。

なお、この第２実施形態では、第１実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第１実施形態と異なる点について説明する。

基板取付ピン１３０は、一対のハウジング１０，１０を基板９０に対して位置決めし、かつ、保持できる任意の締結部材を用いることができる。すなわち、位置決め部材の別の例としては、一対のハウジング１０，１０の一方のハウジングの収納凹部２０と、他方のハウジングの収納凹部２０とが、対を成すように隣接し、かつ、各複数個の収納凹部２０の配列方向が互いに平行に配置されるように、一対のハウジング１０，１０を相互に独立して位置決めできるものであればよい。

（第３実施形態）
図２０に示すように、第３実施形態のソケット２０１は、一対のハウジング１０，１０の各収納凹部２０を覆い、各プローブピン２を各収納凹部２０内で保持できる蓋体５０を備えている点で、第１実施形態のソケット１とは異なっている。

なお、この第３実施形態では、第１実施形態と同一部分に同一参照番号を付して説明を省略し、第１実施形態と異なる点について説明する。

蓋体５０は、ベースハウジング３０の保持凹部３１を覆い、かつ、各ハウジング１０の複数個の収納凹部２０を覆うように設けられている。この蓋体５０には、プローブピン２の第２接点５をハウジング１０の外部に露出させるための孔部５１が設けられている。

このように各ハウジング１０の収納凹部２０を覆う蓋体５０を設けることで、プローブピン２が収納凹部２０から抜けるのを防止することができる。

第１〜第３実施形態で述べた構成要素は、適宜、組み合わせてもよく、また、適宜、選択、置換、あるいは、削除してもよいことは、勿論である。

一実施形態のソケットでは、
前記位置決め部材が、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めし、かつ、一体的に保持する１つの保持凹部を有するベースハウジングである。

前記実施形態のソケットによれば、１つのベースハウジングにより一対のハウジングがそれぞれ独立して位置決めされ、かつ、一体的に保持されるので、一対のハウジングが高い精度で位置決めされた状態で、一対のハウジングを含むソケットを検査装置あるいは検査対象物の基板９０等に容易に取り付けることができる。

一実施形態のソケットでは、
前記一対のハウジングを第１の一対のハウジングとし、
前記一対のハウジングとは、対を成す前記収納凹部の間隔が異なりかつ前記第１の一対のハウジングが位置決め保持される前記ベースハウジングの前記１つの保持凹部に位置決め保持可能な第２の一対のハウジングをさらに備え、
前記第１の一対のハウジングと前記第２の一対のハウジングとのうちから選択された１つの前記一対のハウジングが前記ベースハウジングの前記１つの保持凹部に位置決め保持される。

前記実施形態のソケットによれば、検査装置あるいは検査対象物の端子の様々な態様に適用することできる。

一実施形態のソケットでは、
前記ベースハウジングが、検査装置あるいは検査対象物の基板の端子に対して前記各ハウジングの前記収納凹部内に保持される前記接触子を位置決めするベース位置決め部を有している。

前記実施形態のソケットによれば、ベースハウジングを検査装置あるいは検査対象物の端子に対して、各ハウジングの収納凹部内に保持される接触子を正確に位置決めすることができる。

一実施形態のソケットでは、
前記収納凹部を覆い、かつ、前記接触子を前記収納凹部内で保持する蓋体をさらに備える。

前記実施形態のソケットによれば、接触子が収納凹部から抜けるのを防止することができる。

一実施形態のソケットでは、
前記一対のハウジングの各々が、間隔を空けて配置された複数の前記収納凹部を有し、
前記一対のハウジングにおいて、前記複数の収納凹部の配列方向が互いに平行となるように配置されている。

本発明のソケットは、例えば、液晶パネルの検査に用いる検査ユニットに適用できる。

１，１０１，２０１ソケット
２プローブピン
３弾性部
４第１接点
５第２接点
１０ハウジング
１１高段部
１２低段部
１３保持孔部
１４位置決め孔部
１５鍔部
１７隙間
２０収納凹部
２１開口部
２２スロット
３０ベースハウジング
３１保持凹部
３２開口部
３３保持孔部
３４位置決め孔部
３５貫通孔
３６切欠
３７隙間
４０位置決め用ピン
５０蓋体
５１孔部
６０締結部材
９０基板
９１端子
９２位置決め用孔部
１００検査ユニット
１３０基板取付ピン
Ｒ１，Ｒ２保持孔部１３の開口の径
ＣＬベースハウジング３０の中心線
Ｐ１，Ｐ２一対のプローブピン２間のピッチ
Ｗ，Ｗ１，Ｗ２低段部１２の長さ

Claims

各々が、一端に第１接点を有し他端に第２接点を有する接触子を前記第１，第２接点の各々が露出した状態で収納保持可能な収納凹部を有する一対のハウジングと、
前記一対のハウジングの一方のハウジングの前記収納凹部と、前記一対のハウジングの他方のハウジングの前記収納凹部とが、対を成すように隣接して配置されるように、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めする位置決め部材と、
を備える、ソケット。
前記位置決め部材が、前記一対のハウジングを相互に独立して位置決めし、かつ、一体的に保持する１つの保持凹部を有するベースハウジングである、請求項１に記載のソケット。
前記一対のハウジングを第１の一対のハウジングとし、
前記一対のハウジングとは、対を成す前記収納凹部の間隔が異なりかつ前記第１の一対のハウジングが位置決め保持される前記ベースハウジングの前記１つの保持凹部に位置決め保持可能な第２の一対のハウジングをさらに備え、
前記第１の一対のハウジングと前記第２の一対のハウジングとのうちから選択された１つの前記一対のハウジングが前記ベースハウジングの前記１つの保持凹部に位置決め保持される、請求項２に記載のソケット。
前記ベースハウジングが、検査装置あるいは検査対象物の基板の端子に対して前記各ハウジングの前記収納凹部内に保持される前記接触子を位置決めするベース位置決め部を有している、請求項２または３に記載のソケット。
前記収納凹部を覆い、かつ、前記接触子を前記収納凹部内で保持する蓋体をさらに備える、請求項１から４のいずれか１つに記載のソケット。
前記一対のハウジングの各々が、間隔を空けて配置された複数の前記収納凹部を有し、
前記一対のハウジングにおいて、前記複数の収納凹部の配列方向が互いに平行となるように配置されている、請求項１から５のいずれか１つに記載のソケット。