JP2020067331A - 磁気センサ - Google Patents
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Abstract
【解決手段】本発明による磁気センサは、磁性体層M11,M21と、磁性体層M11,M21間の磁気ギャップG1によって形成される磁路上に設けられた感磁素子R1を含むセンサチップ10と、接着剤50を介してセンサチップ10に接着された機械的駆動部30とを備える。機械的駆動部30は、接着剤50を介してセンサチップに固定された固定領域30aと、駆動電圧を印加することにより変位する変位領域30bとを有する。本発明によれば、接着剤によって機械的駆動部をセンサチップに固定した構造を有していることから、感磁素子を形成した後に高温プロセスを行う必要がない。このため、高温プロセスによる感磁素子の特性劣化を防止しつつ、1/fノイズを低減することが可能となる。
【選択図】図15
Description
3 可変磁路
4 MR素子
6 回路基板
10 センサチップ
11 素子形成面
12 裏面
13,14 側面
15 絶縁層
21〜24 外部磁性体
21a〜23a 外部磁性体の位置
30,30A,30B,40 機械的駆動部
30a,40a 固定領域
30b,40b 変位領域
31 バネ体
32 バイパス磁性体層
33 圧電体層
34,35 電極層
50 接着剤
50a,50b 接着剤の位置
C 補償コイル
G1〜G4 磁気ギャップ
M1〜M3,M11,M12,M21,M22,M31,M32 磁性体層
P 圧電構造体
R1〜R4 感磁素子
T11〜T16,T21〜T24 端子電極
Va 差動信号
Claims (8)
- 第1及び第2の磁性体層と、前記第1の磁性体層と前記第2の磁性体層との間の第1の磁気ギャップによって形成される第1の磁路上に設けられた第1の感磁素子とを含むセンサチップと、
接着剤を介して前記センサチップに接着され、圧電体層とバイパス磁性体層が積層された構造を有する第1の機械的駆動部と、を備え、
前記第1の機械的駆動部は、前記接着剤を介して前記センサチップに固定された固定領域と、前記圧電体層に駆動電圧を印加することにより変位する変位領域とを有し、前記駆動電圧に応じて、前記変位領域に含まれる前記バイパス磁性体層と前記第1の磁路との位置関係が変化することを特徴とする磁気センサ。 - 前記第1の磁性体層と重なり、且つ、前記第1の機械的駆動部と重ならない位置に設けられた第1の外部磁性体をさらに備え、
前記第1の機械的駆動部の前記固定領域は、前記第1の感磁素子から見て前記第2の磁性体層側に位置することを特徴とする請求項1に記載の磁気センサ。 - 前記第1の機械的駆動部の前記固定領域は、前記第2の磁性体層と重なることを特徴とする請求項2に記載の磁気センサ。
- 前記第2の磁性体層及び前記第1の機械的駆動部の前記固定領域と重なる位置に設けられた第2の外部磁性体をさらに備えることを特徴とする請求項2又は3に記載の磁気センサ。
- 接着剤を介して前記センサチップに接着され、圧電体層とバイパス磁性体層が積層された構造を有する第2の機械的駆動部をさらに備え、
前記センサチップは、第3の磁性体層と、前記第1の磁性体層と前記第3の磁性体層との間の第2の磁気ギャップによって形成される第2の磁路上に設けられた第2の感磁素子とをさらに含み、
前記第2の機械的駆動部は、前記接着剤を介して前記センサチップに固定された固定領域と、前記圧電体層に駆動電圧を印加することにより変位する変位領域とを有し、前記駆動電圧に応じて、前記変位領域に含まれる前記バイパス磁性体層と前記第2の磁路との位置関係が変化することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の磁気センサ。 - 前記第1の機械的駆動部は、バネ体の一方の表面に前記圧電体層が形成され、前記バネ体の他方の表面に前記バイパス磁性体層が形成された構造を有することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の磁気センサ。
- 前記圧電体層は、前記バネ体の前記一方の表面に形成された薄膜であることを特徴とする請求項6に記載の磁気センサ。
- 前記バイパス磁性体層は、前記バネ体の前記他方の表面に形成されたメッキ膜であることを特徴とする請求項6又は7に記載の磁気センサ。
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Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10260147A (ja) * | 1997-01-17 | 1998-09-29 | Ricoh Co Ltd | 熱分析装置およびその計測方法 |
| WO2008146809A1 (ja) * | 2007-05-28 | 2008-12-04 | Mitsubishi Electric Corporation | 磁界検出装置 |
| JP2008309571A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Ricoh Co Ltd | 磁気センシング装置 |
| WO2010091846A2 (de) * | 2009-02-10 | 2010-08-19 | Sensitec Gmbh | Anordnung zur messung mindestens einer komponente eines magnetfeldes |
| JP2015203647A (ja) * | 2014-04-15 | 2015-11-16 | アルプス電気株式会社 | 磁気センサ |
| WO2017204151A1 (ja) * | 2016-05-24 | 2017-11-30 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
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Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10260147A (ja) * | 1997-01-17 | 1998-09-29 | Ricoh Co Ltd | 熱分析装置およびその計測方法 |
| WO2008146809A1 (ja) * | 2007-05-28 | 2008-12-04 | Mitsubishi Electric Corporation | 磁界検出装置 |
| JP2008309571A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Ricoh Co Ltd | 磁気センシング装置 |
| WO2010091846A2 (de) * | 2009-02-10 | 2010-08-19 | Sensitec Gmbh | Anordnung zur messung mindestens einer komponente eines magnetfeldes |
| JP2015203647A (ja) * | 2014-04-15 | 2015-11-16 | アルプス電気株式会社 | 磁気センサ |
| WO2017204151A1 (ja) * | 2016-05-24 | 2017-11-30 | Tdk株式会社 | 磁気センサ |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| VALADEIRO,JOAO AT EL.: "Hybrid Integration of Magnetoresistive Sensors with MEMS as a Strategy to Detect Ultra-Low Magnetic", MICROMACHINES, vol. Micromachines 2016,7(5),88, JPN6022022512, 11 May 2016 (2016-05-11), ISSN: 0004792168 * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| WO2023162157A1 (ja) * | 2022-02-25 | 2023-08-31 | Tdk株式会社 | センサチップ及びこれを備えた磁気センサ、並びに、磁気センサの製造方法 |
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